JP7183346B2 - イオン生成と、不連続の大気インターフェースの周期との同期 - Google Patents

イオン生成と、不連続の大気インターフェースの周期との同期 Download PDF

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Description

(関連出願への相互参照)
本願は、2011年1月20日に出願された米国仮特許出願第61/434,473号への優先権および利益を主張し、この米国仮特許出願は全体の内容は、本明細書中に参考として援用される。
(政府支援)
合衆国政府は、本発明においてペイドアップ・ライセンスを、そして限られた範囲で権利を有し、海軍研究事務所(Office of Naval Research)により授与された契約番号N00014-05-1-0454の条件により提供される適切な条件で、特許権者が他者に対してライセンス供与することを必要とする。
(発明の分野)
本発明は、一般的に、イオンの生成を、不連続の大気インターフェースの周期(cycling)と同期させるための方法および装置に関する。
(背景)
質量分析計(MS)は、とりわけ、公衆安全、科学捜査、食品安全および製剤品質保証の領域における、迅速な痕跡分析に対する要求の増加により、現在強化されている化学分析において重要な役割を果たす。これらの要求は、MSの設備および手法を簡素化する必要性を引き起こしている。同様に、このことは、小型の設備の開発(非特許文献1;非特許文献2;および、非特許文献3)、ならびに、天然状態で調製することなく試料が試験されるアンビエントイオン化法の開発(非特許文献4;非特許文献5;非特許文献6;非特許文献7;非特許文献8;非特許文献9;非特許文献10;非特許文献11;および、非特許文献12)をもたらしている。特に、研究所の外で容易に使用され得る質量分析計を製造するために、小型化した設備が、アンビエントイオン化法と組み合わせられる。
しかしながら、小型化した設備とアンビエントイオン化を組み合わせるシステムの課題は、このようなシステムが、小型の質量分析計のポンピング速度が遅く、処理しなければならない霧化ガスおよび溶媒容量が多量であることにより、制限されることである。この課題は、不連続の大気圧インターフェースの開発(DAPI;非特許文献13;非特許文献14;および、非特許文献15)により取り組まれている。DAPIインターフェースは、一時的に開かれ、イオンの塊、溶媒蒸気およびガスを収容し、ついで、捕捉されたイオンが質量分析される前に、中性物質が噴出される間に閉じられる。
DAPIの実施によっても、依然、小型化した設備とアンビエントイオン化を組み合わせるシステムの、感度およびサンプリング効率を向上する必要性がある。
Gaoら、Anal.Chem.2006,78,5994-6002 Cotte-Rodriguezら、Analyst 2006,131,579-589 Cotte-Rodriguezら、Anal.Chem.2008,80,1512-1519 Venterら、TrAC,Trends Anal.Chem.2008,27,284-290 Cooksら、Biopolymers 2009,92,297-297 Ifaら、Analyst 2010,135,669-681 Shieaら、Rapid Commun.Mass Spectrom.2005,19,3701-3704 Huangら、Annu.Rev.Anal.Chem.2010,3,43-65 Chenら、J Am Soc Mass Spectrom 2009,20,1947-1963 Lawら、Angew.Chem.,Int.Ed.2009,48,8277-8280 Chinginら、Angew.Chem.,Int.Ed.2010,49,2358-2361 Weston、Analyst 2010,135,661-668 Gaoら、Anal.Chem.2008,80,4026-4032 Gaoら、Int.J.Mass Spectrom.2009,283,30-34 Gaoら、Int.J.Mass Spectrom.2009,283,30-34
(要旨)
本発明は、イオンの生成を、不連続の大気インターフェースの周期と同期させることが、イオン生成が連続的で、不連続の大気圧インターフェースの周期と独立して動作する、従前のシステムと比較して、感度が改善され、溶媒使用量が低減され、霧化ガス使用量が低減され、サンプリング効率が改善されたシステムを提供することと認識する。このように、本発明のシステムは、より高感度で、より高効率な質量分析計を提供する。特に、本発明のシステムは、研究所の外での使用および、試料の現場、例えば、犯罪現場、食品加工施設または空港での検問所での使用に十分に適合する。
ある態様において、本発明は、試料イオンを生成する質量分析プローブ、不連続の大気インターフェースおよび質量アナライザを含む、試料を分析するためのシステムを提供し、ここで、前記システムは、イオンの形成が前記不連続の大気インターフェースの周期と同期させるように構成される。ある実施形態において、前記プローブは、スプレー放射体および高電圧源を含み、前記プローブは、前記高電圧源が、前記スプレー放射体により放出されたスプレーと接触しないように構成される。ある実施形態において、前記イオンは、誘導電荷により生成される。
他の態様において、本発明は、質量分析プローブを使用して、試料中の検体のイオンを生成する工程、前記イオンを不連続的に質量アナライザに導入する工程、および、前記イオンを分析する工程を含む、試料を分析するための方法を提供し、ここで、前記生成工程は、前記質量アナライザへの前記イオンの導入工程と同期される。不連続の大気圧インターフェースおよび、イオンを不連続的に質量アナライザに導入する方法は、米国特許出願特願12/622,776に記載されており、その内容全体は、参照により本願明細書に援用される。
前記質量分析プローブは、当該分野において公知の任意のプローブであり得る。ある実施形態において、前記プローブは、大気圧直接イオン化技術により動作する。大気圧直接イオン化/サンプリング法を利用する典型的な質量分析法としては、脱離エレクトロスプレーイオン化(DESI;Takatsら、Science,306:471-473,2004、および、米国特許第7,335,897);リアルタイムにおける直接分析(DART;Codyら、Anal.Chem.,77:2297-2302,2005)、大気圧誘電体バリア放電イオン化(DBDI;Kogelschatz,Plasma Chemistry and Plasma Processing,23:1-46,2003、および、PCT国際公開番号WO2009/102766)、ならびに、エレクトロスプレー支援レーザー脱離/イオン化(ELDI;Shiea et al.,J.Rapid Communications in Mass Spectrometry,19:3701-3704,2005)が挙げられる。これらの参考文献それぞれの内容全体は、参照により本願明細書に援用される。特定の実施形態において、前記大気圧直接イオン化技術は、脱離エレクトロスプレーイオン化である。
他の実施形態において、前記プローブは、エレクトロスプレーイオン化により動作する。他の実施形態において、前記プローブは、紙スプレープローブである(国際特許出願番号PCT/US10/32881)。他の実施形態において、前記プローブは、低温プラズマプローブである。このようなプローブは、米国特許出願特願12/863,801に記載されており、その内容全体は、参照により本願明細書に援用される。
他の実施形態において、前記システムは、さらに、霧化ガス供給源を含む。ある実施形態において、前記霧化ガス供給源は、ガスのパルスを供給するように構成される。一般的に、前記ガスパルスはまた、イオン形成および前記不連続の大気インターフェースの周期と同期される。
ある実施形態において、イオンを不連続的に質量アナライザに導入する工程は、大気圧インターフェースに連結された弁を開ける工程(ここで、弁を開けることにより、実質的に大気圧におけるイオンを、減圧下の質量アナライザに移動させる)、および大気圧インターフェースに連結された弁を閉じる工程(ここで、を閉じることにより、実質的に大気圧におけるイオンの減圧下の質量アナライザへの更なる移動を防止する)を含む。
前記質量アナライザは、質量分析計またはハンドヘルドの質量分析計用でもよい。典型的な質量アナライザとしては、四重極イオントラップ、直線型イオントラップ、円筒型イオントラップ、イオンサイクロトロン共鳴トラップまたはオルビトラップ(orbitrap)が挙げられる。
本発明の他の態様は、試料を、装置を通して流す工程、前記流れる試料と接触しない供給源から電圧をパルスして、前記流れる試料と誘導的に相互作用し、これにより、試料イオンを生成する工程を含む、試料イオンを形成する方法を提供する。ある実施形態において、前記装置は、大気圧直接イオン化技術、例えば、脱離エレクトロスプレーイオン化により動作するプローブである。他の実施形態において、前記プローブは、エレクトロスプレーイオン化により動作する。他の実施形態において、前記プローブは、紙スプレープローブである。他の実施形態において、前記プローブは、低温プラズマプローブである。
本発明の他の態様は、質量分析プローブから試料スプレーを生成する工程、前記試料スプレーと接触しない供給源から電圧をパルスして、前記試料スプレーと誘導的に相互作用し、これにより、試料イオンを生じさせる工程、および、前記電圧のパルスを、不連続の大気インターフェースの周期と同期させる工程を含む、質量分析プローブからの試料イオン生成を不連続の大気インターフェースの周期と同期させるための方法を提供する。本発明の方法は、さらに、霧化ガスをパルスして、試料と相互作用させる工程を含む。前記工程において、前記ガスパルスはまた、イオン形成および前記不連続の大気インターフェースの周期と同期される。
発明の他の態様は、物理的な接触をすることなく、エレクトロスプレー/ナノエレクトロスプレー/紙スプレーのチップ上に高電圧を印加するための方法を提供する。前記誘導された高電圧により、エレクトロスプレー/ナノエレクトロスプレー/紙スプレー中の液滴を破裂させ(国際特許出願番号PCT/US10/32881)、スプレーの周波数は、印可された電位の周波数である。本発明の方法は、低温プラズマプローブと共に使用されてもよい。このようなプローブは、米国特許出願特願12/863,801に記載されており、その内容全体は、参照により本願明細書に援用される。
