JP7086628B2 - Ｘ線診断装置 - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置に関する。

従来、Ｘ線診断装置においては、被曝低減のための技術の１つとして、部分透視と呼ばれるＸ線撮像技術が知られている。例えば、部分透視では、比較的広範囲に透視をした後、より小さな範囲の関心領域（ＲＯＩ／Ｒｅｇｉｏｎ Ｏｆ Ｉｎｔｅｒｅｓｔ）を設定し、関心領域における透視像（「部分透視像」や「ＲＯＩ透視像」等と呼ぶことがある）をラストイメージホールド（ＬＩＨ／Ｌａｓｔ Ｉｍａｇｅ Ｈｏｌｄ）画像等と合成して表示する。

ＬＩＨ画像は、部分透視用関心領域の周囲（背景）の状態を示す静止画像であり、部分透視前の透視における最後の画像（フレーム）である。部分透視では、このようなＬＩＨ画像等を背景として利用しつつ、特に注目する範囲に絞って透視を継続するので、必要のない部分にＸ線を照射せずに済み、被検体の被ばく量の低減が可能となる。

特開２０１４－１４４０５３号公報

本発明が解決しようとする課題は、部分透視を利用した手技の効率を向上させることである。

実施形態のＸ線診断装置は、Ｘ線管と、Ｘ線絞りと、記憶部と、合成画像生成部と、検出部と、判定部と、制御部と、保存部とを備える。Ｘ線管は、Ｘ線を順次発生させる。Ｘ線絞りは、前記Ｘ線の照射範囲を制限する。記憶部は、第１の照射範囲に照射されたＸ線に基づく第１のＸ線画像を記憶する。合成画像生成部は、前記Ｘ線絞りによって前記第１の照射範囲より狭められた第２の照射範囲に照射されたＸ線に基づく第２のＸ線画像と、前記記憶部に記憶された前記第１のＸ線画像とを合成した合成画像を、前記第２のＸ線画像の取得に応じて順次生成する。検出部は、複数の前記第２のＸ線画像において略不動の特徴点を検出する。判定部は、順次取得される前記第２のＸ線画像において、前記特徴点の略不動の位置からの変化を判定する。制御部は、前記判定部による判定結果に応じて、前記Ｘ線の照射範囲を前記第２の照射範囲から前記第１の照射範囲へ拡大するように前記Ｘ線絞りを制御する。保存部は、前記Ｘ線の照射範囲を前記第１の照射範囲に拡大した状態で取得した新たな前記第１のＸ線画像を前記記憶部に記憶させる。

図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の構成の一例を示す図である。 図２は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置による処理の概要を説明するための図である。 図３は、第１の実施形態に係る検出機能による特徴点の検出の一例を示す図である。 図４は、第１の実施形態に係る略不動の特徴点の検出に用いる期間の一例を説明するための図である。 図５は、第１の実施形態に係る判定機能による処理の一例を説明するための図である。 図６Ａは、第１の実施形態に係る制御機能による照射範囲の制御の一例を示す図である。 図６Ｂは、第１の実施形態に係る制御機能による照射範囲の制御の一例を示す図である。 図７は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の処理手順を示すフローチャートである。 図８は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の処理手順を示すフローチャートである。

以下、添付図面を参照して、Ｘ線診断装置の実施形態を詳細に説明する。なお、本願に係るＸ線診断装置は、以下に示す実施形態に限定されるものではない。

（第１の実施形態）
まず、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の全体構成について説明する。図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００の構成の一例を示す図である。図１に示すように、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、高電圧発生器１１と、Ｘ線管（管球）１２と、Ｘ線絞り１３と、天板１４と、Ｃアーム（支持具）１５と、Ｘ線検出器１６と、Ｃアーム回転・移動機構１７と、天板移動機構１８と、Ｃアーム・天板機構制御回路１９と、絞り制御回路２０と、処理回路２１と、入力インターフェース２２と、ディスプレイ２３と、画像データ生成回路２４と、記憶回路２５と、画像処理回路２６とを有する。

図１に示すＸ線診断装置１００においては、各処理機能がコンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路２５へ記憶されている。Ｃアーム・天板機構制御回路１９、絞り制御回路２０、処理回路２１、画像データ生成回路２４、及び、画像処理回路２６は、記憶回路２５からプログラムを読み出して実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の各回路は、読み出したプログラムに対応する機能を有することとなる。

高電圧発生器１１は、処理回路２１による制御の下、高電圧を発生し、発生した高電圧をＸ線管１２に供給する。Ｘ線管１２は、高電圧発生器１１から供給される高電圧を用いて、Ｘ線を発生する。

Ｘ線絞り１３は、絞り制御回路２０による制御の下、Ｘ線管１２が発生したＸ線を、被検体Ｐの関心領域に対して選択的に照射されるように絞り込む。例えば、Ｘ線絞り１３は、スライド可能な４枚の絞り羽根を有する。Ｘ線絞り１３は、絞り制御回路２０による制御の下、これらの絞り羽根をスライドさせることで、開口の形状、サイズ、位置を任意に変化させる。このように、Ｘ線絞り１３によって開口のサイズ及び位置が調整されることで、Ｘ線検出器１６の検出面へのＸ線照射領域のサイズ及び位置が調整される。すなわち、Ｘ線管１２が発生したＸ線が、Ｘ線絞り１３の開口によって絞り込まれ、被検体Ｐに照射される。

例えば、Ｘ線絞り１３は、絞り制御回路２０の制御によって、Ｘ線管１２により発生されたＸ線の照射範囲を第１の照射範囲よりも狭い第２の照射範囲に制限する。ここで、第１の照射範囲は、例えば、Ｘ線絞り１３の開口が全開の状態のＸ線の照射範囲であり、第２の照射範囲は、Ｘ線絞り１３の絞り羽根がスライドすることで開口を狭められた状態のＸ線の照射範囲である。なお、Ｘ線絞り１３の絞り羽根は、例えば、操作者によって設定されたＲＯＩのみにＸ線が照射されるようにスライド移動される。また、Ｘ線絞り１３は、線質を調整するための付加フィルタを備えることができる。付加フィルタは、例えば、検査に応じて設定される。天板１４は、被検体Ｐを載せるベッドであり、図示しない寝台の上に配置される。なお、被検体Ｐは、Ｘ線診断装置１００に含まれない。

Ｘ線検出器１６は、被検体Ｐを透過したＸ線を検出する。例えば、Ｘ線検出器１６は、マトリックス状に配列された検出素子を有する。各検出素子は、被検体Ｐを透過したＸ線を電気信号に変換して蓄積し、蓄積した電気信号を画像データ生成回路２４に送信する。

Ｃアーム１５は、Ｘ線管１２、Ｘ線絞り１３及びＸ線検出器１６を保持する。Ｃアーム１５は、Ｃアーム回転・移動機構１７に設けられたモータにより、天板１４上に横臥する被検体Ｐの周りを回転する。ここで、Ｃアーム１５は、直交する３軸であるＸＹＺ軸に関してそれぞれ回転可能に支持されている。Ｘ線管１２及びＸ線絞り１３とＸ線検出器１６とは、Ｃアーム１５により被検体Ｐを挟んで対向するように配置される。なお、図１では、Ｘ線診断装置１００がシングルプレーンの場合を例に挙げて説明しているが、実施形態はこれに限定されるものではなく、バイプレーンの場合であってもよい。

Ｃアーム回転・移動機構１７は、Ｃアーム１５を回転及び移動させるための機構である。また、Ｃアーム回転・移動機構１７は、Ｘ線管１２とＸ線検出器１６との距離であるＳＩＤ（Source Image receptor Distance）を変更することも可能である。また、Ｃアーム回転・移動機構１７は、Ｃアーム１５に保持されているＸ線検出器１６を回転させることも可能である。天板移動機構１８は、天板１４を移動させるための機構である。

Ｃアーム・天板機構制御回路１９は、処理回路２１による制御の下、Ｃアーム回転・移動機構１７及び天板移動機構１８を制御することで、Ｃアーム１５の回転や移動、天板１４の移動を調整する。例えば、Ｃアーム・天板機構制御回路１９は、処理回路２１による制御の下、Ｃアーム１５を回転させながら所定のフレームレートで投影データを収集する回転撮影を制御することができる。絞り制御回路２０は、処理回路２１による制御の下、Ｘ線絞り１３が有する絞り羽根の開度を調整することで開口の形状、サイズ、位置を変化させ、被検体Ｐに対して照射されるＸ線の照射範囲を制御する。

画像データ生成回路２４は、Ｘ線検出器１６によってＸ線から変換された電気信号を用いて投影データを生成し、生成した投影データを記憶回路２５に格納する。例えば、画像データ生成回路２４は、Ｘ線検出器１６から受信した電気信号に対して、電流・電圧変換やＡ（Analog）／Ｄ（Digital）変換、パラレル・シリアル変換を行い、投影データを生成する。そして、画像データ生成回路２４は、生成した投影データを記憶回路２５に格納する。

記憶回路２５は、画像データ生成回路２４によって生成された投影データを受け付けて記憶する。また、記憶回路２５は、図１に示す各回路によって読み出されて実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。一例を挙げると、記憶回路２５は、処理回路２１によって読み出されて実行される制御機能２１１に対応するプログラム、合成画像生成機能２１２に対応するプログラム、検出機能２１３に対応するプログラム及び判定機能２１４に対応するプログラムを記憶する。なお、記憶回路２５は、記憶部の一例である。

画像処理回路２６は、後述する処理回路２１による制御のもと、記憶回路２５が記憶する投影データに対して各種画像処理を行うことでＸ線画像を生成する。或いは、画像処理回路２６は、後述する処理回路２１による制御のもと、画像データ生成回路２４から直接投影データを取得し、取得した投影データに対して各種画像処理を行うことでＸ線画像を生成する。なお、画像処理回路２６は、画像処理後のＸ線画像を、記憶回路２５に格納することも可能である。例えば、画像処理回路２６は、移動平均（平滑化）フィルタ、ガウシアンフィルタ、メディアンフィルタ、リカーシブフィルタ、バンドパスフィルタなどの画像処理フィルタによる各種処理を実行することが可能である。

例えば、画像処理回路２６は、第１の照射範囲に照射されたＸ線に基づく投影データに対して画像処理を施すことで、第１のＸ線画像を生成する。一例を挙げると、画像処理回路２６は、Ｘ線絞り１３の開口を全開にした状態で経時的に収集された投影データに対して順次画像処理を施すことで、複数の第１のＸ線画像を生成する。また、例えば、画像処理回路２６は、第１の照射範囲よりも狭い第２の照射範囲に照射されたＸ線に基づく投影データに対して画像処理を施すことで、第２のＸ線画像を生成する。一例を挙げると、画像処理回路２６は、Ｘ線絞り１３の開口がＲＯＩに合わせて調整された状態で経時的に収集された投影データに対して順次画像処理を施すことで、複数の第２のＸ線画像を生成する。

ここで、画像処理回路２６は、経時的に収集した複数の第１のＸ線画像のうち、時系列的に最後となるＸ線画像をラストイメージホールド画像（ＬＩＨ画像）として記憶回路２５に格納したり、複数の第１のＸ線画像を動画像として記憶回路２５に格納したりすることができる。なお、画像処理回路２６は、第２のＸ線画像についても、上記と同様に、記憶回路２５に格納することができる。

また、画像処理回路２６は、回転撮影によって収集された投影データから再構成データ（ボリュームデータ）を再構成して、再構成したボリュームデータを記憶回路２５に格納することもできる。さらに、画像処理回路２６は、ボリュームデータから３次元画像を生成することも可能である。例えば、画像処理回路２６は、ボリュームデータからボリュームレンダリング画像や、ＭＰＲ（Multi Planar Reconstruction）画像を生成する。そして、画像処理回路２６は、生成した３次元画像を記憶回路２５に格納する。なお、画像処理回路２６は、保存部の一例である。

入力インターフェース２２は、所定の領域（例えば、部分透視におけるＲＯＩ）などの設定などを行うためのトラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチスクリーン、光学センサを用いた非接触入力回路、及び音声入力回路等や、Ｘ線の照射などを行うためのフットスイッチ等によって実現される。

入力インターフェース２２は、処理回路２１に接続されており、操作者から受け付けた入力操作を電気信号へ変換し処理回路２１へと出力する。なお、本明細書において入力インターフェース２２は、マウス、キーボードなどの物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、装置とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェースの例に含まれる。ディスプレイ２３は、操作者の指示を受け付けるためのＧＵＩ（Graphical User Interface）や、画像処理回路２６によって生成された種々の画像を表示する。また、ディスプレイ２３は、処理回路２１による種々の処理結果を表示する。例えば、ディスプレイ２３は、処理回路２１によって生成された合成画像を表示する。

処理回路２１は、制御機能２１１、合成画像生成機能２１２、検出機能２１３及び判定機能２１４を実行することで、Ｘ線診断装置１００全体の動作を制御する。具体的には、処理回路２１は、装置全体を制御するための制御機能２１１に対応するプログラムを記憶回路２５から読み出して実行することにより、種々の処理を実行する。例えば、制御機能２１１は、入力インターフェース２２から転送された操作者の指示に従って高電圧発生器１１を制御し、Ｘ線管１２に供給する電圧を調整することで、被検体Ｐに対して照射されるＸ線量やＯＮ／ＯＦＦを制御する。また、例えば、制御機能２１１は、操作者の指示に従ってＣアーム・天板機構制御回路１９を制御し、Ｃアーム１５の回転や移動、天板１４の移動を調整する。

また、例えば、制御機能２１１は、操作者の指示に従って絞り制御回路２０を制御し、Ｘ線絞り１３が有する絞り羽根の開度を調整することで、被検体Ｐに対して照射されるＸ線の照射範囲を制御する。一例を挙げると、制御機能２１１は、部分透視に移行する指示を受け付けると、設定されたＲＯＩに応じた範囲にＸ線が照射されるように、絞り制御回路２０を制御し、Ｘ線絞り１３が有する絞り羽根の開度を調整する。また、制御機能２１１は、判定機能２１４による判定結果に応じて、絞り制御回路２０を制御し、Ｘ線絞り１３が有する絞り羽根の開度を調整する。この点については、後に詳述する。

また、制御機能２１１は、操作者の指示に従って、画像データ生成回路２４による投影データ生成処理や、画像処理回路２６による画像処理、あるいは解析処理などを制御する。また、制御機能２１１は、操作者の指示を受け付けるためのＧＵＩや記憶回路２５が記憶する画像、処理回路２１による処理結果などを、ディスプレイ２３に表示するように制御する。例えば、制御機能２１１は、合成画像をディスプレイ２３に表示するように制御する。

合成画像生成機能２１２は、Ｘ線絞り１３によって第１の照射範囲より狭められた第２の照射範囲に照射されたＸ線に基づく第２のＸ線画像と、記憶回路２５に記憶された第１のＸ線画像とを合成した合成画像を、第２のＸ線画像の取得に応じて順次生成する。具体的には、合成画像生成機能２１２は、部分透視に移行する指示に応じて、記憶回路２５に記憶された第１のＸ線画像と、第２のＸ線画像とを合成した合成画像を生成する。例えば、合成画像生成機能２１２は、第２のＸ線画像が生成されるごとに、ＬＩＨ画像のＲＯＩの位置に第２のＸ線画像を合成した合成画像を順次生成する。すなわち、合成画像生成機能２１２によって生成された合成画像を順次表示させると、ＲＯＩ内が動画像で示され、ＲＯＩ外が静止画像で示された部分透視画像が表示されることとなる。

検出機能２１３は、複数の第２のＸ線画像において略不動の特徴点を検出する。判定機能２１４は、順次取得される第２のＸ線画像において、特徴点の略不動の位置からの変化を判定する。なお、検出機能２１３及び判定機能２１４による処理については、後に詳述する。ここで、制御機能２１１は、制御部の一例である。また、合成画像生成機能２１２は、合成画像生成部の一例である。また、検出機能２１３は、検出部の一例である。また、判定機能２１４は、判定部の一例である。また、以下では、略不動の特徴点を不動点とも記載する。

以上、Ｘ線診断装置１００の全体構成について説明した。かかる構成のもと、本実施形態に係るＸ線診断装置１００は、部分透視を利用した手技の効率を向上させることを可能にする。上述したように、部分透視では、ＬＩＨ画像におけるＲＯＩについてリアルタイムの動画像が収集されて表示される。したがって、Ｃアームや天板が動かされたり、被検体が動いたりした場合に、ＬＩＨ画像とリアルタイムの動画像との位置がずれてしまい、術者の集中力低下や、誤診のおそれがある。そこで、Ｘ線診断装置１００は、動画像がずれた場合に、ＬＩＨ画像をずれた後の画像に更新することで、観察しやすい合成画像を表示させ、部分透視を利用した手技の効率を向上させる。

以下、Ｘ線診断装置１００における処理について説明する。図２は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００による処理の概要を説明するための図である。例えば、Ｘ線診断装置１００は、図２に示すように、第１の照射範囲Ｒ１にＸ線を照射することで収集したＬＩＨ画像に、Ｘ線の照射範囲を第２の照射範囲Ｒ２（ＲＯＩ）に制限して順次収集した複数の第２のＸ線画像を順次合成する部分透視を実施する。このとき、Ｘ線診断装置１００は、部分透視実施中に、ＲＯＩ内部（第２の照射範囲Ｒ２）の画像がずれたか否かを監視する。

