JP7167954B2 - 磁気センサ装置及びその製造方法、並びに回転動作機構 - Google Patents
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Description
SY=(SY’-SZ’)/2cosθ
SZ=(SY’+SZ’)/2sinθ
上記行列式(5)において、Fは「補正係数」を、θ1は「第1傾斜面の傾斜角度」を、θ2は「第2傾斜面の傾斜角度」を表し、上記行列式(7)において、SC1は「第1補正信号」を、SC2は「第2補正信号」を、S1は「第1センサ信号」を、S2は「第2センサ信号」を表し、F-1はFの逆行列である。
を備え、前記磁気センサ装置は、前記第1部材と一体に回転可能に前記第1部材に設けられていることを特徴とする回転動作機構を提供する。
第2部材120は、第2軸部121と、第2軸部121の長手方向の一端に連結された受け部122とを有する。受け部122は、凹球面123を含む。
本実施形態に係る磁気センサ装置1の製造方法は、第1面21及びそれの反対側に位置する第2面22と、第1面21に形成された第1傾斜面23及び第2傾斜面24とを有する基部2を準備する第1工程と、基部2の第1面21上にX軸用磁気センサ部31を形成し、第1傾斜面23上にY軸用磁気センサ部32を形成し、第2傾斜面24上にZ軸用磁気センサ部33を形成する第2工程と、第1傾斜面23の傾斜角度θ1及び第2傾斜面24の傾斜角度θ2を求める第3工程と、第1補正信号SC1及び第2補正信号SC2を生成するための補正係数Fを求める第4工程と、第4工程において求められた補正係数Fを記憶部44に記憶させる第5工程とを含む。
図4に示す磁気センサ装置1において、第1傾斜面23の傾斜角度θ1及び第2傾斜面24の傾斜角度θ2を45°として、Y軸方向のスイープ磁場(-1mT~1mT)及びZ軸方向のスイープ磁場(-1mT~1mT)のそれぞれをY軸用磁気センサ部32及びZ軸用磁気センサ部33のそれぞれに印加したときに、Y軸用磁気センサ部32から出力される第1センサ信号S1及びZ軸用磁気センサ部33から出力される第2センサ信号S2をシミュレーションにより求めた。このシミュレーションは、各傾斜角度θ1,θ2のばらつき(±3.0degの範囲内のばらつき)を真正乱数で発生させながら128回行われた。
上記試験例1において、真正乱数で発生させた各傾斜角度θ1,θ2のばらつきに応じて、上記式(1)及び(2)により第1センサ信号S1及び第2センサ信号S2を補正して第1補正信号SC1及び第2補正信号SC2をシミュレーションにより求めた。その結果、第1補正信号SC1及び第2補正信号SC2が有する、理想的な磁気センサ装置から出力され得る第1センサ信号S1及び第2センサ信号S2に対する線形性誤差は、±1%未満であることが確認された。
2…基部
21…第1面
22…第2面
23…第1傾斜面
24…第2傾斜面
31…X軸用磁気センサ部(第3磁気センサ部)
32…Y軸用磁気センサ部(第1磁気センサ部)
33…Z軸用磁気センサ部(第2磁気センサ部)
4…信号処理部
41…A/D変換部
42…補正信号生成部
43…演算処理部
44…記憶部
5…磁気抵抗効果素子(第1~第3磁気抵抗効果素子)
51…自由層
53…磁化固定層
Claims (13)
- 第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面、並びに前記第1面に対して傾斜する第1傾斜面及び第2傾斜面と、
第1軸方向の磁気を検出するための第1磁気センサ部と、
第2軸方向の磁気を検出するための第2磁気センサ部と、
第3軸方向の磁気を検出するための第3磁気センサ部と、
前記第1磁気センサ部から出力される第1センサ信号S1、前記第2磁気センサ部から出力される第2センサ信号S2及び前記第3磁気センサ部から出力される第3センサ信号S3に基づいて信号処理を行う信号処理部と
を備え、
前記第1軸方向は、前記第1面に直交する方向であり、
前記第2軸方向及び前記第3軸方向は、前記第1面上において相互に直交する方向であり、
前記第1磁気センサ部は、前記第1傾斜面に設けられており、
前記第2磁気センサ部は、前記第2傾斜面に設けられており、
前記信号処理部は、前記第1傾斜面の傾斜角度θ1及び前記第2傾斜面の傾斜角度θ2に応じて前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正した第1補正信号SC1及び第2補正信号SC2を生成する補正信号生成部を有し、
前記補正信号生成部は、下記式(1)により前記第1センサ信号S1を補正して前記第1補正信号SC1を生成するとともに、下記式(2)により前記第2センサ信号S2を補正して前記第2補正信号SC2を生成することを特徴とする磁気センサ装置。
上記式(1)及び式(2)において、SC1は「第1補正信号」を、SC2は「第2補正信号」を、S1は「第1センサ信号」を、S2は「第2センサ信号」を、θ1は「第1傾斜面の傾斜角度」を、θ2は「第2傾斜面の傾斜角度」を表す。 - 前記第1傾斜面の傾斜角度θ1は、前記第1軸方向の第1磁場H11を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-11と、前記第1軸方向の第2磁場H12を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-12と、前記第2軸方向の第1磁場H21を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-21と、前記第2軸方向の第2磁場H22を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-22とを用いて、下記式(3)により算出される角度であり、