本発明の他の態様は、試料スプレーにパルス状の電圧を前記スプレーと接触しない電極から印加して、前記スプレーにおいて陽イオンおよび陰イオンの両方を生じさせる工程を含む、試料スプレーにおいて陽イオンおよび陰イオンの両方を生じさせる方法を提供する。前記方法は、さらに、前記陽イオンおよび前記陰イオンのマススペクトルを記録する工程を含んでもよい。記録工程は、質量分析計が前記試料を受けている間に、前記質量分析計の極性を切り替える工程を含んでもよい。
本明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
(項目1)
試料を分析するためのシステムであって、
試料イオンを生成する質量分析プローブ;
不連続の大気インターフェース:および、
質量アナライザ
を含み、
前記システムは、イオン形成が前記不連続の大気インターフェースの周期と同期されるように構成される、
システム。
(項目2)
前記プローブが、スプレー放射体および高電圧源を含み、
前記プローブは、前記高電圧源が、前記スプレー放射体により放出されたスプレーと接触しないように構成される、項目1記載のシステム。
(項目3)
イオンが、誘導電荷により生成される、項目2記載のシステム。
(項目4)
前記プローブが、大気圧直接イオン化技術により動作する、項目1記載のシステム。
(項目5)
前記大気圧直接イオン化技術が、脱離エレクトロスプレーイオン化である、項目4記載のシステム。
(項目6)
前記プローブが、エレクトロスプレーイオン化により動作する、項目1記載のシステム。
(項目7)
前記プローブが、ナノエレクトロスプレーイオン化により動作する、項目1記載のシステム。
(項目8)
前記プローブが、低温プラズマプローブである、項目1記載のシステム。
(項目9)
前記プローブが、紙スプレープローブである、項目1記載のシステム。
(項目10)
前記質量アナライザが、質量分析計またはハンドヘルドの質量分析計用である、項目1記載のシステム。
(項目11)
前記質量アナライザが、四重極イオントラップ、直線型イオントラップ、円筒型イオントラップ、イオンサイクロトロン共鳴トラップおよびオルビトラップからなる群から選択される、項目10記載のシステム。
(項目12)
さらに、霧化ガス供給源を含む、項目1記載のシステム。
(項目13)
前記霧化ガス供給源が、ガスのパルスを供給するように構成される、項目12記載のシステム。
(項目14)
前記ガスパルスがまた、イオン形成および前記不連続の大気インターフェースの周期と同期される、項目13記載のシステム。
(項目15)
試料を分析するための方法であって、
質量分析プローブを使用して、試料中の検体のイオンを生成する工程;
前記イオンを不連続的に質量アナライザに導入する工程;および、
前記イオンを分析する工程を含み、
前記生成工程が、前記アナライザへの前記イオンの導入工程と同期される、
方法。
(項目16)
誘導電荷を使用して、イオンを生成する、項目15記載の方法。
(項目17)
前記プローブが、大気圧直接イオン化技術により動作する、項目15記載の方法。
(項目18)
前記大気圧直接イオン化技術が、脱離エレクトロスプレーイオン化である、項目17記載の方法。
(項目19)
前記プローブが、エレクトロスプレーイオン化により動作する、項目15記載の方法。
(項目20)
前記プローブが、ナノエレクトロスプレーイオン化により動作する、項目15記載の方法。
(項目21)
前記プローブが、低温プラズマプローブである、項目15記載の方法。
(項目22)
前記プローブが、紙スプレープローブである、項目15記載の方法。
(項目23)
前記不連続的に導入する工程が、
大気圧インターフェースに連結された弁を開ける工程であって、ここで、前記弁を開けることにより、実質的に大気圧におけるイオンを、減圧下の前記質量アナライザに移動させる工程;および、
大気圧インターフェースに連結された前記弁を閉じる工程であって、ここで、前記弁を閉じることにより、実質的に大気圧における前記イオンの、減圧下の前記質量アナライザへの更なる移動を防止する工程
を含む、項目15記載の方法。
(項目24)
分析工程が、質量アナライザを提供して、前記試料中の検体のマススペクトルを生成する工程を含む、項目15記載の方法。
(項目25)
前記質量アナライザが、四重極イオントラップ、直線型イオントラップ、円筒型イオントラップ、イオンサイクロトロン共鳴トラップおよびオルビトラップからなる群から選択される、項目23記載の方法。
(項目26)
試料イオンを形成する方法であって、
試料を、装置を通して流す工程;
前記流れる試料と接触しない供給源から電圧をパルスして、前記流れる試料と誘導的に相互作用させ、これにより、試料イオンを生じさせる工程
を含む、方法。
(項目27)
前記装置が、質量分析プローブである、項目26記載の方法。
(項目28)
前記プローブが、大気圧直接イオン化技術により動作する、項目27記載の方法。
(項目29)
前記大気圧直接イオン化技術が、脱離エレクトロスプレーイオン化である、項目28記載の方法。
(項目30)
前記プローブが、エレクトロスプレーイオン化により動作する、項目27記載の方法。
(項目31)
前記プローブが、ナノエレクトロスプレーイオン化により動作する、項目27記載の方法。
(項目32)
前記プローブが、低温プラズマプローブである、項目27記載の方法。
(項目33)
前記プローブが、紙スプレープローブである、項目27記載の方法。
(項目34)
質量分析プローブからの試料イオン生成を不連続の大気インターフェースと同期させるための方法であって、
質量分析プローブから試料スプレーを生成する工程;
前記試料スプレーと接触しない供給源から電圧をパルスして、前記試料スプレーと誘導的に相互作用させ、これにより、試料イオンを生じさせる工程;および、
前記電圧のパルスを、前記不連続の大気インターフェースの周期と同期させる工程
を含む、方法。
(項目35)
さらに、霧化ガスをパルスして、前記試料と相互作用する工程を含み、ここで、前記ガスパルスがまた、イオン形成および前記不連続の大気インターフェースの周期と同期される、項目34記載の方法。
(項目36)
前記プローブが、大気圧直接イオン化技術により動作する、項目34記載の方法。
(項目37)
前記大気圧直接イオン化技術が、脱離エレクトロスプレーイオン化である、項目36記載の方法。
(項目38)
前記プローブが、エレクトロスプレーイオン化により動作する、項目34記載の方法。
(項目39)
前記プローブが、ナノエレクトロスプレーイオン化により動作する、項目34記載の方法。
(項目40)
前記プローブが、低温プラズマプローブである、項目34記載の方法。
(項目41)
前記プローブが、紙スプレープローブである、項目34記載の方法。
(項目42)
試料スプレーにおいて陽イオンおよび陰イオンの両方を生じさせる方法であって、
前記スプレーと接触しない電極から、試料スプレーにパルス状の電圧を印加して、前記スプレーにおいて陽イオンおよび陰イオンの両方を生じさせる工程を含む、
方法。
(項目43)
さらに、前記陽イオンおよび前記陰イオンのマススペクトルを記録する工程を含む、項目42記載の方法。
(項目44)
記録工程は、質量分析計が前記試料を受けている間に、前記質量分析計の極性を切り替える工程を含む、項目42記載の方法。
図1において、a)は、小型のMSを使用し、荷電液滴形成、霧化ガスのパルシングおよびMSへの試料の導入が全て同期される、本発明のシステムおよび方法の模式図である。b)は、同期実験に使用されるパルスシーケンスである。c)およびd)は、1:100の負荷サイクルで動作するDAPIに接続される小型MSを使用する、ガラス基材、スプレー溶媒MeOH/水(0.5μL/分)上のコカインについて記録された5回のDESIマススペクトルの平均である。c)は、10ngのコカインを使用する同期されたDESI/DAPI-小型実験である。d)は、1,000ngのコカインを使用する従来の実験である。 図1において、a)は、小型のMSを使用し、荷電液滴形成、霧化ガスのパルシングおよびMSへの試料の導入が全て同期される、本発明のシステムおよび方法の模式図である。b)は、同期実験に使用されるパルスシーケンスである。c)およびd)は、1:100の負荷サイクルで動作するDAPIに接続される小型MSを使用する、ガラス基材、スプレー溶媒MeOH/水(0.5μL/分)上のコカインについて記録された5回のDESIマススペクトルの平均である。c)は、10ngのコカインを使用する同期されたDESI/DAPI-小型実験である。d)は、1,000ngのコカインを使用する従来の実験である。 図2において、a)は、ナノ噴霧器における電圧および電流の測定である。b)は、隣接する電極に電圧がパルスされた場合の、DESI源内部で記録された誘導電圧である。c)は、イオン源の電位を変化せずに、5Hzでなされた連続的なスキャンにおいて記録された両極性を示す、MRFA(MET-ARG-PHE-ALA)(ガラス上に20ng)の同期されたDESIマススペクトルである。 図2において、a)は、ナノ噴霧器における電圧および電流の測定である。b)は、隣接する電極に電圧がパルスされた場合の、DESI源内部で記録された誘導電圧である。c)は、イオン源の電位を変化せずに、5Hzでなされた連続的なスキャンにおいて記録された両極性を示す、MRFA(MET-ARG-PHE-ALA)(ガラス上に20ng)の同期されたDESIマススペクトルである。 図3は、Mini10におけるDAPIインターフェース(負荷サイクル1:100)による、5分間シグナルを平均化した、MeOH/水における1μg/mLのメタンフェタミンを使用するナノエレクトロスプレーである。a)は、同期実験(スキャンあたり80pL、流速5nL/分)である。b)は、従来の実験(6.5nL、流速400nL/分)である。c)は、イオン源の電位を変化せずに、卓上MSを使用して連続的なスキャンにおいて両極性を記録する、100ng/mLのUltra mark1621の同期されたエレクトロスプレーMSである。 図3は、Mini10におけるDAPIインターフェース(負荷サイクル1:100)による、5分間シグナルを平均化した、MeOH/水における1μg/mLのメタンフェタミンを使用するナノエレクトロスプレーである。a)は、同期実験(スキャンあたり80pL、流速5nL/分)である。b)は、従来の実験(6.5nL、流速400nL/分)である。c)は、イオン源の電位を変化せずに、卓上MSを使用して連続的なスキャンにおいて両極性を記録する、100ng/mLのUltra mark1621の同期されたエレクトロスプレーMSである。 図4は、DESIスプレー放射体チップ内部で測定された電圧曲線である。左側:11ms間溶液に印加された、単独の従来のコンタクトDCパルス(3kV)(立ち上がり時間約20ms、下降時間約250ms)、中央:5,000Hzで11ms間印加されたパルス状の誘導DC(5kV)、右側:1000Hzで11ms間印加されたパルス状の誘導DC(5kV)。