JP7163060B2 - 迅速な複合材製造の高速度低ノイズインプロセスハイパースペクトル非破壊評価のためのシステム及び方法 - Google Patents
迅速な複合材製造の高速度低ノイズインプロセスハイパースペクトル非破壊評価のためのシステム及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7163060B2 JP7163060B2 JP2018091925A JP2018091925A JP7163060B2 JP 7163060 B2 JP7163060 B2 JP 7163060B2 JP 2018091925 A JP2018091925 A JP 2018091925A JP 2018091925 A JP2018091925 A JP 2018091925A JP 7163060 B2 JP7163060 B2 JP 7163060B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- composite workpiece
- wavelength components
- location
- multimode fiber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000002131 composite material Substances 0.000 title claims description 99
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 52
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 14
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title description 5
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 title description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 71
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 49
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 49
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 claims description 11
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 8
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 12
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000003491 array Methods 0.000 description 3
- 238000000701 chemical imaging Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
- G01B11/0683—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating measurement during deposition or removal of the layer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
- G01J3/32—Investigating bands of a spectrum in sequence by a single detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N2021/8472—Investigation of composite materials
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
各々が複合材ワークピースの表面上のそれぞれの位置に関連付けられた複数の電磁パルスで、複合材ワークピースの表面上のそれぞれの位置ごとに、複合材ワークピースの表面をスキャンすること、マルチモードファイバにおいて、複数の電磁パルスのうちの一つに対する、複数波長成分を含む応答を受け取ること、応答をマルチモードファイバに通して波長ビニングパルスを生成することにより、複数波長成分を互いに対してタイムシフトすること、複数波長成分に対応する波長強度レベルの組を決定するために、複数波長成分に対応する時間間隔で波長ビニングパルスをサンプリングすること、及び波長強度レベルの組に基づいて、複合材ワークピースの表面上のそれぞれの位置において材料の種類又は状態を識別することを含む方法。
複合材ワークピースの表面上のそれぞれの位置ごとの材料の種類又は状態を示す複合材ワークピースの表面の画像を生成することを更に含む、条項1の方法。
それぞれの位置ごとの材料の種類又は状態に基づいて複合材ワークピースの表面上の異常を検出確認すること、及び異常の画像インジケータを複合材ワークピースの表面の可視画像に重ね合わせることを更に含む、条項2の方法。
複数の電磁パルスのソースの変調期間を、それぞれの位置ごとの波長ビニングパルスの継続期間と同期化することを更に含む、条項1の方法。
複数波長成分をタイムシフトする前に回折格子システムを用いて複数波長成分を空間的に分散させること、及び複数波長成分の各々を、レンズを用いてマルチモードファイバに集束させることを更に含む、条項1の方法。
複合材ワークピースの表面上のそれぞれの位置における材料の種類又は状態を識別することは、事前選択された材料の種類又は状態に関連付けられる波長強度レベルを記憶するために波長強度レベルの組を比較することを含む、条項1の方法。
複合材ワークピースの表面上のそれぞれの位置ごとに、材料の種類又は状態が汚染物質を含まないとの判定に応じて、複合材ワークピースに新規レイヤーを付加することを更に含む、条項1の方法。
マルチモードファイバにおいて、複合材ワークピースの表面上の一つの位置に向けられた電磁パルスに対する、複数波長成分を含む応答を受け取ること、応答をマルチモードファイバに通して波長ビニングパルスを生成することにより、複数波長成分を互いに対してタイムシフトすること;応答に対応する波長強度レベルの組を決定するために、複数波長成分に対応する時間間隔で波長ビニングパルスをサンプリングすること;及び波長強度レベルの組に基づいて、複合材ワークピースの表面上の前記一つの位置における材料の種類又は状態を識別することを含む方法。
マルチモードファイバを使用して、複合材ワークピースの表面上の追加の位置における追加の材料の種類又は状態を識別すること、及び前記一つの位置における材料の種類又は状態を示す画像インジケータと追加の位置における追加の材料の種類又は状態を示す画像インジケータを含む複合材ワークピースの表面の画像を生成することを更に含む、条項8の方法。
電磁パルスのソースの変調期間を波長ビニングパルスの継続期間と同期化することを更に含む、条項8の方法。
