JP7201991B2 - Ｒｆｉｄラベル書込検証システム及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、ＲＦＩＤラベルにデータが正常に書き込まれているか否かを検証する書込検証システムに関する。

近年、物流分野、工場生産分野などでは、非接触で通信可能なＲＦＩＤラベルが広く利用されている。ＲＦＩＤラベルは、一般的に、ＩＣチップとアンテナを一体化したＲＦＩＤインレットを基材に配設してなる構成であり、取り付ける対象物品の管理に必要な情報をＩＣチップに書き込んでおき、流通管理や生産管理等に使用する。

こうしたＲＦＩＤラベルにあって、ＩＣチップに記憶されるデータが、ＩＣチップに書き込んだ書込元データと、１ビット又は数ビット相違するビットエラーが報告されている。こうしたビットエラーは、データの書込時に何らかの不具合により生じるものと、データ書込後に外的要因により生じるものとが存在すると考えられている。

ここで、従来構成では、データの書込時に生じるビットエラーを解消するために、データの書込み直後にＲＦＩＤラベルからデータを読み取って、書込元データと照合することにより、データが正しく書き込まれたか否かを検証し、書込元データと一致しないＲＦＩＤラベルはビットエラーを含むものとして、ラベルを交換したり、データを再度書込みしたりしている（例えば、特許文献１）。

一方、データ書込後に生じるビットエラーについては、検査をしてラベル交換やデータ修復する手間が大きいため、ビットエラーを含んだデータであっても読取時に書込元データを復元できるように、書込元データを冗長化することが行われている。

特開２００５－１９００８４号公報

上記のようにＲＦＩＤラベルに書き込むデータを冗長化する場合、所要のデータを記憶するのに、比較的大容量のメモリを有するＩＣチップを使用しなくてはならないという問題がある。

本発明は係る現状に鑑みてなされたものであり、データの冗長性を増加させることなく、ビットエラーに起因するＲＦＩＤラベルの不具合を低減することを目的とする。

発明者は、上記課題を解決するために、ＲＦＩＤラベルにおけるビットエラーの発生傾向について検討したところ、データ書込時に生じるビットエラーには、安定なビットエラーと不安定なビットエラーの二種類が存在することを発見した。安定なビットエラーは、本来「０」が記録されるべきビットに「１」が記録され、「１」が記録されるべきビットに「０」が記録されているエラーである。これに対して、不安定なビットエラーは、「０」と「１」のいずれが記録されているかが不明確なエラーである。不安定なビットエラーは、データ読取時に、リーダによって「０」と「１」のいずれであるか強制的に判定されることとなるが、「０」と「１」のいずれと判定されるかは、データを読み取る度に、コイン投げの裏表のように変動することとなる。

安定なビットエラーを含むＲＦＩＤラベルは、データを読み取って書込元データと照合した時に不整合となるため、従来の検証方法で確実に検出可能である。今回発見した不安定なビットエラーを含むＲＦＩＤラベルは、読取時に不安定なビットエラーが正常値と判定され得るため、従来の検証方法では、一定割合が検出漏れとなる。このように、今回の発見により、従来の検証方法では、不安定なビットエラーを含むＲＦＩＤラベルの多くが検出漏れとなっており、データ書込後に生じたと考えられていたビットエラーの中に、データ書込直後の検査をすり抜けたビットエラーが多く含まれていることが判明した。そして、発明者はかかる知見に基づき、不安定なビットエラーを含むＲＦＩＤラベルを低減すべく、さらなる検討を行い、本発明を完成するに到った。

すなわち、本発明は、ＲＦＩＤラベルにデータが正常に書き込まれているか否かを検証するＲＦＩＤラベル書込検証システムであって、検証対象のＲＦＩＤラベルのＩＣチップが記憶するデータを読取可能なＲＦＩＤ読取手段と、検証対象のＲＦＩＤラベルのＩＣチップに書き込んだデータに対応する照合用データを取得する照合用データ取得手段と、ＲＦＩＤ読取手段がＲＦＩＤラベルのＩＣチップから読み取った読取データと、照合用データ取得手段が取得した照合用データとが整合しているか否かを判定するデータ照合手段と、１つのＲＦＩＤラベルについて、ＩＣチップの一部又は全ての記憶エリアのデータをＲＦＩＤ読取手段に繰返し読み取らせるとともに、ＲＦＩＤ読取手段が繰返し読み取った読取データの夫々が、照合用データと整合しているか否かをデータ照合手段に判定させ、全ての読取データが照合用データと整合しているとデータ照合手段が判定した場合に、当該ＲＦＩＤラベルのＩＣチップの前記一部又は全ての記憶エリアにデータが正常に書き込まれていると判定する書込検証手段とを備えることを特徴とするＲＦＩＤラベル書込検証システムである。

上述のように、不安定なビットエラーは、「０」と「１」のいずれと読み取られるかが流動的であるため、不安定なビットエラーを含むＲＦＩＤラベルは、照合用データとの照合において、半分程度は「整合」と判定されて、残りの半分程度は「不整合」と判定されることとなる。このため、本発明のように、１つのＲＦＩＤラベルについて、ＩＣチップに記憶されたデータを繰返し読み取って、照合用データとの照合を繰り返せば、不安定なビットエラーを含むＲＦＩＤラベルを完全には除去できなくても、繰返回数に応じて指数関数的に減少させることができる。このため、本発明に係る書込検証システムによれば、従来構成に比べて、ＲＦＩＤラベルのデータ書込時に生じるビットエラーを大幅に低減可能となる。

本発明にあって、照合用データ取得手段は、検証対象のＲＦＩＤラベルに光学認識可能な態様で記録された識別情報を光学的に読み取る光学情報読取手段を備え、当該光学情報読取手段が読み取った識別情報に基づいて、検証対象のＲＦＩＤラベルに係る照合用データを取得する構成が提案される。

ＲＦＩＤラベルのＩＣチップに書き込まれるデータは、一般的にラベル毎に相違するため、各ＲＦＩＤラベルに書き込んだデータに対応する照合用データもラベル毎に相違するが、かかる構成によれば、検証対象のＲＦＩＤラベルに光学認識可能な態様で記録された識別情報により当該ＲＦＩＤラベルを特定できるため、照合用データを取得する際に、他のＲＦＩＤラベルの照合用データと取り違えるおそれがない。

また、上記構成にあって、さらに、検証対象の複数のＲＦＩＤラベルを、ＲＦＩＤ読取手段の通信可能範囲に１つずつ順番に配置するラベル移送手段を備え、光学情報読取手段は、ＲＦＩＤ読取手段の通信可能範囲に配置されたＲＦＩＤラベルに光学認識可能な態様で記録された識別情報を光学的に読み取り得る位置に配置されている構成が提案される。かかる構成によれば、複数のＲＦＩＤラベルの書込検証を、連続的に実行することが可能となる。

また、本発明にあって、書込検証手段がＲＦＩＤ読取手段にＩＣチップが記憶するデータを繰返し読み取らせる繰返回数を、使用者に選択可能とする繰返回数選択手段を備える構成が提案される。本発明に係る書込検証手段は、繰返回数を増やすほど検証精度が向上するが、その一方で、検証に要する時間が長くなるため、かかる構成とすれば、使用者自らが、検証対象のＲＦＩＤラベルの仕様に応じて繰返回数を選択することで、検証の精度と効率のバランスをとることが可能となる。

また、上記構成にあって、検証対象のＲＦＩＤラベルのＩＣチップは、ＲＦＩＤラベルの識別に係るデータを記憶する識別データ記憶エリアと、ＲＦＩＤラベルの識別に係るデータ以外のデータを記憶する非識別データ記憶エリアとを備え、繰返回数選択手段は、識別データ記憶エリアのデータ読取りの繰返回数と、非識別データ記憶エリアのデータ読取りの繰返回数とを、使用者に、個別に選択可能とするものである構成が提案される。

かかる構成にあっては、各記憶エリアに記憶するデータの特性に応じて繰返回数を選択することで、検証の精度と効率のバランスを細かく調整可能となる。

また、本発明にあって、書込検証手段の判定結果を蓄積記憶する検証履歴記憶手段と、検証履歴記憶手段が記憶する情報に基づいて、繰返回数選択手段が使用者に選択可能とする繰返回数を設定する繰返回数自動設定手段を備える構成が提案される。

かかる構成にあっては、検証履歴記憶手段が記憶する情報を参照することで、検証対象のＲＦＩＤラベルに含まれるビットエラーの出現頻度をある程度推定できるため、不良率が過度に大きくなったり、無駄に小さくなったりするような繰返回数が選択されて、検証精度や検証効率が大幅に低下することを防止できる。

本発明の別の態様として、コンピュータに、ＲＦＩＤリーダを制御して、当該ＲＦＩＤリーダの通信可能範囲にあるＲＦＩＤラベルについて、ＩＣチップの一部又は全ての記憶エリアのデータを繰返し読み取るデータ読取ステップと、データ読取ステップで繰返し読み取った読取データの夫々が、照合用データと整合しているか否かを判定するデータ照合ステップと、データ照合ステップで、全ての読取データが照合用データと整合していると判定した場合に、当該ＲＦＩＤラベルのＩＣチップの前記一部又は全ての記憶エリアにデータが正常に書き込まれていると判定する書込検証ステップとを実行させるためのプログラムが提案される。ここで、本発明に係る「ＲＦＩＤリーダ」は、ＲＦＩＤライタの機能を兼備するＲＦＩＤリーダライタであってもよい。かかるプログラムをコンピュータにインストールすれば、既存のハードウェアの組合せにより、本発明のＲＦＩＤラベル書込検証システムを低廉に実現可能となる。

以上のように、本発明によれば、ビットエラーを含むＲＦＩＤラベルを従来構成よりも高い精度で検出して除去できるため、ＲＦＩＤラベルに書き込むデータの冗長性を増加させることなく、ビットエラーに起因するＲＦＩＤラベルの不具合を低減可能となる。

検証対象のＲＦＩＤラベル１０の平面図と、該ＲＦＩＤラベル１０を仮着したロール紙１５の斜視図である。 実施例のＲＦＩＤラベル書込検証システム１の構成要素を示すブロック図である。 実施例のＲＦＩＤラベル書込検証システム１の概略図である。 照合用データテーブルの内容を示す図表である。 設定操作画面７の表示例である。 書込検証処理の処理内容を示すフローチャートである。

本発明の実施形態を、以下の実施例に従って説明する。
本実施例のＲＦＩＤラベル書込検証システム１（以下、単に「書込検証システム」とも言う。）は、ＲＦＩＤラベルのＩＣチップに所要のデータが書き込まれた後に、当該データが正常に書き込まれている否かを検証するものである。

本実施例の書込検証システム１が検証対象とするＲＦＩＤラベルは、ＵＨＦ帯のパッシブラベルである。具体的には、検証対象のＲＦＩＤラベル１０として、図１（ａ）に示すように、ＩＣチップ１７とアンテナ１８とを一体化してなるＲＦＩＤインレット１２をシート基材１１上に配設してなり、さらに、シート基材１１の表面に、夫々のＲＦＩＤラベル１０の識別情報として固有のシリアル番号が付されたものが挙げられる。

上記ＲＦＩＤインレット１２は、ＩＳＯ規格（ＩＳＯ／ＩＥＣ１８０００－６３）に準拠したものであり、そのＩＣチップ１７のメモリ領域には、複数の記憶エリアが設けられる。具体的には、メモリ領域は、ＲＦＩＤラベル１０の識別に係るデータを記憶するＵＩＩエリアと、使用者が自由に書込可能なＵＳＥＲエリアと、ＩＣチップ１７の製造時に固有情報が記憶されるＴＩＤエリアと、メモリのアクセス許可レベルやパスワードを記憶するＲＥＳＥＲＶＥＤエリアとが設けられる。ここで、ＵＳＥＲエリア及びＲＥＳＥＲＶＥＤエリアは、本発明に係る非識別データ記憶エリアに相当し、ＵＩＩエリアは、本発明に係る識別データ記憶エリアに相当するものである。ＲＦＩＤインレット１２は、上記規格に準拠したものであるため、各記憶エリアにおけるデータの記憶形式の詳細説明は省略する。

図１（ａ）のＲＦＩＤラベル１０において、シリアル番号は８桁の数字であり、シリアル番号が数字とＱＲコード（登録商標）１４で印刷されたステッカー１３がラベルの表面に貼付される。かかるＲＦＩＤラベル１０は、図１（ｂ）に示すように、ロール紙１５の長手方向に沿って等間隔に仮着された状態で製造されて、管理対象物品に貼付される。なお、かかるＲＦＩＤラベル１０は、書込検証システム１の検証対象の典型例に過ぎず、その構成は、適宜変更可能である。

本実施例の書込検証システム１は、上述のＲＦＩＤラベル１０が仮着されたロール紙１５を引き出して、ＲＦＩＤラベル１０にデータが正常に書き込まれているかを一枚ずつ検証し、ロール紙１５を巻き取るものである。本実施例の書込検証システム１は、図２に示すように、ＲＦＩＤラベル１０に付されたＱＲコード１４を読み取るＱＲコードリーダ３と、ＲＦＩＤラベル１０に書き込まれたデータを読み取るＲＦＩＤリーダライタ４と、ロール紙１５を引き出して、ＲＦＩＤリーダライタ４の通信可能範囲に一枚ずつ通した後に巻き取る用紙送り装置５と、制御用ＰＣ２とを備えている。制御用ＰＣ２は、後述するＲＦＩＤ書込検証プログラムがインストールされた汎用のコンピュータであり、各装置の作動を制御するとともに、ＲＦＩＤリーダライタ４が読み取ったデータに基づいて、ＲＦＩＤラベル１０に正常にデータが書き込まれているか否かを判定する。

ＲＦＩＤリーダライタ４は、検証対象のＲＦＩＤラベル１０に記憶されるデータを読み書き可能なものであり、制御用ＰＣ２に接続されて、制御用ＰＣ２からのコマンドにしたがって作動する。すなわち、かかるＲＦＩＤリーダライタ４が、本発明に係るＲＦＩＤ読取手段を構成する。ＲＦＩＤリーダライタ４は、筐体上方が通信可能範囲となる据え置きタイプであり、ＲＦＩＤラベル１０を、ＲＦＩＤリーダライタ４の筐体上方に配置することで、当該ＲＦＩＤラベル１０のデータを読み書き可能となる。なお、ＲＦＩＤリーダライタ４は、ＲＦＩＤラベル１０の記憶エリア（ＵＩＩ，ＵＳＥＲ、ＲＥＳＥＲＶＥＤ）毎に、データの読み書きを実行する。かかるＲＦＩＤリーダライタ４は、汎用品を好適に用い得るため、詳細な説明は省略する。

ＱＲコードリーダ３は、制御用ＰＣ２に接続されて、制御用ＰＣ２のコマンドにしたがってＱＲコード１４の読取りを実行し、読み取ったＱＲコード１４のデータを制御用ＰＣ２に出力するものである。かかるＱＲコードリーダ３は、汎用品を好適に用い得る。ここで、ＱＲコードリーダ３は、図３に示すように、ＲＦＩＤリーダライタ４の筐体の上方に配置されて、直下を通過するＱＲコード１４のデータを読み取り得るよう配設される。かかる構成によれば、ＲＦＩＤラベル１０がＲＦＩＤリーダライタ４の通信可能範囲に配置された時に、当該ＲＦＩＤラベル１０のＱＲコード１４に記録されたシリアル番号をＱＲコードリーダ３によって読取可能となる。すなわち、かかるＱＲコードリーダ３が、本発明に係る光学情報読取手段を構成する。

図３に示すように、用紙送り装置５は、書込検証対象のＲＦＩＤラベル１０が仮着されたロール紙１５をセットするロール紙引出ホルダ３０と、引き出されたロール紙１５がＲＦＩＤリーダライタ４の通信可能範囲を通過するようロール紙１５を移送する送りローラ３２と、通信可能範囲を通過したロール紙１５を巻き取るロール紙巻取ホルダ３１とで構成される。かかる用紙送り装置５は、制御用ＰＣ２に接続されて、制御用ＰＣ２からのコマンドにしたがって、ロール紙１５に仮着されたＲＦＩＤラベル１０を、ＲＦＩＤリーダライタ４の通信範囲に１枚ずつ配置されるように、ロール紙１５を間欠的に移送する。すなわち、かかる用紙送り装置５が、本発明に係るラベル移送手段を構成する。

制御用ＰＣ２は、上述したように、ＱＲコードリーダ３、ＲＦＩＤリーダライタ４、及び用紙送り装置５の作動を制御するとともに、ＲＦＩＤリーダライタ４が読み取ったデータに基づいて、ＲＦＩＤラベル１０に正常にデータが書き込まれているか否かを判定する。

具体的には、制御用ＰＣ２には、ＲＦＩＤ書込検証プログラムがインストールされる。制御用ＰＣ２は、ＲＦＩＤ書込検証プログラムの実行中に開始操作がなされると、当該操作をトリガーとして、ＱＲコードリーダ３，ＲＦＩＤリーダライタ４、用紙送り装置５を協調的に作動させて、ロール紙１５のＲＦＩＤラベル１０に書き込まれたデータの検証を連続的に実行する書込検証処理を実行する。

ここで、制御用ＰＣ２の記憶装置には、照合用データテーブルが記憶される。照合用データテーブルは、各ＲＦＩＤラベル１０に書き込まれたデータと照合する照合用データを、各ＲＦＩＤラベル１０のシリアル番号と紐付けしたデータベースであり、ＱＲコードリーダ３が読み取る各ＲＦＩＤラベル１０のシリアル番号と、かかる照合用データテーブルとに基づいて、各ＲＦＩＤラベル１０に対応する照合用データを特定できる。すなわち、本発明に係る照合用データ取得手段は、ＱＲコードリーダ３や照合用データテーブル等によって構成される。

照合用データは、各ＲＦＩＤ１０のＩＣチップ１７に書き込んだ書込元データである。すなわち、ＲＦＩＤラベル１０に正常にデータが書き込まれている場合は、当該ＲＦＩＤラベル１０が記憶するデータと、書込元データは一致する。ここで、書込元データは、ＩＣチップ１７の３つの記憶エリア（ＵＳＥＲ、ＵＩＩ、ＲＥＳＥＲＶＥＤ）に分割して書き込まれており、図４に示すように、照合用データテーブルには、ＲＦＩＤラベル１０のシリアル番号に対して、ＩＣチップ１７の各記憶エリアに書き込んだ３つの書込元データが紐付けされている。

また、制御用ＰＣ２の記憶装置には、書込検証処理のログ（履歴情報）が記憶される。ログには、ＲＦＩＤラベルのシリアル番号と、当該ラベルの検証結果とが紐付けして蓄積記憶される。後述するように、本実施例では、かかるログの情報に基づいて、ビットエラーの出現頻度が推定される。すなわち、本発明に係る検証履歴記憶手段は、制御用ＰＣ２によって実現される。

制御用ＰＣ２は、ＲＦＩＤ書込検証プログラムの実行中に、ユーザインタフェースとしての設定操作画面７をディスプレイに表示する。設定操作画面７では、使用者にＲＦＩＤラベル１０の書込検証に関する各種の情報が表示されるとともに、使用者は設定操作画面７を介して書込検証に関する各種の設定を行うことができる。

図５は、設定操作画面７の一表示例を示したものである。詳述すると、設定操作画面７の上部には、検証対象設定部２０と検証レベル設定部２１が表示される。検証対象設定部２０は、使用者がデータの検証対象エリアを設定する箇所であり、ＵＩＩ、ＵＳＥＲ、ＲＥＳＥＲＶＥＤの各記憶エリアのうち、使用者がチェックを入れた記憶エリアに記憶されたデータが書込検証の対象として設定される。なお、検証対象エリアは複数設定することも可能である。検証レベル設定部２１は、使用者が書込検証のレベルを設定する箇所である。検証レベルは、「低」、「中」、「高」の三段階が用意される。後述するように、検証レベルが高いほど、データの読取・照合を繰り返す回数が多くなり、ビットエラーを含むＲＦＩＤラベル１０を発見し易くなる。

また、設定操作画面７の下部には、照合用データテーブル表示部２２、ログ出力先表示部２３、操作案内部２４が表示される。照合用データテーブル表示部２２には、取り込んだ照合用データテーブルのファイル名が表示される。ログ出力先表示部２３は、設定されたログ出力先が表示される。そして、操作案内部２４には、操作に使用するファンクションキーの機能案内が表示される。例えば、「Ｆ２」キーを操作すれば、照合用データテーブルを書込検証プログラムに取り込ませることができる。また、「Ｆ１０」キーを操作すれば、ログ出力先ファイルを指定することができる。

ＲＦＩＤ書込検証プログラムを用いた書込検証処理の手順について説明する。
まず、書込検証処理の開始に先立って、用紙送り装置５にロール紙１５をセットする（図３参照）。また、書込検証処理に関する各種の設定を行う。具体的には、検証するロール紙１５に応じた照合用データテーブルの取込み、ログ出力先の指定、検証対象エリアの選択、検証レベルの設定などを行う。そして、ロール紙１５のセット及び設定完了後に、開始操作（「Ｆ５」キー押下）を行うと、書込検証処理が開始される。書込検証処理では、概ね以下の（１）～（６）の手順を繰り返すことで、ロール紙１５に仮着された複数のＲＦＩＤラベル１０の書込検証が１枚ずつ順番に実行される。
（１）用紙送り装置５がロール紙１５を移送して、ロール紙１５に仮着された未検証のＲＦＩＤラベル１０一枚をＲＦＩＤリーダライタ４の通信可能範囲に配置する。
（２）ＱＲコードリーダ３が、ＲＦＩＤリーダライタ４の通信可能範囲に配置されたＲＦＩＤラベル１０のＱＲコード１４を読み取り、読み取ったデータ、すなわち、当該ＲＦＩＤラベル１０のシリアル番号を制御用ＰＣ２に出力する。
（３）制御用ＰＣ２が、入力されたシリアル番号に基づいてＲＦＩＤリーダライタ４の通信可能範囲にあるＲＦＩＤラベル１０を特定し、照合用データテーブルから、当該ＲＦＩＤラベル１０に対応する書込元データを抽出する。
（４）制御用ＰＣ２が、ＲＦＩＤリーダライタ４を介して、通信可能範囲のＲＦＩＤラベル１０のＩＣチップ１７からデータを読み取って、読取データを書込元データと照合することにより、当該ＲＦＩＤラベル１０のＩＣチップ１７に正常にデータが書き込まれているか否かを検証する。かかる検証の詳細は後述する。
（５）（４）の結果、正常にデータが書き込まれていると判定された場合には、当該検証結果をログに蓄積記憶して、再び（１）の手順から処理を実行する。
（６）（４）の結果、正常にデータが書き込まれていないと判定された場合は、当該検証結果をログに蓄積記憶して、ディスプレイにエラーメッセージを表示する。エラーメッセージが表示された場合、使用者は当該ＲＦＩＤラベル１０をロール紙１５から除去して、再開操作を行う。そして、書込検証システムは、再開操作がなされると、再び（１）の手順から処理を実行する。

上述のように、書込検証処理では、検証対象のＲＦＩＤラベル１０のＩＣチップ１７からデータを読み取って、読取データを当該ＲＦＩＤラベル１０の書込元データと照合することにより、当該ＲＦＩＤラベル１０に正常にデータが書き込まれているか否かを判定する。ここで、従来は、読取データと書込元データが一致すれば、当該ＲＦＩＤラベル１０にデータが正常に書き込まれていると考えられていたが、上述のように、不安定なビットエラーを含むＲＦＩＤラベルは、書込元データと一回照合しただけでは、半分程度が検出漏れとなることが判明したため、本実施例の書込検証処理では、検証対象エリアのデータについて、ＩＣチップ１７からの読取りを複数回繰返し、繰返し読み取った複数回分のデータを、書込元データと夫々照合する。そして、全ての読取データが書込元データと一致した場合にのみ、当該ＲＦＩＤラベル１０に検証対象エリアにデータが正常に書き込まれていると判定する。

ここで、書込検証処理においては、データの読取りと照合を多く繰り返すほど、検証精度が向上するが、その一方で、処理時間が増加する。このため、ＲＦＩＤ書込検証プログラムでは、検証対象のＲＦＩＤラベルに求められる不良率と処理効率を考慮して、使用者が読取・照合の繰返回数（以下、単に「繰返回数」とも言う。）を設定し得るようになっている。具体的には、上述のように、設定操作画面７においては、検証対象エリア毎に「高」「中」「低」の３段階の検証レベルを選択可能となっている。各検証レベルには、書込検証処理における繰返回数が設定されており、使用者は検証レベルを選択することで、書込検証処理における繰返回数を選択できる。すなわち、本発明に係る繰返回数選択手段は、制御用ＰＣ２によって実現される。なお、各検証レベルには「低」→「中」→「高」の順に大きな繰返回数が設定されており、検証レベルが高いほど検証精度が高くなるよう構成される。

ここで、ＲＦＩＤ書込検証プログラムでは、各検証レベルにおける繰返回数の手動設定と自動設定が可能である。繰返回数の手動設定は、使用者が手動設定キー「Ｆ８」を押下することで開始される。具体的には、手動設定キーを押下すると、手動設定用画面（図示省略）がディスプレイに表示されて、使用者は、手動設定用画面において各記憶エリアの繰返回数を検証レベル毎に設定可能となる。

一方、繰返回数の自動設定は、使用者が自動設定キー「Ｆ９」を押下することで開始される。具体的には、自動設定キーを押下すると、制御用ＰＣ２が、書込検証処理のログに基づいて、各記憶エリアの繰返回数を検証レベル毎に自動設定する。より具体的には、繰返回数の自動設定では、制御用ＰＣ２は、規定の算出方法によって、書込検証処理のログから得られるビットエラーの検出頻度から、検証対象のＲＦＩＤラベル１０の各記憶エリアにおけるビットエラーの出現頻度を統計的に推定し、ビットエラーが検出漏れとなる頻度が、各検証レベルにおいて下記の条件を充足するように各記憶エリアの繰返回数が設定される。すなわち、本発明に係る繰返回数自動設定手段は、制御用ＰＣ２によって実現される。
検証レベル「低」：ビットエラーの検出漏れが１０ｐｐｍ以下
検証レベル「中」：ビットエラーの検出漏れが１ｐｐｍ以下
検証レベル「高」：ビットエラーの検出漏れが０．１ｐｐｍ以下

図６は、ＲＦＩＤ書込検証プログラムにおける書込検証処理の制御処理を示すフローチャートである。かかる制御処理は、ＲＦＩＤ書込検証プログラムの実行中に、開始操作が行われることを契機に開始される。図６のフローチャートにおける各ステップの詳細は下記のとおりである。なお、本発明に係る書込検証手段は、図６のステップＳ４～Ｓ１２の処理により主に実現される。また、本発明に係るデータ照合手段は、図６のステップＳ８，Ｓ９の処理により主に実現される。また、本発明に係るデータ読取ステップは、ステップＳ５～Ｓ７，Ｓ１０，Ｓ１１によって主に実現される。また、本発明に係るデータ照合ステップは、ステップＳ５，Ｓ６，Ｓ８，Ｓ１０，Ｓ１１によって主に実現される。また、本発明に係る書込検証ステップは、ステップＳ５，Ｓ６，Ｓ９～Ｓ１２によって主に実現される。
Ｓ１：用紙送り装置５を作動させて、ロール紙１５をラベル一枚分だけ移送して、未処理のＲＦＩＤラベル１０を一枚、ＲＦＩＤリーダライタ４の通信可能範囲に配置する。
Ｓ２：ＱＲコードリーダ３を介して、ＲＦＩＤリーダライタ４の通信可能範囲に配置したＲＦＩＤラベル１０のＱＲコード１４に記録されたシリアル番号を読み取る（Ｓ３）。
Ｓ３：ステップＳ２で読み込んだシリアル番号に基づいて、当該ＲＦＩＤラベル１０に書き込んだ書込元データを、照合用テーブルから抽出する。
Ｓ４：設定操作画面７で選択された検証対象エリアを設定する。検証対象エリアが複数選択されている場合は、選択された記憶エリアの中から、未検証の記憶エリアを一つ設定する。
Ｓ５：検証対象エリアについて、予め設定された検証レベルに応じた繰返回数を設定する。
Ｓ６：繰返回数計数用のカウンタをリセットする。
Ｓ７：ＲＦＩＤリーダライタ４を介して、ＲＦＩＤラベル１０のＩＣチップ１７の検証対象エリアに記憶されたデータを読み取る。
Ｓ８：検証対象エリアから読み取ったデータと、書込元データとを照合する。
Ｓ９：ステップＳ８で、読取データと書込元データとが一致したか否かを判定する。
Ｓ１０：ステップＳ９で「一致」と判定した場合は、前記カウンタを更新する。
Ｓ１１：前記カウンタの値が、設定された繰返回数に達していない場合は、ステップＳ７へ移行して、検証対象エリアからのデータ読取りと照合を繰り返す。
Ｓ１２：前記カウンタの値が、設定された繰返回数に達している場合は、指定場所に成功ログを出力する。
Ｓ１３：検証対象のＲＦＩＤラベル１０について、まだ検証していない検証対象エリアが存在する場合は、ステップＳ４へ移行して、未検証の検証対象エリアについての検証を実行する。
Ｓ１４：終了操作が行われていた場合は、書込検証処理を終了する。
Ｓ１５：ステップＳ９で「不一致」と判定した場合は、使用者に対するエラー報知を実行する。
Ｓ１６：指定場所に失敗ログを出力する。
Ｓ１７：使用者によりエラーに係るＲＦＩＤラベル１０が除去されて、再開操作が行われるまで待機する。
Ｓ１８：検証したＲＦＩＤラベル１０がロール紙１５に仮着された最後のラベルであるか否かを判定し、最後のラベルである場合は、書込検証処理を終了する。最後のラベルでない場合は、ステップＳ１へ移行して、未検証のＲＦＩＤラベル１０を検証する。

以上のように、本実施例の書込検証システムでは、一枚のＲＦＩＤラベル１０について、同一の記憶エリアのデータを繰り返し読み取って、読取データと書込元データとの照合を繰り返し、全ての読取データが書込元データと一致したと判定した場合にのみ、当該記憶エリアにデータが正常に書き込まれていると判定するため、不安定なビットエラーを含むＲＦＩＤラベル１０を、従来構成に比べて高い精度で検出して除去できるという利点がある。

また、本実施例では、検証対象のＲＦＩＤラベル１０に記録されたシリアル番号を光学的に読み取って、当該シリアル番号に紐付けられた照合用データ（書込元データ）を照合に用いるため、照合用データの取り違えが生じないという利点がある。

また、本実施例では、ＲＦＩＤリーダライタ４の通信可能範囲に配置されたＲＦＩＤラベル１０のＱＲコード１４を読み取り得る位置にＱＲコードリーダ３が配置され、書込検証処理では、用紙送り装置５によって、ロール紙１５に仮着されたＲＦＩＤラベル１０を、ＲＦＩＤリーダライタ４の通信可能範囲に一枚ずつ順番に配置するため、複数のＲＦＩＤラベル１０の書込検証を連続的に実行できるという利点がある。

また、本実施例の書込検証システムでは、使用者は、検証レベルの選択により、データの読取・照合を繰り返す回数を選択できるから、検証対象のＲＦＩＤラベルの仕様に応じて検証レベルを選択することで、検証の精度と効率のバランスをとることができるという利点がある。

また、本実施例の書込検証システムでは、使用者は、検証レベルをＩＣチップ１７の検証対象エリア毎に選択できるから、各記憶エリアに記憶するデータの特性に応じて繰返回数を選択することで、検証の精度と効率のバランスを細かく調整できるという利点がある。

また、本実施例の書込検証システムは、書込検証処理のログに基づいて、ビットエラーを含むＲＦＩＤラベル１０の出現頻度を推測して、各検証レベルにおける繰返回数を自動設定する機能を具備しているため、過度に少ない繰返回数や、無駄に多い繰返回数が設定されて、検証精度や検証効率が大幅に低下することを防止できるという利点がある。

また、本実施例の書込検証システムは、上記ＲＦＩＤ書込検証プログラムを汎用のコンピュータにインストールしさえすれば、既存のハードウェアの組合せによって低廉に実現できるという利点もある。

なお、本発明は、上記実施例の形態に限らず本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更を加えることができる。

例えば、上記実施例では、各ＲＦＩＤラベルに書き込んだ書込元データを照合用データとして、各ＲＦＩＤラベルから読み取った読取データと書込元データとを照合しているが、本発明に係る照合用データは、書込元データに限らず、各ＲＦＩＤラベルに書き込んだ書込元データから算出したハッシュ値やＣＲＣ等であってもよい。例えば、ハッシュ値を照合用データとする場合は、各ＲＦＩＤラベルから読み取った読取データからハッシュ値を算出して、照合用データ（書込元データから算出したハッシュ値）と照合すればよい。

また、上記実施例では、検証対象のＲＦＩＤラベル１０にはＱＲコード１４が付されており、当該ＱＲコード１４に記録されたシリアル番号をキーとして、当該ＲＦＩＤラベル１０の照合用データを抽出する構成となっているが、ＱＲコード１４に替えて、ＯＣＲ文字によってシリアル番号を記録するようにしてもよい。また、ＲＦＩＤラベル１０のＱＲコード１４に照合用データそのものを記録しておき、ＱＲコード１４から読み取った照合用データと、ＲＦＩＤラベル１０のＩＣチップ１７に記憶されたデータとを照合するようにしてもよい。また、照合用データリストに含まれる各ＲＦＩＤラベル１０の照合用データを、ロール紙１５に仮着された順番に整列させておけば、ＲＦＩＤラベル１０をＱＲコード１４によって特定する手間が不要となる。

また、上記実施例では、読取データと照合用データが不一致となったＲＦＩＤラベル１０は、書込不良ラベルとしてロール紙１５から除去しているが、書込不良ラベル検出時の対応は適宜変更可能である。例えば、書込不良ラベルを検出した時点で、制御用ＰＣ２が、ＲＦＩＤリーダライタ４を介して、当該書込不良ラベルに正常なデータを再書込みするようにしてもよい。また、書込不良ラベルを除去するだけでなく、除去した部分に替わりのＲＦＩＤラベル１０を仮着するようにしてもよい。

また、上記実施例の書込検証システムは、データ書込済みのＲＦＩＤラベル１０が仮着されたロール紙１５を引き出して、各ＲＦＩＤラベル１０のデータ検証を行うものであるが、本発明に係る書込検証システムは、ＲＦＩＤラベル１０の製造ラインに組み込まれるものであってもよい。

また、上記実施例の書込検証システムでは、「高」「中」「低」のいずれの検証レベルでも、データの読取・照合を複数回繰り返すものであるが、比較的高い不良率が許容される場合には、検証レベル「低」において、データの読取・照合を繰り返さず、１回実行するだけとしてもよい。また、上記実施例の書込検証システムでは、「高」「中」「低」の検証レベルを選択することで、書込検証処理における繰返回数を間接的に選択するよう構成されているが、かかる構成に替えて、書込検証処理の繰返回数を、１～１０回の中から使用者に直接選択させるよう構成してもよい。

１ ＲＦＩＤラベル書込検証システム
２ 制御用ＰＣ
３ ＱＲコードリーダ（光学情報読取手段）
４ ＲＦＩＤリーダライタ（ＲＦＩＤ読取手段）
５ 用紙送り装置（ラベル移送手段）
１０ ＲＦＩＤラベル
１１ シート基材
１２ ＲＦＩＤインレット
１３ ステッカー
１４ ＱＲコード
１５ ロール紙
１７ ＩＣチップ
１８ アンテナ
２０ 検証対象設定部
２１ 検証レベル設定部
２２ 照合用データテーブル表示部
２３ ログ出力先表示部
２４ 操作案内部
３０ ロール紙引出ホルダ
３１ ロール紙巻取ホルダ
３２ 送りローラ

Claims (7)

1. ＲＦＩＤラベルにデータが正常に書き込まれているか否かを検証するＲＦＩＤラベルの書込検証システムであって、
   検証対象のＲＦＩＤラベルのＩＣチップが記憶するデータを読取可能なＲＦＩＤ読取手段と、
   検証対象のＲＦＩＤラベルのＩＣチップに書き込んだデータに対応する照合用データを取得する照合用データ取得手段と、
   ＲＦＩＤ読取手段がＲＦＩＤラベルのＩＣチップから読み取った読取データと、照合用データ取得手段が取得した照合用データとが整合しているか否かを判定するデータ照合手段と、
   １つのＲＦＩＤラベルについて、ＩＣチップの一部又は全ての記憶エリアのデータをＲＦＩＤ読取手段に繰返し読み取らせるとともに、ＲＦＩＤ読取手段が繰返し読み取った読取データの夫々が、照合用データと整合しているか否かをデータ照合手段に判定させ、全ての読取データが照合用データと整合しているとデータ照合手段が判定した場合に、当該ＲＦＩＤラベルのＩＣチップの前記一部又は全ての記憶エリアにデータが正常に書き込まれていると判定する書込検証手段と
   を備えることを特徴とするＲＦＩＤラベル書込検証システム。
2. 照合用データ取得手段は、検証対象のＲＦＩＤラベルに光学認識可能な態様で記録された識別情報を光学的に読み取る光学情報読取手段を備え、当該光学情報読取手段が読み取った識別情報に基づいて、検証対象のＲＦＩＤラベルに係る照合用データを取得することを特徴とする請求項１に記載のＲＦＩＤラベル書込検証システム。
3. 検証対象の複数のＲＦＩＤラベルを、ＲＦＩＤ読取手段の通信可能範囲に１つずつ順番に配置するラベル移送手段を備え、
   光学情報読取手段は、ＲＦＩＤ読取手段の通信可能範囲に配置されたＲＦＩＤラベルに光学認識可能な態様で記録された識別情報を光学的に読み取り得る位置に配置されていることを特徴とする請求項２に記載のＲＦＩＤラベル書込検証システム。
4. 書込検証手段がＲＦＩＤ読取手段にＩＣチップが記憶するデータを繰返し読み取らせる繰返回数を、使用者に選択可能とする繰返回数選択手段を備えることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載のＲＦＩＤラベル書込検証システム。
5. 検証対象のＲＦＩＤラベルのＩＣチップは、ＲＦＩＤラベルの識別に係るデータを記憶する識別データ記憶エリアと、ＲＦＩＤラベルの識別に係るデータ以外のデータを記憶する非識別データ記憶エリアとを備え、
   繰返回数選択手段は、識別データ記憶エリアのデータ読取りの繰返回数と、非識別データ記憶エリアのデータ読取りの繰返回数とを、使用者に、個別に選択可能とするものであることを特徴とする請求項４に記載のＲＦＩＤラベル書込検証システム。
6. 書込検証手段の判定結果を蓄積記憶する検証履歴記憶手段と、
   検証履歴記憶手段が記憶する情報に基づいて、繰返回数選択手段が使用者に選択可能とする繰返回数を設定する繰返回数自動設定手段を備えることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載のＲＦＩＤラベル書込検証システム。
7. コンピュータに、
   ＲＦＩＤリーダを制御して、当該ＲＦＩＤリーダの通信可能範囲にあるＲＦＩＤラベルについて、ＩＣチップの一部又は全ての記憶エリアのデータを繰返し読み取るデータ読取ステップと、
   データ読取ステップで繰返し読み取った読取データの夫々が、照合用データと整合しているか否かを判定するデータ照合ステップと、
   データ照合ステップで、全ての読取データが照合用データと整合していると判定した場合に、当該ＲＦＩＤラベルのＩＣチップの前記一部又は全ての記憶エリアにデータが正常に書き込まれていると判定する書込検証ステップと
   を実行させるためのプログラム。

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