JP7176350B2 - Image forming apparatus, image forming method, and program - Google Patents

Image forming apparatus, image forming method, and program Download PDF

Info

Publication number
JP7176350B2
JP7176350B2 JP2018201729A JP2018201729A JP7176350B2 JP 7176350 B2 JP7176350 B2 JP 7176350B2 JP 2018201729 A JP2018201729 A JP 2018201729A JP 2018201729 A JP2018201729 A JP 2018201729A JP 7176350 B2 JP7176350 B2 JP 7176350B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film thickness
calculated
estimated
range
photoreceptor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018201729A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2019091025A (en
Inventor
泰英 松野
貴博 吉見
真司 南
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to CN201811305968.XA priority Critical patent/CN109782555B/en
Priority to US16/183,874 priority patent/US10606202B2/en
Publication of JP2019091025A publication Critical patent/JP2019091025A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7176350B2 publication Critical patent/JP7176350B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Cleaning In Electrography (AREA)
  • Control Or Security For Electrophotography (AREA)

Description

本発明は、画像形成装置、画像形成方法、及びプログラムに関する。 The present invention relates to an image forming apparatus, an image forming method, and a program.

従来、電子写真方式の画像形成装置において、感光体の表面電位を均一に帯電処理する工程がある。その工程中には、直流電圧を帯電ローラに印加して、帯電ローラを感光体表面と接触させて感光体表面へ放電させて、感光体を帯電させるという接触DC帯電方式が採用されている。
この接触DC帯電方式では、帯電ローラと感光体の表面との間で放電を発生させることで、感光体の表面電位を目標の電位に帯電させる。
接触DC帯電方式では、帯電ローラが感光体の表面に接触しているため、感光体が回転するにつれて表面の感光体膜が削れていく。
そして、膜厚が薄くなるにつれて、帯電ローラへの印加電圧と感光体の表面に帯電する電圧との関係が変化し、作像に必要な感光体の表面電位を保てなくなる。この結果、印刷された画像に不具合が生じるため、感光体の交換が必要になっていた。
また、感光体膜がすべて削れてしまうと、感光体の表面に電荷を保持できなくなり、帯電性能が著しく低下するため、感光体を交換する必要がある。
これらの問題に対して、従来、感光体の回転数を用いて感光体膜厚の削れ量を算出することで、帯電ローラに印加する電圧を制御したり、感光体の寿命を判断したりしている。
実際の感光体膜厚の削れ量に対して、帯電中の感光体の回転数を用いて感光体膜厚の削れ量を予測した場合、
(1)ユーザの使用環境
(2)感光体ユニット内における、ブレードが感光体に当接した際の圧力
(3)現像部でのニップ圧力
等に依存して、大きく異なってしまうという課題がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, in an electrophotographic image forming apparatus, there is a process of uniformly charging the surface potential of a photoreceptor. In this process, a contact DC charging method is adopted in which a DC voltage is applied to the charging roller, and the charging roller is brought into contact with the surface of the photoreceptor to discharge to the surface of the photoreceptor, thereby charging the photoreceptor.
In this contact DC charging method, the surface potential of the photoreceptor is charged to a target potential by generating discharge between the charging roller and the surface of the photoreceptor.
In the contact DC charging method, since the charging roller is in contact with the surface of the photoreceptor, the photoreceptor film on the surface is scraped off as the photoreceptor rotates.
As the film thickness becomes thinner, the relationship between the voltage applied to the charging roller and the voltage charged on the surface of the photoreceptor changes, making it impossible to maintain the surface potential of the photoreceptor necessary for image formation. As a result, defects occur in the printed image, necessitating replacement of the photoreceptor.
Further, when the photoreceptor film is completely scraped off, the surface of the photoreceptor cannot hold electric charge, and the charging performance is remarkably deteriorated. Therefore, the photoreceptor needs to be replaced.
In order to solve these problems, conventionally, the number of rotations of the photoreceptor is used to calculate the thickness of the photoreceptor, thereby controlling the voltage applied to the charging roller and judging the life of the photoreceptor. ing.
When the number of rotations of the photoreceptor during charging is used to predict the actual amount of photoreceptor film thickness scraping,
(1) Usage environment of the user (2) Pressure in the photoreceptor unit when the blade comes into contact with the photoreceptor (3) The nip pressure in the developing section greatly varies depending on the pressure. .

この課題の解決策として、特許文献1には、感光体の回転数から感光体膜厚の削れ量を算出するよりも、精度良く膜厚の削れ量を検知することを目的として、帯電バイアス-帯電直流電流特性の傾きより感光体膜厚を求めるという技術が開示されている。
特許文献2には、感光体の膜厚推定結果の精度を高めることを目的として、機種及び稼働期間毎に導出・記憶している感光体の膜厚の推定演算式から、稼働情報に基づいて感光体の消耗量(膜厚減少量)を推定演算するという技術が開示されている。
特許文献3には、感光体の膜厚検知結果の精度を高めることを目的として、帯電部材に印加する電圧の絶対値を画像形成時よりも膜厚判断時に大きくすることや、温度湿度によって印加する電圧を可変するという技術が開示されている。
As a solution to this problem, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-100000 discloses a charging bias-type detector for the purpose of accurately detecting the amount of scraping of the film thickness of the photoreceptor rather than calculating the amount of scraping of the film thickness of the photoreceptor from the number of rotations of the photoreceptor. A technique has been disclosed in which the film thickness of the photoreceptor is obtained from the slope of the charging DC current characteristic.
In Patent Document 2, for the purpose of improving the accuracy of the film thickness estimation result of the photoreceptor, based on the operation information, from the estimation arithmetic expression of the film thickness of the photoreceptor that is derived and stored for each model and operation period A technique of estimating and calculating the wear amount (thickness reduction amount) of the photoreceptor is disclosed.
Japanese Patent Laid-Open No. 2002-200000 discloses that the absolute value of the voltage applied to the charging member is increased during film thickness determination rather than during image formation for the purpose of improving the accuracy of the film thickness detection result of the photoreceptor. A technique of varying the applied voltage is disclosed.

しかしながら、従来の方法では、ノイズ等の要因によって異常な結果が出た場合に、膜厚を誤って予測してしまうという問題があった。
特許文献1乃至3にあっては、膜厚推定結果の精度を高めることを目的としているが、間接的に膜厚を推定する制御における計算精度を向上することに関する技術内容であった。
しかしながら、特許文献1乃至3にあっては、ノイズ等で異常な結果が出た場合に膜厚を誤って予測してしまうという問題は解消できていない。
本発明の一実施形態は、上記に鑑みてなされたもので、その目的としては、算出された推定膜厚に対して、現時点の走行距離に対応した予測膜厚範囲を精度高く算出することにある。
However, the conventional method has a problem that the film thickness is erroneously predicted when abnormal results are obtained due to factors such as noise.
Although Patent Literatures 1 to 3 aim to improve the accuracy of film thickness estimation results, the technical content relates to improving calculation accuracy in control for indirectly estimating film thickness.
However, Patent Documents 1 to 3 cannot solve the problem that the film thickness is erroneously predicted when an abnormal result is obtained due to noise or the like.
One embodiment of the present invention has been made in view of the above, and an object thereof is to accurately calculate a predicted film thickness range corresponding to the current running distance with respect to the calculated estimated film thickness. be.

上記課題を解決するたに、請求項1記載の発明は、周回する感光体の周面を帯電させる帯電部材に帯電バイアスを印加する電圧印加部と、前記帯電部材から前記感光体に流れる出力電流を表すフィードバック信号を生成する電流検知部と、を備えた画像形成装置であって、前記帯電部材に印加された帯電バイアスに係る電圧値、及び前記感光体に流れる出力電流に係る電流値に基づいて、前記感光体の膜厚を算出する膜厚算出手段と、前記帯電中の前記感光体の走行距離を算出する走行距離算出手段と、前記膜厚算出手段によって算出された算出膜厚に走行距離を関連付けして保存する算出膜厚保存手段と、前記算出膜厚保存手段から取得した複数の時点での算出膜厚と走行距離に基づいて、現時点における推定膜厚を算出する膜厚推定手段と、前記膜厚推定手段により算出された推定膜厚に基づいて、現時点の走行距離に対応した予測膜厚範囲を算出する膜厚範囲予測手段と、を備え、前記膜厚範囲予測手段は、前回の推定膜厚の値が小さいほど、予測膜厚範囲が狭くなるように算出することを特徴とする。


In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 provides a voltage applying section that applies a charging bias to a charging member that charges the circumferential surface of a rotating photoreceptor, and an output that flows from the charging member to the photoreceptor. and a current detector that generates a feedback signal representing current, wherein the voltage value related to the charging bias applied to the charging member and the current value related to the output current flowing through the photoreceptor are detected. Based on the film thickness calculation means for calculating the film thickness of the photoreceptor, the travel distance calculation means for calculating the travel distance of the photoreceptor during charging, and the calculated film thickness calculated by the film thickness calculation means. Calculated film thickness storage means for storing travel distances in association with each other, and film thickness estimation for calculating estimated film thicknesses at present based on calculated film thicknesses and travel distances at a plurality of times obtained from the calculated film thickness storage means. and a film thickness range predicting means for calculating a predicted film thickness range corresponding to the current running distance based on the estimated film thickness calculated by the film thickness estimating means, wherein the film thickness range predicting means , the smaller the value of the previous estimated film thickness, the narrower the estimated film thickness range .


本発明によれば、推定された推定膜厚に対して、現時点の走行距離に対応した予測膜厚範囲を精度高く算出することができる。 According to the present invention, the predicted film thickness range corresponding to the current running distance can be calculated with high accuracy for the estimated film thickness.

本発明が適用される画像形成装置の概略的な機構構成を示す断面図である。1 is a sectional view showing a schematic mechanical configuration of an image forming apparatus to which the invention is applied; FIG. 本発明の第1実施形態に係る画像形成装置1に採用される電子写真プロセスの全体構成を示す図である。1 is a diagram showing the overall configuration of an electrophotographic process employed in the image forming apparatus 1 according to the first embodiment of the invention; FIG. 本発明の第1実施形態に係る画像形成装置の主要部の構成を示す機能ブロック図である。1 is a functional block diagram showing the configuration of main parts of an image forming apparatus according to a first embodiment of the present invention; FIG. I-V特性を示すグラフ図である。4 is a graph showing IV characteristics; FIG. ノイズ発生時のI-V特性を含むグラフ図である。FIG. 4 is a graph including IV characteristics when noise occurs; 温度湿度環境下での感光体のI-V特性の傾きと膜厚との関係を示すグラフ図である。FIG. 2 is a graph showing the relationship between the slope of the IV characteristic of a photoreceptor and the film thickness in a temperature/humidity environment; 本発明の第1実施形態に係る画像形成装置1の膜厚推定部による膜厚推定処理の概要を示す図である。4 is a diagram showing an overview of film thickness estimation processing by a film thickness estimation unit of the image forming apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention; FIG. 膜厚算出部により算出された感光体の算出膜厚に関するばらつきの影響の概要を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an overview of the influence of variations in the calculated film thickness of the photoreceptor calculated by the film thickness calculator; 感光体膜厚を推定する際の予測膜厚範囲の概要を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an outline of a predicted film thickness range when estimating a photoreceptor film thickness; 本発明の第1実施形態に係る画像形成装置のメイン処理を示すフローチャートである。4 is a flowchart showing main processing of the image forming apparatus according to the first embodiment of the present invention; 本発明の第1実施形態に係る画像形成装置の異常判定部による異常判定処理を示すサブルーチンのフローチャートである。4 is a flowchart of a subroutine showing abnormality determination processing by an abnormality determination unit of the image forming apparatus according to the first embodiment of the present invention; 本発明の第2実施形態に係る画像形成装置に採用される使用率計算処理の概要を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an overview of usage rate calculation processing employed in the image forming apparatus according to the second embodiment of the present invention; 本発明の第2実施形態に係る画像形成装置による使用率算出処理を示すフローチャートである。9 is a flowchart showing usage rate calculation processing by the image forming apparatus according to the second embodiment of the present invention; 本発明の第3実施形態に係る画像形成装置の主要部の構成を示す機能ブロック図である。FIG. 11 is a functional block diagram showing the configuration of main parts of an image forming apparatus according to a third embodiment of the present invention; 感光体の走行距離と膜厚との関係を示すグラフ図である。FIG. 4 is a graph showing the relationship between the running distance of the photoreceptor and the film thickness;

以下、本発明を図面に示した実施の形態により詳細に説明する。
本発明は、推定された推定膜厚に対して、現時点の走行距離に対応した予測膜厚範囲を精度高く算出するために、以下の構成を有する。
すなわち、本発明の画像形成装置は、周回する感光体の周面を帯電させる帯電部材に帯電バイアスを印加する電圧印加部と、帯電部材から感光体に流れる出力電流を表すフィードバック信号を生成する電流検知部と、を備えた画像形成装置であって、帯電部材に印加された帯電バイアスに係る電圧値、及び感光体に流れる出力電流に係る電流値に基づいて、感光体の膜厚を算出する膜厚算出手段と、帯電中の感光体の走行距離を算出する走行距離算出手段と、膜厚算出手段によって算出された算出膜厚に走行距離を関連付けして保存する算出膜厚保存手段と、算出膜厚保存手段から取得した複数の時点での算出膜厚と走行距離に基づいて、現時点における推定膜厚を算出する膜厚推定手段と、膜厚推定手段により算出された推定膜厚に基づいて、現時点の走行距離に対応した予測膜厚範囲を算出する膜厚範囲予測手段と、を備えることを特徴とする。
以上の構成を備えることにより、推定された推定膜厚に対して、現時点の走行距離に対応した予測膜厚範囲を精度高く算出することができる。
上記記載の本発明の特徴について、以下の図面を用いて詳細に解説する。但し、この実施形態に記載される構成要素、種類、組み合わせ、形状、その相対配置などは特定的な記載がない限り、この発明の範囲をそれのみに限定する主旨ではなく単なる説明例に過ぎない。
上記の本発明の特徴に関して、以下、図面を用いて詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will now be described in detail with reference to embodiments shown in the drawings.
The present invention has the following configuration in order to accurately calculate a predicted film thickness range corresponding to the current running distance with respect to the estimated film thickness.
That is, the image forming apparatus of the present invention includes a voltage applying section that applies a charging bias to a charging member that charges the peripheral surface of a rotating photoreceptor, and a current that generates a feedback signal representing the output current flowing from the charging member to the photoreceptor. and a detection unit, wherein the film thickness of the photoreceptor is calculated based on the voltage value related to the charging bias applied to the charging member and the current value related to the output current flowing through the photoreceptor. a film thickness calculation means, a travel distance calculation means for calculating a travel distance of the photosensitive member during charging, a calculated film thickness storage means for storing the calculated film thickness calculated by the film thickness calculation means in association with the travel distance, Film thickness estimating means for calculating an estimated film thickness at the present time based on the calculated film thickness and travel distance obtained from the calculated film thickness storage means, and based on the estimated film thickness calculated by the film thickness estimating means and a film thickness range prediction means for calculating a predicted film thickness range corresponding to the current running distance.
With the above configuration, it is possible to accurately calculate a predicted film thickness range corresponding to the current running distance for the estimated film thickness.
The features of the invention described above will be explained in detail with reference to the following drawings. However, unless there is a specific description, the constituent elements, types, combinations, shapes, relative arrangements, etc. described in this embodiment are merely illustrative examples and not intended to limit the scope of the present invention. .
The features of the present invention described above will be described in detail below with reference to the drawings.

<第1実施形態>
図1は、本発明が適用される画像形成装置の概略的な機構構成を示す断面図である。
図1を参照して、画像形成装置1での画像形成の流れを複写モードを例にあげて簡単に説明する。
画像形成装置1は、複写モードにおいて、原稿束が自動原稿送り装置(ADF)2により、順に画像読み取り装置3に給送され、画像読み取り装置3により、画像情報が読み取られる。そして、その読み取られた画像情報は、画像処理手段を介して書き込み手段としての書き込みユニット4により光情報に変換され、感光体6は、感光体ドラムであり、帯電器により一様に帯電された後に書き込みユニット4からの光情報により露光されて静電潜像が形成される。
この感光体6上の静電潜像は現像部7により現像されてトナー像となる。このトナー像は、搬送ベルト8により転写紙に転写される。転写紙は、定着部9によりトナー像が定着され、排出される。
<First Embodiment>
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a schematic mechanical configuration of an image forming apparatus to which the present invention is applied.
Referring to FIG. 1, the flow of image formation in image forming apparatus 1 will be briefly described by taking a copy mode as an example.
In the image forming apparatus 1, in a copy mode, an automatic document feeder (ADF) 2 sequentially feeds a bundle of documents to an image reading device 3, and the image reading device 3 reads image information. The read image information is converted into optical information by a writing unit 4 as writing means via image processing means. It is later exposed by light information from the writing unit 4 to form an electrostatic latent image.
The electrostatic latent image on the photoreceptor 6 is developed by the developing section 7 into a toner image. This toner image is transferred to the transfer paper by the transport belt 8 . The toner image is fixed on the transfer paper by the fixing unit 9, and the transfer paper is discharged.

<第1実施形態に係る画像形成装置に採用される電子写真プロセス>
図2は、本発明の第1実施形態に係る画像形成装置1に採用される電子写真プロセスの全体構成を示す図である。
図2には、一般的な直接DC帯電方式の電子写真プロセスの構成であり、感光体6、帯電ローラ(帯電部材)12、露光部13、現像部7、表示パネル14、転写ローラ15、ブレード16、除電器17、高圧電源(帯電)18、電流電圧検知部19、制御ユニット10を備えている。
感光体16が周回されており、高圧電源18により発生された直流の高電圧を帯電ローラ(帯電部材)12に印加し、感光体6の表面を一様に帯電する。その後、露光部13により画像信号に応じたイメージ光が出射され、イメージ光により感光体6の表面が露光され、感光体6の表面に静電潜像が形成される。
<Electrophotographic Process Adopted for Image Forming Apparatus According to First Embodiment>
FIG. 2 is a diagram showing the overall configuration of an electrophotographic process employed in the image forming apparatus 1 according to the first embodiment of the invention.
FIG. 2 shows the configuration of a typical direct DC charging type electrophotographic process, including a photosensitive member 6, a charging roller (charging member) 12, an exposure unit 13, a developing unit 7, a display panel 14, a transfer roller 15, and a blade. 16, a static eliminator 17, a high-voltage power source (charging) 18, a current/voltage detector 19, and a control unit 10.
A photoreceptor 16 is circulated, and a DC high voltage generated by a high voltage power supply 18 is applied to a charging roller (charging member) 12 to uniformly charge the surface of the photoreceptor 6 . After that, the exposure unit 13 emits image light corresponding to the image signal, and the surface of the photoreceptor 6 is exposed to the image light, forming an electrostatic latent image on the surface of the photoreceptor 6 .

そして、現像部7により感光体6の表面の静電潜像がトナー像に現像され、感光体6上のトナー像は転写ローラ15により記録媒体に転写される。その後、定着手段により定着されることで、記録媒体上に画像が形成される。
また、除電器17が照射したLED光により感光体6の表面の電荷を除去した後に帯電処理を行う。
制御ユニット10は、A/D変換部(ADC)10a、CPU(central processing unit)10b、ROM(read only memory)10c、RAM(random access memory)10dを備えている。
表示パネル14は、感光体6の使用率を0~100%の間の値で表示する。
The developing unit 7 develops the electrostatic latent image on the surface of the photoreceptor 6 into a toner image, and the toner image on the photoreceptor 6 is transferred to a recording medium by the transfer roller 15 . After that, the image is formed on the recording medium by being fixed by the fixing means.
Further, after the electric charge on the surface of the photoreceptor 6 is removed by the LED light emitted by the static eliminator 17, the charging process is performed.
The control unit 10 includes an A/D converter (ADC) 10a, a CPU (central processing unit) 10b, a ROM (read only memory) 10c, and a RAM (random access memory) 10d.
The display panel 14 displays the usage rate of the photoreceptor 6 as a value between 0% and 100%.

<制御部>
図3は、本発明の第1実施形態に係る画像形成装置の主要部の構成を示す機能ブロック図である。
図1に示す制御ユニット10は、モータ駆動部21、温度湿度検知部11、電流電圧検知部19、電圧印加部24、制御部30を備えている。
モータ駆動部21は、制御部30からの駆動指示に応じてモータを駆動して、モータの回転に応じて感光体6を回転させる。
温度湿度検知部11は、感光体6の周辺の雰囲気温度湿度を検知する。
電圧印加部24は、感光体6へ印加すべき電圧値を示す電圧指令値を制御部30から取得すると、電圧指令値に対応した印加電圧になるように調整して、帯電ローラ12を介して感光体6に電圧を印加する。
電流電圧検知部19は、帯電ローラ12から感光体6に流れる出力電流・出力電圧を表すフィードバック信号を生成してA/D変換部10aに出力する。
<Control section>
FIG. 3 is a functional block diagram showing the configuration of main parts of the image forming apparatus according to the first embodiment of the invention.
Control unit 10 shown in FIG.
The motor drive unit 21 drives the motor according to the drive instruction from the control unit 30, and rotates the photoreceptor 6 according to the rotation of the motor.
The temperature/humidity detection unit 11 detects the ambient temperature/humidity around the photoreceptor 6 .
When the voltage application unit 24 acquires a voltage command value indicating the voltage value to be applied to the photoreceptor 6 from the control unit 30 , the voltage application unit 24 adjusts the applied voltage so as to correspond to the voltage command value. A voltage is applied to the photoreceptor 6 .
The current/voltage detector 19 generates a feedback signal representing the output current/voltage flowing from the charging roller 12 to the photoreceptor 6, and outputs the feedback signal to the A/D converter 10a.