前記第2傾斜面の傾斜角度θ2は、前記第1軸方向の前記第1磁場H11を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-11と、前記第1軸方向の前記第2磁場H12を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-12と、前記第2軸方向の前記第1磁場H21を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-21と、前記第2軸方向の前記第2磁場H22を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-22とを用いて、下記式(4)により算出される角度であり、
前記第1軸方向の前記第1磁場H11と前記第1軸方向の前記第2磁場H12とは、互いに異なる磁場強度を有し、
前記第2軸方向の前記第1磁場H21と前記第2軸方向の前記第2磁場H22とは、互いに異なる磁場強度を有することを特徴とする請求項1に記載の磁気センサ装置。
- 磁気センサ装置であって、
第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面、並びに前記第1面に対して傾斜する第1傾斜面及び第2傾斜面と、
第1軸方向の磁気を検出するための第1磁気センサ部と、
第2軸方向の磁気を検出するための第2磁気センサ部と、
第3軸方向の磁気を検出するための第3磁気センサ部と、
前記第1磁気センサ部から出力される第1センサ信号S1、前記第2磁気センサ部から出力される第2センサ信号S2及び前記第3磁気センサ部から出力される第3センサ信号S3に基づいて信号処理を行う信号処理部と
を備え、
前記第1軸方向は、前記第1面に直交する方向であり、
前記第2軸方向及び前記第3軸方向は、前記第1面上において相互に直交する方向であり、
前記第1磁気センサ部は、前記第1傾斜面に設けられており、
前記第2磁気センサ部は、前記第2傾斜面に設けられており、
前記信号処理部は、前記第1傾斜面の傾斜角度θ1及び前記第2傾斜面の傾斜角度θ2に応じて前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正した第1補正信号SC1及び第2補正信号SC2を生成する補正信号生成部を有し、
前記第1傾斜面の傾斜角度θ1は、前記第1軸方向の第1磁場H11を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-11と、前記第1軸方向の第2磁場H12を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-12と、前記第2軸方向の第1磁場H21を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-21と、前記第2軸方向の第2磁場H22を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-22とを用いて、下記式(3)により算出される角度であり、
前記第2傾斜面の傾斜角度θ2は、前記第1軸方向の前記第1磁場H11を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-11と、前記第1軸方向の前記第2磁場H12を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-12と、前記第2軸方向の前記第1磁場H21を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-21と、前記第2軸方向の前記第2磁場H22を前記磁気センサ装置に印加したときに前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-22とを用いて、下記式(4)により算出される角度であり、
前記第1軸方向の前記第1磁場H11と前記第1軸方向の前記第2磁場H12とは、互いに異なる磁場強度を有し、
前記第2軸方向の前記第1磁場H21と前記第2軸方向の前記第2磁場H22とは、互いに異なる磁場強度を有することを特徴とする磁気センサ装置。
- 前記信号処理部は、前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正して前記第1補正信号SC1及び前記第2補正信号SC2を生成するための下記行列式(5)に示す補正係数Fを記憶する記憶部をさらに有し、
前記補正信号生成部は、下記行列式(7)により前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正して前記第1補正信号SC1及び前記第2補正信号SC2を生成することを特徴とする請求項1~3のいずれかに記載の磁気センサ装置。
