JP7173960B2 - Solar cell paste composition - Google Patents

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Description

本発明は、太陽電池用ペースト組成物に関し、特にレーザー照射などを用いて開口部を設けたパッシベーション膜を有する結晶系太陽電池セルに対してp層を形成することを目的とした太陽電池用ペースト組成物に関する。より具体的には、開口部の直径が100μm以下であり、開口部の総面積が結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%である結晶系太陽電池セルに対して適用する太陽電池用ペースト組成物に関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a paste composition for solar cells, and in particular, a paste composition for solar cells intended to form a p + layer in a crystalline solar cell having a passivation film in which an opening is provided by using laser irradiation or the like. It relates to a paste composition. More specifically, the solar cell is applied to a crystalline solar cell in which the diameter of the openings is 100 μm or less and the total area of the openings is 0.5 to 5% of the area of the crystalline solar cell. It relates to a paste composition for

近年、結晶系太陽電池セルの変換効率(発電効率)、信頼性等を向上させることを目的として、種々の研究開発が行われている。その一つとして、セル裏面に窒化ケイ素、酸化ケイ素、酸化アルミニウム等からなるパッシベーション膜を有するPERC(Passivated emitter and rear cell)型高変換効率セルが注目されている。 BACKGROUND ART In recent years, various researches and developments have been carried out for the purpose of improving the conversion efficiency (power generation efficiency), reliability, etc. of crystalline solar cells. As one of them, a PERC (Passivated emitter and rear cell) type high conversion efficiency cell having a passivation film made of silicon nitride, silicon oxide, aluminum oxide, or the like on the rear surface of the cell has attracted attention.

PERC型高変換効率セルは、例えばアルミニウムを主成分とする電極層を備えた構造を有する。この電極層(特に裏面電極層)は、例えばアルミニウムを主体とするペースト組成物を、パッシベーション膜の開口部を被覆するようにパターン形状に塗布し、必要に応じて乾燥後、焼成することにより形成される。例えば、特許文献1には、アルミニウム粉末と、アルミニウム-シリコン合金粉末と、シリコン粉末と、ガラス粉末と、有機ビヒクルとを含むペースト組成物が開示されている。そして、電極層の構成を適切に設計することで、PERC型高変換効率セルの変換効率を高められることが知られている。 A PERC-type high conversion efficiency cell has a structure including an electrode layer whose main component is, for example, aluminum. This electrode layer (especially the back electrode layer) is formed by applying a paste composition mainly composed of aluminum in a pattern so as to cover the openings of the passivation film, drying if necessary, and then firing. be done. For example, Patent Document 1 discloses a paste composition containing aluminum powder, aluminum-silicon alloy powder, silicon powder, glass powder, and an organic vehicle. It is known that the conversion efficiency of the PERC type high conversion efficiency cell can be increased by appropriately designing the configuration of the electrode layers.

また、近年ではPERC型高変換効率セルの変換効率を更に高める方法として、パッシベーション膜の開口部の面積を小さくし、パッシベーション膜の面積を増やすことにより、電子とホールとの再結合を抑制することが検討されてきている。 In recent years, as a method of further increasing the conversion efficiency of the PERC type high conversion efficiency cell, the recombination of electrons and holes is suppressed by reducing the area of the opening of the passivation film and increasing the area of the passivation film. are being considered.

特開2013-143499号公報JP 2013-143499 A

しかしながら、従来のペースト組成物を用いて電極層を形成した場合に、特に開口部の直径が100μm以下であり、開口部の総面積が結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%である結晶系太陽電池セルに対しては変換効率の向上に未だ改善の余地がある。また、電極層界面にボイドと称される空隙が生じる場合がある他、静的機械荷重試験後の変換効率の低下率が3%以上になるという問題がある。電極層界面にボイドが生じた場合には、抵抗を増加させるとともに結晶系太陽電池セルの長期信頼性の低下の原因となり得る。 However, when an electrode layer is formed using a conventional paste composition, the diameter of the openings is 100 μm or less, and the total area of the openings is 0.5 to 5% of the area of the crystalline solar cell. There is still room for improvement in the conversion efficiency of certain crystalline solar cells. In addition, voids called voids may occur at the interface between the electrode layers, and the rate of decrease in conversion efficiency after the static mechanical load test is 3% or more. If voids occur at the interface between the electrode layers, they increase the resistance and may cause deterioration in the long-term reliability of the crystalline solar cell.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、パッシベーション膜の開口部の直径が100μm以下であり、開口部の総面積が結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%である結晶系太陽電池セルに対して適用した場合でも優れた変換効率が達成できるとともに、焼成後の電極層界面でのボイドの発生を抑制し、更に静的機械荷重試験後の変換効率の低下率を抑制できる太陽電池用ペースト組成物を提供することを目的とする。また、当該太陽電池用ペースト組成物を用いた裏面電極の形成方法を提供することも目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems. Excellent conversion efficiency can be achieved even when applied to solar cells, suppressing the generation of voids at the electrode layer interface after firing, and suppressing the rate of decrease in conversion efficiency after a static mechanical load test. An object of the present invention is to provide a solar cell paste composition that can Another object of the present invention is to provide a method for forming a back electrode using the paste composition for solar cells.

本発明者は、上記目的を達成すべく鋭意研究を重ねた結果、特定の導電性材料を含むペースト組成物が上記目的を達成できることを見出し、本発明を完成するに至った。 Means for Solving the Problems As a result of intensive studies aimed at achieving the above objects, the present inventors have found that a paste composition containing a specific conductive material can achieve the above objects, and have completed the present invention.

即ち、本発明は、下記の太陽電池用ペースト組成物に関する。
1.開口部を設けたパッシベーション膜を有する結晶系太陽電池セルに対してp層を形成する用途に用いる、ガラス粉末、有機ビヒクル及び導電性材料を含有する太陽電池用ペースト組成物であって、
(1)前記開口部は直径が100μm以下であり、前記開口部の総面積の割合は前記結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%であり、
(2)前記導電性材料は、アルミニウム粉末と、シリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末とを含有し、前記シリコンの初晶の最大長径のサイズが5μm以下である、
ことを特徴とする太陽電池用ペースト組成物。
2.前記アルミニウム粉末100質量部に対して、前記アルミニウム-シリコン合金粉末40~700質量部、前記ガラス粉末0.1~15質量部、及び前記有機ビヒクル20~45質量部を含有する、上記項1に記載の太陽電池用ペースト組成物。
3.前記開口部の直径が20~100μmである、上記項1又は2に記載の太陽電池用ペースト組成物。
4.開口部を設けたパッシベーション膜を有する結晶系太陽電池セルに対して、前記開口部を被覆するように、ガラス粉末、有機ビヒクル及び導電性材料を含有する太陽電池用ペースト組成物を塗布することにより塗膜を形成する工程1、並びに、
前記塗膜を700~900℃で焼成する工程2、
を有する、結晶系太陽電池セルの裏面電極の形成方法であって、
(1)前記開口部は直径が100μm以下であり、前記開口部の総面積の割合は前記結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%であり、
(2)前記導電性材料は、アルミニウム粉末と、シリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末とを含有し、前記シリコンの初晶の最大長径のサイズが5μm以下である、
ことを特徴とする裏面電極の形成方法。
5.前記アルミニウム粉末100質量部に対して、前記アルミニウム-シリコン合金粉末40~700質量部、前記ガラス粉末0.1~15質量部、及び前記有機ビヒクル20~45質量部を含有する、上記項4に記載の裏面電極の形成方法。
6.前記開口部の直径が20~100μmである、上記項4又は5に記載の裏面電極の形成方法。
That is, the present invention relates to the following solar cell paste composition.
1. A solar cell paste composition containing a glass powder, an organic vehicle and a conductive material for use in forming a p + layer in a crystalline solar cell having a passivation film with openings,
(1) the opening has a diameter of 100 μm or less, and the percentage of the total area of the opening is 0.5 to 5% of the area of the crystalline solar cell;
(2) The conductive material contains aluminum powder and an aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon, and the size of the maximum major axis of the primary crystals of silicon is 5 μm or less.
A solar cell paste composition characterized by:
2. Item 1 above, wherein 40 to 700 parts by mass of the aluminum-silicon alloy powder, 0.1 to 15 parts by mass of the glass powder, and 20 to 45 parts by mass of the organic vehicle are contained with respect to 100 parts by mass of the aluminum powder. The solar cell paste composition described above.
3. 3. The solar cell paste composition according to item 1 or 2, wherein the opening has a diameter of 20 to 100 μm.
4. By applying a solar cell paste composition containing a glass powder, an organic vehicle and a conductive material to a crystalline solar cell having a passivation film with an opening so as to cover the opening. Step 1 of forming a coating film, and
Step 2 of baking the coating film at 700 to 900 ° C.
A method for forming a back electrode of a crystalline solar cell, comprising:
(1) the opening has a diameter of 100 μm or less, and the percentage of the total area of the opening is 0.5 to 5% of the area of the crystalline solar cell;
(2) The conductive material contains aluminum powder and an aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon, and the size of the maximum major axis of the primary crystals of silicon is 5 μm or less.
A method of forming a back electrode, characterized by:
5. Item 4 above, wherein 40 to 700 parts by mass of the aluminum-silicon alloy powder, 0.1 to 15 parts by mass of the glass powder, and 20 to 45 parts by mass of the organic vehicle are contained with respect to 100 parts by mass of the aluminum powder. A method of forming the described backside electrode.
6. 6. The method of forming a back surface electrode according to item 4 or 5, wherein the opening has a diameter of 20 to 100 μm.