図2に示す制御ユニット10は、上述したように例えばCPU10b、ROM10c、RAM10dを有するマイコンにより構成されている。
CPU10bは、ROM10cからオペレーティングシステムOSを読み出してRAM10d上に展開してOSを起動し、OS管理下において、ROM10cからアプリケーションソフトウエアのプログラム(処理モジュール)を読み出し、各種処理を実行することで、図2に示す制御部30を実現する。
The control unit 10 shown in FIG. 2 is composed of a microcomputer having, for example, a CPU 10b, a ROM 10c, and a RAM 10d, as described above.
The CPU 10b reads the operating system OS from the ROM 10c, expands it on the RAM 10d, starts the OS, reads application software programs (processing modules) from the ROM 10c, and executes various processes under the control of the OS. 2 is realized.

制御部30は、膜厚算出部30a、算出膜厚保存部30b、膜厚推定部30c、異常判定部30c1、膜厚範囲予測部30d、範囲外回数計数部30d1、膜厚推定情報保持部30e、推定膜厚誤差算出部30f、使用率計算部30g、比較部30k、走行距離算出部30h、推定膜厚保存部30i、膜厚決定計算部30j、を備えている。
膜厚算出部30aは、感光体6に流れる出力電流に係る電流値、及び帯電部材に印加された帯電バイアスに係る電圧値に基づいて、感光体のI-V特性の傾きを算出し、さらに、I-V特性の傾きに基づいて膜厚を算出する。
The control unit 30 includes a film thickness calculation unit 30a, a calculated film thickness storage unit 30b, a film thickness estimation unit 30c, an abnormality determination unit 30c1, a film thickness range prediction unit 30d, an out-of-range number counting unit 30d1, and a film thickness estimation information storage unit 30e. , an estimated film thickness error calculation unit 30f, a usage rate calculation unit 30g, a comparison unit 30k, a travel distance calculation unit 30h, an estimated film thickness storage unit 30i, and a film thickness determination calculation unit 30j.
The film thickness calculator 30a calculates the slope of the IV characteristic of the photoreceptor based on the current value related to the output current flowing through the photoreceptor 6 and the voltage value related to the charging bias applied to the charging member. , the film thickness is calculated based on the slope of the IV characteristic.

算出膜厚保存部30bは、膜厚算出部30aによって算出された算出膜厚に、走行距離算出部30hによって算出された走行距離を関連付けしてRAM10dに保存する。
膜厚推定部30cは、算出膜厚保存部30bから取得した複数の時点での算出膜厚と走行距離に基づいて、現時点における推定膜厚を算出する。膜厚推定部30cは、算出膜厚保存部30bから取得した複数の時点での算出膜厚と走行距離に基づいて、最小二乗法に従って現時点の走行距離に対応した推定膜厚を算出する。
膜厚推定部30cは、温度湿度検知部11により検知された温度湿度情報に基づいて、推定膜厚誤差ΔDeを算出する。
The calculated film thickness storage unit 30b associates the calculated film thickness calculated by the film thickness calculation unit 30a with the travel distance calculated by the travel distance calculation unit 30h, and stores them in the RAM 10d.
The film thickness estimator 30c calculates the current estimated film thickness based on the calculated film thicknesses and traveled distances obtained at a plurality of times from the calculated film thickness storage unit 30b. The film thickness estimator 30c calculates the estimated film thickness corresponding to the current traveled distance according to the least squares method, based on the calculated film thicknesses and the traveled distances obtained from the calculated film thickness storage 30b.
The film thickness estimator 30c calculates the estimated film thickness error ΔDe based on the temperature/humidity information detected by the temperature/humidity detector 11 .

膜厚範囲予測部30dは、膜厚推定部30cにより推定された推定膜厚に基づいて、現時点における膜厚のとりうる予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出する。
膜厚範囲予測部30dは、推定膜厚と推定膜厚誤差ΔDeとに基づいて、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出する。
膜厚範囲予測部30dは、前回の推定膜厚の値が小さいほど、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxが狭くなるように算出する。
膜厚範囲予測部30dは、前回の推定膜厚に基づく推定膜厚誤差ΔDeを用いて、現時点の走行距離に対応した予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出する。
Based on the estimated film thickness estimated by the film thickness estimating unit 30c, the film thickness range predicting unit 30d calculates a possible estimated film thickness range Dmin to Dmax of the current film thickness.
A film thickness range prediction unit 30d calculates a predicted film thickness range Dmin to Dmax based on the estimated film thickness and the estimated film thickness error ΔDe.
The film thickness range prediction unit 30d calculates the predicted film thickness range Dmin to Dmax so that the smaller the value of the previous estimated film thickness, the narrower the predicted film thickness range Dmin to Dmax.
The film thickness range prediction unit 30d calculates a predicted film thickness range Dmin to Dmax corresponding to the current running distance using the estimated film thickness error ΔDe based on the previous estimated film thickness.

異常判定部30c1は、次回の推定膜厚を推定する際に、膜厚範囲予測部30dによって予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmax内に推定膜厚が入るか否かを判定することにより推定膜厚が有効か無効を判定する。
異常判定部30c1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、推定膜厚が厚膜側で範囲外となった場合に、推定膜厚を無効とする。
異常判定部30c1は、範囲外回数計数部30d1により計数された範囲外回数が一定の回数以上に連続して計数された場合に、薄膜側で範囲外となった推定膜厚を有効とする。
異常判定部30c1は、推定膜厚が有効となった場合に、推定膜厚保存部30iに保存している直近の1回以上前の推定膜厚を破棄する。
異常判定部30c1は、範囲外回数計数部30d1により計数された範囲外回数が一定の回数未満で連続して計数されている場合に、再度、膜厚推定部30cに膜厚推定処理を実行させる。
When estimating the next estimated film thickness, the abnormality determination unit 30c1 determines whether or not the estimated film thickness falls within the predicted film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range prediction unit 30d. Determines whether the film thickness is valid or invalid.
The abnormality determination unit 30c1 invalidates the estimated film thickness when the estimated film thickness is outside the range on the thick film side of the predicted film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range prediction unit 30d. .
The abnormality determination unit 30c1 validates the estimated film thickness that is out of range on the thin film side when the number of out-of-range counts counted by the out-of-range counting unit 30d1 is continuously counted for a predetermined number of times or more.
When the estimated film thickness becomes valid, the abnormality determination unit 30c1 discards the most recent estimated film thickness that is stored in the estimated film thickness storage unit 30i.
When the out-of-range number of times counted by the out-of-range number-of-range counting section 30d1 is continuously counted less than a certain number of times, the abnormality determination section 30c1 causes the thickness estimating section 30c to execute the thickness estimation process again. .

範囲外回数計数部30d1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、膜厚推定部30cにより推定された推定膜厚が厚膜側であり予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmax外となった場合、又は膜厚推定部30cにより推定された推定膜厚が薄膜側であり予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmax外となった場合の範囲外回数を計数する。
範囲外回数計数部30d1は、膜厚範囲予測部30d内に設けられ、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、膜厚推定部30cによって推定された推定膜厚が薄膜側で範囲外となった場合の範囲外回数を計数する。
膜厚推定情報保持部30eは、膜厚推定部30cに用いるI-V特性の傾き(帯電電流-帯電バイアスの傾き)と感光体6の膜厚との関係を表す膜厚推定情報(図6)を保持する。
推定膜厚誤差算出部30fは、膜厚推定情報と推定膜厚とに基づいて、膜厚推定情報と推定膜厚との間の推定膜厚誤差ΔDeを算出する。
The out-of-range count unit 30d1 determines that the estimated film thickness estimated by the film thickness estimation unit 30c is on the thick film side with respect to the estimated film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range prediction unit 30d. Number of out-of-range cases when the predicted film thickness range Dmin to Dmax is outside, or when the estimated film thickness estimated by the film thickness estimation unit 30c is on the thin side and is outside the predicted film thickness range Dmin to Dmax. to count.
The out-of-range count unit 30d1 is provided in the film thickness range prediction unit 30d, and calculates the estimated film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range prediction unit 30d by the film thickness estimation unit 30c. Count the number of times the film thickness is out of range on the thin film side.
The film thickness estimation information holding unit 30e stores film thickness estimation information (FIG. 6 ).
The estimated film thickness error calculation unit 30f calculates an estimated film thickness error ΔDe between the film thickness estimation information and the estimated film thickness based on the film thickness estimation information and the estimated film thickness.

比較部30kは、膜厚範囲予測部30dによって予測された予測膜厚範囲下限値Dminと、感光体6の走行距離に基づいて算出可能な感光体の膜が最大に削れたときの最大摩耗膜厚値とを比較する。
使用率計算部30gは、比較部30kの比較結果として、予測膜厚範囲の下限値、又は最大削れ膜厚値の大きい方の値に基づいて、感光体6の使用率を計算する。
使用率計算部30gは、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲の下限値に基づいて、感光体6の使用率を計算する。
走行距離算出部30hは、感光体6を回転させるモータが回転中であり、且つ電圧印加部24が帯電ローラ12を介して感光体6に電圧を印加中の時間をタイマ10eにより計測して、印加時間に1秒当たりの単位回転数を乗算することで、帯電中の感光体6の走行距離を算出する。
The comparison unit 30k calculates the maximum wear film when the film of the photoreceptor is scraped to the maximum, which can be calculated based on the predicted film thickness range lower limit value Dmin predicted by the film thickness range prediction unit 30d and the traveling distance of the photoreceptor 6. Compare with thickness value.
The usage rate calculator 30g calculates the usage rate of the photoreceptor 6 based on the lower limit value of the predicted film thickness range or the maximum shaved film thickness value, whichever is larger, as the comparison result of the comparator 30k.
The usage rate calculator 30g calculates the usage rate of the photoreceptor 6 based on the lower limit value of the predicted film thickness range predicted by the film thickness range prediction section 30d.
The traveling distance calculation unit 30h measures the time during which the motor for rotating the photoreceptor 6 is rotating and the voltage application unit 24 is applying voltage to the photoreceptor 6 via the charging roller 12, using the timer 10e. By multiplying the application time by the unit number of rotations per second, the running distance of the photosensitive member 6 during charging is calculated.

使用率表示制御部30mは、使用率計算部30gにより計算された感光体6の使用率を0~100%の間の値に変換して、表示パネル14に表示する。
推定膜厚保存部30iは、膜厚推定部30cにより推定された推定膜厚に、異常判定部30c1により判定された推定膜厚に係る有効/無効を付加して保存する。
膜厚決定計算部30jは、推定膜厚保存部30iに保存されている推定膜厚のうち有効なものを膜圧として決定して出力する。
制御部30は、A/D変換部10aを介して電流電圧検知部19により生成されたフィードバック信号に基づいて、感光体6へ印加すべき電圧値を算出し、この電圧値を電圧指令値として電圧印加部24に与えることで印加電圧を調整するように制御する。
The usage rate display control section 30m converts the usage rate of the photoreceptor 6 calculated by the usage rate calculation section 30g into a value between 0% and 100%, and displays it on the display panel .
The estimated film thickness storage unit 30i stores the estimated film thickness estimated by the film thickness estimation unit 30c by adding valid/invalid information related to the estimated film thickness determined by the abnormality determination unit 30c1.
The film thickness determination calculation unit 30j determines and outputs an effective one of the estimated film thicknesses stored in the estimated film thickness storage unit 30i as the film thickness.
The control unit 30 calculates the voltage value to be applied to the photoreceptor 6 based on the feedback signal generated by the current/voltage detection unit 19 via the A/D conversion unit 10a, and uses this voltage value as the voltage command value. It is controlled to adjust the applied voltage by applying it to the voltage application unit 24 .

<I-V特性検出>
制御部30の制御により、複数の異なる電圧を感光体に印加して帯電させ、印加時の電流を検知し、I-V特性を算出して、その特性の傾きから膜厚を検出する(特許文献1参照)。
制御ユニット10は、帯電時のI-V特性を導くために、複数の異なる電圧を印加してその時の帯電電流をA/D変換部10aを介して検知する。
<IV characteristic detection>
Under the control of the control unit 30, a plurality of different voltages are applied to the photosensitive member to charge it, the current at the time of application is detected, the IV characteristic is calculated, and the film thickness is detected from the slope of the characteristic (Patent Reference 1).
In order to derive IV characteristics during charging, the control unit 10 applies a plurality of different voltages and detects the charging current at that time via the A/D converter 10a.

仮に、複数の異なる電圧として、複数の制御ステップにおいて、4点の電圧を印加することとして説明する。この際に、制御ステップは下記[S1]~[S5]となる。
[S1] 電圧V1の帯電電圧を印加し、その時の電流I1を検知する。
[S2] 電圧V2の帯電電圧を印加し、その時の電流I2を検知する。
[S3] 電圧V3の帯電電圧を印加し、その時の電流I3を検知する。
[S4] 電圧V4の帯電電圧を印加し、その時の電流I4を検知する。
[S5] [S1]~[S4]を実行した際に、膜厚算出部30aは、印加電圧と検知電流からI-V特性の傾きmを導き(図4参照)、I-V特性の傾きmに対応した感光体6の膜厚D(図6参照)を算出する。
算出膜厚保存部30bは、膜厚算出部30aによって算出された算出膜厚Dに、走行距離算出部30hによって算出された現在の走行距離Lを関連付けてRAM10dに保存する。
なお、電圧V1~V4は、それぞれ異なる電圧値とする。なお、算出膜厚保存部30bには、複数の異なる電流-電圧のペア(I1,V1)~(I4,V4)は、少なくとも2点以上であればよい。
It is assumed that voltages are applied at four points in a plurality of control steps as a plurality of different voltages. At this time, the control steps are the following [S1] to [S5].
[S1] A charging voltage of voltage V1 is applied, and the current I1 at that time is detected.
[S2] A charging voltage of voltage V2 is applied, and the current I2 at that time is detected.
[S3] A charging voltage of voltage V3 is applied, and the current I3 at that time is detected.
[S4] A charging voltage of voltage V4 is applied, and the current I4 at that time is detected.
[S5] When performing [S1] to [S4], the film thickness calculator 30a derives the slope m of the IV characteristic from the applied voltage and the detected current (see FIG. 4), and calculates the slope of the IV characteristic. A film thickness D (see FIG. 6) of the photosensitive member 6 corresponding to m is calculated.
The calculated film thickness storage unit 30b associates the current travel distance L calculated by the travel distance calculation unit 30h with the calculated film thickness D calculated by the film thickness calculation unit 30a, and stores them in the RAM 10d.
Note that the voltages V1 to V4 are assumed to have different voltage values. At least two or more different current-voltage pairs (I1, V1) to (I4, V4) may be stored in the calculated film thickness storage unit 30b.

<I-V特性グラフ>
図4は、I-V特性を示すグラフ図である。
膜厚算出部30aは、図4に示すI-V特性グラフの傾きmに基づいて、感光体の膜厚を求める(特許文献2参照)。
詳しくは、帯電ローラ(帯電部材)2を介して感光体6を帯電する際に、帯電ローラ2と感光体6との間に流れる電流Idcと、感光体6の感光層の膜厚Dとの間には、Idc=k/D(Kは定数)が成り立つ。
膜厚算出部30aは、上述したように、感光体6に流れる出力電流に係る電流値、及び帯電部材に印加された帯電バイアスに係る電圧値に基づいて、感光体のI-V特性の傾きを算出し、さらに、I-V特性の傾きに基づいて膜厚を算出する。
<IV characteristic graph>
FIG. 4 is a graph showing IV characteristics.
The film thickness calculator 30a obtains the film thickness of the photosensitive member based on the slope m of the IV characteristic graph shown in FIG. 4 (see Patent Document 2).
Specifically, when the photoreceptor 6 is charged via the charging roller (charging member) 2, the current Idc flowing between the charging roller 2 and the photoreceptor 6 and the thickness D of the photosensitive layer of the photoreceptor 6 Between them, Idc=k/D (K is a constant) holds.
As described above, the film thickness calculator 30a calculates the slope of the IV characteristic of the photoreceptor based on the current value related to the output current flowing through the photoreceptor 6 and the voltage value related to the charging bias applied to the charging member. is calculated, and the film thickness is calculated based on the slope of the IV characteristic.

<ノイズ発生時のI-V特性>
図5は、ノイズ発生時のI-V特性を含むグラフ図である。
図5に示す○印はノイズがないときのI-V特性であり、△印はノイズがあるときのI-V特性である。
上述した制御ステップ[S1]~[S5]では、I-V特性の傾きmを算出することにより、傾きmから膜厚Dを算出することができる。
しかし、図5に示すように、ノイズ等によって異常なI-V特性が生じた場合に、誤った傾きmから誤った膜厚Deを算出するという問題があった。
<IV characteristics when noise occurs>
FIG. 5 is a graph including IV characteristics when noise occurs.
The ○ mark shown in FIG. 5 is the IV characteristic when there is no noise, and the Δ mark is the IV characteristic when there is noise.
In the control steps [S1] to [S5] described above, by calculating the slope m of the IV characteristic, the film thickness D can be calculated from the slope m.
However, as shown in FIG. 5, there is a problem that an erroneous film thickness De is calculated from an erroneous slope me when an abnormal IV characteristic occurs due to noise or the like.

<温度湿度環境下での傾きと膜厚との関係>
図6は、温度湿度環境下での感光体のI-V特性の傾きと膜厚との関係を示すグラフ図である。
I-V特性の傾きと膜厚の関係は一定になることを理想としている。しかしながら、図6に示すように、低温低湿LL環境(例えば、10℃、15%)では、常温常湿MM環境(例えば、23℃、50%)、高温高湿HH環境(例えば、27℃、80%)と比べて誤差が大きくなることを表している。
なお、感光体の膜厚は、新品時において34um程度であり、交換が必要であると判断する膜厚は例えば13umである。
膜厚検出制御では、帯電バイアスを数点変化させた時のI-V特性の傾きから膜厚を求める(特許文献2参照)。
I-V特性の傾きmと膜厚の関係は図6に示すように、膜厚が薄いと傾きは顕著に変化する。図5に示すように、ばらつきで傾きが大きく検知されてしまった場合、算出される感光体膜厚は実際よりも薄い結果となる。
そして、感光体表面を確実に帯電させる最小膜厚閾値Drefを下回った場合、例えば、膜厚検出の結果を用いて寿命判定を行う画像形成装置では、温度湿度環境下や、ノイズ等の影響下で算出した異常なI-V特性によって、想定外の寿命の終了を迎えてしまう。
<Relationship between slope and film thickness under temperature and humidity environment>
FIG. 6 is a graph showing the relationship between the slope of the IV characteristic of the photoreceptor and the film thickness under the temperature and humidity environment.
Ideally, the relationship between the slope of the IV characteristic and the film thickness should be constant. However, as shown in FIG. 6, in the low temperature and low humidity LL environment (eg, 10° C., 15%), the normal temperature and normal humidity MM environment (eg, 23° C., 50%), the high temperature and high humidity HH environment (eg, 27° C., 80%).
The film thickness of the photoreceptor is about 34 μm when it is new, and the film thickness at which replacement is judged to be necessary is, for example, 13 μm.
In the film thickness detection control, the film thickness is obtained from the slope of the IV characteristic when the charging bias is changed at several points (see Patent Document 2).
As shown in FIG. 6, the relationship between the slope m of the IV characteristic and the film thickness changes remarkably as the film thickness decreases. As shown in FIG. 5, when a large inclination is detected due to variations, the calculated film thickness of the photoreceptor is smaller than the actual film thickness.
When the film thickness falls below the minimum film thickness threshold value Dref for reliably charging the surface of the photoreceptor, for example, in an image forming apparatus that uses the result of film thickness detection to determine the life span, the film thickness is affected by temperature, humidity, and noise. Due to the abnormal IV characteristic calculated in 1, the end of life is unexpected.