複数波長成分をタイムシフトする前に回折格子システムを用いて複数波長成分を空間的に分散させること、及び複数波長成分の各々を、レンズを用いてマルチモードファイバに集束させることを更に含む、条項8の方法。
複合材の表面上の前記一つの位置における材料の種類又は状態を識別することは、事前選択された材料の種類又は状態に関連付けられる波長強度レベルを記憶するために波長強度レベルの組を比較することを含む、条項8の方法。
複合材ワークピースの表面上の一つの位置に向けられた電磁パルスに対する、複数波長成分を含む応答を受け取り、複数波長成分を互いに対してタイムシフトして波長ビニングパルスを生成するように構成されたマルチモードファイバ、複数波長成分に対応する波長強度レベルの組を決定するために、複数波長成分に対応する時間間隔で波長ビニングパルスをサンプリングするように構成された検出器、及び波長強度レベルに基づいて複合材ワークピースの表面上の前記一つの位置における材料の種類又は状態を識別するように構成されたプロセッサを備えるスペクトル感知システム。
プロセッサが更に、複合材ワークピースの表面上の前記一つの位置における材料の種類又は状態を示す複合材ワークピースの表面の画像を生成するように構成されている、条項13のシステム。
更に電磁パルスのソースを備え、ソースが赤・緑・青(RGB)のレーザ源、白色光レーザ源、発光ダイオード光源、アーク灯、又はこれらの組み合わせを含む、条項13のシステム。
電磁パルスのソースの変調期間が波長ビニングパルスの継続期間と同期化される、条項13のシステム。
複数波長成分を空間的に分散させるための回折格子システムを更に備える、条項13のシステム。
複数波長成分をマルチモードファイバに集束させるように構成されたレンズを更に備える、条項13のシステム。
マルチモードファイバを用いて複合材ワークピースの表面上の追加の位置における材料の種類又は状態を識別するための追加の応答をマルチモードファイバが受け取ることを可能にするために、複合材ワークピースの表面をスキャンするように構成されたミラーシステムを更に備える、条項13のシステム。
複合材ワークピースが航空機翼のプリプレグプライである、条項13のシステム。
Claims (13)
- 複合材ワークピース(128)の表面(126)を、各々が前記複合材ワークピース(128)の前記表面上のそれぞれの位置(120~124)に関連付けられた複数の電磁パルス(110~114)でスキャンすること、
前記複合材ワークピース(128)の前記表面(126)上のそれぞれの位置(120~124)ごとに、
前記複数の電磁パルスのうちの一つ(110)に対する、複数波長成分(134~136)を含む応答(132)を、マルチモードファイバ(160)において受け取ること、
前記応答(132)を前記マルチモードファイバ(160)に通すことにより前記複数波長成分(134~136)を互いに対してタイムシフトさせて、波長ビニングパルス(162)を生成すること、
前記複数波長成分(134~136)に対応する波長強度レベル(174~176)の組を決定するために、前記複数波長成分(134~136)に対応する時間間隔(314~316)で前記波長ビニングパルス(162)をサンプリングすること、及び
前記波長強度レベル(174~176)の組に基づいて、前記複合材ワークピース(128)の前記表面(126)上の前記それぞれの位置(120)における材料の種類又は状態(222、224、226、228)を識別すること、並びに
前記複数の電磁パルスのソースの変調期間を、それぞれの位置ごとの前記波長ビニングパルスの継続期間と同期化すること
を含む方法。 - 前記複合材ワークピースの前記表面上のそれぞれの位置ごとの前記材料の種類又は状態を示す、前記複合材ワークピースの前記表面の画像を生成すること
を更に含む、請求項1に記載の方法。 - それぞれの位置ごとの前記材料の種類又は状態に基づいて前記複合材ワークピースの前記表面上の異常を検出確認すること、及び前記異常の画像インジケータを前記複合材ワークピースの前記表面の可視画像に重ね合わせること
を更に含む、請求項2に記載の方法。 - 前記複数波長成分をタイムシフトする前に、回折格子システムを使用して前記複数波長成分を空間的に分散させること、及び
前記複数波長成分の各々を、レンズを使用して前記マルチモードファイバに集束させること
を更に含む、請求項1に記載の方法。 - 前記複合材ワークピースの前記表面上の前記それぞれの位置における前記材料の種類又は状態を識別することが、
前記波長強度レベルの組を、事前選択された材料の種類又は状態に関連付けられた記憶済み波長強度レベルと比較すること
を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記複合材ワークピースの前記表面上のそれぞれの位置ごとに、前記材料の種類又は状態が汚染物質を含まないと判定することに応じて、前記複合材ワークピースに新規レイヤーを付加すること
を更に含む、請求項1に記載の方法。 - 複合材ワークピース(128)の表面(126)上の一つの位置(120)に向けられた電磁パルス(110)に対する、複数波長成分(134~136)を含む応答(132)を受け取り、前記複数波長成分(134~136)を互いに対してタイムシフトさせて波長ビニングパルス(162)を生成するように構成されたマルチモードファイバ(160);
前記複数波長成分(134~136)に対応する波長強度レベル(174~176)の組を決定するために、前記複数波長成分(134~136)に対応する時間間隔(314~316)で前記波長ビニングパルス(162)をサンプリングするように構成された検出器(170);
前記波長強度レベル(174~176)に基づいて、前記複合材ワークピース(128)の前記表面(126)上の前記位置(120)における材料の種類又は状態(222、224、226、228)を識別するように構成されたプロセッサ(182);及び
前記電磁パルスのソース
を備え、前記ソースの変調期間が前記波長ビニングパルスの継続期間と同期化される、スペクトル感知システム(100)。 - 前記プロセッサが更に、前記複合材ワークピースの前記表面上の前記位置における前記材料の種類又は状態を示す前記複合材ワークピースの前記表面の画像を生成するように構成されている、請求項7に記載のシステム。
- 前記電磁パルスの前記ソースが、赤・緑・青(RGB)のレーザ源、白色光レーザ源、発光ダイオード光源、アーク灯、又はこれらの組み合わせを含む、請求項7に記載のシステム。
- 前記複数波長成分を空間的に分散させるための回折格子システムを更に備える、請求項7に記載のシステム。
- 前記複数波長成分を前記マルチモードファイバに集束させるように構成されたレンズ
を更に備える、請求項7に記載のシステム。 - 前記マルチモードファイバを用いて前記複合材ワークピースの前記表面上の追加の位置における材料の種類又は状態を識別するための追加の応答を前記マルチモードファイバが受け取ることを可能にするために、前記複合材ワークピースの前記表面をスキャンするように構成されたミラーシステム
を更に備える、請求項7に記載のシステム。 - 前記複合材ワークピースが航空機翼のプリプレグプライである、請求項7に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/594,944 | 2017-05-15 | ||