本発明の太陽電池用ペースト組成物は、結晶系太陽電池セル(特にPERC型高変換効率セル)の中でもパッシベーション膜の開口部の直径が100μm以下であり、開口部の総面積が結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%である結晶系太陽電池セルに対して適用した場合でも優れた変換効率が達成できるとともに、焼成後の電極層界面でのボイドの発生を抑制し、更に静的機械荷重試験後の変換効率の低下率を抑制できる。 The solar cell paste composition of the present invention has a passivation film opening having a diameter of 100 μm or less among crystalline solar cells (especially PERC type high conversion efficiency cells), and a total area of the openings of the crystalline solar cell. Excellent conversion efficiency can be achieved even when applied to a crystalline solar cell that is 0.5 to 5% of the cell area, and the generation of voids at the electrode layer interface after firing can be suppressed, and further static. It is possible to suppress the reduction rate of the conversion efficiency after the mechanical load test.

PERC型太陽電池セルの断面構造の一例を示す模式図であり、(a)はその実施形態の一例を示し、(b)はその実施形態の他例を示す。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic diagram which shows an example of the cross-section of a PERC-type solar cell, (a) shows an example of the embodiment, (b) shows the other example of the embodiment. 実施例及び比較例において作製された電極構造の断面の模式図である。It is a schematic diagram of the cross section of the electrode structure produced in an Example and a comparative example. アルミニウム粉末、及びアルミニウム-シリコン合金粉末の表面を電子顕微鏡により観察した観察像を示す図である。詳細には、(a)はシリコン含有量が20原子%のアルミニウム-シリコン合金粉末、(b)はアルミニウム粉末、(c)はシリコン含有量が15原子%のアルミニウム-シリコン合金粉末の観察像である。FIG. 2 is a diagram showing observation images obtained by observing surfaces of aluminum powder and aluminum-silicon alloy powder with an electron microscope. Specifically, (a) is an aluminum-silicon alloy powder with a silicon content of 20 atomic %, (b) is an aluminum powder, and (c) is an aluminum-silicon alloy powder with a silicon content of 15 atomic %. be.

以下、本発明の太陽電池用ペースト組成物について詳細に説明する。なお、本明細書において、「~」で示される範囲は、特に説明する場合を除き「以上、以下」を意味する。 Hereinafter, the paste composition for solar cells of the present invention will be described in detail. In this specification, the range indicated by "-" means "more than or equal to or less than" unless otherwise specified.

本発明の太陽電池用ペースト組成物は、例えば、結晶系太陽電池セルの電極を形成するために使用することができる。結晶系太陽電池セルとしては特に限定されないが、例えば、PERC(Passivated emitter and rear cell)型高変換効率セル(以下、「PERC型太陽電池セル」という。)が挙げられる。本発明の太陽電池用ペースト組成物は、例えば、PERC型太陽電池セルの裏面電極を形成するために使用することができる。以下、本発明のペースト組成物を、単に「ペースト組成物」とも記載する。 The solar cell paste composition of the present invention can be used, for example, to form electrodes of a crystalline solar cell. The crystalline solar cell is not particularly limited, but includes, for example, a PERC (Passivated emitter and rear cell) type high conversion efficiency cell (hereinafter referred to as "PERC type solar cell"). The solar cell paste composition of the present invention can be used, for example, to form a back electrode of a PERC solar cell. Hereinafter, the paste composition of the present invention is also simply referred to as "paste composition".

最初に、PERC型太陽電池セルの構造の一例を説明する。 First, an example of the structure of a PERC solar cell will be described.

1.PERC型太陽電池セル
図1(a)、(b)は、PERC型太陽電池セルの一般的な断面構造の模式図である。PERC型太陽電池セルは、シリコン半導体基板1、n型不純物層2、反射防止膜(パッシベーション膜)3、グリッド電極4、電極層(裏面電極層)5、合金層6、p層7を構成要素として備えることができる。
1. 1. PERC Solar Cell FIGS. 1(a) and 1(b) are schematic diagrams of a typical cross-sectional structure of a PERC solar cell. A PERC solar cell comprises a silicon semiconductor substrate 1, an n-type impurity layer 2, an antireflection film (passivation film) 3, a grid electrode 4, an electrode layer (back electrode layer) 5, an alloy layer 6, and a p + layer 7. It can be provided as an element.

シリコン半導体基板1は特に限定されず、例えば、厚みが180~250μmのp型シリコン基板が用いられる。 Silicon semiconductor substrate 1 is not particularly limited, and for example, a p-type silicon substrate having a thickness of 180 to 250 μm is used.

n型不純物層2は、シリコン半導体基板1の受光面側に設けられる。n型不純物層2の厚みは、例えば、0.3~0.6μmである。 The n-type impurity layer 2 is provided on the light receiving surface side of the silicon semiconductor substrate 1 . The thickness of the n-type impurity layer 2 is, for example, 0.3 to 0.6 μm.

反射防止膜3及びグリッド電極4は、n型不純物層2の表面に設けられる。反射防止膜3は、例えば、窒化シリコン膜で形成されパッシベーション膜とも称される。反射防止膜3は、いわゆるパッシベーション膜として作用することで、シリコン半導体基板1の表面での電子の再結合を抑制でき、結果として、発生したキャリアの再結合率を減らすことを可能にする。これにより、PERC型太陽電池セルの変換効率が高められる。 The antireflection film 3 and the grid electrode 4 are provided on the surface of the n-type impurity layer 2 . The antireflection film 3 is formed of, for example, a silicon nitride film and is also called a passivation film. By acting as a so-called passivation film, the antireflection film 3 can suppress recombination of electrons on the surface of the silicon semiconductor substrate 1, and as a result, can reduce the recombination rate of generated carriers. This increases the conversion efficiency of the PERC solar cell.

反射防止膜(パッシベーション膜)3は、シリコン半導体基板1の裏面側、つまり、前記受光面と逆側の面にも設けられる。また、この裏面側の反射防止膜(パッシベーション膜)3を貫通し、かつ、シリコン半導体基板1の裏面の一部を削るように形成されたコンタクト孔(本発明での開口部)が、シリコン半導体基板1の裏面側に形成されている。 An antireflection film (passivation film) 3 is also provided on the back surface side of the silicon semiconductor substrate 1, that is, on the surface opposite to the light receiving surface. Further, a contact hole (opening in the present invention) penetrating through the antireflection film (passivation film) 3 on the back surface side and cutting a part of the back surface of the silicon semiconductor substrate 1 is a silicon semiconductor substrate. It is formed on the back side of the substrate 1 .

