JP7125786B2 - 自動マルチグリッドハンドリング装置 - Google Patents
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Description
本非仮特許出願は、2017年5月11日に出願の米国仮特許出願第62/504,835号の優先権および利益を主張し、本開示は、その全体が引用により本明細書に組み込まれる。
例示的な実施形態は、概して、自動グリッドハンドリングシステムに関し、より詳細には、自動検査または撮像システムのための自動グリッドハンドリングシステムに関する。
Claims (22)
- 電子顕微鏡用の自動グリッドハンドリング装置であって、
前記電子顕微鏡の多軸位置決めステージポートに取り外し可能に連結するように構成されたフレームと、
前記フレームに接続された搬送モジュールであって、前記搬送モジュールが、マルチステージシャトルを含み、前記マルチステージシャトルが、単一の動作の自由度を有する第1のシャトルステージと、前記第1のシャトルステージとは独立した単一の動作の自由度を有する第2のシャトルステージとを有する、搬送モジュールと、
前記第1および第2のシャトルステージのうちの少なくとも1つに接続されたエンドエフェクタであって、前記エンドエフェクタが、グリッドキャリアを保持し、グリッドを保持する前記グリッドキャリアを、前記電子顕微鏡の前記多軸位置決めステージポートの内部の多軸位置決めステージに連通可能に接続された搬送インタフェースを通して、前記電子顕微鏡へとおよび前記電子顕微鏡から搬送するように構成され、前記エンドエフェクタが、前記第1および第2のシャトルステージの動作の自由度と前記電子顕微鏡の前記多軸位置決めステージポートの内部の前記多軸位置決めステージとの組み合わせによって画定された動作範囲を有し、前記動作範囲は、前記エンドエフェクタが前記電子顕微鏡の検査ステージを部分的に画定するように、前記グリッドを保持する前記グリッドキャリアを検査位置に位置付けるために、前記電子顕微鏡の外部のグリッド保持後退位置から前記電子顕微鏡の内部の検査位置まで伸長する、エンドエフェクタと、
前記フレームに接続され、前記搬送モジュールに連通可能に接続された自動装填モジュールであって、前記自動装填モジュールが、装填ポートモジュールを含み、前記装填ポートモジュールを通ってグリッドが前記自動装填モジュールおよび前記搬送モジュールに装填される、自動装填モジュールと
を備える自動グリッドハンドリング装置。 - 前記第1および第2のシャトルステージの各々の単一の移動の自由度が、共通の方向を共有する、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記第1のシャトルステージの単一の移動の自由度および前記第2のシャトルステージの単一の移動の自由度がそれぞれ、前記共通の方向に沿った全体移動および精密移動のために構成される、請求項2記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記マルチステージシャトルとは分離していて別個であるキャリアマガジンシャトルをさらに備え、前記キャリアマガジンシャトルが、グリッドを保持するグリッドキャリアを前記自動グリッドハンドリング装置の前記装填ポートモジュールと前記マルチステージシャトルとの間で搬送するように構成されている、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記キャリアマガジンシャトルが、1つまたは複数のグリッドキャリアを保持するように構成されたグリッドキャリアマガジンを搬送するように構成され、前記グリッドキャリアが、前記グリッドを保持するように構成されている、請求項4記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記マルチステージシャトルが、真空環境下で動作するように構成されている、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記マルチステージシャトルの一部が、大気環境下で動作するように構成され、前記マルチステージシャトルの他の部分が、真空環境下で動作するように構成されている、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記マルチステージシャトルの前記第2のシャトルステージの動作分解能が0.5ミクロンである、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記エンドエフェクタが、前記グリッドの有無を判定するように構成された一体型センサを含む、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記グリッドが、試料グリッドを備える、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記グリッドキャリアが、複数のグリッドタイプを支持するように構成されている、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記グリッドキャリアが、前記グリッドを所定の向きに整列させて拘束するように構成されている、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記グリッドキャリアマガジンが、グリッドキャリアマガジン棚上で前記グリッドキャリアを整列させて拘束するように構成されている、請求項5記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記フレーム、前記搬送モジュールおよび前記自動装填モジュールは、前記多軸位置決めステージによって前記搬送モジュールが駆動されるときに、Y、Zおよびθ軸方向に移動するように構成されている、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記フレーム、前記搬送モジュールおよび前記自動装填モジュールは、前記多軸位置決めステージによって前記搬送モジュールが駆動されるときに、X、Y、Zおよびθ軸方向に移動するように構成されている、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記エンドエフェクタが、前記グリッドを直接保持し、搬送インタフェースを介して前記電子顕微鏡へとおよび前記電子顕微鏡から前記グリッドを搬送するように構成されている、請求項1記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記グリッドキャリアマガジンが、1つまたは複数のグリッドを直接保持するように構成されている、請求項5記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 電子顕微鏡用の自動グリッドハンドリング装置であって、
前記電子顕微鏡の多軸位置決めステージポートに取り外し可能に連結するように構成されたフレームと、
前記フレームに接続された搬送モジュールであって、前記搬送モジュールが、前記電子顕微鏡の内部の多軸位置決めステージと組み合わせて、グリッドを保持するグリッドキャリアを搬送するように構成され、前記搬送モジュールが、回転軸受およびシールを有し、前記多軸位置決めステージによって駆動されるとθ軸方向に移動するように構成されている、搬送モジュールと、
前記搬送モジュールに接続されたエンドエフェクタであって、前記エンドエフェクタが、前記グリッドキャリアを保持し、前記電子顕微鏡の前記多軸位置決めステージポートの内部の前記多軸位置決めステージに連通可能に接続された搬送インタフェースを通して前記電子顕微鏡へとおよび前記電子顕微鏡から前記グリッドキャリアを搬送するように構成され、前記エンドエフェクタが、前記電子顕微鏡の検査または撮像ステージを部分的に画定する、エンドエフェクタと、
前記フレームに接続され、前記搬送モジュールに連通可能に接続された自動装填モジュールであって、前記自動装填モジュールが、装填ポートモジュールを含み、前記装填ポートモジュールを通ってグリッドが前記自動装填モジュールおよび前記搬送モジュールへと装填される、自動装填モジュールと
を備える自動グリッドハンドリング装置。 - θ軸方向の範囲が、+/-75°である、請求項18記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記フレームが、留め具を用いて前記電子顕微鏡に留められ、前記フレームおよび前記自動装填モジュールは、前記多軸位置決めステージによって前記搬送モジュールが駆動されるときに、θ軸方向に移動しないように構成されている、請求項18記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記留め具は、前記多軸位置決めステージによって前記搬送モジュールが駆動されるときに、前記フレームおよび前記自動装填モジュールのθ軸方向の移動を防止し、前記フレーム、前記搬送モジュールおよび前記自動装填モジュールのX、Y、およびZ軸方向の移動を可能にするように構成されている、請求項18記載の自動グリッドハンドリング装置。
- 前記搬送モジュールが、マルチステージシャトルを含み、前記マルチステージシャトルが、単一の動作の自由度を有する第1のシャトルステージと、前記第1のシャトルステージとは独立した単一の動作の自由度を有する第2のシャトルステージとを有し、前記第1のシャトルステージの単一の動作の自由度および前記第2のシャトルステージの単一の動作の自由度がそれぞれ、共通の方向に沿った全体移動および精密移動のために構成されている、請求項18記載の自動グリッドハンドリング装置。
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Citations (1)
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JP5789055B2 (ja) * | 2011-09-28 | 2015-10-07 | ハイジトロン, インク.Hysitron, Inc. | 複数自由度ステージを含むテストアセンブリ |
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JPS63318051A (ja) | トツプエントリ−試料交換装置用雰囲気試料運搬室 |
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