JP7188316B2 - Camera module manufacturing method - Google Patents

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Description

本発明は、カメラモジュールの製造方法に関するものである。 The present invention relates to a camera module manufacturing method.

この種のカメラモジュールとして、例えば特許文献1に記載されたカメラモジュールが従来から知られている。この特許文献1に記載されたカメラモジュールは、レンズと撮像素子とを有している。このカメラモジュールは、光軸方向のレンズと撮像素子との距離が変化しない固定焦点型である。 As a camera module of this type, for example, a camera module disclosed in Patent Document 1 has been conventionally known. The camera module described in this patent document 1 has a lens and an imaging element. This camera module is of a fixed focus type in which the distance between the lens and the image sensor in the optical axis direction does not change.

特開2009-17370号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-17370

特許文献1のカメラモジュールのような固定焦点型のカメラモジュールは、レンズを介して光軸方向に光を通すレンズ部品と、そのレンズ部品を通過した光を電気信号に変換する撮像素子が固定された撮像素子基板とを備えている。そして、そのレンズ部品は撮像素子基板に対し接着剤によって接着固定されている。 A fixed-focus camera module such as the camera module of Patent Document 1 has a fixed lens component that transmits light in the optical axis direction through the lens and an image sensor that converts the light that has passed through the lens component into an electrical signal. and an imaging device substrate. The lens component is adhered and fixed to the imaging element substrate with an adhesive.

固定焦点型のカメラモジュールでは、レンズ部品を撮像素子基板に対し接着固定する組付接着工程について、年々、高精度化の要求レベルが高くなっている。しかし、その組付接着工程では、接着剤の硬化に伴って接着剤収縮が生じる。この接着剤収縮はカメラモジュールの製品精度に影響し、カメラモジュールの製品精度を低下させる原因となっている。発明者らの詳細な検討の結果、以上のようなことが見出された。 In the fixed-focus type camera module, the level of demand for high precision is increasing year by year with respect to the assembling and bonding process for bonding and fixing the lens parts to the imaging element substrate. However, in the assembling and bonding process, shrinkage of the adhesive occurs as the adhesive hardens. This shrinkage of the adhesive affects the product accuracy of the camera module and causes a decrease in the product accuracy of the camera module. As a result of detailed studies by the inventors, the above was found.

本発明は上記点に鑑みて、レンズ部品を撮像素子基板に対し接着するための接着剤の収縮に起因したカメラモジュールの製品精度の低下を抑えることが可能なカメラモジュールの製造方法を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a camera module manufacturing method capable of suppressing deterioration in product accuracy of a camera module due to shrinkage of an adhesive for adhering a lens component to an imaging element substrate. With the goal.

上記目的を達成するため、請求項1に記載のカメラモジュールの製造方法は、
レンズ(122)を有しそのレンズを介して光軸方向(Db)に光を通すレンズ部品(12)と、レンズ部品を通過した光を電気信号に変換する撮像素子(15)とその撮像素子が固定された撮像素子基板(16)とを有する撮像部品(14)とを備えたカメラモジュールの製造方法であって、
レンズ部品と撮像部品とをそれぞれ測定する部品測定を行うこと(P02)と、
レンズ部品と撮像部品とのうちの少なくとも一方を移動させ、光軸方向でのレンズ部品に対する撮像素子基板の相対位置(Pr)と撮像素子からの電気信号に基づいたMTF値(Vm)との関係であるMTF測定結果(Rm)を得ること(P04)と、
上記相対位置が硬化前目標位置(P2r)になるように、レンズ部品と撮像部品とのうちの少なくとも一方を移動させる硬化前位置調整を行うこと(P08)と、
硬化前位置調整の後に、レンズ部品と撮像素子基板との間で光軸方向に形成される軸方向隙間(12a)に充填された接着剤(13)を硬化させる接着剤硬化を行うこと(P09、P10)とを含み、
硬化前位置調整では、接着剤硬化の後に得る軸方向隙間の隙間量(Cz)の目標値であってMTF測定結果と部品測定で得られた部品測定結果とに基づいて決まる硬化後目標隙間量(C1z)に、接着剤の収縮率に基づいて決まる補正量(AMz)を加算して得られる硬化前目標隙間量(C2z)に、軸方向隙間の隙間量がなる上記相対位置を、硬化前目標位置として用い
さらに、
MTF測定結果を得た後に、上記相対位置を、軸方向隙間の隙間量が硬化後目標隙間量になる位置にした上で、MTF値を測定するMTF値再測定を行うこと(P06)と、
MTF値再測定で測定したMTF値とMTF測定結果とを照合するMTF値照合を行うこと(P07)とを含み、
MTF値再測定の後に硬化前位置調整を行う。
In order to achieve the above object, the camera module manufacturing method according to claim 1 comprises:
A lens component (12) having a lens (122) and transmitting light in an optical axis direction (Db) through the lens, an imaging device (15) for converting the light passing through the lens component into an electric signal, and the imaging device A method for manufacturing a camera module comprising an imaging element substrate (16) to which is fixed and an imaging component (14) having
Performing component measurement (P02) for measuring the lens component and the imaging component, respectively;
At least one of the lens component and the imaging component is moved, and the relationship between the relative position (Pr) of the imaging element substrate with respect to the lens component in the optical axis direction and the MTF value (Vm) based on the electrical signal from the imaging element Obtaining (P04) an MTF measurement result (Rm) that is
Performing pre-curing position adjustment (P08) by moving at least one of the lens component and the imaging component so that the relative position becomes the pre-curing target position (P2r);
After the pre-curing position adjustment, perform adhesive curing for curing the adhesive (13) filled in the axial gap (12a) formed between the lens component and the imaging element substrate in the optical axis direction (P09 , P10) and
In the pre-curing position adjustment, the target value of the axial clearance (Cz) obtained after curing the adhesive, which is the post-curing target clearance determined based on the MTF measurement result and the part measurement result obtained by part measurement The above relative position where the target gap amount before curing (C2z) obtained by adding a correction amount (AMz) determined based on the shrinkage rate of the adhesive to (C1z) and the gap amount in the axial direction is used as the target position ,
moreover,
After obtaining the MTF measurement result, the relative position is set to a position where the gap amount in the axial direction becomes the target gap amount after curing, and then the MTF value is measured again (P06);
Performing MTF value collation (P07) for collating the MTF value measured in the MTF value remeasurement and the MTF measurement result,
After remeasurement of the MTF value, pre-curing position adjustment is performed.

このようにすれば、レンズ部品に対する撮像素子基板の相対位置が、接着剤の収縮分を加味した位置にされた状態で接着剤硬化が行われるので、その接着剤硬化の後に得られる上記相対位置が、接着剤収縮の影響を抑えたものになる。従って、接着剤の収縮に起因したカメラモジュールの製品精度の低下を抑えることが可能である。 In this way, the adhesive is cured in a state in which the relative position of the imaging device substrate with respect to the lens component is adjusted to the position in which the amount of shrinkage of the adhesive is taken into consideration. However, the effect of adhesive shrinkage is suppressed. Therefore, it is possible to suppress deterioration in product accuracy of the camera module due to shrinkage of the adhesive.