<膜厚推定処理の概要>
図7は、本発明の第1実施形態に係る画像形成装置1の膜厚推定部30cによる膜厚推定処理の概要を示す図である。
図7は、感光体6の推定膜厚に対して行う異常判定処理の概要を示しており、縦軸が感光体6の算出膜厚Dc、横軸が感光体6の走行距離Lを示している。
算出膜厚の正常/異常を判別するために、過去に膜厚算出部30aが算出した算出膜厚値Dcと、走行距離算出部30hが算出した感光体走行距離Lとを関連付けて算出膜厚保存部30bに記憶しておき、膜厚推定部30cが感光体走行距離Lに対する算出膜厚Dc値の傾きmおよび切片を算出する(図7中の線41)。
これらの算出結果に基づいて、感光体走行距離Lから推定される推定膜厚Deを求めることができる。
膜厚推定部30cは、算出膜厚保存部30bから取得した算出膜厚Dc値に基づいて、例えば最小二乗法等で感光体走行距離Lに対する算出膜厚Dcの推移を算出することで、図7に示す線分41上に位置する推定膜厚Deを求める。
膜厚推定部30cは、複数の時点での算出膜厚Dcと走行距離Lに基づいて、最小二乗法に従って現時点の走行距離Lに対応した推定膜厚Deを算出することで、推定膜厚Deの推定精度を高めることができる。
<Overview of film thickness estimation processing>
FIG. 7 is a diagram showing an overview of film thickness estimation processing by the film thickness estimation unit 30c of the image forming apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 7 shows an outline of the abnormality determination process performed on the estimated film thickness of the photoreceptor 6. The vertical axis represents the calculated film thickness Dc of the photoreceptor 6, and the horizontal axis represents the running distance L of the photoreceptor 6. there is
In order to determine whether the calculated film thickness is normal or abnormal, the calculated film thickness value Dc calculated by the film thickness calculation unit 30a in the past is associated with the photoreceptor travel distance L calculated by the travel distance calculation unit 30h. It is stored in the storage unit 30b, and the film thickness estimating unit 30c calculates the slope m and the intercept of the calculated film thickness Dc value with respect to the photosensitive member running distance L (line 41 in FIG. 7).
Based on these calculation results, an estimated film thickness De estimated from the photoreceptor running distance L can be obtained.
Based on the calculated film thickness Dc value acquired from the calculated film thickness storage unit 30b, the film thickness estimating unit 30c calculates the transition of the calculated film thickness Dc with respect to the photoreceptor running distance L by, for example, the least squares method. An estimated film thickness De located on a line segment 41 indicated by 7 is obtained.
The film thickness estimator 30c calculates the estimated film thickness De corresponding to the current running distance L according to the least squares method based on the calculated film thickness Dc and the running distance L at a plurality of points in time. can improve the estimation accuracy of

<感光体の算出膜厚に関するばらつき影響>
図8は、膜厚算出部30aにより算出された感光体の算出膜厚Dcに関するばらつきの影響の概要を示す図である。
図8に示すように、算出膜厚Dcから得られるI-V特性の傾きmのばらつきを考慮する必要がある。
傾きmがばらつく因子としては、主に以下のようなものがある。
(1)帯電バイアスの出力電圧Vのばらつき
(2)帯電電流の検出値Iのばらつき
(3)感光体6と帯電ローラ12との間の抵抗ばらつき
これらの因子による傾きのばらつき上下限幅は、帯電バイアスを出力する回路基板や感光体6等のハードウエア系の構成による要因で決まるため、画像形成装置1の機種によって固有に決まる。傾きmのばらつき上下限幅は、算出される傾きmにはほとんど依存せず、一定値として見なしても問題ない。この上下限幅から、算出膜厚Dcのばらつきを算出することができる(図8参照)。
<Influence of Variation on Calculated Film Thickness of Photoreceptor>
FIG. 8 is a diagram showing an overview of the influence of variations in the calculated film thickness Dc of the photosensitive member calculated by the film thickness calculator 30a.
As shown in FIG. 8, it is necessary to consider variations in the slope m of the IV characteristic obtained from the calculated film thickness Dc.
Factors that cause the slope m to vary include the following.
(1) Variation in charging bias output voltage V (2) Variation in detected value I of charging current (3) Variation in resistance between photoreceptor 6 and charging roller 12 Since it is determined by the configuration of hardware such as the circuit board for outputting the charging bias and the photosensitive member 6 , it is uniquely determined depending on the model of the image forming apparatus 1 . The variation upper and lower limits of the slope m hardly depends on the calculated slope m, and there is no problem even if it is regarded as a constant value. Variations in the calculated film thickness Dc can be calculated from the upper and lower limits (see FIG. 8).

ここで、傾きの算出値mが大きい=算出膜厚Dcが小さい場合は、図8中の線45のように、傾きばらつきによる算出膜厚Dcばらつきは小さくなる。
逆に、傾きの算出値が小さい=算出膜厚が大きい場合は、図8中の線47のように、傾きばらつきによる算出膜厚Dcばらつきは大きくなる。
このように、算出膜厚Dcの結果によって算出膜厚Dcばらつきの幅が変わり、算出膜厚Dcばらつきの幅は算出膜厚Dcの値に基づいて決定できる。
Here, when the calculated value m of the slope is large=the calculated film thickness Dc is small, the variation in the calculated film thickness Dc due to the variation in slope becomes small, as indicated by the line 45 in FIG.
Conversely, when the calculated value of the slope is small=the calculated film thickness is large, the variation in the calculated film thickness Dc due to the variation in the slope increases as indicated by the line 47 in FIG.
Thus, the width of the calculated film thickness Dc variation varies depending on the result of the calculated film thickness Dc, and the width of the calculated film thickness Dc variation can be determined based on the value of the calculated film thickness Dc.

温度湿度環境によって傾きm-算出膜厚Dcの相関関係が変動するため、図8では環境影響も考慮してばらつきの幅を決定している。このため、温度湿度検知部11を用いて現在の温度湿度を検知しておき、傾きm-算出膜厚Dcの相関式を補正することで、ばらつきの幅を抑制することができる。
算出膜厚Dcのばらつきと同様の理論で、推定膜厚誤差算出部30fは、膜厚推定部30cにより求められた推定膜厚De(図7参照)に対して、推定膜厚Deに基づいて推定膜厚誤差ΔDeを算出する。例えば、下記のような1次関数により規定すると、係数αと切片βは画像形成装置1の機種に固有の実測データに基づいて決定できる。
ΔDe=α×De+β 式(1)
Since the correlation between the slope m and the calculated film thickness Dc fluctuates depending on the temperature and humidity environment, the width of the variation is determined in consideration of the environmental influence in FIG. Therefore, by detecting the current temperature/humidity using the temperature/humidity detection unit 11 and correcting the correlation equation of the slope m-calculated film thickness Dc, the range of variation can be suppressed.
Based on the same theory as the variation in the calculated film thickness Dc, the estimated film thickness error calculator 30f calculates the estimated film thickness De (see FIG. 7) obtained by the film thickness estimator 30c based on the estimated film thickness De. An estimated film thickness error ΔDe is calculated. For example, when defined by the following linear function, the coefficient α and the intercept β can be determined based on actual measurement data unique to the model of the image forming apparatus 1 .
ΔDe=α×De+β Formula (1)

なお、膜厚推定部30cは、温度湿度検知部11により検知された温度湿度情報に基づいて、推定膜厚Deを補正することで、推定膜厚Deの予測精度が高くなるという利点がある。
また、膜厚推定部30cは、温度湿度検知部11により検知された温度湿度情報に基づいて、推定膜厚誤差ΔDeを補正することで、推定膜厚誤差ΔDeの予測精度が高くなるという利点がある。
The film thickness estimator 30c corrects the estimated film thickness De based on the temperature/humidity information detected by the temperature/humidity detector 11, which has the advantage of increasing the prediction accuracy of the estimated film thickness De.
Further, the film thickness estimation unit 30c corrects the estimated film thickness error ΔDe based on the temperature and humidity information detected by the temperature/humidity detection unit 11, thereby increasing the prediction accuracy of the estimated film thickness error ΔDe. be.

膜厚範囲予測部30dは、現時点での膜厚のとりうる範囲として、膜厚範囲上限値Dmax、膜厚範囲下限値Dminを、以下の式(2)(3)により算出する。
膜厚範囲予測部30dは、推定膜厚Deに推定膜厚誤差ΔDeを加算した値から、最小磨耗速度Vsminに前回の膜厚推定時からの走行距離(Ln-Le)を乗算した値を減算して膜厚範囲上限値Dmaxを算出する。
Dmax=De+ΔDe-Vsmin×(Ln-Le) 式(2)
一方、膜厚範囲予測部30dは、推定膜厚Deから推定膜厚誤差ΔDeを減算した値から、最大磨耗速度Vsmaxに前回の膜厚推定時からの走行距離(Ln-Le)を乗算した値を減算して膜厚範囲下限値Dminを算出する。
Dmin=De-ΔDe-Vsmax×(Ln-Le) 式(3)
なお、前回の膜厚推定時からの走行距離(Ln-Le)とは、現在の走行距離Lnから前回の走行距離Leを減算した値である。
The film thickness range prediction unit 30d calculates a film thickness range upper limit value Dmax and a film thickness range lower limit value Dmin as the range that the film thickness can take at the present point in time using the following equations (2) and (3).
The film thickness range prediction unit 30d subtracts the value obtained by multiplying the minimum wear rate Vsmin by the running distance (Ln-Le) from the previous film thickness estimation from the value obtained by adding the estimated film thickness error ΔDe to the estimated film thickness De. Then, the film thickness range upper limit value Dmax is calculated.
Dmax=De+ΔDe−Vsmin×(Ln−Le) Equation (2)
On the other hand, the film thickness range prediction unit 30d obtains a value obtained by subtracting the estimated film thickness error ΔDe from the estimated film thickness De by multiplying the maximum wear rate Vsmax by the running distance (Ln−Le) from the previous film thickness estimation. is subtracted to calculate the film thickness range lower limit value Dmin.
Dmin=De−ΔDe−Vsmax×(Ln−Le) Equation (3)
The traveled distance (Ln−Le) from the previous film thickness estimation is a value obtained by subtracting the previous traveled distance Le from the current traveled distance Ln.

膜厚範囲予測部30dは、膜厚推定部30cにより算出された推定膜厚Deに基づいて、現時点の走行距離Lに対応した予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出することで、予測膜厚範囲を精度高く算出することができる。
膜厚範囲予測部30dは、推定膜厚Deと推定膜厚誤差ΔDeとに基づいて、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出することで、推定膜厚Deが薄いと膜厚推定時の推定膜厚誤差ΔDeが小さくなり、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxの予測精度が高くなるという利点がある。
The film thickness range prediction unit 30d calculates a predicted film thickness range Dmin to Dmax corresponding to the current running distance L based on the estimated film thickness De calculated by the film thickness estimation unit 30c. can be calculated with high accuracy.
The film thickness range prediction unit 30d calculates the predicted film thickness range Dmin to Dmax based on the estimated film thickness De and the estimated film thickness error ΔDe. There is an advantage that the thickness error ΔDe is reduced and the prediction accuracy of the predicted film thickness range Dmin to Dmax is increased.

なお、上述した最小磨耗速度Vsmin、最大磨耗速度Vsmaxは、それぞれ感光体膜厚が摩耗しうる最小、最大の速度を示す。最小磨耗速度Vsminと最大磨耗速度Vsmaxは、ともに画像形成装置1の機種に固有の値として決定されものであり、影響する因子は主に下記のものがある。
(1)クリーニングブレードの圧力
(2)現像ニップ(現像ローラと感光体)の押圧力
(3)環境(低温環境だとクリーニングブレードが硬くなるため摩耗し易い)
Note that the minimum wear rate Vsmin and the maximum wear rate Vsmax described above indicate the minimum and maximum rates at which the film thickness of the photoreceptor can be worn, respectively. Both the minimum wear speed Vsmin and the maximum wear speed Vsmax are determined as values specific to the model of the image forming apparatus 1, and the following are the main influencing factors.
(1) Pressure of the cleaning blade (2) Pressure of the developing nip (developing roller and photoreceptor) (3) Environment (in a low temperature environment, the cleaning blade becomes hard and easily worn)

<予測膜厚範囲>
図9は、感光体膜厚を推定する際の予測膜厚範囲Dmin~Dmaxの概要を示す図である。
一般に、感光体6の膜厚は初期状態で±10%の許容範囲が与えられており、+10%の初期膜厚を初期最大膜厚Dsmaxといい、-10%の初期膜厚を初期最小膜厚Dsminといい、それらが縦軸上の感光体の算出膜厚Dcのとりうる初期値となる。さらに縦軸上の下方に、異常が発生する膜厚の限界値を表す最小膜厚閾値Drefがある。
符号48は、最も膜厚が厚い場合の推移を表す線分である。すなわち、初期最大膜厚Dsmaxから最小摩耗速度Vsminで感光体6が削れた場合の推移を表す線分である。
一方、符号49は、最も膜厚が薄い場合の推移を表す線分である。すなわち、初期最小膜厚Dsminから最大摩耗速度Vsmaxで感光体6が削れた場合の推移を表す線分である。
図9に示す予測膜厚範囲51は、上述した膜厚範囲上限値Dmax~膜厚範囲下限値Dminの範囲として予測できる。この予測膜厚範囲51は、推定膜厚Deによって変動する。
本実施形態では、予測膜厚範囲51の膜厚範囲上限値Dmaxを超えた算出膜厚Dcの一例として、図9に示すように算出膜厚Dcu1~Dcu4があった場合、それらを全て無視する。
一方、予測膜厚範囲51の膜厚範囲下限値Dminを下回った算出膜厚Dcの一例として、図9に示すように算出膜厚Dcd1~Dcd3が3回連続して続いた場合、3回目の算出膜厚Dcd3を有効とする。
上述した計算式(2)(3)から、図8に示す理論に起因して、推定膜厚Deが薄くなるほど推定膜厚誤差ΔDeが小さくなり、予測される予測膜厚範囲Dmin~Dmaxが狭くなる。
このため、図9に示すように、感光体6の膜厚が摩耗していって推定膜厚Deが薄くなる状態(感光体走行距離Lが長い状態)であるほど、精度良く膜厚を推定することが可能になる。
<Predicted film thickness range>
FIG. 9 is a diagram showing an outline of the predicted film thickness range Dmin to Dmax when estimating the photoreceptor film thickness.
In general, the film thickness of the photoreceptor 6 is given an allowable range of ±10% in the initial state. The thickness Dsmin is a possible initial value of the calculated film thickness Dc of the photoreceptor on the vertical axis. Furthermore, below the vertical axis, there is a minimum film thickness threshold value Dref representing the limit value of the film thickness at which an abnormality occurs.
Reference numeral 48 is a line segment representing the transition when the film thickness is the thickest. That is, it is a line segment representing the transition when the photoreceptor 6 is scraped from the initial maximum film thickness Dsmax at the minimum wear rate Vsmin.
On the other hand, reference numeral 49 is a line segment representing the transition when the film thickness is the thinnest. That is, it is a line segment representing the transition when the photoreceptor 6 is scraped from the initial minimum film thickness Dsmin to the maximum wear rate Vsmax.
A predicted film thickness range 51 shown in FIG. 9 can be predicted as a range from the film thickness range upper limit value Dmax to the film thickness range lower limit value Dmin. This predicted film thickness range 51 varies depending on the estimated film thickness De.
In the present embodiment, if there are calculated film thicknesses Dcu1 to Dcu4 as shown in FIG. 9 as an example of the calculated film thickness Dc exceeding the film thickness range upper limit value Dmax of the predicted film thickness range 51, they are all ignored. .
On the other hand, as an example of the calculated film thickness Dc below the film thickness range lower limit value Dmin of the predicted film thickness range 51, when the calculated film thicknesses Dcd1 to Dcd3 continue three times as shown in FIG. The calculated film thickness Dcd3 is made valid.
From the above-described calculation formulas (2) and (3), due to the theory shown in FIG. Become.
Therefore, as shown in FIG. 9, the film thickness of the photoreceptor 6 is worn away and the estimated film thickness De becomes thinner (the photoreceptor running distance L is longer), the more accurately the film thickness can be estimated. it becomes possible to

図9は、感光体6の推定膜厚Deに対して行う異常判定処理の概要を示しており、縦軸が感光体6の算出膜厚Dc、横軸が感光体6の走行距離Lを示している。
図9に示すように、推定膜厚Deの結果から得られる予測膜厚範囲51は、感光体走行距離Lが長くなり推定膜厚Deが小さくなるほど、その感光体走行距離Lでの予測膜厚範囲Dmin~Dmaxが狭くなる。すなわち、符号51で示す第1範囲から第2範囲52に移行して予測膜厚範囲Dmin~Dmaxが狭くなる。この結果、現時点の走行距離における予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを精度良く算出することができる。
膜厚範囲予測部30dは、前回の推定膜厚Deの値が小さいほど、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxが狭くなるように算出することで、推定膜厚Deが薄いと膜厚推定時の推定膜厚誤差ΔDeが小さくなり、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxの予測精度が高くなるという利点がある。
FIG. 9 shows an outline of the abnormality determination process performed on the estimated film thickness De of the photoreceptor 6, where the vertical axis represents the calculated film thickness Dc of the photoreceptor 6 and the horizontal axis represents the running distance L of the photoreceptor 6. ing.
As shown in FIG. 9, the predicted film thickness range 51 obtained from the result of the estimated film thickness De is such that as the photoreceptor travel distance L increases and the estimated film thickness De decreases, the predicted film thickness at that photoreceptor travel distance L increases. The range Dmin to Dmax is narrowed. That is, the first range indicated by reference numeral 51 shifts to the second range 52, and the predicted film thickness range Dmin to Dmax narrows. As a result, the estimated film thickness range Dmin to Dmax at the current running distance can be calculated with high accuracy.
The film thickness range prediction unit 30d performs calculation so that the predicted film thickness range Dmin to Dmax becomes narrower as the value of the previous estimated film thickness De is smaller. There is an advantage that the film thickness error ΔDe is reduced and the prediction accuracy of the predicted film thickness range Dmin to Dmax is increased.

<異常判定処理>
次に、図9を参照して、予測膜厚範囲51外の算出膜厚Dcが算出された場合の異常判定処理について説明する。
算出膜厚Dcが膜厚範囲上限値Dmaxを越えた結果が算出された場合、算出膜厚Dcを無効とする。この際、想定より膜厚が厚い結果になるため、実際の膜厚の状態より有利な(削れていない)状態であると判断してしまう。
算出膜厚Dcの結果で感光体6の寿命を判断する場合には、算出膜厚Dcを無効として扱うことで、有利な判断がなされるというリスクを回避する。
<Abnormality determination processing>
Next, referring to FIG. 9, the abnormality determination process when the calculated film thickness Dc outside the estimated film thickness range 51 is calculated will be described.
If the calculated film thickness Dc exceeds the film thickness range upper limit value Dmax, the calculated film thickness Dc is invalidated. In this case, since the film thickness is thicker than expected, it is determined that the film thickness is more advantageous (not shaved) than the actual film thickness.
When judging the life of the photoreceptor 6 based on the calculated film thickness Dc, the calculated film thickness Dc is treated as invalid to avoid the risk of making an advantageous decision.

逆に、算出膜厚Dcが膜厚範囲下限値Dminを下回った場合、最初は算出膜厚Dcを無効として扱う。
ただし、膜厚範囲下限値Dminの下限割れ状態が真の状態だとすると、早期に判断して制御処理にフィードバックしない場合、異常画像が発生してしまうという問題がある。
そこで、範囲外の結果が出た場合は再度の膜厚検出を早期に実行し、範囲外の算出膜厚の真偽を早急に判断する。
範囲外回数計数部30dが範囲外回数を計数しておき、一定回数(例えば、3回)以上連続して算出膜厚Dcが下限割れ状態となった場合に、実際に膜厚が薄い状態になっていると判断して、下限割れの算出膜厚Dcを有効とする。
Conversely, when the calculated film thickness Dc falls below the film thickness range lower limit value Dmin, the calculated film thickness Dc is treated as invalid at first.
However, if it is true that the lower limit of the film thickness range lower limit value Dmin is broken, there is a problem that an abnormal image is generated unless it is determined early and fed back to the control process.
Therefore, when a result outside the range is obtained, the film thickness detection is performed again at an early stage, and the truth of the calculated film thickness outside the range is quickly judged.
The out-of-range number counting unit 30d counts the out-of-range number of times, and when the calculated film thickness Dc becomes the lower limit crack state continuously for a certain number of times (for example, three times), the film thickness is actually thin. Therefore, the calculated film thickness Dc for the lower limit crack is validated.

このとき、下限割れと判断する以前の算出膜厚Dcが残っていると、推定膜厚Deを推定するための傾きmが緩くなり有利側に判定してしまうという問題があるので、有効となった下限割れの算出膜厚Dcを除き、過去に算出された算出膜厚Dcは破棄するべきである。
また、上限越え状態、下限割れ状態によらず、範囲外回数計数部30d1により範囲外と判断された回数が規定の回数以上に連続した場合に、膜厚推定処理自体の信頼性が疑われるため、それ以降の推定膜厚Deの結果を制御に反映させないことで、上述した問題を回避することができる。
At this time, if the calculated film thickness Dc before it is determined to be below the lower limit remains, there is a problem that the gradient m for estimating the estimated film thickness De becomes gentle and the determination is made on the advantageous side. Calculation film thicknesses Dc calculated in the past should be discarded, except for the calculation film thickness Dc that is below the lower limit.
In addition, regardless of whether the upper limit is exceeded or the lower limit is broken, if the out-of-range number counting unit 30d1 continues to determine that it is out of range for a specified number of times or more, the reliability of the film thickness estimation process itself is suspected. , the above-described problem can be avoided by not reflecting the subsequent results of the estimated film thickness De in the control.