電極層5は、前記コンタクト孔を通じてシリコン半導体基板1に接触するように形成されている。電極層5は、本発明のペースト組成物によって形成される部材であり、所定のパターン形状に形成される。図1(a)の形態のように、電極層5は、PERC型太陽電池セルの裏面全体を覆うように形成されていてもよいし、又は図1(b)の形態のようにコンタクト孔及びその近傍を覆うように形成されていてもよい。電極層5の主成分はアルミニウムであるので、電極層5はアルミニウム電極層である。 The electrode layer 5 is formed so as to contact the silicon semiconductor substrate 1 through the contact hole. The electrode layer 5 is a member formed from the paste composition of the present invention, and is formed in a predetermined pattern shape. The electrode layer 5 may be formed to cover the entire rear surface of the PERC solar cell as in the embodiment of FIG. It may be formed so as to cover the vicinity thereof. Since the main component of the electrode layer 5 is aluminum, the electrode layer 5 is an aluminum electrode layer.

電極層5は、例えば、ペースト組成物を所定のパターン形状に塗布し、焼成することで形成される。塗布方法は特に限定されず、例えば、スクリーン印刷等の公知の方法が挙げられる。ペースト組成物を塗布し、必要に応じて乾燥させた後、例えば、アルミニウムの融点(約660℃)を超える温度にて短時間焼成することで、電極層5が形成される。 The electrode layer 5 is formed, for example, by applying a paste composition in a predetermined pattern and baking the paste composition. The coating method is not particularly limited, and examples thereof include known methods such as screen printing. The electrode layer 5 is formed by applying the paste composition, drying it if necessary, and then firing it for a short time at a temperature exceeding the melting point of aluminum (approximately 660° C.), for example.

本発明では、焼成温度はアルミニウムの融点(約660℃)を超える温度であればよいが、700~900℃程度が好ましく、780~900℃程度がより好ましい。焼成時間は所望の電極層5が形成される範囲で焼成温度に応じて適宜設定することができる。 In the present invention, the firing temperature may be any temperature above the melting point of aluminum (about 660°C), preferably about 700 to 900°C, more preferably about 780 to 900°C. The sintering time can be appropriately set according to the sintering temperature so long as the desired electrode layer 5 is formed.

このように焼成すると、ペースト組成物に含まれるアルミニウムが、シリコン半導体基板1の内部に拡散する。これにより、電極層5とシリコン半導体基板1との間に、アルミニウム-シリコン(Al-Si)合金層(合金層6)が形成され、これと同時に、アルミニウム原子の拡散によって、不純物層としてのp層7が形成される。By firing in this way, the aluminum contained in the paste composition diffuses inside the silicon semiconductor substrate 1 . As a result, an aluminum-silicon (Al—Si) alloy layer (alloy layer 6) is formed between the electrode layer 5 and the silicon semiconductor substrate 1. A + layer 7 is formed.

層7は、電子の再結合を防止し、生成キャリアの収集効率を向上させる効果、いわゆるBSF(Back Surface Field)効果をもたらすことができる。The p + layer 7 can prevent recombination of electrons and improve the collection efficiency of generated carriers, that is, a so-called BSF (back surface field) effect.

前記電極層5と合金層6とで形成される電極が、図1に示す裏面電極8である。従って、裏面電極8は、ペースト組成物を用いて形成され、例えば、裏面側の反射防止膜(パッシベーション膜)3に設けたコンタクト孔9(開口部)を被覆するように塗工し、必要に応じて乾燥後、焼成することによって裏面電極8を形成できる。 The electrode formed by the electrode layer 5 and the alloy layer 6 is the back electrode 8 shown in FIG. Therefore, the back electrode 8 is formed using a paste composition, for example, is coated so as to cover the contact hole 9 (opening) provided in the antireflection film (passivation film) 3 on the back side, and if necessary After drying, the back electrode 8 can be formed by firing.

ここで、本発明のペースト組成物を用いて裏面電極8を形成することにより、パッシベーション膜の開口部の直径が100μm以下(好ましくは20~100μm)であり、開口部の総面積が結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%(特に2~4%、更には2.5~3.5%)である結晶系太陽電池セルに対して適用した場合でも優れた変換効率が達成できるとともに、焼成後の電極層界面でのボイドの発生を抑制し、更に静的機械荷重試験後の変換効率の低下率を抑制できる。 Here, by forming the back electrode 8 using the paste composition of the present invention, the diameter of the openings in the passivation film is 100 μm or less (preferably 20 to 100 μm), and the total area of the openings is crystalline solar cell. Excellent conversion efficiency can be achieved even when applied to a crystalline solar cell that is 0.5 to 5% (especially 2 to 4%, further 2.5 to 3.5%) of the area of the battery cell. At the same time, it is possible to suppress the generation of voids at the electrode layer interface after firing, and further suppress the rate of decrease in conversion efficiency after the static mechanical load test.

2.ペースト組成物
本発明のペースト組成物は、開口部を設けたパッシベーション膜を有する結晶系太陽電池セルに対してp層を形成する用途に用いる、ガラス粉末、有機ビヒクル及び導電性材料を含有する太陽電池用ペースト組成物であって、
(1)前記開口部は直径が100μm以下であり、前記開口部の総面積は前記結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%であり、
(2)前記導電性材料は、アルミニウム粉末と、長径が5μm以下のシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末とを含有する、
ことを特徴とする。
2. Paste Composition The paste composition of the present invention contains a glass powder, an organic vehicle and a conductive material used for forming a p + layer in a crystalline solar cell having a passivation film with openings. A paste composition for a solar cell,
(1) the openings have a diameter of 100 μm or less, and the total area of the openings is 0.5 to 5% of the area of the crystalline solar cell;
(2) The conductive material contains aluminum powder and an aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon with a major axis of 5 μm or less.
It is characterized by

前述したように、ペースト組成物を使用することで、PERC型太陽電池セル等の太陽電池セルの裏面電極を形成することができる。つまり、本発明のペースト組成物は、シリコン基板上に形成されたパッシベーション膜に設けた開口部(コンタクト孔)を通じてシリコン基板に電気的に接触する太陽電池用裏面電極を形成するために用いることができる。そして、本発明のペースト組成物によれば、結晶系太陽電池セル(特にPERC型太陽電池セル)の中でもパッシベーション膜の開口部の直径が100μm以下であり、開口部の総面積が結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%である結晶系太陽電池セルに対して適用した場合でも優れた変換効率が達成できるとともに、焼成後の電極層界面でのボイドの発生を抑制し、更に静的機械荷重試験後の変換効率の低下率を抑制できる。 As described above, the paste composition can be used to form the back electrode of a photovoltaic cell such as a PERC type photovoltaic cell. In other words, the paste composition of the present invention can be used to form a back electrode for solar cells that is in electrical contact with a silicon substrate through an opening (contact hole) provided in a passivation film formed on a silicon substrate. can. According to the paste composition of the present invention, the diameter of the opening of the passivation film is 100 μm or less among the crystalline solar cells (especially PERC type solar cells), and the total area of the openings is 100 μm or less. Excellent conversion efficiency can be achieved even when applied to a crystalline solar cell that is 0.5 to 5% of the cell area, and the generation of voids at the electrode layer interface after firing can be suppressed, and further static. It is possible to suppress the rate of decrease in conversion efficiency after a mechanical load test.