なお、各構成要素等に付された括弧付きの参照符号は、その構成要素等と後述する実施形態に記載の具体的な構成要素等との対応関係の一例を示すものである。 It should be noted that the reference numerals in parentheses attached to each component etc. indicate an example of the correspondence relationship between the component etc. and specific components etc. described in the embodiments described later.

第1実施形態においてカメラモジュールの概略構成を示した模式的な断面図である。2 is a schematic cross-sectional view showing a schematic configuration of a camera module in the first embodiment; FIG. 第1実施形態のカメラモジュールの製造工程のうち、そのカメラモジュールに含まれるレンズ部品と撮像素子基板とを接合する際に実施される工程を示したフローチャートである。4 is a flow chart showing a process of bonding a lens component included in the camera module and an imaging element substrate among manufacturing processes of the camera module of the first embodiment. 図2の製造工程において、レンズ部品の測定が行われる様子を模式的に示した図である。FIG. 3 is a diagram schematically showing how lens components are measured in the manufacturing process of FIG. 2 ; 図2の製造工程において、撮像部品の測定が行われる様子を模式的に示した図である。FIG. 3 is a diagram schematically showing how an imaging component is measured in the manufacturing process of FIG. 2 ; 図1に相当する断面図であって、レンズ部品と撮像素子基板とが接合される前のカメラモジュールを示した模式図である。FIG. 2 is a cross-sectional view corresponding to FIG. 1 and is a schematic diagram showing the camera module before the lens component and the imaging element substrate are bonded together; 図2の製造工程において、レンズ部品がカメラモジュール製造装置のクランプ治具に取り付けられると共に撮像部品がカメラモジュール製造装置の六軸駆動ステージに取り付けられた状態を模式的に示した斜視図である。3 is a perspective view schematically showing a state in which the lens component is attached to the clamp jig of the camera module manufacturing apparatus and the imaging component is attached to the six-axis drive stage of the camera module manufacturing apparatus in the manufacturing process of FIG. 2; FIG. 図2の製造工程において、レンズ部品と撮像素子基板とを接合するための接着剤をエネルギー照射装置で加熱する様子を模式的に示した斜視図であって、図6に相当する図である。FIG. 7 is a perspective view, corresponding to FIG. 6 , schematically showing how an energy irradiation device heats an adhesive for bonding a lens component and an imaging element substrate in the manufacturing process of FIG. 2 ; 第1実施形態において、カメラモジュール製造装置の制御装置とその制御装置に電気的に接続される機器類とを示したブロック図である。2 is a block diagram showing a control device of the camera module manufacturing apparatus and devices electrically connected to the control device in the first embodiment; FIG. 図2の製造工程において測定される、光軸方向でのレンズ部品に対する撮像素子基板の相対位置と撮像素子からの画像信号に基づいたMTF値との関係であるMTF測定結果を模式的な曲線で示した図である。The MTF measurement result, which is the relationship between the relative position of the image sensor substrate with respect to the lens component in the optical axis direction and the MTF value based on the image signal from the image sensor, measured in the manufacturing process of FIG. It is a diagram showing. 図1に相当する断面図を用いて、光軸方向でのレンズ部品に対する撮像素子基板の相対位置に対し補正が行われる前と後との差を示した図である。FIG. 2 is a diagram showing the difference between before and after correction of the relative position of the imaging element substrate with respect to the lens component in the optical axis direction, using the cross-sectional view corresponding to FIG. 1 ;

以下、図面を参照しながら、実施形態を説明する。なお、後述の他の実施形態を含む以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、図中、同一符号を付してある。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. In addition, in each of the following embodiments including other embodiments described later, the same or equivalent parts are denoted by the same reference numerals in the drawings.

(第1実施形態)
図1に示すように、本実施形態のカメラモジュール10は、固定焦点型のカメラモジュールである。カメラモジュール10は、レンズ部品12と、撮像素子15と撮像素子基板16とを有する撮像部品14とを備えている。
(First embodiment)
As shown in FIG. 1, the camera module 10 of this embodiment is a fixed-focus camera module. The camera module 10 includes a lens component 12 and an imaging component 14 having an imaging device 15 and an imaging device substrate 16 .

そのレンズ部品12は、レンズケース121と複数のレンズ122とを有している。レンズケース121の内部には、レンズ部品12の光軸方向Dbに貫通し光が通る光通過孔121aが形成されている。複数のレンズ122は、その光通過孔121a内に配置され、レンズケース121に対して固定されている。従って、レンズ部品12は、その複数のレンズ122を介して光軸方向Dbに光を通す。 The lens component 12 has a lens case 121 and a plurality of lenses 122 . Inside the lens case 121, a light passage hole 121a is formed through which light passes through the lens component 12 in the optical axis direction Db. A plurality of lenses 122 are arranged in the light passage holes 121 a and fixed to the lens case 121 . Accordingly, the lens component 12 transmits light in the optical axis direction Db via the plurality of lenses 122 .

撮像素子15は、レンズ部品12を通過した光を電気信号に変換する。撮像素子15は、撮像素子基板16の一面である撮像素子実装面161に実装されており、例えば半田付け等によって、その撮像素子実装面161に固定されている。 The imaging element 15 converts the light that has passed through the lens component 12 into an electrical signal. The image pickup device 15 is mounted on an image pickup device mounting surface 161, which is one surface of the image pickup device substrate 16, and is fixed to the image pickup device mounting surface 161 by, for example, soldering.

撮像素子基板16は、撮像素子基板16の一面としての撮像素子実装面161と、他面としての撮像素子反対面162とを有している。撮像素子基板16は、配線パターンが形成された電気基板である。撮像素子基板16はイメージャ基板とも呼ばれる。 The imaging device substrate 16 has an imaging device mounting surface 161 as one surface of the imaging device substrate 16 and an imaging device opposite surface 162 as the other surface. The imaging element substrate 16 is an electric substrate on which a wiring pattern is formed. The imaging element substrate 16 is also called an imager substrate.

具体的に、カメラモジュール10に入射する光は、レンズ部品12内の複数のレンズ122を光軸方向Dbの一方側から他方側へ通過してから撮像素子基板16上の撮像素子15に達する。 Specifically, the light incident on the camera module 10 reaches the imaging element 15 on the imaging element substrate 16 after passing through the plurality of lenses 122 in the lens component 12 from one side to the other side in the optical axis direction Db.

また、レンズケース121は、光軸方向Dbに直交する方向に拡がったケース鍔部121bと、光軸方向Dbの他方側に設けられたケース他端121eとを有している。そのケース鍔部121bは光軸方向Dbを厚み方向とし、光軸方向Dbの一方側を向いた一方面121cを有している。 In addition, the lens case 121 has a case brim portion 121b extending in a direction perpendicular to the optical axis direction Db, and a case other end 121e provided on the other side in the optical axis direction Db. The case collar portion 121b has a thickness direction in the optical axis direction Db and has one surface 121c facing one side in the optical axis direction Db.

レンズケース121のケース他端121eは、撮像素子基板16の撮像素子実装面161に対して対向している。そして、レンズ部品12は、そのケース他端121eにおいて撮像素子基板16の撮像素子実装面161に接着剤13で固定されている。なお、図1の接着剤13は硬化後の接着剤であり、後述する図10の(a)(b)の接着剤13は硬化前の接着剤である。 The other case end 121 e of the lens case 121 faces the imaging element mounting surface 161 of the imaging element substrate 16 . The lens component 12 is fixed to the imaging element mounting surface 161 of the imaging element substrate 16 with the adhesive 13 at the other end 121e of the case. Note that the adhesive 13 in FIG. 1 is the adhesive after curing, and the adhesive 13 in FIGS. 10A and 10B to be described later is the adhesive before curing.

本実施形態のカメラモジュール10は、図2のフローチャートに従って製造される。この図2は、レンズ部品12を撮像素子基板16に対し接着固定する製造工程を示している。 The camera module 10 of this embodiment is manufactured according to the flowchart of FIG. FIG. 2 shows a manufacturing process for adhesively fixing the lens component 12 to the imaging element substrate 16. As shown in FIG.

先ず、部品準備工程としての第1工程P01では、レンズ部品12と撮像部品14とが準備される。第1工程P01の次は第2工程P02へ進む。 First, in a first step P01 as a component preparation step, the lens component 12 and the imaging component 14 are prepared. After the first step P01, the process proceeds to the second step P02.

部品測定工程としての第2工程P02では、図3および図4に示すように、例えば三次元測定機などの測定装置44を使用して、レンズ部品12と撮像部品14とをそれぞれ測定する部品測定が行われる。その部品測定では、レンズ部品12と撮像部品14とのそれぞれの外形が測定され、具体的には、それぞれの外形のうち予め定められた複数の測定箇所の寸法がそれぞれ測定される。その複数の測定箇所は、図5に示すレンズ部品12と撮像素子基板16との間で光軸方向Dbに形成される軸方向隙間12aの隙間量Czを算出できるように定められている。 In the second step P02 as a component measurement step, as shown in FIGS. 3 and 4, component measurement is performed to measure the lens component 12 and the imaging component 14 using a measuring device 44 such as a three-dimensional measuring machine. is done. In the component measurement, the outer shape of each of the lens component 12 and the imaging component 14 is measured. Specifically, the dimensions of a plurality of predetermined measurement points in each outer shape are measured. The plurality of measurement points are determined so that the gap amount Cz of the axial gap 12a formed in the optical axis direction Db between the lens component 12 and the imaging element substrate 16 shown in FIG. 5 can be calculated.

例えば、その複数の測定箇所の寸法には、撮像素子基板16の厚み寸法Tbと、ケース鍔部121bの一方面121cからケース他端121eまでの光軸方向Dbの寸法であるケース基準寸法Lcsとが含まれている。なお、上記軸方向隙間12aとは、より正確に表現すれば、レンズ部品12のうちのケース他端121eと撮像素子基板16の撮像素子実装面161との間で光軸方向Dbに形成される軸方向隙間である。図2の第2工程P02の次は第3工程P03へ進む。 For example, the dimensions of the plurality of measurement points include the thickness dimension Tb of the imaging device substrate 16, and the case reference dimension Lcs, which is the dimension in the optical axis direction Db from one surface 121c of the case flange 121b to the other end 121e of the case. It is included. To be more precise, the axial gap 12a is formed in the optical axis direction Db between the other end 121e of the case of the lens component 12 and the imaging element mounting surface 161 of the imaging element substrate 16. Axial clearance. After the second step P02 in FIG. 2, the process proceeds to the third step P03.

部品取付工程としての第3工程P03では、図6に示すように、レンズ部品12と撮像部品14とがそれぞれ、カメラモジュール製造装置30に取り付けられる。そのカメラモジュール製造装置30は、図6~図8に示すように、クランプ治具32と六軸駆動ステージ34と投光器36とエネルギー照射装置38と制御装置40とを備えている。 In a third process P03 as a component mounting process, the lens component 12 and the imaging component 14 are respectively mounted on the camera module manufacturing apparatus 30, as shown in FIG. The camera module manufacturing apparatus 30 includes a clamp jig 32, a six-axis drive stage 34, a light projector 36, an energy irradiation device 38, and a control device 40, as shown in FIGS.

クランプ治具32は、移動しない固定器具である。レンズ部品12は、カメラモジュール製造装置30のうち、このクランプ治具32に取り付けられ、撮像部品14は、六軸駆動ステージ34に取り付けられる。 The clamp jig 32 is a fixed fixture that does not move. The lens component 12 is attached to this clamping jig 32 of the camera module manufacturing apparatus 30 , and the imaging component 14 is attached to a six-axis drive stage 34 .

六軸駆動ステージ34は、図6に示す直交座標系のX軸の軸方向であるX方向、Y軸の軸方向であるY方向、Z軸の軸方向であるZ方向、X軸まわりの回転方向θx、Y軸まわりの回転方向θy、およびZ軸まわりの回転方向θzのそれぞれの方向に、撮像部品14を変位させることができる。従って、六軸駆動ステージ34が撮像部品14を変位させることとは、言い換えれば、六軸駆動ステージ34が撮像部品14の位置または姿勢を変化させることである。本実施形態では、レンズ部品12の光軸方向DbがZ方向とされる。すなわち、光軸方向DbはZ方向と同じ方向である。 The 6-axis drive stage 34 can move in the X direction that is the X-axis direction of the orthogonal coordinate system shown in FIG. 6, the Y direction that is the Y-axis direction, the Z direction that is the Z-axis direction, and rotation about the X-axis. The imaging component 14 can be displaced in each of the direction θx, the rotation direction θy about the Y axis, and the rotation direction θz about the Z axis. Therefore, displacing the imaging component 14 by the 6-axis driving stage 34 means changing the position or posture of the imaging component 14 by the 6-axis driving stage 34 . In this embodiment, the optical axis direction Db of the lens component 12 is the Z direction. That is, the optical axis direction Db is the same direction as the Z direction.

この六軸駆動ステージ34は、クランプ治具32とは独立に作動する。すなわち、六軸駆動ステージ34が作動し撮像部品14を変位させても、クランプ治具32に固定されたレンズ部品12は変位しない。 This six-axis drive stage 34 operates independently of the clamp jig 32 . That is, even if the six-axis drive stage 34 is operated to displace the imaging component 14, the lens component 12 fixed to the clamp jig 32 is not displaced.

投光器36はコリメータを有しており、レンズ部品12に対する光軸方向Dbの一方側からレンズ部品12の光通過孔121aを介して撮像素子15に平行光を光軸方向Dbに沿って出射する。そして、投光器36は、その平行光によって、MTF値算出用の所定画像をレンズ部品12の光通過孔121aを介して撮像素子15に投影する。なお、「MTF」とは、「modulation transfer function」の略である。 The light projector 36 has a collimator and emits parallel light from one side of the lens component 12 in the optical axis direction Db to the imaging device 15 through the light passage hole 121a of the lens component 12 along the optical axis direction Db. Then, the light projector 36 projects a predetermined image for MTF value calculation onto the image sensor 15 through the light passage hole 121a of the lens component 12 with the parallel light. Note that "MTF" is an abbreviation for "modulation transfer function".

