JP7178142B2 - サンプル保持器を真空チャンバの中および外に移送するためのサンプル移送装置および方法 - Google Patents
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Description
本発明は、例えば、以下を提供する。
(項目1)
サンプル保持器(200)を真空チャンバ(810)の中および外に移送するためのサンプル移送装置(100)であって、
サンプル保持器(200)の少なくとも1つのフォロワ(210)と協働するように構成される少なくとも1つのカム(120)を含む保持デバイス(110)
を備え、
上記少なくとも1つのカム(120)は、開放端部分(122)と、係止部分(126)と、係止軌道部分(124)と、解放軌道部分(128)とを有する湾曲した軌道を含み、上記係止軌道部分(126)および上記解放軌道部分(128)はそれぞれ、上記開放端部分(122)および上記係止部分(126)を接続し、
上記湾曲した軌道は、上記サンプル保持器(200)の少なくとも1つのフォロワ(210)が、上記サンプル保持器(200)を上記保持デバイス(110)に取り付けるために、上記係止軌道部分(124)を介して、上記開放端部分(122)から上記係止部分(126)まで誘導されるように構成され、
上記湾曲した軌道はさらに、上記サンプル保持器(200)の少なくとも1つのフォロワ(210)が、上記保持デバイス(110)から上記サンプル保持器(200)を解放するために、上記解放軌道部分(128)を介して、上記係止部分(126)から上記開放端部分(122)まで誘導されるように構成される、サンプル移送装置(100)。
(項目2)
上記保持デバイス(110)は、上記サンプル保持器(200)が、上記サンプル保持器(200)の取付および解放の間に、上記保持デバイス(110)の長手方向軸(10)に対して線形にのみ移動するように構成される、項目1に記載のサンプル移送装置(100)。
(項目3)
上記保持デバイス(110)は、第1の区分(112)と、上記第1の区分(112)に移動可能に接続される第2の区分(114)とを含み、上記第2の区分(114)は、上記少なくとも1つのカム(120)を含む、項目1または2に記載のサンプル移送装置(100)。
(項目4)
上記第2の区分(114)は、上記保持デバイス(110)の長手方向軸(10)に対して平行な回転軸の周囲で回転可能である、項目3に記載のサンプル移送装置(100)。
(項目5)
上記第2の区分(114)は、上記サンプル保持器(200)が、上記サンプル保持器(200)の少なくとも1つのフォロワ(210)が、上記サンプル保持器(200)を取り付けるかまたは解放するために上記少なくとも1つのカム(120)の湾曲した軌道に沿って誘導されると、線形に、かつ非回転的に移動されるように、上記回転軸の周囲で回転するように構成される、項目4に記載のサンプル移送装置(100)。
(項目6)
上記保持デバイス(110)は、円筒形状を有する、項目1-5のいずれか1項に記載のサンプル移送装置(100)。
(項目7)
上記サンプル保持器(200)に接触し、上記保持デバイス(110)の長手方向軸(10)に沿った上記サンプル保持器(200)の移動を防止するように構成される固定デバイス(150)をさらに含む、項目1-6のいずれか1項に記載のサンプル移送装置(100)。
(項目8)
上記固定デバイス(150)は、
少なくとも1つの弾性要素(154)と、
第1の端部(152a)と、第2の端部(152b)とを有する少なくとも1つの接触要素(152)であって、上記第1の端部(152a)は、上記サンプル保持器(200)に接触するように構成され、上記第2の端部(152b)は、上記少なくとも1つの弾性要素(154)に接続される、少なくとも1つの接触要素(152)と
を含む、項目7に記載のサンプル移送装置(100)。
(項目9)
上記固定デバイス(150)は、上記保持デバイス(110)の内部空間内に配列される、項目7または8に記載のサンプル移送装置(100)。
(項目10)
上記少なくとも1つのカム(120)の湾曲した軌道は、ループおよびハート形のうちの少なくとも一方である、項目1-9のいずれか1項に記載のサンプル移送装置(100)。
(項目11)
上記少なくとも1つのカム(120)の湾曲した軌道は、上記保持デバイス(110)の長手方向軸(10)に沿って延在し、上記係止部分(126)は、上記係止軌道部分(124)と上記解放軌道部分(128)との間に配列され、上記係止軌道部分(124)および上記解放軌道部分(128)は、上記係止部分(126)よりも、上記開放端部分(122)から離れる方向において上記長手方向軸(10)に沿って遠くに延在する、項目1-10のいずれか1項に記載のサンプル移送装置(100)。
(項目12)
システム(800)であって、
真空チャンバ(810)と、
上記項目のいずれか1項に記載のサンプル移送装置(100)であって、上記サンプル移送装置(100)は、上記真空チャンバ(810)の内側への移送のために上記システム(800)に接続可能である、サンプル移送装置(100)と
を備える、システム(800)。
(項目13)
上記システム(800)は、断熱消磁冷凍機、特に、多段断熱消磁冷凍機である、項目12に記載のシステム(800)。
(項目14)
真空チャンバの中および外に移送されるように構成されるサンプル保持器であって、
サンプル移送装置の保持デバイスの少なくとも1つのフォロワと協働するように構成される少なくとも1つのカム
を備え、
上記少なくとも1つのカムは、開放端部分と、係止部分と、係止軌道部分と、解放軌道部分とを有する湾曲した軌道を含み、上記係止軌道部分および上記解放軌道部分はそれぞれ、上記開放端部分および上記係止部分を接続し、
上記湾曲した軌道は、上記保持デバイスの少なくとも1つのフォロワが、上記サンプル保持器を上記保持デバイスに取り付けるために、上記係止軌道部分を介して、上記開放端部分から上記係止部分まで誘導されるように構成され、
上記湾曲した軌道はさらに、上記保持デバイスの少なくとも1つのフォロワが、上記保持デバイスから上記サンプル保持器を解放するために、上記解放軌道部分を介して、上記係止軌道部分から上記開放端部分まで誘導されるように構成される、サンプル保持器。
(項目15)
サンプル保持器を真空チャンバの中または外に移送するための方法(900)であって、
a)少なくとも1つのフォロワをカムの湾曲した軌道の開放端部分の中に挿入することと、
上記少なくとも1つのフォロワを、上記湾曲した軌道の係止軌道部分に沿って、上記湾曲した軌道の係止部分まで移動させることと、
上記少なくとも1つのフォロワを上記係止部分の中に係止することと
によって、上記サンプル保持器をサンプル移送装置の保持デバイスに取り付けること(910)と、
b)上記サンプル移送装置を使用して、上記サンプル保持器を上記真空チャンバの中または外に移送すること(920)と、
c)上記少なくとも1つのフォロワを上記係止部分から解放することと、
上記少なくとも1つのフォロワを、上記湾曲した軌道の解放軌道部分に沿って上記湾曲した軌道の開放端部分まで移動させることと
によって、上記保持デバイスから上記サンプル保持器を解放すること(930)と
を含む、方法(900)。
Claims (12)
- サンプル保持器(200)を真空チャンバ(810)の中および外に移送するためのサンプル移送装置(100)であって、
サンプル保持器(200)の少なくとも1つのフォロワ(210)と協働するように構成される少なくとも1つのカム(120)を含む保持デバイス(110)
を備え、
前記少なくとも1つのカム(120)は、開放端部分(122)と、係止部分(126)と、係止軌道部分(124)と、解放軌道部分(128)とを有する湾曲した軌道を含み、前記係止軌道部分(124)および前記解放軌道部分(128)はそれぞれ、前記開放端部分(122)および前記係止部分(126)を接続し、前記開放端部分(122)は、前記保持デバイス(110)の長手方向軸(10)に対して平行な方向において開放している前記湾曲した軌道の一部であり、
前記湾曲した軌道は、前記サンプル保持器(200)の少なくとも1つのフォロワ(210)が、前記サンプル保持器(200)を前記保持デバイス(110)に取り付けるために、前記係止軌道部分(124)を介して、前記開放端部分(122)から前記係止部分(126)まで誘導されるように構成され、
前記湾曲した軌道はさらに、前記サンプル保持器(200)の少なくとも1つのフォロワ(210)が、前記保持デバイス(110)から前記サンプル保持器(200)を解放するために、前記解放軌道部分(128)を介して、前記係止部分(126)から前記開放端部分(122)まで誘導されるように構成され、
前記サンプル移送装置(100)は、前記サンプル保持器(200)を前記真空チャンバ(810)の中に移送するとき、前記真空チャンバ(810)の内側の基部(840)に前記サンプル保持器(200)を機械的に接続するように構成されており、
前記サンプル移送装置(100)は、前記サンプル保持器(200)を前記真空チャンバ(810)の外に移送するとき、前記真空チャンバ(810)の内側の前記基部(840)から前記サンプル保持器(200)を機械的に接続解除するように構成されている、サンプル移送装置(100)。 - 前記保持デバイス(110)は、前記サンプル保持器(200)が、前記サンプル保持器(200)の取付および解放の間に、前記保持デバイス(110)の長手方向軸(10)に対して線形にのみ移動するように構成される、請求項1に記載のサンプル移送装置(100)。
- 前記保持デバイス(110)は、第1の区分(112)と、前記第1の区分(112)に移動可能に接続される第2の区分(114)とを含み、前記第2の区分(114)は、前記少なくとも1つのカム(120)を含む、請求項1または2に記載のサンプル移送装置(100)。
- 前記第2の区分(114)は、前記保持デバイス(110)の長手方向軸(10)に対して平行な回転軸の周囲で回転可能である、請求項3に記載のサンプル移送装置(100)。
- 前記第2の区分(114)は、前記サンプル保持器(200)が、前記サンプル保持器(200)の少なくとも1つのフォロワ(210)が、前記サンプル保持器(200)を取り付けるかまたは解放するために前記少なくとも1つのカム(120)の湾曲した軌道に沿って誘導されると、線形に、かつ非回転的に移動されるように、前記回転軸の周囲で回転するように構成される、請求項4に記載のサンプル移送装置(100)。
- 前記保持デバイス(110)は、円筒形状を有する、請求項1-5のいずれか1項に記載のサンプル移送装置(100)。
- 前記サンプル保持器(200)に接触し、前記保持デバイス(110)の長手方向軸(10)に沿った前記サンプル保持器(200)の移動を防止するように構成される固定デバイス(150)をさらに含む、請求項1-6のいずれか1項に記載のサンプル移送装置(100)。
- 前記固定デバイス(150)は、
少なくとも1つの弾性要素(154)と、
第1の端部(152a)と、第2の端部(152b)とを有する少なくとも1つの接触要素(152)であって、前記第1の端部(152a)は、前記サンプル保持器(200)に接触するように構成され、前記第2の端部(152b)は、前記少なくとも1つの弾性要素(154)に接続される、少なくとも1つの接触要素(152)と
を含む、請求項7に記載のサンプル移送装置(100)。 - 前記固定デバイス(150)は、前記保持デバイス(110)の内部空間内に配列される、請求項7または8に記載のサンプル移送装置(100)。
- 前記少なくとも1つのカム(120)の湾曲した軌道は、ループおよびハート形のうちの少なくとも一方である、請求項1-9のいずれか1項に記載のサンプル移送装置(100)。
- 前記少なくとも1つのカム(120)の湾曲した軌道は、前記保持デバイス(110)の長手方向軸(10)に沿って延在し、前記係止部分(126)は、前記係止軌道部分(124)と前記解放軌道部分(128)との間に配列され、前記係止軌道部分(124)および前記解放軌道部分(128)は、前記係止部分(126)よりも、前記開放端部分(122)から離れる方向において前記長手方向軸(10)に沿って遠くに延在する、請求項1-10のいずれか1項に記載のサンプル移送装置(100)。
- サンプル保持器(200)を真空チャンバ(810)の中または外に移送するための方法(900)であって、
a)少なくとも1つのフォロワ(210)をカム(120)の湾曲した軌道の開放端部分(122)の中に挿入することであって、前記開放端部分(122)は、保持デバイス(110)の長手方向軸に対して平行な方向において開放している前記湾曲した軌道の一部である、ことと、
前記少なくとも1つのフォロワ(210)を、前記湾曲した軌道の係止軌道部分(124)に沿って、前記湾曲した軌道の係止部分(126)まで移動させることと、
前記少なくとも1つのフォロワ(210)を前記係止部分(126)の中に係止することと
によって、前記サンプル保持器(200)をサンプル移送装置(100)の保持デバイス(110)に取り付けること(910)と、
b)前記サンプル移送装置(100)を使用して、前記サンプル保持器(200)を前記真空チャンバ(810)の中または外に移送すること(920)と、
c)前記少なくとも1つのフォロワ(210)を前記係止部分(126)から解放することと、
前記少なくとも1つのフォロワ(210)を、前記湾曲した軌道の解放軌道部分(128)に沿って前記湾曲した軌道の開放端部分(122)まで移動させることと
によって、前記保持デバイス(110)から前記サンプル保持器(200)を解放すること(930)と
を含み、
前記サンプル保持器(200)は、前記サンプル保持器(200)が前記真空チャンバ(810)の中に移送されるとき、前記真空チャンバ(810)の内側の基部(840)に機械的に接続され、
前記サンプル保持器(200)は、前記サンプル保持器(200)が前記真空チャンバ(810)の外に移送されるとき、前記真空チャンバ(810)の内側の前記基部(840)から機械的に接続解除される、方法(900)。
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---|---|---|---|---|
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120063571A1 (en) | 2008-07-01 | 2012-03-15 | Centre National De La Recherche Scientifique | Device and Method for Holding and Releasing a Metallic Sample Holder, and Use of this Device |
JP2014215279A (ja) | 2013-04-30 | 2014-11-17 | 株式会社 エイブイシー | 材料搬送器具 |
WO2015083270A1 (ja) | 2013-12-05 | 2015-06-11 | 株式会社日立製作所 | 試料ホルダ及び真空分析装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000505944A (ja) * | 1996-12-23 | 2000-05-16 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 低温試料ホルダを含む粒子光学装置 |
JP4270617B2 (ja) * | 1998-10-27 | 2009-06-03 | キヤノンアネルバ株式会社 | 真空搬送装置 |
EP1463971A2 (en) | 2001-12-12 | 2004-10-06 | The Regents of the University of California | INTEGRATED CRYSTAL MOUNTING AND ALIGNMENT SYSTEM FOR HIGH−THROUGHPUT BIOLOGICAL CRYSTALLOGRAPHY |
US8571177B2 (en) * | 2010-03-01 | 2013-10-29 | Cornell University | Goniometer base apparatus and method |
DE102010062064A1 (de) * | 2010-11-26 | 2012-05-31 | Hamilton Bonaduz Ag | Probenbehälter zur Aufbewahrung und Verarbeitung von mit einem Probenentnahmewerkzeug entnommenen Proben |
AU2012287300B2 (en) * | 2011-07-22 | 2015-10-01 | Roche Diagnostics Hematology, Inc. | Sample transport systems and methods |
DE102014110722B4 (de) * | 2014-07-29 | 2016-06-09 | Leica Mikrosysteme Gmbh | Ladestation zum Umladen von gefrorenen Proben bei tiefen Temperaturen |
EP3163222B1 (en) * | 2015-10-28 | 2018-07-18 | Technische Universität München | Cryogen-free cooling apparatus |
EP3287775B1 (en) * | 2016-08-26 | 2019-04-03 | Leica Mikrosysteme GmbH | Modular specimen holders for high pressure freezing and x-ray crystallography of a specimen |
EP3322041B1 (en) * | 2016-11-09 | 2019-10-30 | Aptiv Technologies Limited | Connector assembly with integrated lever locking system |
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120063571A1 (en) | 2008-07-01 | 2012-03-15 | Centre National De La Recherche Scientifique | Device and Method for Holding and Releasing a Metallic Sample Holder, and Use of this Device |
JP2014215279A (ja) | 2013-04-30 | 2014-11-17 | 株式会社 エイブイシー | 材料搬送器具 |
WO2015083270A1 (ja) | 2013-12-05 | 2015-06-11 | 株式会社日立製作所 | 試料ホルダ及び真空分析装置 |
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