誘導電位は、DESI源の外側金属キャピラリーに印加され、立ち上がり時間および降下時間は、1ms未満であった。 図5において、上側:1ngのメタンフェタミン(m/z150)の同期されたDESI/MiniのMSスペクトル、下側:100ngのメタンフェタミン(m/z150)の従来のDESI/MiniのMSスペクトルである。 図6は、実線の曲線):従来のDESI/DAPI/Mini10を使用して15秒間持続する、1,000ngの試料、および、破線の曲線):同期されたDESI/DAPI/Mini10を使用して25秒間持続する10ngの試料を使用する、選択されたイオン(コカインについてのm/z304)のクロノグラムである。 図7は、コカイン(300ng/mL)およびp-トルエンスルホン酸(100ng/mL)の両方を含む溶液の従来の(コンタクトDC)ナノESIについての、全イオンクロノグラムである。A)は、従来のナノESI放射体(溶液接触)に印加される、5回の正パルスの高電圧(1.4kV)パルス、続けて9回の負パルス(-1.4kV)によるポジティブモードにおいて動作するMS検出器である。挿入図:コカインのプロトン化イオン(m/z304)。B)は、従来のナノESI放射体(溶液接触)に印加される、5回の正パルスの高電圧(1.4kV)パルス、続けて9回の負パルス(-1.4kV)によるネガティブモードにおいて動作するMS検出器である。挿入図:p-トルエンスルホン酸の脱プロトン化イオン(m/z171)。 図8は、p-トルエンスルホン酸(20ng/mL)、プロプラノロール(50ng/mL)およびアテノロール(70ng/mL)を含む溶液についての、卓上MSを使用する同期されたESI検出である。上側:ネガティブモードにおいてMS検出器を動作し、脱プロトン化されたp-トルエンスルホン酸(m/z171)が検出された際に記録されたスペクトルである。下側:ポジティブモードにおいてMS検出器を動作し、プロトン化されたプロプラノロール(m/z260)およびアテノロール(m/z267)が検出された際に記録されたスペクトルである。 図9は、2μg/mLのレセルピンについての、従来のナノESIのMSスペクトルと同期されたナノESIのMSスペクトルとの比較である。上側:検出された酸化産物(m/z625)についての従来のナノESIであり、Peintler-Krivanら(Rapid Communications in Mass Spectrometry 2010,24,1327-1334)の結果と同様であった。下側:同期された誘導ナノESIのMSスペクトルである。 図10は、直線型イオントラップを有する小型の質量分析計に連結される不連続の大気圧インターフェースを模式的に示す。 図11は、試料材料(検体)上にDESI活性スプレーを生成および導入し、得られた脱離イオンを収集および分析するためのスプレー装置を模式的に示す。 図12は、低温プラズマ(LTP)プローブの一実施形態を模式的に示す。 図13において、a)は、試料溶液をエレクトロスプレーイオン化用の紙片に供給することを模式的に示す。b)は、試料溶液を紙上に予めスポットし、続けて溶媒の液滴をエレクトロスプレーイオン化用の紙に供給することを模式的に示す。 図13において、a)は、試料溶液をエレクトロスプレーイオン化用の紙片に供給することを模式的に示す。b)は、試料溶液を紙上に予めスポットし、続けて溶媒の液滴をエレクトロスプレーイオン化用の紙に供給することを模式的に示す。 図14において、a)は、高スループット誘導nESIイオン供給源アレイ(回転形状)を模式的に示す。b)は、誘導nESIイオン供給源アレイ(直線形状)を模式的に示す。挿入図:印加された電圧パルス列(10-3000Hz、2-4kV)における、誘導nESIプルームの画像である。
(詳細な説明)
本発明は、一般的に、イオンの生成を、不連続の大気インターフェースの周期と同期させるための方法および装置に関する。ある実施形態において、本発明は、試料イオンを生成する質量分析プローブ、不連続の大気インターフェースおよび質量アナライザを含む、試料を分析するためのシステムを提供する。前記システムは、イオンの形成が前記不連続の大気インターフェースの周期と同期されるように構成される。図1に、典型的なシステムを示す。前記システムは、アンビエントイオン化法により動作する質量分析プローブを含む。アンビエントイオン化法としては、スプレーに基づく方法(Cooksら、Science 2006,311,1566-1570;Takatsら、Science 2004,306,471-473;Talatyら、Analyst 2005,130,1624-1633;Liuら、Anal.Chem.2010,82,2463-2471;Wangら、Angew.Chem.,Int.Ed.2010,49,877-880;Kerteszら、Anal.Chem.2008,80,1027-1032;Kerteszら、Anal.Chem.2008,80,5168-5177;および、Beremanら、J.Am.Soc.Mass Spectrom.2007,18,1093-1096)、プラズマに基づく方法(Codyら、Anal.Chem.2005,77,2297-2302;および、Blockら、J.Agric.Food Chem.2010,58,4617-4625)、ならびに、レーザー支援法(Bradyら、Rapid Commun.Mass Spectrom.2010,24,1659-1664;Judgeら、Anal.Chem.2010,82,3231-3238;Nemesら、Anal.Chem.2007,79,8098-8106;Nemesら、Anal.Chem.2008,80,4575-4582;および、Nemesら、Anal.Chem.2009,81,6668-6675)が挙げられる。
他のアンビエント法と同様に、脱離エレクトロスプレーイオン化(DESI)は、簡易な計測化、迅速かつ高感度の分析および幅広い適用性という利点を有する。同期された誘導DESIは、良好な性能:i)1:100のDAPI負荷サイクルを使用している間でも、100倍を超える感度の向上(図1cおよび1d)、ii)約5μL/分から約0.5μL/分への溶媒スプレー流量の低減、iii)約2から0.2L/分への霧化ガスの使用量の低減、iv)100倍のサンプリング効率の改善、および、v)パルス状の単極イオン源を使用する陽イオンスペクトルおよび陰イオンスペクトルの疑似的な同時記録、を示す。
図1は、DESIプローブが、スプレー放射体および高電圧源を含む構成のシステムを示す。前記プローブは、前記高電圧源が、前記スプレー放射体により放出されたスプレーと接触しないように構成される。このように、前記イオンは、誘導電荷により生成される。すなわち、主要な微液滴を帯電させるために誘導法が使用される。これにより、液滴形成が試料導入システムの開放と(および霧化ガスのパルシングにも)同期される。前記生成されたイオンは、不連続の大気インターフェースである、質量分析計に操作可能に連結された遠位端に導入される。
イオン生成とDAPI周期との同期は、スプレー放射体の近くに電極を配置し(典型的には、2~5mmの距離)、高い正の電位(5~7kV、50~3,000Hz、パルス幅約0.2~2ms)で電極を繰り返しパルスすることによる、荷電液滴形成の正確な制御に基づいている。前記パルス状の正の電圧は、スプレー放射体チップとしての役割を果たす内側のシリカキャピラリー(id50μm)を覆う、金属チューブ(id250μm)に印加される。電磁誘導は、荷電液滴の破裂をもたらすDESI源において高い電場を生じさせる。DAPIインターフェースとの正確な同期は、前記誘導されたパルス状のDC高電圧が、約1msの必須の短いオン/オフ応答時間を有するため、可能となる(図2bおよび図4に、誘導および従来のコンタクトDCスプレーを比較するタイミング制御データを示す)。前記霧化ガスの流れも、MSスキャン機能に同期される(図1b)。DAPIピンチ弁は、イオンがMS内に収容される間の、最初の10ms間開けられ、ついで、スキャン期間の残りの間閉じられた。スプレー電圧および霧化ガスは両方とも、ピンチ弁が開けられて、このピンチ弁がイオン導入期間中の10ms間開けられたままにされる前の20msの間に動作された。スプレー溶液の流量を、0.5μL/分に設定した。同期実験における他のDESI条件を、従来のDESI実験におけるものと同様とした(実施例1および以下の表1を参照のこと)。
Figure 0007183346000001
a DESI放射体内で測定された誘導電圧(ピーク-ピーク)
b ガス流量の平均。
図1cおよび1dに、従来のアンビエントイオン化システムと比較した、本発明のシステムの改善された感度およびサンプリング効率を示すデータを提供する。図1cは、従来の連続モードではDESIスペクトルを記録するのに、1μgのコカインが必要である(図1d)のに対して、同期モードでは10ngのコカインにより与えられることを示す。この結果および、他の化合物(アテノロール、メタンフェタミンおよびモルヒネ)についての類似の結果は、小型のMSを使用する従来のDESIに対して、同期されたDESIにおいて、およそ2桁の感度の向上を示す(図5)。
検出限界の低下に加えて、同期されたDESIは、より高いサンプリング効率も提供する。従来のDESIに関して、1μgのコカインシグナルは、約15秒間持続する。一方、同期により、10ngの試料だけで、同じ期間のシグナルが提供される(図6)。感度の2桁の改善は、イオン化効率が最も重要となる少量の試料について、特に重要である。同期による他の改善としては、約2.1L/分から約0.15L/分への霧化ガス流量の低減、および、5μL/分から0.5μL/分へのスプレー溶液流量の低減が挙げられる。
分析性能の改善と同様に重要なのが、印加される電位の極性を変更することなく、単一のスプレー放射体から正極性および負極性の両方のイオンを、実質的に同時に生じさせるという点で達成される新たな性能である。この性能は、テトラペプチドMRFAについて得られるスペクトルにより示される(図2c)。ポジティブモードにおいてプロトン化された分子が現れ、検出器の極性がネガティブに切り替えられた場合、脱プロトン化された形態が現れる。検出器の切り替えは、連続的なスキャンにおいて交互に起こる極性のスペクトルを記録するのに十分な速さである、1Hzでなされ得る。一方、従来のパルス状のDCエレクトロスプレー(Maheshwariら、Appl.Phys.Lett.2006,89.234103;および、Chetwaniら、J.Am.Soc.Mass Spectrom.2010,21,1852-1856)は、正または負のいずれかのイオンを供給したが、両方の極性を供給することはなかった(図7)。この両極性能は、誘導DESIにおいて含まれる電圧の特徴に基づいている。同期実験中にDESIスプレー放射体内で測定される誘導電位は、通常のコンタクト実験で使用されるのと同様に、供給源の外側電極に印加され、1.2~2kVの大きさのパルス状の電圧と同じ周波数を有することが見出された(図2aおよびb)。ただし、前記放射体内の誘導電圧は、正の成分および負の成分の両方と、約3kVのピーク-ピーク電圧との共鳴(ringing)を示す。外側電極に印加される繰り返しのパルス状(5~2,000Hz)の正電位の短いパルス幅により、1msにおいて、誘導電位の高い正の値から高い負の値への振れが引き起こされた。観察された、明らかに安定したエレクトロスプレープルームは、ダイレクトコンタクトACエレクトロスプレー実験(Maheshwariら、Appl.Phys.Lett.2006,89.234103;および、Chetwaniら、J.Am.Soc.Mass Spectrom.2010,21,1852-1856)において達成されたのと同様に、誘導電位が、エレクトロスプレーを生成するのに十分高いことを示している。その結果として、異極性においてスプレー溶液を直ちに分極することにより、任意のイオン源を変更することなく、質量分析計の極性を切り替えることにより、陽イオンおよび陰イオンの両方が、容易に観察され得た。これらの新たな性能は、迅速な化学物質検知を促進し、従来の試料操作を最少化するはずである。
図3において、Mini10に連結された、従来のナノエレクトロスプレーと同期されたナノエレクトロスプレーとの性能を比較する。サンプリング効率において80倍の向上に対応する、同期されたスプレー流量が約80倍低い場合でさえ、同様のイオン強度およびS/N比が達成される。これにより、シングルセル質量分析計と同様に、試料量が制限される場合の用途において、同期されたESIまたはDESIの利点が強調される。両極性のイオンを検出する能力は、エレクトロスプレーイオン化に拡大する。一例としてUltra mark1621を使用して(図3c)、同期されたESI実験を市販の卓上設備で行う場合、陽イオンおよび陰イオンの両方が、検出され得た。同様の結果が、p-トルエンスルホン酸、プロプラノロールおよびアテノロールについて観察された(図8)。スプレー放射体内における誘導電位の極性の素早い切り替えの他の利点は、DESI/ESI中における望ましくない電気化学反応の除去であった(図9)。
要約すれば、DESIおよびESIの両方は、直接印加される電位よりむしろ誘導される電位の使用により利用できる、制御された液滴生成に由来する改善された感度に関して役に立つ(Tuら、J.Am.Soc.Mass Spectrom.2008,19,1086-1090)。これらの利点は、プラズマに基づく方法を含む、他のアンビエントイオン化法にも拡大する。液滴形成と小型の質量分析計へのイオンの移動との同期は、霧化ガスおよび溶液の流量を1桁低減し、in situでの操作を改善する。同期されたDESIは、溶液極性のミリ秒反転を伴うスキャンの度にに基づいて、イオン極性の一時的な制御において、重要な新たな性能も提案する。ミリ秒タイムスケールでのDESI測定において(Barbulaら、Anal.Chem.2009,81,9035-9040)、および、ミリ秒時間でサンプリングする間の液相反応における中間体の研究(Perryら、Angew.Chem.,Int.Ed.2010,in press)においての最近の関心は、両極性および、本方法の向上された感度から恩恵を受け得る。
不連続の大気圧インターフェース(DAPI)
不連続の大気インターフェースは、Ouyangら(米国特許出願特願12/622,776およびPCT出願番号PCT/US2008/065245)に記載されており、各内容全体は、参照により本願明細書に援用される。
図10に、典型的なDAPIを示す。DAPIのコンセプトは、イオンの導入中にその流路を開き、ついで、それに続く各スキャン中に、質量分析のために流路を閉じることである。非常に大きなフローコンダクタンスを有するイオン移動流路が、伝統的な連続性のAPI用より、DAPI用として許容され得る。マニホールド内部の圧力は、前記流路が最大のイオン導入のために開かれた時に、一時的に著しく向上する。高電圧は全て遮断され得、低電圧RFのみが、この期間中にイオンの捕捉用である。イオンの導入後、更なるイオンの操作のための、または、高電圧のスイッチが入れられ得、質量分析用の高電圧に対してRFがスキャンされ得る際の、質量分析のための最適な圧力に達し得るために、前記流路が閉じられ、圧力が期間にわたって減少し得る。
DAPIは、制御された方法において、大気の流れを開閉する。真空マニホールド内の圧力は、APIが開いた際に増加し、APIが閉じた際に低減する。質量アナライザまたは中間段階保存装置であり得る、DAPIと捕捉装置との組み合わせは、所定のポンピング能力を有するシステムに内に、イオンパッケージの最大導入を許容する。
非常に大きな開口は、新たな不連続の導入モードにおけるAPIにおいて、圧力抑制構成要素として使用され得る。APIが開かれる際の短期間に、イオン捕捉装置は、低いRF電圧を有する捕捉モードで操作され、入ってくるイオンを保存し;同時に、他の構成要素、例えば、変換ダイノードまたは電子倍増管における高電圧を遮断して、より高電圧でのそれらの装置および電子機器に対する損傷を防止する。ついで、イオンがトラップにおいて質量分析され、または、質量分析用の真空システム内の他の質量アナライザに移動させられる時点で、APIは閉じられ、マニホールド内の圧力が、質量分析に最適な値まで戻される。不連続の方法におけるAPIの操作により可能なこの2種類の圧力モードの操作は、イオンの導入を最大化し、所定のポンピング能力を有する質量分析についての条件を最適化する。
設計の目的は、質量アナライザ用に最適な真空圧を保持しながら、最も大きい開口を有することである。前記真空圧は、質量アナライザの種類に依存して、10-3から10-10torrの間である。大気圧インターフェースにおける開口が大きいほど、真空システムあるいは質量アナライザ内に送達されるイオン電流は高くなる。
本願明細書において、DAPIの典型的な実施形態を記載する。DAPIは、大気圧の領域と真空の領域とを連結するシリコーンチューブの経路を開閉するのに使用されるピンチ弁を含む。ノーマルクローズピンチ弁(390NC24330、ASCO Valve Inc.、Florham Park,NJ)は、大気圧領域に対する真空マニホールドの開放を制御するのに使用される。2本のステンレス鋼のキャピラリーは、シリコーンプラスチックチューブ片に連結され、開/閉状態が前記ピンチ弁により制御される。大気に連結する前記ステンレス鋼のキャピラリーは、流入制限要因であり、250μmのID、1.6mm(1/16”)のODおよび10cmの長さを有する。真空側のステンレス鋼キャピラリーは、1.0mmのID、1.6mm(1/16”)のODおよび5.0cmの長さを有する。前記プラスチックチューブは、1/16”のID、1/8”のODおよび5.0cmの長さを有する。両方のステンレス鋼キャピラリーは、接地される。mini10のポンピングシステムは、5L/分(0.3m3/時間)のポンピング速度を有する、2段階隔膜ポンプ1091-N84.0-8.99(KNF Neuberger Inc.、Trenton,NJ)および、11L/秒のポンピング速度を有する、TPD011ハイブリッドターボ分子ポンプ(Pfeiffer Vacuum Inc.、Nashua,NH)からなる。
前記ピンチ弁の電源が常に入れられ、前記プラスチックチューブが常に開いている場合、フローコンダクタンスは、真空マニホールドにおける圧力が、隔膜ポンプ操作により30torrを超えるように高くなる。イオン移動効率は、0.2%と測定された。これは、連続性のAPIを有する実験室規模の質量分析計に相当する。ただし、これらの条件下で、TPD011ターボ分子ポンプは、作動され得ない。前記ピンチ弁の電源が切られる場合、前記プラスチックチューブは、圧迫されて閉じられ、ついで、前記ターボポンプは、スイッチが入れられ得て、マニホールドに1×10torrの範囲の最終的な圧力となるように、空気を入れる。
イオントラップを使用する質量分析を行うための操作の順序は、通常、イオン導入、イオン冷却およびRFスキャニングを含むが、これらに限定されない。最初に、マニホールド圧がポンプダウンされた後に、スキャン機能が実行されて、イオン導入および質量分析のための開閉モードを切り替える。イオン化時間中に、24VのDCが、ピンチ弁の電源として使用され、APIが開く。直線型イオントラップ(RIT)の端部電極における電位も、この期間中に接地に設定される。ピンチ弁についての最小限の応答時間は、10msと見出され、15msから30msの間のイオン化時間が、不連続のAPIの特性決定に使用される。250msから500msの間の冷却時間は、APIが閉じられて圧力が低下し、バックグラウンド大気分子との衝突によりイオンが冷却された後に実行される。ついで、前記電子倍増管における高電圧は、スイッチが入れられ、RF電圧は、質量分析用にスキャンされる。不連続のAPIの操作中において、マニホールドにおける圧力変化は、Mini10におけるマイクロピラニ真空計(MKS 925C、MKS Instruments,Inc.Wilmington,MA)を使用して、モニターされ得る。
脱離エレクトロスプレーイオン化
脱離エレクトロスプレーイオン化(DESI)は、例えば、Takatsら(米国特許第7,335,897)に記載されており、その内容全体は、参照により本願明細書に援用される。DESIは、アンビエント条件下における大気圧または減圧において、原料(検体)をイオン化および脱離させる。DESIシステムは、一般的に、霧化ガス内に液滴を送達することにより、DESI活性スプレーを生成するための装置を含む。前記システムは、前記DESI活性スプレーを表面上に導入するための手段も含む。前記DESI活性スプレーは、前記表面と接触する間際に、荷電および非荷電の両方の、またはそれらのいずれかの液滴、気体イオン、霧化ガスおよび近接した大気の分子を含むものと理解される。空気圧で支援されるスプレーは、試料中に存在する場合、1つ以上の検体と相互作用する試料材料の表面上に導入され、検体または複数の検体の脱離イオンを生成する。脱離イオンは、質量分析用の質量アナライザ、サイズにより分離し、得られた電圧変化を測定するIMS装置、スペクトル分析用のフレーム分光計等に導入され得る。
図11に、DESIシステム10の一実施形態を模式的に示す。このシステムにおいて、スプレー11は、従来のエレクトロスプレー装置12により生成される。装置12は、液体溶媒14が供給されるスプレーキャピラリー13を含む。周囲の霧化キャピラリー15は、霧化ガス、例えば、窒素(N)が高速で供給される環状の空間を形成する。一例において、前記液体は、水/メタノール混合液であり、前記ガスは、窒素である。高電圧を、電源17により、金属の接続要素を介して、液体溶媒に印加する。キャピラリー13を出発する液体と相互作用する高速の霧化ガスにより、液滴を含むDESI活性スプレー11を形成する。DESI活性スプレー11は、天然の大気分子、霧化ガスおよび気体イオンを含んでもよい。エレクトロスプレー装置12について記載されているが、霧化ガスジェットにより運ばれる液滴の流れを生成可能な任意の装置が、DESI活性スプレー11の形成に使用され得る。
スプレー11は、この例において面22上に支持された試料材料21上に導入される。試料を出発する脱離イオン25は、前記脱離イオンを収集するために試料に十分近接して位置する、イオン移動ライン24による分析用の質量分析計の大気入口またはインターフェース23内に収集および導入される。面22は、移動可能なプラットフォームでもよく、異なる領域において試料21を脱離し、イオン化し、時折試料における成分分布のマップまたは画像を創作するための、周知の駆動手段によりx、yまたはz方向に移動され得る、移動可能なプラットフォームに搭載されてもよい。前記プラットフォームの電位および温度も、公知の手段により制御してもよい。質量分析計に通常見出される任意の大気インターフェースは、本発明において使用するのに適しているであろう。良好な結果が、典型的な加熱キャピラリー大気インターフェースを使用して得られている。良好な結果が、金属製または絶縁体製のいずれかの、延長された可撓性のイオン移動ラインを介してサンプリングする大気インターフェースを使用しても得られている。
低温プラズマ
低温プラズマ(LTP)プローブは、Ouyangら(米国特許出願特願12/863,801およびPCT出願番号PCT/US09/33760)に記載されており、各内容全体は、参照により本願明細書に援用される。エレクトロスプレーまたはレーザーに基づくアンビエントイオン化源と異なり、プラズマ源は、エレクトロスプレー溶媒、補助ガスおよびレーザーを必要としない。LTPは、比較的低運動エネルギーであるが、反応性イオンおよび中性物質を含む、高エネルギー電子を有する非平衡プラズマとして特徴付けられ得;その結果が、表面から検体を脱離、イオン化し、検体の分子イオンまたはフラグメントイオンを生じさせる、低温アンビエントプラズマである。高温(平衡)プラズマと比較して、LTPの特徴的な特性は、LTPが、分子を原子にも小分子フラグメントにも分解しないことであり、分子の情報が、生じたイオンで保持される。LTPイオン化源は、小型化の可能性を有し、電力およびガスの消費が少ない(または周囲空気のみを使用する)。これらの利点により、操作コストが低減され得る。コスト節約に加えて、LTPに基づくイオン化法は、現場でのリアルタイム解析的分析用のポータブルな質量分析計に利用できる可能性を有する(Gao,L.;Song,Q.;Patterson,G.E.;Cooks,D.Ouyang,Z.,Anal.Chem.2006,78,5994-6002;Mulligan,C.C.;Talaty,N.;Cooks,R.G.,Chemical Communications 2006,1709-1711;および、Mulligan,C.C.;Justes,D.R.;Noll,R.J.;Sanders,N.L.;Laughlin,B.C.;Cooks,R.G.,The Analyst 2006,131,556-567)。
図12に、典型的なLTPプローブを示す。このようなプローブは、放電ガス吸入口を有するハウジング、プローブチップ、2つの電極および誘電体バリアを含む。前記2つの電極は、誘電体バリアにより分離される。電源からの電圧の印加により、電場および低温プラズマを生成する。電場、またはガスの流れ、または両方により、低温プラズマを前記プローブチップの外側に押し出す。本願明細書に記載の前記プローブのイオン化源は、誘電体バリア放電(DBD:Kogelschatz,U.,Plasma Chemistry and Plasma Processing 2003,23,1-46)に基づいている。誘電体バリア放電は、高電圧シグナル、例えば、誘電体バリアにより分離された2つの電極間の交流電流の印加により達成される。非熱的な低電力プラズマが、変位電流を制限する誘電体を有する前記2つの電極間に形成される。このプラズマは、固体試料表面からの分子を脱離/イオン化する、ならびに、液体および気体をイオン化するのに使用され得る試料の周囲環境において、反応性イオン、電子、ラジカル、励起された中性物質および準安定種を含む。前記プラズマは、放電領域から取り出され、電場による力または電場およびガスの流れの組み合わせた力により試料表面に導入される。
ある実施形態において、前記プローブは、さらに、電源を含む。前記電源は、直流または交流を供給し得る。ある実施形態において、前記電源は、交流を供給する。ある実施形態において、放電ガスは、放電ガス吸入口を通して前記プローブに供給され、前記電場および/または前記放電ガスは、低温プラズマを前記プローブチップの外側に押し出す。前記放電ガスは、任意のガスであり得る。典型的な放電ガスとしては、ヘリウム、圧縮大気または外気、窒素およびアルゴンが挙げられる。ある実施形態において、前記誘電体バリアは、電気的に絶縁な材料から構成される。典型的な電気的に絶縁な材料としては、ガラス、石英、セラミックスおよびポリマーが挙げられる。他の実施形態において、前記誘電体バリアは、各端部が開口しているガラス管である。他の実施形態において、電場の変化は、試料中の検体から生成されるイオンのエネルギーおよびフラグメント化度合いを調整する。
湿らせた多孔質材料を使用するイオン化
イオンを生じさせるために湿らせた多孔質材料を含むプローブは、Ouyangら(米国特許出願特願13/265,110およびPCT出願番号PCT/US10/32881)に記載されており、各内容全体は、参照により本願明細書に援用される。図13A-Bに、典型的なプローブを示す。多孔質材料、例えば、紙(例えば、ろ紙もしくはクロマトグラフ紙)または他の同様の材料は、液体および固体を保持および移動するのに使用され、イオンは、高電圧が前記材料に印加された場合、前記材料の端から直接生成される。前記多孔質材料は、溶媒の流れ、例えば、連続性の溶媒の流れから離れた(すなわち、分離または切断された)状態を保たれる。または、試料が、前記多孔質材料上にスポットされるか、または、前記試料を含む表面からその上に塗りつけられる。ついで、前記スポットされた試料または塗りつけられた試料は、高電圧源に連結され、前記試料イオンを生じさせ、続けて前記イオンが質量分析される。前記試料は、分離溶媒流を必要とせずに、前記多孔質材料を通して輸送される。空気圧の支援を必要とせずに、検体が輸送され、むしろ、質量分析計の前に保持された前記多孔質材料に、電圧が印加されるのみである。
ある実施形態において、前記多孔質材料は、任意のセルロースベースの材料である。他の実施形態において、前記多孔質材料は、非金属の多孔質材料、例えば、綿、リンネル、羊毛、合成繊維製品または植物組織である。さらに他の実施形態において、前記多孔質材料は、紙である。紙の利点としては、コスト(紙は安価である);完全に市販されており、物理的および化学的特性を調整し得ること;液体試料から粒子(細胞およびゴミ)をろ過し得ること;容易に成形し得ること(例えば、切断、引き剥がしまたは折り畳みが容易であること);毛細管作用により液体が流れること(例えば、外部のポンピングおよび/または電源を必要としないこと)および、使い捨てられることが挙げられる。
ある実施形態において、前記多孔質材料は、スプレー用に最適化された、肉眼で見える角度を有する固体チップに一体化される。これらの実施形態において、前記多孔質材料は、ろ過、前濃縮、固体状でのスプレー用の検体を含む溶媒のウィッキングに使用される。
特定の実施形態において、前記多孔質材料は、ろ紙である。典型的なろ紙としては、セルロースろ紙、無灰ろ紙、ニトロセルロース紙、ガラスマイクロファイバーろ紙およびポリエチレン紙が挙げられる。任意の孔径を有するろ紙が使用され得る。典型的な孔径としては、グレード1(11μm)、グレード2(8μm)、グレード595(4~7μm)およびグレード6(3μm)が挙げられる。孔径は、スプレー材料内部の液体輸送に影響を与えるだけでなく、前記チップにおけるテイラーコーンの形成にも影響を及ぼすであろう。最適な孔径は、適切なテイラーコーンを生成し、液体の蒸発を低減するであろう。前記ろ紙の孔径は、ろ過における重要なパラメータでもある。すなわち、前記紙は、直接接続された前処理装置として作用する。低nm範囲の孔径を有する、市販の再生セルロースの限外ろ過膜は、1000Daの粒子を保持するように設計される。1000Daから100,000Daの範囲の分画分子量を有する限外ろ過膜を、商業的に入手し得る。
本発明のプローブは、前記多孔質材料の端に生成される高い電場を単に使用することに基づいて、ミクロンスケールの液滴を生成するのに十分役立つ。特定の実施形態において、前記多孔質材料は、イオン生成用に、肉眼で見える鋭く尖った先、例えば、三角形の先を有する形状である。本発明のプローブは、種々のチップ幅を有してもよい。ある実施形態において、前記プローブチップ幅は、少なくとも約5μm以上の幅であり、少なくとも約10μm以上の幅であり、少なくとも約50μm以上の幅であり、少なくとも約150μm以上の幅であり、少なくとも約250μm以上の幅であり、少なくとも約350μm以上の幅であり、少なくとも約400μ以上の幅であり、少なくとも約450μm以上の幅等である。特定の実施形態において、前記チップ幅は、少なくとも約350μm以上の幅である。他の実施形態において、前記チップ幅は、少なくとも約400μmである。他の実施形態において、本発明のプローブは、三次元形状、例えば、円錐形状を有する。
上記のように、液滴の輸送に空気圧の支援を必要としない。これらの荷電液滴の原理で実現される検体のアンビエントイオン化は、液相試料の質量分析についての簡易で便利な取り組みを提案する。試料溶液を、何の前処理もすることなく、質量分析計の入口の前に保持される前記多孔質材料に直接適用する。ついで、アンビエントイオン化を、前記湿らせた多孔質材料に高電位を印加することにより行う。ある実施形態において、前記多孔質材料は、紙である。前記紙は、液体輸送のための無数の孔および微小流路を含む多孔質材料の一種である。前記孔および微小流路が、前記紙をろ過装置として作用させる。これは、物理的に汚れた試料または汚染された試料を分析するのに有益である。他の実施形態において、前記多孔質材料は、前記多孔質材料に微小流路を生じさせるように、または、本発明のプローブとして使用するための前記材料の特性を向上するように処理される。例えば、紙は、パターン化されたシラン処理加工を受けて、前記紙上に微小流路または構造体を生じさせてもよい。このような加工は、例えば、トリデカフルオロ-1,1,2,2-テトラヒドロオクチル-1-トリクロロシランに前記紙の表面を暴露して、前記紙のシラン処理をもたらすことを含む。
他の実施形態において、ソフトリソグラフィー加工を、前記多孔質材料における微小流路を生じさせるのに、本発明のプローブとして使用するための前記材料の特性を向上するのに使用する。他の実施形態において、疎水性捕捉領域を、より少ない親水性化合物を予め濃縮するために、前記紙に形成する。疎水性領域を、フォトリソグラフィー、印刷法またはプラズマ処理を使用して、200~1000μmの側面素性を有する親水性流路を規定するために、紙上にパターン化してもよい。Martinezら(Angew.Chem.Int.Ed.2007,46,1318-1320);Martinezら(Proc.Natl Acad.Sci.USA2008,105,19606-19611);Abeら(Anal.Chem.2008,80,6928-6934);Bruzewiczら(Anal.Chem.2008,80,3387-3392);Martinezら(Lab Chip 2008,8,2146-2150);および、Liら(Anal.Chem.2008,80,9131-9134)を参照し、各内容全体は、参照により本願明細書に援用される。このような紙に基づく手段に載せられた液体試料は、毛細管作用により駆動されて、前記親水性流路に沿って移動し得る。
ナノESI(nESI)
誘導nESIを、物理的な接触なしに、各種のnESIアレイについて行い得る。図13に、円形モードおよび直線モードの例を示す。回転式アレイにおいて、各スプレー放射体順に約2mmで配置された電極を、イオンシグナルの順序を与える、2~4kVの正パルス(10~3000Hz)で供給した。同時のイオンシグナルが、nESI放射体の近くにおいて誘導的に生成されるパルス状の電圧を使用する直線アレイにおいて生成された。ナノエレクトロスプレーのスプレープルームが観察され、正および負の検出モードの両方における質量分析において、検体が検出される。
参照による援用
本開示を通じてなされている、他のドキュメント、例えば、特許、特許出願、特許公開、ジャーナル、本、論文、ウェブコンテンツに対する、任意の全ての参照および引用は、全ての目的のために、それらの内容全体を参照により、本願明細書に援用される。
均等物
本発明は、その精神または本質的な特徴から逸脱することなく、他の特定の形態に具現化されてもよい。したがって、前述の実施形態は、全て配慮される例示であり、本願明細書に記載の発明を限定するものではないものと考えられる。
実施例1:材料および方法
実験を、特注の小型の質量分析計(Mini10;Gaoら、Anal.Chem.2006,78,5994-6002)または、ThermoLTQ質量分析計(Thermo Scientific,San Jose,CA)を使用して行った。キャピラリー温度:150℃;キャピラリー電圧:15V;チューブレンズ電圧:240Vとした。特注の電源から、50~5,000Hzおよび0~8kVのパルス状の出力を供給した。DESI(Takatsら、Science 2004,306,471-473)条件を、窒素ガス150psi、外側電極としての役割を果たす金属チューブ(id250μm、長さ5cm)、スプレー放射体としての役割を果たす内側シリカキャピラリー(id50μm)とした。基材に対するDESIスプレーの角度を40°に設定した。スプレーチップと試料との間の距離を、2mmに設定した。試料とMS吸入口との距離を、3mmに設定した。スプレー溶液を、MeOH/水(v:v=1:1)とした。20μmの市販のシリカナノエレクトロスプレーチップを、New Objective(Woburn,MA,USA)から入手した。

Claims (11)

  1. 試料イオンを形成する方法であって、
    前記方法は、
    試料を、単一のスプレー放射体を通して流すことと、
    前記流れる試料と接触しない前記単一のスプレー放射体の電極からの印加され電位をパルスして、前記流れる試料と誘導的に相互作用させ、これにより、試料イオンを生じさせることであって、前記試料イオンを生じさせる周波数は、前記印加され電位の周波数であり、前記印加され電位は、前記単一のスプレー放射体からの印加される電位の極性を変更することなく正の成分および負の成分の両方を備える、ことと
    を含む、方法。
  2. 前記単一のスプレー放射体は、質量分析プローブである、請求項1に記載の方法。
  3. 前記質量分析プローブは、大気圧直接イオン化技術により動作する、請求項2に記載の方法。
  4. 前記質量分析プローブは、エレクトロスプレーイオン化により動作する、請求項3に記載の方法。
  5. 前記質量分析プローブは、ナノエレクトロスプレーイオン化により動作する、請求項3に記載の方法。
  6. 質量分析計中で前記生じさせられたイオンを分析することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  7. 前記質量分析計は、ハンドヘルドの質量分析計である、請求項6に記載の方法。
  8. 前記質量分析計は、質量アナライザを含み、四重極イオントラップ、直線型イオントラップ、円筒型イオントラップ、イオンサイクロトロン共鳴トラップおよびオルビトラップからなる群から選択される、請求項6に記載の方法。
  9. 霧化ガス供給源をさらに含む、請求項1に記載の方法。
  10. 前記霧化ガス供給源が、ガスのパルスを供給するように構成される、請求項9に記載の方法。
  11. 前記試料は、生体分子を含み、前記生じさせられたイオンは、前記生体分子のイオンを含む、請求項1に記載の方法。
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Families Citing this family (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2160235B1 (en) * 2007-06-01 2016-11-30 Purdue Research Foundation Discontinuous atmospheric pressure interface
US8207497B2 (en) 2009-05-08 2012-06-26 Ionsense, Inc. Sampling of confined spaces
WO2011020187A1 (en) * 2009-08-19 2011-02-24 Mcgill University Methods and systems for the quantitative chemical speciation of heavy metals and other toxic pollutants
US8853626B2 (en) * 2010-02-12 2014-10-07 University Of Yamanashi Ionization apparatus and ionization analysis apparatus
US8822949B2 (en) 2011-02-05 2014-09-02 Ionsense Inc. Apparatus and method for thermal assisted desorption ionization systems
US8901488B1 (en) 2011-04-18 2014-12-02 Ionsense, Inc. Robust, rapid, secure sample manipulation before during and after ionization for a spectroscopy system
TWI611996B (zh) 2012-05-18 2018-01-21 尼康股份有限公司 基板處理裝置
US9184038B2 (en) 2012-06-06 2015-11-10 Purdue Research Foundation Ion focusing
MX2012011702A (es) * 2012-10-08 2014-04-24 Ct De Investigación Y De Estudios Avanzados Del I P N Dispositivo de rayo plasmatico no termico como fuente de ionizacion espacial para espectrometria de masa ambiental y metodo para su aplicacion.
US9997344B2 (en) 2013-05-31 2018-06-12 University Of Washington Through Its Center For Commercialization Methods and devices for generating double emulsions
MX359727B (es) * 2013-07-19 2018-10-08 Smiths Detection Inc Entrada de espectrómetro de masas con flujo promedio reducido.
US9842728B2 (en) * 2013-07-19 2017-12-12 Smiths Detection Ion transfer tube with intermittent inlet
RU2668913C2 (ru) * 2013-07-24 2018-10-04 Смитс Детекшен Монреаль Инк. In situ химическое превращение и ионизация неорганических перхлоратов на поверхностях
US9744542B2 (en) * 2013-07-29 2017-08-29 Apeel Technology, Inc. Agricultural skin grafting
CN103698198B (zh) * 2013-12-31 2016-08-17 中国科学技术大学 一种多孔材料辅助超声波喷雾离子发生装置及方法
WO2015126595A1 (en) * 2014-02-21 2015-08-27 Purdue Research Foundation Analyzing an extracted sample using an immiscible extraction solvent