US15/594,944 US10663401B2 (en) | 2017-05-15 | 2017-05-15 | System and method for high speed low noise in-process hyperspectral non-destructive evaluation for rapid composite manufacturing |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019032298A JP2019032298A (ja) | 2019-02-28 |
JP7163060B2 true JP7163060B2 (ja) | 2022-10-31 |
Family
ID=60997322
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018091925A Active JP7163060B2 (ja) | 2017-05-15 | 2018-05-11 | 迅速な複合材製造の高速度低ノイズインプロセスハイパースペクトル非破壊評価のためのシステム及び方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10663401B2 (ja) |
EP (1) | EP3404381A1 (ja) |
JP (1) | JP7163060B2 (ja) |
CN (1) | CN108872703A (ja) |
AU (1) | AU2018200296B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107748334B (zh) * | 2017-10-12 | 2023-08-29 | 广州胜创电子设备有限公司 | 馈网式镍电池化成检测系统 |
JP7351053B1 (ja) | 2023-04-03 | 2023-09-27 | 浩一 津野 | 二次電池試験装置及びそれを備える二次電池試験システム |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102018220688A1 (de) * | 2018-11-30 | 2020-06-04 | Ibeo Automotive Systems GmbH | Analog-Digital-Wandler |
JP2021197594A (ja) * | 2020-06-11 | 2021-12-27 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム |
CN114354514B (zh) * | 2021-12-24 | 2024-02-09 | 南昌大学 | 一种非接触式多模态材料感知与识别装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014119659A1 (ja) | 2013-01-31 | 2014-08-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 検査方法および検査装置 |
JP2015519568A (ja) | 2012-05-15 | 2015-07-09 | ザ・ボーイング・カンパニーTheBoeing Company | 汚染特定システム |
WO2017065257A1 (ja) | 2015-10-14 | 2017-04-20 | 国立大学法人東京大学 | 撮像装置、フローサイトメータ及び撮像方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5828452A (en) | 1996-12-31 | 1998-10-27 | Dakota Technologies, Inc. | Spectroscopic system with a single converter and method for removing overlap in time of detected emissions |
US6707550B1 (en) * | 2000-04-18 | 2004-03-16 | Pts Corporation | Wavelength monitor for WDM systems |
US7177496B1 (en) * | 2001-12-27 | 2007-02-13 | Capella Photonics, Inc. | Optical spectral power monitors employing time-division-multiplexing detection schemes |
US7242468B1 (en) | 2004-06-30 | 2007-07-10 | Chemimage Corporation | Method and apparatus for microlens array/fiber optics imaging |
US8072595B1 (en) * | 2005-08-29 | 2011-12-06 | Optech Ventures, Llc | Time correlation system and method |
US7602488B2 (en) | 2006-06-12 | 2009-10-13 | Neptec Optical Solutions, Inc. | High-speed, rugged, time-resolved, raman spectrometer for sensing multiple components of a sample |
US8320769B2 (en) | 2009-06-26 | 2012-11-27 | Alcatel Lucent | Transverse-mode multiplexing for optical communication systems |
US9677933B2 (en) * | 2012-08-30 | 2017-06-13 | University of Maribor | Fiber-optic measurement system and methods based on ultra-short cavity length Fabry-Perot sensors and low resolution spectrum analysis |
US9671552B2 (en) | 2012-09-05 | 2017-06-06 | Ofs Fitel, Llc | 9 LP-mode fiber designs for mode-division multiplexing |
US8947659B1 (en) * | 2013-02-26 | 2015-02-03 | Optech Ventures, Llc | Time correlated single photon counting by time to digital conversion |
WO2016086043A1 (en) * | 2014-11-24 | 2016-06-02 | Massachusetts Institute Of Technology | Methods and apparatus for spectral imaging |
