JP7184599B2 - 半導体発光装置 - Google Patents

半導体発光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7184599B2
JP7184599B2 JP2018208521A JP2018208521A JP7184599B2 JP 7184599 B2 JP7184599 B2 JP 7184599B2 JP 2018208521 A JP2018208521 A JP 2018208521A JP 2018208521 A JP2018208521 A JP 2018208521A JP 7184599 B2 JP7184599 B2 JP 7184599B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
semiconductor light
emitting device
layer
emitting element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018208521A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020077678A (ja
Inventor
裕輝 田沼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP2018208521A priority Critical patent/JP7184599B2/ja
Priority to US16/673,519 priority patent/US11799266B2/en
Publication of JP2020077678A publication Critical patent/JP2020077678A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7184599B2 publication Critical patent/JP7184599B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0225Out-coupling of light
    • H01S5/02257Out-coupling of light using windows, e.g. specially adapted for back-reflecting light to a detector inside the housing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/023Mount members, e.g. sub-mount members
    • H01S5/02315Support members, e.g. bases or carriers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/4847Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
    • H01L2224/48471Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area being a ball bond, i.e. wedge-to-ball, reverse stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/02208Mountings; Housings characterised by the shape of the housings
    • H01S5/02216Butterfly-type, i.e. with electrode pins extending horizontally from the housings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0233Mounting configuration of laser chips
    • H01S5/02335Up-side up mountings, e.g. epi-side up mountings or junction up mountings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0233Mounting configuration of laser chips
    • H01S5/02345Wire-bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0235Method for mounting laser chips
    • H01S5/02355Fixing laser chips on mounts
    • H01S5/0237Fixing laser chips on mounts by soldering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/024Arrangements for thermal management
    • H01S5/02469Passive cooling, e.g. where heat is removed by the housing as a whole or by a heat pipe without any active cooling element like a TEC
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/026Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/183Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
    • H01S5/18308Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] having a special structure for lateral current or light confinement
    • H01S5/18311Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] having a special structure for lateral current or light confinement using selective oxidation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/183Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
    • H01S5/18308Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] having a special structure for lateral current or light confinement
    • H01S5/18311Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] having a special structure for lateral current or light confinement using selective oxidation
    • H01S5/18313Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] having a special structure for lateral current or light confinement using selective oxidation by oxidizing at least one of the DBR layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/183Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
    • H01S5/18344Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] characterized by the mesa, e.g. dimensions or shape of the mesa
    • H01S5/18347Mesa comprising active layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/343Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
    • H01S5/34313Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer having only As as V-compound, e.g. AlGaAs, InGaAs
    • H01S5/3432Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer having only As as V-compound, e.g. AlGaAs, InGaAs the whole junction comprising only (AI)GaAs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/343Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
    • H01S5/34346Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser characterised by the materials of the barrier layers
    • H01S5/34353Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser characterised by the materials of the barrier layers based on (AI)GaAs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/42Arrays of surface emitting lasers
    • H01S5/423Arrays of surface emitting lasers having a vertical cavity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

本開示は、半導体発光装置に関する。
半導体発光素子を光源として備えた半導体発光装置が広く提案されている。特許文献1には、従来の半導体発光装置の一例が開示されている。同文献に開示された半導体発光装置は、半導体発光素子の一例である半導体レーザ素子と、半導体発光素子が搭載された基板と、半導体発光素子を囲むケースと、ケースを塞ぐ透光性を有するカバーとを備えている。
特開2015-123378号公報
カバーがケースから剥離すると、半導体発光素子からの光を肉眼で直接視認するおそれがあり、好ましくない。
本開示は、上記した事情のもとで考え出されたものであって、カバーの剥離を抑制可能な半導体発光装置を提供することをその課題とする。
本開示によって提供される半導体発光装置は、半導体発光素子と、基材および導電部を有し、前記半導体発光素子を支持する支持体と、第1方向視において前記半導体発光素子に重なり且つ前記半導体発光素子からの光を透過させるカバーと、を備えており、前記カバーは、前記半導体発光素子からの光を透過させ且つ前記第1方向において互いに反対側を向く表面および裏面を有する基材層を含み、前記裏面は、前記半導体発光素子と対向しており、前記基材層は、接合材によって前記支持体に接合された起伏部を有しており、前記起伏部は、前記裏面よりも凹凸状である。
本開示の半導体発光装置によれば、カバーの剥離を抑制できる。
本開示のその他の特徴および利点は、添付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より明らかとなろう。
本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す要部平面図である。 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す底面図である。 図1のIII-III線に沿う断面図である。 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す要部拡大断面図である。 図1のV-V線に沿う断面図である。 図1のVI-VI線に沿う断面図である。 図1のVII-VII線に沿う断面図である。 図1のVIII-VIII線に沿う断面図である。 図1のIX-IX線に沿う断面図である。 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す要部拡大断面図である。 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の半導体発光素子を示す拡大断面斜視図である。 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の半導体発光素子を示す要部拡大断面図である。 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の第1変形例を示す要部平面図である。 図13のXIV-XIV線に沿う断面図である。 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の第2変形例を示す断面図である。 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の第2変形例を示す要部拡大断面図である。 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の第3変形例を示す要部平面図である。 図17のXVIII-XVIII線に沿う断面図である。 図17のXIX-XIX線に沿う断面図である。 本開示の第2実施形態に係る半導体発光装置を示す要部拡大断面図である。 本開示の第3実施形態に係る半導体発光装置を示す要部平面図である。 図21のXXII-XXII線に沿う断面図である。 図21のXXIII-XXIII線に沿う断面図である。 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置を示す断面図である。 本開示の第5実施形態に係る半導体発光装置を示す断面図である。
以下、本開示の好ましい実施の形態につき、図面を参照して具体的に説明する。
本開示における「第1」、「第2」、「第3」等の用語は、単にラベルとして用いたものであり、必ずしもそれらの対象物に順列を付することを意図していない。
<第1実施形態>
図1~図12は、本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示している。本実施形態の半導体発光装置A1は、支持体1、半導体発光素子4、カバー5および封止樹脂71を備えている。
図1は、半導体発光装置A1を示す要部平面図である。図2は、半導体発光装置A1を示す底面図である。図3は、図1のIII-III線に沿う断面図である。図4は、半導体発光装置A1を示す要部拡大断面図である。図5は、図1のV-V線に沿う断面図である。図6は、図1のVI-VI線に沿う断面図である。図7は、図1のVII-VII線に沿う断面図である。図8は、図1のVIII-VIII線に沿う断面図である。図9は、図1のIX-IX線に沿う断面図である。図10は、半導体発光装置A1を示す要部拡大断面図である。図11は、半導体発光装置A1の半導体発光素子4を示す拡大断面斜視図である。図12は、半導体発光装置A1の半導体発光素子4を示す要部拡大断面図である。これらの図において、z方向は、本開示の第1方向に相当し、y方向は、本開示の第2方向に相当し、x方向は、本開示の第3方向に相当する。
本実施形態の支持体1は、第1面11、第2面12、第3面13、第4面14、第5面15、第6面16、第7面17および第8面18を有する。
第1面11は、z方向一方側(図3における図中上側)を向く面である。第2面12は、第1面11とは反対側のz方向他方側(図3における図中下側)を向く面である。第3面13は、第1面11と同じくz方向一方側(図3における図中上側)を向く面であり、第2面12に対して第1面11よりも離間している。第4面14は、第1面11と第3面13との間に介在しており、本実施形態においては、第1面11および第3面13に繋がっている。第4面14は、z方向視において第1面11を囲む環状である。また、第4面14は、対向し合う部分同士の距離がz方向において第1面11から第3面13に向かうほど大きくなるように傾いている。
第5面15は、z方向において第1面11と第3面13との間に位置しており、y方向一方側(図6~図9における図中右側)を向く面である。図示された例においては、第5面15は、第1面11および第3面13に繋がっている。第6面16は、z方向において第1面11と第3面13との間に位置しており、y方向他方側(図6~図9における図中左側)を向く面である。図示された例においては、第6面16は、第1面11および第3面13に繋がっている。
第7面17は、z方向において第1面11と第3面13との間に位置しており、x方向一方側(図3における図中左側)を向く面である。図示された例においては、第7面17は、第1面11および第3面13に繋がっている。第8面18は、z方向において第1面11と第3面13との間に位置しており、x方向他方側(図3における図中右側)を向く面である。図示された例においては、第8面18は、第1面11および第3面13に繋がっている。
支持体1の構成は特に限定されず、本実施形態においては、支持体1は、基材2および導電部3を含む。
基材2は、絶縁性材料からなり、たとえばエポキシ樹脂、シリコーン樹脂等が適宜用いられる。本実施形態の基材2は、第1面21、第2面22、第3面23、第4面24、第5面25、第6面26、第7面27および第8面28を有する。
第1面21は、z方向一方側を向いており、第1面11の一部を構成する。第2面22は、z方向他方側を向いており、第2面12の一部を構成する。第3面23は、z方向一方側を向いており、第3面13を構成する。第4面24は、z方向において第1面21と第3面23との間に位置しており、第4面14を構成する。第5面25は、y方向一方側を向いており、第5面15を構成する。第6面16は、y方向他方側を向いており、第6面16を構成する。第7面27は、x方向一方側を向いており、第7面17を構成する。第8面28は、x方向他方側を向いており、第8面18を構成する。
導電部3は、半導体発光素子4と半導体発光装置A1の外部との導通経路を構成するものであり、本実施液体においては、第1リード31および第2リード32を含む。第1リード31および第2リード32は、たとえばCu,Fe,Ni等の金属からなる。
第1リード31は、第1面311、第2面312、主部315、縁部316および複数の延出部317を有する。第1面311は、z方向一方側を向く面であり、第1面11の一部を構成している。z方向視において、第1面311の一部は、第4面14に囲まれた領域に露出している。第2面312は、第1面311とは反対側のz方向他方側を向く面であり、第2面12の一部を構成する。図示された例においては、第2面312は、z方向視において第1面311よりも小さく、第1面311に内包されている。
主部315は、第1面311および第2面312を有する部位であり、z方向視において第1面311および第2面312の双方が重なる部位である。縁部316は、z方向視において主部315を囲む部位であり、第1面311の一部を有する。縁部316のz方向他方側部分は、基材2によって覆われている。複数の延出部317は、z方向視において縁部316から外方に延出している。延出部317は、第1面311の一部を有する。延出部317のz方向他方側部分は、基材2によって覆われている。図示された例においては、第1リード31は、3つの延出部317を有する。1つの延出部317は、基材2の第5面25に到達しており、端面が第5面25と面一であり、第5面25から露出している。他の1つの延出部317は、基材2の第6面26に到達しており、端面が第6面26と面一であり、第6面26から露出している。さらに他の1つの延出部317は、基材2の第7面27に到達しており、端面が第7面27と面一であり、第7面27から露出している。
第2リード32は、第1リード31に対してx方向他方側に離間して配置されている。第2リード32は、第1面321、第2面322、主部325、縁部326および複数の延出部327を有する。第1面321は、z方向一方側を向く面であり、第1面11の一部を構成している。z方向視において、第1面321の一部は、第4面14に囲まれた領域に露出している。第2面322は、第1面321とは反対側のz方向他方側を向く面であり、第2面12の一部を構成する。図示された例においては、第2面322は、z方向視において第1面321よりも小さく、第1面321に内包されている。
主部325は、第1面321および第2面322を有する部位であり、z方向視において第1面321および第2面322の双方が重なる部位である。縁部326は、z方向視において主部325を囲む部位であり、第1面321の一部を有する。縁部326のz方向他方側部分は、基材2によって覆われている。複数の延出部327は、z方向視において縁部326から外方に延出している。延出部327は、第1面321の一部を有する。延出部327のz方向他方側部分は、基材2によって覆われている。図示された例においては、第2リード32は、3つの延出部327を有する。1つの延出部327は、基材2の第5面25に到達しており、端面が第5面25と面一であり、第5面25から露出している。他の1つの延出部327は、基材2の第6面26に到達しており、端面が第6面26と面一であり、第6面26から露出している。さらに他の1つの延出部327は、基材2の第8面28に到達しており、端面が第8面28と面一であり、第8面28から露出している。
半導体発光素子4は、半導体発光装置A1における光源であり、所定の波長帯の光を発する。半導体発光素子4の具体的構成は特に限定されず、半導体レーザ素子やLED素子等である。本実施形態においては、半導体発光素子4は、半導体レーザ素子であり、VCSEL素子が採用されている。半導体発光素子4は、導電部3の第1リード31の第1面311(第1面11)に導電性接合材48によってダイボンディングされている。導電性接合材48は、たとえば、Agペーストまたははんだである。半導体発光素子4からの光は、おおむねz方向一方側に出射される。
図1に示すように、半導体発光素子4は、平面視において第1電極41と複数の発光領域460が設けられている。複数の発光領域460は、半導体発光素子4の平面視において第1電極41を除く領域に離散配置されている。
図11および図12に示すように、本例の半導体発光素子4は、第1電極41、第2電極42、第2基板451、第4半導体層452、活性層453、第5半導体層454、電流狭窄層455、絶縁層456および導電層457を備え、複数の発光領域460が形成されている。なお、同図に示す構成例は、半導体発光素子4としてのVCSEL素子の一例であり、本構成に限定されるものではない。図12は、1つの発光領域460を含む部分を拡大して示している。
第2基板451は、半導体よりなる。第2基板451を構成する半導体は、たとえば、n型のGaAsである。第2基板451を構成する半導体は、GaAs以外であってもよい。
活性層453は、自然放出および誘導放出によって、たとえば、980nm帯(以下、「λa」とする)の波長の光を放出する化合物半導体により構成されている。活性層453は、第4半導体層452と第5半導体層454との間に位置している。本実施形態においては、アンドープのGaAs井戸層とアンドープのAlGaAs障壁層(バリア層)とを交互に積層した多重量子井戸構造により構成されている。たとえば、アンドープAl0.35Ga0.65As障壁層とアンドープGaAs井戸層とが交互に繰り返し2~6周期形成されている。
第4半導体層452は、典型的にはDBR(Distributed Bragg Reflector)層であり、第2基板451に形成されている。第4半導体層452は第1導電型を有する半導体よりなる。本例では第1導電型はn型である。第4半導体層452は、活性層453から発せられる光を効率よく反射させるためのDBRとして構成されている。第4半導体層452は、厚さλa/4のAlGaAs層であってそれぞれ反射率が異なる2層からなるペアを、複数段重ね合わせることにより構成されている。より具体的には、第4半導体層452は、たとえば600Åの厚さを有する相対的にAl組成が低いn型Al0.16Ga0.84As層(低Al組成層)と、たとえば700Åの厚さを有する相対的にAl組成が高いn型Al0.92Ga0.16As層(高Al組成層)とを交互に複数周期(たとえば、20周期)繰り返し積層して構成されている。n型Al0.16Ga0.84As層およびn型Al0.92Ga0.16As層には、それぞれ、たとえば2×1017cm-3~3×1018cm-3および2×1017cm-3~3×1018cm-3の濃度で、n型不純物(たとえば、Si)がドープされている。
第5半導体層454は、典型的にはDBR層であり、第2導電型を有する半導体よりなる。本例では第2導電型はp型である。本実施形態とは異なり、第1導電型がp型であり、第2導電型がn型であってもよい。第5半導体層454および第2基板451の間に、第4半導体層452が位置している。第5半導体層454は、活性層453から発せられる光を効率よく反射させるためのDBRとして構成されている。より具体的には、第5半導体層454は、厚さλa/4のAlGaAs層であってそれぞれ反射率が異なる2層からなるペアを、複数段重ね合わせることにより構成されている。第5半導体層454は、たとえば、相対的にAl組成が低いp型Al0.16Ga0.84As層(低Al組成層)と、相対的にAl組成が高いp型Al0.92Ga0.16As層(高Al組成層)とが交互に複数周期(たとえば、20周期)繰り返し積層して構成されている。
電流狭窄層455は、第5半導体層454内に位置している。電流狭窄層455はたとえばAlを多く含み、酸化しやすい層からなる。電流狭窄層455は、この酸化しやすい層を酸化することにより形成される。電流狭窄層455は、酸化によって形成される必要は必ずしもなく、その他の方法(たとえばイオン注入)によって形成されてもよい。電流狭窄層455には開口4551が形成されている。開口4551を電流が流れる。
絶縁層456は第5半導体層454に形成されている。絶縁層456は、たとえば、SiO2よりなる。絶縁層456には、開口4561が形成されている。
導電層457は、絶縁層456に形成されている。導電層457は導電材料(たとえば金属)よりなる。導電層457は、絶縁層456の開口4561を通じて第5導電層
354に導通している。導電層457は、開口4571を有する。
発光領域460は、活性層453からの光が直接または反射の後に出射される領域である。本例においては、発光領域460は、平面視円環形状であるが、その形状は特に限定されない。発光領域460は、上述した第5半導体層454、電流狭窄層455、絶縁層456および導電層457が積層され、電流狭窄層455の開口4551、絶縁層456の開口4561および導電層457の開口4571等が形成されることにより設けられている。発光領域460においては、活性層453からの光が、導電層457の開口4571を通じて出射される。
第1電極41は、たとえば金属からなり、第5半導体層454に導通している。第2電極42は、第2基板451の裏面に形成されており、たとえば金属からなる。第2電極42は、たとえばAg等の金属を含むペーストまたははんだ等の導電性接合材48によって第1面311にダイボンディングされている。これにより、第2電極42は、導電部3の第1リード31と導通している。
ワイヤ49は、図1および図3に示すように、半導体発光素子4の第1電極41と第2リード32の第1面321とに接続されている。ワイヤ49の材質は特に限定されず、たとえばAuからなる。本実施形態においては、4本のワイヤ49が互いに並列に設けられている。ただし、ワイヤ49の本数や配置は特に限定されない。
カバー5は、半導体発光素子4をz方向視において塞ぐとともに、半導体発光素子4からの光を透過させるものである。本実施形態においては、カバー5は、基材層51および拡散層52を含む。カバー5は、たとえば接合材57によって支持体1の第3面13(第3面23)に接合されている。接合材57は、たとえば樹脂材料からなる絶縁性の接着剤である。
基材層51は、ガラス等の半導体発光素子4からの光を透過させる材料からなる。本実施形態においては、基材層51は、透明なガラスからなる。基材層51の形状等は特に限定されず、本実施形態においては矩形状である。
基材層51は、表面51aおよび裏面51bを有する。表面51aおよび裏面51bは、z方向において互いに反対側を向いている。図3に示すように、表面51aは、z方向一方側(図3における図中上側)を向いている。裏面51bは、z方向他方側(図3における図中下側)を向いており、半導体発光素子4と対向している。表面51aおよび裏面51bは、平坦な面である。図示された例においては、表面51aは、基材層51のz方向視における全体に一致する大きさである。裏面51bは、z方向視において基材層51の外縁よりも内側に退避している。裏面51bは、z方向視において第4面14(第4面24)の上端縁よりも小さく、当該上端縁に内包されている。
基材層51は、起伏部510を有する。起伏部510は、接合材57によって支持体1に支持された部位であり、裏面51bよりも凹凸状である。なお、本開示において「起伏部510が裏面51bよりも凹凸状である」とは、たとえば、起伏部510がz方向に凹む部位やz方向に突出する部位を有し、裏面51bが平坦な面である場合や、起伏部510が複数の微細な凹凸を有する形状であって、表面粗さが粗い粗面である一方、裏面51bが表面粗さが相対的に小さい場合、等を含む。
本実施形態の起伏部510は、図3、図4、図9および図10に示すように、第1面511を有する。第1面511は、z方向において裏面51bと同じ側を向いており、z方向において裏面51bよりも表面51a側に位置する。起伏部510の形状は特に限定されず、たとえば矩形状である。
図示された例においては、起伏部510は、第2面512および第3面513を有する。第2面512は、図4に示すように、z方向において裏面51bと第1面511との間に位置しており、図示された例においては、裏面51bと第1面511とを繋いでいる。第2面512は、x方向を向いており、図示された例においては、x方向外側を向いている。また、本実施形態の起伏部510は、x方向外側に開放されている。
第3面513は、図10に示すように、z方向において裏面51bと第1面511との間に位置しており、図示された例においては、裏面51bと第1面511とを繋いでいる。第3面513は、y方向を向いており、図示された例においては、y方向外側を向いている。また、本実施形態の起伏部510は、y方向外側に開放されている。
図1に示すように、起伏部510は、z方向において第3面23(第3面13)と重なっており、図示された例においては、起伏部510の全体が第3面23(第3面13)と重なっている。また、図示された例においては、接合材57は、起伏部510を埋めており、z方向視において第3面13(第3面23)と重なる領域に形成されている。ただし、接合材57は、たとえばその一部が第4面14(第4面24)に接触していてもよい。
起伏部510の個数は、特に限定されない。図示された例においては、基材層51は、4つの起伏部510を有する。4つの起伏部510は、x方向に互いに離間した2つの起伏部510を含む。また、4つの起伏部510は、y方向に互いに離間した2つの起伏部510を含む。図示された例においては、4つの起伏部510は、z方向視において基材層51の四隅に配置されている。
拡散層52は、基材層51上に配置されており、半導体発光素子4からの光を拡散させつつ透過させる層である。拡散層52としては、拡散機能を実現する光学処理が施されたエポキシ樹脂層が挙げられる。本実施形態においては、図3および図6に示すように、拡散層52は、裏面51bのうち少なくとも半導体発光素子4と対向する部位に設けられている。なお、本実施形態とは異なり、拡散層52は、基材層51の表面51aに設けられていてもよい。
次に、半導体発光装置A1の作用について説明する。
本実施形態によれば、カバー5は、基材層51の起伏部510が接合材57によって支持体1に接合されることにより、支持体1に固定されている。起伏部510は、裏面51bよりも凹凸状の部位である。このため、起伏部510と接合材57との接触面は、たとえばz方向に対して直角である平坦面にとどまらず、z方向に起伏を有する形状となる。これにより、基材層51と支持体1との接合強度を高めることが可能であり、カバー5の剥離を抑制することができる。
本実施形態の起伏部510は、裏面51bに対してz方向において表面51a側に位置する第1面511を有しており、いわゆる凹部として形成されている。これにより、接合材57が、z方向において基材層51に食い込む形状となる。これは、接合材57による接合強度の向上に好ましく、カバー5の剥離抑制に有利である。
起伏部510は、第2面512および第3面513を有する。これにより、カバー5を支持体1に対してx方向またはy方向にずらすようなせん断力が作用した場合に、接合材57による保持をより高めることが可能である。これは、カバー5の剥離抑制に好適である。
本実施形態の基材層51は、四隅に配置された4つの起伏部510を有する。たとえば、矩形状とされたカバー5の剥離は、四隅のいずれかの箇所から生じやすい。本実施形態によれば、カバー5が四隅から剥離することをより確実に抑制することができる。
半導体発光素子4が第1リード31に搭載されていることにより、半導体発光素子4の発光時の熱を、第1リード31の第2面312から外部へと逃がすことができる。
図13~図25は、本開示の変形例および他の実施形態を示している。なお、これらの図において、上記実施形態と同一または類似の要素には、上記実施形態と同一の符号を付している。
<第1実施形態 第1変形例>
図13および図14は、半導体発光装置A1の第1変形例を示している。本例の半導体発光装置A11は、基材層51に退避面51cが設けられている。
退避面51cは、z方向において表面51aと同じ側を向いており、z方向において表面51aよりも裏面51b側に位置している。言い換えると、退避面51cは、z方向において表面51aから裏面51b側に退避している。
退避面51cは、平坦な面である。また、退避面51cは、z方向視において半導体発光素子4と重なっており、図示された例においては、半導体発光素子4の全体と重なっている。
本例の半導体発光装置A11によっても、カバー5の剥離を抑制することができる。また、本変形例においては、z方向視において半導体発光素子4と重なる退避面51cが表面51aからz方向に退避している。これにより半導体発光装置A11の製造、運搬、実装および使用に際して、退避面51cが傷つくことを抑制することが可能である。これは、半導体発光装置A1の光量増大に好ましい。なお、以降の変形例および実施形態においては、退避面51cを有する構成を適宜採用してもよい。
<第1実施形態 第2変形例>
図15および図16は、半導体発光装置A1の第2変形例を示している。本例の半導体発光装置A12は、起伏部510と第3面13(第3面23)との関係が上述した例と異なっている。
本例においては、起伏部510は、z方向視において第3面13(第3面23)よりも内方に延出しており、第4面14(第4面24)と重なっている。また、接合材57は、起伏部510を埋めるとともに、第4面14(第4面24)の一部に接している。半導体発光装置A12によっても、カバー5の剥離を抑制することができる。
<第1実施形態 第3変形例>
図17~図18は、半導体発光装置A1の第3変形例を示している。本例の半導体発光装置A13は、起伏部510の形状が上述した例と異なっている。
本例においては、起伏部510は、z方向視において裏面51bを囲む環状である。起伏部510は、z方向視において基材層51の外縁に沿って形成されている。本例においても、起伏部510は、第1面511、2つの第2面512および2つの第3面513を有する。半導体発光装置A13によっても、カバー5の剥離を抑制することができる。なお、起伏部510の具体的構成は、上述した半導体発光装置A12の起伏部510の構成であってもよい。
<第2実施形態>
図20は、本開示の第2実施形態に係る半導体発光装置を示している。本実施形態の半導体発光装置A2は、起伏部510の具体的構成が、上述した実施形態と異なっている。本実施形態においては、起伏部510は、裏面51bよりも表面粗さが粗い粗面によって構成されている。
起伏部510の形状、位置および個数は特に限定されず、たとえば上述した実施形態の起伏部510の構成を適宜採用可能である。また、本実施形態の起伏部510を形成する手法としては、たとえば、基材層51を形成するための金型にサンドブラスト処理を施すことにより、起伏部510に対応する粗面を設けておく手法が挙げられる。
本実施形態によっても、カバー5の剥離を抑制することができる。また、粗面からなる起伏部510を有する基材層51は、薄型化に好ましい。
<第3実施形態>
図21~図23は、本開示の第3実施形態に係る半導体発光装置を示している。本実施形態の半導体発光装置A3は、起伏部510の具体的構成が、上述した実施形態と異なっている。
本実施形態においては、起伏部510は、穴によって構成されている。起伏部510を構成する穴は、第1面511を有しており、z方向において裏面51b側に開放されており、表面51a側に閉じている。また、起伏部510を構成する穴は、z方向視において閉じた形状である。起伏部510を構成する穴の形状は特に限定されず、図示された例においては、円形である。起伏部510は、接合材57によって埋められている。
起伏部510は、その全体がz方向視において第3面13(第3面23)と重なっている。起伏部510の個数は特に限定されず、図示された例においては、10個である。これらの起伏部510は、第4面14(第4面24)および裏面51bを囲む環状に配置されている。これらの起伏部510は、x方向に互いに離間して配列されたもの、およびy方向に互いに離間して配列されたもの、を含む。
本実施形態においても、カバー5の剥離を抑制することができる。また、起伏部510がz方向視において閉じた形状であることにより、半導体発光装置A3をx方向やy方向から見た場合に、外観に表れる接合材57の面積を縮小することができる。
<第4実施形態>
図24は、本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置A4を示す断面図である。本実施形態の支持体1は、半導体発光装置A1の支持体1と類似の構成であるものの、具体的構造が異なり、いわゆる多層配線基板からなる。
本実施形態の基材2は、第1層201および第2層202を含む。第1層201および第2層202は、それぞれ絶縁性材料からなり、たとえばガラスエポキシ樹脂からなる。
導電部3は、第1部381、第2部382、第3部383、第5部385、第6部386、第9部389および第10部38aを有する。第1部381、第2部382、第3部383、第5部385、第6部386、第9部389および第10部38aは、金属からなり、たとえばCu,Ni,Au等のめっき層からなる。