US10269550B2 (en) 2014-02-21 2019-04-23 Purdue Research Foundation Systems and methods for quantifying an analyte extracted from a sample
US11495448B2 (en) 2014-02-21 2022-11-08 Purdue Research Foundation Systems and methods for quantifying an analyte extracted from a sample
US9337007B2 (en) 2014-06-15 2016-05-10 Ionsense, Inc. Apparatus and method for generating chemical signatures using differential desorption
US10656157B2 (en) * 2014-09-24 2020-05-19 Purdue Research Foundation Rare event detection using mass tags
WO2016108463A1 (ko) * 2014-12-31 2016-07-07 한국기초과학지원연구원 질량 분석기 및 그것의 전자빔 주입을 제어하는 방법
KR20160083785A (ko) 2014-12-31 2016-07-12 한국기초과학지원연구원 질량 분석기 및 그것의 전자빔 주입을 제어하는 방법
US9406492B1 (en) * 2015-05-12 2016-08-02 The University Of North Carolina At Chapel Hill Electrospray ionization interface to high pressure mass spectrometry and related methods
CN107850606A (zh) * 2015-05-29 2018-03-27 沃特世科技公司 必需营养素比率测定
US10784097B2 (en) * 2015-08-28 2020-09-22 Indiana University Research And Technology Corporation Atmospheric-pressure ionization and fragmentation of molecules for structural elucidation
CA2999918A1 (en) 2015-09-24 2017-03-30 Zane BAIRD Mass tag analysis for rare cells and cell free molecules
CN105304452B (zh) * 2015-10-23 2017-10-27 浙江好创生物技术有限公司 激光电喷雾离子源
CN105548332B (zh) * 2016-01-14 2019-08-20 中国检验检疫科学研究院 一种唇膏中禁用苏丹红染料的快速检测方法
CN105588871B (zh) * 2016-01-14 2019-03-08 中国检验检疫科学研究院 一种眼影或粉饼中禁用苏丹红染料的快速检测方法
KR102641264B1 (ko) 2016-01-22 2024-02-26 퍼듀 리서치 파운데이션 하전된 질량 표지 시스템
WO2017132444A1 (en) * 2016-01-28 2017-08-03 Purdue Research Foundation Systems and methods for separating ions at about or above atmospheric pressure
US11355328B2 (en) 2016-04-13 2022-06-07 Purdue Research Foundation Systems and methods for isolating a target ion in an ion trap using a dual frequency waveform
CN109075014A (zh) * 2016-04-19 2018-12-21 英国质谱公司 传输管校准
EP3465138B1 (en) 2016-06-03 2023-12-27 Purdue Research Foundation Systems and methods for analyzing an analyte extracted from a sample using an adsorbent material
US10774044B2 (en) 2016-06-06 2020-09-15 Purdue Research Foundation Conducting reactions in Leidenfrost-levitated droplets
CN105957793B (zh) * 2016-06-21 2017-12-15 东华理工大学 一种采用微波等离子体炬电离源的电离质谱分析方法
US11309172B2 (en) 2016-08-09 2022-04-19 Purdue Research Foundation Reaction monitoring
US10325765B2 (en) 2016-10-06 2019-06-18 Purdue Research Foundation Systems and methods for ambient surface cleaning and sampling with mass spectrometric analysis
WO2018100612A1 (ja) * 2016-11-29 2018-06-07 株式会社島津製作所 イオン化装置及び質量分析装置
US10823714B2 (en) 2016-12-29 2020-11-03 Thermo Finnigan Llc Simplified source control interface
EP3607575A4 (en) * 2017-03-22 2020-12-16 Purdue Research Foundation SYSTEMS AND METHODS FOR CONDUCTING REACTIONS AND SCREENING REACTION PRODUCTS
US10636640B2 (en) 2017-07-06 2020-04-28 Ionsense, Inc. Apparatus and method for chemical phase sampling analysis
US11209411B2 (en) * 2018-01-12 2021-12-28 Purdue Research Foundation Methods for analyzing stability of an active pharmaceutical ingredient
JP7064746B2 (ja) * 2018-02-14 2022-05-11 国立大学法人浜松医科大学 イオン化装置、イオン化方法、プログラム、及び分析システム
AU2019242628A1 (en) 2018-03-26 2020-09-24 Clear Creek Bio, Inc. Compositions and methods for inhibiting dihydroorotate dehydrogenase
US10825673B2 (en) 2018-06-01 2020-11-03 Ionsense Inc. Apparatus and method for reducing matrix effects
WO2019236698A1 (en) * 2018-06-05 2019-12-12 Wilkins Jay N Apparatus and method to bypass a sample chamber in laser assisted spectroscopy
CN109270157B (zh) * 2018-11-03 2024-04-09 广州市华粤行仪器有限公司 基于感应电喷雾的进样装置及质谱分析方法
US11139157B2 (en) 2019-05-31 2021-10-05 Purdue Research Foundation Multiplexed inductive ionization systems and methods
WO2021081313A1 (en) * 2019-10-23 2021-04-29 The Texas A&M University System Methods for identifying structural features of lipids
EP4052278A4 (en) * 2019-10-28 2023-11-22 Ionsense, Inc. PULSATORY FLOW ATMOSPHERIC REAL-TIME IONIZATION
WO2021133963A1 (en) 2019-12-23 2021-07-01 Miraki Innovation Think Tank Llc Sample preparation and microbial analysis
WO2021133943A1 (en) 2019-12-23 2021-07-01 Miraki Innovation Think Tank Llc Compositions, devices and methods for diagnosing and treating infectious disease
US11787770B2 (en) 2020-05-19 2023-10-17 Purdue Research Foundation Methods of coupling a carbon containing moiety to an amine containing moiety
US11913861B2 (en) 2020-05-26 2024-02-27 Bruker Scientific Llc Electrostatic loading of powder samples for ionization
US20240019435A1 (en) 2020-09-25 2024-01-18 Miraki Innovation Think Tank Llc Compositions, devices and methods comprising microbe-targeting molecules for diagnosing and treating infectious disease
CN112858452B (zh) * 2021-01-19 2023-10-03 岛津企业管理(中国)有限公司 一种探针电喷雾离子化与质谱联用的活体分析系统
WO2022198021A1 (en) * 2021-03-19 2022-09-22 The University Of North Carolina At Chapel Hill Diffn selection of tandem mass spectrometry precursors

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000009693A (ja) 1998-06-22 2000-01-14 Hitachi Ltd 唾液の分析方法及び装置
US20020117629A1 (en) 2000-12-12 2002-08-29 Jeol Ltd. Electrospray ion source
JP2002303606A (ja) 1992-04-10 2002-10-18 Waters Investments Ltd 時間変調が課される電気的噴霧装置および方法
JP2004139962A (ja) 2002-08-19 2004-05-13 Jeol Ltd エレクトロスプレー質量分析装置
US20080197275A1 (en) 2007-02-16 2008-08-21 Alex Mordehai Ion sampling apparatuses in fast polarity-switching ion sources
US20100301209A1 (en) 2007-06-01 2010-12-02 Purdue Research Foundation Discontinuous atmospheric pressure interface

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4531056A (en) 1983-04-20 1985-07-23 Yale University Method and apparatus for the mass spectrometric analysis of solutions
US4542293A (en) 1983-04-20 1985-09-17 Yale University Process and apparatus for changing the energy of charged particles contained in a gaseous medium
US4842701A (en) 1987-04-06 1989-06-27 Battelle Memorial Institute Combined electrophoretic-separation and electrospray method and system
US4861988A (en) 1987-09-30 1989-08-29 Cornell Research Foundation, Inc. Ion spray apparatus and method
US4885706A (en) 1988-02-03 1989-12-05 Pate Systems, Inc. Computer aided flood control modeling and management system
US5068535A (en) 1988-03-07 1991-11-26 University Of Houston - University Park Time-of-flight ion-scattering spectrometer for scattering and recoiling for electron density and structure
JP3353561B2 (ja) * 1995-09-07 2002-12-03 株式会社日立製作所 溶液の質量分析に関する方法と装置
US6297499B1 (en) 1997-07-17 2001-10-02 John B Fenn Method and apparatus for electrospray ionization
US6107626A (en) * 1997-10-14 2000-08-22 The University Of Washington Device and method for forming ions
US6191418B1 (en) * 1998-03-27 2001-02-20 Synsorb Biotech, Inc. Device for delivery of multiple liquid sample streams to a mass spectrometer
US6657191B2 (en) * 2001-03-02 2003-12-02 Bruker Daltonics Inc. Means and method for multiplexing sprays in an electrospray ionization source
US7460225B2 (en) 2004-03-05 2008-12-02 Vassili Karanassios Miniaturized source devices for optical and mass spectrometry
JP4337584B2 (ja) * 2004-03-10 2009-09-30 株式会社日立製作所 質量分析装置及びイオン源
US7335897B2 (en) 2004-03-30 2008-02-26 Purdue Research Foundation Method and system for desorption electrospray ionization
US20080179511A1 (en) 2007-01-31 2008-07-31 Huanwen Chen Microspray liquid-liquid extractive ionization device
TWI337748B (en) 2007-05-08 2011-02-21 Univ Nat Sun Yat Sen Mass analyzing apparatus
US8519354B2 (en) 2008-02-12 2013-08-27 Purdue Research Foundation Low temperature plasma probe and methods of use thereof
US7915579B2 (en) 2008-09-05 2011-03-29 Ohio University Method and apparatus of liquid sample-desorption electrospray ionization-mass specrometry (LS-DESI-MS)
EP3540759A1 (en) * 2008-10-13 2019-09-18 Purdue Research Foundation (PRF) Systems and methods for transfer of ions for analysis
US8330119B2 (en) 2009-04-10 2012-12-11 Ohio University On-line and off-line coupling of EC with DESI-MS
CN105606691B (zh) * 2009-04-30 2018-12-28 普度研究基金会 分析样品中的蛋白质或肽的方法
US8237115B2 (en) 2009-12-18 2012-08-07 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for multiple electrospray emitters in mass spectrometry
US8847154B2 (en) 2010-08-18 2014-09-30 Thermo Finnigan Llc Ion transfer tube for a mass spectrometer system
EP2668660A4 (en) 2011-01-25 2015-12-02 Analytik Jena Ag MASS DEVICE
US8648297B2 (en) 2011-07-21 2014-02-11 Ohio University Coupling of liquid chromatography with mass spectrometry by liquid sample desorption electrospray ionization (DESI)
JP2015503745A (ja) 2011-12-27 2015-02-02 ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド イオン−イオン反応のための試薬イオンの発生
US20140264004A1 (en) 2013-03-15 2014-09-18 Purdue Research Foundation Systems and methods for analyzing a sample using a mass spectrometry probe configured to contact the sample

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002303606A (ja) 1992-04-10 2002-10-18 Waters Investments Ltd 時間変調が課される電気的噴霧装置および方法
JP2000009693A (ja) 1998-06-22 2000-01-14 Hitachi Ltd 唾液の分析方法及び装置
US20020117629A1 (en) 2000-12-12 2002-08-29 Jeol Ltd. Electrospray ion source
JP2002245962A (ja) 2000-12-12 2002-08-30 Jeol Ltd エレクトロスプレー・イオン源
JP2004139962A (ja) 2002-08-19 2004-05-13 Jeol Ltd エレクトロスプレー質量分析装置
US20080197275A1 (en) 2007-02-16 2008-08-21 Alex Mordehai Ion sampling apparatuses in fast polarity-switching ion sources
US20100301209A1 (en) 2007-06-01 2010-12-02 Purdue Research Foundation Discontinuous atmospheric pressure interface

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