JP7105490B2 - Plating solution adjuster - Google Patents

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JP7105490B2 JP2019015069A JP2019015069A JP7105490B2 JP 7105490 B2 JP7105490 B2 JP 7105490B2 JP 2019015069 A JP2019015069 A JP 2019015069A JP 2019015069 A JP2019015069 A JP 2019015069A JP 7105490 B2 JP7105490 B2 JP 7105490B2
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Description

本発明は、めっき槽に用いられるめっき液を循環させつつ、めっきに必要な成分を添加して、めっき液の特性を管理値内に調整するめっき液調整装置に関する。 The present invention relates to a plating solution adjusting apparatus that adjusts the properties of the plating solution within control values by adding components necessary for plating while circulating the plating solution used in the plating tank.

従来、実開昭59-76567号公報に、めっきを行なうめっき用槽と該めっき液の条件を安定させるために設けられたpH、温度測定器と該測定器のめっきへの影響を防ぐために設けた遮蔽板と、めっき作業により発生した該めっき用槽内の異物を除去するためのオーバーフロー板を備えるとともに、該めっき液の測定結果をフィードバックし、該めっき液のpH及び温度を調整する循環用タンクより構成される循環式メッキ装置が開示されている。 Conventionally, in Japanese Utility Model Laid-Open No. 59-76567, a plating bath for plating, a pH and temperature measuring device provided to stabilize the conditions of the plating solution, and a measuring device provided to prevent the influence of the measuring device on the plating. and an overflow plate for removing foreign matter in the plating bath generated by the plating work, feeding back the measurement result of the plating solution, and adjusting the pH and temperature of the plating solution. A circulation plating apparatus is disclosed which consists of a tank.

また、特開2004-162078号公報に、不溶性陽極と、陰極をなす被めっき体と、例えば硫酸銅および遊離硫酸を含む電解液を満たしためっき浴槽と、を備えためっき装置を用いて銅めっきする際に、測定光の波長が500nm以上、好ましくは540nmに設定された比色計によりめっき浴槽中の銅の濃度を検知し、その検出値に基づいて補給剤である例えば酸化銅を補給する構成とする銅メッキ装置が開示されている。 In addition, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-162078 discloses copper plating using a plating apparatus equipped with an insoluble anode, an object to be plated serving as a cathode, and a plating bath filled with an electrolytic solution containing, for example, copper sulfate and free sulfuric acid. At that time, the wavelength of the measurement light is 500 nm or more, preferably by a colorimeter set to 540 nm to detect the concentration of copper in the plating bath, and based on the detected value, a replenisher such as copper oxide is replenished. A configured copper plating apparatus is disclosed.

実開昭59-76567号公報Japanese Utility Model Laid-Open No. 59-76567 特開2004-162078号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-162078

しかし、特許文献1に開示されている装置では、測定器がめっき槽の中に設けられており、その分めっき槽が狭くなるという課題があった。また、オーバーフロー板を設けているが、当該オーバーフロー板はめっき槽内の異物を除去するためのものであり、本発明の第1仕切り板及び第2仕切り板とは課題が相違する。 However, in the apparatus disclosed in Patent Document 1, the measuring device is provided in the plating tank, and there is a problem that the plating tank becomes narrower accordingly. Also, although an overflow plate is provided, the overflow plate is for removing foreign substances in the plating bath, and the problem is different from that of the first partition plate and the second partition plate of the present invention.

また、特許文献2に開示されている装置では、比色計がめっき槽とは独立して設けられているため、上記特許文献1のような課題はない。しかし、めっき液を比色計に循環させるためのポンプが別途必要となり装置の構成が複雑となる。 In addition, in the apparatus disclosed in Patent Document 2, the colorimeter is provided independently of the plating tank, so there is no problem as in Patent Document 1 above. However, a separate pump is required to circulate the plating solution through the colorimeter, which complicates the configuration of the apparatus.

本発明は上記の点に鑑みなされたもので、測定装置をめっき液調整装置に内蔵することでめっき槽の容積を犠牲にすることなく、かつ測定槽から添加槽、添加槽から戻し槽へのめっき液の移送を第1仕切り板及び第2仕切り板をオーバーフローさせることで、めっき液を移送するためのポンプの数を最小限にすることができるめっき液調整装置を提供することを目的とする。また、本発明の別の課題として、既存のめっき装置に後付け可能なめっき液調整装置を提供することを目的とする。 The present invention has been devised in view of the above points. By incorporating the measuring device into the plating solution adjusting device, the volume of the plating bath can be maintained without sacrificing the volume of the plating bath. It is an object of the present invention to provide a plating solution adjusting device capable of minimizing the number of pumps for transferring the plating solution by causing the transfer of the plating solution to overflow the first partition plate and the second partition plate. . Another object of the present invention is to provide a plating solution adjusting apparatus that can be retrofitted to an existing plating apparatus.