上記行列式(5)において、Fは「補正係数」を、θ1は「第1傾斜面の傾斜角度」を、θ2は「第2傾斜面の傾斜角度」を表し、上記行列式(7)において、SC1は「第1補正信号」を、SC2は「第2補正信号」を、S1は「第1センサ信号」を、S2は「第2センサ信号」を表し、F-1はFの逆行列である。 - 第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面、並びに前記第1面に対して傾斜する第1傾斜面及び第2傾斜面と、
第1軸方向の磁気を検出するための第1磁気センサ部と、
第2軸方向の磁気を検出するための第2磁気センサ部と、
第3軸方向の磁気を検出するための第3磁気センサ部と、
前記第1磁気センサ部から出力される第1センサ信号S1、前記第2磁気センサ部から出力される第2センサ信号S2及び前記第3磁気センサ部から出力される第3センサ信号S3に基づいて信号処理を行う信号処理部と
を備え、
前記第1軸方向は、前記第1面に直交する方向であり、
前記第2軸方向及び前記第3軸方向は、前記第1面上において相互に直交する方向であり、
前記第1磁気センサ部は、前記第1傾斜面に設けられており、
前記第2磁気センサ部は、前記第2傾斜面に設けられており、
前記信号処理部は、前記第1傾斜面の傾斜角度θ1及び前記第2傾斜面の傾斜角度θ2に応じて前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正した第1補正信号SC1及び第2補正信号SC2を生成する補正信号生成部を有し、
前記信号処理部は、前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正して前記第1補正信号SC1及び前記第2補正信号SC2を生成するための下記行列式(5)に示す補正係数Fを記憶する記憶部をさらに有し、
前記補正信号生成部は、下記行列式(7)により前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正して前記第1補正信号SC1及び前記第2補正信号SC2を生成することを特徴とする磁気センサ装置。
上記行列式(5)において、Fは「補正係数」を、θ1は「第1傾斜面の傾斜角度」を、θ2は「第2傾斜面の傾斜角度」を表し、上記行列式(7)において、SC1は「第1補正信号」を、SC2は「第2補正信号」を、S1は「第1センサ信号」を、S2は「第2センサ信号」を表し、F-1はFの逆行列である。 - 前記第1磁気センサ部は、第1磁気抵抗効果素子を含み、
前記第2磁気センサ部は、第2磁気抵抗効果素子を含み、
前記第3磁気センサ部は、第3磁気抵抗効果素子を含む
ことを特徴とする請求項1~5のいずれかに記載の磁気センサ装置。 - 前記第1~第3磁気抵抗効果素子が、GMR素子又はTMR素子であることを特徴とする請求項6に記載の磁気センサ装置。
- 前記第1面、前記第2面、前記第1傾斜面及び前記第2傾斜面を有する基部と、
前記基部、前記第1~第3磁気センサ部及び前記信号処理部を一体的に封止する封止部と
をさらに備えることを特徴とする請求項1~7のいずれかに記載の磁気センサ装置。 - 互いに相対的に回転する第1部材及び第2部材と、
請求項1~8のいずれかに記載の磁気センサ装置と
を備え、
前記磁気センサ装置は、前記第1部材と一体に回転可能に前記第1部材に設けられていることを特徴とする回転動作機構。 - 磁界発生部をさらに備え、
前記磁界発生部は、前記第2部材と一体に回転可能に前記第2部材に設けられていることを特徴とする請求項9に記載の回転動作機構。 - 磁気センサ装置を製造する方法であって、
前記磁気センサ装置は、第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面、並びに前記第1面に対して傾斜する第1傾斜面及び第2傾斜面を有する基部と、第1軸方向の磁気を検出するための第1磁気センサ部と、第2軸方向の磁気を検出するための第2磁気センサ部と、第3軸方向の磁気を検出するための第3磁気センサ部と、前記第1磁気センサ部から出力される第1センサ信号S1、前記第2磁気センサ部から出力される第2センサ信号S2及び前記第3磁気センサ部から出力される第3センサ信号S3に基づいて信号処理を行う信号処理部とを備え、
前記第1軸方向は、前記第1面に直交する方向であり、前記第2軸方向及び前記第3軸方向は、前記第1面上において相互に直交する方向であり、
前記第1磁気センサ部は、前記第1傾斜面に設けられており、前記第2磁気センサ部は、前記第2傾斜面に設けられており、
前記信号処理部は、前記第1傾斜面の傾斜角度θ1及び前記第2傾斜面の傾斜角度θ2に応じて前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正した第1補正信号SC1及び第2補正信号SC2を生成する補正信号生成部を有し、
前記磁気センサ装置の製造方法は、
前記基部を準備する第1工程と、
前記基部の前記第1傾斜面及び前記第2傾斜面のそれぞれに、前記第1磁気センサ部及び前記第2磁気センサ部のそれぞれを設ける第2工程と、
前記第1傾斜面の傾斜角度θ1及び前記第2傾斜面の傾斜角度θ2を求める第3工程と、
前記第1傾斜面の傾斜角度θ1及び前記第2傾斜面の傾斜角度θ2に応じて前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正した第1補正信号SC1及び第2補正信号SC2を生成するための補正係数を求める第4工程と
を含み、
前記第4工程において、下記行列式(5)に示す前記補正係数を求めることを特徴とする磁気センサ装置の製造方法。