図7に示すエネルギー照射装置38は、レンズ部品12と撮像素子基板16とを接着するための接着剤13を加熱する加熱装置である。エネルギー照射装置38は、レンズ部品12と撮像素子基板16との間の軸方向隙間12a(図5参照)に充填された接着剤13に対し、エネルギー照射装置38から照射光を照射することにより、その接着剤13を加熱する。その接着剤13は熱硬化性の接着剤であり、エネルギー照射装置38により加熱されることで硬化し、レンズ部品12と撮像素子基板16とを接着する。なお、エネルギー照射装置38の照射光は本実施形態ではレーザ光であるが、そのエネルギー照射装置38の照射光として、レーザ光以外の光(例えば、紫外線など)が採用されることもある。 The energy irradiation device 38 shown in FIG. 7 is a heating device that heats the adhesive 13 for bonding the lens component 12 and the imaging element substrate 16 together. The energy irradiation device 38 irradiates the adhesive 13 filled in the axial gap 12a (see FIG. 5) between the lens component 12 and the imaging element substrate 16 with irradiation light from the energy irradiation device 38, The adhesive 13 is heated. The adhesive 13 is a thermosetting adhesive that hardens when heated by the energy irradiation device 38 to bond the lens component 12 and the imaging element substrate 16 together. Although the irradiation light of the energy irradiation device 38 is laser light in this embodiment, light other than laser light (for example, ultraviolet rays) may be employed as the irradiation light of the energy irradiation device 38 .

図8に示す制御装置40は、中央演算装置およびその周辺回路などで構成されたパーソナルコンピュータであり、中央演算装置に読み込まれたプログラムにしたがって動作する。制御装置40には、種々の情報を表示するディスプレイモニタが接続されている。 A control device 40 shown in FIG. 8 is a personal computer including a central processing unit and its peripheral circuits, and operates according to a program read into the central processing unit. A display monitor for displaying various information is connected to the control device 40 .

制御装置40は、撮像素子15が出力する電気信号である画像信号が制御装置40に入力されるように、撮像素子15に対し電気接続される。 The control device 40 is electrically connected to the image sensor 15 so that an image signal, which is an electrical signal output by the image sensor 15 , is input to the control device 40 .

また、制御装置40は、六軸駆動ステージ34と投光器36とエネルギー照射装置38とのそれぞれに対し制御信号を出力する。それにより、制御装置40は、六軸駆動ステージ34の作動と投光器36の作動とエネルギー照射装置38の作動とをそれぞれ制御する。図2の第3工程P03の次は第4工程P04へ進む。 The control device 40 also outputs control signals to the six-axis drive stage 34, the light projector 36, and the energy irradiation device 38, respectively. Thereby, the control device 40 controls the operation of the six-axis drive stage 34, the operation of the light projector 36, and the operation of the energy irradiation device 38, respectively. After the third step P03 in FIG. 2, the process proceeds to the fourth step P04.

MTF値測定工程としての第4工程P04では、先ず、図6のレンズ部品12に対する撮像部品14の傾きが六軸駆動ステージ34の作動によって調整される。この撮像部品14の傾き調整では、制御装置40は、投光器36に所定画像を投影させると共に、撮像部品14の傾きに応じて変化するMTF値Vmを撮像素子15からの画像信号に基づいて算出する。そして、制御装置40は、例えば、その算出したMTF値Vmが最大になるように、撮像部品14の傾きを調整する。 In the fourth step P04 as the MTF value measuring step, first, the inclination of the imaging component 14 with respect to the lens component 12 in FIG. In this inclination adjustment of the imaging component 14 , the control device 40 causes the light projector 36 to project a predetermined image, and calculates the MTF value Vm, which changes according to the inclination of the imaging component 14 , based on the image signal from the imaging device 15 . . Then, the control device 40 adjusts the tilt of the imaging component 14, for example, so that the calculated MTF value Vm is maximized.

次に、制御装置40は、六軸駆動ステージ34の作動によって撮像部品14をレンズ部品12に対し相対的に光軸方向Dbに移動させ、それと共に、その撮像部品14の移動に応じて変化するMTF値Vmを撮像素子15からの画像信号に基づいて算出する。これにより、図9の曲線Lmで示されるMTF測定結果Rmが得られる。 Next, the control device 40 moves the imaging component 14 relative to the lens component 12 in the optical axis direction Db by operating the six-axis drive stage 34, and changes according to the movement of the imaging component 14. An MTF value Vm is calculated based on the image signal from the imaging device 15 . As a result, the MTF measurement result Rm indicated by the curve Lm in FIG. 9 is obtained.

図9に示すように、このMTF測定結果Rmは、光軸方向Dbでのレンズ部品12に対する撮像素子基板16の相対位置Pr(すなわち、光軸方向相対位置Pr)と、撮像素子15からの画像信号に基づいたMTF値Vmとの関係である。別言すると、図5の軸方向隙間12aの隙間量Czはその光軸方向相対位置Prと一対一で対応するので、図9のMTF測定結果Rmは、軸方向隙間12aの隙間量CzとMTF値Vmとの関係であるとも言える。 As shown in FIG. 9, this MTF measurement result Rm is the relative position Pr of the image sensor substrate 16 with respect to the lens component 12 in the optical axis direction Db (that is, the relative position Pr in the optical axis direction) and the image from the image sensor 15 It is the relationship with the MTF value Vm based on the signal. In other words, since the gap amount Cz of the axial gap 12a in FIG. 5 corresponds to the relative position Pr in the optical axis direction one-to-one, the MTF measurement result Rm in FIG. It can also be said that it is a relationship with the value Vm.

なお、本実施形態のカメラモジュール製造装置30では、光軸方向相対位置Prは、図5の相対位置代表寸法Lapで表される。この相対位置代表寸法Lapは、ケース鍔部121bの一方面121cから撮像素子基板16の撮像素子反対面162までの光軸方向Dbの距離である。また、相対位置代表寸法Lapは、カメラモジュール製造装置30が有する寸法であるので、六軸駆動ステージ34の作動状況が決まれば決まる寸法である。図2の第4工程P04の次は第5工程P05へ進む。 In addition, in the camera module manufacturing apparatus 30 of the present embodiment, the relative position Pr in the optical axis direction is represented by the relative position representative dimension Lap in FIG. The relative position representative dimension Lap is the distance in the optical axis direction Db from the one surface 121c of the case collar portion 121b to the surface 162 of the image sensor substrate 16 opposite to the image sensor. Also, the relative position representative dimension Lap is a dimension that the camera module manufacturing apparatus 30 has, and thus is a dimension that is determined when the operating conditions of the six-axis drive stage 34 are determined. After the fourth step P04 in FIG. 2, the process proceeds to the fifth step P05.

目標位置決定工程としての第5工程P05では、制御装置40は、接着剤13の硬化後に得る光軸方向相対位置Prの目標位置である硬化後目標位置P1rを、図9のMTF測定結果Rmに基づいて決定する。具体的に、制御装置40は、そのMTF測定結果RmにおいてMTF値Vmが最大値V1mになる光軸方向相対位置Prを、硬化後目標位置P1rとして決定する。すなわち、制御装置40は、その硬化後目標位置P1rを実現する相対位置代表寸法Lapである硬化後目標位置寸法L1apを決定する。ここで言う接着剤13の硬化後とは、後述する接着剤13の仮硬化後でも本硬化後でもよいが、本実施形態では本硬化後を意味するものとする。 In a fifth step P05 as a target position determination step, the controller 40 converts the post-curing target position P1r, which is the target position of the optical axis direction relative position Pr obtained after the adhesive 13 is cured, to the MTF measurement result Rm of FIG. decision based on Specifically, the control device 40 determines the optical axis direction relative position Pr at which the MTF value Vm reaches the maximum value V1m in the MTF measurement result Rm as the post-curing target position P1r. That is, the control device 40 determines the post-curing target position dimension L1ap, which is the relative position representative dimension Lap for realizing the post-curing target position P1r. The term "after curing of the adhesive 13" as used herein may be after temporary curing or after main curing of the adhesive 13, which will be described later, but in this embodiment, it means after main curing.

そして、制御装置40は、接着剤13の硬化後に得る軸方向隙間12aの隙間量Cz(図5参照)の目標値である硬化後目標隙間量C1zを算出する。その硬化後目標隙間量C1zは、図9のMTF測定結果Rmと第2工程P02の部品測定で得られた部品測定結果とに基づいて決まるものである。詳細には、図5および図9から判るように、硬化後目標隙間量C1zは、硬化後目標位置寸法L1apと、部品測定結果に含まれるケース基準寸法Lcsと、撮像素子基板16の厚み寸法Tbとに基づき、下記式F1に従って算出される。
C1z=L1ap-Lcs-Tb ・・・(F1)
Then, the control device 40 calculates a post-curing target clearance C1z, which is a target value for the clearance Cz (see FIG. 5) of the axial clearance 12a obtained after the adhesive 13 is cured. The post-curing target gap amount C1z is determined based on the MTF measurement result Rm in FIG. 9 and the part measurement result obtained in the part measurement in the second step P02. Specifically, as can be seen from FIGS. 5 and 9, the post-curing target clearance C1z is composed of the post-curing target position dimension L1ap, the case reference dimension Lcs included in the component measurement result, and the thickness dimension Tb of the imaging element substrate 16. and is calculated according to the following formula F1.
C1z=L1ap−Lcs−Tb (F1)

また、第5工程P05では、制御装置40は、硬化後目標位置寸法L1apを補正する際に用いられる補正量AMzも決定する。具体的に、制御装置40は、接着剤13が硬化に伴って光軸方向Dbに収縮する際の収縮量を、その補正量AMzとして決定する。すなわち、制御装置40は、補正量AMzを用いた光軸方向相対位置Prの補正を接着剤13の硬化前に行った結果、その光軸方向相対位置Prが接着剤13の硬化後に硬化後目標位置P1rになるように、その補正量AMzを決定する。 In addition, in the fifth step P05, the control device 40 also determines a correction amount AMz used when correcting the post-curing target position dimension L1ap. Specifically, the control device 40 determines the amount of shrinkage of the adhesive 13 when it shrinks in the optical axis direction Db as it cures, as the correction amount AMz. That is, as a result of correcting the optical axis direction relative position Pr using the correction amount AMz before curing the adhesive 13, the control device 40 corrects the optical axis direction relative position Pr to the post-curing target after curing the adhesive 13. The correction amount AMz is determined so as to be the position P1r.

このように補正量AMzが決定されるので、接着剤13の硬化前における軸方向隙間12aの隙間量Cz(図5参照)の目標値である硬化前目標隙間量C2zは、下記式F2に示すように、硬化後目標隙間量C1zに補正量AMzを加算して得られる。
C2z=C1z+AMz ・・・(F2)
Since the correction amount AMz is determined in this way, the pre-hardening target gap amount C2z, which is the target value of the gap amount Cz (see FIG. 5) of the axial gap 12a before hardening of the adhesive 13, is given by the following formula F2. is obtained by adding the correction amount AMz to the post-curing target gap amount C1z.
C2z=C1z+AMz (F2)

また、補正量AMzは「補正量AMz=接着剤13の収縮量」であるので、その補正量AMzは、接着剤13の収縮率Rsと硬化前目標隙間量C2z(図9参照)とを用いて下記式F3によっても与えられる。なお、接着剤13の収縮率Rsとは、硬化に伴って収縮する接着剤13の収縮前の長さに対する収縮量の比率である。接着剤13の収縮率Rsは接着剤13の物性の1つであるので、接着剤13の種類が決まれば決まる値である。
AMz=C2z×Rs ・・・(F3)
Further, since the correction amount AMz is "correction amount AMz=shrinkage amount of the adhesive 13", the correction amount AMz is obtained using the shrinkage rate Rs of the adhesive 13 and the pre-curing target gap amount C2z (see FIG. 9). is also given by the following formula F3. The shrinkage ratio Rs of the adhesive 13 is the ratio of the amount of shrinkage to the length before shrinkage of the adhesive 13 that shrinks as it cures. Since the shrinkage ratio Rs of the adhesive 13 is one of the physical properties of the adhesive 13, it is a value determined when the type of the adhesive 13 is determined.
AMz=C2z×Rs (F3)

また、上記式F2と式F3とから、下記式F4が導き出される。下記式F4から判るように、補正量AMzは、接着剤13の収縮率Rsと、第2工程P02の部品測定結果から得られた硬化後目標隙間量C1zとに基づいた算出値であるので、その収縮率Rsと部品測定結果とに基づいて決まる値である。
AMz=C1z×Rs/(1-Rs) ・・・(F4)
Also, the following formula F4 is derived from the above formulas F2 and F3. As can be seen from the following formula F4, the correction amount AMz is a calculated value based on the shrinkage ratio Rs of the adhesive 13 and the post-curing target gap amount C1z obtained from the part measurement result in the second step P02. It is a value determined based on the shrinkage ratio Rs and part measurement results.
AMz=C1z×Rs/(1−Rs) (F4)

この第5工程P05では、補正量AMzは、上記式F4を用いて決定される。図2の第5工程P05の次は第6工程P06へ進む。 In this fifth step P05, the correction amount AMz is determined using the above formula F4. After the fifth step P05 in FIG. 2, the process proceeds to the sixth step P06.

MTF値再測定工程としての第6工程P06では、図5、図6、図9に示すように、先ず、制御装置40は、六軸駆動ステージ34の作動によって撮像部品14を光軸方向Dbに移動させる。これにより、制御装置40は、光軸方向相対位置Prを、軸方向隙間12aの隙間量Czが硬化後目標隙間量C1zになる位置(すなわち、硬化後目標位置P1r)にする。 In the sixth step P06 as the MTF value remeasurement step, as shown in FIGS. move. As a result, the controller 40 sets the optical axis direction relative position Pr to a position where the gap amount Cz of the axial gap 12a becomes the post-curing target gap amount C1z (that is, the post-curing target position P1r).

要するに、光軸方向相対位置Prが硬化後目標位置P1rに一致するように、撮像部品14が六軸駆動ステージ34の作動によって移動させられる。具体的には、図10の(a)に示すように、相対位置代表寸法Lapが硬化後目標位置寸法L1apに一致するように、撮像部品14が六軸駆動ステージ34の作動によって移動させられる。 In short, the imaging component 14 is moved by the operation of the six-axis drive stage 34 so that the optical axis direction relative position Pr coincides with the post-curing target position P1r. Specifically, as shown in FIG. 10A, the imaging component 14 is moved by the operation of the six-axis drive stage 34 so that the relative position representative dimension Lap matches the post-curing target position dimension L1ap.

次に、制御装置40は、そのように光軸方向相対位置Prを硬化後目標位置P1rに一致させた上で、再び、撮像素子15からの画像信号に基づいたMTF値Vmを測定する。要するに、そのMTF値Vmを測定するMTF値再測定を行う。図2の第6工程P06の次は第7工程P07へ進む。 Next, the control device 40 matches the optical axis direction relative position Pr with the post-curing target position P1r, and measures the MTF value Vm based on the image signal from the imaging device 15 again. In short, MTF value remeasurement is performed to measure the MTF value Vm. After the sixth step P06 in FIG. 2, the process proceeds to the seventh step P07.

MTF値照合工程としての第7工程P07では、制御装置40は、第6工程P06のMTF値再測定で測定したMTF値Vmと図9のMTF測定結果Rmとを照合するMTF値照合を行う。 In a seventh step P07 as an MTF value collation step, the controller 40 performs MTF value collation for collating the MTF value Vm measured in the MTF value remeasurement in the sixth step P06 with the MTF measurement result Rm in FIG.

具体的には、制御装置40は、第6工程P06で測定したMTF値Vmと、図9のMTF測定結果RmにおけるMTF値Vmの最大値V1mとの差を確認する。その確認の結果、そのMTF値Vmの差が予め定められた許容範囲内であれば、制御装置40は異常なしと判断し、次の工程に進む。一方、そのMTF値Vmの差が許容範囲から外れていれば、制御装置40は異常ありと判断し、例えば図2の製造工程を中止する。図2の第7工程P07の次は第8工程P08へ進む。 Specifically, the control device 40 checks the difference between the MTF value Vm measured in the sixth step P06 and the maximum value V1m of the MTF value Vm in the MTF measurement result Rm of FIG. As a result of the confirmation, if the difference in the MTF value Vm is within a predetermined allowable range, the controller 40 determines that there is no abnormality, and proceeds to the next step. On the other hand, if the difference in the MTF value Vm is out of the allowable range, the control device 40 determines that there is an abnormality, and stops the manufacturing process of FIG. 2, for example. After the seventh step P07 in FIG. 2, the process proceeds to the eighth step P08.

位置調整工程としての第8工程P08では、図5、図6、図9に示すように、制御装置40は、光軸方向相対位置Prが硬化前目標位置P2rになるように、六軸駆動ステージ34の作動によって撮像部品14を移動させる硬化前位置調整を行う。その硬化前目標位置P2rは、接着剤13の硬化前における光軸方向相対位置Prの目標位置である。そして、この硬化前位置調整では、制御装置40は、軸方向隙間12aの隙間量Czが硬化前目標隙間量C2zになる光軸方向相対位置Prを、硬化前目標位置P2rとして用いる。 In the eighth process P08 as a position adjustment process, as shown in FIGS. 5, 6, and 9, the control device 40 moves the six-axis drive stage so that the optical axis direction relative position Pr becomes the pre-curing target position P2r. Pre-curing position adjustment for moving the imaging component 14 is performed by the operation of 34 . The pre-curing target position P2r is the target position of the optical axis direction relative position Pr before the adhesive 13 is cured. In this pre-curing position adjustment, the control device 40 uses the optical axis direction relative position Pr at which the gap amount Cz of the axial gap 12a becomes the pre-curing target gap amount C2z as the pre-curing target position P2r.

具体的に、第8工程P08の硬化前位置調整では、制御装置40は、その硬化前目標位置P2rを実現する相対位置代表寸法Lapである硬化前目標位置寸法L2apを、下記式F5に示すように、硬化後目標隙間量C1zに補正量AMzを加算して決定する。
L2ap=L1ap+AMz ・・・(F5)
Specifically, in the pre-curing position adjustment of the eighth step P08, the control device 40 sets the pre-curing target position dimension L2ap, which is the relative position representative dimension Lap for realizing the pre-curing target position P2r, as shown in the following formula F5. Then, the correction amount AMz is added to the post-curing target gap amount C1z.
L2ap=L1ap+AMz (F5)

そして、制御装置40は、図10の(b)に示すように、相対位置代表寸法Lapがその硬化前目標位置寸法L2apになるように、六軸駆動ステージ34の作動によって撮像部品14を移動させる。すなわち、制御装置40は、相対位置代表寸法Lapが硬化後目標位置寸法L1apに一致した状態から、図10の(b)の矢印Adnのように、撮像部品14をレンズ部品12から離れる側へ光軸方向Dbに補正量AMz分だけ移動させる。図2の第8工程P08の次は第9工程P09へ進む。 Then, as shown in FIG. 10B, the control device 40 moves the imaging component 14 by operating the six-axis drive stage 34 so that the relative position representative dimension Lap becomes the pre-curing target position dimension L2ap. . That is, the control device 40 moves the imaging component 14 away from the lens component 12 as indicated by the arrow Adn in FIG. It is moved in the axial direction Db by the correction amount AMz. After the eighth process P08 in FIG. 2, the process proceeds to the ninth process P09.

第1硬化工程としての第9工程P09では、制御装置40は、図7に示すように、レンズ部品12と撮像素子基板16との間の軸方向隙間12aに充填された接着剤13をエネルギー照射装置38によって加熱し、それによりその接着剤13を硬化させる仮硬化を行う。図2の第9工程P09の次は第10工程P10へ進む。 In the ninth step P09 as the first curing step, the controller 40 irradiates the adhesive 13 filled in the axial gap 12a between the lens component 12 and the imaging device substrate 16 with energy, as shown in FIG. Temporary curing is performed by heating with the device 38 and thereby curing the adhesive 13 . After the ninth step P09 in FIG. 2, the process proceeds to the tenth step P10.

第2硬化工程としての第10工程P10では、仮硬化の完了したカメラモジュール10が炉などの加熱器で加熱され、それにより接着剤13の硬化が更に進められる本硬化が行われる。この本硬化が行われることで接着剤13の強度が高まり、その接着剤13の強度は十分な大きさになる。本実施形態では、上記した接着剤13の仮硬化と本硬化とを合わせて接着剤硬化と称する。以上のようにして、本実施形態のカメラモジュール10は製造される。 In a tenth step P10 as a second curing step, the temporarily cured camera module 10 is heated with a heater such as a furnace, thereby further curing the adhesive 13 to perform a final curing. This main curing increases the strength of the adhesive 13, and the strength of the adhesive 13 becomes sufficiently large. In the present embodiment, the above temporary curing and final curing of the adhesive 13 are collectively referred to as adhesive curing. The camera module 10 of this embodiment is manufactured as described above.

上述したように、本実施形態によれば、図2、図9、図10に示すように、第8工程P08では、光軸方向相対位置Prが硬化前目標位置P2rになるように、撮像部品14が六軸駆動ステージ34の作動によって移動させられる。その後の第9工程P09で、接着剤13の仮硬化が行われる。そして、第8工程P08では、軸方向隙間12aの隙間量Czが硬化前目標隙間量C2zになる光軸方向相対位置Prが、硬化前目標位置P2rとして用いられる。その硬化前目標隙間量C2zは、硬化後目標隙間量C1zに、接着剤13の収縮率Rsとその硬化後目標隙間量C1zとに基づいて決まる補正量AMzを加算して得られる。 As described above, according to the present embodiment, as shown in FIGS. 2, 9, and 10, in the eighth step P08, the imaging component is adjusted so that the optical axis direction relative position Pr becomes the pre-curing target position P2r. 14 is moved by actuation of the six-axis drive stage 34 . In the subsequent ninth step P09, temporary curing of the adhesive 13 is performed. Then, in the eighth step P08, the optical axis direction relative position Pr at which the gap amount Cz of the axial gap 12a becomes the pre-curing target gap amount C2z is used as the pre-curing target position P2r. The target gap amount before curing C2z is obtained by adding a correction amount AMz determined based on the shrinkage rate Rs of the adhesive 13 and the target gap amount after curing C1z to the target gap amount after curing C1z.

これにより、光軸方向Dbでのレンズ部品12に対する撮像素子基板16の相対位置Pr(すなわち、光軸方向相対位置Pr)が、硬化に伴う接着剤13の収縮分を加味した位置にされた状態で接着剤13の硬化が行われることになる。 As a result, the relative position Pr of the imaging element substrate 16 with respect to the lens component 12 in the optical axis direction Db (that is, the relative position Pr in the optical axis direction) is set to a position that takes into account the shrinkage of the adhesive 13 due to curing. , the adhesive 13 is cured.

そのため、その接着剤13の硬化の後に得られる光軸方向相対位置Prが、接着剤13の収縮の影響を抑えたものになる。従って、接着剤13の収縮に起因したカメラモジュール10の製品精度の低下を抑えることが可能である。また、硬化に伴う接着剤13の収縮に起因した光軸方向相対位置Prのバラツキを抑制することができる。 Therefore, the relative position Pr in the optical axis direction obtained after curing the adhesive 13 is less affected by the shrinkage of the adhesive 13 . Therefore, it is possible to suppress deterioration in product accuracy of the camera module 10 due to shrinkage of the adhesive 13 . In addition, it is possible to suppress variations in the relative position Pr in the optical axis direction due to shrinkage of the adhesive 13 due to curing.

また、本実施形態によれば、図2の第6工程P06では、光軸方向相対位置Prが硬化後目標位置P1rに一致するように撮像部品14が六軸駆動ステージ34によって移動させられた状態で、再び、MTF値Vmが測定される。続く第7工程P07では、その第6工程P06で再測定されたMTF値Vmと第4工程P04で得られたMTF測定結果Rmとが照合される。 Further, according to the present embodiment, in the sixth step P06 of FIG. 2, the imaging component 14 is moved by the six-axis drive stage 34 so that the optical axis direction relative position Pr coincides with the post-curing target position P1r. Then again the MTF value Vm is measured. In the following seventh step P07, the MTF value Vm remeasured in the sixth step P06 and the MTF measurement result Rm obtained in the fourth step P04 are collated.

従って、その第7工程P07でのMTF値Vmの照合により、上記のMTF測定結果Rmが正しいということが確認されるので、カメラモジュール10の不良率を低減することが可能である。 Therefore, by checking the MTF value Vm in the seventh step P07, it is confirmed that the above MTF measurement result Rm is correct, so the defective rate of the camera module 10 can be reduced.

(他の実施形態)
(1)上述の第1実施形態では図6に示すように、カメラモジュール製造装置30は、レンズ部品12に対する撮像素子基板16の相対位置を調整する際に、レンズ部品12を移動させず撮像部品14を移動させるが、これは一例である。その相対位置が調整されればよいので、カメラモジュール製造装置30は、撮像部品14を移動させずにレンズ部品12を移動させてもよく、或いは、撮像部品14とレンズ部品12との両方を移動させてもよい。
(Other embodiments)
(1) In the first embodiment described above, as shown in FIG. 6, the camera module manufacturing apparatus 30 adjusts the relative position of the image sensor substrate 16 with respect to the lens component 12 without moving the lens component 12. 14 is moved, but this is an example. Since the relative positions need only be adjusted, the camera module manufacturing apparatus 30 may move the lens component 12 without moving the imaging component 14, or may move both the imaging component 14 and the lens component 12. You may let

(2)上述の第1実施形態では図7に示すように、接着剤13は加熱により硬化させられるが、これは一例である。接着剤13は熱硬化性である必要はなく、加熱以外の方法によって硬化させられても差し支えない。 (2) In the first embodiment described above, the adhesive 13 is cured by heating as shown in FIG. 7, but this is an example. The adhesive 13 need not be thermosetting and may be cured by methods other than heating.

(3)上述の第1実施形態では図2に示すように、カメラモジュール10の製造工程では第1工程P01から第10工程P10まで順に実施されると説明されているが、これは一例である。その図2の工程P01~P10は、図2に示された順序で実施されることに限定されるものではない。その工程P01~P10には、例えば同時に並行して実施されてよい工程や、実施の順序が先後して構わない工程も含まれる。 (3) In the above-described first embodiment, as shown in FIG. 2, it is described that the steps of manufacturing the camera module 10 are sequentially performed from the first step P01 to the tenth step P10, but this is just an example. . The steps P01 to P10 in FIG. 2 are not limited to being performed in the order shown in FIG. The steps P01 to P10 include, for example, steps that may be performed in parallel and steps that may be performed one after the other.

(4)上述の第1実施形態では図2に示すように、第6工程P06と第7工程P07とが実施された後に、第8工程P08で、光軸方向相対位置Prが硬化前目標位置P2rになるように撮像部品14が移動させられるが、これは一例である。例えば、第6工程P06と第7工程P07とが無く、第5工程P05の次に第8工程P08が実施されることも考え得る。 (4) In the first embodiment described above, as shown in FIG. 2, after the sixth step P06 and the seventh step P07 are performed, in the eighth step P08, the optical axis direction relative position Pr is set to the pre-curing target position. Although the imaging component 14 is moved to P2r, this is an example. For example, it is conceivable that the sixth process P06 and the seventh process P07 are omitted, and the eighth process P08 is performed after the fifth process P05.

(5)上述の第1実施形態では、図2の第2工程P02で測定される測定箇所の寸法には、図5の撮像素子基板16の厚み寸法Tbとケース基準寸法Lcsとが含まれているが、これは一例である。その第2工程P02で測定される測定箇所の寸法は、その撮像素子基板16の厚み寸法Tbおよびケース基準寸法Lcs以外の寸法であることも考え得る。 (5) In the first embodiment described above, the dimensions of the measurement locations measured in the second step P02 of FIG. but this is just one example. It is conceivable that the dimension of the measurement location measured in the second step P02 is a dimension other than the thickness dimension Tb of the imaging element substrate 16 and the case reference dimension Lcs.

(6)上述の第1実施形態では、図10に示す補正量AMzは、接着剤13の収縮率Rsと硬化後目標隙間量C1zとに基づいて算出されるが、これは一例である。補正量AMzが「補正量AMz=接着剤13の収縮量」になればよいので、補正量AMzは、例えば硬化後目標隙間量C1z以外のパラメータを用いて算出されても差し支えない。 (6) In the first embodiment described above, the correction amount AMz shown in FIG. 10 is calculated based on the shrinkage rate Rs of the adhesive 13 and the post-curing target clearance C1z, but this is an example. Since the correction amount AMz should be "correction amount AMz=shrinkage amount of the adhesive 13", the correction amount AMz may be calculated using parameters other than the post-curing target clearance C1z, for example.

(7)なお、本発明は、上述の実施形態に限定されることなく、種々変形して実施することができる。また、上記実施形態において、実施形態を構成する要素は、特に必須であると明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではないことは言うまでもない。 (7) It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made. Further, in the above-described embodiments, it goes without saying that the elements constituting the embodiments are not necessarily essential, except when explicitly stated as being essential or when they are considered to be clearly essential in principle. .

また、上記実施形態において、実施形態の構成要素の個数、数値、量、範囲等の数値が言及されている場合、特に必須であると明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではない。また、上記実施形態において、構成要素等の材質、形状、位置関係等に言及するときは、特に明示した場合および原理的に特定の材質、形状、位置関係等に限定される場合等を除き、その材質、形状、位置関係等に限定されるものではない。 In addition, in the above embodiments, when numerical values such as the number, numerical value, amount, range, etc. of the constituent elements of the embodiment are mentioned, when it is explicitly stated that they are essential, and when they are clearly limited to a specific number in principle It is not limited to that particular number, except when In addition, in the above embodiments, when referring to materials, shapes, positional relationships, etc. of components, etc., unless otherwise specified or in principle limited to specific materials, shapes, positional relationships, etc., The material, shape, positional relationship, etc. are not limited.

10 カメラモジュール
12 レンズ部品
12a 軸方向隙間
13 接着剤
14 撮像部品
15 撮像素子
16 撮像素子基板
Cz 軸方向隙間12aの隙間量
AMz 補正量
Db 光軸方向
REFERENCE SIGNS LIST 10 camera module 12 lens component 12a axial gap 13 adhesive 14 imaging component 15 imaging element 16 imaging element substrate Cz gap amount of axial gap 12a AMz correction amount Db optical axis direction

Claims (1)

レンズ(122)を有し該レンズを介して光軸方向(Db)に光を通すレンズ部品(12)と、前記レンズ部品を通過した光を電気信号に変換する撮像素子(15)と該撮像素子が固定された撮像素子基板(16)とを有する撮像部品(14)とを備えたカメラモジュールの製造方法であって、
前記レンズ部品と前記撮像部品とをそれぞれ測定する部品測定を行うこと(P02)と、
前記レンズ部品と前記撮像部品とのうちの少なくとも一方を移動させ、前記光軸方向での前記レンズ部品に対する前記撮像素子基板の相対位置(Pr)と前記撮像素子からの前記電気信号に基づいたMTF値(Vm)との関係であるMTF測定結果(Rm)を得ること(P04)と、
前記相対位置が硬化前目標位置(P2r)になるように、前記レンズ部品と前記撮像部品とのうちの少なくとも一方を移動させる硬化前位置調整を行うこと(P08)と、
前記硬化前位置調整の後に、前記レンズ部品と前記撮像素子基板との間で前記光軸方向に形成される軸方向隙間(12a)に充填された接着剤(13)を硬化させる接着剤硬化を行うこと(P09、P10)とを含み、
前記硬化前位置調整では、前記接着剤硬化の後に得る前記軸方向隙間の隙間量(Cz)の目標値であって前記MTF測定結果と前記部品測定で得られた部品測定結果とに基づいて決まる硬化後目標隙間量(C1z)に、前記接着剤の収縮率に基づいて決まる補正量(AMz)を加算して得られる硬化前目標隙間量(C2z)に、前記軸方向隙間の隙間量がなる前記相対位置を、前記硬化前目標位置として用い
さらに、
前記MTF測定結果を得た後に、前記相対位置を、前記軸方向隙間の隙間量が前記硬化後目標隙間量になる位置にした上で、前記MTF値を測定するMTF値再測定を行うこと(P06)と、
前記MTF値再測定で測定した前記MTF値と前記MTF測定結果とを照合するMTF値照合を行うこと(P07)とを含み、
前記MTF値再測定の後に前記硬化前位置調整を行う、カメラモジュールの製造方法。
A lens component (12) having a lens (122) and transmitting light in an optical axis direction (Db) through the lens, an imaging device (15) for converting the light passing through the lens component into an electric signal, and the imaging device. A method for manufacturing a camera module comprising an imaging component (14) having an imaging element substrate (16) to which an element is fixed, comprising:
performing component measurement for measuring the lens component and the imaging component (P02);
At least one of the lens component and the imaging component is moved, and an MTF based on the relative position (Pr) of the imaging element substrate with respect to the lens component in the optical axis direction and the electrical signal from the imaging element Obtaining the MTF measurement result (Rm) which is the relationship with the value (Vm) (P04);
performing pre-curing position adjustment (P08) by moving at least one of the lens component and the imaging component so that the relative position becomes the pre-curing target position (P2r);
After the pre-curing position adjustment, adhesive curing is performed to cure the adhesive (13) filled in the axial gap (12a) formed between the lens component and the imaging element substrate in the optical axis direction. doing (P09, P10),
In the pre-curing position adjustment, a target value of the clearance amount (Cz) of the axial clearance obtained after curing the adhesive is determined based on the MTF measurement result and the part measurement result obtained in the part measurement. The clearance amount of the axial clearance becomes the target clearance amount before curing (C2z) obtained by adding the correction amount (AMz) determined based on the shrinkage rate of the adhesive to the target clearance amount after curing (C1z). using the relative position as the pre-curing target position;
moreover,
After obtaining the MTF measurement result, the relative position is set to a position where the clearance amount of the axial clearance becomes the target clearance amount after curing, and then the MTF value is remeasured to measure the MTF value ( P06) and
performing MTF value collation for collating the MTF value measured in the MTF value remeasurement and the MTF measurement result (P07),
A method of manufacturing a camera module , wherein the pre-curing position adjustment is performed after remeasurement of the MTF value .
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