本発明のめっき液調整装置は、
めっき槽に使用されるめっき液を循環させつつ、めっきに必要な成分を添加して調整するめっき液調整装置であって、
前記めっき槽から移送配管を通じて前記めっき液を移送するポンプと、
移送された前記めっき液を溜めるとともに、測定装置を備えて前記めっき液の成分を測定する測定槽と、
第1仕切り板を経て前記測定槽からオーバーフローさせた前記めっき液を溜めるとともに、前記測定装置によって測定された結果に基づいて前記成分を添加する添加槽と、
第2仕切り板を経て前記添加槽からオーバーフローさせた前記めっき液を戻り配管を通じて前記めっき槽に戻す戻し槽と、
を備えることを特徴とする。
The plating solution adjusting device of the present invention is
A plating solution adjusting device that adjusts by adding components necessary for plating while circulating the plating solution used in the plating tank,
a pump for transferring the plating solution from the plating tank through a transfer pipe;
a measuring tank for storing the transferred plating solution and equipped with a measuring device to measure the components of the plating solution;
an addition tank for storing the plating solution overflowing from the measurement tank through the first partition plate and for adding the component based on the results measured by the measuring device;
a return tank for returning the plating solution overflowing from the addition tank through a second partition plate to the plating tank through a return pipe;
characterized by comprising

本発明のめっき液調整装置によれば、めっき槽とは独立した測定槽にめっき液を移送してめっき液の成分を測定している。このため、めっき槽の容積を犠牲にすることがない。また、めっきに必要な成分を添加する添加槽は、第1仕切り板によって測定槽と仕切られるとともに第1仕切り板をオーバーフローしためっき液が測定槽から落下して流入する。このため、添加されるめっき液の成分が測定槽及び測定装置に影響を与えることがない。さらに、測定槽から添加槽にめっき液を移送させるためのポンプも不要である。また、成分の調整をしためっき液を、第2仕切り板によってオーバーフローさせて戻し槽に移送させた後にめっき槽に戻している。このため、添加された成分が添加槽での流通時及び第2仕切り板から溢れる越流時に拡散され、部分的に濃い成分を含むめっき液がめっき槽に戻ることがなく、めっき槽内のめっき液の濃度分布に偏りができることがない。さらに、添加槽から戻し槽にめっき液を移送させるためのポンプも不要となる。 According to the plating solution adjusting apparatus of the present invention, the plating solution is transferred to the measurement tank independent of the plating tank to measure the components of the plating solution. Therefore, the volume of the plating tank is not sacrificed. Further, the addition tank for adding the components necessary for plating is separated from the measurement tank by the first partition plate, and the plating solution overflowing the first partition plate falls from the measurement tank and flows into the addition tank. Therefore, the components of the added plating solution do not affect the measuring tank and the measuring device. Furthermore, no pump is required to transfer the plating solution from the measurement tank to the addition tank. Also, the plating solution whose components have been adjusted is overflowed by the second partition plate, transferred to the return tank, and then returned to the plating tank. For this reason, the added components are diffused during circulation in the addition tank and when overflowing from the second partition plate, and the plating solution containing partially concentrated components does not return to the plating tank, and plating in the plating tank is prevented. There is no deviation in the concentration distribution of the liquid. Furthermore, a pump for transferring the plating solution from the addition tank to the return tank is also unnecessary.

本発明のめっき液調整装置の好ましい例は、
前記添加槽において、添加された前記成分を第1仕切り板から落下する前記めっき液の対流によって撹拌することを特徴とする。
A preferable example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention is
In the addition tank, the added components are agitated by convection of the plating solution falling from the first partition plate.

本発明のめっき液調整装置の好ましい例によれば、添加槽においてのめっき液の撹拌に、第1仕切り板から落下するめっき液の流れを利用するため、撹拌用のスクリュー等が不要となる。 According to a preferred example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention, the flow of the plating solution falling from the first partition plate is used for stirring the plating solution in the addition tank, so a stirring screw or the like is not required.

本発明のめっき液調整装置の好ましい例は、
前記第1仕切り板の上端の一部が低く構成される越流部を備えることを特徴とする。
A preferable example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention is
A part of the upper end of the first partition plate is provided with an overflow portion that is low.

本発明のめっき液調整装置の好ましい例によれば、越流部を備えるため、測定槽から第1仕切り板を経て添加槽に移送されるめっき液が、主に越流部を通過する。これにより、第1仕切り板をオーバーフローするめっき液の落下の勢いが、部分的に強くなり、より効果的に添加槽内のめっき液を撹拌することができる。 According to a preferred example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention, since the plating solution adjusting apparatus is provided with the overflow portion, the plating solution transferred from the measurement tank to the addition tank via the first partition plate mainly passes through the overflow portion. As a result, the momentum of the plating solution that overflows the first partition plate is partially increased, and the plating solution in the addition tank can be stirred more effectively.

本発明のめっき液調整装置の好ましい例は、
前記戻し槽が前記めっき槽の液面より高い位置に配置され、前記戻し槽からの前記めっき液の戻りが重力によってなされることを特徴とする。
A preferable example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention is
The return bath is arranged at a position higher than the liquid surface of the plating bath, and the return of the plating solution from the return bath is performed by gravity.

本発明のめっき液調整装置の好ましい例によれば、戻し槽からめっき槽へのめっき液の戻りを重力によって行なうため、めっき液の戻し用のポンプが不要となる。 According to a preferred example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention, the return of the plating solution from the return bath to the plating bath is performed by gravity, so a pump for returning the plating solution is not required.

本発明のめっき液調整装置の好ましい例は、
前記戻り配管が前記戻し槽の底面に設けられるとともに前記戻り配管は横方向と下方向に分岐され、横方向側は前記めっき槽に戻され、下方向側にはサンプリング弁が設けられていることを特徴とする。
A preferable example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention is
The return pipe is provided on the bottom surface of the return tank, and the return pipe is branched in the horizontal direction and the downward direction, the horizontal side is returned to the plating tank, and the downward side is provided with a sampling valve. characterized by

本発明のめっき液調整装置の好ましい例によれば、戻り配管が戻し槽の底面に設けられているため、添加槽からオーバーフローしためっき液を速やかにめっき槽に戻すことができる。また、戻り配管が分岐されて下方向にサンプリング弁が設けられているため、めっき槽に戻されるめっき液のサンプリングを容易に行なうことができる。 According to a preferred example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention, since the return pipe is provided on the bottom surface of the return tank, the plating solution overflowing from the addition tank can be quickly returned to the plating tank. In addition, since the return pipe is branched and the sampling valve is provided downward, the plating solution returned to the plating tank can be easily sampled.

本発明のめっき液調整装置の好ましい例は、
前記測定槽に超音波洗浄機が設けられ、前記測定装置を洗浄することを特徴とする。
A preferable example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention is
An ultrasonic cleaning machine is provided in the measuring tank to clean the measuring device.

本発明のめっき液調整装置の好ましい例によれば、測定装置を超音波洗浄機で洗浄するため、測定装置に付着した異物を除去することができる。また、第1仕切り板によって添加槽と仕切られているため、除去された異物が添加槽に流入することがない。 According to a preferred example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention, the measuring device is cleaned with an ultrasonic cleaner, so that foreign matter adhering to the measuring device can be removed. Further, since the first partition plate separates the addition tank from the addition tank, the removed foreign matter does not flow into the addition tank.

本発明のめっき液調整装置の好ましい例は、
前記ポンプが、めっき槽に接続されて設けられた濾過装置用の循環ポンプであり、前記循環ポンプから配管を分岐させて一方の配管を前記移送配管とし、他方の配管を前記濾過装置用の配管とすることを特徴とする。
A preferable example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention is
The pump is a circulation pump for a filtration device connected to the plating bath, and a pipe is branched from the circulation pump, one pipe is used as the transfer pipe, and the other pipe is a pipe for the filtration device. It is characterized by

本発明のめっき液調整装置の好ましい例によれば、めっき液調整装置を濾過装置用の循環ポンプから分岐させているため、既存のめっき装置に容易に後付けすることができる。 According to a preferred example of the plating solution adjusting apparatus of the present invention, since the plating solution adjusting apparatus is branched from the circulation pump for the filtration apparatus, it can be easily retrofitted to the existing plating apparatus.

上述したように、本発明のめっき液調整装置によれば、測定装置を内蔵することでめっき槽の容積を犠牲にすることがない。また、測定槽から添加槽、添加槽から戻し槽へのめっき液の移送を第1仕切り板及び第2仕切り板をオーバーフローさせることで、めっき液を移送するためのポンプの数を最小限にすることができる。また、本発明の別の効果として、既存のめっき装置に後付け可能なめっき液調整装置とすることができる。 As described above, according to the plating solution adjusting apparatus of the present invention, the volume of the plating bath is not sacrificed by incorporating the measuring device. In addition, the number of pumps for transferring the plating solution is minimized by overflowing the first partition plate and the second partition plate to transfer the plating solution from the measurement tank to the addition tank and from the addition tank to the return tank. be able to. Another effect of the present invention is that the plating solution adjusting apparatus can be retrofitted to an existing plating apparatus.

本発明の一実施形態に係るめっき液調整装置とめっき槽、及び濾過装置との接続を説明する図である。FIG. 2 is a diagram illustrating connections between a plating solution adjusting apparatus, a plating tank, and a filtering apparatus according to one embodiment of the present invention; めっき液調整装置の正面図である。1 is a front view of a plating solution adjusting device; FIG. めっき液調整装置の右側面図である。FIG. 3 is a right side view of the plating solution adjusting device; めっき液調整装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation|movement of a plating solution adjustment apparatus. 第1仕切り板の他の形態を説明する図である。It is a figure explaining other forms of a 1st partition plate.

以下、本発明に係るめっき液調整装置1の実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。なお、図2及び図4においては、測定槽31、添加槽32、戻し槽33の前面の板を外した状態で、これらの内部を説明している。 An embodiment of a plating solution adjusting apparatus 1 according to the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. 2 and 4, the interiors of the measurement tank 31, the addition tank 32, and the return tank 33 are described with the front plates removed.

先ず、図1を参照して、本実施形態のめっき液調整装置1とめっき槽3及び濾過装置4との接続を説明する。一般的にめっき槽3には、その内部に溜めてあるめっき液を濾過するために、めっき液の循環ポンプ5と、濾過装置4とを備える。この循環ポンプ5でめっき液を濾過装置4に循環させて、めっき液中に生じる異物を取除く。そして、濾過装置4を経ためっき液はめっき槽3に戻される。 First, with reference to FIG. 1, the connection between the plating solution adjusting apparatus 1 of the present embodiment, the plating bath 3 and the filtering apparatus 4 will be described. In general, the plating tank 3 is provided with a plating solution circulation pump 5 and a filtering device 4 for filtering the plating solution stored therein. The circulation pump 5 circulates the plating solution through the filtering device 4 to remove foreign substances generated in the plating solution. Then, the plating solution that has passed through the filtering device 4 is returned to the plating bath 3 .

本実施形態のめっき液調整装置1は、上記の循環ポンプ5の出口からの配管に分岐配管6を設けることで分岐させて、一方の配管を移送配管20としてめっき液調整装置1の本体部分に接続し、他方の配管を濾過装置4に接続している。この様にして、濾過装置4用の循環ポンプ5を利用することで、既存のめっき装置2に後付けすることが容易となる。なお、めっき液調整装置1の本体部分を経ためっき液は、戻り配管50によってめっき槽3に戻される。なお、めっき液調整装置1の本体部分とは、図2に示す下部架台10、上部架台12、制御部13、循環槽30、及びこれらに付随する装置や部品を意図する。 The plating solution adjusting apparatus 1 of the present embodiment is branched by providing a branch pipe 6 in the pipe from the outlet of the circulation pump 5, and one pipe is used as the transfer pipe 20 in the main body portion of the plating solution adjusting apparatus 1. , and the other pipe is connected to the filtering device 4 . By using the circulation pump 5 for the filtering device 4 in this manner, retrofitting to the existing plating device 2 is facilitated. The plating solution that has passed through the main body of the plating solution adjusting apparatus 1 is returned to the plating bath 3 through a return pipe 50 . The main body of the plating solution adjusting apparatus 1 means the lower frame 10, the upper frame 12, the control unit 13, the circulation tank 30, and the devices and parts associated therewith shown in FIG.

次に、図2及び図3を参照して、本実施形態のめっき液調整装置1の構成を説明する。本実施形態のめっき液調整装置1は、下部架台10と、上部架台12と、制御部13と、ポンプ5(図1参照)と、移送配管20と、循環槽30と、戻り配管50とを備える。また、循環槽30は、測定槽31と、添加槽32と、戻し槽33と、を備える。 Next, with reference to FIGS. 2 and 3, the configuration of the plating solution adjusting apparatus 1 of this embodiment will be described. The plating solution adjusting apparatus 1 of this embodiment includes a lower frame 10, an upper frame 12, a control unit 13, a pump 5 (see FIG. 1), a transfer pipe 20, a circulation tank 30, and a return pipe 50. Prepare. The circulation tank 30 also includes a measurement tank 31 , an addition tank 32 , and a return tank 33 .

下部架台10は、めっき液調整装置1の各構成要素を支持するものであり、その中程に制御部13が配置される。また、下部架台10の上面にはめっき液がこぼれたときにそのめっき液を受け止めるドレン槽11が設けられ、ドレン槽11の上に上部架台12が設けられる。さらに、この上部架台12の上に循環槽30が配置される。 The lower frame 10 supports each component of the plating solution adjusting apparatus 1, and the controller 13 is arranged in the middle thereof. A drain tank 11 is provided on the upper surface of the lower mount 10 to receive the spilled plating solution, and an upper mount 12 is provided on the drain tank 11 . Furthermore, a circulation tank 30 is arranged on the upper frame 12 .

制御部13は、その内部に電源回路、プログラマブルコントローラ等が設けられ、めっき液調整装置1の各構成要素と協動して、循環槽30を循環するめっき液wa(図4参照)の成分の測定及び調整をする等の動作をさせる。 The control unit 13 is provided with a power supply circuit, a programmable controller, etc., and cooperates with each component of the plating solution adjusting apparatus 1 to control the components of the plating solution wa (see FIG. 4) circulating in the circulation tank 30. Make it perform actions such as measurement and adjustment.

ポンプ5は、めっき槽3からめっき液waを循環槽30のうち測定槽31に移送させるものである。本実施形態では、既に述べたように、当該ポンプ5に濾過装置4用の循環ポンプ5を利用している。移送配管20は、ポンプ5の出口から分岐されたもので、流入弁21及びU字管22を経てその末端が測定槽31内に配置される。 The pump 5 transfers the plating solution wa from the plating bath 3 to the measurement bath 31 in the circulation bath 30 . In this embodiment, as already described, the circulation pump 5 for the filtering device 4 is used as the pump 5 . The transfer pipe 20 is branched from the outlet of the pump 5 , passes through an inflow valve 21 and a U-shaped pipe 22 , and its end is placed in the measurement tank 31 .

循環槽30は、測定槽31、添加槽32、戻し槽33と、さらに第1仕切り板34及び第2仕切り板36を備える。測定槽31は、めっき槽3から移送配管20を経て移送されためっき液waが流入する槽であり、めっき槽3のめっき液と同じ成分をなす。この測定槽31には、めっき液waの成分を測定する測定装置40が備えられる。本実施形態では、このめっき液waの成分の測定として、例えばpHを測定している。また、測定装置40には、異物が付着するおそれがあり、これを除去するために超音波洗浄機41が測定装置40の先端近傍に設けられている。なお、測定装置40及び超音波洗浄機41は、図2にその一部が記載されている配線42,43を通じて動作する。また、測定槽31の底部には、第1ドレン弁37が設けられ、底に沈殿した異物の除去、その他メンテナンスのときに内部のめっき液waを抜き取ることができる。 The circulation tank 30 includes a measurement tank 31 , an addition tank 32 , a return tank 33 , and further a first partition plate 34 and a second partition plate 36 . The measurement tank 31 is a tank into which the plating solution wa transferred from the plating tank 3 through the transfer pipe 20 flows, and has the same components as the plating solution in the plating tank 3 . The measuring tank 31 is equipped with a measuring device 40 for measuring the components of the plating solution wa. In this embodiment, pH is measured, for example, as the measurement of the components of the plating solution wa. In addition, there is a possibility that foreign matter may adhere to the measurement device 40, and an ultrasonic cleaning machine 41 is provided near the tip of the measurement device 40 to remove this. Note that the measuring device 40 and the ultrasonic cleaner 41 operate through wirings 42 and 43, some of which are shown in FIG. A first drain valve 37 is provided at the bottom of the measuring tank 31, and the plating solution wa inside can be drained during maintenance such as removal of foreign matter deposited on the bottom.

添加槽32は、測定槽31に隣接して設けられる槽で、測定槽31とは第1仕切り板34によって仕切られている。測定槽31に移送されためっき液waは、第1仕切り板34をオーバーフローすることによって添加槽32に流入する。添加槽32には、めっき液waの成分を添加するための添加装置44が設けられている。添加装置44には図示しない薬液タンクが接続配管45を通じて接続されており、本実施形態ではめっき液waの成分として薬液タンクから供給される硫酸液を適宜吐出し添加している。この硫酸液を吐出する添加装置44のノズル46は、第1仕切り板34をオーバーフローしためっき液waが落下する場所又はその近傍に設けることが好ましい。また、添加槽32の底部には、第2ドレン弁38が設けられ、メンテナンスのときに内部のめっき液waを抜き取ることができる。 The addition tank 32 is a tank provided adjacent to the measurement tank 31 and is separated from the measurement tank 31 by a first partition plate 34 . The plating solution wa transferred to the measurement tank 31 flows into the addition tank 32 by overflowing the first partition plate 34 . The addition tank 32 is provided with an addition device 44 for adding components of the plating solution wa. A chemical tank (not shown) is connected to the adding device 44 through a connection pipe 45, and in this embodiment, sulfuric acid supplied from the chemical tank is appropriately discharged and added as a component of the plating solution wa. The nozzle 46 of the addition device 44 for discharging the sulfuric acid solution is preferably provided at or near the place where the plating solution wa overflowing the first partition plate 34 falls. A second drain valve 38 is provided at the bottom of the addition bath 32, so that the plating solution wa inside can be drained during maintenance.

この第1仕切り板34を図2のA-A線で示す添加槽32側から見ると、図5(A)に示すように、その上端は直線状に構成されている。もっとも、第1仕切り板34の他の形態として、図5(B)~(D)に示すように、第1仕切り板34a,34b,34cの上端の一部を低く構成した越流部35a,35b,35cを備えてもよい。このように構成することで、めっき液waは主に越流部35a,35b,35cを通過する。この場合、添加装置44のノズル46も越流部35a,35b,35cの近傍、かつめっき液waが落下する場所又はその近傍に配置することが好ましい。 When the first partition plate 34 is viewed from the side of the addition tank 32 indicated by the line AA in FIG. 2, the upper end is formed in a straight line as shown in FIG. 5(A). However, as another form of the first partition plate 34, as shown in FIGS. 35b and 35c may be provided. With this configuration, the plating solution wa mainly passes through the overflow portions 35a, 35b, and 35c. In this case, it is preferable that the nozzle 46 of the adding device 44 is also arranged in the vicinity of the overflow portions 35a, 35b, 35c and at or near the place where the plating solution wa falls.

図2及び図3に戻り、戻し槽33は、添加槽32に隣接して設けられる槽で、添加槽32とは第2仕切り板36によって仕切られている。この第2仕切り板36は第1仕切り板34より低く構成され、添加槽32に移送されためっき液waは第2仕切り板36をオーバーフローすることによって戻し槽33に流入する。 Returning to FIGS. 2 and 3 , the return tank 33 is a tank provided adjacent to the addition tank 32 and is separated from the addition tank 32 by a second partition plate 36 . The second partition plate 36 is lower than the first partition plate 34 , and the plating solution wa transferred to the addition bath 32 overflows the second partition plate 36 to flow into the return bath 33 .

なお、本実施形態のめっき液調整装置1では、めっき槽3の大きさに対して、循環槽30の大きさを小型化することが可能であり、例えばめっき槽3に溜められているめっき液waの容量1000リットルに対して、循環槽30内に滞留するめっき液waの量を10~7リットル程度とすることができる。寸法も循環槽30の幅wを400~500ミリメートル、奥行きdを200ミリメートル程度とすることができる。 In addition, in the plating solution adjusting apparatus 1 of the present embodiment, it is possible to reduce the size of the circulation bath 30 with respect to the size of the plating bath 3. For example, the plating solution stored in the plating bath 3 The amount of the plating solution wa remaining in the circulation tank 30 can be about 10 to 7 liters with respect to the volume of wa of 1000 liters. As for dimensions, the width w of the circulation tank 30 can be set to 400 to 500 mm, and the depth d can be set to about 200 mm.

戻り配管50は、戻し槽33の底面に設けられ、戻し槽33に流入しためっき液waをめっき槽3に戻すものである。本実施形態のめっき液調整装置1では、循環槽30をめっき槽3より高い位置に置くことで、戻し槽33からのめっき液waの戻しを重力により行なっており、戻し用のポンプは設けていない。また、戻り配管50は、戻し槽33の下で横方向と下方向に分岐される分岐配管51を備え、横に分岐された横方向側の配管は、そのままめっき槽3に戻される。一方、下方向側にはサンプリング弁52が設けられ、必要に応じてめっき槽3に戻されるめっき液waを、サンプリング瓶53に採取することができる。 The return pipe 50 is provided on the bottom surface of the return tank 33 and returns the plating solution wa that has flowed into the return tank 33 to the plating tank 3 . In the plating solution adjusting apparatus 1 of the present embodiment, the circulation bath 30 is placed at a position higher than the plating bath 3, so that the return of the plating solution wa from the return bath 33 is performed by gravity, and a return pump is not provided. do not have. Further, the return pipe 50 has a branch pipe 51 branched horizontally and downward under the return bath 33 , and the horizontally branched pipe is returned to the plating bath 3 as it is. On the other hand, a sampling valve 52 is provided on the downward side, and the plating solution wa returned to the plating tank 3 can be collected in a sampling bottle 53 as required.

次に、上述した本実施形態のめっき液調整装置1の各構成要素を踏まえ、図1及び図4を参照して、めっき液調整装置1の動作を説明する。 Next, the operation of the plating solution adjustment apparatus 1 will be described with reference to FIGS. 1 and 4 based on each component of the plating solution adjustment apparatus 1 of this embodiment described above.

先ず、濾過装置4用の循環ポンプ5によって、めっき槽3からめっき液waが移送配管20を通じて測定槽31に移送される(図4矢印a,b参照)。測定槽31では、第1仕切り板34の高さまでめっき液waが貯留され、測定装置40によってめっき液waのpHが測定される。次に、第1仕切り板34をオーバーフローしためっき液waが、添加槽32に流入し(図4矢印c)、必要に応じて添加装置44のノズル46から硫酸が吐出され添加される。このとき、第1仕切り板34と第2仕切り板36との高さの相違によって、測定槽31と添加槽32との液面の高さに差が生じる。このため、第1仕切り板34をオーバーフローしためっき液waは、落下の勢いで添加槽32のめっき液waに対流を生じさせ、添加槽32のめっき液waを撹拌する(図4矢印d)。これにより、特段の撹拌装置を設けることなく、添加された硫酸を添加槽32内のめっき液waに拡散させ希釈させることができる。この、めっき液waの落下で生じる対流による撹拌は、図5(B)~(D)に示す越流部35a,35b,35cを備える第1仕切り板34a,34b,34cを用いることにより、より効果的に行なうことができる。 First, the plating solution wa is transferred from the plating tank 3 to the measurement tank 31 through the transfer pipe 20 by the circulation pump 5 for the filtering device 4 (see arrows a and b in FIG. 4). In the measuring tank 31 , the plating solution wa is stored up to the height of the first partition plate 34 , and the pH of the plating solution wa is measured by the measuring device 40 . Next, the plating solution wa overflowing the first partition plate 34 flows into the addition tank 32 (arrow c in FIG. 4), and sulfuric acid is discharged from the nozzle 46 of the addition device 44 and added as necessary. At this time, due to the height difference between the first partition plate 34 and the second partition plate 36, the liquid level of the measurement tank 31 and that of the addition tank 32 are different. Therefore, the plating solution wa that overflows the first partition plate 34 causes convection in the plating solution wa in the addition tank 32 due to the momentum of the drop, and stirs the plating solution wa in the addition tank 32 (arrow d in FIG. 4). As a result, the added sulfuric acid can be diffused and diluted in the plating solution wa in the addition tank 32 without providing a special stirring device. This agitation due to convection caused by dropping the plating solution wa can be further improved by using first partition plates 34a, 34b, and 34c having overflow portions 35a, 35b, and 35c shown in FIGS. can be done effectively.

次に、第2仕切り板36をオーバーフローしためっき液waは、戻し槽33に移送される。そして、戻り配管50を通じて、めっき液waがめっき槽3に戻される(図4矢印e,f,g)。この第2仕切り板36をオーバーフローするとき、及び戻し槽33にめっき液waが落下するときにも、めっき液waの撹拌がなされ、めっき槽3に戻されるめっき液waの成分がより均一になる。これらを繰り返すことにより、めっき槽3内のめっき液waの成分は、管理値内に保たれる。 Next, the plating solution wa overflowing the second partition plate 36 is transferred to the return bath 33 . Then, the plating solution wa is returned to the plating tank 3 through the return pipe 50 (arrows e, f and g in FIG. 4). When the second partition plate 36 overflows and when the plating solution wa falls into the return tank 33, the plating solution wa is stirred, and the components of the plating solution wa returned to the plating tank 3 become more uniform. . By repeating these steps, the components of the plating solution wa in the plating bath 3 are kept within the control values.

以上、説明したように、本実施形態のめっき液調整装置1によれば、めっき槽3から高い位置にある循環槽30にめっき液waを汲み上げ、循環槽30の内部で第1仕切り板34及び第2仕切り板36をオーバーフローさせることによって、めっき液waを測定槽31から添加槽32、戻し槽33へと移送させている。さらに、戻し槽33からは重力によってめっき槽3にめっき液waを戻している。これらの構成により、めっき槽3内の容積を犠牲にすることなく、最小限のポンプ数でめっき液調整装置1を稼働させることができる。また、循環槽30へのめっき液waの移送に濾過装置4用の循環ポンプ5を利用することで、ポンプの数を増やすことなく既存のめっき装置2に容易に後付けすることが可能となる。 As described above, according to the plating solution adjusting apparatus 1 of the present embodiment, the plating solution wa is pumped up from the plating bath 3 into the circulation bath 30 located at a higher position, and inside the circulation bath 30, the first partition plate 34 and the By overflowing the second partition plate 36 , the plating solution wa is transferred from the measurement tank 31 to the addition tank 32 and the return tank 33 . Further, the plating solution wa is returned from the return bath 33 to the plating bath 3 by gravity. With these configurations, the plating solution adjusting apparatus 1 can be operated with a minimum number of pumps without sacrificing the volume inside the plating bath 3 . Further, by using the circulation pump 5 for the filtering device 4 to transfer the plating solution wa to the circulation tank 30, it becomes possible to easily retrofit the existing plating device 2 without increasing the number of pumps.

また、添加槽32に第1仕切り板34をオーバーフローして落下するめっき液waによる対流を生じさせるため、添加される成分を撹拌するための撹拌装置が不要となり、装置の構成を簡素なものとすることができる。特に、第1仕切り板に越流部35a,35b,35cを設ける構成では、その効果が顕著になる。さらに、めっき液waが第2仕切り板36をオーバーフローするとき及び戻し槽33に落下するときにもめっき液waを撹拌することができ、より成分が均一なめっき液waをめっき槽3に戻すことができる。 In addition, since convection is generated by the plating solution wa that overflows the first partition plate 34 and falls into the addition tank 32, a stirring device for stirring the components to be added is not required, and the configuration of the device can be simplified. can do. In particular, in the configuration in which the first partition plate is provided with the overflow portions 35a, 35b, and 35c, the effect is remarkable. Furthermore, the plating solution wa can be stirred even when the plating solution wa overflows the second partition plate 36 and falls into the return tank 33, and the plating solution wa with more uniform components can be returned to the plating tank 3. can be done.

また、ポンプ5の数が必要最小限であること、添加槽32における撹拌装置が不要であること等から、装置の小型化を図ることができる。また、戻り配管50の途中かつ戻し槽33の底面近傍にサンプリング弁52を設けているため、成分の調整がされためっき液waの採取を容易にすることができる。 In addition, since the number of pumps 5 is the minimum required and the stirring device in the addition tank 32 is not required, the size of the device can be reduced. Further, since the sampling valve 52 is provided in the middle of the return pipe 50 and near the bottom surface of the return bath 33, it is possible to easily collect the plating solution wa whose components have been adjusted.

なお、上述のめっき液調整装置1は本発明の例示であり、発明の趣旨を逸脱しない範囲において、その構成を適宜変更することができる。 The plating solution adjusting apparatus 1 described above is an example of the present invention, and its configuration can be changed as appropriate without departing from the gist of the invention.

1・・めっき液調整装置、2・・めっき装置、3・・めっき槽、4・・濾過装置、5・・ポンプ(循環ポンプ)、6・・分岐配管(循環ポンプ出口側)、
10・・下部架台、11・・ドレン槽、12・・上部架台、13・・制御部、
20・・移送配管、21・・流入弁、22・・U字管、
30・・循環槽、31・・測定槽、32・・添加槽、33・・戻し槽、34,34a,34b,34c・・第1仕切り板、35a,35b,35c・・越流部、36・・第2仕切り板、37・・第1ドレン弁、38・・第2ドレン弁、
40・・測定装置、41・・超音波洗浄機、42,43・・配線、44・・添加装置、45・・接続配管、46・・ノズル、
50・・戻り配管、51・・分岐配管(戻し槽出口側)、52・・サンプリング弁、53・・サンプリング瓶、
wa・・めっき液、
1 Plating solution adjusting device, 2 Plating device, 3 Plating bath, 4 Filtration device, 5 Pump (circulation pump), 6 Branch pipe (exit side of circulation pump),
10... Lower mount, 11... Drain tank, 12... Upper mount, 13... Control part,
20... transfer pipe, 21... inflow valve, 22... U-shaped pipe,
30 Circulation tank 31 Measurement tank 32 Addition tank 33 Return tank 34, 34a, 34b, 34c First partition plate 35a, 35b, 35c Overflow section 36 ... second partition plate, 37 ... first drain valve, 38 ... second drain valve,
40... Measuring device, 41... Ultrasonic cleaner, 42, 43... Wiring, 44... Addition device, 45... Connecting pipe, 46... Nozzle,
50... Return pipe, 51... Branch pipe (return tank outlet side), 52... Sampling valve, 53... Sampling bottle,
wa Plating solution,

Claims (7)

めっき槽に使用されるめっき液を循環させつつ、めっきに必要な成分を添加して調整するめっき液調整装置であって、
前記めっき槽から移送配管を通じて前記めっき液を移送するポンプと、
移送された前記めっき液を溜めるとともに、測定装置を備えて前記めっき液の成分を測定する測定槽と、
第1仕切り板を経て前記測定槽からオーバーフローさせた前記めっき液を溜めるとともに、前記測定装置によって測定された結果に基づいて前記成分を添加する添加槽と、
第2仕切り板を経て前記添加槽からオーバーフローさせた前記めっき液を戻り配管を通じて前記めっき槽に戻す戻し槽と、
を備えることを特徴とするめっき液調整装置。
A plating solution adjusting device that adjusts by adding components necessary for plating while circulating the plating solution used in the plating tank,
a pump for transferring the plating solution from the plating tank through a transfer pipe;
a measuring tank for storing the transferred plating solution and equipped with a measuring device to measure the components of the plating solution;
an addition tank for storing the plating solution overflowing from the measurement tank through the first partition plate and for adding the component based on the results measured by the measuring device;
a return tank for returning the plating solution overflowing from the addition tank through a second partition plate to the plating tank through a return pipe;
A plating solution adjustment device comprising:
前記添加槽において、添加された前記成分を第1仕切り板から落下する前記めっき液の対流によって撹拌することを特徴とする請求項1に記載のめっき液調整装置。 2. The plating solution adjusting apparatus according to claim 1, wherein in said adding tank, said added component is agitated by convection of said plating solution falling from a first partition plate. 前記第1仕切り板の上端の一部が低く構成される越流部を備えることを特徴とする請求項2に記載のめっき液調整装置。 3. The plating solution adjusting apparatus according to claim 2, further comprising an overflow portion formed at a lower portion at the upper end of said first partition plate. 前記戻し槽が前記めっき槽の液面より高い位置に配置され、前記戻し槽からの前記めっき液の戻りが重力によってなされることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載のめっき液調整装置。 4. The method according to any one of claims 1 to 3, wherein said return bath is arranged at a position higher than the liquid surface of said plating bath, and said plating solution is returned from said return bath by gravity. Plating solution adjustment device. 前記戻り配管が前記戻し槽の底面に設けられるとともに前記戻り配管は横方向と下方向に分岐され、横方向側は前記めっき槽に戻され、下方向側にはサンプリング弁が設けられていることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載のめっき液調整装置。 The return pipe is provided on the bottom surface of the return tank, and the return pipe is branched in the horizontal direction and the downward direction, the horizontal side is returned to the plating tank, and the downward side is provided with a sampling valve. The plating solution adjusting apparatus according to any one of claims 1 to 4, characterized by: 前記測定槽に超音波洗浄機が設けられ、前記測定装置を洗浄することを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載のめっき液調整装置。 6. The plating solution adjusting apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein an ultrasonic cleaner is provided in said measuring tank to clean said measuring device. 前記ポンプが、めっき槽に接続されて設けられた濾過装置用の循環ポンプであり、前記循環ポンプから配管を分岐させて一方の配管を前記移送配管とし、他方の配管を前記濾過装置用の配管とすることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載のめっき液調整装置。 The pump is a circulation pump for a filtration device connected to the plating tank, and a pipe is branched from the circulation pump, one pipe is used as the transfer pipe, and the other pipe is a pipe for the filtration device. The plating solution adjusting apparatus according to any one of claims 1 to 6, characterized in that:
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