SK288631B6 (sk) | 2014-12-01 | 2019-01-08 | Rona, A. S. | Spôsob výroby skleného výrobku s farebne a/alebo opticky odlišnou časťou, sklený výrobok, najmä pohár so stopkou |
-
2017
- 2017-05-15 US US15/594,944 patent/US10663401B2/en active Active
-
2018
- 2018-01-12 AU AU2018200296A patent/AU2018200296B2/en active Active
- 2018-01-12 EP EP18151526.3A patent/EP3404381A1/en active Pending
- 2018-03-01 CN CN201810171357.4A patent/CN108872703A/zh active Pending
- 2018-05-11 JP JP2018091925A patent/JP7163060B2/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015519568A (ja) | 2012-05-15 | 2015-07-09 | ザ・ボーイング・カンパニーTheBoeing Company | 汚染特定システム |
WO2014119659A1 (ja) | 2013-01-31 | 2014-08-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 検査方法および検査装置 |
WO2017065257A1 (ja) | 2015-10-14 | 2017-04-20 | 国立大学法人東京大学 | 撮像装置、フローサイトメータ及び撮像方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107748334B (zh) * | 2017-10-12 | 2023-08-29 | 广州胜创电子设备有限公司 | 馈网式镍电池化成检测系统 |
JP7351053B1 (ja) | 2023-04-03 | 2023-09-27 | 浩一 津野 | 二次電池試験装置及びそれを備える二次電池試験システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3404381A1 (en) | 2018-11-21 |
JP2019032298A (ja) | 2019-02-28 |
CN108872703A (zh) | 2018-11-23 |
US20180328845A1 (en) | 2018-11-15 |
AU2018200296A1 (en) | 2018-11-29 |
AU2018200296B2 (en) | 2023-07-06 |
US10663401B2 (en) | 2020-05-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7163060B2 (ja) | 迅速な複合材製造の高速度低ノイズインプロセスハイパースペクトル非破壊評価のためのシステム及び方法 | |
US7495762B2 (en) | High-density channels detecting device | |
KR102003781B1 (ko) | 초분광영상화 기법을 이용한 글라스(Glass) 결함 검출 장치 | |
JP6328130B2 (ja) | 炭素繊維材料の繊維方向の測定および炭素繊維複合構造での物体の製造 | |
JPH08292021A (ja) | 異物検査装置 | |
EP2160591B1 (en) | Imaging optical inspection device with a pinhole camera | |
EP1866625A2 (en) | Glass inspection systems and methods for using same | |
TWI640764B (zh) | 用於使用多個照明波長檢測樣本之系統及方法 | |
US6222631B1 (en) | Two-dimensional spectral characteristic measuring apparatus | |
JP5344792B2 (ja) | 対象物の欠陥を検出する測定システム及び方法 | |
JP2015175815A (ja) | 透明シートの欠点検査方法および欠点検査装置 | |
EP3999822A1 (en) | Spectrometer device | |
CN106233448B (zh) | 在晶片检验的逻辑中的图案抑制 | |
JP2000097873A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
JP2002323454A (ja) | 被検物の欠点検査方法および検査装置 | |
JP7039700B2 (ja) | 光透かしを有する検査デバイス | |
US20050134843A1 (en) | Detection of impurities in cylindrically shaped transparent media | |
JP2020139822A (ja) | 検査装置、検査システム及び検査方法 | |
JP2020529618A5 (ja) | ||
JP2006526769A (ja) | 構成部材の表面に形成された成層の同定およびその特性の測定のための装置および方法。 | |
US20060231779A1 (en) | Exterior inspection apparatus and exterior inspection method | |
JP2001165775A (ja) | スペクトルイメージセンサ | |
JP2016102776A (ja) | 検査装置、及び検査方法 | |
JP2008180618A (ja) | 表面欠点検出装置 | |
KR102526798B1 (ko) | 표면 플라즈몬 공명 이미징을 위한 광학적 미분조사 방법 및 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210507 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220224 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220308 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220606 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220920 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221019 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7163060 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |