JP7152285B2 - 電子機器、補正方法およびプログラム - Google Patents

電子機器、補正方法およびプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP7152285B2
JP7152285B2 JP2018227780A JP2018227780A JP7152285B2 JP 7152285 B2 JP7152285 B2 JP 7152285B2 JP 2018227780 A JP2018227780 A JP 2018227780A JP 2018227780 A JP2018227780 A JP 2018227780A JP 7152285 B2 JP7152285 B2 JP 7152285B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
imu
measurement result
event signal
electronic device
event
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018227780A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020091163A (ja
Inventor
洋輔 栗原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Interactive Entertainment Inc
Original Assignee
Sony Interactive Entertainment Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Interactive Entertainment Inc filed Critical Sony Interactive Entertainment Inc
Priority to JP2018227780A priority Critical patent/JP7152285B2/ja
Priority to KR1020217015757A priority patent/KR20210083297A/ko
Priority to CN201980078582.6A priority patent/CN113167810A/zh
Priority to US17/296,843 priority patent/US20220018710A1/en
Priority to PCT/JP2019/047133 priority patent/WO2020116417A1/ja
Priority to EP19892473.0A priority patent/EP3893004A4/en
Publication of JP2020091163A publication Critical patent/JP2020091163A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7152285B2 publication Critical patent/JP7152285B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0295Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P21/00Testing or calibrating of apparatus or devices covered by the preceding groups
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/444Compensating; Calibrating, e.g. dark current, temperature drift, noise reduction or baseline correction; Adjusting
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P3/00Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
    • G01P3/36Devices characterised by the use of optical means, e.g. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01P3/38Devices characterised by the use of optical means, e.g. using infrared, visible, or ultraviolet light using photographic means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)
  • Indicating Or Recording The Presence, Absence, Or Direction Of Movement (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Description

本発明は、電子機器、補正方法およびプログラムに関する。
入射する光の強度変化を検出したピクセルが時間非同期的に信号を生成する、イベント駆動型のビジョンセンサが知られている。イベント駆動型のビジョンセンサは、所定の周期ごとに全ピクセルをスキャンするフレーム型ビジョンセンサ、具体的にはCCDやCMOSなどのイメージセンサに比べて、低電力で高速に動作可能である点で有利である。このようなイベント駆動型のビジョンセンサに関する技術は、例えば特許文献1および特許文献2に記載されている。
特表2014-535098号公報 特開2018-85725号公報
しかしながら、イベント駆動型のビジョンセンサについては、上記のような利点は知られているものの、従来のビジョンセンサ、例えばフレーム型ビジョンセンサとは異なる特性を考慮した周辺技術については、まだ十分に提案されているとは言いがたい。
そこで、本発明は、イベント駆動型のビジョンセンサを利用して慣性計測装置(IMU:Inertial Measurement Unit)の計測結果、またはIMUの計測結果に基づく推定値の精度を向上させることを可能にする電子機器、補正方法およびプログラムを提供することを目的とする。
本発明のある観点によれば、入射する光の強度変化を検出したときにイベント信号を生成するセンサによって構成されるセンサアレイを含むイベント駆動型のビジョンセンサと、ビジョンセンサとともに変位する慣性計測装置(IMU)と、イベント信号の頻度に応じてIMUの計測結果、またはIMUの計測結果に基づく推定値を補正する補正処理部とを備える電子機器が提供される。
本発明の別の観点によれば、入射する光の強度変化を検出したときにイベント信号を生成するセンサによって構成されるセンサアレイを含むイベント駆動型のビジョンセンサからイベント信号を受信するステップと、ビジョンセンサとともに変位する慣性計測装置(IMU)から計測結果を受信するステップと、イベント信号の頻度に応じてIMUの計測結果、またはIMUの計測結果に基づく推定値を補正するステップとを含む補正方法が提供される。
本発明のさらに別の観点によれば、入射する光の強度変化を検出したときにイベント信号を生成するセンサによって構成されるセンサアレイを含むイベント駆動型のビジョンセンサからイベント信号を受信するステップと、ビジョンセンサとともに変位する慣性計測装置(IMU)から計測結果を受信するステップと、イベント信号の頻度に応じてIMUの計測結果、またはIMUの計測結果に基づく推定値を補正するステップとを電子機器の制御部を構成する処理回路に実行させるためのプログラムが提供される。
上記の構成によれば、例えばイベント信号の頻度から電子機器が静止していると判定することができるため、イベント駆動型のビジョンセンサを利用してIMUの計測結果、またはIMUの計測結果に基づく推定値の精度を向上させることができる。
本発明の一実施形態に係る電子機器の概略的な構成を示すブロック図である。 図1に示す電子機器における補正のタイミングについて概念的に説明するための図である。 図1に示す電子機器における処理回路の機能構成を示すブロック図である。 図1に示す電子機器における処理の例を示す概略的なフローチャートである。
以下、添付図面を参照しながら、本発明のいくつかの実施形態について詳細に説明する。なお、本明細書および図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係るセンサモジュールを含む電子機器の概略的な構成を示すブロック図である。図1に示されるように、電子機器10は、ビジョンセンサ100と、制御部200と、IMU300とを含む。
イベント駆動型のビジョンセンサ100は、画像のピクセルに対応するセンサ110A,110B,…で構成されるセンサアレイ110と、センサアレイ110に接続される処理回路120とを含む。センサ110A,110B,…は、受光素子を含み、入射する光の強度変化、より具体的には輝度変化を検出したときにイベント信号を生成する。イベント信号は、例えば、タイムスタンプと、センサの識別情報(例えばピクセルの位置)と、輝度変化の極性(上昇または低下)とを示す情報として処理回路120から出力される。センサアレイ110の画角内で被写体が移動すると、被写体によって反射または散乱される光の強度が変化するため、例えば被写体のエッジに対応するセンサ110A,110B,…が生成するイベント信号によって被写体の移動を時系列で検出することができる。
制御部200は、通信インターフェース210と、処理回路220と、メモリ230とを含む。通信インターフェース210は、ビジョンセンサ100の処理回路120から伝送されたイベント信号、およびIMU300から伝送された加速度や角速度などの計測結果を受信して処理回路220に出力する。処理回路220は、例えばメモリ230に格納されたプログラムに従って動作し、受信されたイベント信号や計測結果を処理する。例えば、処理回路220は、イベント信号に基づいて、輝度変化が発生した位置をマッピングした画像を時系列で生成し、メモリ230に一時的または持続的に格納したり、通信インターフェース210を介してさらに別の装置に送信したりする。また、例えば、処理回路220は、加速度や角速度などの計測結果を積分することによって電子機器10の姿勢角や変位を推定する。
IMU300(慣性計測装置)は、例えばジャイロセンサと加速度センサとを含み、電子機器10に生じた角速度および加速度を検出する。ここで、IMU300は、少なくともビジョンセンサ100と同じ電子機器10の筐体に収容され、ビジョンセンサ100とともに変位する。電子機器10に変位が発生すると、IMU300が角速度および加速度を検出するとともに、センサ110A,110B,…と被写体との位置関係が変化することによって、例えば被写体のエッジに対応するセンサ110A,110B,…がイベント信号を生成する。つまり、電子機器10に変位が発生しているときには、ビジョンセンサ100でも変位に応じたイベント信号が生成される。
図2は、図1に示す電子機器における補正のタイミングについて概念的に説明するための図である。電子機器10に並進および回転の変位が発生すると、IMU300が加速度a,a,aおよび角速度ωφ,ωθ,ωψを検出する。上述のように、制御部200の処理回路220は、これらの加速度および角速度をそれぞれ積分することによって電子機器10の姿勢角や変位を推定する。ところが、積分する時間が長くなるほど、IMU300の計測結果に含まれる誤差(ドリフト誤差、バイアス誤差などと呼ばれる)が積算され、姿勢角や変位の推定精度が低下する。電子機器10が静止(v=0)したタイミングでは、加速度、角速度とも0になることがわかっているため、計測結果に含まれる誤差をキャンセルすることができる。ただし、上記の通りIMU300の計測結果自体に誤差が含まれるため、計測結果から電子機器10が静止したタイミングを特定することは必ずしも容易ではない。
そこで、本実施形態では、制御部200が、ビジョンセンサ100から受信されるイベント信号の頻度に応じてIMU300の計測結果、または計測結果に基づく推定値を補正する処理を実行する。より具体的には、例えば、制御部200は、イベント信号の頻度が低い場合に、計測結果に含まれるドリフト誤差やバイアス誤差をキャンセルする。あるいは、制御部200は、イベント信号の頻度が低い場合に、計測結果に基づく姿勢角や変位の推定値から誤差成分を除いてもよい。上述のように、ビジョンセンサ100はIMU300とともに変位しており、電子機器10に変位が発生している時には、ビジョンセンサ100でも変位に応じたイベント信号が生成される。逆にいえば、ビジョンセンサ100でイベント信号が生成されない間は、電子機器10が静止していると推定することができる。イベント駆動型のビジョンセンサ100は、例えばフレーム型のビジョンセンサに比べて高速に動作するため、上記の処理によって、電子機器10が瞬間的に静止した場合であっても静止の瞬間を正確に特定して計測結果または推定値を補正することができる。これによって、より高い頻度で計測結果または推定値を補正することが可能になり、結果として計測結果そのもの、および制御部200における電子機器10の姿勢角や変位の推定精度が向上する。
図3は、図1に示す電子機器における処理回路の機能構成を示すブロック図である。図3に示された例において、制御部200の処理回路220は、例えばメモリ230に格納されたプログラムに従って動作することによって実装される機能として、イベント信号解析部221と、計測結果解析部222と、補正タイミング決定部223と、補正処理部224とを含む。イベント信号解析部221は、通信インターフェース210を介してビジョンセンサ100から受信されたイベント信号を解析する。具体的には、例えば、イベント信号解析部221は、イベント信号に含まれるタイムスタンプに基づいて、イベント信号の頻度を算出する。一方、計測結果解析部222は、通信インターフェース210を介してIMU300から受信された加速度や角速度などの計測結果を解析する。具体的には、例えば、計測結果解析部222は、加速度および角速度をそれぞれ積分して、姿勢角および変位の推定値231を算出する。加速度および角速度の計測結果232、および推定値231の時系列データは、例えばメモリ230に格納される。
補正タイミング決定部223は、イベント信号解析部221が算出したイベント信号の頻度に基づいて、電子機器10の静止状態に対応する補正タイミングを決定する。補正処理部224は、補正タイミング決定部223によって補正タイミングが決定されたときに、IMU300の計測結果232、または計測結果に基づく推定値231の補正処理を実行する。具体的には、例えば、補正処理部224は、電子機器10の静止状態、具体的には重力加速度以外の加速度および角速度がいずれも0である状態での理論上の計測結果と実際の計測結果との差分に対応する値を誤差として特定し、IMU300による加速度および角速度の計測結果232に誤差をキャンセルするようなオフセットを与える。補正処理部224は、補正タイミング以降に計測結果解析部222に入力された計測結果232をリアルタイムで補正してもよいし、既に処理された計測結果232の時系列データのうち、補正タイミング以降のデータを事後的に補正してもよい。計測結果232が事後的に補正された場合、計測結果解析部222は推定値231の算出を再度実行してもよい。
図4は、図1に示す電子機器における処理の例を示す概略的なフローチャートである。図4に示された例では、まず、イベント信号解析部221がイベント信号の頻度を算出する(ステップS101)。ここで、イベント信号解析部221は、例えばタイムウインドウを順次移動させながら、直近の所定時間の間に受信されたイベント信号の数から頻度を算出してもよい。あるいは、イベント信号解析部221は、所定の周期で、直近の周期の間に受信されたイベント信号の数から頻度を算出してもよい。次に、補正タイミング決定部223が、ステップS101で算出されたイベント信号の頻度が閾値未満であるか否かを判定する(ステップS102)。ここで、イベント信号の頻度が閾値以上である場合、電子機器10は静止していないと判定され、処理は終了する。
一方、ステップS102においてイベント信号の頻度が閾値未満である場合、さらに、補正タイミング決定部223は、IMU300の計測結果に含まれる測定値が閾値未満であるか否かを判定してもよい(ステップS103)。例えば、電子機器10の周囲が暗かったり、センサアレイ110の画角が遮蔽されていたりした場合には、イベント信号の頻度が低いにもかかわらず電子機器10が静止していない場合がありうる。そのような場合に計測結果または推定値の補正が実行されないように、補正タイミング決定部223は、IMU300の計測結果に含まれる検出値、具体的には加速度や角速度の値が閾値未満であり、電子機器10の動きがある程度小さいことが推定される場合に限って補正タイミングの決定を実行してもよい。
ステップS103においてIMU300の計測結果に含まれる検出値が閾値未満である場合、補正タイミング決定部223が補正タイミングを決定し(ステップS104)、補正処理部224が当該補正タイミングに従って補正処理を実行する(ステップS105)。具体的には、補正処理部224は、補正タイミング以降に計測結果解析部222に入力された計測結果232をリアルタイムで補正してもよいし、既に処理された計測結果232の時系列データのうち、補正タイミング以降のデータを事後的に補正してもよい。計測結果232が事後的に補正された場合、計測結果解析部222が推定値231の算出を再度実行するステップ(図示せず)が実行されてもよい。あるいは、補正処理部224は、計測結果に基づく推定値231を補正してもよい。
上記で説明したような本発明の第1の実施形態では、制御部200が、ビジョンセンサ100から受信されるイベント信号の頻度に応じてIMU300の計測結果を補正する処理を実行する。これによって、例えば、電子機器10が静止した瞬間を正確に特定して計測結果に含まれる誤差をキャンセルすることができ、より高い頻度で誤差をキャンセルすることによって、計測結果そのもの、および電子機器10の姿勢角や変位の推定精度を向上させることができる。
以上、添付図面を参照しながら本発明のいくつかの実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
10…電子機器、100…ビジョンセンサ、110…センサアレイ、110A,110B…センサ、120…処理回路、200…制御部、210…通信インターフェース、220…処理回路、221…イベント信号解析部、222…計測結果解析部、223…補正タイミング決定部、224…補正処理部、230…メモリ、231…推定値。

Claims (7)

  1. 入射する光の強度変化を検出したときにイベント信号を生成するセンサによって構成されるセンサアレイを含むイベント駆動型のビジョンセンサと、
    前記ビジョンセンサとともに変位する慣性計測装置(IMU)と、
    前記イベント信号の頻度に応じて前記IMUの計測結果、または前記IMUの計測結果に基づく推定値を補正する補正処理部と
    を備える電子機器。
  2. 前記イベント信号の頻度に基づいて前記電子機器の静止状態に対応する補正タイミングを決定する補正タイミング決定部をさらに備え、
    前記補正処理部は、前記補正タイミングが決定されたときに前記IMUの計測結果または前記推定値を補正する、請求項1に記載の電子機器。
  3. 前記補正タイミング決定部は、前記イベント信号の頻度が閾値未満である場合に前記補正タイミングを決定する、請求項2に記載の電子機器。
  4. 前記補正タイミング決定部は、前記IMUの計測結果に含まれる検出値が閾値未満である場合に前記補正タイミングを決定する、請求項2または請求項3に記載の電子機器。
  5. 前記IMUの計測結果は、角速度を含み、
    前記推定値は、前記電子機器の姿勢角を含む、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の電子機器。
  6. 入射する光の強度変化を検出したときにイベント信号を生成するセンサによって構成されるセンサアレイを含むイベント駆動型のビジョンセンサから前記イベント信号を受信するステップと、
    前記ビジョンセンサとともに変位する慣性計測装置(IMU)から計測結果を受信するステップと、
    前記イベント信号の頻度に応じて前記IMUの計測結果、または前記IMUの計測結果に基づく推定値を補正するステップと
    を含む補正方法。
  7. 入射する光の強度変化を検出したときにイベント信号を生成するセンサによって構成されるセンサアレイを含むイベント駆動型のビジョンセンサから前記イベント信号を受信するステップと、
    前記ビジョンセンサとともに変位する慣性計測装置(IMU)から計測結果を受信するステップと、
    前記イベント信号の頻度に応じて前記IMUの計測結果、または前記IMUの計測結果に基づく推定値を補正するステップと
    を電子機器の制御部を構成する処理回路に実行させるためのプログラム。
JP2018227780A 2018-12-05 2018-12-05 電子機器、補正方法およびプログラム Active JP7152285B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018227780A JP7152285B2 (ja) 2018-12-05 2018-12-05 電子機器、補正方法およびプログラム
KR1020217015757A KR20210083297A (ko) 2018-12-05 2019-12-03 전자 기기, 보정 방법 및 프로그램
CN201980078582.6A CN113167810A (zh) 2018-12-05 2019-12-03 电子装置,校正方法和程序
US17/296,843 US20220018710A1 (en) 2018-12-05 2019-12-03 Electronic apparatus, correction method, and program
PCT/JP2019/047133 WO2020116417A1 (ja) 2018-12-05 2019-12-03 電子機器、補正方法およびプログラム
EP19892473.0A EP3893004A4 (en) 2018-12-05 2019-12-03 ELECTRONIC DEVICE, CORRECTION METHOD AND PROGRAM

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018227780A JP7152285B2 (ja) 2018-12-05 2018-12-05 電子機器、補正方法およびプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020091163A JP2020091163A (ja) 2020-06-11
JP7152285B2 true JP7152285B2 (ja) 2022-10-12

Family

ID=70975338

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018227780A Active JP7152285B2 (ja) 2018-12-05 2018-12-05 電子機器、補正方法およびプログラム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20220018710A1 (ja)
EP (1) EP3893004A4 (ja)
JP (1) JP7152285B2 (ja)
KR (1) KR20210083297A (ja)
CN (1) CN113167810A (ja)
WO (1) WO2020116417A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023145019A1 (ja) * 2022-01-28 2023-08-03 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 電子機器、情報処理方法およびプログラム

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014046204A1 (ja) 2012-09-19 2014-03-27 株式会社ニコン 電子機器、及びプログラム
JP2014535098A (ja) 2011-10-14 2014-12-25 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド イベント基盤ビジョンセンサを用いた動作認識装置及び方法
US20170089948A1 (en) 2011-11-04 2017-03-30 Google Inc. Calibrating Intertial Sensors Using an Image Sensor
JP2018522348A (ja) 2015-11-02 2018-08-09 三菱電機株式会社 センサーの3次元姿勢を推定する方法及びシステム

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002267685A (ja) * 2001-03-12 2002-09-18 Canon Inc 振動検出装置及び像振れ補正装置
US8676498B2 (en) * 2010-09-24 2014-03-18 Honeywell International Inc. Camera and inertial measurement unit integration with navigation data feedback for feature tracking
CN108289721B (zh) * 2014-09-05 2020-12-15 伊西康有限责任公司 外科器械
JP2016125988A (ja) * 2015-01-08 2016-07-11 富士通株式会社 携帯端末装置及びキャリブレーション方法
JP6355034B2 (ja) * 2015-03-31 2018-07-11 エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッドSz Dji Technology Co.,Ltd ジオフェンシング装置を識別する方法及びジオフェンシング装置識別システム
TWI730975B (zh) * 2015-08-19 2021-06-21 日商半導體能源研究所股份有限公司 資訊處理裝置
US20180146149A1 (en) 2016-11-21 2018-05-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Event-based sensor, user device including the same, and operation method of the same

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014535098A (ja) 2011-10-14 2014-12-25 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド イベント基盤ビジョンセンサを用いた動作認識装置及び方法
US20170089948A1 (en) 2011-11-04 2017-03-30 Google Inc. Calibrating Intertial Sensors Using an Image Sensor
WO2014046204A1 (ja) 2012-09-19 2014-03-27 株式会社ニコン 電子機器、及びプログラム
JP2018522348A (ja) 2015-11-02 2018-08-09 三菱電機株式会社 センサーの3次元姿勢を推定する方法及びシステム

Also Published As

Publication number Publication date
EP3893004A1 (en) 2021-10-13
JP2020091163A (ja) 2020-06-11
US20220018710A1 (en) 2022-01-20
EP3893004A4 (en) 2022-08-24
KR20210083297A (ko) 2021-07-06
CN113167810A (zh) 2021-07-23
WO2020116417A1 (ja) 2020-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102440358B1 (ko) 관성 기반 항법 장치 및 상대사전적분에 따른 관성 기반 항법 방법
CN109716062B (zh) 姿势估计装置
US9116001B2 (en) Adaptive estimation of frame time stamp latency
JP2009074859A (ja) 運動計測装置及び位置計測装置
US11119112B2 (en) Method for compensating gyroscope drift on an electronic device
US20150294453A1 (en) Image analysis apparatus mounted to vehicle
JP6383907B2 (ja) 車輌位置計測装置及び方法
JP2007057981A5 (ja)
JP7152285B2 (ja) 電子機器、補正方法およびプログラム
US11656242B2 (en) Angular velocity detection device, image display apparatus, angular velocity detection method, and storage medium
JP2019029968A5 (ja)
US20210240991A1 (en) Information processing method, information processing device, non-transitory computer-readable recording medium recording information processing program, and information processing system
US8543852B2 (en) Method and system for determining an idle state
CN112762944A (zh) 零速区间检测及零速更新方法
KR101573641B1 (ko) 6자유도 구조물 변위 측정 시스템 및 방법
KR20140138635A (ko) 관성 센서 향상
KR101910515B1 (ko) 수중 운동체 항법 제어 장치 및 방법
WO2023145019A1 (ja) 電子機器、情報処理方法およびプログラム
KR102392122B1 (ko) 이동 로봇 및 이의 위치 추정 방법
US20230134912A1 (en) Information processing device, information processing system, information processing method, and recording medium
KR102393016B1 (ko) 휴대용 장치의 방위를 추정하기 위한 방법
JP7346342B2 (ja) 計測装置、計測方法およびプログラム
US20230409126A1 (en) Information processing device, information processing method, non-transitory computer readable medium
JP6967766B2 (ja) 位置検出装置および位置検出方法
KR20210039561A (ko) 추측항법 오차 보정 방법 및 그 전자 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210222

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220208

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220906

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220929

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7152285

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150