JP7147462B2 - 磁気センサ - Google Patents
磁気センサ Download PDFInfo
- Publication number
- JP7147462B2 JP7147462B2 JP2018199195A JP2018199195A JP7147462B2 JP 7147462 B2 JP7147462 B2 JP 7147462B2 JP 2018199195 A JP2018199195 A JP 2018199195A JP 2018199195 A JP2018199195 A JP 2018199195A JP 7147462 B2 JP7147462 B2 JP 7147462B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- layer
- magnetic layer
- sensor chip
- magneto
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 23
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 23
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 16
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/09—Magnetoresistive devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/10—Magnetoresistive devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/80—Constructional details
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Description
3 可変磁路
4 MR素子
6 回路基板
10 センサチップ
11 素子形成面
12 裏面
13,14 側面
15 絶縁層
21~24 外部磁性体
21a~23a 外部磁性体の位置
30,30A,30B,40 機械的駆動部
30a,40a 固定領域
30b,40b 変位領域
31 バネ体
32 バイパス磁性体層
33 圧電体層
34,35 電極層
50 接着剤
50a,50b 接着剤の位置
C 補償コイル
G1~G4 磁気ギャップ
M1~M3,M11,M12,M21,M22,M31,M32 磁性体層
P 圧電構造体
R1~R4 感磁素子
T11~T16,T21~T24 端子電極
Va 差動信号
Claims (7)
- 第1及び第2の磁性体層と、前記第1の磁性体層と前記第2の磁性体層との間の第1の磁気ギャップによって形成される第1の磁路上に設けられた第1の感磁素子とを含むセンサチップと、
接着剤を介して前記センサチップに接着され、圧電体層とバイパス磁性体層が積層された構造を有する第1の機械的駆動部と、
前記第1の磁性体層と重なり、且つ、前記第1の機械的駆動部と重ならない位置に設けられた第1の外部磁性体と、を備え、
前記第1の機械的駆動部は、前記接着剤を介して前記センサチップに固定された固定領域と、前記圧電体層に駆動電圧を印加することにより変位する変位領域とを有し、前記駆動電圧に応じて、前記変位領域に含まれる前記バイパス磁性体層と前記第1の磁路との位置関係が変化し、
前記第1の機械的駆動部の前記固定領域は、前記第1の感磁素子から見て前記第2の磁性体層側に位置することを特徴とする磁気センサ。 - 前記第1の機械的駆動部の前記固定領域は、前記第2の磁性体層と重なることを特徴とする請求項1に記載の磁気センサ。
- 前記第2の磁性体層及び前記第1の機械的駆動部の前記固定領域と重なる位置に設けられた第2の外部磁性体をさらに備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の磁気センサ。
- 第1、第2及び第3の磁性体層と、前記第1の磁性体層と前記第2の磁性体層との間の第1の磁気ギャップによって形成される第1の磁路上に設けられた第1の感磁素子と、前記第1の磁性体層と前記第3の磁性体層との間の第2の磁気ギャップによって形成される第2の磁路上に設けられた第2の感磁素子とを含むセンサチップと、
接着剤を介して前記センサチップに接着され、圧電体層とバイパス磁性体層が積層された構造を有する第1及び第2の機械的駆動部と、を備え、
前記第1の機械的駆動部は、前記接着剤を介して前記センサチップに固定された固定領域と、前記圧電体層に駆動電圧を印加することにより変位する変位領域とを有し、前記駆動電圧に応じて、前記変位領域に含まれる前記バイパス磁性体層と前記第1の磁路との位置関係が変化し、
前記第2の機械的駆動部は、前記接着剤を介して前記センサチップに固定された固定領域と、前記圧電体層に駆動電圧を印加することにより変位する変位領域とを有し、前記駆動電圧に応じて、前記変位領域に含まれる前記バイパス磁性体層と前記第2の磁路との位置関係が変化することを特徴とする磁気センサ。 - 第1及び第2の磁性体層と、前記第1の磁性体層と前記第2の磁性体層との間の第1の磁気ギャップによって形成される第1の磁路上に設けられた第1の感磁素子とを含むセンサチップと、
接着剤を介して前記センサチップに接着され、圧電体層とバイパス磁性体層が積層された構造を有する第1の機械的駆動部と、を備え、
前記第1の機械的駆動部は、前記接着剤を介して前記センサチップに固定された固定領域と、前記圧電体層に駆動電圧を印加することにより変位する変位領域とを有し、前記駆動電圧に応じて、前記変位領域に含まれる前記バイパス磁性体層と前記第1の磁路との位置関係が変化し、
前記第1の機械的駆動部は、バネ体の一方の表面に前記圧電体層が形成され、前記バネ体の他方の表面に前記バイパス磁性体層が形成された構造を有することを特徴とする磁気センサ。 - 前記圧電体層は、前記バネ体の前記一方の表面に形成された薄膜であることを特徴とする請求項5に記載の磁気センサ。
- 前記バイパス磁性体層は、前記バネ体の前記他方の表面に形成されたメッキ膜であることを特徴とする請求項5又は6に記載の磁気センサ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018199195A JP7147462B2 (ja) | 2018-10-23 | 2018-10-23 | 磁気センサ |
PCT/JP2019/036013 WO2020084953A1 (ja) | 2018-10-23 | 2019-09-13 | 磁気センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018199195A JP7147462B2 (ja) | 2018-10-23 | 2018-10-23 | 磁気センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020067331A JP2020067331A (ja) | 2020-04-30 |
JP7147462B2 true JP7147462B2 (ja) | 2022-10-05 |
Family
ID=70331425
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018199195A Active JP7147462B2 (ja) | 2018-10-23 | 2018-10-23 | 磁気センサ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7147462B2 (ja) |
