JP7201991B2 - Rfidラベル書込検証システム及びプログラム - Google Patents

Rfidラベル書込検証システム及びプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP7201991B2
JP7201991B2 JP2018229337A JP2018229337A JP7201991B2 JP 7201991 B2 JP7201991 B2 JP 7201991B2 JP 2018229337 A JP2018229337 A JP 2018229337A JP 2018229337 A JP2018229337 A JP 2018229337A JP 7201991 B2 JP7201991 B2 JP 7201991B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
rfid label
verification
rfid
read
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018229337A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020091741A (ja
Inventor
望由季 山内
Original Assignee
小林クリエイト株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 小林クリエイト株式会社 filed Critical 小林クリエイト株式会社
Priority to JP2018229337A priority Critical patent/JP7201991B2/ja
Publication of JP2020091741A publication Critical patent/JP2020091741A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7201991B2 publication Critical patent/JP7201991B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Credit Cards Or The Like (AREA)

Description

本発明は、RFIDラベルにデータが正常に書き込まれているか否かを検証する書込検証システムに関する。
近年、物流分野、工場生産分野などでは、非接触で通信可能なRFIDラベルが広く利用されている。RFIDラベルは、一般的に、ICチップとアンテナを一体化したRFIDインレットを基材に配設してなる構成であり、取り付ける対象物品の管理に必要な情報をICチップに書き込んでおき、流通管理や生産管理等に使用する。
こうしたRFIDラベルにあって、ICチップに記憶されるデータが、ICチップに書き込んだ書込元データと、1ビット又は数ビット相違するビットエラーが報告されている。こうしたビットエラーは、データの書込時に何らかの不具合により生じるものと、データ書込後に外的要因により生じるものとが存在すると考えられている。
ここで、従来構成では、データの書込時に生じるビットエラーを解消するために、データの書込み直後にRFIDラベルからデータを読み取って、書込元データと照合することにより、データが正しく書き込まれたか否かを検証し、書込元データと一致しないRFIDラベルはビットエラーを含むものとして、ラベルを交換したり、データを再度書込みしたりしている(例えば、特許文献1)。
一方、データ書込後に生じるビットエラーについては、検査をしてラベル交換やデータ修復する手間が大きいため、ビットエラーを含んだデータであっても読取時に書込元データを復元できるように、書込元データを冗長化することが行われている。
特開2005-190084号公報
上記のようにRFIDラベルに書き込むデータを冗長化する場合、所要のデータを記憶するのに、比較的大容量のメモリを有するICチップを使用しなくてはならないという問題がある。
本発明は係る現状に鑑みてなされたものであり、データの冗長性を増加させることなく、ビットエラーに起因するRFIDラベルの不具合を低減することを目的とする。
発明者は、上記課題を解決するために、RFIDラベルにおけるビットエラーの発生傾向について検討したところ、データ書込時に生じるビットエラーには、安定なビットエラーと不安定なビットエラーの二種類が存在することを発見した。安定なビットエラーは、本来「0」が記録されるべきビットに「1」が記録され、「1」が記録されるべきビットに「0」が記録されているエラーである。これに対して、不安定なビットエラーは、「0」と「1」のいずれが記録されているかが不明確なエラーである。不安定なビットエラーは、データ読取時に、リーダによって「0」と「1」のいずれであるか強制的に判定されることとなるが、「0」と「1」のいずれと判定されるかは、データを読み取る度に、コイン投げの裏表のように変動することとなる。
安定なビットエラーを含むRFIDラベルは、データを読み取って書込元データと照合した時に不整合となるため、従来の検証方法で確実に検出可能である。今回発見した不安定なビットエラーを含むRFIDラベルは、読取時に不安定なビットエラーが正常値と判定され得るため、従来の検証方法では、一定割合が検出漏れとなる。このように、今回の発見により、従来の検証方法では、不安定なビットエラーを含むRFIDラベルの多くが検出漏れとなっており、データ書込後に生じたと考えられていたビットエラーの中に、データ書込直後の検査をすり抜けたビットエラーが多く含まれていることが判明した。そして、発明者はかかる知見に基づき、不安定なビットエラーを含むRFIDラベルを低減すべく、さらなる検討を行い、本発明を完成するに到った。
すなわち、本発明は、RFIDラベルにデータが正常に書き込まれているか否かを検証するRFIDラベル書込検証システムであって、検証対象のRFIDラベルのICチップが記憶するデータを読取可能なRFID読取手段と、検証対象のRFIDラベルのICチップに書き込んだデータに対応する照合用データを取得する照合用データ取得手段と、RFID読取手段がRFIDラベルのICチップから読み取った読取データと、照合用データ取得手段が取得した照合用データとが整合しているか否かを判定するデータ照合手段と、1つのRFIDラベルについて、ICチップの一部又は全ての記憶エリアのデータをRFID読取手段に繰返し読み取らせるとともに、RFID読取手段が繰返し読み取った読取データの夫々が、照合用データと整合しているか否かをデータ照合手段に判定させ、全ての読取データが照合用データと整合しているとデータ照合手段が判定した場合に、当該RFIDラベルのICチップの前記一部又は全ての記憶エリアにデータが正常に書き込まれていると判定する書込検証手段とを備えることを特徴とするRFIDラベル書込検証システムである。
上述のように、不安定なビットエラーは、「0」と「1」のいずれと読み取られるかが流動的であるため、不安定なビットエラーを含むRFIDラベルは、照合用データとの照合において、半分程度は「整合」と判定されて、残りの半分程度は「不整合」と判定されることとなる。このため、本発明のように、1つのRFIDラベルについて、ICチップに記憶されたデータを繰返し読み取って、照合用データとの照合を繰り返せば、不安定なビットエラーを含むRFIDラベルを完全には除去できなくても、繰返回数に応じて指数関数的に減少させることができる。このため、本発明に係る書込検証システムによれば、従来構成に比べて、RFIDラベルのデータ書込時に生じるビットエラーを大幅に低減可能となる。
本発明にあって、照合用データ取得手段は、検証対象のRFIDラベルに光学認識可能な態様で記録された識別情報を光学的に読み取る光学情報読取手段を備え、当該光学情報読取手段が読み取った識別情報に基づいて、検証対象のRFIDラベルに係る照合用データを取得する構成が提案される。
RFIDラベルのICチップに書き込まれるデータは、一般的にラベル毎に相違するため、各RFIDラベルに書き込んだデータに対応する照合用データもラベル毎に相違するが、かかる構成によれば、検証対象のRFIDラベルに光学認識可能な態様で記録された識別情報により当該RFIDラベルを特定できるため、照合用データを取得する際に、他のRFIDラベルの照合用データと取り違えるおそれがない。
また、上記構成にあって、さらに、検証対象の複数のRFIDラベルを、RFID読取手段の通信可能範囲に1つずつ順番に配置するラベル移送手段を備え、光学情報読取手段は、RFID読取手段の通信可能範囲に配置されたRFIDラベルに光学認識可能な態様で記録された識別情報を光学的に読み取り得る位置に配置されている構成が提案される。かかる構成によれば、複数のRFIDラベルの書込検証を、連続的に実行することが可能となる。
また、本発明にあって、書込検証手段がRFID読取手段にICチップが記憶するデータを繰返し読み取らせる繰返回数を、使用者に選択可能とする繰返回数選択手段を備える構成が提案される。本発明に係る書込検証手段は、繰返回数を増やすほど検証精度が向上するが、その一方で、検証に要する時間が長くなるため、かかる構成とすれば、使用者自らが、検証対象のRFIDラベルの仕様に応じて繰返回数を選択することで、検証の精度と効率のバランスをとることが可能となる。
また、上記構成にあって、検証対象のRFIDラベルのICチップは、RFIDラベルの識別に係るデータを記憶する識別データ記憶エリアと、RFIDラベルの識別に係るデータ以外のデータを記憶する非識別データ記憶エリアとを備え、繰返回数選択手段は、識別データ記憶エリアのデータ読取りの繰返回数と、非識別データ記憶エリアのデータ読取りの繰返回数とを、使用者に、個別に選択可能とするものである構成が提案される。
かかる構成にあっては、各記憶エリアに記憶するデータの特性に応じて繰返回数を選択することで、検証の精度と効率のバランスを細かく調整可能となる。
また、本発明にあって、書込検証手段の判定結果を蓄積記憶する検証履歴記憶手段と、検証履歴記憶手段が記憶する情報に基づいて、繰返回数選択手段が使用者に選択可能とする繰返回数を設定する繰返回数自動設定手段を備える構成が提案される。
かかる構成にあっては、検証履歴記憶手段が記憶する情報を参照することで、検証対象のRFIDラベルに含まれるビットエラーの出現頻度をある程度推定できるため、不良率が過度に大きくなったり、無駄に小さくなったりするような繰返回数が選択されて、検証精度や検証効率が大幅に低下することを防止できる。
本発明の別の態様として、コンピュータに、RFIDリーダを制御して、当該RFIDリーダの通信可能範囲にあるRFIDラベルについて、ICチップの一部又は全ての記憶エリアのデータを繰返し読み取るデータ読取ステップと、データ読取ステップで繰返し読み取った読取データの夫々が、照合用データと整合しているか否かを判定するデータ照合ステップと、データ照合ステップで、全ての読取データが照合用データと整合していると判定した場合に、当該RFIDラベルのICチップの前記一部又は全ての記憶エリアにデータが正常に書き込まれていると判定する書込検証ステップとを実行させるためのプログラムが提案される。ここで、本発明に係る「RFIDリーダ」は、RFIDライタの機能を兼備するRFIDリーダライタであってもよい。かかるプログラムをコンピュータにインストールすれば、既存のハードウェアの組合せにより、本発明のRFIDラベル書込検証システムを低廉に実現可能となる。
以上のように、本発明によれば、ビットエラーを含むRFIDラベルを従来構成よりも高い精度で検出して除去できるため、RFIDラベルに書き込むデータの冗長性を増加させることなく、ビットエラーに起因するRFIDラベルの不具合を低減可能となる。
検証対象のRFIDラベル10の平面図と、該RFIDラベル10を仮着したロール紙15の斜視図である。 実施例のRFIDラベル書込検証システム1の構成要素を示すブロック図である。 実施例のRFIDラベル書込検証システム1の概略図である。 照合用データテーブルの内容を示す図表である。 設定操作画面7の表示例である。 書込検証処理の処理内容を示すフローチャートである。
本発明の実施形態を、以下の実施例に従って説明する。
本実施例のRFIDラベル書込検証システム1(以下、単に「書込検証システム」とも言う。)は、RFIDラベルのICチップに所要のデータが書き込まれた後に、当該データが正常に書き込まれている否かを検証するものである。
本実施例の書込検証システム1が検証対象とするRFIDラベルは、UHF帯のパッシブラベルである。具体的には、検証対象のRFIDラベル10として、図1(a)に示すように、ICチップ17とアンテナ18とを一体化してなるRFIDインレット12をシート基材11上に配設してなり、さらに、シート基材11の表面に、夫々のRFIDラベル10の識別情報として固有のシリアル番号が付されたものが挙げられる。
上記RFIDインレット12は、ISO規格(ISO/IEC18000-63)に準拠したものであり、そのICチップ17のメモリ領域には、複数の記憶エリアが設けられる。具体的には、メモリ領域は、RFIDラベル10の識別に係るデータを記憶するUIIエリアと、使用者が自由に書込可能なUSERエリアと、ICチップ17の製造時に固有情報が記憶されるTIDエリアと、メモリのアクセス許可レベルやパスワードを記憶するRESERVEDエリアとが設けられる。ここで、USERエリア及びRESERVEDエリアは、本発明に係る非識別データ記憶エリアに相当し、UIIエリアは、本発明に係る識別データ記憶エリアに相当するものである。RFIDインレット12は、上記規格に準拠したものであるため、各記憶エリアにおけるデータの記憶形式の詳細説明は省略する。
図1(a)のRFIDラベル10において、シリアル番号は8桁の数字であり、シリアル番号が数字とQRコード(登録商標)14で印刷されたステッカー13がラベルの表面に貼付される。かかるRFIDラベル10は、図1(b)に示すように、ロール紙15の長手方向に沿って等間隔に仮着された状態で製造されて、管理対象物品に貼付される。なお、かかるRFIDラベル10は、書込検証システム1の検証対象の典型例に過ぎず、その構成は、適宜変更可能である。
本実施例の書込検証システム1は、上述のRFIDラベル10が仮着されたロール紙15を引き出して、RFIDラベル10にデータが正常に書き込まれているかを一枚ずつ検証し、ロール紙15を巻き取るものである。本実施例の書込検証システム1は、図2に示すように、RFIDラベル10に付されたQRコード14を読み取るQRコードリーダ3と、RFIDラベル10に書き込まれたデータを読み取るRFIDリーダライタ4と、ロール紙15を引き出して、RFIDリーダライタ4の通信可能範囲に一枚ずつ通した後に巻き取る用紙送り装置5と、制御用PC2とを備えている。制御用PC2は、後述するRFID書込検証プログラムがインストールされた汎用のコンピュータであり、各装置の作動を制御するとともに、RFIDリーダライタ4が読み取ったデータに基づいて、RFIDラベル10に正常にデータが書き込まれているか否かを判定する。
RFIDリーダライタ4は、検証対象のRFIDラベル10に記憶されるデータを読み書き可能なものであり、制御用PC2に接続されて、制御用PC2からのコマンドにしたがって作動する。すなわち、かかるRFIDリーダライタ4が、本発明に係るRFID読取手段を構成する。RFIDリーダライタ4は、筐体上方が通信可能範囲となる据え置きタイプであり、RFIDラベル10を、RFIDリーダライタ4の筐体上方に配置することで、当該RFIDラベル10のデータを読み書き可能となる。なお、RFIDリーダライタ4は、RFIDラベル10の記憶エリア(UII,USER、RESERVED)毎に、データの読み書きを実行する。かかるRFIDリーダライタ4は、汎用品を好適に用い得るため、詳細な説明は省略する。
QRコードリーダ3は、制御用PC2に接続されて、制御用PC2のコマンドにしたがってQRコード14の読取りを実行し、読み取ったQRコード14のデータを制御用PC2に出力するものである。かかるQRコードリーダ3は、汎用品を好適に用い得る。ここで、QRコードリーダ3は、図3に示すように、RFIDリーダライタ4の筐体の上方に配置されて、直下を通過するQRコード14のデータを読み取り得るよう配設される。かかる構成によれば、RFIDラベル10がRFIDリーダライタ4の通信可能範囲に配置された時に、当該RFIDラベル10のQRコード14に記録されたシリアル番号をQRコードリーダ3によって読取可能となる。すなわち、かかるQRコードリーダ3が、本発明に係る光学情報読取手段を構成する。
図3に示すように、用紙送り装置5は、書込検証対象のRFIDラベル10が仮着されたロール紙15をセットするロール紙引出ホルダ30と、引き出されたロール紙15がRFIDリーダライタ4の通信可能範囲を通過するようロール紙15を移送する送りローラ32と、通信可能範囲を通過したロール紙15を巻き取るロール紙巻取ホルダ31とで構成される。かかる用紙送り装置5は、制御用PC2に接続されて、制御用PC2からのコマンドにしたがって、ロール紙15に仮着されたRFIDラベル10を、RFIDリーダライタ4の通信範囲に1枚ずつ配置されるように、ロール紙15を間欠的に移送する。すなわち、かかる用紙送り装置5が、本発明に係るラベル移送手段を構成する。
制御用PC2は、上述したように、QRコードリーダ3、RFIDリーダライタ4、及び用紙送り装置5の作動を制御するとともに、RFIDリーダライタ4が読み取ったデータに基づいて、RFIDラベル10に正常にデータが書き込まれているか否かを判定する。
具体的には、制御用PC2には、RFID書込検証プログラムがインストールされる。制御用PC2は、RFID書込検証プログラムの実行中に開始操作がなされると、当該操作をトリガーとして、QRコードリーダ3,RFIDリーダライタ4、用紙送り装置5を協調的に作動させて、ロール紙15のRFIDラベル10に書き込まれたデータの検証を連続的に実行する書込検証処理を実行する。
ここで、制御用PC2の記憶装置には、照合用データテーブルが記憶される。照合用データテーブルは、各RFIDラベル10に書き込まれたデータと照合する照合用データを、各RFIDラベル10のシリアル番号と紐付けしたデータベースであり、QRコードリーダ3が読み取る各RFIDラベル10のシリアル番号と、かかる照合用データテーブルとに基づいて、各RFIDラベル10に対応する照合用データを特定できる。すなわち、本発明に係る照合用データ取得手段は、QRコードリーダ3や照合用データテーブル等によって構成される。
照合用データは、各RFID10のICチップ17に書き込んだ書込元データである。すなわち、RFIDラベル10に正常にデータが書き込まれている場合は、当該RFIDラベル10が記憶するデータと、書込元データは一致する。ここで、書込元データは、ICチップ17の3つの記憶エリア(USER、UII、RESERVED)に分割して書き込まれており、図4に示すように、照合用データテーブルには、RFIDラベル10のシリアル番号に対して、ICチップ17の各記憶エリアに書き込んだ3つの書込元データが紐付けされている。
また、制御用PC2の記憶装置には、書込検証処理のログ(履歴情報)が記憶される。ログには、RFIDラベルのシリアル番号と、当該ラベルの検証結果とが紐付けして蓄積記憶される。後述するように、本実施例では、かかるログの情報に基づいて、ビットエラーの出現頻度が推定される。すなわち、本発明に係る検証履歴記憶手段は、制御用PC2によって実現される。
制御用PC2は、RFID書込検証プログラムの実行中に、ユーザインタフェースとしての設定操作画面7をディスプレイに表示する。設定操作画面7では、使用者にRFIDラベル10の書込検証に関する各種の情報が表示されるとともに、使用者は設定操作画面7を介して書込検証に関する各種の設定を行うことができる。
図5は、設定操作画面7の一表示例を示したものである。詳述すると、設定操作画面7の上部には、検証対象設定部20と検証レベル設定部21が表示される。検証対象設定部20は、使用者がデータの検証対象エリアを設定する箇所であり、UII、USER、RESERVEDの各記憶エリアのうち、使用者がチェックを入れた記憶エリアに記憶されたデータが書込検証の対象として設定される。なお、検証対象エリアは複数設定することも可能である。検証レベル設定部21は、使用者が書込検証のレベルを設定する箇所である。検証レベルは、「低」、「中」、「高」の三段階が用意される。後述するように、検証レベルが高いほど、データの読取・照合を繰り返す回数が多くなり、ビットエラーを含むRFIDラベル10を発見し易くなる。
また、設定操作画面7の下部には、照合用データテーブル表示部22、ログ出力先表示部23、操作案内部24が表示される。照合用データテーブル表示部22には、取り込んだ照合用データテーブルのファイル名が表示される。ログ出力先表示部23は、設定されたログ出力先が表示される。そして、操作案内部24には、操作に使用するファンクションキーの機能案内が表示される。例えば、「F2」キーを操作すれば、照合用データテーブルを書込検証プログラムに取り込ませることができる。また、「F10」キーを操作すれば、ログ出力先ファイルを指定することができる。
RFID書込検証プログラムを用いた書込検証処理の手順について説明する。
まず、書込検証処理の開始に先立って、用紙送り装置5にロール紙15をセットする(図3参照)。また、書込検証処理に関する各種の設定を行う。具体的には、検証するロール紙15に応じた照合用データテーブルの取込み、ログ出力先の指定、検証対象エリアの選択、検証レベルの設定などを行う。そして、ロール紙15のセット及び設定完了後に、開始操作(「F5」キー押下)を行うと、書込検証処理が開始される。書込検証処理では、概ね以下の(1)~(6)の手順を繰り返すことで、ロール紙15に仮着された複数のRFIDラベル10の書込検証が1枚ずつ順番に実行される。
(1)用紙送り装置5がロール紙15を移送して、ロール紙15に仮着された未検証のRFIDラベル10一枚をRFIDリーダライタ4の通信可能範囲に配置する。
(2)QRコードリーダ3が、RFIDリーダライタ4の通信可能範囲に配置されたRFIDラベル10のQRコード14を読み取り、読み取ったデータ、すなわち、当該RFIDラベル10のシリアル番号を制御用PC2に出力する。
(3)制御用PC2が、入力されたシリアル番号に基づいてRFIDリーダライタ4の通信可能範囲にあるRFIDラベル10を特定し、照合用データテーブルから、当該RFIDラベル10に対応する書込元データを抽出する。
(4)制御用PC2が、RFIDリーダライタ4を介して、通信可能範囲のRFIDラベル10のICチップ17からデータを読み取って、読取データを書込元データと照合することにより、当該RFIDラベル10のICチップ17に正常にデータが書き込まれているか否かを検証する。かかる検証の詳細は後述する。
(5)(4)の結果、正常にデータが書き込まれていると判定された場合には、当該検証結果をログに蓄積記憶して、再び(1)の手順から処理を実行する。
(6)(4)の結果、正常にデータが書き込まれていないと判定された場合は、当該検証結果をログに蓄積記憶して、ディスプレイにエラーメッセージを表示する。エラーメッセージが表示された場合、使用者は当該RFIDラベル10をロール紙15から除去して、再開操作を行う。そして、書込検証システムは、再開操作がなされると、再び(1)の手順から処理を実行する。
上述のように、書込検証処理では、検証対象のRFIDラベル10のICチップ17からデータを読み取って、読取データを当該RFIDラベル10の書込元データと照合することにより、当該RFIDラベル10に正常にデータが書き込まれているか否かを判定する。ここで、従来は、読取データと書込元データが一致すれば、当該RFIDラベル10にデータが正常に書き込まれていると考えられていたが、上述のように、不安定なビットエラーを含むRFIDラベルは、書込元データと一回照合しただけでは、半分程度が検出漏れとなることが判明したため、本実施例の書込検証処理では、検証対象エリアのデータについて、ICチップ17からの読取りを複数回繰返し、繰返し読み取った複数回分のデータを、書込元データと夫々照合する。そして、全ての読取データが書込元データと一致した場合にのみ、当該RFIDラベル10に検証対象エリアにデータが正常に書き込まれていると判定する。
ここで、書込検証処理においては、データの読取りと照合を多く繰り返すほど、検証精度が向上するが、その一方で、処理時間が増加する。このため、RFID書込検証プログラムでは、検証対象のRFIDラベルに求められる不良率と処理効率を考慮して、使用者が読取・照合の繰返回数(以下、単に「繰返回数」とも言う。)を設定し得るようになっている。具体的には、上述のように、設定操作画面7においては、検証対象エリア毎に「高」「中」「低」の3段階の検証レベルを選択可能となっている。各検証レベルには、書込検証処理における繰返回数が設定されており、使用者は検証レベルを選択することで、書込検証処理における繰返回数を選択できる。すなわち、本発明に係る繰返回数選択手段は、制御用PC2によって実現される。なお、各検証レベルには「低」→「中」→「高」の順に大きな繰返回数が設定されており、検証レベルが高いほど検証精度が高くなるよう構成される。
ここで、RFID書込検証プログラムでは、各検証レベルにおける繰返回数の手動設定と自動設定が可能である。繰返回数の手動設定は、使用者が手動設定キー「F8」を押下することで開始される。具体的には、手動設定キーを押下すると、手動設定用画面(図示省略)がディスプレイに表示されて、使用者は、手動設定用画面において各記憶エリアの繰返回数を検証レベル毎に設定可能となる。
一方、繰返回数の自動設定は、使用者が自動設定キー「F9」を押下することで開始される。具体的には、自動設定キーを押下すると、制御用PC2が、書込検証処理のログに基づいて、各記憶エリアの繰返回数を検証レベル毎に自動設定する。より具体的には、繰返回数の自動設定では、制御用PC2は、規定の算出方法によって、書込検証処理のログから得られるビットエラーの検出頻度から、検証対象のRFIDラベル10の各記憶エリアにおけるビットエラーの出現頻度を統計的に推定し、ビットエラーが検出漏れとなる頻度が、各検証レベルにおいて下記の条件を充足するように各記憶エリアの繰返回数が設定される。すなわち、本発明に係る繰返回数自動設定手段は、制御用PC2によって実現される。
検証レベル「低」:ビットエラーの検出漏れが10ppm以下
検証レベル「中」:ビットエラーの検出漏れが1ppm以下
検証レベル「高」:ビットエラーの検出漏れが0.1ppm以下
図6は、RFID書込検証プログラムにおける書込検証処理の制御処理を示すフローチャートである。かかる制御処理は、RFID書込検証プログラムの実行中に、開始操作が行われることを契機に開始される。図6のフローチャートにおける各ステップの詳細は下記のとおりである。なお、本発明に係る書込検証手段は、図6のステップS4~S12の処理により主に実現される。また、本発明に係るデータ照合手段は、図6のステップS8,S9の処理により主に実現される。また、本発明に係るデータ読取ステップは、ステップS5~S7,S10,S11によって主に実現される。また、本発明に係るデータ照合ステップは、ステップS5,S6,S8,S10,S11によって主に実現される。また、本発明に係る書込検証ステップは、ステップS5,S6,S9~S12によって主に実現される。
S1:用紙送り装置5を作動させて、ロール紙15をラベル一枚分だけ移送して、未処理のRFIDラベル10を一枚、RFIDリーダライタ4の通信可能範囲に配置する。
S2:QRコードリーダ3を介して、RFIDリーダライタ4の通信可能範囲に配置したRFIDラベル10のQRコード14に記録されたシリアル番号を読み取る(S3)。
S3:ステップS2で読み込んだシリアル番号に基づいて、当該RFIDラベル10に書き込んだ書込元データを、照合用テーブルから抽出する。
S4:設定操作画面7で選択された検証対象エリアを設定する。検証対象エリアが複数選択されている場合は、選択された記憶エリアの中から、未検証の記憶エリアを一つ設定する。
S5:検証対象エリアについて、予め設定された検証レベルに応じた繰返回数を設定する。
S6:繰返回数計数用のカウンタをリセットする。
S7:RFIDリーダライタ4を介して、RFIDラベル10のICチップ17の検証対象エリアに記憶されたデータを読み取る。
S8:検証対象エリアから読み取ったデータと、書込元データとを照合する。
S9:ステップS8で、読取データと書込元データとが一致したか否かを判定する。
S10:ステップS9で「一致」と判定した場合は、前記カウンタを更新する。
S11:前記カウンタの値が、設定された繰返回数に達していない場合は、ステップS7へ移行して、検証対象エリアからのデータ読取りと照合を繰り返す。
S12:前記カウンタの値が、設定された繰返回数に達している場合は、指定場所に成功ログを出力する。
S13:検証対象のRFIDラベル10について、まだ検証していない検証対象エリアが存在する場合は、ステップS4へ移行して、未検証の検証対象エリアについての検証を実行する。
S14:終了操作が行われていた場合は、書込検証処理を終了する。
S15:ステップS9で「不一致」と判定した場合は、使用者に対するエラー報知を実行する。
S16:指定場所に失敗ログを出力する。
S17:使用者によりエラーに係るRFIDラベル10が除去されて、再開操作が行われるまで待機する。
S18:検証したRFIDラベル10がロール紙15に仮着された最後のラベルであるか否かを判定し、最後のラベルである場合は、書込検証処理を終了する。最後のラベルでない場合は、ステップS1へ移行して、未検証のRFIDラベル10を検証する。
以上のように、本実施例の書込検証システムでは、一枚のRFIDラベル10について、同一の記憶エリアのデータを繰り返し読み取って、読取データと書込元データとの照合を繰り返し、全ての読取データが書込元データと一致したと判定した場合にのみ、当該記憶エリアにデータが正常に書き込まれていると判定するため、不安定なビットエラーを含むRFIDラベル10を、従来構成に比べて高い精度で検出して除去できるという利点がある。
また、本実施例では、検証対象のRFIDラベル10に記録されたシリアル番号を光学的に読み取って、当該シリアル番号に紐付けられた照合用データ(書込元データ)を照合に用いるため、照合用データの取り違えが生じないという利点がある。
また、本実施例では、RFIDリーダライタ4の通信可能範囲に配置されたRFIDラベル10のQRコード14を読み取り得る位置にQRコードリーダ3が配置され、書込検証処理では、用紙送り装置5によって、ロール紙15に仮着されたRFIDラベル10を、RFIDリーダライタ4の通信可能範囲に一枚ずつ順番に配置するため、複数のRFIDラベル10の書込検証を連続的に実行できるという利点がある。
また、本実施例の書込検証システムでは、使用者は、検証レベルの選択により、データの読取・照合を繰り返す回数を選択できるから、検証対象のRFIDラベルの仕様に応じて検証レベルを選択することで、検証の精度と効率のバランスをとることができるという利点がある。
また、本実施例の書込検証システムでは、使用者は、検証レベルをICチップ17の検証対象エリア毎に選択できるから、各記憶エリアに記憶するデータの特性に応じて繰返回数を選択することで、検証の精度と効率のバランスを細かく調整できるという利点がある。
また、本実施例の書込検証システムは、書込検証処理のログに基づいて、ビットエラーを含むRFIDラベル10の出現頻度を推測して、各検証レベルにおける繰返回数を自動設定する機能を具備しているため、過度に少ない繰返回数や、無駄に多い繰返回数が設定されて、検証精度や検証効率が大幅に低下することを防止できるという利点がある。
また、本実施例の書込検証システムは、上記RFID書込検証プログラムを汎用のコンピュータにインストールしさえすれば、既存のハードウェアの組合せによって低廉に実現できるという利点もある。
なお、本発明は、上記実施例の形態に限らず本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更を加えることができる。
例えば、上記実施例では、各RFIDラベルに書き込んだ書込元データを照合用データとして、各RFIDラベルから読み取った読取データと書込元データとを照合しているが、本発明に係る照合用データは、書込元データに限らず、各RFIDラベルに書き込んだ書込元データから算出したハッシュ値やCRC等であってもよい。例えば、ハッシュ値を照合用データとする場合は、各RFIDラベルから読み取った読取データからハッシュ値を算出して、照合用データ(書込元データから算出したハッシュ値)と照合すればよい。
また、上記実施例では、検証対象のRFIDラベル10にはQRコード14が付されており、当該QRコード14に記録されたシリアル番号をキーとして、当該RFIDラベル10の照合用データを抽出する構成となっているが、QRコード14に替えて、OCR文字によってシリアル番号を記録するようにしてもよい。また、RFIDラベル10のQRコード14に照合用データそのものを記録しておき、QRコード14から読み取った照合用データと、RFIDラベル10のICチップ17に記憶されたデータとを照合するようにしてもよい。また、照合用データリストに含まれる各RFIDラベル10の照合用データを、ロール紙15に仮着された順番に整列させておけば、RFIDラベル10をQRコード14によって特定する手間が不要となる。
また、上記実施例では、読取データと照合用データが不一致となったRFIDラベル10は、書込不良ラベルとしてロール紙15から除去しているが、書込不良ラベル検出時の対応は適宜変更可能である。例えば、書込不良ラベルを検出した時点で、制御用PC2が、RFIDリーダライタ4を介して、当該書込不良ラベルに正常なデータを再書込みするようにしてもよい。また、書込不良ラベルを除去するだけでなく、除去した部分に替わりのRFIDラベル10を仮着するようにしてもよい。
また、上記実施例の書込検証システムは、データ書込済みのRFIDラベル10が仮着されたロール紙15を引き出して、各RFIDラベル10のデータ検証を行うものであるが、本発明に係る書込検証システムは、RFIDラベル10の製造ラインに組み込まれるものであってもよい。
また、上記実施例の書込検証システムでは、「高」「中」「低」のいずれの検証レベルでも、データの読取・照合を複数回繰り返すものであるが、比較的高い不良率が許容される場合には、検証レベル「低」において、データの読取・照合を繰り返さず、1回実行するだけとしてもよい。また、上記実施例の書込検証システムでは、「高」「中」「低」の検証レベルを選択することで、書込検証処理における繰返回数を間接的に選択するよう構成されているが、かかる構成に替えて、書込検証処理の繰返回数を、1~10回の中から使用者に直接選択させるよう構成してもよい。
1 RFIDラベル書込検証システム
2 制御用PC
3 QRコードリーダ(光学情報読取手段)
4 RFIDリーダライタ(RFID読取手段)
5 用紙送り装置(ラベル移送手段)
10 RFIDラベル
11 シート基材
12 RFIDインレット
13 ステッカー
14 QRコード
15 ロール紙
17 ICチップ
18 アンテナ
20 検証対象設定部
21 検証レベル設定部
22 照合用データテーブル表示部
23 ログ出力先表示部
24 操作案内部
30 ロール紙引出ホルダ
31 ロール紙巻取ホルダ
32 送りローラ

Claims (7)

  1. RFIDラベルにデータが正常に書き込まれているか否かを検証するRFIDラベルの書込検証システムであって、
    検証対象のRFIDラベルのICチップが記憶するデータを読取可能なRFID読取手段と、
    検証対象のRFIDラベルのICチップに書き込んだデータに対応する照合用データを取得する照合用データ取得手段と、
    RFID読取手段がRFIDラベルのICチップから読み取った読取データと、照合用データ取得手段が取得した照合用データとが整合しているか否かを判定するデータ照合手段と、
    1つのRFIDラベルについて、ICチップの一部又は全ての記憶エリアのデータをRFID読取手段に繰返し読み取らせるとともに、RFID読取手段が繰返し読み取った読取データの夫々が、照合用データと整合しているか否かをデータ照合手段に判定させ、全ての読取データが照合用データと整合しているとデータ照合手段が判定した場合に、当該RFIDラベルのICチップの前記一部又は全ての記憶エリアにデータが正常に書き込まれていると判定する書込検証手段と
    を備えることを特徴とするRFIDラベル書込検証システム。
  2. 照合用データ取得手段は、検証対象のRFIDラベルに光学認識可能な態様で記録された識別情報を光学的に読み取る光学情報読取手段を備え、当該光学情報読取手段が読み取った識別情報に基づいて、検証対象のRFIDラベルに係る照合用データを取得することを特徴とする請求項1に記載のRFIDラベル書込検証システム。
  3. 検証対象の複数のRFIDラベルを、RFID読取手段の通信可能範囲に1つずつ順番に配置するラベル移送手段を備え、
    光学情報読取手段は、RFID読取手段の通信可能範囲に配置されたRFIDラベルに光学認識可能な態様で記録された識別情報を光学的に読み取り得る位置に配置されていることを特徴とする請求項2に記載のRFIDラベル書込検証システム。
  4. 書込検証手段がRFID読取手段にICチップが記憶するデータを繰返し読み取らせる繰返回数を、使用者に選択可能とする繰返回数選択手段を備えることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のRFIDラベル書込検証システム。
  5. 検証対象のRFIDラベルのICチップは、RFIDラベルの識別に係るデータを記憶する識別データ記憶エリアと、RFIDラベルの識別に係るデータ以外のデータを記憶する非識別データ記憶エリアとを備え、
    繰返回数選択手段は、識別データ記憶エリアのデータ読取りの繰返回数と、非識別データ記憶エリアのデータ読取りの繰返回数とを、使用者に、個別に選択可能とするものであることを特徴とする請求項4に記載のRFIDラベル書込検証システム。
  6. 書込検証手段の判定結果を蓄積記憶する検証履歴記憶手段と、
    検証履歴記憶手段が記憶する情報に基づいて、繰返回数選択手段が使用者に選択可能とする繰返回数を設定する繰返回数自動設定手段を備えることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載のRFIDラベル書込検証システム。
  7. コンピュータに、
    RFIDリーダを制御して、当該RFIDリーダの通信可能範囲にあるRFIDラベルについて、ICチップの一部又は全ての記憶エリアのデータを繰返し読み取るデータ読取ステップと、
    データ読取ステップで繰返し読み取った読取データの夫々が、照合用データと整合しているか否かを判定するデータ照合ステップと、
    データ照合ステップで、全ての読取データが照合用データと整合していると判定した場合に、当該RFIDラベルのICチップの前記一部又は全ての記憶エリアにデータが正常に書き込まれていると判定する書込検証ステップと
    を実行させるためのプログラム。
JP2018229337A 2018-12-06 2018-12-06 Rfidラベル書込検証システム及びプログラム Active JP7201991B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018229337A JP7201991B2 (ja) 2018-12-06 2018-12-06 Rfidラベル書込検証システム及びプログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018229337A JP7201991B2 (ja) 2018-12-06 2018-12-06 Rfidラベル書込検証システム及びプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020091741A JP2020091741A (ja) 2020-06-11
JP7201991B2 true JP7201991B2 (ja) 2023-01-11

Family

ID=71013811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018229337A Active JP7201991B2 (ja) 2018-12-06 2018-12-06 Rfidラベル書込検証システム及びプログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7201991B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021196835A (ja) * 2020-06-12 2021-12-27 オムロン株式会社 保持判定装置、保持判定システムおよび保持判定方法
JPWO2023139648A1 (ja) * 2022-01-18 2023-07-27

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002222095A (ja) 2001-01-25 2002-08-09 Mitsubishi Electric Corp テストデータ生成方式及び試験方式及びテストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体及びテストデータ生成プログラム
JP2003067677A (ja) 2001-08-24 2003-03-07 Nippon Signal Co Ltd:The 非接触型icカード用リーダライタシステム
JP2003168098A (ja) 2001-11-30 2003-06-13 Toppan Forms Co Ltd Rf−idの検査システムおよび検査対象のrf−idフォーム
JP2008141433A (ja) 2006-11-30 2008-06-19 Toshiba Tec Corp 無線通信装置
JP2008269117A (ja) 2007-04-18 2008-11-06 Hitachi Ltd 情報記録媒体、及び情報記録媒体を用いる対象製品の工程管理装置及び工程管理システム
JP2018136955A (ja) 2018-03-14 2018-08-30 サトーホールディングス株式会社 Icタグ発行装置およびシールド板

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000011489A (ja) * 1998-06-29 2000-01-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd アナログテープの種類自動判別方法,種類別誤差補正方法及びたるみ補正方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002222095A (ja) 2001-01-25 2002-08-09 Mitsubishi Electric Corp テストデータ生成方式及び試験方式及びテストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体及びテストデータ生成プログラム
JP2003067677A (ja) 2001-08-24 2003-03-07 Nippon Signal Co Ltd:The 非接触型icカード用リーダライタシステム
JP2003168098A (ja) 2001-11-30 2003-06-13 Toppan Forms Co Ltd Rf−idの検査システムおよび検査対象のrf−idフォーム
JP2008141433A (ja) 2006-11-30 2008-06-19 Toshiba Tec Corp 無線通信装置
JP2008269117A (ja) 2007-04-18 2008-11-06 Hitachi Ltd 情報記録媒体、及び情報記録媒体を用いる対象製品の工程管理装置及び工程管理システム
JP2018136955A (ja) 2018-03-14 2018-08-30 サトーホールディングス株式会社 Icタグ発行装置およびシールド板

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020091741A (ja) 2020-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7334729B2 (en) Apparatus, system, and method for optical verification of product information
JP7201991B2 (ja) Rfidラベル書込検証システム及びプログラム
US8595826B2 (en) Portable electronic device and control method thereof
US20140230241A1 (en) Electronic component mounting system and electronic component mounting method
US20200042752A1 (en) Combination barcode reader and radio frequency identification read/write device
US20140173179A1 (en) Virtual boundary codes in a data image of a read-write memory device
JP5833118B2 (ja) 電子チケット記憶装置、電子チケット確認システム及び方法
CN111099086A (zh) 用于片烟烟包的检测系统、检测方法和制烟设备
US9165091B2 (en) Recipe management apparatus and recipe management method
US10810473B1 (en) Cognitive multi-card handling system for automatic testing of transaction apparatus and testing method thereof
US20100332916A1 (en) Portable electronic apparatus, processing apparatus for portable electronic apparatus, and data processing method in portable electronic apparatus
US7788633B2 (en) Bank note processing machine and method for operating bank note processing machine
CN114020432A (zh) 任务异常处理方法、装置及任务异常处理系统
US9384457B2 (en) Physical distribution management system and physical distribution management method
JP5531933B2 (ja) 電子部品実装システムおよび電子部品実装方法
JP2008046841A (ja) 紙幣処理装置及び紙幣処理方法
JP6880947B2 (ja) 情報処理装置、照合装置、カード発行機
CN101667130A (zh) 具有鉴别功能的嵌入式系统及嵌入式系统的鉴别方法
CN111061651A (zh) 一种串行eeprom型号的识别方法、装置及存储介质
JP4066667B2 (ja) 車両工程管理システム及び方法
JP2010152993A (ja) ライブラリ装置及びその記憶媒体管理方法,プログラム
US20070174502A1 (en) Method and apparatus of identifying type of non-volatile memory
CN113453531B (zh) 供料检测方法及装置
CN112309481B (zh) Eeprom读写检测系统及其方法
JP4371696B2 (ja) Icカード発行システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211129

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20221012

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20221206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221216

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7201991

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150