ここで、ＲＯＩ内部が動いた場合（ＲＯＩ内部の画像がずれた場合）、Ｘ線診断装置１００は、画像の動きを認識して、Ｘ線絞り１３を一度全開する。そして、Ｘ線診断装置１００は、第１のＸ線画像を再度収集し、収集した第１のＸ線画像を記憶回路２５に格納する。すなわち、Ｘ線診断装置１００は、ＬＩＨ画像を更新する。その後、Ｘ線診断装置１００は、Ｘ線絞り１３を調整して、第２の照射範囲Ｒ２での第２のＸ線画像収集を再開する。そして、Ｘ線診断装置１００は、更新したＬＩＨ画像に第２のＸ線画像を合成する部分透視を再開する。

ここで、Ｘ線診断装置１００は、部分透視を再開する際の第２の照射範囲Ｒ２を元の位置に設定することもできるが、元の部分透視においてＲＯＩに含まれていた解剖学的な領域（ＲＯＩ内部が動く前に含まれていた領域）と略同一の領域が描出された第２のＸ線画像が収集されるように、第２の照射範囲Ｒ２の位置を設定することもできる。このように、本願に係るＸ線診断装置１００は、動画像がずれた場合に、ＬＩＨ画像をずれた後の画像に更新することで、観察しやすい合成画像を表示させ、部分透視を利用した手技の効率を向上させ、誤診を防止することができる。

以下、Ｘ線診断装置１００の処理の詳細について説明する。Ｘ線診断装置１００は、上述した処理を実行するため、部分透視における動画像のずれを検出する。具体的には、まず、検出機能２１３が、部分透視においてずれを検出するための特徴点を、ＲＯＩ内から検出する。ここで、検出機能２１３は、例えば、骨や体内に挿入された医療デバイスなど、心臓や肺、横隔膜などの動きの影響を受けない部位を特徴点として検出する。すなわち、検出機能２１３は、心臓などの動きに伴って動くことがない部位を特徴点として検出する。

図３は、第１の実施形態に係る検出機能２１３による特徴点の検出の一例を示す図である。例えば、検出機能２１３は、図３に示すように、第２の照射範囲Ｒ２（ＲＯＩ）に含まれる脊椎における特徴点「Ｐ１～Ｐ５」を検出する。ここで、検出機能２１３は、ＲＯＩ内の画像に対する脊椎モデルとのパターンマッチングや、解剖学的なランドマークに基づく検出、或いは、骨に相当する輝度値を有する領域のエッジ部分の抽出など、種々の方法によって特徴点を検出することができる。

そして、検出機能２１３は、検出した特徴点のうち、実際に動いていない特徴点を略不動の特徴点として検出する。すなわち、検出機能２１３は、心臓などの動きに伴って動くことがないと考えられる部位であり、かつ、手技を実施している際に実際に動いていない部分をずれ検出のための特徴点として検出する。具体的には、検出機能２１３は、複数の第２のＸ線画像において、指定された期間に亘って第２の照射範囲Ｒ２における位置の変化が閾値未満である特徴点を略不動の特徴点として検出する。ここで、検出機能２１３は、指定された期間として、例えば、１心拍に対応する期間、１呼吸に対応する期間、及び、横隔膜の動きの１周期分に対応する期間のうち少なくとも１つを用いる。

図４は、第１の実施形態に係る略不動の特徴点の検出に用いる期間の一例を説明するための図である。ここで、図４においては、心拍に関する期間を用いる場合について示す。例えば、検出機能２１３は、図４に示すように、ＥＣＧ（Electrocardiogram）波形において１心拍に相当する期間「Ｔ_HR」に亘って、位置の変化が閾値未満である特徴点を略不動の特徴点として検出する。一例を挙げると、検出機能２１３は、期間「Ｔ_HR」に相当する複数のフレームについて、特徴点「Ｐ１～Ｐ５」を検出して、位置の変化量を算出する。そして、検出機能２１３は、算出した変化量が閾値を超えていない特徴点を、略不動の特徴点として検出する。

これにより、検出機能２１３は、最初に検出した特徴点のうち、拍動に伴って動いてしまう特徴点を確実に除外することができる。例えば、略不動の特徴点の検出に用いる期間を拡張期に相当する期間「Ｔ_S」よりも短く設定した場合、拍動における動きがほとんどない期間で略不動の特徴点を判別する可能性もある。かかる場合には、実際には拍動に伴って動いてしまう部位が、誤って略不動の特徴点として検出されてしまう可能性がある。そこで、検出機能２１３は、略不動の特徴点の検出に心拍を基準とした期間を用いる場合、例えば、被検体の１心拍に対応する期間を用いる。

ここで、検出機能２１３は、略不動の特徴点の検出に用いる期間として、１心拍に相当する期間だけではなく、例えば、拡張期に相当する期間「Ｔ_S」を用いる場合であってもよい。一例を挙げると、検出機能２１３は、拡張期に相当する期間「Ｔ_S」以上の期間に亘って、位置の変化が閾値未満である特徴点を略不動の特徴点として検出する。すなわち、検出機能２１３は、周期的に動く部位において動きの少ない期間以上の期間に亘って、位置の変化が閾値未満である特徴点を略不動の特徴点として検出する。

なお、期間の設定に用いるＥＣＧは、術中にリアルタイムで取得される場合であってもよく、或いは、術前に予め取得される場合であってもよい。例えば、術中にリアルタイムで取得する場合、Ｘ線診断装置１００は、被検体から取得したＥＣＧと同期してＲＯＩ内のＸ線画像を収集し、収集したＸ線画像のうち、１心拍分以上のフレーム、或いは、拡張期に相当する期間「Ｔ_S」以上のフレームを用いて略不動の特徴点を検出する。また、術中にリアルタイムでＥＣＧを取得する場合、検出機能２１３は、収縮期に相当するフレームを用いて略不動の特徴点を検出することもできる。例えば、検出機能２１３は、ＥＣＧと同期して収集しているフレームのうち収縮期に相当する複数のフレームを取得し、取得した複数のフレームについて特徴点「Ｐ１～Ｐ５」を検出して、位置の変化量を算出する。そして、検出機能２１３は、算出した変化量が閾値を超えていない特徴点を、略不動の特徴点として検出する。

また、例えば、ＥＣＧが術前に予め取得されている場合、Ｘ線診断装置１００は、ＥＣＧから１心拍分の時間、或いは、拡張期に相当する時間を取得し、取得した時間以上に相当する数のフレームを用いて略不動の特徴点を検出する。

なお、検出機能２１３は、ＲＯＩのＸ線画像内から複数の略不動の特徴点を検出する。上述したように、ＬＩＨ画像とＲＯＩ内の動画像との位置がずれは、Ｃアームや天板が動かされたり、被検体が動いたりした場合などに生じる。したがって、ＬＩＨ画像とＲＯＩ内の動画像との位置のずれをより正確に検出するために、検出機能２１３は、ＲＯＩのＸ線画像内から複数の略不動の特徴点を検出する。

ここで、検出機能２１３は、略不動の特徴点の検出に不動点マップ（不動点画像）を作成することができる。例えば、検出機能２１３は、順次生成されるＲＯＩのフレームのうち、不動点の検出に用いる期間に相当するフレームを順次加算した不動点マップを生成する。かかる場合には、例えば、検出機能２１３は、加算した後の特徴点の輝度値が閾値以上の値をとる特徴点を、不動点として検出する。

また、検出機能２１３は、順次生成されるフレームからそれぞれ特徴点を検出して、それらのフレームにおける特徴点を含めた不動点マップを生成することもできる。かかる場合には、検出機能２１３は、各フレームにおいて検出した特徴点のうち、フレーム間での移動量が閾値を超えた特徴点を除外するように不動点マップを生成する。すなわち、検出機能２１３は、不動点の検出に用いる期間に相当する複数のフレームにおいて、移動量が閾値を超えない特徴点のみを含む不動点マップを生成する。

図１に戻って、判定機能２１４は、順次取得される第２のＸ線画像において、特徴点の略不動の位置からの変化を判定する。具体的には、判定機能２１４は、複数の第２のＸ線画像間において、特徴点の略不動の位置からの変化量が閾値を超えたか否かを判定する。例えば、判定機能２１４は、検出機能２１３によって作成された不動点マップと、部分透視を実施している際に新たに収集されたＲＯＩのフレームとを比較して、不動点マップに含まれる不動点からの位置の変化量が閾値を超えた場合に、ＬＩＨ画像とＲＯＩのＸ線画像とがずれたと判定する。

図５は、第１の実施形態に係る判定機能２１４による処理の一例を説明するための図である。ここで、図５は、特徴点「Ｐ１～Ｐ５」が不動点として検出された場合の例を示すものであり、図５上段は、ＲＯＩ内外の画像のずれが生じる前の状態を示し、図５下段は、ＲＯＩ内外の画像のずれが生じた後の状態を示す。例えば、判定機能２１４は、図５の上段に示すように、特徴点「Ｐ１～Ｐ５」を含む不動点マップを第２の照射範囲Ｒ２のＸ線画像と比較して、ＲＯＩのＸ線画像にずれが生じたか否かを判定する。例えば、判定機能２１４は、不動点として検出された特徴点「Ｐ１～Ｐ５」のうち、少なくとも１つの特徴点の位置の変化量が閾値を超えた場合に、ＲＯＩのＸ線画像にずれが生じたと判定する。ここで、「特徴点の位置の変化量」としては、特徴点の位置の変位ベクトルの大きさのほか、特徴点の位置の変位ベクトルの成分の絶対値のうち大きい方など、特徴点の位置の変化の度合いを示す様々な値を採用することができる。

そして、判定機能２１４は、ＲＯＩのＸ線画像にずれが生じたと判定した場合、Ｘ線画像のずれ量を算出する。例えば、判定機能２１４は、ＲＯＩのＸ線画像において検出された特徴点を不動点マップにおいて対応する不動点と一致させるアフィン変換を特定する。一例を挙げると、判定機能２１４は、図５に示すように、ＲＯＩのＸ線画像において検出された特徴点「Ｐ１～Ｐ５」が、不動点マップ上の不動点に一致するようなアフィン変換を特定する。

ＲＯＩのＸ線画像にずれが生じたと判定されると、制御機能２１１は、第２の照射範囲における不動の特徴点の位置の変化の判定結果に応じて、Ｘ線の照射範囲を第２の照射範囲から第１の照射範囲へ拡大するようにＸ線絞り１３を制御する。具体的には、制御機能２１１は、特徴点の略不動の位置からの変化量が閾値を超えた場合に、Ｘ線の照射範囲を第２の照射範囲から第１の照射範囲へ拡大するようにＸ線絞り１３（絞り制御回路２０）を制御する。例えば、制御機能２１１は、Ｘ線絞り１３を全開にするように絞り制御回路２０を制御することで、ＲＯＩに制限されているＸ線の照射範囲（第２の照射範囲Ｒ２）を第１の照射範囲Ｒ１に拡大させる。

そして、制御機能２１１は、Ｘ線絞り１３を制御した後、Ｘ線画像を収集して記憶回路２５に格納する。すなわち、制御機能２１１は、Ｘ線絞り１３が全開にされた状態で再度Ｘ線画像を収集して、収集したＸ線画像を記憶回路２５に格納する。換言すると、制御機能２１１は、ＬＩＨ画像を更新する。これにより、合成画像生成機能２１２は、新たに格納されたＸ線画像を用いて、以降の合成画像を生成することとなる。

そして、制御機能２１１は、Ｘ線の照射範囲を第１の照射範囲に拡大した状態で新たな第１のＸ線画像が取得された後、Ｘ線の照射範囲が第２の照射範囲に制限されるようにＸ線絞り１３を制御する。例えば、制御機能２１１は、ＬＩＨ画像を更新した後、再度、Ｘ線の照射範囲を第２の照射範囲Ｒ２に制限するために、Ｘ線絞り１３を制御する。すなわち、制御機能２１１は、ＬＩＨ更新前の照射範囲と同一の範囲にＸ線が照射されるように、Ｘ線絞り１３を制御する。

また、制御機能２１１は、Ｘ線の照射範囲を再度制限する際に、ＲＯＩ内での不動点の位置の変化に基づいて照射範囲を変更することもできる。具体的には、制御機能２１１は、Ｘ線の照射範囲を第１の照射範囲に拡大した状態で新たな第１のＸ線画像が取得された後、特徴点の略不動の位置からの変化量に基づいて第２の照射範囲を移動させた範囲に、Ｘ線の照射範囲が制限されるようにＸ線絞り１３を制御する。

図６Ａ及び図６Ｂは、第１の実施形態に係る制御機能２１１による照射範囲の制御の一例を示す図である。ここで、図６Ａ及び図６Ｂは、図５に示すように特徴点「Ｐ１～Ｐ５」の位置が変化した場合の制御の一例について示す。例えば、制御機能２１１は、図６Ａに示すように、判定機能２１４によって特定されたアフィン変換の逆変換により、第２の照射範囲Ｒ２の位置を移動させた照射領域Ｒ３を新たなＲＯＩとして設定する。そして、制御機能２１１は、設定したＲＯＩにＸ線の照射が制限されるように、Ｘ線絞り１３を制御する。この場合、絞り制御回路２０は、アフィン変換の逆変換を構成する平行移動に基づいてＸ線絞り１３の絞り羽根を移動させることによりＲＯＩの中心を移動させ、さらに、アフィン変換の逆変換を構成する線形変換に基づいてＸ線絞り１３全体を回転させることによりＲＯＩを回転させる。

また、例えば、制御機能２１１は、図６Ｂに示すように、判定機能２１４によって特定されたアフィン変換の逆変換に基づいて、第２の照射範囲Ｒ２の中心の位置を移動させた照射領域Ｒ４を新たなＲＯＩとして設定する。そして、制御機能２１１は、設定したＲＯＩにＸ線の照射が制限されるように、Ｘ線絞り１３を制御する。この場合、絞り制御回路２０は、アフィン変換の逆変換を構成する平行移動に基づいてＸ線絞り１３の絞り羽根を移動させることによりＲＯＩの中心を移動させる。

合成画像生成機能２１２は、新たに設定されたＲＯＩにＸ線を照射することで収集されたＸ線画像を、更新されたＬＩＨ画像に合成した合成画像を生成する。ここで、合成画像生成機能２１２は、更新されたＬＩＨ画像において新たに設定されたＲＯＩの位置（例えば、照射領域Ｒ３又は照射領域Ｒ４）に、ＲＯＩにおいて順次生成されるＸ線画像を合成した合成画像を順次生成する。制御機能２１１は、順次生成された合成画像をディスプレイ２３にて表示させる。

次に、図７、８を用いて、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００の処理について説明する。図７、８は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００の処理手順を示すフローチャートである。ここで、図８は、図７におけるステップＳ１０５における詳細な処理を示す。図７に示すステップＳ１０１～１０４、１０８～１１０は、処理回路２１が記憶回路２５から制御機能２１１に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。また、ステップＳ１０４は、処理回路２１が記憶回路２５から合成画像生成機能２１２に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。また、ステップＳ１０５は、処理回路２１が記憶回路２５から検出機能２１３に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。また、ステップＳ１０６、１０７は、処理回路２１が記憶回路２５から判定機能２１４に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。また、図８に示すステップＳ１０５１～１０５５は、処理回路２１が記憶回路２５から検出機能２１３に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。

例えば、図７に示すように、処理回路２１は、経時的にＸ線画像を収集して表示して（ステップＳ１０１）、ＲＯＩを受け付けたか否かを判定する（ステップＳ１０２）。ここで、ＲＯＩを受け付けると（部分透視の実施指示を受け付けると）（ステップＳ１０２肯定）、処理回路２１は、Ｘ線の照射範囲をＲＯＩに制限して、Ｘ線画像を収集して（ステップＳ１０３）、ＬＩＨ画像にＲＯＩのＸ線画像を合成した合成画像を生成して表示する（ステップＳ１０４）。

そして、処理回路２１は、ＲＯＩ内の不動点を抽出して（ステップＳ１０５）、ＲＯＩ内の不動点の位置の変化を監視する（ステップＳ１０６）。さらに、処理回路２１は、不動点の位置が変化したか否かを判定する（ステップＳ１０７）。ここで、不動点の位置が変化している場合には（ステップＳ１０７肯定）、処理回路２１は、Ｘ線絞り１３を全開にしてＸ線画像を収集して（ステップＳ１０８）、ＬＩＨ画像を更新する（ステップＳ１０９）。そして、処理回路２１は、ステップＳ１０３に戻って、Ｘ線の照射範囲をＲＯＩに絞ってＸ線画像を収集する。

一方、不動点の位置が変化していない場合には（ステップＳ１０７否定）、処理回路２１は、終了操作を受け付けたか否かを判定して（ステップＳ１１０）、終了操作を受け付けていない場合には（ステップＳ１１０否定）、ＲＯＩ内の不動点の位置の変化の監視を継続する。一方、終了操作を受け付けた場合には（ステップＳ１１０肯定）、処理回路２１は、処理を終了する。

また、例えば、図８に示すように、処理回路２１は、ＲＯＩのＸ線画像を取得して（ステップＳ１０５１）、画像内の特徴点を抽出する（ステップＳ１０５２）。そして、処理回路２１は、所定数のフレームについて特徴点を抽出したか否かを判定する（ステップＳ１０５３）。ここで、所定数のフレームについて特徴点を抽出した場合（ステップＳ１０５３肯定）、処理回路２１は、所定のフレームに亘って、位置が変化していない特徴点を不動点として抽出する（ステップＳ１０５４）。

一方、所定数のフレームについて特徴点を抽出していない場合（ステップＳ１０５３否定）、処理回路２１は、ステップＳ１０５１に戻って、ＲＯＩのＸ線画像を取得する。ステップＳ１０５４において、不動点を抽出すると、処理回路２１は、所定数以上の不動点の位置を抽出したか否かを判定する（ステップＳ１０５５）。

ここで、所定数以上の不動点の位置を抽出した場合（ステップＳ１０５５肯定）、処理回路２１は、不動点の検出処理を終了する。一方、所定数以上の不動点の位置を抽出していない場合（ステップＳ１０５５肯定）、処理回路２１は、ステップＳ１０５１に戻って、ＲＯＩのＸ線画像を取得する。

上述したように、第１の実施形態によれば、Ｘ線管１２は、Ｘ線を順次発生させる。Ｘ線絞り１３は、Ｘ線の照射範囲を制限する。記憶回路２５は、第１の照射範囲に照射されたＸ線に基づく第１のＸ線画像を記憶する。合成画像生成機能２１２は、Ｘ線絞り１３によって第１の照射範囲より狭められた第２の照射範囲に照射されたＸ線に基づく第２のＸ線画像と、記憶回路２５に記憶された第１のＸ線画像とを合成した合成画像を、第２のＸ線画像の取得に応じて順次生成する。検出機能２１３は、複数の第２のＸ線画像において略不動の特徴点を検出する。判定機能２１４は、順次取得される第２のＸ線画像において、特徴点の略不動の位置からの変化を判定する。制御機能２１１は、判定機能２１４による判定結果に応じて、Ｘ線の照射範囲を第２の照射範囲から第１の照射範囲へ拡大するようにＸ線絞り１３を制御する。また、制御機能２１１は、Ｘ線の照射範囲を第１の照射範囲に拡大した状態で取得した新たな第１のＸ線画像を記憶回路２５に記憶させる。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、不動点の位置の変化に応じてＬＩＨ画像を更新することができ、部分透視を利用した手技の効率を向上させることを可能にする。

また、第１の実施形態によれば、検出機能２１３は、複数の第２のＸ線画像において、指定された期間に亘って第２の照射範囲における位置の変化が閾値未満である特徴点を略不動の特徴点として検出する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、実際に不動の特徴点を検出することができ、より正確な処理を実施することを可能にする。

また、第１の実施形態によれば、検出機能２１３は、指定された期間として、１心拍に対応する期間、１呼吸に対応する期間、及び、横隔膜の動きの１周期分に対応する期間のうち少なくとも１つを用いる。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、動きを伴う臓器（部位）の動きの周期に応じた期間で特徴点を判定することを可能にする。

また、第１の実施形態によれば、判定機能２１４は、複数の第２のＸ線画像間において、特徴点の略不動の位置からの変化量が閾値を超えたか否かを判定する。制御機能２１１は、特徴点の略不動の位置からの変化量が閾値を超えた場合に、Ｘ線の照射範囲を第２の照射範囲から第１の照射範囲へ拡大するようにＸ線絞りを制御する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、位置ずれを自動で検出することを可能にする。

また、第１の実施形態によれば、制御機能２１１は、Ｘ線の照射範囲を第１の照射範囲に拡大した状態で新たな第１のＸ線画像が取得された後、Ｘ線の照射範囲が第２の照射範囲に制限されるようにＸ線絞り１３を制御する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、部分透視に自動で復帰することを可能にする。

また、第１の実施形態によれば、制御機能２１１は、Ｘ線の照射範囲を第１の照射範囲に拡大した状態で新たな第１のＸ線画像が取得された後、特徴点の略不動の位置からの変化量に基づいて第２の照射範囲を移動させた範囲に、Ｘ線の照射範囲が制限されるようにＸ線絞り１３を制御する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、位置ずれを考慮した部分透視に自動で復帰することを可能にする。

（第２の実施形態）
さて、これまで第１の実施形態について説明したが、上述した第１の実施形態以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。

上述した第１の実施形態では、合成画像のＲＯＩ以外の領域にＬＩＨ画像（静止画）を用いた合成画像について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、例えば、合成画像のＲＯＩ以外の領域に動画像を用いた合成画像が生成される場合であってもよい。例えば、制御機能２１１は、Ｘ線絞り１３を全開で心臓を含む領域のＸ線画像を、ＥＣＧに同期して動画像で収集し、収集した動画像のうち、１心拍分のフレームを取得する。そして、制御機能２１１は、Ｘ線の照射範囲をＲＯＩに制限して、ＥＣＧに同期して複数のフレームを収集する。さらに、合成画像生成機能２１２は、Ｘ線絞り１３を全開で収集したフレームとＲＯＩのフレームとを、心位相に基づいて対応付けて、合成画像を順次生成する。制御機能２１１は、生成された合成画像を順次表示させることで、表示領域全面が動画像の部分透視を実施することができる。

また、上述した実施形態では、心拍の周期に基づく期間を用いて不動の特徴点を検出する場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、例えば、呼吸の周期や、横隔膜の動きの周期に基づく期間を用いて不動の特徴点を検出する場合であってもよい。不動の特徴点の検出に用いる期間は、手技対象の部位や、手技内容に応じて適宜設定させることができる。

また、上述した実施形態では、不動の特徴点として、脊椎における特徴点を用いる場合を例に挙げて説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、例えば、種々の医療デバイスにおける特徴点が用いられる場合であってもよい。一例を挙げると、経食道プローブや、カテーテルを挿入する際に用いられるシース、或いは、外科手術とのハイブリッド手技が実施されている際に利用される種々の器具などにおける特徴点を不動の特徴点として用いる場合であってもよい。

上述した実施形態では、単一の処理回路（処理回路２１）によって各処理機能が実現される場合の例を説明したが、実施形態はこれに限られない。例えば、処理回路２１は、複数の独立したプロセッサを組み合わせて構成され、各プロセッサが各プログラムを実行することにより各処理機能を実現するものとしても構わない。また、処理回路２１が有する各処理機能は、単一又は複数の処理回路に適宜に分散又は統合されて実現されてもよい。

なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路２５に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。或いは、当該プロセッサがＡＳＩＣ等である場合にあっては、プログラムを用いずに回路構成のみを以って機能を実現する。なお、記憶回路２５にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。

ここで、プロセッサによって実行されるプログラムは、ＲＯＭ（Read Only Memory）や記憶部等に予め組み込まれて提供される。なお、このプログラムは、これらの装置にインストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでＣＤ（Compact Disk）－ＲＯＭ、ＦＤ（Flexible Disk）、ＣＤ－Ｒ（Recordable）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）等のコンピュータで読み取り可能な非一過性の記憶媒体に記憶されて提供されてもよい。また、このプログラムは、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納され、ネットワーク経由でダウンロードされることにより提供又は配布されてもよい。例えば、このプログラムは、後述する各機能部を含むモジュールで構成される。実際のハードウェアとしては、ＣＰＵが、ＲＯＭ等の記憶媒体からプログラムを読み出して実行することにより、各モジュールが主記憶装置上にロードされて、主記憶装置上に生成される。

また、上述した実施形態で図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行われる各処理機能は、その全部または任意の一部が、ＣＰＵおよび当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、或いは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。

以上説明したとおり、少なくとも１つの実施形態によれば、部分透視を利用した手技の効率を向上させることを可能にする。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

２１ 処理回路
２５ 記憶回路
１００ Ｘ線診断装置
２１１ 制御機能
２１２ 合成画像生成機能
２１３ 検出機能
２１４ 判定機能

Claims (6)

1. Ｘ線を順次発生させるＸ線管と、
   前記Ｘ線の照射範囲を制限するＸ線絞りと、
   第１の照射範囲に照射されたＸ線に基づく第１のＸ線画像を記憶する記憶部と、
   前記Ｘ線絞りによって前記第１の照射範囲より狭められた第２の照射範囲に照射されたＸ線に基づく第２のＸ線画像と、前記記憶部に記憶された前記第１のＸ線画像とを合成した合成画像を、前記第２のＸ線画像の取得に応じて順次生成する合成画像生成部と、
   複数の前記第２のＸ線画像に含まれる被検体の部位において、指定された期間に亘って前記第２の照射範囲における位置の変化が閾値未満の部位である略不動の特徴点を検出する検出部と、
   順次取得される前記第２のＸ線画像において、前記特徴点の略不動の位置からの変化を判定する判定部と、
   前記判定部による判定結果に応じて、前記Ｘ線の照射範囲を前記第２の照射範囲から前記第１の照射範囲へ拡大するように前記Ｘ線絞りを制御する制御部と、
   前記Ｘ線の照射範囲を前記第１の照射範囲に拡大した状態で取得した新たな前記第１のＸ線画像を前記記憶部に記憶させる保存部と、
   を備える、Ｘ線診断装置。
2. 前記検出部は、前記指定された期間として、１心拍に対応する期間、１呼吸に対応する期間、及び、横隔膜の動きの１周期分に対応する期間のうち少なくとも１つを用いる、請求項１に記載のＸ線診断装置。
3. 前記判定部は、前記複数の第２のＸ線画像間において、前記特徴点の略不動の位置からの変化量が閾値を超えたか否かを判定し、
   前記制御部は、前記特徴点の略不動の位置からの変化量が閾値を超えた場合に、前記Ｘ線の照射範囲を前記第２の照射範囲から前記第１の照射範囲へ拡大するように前記Ｘ線絞りを制御する、請求項１又は２に記載のＸ線診断装置。
4. 前記制御部は、前記Ｘ線の照射範囲を前記第１の照射範囲に拡大した状態で前記新たな第１のＸ線画像が取得された後、前記Ｘ線の照射範囲が前記第２の照射範囲に制限されるように前記Ｘ線絞りを制御する、請求項１～３のいずれか１つに記載のＸ線診断装置。
5. 前記制御部は、前記Ｘ線の照射範囲を前記第１の照射範囲に拡大した状態で前記新たな第１のＸ線画像が取得された後、前記特徴点の略不動の位置からの変化量に基づいて前記第２の照射範囲を移動させた範囲に、前記Ｘ線の照射範囲が制限されるように前記Ｘ線絞りを制御する、請求項３に記載のＸ線診断装置。
6. Ｘ線を順次発生させるＸ線管と、
   前記Ｘ線の照射範囲を制限するＸ線絞りと、
   第１の照射範囲に照射されたＸ線に基づく第１のＸ線画像を記憶する記憶部と、
   前記Ｘ線絞りによって前記第１の照射範囲より狭められた第２の照射範囲に照射されたＸ線に基づく第２のＸ線画像と、前記記憶部に記憶された前記第１のＸ線画像とを合成した合成画像を、前記第２のＸ線画像の取得に応じて順次生成する合成画像生成部と、
   複数の前記第２のＸ線画像において、１心拍に対応する期間、１呼吸に対応する期間、及び、横隔膜の動きの１周期分に対応する期間のうち少なくとも１つの期間に亘って前記第２の照射範囲における位置の変化が閾値未満の特徴点である略不動の特徴点を検出する検出部と、
   順次取得される前記第２のＸ線画像において、前記特徴点の略不動の位置からの変化を判定する判定部と、
   前記判定部による判定結果に応じて、前記Ｘ線の照射範囲を前記第２の照射範囲から前記第１の照射範囲へ拡大するように前記Ｘ線絞りを制御する制御部と、
   前記Ｘ線の照射範囲を前記第１の照射範囲に拡大した状態で取得した新たな前記第１のＸ線画像を前記記憶部に記憶させる保存部と、
   を備える、Ｘ線診断装置。

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