ペースト組成物は、ガラス粉末、有機ビヒクル及び導電性材料(金属粒子)を構成成分として含む。そして、ペースト組成物が導電性材料(金属粒子)を含むことで、ペースト組成物の塗膜が焼成されて形成される焼結体は、シリコン基板と電気的に接続する導電性が発揮される。
(導電性材料)
本発明において、導電性材料は、アルミニウム粉末と、長径が5μm以下のシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末とを含有する。
The paste composition contains glass powder, an organic vehicle and a conductive material (metal particles) as constituents. Then, since the paste composition contains a conductive material (metal particles), the sintered body formed by firing the coating film of the paste composition exhibits conductivity to be electrically connected to the silicon substrate. .
(Conductive material)
In the present invention, the conductive material contains aluminum powder and aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon with a major axis of 5 μm or less.

上記アルミニウム粉末は合金が形成されていないアルミニウムをいうが、不可避不純物及び原料由来の微量の添加元素の存在は排除しない。 The above-mentioned aluminum powder refers to non-alloyed aluminum, but the presence of unavoidable impurities and trace amounts of additive elements derived from raw materials is not excluded.

本発明で用いるアルミニウム-シリコン合金粉末は、アルミニウムとシリコンとの合金粉末を示すが、アルミニウム及びシリコン中の不可避不純物及び原料由来の微量の添加元素の存在は排除しない。本発明では、当該アルミニウム-シリコン合金におけるシリコン含有量は12~30原子%が好ましく、17~25原子%がより好ましい。このようなアルミニウム-シリコン合金粉末を導電性材料に含有することにより、ペースト組成物の塗膜を焼成する際にペースト組成物中のアルミニウムとシリコン基板中のシリコンとの過剰な反応を抑制し、電極層界面(詳細には電極層とシリコン基板との界面)でのボイドの発生を抑制することができる。 The aluminum-silicon alloy powder used in the present invention indicates an alloy powder of aluminum and silicon, but does not exclude the presence of unavoidable impurities in aluminum and silicon and trace amounts of additive elements derived from raw materials. In the present invention, the silicon content in the aluminum-silicon alloy is preferably 12-30 atomic %, more preferably 17-25 atomic %. By containing such an aluminum-silicon alloy powder in the conductive material, excessive reaction between aluminum in the paste composition and silicon in the silicon substrate is suppressed when firing the coating film of the paste composition, It is possible to suppress the generation of voids at the electrode layer interface (specifically, the interface between the electrode layer and the silicon substrate).

本発明で用いるアルミニウム-シリコン合金粉末は、長径が5μm以下(即ち、0μm超過5μm以下)のシリコンの初晶を有することを特徴とする。このようなアルミニウム-シリコン合金粉末を導電性材料に含有することにより、電極層の抵抗を低くし、優れた変換効率を達成できるとともに、静的機械荷重試験後の変換効率の低下率を抑制することができる。初晶の長径は5μm以下であればよいが、その中でも1~5μmが好ましく、2~5μmがより好ましい。 The aluminum-silicon alloy powder used in the present invention is characterized by having silicon primary crystals with a major axis of 5 μm or less (that is, more than 0 μm and 5 μm or less). By containing such an aluminum-silicon alloy powder in the conductive material, the resistance of the electrode layer can be lowered, excellent conversion efficiency can be achieved, and the rate of decrease in conversion efficiency after a static mechanical load test can be suppressed. be able to. The major axis of the primary crystal is preferably 5 μm or less, preferably 1 to 5 μm, more preferably 2 to 5 μm.

アルミニウム-シリコン合金粉末の初晶の有無及び初晶の形状は、アルミニウム-シリコン合金粉末の断面を光学顕微鏡により観察することにより特定することができる。 The presence or absence of primary crystals in the aluminum-silicon alloy powder and the shape of the primary crystals can be identified by observing the cross section of the aluminum-silicon alloy powder with an optical microscope.

アルミニウム粉末、及びアルミニウム-シリコン合金粉末の一例の光学顕微鏡による観察像が図3に示されている。(a)で示されるシリコン含有量が20原子%のアルミニウム-シリコン合金粉末の断面の観察像にはシリコンの初晶が不定形の灰色点として確認できる。これに対して、(b)で示されるアルミニウム粉末(シリコンは含まない)及び(c)で示されるシリコン含有量が15原子%のアルミニウム-シリコン合金粉末の断面の観察像にはシリコンの初晶は確認できない。 An example of aluminum powder and aluminum-silicon alloy powder observed with an optical microscope is shown in FIG. In the observation image of the cross section of the aluminum-silicon alloy powder having a silicon content of 20 atomic % shown in (a), the primary crystals of silicon can be confirmed as amorphous gray dots. On the other hand, the cross-sectional observation images of the aluminum powder (not containing silicon) shown in (b) and the aluminum-silicon alloy powder with a silicon content of 15 atomic % shown in (c) show primary crystals of silicon. cannot be confirmed.

長径が5μm以下の初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末を得る方法としては限定的ではないが、例えば、シリコン含有量が12原子%以上、好ましくは12~30原子%のアルミニウム-シリコン合金の溶湯に0.05原子%以上のリン(P)を添加してアトマイズする方法、又は当該溶湯を103K/s以上の速度で急冷しながらアトマイズする方法が挙げられる。急冷法であれば、初晶の長径を5μm以下とするために急冷速度を103K/s以上としてアトマイズすることが好ましい。その他、例えば、アルミニウム-シリコン合金粉末をヘリウム(He)、アルゴン(Ar)等の不活性ガスでアトマイズする方法も挙げられる。 Although the method for obtaining an aluminum-silicon alloy powder having primary crystals with a major axis of 5 μm or less is not limited, for example, a molten aluminum-silicon alloy having a silicon content of 12 atomic % or more, preferably 12 to 30 atomic %. a method of adding 0.05 atomic % or more of phosphorus (P) to the molten metal for atomization, or a method of atomizing while quenching the molten metal at a rate of 103 K/s or more. In the quenching method, it is preferable to atomize at a quenching rate of 103 K/s or more in order to make the length of the primary crystal 5 μm or less. In addition, for example, there is a method of atomizing aluminum-silicon alloy powder with an inert gas such as helium (He) or argon (Ar).

アルミニウム粉末に対するアルミニウム-シリコン合金粉末の含有量は限定されないが、アルミニウム粉末100質量部に対してアルミニウム-シリコン合金粉末の含有量は40~700質量部が好ましく、40~250質量部がより好ましい。 The content of the aluminum-silicon alloy powder relative to the aluminum powder is not limited, but the content of the aluminum-silicon alloy powder is preferably 40 to 700 parts by mass, more preferably 40 to 250 parts by mass, per 100 parts by mass of the aluminum powder.

導電性材料(アルミニウム粉末、及びアルミニウム-シリコン合金粉末)の形状は特に限定されず、例えば、球状、楕円状、不定形状、鱗片状、繊維状等のいずれでもよい。導電性材料の形状が球状であれば、ペースト組成物により形成される電極層5において、導電性材料の充填性が増大して電気抵抗を効果的に低下させることができる。 The shape of the conductive material (aluminum powder and aluminum-silicon alloy powder) is not particularly limited, and may be, for example, spherical, elliptical, amorphous, scaly, or fibrous. If the shape of the conductive material is spherical, the filling property of the conductive material increases in the electrode layer 5 formed from the paste composition, and the electrical resistance can be effectively reduced.

また、導電性材料の形状が球状である場合、ペースト組成物により形成される電極層5において、シリコン半導体基板1と導電性材料との接点が増えるので、良好なBSF層を形成しやすい。球状の場合には、レーザー回折法により測定される平均粒子径が1~10μmの範囲であることが好ましい。 Further, when the shape of the conductive material is spherical, the number of contact points between the silicon semiconductor substrate 1 and the conductive material increases in the electrode layer 5 formed from the paste composition, so it is easy to form a good BSF layer. In the case of a spherical shape, the average particle size measured by laser diffraction method is preferably in the range of 1 to 10 μm.

なお、本発明の効果が阻害されない範囲で、必要に応じてアルミニウム粉末、及びアルミニウム-シリコン合金粉末以外の他の金属粒子を含有することは許容される。これらの導電性材料は、いずれもガスアトマイズ法などの公知の方法で製造することができる。
(ガラス粉末)
ガラス粉末は、導電性材料とシリコンとの反応、及び、導電性材料自身の焼結を助ける作用があるとされている。
As long as the effects of the present invention are not hindered, it is permissible to contain metal particles other than the aluminum powder and the aluminum-silicon alloy powder, if necessary. All of these conductive materials can be produced by known methods such as gas atomization.
(glass powder)
The glass powder is said to have the effect of assisting the reaction between the conductive material and silicon and the sintering of the conductive material itself.

ガラス粉末としては特に限定されず、例えば、太陽電池セルの電極層を形成するために使用されているペースト組成物に含まれる公知のガラス成分とすることができる。ガラス粉末の具体例としては、鉛(Pb)、ビスマス(Bi)、バナジウム(V)、ホウ素(B)、シリコン(Si)、スズ(Sn)、リン(P)及び亜鉛(Zn)からなる群から選択される少なくとも一種が挙げられる。また、鉛を含むガラス粉末、又は、ビスマス系、バナジウム系、スズ-リン系、ホウケイ酸亜鉛系、アルカリホウケイ酸系等の無鉛のガラス粉末を用いることができる。特に人体への影響を考慮すると、無鉛のガラス粉末を用いることが望ましい。 The glass powder is not particularly limited, and can be, for example, a known glass component contained in a paste composition used to form an electrode layer of a solar cell. Specific examples of glass powder include the group consisting of lead (Pb), bismuth (Bi), vanadium (V), boron (B), silicon (Si), tin (Sn), phosphorus (P) and zinc (Zn). At least one selected from Glass powder containing lead, or lead-free glass powder such as bismuth, vanadium, tin-phosphorus, zinc borosilicate, and alkali borosilicate can also be used. Especially considering the effect on the human body, it is desirable to use lead-free glass powder.

具体的にガラス粉末は、B、Bi、ZnO、SiO、Al、BaO、CaO、SrO、V、Sb、WO、P及びTeOからなる群より選ばれる少なくとも1種の成分を含むことができる。例えば、ガラス粉末において、B成分とBi成分とのモル比(B/Bi)が0.8以上4.0以下であるガラスフリットと、V成分とBaO成分とのモル比(V/BaO)が1.0以上2.5以下であるガラスフリットとを組み合わせてもよい。Specifically, the glass powder is B2O3 , Bi2O3 , ZnO, SiO2 , Al2O3 , BaO , CaO, SrO , V2O5 , Sb2O3 , WO3 , P2O5 and TeO2 . For example, in the glass powder, a glass frit having a molar ratio (B 2 O 3 /Bi 2 O 3 ) of 3 components of B 2 O to 3 components of Bi 2 O of 0.8 or more and 4.0 or less, and V 2 O A glass frit in which the molar ratio (V 2 O 5 /BaO) of the five components and the BaO component is 1.0 or more and 2.5 or less may be combined.

ガラス粉末の軟化点は、例えば、750℃以下とすることができる。ガラス粉末に含まれる粒子の平均粒子径は、例えば、1~3μmとすることができる。 The softening point of the glass powder can be, for example, 750° C. or less. The average particle size of particles contained in the glass powder can be, for example, 1 to 3 μm.

ペースト組成物中に含まれるガラス粉末の含有量は、例えば、導電性材料100質量部に対して、0.5~40質量部であることが好ましく、特にアルミニウム粉末100質量部に対して、0.1~15質量部であることが好ましい。この場合、シリコン半導体基板1および反射防止膜3(パッシベーション膜)との密着性が良好となり、また、電気抵抗も増大しにくい。
(有機ビヒクル)
有機ビヒクルとしては、溶剤に、必要に応じて各種添加剤及び樹脂を溶解した材料を使用できる。又は、溶剤を含まず、樹脂そのものを有機ビヒクルとして使用してもよい。
The content of the glass powder contained in the paste composition is, for example, preferably 0.5 to 40 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the conductive material, particularly 0 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the aluminum powder. .1 to 15 parts by mass. In this case, the adhesion between the silicon semiconductor substrate 1 and the antireflection film 3 (passivation film) is improved, and the electrical resistance is less likely to increase.
(organic vehicle)
As the organic vehicle, a material obtained by dissolving various additives and resins in a solvent can be used as necessary. Alternatively, the resin itself may be used as the organic vehicle without containing the solvent.

溶剤は、公知の種類が使用可能であり、具体的には、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル等が挙げられる。 Known types of solvents can be used, and specific examples include diethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monobutyl ether acetate, dipropylene glycol monomethyl ether, and the like.

各種添加剤としては、例えば、酸化防止剤、腐食抑制剤、消泡剤、増粘剤、タックファイヤー、カップリング剤、静電付与剤、重合禁止剤、チキソトロピー剤、沈降防止剤等を使用することができる。具体的には、例えば、ポリエチレングリコールエステル化合物、ポリエチレングリコールエーテル化合物、ポリオキシエチレンソルビタンエステル化合物、ソルビタンアルキルエステル化合物、脂肪族多価カルボン酸化合物、燐酸エステル化合物、ポリエステル酸のアマイドアミン塩、酸化ポリエチレン系化合物、脂肪酸アマイドワックス等を使用することができる。 Various additives include, for example, antioxidants, corrosion inhibitors, antifoaming agents, thickeners, tack-fires, coupling agents, static charge imparting agents, polymerization inhibitors, thixotropic agents, anti-settling agents, etc. be able to. Specifically, for example, polyethylene glycol ester compounds, polyethylene glycol ether compounds, polyoxyethylene sorbitan ester compounds, sorbitan alkyl ester compounds, aliphatic polycarboxylic acid compounds, phosphoric acid ester compounds, polyester acid amide amine salts, polyethylene oxide system compounds, fatty acid amide waxes, and the like can be used.

樹脂としては公知の種類が使用可能であり、エチルセルロース、ニトロセルロース、ポリビニールブチラール、フェノール樹脂、メラニン樹脂、ユリア樹脂、キシレン樹脂、アルキッド樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、フラン樹脂、ウレタン樹脂、イソシアネート化合物、シアネート化合物等の熱硬化樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ABS樹脂、ポリメタクリル酸メチル、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリ酢酸ビニル、ポリビニルアルコール、ポリアセタール、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリフェニレンオキサイド、ポリスルフォン、ポリイミド、ポリエーテルスルフォン、ポリアリレート、ポリエーテルエーテルケトン、ポリ4フッ化エチレン、シリコン樹脂等の二種以上を組み合わせて用いることができる。 As the resin, known types can be used, and ethyl cellulose, nitrocellulose, polyvinyl butyral, phenolic resin, melanin resin, urea resin, xylene resin, alkyd resin, unsaturated polyester resin, acrylic resin, polyimide resin, furan resin, Urethane resin, isocyanate compound, thermosetting resin such as cyanate compound, polyethylene, polypropylene, polystyrene, ABS resin, polymethyl methacrylate, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polyvinyl acetate, polyvinyl alcohol, polyacetal, polycarbonate, polyethylene terephthalate, Two or more of polybutylene terephthalate, polyphenylene oxide, polysulfone, polyimide, polyethersulfone, polyarylate, polyetheretherketone, polytetrafluoroethylene, silicone resin, and the like can be used in combination.

有機ビヒクルに含まれる樹脂、溶剤、各種添加剤の割合は任意に調整することができ、例えば、公知の有機ビヒクルと同様の成分比とすることができる。 The proportions of the resin, solvent, and various additives contained in the organic vehicle can be arbitrarily adjusted, and, for example, the component ratios can be the same as those of known organic vehicles.

有機ビヒクルの含有比率は特に限定されないが、例えば、良好な印刷性を有するという観点から、導電性材料100質量部に対して、10~500質量部であることが好ましく、20~45質量部であることが特に好ましい。また、特にアルミニウム粉末100質量部に対して、10~500質量部であることが好ましく、20~45質量部であることが好ましい。 The content ratio of the organic vehicle is not particularly limited. It is particularly preferred to have Further, it is preferably 10 to 500 parts by mass, preferably 20 to 45 parts by mass, with respect to 100 parts by mass of the aluminum powder.

本発明のペースト組成物は、例えば、太陽電池セルの電極層(特には図1で示されるようなPERC型太陽電池セルの裏面電極8)を形成するための使用として適している。よって、本発明のペースト組成物は、太陽電池裏面電極形成剤としても使用され得る。 The paste composition of the present invention is suitable for use, for example, in forming the electrode layer of a solar cell (especially the rear electrode 8 of a PERC solar cell as shown in FIG. 1). Therefore, the paste composition of the present invention can also be used as a solar cell backside electrode forming agent.

3.裏面電極の形成方法
本発明の結晶系太陽電池セルの裏面電極(図1の裏面電極8)の形成方法は、
開口部を設けたパッシベーション膜を有する結晶系太陽電池セルに対して、前記開口部を被覆するように、ガラス粉末、有機ビヒクル及び導電性材料を含有する太陽電池用ペースト組成物を塗布することにより塗膜を形成する工程1、並びに、
前記塗膜を700~900℃で焼成する工程2、を有し、
(1)前記開口部は直径が100μm以下であり、前記開口部の総面積は前記結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%であり、
(2)前記導電性材料は、アルミニウム粉末と、長径が5μm以下のシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末とを含有する、
ことを特徴とする。
3. Method for Forming Backside Electrode The method for forming the backside electrode (backside electrode 8 in FIG. 1) of the crystalline solar cell of the present invention is as follows.
By applying a solar cell paste composition containing a glass powder, an organic vehicle and a conductive material to a crystalline solar cell having a passivation film with an opening so as to cover the opening. Step 1 of forming a coating film, and
A step 2 of baking the coating film at 700 to 900 ° C.,
(1) the openings have a diameter of 100 μm or less, and the total area of the openings is 0.5 to 5% of the area of the crystalline solar cell;
(2) The conductive material contains aluminum powder and an aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon with a major axis of 5 μm or less.
It is characterized by

結晶系太陽電池セル及び太陽電池用ペースト組成物については、基本的には前述の通りであるが、パッシベーション膜に設けた開口部の直径は100μm以下の中でも、20~100μmであることが好ましい。開口部は、通常、レーザー照射などで形成できる。 The crystalline solar cell and the paste composition for solar cells are basically as described above, but the diameter of the opening provided in the passivation film is preferably 20 to 100 μm, even though it is 100 μm or less. The opening can usually be formed by laser irradiation or the like.

本発明の裏面電極の形成方法は、工程1において、開口部を設けたパッシベーション膜を有する結晶系太陽電池セルに対して、前記開口部を被覆するように、太陽電池用ペースト組成物を塗布することにより塗膜を形成する。 In the method for forming a backside electrode of the present invention, in step 1, a solar cell paste composition is applied to a crystalline solar cell having a passivation film having an opening so as to cover the opening. This forms a coating film.

ペースト組成物の塗膜を形成する際は、スクリーン印刷などの公知の塗工方法を用いて行うことができる。塗膜の厚さは、焼成後の裏面電極の厚さに応じて設定できるが、パッシベーション膜の平面部(開口部以外)を基準として5~40μm程度が好ましい。 A known coating method such as screen printing can be used to form a coating film of the paste composition. The thickness of the coating film can be set according to the thickness of the back electrode after firing, but is preferably about 5 to 40 μm based on the plane portion (other than the opening) of the passivation film.

工程1により塗膜を形成後は、工程2において、塗膜を700~900℃で焼成する。焼成温度は700~900℃でよいが、780~900℃程度が好ましい。 After the coating film is formed in step 1, the coating film is baked at 700 to 900° C. in step 2. The firing temperature may be 700 to 900°C, preferably about 780 to 900°C.

焼成により、ペースト組成物に含まれるアルミニウムが、シリコン半導体基板1の内部に拡散し、電極層5とシリコン半導体基板1との間にアルミニウム-シリコン(Al-Si)合金層(合金層6)が形成され、これと同時に、アルミニウム原子の拡散によって、不純物層としてのp層7が形成される。By firing, the aluminum contained in the paste composition diffuses inside the silicon semiconductor substrate 1, and an aluminum-silicon (Al—Si) alloy layer (alloy layer 6) is formed between the electrode layer 5 and the silicon semiconductor substrate 1. At the same time, p + layer 7 is formed as an impurity layer by diffusion of aluminum atoms.

以下に実施例及び比較例を示して本発明を具体的に説明する。但し、本発明は実施例に限定されない。 EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples and comparative examples. However, the present invention is not limited to the examples.

実施例1
(ペースト組成物の調製)
ガスアトマイズ法により生成したアルミニウム粉末と、同じくガスアトマイズ法により生成した長径が2.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニム-シリコン合金粉末を、40質量%:60質量%となるように調整した導電性材料100質量部と、B-Bi-SrO-BaO-Sb=40/40/10/5/5(mol%)のガラス粉末1.5質量部を、エチルセルロースをブチルジグリコールに溶解した樹脂液35質量部に、既知の分散装置(ディスパー)を用いてペースト化した。
Example 1
(Preparation of paste composition)
Aluminum powder produced by gas atomization and aluminum-silicon alloy powder having silicon primary crystals with a long axis of 2.0 μm produced by gas atomization are adjusted to a ratio of 40% by mass: 60% by mass. Conductive material. 100 parts by mass, 1.5 parts by mass of glass powder of B 2 O 3 --Bi 2 O 3 --SrO--BaO--Sb 2 O 3 =40/40/10/5/5 (mol %), ethyl cellulose and butyl A known dispersing device (disper) was used to form a paste in 35 parts by mass of a resin liquid dissolved in diglycol.

なお、長径が2.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末は、シリコン含有量が20原子%のアルミニウム-シリコン合金の溶湯に0.01%のP(リン)を添加してアトマイズすることで調製した。
(太陽電池セルである焼成基板の作製)
評価用の太陽電池セルである焼成基板を次のように作製した。
The aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon with a major axis of 2.0 μm was atomized by adding 0.01% of P (phosphorus) to a molten aluminum-silicon alloy with a silicon content of 20 atomic %. It was prepared by
(Preparation of fired substrate which is a solar cell)
A fired substrate, which is a solar cell for evaluation, was produced as follows.

まず、図2の(A)に示すように、まず、厚みが160μmのシリコン半導体基板1(抵抗値3Ω・cm。裏面側にパッシベーション膜を含む。)を準備した。そして、図2の(B)に示すように、レーザー発振器として波長が532nmのYAGレーザーを用いて、開口部の総面積がセル全体の3.1%となるように500μm間隔で直径50μmのコンタクト孔9を形成した First, as shown in FIG. 2A, a silicon semiconductor substrate 1 having a thickness of 160 μm (resistance value of 3 Ω·cm, including a passivation film on the rear surface side) was prepared. Then, as shown in FIG. 2B, using a YAG laser with a wavelength of 532 nm as a laser oscillator, contacts with a diameter of 50 μm were formed at intervals of 500 μm so that the total area of the openings was 3.1% of the entire cell. A hole 9 was formed .

なお、図2では、パッシベーション膜は図示しておらずシリコン半導体基板1に含まれるものとして取り扱い、パッシベーション膜はシリコン半導体基板1の裏面側に30nmの酸化アルミニウム層と100nmの窒化ケイ素層との積層体として含まれている。 In FIG. 2, the passivation film is not shown, but is treated as being included in the silicon semiconductor substrate 1. The passivation film is a laminate of a 30 nm aluminum oxide layer and a 100 nm silicon nitride layer on the back side of the silicon semiconductor substrate 1. contained as a body.

次に、図2の(C)に示すように、裏面全体(コンタクト孔9が形成されている側の面)を覆うように、上記で得たペースト組成物10を、シリコン半導体基板1の表面上に、スクリーン印刷機を用いて、1.0~1.1g/pcになるように印刷した。次いで、図示はしていないが、受光面に公知の技術で調製したAgペーストを印刷した。 Next, as shown in FIG. 2C, the paste composition 10 obtained above is applied to the surface of the silicon semiconductor substrate 1 so as to cover the entire back surface (the surface on which the contact holes 9 are formed). A screen printing machine was used to print on the top so as to give 1.0 to 1.1 g/pc. Next, although not shown, an Ag paste prepared by a known technique was printed on the light-receiving surface.

その後、800℃に設定した赤外ベルト炉を用いて焼成した。この焼成により、図2の(D)に示すように、電極層5を形成し、また、この焼成の際にアルミニウムがシリコン半導体基板1の内部に拡散することにより、電極層5とシリコン半導体基板1との間にAl-Siの合金層6が形成されると同時に、アルミニウム原子の拡散による不純物層としてp層(BSF層)7が形成された。これにより、評価用の焼成基板を製作した。
(太陽電池セルの評価)
得られた太陽電池セルの評価においては、ワコム電創のソーラーシュミレータ:WXS-156S-10、I-V測定装置:IV15040-10を用いて、I-V測定を実施した。Effが21.5%以上で合格とした。
(ボイド「Void」の評価)
ボイドの評価については、焼成基板の断面を光学顕微鏡(200倍)で観察し、シリコン半導体基板1と電極層5との界面におけるボイドの有無を評価した。ボイドが確認されなかったものを合格(○)、ボイドが確認されたものを不合格(×)と評価した。
(静的機械荷重試験後の変換効率の低下率)
静的機械荷重試験後の変換効率の低下率は、IEC61215に従い特定した。具体的には、2400Paの静荷重を水平に設置したモジュールの表面及び裏面に1時間行い、これを3サイクル繰り返し、その後ソーラーシュミレータを用いて変換効率の測定を行い、試験前後での低下率を計算した。なお、モジュールは、ガラス及びバックシートの間に封止材を挟持し、封止材中に太陽電池セルを直列に配列することで作製した。
After that, it was fired using an infrared belt furnace set at 800°C. By this firing, the electrode layer 5 is formed as shown in FIG. 1, an Al—Si alloy layer 6 was formed, and at the same time, a p + layer (BSF layer) 7 was formed as an impurity layer by diffusion of aluminum atoms. Thus, a fired substrate for evaluation was produced.
(Evaluation of solar cells)
In the evaluation of the obtained solar cell, IV measurement was performed using Wacom Denso's solar simulator: WXS-156S-10 and IV measuring device: IV15040-10. An Eff of 21.5% or more was regarded as acceptable.
(Evaluation of void "Void")
Regarding the evaluation of voids, the cross section of the fired substrate was observed with an optical microscope (200x magnification), and the presence or absence of voids at the interface between the silicon semiconductor substrate 1 and the electrode layer 5 was evaluated. A sample in which voids were not confirmed was evaluated as pass (○), and a sample in which voids were confirmed was evaluated as disqualified (×).
(decrease rate of conversion efficiency after static mechanical load test)
The reduction rate of conversion efficiency after static mechanical load test was specified according to IEC61215. Specifically, a static load of 2400 Pa was applied to the front and back surfaces of the module installed horizontally for 1 hour, and this cycle was repeated for 3 cycles. Calculated. The module was produced by sandwiching a sealing material between the glass and the back sheet and arranging the solar cells in series in the sealing material.

各評価結果を下記表1に示す。 Each evaluation result is shown in Table 1 below.

実施例2
開口部の総面積がセル全体の3.1%となるように300μm間隔で直径30μmのコンタクト孔9を形成したセルを用いた以外は、実施例1と同様にして評価を行った。
Example 2
Evaluation was performed in the same manner as in Example 1, except that a cell was used in which contact holes 9 with a diameter of 30 μm were formed at intervals of 300 μm so that the total area of the openings was 3.1% of the entire cell.

実施例3
開口部の総面積がセル全体の3.1%となるように700μm間隔で直径70μmのコンタクト孔を形成したセルを用いた以外は、実施例1と同様にして評価を行った。
Example 3
Evaluation was performed in the same manner as in Example 1, except that a cell was used in which contact holes with a diameter of 70 μm were formed at intervals of 700 μm so that the total area of the openings was 3.1% of the entire cell.

実施例4
ガスアトマイズ法により生成したアルミニウム粉末と、同じくガスアトマイズ法により生成した長径が4.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末を、30質量%:70質量%となるように調整した以外は実施例1と同様にしてペースト組成物を調製し、評価を行った。
Example 4
The aluminum powder produced by the gas atomization method and the aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon with a long axis of 4.0 μm produced similarly by the gas atomization method were adjusted to 30% by mass:70% by mass. A paste composition was prepared and evaluated in the same manner as in Example 1.

なお、長径が4.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末は、シリコン含有量が23原子%のアルミニウム-シリコン合金の溶湯に、103K/Secの冷却速度でアトマイズすることで調製した。 The aluminum-silicon alloy powder having silicon primary crystals with a major diameter of 4.0 μm was prepared by atomizing a molten aluminum-silicon alloy with a silicon content of 23 atomic % at a cooling rate of 103 K/Sec. .

実施例5
ガスアトマイズ法により生成したアルミニウム粉末と、同じくガスアトマイズ法により生成した長径が5.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末を、50質量%:50質量%となるように調整した以外は実施例1と同様にしてペースト組成物を調製し、評価を行った。
Example 5
The aluminum powder produced by the gas atomization method and the aluminum-silicon alloy powder having a silicon primary crystal with a long axis of 5.0 μm produced by the gas atomization method were adjusted to 50% by mass: 50% by mass. A paste composition was prepared and evaluated in the same manner as in Example 1.

なお、長径が5.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末は、シリコン含有量が25原子%のアルミニウム-シリコン合金の溶湯を用いてHeガスでアトマイズすることで調製した。 The aluminum-silicon alloy powder having silicon primary crystals with a major diameter of 5.0 μm was prepared by atomizing a molten aluminum-silicon alloy containing 25 atomic % of silicon with He gas.

比較例1
ガスアトマイズ法により生成したアルミニウム粉末のみを用いた以外は、実施例1と同様にしてペーストを作成し、評価を行った。つまり、比較例1ではシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末は用いていない。
Comparative example 1
A paste was prepared and evaluated in the same manner as in Example 1, except that only the aluminum powder produced by the gas atomization method was used. That is, in Comparative Example 1, no aluminum-silicon alloy powder having silicon primary crystals was used.

比較例2
ガスアトマイズ法により生成したアルミニウム粉末と、同じくガスアトマイズ法により生成した長径が7.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末を、50質量%:50質量%となるように調整した以外は実施例1と同様にしてペーストを作成し、評価を行った。
Comparative example 2
The aluminum powder produced by the gas atomization method and the aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon with a long axis of 7.0 μm produced similarly by the gas atomization method were adjusted to be 50% by mass: 50% by mass. A paste was prepared in the same manner as in Example 1 and evaluated.

なお、長径が7.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末は、シリコン含有量が35原子%のアルミニウム-シリコン合金の溶湯に0.005%のP(リン)を添加してアトマイズすることで調製した。 The aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon with a major axis of 7.0 μm was atomized by adding 0.005% of P (phosphorus) to a molten aluminum-silicon alloy with a silicon content of 35 atomic %. It was prepared by

比較例3
ガスアトマイズ法により生成したアルミニウム粉末と、同じくガスアトマイズ法により生成した長径が10.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末を、50質量%:50質量%となるように調整した以外は実施例1と同様にしてペーストを作成し、評価を行った。
Comparative example 3
The aluminum powder produced by the gas atomization method and the aluminum-silicon alloy powder having primary silicon crystals with a major axis of 10.0 μm produced by the gas atomization method were adjusted to 50% by mass:50% by mass. A paste was prepared in the same manner as in Example 1 and evaluated.

なお、長径が10.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニム-シリコン合金粉末は、シリコン含有量が40原子%のアルミニウム-シリコン合金の溶湯をアトマイズすることで調製した。 The aluminum-silicon alloy powder having silicon primary crystals with a major diameter of 10.0 μm was prepared by atomizing molten aluminum-silicon alloy containing 40 atomic % of silicon.

比較例4
ガスアトマイズ法により生成したアルミニウム粉末と、同じくガスアトマイズ法により生成した長径が6.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末を、50質量%:50質量%となるように調整した以外は実施例1と同様にしてペーストを作成し、評価を行った。
Comparative example 4
The aluminum powder produced by the gas atomization method and the aluminum-silicon alloy powder having a silicon primary crystal with a major axis of 6.0 μm produced by the gas atomization method were adjusted to 50% by mass: 50% by mass. A paste was prepared in the same manner as in Example 1 and evaluated.

なお、長径が6.0μmのシリコンの初晶を有するアルミニム-シリコン合金粉末は、シリコン含有量が35原子%のアルミニウム-シリコン合金の溶湯をアトマイズすることで調製した。 The aluminum-silicon alloy powder having silicon primary crystals with a major axis of 6.0 μm was prepared by atomizing molten aluminum-silicon alloy containing 35 atomic % of silicon.

比較例5
開口部の総面積がセル全体の3.1%となるように1100μm間隔で直径110μmのコンタクト孔9を形成したセルを用いた以外は、実施例1と同様にして評価を行った。
Comparative example 5
Evaluation was performed in the same manner as in Example 1, except that a cell in which contact holes 9 with a diameter of 110 μm were formed at intervals of 1100 μm so that the total area of the openings was 3.1% of the entire cell.

比較例6
開口部の総面積がセル全体の0.4%となるように1400μm等間隔で直径50μmのコンタクト孔9を形成したセルを用いた以外は、実施例1と同様にして評価を行った。
Comparative example 6
Evaluation was performed in the same manner as in Example 1, except that a cell was used in which contact holes 9 having a diameter of 50 μm were formed at regular intervals of 1400 μm so that the total area of the openings was 0.4% of the entire cell.

比較例7
開口部の総面積がセル全体の6.1%となるように360μm等間隔で直径50μmのコンタクト孔9を形成したセルを用いた以外は、実施例1と同様にして評価を行った。
Comparative example 7
Evaluation was performed in the same manner as in Example 1, except that a cell was used in which contact holes 9 with a diameter of 50 μm were formed at regular intervals of 360 μm so that the total area of the openings was 6.1% of the entire cell.

Figure 0007173960000001
Figure 0007173960000001

表1結果から明らかな通り、本発明所定の導電性材料を用いることにより、パッシベーション膜の開口部の直径が100μm以下であり、開口部の総面積が結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%である結晶系太陽電池セルに対して適用した場合でも優れた変換効率が達成できる(Effが22.0%以上)とともに、焼成後の電極層界面でのボイドの発生を抑制し、更に静的機械荷重試験後の変換効率の低下率を抑制(低下率3%未満)できることが分かる。 As is clear from the results in Table 1, the diameter of the openings in the passivation film is 100 μm or less and the total area of the openings is 0.5 times the area of the crystalline solar cell by using the conductive material of the present invention. Excellent conversion efficiency can be achieved (Eff is 22.0% or more) even when applied to a crystalline solar cell that is ~5%, and the generation of voids at the electrode layer interface after firing is suppressed, Furthermore, it can be seen that the reduction rate of the conversion efficiency after the static mechanical load test can be suppressed (decrease rate is less than 3%).

1:シリコン半導体基板
2:n型不純物層
3:反射防止膜(パッシベーション膜)
4:グリッド電極
5:電極層
6:合金層
7:p
8:裏面電極
9:コンタクト孔(開口部)
10:ペースト組成物
1: silicon semiconductor substrate 2: n-type impurity layer 3: antireflection film (passivation film)
4: grid electrode 5: electrode layer 6: alloy layer 7: p + layer 8: back electrode 9: contact hole (opening)
10: Paste composition

Claims (6)

開口部を設けたパッシベーション膜を有する結晶系太陽電池セルに対してp層を形成する用途に用いる、ガラス粉末、有機ビヒクル及び導電性材料を含有する太陽電池用ペースト組成物であって、
(1)前記開口部は直径が100μm以下であり、前記開口部の総面積の割合は前記結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%であり、
(2)前記導電性材料は、アルミニウム粉末と、シリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末とを含有し、前記シリコンの初晶の最大長径のサイズが5μm以下である、
ことを特徴とする太陽電池用ペースト組成物。
A solar cell paste composition containing a glass powder, an organic vehicle and a conductive material for use in forming a p + layer in a crystalline solar cell having a passivation film with openings,
(1) the opening has a diameter of 100 μm or less, and the percentage of the total area of the opening is 0.5 to 5% of the area of the crystalline solar cell;
(2) The conductive material contains aluminum powder and an aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon, and the size of the maximum major axis of the primary crystals of silicon is 5 μm or less.
A solar cell paste composition characterized by:
前記アルミニウム粉末100質量部に対して、前記アルミニウム-シリコン合金粉末40~700質量部、前記ガラス粉末0.1~15質量部、及び前記有機ビヒクル20~45質量部を含有する、請求項1に記載の太陽電池用ペースト組成物。 40 to 700 parts by mass of the aluminum-silicon alloy powder, 0.1 to 15 parts by mass of the glass powder, and 20 to 45 parts by mass of the organic vehicle with respect to 100 parts by mass of the aluminum powder. The solar cell paste composition described above. 前記開口部の直径が20~100μmである、請求項1又は2に記載の太陽電池用ペースト組成物。 3. The solar cell paste composition according to claim 1, wherein the opening has a diameter of 20 to 100 μm. 開口部を設けたパッシベーション膜を有する結晶系太陽電池セルに対して、前記開口部を被覆するように、ガラス粉末、有機ビヒクル及び導電性材料を含有する太陽電池用ペースト組成物を塗布することにより塗膜を形成する工程1、並びに、
前記塗膜を700~900℃で焼成する工程2、
を有する、結晶系太陽電池セルの裏面電極の形成方法であって、
(1)前記開口部は直径が100μm以下であり、前記開口部の総面積の割合は前記結晶系太陽電池セルの面積の0.5~5%であり、
(2)前記導電性材料は、アルミニウム粉末と、シリコンの初晶を有するアルミニウム-シリコン合金粉末とを含有し、前記シリコンの初晶の最大長径のサイズが5μm以下である、
ことを特徴とする裏面電極の形成方法。
By applying a solar cell paste composition containing a glass powder, an organic vehicle and a conductive material to a crystalline solar cell having a passivation film with an opening so as to cover the opening. Step 1 of forming a coating film, and
Step 2 of baking the coating film at 700 to 900 ° C.
A method for forming a back electrode of a crystalline solar cell, comprising:
(1) the opening has a diameter of 100 μm or less, and the percentage of the total area of the opening is 0.5 to 5% of the area of the crystalline solar cell;
(2) The conductive material contains aluminum powder and an aluminum-silicon alloy powder having primary crystals of silicon, and the size of the maximum major axis of the primary crystals of silicon is 5 μm or less.
A method of forming a back electrode, characterized by:
前記アルミニウム粉末100質量部に対して、前記アルミニウム-シリコン合金粉末40~700質量部、前記ガラス粉末0.1~15質量部、及び前記有機ビヒクル20~45質量部を含有する、請求項4に記載の裏面電極の形成方法。 According to claim 4, containing 40 to 700 parts by mass of the aluminum-silicon alloy powder, 0.1 to 15 parts by mass of the glass powder, and 20 to 45 parts by mass of the organic vehicle with respect to 100 parts by mass of the aluminum powder. A method of forming the described backside electrode. 前記開口部の直径が20~100μmである、請求項4又は5に記載の裏面電極の形成方法。 6. The method of forming a back surface electrode according to claim 4, wherein the diameter of said opening is 20 to 100 μm.
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