第1部381は、第1層201上に形成されており、たとえば半導体発光装置A1における第1面311とz方向視における形状、大きさや配置が同じである。第2部382は、第1層201上に形成されており、たとえば半導体発光装置A1における第1面321とz方向視における形状、大きさや配置が同じである。第3部383は、第1層201上に形成されており、たとえば半導体発光装置A1における第1面331とz方向視における形状、大きさや配置が同じである。なお、z方向視における形状、大きさや配置が半導体発光装置A1における第1面341と同じである部位をさらに有してもよい。
第5部385は、第1層201の第2面22上に形成されており、たとえば半導体発光装置A1における第2面312とz方向視における形状、大きさや配置が同じである。第6部386は、第1層201の第2面22上に形成されており、たとえば半導体発光装置A1における第2面322とz方向視における形状、大きさや配置が同じである。
第9部389は、第1層201をz方向に貫通しており、第1部381と第5部385とに繋がっている。第10部38aは、第1層201をz方向に貫通しており、第2部382と第6部386とに繋がっている。第11部38bは、第1層201をz方向に貫通しており、第3部383と第7部387とに繋がっている。
このような実施形態によっても、カバー5の剥離を抑制することができる。また、本実施形態から理解されるように、支持体1の具体的構造は、何ら限定されない。
<第5実施形態>
図25は、本開示の第5実施形態に係る半導体発光装置A5を示す断面図である。本実施形態の支持体1は、半導体発光装置A1の支持体1と類似の構成であるものの、具体的構造が異なり、いわゆるセラミック配線基板からなる。
本実施形態の基材2は、第1層201、第2層202および第3層203を含む。第1層201、第2層202および第3層203は、それぞれアルミナ等のセラミックスからなる。本実施形態の第4面14は、z方向に沿った形状である。導電部3の構成は、たとえば半導体発光装置A4における導電部3と類似の構成である。
このような実施形態によっても、カバー5の剥離を抑制することができる。また、本実施形態から理解されるように、支持体1の具体的構造は、何ら限定されない。
本開示に係る半導体発光装置は、上述した実施形態に限定されるものではない。本開示に係る半導体発光装置の各部の具体的な構成は、種々に設計変更自在である。
たとえば、本開示の半導体発光装置は、受光素子をさらに備えていてもよい。受光素子を備えることにより、受光素子の出力信号から、半導体発光素子の発光状態を監視することができる。
〔付記1〕
半導体発光素子と、
基材および導電部を有し、前記半導体発光素子を支持する支持体と、
第1方向視において前記半導体発光素子に重なり且つ前記半導体発光素子からの光を透過させるカバーと、を備えており、
前記カバーは、前記半導体発光素子からの光を透過させ且つ前記第1方向において互いに反対側を向く表面および裏面を有する基材層を含み、
前記裏面は、前記半導体発光素子と対向しており、
前記基材層は、接合材によって前記支持体に接合された起伏部を有しており、
前記起伏部は、前記裏面よりも凹凸状である、半導体発光装置。
〔付記2〕
前記起伏部は、前記第1方向において前記裏面と同じ側を向き且つ前記裏面よりも前記第1方向において前記表面側に位置する第1面を有する、付記1に記載の半導体発光装置。
〔付記3〕
前記起伏部は、前記第1方向において前記裏面と前記第1面との間に位置し且つ前記第1方向と直角である第2方向を向く第2面を有する、付記2に記載の半導体発光装置。
〔付記4〕
前記起伏部は、前記第2方向において前記第2面が向く側に開放されている、付記3に記載の半導体発光装置。
〔付記5〕
前記起伏部は、前記第1方向において前記裏面と前記第1面との間に位置し且つ前記第1方向および前記第2方向と直角である第3方向を向く第3面を有する、付記4に記載の半導体発光装置。
〔付記6〕
前記起伏部は、前記第3方向において前記第3面が向く側に開放されている、付記5に記載の半導体発光装置。
〔付記7〕
前記基材層は、前記第2方向に互いに離間した2つの前記起伏部を有する、付記6に記載の半導体発光装置。
〔付記8〕
前記基材層は、前記第3方向に互いに離間した2つの前記起伏部を有する、付記6または7に記載の半導体発光装置。
〔付記9〕
前記起伏部は、前記第1方向視において前記裏面を囲む環状である、付記6に記載の半導体発光装置。
〔付記10〕
前記起伏部は、前記第1方向視において閉じた形状である穴である、付記2に記載の半導体発光装置。
〔付記11〕
前記起伏部は、前記裏面よりも表面粗さが粗い粗面からなる、付記1に記載の半導体発光装置。
〔付記12〕
前記支持体は、前記半導体発光素子が配置され且つ前記第1方向を向く第1面、前記第1面とは反対側を向く第2面、前記第1面と同じ側を向き且つ前記第1面よりも前記第2面から離間するとともに前記第1方向視において前記第1面を囲む第3面および前記第1面と前記第3面との間に介在する第4面を有し、
前記カバーは、前記第3面に支持されている、付記1ないし11のいずれかに記載の半導体発光装置。
〔付記13〕
前記基材層は、前記第1方向において前記表面と同じ側を向き且つ前記第1方向において前記表面よりも前記裏面側に位置するとともに前記第1方向視において前記裏面および前記半導体発光素子と重なる退避面を有する、付記1ないし12のいずれかに記載の半導体発光装置。
〔付記14〕
前記カバーは、前記半導体発光素子からの光を拡散させる拡散層を含む、付記1ないし13のいずれかに記載の半導体発光装置。
〔付記15〕
前記拡散層は、前記第1方向視において、前記裏面および前記半導体発光素子と重なる、付記14に記載の半導体発光装置。
〔付記16〕
前記起伏部は、前記拡散層から露出している、付記15に記載の半導体発光装置。
〔付記17〕
前記半導体発光素子は、VCSEL素子である、付記1ないし16のいずれかに記載の半導体発光装置。
A1,A11,A12,A13,A2,A3,A4,A5:半導体発光装置
1 :支持体
2 :基材
3 :導電部
4 :半導体発光素子
5 :カバー
11 :第1面
12 :第2面
13 :第3面
14 :第4面
15 :第5面
16 :第6面
17 :第7面
18 :第8面
21 :第1面
22 :第2面
23 :第3面
24 :第4面
25 :第5面
26 :第6面
27 :第7面
28 :第8面
31 :第1リード
32 :第2リード
38a :第10部
38b :第11部
41 :第1電極
42 :第2電極
48 :導電性接合材
49 :ワイヤ
51 :基材層
51a :表面
51b :裏面
51c :退避面
52 :拡散層
57 :接合材
71 :封止樹脂
201 :第1層
202 :第2層
203 :第3層
311 :第1面
312 :第2面
315 :主部
316 :縁部
317 :延出部
321 :第1面
322 :第2面
325 :主部
326 :縁部
327 :延出部
331 :第1面
341 :第1面
381 :第1部
382 :第2部
383 :第3部
385 :第5部
386 :第6部
387 :第7部
389 :第9部
451 :第2基板
452 :第4半導体層
453 :活性層
454 :第5半導体層
455 :電流狭窄層
456 :絶縁層
457 :導電層
460 :発光領域
510 :起伏部
511 :第1面
512 :第2面
513 :第3面
4551,4561,4571:開口

Claims (8)

  1. 半導体発光素子と、
    基材および導電部を有し、前記半導体発光素子を支持する支持体と、
    第1方向視において前記半導体発光素子に重なり且つ前記半導体発光素子からの光を透過させるカバーと、を備えており、
    前記カバーは、前記半導体発光素子からの光を透過させ且つ前記第1方向において互いに反対側を向く表面および裏面を有する基材層を含み、
    前記裏面は、前記半導体発光素子と対向しており、
    前記基材層は、接合材によって前記支持体に接合された起伏部を有しており、
    前記起伏部は、前記第1方向において前記裏面と同じ側を向き且つ前記裏面よりも前記第1方向において前記表面側に位置する第1面、前記第1方向において前記裏面と前記第1面との間に位置し且つ前記第1方向と直角である第2方向を向く第2面、および前記第1方向において前記裏面と前記第1面との間に位置し且つ前記第1方向および前記第2方向と直角である第3方向を向く第3面、を有し、
    前記起伏部は、前記第2方向において前記第2面が向く側に開放し、且つ、前記第3方向において前記第3面が向く側に開放されており、
    前記基材層は、前記第2方向および前記第3方向に沿った二組の辺を有する矩形状であり、且つ前記第2方向に互いに離間した2つの前記起伏部および前記第3方向に互いに離間した2つの前記起伏部を含む、四隅に配置された4つの前記起伏部を有し、
    前記接合材のうち前記起伏部と前記支持体との間に位置する部分の前記第1方向の厚さは、前記接合材のうち前記裏面と前記支持体との間に位置する部分の前記第1方向の厚さよりも厚い、半導体発光装置。
  2. 前記基材層は、前記第2方向を短手方向とし、前記第3方向を長手方向とする長矩形状であり、
    前記4つの起伏部は、各々が前記第2方向を長手方向とする形状である、請求項1に記載の半導体発光装置。
  3. 前記支持体は、前記半導体発光素子が配置され且つ前記第1方向を向く第1面、前記第1面とは反対側を向く第2面、前記第1面と同じ側を向き且つ前記第1面よりも前記第2面から離間するとともに前記第1方向視において前記第1面を囲む第3面および前記第1面と前記第3面との間に介在する第4面を有し、
    前記カバーは、前記第3面に支持されている、請求項1または2に記載の半導体発光装置。
  4. 前記基材層は、前記第1方向において前記表面と同じ側を向き且つ前記第1方向において前記表面よりも前記裏面側に位置するとともに前記第1方向視において前記裏面および前記半導体発光素子と重なる退避面を有する、請求項1ないしのいずれかに記載の半導体発光装置。
  5. 前記カバーは、前記半導体発光素子からの光を拡散させる拡散層を含む、請求項1ないしのいずれかに記載の半導体発光装置。
  6. 前記拡散層は、前記第1方向視において、前記裏面および前記半導体発光素子と重なる、請求項に記載の半導体発光装置。
  7. 前記起伏部は、前記拡散層から露出している、請求項に記載の半導体発光装置。
  8. 前記半導体発光素子は、VCSEL素子である、請求項1ないしのいずれかに記載の半導体発光装置。
JP2018208521A 2018-11-06 2018-11-06 半導体発光装置 Active JP7184599B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018208521A JP7184599B2 (ja) 2018-11-06 2018-11-06 半導体発光装置
US16/673,519 US11799266B2 (en) 2018-11-06 2019-11-04 Semiconductor light-emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018208521A JP7184599B2 (ja) 2018-11-06 2018-11-06 半導体発光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020077678A JP2020077678A (ja) 2020-05-21
JP7184599B2 true JP7184599B2 (ja) 2022-12-06

Family

ID=70458690

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018208521A Active JP7184599B2 (ja) 2018-11-06 2018-11-06 半導体発光装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11799266B2 (ja)
JP (1) JP7184599B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7143739B2 (ja) 2018-11-27 2022-09-29 株式会社リコー 眼球の傾き位置検知装置、表示装置、入力装置及び検眼装置
JPWO2021210440A1 (ja) 2020-04-17 2021-10-21
CN111934192A (zh) * 2020-09-29 2020-11-13 常州纵慧芯光半导体科技有限公司 一种光发射模组及其封装方法
WO2023042461A1 (ja) * 2021-09-14 2023-03-23 ソニーグループ株式会社 半導体発光デバイス

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003077160A (ja) 2001-09-03 2003-03-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体レーザー装置
JP2006049657A (ja) 2004-08-06 2006-02-16 Citizen Electronics Co Ltd Ledランプ
WO2013061511A1 (ja) 2011-10-27 2013-05-02 パナソニック株式会社 発光装置
JP2017033971A (ja) 2015-07-29 2017-02-09 京セラ株式会社 発光装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7242088B2 (en) * 2000-12-29 2007-07-10 Intel Corporation IC package pressure release apparatus and method
US6906413B2 (en) * 2003-05-30 2005-06-14 Honeywell International Inc. Integrated heat spreader lid
KR101789825B1 (ko) * 2011-04-20 2017-11-20 엘지이노텍 주식회사 자외선 발광 다이오드를 이용한 발광소자 패키지
US8564968B1 (en) * 2011-05-10 2013-10-22 Triquint Semiconductor, Inc. Air cavity package including a package lid having at least one protrusion configured to facilitate coupling of the package lid with a package wall
JP5746919B2 (ja) * 2011-06-10 2015-07-08 新光電気工業株式会社 半導体パッケージ
KR101516358B1 (ko) * 2012-03-06 2015-05-04 삼성전자주식회사 발광 장치
WO2014189221A1 (ko) * 2013-05-23 2014-11-27 엘지이노텍주식회사 발광 모듈
US9287233B2 (en) * 2013-12-02 2016-03-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Adhesive pattern for advance package reliability improvement
JP2015123378A (ja) 2013-12-25 2015-07-06 株式会社アイセロ シート状包装資材及び包装材
KR102221598B1 (ko) * 2014-06-16 2021-03-02 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 패키지
KR102588807B1 (ko) * 2016-12-15 2023-10-13 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 반도체 소자 패키지 및 그 제조방법, 자동 초점 장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003077160A (ja) 2001-09-03 2003-03-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体レーザー装置
JP2006049657A (ja) 2004-08-06 2006-02-16 Citizen Electronics Co Ltd Ledランプ
WO2013061511A1 (ja) 2011-10-27 2013-05-02 パナソニック株式会社 発光装置
JP2017033971A (ja) 2015-07-29 2017-02-09 京セラ株式会社 発光装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020077678A (ja) 2020-05-21
US20200144784A1 (en) 2020-05-07
US11799266B2 (en) 2023-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7184599B2 (ja) 半導体発光装置
US8592837B2 (en) Semiconductor light emitting element, electronic apparatus, and light emitting device
KR20100091207A (ko) 개선된 led 구조
CN107370021B (zh) 表面发射激光器装置
US10008648B2 (en) Semiconductor light emitting device
CN115084347A (zh) 发光二极管
JP7382325B2 (ja) 半導体発光装置
KR100413435B1 (ko) 발광다이오드 및 그 제조방법
KR101403636B1 (ko) 반도체 발광소자
JP7305909B2 (ja) 半導体発光装置
KR101863549B1 (ko) 반도체 발광소자
KR20060069375A (ko) 반도체 엘이디 소자 및 그 제조 방법
KR101946244B1 (ko) 반도체 발광소자
KR100447029B1 (ko) 반도체 엘이디 소자 및 그 제조 방법
CN117116958A (zh) 半导体发光器件
WO2021210440A1 (ja) 拡散カバーの製造方法、拡散カバーおよびこれを備えた半導体発光装置
KR101968244B1 (ko) 반도체 발광소자
JP2021077664A (ja) 受発光装置
JP2019160960A (ja) 半導体発光装置
KR101877241B1 (ko) 반도체 발광소자
KR101872317B1 (ko) 반도체 발광소자
CN115706199A (zh) 半导体紫外发光装置封装件
KR20170042454A (ko) 반도체 발광소자
KR101806789B1 (ko) 반도체 발광소자
KR101806790B1 (ko) 반도체 발광소자

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211015

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220622

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220705

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220801

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20221122

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221124

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7184599

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150