WO (1) | WO2020084953A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021105601A (ja) * | 2019-12-27 | 2021-07-26 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
WO2023162157A1 (ja) * | 2022-02-25 | 2023-08-31 | Tdk株式会社 | センサチップ及びこれを備えた磁気センサ、並びに、磁気センサの製造方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008146809A1 (ja) | 2007-05-28 | 2008-12-04 | Mitsubishi Electric Corporation | 磁界検出装置 |
JP2008309571A (ja) | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Ricoh Co Ltd | 磁気センシング装置 |
WO2010091846A2 (de) | 2009-02-10 | 2010-08-19 | Sensitec Gmbh | Anordnung zur messung mindestens einer komponente eines magnetfeldes |
JP2015203647A (ja) | 2014-04-15 | 2015-11-16 | アルプス電気株式会社 | 磁気センサ |
WO2017204151A1 (ja) | 2016-05-24 | 2017-11-30 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3377162B2 (ja) * | 1997-01-17 | 2003-02-17 | 株式会社リコー | 熱分析装置およびその計測方法 |
-
2018
- 2018-10-23 JP JP2018199195A patent/JP7147462B2/ja active Active
-
2019
- 2019-09-13 WO PCT/JP2019/036013 patent/WO2020084953A1/ja active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008146809A1 (ja) | 2007-05-28 | 2008-12-04 | Mitsubishi Electric Corporation | 磁界検出装置 |
JP2008309571A (ja) | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Ricoh Co Ltd | 磁気センシング装置 |
WO2010091846A2 (de) | 2009-02-10 | 2010-08-19 | Sensitec Gmbh | Anordnung zur messung mindestens einer komponente eines magnetfeldes |
JP2015203647A (ja) | 2014-04-15 | 2015-11-16 | アルプス電気株式会社 | 磁気センサ |
WO2017204151A1 (ja) | 2016-05-24 | 2017-11-30 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
VALADEIRO,Joao at el.,Hybrid Integration of Magnetoresistive Sensors with MEMS as a Strategy to Detect Ultra-Low Magnetic Fields,Micromachines,Micromachines 2016,7(5),88,2016年05月11日,https://www.mdpi.com/2072-666X/7/5/88 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2020067331A (ja) | 2020-04-30 |
WO2020084953A1 (ja) | 2020-04-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2021131606A1 (ja) | 磁気センサ | |
US9599681B2 (en) | Magnetic sensor and magnetic detecting method of the same | |
JP6984792B2 (ja) | 磁気センサ、磁気センサアレイ、磁場分布測定装置、および位置特定装置 | |
JP7069960B2 (ja) | 磁気センサ | |
JP2020187084A (ja) | 磁気センサ | |
JP2015219061A (ja) | 磁界検出センサ及びそれを用いた磁界検出装置 | |
JP5888402B2 (ja) | 磁気センサ素子 | |
JP2008516225A (ja) | 非線形磁界センサ及び電流センサ | |
JP2008111801A (ja) | 磁気センサおよびその製造方法 | |
WO2021100252A1 (ja) | 磁気センサ | |
JP7147462B2 (ja) | 磁気センサ | |
JP7099731B2 (ja) | 多層磁気変調構造を有する低ノイズ磁気抵抗センサ | |
WO2019239933A1 (ja) | 磁気センサ | |
CN110709720B (zh) | 磁传感器 | |
CN111198341B (zh) | 磁传感器及位置检测装置 | |
WO2020137861A1 (ja) | 磁気センサ | |
JP2015219227A (ja) | 磁気センサ | |
JP2007024598A (ja) | 磁気センサ | |
JP6126348B2 (ja) | 磁気センサ及びその磁気検出方法 | |
JP2020187085A (ja) | 磁気センサ | |
JP6185298B2 (ja) | 磁気センサ | |
WO2011111747A1 (ja) | 磁気検出素子を備えた電流センサ | |
JPS63253264A (ja) | 電流検出器 | |
US20200300936A1 (en) | Magnetic sensor | |
CN116868073A (zh) | 磁传感器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210716 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220607 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220725 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220823 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220905 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7147462 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |