JP7117314B2 - ポッケルスセルの結晶の励起 - Google Patents

ポッケルスセルの結晶の励起 Download PDF

Info

Publication number
JP7117314B2
JP7117314B2 JP2019548526A JP2019548526A JP7117314B2 JP 7117314 B2 JP7117314 B2 JP 7117314B2 JP 2019548526 A JP2019548526 A JP 2019548526A JP 2019548526 A JP2019548526 A JP 2019548526A JP 7117314 B2 JP7117314 B2 JP 7117314B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
crystal
compensating
pulse
pulses
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019548526A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019536117A (ja
Inventor
ハフナー マティアス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Trumpf Scientific Lasers GmbH and Co KG
Original Assignee
Trumpf Scientific Lasers GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Trumpf Scientific Lasers GmbH and Co KG filed Critical Trumpf Scientific Lasers GmbH and Co KG
Publication of JP2019536117A publication Critical patent/JP2019536117A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7117314B2 publication Critical patent/JP7117314B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/0136Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  for the control of polarisation, e.g. state of polarisation [SOP] control, polarisation scrambling, TE-TM mode conversion or separation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/03Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on ceramics or electro-optical crystals, e.g. exhibiting Pockels effect or Kerr effect
    • G02F1/0327Operation of the cell; Circuit arrangements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/09Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on magneto-optical elements, e.g. exhibiting Faraday effect
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/106Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity
    • H01S3/107Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity using electro-optic devices, e.g. exhibiting Pockels or Kerr effect
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/11Mode locking; Q-switching; Other giant-pulse techniques, e.g. cavity dumping
    • H01S3/1123Q-switching
    • H01S3/115Q-switching using intracavity electro-optic devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Lasers (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)

Description

本発明は、特に、限られた時間にわたって光学的に安定した偏光ウィンドウを提供するために、(高)電圧パルスを用いてポッケルスセルの結晶を励起するための方法に関する。さらに、本発明は、増幅ユニット、特に再生増幅ユニットに関する。
電磁放射線、特にレーザ放射線の偏光調整のためのポッケルスセルの制御は、ポッケルスセルの結晶に印加される高電圧を高速でスイッチングすることによって実行される。印加される高電圧は、電気光学効果を介して、結晶内に電気分極を引き起こし、これによって、例えば、結晶の所望の複屈折がもたらされる。複屈折は、例えば、ポッケルスセル結晶を通過するレーザ放射線の偏光状態を調整するために使用することができる。
ポッケルスセル駆動回路の一例が、EP1 801 635A1に記載されている。例示的な制御回路は、数ナノ秒の範囲内の電圧上昇時間を可能にする、いわゆる「ダブルプッシュプル」スイッチング方法に基づく。高速に電圧をスイッチングすることは、電気光学効果と同時に発生する圧電効果によって引き起こされる結晶の機械的振動を伴い得ることも知られている。
そのような共振の機械的減衰(mechanical damping)は、例えば、減衰フォイル(damping foil)を適切に使用することによって、および、はんだ付けまたは接着によって結晶を特別なホルダに取り付けることによって、達成される。DE10 2013 012 966A1は、例えば、材料封止によって電極に結晶を接続することによって、機械的振動を減衰することができることを開示している。加えて、EP2 800 212A1は、電気光学変調器のいわゆる「音響リンギング」に関して、変調パルス幅を、「音響リンギング」の機械的振動の継続期間の整数倍にほぼ調整することができることを開示している。
本開示の一態様は、機械的振動によって可能な限り影響を受けないポッケルスセルの使用の時間ウィンドウを提供する目的に基づく。
これらの目的の内の少なくとも1つは、請求項1に記載のポッケルスセルの結晶を励起するための方法および請求項14に記載の特に再生増幅ユニットによって解決される。さらなる実施形態が、従属請求項において示されている。
一態様において、結晶を通過する電磁放射線、特にレーザ放射線の偏光設定のために高電圧パルスを用いてポッケルスセルの結晶を励起するための方法は、各々が使用継続期間および使用パルス幅を有し、電磁放射線、特にレーザ放射線の偏光設定のために結晶内の電気分極を介して結晶の複屈折を誘起するように構成されている、使用電圧パルスのシーケンスを結晶に印加するステップと、各々が電圧プロファイルを有する補償パルスのシーケンスを結晶に印加するステップであって、補償パルスのシーケンスは、補償パルスの電圧プロファイルが、使用電圧パルスによるポッケルスセルの結晶内の機械的振動の励起に反作用するように、使用電圧パルスのシーケンスと時間的に重ね合わされる、補償パルスのシーケンスを結晶に印加するステップとを含む。
さらなる態様において、本発明は、増幅媒体と、ポッケルスセル、および、光スイッチを形成するための偏光ビームスプリッタを含む光スイッチユニットと、上述の方法および本方法の本明細書において開示されているさらなる発展に従ってポッケルスセルを制御するための制御ユニットとを有する増幅ユニット、特に再生増幅ユニットに関する。
さらなる態様において、本発明は、パルス高電圧を用いてポッケルスセルを励起するための方法であって、その結果、パルス高電圧は、使用継続期間および使用パルス幅を有する反復使用パルスを含み、パルス高電圧は、ポッケルスセル内で複屈折が誘起されるように、ポッケルスセルの光学特性を変化させるように構成されている、方法に関する。それによって、励起は、それぞれ使用パルスに従い、使用パルスによって励起されるポッケルスセル内の機械的振動(音響衝撃波)が減衰されるように構成されている、さらなる抑制パルスを含む。
いくつかの実施形態において、補償パルスの電圧プロファイルのスイッチングエッジは、時間的プロファイルおよび使用電圧パルスに対する時間的位置が、スイッチングエッジが使用電圧パルスによって引き起こされる結晶内の音響事象に弱め合うように干渉する結晶内の音響事象を誘起するように設定されるように、補償パルスの電圧プロファイルの機械的に作用する部分として構成することができる。それによって、時間的プロファイルは、特に、スイッチングエッジの立ち上がり時間または立ち下がり時間によって決定することができる。
いくつかの実施形態において、使用電圧パルスは、各々、使用電圧を設定するための第1の電圧スイッチング動作と、使用電圧の存在を終端させるための第2の電圧スイッチング動作とを含み、上記スイッチング動作の少なくとも一方は、ポッケルスセルの結晶の機械的振動を励起し、特に、音響衝撃波を引き起こすように適合することができる。それによって、補償パルスの電圧プロファイルは、使用電圧パルスによって励起可能な機械的振動に反作用する振動を励起するための少なくとも1つの補償スイッチング動作を含むことができる。反作用振動は、使用電圧パルスによって励起可能な機械的振動に対して位相シフトすることができ、特に、135°~225°の範囲内の位相シフトを有することができる。さらに、位相シフトは、使用電圧パルスによって励起される機械的振動との弱め合う干渉をもたらすことができ、位相位置は、任意選択的に、減衰を最適化し、振動が減衰される場合に過補償を低減し、特に防止するように選択される。
いくつかの実施形態において、結晶は、特に、電圧を印加するための電極の間の結晶の延伸範囲のような寸法、結晶タイプ、結晶形状、結晶カット、印加される電場ベクトルおよび/または元の励起されていない空間軸における散乱によって設定される、少なくとも1つの音響共振周波数を有することができる。使用継続期間に起因して、使用電圧パルスのシーケンスは、原則的に、少なくとも1つの音響共振周波数による結晶の共振を励起するのに適することができ、補償パルスのシーケンスは、結晶内の共振の励起を低減し、特に防止するように適合することができる。
いくつかの実施形態において、補償パルスの電圧プロファイルは各々、第1の補償電圧スイッチング動作および第2の補償電圧スイッチング動作を有することができる。第1の補償電圧スイッチング動作は、補償されるべき電圧スイッチング動作の後に、実質的に同時に、または、ポッケルスセルの結晶の共振周波数の1つまたは複数の期間に実質的に対応する時間遅延をもって行われ得る。第2の補償電圧スイッチング動作は、補償されるべき電圧スイッチング動作の後に、かつ、関連付けられる第1の補償電圧スイッチング動作に後続して、ポッケルスセルの結晶の共振周波数の期間または当該期間の整数倍に実質的に対応する時間遅延をもって行われ得る。
使用電圧パルスのうちの1つと、当該使用電圧パルスに直に後続する補償パルスとの間の時間遅延は、特に実質的にゼロとすることができ、その結果、電圧スイッチング動作は、使用電圧パルスの終わりで、かつ補償電圧パルスの始まりにおいて、特に実質的に、関連付けられる振動励起が互いを補償するように同時に、行われる。補償のために、補償されるべき使用スイッチング動作の逆の電圧勾配を有する電圧スイッチング動作を使用することができる。
補償パルスのシーケンスは、使用電圧パルスに対する複数の補償パルスを含むことができ、後続する補償パルスのうちの少なくとも1つの開始は、第1の補償パルスの開始に対して、共振期間の整数倍だけ遅延することができる。
いくつかの実施形態において、補償パルスのうちの1つの電圧プロファイルは、第2の電圧スイッチング動作の後の、結晶の共振期間の最大12.5%、例えば、最大5%~10%、特に、結晶の共振期間の少なくとも1%、例えば、2%~5%の時間オフセットをもって行われる補償電圧スイッチング動作を有することができる。補償パルスのうちの1つの電圧プロファイルは、共振期間の整数倍に関して、結晶の共振期間の最大12.5%、例えば、最大5%~10%、特に、結晶の共振期間の少なくとも1%、例えば、2%~5%の時間オフセットをもって行われる補償電圧スイッチング動作を有することができる。
いくつかの実施形態において、補償パルスは、開始が、使用ウィンドウの第2の電圧スイッチング動作に対して、共振期間の整数倍の遅延に対する使用継続期間の最大12.5%の時間オフセットにあり、終端が、使用ウィンドウの開始に対して、共振期間の整数倍にある偏光ウィンドウを形成することができる。
いくつかの実施形態において、使用電圧パルスおよび補償電圧パルスの電圧スイッチング動作のうちの少なくとも1つは、特に数百ボルト~数キロボルトの範囲内の、急激な電圧変化を含み得る。任意選択的に、補償電圧スイッチング動作のうちの1つの電圧変化は、使用電圧パルスの電圧スイッチング動作の電圧変化程度であり得、特に、その電圧変化に相当するか、または、その分数であり得る。
いくつかの実施形態において、補償パルスの補償電圧スイッチング動作の電圧変化は、第1の使用電圧スイッチング動作および/または第2の使用電圧スイッチング動作の電圧変化と比較して低減することができ、補償は、任意選択的に、さらなる補償パルスを形成する少なくとも1つの補償電圧スイッチング動作によって補完することができる。
いくつかの実施形態において、第1の電圧スイッチング動作および/または第2の電圧スイッチオフ動作の電圧変化と比較した補償電圧スイッチング動作の電圧変化の低減は、少なくとも、特に、例えば再生増幅ユニット内のポッケルスセルの共振器内部適用における補償電圧スイッチング動作間の低減した電圧変化が、特にレーザシステムの目標動作を可能にする(特にレーザシステムの)光ビーム経路内の(レーザ)放射線損失を引き起こす大きさであり得る。
いくつかの実施形態において、複数の補償パルス、および/または、使用電圧パルスのシーケンスの過程において経時的に変化する補償パルスを提供することによって、複数の共振周波数を補償することができる。任意選択的に、補償パルスは、既知の共振周波数のセットに対してランダムに制御された、補償パルスのシーケンスを形成することができる。さらに、完全にランダムに提供される補償パルスによって共振の励起を回避すること、すなわち、追加の「ノイズ」によって周期性を破壊することが可能である。
いくつかの実施形態において、電磁放射線、特にレーザ放射線は、使用電圧パルスの時点において、かつ、任意選択的に、使用継続期間と同期して、ポッケルスセルを通る光ビーム経路に選択的に結合することができる。
概して、本明細書において提示されている概念の実装形態は、原則的に、結晶構造とは無関係である。したがって、本明細書において提示されている概念の実装形態は、製造労力をほとんどまたはまったく伴わずに行うことができる。これは、これらが、制御ソフトウェアにおいて実装される適切なHVスイッチの方法として実装することができるためである。
(高)電圧パルスを用いたポッケルスセルの結晶の励起のための、本明細書において開示されている概念はまた、ポッケルス効果の他の偏光調整適用に使用することもできる。本明細書において記載されている概念は、特に、増幅されるべき電磁放射線、特にレーザパルスの結合、および、「キャビティダンプ」または再生増幅の場合の、特にQスイッチレーザによる増幅レーザパルスの減結合に関する。他の用途は、とりわけ、例えばパルスピッカーを駆動するときの、キャビティの外部の強度および偏光変調を含む。さらなる用途は、CWレーザ、上流パルスピッカーおよびQスイッチによる拡張を含む。
本明細書において、従来技術の諸態様を少なくとも部分的に改善することを可能にする概念が開示される。特に、追加の特徴およびそれらの有用性が、図面に基づく以下の実施形態の説明からもたらされる。
少なくとも1つのポッケルスセルを有するレーザ増幅器システムの概略図である。 (高)電圧パルスを用いてポッケルスセルの結晶を励起するための例示的な概略的ダブルプッシュプル回路を示す図である。 スイッチング可能な波長板を形成するときのポッケルスセルの使用のための概略的に示された構成を示す図である。 スイッチング可能な波長板を形成するときのポッケルスセルの使用のための概略的に示された構成を示す図である。 偏光状態に対する励起された共振の影響を示すためのプロットを示す図である。 偏光状態に対する励起された共振の影響を示すためのプロットを示す図である。 偏光状態に対する励起された共振の影響を示すためのプロットを示す図である。 共振の励起に対する、本明細書において開示されている概念の影響を示すためのプロットを示す図である。 共振の励起に対する、本明細書において開示されている概念の影響を示すためのプロットを示す図である。 共振の励起に対する、本明細書において開示されている概念の影響を示すためのプロットを示す図である。 3つのパルス持続時間についての、電圧パルスによって提供される偏光状態に対する、本明細書において開示されている概念の影響を示すためのプロットを示す図である。 3つのパルス持続時間についての、電圧パルスによって提供される偏光状態に対する、本明細書において開示されている概念の影響を示すためのプロットを示す図である。 3つのパルス持続時間についての、電圧パルスによって提供される偏光状態に対する、本明細書において開示されている概念の影響を示すためのプロットを示す図である。 偏光調整のためのポッケルスセルの結晶の励起のための開示されている概念による組み合わせ使用電圧パルスおよび補償電圧パルスの例示的な概略シーケンスを示す図である。 偏光調整のためのポッケルスセルの結晶の励起のための開示されている概念による組み合わせ使用電圧パルスおよび補償電圧パルスの例示的な概略シーケンスを示す図である。 偏光調整のためのポッケルスセルの結晶の励起のための開示されている概念による組み合わせ使用電圧パルスおよび補償電圧パルスの例示的な概略シーケンスを示す図である。
本明細書において記載されている態様は、部分的に、ポッケルスセルにおいて使用される光学結晶(例えば、BBOまたはKTP結晶)が、多かれ少なかれ顕著な圧電特性を呈するという認識に基づく。これらの圧電特性は、印加されると、ポッケルスセル内に音響衝撃波を生成する電気的スイッチングパルスを引き起こすことができる。それぞれの結晶の、とりわけ寸法、幾何学的形状、および音速に応じて、結晶は、一般的に、1つまたは複数の共振周波数を有することができ、これは、電圧パルスのシーケンスを用いた励起の間に個々にまたはともに励起され得る。共振周波数(または関連付けられる低調波)に近い動作は、不安定なスイッチング挙動、例えば、再生増幅器における不安定な入力または出力挙動をもたらす可能性がある。さらに、そのような動作は、結晶またはそのマウントに機械的損傷をもたらす場合がある。
現在、結晶の振動挙動は、二次補償パルスによって影響を受け得ることが認識されている。特に、補償パルスが振動重ね合わせを通じて弱め合うように干渉し「つくす(away)」ため、機械的振動がまったく発生しない(または少なくとも低減のみされる)ように、補償パルスが時間的に使用パルスのシーケンス内に配置され得ることが認識されている。したがって、提供される補償パルスは、結晶の共振周波数(またはそれらの低調波)に近い高電圧スイッチング動作を許容し得る。ポッケルスセルの結晶のそのような励起は、結晶の言及されている不安的なスイッチング挙動および/または機械的破壊という欠点を回避することができる。
本明細書において提案されている高電圧励起はまた、特に、いくつかの共振周波数においても可能である。これは、それらが多くの場合、補償パルスを用いない励起をポッケルスセルについて与えられるためである。したがって、高電圧スイッチング動作が実施されるために、使用ウィンドウ(本明細書においては偏光ウィンドウまたは利得ウィンドウとしても参照される)を提供するためにポッケルスセルが作動される時間間隔の選択は、ほとんどまたはまったく制限され得ない(未補償動作と比較して)。
言い換えれば、本明細書において、追加の電圧パルス(補償パルス)を用いてポッケルスセルを励起し、それによって、使用パルスおよび電圧パルスのスイッチング動作からもたらされる音響衝撃波が可能な限り弱め合うように、または、少なくとも、安定した(例えば、レーザ)動作を行うことができる程度に弱め合うように干渉するように、電圧パルスが使用パルスに時間的に適合されることが提案される。特定の状況下で、この目標は、例えば、上流のパルスピッカーを用いて再生増幅ユニットに結合されるパルスレートの低減のような追加の方策によってサポートすることができる。概して、本明細書において開示されている概念を使用することによって、共振(複数可)の振動を効果的に防止または必要な程度まで低減することができる。
以下において、提案されている概念が、図1~図6に関連してより詳細に説明される。
上述したように、電磁放射線、特にレーザビームの高速スイッチングのために、適切な光学結晶に高電圧(可能性として、10KV以上の電圧を使用する)を印加することによって複屈折が誘起されるポッケルスセルを使用することができる。スイッチング可能な複屈折は、結晶を通過する光の偏光状態の時間的に調整可能な変更を可能にする。偏光器と組み合わせて、例えば、レーザ共振器の品質を、このようにスイッチングすることができる。これは、例えば、Qスイッチレーザにおいて、キャビティダンプのために、および、再生増幅器のために使用される。2つの電圧状態の間のポッケルスセルのスイッチング、すなわち、個々の電圧スイッチングプロセスは通常、非常に高速(例えば、数ナノ秒以内)であり、それによって、電圧状態は、偏光ウィンドウの調整可能な持続時間にわたって(例えば、数マイクロ秒にわたって)維持される。これによって、例えば、パルス列の個々の(レーザ)パルスを選択することが可能になる。さらに、電気スイッチにおける電力損失を可能な限り低いままにすることができる。
図1は、シードレーザビーム源としてのシードレーザ2と、その出力レーザビームが、例えば、位相制御システムによって重ね合わされる2つの再生増幅ユニット3A、3Bとを有する例示的なレーザシステム1を概略的に示す。増幅ユニット3A、3Bのうちの少なくとも一方は、例えば、それぞれの増幅ユニット3A、3B内に存在するレーザ放射線(例えば、循環超短レーザパルス)の偏光に影響を与える電気光学効果によって利得(時間)ウィンドウを提供するためにコンタクト電極7の間に配置されている結晶5Aを有するポッケルスセル5を備える。レーザシステム1はまた、制御ユニット9、および、任意選択的に、増幅ユニット3Aの上流のパルスピッカー11をも含む。
シードレーザ2の一次レーザビーム13が、ビームスプリッタ15Aによって、図1において第1のシードレーザビーム13Aおよび第2のシードレーザビーム13Bとして示されている、2つの(コヒーレントな)部分ビームに分割される。各部分ビームは、それぞれ第1のシードレーザビーム部分13Aに基づく第1の増幅レーザビーム17Aおよび第2のシードレーザビーム部分13Bに基づく第2の増幅レーザビーム17Bを生成するために、関連付けられる増幅ユニット3A、3Bに供給される。例えば、別のビームスプリッタ15Bを用いて、増幅レーザビーム17A、17Bは、同一線上に重ね合わされて、合成レーザビーム19を形成する。
図1はまた、レーザビームの偏光状態(図1において矢印/点を用いて概略的に示されている偏光状態)を変化させるための偏向ミラー21およびラムダ半波長板23をも示す。効率的な増幅のために、ポッケルスセル5は、利得ウィンドウにおいて所望の偏光状態を設定するために使用される。利得ウィンドウ中のポッケルスセル5を通過するレーザ放射線の偏光に対する影響は、時間に対して可能な限り変更されず、一定であるべきであり、それによって、利得ウィンドウの始まりおよび終わりは、時間的に急峻なエッジによって実施されるべきである。
図2は、数ナノ秒の立ち上がり時間で高い電圧レベルを提供することができる例示的なダブルプッシュプル回路25を示す。ダブルプッシュプル回路25は、既知の高速光電圧回路の一例である(対応する記述を含む操作説明書「Manual Splitter Box Model BME_SP05」(Revision 16.5.2006)の図1も参照されたい)。高電圧入力27に存在する高電圧は、スイッチA、Bを介して選択的に電位点P1、P2に伝達され、それによって、これらの電位点P1、P2に接続されているポッケルスセル5のコンタクト電極7に所望の高電圧が存在し、ポッケルスセル5の結晶5A内に対応する電場が生成される。図2において、HVは、一般的に、高電圧入力27に印加される高電圧を表す。制御ユニット9は、スイッチA、Bに割り当てられている4つの制御入力29(On A、Off A、On B、Off B)を介してスイッチング動作をトリガする。
例示的に示されているダブルプッシュプル回路25は、可能な限り柔軟なポケットセルの制御のために設計されており、自由にプログラム可能なトリガ生成器を用いて個々の制御入力29(On A、Off A、On B、Off B)を制御することができるBergmannのダブルプッシュプル原理によるHVスイッチを表す。通常動作中、「On A」および「Off B」または「Off A」および「On B」が同時にスイッチングされ、それによって、電圧が+2HVと-2HVとの間でスイッチングされる。これらの電圧は、例えば、図3Aおよび図3Bに関連して以下に説明されている構成において±λ/8の遅延を引き起こし得る。
(高)電圧パルスを用いたポッケルスセル、特にパルスピッカーの結晶の励起のための代替的な回路および駆動パターンは、例えば、On A-On B-Off B-Off Aのような、重複するスイッチング動作を含む。後者のスイッチングパターンは、非常に短いスイッチングウィンドウに特に適している。しかしながら、これは、(同一の結晶特性を仮定して)同じ複屈折について2倍の高さであるべきである高電圧HVを必要とし得る。
本明細書において開示されている概念による励起回路の動作は、制御ユニット9によって実施され、制御ユニット9は、本明細書において開示されているスイッチング概念を実装し、結晶5Aにおいて使用および補償(電圧)パルスの所望のシーケンスを提供するために様々なスイッチ(例えば、図2の高電圧スイッチA、Bを参照されたい)を作動および停止させるように適合されている。図2によるダブルプッシュプル回路25の実施形態において、キロボルト範囲内でいくつかの電圧レベルを適用することができる。
しかしながら、始めに説明したように、光学特性は、電気光学効果によってだけでなく、結晶内の様々な圧力振動に関連する圧電効果によって(不利な)影響を受け得る。圧電効果によって、機械的振動が電圧を誘起する可能性があり、ひいてはこの電圧が電気光学効果をもたらす。本明細書において開示されている補償パルスの使用の概念は、ポッケルスセルによって提供される偏光ウィンドウ(例えば、図1の場合、増幅中にポッケルスセル5によって提供される利得ウィンドウ)の光学的品質を改善することを目標とする。この目的のために、補償パルスは、使用パルスによって励起されるポッケルスセルの結晶内の機械的振動に反作用するように、偏光ウィンドウを決定する、使用パルスのシーケンス内に時間的に配置される。
図3Aおよび図3Bは、1つまたは2つのポッケルスセル5がレーザビーム33のビーム経路内、例えば、ミラー35を介する二重通路内に波長板31とともに配置されている例示的な構成を示す。図3Aおよび図3Bにおいて、これらの構成は、ビームスプリッタ37と、偏光ウィンドウの特性、特にその時間的品質をチェックするためのフォトダイオード39とをさらに有する。
図3Aによる構成は、光スイッチがポッケルスセルを用いてどのように実現され得るかを示す。それによって、結晶の励起は、波長板31(例えば、λ/8波長板)および結晶5A(例えば、+λ/8波長板または-λ/8波長板としてスイッチング可能)を通る二重通路の後において、偏光ウィンドウ(例えば、励起されたポッケルスセル)の期間中には偏光の変化が為されず、一方、偏光ウィンドウの外側(例えば、励起されないポッケルスセル)ではλ/2波長板が存在するように設計され、戻りレーザビーム33がビームスプリッタ37において反射される。図3Aによる構成は、図6A~図6Cに関連して以下に記載されている調査のための試験構成として使用された。
図3Aの構造と比較して、図3Bによる構成は、追加のポッケルスセル(例えば、同じく+λ/8波長板または-λ/8波長板としてスイッチング可能である)を有し、図4A~図4Cおよび図5A~図5Cに関連して以下に記載されている調査のための試験構成として使用された。この構成は、波長板31および2つの結晶5Aを通る二重通路の後において、偏光ウィンドウの期間中には、+3/4λ波長板が存在し、偏光ウィンドウの外側では、-λ/4波長板が存在するようなものであり、それによって、理想的な(特に、圧電効果、およびその結果としての機械的振動の影響がない)スイッチング挙動では、フォトダイオード39の信号内でスイッチングプロセスが見えないはずである。
ポッケルスセルにおいて使用される光学結晶(例えば、BBO、KDP、KTP結晶)は、多かれ少なかれ顕著な圧電特性を有する。結果として、結晶への電圧の印加は、極性に応じて結晶の膨張または収縮をもたらす。電圧変化は非常に迅速であり(例えば、数ナノ秒以内)、結晶内で伝播する音響衝撃波が生成される。通常は立方体形状である結晶自体が、音響共振器となる。結晶の寸法、幾何学的形状、および音速に応じて、この音響共振器は、複数の共振周波数を有し得る。
ここで、ポッケルスセルがこれらの周波数(またはその低調波)のうちの1つにまたはその付近にスイッチングされた場合、個々の衝撃波の強め合う干渉が生じ、これは、1つまたは複数の共振の上昇をもたらし得る。結晶の内部電場(圧電効果に起因する音響振動からもたらされる)が印加電圧による外部電場に重ね合わされると、結晶の複屈折が、共振周波数において変調される。
したがって、規定の偏光状態の間のクリーンなスイッチングがより困難になる。その上、結晶は、強い共振によって機械的に損傷/破壊される可能性がある。
しかしながら、以下に示すように、共振の上昇は、結晶内の衝撃波の強め合う干渉を防止することによって防止することができる。本明細書において開示されている実装形態について、ポッケルスセルがスイッチオンおよびオフされるときに、180°だけシフトされた開始位相を有する衝撃波が生成され、結晶内の減衰が無視され得ることが仮定される。
ここで、電圧のスイッチオンとオフとの間の時間が、継続期間(または継続期間の整数倍)に正確に(またはほぼ正確に)対応する場合、2つの衝撃波は弱め合うように干渉し、共振の上昇が防止される。この概念が拡張される場合、総じて弱め合う音響干渉が引き起こされることを条件として、原則的に、1つまたは複数のオン/オフスイッチング事象の任意の組み合わせが有効である。
以下に記載されている研究において、Bergmannのダブルプッシュプル原理(図2参照)によるHVスイッチが、図3Bによる構成内のポッケルスセルを制御するために使用された。自由にプログラム可能なトリガ生成器によって、電圧が+2HVと-2HVとの間でスイッチングされるように、制御入力29「On A」および「Off B」または「Off A」および「On B」が通常動作中に同時にスイッチングされ、それによって、±λ/8の遅延が2つのポッケルスセルにおいて引き起こされた。以下に
図4A~図4Cは、図3B内のフォトダイオード39を用いて測定された、調査されたポッケルスセルの3つの励起共振を例示的に示す。時間t(t’)にわたって印加される、fR1=147kHz、fR2=345kHzおよびfR3=600kHz(振幅は[任意単位]のa、図4Bの時間単位は図4Aおよび図4Cの2倍の大きさ)の周波数を有する第1の共振および第2の共振および第3の共振のフォトダイオード信号R1、R2、R3が見られる。
さらに、図4A~図4Cは、制御入力29の作動を示す。各々が一対のスイッチオンおよびスイッチオフパルスの間にある、高電圧パルス(使用パルス)のシーケンスの形成のための電圧スイッチングプロセスをトリガする、スイッチオンパルス41(On A/Off B)およびスイッチオフパルス43(Off A/On B)が認められる。したがって、スイッチオンパルス41およびスイッチオフパルス43はそれぞれ、使用電圧スイッチング動作を割り当てられる。(本明細書においては、一般的に、割り当てられる各スイッチングパルスに対する電圧スイッチング動作が存在する。)図3Aにおいて、例えば3.2kVの高電圧パルスが、共振を上昇させるために使用された。λ/8波長板が、ビームスプリッタにおいてポッケルスセルにおける電圧なしに50%が反射されるように回転された。反射と電圧との間の依存関係は正弦関数であり、それによって、感度は転回点において最大である。共振の励起は、スイッチオフパルスが共振期間の半分だけ遅延されるときに最強であることが確認される。フォトダイオード信号R1、R2、R3において、スイッチングプロセス中に、所望の、理想的には不可視の位相ジャンプが有限速度においてのみ生じるという事実によって生成される信号ピークをさらに見ることができる。
R1=147kHzにおける共振に関して、図5A~図5Cは、2つの例示的に統合された補償パルスシーケンス(特に図5Bおよび図5Cを参照されたい)による抑制の例を示す。
図5Aは実質的に図4Aに対応し、それによって、フォトダイオード信号R1において、使用パルス電圧スイッチング動作のシーケンスが矢印41Aおよび43Aを用いて示されており、使用パルス持続時間Tが矢印45を用いて示されている。使用パルス持続時間Tは、共振周波数fR1の期間TR1の半分に対応する。共振周波数fR1=147kHzを有するフォトダイオード信号R1の強度変動が認められる。
図5Bにおいて、共振効果を抑制するために補償パルスシーケンスが追加されており、これは、補償(電圧)パルスから構成され、そのうちの1つが、2つの使用パルスの間にそれぞれ与えられている。対応して、割り当てられた補償電圧スイッチング動作をトリガするスイッチングパルスのさらなる対47、49が認められる。その結果が、変動が実質的に低減したフォトダイオード信号R1’である。
フォトダイオード信号R1’においてスイッチングパルスの対47、49のうちの1つが、矢印47Aおよび49Aによって強調されている。スイッチングパルス47、49は、使用パルスのうちの1つに後続する、関連付けられる補償パルスを引き起こす。補償パルス持続時間Tが、使用パルス持続時間Tの隣に示されている。
使用スイッチング動作を補償するためには、一般的に、逆の電圧スイッチング動作が使用される。すなわち、印加電圧差の増大または低減の間の逆位相励起に起因して、補償パルスの(オン)スイッチングパルス47(On A/Off B)が、基本的に、スイッチオフパルス43の直後(例えば、200nsの遅延を伴う)に後続し、補償パルスの(オフ)スイッチングパルス49が、使用パルス持続時間Tに対応する遅延(ここでは200ns)(またはスイッチオンパルス41後の共振期間TR1=2T)を伴ってスイッチオフパルス43の後に後続する。したがって、スイッチオフパルス43の衝撃波は、半直接的に補償され、スイッチオンパルス41の衝撃波は、共振期間の整数倍の遅延を伴って補償される。スイッチングパルス47、49の選択される時間は、機械的振動の弱め合う干渉をもたらし、これは、反復スイッチング動作に割り当てられる(使用パルスのシーケンスおよび補償パルスのシーケンス)。147kHzにおける共振が、このように有効に抑制され得ることが分かる。
図5Cにおいて、ポッケルスセルの2つの電極を別個にスイッチングすることができる、ダブルプッシュプル回路25のような、複数の電圧レベルを可能にするHVスイッチによって実装することができる別の励起概念を見ることができる。
特に、図5Cにおいて示されるように、共振効果を抑制するために補償パルスシーケンスが追加されており、補償パルスシーケンスは、補償(電圧)パルスを有し、そのうちの2つが、2つの使用パルスの間にそれぞれ与えられている。したがって、スイッチングパルスのさらなる対51、53、55、57が認められる。その結果が、同じく変動が低減したフォトダイオード信号R1’’である。
図5Cにおいて、フォトダイオード信号「R1」内の矢印51Aおよび53Aによって示され、使用パルスに後続する第1の補償パルスを引き起こす第1の対の(オンおよびオフ)スイッチングパルス51、53が見られる。第1の補償パルスの(オン)スイッチングパルス51も、実質的に、スイッチオフパルス43の直後(例えば、200nsの遅延を伴う)に後続し、第1の補償パルスの(オフ)スイッチングパルス53は、図5Bにおけるように、使用パルス持続時間Tに対応する遅延(またはスイッチオンパルス41後の共振期間TR1)を伴ってスイッチオフパルス43の後に生じる。しかしながら、図2を参照すると、電極Aのみが、使用パルスの利得ウィンドウの後に最初にスイッチングされ、すなわち、実効的に、+2HVと0HVとの間でスイッチングされる。したがって、矢印51Aおよび53Aは、矢印41Aおよび43Aの半分の長さである。低減した電圧は、第1の補償パルスの音響衝撃波を低減し、例えば、音響衝撃波の強度は半分のみであり得る。したがって、再生増幅ユニット内の共振器は、そのような低減した補償パルスのみが後続する場合に部分的に閉じられるのみである。
第1の補償パルスの音響衝撃波は使用パルスのものよりも小さいため、図5Cによる実装形態は、より有効な排除のための、フォトダイオード信号R1’’内の矢印55Aおよび57Aによって示される(オンおよびオフ)スイッチングパルスのさらなる対55、57を示す。スイッチングパルス55、57は、第2の補償パルスを引き起こす。スイッチングパルスの対55、57は本質的に、スイッチングパルスの対51、53と比較して、1つの共振期間TR1だけ遅延される。しかしながら、(オン)スイッチングパルス55は、スイッチオフパルス43に対して正確に1つの共振期間TR1だけ遅延することができる。一般的に、パルス対51/53と比較してパルス対55/57がn*TR1だけ遅延されることが重要である(nは整数)。すべての他の時間はそれに従って生じる。結果として、すべての振動刺激インパルスは、合算されて互いに相殺し合うことができる。例えば、電極Bは、第2の補償パルスが、ダブルプッシュプル回路25に均一に負荷を与えるために、使用することができる。
要約すると、完全な振幅のスイッチングパルスから成る1対(使用パルスのための)と、振幅が半分のスイッチングパルスから成る2対(2つの補償パルスのための)とが重ね合わされる。例えば、補償電圧スイッチング動作のうちの1つの電圧変化は、補償パルスの数に応じて、使用パルス(N)の電圧スイッチング動作の電圧変化の分数のオーダとなる。
図5Cによる励起の実施形態には、再生増幅器内で使用されるとき、第2の利得ウィンドウが生成されないというさらなる利点がある。
これは、スイッチオンおよびスイッチオフパルス41、43ならびにスイッチオンおよびスイッチオフ47、49による図5Bによる励起の形態で利用可能である2つの偏光ウィンドウとは対照的である。後者の事例において、補償パルス中に共振器内にあるレーザパルスが増幅され得る。これを防止するために、図1に示すパルスピッカー11は、使用パルスの偏光ウィンドウ内のパルスを、より単純な回路によって実装することができる、図5Bによる実施形態における増幅ユニット3Aに選択的にのみ結合することができる。
一般的に、再生増幅ユニットにおける適用のための補償は、共振器が部分的にのみ閉じているが、例えば、ディスク増幅器内の損失が依然として利得ウィンドウの外側の増幅を防止するのに十分に高いようなものであるべきであることが分かる。
図5A~図5Cを見ると、フォトダイオード信号R1’およびR1’’は、フォトダイオード信号R1と比較してはるかにより均一であり、それゆえ、それらは理想的な「平坦な」曲線により近いことが分かる。これは、圧電的に生成される衝撃波の悪影響が、補償パルスシーケンスを介した励起によって低減されたことを意味する。したがって、レーザ放射線に対するポッケルスセルのより均一な効果が、偏光ウィンドウの間に提供される。
図6A~図6Cは、3つの増幅時間(1μs、4μs、6μs)の一例として、6.8μsの共振期間/147kHzの共振周波数にある共振特徴を有するポッケルスセルを有する図3Aの構成内のcwレーザビームの出力結合強度を示す。強度はフォトダイオード39を用いて測定された。3つの利得時間の各々について、ポッケルスセルの共振励起は補償されず((フォトダイオード信号)曲線0、0、0によって表される)、1つの補償パルスを用いて補償され(曲線1、1、1によって表される)、2つの補償パルスを用いて補償された(曲線2、2、2によって表される)。補償パルス(曲線1、1、1)を用いた補償のためのそれぞれの(オンおよびオフ)スイッチングパルス47、49が、励起概念を示すために図面の下側部分に示されている。
図6Aにおいて、曲線0は、1μsのパルス持続時間Tおよび使用期間TPNを有する使用パルスNのシーケンスを示す。使用パルスNは、使用ウィンドウに対して半分の振幅を有する補償ウィンドウによって認識可能である。加えて、信号特性に重ね合わされているフォトダイオード信号の変動が見てとれ、これは、6.8μsの共振期間を有する共振の励起に由来し得る。すなわち、使用期間TP,Nは、結晶5A内の音響振動の共振励起が使用パルスによって生じるようなものである。
同様に、図6Bおよび図6Cにおいて、曲線0および0は、それぞれ4μsおよび6μsのパルス持続時間Tを有する使用パルスNのシーケンスを示す。
図6Aに戻って参照すると、使用パルスNのシーケンスはまた、曲線1にも見ることができ、それによって、第2の(より長い)偏光ウィンドウは、その直後に開き、これは、同じ電圧がスイッチングされるため、使用ウィンドウと同じ光学特性を有する。偏光ウィンドウは(オンおよびオフ)スイッチングパルス47、49に戻り、これは、スイッチオフパルス43の直後の使用偏光ウィンドウ中と同じ偏光状態を有する偏光ウィンドウ(ここでは、補償ウィンドウKとしても参照される)を開き、スイッチオンパルス41から共振期間TR1の後にこれを再び閉じる(したがって、補償パルスKの持続時間Tは約5.8μsである)。
同様に、図6Bおよび図6Cにおいて、曲線1および1は、それぞれ4μsおよび6μsのパルス持続時間Tを有する使用パルスNのシーケンスを示し、各事例において、各使用パルスに対する補償パルスを有する補償パルスのシーケンスは、補償パルスK、特にそれらのスイッチング動作が、使用パルスNによって励起されるポッケルスセルの結晶内の機械的振動に反作用するように構成される。延長した使用パルス持続時間に起因して、補償パルスKの持続時間Tは、それぞれ約2.8μsおよび約0.8μsに低減される。
曲線1、1、1内の使用パルスの偏光ウィンドウ全体の間の均一な信号降下は、共振補償の重ね合わせ原理が、試験された増幅時間の各々において機能していることを示す。ポッケルスセルの共振周波数が分かれば、各利得時間および繰り返し率について追加のスイッチングパルスの遅延を自動的に計算することは容易である。
しかしながら、特に共振期間が使用期間に匹敵するかまたはそれよりも相当に長い場合に、補償ウィンドウの混乱をもたらす可能性のある影響が、光学的効果を有し得ることも分かる。この影響は、振幅が低減したいくつかの補償パルスによって低減することができる。
2つの補償パルスK1、K2による手順が、図6Aの曲線2を使用して説明される。ここでも、使用パルスNのシーケンスおよび直に後続する補償ウィンドウ(補償パルスK1)が見られる。この第1の補償ウィンドウ/補償パルスK1の持続時間は、曲線1の補償ウィンドウの持続時間に匹敵する(これは、曲線1および曲線1の第1の補償ウィンドウの持続時間にも同様に当てはまる)。ここでも、第1の補償パルスK1中の電圧変化の低減が見られる。
共振期間Tに対応する遅延をもって、第2の補償ウィンドウ(第2の補償パルスK2)は、同じく電圧変化の低減を伴って、後続する。その時間に関連して、とりわけ、特に図5Cに関連する先行する記述が参照される。第2の偏光ウィンドウはスイッチングパルス55、57に戻る。電圧変化の低減に起因して、偏光状態は、使用パルス中に存在する偏光状態とは異なる補償ウィンドウをもたらす。
同様に、図6Bおよび図6Cにおいて、曲線2および2は、それぞれ4μsおよび6μsのパルス持続時間Tを有する使用パルスNのシーケンスを示し、各使用パルスに対する2つの補償パルスK1、K2を有する補償パルスのシーケンスは、補償パルスK1、K2、特にそれらのスイッチング動作が、使用パルスNによって励起されるポッケルスセルの結晶内の機械的振動に反作用するように構成される。延長した使用パルス持続時間に起因して、補償パルスK1、K2の持続時間は、ここでもそれぞれ約2.8μsおよび約0.8μsに低減される。
同じく2つの補償パルスK1、K2を有する補償パルスのシーケンスについて、曲線2、2、2の偏光ウィンドウ全体の間の均一な信号低減から、重ね合わせ原理が、試験された利得時間の各々について機能していることが分かる。
図7Aおよび図7Bは、先行する例示的な実施形態による組み合わせ使用電圧パルスおよび補償電圧パルスの例示的な概略シーケンスを示し、それによって、シーケンスは、例えば、偏光調整のためのポッケルスセルの結晶の励起のために使用され得る。したがって、時間(t)-電圧(U)図にプロットされている使用電圧パルスNのシーケンスが見られる。機械的有効性に関して、使用電圧パルスおよび補償パルスの電圧曲線のスイッチングエッジによって、制御が決定される。本明細書において開示されているように、これらは、それらの時間的形状および使用電圧パルスに対するそれらの時間的位置が、それらが使用電圧パルスによって引き起こされる結晶内の音響事象と弱め合うように干渉する結晶内の音響事象を誘起するようなものであるように適合される。時間的形状は、特に、スイッチングエッジの立ち上がり時間または立ち下がり時間によって決定することができる。
図7Aはまた、使用電圧パルスのうちの1つに直に後続する補償パルスKを示し、それによって、補償パルスKは共振に反作用する。対照的に、図7Bは、例えば、同じ共振に反作用するように時間遅延を伴って印加される第2の補償パルスK2が後続する、使用電圧パルスのうちの1つに直に後続する電圧が低減した補償パルスK1を示す。
ポッケルスセルの共振周波数が分かれば、各利得時間および繰り返し率について追加のスイッチングパルスの遅延が容易に自動的に計算され得ることに留意されたい。
他の実施形態において、補償パルスの時間的設定は、動作中に変更され得る。例えば、連続する利得ウィンドウのグループにおいて、スイッチングパルスの追加の対が、各個々の利得ウィンドウについて時間的に、種々の共振が対抗されるように配置される。結晶自体において共振が十分に減衰または回避されることによって、いくつかの共振を同時に減衰させることができる。減衰されることになる共振はこのとき、例えば、共振特性の測定に基づいて選択することができる。加えて、機械的振動をランダムに減衰することによって広帯域減衰を実装するために、適切なアルゴリズムを使用して、動作中に標的共振を擬似ランダムに選択することができる。
そのような種々のパルス戦略が、図7Cに概略的に示されている。したがって、図示されている第1の使用パルスNの後、電圧が低減されており、1つまたは複数の共振周波数に反作用する3つの補償パルスK’、K’’、K’’’が見られる。図示されている第2の使用パルスNの後、より長い補償パルスK’’’’のみがスイッチングされ、図示されている第3の使用パルスNの後、図7Aに示すものと同様の補償パルスKがスイッチングされる。複数の設計可能性に起因して、ポッケルスセルスイッチングによって引き起こされる偏光状態について、1つの、複数の、或いはまた、広帯域の共振効果抑制を実装することができることが分かる。
一般的に、スイッチング動作、特に、使用パルスの第1のスイッチング動作および第2のスイッチング動作、ならびに任意選択的にまた、補償スイッチング動作は、ポッケルスセルの結晶内の電気分極における変化を引き起こすように設定される。さらに、本明細書において言及されている電圧スイッチング動作は、ポッケルスセルに印加される電圧の極性を逆にする、例えば、+HVから-HVにする動作である。本明細書において開示されている概念は、特に、圧電効果を介したポッケルスセルの結晶内の電気分極の変化が、結晶のサイズの変化をもたらし、したがって、結晶内の音響振動および共振をもたらす場合に関連する。このとき、補償パルスを提供することによって、結晶内の音響振動および共振の形成が低減される。
実装形態および物理的条件に応じて、本明細書における補償は、部分的補償と完全な補償の両方として理解され得る。
対抗する振動を励起する、補償パルスについて言及されているns範囲内の高速スイッチング動作に加えて、補償パルスはまた、より低速のスイッチング動作、例えば、第2の電圧値へのより低速の降下を有することができ、その電圧値から、その後、再び高速スイッチングが行われる。後者は、図2と比較してより複雑な回路概念によって実装することができる。
本明細書および/または特許請求の範囲に開示されているすべての特徴は、元の開示の目的のために、ならびに、実施形態および/または特許請求の範囲内の特徴の組成とは無関係に特許請求される発明を制限する目的のために、別個にかつ互いから独立して開示されるように意図されていることは明示的に述べておく。すべての値範囲またはエンティティのグループの指示は、特に値範囲の制限として、元の開示の目的のために、ならびに、特許請求される発明を制限する目的のために、すべての可能な中間値または中間エンティティを開示することは明示的に述べておく。
1 レーザシステム
2 シードレーザ
3A、3B 増幅ユニット
5 ポッケルスセル
5A 結晶
7 コンタクト電極
9 制御ユニット
11 パルスピッカー
13 レーザビーム
13A、13B シードレーザビーム
15A、15B ビームスプリッタ
17A、17B 増幅レーザビーム
19 合計レーザビーム
21 偏向ミラー
23 ラムダ半波長板
25 ダブルプッシュプル回路
27 高電圧入力
29 制御入力
31 波長板
33 レーザビーム
35 ミラー
37 ビームスプリッタ
39 フォトダイオード
41 スイッチオンパルス
41A 矢印
43 スイッチオフパルス
43A 矢印
45 矢印
47、49、51、53、55、57 スイッチングパルス
47A、49A、51A、53A、55A、57A 矢印
、0、0、1、1、1、2、2、2 (フォトダイオード信号)曲線
a 振幅
A、B スイッチ
R1、fR2、fR3 共振周波数
K1、K2 補償パルス
P1、P2 電位点
R1、R2、R3、R1’、R1’’ フォトダイオード信号
t、t’ 時間
使用パルス持続時間
補償パルス持続時間
P,N 使用継続期間
R1 共振期間

Claims (17)

  1. ポッケルスセル(5)の結晶(5A)を通過するレーザ放射線(33)の偏光設定のために高電圧パルスを用いて前記結晶(5A)を励起するための方法であって、
    各々が使用継続期間(TP,N)および使用パルス幅(T)を有し、前記レーザ放射線(33)の前記偏光設定のために前記結晶内の電気分極を介して前記結晶(5A)の複屈折を誘起するように構成されている、使用電圧パルス(N)のシーケンスを前記結晶(5A)に印加するステップと、
    各々が電圧プロファイルを有する補償パルス(K、K1、K2)のシーケンスを前記結晶(5A)に印加するステップであって、前記補償パルス(K、K1、K2)のシーケンスは、前記補償パルス(K、K1、K2)の前記電圧プロファイルが、前記使用電圧パルス(N)による前記ポッケルスセル(5)の前記結晶(5A)内の機械的振動の励起に反作用するように、前記使用電圧パルス(N)のシーケンスと時間的に重ね合わされる、補償パルスのシーケンスを結晶に印加するステップと、を含み、
    前記補償パルス(K、K1、K2)の電圧スイッチング動作は、数ナノ秒の範囲内の、急激な電圧変化を含む、
    方法。
  2. 前記補償パルス(K、K1、K2)の前記電圧プロファイルのスイッチングエッジは、前記電圧プロファイルの時間的形状、および前記使用電圧パルス(N)に対する時間的位置が、前記使用電圧パルス(N)によって引き起こされる前記結晶(5A)内の音響事象を弱めるように干渉する音響事象を誘起するように、機械的な作用部分として構成され、前記時間的形状は、前記スイッチングエッジの立ち上がり時間または立ち下がり時間によって決定される、請求項1に記載の方法。
  3. 前記使用電圧パルス(N)は、各々、使用電圧を設定するための第1の電圧スイッチング動作(41)と、前記使用電圧の存在を終端させるための第2の電圧スイッチング動作(43)とを含み、前記スイッチング動作(41、43)の少なくとも一方は、前記ポッケルスセルの前記結晶の前記機械的振動を励起するように適合され、
    前記補償パルス(K)の前記電圧プロファイルは、前記使用電圧パルス(N)によって励起可能な前記機械的振動に反作用する振動を励起するための少なくとも1つの補償スイッチング動作(47、49、51、53、55、57)を含み、
    前記機械的振動に反作用する前記振動は、前記使用電圧パルス(N)によって励起可能な前記機械的振動に対して位相シフトされ、位相シフト量は、任意選択的に、減衰が最適化されるように選択される、請求項1または請求項2に記載の方法。
  4. 前記ポッケルスセル(5)の前記結晶(5A)は、電圧を印加するための電極(7)の間の寸法、結晶タイプ、結晶形状、結晶カット、隣接する電場ベクトル、および/または、元の励起されていない空間軸における散乱、によって決定される、少なくとも1つの音響共振周波数(fR1、fR2、fR3)を有し、
    前記使用継続期間(TP,N)に基づいて、前記使用電圧パルス(N)のシーケンスは、原則的に、前記少なくとも1つの音響共振周波数(fR1、fR2、fR3)による前記結晶(5A)の共振を励起するのに適しており、前記補償パルス(K)のシーケンスは、前記結晶(5A)内の共振の励起を低減するように適合されている、請求項1~3のいずれか一項に記載の方法。
  5. 前記使用電圧パルス(N)は、各々、使用電圧を設定するための第1の電圧スイッチング動作(41)と、前記使用電圧の存在を終端させるための第2の電圧スイッチング動作(43)とを含み、
    前記補償パルス(K、K1、K2)の前記電圧プロファイルは各々、第1の補償電圧スイッチング動作(47、51、55)および第2の補償電圧スイッチング動作(49、53、57)を有し、
    前記ポッケルスセル(5)の前記結晶(5A)は、電圧を印加するための電極(7)の間の寸法、結晶タイプ、結晶形状、結晶カット、隣接する電場ベクトル、および/または、元の励起されていない空間軸における散乱、によって決定される、音響共振周波数(fR1、fR2、fR3)を有し、
    前記第1の補償電圧スイッチング動作(47、51、55)は、補償されるべき前記第2の電圧スイッチング動作(43)の後に、同時に、または、前記ポッケルスセル(5)の前記結晶(5A)の前記音響共振周波数(fR1、fR2、fR3)の逆数で規定される期間(TR1)または前記期間(TR1)の倍数の時間遅延をもって行われ、かつ/または
    前記第2の補償電圧スイッチング動作(49、53、57)は、補償されるべき前記電圧スイッチング動作(41)の後に、かつ、関連付けられる前記第1の補償電圧スイッチング動作(47、51、55)に後続して、前記ポッケルスセル(5)の前記結晶(5A)の共振周波数(fR1、fR2、fR3)の前記期間(TR1)または前記期間(TR1)の倍数の時間遅延をもって行われる、請求項1~4のいずれか一項に記載の方法。
  6. 前記使用電圧パルス(N)は、各々、使用電圧を設定するための第1の電圧スイッチング動作(41)と、前記使用電圧の存在を終端させるための第2の電圧スイッチング動作(43)とを含み、
    前記使用電圧パルス(N)のうちの1つと、前記使用電圧パルス(N)に直に後続する前記補償パルス(K、K1)との間の時間遅延は、前記使用電圧パルス(N)の終わりにおける前記第2の電圧スイッチング動作(43)と、前記補償パルス(K、K1)の始まりにおける前記補償パルス(K)の補償スイッチング動作とが同じ時刻に発生するように、ゼロであり、その結果、互いに振動励起が補償され、
    補償されるべき前記第1及び第2の電圧スイッチング動作(41、43)と逆の電圧勾配を有する電圧スイッチング動作が前記補償に使用される、請求項1~5のいずれか一項に記載の方法。
  7. 前記ポッケルスセル(5)の前記結晶(5A)は、電圧を印加するための電極(7)の間の寸法、結晶タイプ、結晶形状、結晶カット、隣接する電場ベクトル、および/または、元の励起されていない空間軸における散乱、によって決定される、音響共振周波数(fR1、fR2、fR3)及び共振期間(TR1)を有し、
    前記補償パルス(K、K1、K2)のシーケンスは、使用電圧パルス(N)に対する複数の補償パルス(K1、K2)を含み、後続する前記補償パルス(K2)のうちの少なくとも1つの開始は、前記複数の補償パルス(K1、K2)のうちの第1の補償パルスの開始に対して、前記共振期間(TR1)の整数倍だけ遅延される、請求項1~6のいずれか一項に記載の方法。
  8. 前記使用電圧パルス(N)は、各々、使用電圧を設定するための第1の電圧スイッチング動作(41)と、前記使用電圧の存在を終端させるための第2の電圧スイッチング動作(43)とを含み、
    前記ポッケルスセル(5)の前記結晶(5A)は、電圧を印加するための電極(7)の間の寸法、結晶タイプ、結晶形状、結晶カット、隣接する電場ベクトル、および/または、元の励起されていない空間軸における散乱、によって決定される、音響共振周波数(fR1、fR2、fR3)及び共振期間(TR1)を有し、
    前記補償パルス(K、K1)のうちの1つの前記電圧プロファイルは、前記第2の電圧スイッチング動作(43)の後の、前記結晶(5A)の前記共振期間(TR1)の最大で12.5%、かつ、前記結晶(5A)の前記共振期間(TR1)の少なくとも1%の時間オフセットをもって行われる補償電圧スイッチング動作(47、51)を有し、かつ/または
    前記補償パルス(K)のうちの1つの前記電圧プロファイルは、前記共振期間(TR1)の整数倍に関して、前記結晶(5A)の前記共振期間(TR1)の最大で12.5%、かつ、前記結晶(5A)の前記共振期間(TR1)の最小で1%の時間オフセットをもって行われる補償電圧スイッチング動作を有する、請求項1~7のいずれか一項に記載の方法。
  9. 前記使用電圧パルス(N)は、各々、使用電圧を設定するための第1の電圧スイッチング動作(41)と、前記使用電圧の存在を終端させるための第2の電圧スイッチング動作(43)とを含み、
    前記ポッケルスセル(5)の前記結晶(5A)は、電圧を印加するための電極(7)の間の寸法、結晶タイプ、結晶形状、結晶カット、隣接する電場ベクトル、および/または、元の励起されていない空間軸における散乱、によって決定される、音響共振周波数(fR1、fR2、fR3)及び共振期間(TR1)を有し、
    前記補償パルス(K、K1、K2)は、前記第2の電圧スイッチング動作に対して、前記共振期間の整数倍の遅延に対する前記使用継続期間の最大12.5%の時間オフセットの位置で開始し、前記第1の電圧スイッチング動作に対して、前記共振期間の整数倍の位置で終了する時間幅で規定される偏光ウィンドウを形成する、請求項1~8のいずれか一項に記載の方法。
  10. 前記使用電圧パルス(N)および前記補償パルス(K、K1、K2)の少なくとも1つの電圧スイッチング動作は、特に数百ボルト~数キロボルトの範囲内の、急激な電圧変化を含み、
    任意選択的に、前記補償パルス(K、K1、K2)の電圧スイッチング動作の電圧変化は、前記使用電圧パルス(N)の電圧スイッチング動作の電圧変化と同等であるか、または、前記電圧変化の分数である、請求項1~9のいずれか一項に記載の方法。
  11. 前記使用電圧パルス(N)は、各々、使用電圧を設定するための第1の電圧スイッチング動作(41)と、前記使用電圧の存在を終端させるための第2の電圧スイッチング動作(43)とを含み、
    補償パルス(K1、K2)の補償電圧スイッチング動作の電圧変化は、前記第1の電圧スイッチング動作(41)および/または前記第2の電圧スイッチング動作(43)の前記電圧変化と比較して低減される、請求項10に記載の方法。
  12. 前記第1の電圧スイッチング動作(41)および/または前記第2の電圧スイッチング動作(43)の電圧変化と比較した前記補償電圧スイッチング動作(51、53、55、57)の前記電圧変化の低減は、少なくとも、前記補償電圧スイッチング動作間の前記低減した電圧変化が、光ビーム経路内の放射線損失を引き起こす大きさである、請求項11に記載の方法。
  13. 前記ポッケルスセル(5)の前記結晶(5A)は、電圧を印加するための電極(7)の間の寸法、結晶タイプ、結晶形状、結晶カット、隣接する電場ベクトル、および/または、元の励起されていない空間軸における散乱、によって決定される、複数の音響共振周波数(fR1、fR2、fR3)を有し、
    前記使用電圧パルス(N)のシーケンスの過程において経時的に変化する複数の補償パルス(K、K1、K2)を提供することによって、前記複数の音響共振周波数が補償され、
    任意選択的に、補償パルスは、既知の共振周波数(fR1、fR2、fR3)のセットについてランダムに制御されて、前記補償パルスのシーケンスを形成し、または、完全にランダムに提供される補償パルスによって、共振の前記励起を防止する、請求項1~12のいずれか一項に記載の方法。
  14. レーザ放射線を、前記使用継続期間(TP,N)と同期して、前記ポッケルスセル(5)を通る光ビーム経路に結合するステップをさらに含む、請求項1~13のいずれか一項に記載の方法。
  15. 増幅媒体と、
    ポッケルスセル(5)、および、光スイッチを形成するための偏光ビームスプリッタ(37)を有する光スイッチユニットと、
    請求項1~14のいずれか一項に記載の方法に従って前記ポッケルスセル(5)を制御するための制御ユニット(9)と
    を備える、増幅ユニット。
  16. 前記光スイッチユニットは、前記ポッケルスセル(5)に電圧を供給するためのダブルプッシュプル回路ユニット(25)、および/または、前記使用電圧パルス(N)および前記補償パルス(K、K1、K2)を時間的に自由に設定するためのトリガユニットをさらに備える、請求項15に記載の増幅ユニット。
  17. 前記使用電圧パルス(N)のパルス幅で規定される時間ウィンドウ内で、レーザパルスを結合するためのパルスピッカー(11)をさらに備える、請求項15または請求項16に記載の増幅ユニット。
JP2019548526A 2016-11-24 2017-11-21 ポッケルスセルの結晶の励起 Active JP7117314B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102016122705.6A DE102016122705B3 (de) 2016-11-24 2016-11-24 Verfahren zur anregung eines kristalls einer pockels-zelle und verstärkungseinheit
DE102016122705.6 2016-11-24
PCT/EP2017/079958 WO2018095924A1 (de) 2016-11-24 2017-11-21 Anregen eines kristalls einer pockels-zelle

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019536117A JP2019536117A (ja) 2019-12-12
JP7117314B2 true JP7117314B2 (ja) 2022-08-12

Family

ID=60515364

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019548526A Active JP7117314B2 (ja) 2016-11-24 2017-11-21 ポッケルスセルの結晶の励起

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10931076B2 (ja)
EP (1) EP3545358A1 (ja)
JP (1) JP7117314B2 (ja)
KR (1) KR102381823B1 (ja)
CN (1) CN109716219B (ja)
DE (1) DE102016122705B3 (ja)
WO (1) WO2018095924A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6595702B2 (ja) * 2016-03-30 2019-10-23 富士フイルム株式会社 レーザ装置および光音響計測装置
US10855050B1 (en) * 2017-11-21 2020-12-01 Arete Associates Methods of laser pulse development and maintenance in a compact laser resonator
NL2024009A (en) * 2018-10-18 2020-05-07 Asml Netherlands Bv Control of optical modulator
KR102373232B1 (ko) * 2021-04-01 2022-03-14 광주과학기술원 다단 스테이지 광스위치를 이용하는 펄스 레이저 발생장치

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004317861A (ja) 2003-04-17 2004-11-11 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザ加工装置及びレーザ加工方法
US20080018977A1 (en) 2005-12-22 2008-01-24 Bme Messgeraete Entwicklung Kg Controlling pockels cells
CN201044024Y (zh) 2007-01-12 2008-04-02 中国科学院上海光学精密机械研究所 脉冲间隔可调的线偏振激光双脉冲的分束装置
WO2014057986A1 (ja) 2012-10-11 2014-04-17 浜松ホトニクス株式会社 パルス光発生装置
JP2015190817A (ja) 2014-03-28 2015-11-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 超音波センサ

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1191043B (de) 1962-06-09 1965-04-15 Ibm Deutschland Verfahren zur Lichtmodulation bei gleichzeitiger Vermeidung der Frequenzabhaengigkeit von elektro-optischen Elementen
US3694769A (en) * 1971-05-17 1972-09-26 Trw Inc Low-loss laser q-switch
US3830557A (en) * 1972-06-19 1974-08-20 Trw Inc Laser q-switching
US3818373A (en) * 1973-01-08 1974-06-18 Gen Electric Single pockels cell double pulsing scheme
US4896119A (en) * 1984-06-07 1990-01-23 The University Of Rochester CW pumper CW pumped variable repetition rate regenerative laser amplifier system
US6573982B1 (en) * 1991-09-18 2003-06-03 Raytheon Company Method and arrangement for compensating for frequency jitter in a laser radar system by utilizing double-sideband chirped modulator/demodulator system
DE10251888B4 (de) * 2002-11-07 2005-04-21 Bergmann Meßgeräte Entwicklung KG Treiber für Pockelzelle und Verwendung der Pockelzelle in Lasersystemen
US20060018349A1 (en) * 2004-07-14 2006-01-26 High Q Laser Production Gmbh Pulse train generator and method for generating a repeating sequence of laser pulses
WO2009103313A1 (en) * 2008-02-19 2009-08-27 Bergmann Messgeräte Entwicklung Kg Generation of burst of laser pulses
WO2011009467A1 (de) * 2009-06-30 2011-01-27 Bergmann Messgeräte Entwicklung Kg Ansteuerschaltung für pockelszelle
JP2015519757A (ja) * 2012-06-12 2015-07-09 フォトン エネルギー ゲーエムベーハー 増幅器および調整可能なパルスシーケンスを備えた短パルスレーザ
LT6021B (lt) 2012-08-16 2014-04-25 Integrated Optics, Uab Lazeris, veikiantis aktyvios modų sinchronizacijos ir rezonatoriaus iškrovos režimu
DE102013012966A1 (de) 2013-03-06 2014-09-11 Dausinger & Giesen Gmbh Pockelszelle mit gedämpftem elektrooptischen Kristall
PL2800212T3 (pl) 2013-05-03 2019-07-31 Fotona D.O.O. Sposób działania układu laserowego
US9664118B2 (en) 2013-10-24 2017-05-30 General Electric Company Method and system for controlling compressor forward leakage
DE102014201472B4 (de) * 2014-01-28 2017-10-12 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Reduktion mechanischer Schwingungen bei elektrooptischen Modulatoren und Anordnung mit einem elektrooptischen Modulator
EP3018774A1 (en) * 2014-11-04 2016-05-11 High Q Laser GmbH Method for generating a burst mode by means of switching a Pockels cell
EP3023832B1 (de) * 2014-11-24 2018-03-28 Bergmann Messgeräte Entwicklung KG Pockelszellen-Treiberschaltung mit Induktivitäten
LT3128673T (lt) * 2015-08-06 2018-09-10 Bergmann Messgeräte Entwicklung Kg Pokelso celės paleidimo grandinė su ominiais, indukciniais arba talpiniais elementais
US9570877B1 (en) * 2015-12-31 2017-02-14 Lumentum Operations Llc Gain control for arbitrary triggering of short pulse lasers

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004317861A (ja) 2003-04-17 2004-11-11 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザ加工装置及びレーザ加工方法
US20080018977A1 (en) 2005-12-22 2008-01-24 Bme Messgeraete Entwicklung Kg Controlling pockels cells
CN201044024Y (zh) 2007-01-12 2008-04-02 中国科学院上海光学精密机械研究所 脉冲间隔可调的线偏振激光双脉冲的分束装置
WO2014057986A1 (ja) 2012-10-11 2014-04-17 浜松ホトニクス株式会社 パルス光発生装置
JP2015190817A (ja) 2014-03-28 2015-11-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 超音波センサ

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
AMUNDSEN P C et al.,Low-loss LiNbO3 Q switches: Compensation of acoustically-induced refractive index variations,IEEE Journal of Quantum Electronics,米国,1987年12月,Vol.23, No.12,Page.2252-2257

Also Published As

Publication number Publication date
CN109716219A (zh) 2019-05-03
CN109716219B (zh) 2023-05-05
JP2019536117A (ja) 2019-12-12
KR102381823B1 (ko) 2022-03-31
DE102016122705B3 (de) 2018-03-29
US20190280455A1 (en) 2019-09-12
EP3545358A1 (de) 2019-10-02
WO2018095924A1 (de) 2018-05-31
KR20190084971A (ko) 2019-07-17
US10931076B2 (en) 2021-02-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7117314B2 (ja) ポッケルスセルの結晶の励起
KR102192301B1 (ko) 레이저 시스템을 동작하기 위한 방법
JP5536794B2 (ja) 自己参照型光周波数コムを発生する方法とデバイス
KR101805139B1 (ko) 조정가능한 반복률을 갖는 고 전력 펨토초 레이저
US5835512A (en) Wavelength selecting method in wavelength tunable laser and wavelength selectable laser oscillator in wavelength tunable laser
JP6238468B2 (ja) キャビティダンピングおよび強制モード同期を使用するレーザ装置
KR20190034203A (ko) 단광 펄스 또는 극단광 펄스를 생성하기 위한 시스템
JP2005500705A (ja) 新規qスイッチデバイスを用いたqスイッチパルスレーザーにおけるモードビートノイズの抑制
US9680285B2 (en) Laser light-source apparatus and laser pulse light generating method
US10720750B2 (en) Method for operating a laser device, resonator arrangement and use of a phase shifter
US20010021205A1 (en) Q-switched solid state laser with adjustable pulse length
CN101461105A (zh) 激光脉冲发生装置和方法以及激光加工装置和方法
US5521930A (en) Device for injection-seeding, frequency-shifting, and q-switching a laser source
TW201228161A (en) Mode locked fiber laser system
CN115377786B (zh) 一种提高激光脉冲时域对比度的系统及方法
US11316320B2 (en) Laser light-source apparatus and laser pulse light generating method
US10256599B2 (en) Laser light-source apparatus and laser pulse light generating method
KR102541235B1 (ko) 레이저 펄스를 발생시키기 위한 방법 및 장치
US10288981B2 (en) Laser light-source apparatus and laser pulse light generating method
JP4811111B2 (ja) 再生増幅器およびレーザ装置
JP2910399B2 (ja) Qスイッチ
WO2021010089A1 (ja) Qスイッチ共振器、及びパルス発生器
Molchanov et al. Acousto-Optic Dispersive Devices for High-Power Pulsed Laser Optics
Anikeev et al. Dynamic properties of an electrooptic DKDP switch in the microsecond range
Longhi et al. Amplitude noise suppression in high-repetition-rate pulse train generation from a frequency-modulated Er-Yb laser

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200930

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210825

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210907

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220419

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220707

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220726

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220801

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7117314

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150