<メイン処理>
図10は、本発明の第1実施形態に係る画像形成装置1のメイン処理を示すフローチャートである。
ステップS5では、制御部30は、待機状態にある。
ステップS10では、制御部30は、膜厚算出実行判断を開始する。
ステップS15では、制御部30は、膜厚算出実行条件を満足するか否かを判断する。ここで、膜厚算出実行条件を満足する場合(S15、Yes)はステップS20に進む。一方、膜厚算出実行条件を満足しない場合(S15、NO)はステップS5に戻る。
ステップS20では、制御部30は、膜厚算出動作を実行する。すなわち、制御部30は、感光体6へ印加すべき電圧値を示す電圧指令値を電圧印加部24に出力する。電圧印加部24は、電圧指令値に対応した印加電圧になるように調整して、帯電ローラ12を介して感光体6に電圧を印加する。
ステップS25では、膜厚算出部30aは、帯電バイアスと帯電電流の関係から、感光体膜厚Dcを算出する。
ステップS30では、算出膜厚保存部30bは、上記算出された算出膜厚Dc、および走行距離情報Lを保存する。
ステップS35では、制御部30は、異常判定処理のサブルーチン(図11)をコールする。
<Main processing>
FIG. 10 is a flow chart showing main processing of the image forming apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention.
At step S5, the controller 30 is in a standby state.
In step S10, the control unit 30 starts the film thickness calculation execution determination.
In step S15, the control unit 30 determines whether or not the film thickness calculation execution condition is satisfied. Here, if the film thickness calculation execution condition is satisfied (S15, Yes), the process proceeds to step S20. On the other hand, if the film thickness calculation execution condition is not satisfied (S15, NO), the process returns to step S5.
In step S20, the controller 30 executes a film thickness calculation operation. That is, the control section 30 outputs a voltage command value indicating the voltage value to be applied to the photoreceptor 6 to the voltage application section 24 . The voltage application unit 24 adjusts the applied voltage so as to correspond to the voltage command value, and applies the voltage to the photoreceptor 6 via the charging roller 12 .
In step S25, the film thickness calculator 30a calculates the photosensitive member film thickness Dc from the relationship between the charging bias and the charging current.
In step S30, the calculated film thickness storage unit 30b stores the calculated film thickness Dc and the travel distance information L calculated as described above.
In step S35, the control unit 30 calls a subroutine (FIG. 11) for abnormality determination processing.

<異常判定処理>
図11は、本発明の第1実施形態に係る画像形成装置1の異常判定部30c1による異常判定処理を示すサブルーチンのフローチャートである。
上述したように、異常判定部30c1は、前回の推定膜厚Deの結果に基づいて、算出膜厚Dcが予測される予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに入っているかどうかを判断して、算出膜厚Dcが有効か無効を決定している。
ステップS110では、膜厚推定部30cは、算出膜厚保存部30bから取得した算出膜厚Dcに基づいて、現時点における推定膜厚Deを推定する。この際、膜厚推定部30cは、算出膜厚保存部30bから取得した複数の時点での算出膜厚Dcに基づいて、最小二乗法に従って現時点における推定膜厚Deを推定する。
ステップS115では、膜厚範囲予測部30dは、式(2)に基づいて、膜厚範囲上限値Dmaxを算出し、式(3)に基づいて、膜厚範囲下限値Dminを算出する。
<Abnormality determination processing>
FIG. 11 is a flowchart of a subroutine showing abnormality determination processing by the abnormality determination unit 30c1 of the image forming apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention.
As described above, the abnormality determination unit 30c1 determines whether or not the calculated film thickness Dc is within the predicted film thickness range Dmin to Dmax based on the result of the previous estimated film thickness De. The thickness Dc determines whether it is valid or invalid.
In step S110, the film thickness estimator 30c estimates the current estimated film thickness De based on the calculated film thickness Dc acquired from the calculated film thickness storage unit 30b. At this time, the film thickness estimator 30c estimates the current estimated film thickness De according to the method of least squares based on the calculated film thicknesses Dc obtained at a plurality of times from the calculated film thickness storage unit 30b.
In step S115, the film thickness range prediction unit 30d calculates the film thickness range upper limit value Dmax based on the equation (2), and calculates the film thickness range lower limit value Dmin based on the equation (3).

ステップS120では、異常判定部30c1は、最新の算出膜厚Dcが、以下の範囲(Dmin~Dmax)内に入っているか否かを判定する。
Dmin≦(最新のDc)≦Dmax 式(4)
異常判定部30c1は、次回の膜厚を推定する際に、予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmax内に推定膜厚Deが入るか否かを判定することにより推定膜厚Deが有効か無効かを判定することで、推定膜厚Deの有効/無効を判定して推定膜厚Deの精度を高めることで、さらに次の膜厚推定の精度も高めることができる。
In step S120, the abnormality determination section 30c1 determines whether or not the latest calculated film thickness Dc is within the following range (Dmin to Dmax).
Dmin≤(latest Dc)≤Dmax Equation (4)
When estimating the next film thickness, the abnormality determination unit 30c1 determines whether the estimated film thickness De is valid or invalid by determining whether or not the estimated film thickness De falls within the predicted film thickness range Dmin to Dmax. By determining whether the estimated film thickness De is valid or invalid, the accuracy of the estimated film thickness De is improved, and the accuracy of the next film thickness estimation can be further improved.

最新の算出膜厚Dcが、上記式(4)の範囲内に入っている場合には、ステップS123に進み、初期化処理として、範囲外連続回数カウンタKの値を0にする(K=0)。
次に、ステップS125に進み、最新の算出膜厚Dcを有効として判定し、メインルーチンに復帰する。
最新の算出膜厚Dcが、上記式(4)の範囲内に入っていない場合には、ステップS128に進み、範囲外回数計数部30d1は、範囲外回数のカウンタKをインクリメント(K=K+1)する。
次に、ステップS130に進み、異常判定部30c1は、範囲外回数のカウンタKが一定回数以上である場合に、連続して算出膜厚Dcが、
Dmin>(最新のDc) 式(5)
となっているか否かを判定する。
When the latest calculated film thickness Dc is within the range of the above formula (4), the process proceeds to step S123, and as initialization processing, the value of the out-of-range consecutive number counter K is set to 0 (K=0 ).
Next, in step S125, it is determined that the latest calculated film thickness Dc is valid, and the process returns to the main routine.
When the latest calculated film thickness Dc is not within the range of the above formula (4), the process advances to step S128, and the out-of-range number counter 30d1 increments the out-of-range number counter K (K=K+1). do.
Next, the process proceeds to step S130, and when the out-of-range counter K is equal to or greater than a predetermined number of times, the calculated film thickness Dc is continuously
Dmin>(latest Dc) Equation (5)
It is determined whether or not

最新の算出膜厚Dcが、上記式(5)の条件を満たす場合には、ステップS135に進み、異常判定部30c1は、最新の算出膜厚Dcを有効として判定し、メインルーチンに復帰する。
異常判定部30c1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、膜厚推定部30cによって推定された推定膜厚Deが薄膜側で範囲外となった場合の範囲外回数を計数する範囲外回数計数部30d1を備え、異常判定部30c1は、範囲外回数計数部30d1により計数された範囲外回数のカウンタKが一定の回数以上に連続して計数された場合に、薄膜側で範囲外となった推定膜厚Deを有効として判定する。
When the latest calculated film thickness Dc satisfies the condition of the above formula (5), the process proceeds to step S135, the abnormality determination section 30c1 determines that the latest calculated film thickness Dc is valid, and returns to the main routine.
When the estimated film thickness De estimated by the film thickness estimating unit 30c is out of range on the thin film side with respect to the estimated film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range predicting unit 30d, the abnormality determination unit 30c1 The abnormality determination unit 30c1 is provided with an out-of-range number counter 30d1 that counts the number of out-of-range times, and the abnormality determination unit 30c1 determines that the number of out-of-range counters K counted by the out-of-range number-of-range counting unit 30d1 has been counted continuously for a predetermined number of times or more. In this case, the estimated film thickness De that is out of range on the thin film side is determined to be valid.

異常判定部30c1は、範囲外回数計数部30d1により計数された範囲外回数が一定の回数以上に連続して計数された場合に、薄膜側で範囲外となった推定膜厚Deを有効とすることで、薄膜側の推定膜厚Dが続いた場合に、感光体6の膜厚が削れている傾向性があることと判定して、有効とすることで安全側の制御をすることができる。
異常判定部30c1は、推定膜厚Deが有効となった場合に、推定膜厚保存部30iに保存している直近の1回以上前の推定膜厚Deを破棄することで、過去の推定膜厚Deに影響されて算出される推定膜厚が厚い側で認識されることを防ぐことができる。
異常判定部30c1は、範囲外回数計数部30d1により計数された範囲外回数が一定の回数以上に連続して計数された場合に、膜厚推定部30cによって推定された推定膜厚を画像形成に係る制御に用いないことで、無効な推定膜厚を用いて異常状態が発生するという不具合を回避することができる。
The abnormality determination unit 30c1 validates the estimated film thickness De that is out of range on the thin film side when the number of out-of-range counts counted by the out-of-range count unit 30d1 is continuously counted for a predetermined number of times or more. Thus, when the estimated film thickness D on the thin film side continues, it is determined that there is a tendency that the film thickness of the photoreceptor 6 is shaved, and by validating it, control on the safe side can be performed. .
When the estimated film thickness De becomes valid, the abnormality determination unit 30c1 discards the estimated film thickness De that is stored in the estimated film thickness storage unit 30i one or more times before the most recent estimated film thickness De. It is possible to prevent the estimated film thickness calculated under the influence of the thickness De from being recognized on the thick side.
The abnormality determination unit 30c1 applies the estimated film thickness estimated by the film thickness estimation unit 30c to image formation when the out-of-range number of times counted by the out-of-range number counting unit 30d1 is continuously counted for a predetermined number of times or more. By not using it for such control, it is possible to avoid the problem that an abnormal state occurs due to the use of an invalid estimated film thickness.

最新の算出膜厚Dcが、上記式(5)の条件を満たさない場合には、ステップS140に進み、異常判定部30c1は、算出膜厚Dcを無効として判定し、メインルーチンに復帰する。
異常判定部30c1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、推定膜厚Deが厚膜側で範囲外となった場合に、推定膜厚Deを無効として判定する。
異常判定部30c1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、推定膜厚Deが厚膜側で範囲外となった場合に、推定膜厚Deを無効とすることで、実際は寿命時期に到達しているのに、まだ寿命に到達していないと判断して、異常画像を発生させるという不具合を防ぐことができる。
異常判定部30c1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、範囲外回数計数部30d1により計数された範囲外回数が一定の回数未満で連続して計数されている場合に、再度、膜厚推定部30cに膜厚推定処理を実行させることで、推定膜厚Deの異常の真偽を早期に判断することができる。
When the latest calculated film thickness Dc does not satisfy the condition of the above formula (5), the process proceeds to step S140, the abnormality determination section 30c1 determines that the calculated film thickness Dc is invalid, and returns to the main routine.
The abnormality determining unit 30c1 invalidates the estimated film thickness De when the estimated film thickness De is out of the range on the thick film side of the predicted film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range prediction unit 30d. Judge as.
The abnormality determining unit 30c1 invalidates the estimated film thickness De when the estimated film thickness De is out of the range on the thick film side of the predicted film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range prediction unit 30d. By doing so, it is possible to prevent the problem of generating an abnormal image by judging that the life has not yet been reached even though the life has actually been reached.
The abnormality determination unit 30c1 continuously counts the out-of-range number counted by the out-of-range counting unit 30d1 for the predicted film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range prediction unit 30d when the out-of-range number is less than a predetermined number. If the estimated film thickness De is abnormal, the film thickness estimating section 30c is caused to execute the film thickness estimating process again.

<第1実施形態の効果>
従来技術と異なり、算出膜厚Dcが正常であるか異常であるかを判別するために、過去の膜厚推定時の推定膜厚Deおよび感光体走行距離Lを記憶しておき、推定膜厚Deの値に対して、推定膜厚誤差ΔDeの幅が推定膜厚Deの関数で規定できる推定膜厚誤差ΔDeの上下限幅、および膜厚の磨耗速度の上下限を考慮することで、以降の膜厚値のとり得る範囲を算出することができる。
この予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxは、前回の推定膜厚Deによって変動し、膜厚が薄くなるほど範囲が狭くなり精度良く膜厚を算出することができるので、膜厚検出の結果の異常有無を判断し、精度の高い推定膜厚Deを算出することができる。
<Effect of the first embodiment>
Unlike the prior art, in order to determine whether the calculated film thickness Dc is normal or abnormal, the estimated film thickness De and the photoreceptor running distance L at the time of past film thickness estimation are stored, and the estimated film thickness With respect to the value of De, considering the upper and lower limits of the estimated film thickness error ΔDe, which can be defined by the function of the estimated film thickness De, and the upper and lower limits of the film thickness wear rate, can be calculated.
This predicted film thickness range Dmin to Dmax fluctuates depending on the previous estimated film thickness De. It is possible to determine the presence or absence of an abnormality and calculate the estimated film thickness De with high accuracy.

<第2実施形態>
第1実施形態では、ノイズ環境や湿度温度環境によってI-V特性の傾き-算出膜厚Dcの相関が変化するため、図8においては環境による影響も考慮して感光体の膜厚に関するばらつきの幅を決めている。
これに対して、第2実施形態では、温度湿度検知部11により現在の雰囲気温湿度を検知しておき、傾きm-算出膜厚Dcの相関式を補正することで、ばらつきの幅を抑制することを特徴とする。
算出膜厚Dcのばらつきと同様の理論で、推定膜厚誤差算出部30fは、図9を参照して求めた推定膜厚Deに対して、推定膜厚誤差ΔDeが推定膜厚Deに基づいて規定できる。
例えば、式(11)のような1次関数により規定すると、推定膜厚誤差ΔDe、係数α、推定膜厚De、切片βは機種固有の実測データに基づいて決定できる。
ΔDe=α×De+β 式(11)
<Second embodiment>
In the first embodiment, the correlation between the slope of the IV characteristic and the calculated film thickness Dc changes depending on the noise environment and the humidity and temperature environment. determines the width.
In contrast, in the second embodiment, the current atmospheric temperature and humidity are detected by the temperature/humidity detection unit 11, and the correlation between the slope m and the calculated film thickness Dc is corrected, thereby suppressing the width of the variation. It is characterized by
Based on the same theory as the variation in the calculated film thickness Dc, the estimated film thickness error calculator 30f calculates the estimated film thickness error ΔDe based on the estimated film thickness De obtained with reference to FIG. can be stipulated.
For example, when defined by a linear function such as Equation (11), the estimated film thickness error ΔDe, the coefficient α, the estimated film thickness De, and the intercept β can be determined based on model-specific actual measurement data.
ΔDe=α×De+β Formula (11)

感光体の使用率を計算する際に、膜厚のとりうる範囲の下限値(膜厚範囲下限値Dmin)を、下記の式(12)によって算出することができる。
膜厚範囲予測部30dは、推定膜厚Deから推定膜厚誤差ΔDeを減算した値から、最大磨耗速度Vsmaxに前回の膜厚推定時からの走行距離(Ln-Le)を乗算した値を減算して膜厚範囲下限値Dminを算出する。
Dmin=De-ΔDe-Vsmax×(Ln-Le) 式(12)
最大磨耗速度Vsmaxは、感光体の膜厚が摩耗しうる最大の速度を示す。最大磨耗速度Vsmaxは、機種に固有の値として決まるものであり、影響する因子は主に下記のものがある。
(1)クリーニングブレードの圧力
(2)現像ニップ(現像ローラと感光体)の押圧力
(3)環境(低温環境だとクリーニングブレードが硬くなるため摩耗し易い)
When calculating the usage rate of the photoreceptor, the lower limit of the possible range of film thickness (lower limit of film thickness range Dmin) can be calculated by the following equation (12).
The film thickness range prediction unit 30d subtracts the value obtained by multiplying the maximum wear rate Vsmax by the running distance (Ln−Le) from the previous film thickness estimation from the value obtained by subtracting the estimated film thickness error ΔDe from the estimated film thickness De. Then, the film thickness range lower limit value Dmin is calculated.
Dmin=De−ΔDe−Vsmax×(Ln−Le) Equation (12)
The maximum wear speed Vsmax indicates the maximum speed at which the film thickness of the photoreceptor can be worn. The maximum wear rate Vsmax is determined as a value specific to the model, and the following are the main influencing factors.
(1) Pressure of the cleaning blade (2) Pressure of the developing nip (developing roller and photoreceptor) (3) Environment (in a low temperature environment, the cleaning blade becomes hard and wears easily)

<使用率計算処理の概要>
図12は、本発明の第2実施形態に係る画像形成装置1に採用される使用率計算処理の概要を示す図である。
第2本実施形態では、感光体の使用率Urを計算する際に、異常なデータを用いて早期に感光体の寿命が終了したことと判定することを回避するために、図12に示すように、膜厚範囲下限値Dminを用いて使用率算出処理を行う。
図12では、横軸が感光体の寿命判断時に使用率Urを計算する際の感光体の走行距離L示しており、縦軸が感光体の推定膜厚Deを示している。
ところで、従来、初期の感光体の膜厚から想定される最大磨耗速度Vsmaxで感光体6が削れた場合の推定最小膜厚Dmin_cal(符号49)に基づいて、使用率Ur(%)を計算していた。
ここで、推定最小膜厚Dmin_calは、式(13)に示すように、初期膜厚Dsから、最大磨耗速度Vsmaxに感光体の走行距離Lを乗算した値を減算して算出する。
Dmin_cal=Ds-Vsmax×L 式(13)
<Overview of usage rate calculation processing>
FIG. 12 is a diagram showing an overview of usage rate calculation processing employed in the image forming apparatus 1 according to the second embodiment of the present invention.
In the second embodiment, in order to avoid prematurely determining that the life of the photoreceptor has ended using abnormal data when calculating the usage rate Ur of the photoreceptor, as shown in FIG. Then, the usage rate calculation process is performed using the film thickness range lower limit value Dmin.
In FIG. 12, the horizontal axis indicates the running distance L of the photoreceptor when calculating the usage rate Ur when judging the life of the photoreceptor, and the vertical axis indicates the estimated film thickness De of the photoreceptor.
By the way, conventionally, the usage rate Ur (%) is calculated based on the estimated minimum film thickness Dmin_cal (reference numeral 49) when the photoreceptor 6 is scraped at the maximum wear rate Vsmax assumed from the initial film thickness of the photoreceptor. was
Here, the estimated minimum film thickness Dmin_cal is calculated by subtracting a value obtained by multiplying the maximum wear rate Vsmax by the running distance L of the photosensitive member from the initial film thickness Ds, as shown in Equation (13).
Dmin_cal=Ds−Vsmax×L Formula (13)

第2実施形態では、前回の膜厚推定時の推定膜厚Deに基づいて膜厚範囲下限値Dminを算出しておき、この膜厚範囲下限値Dminに基づいて使用率Urを計算することで、膜厚推定の度により精度の高い使用率Urを算出することを特徴とする。
膜厚範囲下限値Dminは、図12において符号62で示す。
この最大磨耗膜厚Dsmaxと膜厚範囲下限値Dminを比較して、Dmin<Dmin_calとなる範囲64では、推定最小膜厚Dmin_calに基づいて、使用率Urを算出する。
一方、Dmin>Dmin_calとなる範囲65では、膜厚範囲下限値Dminに基づいて、使用率Urを算出する。
このように、推定最小膜厚Dmin_calと膜厚範囲下限値Dminのうち値の大きい方を使用率Urの計算に用いることで、使用率Urと感光体の寿命判断の精度をより向上することができる。この理由は、実際の感光体6の膜厚が最大摩耗膜厚よりも小さくならことに起因している。
ノイズの影響によって、膜厚範囲下限値Dmin(符号62)が異常な値となっていることが考えられるため、この場合、膜厚範囲下限値Dminを感光体6の使用率計算に用いない。
また、推定膜厚誤差ΔDeは、上述した式(12)により、感光体6が摩耗するに従って、推定膜厚誤差ΔDeの精度を向上することができる。
なお、図12に示す符号63は、使用率Urの計算に用いる膜厚値である。
これに伴い、感光体6の走行距離Lが長く、膜厚が薄い方が、膜厚推定の精度を向上することができる。このため、第2実施形態では、感光体の走行距離Lがある閾値を超えてから感光体の膜厚推定や使用率Urの計算を実施することで、より精度を向上することができる。
In the second embodiment, the film thickness range lower limit value Dmin is calculated based on the estimated film thickness De at the time of the previous film thickness estimation, and the usage rate Ur is calculated based on this film thickness range lower limit value Dmin. , the usage rate Ur is calculated with higher accuracy depending on the degree of film thickness estimation.
The film thickness range lower limit value Dmin is indicated by reference numeral 62 in FIG.
This maximum wear film thickness Dsmax is compared with the film thickness range lower limit value Dmin, and in the range 64 where Dmin<Dmin_cal, the usage rate Ur is calculated based on the estimated minimum film thickness Dmin_cal.
On the other hand, in the range 65 where Dmin>Dmin_cal, the usage rate Ur is calculated based on the film thickness range lower limit value Dmin.
In this way, by using the larger one of the estimated minimum film thickness Dmin_cal and the film thickness range lower limit value Dmin to calculate the usage rate Ur, it is possible to further improve the accuracy of determining the usage rate Ur and the life of the photoreceptor. can. The reason for this is that the actual film thickness of the photoreceptor 6 is smaller than the maximum abrasion film thickness.
It is conceivable that the film thickness range lower limit value Dmin (reference numeral 62) has become an abnormal value due to the influence of noise.
Further, the accuracy of the estimated film thickness error ΔDe can be improved as the photoreceptor 6 wears according to Equation (12) described above.
Reference numeral 63 shown in FIG. 12 denotes a film thickness value used for calculating the usage rate Ur.
Accompanying this, the accuracy of film thickness estimation can be improved when the traveling distance L of the photosensitive member 6 is long and the film thickness is thin. Therefore, in the second embodiment, the accuracy can be further improved by estimating the thickness of the photosensitive member and calculating the usage rate Ur after the running distance L of the photosensitive member exceeds a certain threshold value.

<使用率算出処理>
図13は、本発明の第2実施形態に係る画像形成装置1による使用率算出処理を示すフローチャートである。
ステップS210では、比較部30kは、感光体6の走行距離Lが閾値Lrefよりも大きいか否かを判定する。
感光体6の走行距離Lが閾値Lrefよりも大きい場合には、ステップS215に進み、膜厚範囲予測部30dは、前回の推定膜厚Deに基づいて、膜厚範囲下限値Dminを算出する。
すなわち、膜厚範囲予測部30dは、推定膜厚Deから推定膜厚誤差ΔDeを減算した値から、最大磨耗速度Vsmaxに前回の膜厚推定時からの走行距離(Ln-Le)を乗算した値を減算して膜厚範囲下限値Dminを算出する。
Dmin=De-ΔDe-Vsmax×(Ln-Le) 式(14)
<Usage rate calculation processing>
FIG. 13 is a flowchart showing usage rate calculation processing by the image forming apparatus 1 according to the second embodiment of the present invention.
In step S210, the comparison unit 30k determines whether or not the traveling distance L of the photoreceptor 6 is greater than the threshold value Lref.
When the traveling distance L of the photoreceptor 6 is greater than the threshold Lref, the process proceeds to step S215, and the film thickness range prediction unit 30d calculates the film thickness range lower limit value Dmin based on the previous estimated film thickness De.
That is, the film thickness range prediction unit 30d obtains a value obtained by subtracting the estimated film thickness error ΔDe from the estimated film thickness De and multiplying the maximum wear rate Vsmax by the running distance (Ln−Le) from the previous film thickness estimation. is subtracted to calculate the film thickness range lower limit value Dmin.
Dmin=De−ΔDe−Vsmax×(Ln−Le) Equation (14)

なお、推定膜厚誤差ΔDeは、前回の推定膜厚Deから今回の推定膜厚Deを減算して計算する。
膜厚範囲予測部30dは、前回の推定膜厚Deに基づく推定膜厚誤差ΔDeを用いて、現時点の走行距離Lに対応した予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出することで、感光体6の膜厚が減少するに従って推定膜厚誤差ΔDeが低下するため、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxの予測の精度を向上することができる。
The estimated film thickness error ΔDe is calculated by subtracting the current estimated film thickness De from the previous estimated film thickness De.
The film thickness range prediction unit 30d calculates the predicted film thickness range Dmin to Dmax corresponding to the current running distance L using the estimated film thickness error ΔDe based on the previous estimated film thickness De. Since the estimated film thickness error ΔDe decreases as the film thickness decreases, the accuracy of prediction of the predicted film thickness range Dmin to Dmax can be improved.

ステップS220では、比較部30kは、膜厚範囲下限値Dminが最大摩耗膜厚よりも大きいか否かを判定する。
膜厚範囲下限値Dminが推定最小膜厚Dmin_calよりも大きい場合(範囲64)には、ステップS225に進み、使用率計算部30gは、膜厚範囲下限値Dminを用いて使用率Urを算出する。
すなわち、使用率計算部30gは、膜厚範囲予測部30dにより予測された膜厚範囲下限値Dmin(式(14))に基づいて、感光体6の使用率Urを計算する。初期膜厚Ds、異常画像を出さないために必要な膜厚Drefとして、初期膜厚からの削れ量Ds-Dminと削れ許容量Ds-Drefとの比率から使用率Urが計算できる。
Ur=(Ds-Dmin)÷(Ds-Dref)×100 式(15)
使用率計算部30gは、予測膜厚範囲下限値Dminに基づいて、感光体6の使用率を計算することで、使用率計算の精度を向上することができる。
使用率計算部30gは、走行距離算出部30hにより算出された感光体6の走行距離Lが一定の閾値を超えた後に、予測膜厚範囲下限値Dminに基づいて、感光体6の使用率を計算することで、感光体6の使用率の予測の精度を向上することができる。
In step S220, the comparison unit 30k determines whether or not the film thickness range lower limit value Dmin is greater than the maximum wear film thickness.
If the film thickness range lower limit value Dmin is larger than the estimated minimum film thickness Dmin_cal (range 64), the process proceeds to step S225, and the usage rate calculation unit 30g uses the film thickness range lower limit value Dmin to calculate the usage rate Ur. .
That is, the usage rate calculator 30g calculates the usage rate Ur of the photoreceptor 6 based on the film thickness range lower limit value Dmin (equation (14)) predicted by the film thickness range prediction section 30d. Using the initial film thickness Ds and the film thickness Dref required to prevent an abnormal image from appearing, the usage rate Ur can be calculated from the ratio between the scraping amount Ds−Dmin from the initial film thickness and the scraping allowable amount Ds−Dref.
Ur = (Ds-Dmin)/(Ds-Dref) x 100 Formula (15)
The usage rate calculation unit 30g can improve the accuracy of the usage rate calculation by calculating the usage rate of the photoreceptor 6 based on the predicted film thickness range lower limit value Dmin.
After the travel distance L of the photoreceptor 6 calculated by the travel distance calculation unit 30h exceeds a certain threshold value, the usage rate calculation unit 30g calculates the usage rate of the photoreceptor 6 based on the predicted film thickness range lower limit value Dmin. By calculating, the accuracy of prediction of the usage rate of the photoreceptor 6 can be improved.

一方、感光体6の走行距離Lが閾値Lrefよりも大きくない場合(S210、No)、又は膜厚範囲下限値Dminが推定最小膜厚Dmin_calよりも大きくない場合(範囲65)には、ステップS230に進み、使用率計算部30gは、推定最小膜厚Dmin_cal(式(13))を用いて感光体6の使用率Urを算出する。
Ur=(Ds-Dmin_cal)÷(Ds-Dref)×100 式(16)
使用率計算部30gは、予測膜厚範囲下限値Dmin、又は推定最小膜厚Dmin_calの大きい方の値に基づいて感光体6の使用率を計算するが、すでにプロセスカートリッジのID情報等に記録されている使用率情報と比較して、計算された使用率Urが下回る場合、使用率が減少してユーザが混乱しないよう、すでにID情報等に記録されている使用率情報のまま更新しないこととする。
On the other hand, if the running distance L of the photosensitive member 6 is not greater than the threshold value Lref (S210, No), or if the film thickness range lower limit value Dmin is not greater than the estimated minimum film thickness Dmin_cal (range 65), step S230 , the usage rate calculator 30g calculates the usage rate Ur of the photoreceptor 6 using the estimated minimum film thickness Dmin_cal (equation (13)).
Ur=(Ds−Dmin_cal)÷(Ds−Dref)×100 Equation (16)
The usage rate calculator 30g calculates the usage rate of the photoreceptor 6 based on the larger value of the predicted film thickness range lower limit value Dmin or the estimated minimum film thickness Dmin_cal, which is already recorded in the ID information of the process cartridge. When the calculated usage rate Ur is lower than the usage rate information already recorded, the usage rate information already recorded in the ID information, etc., should not be updated so that the usage rate decreases and the user is not confused. do.

<第2実施形態の効果>
従来技術と異なり、算出膜厚Dcが正常であるのか異常であるのか判別するために、過去の膜厚推定時の推定膜厚De及び感光体走行距離Lを記憶しておき、感光体走行距離Lに対する膜厚値の傾きαおよび切片βを算出する。これらの算出結果に基づいて、感光体走行距離Lから想定される推定膜厚Deを推定することができる。
感光体6の寿命を判断する際に、直近の推定膜厚Deと、推定膜厚Deに基づく推定膜厚誤差ΔDeに基づいて膜厚の取りうる範囲の下限値である膜厚範囲下限値Dminを算出する。
この下限値を用いて使用率Urを計算して、寿命を判断する。この膜厚範囲下限値Dminは前回の推定膜厚Deに基づいており、感光体の走行距離Lが増えて膜厚が薄くなるほど精度のよい使用率Urの算出が可能となるので、推定膜厚Deに基づいて膜厚の取りうる範囲を考慮することで、精度の高い感光体の使用率Urを算出することができる。
<Effects of Second Embodiment>
Unlike the prior art, in order to determine whether the calculated film thickness Dc is normal or abnormal, the estimated film thickness De and the photoreceptor running distance L at the time of past film thickness estimation are stored, and the photoreceptor running distance is stored. The slope α and the intercept β of the film thickness value with respect to L are calculated. Based on these calculation results, an estimated film thickness De can be estimated from the travel distance L of the photosensitive member.
A film thickness range lower limit value Dmin, which is the lower limit value of the possible range of film thicknesses when judging the life of the photosensitive member 6, based on the most recent estimated film thickness De and an estimated film thickness error ΔDe based on the estimated film thickness De. Calculate
Using this lower limit value, the usage rate Ur is calculated to judge the service life. This film thickness range lower limit value Dmin is based on the previous estimated film thickness De. By considering the possible range of the film thickness based on De, the usage rate Ur of the photosensitive member can be calculated with high accuracy.

<第3実施形態>
<制御部>
図14は、本発明の第3実施形態に係る画像形成装置の主要部の構成を示す機能ブロック図である。なお、図14に示す符号のうち、図3に示す符号と同一のものについては同様の構成であるので、その説明を省略する。
第3実施形態では、使用可能残日数算出部30p、推定膜厚・日時情報保存部30p1、差分値判定部30p2、経過日数判定部30p3、を備えることを特徴とする。
<Third Embodiment>
<Control unit>
FIG. 14 is a functional block diagram showing the configuration of main parts of an image forming apparatus according to the third embodiment of the invention. 14 that are the same as those shown in FIG. 3 have the same configuration, and description thereof will be omitted.
The third embodiment is characterized by including a usable remaining days calculation unit 30p, an estimated film thickness/date/time information storage unit 30p1, a difference value determination unit 30p2, and an elapsed days determination unit 30p3.

使用可能残日数算出部30pは、膜厚範囲の下限値に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数を算出する。
使用可能残日数算出部30pは、膜圧推定部30cにより算出される現時点での推定膜厚、及び日時情報と、推定膜厚・日時情報保存部30p1から取得した感光体の走行距離がある閾値を超えた時点での推定膜厚、及び日時情報に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数を算出する。
使用可能残日数算出部30pは、膜圧推定部30cにより算出される現時点での推定膜厚、及び日時情報と、推定膜厚・日時情報保存部30p1から取得した推定膜厚がある閾値以下となった時の推定膜厚、及び日時情報に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数を算出する。
使用可能残日数算出部30pは、差分値判定部30p2が、ある時点から現時点までの推定膜厚の差分値が一定閾値以上となったと判定した場合に、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数を算出する。
使用可能残日数算出部30pは、経過日数判定部30p3が、ある時点から現時点までの経過日数が一定の閾値以上となったと判定した場合に、感光体、乃び現像部の使用可能残日数を算出する。
The remaining usable days calculation unit 30p calculates the remaining usable days of the photosensitive member 6 and the developing unit 7 based on the lower limit value of the film thickness range.
The remaining usable days calculation unit 30p calculates the current estimated film thickness calculated by the film thickness estimation unit 30c, the date and time information, and the travel distance of the photoreceptor obtained from the estimated film thickness/date and time information storage unit 30p1. is calculated based on the estimated film thickness at the time of exceeding , and the date and time information.
The remaining usable days calculation unit 30p calculates the current estimated film thickness and date/time information calculated by the film thickness estimation unit 30c, and the estimated film thickness acquired from the estimated film thickness/date/time information storage unit 30p1. Based on the estimated film thickness and the date and time information, the remaining usable days of the photoreceptor 6 and the developing section 7 are calculated.
When the difference value determination unit 30p2 determines that the difference value of the estimated film thickness from a certain time to the current time is equal to or greater than a certain threshold value, the remaining usable days calculation unit 30p determines that the photoreceptor 6 and the development unit 7 Calculate the number of remaining usable days.
The remaining usable days calculation unit 30p calculates the remaining usable days of the photoreceptor and the developing unit when the elapsed days determination unit 30p3 determines that the number of days elapsed from a certain point to the present time is equal to or greater than a certain threshold. calculate.

推定膜厚・日時情報保存部30p1は、走行距離算出部30hにより算出された感光体の走行距離がある閾値を超えた時点での推定膜厚、及び日時情報を保存する。
差分値判定部30p2は、ある時点から現時点までの推定膜厚の差分値が一定の閾値以上であるか否かを判定する。
経過日数判定部30p3は、ある時点から現時点までの経過日数が一定の閾値以上であるか否かを判定する。
The estimated film thickness/date and time information storage unit 30p1 stores the estimated film thickness and date and time information at the time when the running distance of the photosensitive member calculated by the running distance calculation unit 30h exceeds a certain threshold.
The difference value determination unit 30p2 determines whether or not the difference value of the estimated film thickness from a certain time to the current time is equal to or greater than a certain threshold.
The elapsed days determination unit 30p3 determines whether or not the number of elapsed days from a certain time point to the present time is equal to or greater than a certain threshold.

<使用可能残日数算出処理の概要>
使用可能残日数算出部30pは、前述した推定膜厚Deや使用率Urに基づいて、現像部7の使用可能残日数を算出する。使用可能残日数算出部30pが、使用可能残日数を算出することで、ユーザやサービスマンが新しい現像部7を準備するまでのおおよその期間を把握しやすくなる。
使用可能残日数算出部30pは、式(17)に基づいて、100[%]から使用率Ur[%]を減算した値から、使用率Ur[%]を除算し、その値を交換年月日からの使用日数Duを除算して使用可能残日数Dlを算出する。
Dl=(100-Ur[%])÷(Ur[%]÷Du) 式(17)
<Summary of Remaining Available Days Calculation Process>
The remaining usable days calculation unit 30p calculates the remaining usable days of the developing unit 7 based on the estimated film thickness De and the usage rate Ur described above. By calculating the remaining usable days by the remaining usable days calculating section 30p, it becomes easier for the user or the service person to grasp the approximate period until the new developing section 7 is prepared.
Based on the formula (17), the remaining usable days calculation unit 30p divides the value obtained by subtracting the usage rate Ur [%] from 100 [%] by the usage rate Ur [%], and calculates the replacement date The number of remaining days of use Dl is calculated by dividing the number of days of use Du from the day.
Dl = (100-Ur [%]) ÷ (Ur [%] ÷ Du) Equation (17)

ここで、使用可能残日数算出部30pは、式(18)に基づいて、初期膜厚Dsから現時点の推定膜厚Deを減算した値を、初期膜厚Dsから閾値Drefを減算した値で除算し、さらにその値に100を乗算して使用率Ur[%]を算出する。
Ur[%]=(Ds-De)÷(Ds-Dref)×100 式(18)
Here, the remaining usable days calculation unit 30p divides the value obtained by subtracting the current estimated film thickness De from the initial film thickness Ds by the value obtained by subtracting the threshold value Dref from the initial film thickness Ds based on the equation (18). Then, the value is multiplied by 100 to calculate the usage rate Ur [%].
Ur [%] = (Ds-De)/(Ds-Dref) x 100 Equation (18)

さらに、使用可能残日数算出部30pは、式(19)に基づいて、現時点の推定膜厚Deから閾値Derefを減算した値を、初期膜厚Dsから現時点の推定膜厚Deを減算した値で除算し、さらにその値を感光体6の交換年月日からの使用日数Duで除算して、使用可能残日数を算出する。
Dl=(De-Deref)÷((Ds-De)÷Du) 式(19)
となる。
一般的には、下記のように感光体6の走行距離Lや印刷枚数Npに基づいて、使用可能残日数Dlを算出する。
Further, the remaining usable days calculation unit 30p calculates the value obtained by subtracting the threshold value Deref from the current estimated film thickness De based on the equation (19) as the value obtained by subtracting the current estimated film thickness De from the initial film thickness Ds. Further, the value is divided by the number of days Du of use from the replacement date of the photoreceptor 6 to calculate the remaining number of usable days.
Dl = (De-Deref)/((Ds-De)/Du) Equation (19)
becomes.
Generally, the remaining usable days Dl are calculated based on the traveling distance L of the photoreceptor 6 and the number of printed sheets Np as follows.

使用可能残日数算出部30pは、式(20)に基づいて、寿命規定走行距離Ldから現時点の感光体の走行距離Lを減算した値を算出し、その算出値を、現時点の感光体6の走行距離Lを交換年月日からの使用日数Duで除算した値で除算して、使用可能残日数Dlを算出する。
Dl=(Ld-L)÷(L÷Du) 式(20)
The remaining usable days calculation unit 30p calculates a value obtained by subtracting the current travel distance L of the photoreceptor from the specified life travel distance Ld based on the formula (20). The remaining number of usable days Dl is calculated by dividing the travel distance L by the number of days Du from the date of replacement.
Dl = (Ld-L)/(L/Du) Equation (20)

または、使用可能残日数算出部30pは、式(21)に基づいて、寿命枚数Nlから現時点の印刷枚数Npを減算した値を算出し、その算出値を、現時点の印刷枚数Npを交換年月日からの使用日数Duで除算した値で除算して、使用可能残日数Dlを算出する。
Dl=(Nl-Np)÷(Np÷Du) 式(21)
寿命により規定される走行距離Ldや枚数Nは感光体膜厚Dに対して余裕度のある値に設定されるため、実際にはさらに長く感光体6(現像部7)を使用することができる。
前述した推定膜厚Deに基づいて使用率Urを算出し、その使用率Urに基づいて使用可能残日数Dlを計算することで使用可能残日数Dlが膜厚と関連付けできる。それにより使用可能残日数Dlの精度を高くすることが可能となる。
Alternatively, the remaining usable days calculation unit 30p calculates a value obtained by subtracting the current number of printed sheets Np from the number of sheets of life Nl based on the expression (21), and calculates the calculated value by subtracting the current number of printed sheets Np from the replacement date. The number of remaining usable days Dl is calculated by dividing by the value obtained by dividing by the number of days of use Du.
Dl = (Nl - Np) ÷ (Np ÷ Du) Equation (21)
Since the running distance Ld and the number of sheets N, which are defined by the life, are set to values with a margin for the photoreceptor film thickness D, the photoreceptor 6 (developing section 7) can actually be used for a longer time. .
By calculating the usage rate Ur based on the estimated film thickness De described above and calculating the remaining usable days Dl based on the usage rate Ur, the remaining usable days Dl can be associated with the film thickness. This makes it possible to improve the accuracy of the remaining usable days Dl.

<感光体の走行距離と膜厚>
図15は、感光体の走行距離Lと膜厚Dの関係を示すグラフ図である。
図8及び図15に示すように、感光体の膜厚Dが厚い初期の状態、すなわち、感光体の走行距離が短い状態では、図15に示すように、推定膜厚Deの範囲が広くなっており、推定膜厚Deの精度が低下している。
このため、ある程度、膜が削れて膜厚Dが薄くなった状態を起点に使用可能残日数Dlを算出することで、より使用可能残日数Dlの算出精度を高くすることができる。
使用可能残日数算出部30pは、式(22)に基づいて、現時点の推定膜厚Deから閾値Drefを減算した値を、感光体の走行距離Lが進んだある時点での推定膜厚De(図15中のP3)から現時点の推定膜厚Deを減算した値で除算し、さらにその値を感光体の走行距離Lが進んだある時点からの経過日数Dpで除算して、使用可能残日数Dlを算出する。
Dl=(De-Dref)÷((De-De)÷Dp) 式(22)
使用可能残日数算出部30pが、使用可能残日数Dlを式(22)に従って求めることで、推定膜厚Deの精度が高い状態のデータのみに基づいた使用可能残日数Dlを予測することが可能となる。
<Travel distance and film thickness of photoreceptor>
FIG. 15 is a graph showing the relationship between the traveling distance L of the photosensitive member and the film thickness D. As shown in FIG.
As shown in FIGS. 8 and 15, in the initial state where the film thickness D of the photoreceptor is large, that is, when the travel distance of the photoreceptor is short, the range of the estimated film thickness De is widened as shown in FIG. , and the accuracy of the estimated film thickness De is degraded.
Therefore, by calculating the remaining usable days Dl from a state in which the film has been shaved to some extent and the film thickness D has become thin, the calculation accuracy of the remaining usable days Dl can be further improved.
Based on the equation (22), the remaining usable days calculation unit 30p calculates a value obtained by subtracting the threshold value Dref from the estimated film thickness De at the present time as the estimated film thickness De ( P3) in FIG. 15 is divided by the value obtained by subtracting the estimated film thickness De at the present time, and this value is further divided by the elapsed days Dp from a certain point in time when the traveling distance L of the photoreceptor has progressed. Calculate Dl.
Dl = (De-Dref)/((De-De)/Dp) Equation (22)
The remaining usable days calculation unit 30p obtains the remaining usable days Dl according to the formula (22), so that it is possible to predict the remaining usable days Dl based only on the data in which the estimated film thickness De is highly accurate. becomes.

また、後述する差分値判定部30p2により、推定膜厚差分値ΔDeを判定した結果に起因して、使用可能残日数算出部30pは、式(23)に基づいて、現時点の推定膜厚Deから閾値Drefを減算した値を、推定膜厚Deが所定値以下となった時点での値De1(図15中のP4)から現時点の推定膜厚Deを減算した値で除算し、さらに、その値を推定膜厚Deが所定膜厚Dとなった時点からの経過日数Dpで除算して、使用可能残日数Dlを算出する。
Dl=(De-Dref)÷((De1-De)÷Dp) 式(23)
使用可能残日数算出部30pが、使用可能残日数Dlを式(23)に従って求めることで、推定膜厚Deの精度が高い状態のデータのみに基づいた使用可能残日数Dlを予測することが可能となる。
In addition, due to the result of determination of the estimated film thickness difference value ΔDe by the difference value determination unit 30p2, which will be described later, the remaining usable days calculation unit 30p calculates the current estimated film thickness De from the current estimated film thickness De based on the equation (23). The value obtained by subtracting the threshold value Dref is divided by the value obtained by subtracting the current estimated film thickness De from the value De1 (P4 in FIG. 15) at the time when the estimated film thickness De becomes equal to or less than a predetermined value. is divided by the number of days Dp that has passed since the estimated film thickness De became the predetermined film thickness D, to calculate the remaining usable days Dl.
Dl = (De-Dref)/((De1-De)/Dp) Equation (23)
The remaining usable days calculation unit 30p obtains the remaining usable days Dl according to the formula (23), so that it is possible to predict the remaining usable days Dl based only on the data in which the estimated film thickness De is highly accurate. becomes.

<推定膜厚差分値>
ここで、差分値判定部30p2は、式(24)に基づいて、感光体走行距離Lが進んだある時点での推定膜厚Det1から現時点の推定膜厚Detnを減算した値を推定膜厚差分値ΔDeとして算出する。
ΔDe=(Det1-Detn) 式(24)
そして、差分値判定部30p2は、ある時点から現時点までの推定膜厚差分値ΔDeが一定の閾値以上であるか否かを判定する。
<Estimated film thickness difference value>
Here, the difference value determination unit 30p2 subtracts the current estimated film thickness Detn from the estimated film thickness Det1 at a certain point in time when the photoreceptor travel distance L has progressed, based on the equation (24). It is calculated as the value ΔDe.
ΔDe = (Det1-Detn) Equation (24)
Then, the difference value determination unit 30p2 determines whether or not the estimated film thickness difference value ΔDe from a certain time point to the current time point is equal to or greater than a certain threshold.

または、差分値判定部30p2は、式(25)に基づいて、所定膜厚Dから現時点の推定膜厚Deを減算した値を推定膜厚差分値ΔDeとして算出する。
ΔDe=(D-De) 式(25)
そして、差分値判定部30p2は、ある時点から現時点までの推定膜厚差分値ΔDeが一定の閾値以上であるか否かを判定する。
式(24)または式(25)により算出された推定膜厚差分値ΔDeが、ある程度大きな値であれば、膜削れレート(1日当たりの膜削れ量)の推測に誤差が生じ易いため、推定膜厚Deに基づいて使用可能残日数Dlを算出する時期は、推定膜厚Deがある閾値Derefよりも小さくなった時点から行うことが望ましい。
Alternatively, the difference value determination unit 30p2 calculates a value obtained by subtracting the current estimated film thickness De from the predetermined film thickness D as the estimated film thickness difference value ΔDe based on Equation (25).
ΔDe = (D-De) Equation (25)
Then, the difference value determination unit 30p2 determines whether or not the estimated film thickness difference value ΔDe from a certain time point to the current time point is equal to or greater than a certain threshold.
If the estimated film thickness difference value ΔDe calculated by the equation (24) or (25) is a large value to some extent, an error is likely to occur in estimating the film abrasion rate (amount of film abrasion per day). It is desirable to start calculating the remaining usable days Dl based on the thickness De when the estimated film thickness De becomes smaller than a certain threshold value Deref.

同様の理由で、経過日数判定部30p3は、ある時点から現時点までの経過日数が一定の閾値以上であるか否かを判定する。
感光体走行距離Lが進んだある時点からの経過日数Dp、または、推定膜厚Deが所定膜厚となった時点からの経過日数Dpがある閾値Dprefを超えた時点から使用可能残日数Dlを算出することが望ましい。
For the same reason, the elapsed days determining unit 30p3 determines whether or not the number of elapsed days from a certain time to the current time is equal to or greater than a certain threshold.
Elapsed days Dp from a certain point in time when the photoreceptor running distance L has progressed, or the elapsed days Dp from the point in time when the estimated film thickness De reaches a predetermined film thickness, and the remaining usable days Dl from the point in time when a certain threshold value Dpref is exceeded. It is desirable to calculate

<第3実施形態の効果>
従来技術と異なり、使用可能残日数算出部30pが、予測膜厚範囲の下限値に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することで、枚数や走行距離情報から算出するよりも使用可能残日数Dlの予測精度を向上することができる。
膜圧推定部30cにより算出される現時点での推定膜厚、及び日時情報と、推定膜厚・日時情報保存部30p1から取得した感光体の走行距離がある閾値を超えた時点での推定膜厚、及び日時情報に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することで、膜削れレートの予測精度が向上し、使用可能残日数Dlの予測精度を向上することができる。
膜圧推定部30cにより算出される現時点での推定膜厚、及び日時情報と、推定膜厚・日時情報保存部30p1から取得した推定膜厚がある閾値以下となった時の推定膜厚、及び日時情報に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することで、膜削れレートの予測精度が向上し、使用可能残日数Dlの算出精度を向上することができる。
ある時点から現時点までの推定膜厚差分値ΔDeが一定閾値以上となったと判定した場合に、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することで、測定誤差の影響を受けることなく、使用可能残日数Dlの算出精度を向上することができる。
ある時点から現時点までの経過日数が一定の閾値以上となったと判定した場合に、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することで、測定誤差の影響を受けることなく、使用可能残日数Dlの算出精度を向上することができる。
<Effect of the third embodiment>
Unlike the conventional technology, the remaining usable days calculation unit 30p calculates the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 based on the lower limit of the estimated film thickness range. It is possible to improve the prediction accuracy of the remaining usable days Dl rather than calculating from information.
Current estimated film thickness calculated by the film thickness estimating unit 30c, date and time information, and estimated film thickness at the time when the traveling distance of the photosensitive member obtained from the estimated film thickness/date and time information storage unit 30p1 exceeds a certain threshold , and the date and time information, the remaining days Dl of usage of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 are calculated, thereby improving the prediction accuracy of the film scraping rate and the prediction accuracy of the remaining days Dl of usage. be able to.
The current estimated film thickness calculated by the film thickness estimating unit 30c and date and time information, the estimated film thickness when the estimated film thickness obtained from the estimated film thickness/date and time information storage unit 30p1 is equal to or less than a certain threshold, and By calculating the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 based on the date and time information, it is possible to improve the prediction accuracy of the film scraping rate and improve the calculation accuracy of the remaining usable days Dl. can.
When it is determined that the estimated film thickness difference value ΔDe from a certain point to the present time is equal to or greater than a certain threshold, the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 are calculated to reduce the effect of the measurement error. It is possible to improve the calculation accuracy of the remaining usable days Dl.
When it is determined that the number of days elapsed from a certain point in time to the present time is equal to or greater than a certain threshold value, the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 are calculated, thereby preventing the effects of measurement errors. , the calculation accuracy of the remaining usable days Dl can be improved.

<本実施形態の態様例の作用、効果のまとめ>
<第1態様>
本態様の画像形成装置1は、周回する感光体6の周面を帯電させる帯電ローラ12に帯電バイアスを印加する電圧印加部24と、帯電ローラ12から感光体6に流れる出力電流を表すフィードバック信号を生成する電流電圧検知部19と、を備えた画像形成装置であって、帯電ローラ12に印加された帯電バイアスに係る電圧V、及び感光体6に流れる出力電流に係る電流Iに基づいて、感光体6の膜厚を算出する膜厚算出部30aと、帯電中の感光体6の走行距離Lを算出する走行距離算出部30hと、膜厚算出部30aによって算出された算出膜厚Dcに走行距離Lを関連付けして保存する算出膜厚保存部30iと、算出膜厚保存部30iから取得した複数の時点での算出膜厚Dcと走行距離Lに基づいて、現時点における推定膜厚Deを算出する膜厚推定部30cと、膜厚推定部30cにより算出された推定膜厚Deに基づいて、現時点の走行距離Lに対応した予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出する膜厚範囲予測部30dと、を備えることを特徴とする。
本態様によれば、推定膜厚Deに基づいて、現時点の走行距離Lに対応した予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出することで、予測膜厚範囲を精度高く算出することができる。
<Summary of Actions and Effects of Mode Examples of the Present Embodiment>
<First aspect>
The image forming apparatus 1 of this embodiment includes a voltage applying section 24 that applies a charging bias to the charging roller 12 that charges the circumferential surface of the rotating photoreceptor 6, and a feedback signal representing the output current flowing from the charging roller 12 to the photoreceptor 6. based on the voltage V associated with the charging bias applied to the charging roller 12 and the current I associated with the output current flowing through the photoreceptor 6, A film thickness calculation unit 30a for calculating the film thickness of the photoreceptor 6, a travel distance calculation unit 30h for calculating the travel distance L of the photoreceptor 6 during charging, and a calculated film thickness Dc calculated by the film thickness calculation unit 30a. Based on the calculated film thickness storage unit 30i that stores the travel distance L in association with the calculated film thickness Dc at a plurality of times and the travel distance L acquired from the calculated film thickness storage unit 30i, the current estimated film thickness De is calculated. A film thickness range prediction unit 30d for calculating a predicted film thickness range Dmin to Dmax corresponding to the current running distance L based on the film thickness estimating unit 30c and the estimated film thickness De calculated by the film thickness estimating unit 30c. and.
According to this aspect, by calculating the predicted film thickness range Dmin to Dmax corresponding to the current running distance L based on the estimated film thickness De, the predicted film thickness range can be calculated with high accuracy.

<第2態様>
本態様の膜厚推定部30cは、算出膜厚保存部30iから取得した複数の時点での算出膜厚Dcと走行距離Lに基づいて、最小二乗法に従って現時点の走行距離Lに対応した推定膜厚を算出することを特徴とする。
本態様によれば、複数の時点での算出膜厚Dcと走行距離Lに基づいて、最小二乗法に従って現時点の走行距離Lに対応した推定膜厚Deを算出することで、推定膜厚Deの推定精度を高めることができる。
<Second aspect>
Based on the calculated film thickness Dc and the traveled distance L obtained at a plurality of times from the calculated film thickness storage unit 30i, the film thickness estimator 30c of this aspect calculates the estimated film thickness corresponding to the current traveled distance L according to the least-squares method. It is characterized by calculating the thickness.
According to this aspect, based on the calculated film thickness Dc and the traveled distance L at a plurality of times, the estimated film thickness De corresponding to the current traveled distance L is calculated according to the method of least squares. Estimation accuracy can be improved.

<第3態様>
本態様の膜厚推定部30cは、次回の膜厚を推定する際に、膜厚範囲予測部30dによって予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmax内に推定膜厚Deが入るか否かを判定することにより推定膜厚Deが有効か無効かを判定する異常判定部30c1を備えることを特徴とする。
本態様によれば、次回の膜厚を推定する際に、予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmax内に推定膜厚Deが入るか否かを判定することにより推定膜厚Deが有効か無効かを判定することで、推定膜厚Deの有効/無効を判定して推定膜厚Deの精度を高めることで、さらに次の膜厚推定の精度も高めることができる。
<Third aspect>
When estimating the next film thickness, the film thickness estimation unit 30c of this embodiment determines whether or not the estimated film thickness De falls within the predicted film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range prediction unit 30d. It is characterized by having an abnormality determination section 30c1 that determines whether the estimated film thickness De is valid or invalid by doing so.
According to this aspect, when estimating the next film thickness, it is determined whether the estimated film thickness De is valid or invalid by determining whether or not the estimated film thickness De falls within the predicted film thickness range Dmin to Dmax. By determining whether the estimated film thickness De is valid or invalid, the accuracy of the estimated film thickness De is improved, and the accuracy of the next film thickness estimation can be further improved.

<第4態様>
本態様の画像形成装置は、膜厚推定部30cに用いる帯電バイアス-帯電電流の傾きと感光体6の膜厚との関係を表す膜厚推定情報を保持する膜厚推定情報保持部30eと、膜厚推定情報と推定膜厚Deとに基づいて、膜厚推定情報と推定膜厚Deとの間の推定膜厚誤差ΔDeを算出する推定膜厚誤差算出手段と、を備え、膜厚範囲予測部30dは、推定膜厚Deと推定膜厚誤差ΔDeとに基づいて、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出することを特徴とする。
本態様によれば、推定膜厚Deと推定膜厚誤差ΔDeとに基づいて、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出することで、推定膜厚Deが薄いと膜厚推定時の推定膜厚誤差ΔDeが小さくなり、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxの予測精度が高くなるという利点がある。
<Fourth Aspect>
The image forming apparatus of this aspect includes a film thickness estimation information holding unit 30e that holds film thickness estimation information representing the relationship between the charging bias-charging current gradient used in the film thickness estimation unit 30c and the film thickness of the photoreceptor 6; an estimated film thickness error calculating means for calculating an estimated film thickness error ΔDe between the estimated film thickness information and the estimated film thickness De based on the estimated film thickness information and the estimated film thickness De; The section 30d is characterized by calculating a predicted film thickness range Dmin to Dmax based on the estimated film thickness De and the estimated film thickness error ΔDe.
According to this aspect, the estimated film thickness range Dmin to Dmax is calculated based on the estimated film thickness De and the estimated film thickness error ΔDe. There is an advantage that ΔDe is reduced and the prediction accuracy of the predicted film thickness range Dmin to Dmax is increased.

<第5態様>
本態様の膜厚範囲予測部30dは、前回の推定膜厚Deの値が小さいほど、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxが狭くなるように算出することを特徴とする。
本態様によれば、前回の推定膜厚Deの値が小さいほど、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxが狭くなるように算出することで、推定膜厚Deが薄いと膜厚推定時の推定膜厚誤差ΔDeが小さくなり、予測膜厚範囲Dmin~Dmaxの予測精度が高くなるという利点がある。
<Fifth aspect>
The film thickness range prediction unit 30d of this aspect is characterized in that calculation is performed such that the smaller the value of the previous estimated film thickness De, the narrower the predicted film thickness range Dmin to Dmax.
According to this aspect, the smaller the value of the previous estimated film thickness De, the narrower the estimated film thickness range Dmin to Dmax. There is an advantage that the error ΔDe is reduced and the prediction accuracy of the predicted film thickness range Dmin to Dmax is increased.

<第6態様>
本態様の画像形成装置は、現在の温度湿度を検知する温度湿度検知部11と、膜厚推定部30cは、温度湿度検知部11により検知された温度湿度情報に基づいて、推定膜厚Deを補正することを特徴とする。
本態様によれば、温度湿度情報に基づいて、推定膜厚Deを補正することで、推定膜厚Deの予測精度が高くなるという利点がある。
<Sixth Aspect>
In the image forming apparatus of this aspect, the temperature/humidity detection unit 11 that detects the current temperature/humidity and the film thickness estimation unit 30c calculate the estimated film thickness De based on the temperature/humidity information detected by the temperature/humidity detection unit 11. It is characterized by correcting.
According to this aspect, there is an advantage that the prediction accuracy of the estimated film thickness De is improved by correcting the estimated film thickness De based on the temperature/humidity information.

<第7態様>
本態様の画像形成装置は、現在の温度湿度を検知する温度湿度検知部11と、膜厚推定部30cは、温度湿度検知部11により検知された温度湿度情報に基づいて、推定膜厚誤差ΔDeを補正することを特徴とする。
本態様によれば、温度湿度情報に基づいて、推定膜厚誤差ΔDeを補正することで、推定膜厚誤差ΔDeの予測精度が高くなるという利点がある。
<Seventh Aspect>
The image forming apparatus of this aspect includes a temperature/humidity detection unit 11 that detects the current temperature/humidity, and a film thickness estimation unit 30c based on the temperature/humidity information detected by the temperature/humidity detection unit 11, an estimated film thickness error ΔDe is corrected.
According to this aspect, there is an advantage that the prediction accuracy of the estimated film thickness error ΔDe is improved by correcting the estimated film thickness error ΔDe based on the temperature/humidity information.

<第8態様>
本態様の異常判定部30c1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、推定膜厚Deが厚膜側で範囲外となった場合に、推定膜厚Deを無効とすることを特徴とする。
本態様によれば、推定膜厚Deが厚膜側で範囲外となった場合に、推定膜厚Deを無効とすることで、実際は寿命時期に到達しているのに、まだ寿命に到達していないと判断して、異常画像を発生させるという不具合を防ぐことができる。
<Eighth aspect>
The abnormality determining unit 30c1 of this aspect determines the estimated film thickness when the estimated film thickness De is out of the range of the estimated film thickness Dmin to Dmax predicted by the film thickness range predicting unit 30d on the thick film side. It is characterized by invalidating De.
According to this aspect, when the estimated film thickness De is out of range on the thick film side, the estimated film thickness De is invalidated. It is possible to prevent the problem of generating an abnormal image by determining that the image is not correct.

<第9態様>
本態様の異常判定部30c1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、膜厚推定部30cによって推定された推定膜厚Deが薄膜側で範囲外となった場合の範囲外回数を計数する範囲外回数計数部30d1を備え、異常判定部30c1は、範囲外回数計数部30d1により計数された範囲外回数が一定の回数以上に連続して計数された場合に、薄膜側で範囲外となった推定膜厚Deを有効とすることを特徴とする。
本態様によれば、範囲外回数が一定の回数以上に連続して計数された場合に、薄膜側で範囲外となった推定膜厚Deを有効とすることで、薄膜側の推定膜厚Dが続いた場合に、感光体6の膜厚が削れている傾向性があることと判定して、有効とすることで安全側の制御をすることができる。
<Ninth Aspect>
The abnormality determining unit 30c1 of this aspect determines that the estimated film thickness De estimated by the film thickness estimating unit 30c is out of range on the thin film side with respect to the estimated film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range predicting unit 30d. The abnormality determination unit 30c1 is provided with an out-of-range number counting unit 30d1 that counts the number of out-of-range times when the out-of-range number of times is counted. In this case, the estimated film thickness De, which is out of range on the thin film side, is validated.
According to this aspect, when the number of out-of-range times is continuously counted for a certain number of times or more, the estimated film thickness De that is out of range on the thin film side is validated, so that the estimated film thickness D on the thin film side If this continues, it is determined that there is a tendency that the film thickness of the photoreceptor 6 is shaved, and by validating it, control on the safe side can be performed.

<第10態様>
本態様の異常判定部30c1は、推定膜厚Deが有効となった場合に、推定膜厚保存部30iに保存している直近の1回以上前の推定膜厚Deを破棄することを特徴とする。
本態様によれば、推定膜厚Deが有効となった場合に、推定膜厚保存部30iに保存している直近の1回以上前の推定膜厚Deを破棄することで、過去の推定膜厚Deに影響されて算出される推定膜厚が厚い側で認識されることを防ぐことができる。
<Tenth Aspect>
The abnormality determination unit 30c1 of this aspect is characterized in that, when the estimated film thickness De becomes valid, the estimated film thickness De that is stored in the estimated film thickness storage unit 30i one or more times before is discarded. do.
According to this aspect, when the estimated film thickness De becomes effective, the past estimated film thickness De is discarded and the estimated film thickness De stored in the estimated film thickness storage unit 30i is discarded. It is possible to prevent the estimated film thickness calculated under the influence of the thickness De from being recognized on the thick side.

<第11態様>
本態様の異常判定部30c1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、膜厚推定部30cにより推定された推定膜厚Deが厚膜側であり予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmax外となった場合、又は膜厚推定部30cにより推定された推定膜厚Deが薄膜側であり予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmax外となった場合の範囲外回数を計数する範囲外回数計数部30d1を備え、異常判定部30c1は、範囲外回数計数部30d1により計数された範囲外回数が一定の回数未満で連続して計数されている場合に、再度、膜厚推定部30cに膜厚推定処理を実行させることを特徴とする。
本態様によれば、範囲外回数計数部30d1により計数された範囲外回数が一定の回数未満で連続して計数されている場合に、再度、膜厚推定部30cに膜厚推定処理を実行させることで、推定膜厚Deの異常の真偽を早期に判断することができる。
<Eleventh Aspect>
The abnormality determining unit 30c1 of this aspect determines that the estimated film thickness De estimated by the film thickness estimating unit 30c is on the thick film side with respect to the estimated film thickness range Dmin to Dmax predicted by the film thickness range predicting unit 30d. When the estimated film thickness De estimated by the film thickness estimating unit 30c is outside the predicted film thickness range Dmin to Dmax, or when the estimated film thickness De estimated by the film thickness estimation unit 30c is on the thin side and is outside the predicted film thickness range Dmin to Dmax Equipped with an out-of-range number counting unit 30d1 that counts the number of out-of-range times, the abnormality determination unit 30c1, when the out-of-range number of times counted by the out-of-range number counting unit 30d1 is continuously counted less than a certain number of times, The film thickness estimating section 30c is caused to execute the film thickness estimating process again.
According to this aspect, when the out-of-range number of times counted by the out-of-range number counting unit 30d1 is continuously counted less than a certain number of times, the thickness estimating unit 30c is caused to perform the film thickness estimation process again. Thus, it is possible to quickly determine whether the estimated film thickness De is abnormal.

<第12態様>
本態様の異常判定部30c1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲Dmin~Dmaxに対して、膜厚推定部30cにより推定された推定膜厚Deが範囲外となった回数を計数する範囲外回数計数部30d1を備え、異常判定部30c1は、範囲外回数計数部30d1により計数された範囲外回数が一定の回数以上に連続して計数された場合に、膜厚推定部30cによって推定された推定膜厚を画像形成に係る制御に用いないことを特徴とする。
本態様によれば、計数された範囲外回数が一定の回数以上に連続して計数された場合に、膜厚推定部30cによって推定された推定膜厚を画像形成に係る制御に用いないことで、無効な推定膜厚を用いて異常状態が発生するという不具合を回避することができる。
<Twelfth Aspect>
The abnormality determining unit 30c1 of this aspect determines the number of times the estimated film thickness De estimated by the film thickness estimating unit 30c is outside the range of the estimated film thickness Dmin to Dmax predicted by the film thickness range predicting unit 30d. The abnormality determination unit 30c1 is provided with a film thickness estimation unit It is characterized in that the estimated film thickness estimated by 30c is not used for control related to image formation.
According to this aspect, when the counted out-of-range number of times is continuously counted for a predetermined number of times or more, the estimated film thickness estimated by the film thickness estimation unit 30c is not used for the control related to image formation. , it is possible to avoid the problem of generating an abnormal condition using an invalid estimated film thickness.

<第13態様>
本態様の画像形成装置1は、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲下限値Dminに基づいて、感光体6の使用率を計算する使用率計算部30gを備えることを特徴とする。
本態様によれば、予測膜厚範囲下限値Dminに基づいて、感光体6の使用率を計算することで、使用率計算の精度を向上することができる。
<Thirteenth Aspect>
The image forming apparatus 1 of this aspect is characterized by comprising a usage rate calculation section 30g that calculates the usage rate of the photoreceptor 6 based on the predicted film thickness range lower limit value Dmin predicted by the film thickness range prediction section 30d. do.
According to this aspect, by calculating the usage rate of the photoreceptor 6 based on the predicted film thickness range lower limit value Dmin, the accuracy of the usage rate calculation can be improved.

<第14態様>
本態様の画像形成装置1は、感光体6の走行距離Lを算出する走行距離算出部30hと、
膜厚範囲予測部30dによって予測された予測膜厚範囲下限値Dminと、感光体6の走行距離Lに基づいて算出可能な感光体6の膜が最大に摩耗したときの最大摩耗膜厚値とを比較する比較部30kと、を備え、使用率計算部30gは、予測膜厚範囲下限値Dmin、又は最大摩耗膜厚値の大きい方の値に基づいて、感光体6の使用率を計算することを特徴とする。
本態様によれば、予測膜厚範囲下限値Dmin、又は最大摩耗膜厚値の大きい方の値に基づいて、感光体6の使用率を計算することで、すでにプロセスカートリッジのID情報等に記録されている使用率情報と比較して、計算された使用率が下回る場合、使用率が減少してユーザが混乱しないよう、すでにID情報等に記録されている使用率情報のまま更新しないこととする。
<14th Aspect>
The image forming apparatus 1 of this aspect includes a travel distance calculation unit 30h that calculates the travel distance L of the photoreceptor 6,
The predicted film thickness range lower limit value Dmin predicted by the film thickness range prediction unit 30d, and the maximum wear film thickness value when the film of the photoreceptor 6 wears to the maximum, which can be calculated based on the running distance L of the photoreceptor 6; and a usage rate calculation section 30g calculates the usage rate of the photoreceptor 6 based on the larger value of the predicted film thickness range lower limit value Dmin or the maximum wear film thickness value It is characterized by
According to this aspect, by calculating the usage rate of the photoreceptor 6 based on the larger value of the predicted film thickness range lower limit value Dmin or the maximum wear film thickness value, it is already recorded in the process cartridge ID information or the like. If the calculated usage rate is lower than the usage rate information already recorded, the usage rate information already recorded in the ID information, etc. shall not be updated so that the usage rate will decrease and the user will not be confused. do.

<第15態様>
本態様の膜厚範囲予測部30dは、前回の推定膜厚Deに基づく推定膜厚誤差ΔDeを用いて、現時点の走行距離Lに対応した予測膜厚範囲下限値Dminを算出することを特徴とする。
本態様によれば、前回の推定膜厚Deに基づく推定膜厚誤差ΔDeを用いて、現時点の走行距離Lに対応した予測膜厚範囲下限値Dminを算出することで、感光体6の膜厚が減少するに従って推定膜厚誤差ΔDeが低下するため、予測膜厚範囲下限値Dminの予測の精度を向上することができる。
<Fifteenth Aspect>
The film thickness range prediction unit 30d of this aspect is characterized by calculating the predicted film thickness range lower limit value Dmin corresponding to the current running distance L using the estimated film thickness error ΔDe based on the previous estimated film thickness De. do.
According to this aspect, the estimated film thickness range lower limit value Dmin corresponding to the current running distance L is calculated using the estimated film thickness error ΔDe based on the previous estimated film thickness De. Since the estimated film thickness error ΔDe decreases as D decreases, the accuracy of prediction of the predicted film thickness range lower limit value Dmin can be improved.

<第16態様>
本態様の使用率計算部30gは、走行距離算出部30hにより算出された感光体6の走行距離Lが一定の閾値を超えた後に、膜厚範囲予測部30dにより予測された予測膜厚範囲下限値Dminに基づいて、感光体6の使用率を計算することを特徴とする。
本態様によれば、走行距離算出部30hにより算出された感光体6の走行距離Lが一定の閾値を超えた後に、予測膜厚範囲下限値Dminに基づいて、感光体6の使用率を計算することで、感光体6の使用率の予測の精度を向上することができる。
<16th Aspect>
The usage rate calculation unit 30g of this aspect calculates the lower limit of the predicted film thickness range predicted by the film thickness range prediction unit 30d after the travel distance L of the photoreceptor 6 calculated by the travel distance calculation unit 30h exceeds a certain threshold value. The usage rate of the photosensitive member 6 is calculated based on the value Dmin.
According to this aspect, after the travel distance L of the photoreceptor 6 calculated by the travel distance calculation unit 30h exceeds a certain threshold, the usage rate of the photoreceptor 6 is calculated based on the predicted film thickness range lower limit value Dmin. By doing so, the accuracy of prediction of the usage rate of the photoreceptor 6 can be improved.

<第17態様>
本態様の画像形成装置1は、予測膜厚範囲の下限値に基づいて、感光体、乃び現像部の使用可能残日数Dlを算出する使用可能残日数算出部30pを備えることを特徴とする。
本態様によれば、予測膜厚範囲の下限値に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することで、枚数や走行距離情報から算出するよりも使用可能残日数Dlの予測精度を向上することができる。
<17th Aspect>
The image forming apparatus 1 of this aspect is characterized by comprising a remaining usable days calculation unit 30p that calculates the remaining usable days Dl of the photoreceptor and the developing unit based on the lower limit value of the predicted film thickness range. .
According to this aspect, by calculating the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 based on the lower limit value of the predicted film thickness range, it is possible to use more than calculating from the number of sheets and travel distance information. It is possible to improve the prediction accuracy of the number of remaining days Dl.

<第18態様>
本態様の画像形成装置1は、走行距離算出部30hにより算出された感光体の走行距離がある閾値を超えた時点での推定膜厚、及び日時情報を保存する推定膜厚・日時情報保存部30p1を備え、使用可能残日数算出部30pは、膜圧推定部30cにより算出される現時点での推定膜厚、及び日時情報と、推定膜厚・日時情報保存部30p1から取得した感光体の走行距離がある閾値を超えた時点での推定膜厚、及び日時情報に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することを特徴とする。
本態様によれば、膜圧推定部30cにより算出される現時点での推定膜厚、及び日時情報と、推定膜厚・日時情報保存部30p1から取得した感光体の走行距離がある閾値を超えた時点での推定膜厚、及び日時情報に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することで、膜削れレートの予測精度が向上し、使用可能残日数Dlの予測精度を向上することができる。
<18th Aspect>
The image forming apparatus 1 of this aspect includes an estimated film thickness and date/time information storage unit that stores the estimated film thickness and date/time information at the time when the travel distance of the photosensitive member calculated by the travel distance calculation unit 30h exceeds a certain threshold. 30p1, the remaining usable days calculation unit 30p stores the current estimated film thickness calculated by the film thickness estimation unit 30c, date and time information, and the estimated film thickness/date and time information storage unit 30p1. Based on the estimated film thickness at the time when the distance exceeds a certain threshold and the date and time information, the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 are calculated.
According to this aspect, the current estimated film thickness calculated by the film thickness estimating unit 30c and the date and time information and the traveling distance of the photosensitive member obtained from the estimated film thickness/date and time information storage unit 30p1 exceed a certain threshold. By calculating the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 based on the estimated film thickness at the time and the date and time information, the prediction accuracy of the film scraping rate is improved, and the remaining usable days Dl are improved. can improve the prediction accuracy of

<第19態様>
本態様の画像形成装置1は、推定膜厚がある閾値以下となった時の推定膜厚、及び日時情報を保存する推定膜厚・日時情報保存部30p1を備え、使用可能残日数算出部30pは、膜圧推定部30cにより算出される現時点での推定膜厚、及び日時情報と、推定膜厚・日時情報保存部30p1から取得した推定膜厚がある閾値以下となった時の推定膜厚、及び日時情報に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することを特徴とする。
本態様によれば、膜圧推定部30cにより算出される現時点での推定膜厚、及び日時情報と、推定膜厚・日時情報保存部30p1から取得した推定膜厚がある閾値以下となった時の推定膜厚、及び日時情報に基づいて、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することで、膜削れレートの予測精度が向上し、使用可能残日数Dlの算出精度を向上することができる。
<19th Aspect>
The image forming apparatus 1 of this aspect includes an estimated film thickness/date and time information storage unit 30p1 that stores date and time information and an estimated film thickness when the estimated film thickness is equal to or less than a certain threshold, and the remaining usable days calculation unit 30p. is the current estimated film thickness calculated by the film thickness estimating unit 30c, the date and time information, and the estimated film thickness obtained from the estimated film thickness/date and time information storage unit 30p1, when the estimated film thickness is equal to or less than a certain threshold. , and the date and time information, the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 are calculated.
According to this aspect, when the current estimated film thickness calculated by the film thickness estimating unit 30c and the date and time information and the estimated film thickness acquired from the estimated film thickness/date and time information storage unit 30p1 become equal to or less than a certain threshold By calculating the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 based on the estimated film thickness and the date and time information, the prediction accuracy of the film scraping rate is improved, and the remaining usable days Dl are calculated. Accuracy can be improved.

<第20態様>
本態様の画像形成装置1は、ある時点から現時点までの推定膜厚差分値ΔDeが一定の閾値以上であるか否かを判定する差分値判定部30p2を備え、使用可能残日数算出部30pは、差分値判定部30p2が、ある時点から現時点までの推定膜厚差分値ΔDeが一定閾値以上となったと判定した場合に、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することを特徴とする。
本態様によれば、ある時点から現時点までの推定膜厚差分値ΔDeが一定閾値以上となったと判定した場合に、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することで、測定誤差の影響を受けることなく、使用可能残日数Dlの算出精度を向上することができる。
<Twentieth aspect>
The image forming apparatus 1 of this aspect includes a difference value determination unit 30p2 that determines whether or not the estimated film thickness difference value ΔDe from a certain time point to the current time point is equal to or greater than a certain threshold value, and the remaining usable days calculation unit 30p , when the difference value determination unit 30p2 determines that the estimated film thickness difference value ΔDe from a certain time point to the current time point is equal to or greater than a certain threshold value, the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 are calculated. It is characterized by
According to this aspect, when it is determined that the estimated film thickness difference value ΔDe from a certain point to the present time is equal to or greater than a certain threshold, the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 are calculated. , the calculation accuracy of the remaining usable days Dl can be improved without being affected by measurement errors.

<第21態様>
本態様の画像形成装置1は、ある時点から現時点までの経過日数が一定の閾値以上であるか否かを判定する経過日数判定部30p3を備え、使用可能残日数算出部30pは、経過日数判定部30p3が、ある時点から現時点までの経過日数が一定の閾値以上となったと判定した場合に、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することを特徴とする。
本態様によれば、ある時点から現時点までの経過日数が一定の閾値以上となったと判定した場合に、感光体6、乃び現像部7の使用可能残日数Dlを算出することで、測定誤差の影響を受けることなく、使用可能残日数Dlの算出精度を向上することができる。
<21st Aspect>
The image forming apparatus 1 of this aspect includes an elapsed days determination unit 30p3 that determines whether or not the number of days elapsed from a certain time point to the present time is equal to or greater than a certain threshold value. When the unit 30p3 determines that the number of days elapsed from a certain time point to the present time is equal to or greater than a certain threshold value, it calculates the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7. FIG.
According to this aspect, when it is determined that the number of days elapsed from a certain time point to the present time is equal to or greater than a certain threshold value, the remaining usable days Dl of the photoreceptor 6 and the developing unit 7 are calculated. It is possible to improve the calculation accuracy of the remaining usable days Dl without being affected by the

<第22態様>
本態様の画像形成方法は、周回する感光体6の周面を帯電させる帯電ローラ12に帯電バイアスを印加する電圧印加部24と、帯電ローラ12から感光体6に流れる出力電流を表すフィードバック信号を生成する電流検知部と、を備えた画像形成装置による画像形成方法であって、帯電ローラ12に印加された帯電バイアスに係る電圧値、及び感光体6に流れる出力電流に係る電流値に基づいて、感光体6の膜厚を算出する膜厚算出ステップと、帯電中の感光体6の走行距離Lを算出する走行距離算出ステップと、膜厚算出ステップによって算出された算出膜厚Dcに走行距離Lを関連付けして保存する算出膜厚保存ステップと、算出膜厚保存ステップから取得した複数の時点での算出膜厚Dcと走行距離Lに基づいて、現時点における推定膜厚Deを算出する膜厚推定ステップと、膜厚推定ステップにより算出された推定膜厚Deに基づいて、現時点の走行距離Lに対応した予測膜厚範囲Dmin~Dmaxを算出する膜厚範囲予測ステップと、を実行することを特徴とする。
第22態様の作用、及び効果は第1態様と同様であるので、その説明を省略する。
<22nd Aspect>
In the image forming method of this embodiment, a voltage applying section 24 that applies a charging bias to the charging roller 12 that charges the circumferential surface of the rotating photoreceptor 6 and a feedback signal representing the output current flowing from the charging roller 12 to the photoreceptor 6 are used. and a current detection unit that generates a , a film thickness calculation step for calculating the film thickness of the photoreceptor 6, a travel distance calculation step for calculating the travel distance L of the photoreceptor 6 during charging, and a travel distance to the calculated film thickness Dc calculated by the film thickness calculation step. A film thickness for calculating an estimated film thickness De at the present time based on a calculated film thickness saving step that associates and saves L, and the calculated film thickness Dc at a plurality of points in time and the travel distance L obtained from the calculated film thickness saving step. and a film thickness range prediction step of calculating a predicted film thickness range Dmin to Dmax corresponding to the current running distance L based on the estimated film thickness De calculated by the film thickness estimation step. Characterized by
Since the operation and effects of the twenty-second mode are the same as those of the first mode, the description thereof will be omitted.

<第23態様>
本態様のプログラムは、第22態様に記載の画像形成方法における各ステップをプロセッサに実行させることを特徴とする。
本態様によれば、各ステップをプロセッサに実行させることができる。
<23rd Aspect>
A program according to this aspect causes a processor to execute each step in the image forming method according to the twenty-second aspect.
According to this aspect, each step can be executed by a processor.

1…画像形成装置、7…現像部、8…搬送ベルト、9…定着部、10…制御ユニット、10a…A/D変換部、10b…CPU、10c…ROM、10d…RAM、10e…タイマ、11…温度湿度検知部、12…帯電ローラ、13…露光部、14…表示パネル、15…転写ローラ、16…ブレード、16…感光体、17…除電器、18…高圧電源、19…電流電圧検知部、21…モータ駆動部、24…電圧印加部、30…制御部、30a…膜厚算出部、30b…算出膜厚保存部、30c…膜厚推定部、30c1…異常判定部、30d…範囲外回数計数部、30d…膜厚範囲予測部、30d1…範囲外回数計数部、30e…膜厚推定情報保持部、30f…推定膜厚誤差算出部、30g…使用率計算部、30h…走行距離算出部、30i…算出膜厚保存部、30i…推定膜厚保存部、30j…膜厚決定計算部、30k…比較部、30m…使用率表示制御部、30p…使用可能残日数算出部30p、30p1…推定膜厚・日時情報保存部、30p2…差分値判定部、30p3…経過日数判定部、51…予測膜厚範囲、 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Image forming apparatus 7... Development part 8... Conveyor belt 9... Fixing part 10... Control unit 10a... A/D conversion part 10b... CPU, 10c... ROM, 10d... RAM, 10e... Timer, DESCRIPTION OF SYMBOLS 11... Temperature/humidity detection part 12... Charging roller 13... Exposure part 14... Display panel 15... Transfer roller 16... Blade 16... Photoreceptor 17... Static elimination device 18... High voltage power supply 19... Current voltage Detection unit 21 Motor drive unit 24 Voltage application unit 30 Control unit 30a Film thickness calculation unit 30b Calculated film thickness storage unit 30c Film thickness estimation unit 30c1 Abnormality determination unit 30d Out-of-range number counting unit 30d Film thickness range prediction unit 30d1 Out-of-range number counting unit 30e Film thickness estimation information holding unit 30f Estimated film thickness error calculation unit 30g Use rate calculation unit 30h Running Distance calculation unit 30i Calculated film thickness storage unit 30i Estimated film thickness storage unit 30j Film thickness determination calculation unit 30k Comparison unit 30m Use rate display control unit 30p Remaining usable days calculation unit 30p , 30p1... Estimated film thickness/date and time information storage unit, 30p2... Difference value determination unit, 30p3... Elapsed days determination unit, 51... Predicted film thickness range,

特開平5-223513号公報JP-A-5-223513 特開2009-098279公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-098279 特開平8-334956号公報JP-A-8-334956

Claims (22)

周回する感光体の周面を帯電させる帯電部材に帯電バイアスを印加する電圧印加部と、
前記帯電部材から前記感光体に流れる出力電流を表すフィードバック信号を生成する電流検知部と、を備えた画像形成装置であって、
前記帯電部材に印加された帯電バイアスに係る電圧値、及び前記感光体に流れる出力電流に係る電流値に基づいて、前記感光体の膜厚を算出する膜厚算出手段と、
前記帯電中の前記感光体の走行距離を算出する走行距離算出手段と、
前記膜厚算出手段によって算出された算出膜厚に走行距離を関連付けして保存する算出膜厚保存手段と、
前記算出膜厚保存手段から取得した複数の時点での算出膜厚と走行距離に基づいて、現時点における推定膜厚を算出する膜厚推定手段と、
前記膜厚推定手段により算出された推定膜厚に基づいて、現時点の走行距離に対応した予測膜厚範囲を算出する膜厚範囲予測手段と、を備え
前記膜厚範囲予測手段は、前回の推定膜厚の値が小さいほど、予測膜厚範囲が狭くなるように算出することを特徴とする画像形成装置。
a voltage applying unit that applies a charging bias to a charging member that charges the circumferential surface of the rotating photoreceptor;
an image forming apparatus comprising: a current detection unit that generates a feedback signal representing an output current flowing from the charging member to the photoreceptor,
film thickness calculation means for calculating the film thickness of the photosensitive member based on the voltage value associated with the charging bias applied to the charging member and the current value associated with the output current flowing through the photosensitive member;
travel distance calculation means for calculating the travel distance of the photoreceptor during charging;
a calculated film thickness storage means for storing the calculated film thickness calculated by the film thickness calculation means in association with the running distance;
Film thickness estimating means for calculating an estimated film thickness at a current time based on the calculated film thickness and travel distance at a plurality of times acquired from the calculated film thickness storage means;
a film thickness range prediction means for calculating a predicted film thickness range corresponding to the current running distance based on the estimated film thickness calculated by the film thickness estimation means ;
The image forming apparatus , wherein the film thickness range prediction means performs calculation so that the predicted film thickness range becomes narrower as the value of the previous estimated film thickness is smaller .
前記膜厚推定手段は、前記算出膜厚保存手段から取得した複数の時点での算出膜厚と走行距離に基づいて、最小二乗法に従って現時点の走行距離に対応した推定膜厚を算出することを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。 The film thickness estimating means calculates the estimated film thickness corresponding to the current traveled distance according to the least squares method based on the calculated film thickness and the traveled distance at a plurality of times acquired from the calculated film thickness storage means. 2. The image forming apparatus according to claim 1. 前記膜厚推定手段は、次回の膜厚を算出する際に、前記膜厚範囲予測手段によって予測された予測膜厚範囲内に前記算出膜厚が入るか否かを判定することにより前記算出膜厚が有効か無効かを判定する異常判定手段を備えることを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。 The film thickness estimating means determines whether or not the calculated film thickness falls within the predicted film thickness range predicted by the film thickness range predicting means when calculating the next film thickness. 2. The image forming apparatus according to claim 1, further comprising abnormality determination means for determining whether the thickness is valid or invalid. 前記膜厚推定手段に用いる帯電バイアス-帯電電流の傾きと前記感光体の膜厚との関係を表す膜厚推定情報を保持する膜厚推定情報保持手段と、
前記膜厚推定情報と前記推定膜厚とに基づいて、前記膜厚推定情報と前記推定膜厚との間の推定膜厚誤差を算出する推定膜厚誤差算出手段と、を備え、
前記膜厚範囲予測手段は、前記推定膜厚と前記推定膜厚誤差とに基づいて、前記予測膜厚範囲を算出することを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。
a film thickness estimation information holding means for holding film thickness estimation information representing a relationship between the charging bias-charging current gradient used in the film thickness estimation means and the film thickness of the photoreceptor;
estimated film thickness error calculation means for calculating an estimated film thickness error between the film thickness estimation information and the estimated film thickness based on the film thickness estimation information and the estimated film thickness;
2. The image forming apparatus according to claim 1, wherein said film thickness range prediction means calculates said predicted film thickness range based on said estimated film thickness and said estimated film thickness error.
現在の温度湿度を検知する温度湿度検知手段と、
前記膜厚推定手段は、前記温度湿度検知手段により検知された温度湿度情報に基づいて、前記推定膜厚を補正することを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。
a temperature/humidity detection means for detecting the current temperature/humidity;
2. The image forming apparatus according to claim 1, wherein said film thickness estimating means corrects said estimated film thickness based on temperature and humidity information detected by said temperature and humidity detecting means.
現在の温度湿度を検知する温度湿度検知手段と、
前記膜厚推定手段は、前記温度湿度検知手段により検知された温度湿度情報に基づいて、前記推定膜厚誤差を補正することを特徴とする請求項記載の画像形成装置。
a temperature/humidity detection means for detecting the current temperature/humidity;
5. The image forming apparatus according to claim 4 , wherein said film thickness estimating means corrects said estimated film thickness error based on the temperature/humidity information detected by said temperature/humidity detecting means.
前記異常判定手段は、前記膜厚範囲予測手段により予測された予測膜厚範囲に対して、算出膜厚が厚膜側で範囲外となった場合に、前記算出膜厚を無効とすることを特徴とする請求項3記載の画像形成装置。 The abnormality determining means invalidates the calculated film thickness when the calculated film thickness is outside the range on the thick film side with respect to the predicted film thickness range predicted by the film thickness range predicting means. 4. The image forming apparatus according to claim 3. 前記膜厚範囲予測手段は、前記膜厚範囲予測手段により予測された予測膜厚範囲に対して、前記膜厚算出手段によって算出された前記算出膜厚が薄膜側で範囲外となった場合の範囲外回数を計数する範囲外回数計数手段を備え、
前記異常判定手段は、前記範囲外回数計数手段により計数された範囲外回数が一定の回数以上に連続して計数された場合に、薄膜側で範囲外となった算出膜厚を有効とすることを特徴とする請求項3記載の画像形成装置。
The film thickness range predicting means predicts the film thickness when the calculated film thickness calculated by the film thickness calculating means is out of range on the thin film side with respect to the predicted film thickness range predicted by the film thickness range predicting means. Equipped with an out-of-range number counting means for counting the out-of-range number of times,
When the number of out-of-range counts counted by the out-of-range number-of-range counting means is continuously counted for a predetermined number of times or more, the abnormality determination means validates the calculated film thickness that is out of range on the thin film side. 4. The image forming apparatus according to claim 3, characterized by:
前記異常判定手段は、前記算出膜厚が有効となった場合に、前記算出膜厚保存手段に保存している直近の1回以上前の算出膜厚を破棄することを特徴とする請求項記載の画像形成装置。 9. When the calculated film thickness becomes valid, the abnormality determination means discards the most recent calculated film thickness that is stored in the calculated film thickness storage means one or more times before. The described image forming apparatus. 前記膜厚範囲予測手段は、前記膜厚範囲予測手段により予測された予測膜厚範囲に対して、前記膜厚算出手段により算出された算出膜厚が厚膜側であり前記予測された予測膜厚範囲外となった場合、又は前記膜厚算出手段により算出された前記算出膜厚が薄膜側であり前記予測された予測膜厚範囲外となった場合の範囲外回数を計数する範囲外回数計数手段を備え、
前記異常判定手段は、前記範囲外回数計数手段により計数された範囲外回数が一定の回数未満で連続して計数されている場合に、再度、前記膜厚算出手段膜厚算出処理を実行させることを特徴とする請求項記載の画像形成装置。
The film thickness range prediction means determines that the calculated film thickness calculated by the film thickness calculation means is on the thick film side with respect to the predicted film thickness range predicted by the film thickness range prediction means. Out-of-range count for counting the number of out-of-range cases when the thickness is out of the range, or when the calculated film thickness calculated by the film thickness calculation means is on the thin side and is out of the predicted film thickness range. comprising counting means,
When the out-of-range number counted by the out-of-range number counting means is continuously counted less than a predetermined number of times, the abnormality determination means causes the film thickness calculation means to execute the film thickness calculation process again. 4. The image forming apparatus according to claim 3 , wherein:
前記膜厚範囲予測手段は、前記膜厚範囲予測手段により予測された予測膜厚範囲に対して、前記膜厚算出手段により算出された前記算出膜厚が範囲外となった回数を計数する範囲外回数計数手段を備え、
前記異常判定手段は、前記範囲外回数計数手段により計数された範囲外回数が一定の回数以上に連続して計数された場合に、前記膜厚算出手段によって算出された算出膜厚を画像形成に係る制御に用いないことを特徴とする請求項3記載の画像形成装置。
The film thickness range predicting means counts the number of times the calculated film thickness calculated by the film thickness calculating means is out of the predicted film thickness range predicted by the film thickness range predicting means. Equipped with external number counting means,
When the number of out-of-range times counted by the out-of-range number-of-range counting means is continuously counted for a predetermined number of times or more, the abnormality determination means applies the calculated film thickness calculated by the film thickness calculation means to image formation. 4. The image forming apparatus according to claim 3, wherein the image forming apparatus is not used for such control.
前記膜厚範囲予測手段により予測された予測膜厚範囲の下限値に基づいて、前記感光体の使用率を計算する使用率計算手段を備えることを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。 2. The image forming apparatus according to claim 1, further comprising usage rate calculation means for calculating a usage rate of said photoreceptor based on a lower limit value of the predicted film thickness range predicted by said film thickness range prediction means. 前記感光体の走行距離を算出する走行距離算出手段と、
前記膜厚範囲予測手段によって予測された予測膜厚範囲の下限値と、前記感光体の走行距離に基づいて算出可能な前記感光体の膜が最大に摩耗したときの最大摩耗膜厚値とを比較する比較手段と、を備え、
前記使用率計算手段は、前記予測膜厚範囲の下限値、又は最大摩耗膜厚値の大きい方の値に基づいて、前記感光体の使用率を計算することを特徴とする請求項12記載の画像形成装置。
travel distance calculation means for calculating the travel distance of the photoreceptor;
The lower limit value of the predicted film thickness range predicted by the film thickness range predicting means and the maximum wear film thickness value when the film of the photoreceptor wears to the maximum, which can be calculated based on the running distance of the photoreceptor. a comparison means for comparing;
13. The usage rate of the photosensitive member according to claim 12 , wherein the usage rate calculation means calculates the usage rate of the photoreceptor based on a lower limit value of the predicted film thickness range or a maximum abrasion film thickness value, whichever is larger. Image forming device.
前記膜厚範囲予測手段は、前回の推定膜厚に基づく推定膜厚誤差を用いて、現時点の走行距離に対応した予測膜厚範囲を算出することを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。 2. The image forming apparatus according to claim 1, wherein said film thickness range predicting means calculates a predicted film thickness range corresponding to a current running distance using an estimated film thickness error based on a previous estimated film thickness. . 前記使用率計算手段は、前記走行距離算出手段により算出された前記感光体の走行距離が一定の閾値を超えた後に、前記膜厚範囲予測手段により予測された予測膜厚範囲の下限値に基づいて、前記感光体の使用率を計算することを特徴とする請求項12記載の画像形成装置。 The usage rate calculation means calculates the lower limit value of the predicted film thickness range predicted by the film thickness range prediction means after the travel distance of the photosensitive member calculated by the travel distance calculation means exceeds a certain threshold value. 13. The image forming apparatus according to claim 12 , wherein the usage rate of the photoreceptor is calculated by 前記予測膜厚範囲の下限値に基づいて、前記感光体、及び現像部の使用可能残日数を算出する使用可能残日数算出手段を備えることを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項記載の画像形成装置。 5. The apparatus according to any one of claims 1 to 4, further comprising: remaining usable days calculating means for calculating the remaining usable days of the photoreceptor and the developing unit based on the lower limit value of the predicted film thickness range. The described image forming apparatus. 前記走行距離算出手段により算出された前記感光体の走行距離がある閾値を超えた時点での推定膜厚、及び日時情報を保存する推定膜厚保存手段を備え、
前記使用可能残日数算出手段は、
前記膜厚推定手段により算出される現時点での推定膜厚、及び日時情報と、前記推定膜厚保存手段から取得した前記感光体の走行距離がある閾値を超えた時点での推定膜厚、及び日時情報に基づいて、前記感光体、及び前記現像部の使用可能残日数を算出することを特徴とする請求項16記載の画像形成装置。
Estimated film thickness storage means for storing the estimated film thickness at the time when the traveling distance of the photoconductor calculated by the traveling distance calculating means exceeds a certain threshold and date and time information,
The means for calculating the remaining number of usable days,
The current estimated film thickness calculated by the film thickness estimating means and date and time information, the estimated film thickness at the time when the running distance of the photoreceptor obtained from the estimated film thickness storage means exceeds a certain threshold, and 17. The image forming apparatus according to claim 16 , wherein the number of remaining usable days of the photoreceptor and the developing unit is calculated based on date and time information.
前記推定膜厚がある閾値以下となった時の推定膜厚、及び日時情報を保存する推定膜厚保存手段を備え、
前記使用可能残日数算出手段は、
前記膜厚推定手段により算出される現時点での推定膜厚、及び日時情報と、前記推定膜厚保存手段から取得した前記推定膜厚がある閾値以下となった時の推定膜厚、及び日時情報に基づいて、前記感光体、及び現像部の使用可能残日数を算出することを特徴とする請求項16記載の画像形成装置。
Estimated film thickness storage means for storing the estimated film thickness when the estimated film thickness is equal to or less than a certain threshold and date and time information,
The means for calculating the remaining number of usable days,
Current estimated film thickness calculated by the film thickness estimating means and date and time information, and estimated film thickness and date and time information obtained from the estimated film thickness storage means when the estimated film thickness becomes equal to or less than a certain threshold. 17. The image forming apparatus according to claim 16 , wherein the remaining usable days of the photoreceptor and the developing unit are calculated based on .
ある時点から現時点までの推定膜厚差分値が一定の閾値以上であるか否かを判定する差分値判定手段を備え、
前記使用可能残日数算出手段は、
前記差分値判定手段が、ある時点から現時点までの推定膜厚差分値が一定閾値以上となったと判定した場合に、前記感光体、及び現像部の使用可能残日数を算出することを特徴とする請求項16乃至18の何れか一項記載の画像形成装置。
A difference value determination means for determining whether an estimated film thickness difference value from a certain time point to the current time point is equal to or greater than a certain threshold,
The means for calculating the remaining number of usable days,
When the difference value determination means determines that the estimated film thickness difference value from a certain time point to the current time point is equal to or greater than a predetermined threshold value, the remaining number of usable days of the photoreceptor and the developing unit is calculated. The image forming apparatus according to any one of claims 16 to 18 .
ある時点から現時点までの経過日数が一定の閾値以上であるか否かを判定する経過日数判定手段を備え、
前記使用可能残日数算出手段は、
前記経過日数判定手段が、ある時点から現時点までの経過日数が一定の閾値以上となったと判定した場合に、前記感光体、及び現像部の使用可能残日数を算出することを特徴とする請求項16乃至18の何れか一項記載の画像形成装置。
Elapsed days determination means for determining whether the number of days elapsed from a certain point to the present time is equal to or greater than a certain threshold;
The means for calculating the remaining number of usable days,
3. The number of remaining usable days of the photoreceptor and the developing unit is calculated when the elapsed days determination means determines that the number of days elapsed from a certain time point to the present time is equal to or greater than a predetermined threshold value. 19. The image forming apparatus according to any one of 16 to 18 .
周回する感光体の周面を帯電させる帯電部材に帯電バイアスを印加する電圧印加部と、
前記帯電部材から前記感光体に流れる出力電流を表すフィードバック信号を生成する電流検知部と、を備えた画像形成装置による画像形成方法であって、
前記帯電部材に印加された帯電バイアスに係る電圧値、及び前記感光体に流れる出力電流に係る電流値に基づいて、前記感光体の膜厚を算出する膜厚算出ステップと、
前記帯電中の前記感光体の走行距離を算出する走行距離算出ステップと、
前記膜厚算出ステップによって算出された算出膜厚に走行距離を関連付けして保存する算出膜厚保存ステップと、
前記算出膜厚保存ステップから取得した複数の時点での算出膜厚と走行距離に基づいて、現時点における推定膜厚を算出する膜厚推定ステップと、
前記膜厚推定ステップにより算出された推定膜厚に基づいて、現時点の走行距離に対応した予測膜厚範囲を算出する膜厚範囲予測ステップと、を実行し、
前記膜厚範囲予測ステップは、前回の推定膜厚の値が小さいほど、予測膜厚範囲が狭くなるように算出することを特徴とする画像形成方法。
a voltage applying unit that applies a charging bias to a charging member that charges the circumferential surface of the rotating photoreceptor;
an image forming method using an image forming apparatus comprising: a current detection unit that generates a feedback signal representing an output current flowing from the charging member to the photoreceptor;
a film thickness calculation step of calculating the film thickness of the photoreceptor based on a voltage value related to the charging bias applied to the charging member and a current value related to the output current flowing through the photoreceptor;
a traveling distance calculating step of calculating a traveling distance of the photoreceptor during charging;
A calculated film thickness saving step for storing the calculated film thickness calculated by the film thickness calculating step in association with the travel distance;
A film thickness estimating step of calculating an estimated film thickness at a current time based on the calculated film thickness and travel distance at a plurality of times obtained from the calculated film thickness storage step;
a film thickness range prediction step of calculating a predicted film thickness range corresponding to the current running distance based on the estimated film thickness calculated by the film thickness estimation step ;
The image forming method , wherein, in the film thickness range prediction step, calculation is performed such that the smaller the value of the previous estimated film thickness, the narrower the predicted film thickness range .
請求項21記載の画像形成方法における各ステップをプロセッサに実行させることを特徴とするプログラム。 22. A program causing a processor to execute each step of the image forming method according to claim 21 .
JP2018201729A 2017-11-13 2018-10-26 Image forming apparatus, image forming method, and program Active JP7176350B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811305968.XA CN109782555B (en) 2017-11-13 2018-11-05 Image forming apparatus, image forming method, storage medium, and computer apparatus
US16/183,874 US10606202B2 (en) 2017-11-13 2018-11-08 Image forming apparatus to calculate film thicknesses of a photoconductor film of a photoconductor, image forming method, and non-transitory recording medium storing image forming program

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017218226 2017-11-13
JP2017218226 2017-11-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019091025A JP2019091025A (en) 2019-06-13
JP7176350B2 true JP7176350B2 (en) 2022-11-22

Family

ID=66837397

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018201729A Active JP7176350B2 (en) 2017-11-13 2018-10-26 Image forming apparatus, image forming method, and program

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7176350B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7413715B2 (en) * 2019-10-21 2024-01-16 コニカミノルタ株式会社 Image forming apparatus and its control method

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011138129A (en) 2009-12-28 2011-07-14 Xerox Corp Apparatus and method for determining photoreceptor charge transport layer thickness of apparatus using scorotron charge device
JP2014149338A (en) 2013-01-31 2014-08-21 Fuji Xerox Co Ltd Image forming apparatus, film thickness estimation device, film thickness estimation method, and film thickness estimation program
JP2015148789A (en) 2014-02-10 2015-08-20 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 Image forming apparatus and charging voltage control method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011138129A (en) 2009-12-28 2011-07-14 Xerox Corp Apparatus and method for determining photoreceptor charge transport layer thickness of apparatus using scorotron charge device
JP2014149338A (en) 2013-01-31 2014-08-21 Fuji Xerox Co Ltd Image forming apparatus, film thickness estimation device, film thickness estimation method, and film thickness estimation program
JP2015148789A (en) 2014-02-10 2015-08-20 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 Image forming apparatus and charging voltage control method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019091025A (en) 2019-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10228635B2 (en) Developer container, developing apparatus, process cartridge, apparatus main body, and image forming apparatus
US8180236B2 (en) Image forming apparatus
US10139763B2 (en) Image formation device with life determination section for replaceable unit
US20130259502A1 (en) Image formation device and image formation program
US7643765B2 (en) Image forming apparatus that charges the surface of a photosensitive member to a predetermined potential
JP2010128012A (en) Photoreceptor life determination device and image forming apparatus using the same
JP6645284B2 (en) Image forming apparatus and control program
JP7176350B2 (en) Image forming apparatus, image forming method, and program
US8107839B2 (en) Image forming apparatus with bias applying device for applying a charging bias to a charging roller and with a bias corrector
US7590365B2 (en) Image forming apparatus with charging bias correcting portion for correcting a charging bias of a charging roller
CN109782555B (en) Image forming apparatus, image forming method, storage medium, and computer apparatus
US10564564B2 (en) Image forming apparatus and method for controlling image forming apparatus
JP2016057420A (en) Image forming apparatus
US10795303B2 (en) Method of estimating lifetime of conveyance part provided in image forming apparatus
US20210382431A1 (en) Lubrication mechanism and image forming device
JP2017015979A (en) Lubricant supply device, process cartridge, and image forming apparatus
JP6108290B2 (en) Developer supply method and image forming apparatus provided with supply determination unit
JP7071232B2 (en) Image forming device
JP5114345B2 (en) Image forming apparatus
JP6873619B2 (en) Image forming device
JP2020086362A (en) Image forming apparatus
JP7225970B2 (en) image forming device
JP7302252B2 (en) Image processing device
US9952551B2 (en) Image forming apparatus for performing scraping process to scrape photosensitive member
JP2023096347A (en) image forming system

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210726

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220520

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220531

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220725

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20221011

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221024

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7176350

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151