JP7169377B2 - フォトリソグラフィ用の要素を検査および/または処理するための装置および方法 - Google Patents
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Description
Claims (20)
- 荷電粒子ビーム(170、1028)を用いてフォトリソグラフィ用の要素(110、200)を検査および/または処理するための装置(1000)であって、
a.前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)が前記荷電粒子ビーム(170、1028)に曝される間に、測定データ(330、440、450、460、470)を取得するための手段であって、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)が少なくとも1つの欠陥(290)を含む、手段と、
b.訓練された機械学習モデル(800)および/または予測フィルタを用いて、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)の前記欠陥(290)に対する前記荷電粒子ビーム(170、1028)のドリフト(410、420、430、480)を事前に決定するための手段であって、前記訓練された機械学習モデル(800)および/または前記予測フィルタが、入力データ(830)として少なくとも前記測定データ(330、440、450、460、470)を使用する、手段と、
c.前記荷電粒子ビーム(170、1028)および少なくとも1つの前駆体ガスを用いて、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)の少なくとも1つの欠陥(290)を修正するための手段と、
を備える装置(1000)。 - 前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)が少なくとも1つのマーキング(240、250、260、270)を含む、請求項1に記載の装置(1000)。
- 前記少なくとも1つのマーキング(240、250、260、270、280)を走査することによって前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)の前記検査および/または前記処理を開始する前に、前記少なくとも1つのマーキング(240、250、260、270、280)の基準位置(330)を決定するように構成されている、請求項2に記載の装置(1000)。
- 前記基準位置(330)に対する前記少なくとも1つのマーキング(240、250、260、270、280)の位置変化(410、420、430、480)を決定するように構成されている、請求項3に記載の装置(1000)。
- 前記少なくとも1つのマーキング(240、250、260、270、280)の検出に関する確実性の程度を決定するように構成されている、請求項2~4のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 機械学習モデル(700)の訓練データが信頼性の程度を含む、請求項1~5のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 前記訓練された機械学習モデル(800)および/または前記予測フィルタが、入力データとして信頼性の程度を使用するように構成されている、請求項1~5のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 前記訓練された機械学習モデル(800)が、追加の入力データ(830)として前記検査および/または処理の少なくとも1つの追加のパラメータを使用する、請求項1~7のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 前記少なくとも1つの追加のパラメータが、前記検査および/または処理領域の温度と、前記検査および/または処理領域の圧力と、前記検査および/または処理領域の空気湿度と、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)のタイプと、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)の前記欠陥(290)のタイプと、前記欠陥(290)のサイズと、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)上の前記欠陥(290)の位置であって、前記少なくとも1つのマーキング(240、250、260、270、280)に対する前記欠陥(290)の位置と、欠陥修正に使用される少なくとも1つの前駆体ガスと、前記少なくとも1つの前駆体ガスのガス質量流量と、前記少なくとも1つの前駆体ガスの作用時間と、前記欠陥修正の持続時間と、前記装置(1000)における前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)の滞留継続時間と、前記荷電粒子ビームの1つまたは複数の走査動作モードと、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)の前記検査および/または処理中の前記荷電粒子ビームの滞留継続時間と、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)の前記処理中の前記少なくとも1つの前駆体ガスの切り替えプロセスの回数と、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)の前記処理中の前記少なくとも1つの前駆体ガスの前記切り替えプロセスの時点と、を含む、請求項2~8のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 前記訓練された機械学習モデル(800)および/または前記予測フィルタが、前記少なくとも1つのマーキング(240、250、260、270、280)の前記基準位置(330)の変位(410、420、430、480)を経時的に連続的に事前に決定する、請求項2~9のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 前記訓練された機械学習モデル(800)が、測定データ(440、450、460、470)の新たな取得までの時間間隔(930、950、970)の長さと、ドリフト修正の信頼性の程度と、前記少なくとも1つのマーキング(240、250、260、270、280)の次の走査のための走査領域と、の群からの少なくとも1つの要素を出力する、請求項2~10のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 前記訓練された機械学習モデル(800)が再帰型ニューラルネットワークを含む、請求項1~11のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 前記再帰型ニューラルネットワークが長短期記憶LSTMネットワークを含む、請求項12に記載の装置(1000)。
- 前記予測フィルタが、カルマンフィルタと、粒子フィルタと、有限インパルス応答を有するローパスフィルタと、の群からの要素を含む、請求項1~9のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 前記予測フィルタが、前記少なくとも1つのマーキングの前記次の走査までの持続時間を、前記予測フィルタによる前記事前決定の不確実性と結合するように構成されている、請求項2~9または14のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 前記訓練された機械学習モデル(800)および/または前記予測フィルタが、前記荷電粒子ビームの前記走査領域の歪みパラメータを事前に決定するように構成されている、請求項1~15のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 前記訓練された機械学習モデル(800)および/または前記予測フィルタの出力データ(850)に基づいて、前記少なくとも1つのマーキング(240、250、260、270、280)の即時走査または遅延走査を開始するように構成されている、請求項2~16のいずれか1項に記載の装置(1000)。
- 荷電粒子ビーム(170、1028)を用いてフォトリソグラフィ用の要素(110、200)を検査および/または処理するための方法(1100、1200)であって、
a.前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)が前記荷電粒子ビーム(170、1028)に曝される間に、測定データ(330、440、450、460、470)を取得するステップであって、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)が少なくとも1つの欠陥(290)を含む、ステップと、
b.訓練された機械学習モデル(800)および/または予測フィルタを用いて、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)の前記欠陥(290)に対する前記荷電粒子ビーム(170、1028)の少なくとも1つのドリフト(410、420、430、480)を事前に決定するステップであって、前記訓練された機械学習モデル(800)および/または前記予測フィルタが入力データ(830)として少なくとも前記測定データ(330、440、450、460、470)を使用する、ステップと、
c.前記荷電粒子ビーム(170、1028)および少なくとも1つの前駆体ガスを用いて、前記フォトリソグラフィ用の要素(110、200)の少なくとも1つの欠陥(290)を修正するステップと、
を含む、方法(1100、1200)。 - 請求項1~17に記載の装置(1000)によって実行されるように設計されている、請求項18に記載の方法(1100、1200)。
- コンピュータシステムによって実行されると、請求項1~17のいずれか1項に記載の装置(1000)に、請求項18に記載の方法(1100、1200)の方法ステップを実行させる命令を含むコンピュータプログラム。
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