上記行列式(5)において、Fは「補正係数」を表すものとする。 - 前記信号処理部は、前記補正係数を記憶する記憶部をさらに有し、
前記磁気センサ装置の製造方法は、前記第4工程において求められた前記補正係数を前記記憶部に記憶させる第5工程をさらに含むことを特徴とする請求項11に記載の磁気センサ装置の製造方法。 - 磁気センサ装置を製造する方法であって、
前記磁気センサ装置は、第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面、並びに前記第1面に対して傾斜する第1傾斜面及び第2傾斜面を有する基部と、第1軸方向の磁気を検出するための第1磁気センサ部と、第2軸方向の磁気を検出するための第2磁気センサ部と、第3軸方向の磁気を検出するための第3磁気センサ部と、前記第1磁気センサ部から出力される第1センサ信号S1、前記第2磁気センサ部から出力される第2センサ信号S2及び前記第3磁気センサ部から出力される第3センサ信号S3に基づいて信号処理を行う信号処理部とを備え、
前記第1軸方向は、前記第1面に直交する方向であり、前記第2軸方向及び前記第3軸方向は、前記第1面上において相互に直交する方向であり、
前記第1磁気センサ部は、前記第1傾斜面に設けられており、前記第2磁気センサ部は、前記第2傾斜面に設けられており、
前記信号処理部は、前記第1傾斜面の傾斜角度θ1及び前記第2傾斜面の傾斜角度θ2に応じて前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正した第1補正信号SC1及び第2補正信号SC2を生成する補正信号生成部を有し、
前記磁気センサ装置の製造方法は、
前記基部を準備する第1工程と、
前記基部の前記第1傾斜面及び前記第2傾斜面のそれぞれに、前記第1磁気センサ部及び前記第2磁気センサ部のそれぞれを設ける第2工程と、
前記第1傾斜面の傾斜角度θ1及び前記第2傾斜面の傾斜角度θ2を求める第3工程と、
前記第1傾斜面の傾斜角度θ1及び前記第2傾斜面の傾斜角度θ2に応じて前記第1センサ信号S1及び前記第2センサ信号S2を補正した第1補正信号SC1及び第2補正信号SC2を生成するための補正係数を求める第4工程と
を含み、
前記第3工程は、
前記第2工程において前記第1傾斜面に設けられた前記第1磁気センサ部に、前記第1軸方向の第1磁場H11及び第2磁場H12、並びに前記第2軸方向の第1磁場H21及び第2磁場H22をそれぞれ印加する工程と、
前記第2工程において前記第2傾斜面に設けられた前記第2磁気センサ部に、前記第1軸方向の第1磁場H11及び第2磁場H12、並びに前記第2軸方向の第1磁場H21及び第2磁場H22をそれぞれ印加する工程と、
前記第1軸方向の前記第1磁場H11の印加により前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-11、前記第1軸方向の前記第2磁場H12の印加により前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-12、前記第2軸方向の前記第1磁場H21の印加により前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-21及び前記第2軸方向の前記第2磁場H22の印加により前記第1磁気センサ部から出力される信号S1-22を用いて、下記式(3)により前記第1傾斜面の傾斜角度θ1を算出する工程と、
前記第1軸方向の前記第1磁場H11の印加により前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-11、前記第1軸方向の前記第2磁場H12の印加により前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-12、前記第2軸方向の前記第1磁場H21の印加により前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-21及び前記第2軸方向の前記第2磁場H22の印加により前記第2磁気センサ部から出力される信号S2-22を用いて、下記式(4)により前記第2傾斜面の傾斜角度θ2を算出する工程と
を含み、
前記第1軸方向の前記第1磁場H11と前記第1軸方向の前記第2磁場H12とは、互いに異なる磁場強度を有し、
前記第2軸方向の前記第1磁場H21と前記第2軸方向の前記第2磁場H22とは、互いに異なる磁場強度を有することを特徴とする磁気センサ装置の製造方法。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7167954B2 (ja) * | 2020-03-19 | 2022-11-09 | Tdk株式会社 | 磁気センサ装置及びその製造方法、並びに回転動作機構 |
US20230089065A1 (en) * | 2021-09-21 | 2023-03-23 | Tdk Corporation | Sensor |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005172527A (ja) | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Denso Corp | 磁気センサおよびその製造方法 |
JP2008216181A (ja) | 2007-03-07 | 2008-09-18 | Citizen Holdings Co Ltd | 方位センサ及び電子機器 |
JP2008286739A (ja) | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Mitsubishi Electric Corp | 磁界検出器及び回転角度検出装置 |
US20140266187A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Phil Mather | Magnetic sensor utilizing magnetization reset for sense axis selection |
WO2015111534A1 (ja) | 2014-01-22 | 2015-07-30 | アルプス電気株式会社 | センサモジュール、並びに、これに用いるセンサチップ及び処理回路チップ |
JP2015532429A (ja) | 2012-10-12 | 2015-11-09 | メムシック, インコーポレイテッドMemsic, Inc. | モノリシック3軸磁場センサ |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006023318A (ja) * | 2000-10-16 | 2006-01-26 | Dentsu Kiko Kk | 3軸磁気センサ、全方位磁気センサおよびそれらを用いた方位測定方法 |
JP4244561B2 (ja) * | 2001-07-10 | 2009-03-25 | ヤマハ株式会社 | 方位測定機能を有する携帯型電子装置 |
JP4177032B2 (ja) | 2002-06-04 | 2008-11-05 | 株式会社ワコー | 三次元磁気センサおよびその製造方法 |
US7414391B2 (en) * | 2002-07-30 | 2008-08-19 | Schlumberger Technology Corporation | Electromagnetic logging tool calibration system |
JP2006005926A (ja) * | 2004-06-14 | 2006-01-05 | Oce Technol Bv | ディザマスクを生成する方法 |
JP5586842B2 (ja) * | 2006-10-19 | 2014-09-10 | デンカ生研株式会社 | 試料ろ過フィルターを用いる簡易メンブレンアッセイ方法及びキット |
JP5027217B2 (ja) * | 2007-03-23 | 2012-09-19 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 磁気センサ及びその感度測定方法 |
JP5099178B2 (ja) * | 2010-06-17 | 2012-12-12 | ブラザー工業株式会社 | 画像記録装置 |
CN103267520B (zh) * | 2013-05-21 | 2016-09-14 | 江苏多维科技有限公司 | 一种三轴数字指南针 |
EP3321638B1 (en) * | 2016-11-14 | 2019-03-06 | Melexis Technologies SA | Measuring an absolute angular position |
JP2020134353A (ja) * | 2019-02-21 | 2020-08-31 | セイコーエプソン株式会社 | 電子時計 |
JP6860029B2 (ja) * | 2019-03-18 | 2021-04-14 | Tdk株式会社 | 位置検出装置、信号処理回路および磁気センサシステム |
JP7167954B2 (ja) * | 2020-03-19 | 2022-11-09 | Tdk株式会社 | 磁気センサ装置及びその製造方法、並びに回転動作機構 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005172527A (ja) | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Denso Corp | 磁気センサおよびその製造方法 |
JP2008216181A (ja) | 2007-03-07 | 2008-09-18 | Citizen Holdings Co Ltd | 方位センサ及び電子機器 |
JP2008286739A (ja) | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Mitsubishi Electric Corp | 磁界検出器及び回転角度検出装置 |
JP2015532429A (ja) | 2012-10-12 | 2015-11-09 | メムシック, インコーポレイテッドMemsic, Inc. | モノリシック3軸磁場センサ |
US20140266187A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Phil Mather | Magnetic sensor utilizing magnetization reset for sense axis selection |
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