JP7074834B2 - 臨床診断システムの維持管理の自動化方法 - Google Patents
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Description
本開示の実施形態は、特定の利点または機能に限定されないが、本開示は、サンプル処理スループットを不必要に損なうことなくシステムの分析性能を保証することができ、システムダウンタイムを最小化することができる方法を提供することに留意されたい。別の利点は、QC準拠状態を維持するために、オペレータおよび/または外部サービス担当者による手動介入の必要性が最小限に抑えられることである。もう1つの利点は、システムを自動的に監視し、必要な場合にのみ必要な範囲で(予防保守手順とは対照的に)保守手順を実行することにより、機器部品の寿命および使用を延長し、ダウンタイムをさらに最小限に抑えることができることである。
特に、一実施形態によると、方法は、1つまたは複数の所定の閾値を下回る、IS洗浄手順中またはISおよび/またはMSベイクアウト手順中に得られたm/zスペクトルにおける1つまたは複数の所定のパラメータの戻りを判定すると、IS洗浄手順またはISおよび/またはMSベイクアウト手順を中断することを含む。
例えば、8~260のm/z周期で繰り返される周期的信号は、ポリマー(それらの繰り返しのモノマー単位によって認識され得る)または、例えば、クラスタ、例えば、CsIクラスタのいずれかに特徴的であり得る。
Claims (10)
- イオン化源(IS)(30)を介して液体クロマトグラフィ(LC)(20)に結合された質量分析計(MS)(40)を含む分析システム(100)をQC準拠状態に維持する自動化された方法であって、前記方法は、
-1つまたは複数の所定の閾値を超えるm/zスペクトル(11)内の1つまたは複数の所定のパラメータ(1、2)の逸脱を判定することにより、QC準拠状態からの前記分析システム(100)の逸脱を判定することと、
-前記QC準拠状態からの逸脱を判定するとき、ISおよび/またはMS保守手順(12)をトリガすることと、
-前記1つまたは複数の所定の閾値を下回るm/zスペクトル(14、16)において、前記1つまたは複数の所定のパラメータ(1、2)のそれぞれの戻りまたは戻りの失敗を判定することによって、前記ISおよび/またはMS保守手順(12)中および/または後に前記QC準拠状態への戻りまたは戻りの失敗を判定する(13)ことと、
-前記QC準拠状態への戻りの失敗と判定した場合に、別のISおよび/またはMS保守手順(15)をトリガすること、
を含み、
前記ISおよび/またはMS保守手順(12、15)が、
-前記IS(30)への液体注入を含むIS洗浄手順(17)と、
-IS(30)またはIS(30)部品および/またはMS(40)部品の温度の上昇を含む前記ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)と、
-介入手順(19)であって、前記IS(30)またはIS(30)部品および/またはMS(40)部品の手動洗浄および/または修理および/または交換を含み、手動介入の前の前記IS(30)および/またはMS(40)温度の自動減少と、手動介入後の前記IS(30)および/またはMS(40)温度の自動上昇、および/または手動介入前の前記IS(30)および/またはMS(40)の真空状態の自動低下または除去と、手動介入後の前記IS(30)および/またはMS(40)の真空状態の自動再確立とを含む、介入手順(19)と、
のうちの任意の1つまたは複数である
方法。 - 前記1つまたは複数の所定のパラメータ(1、2)が、1つまたは複数のm/zピークの形状または領域、信号/ノイズ比、m/zピーク高さ、m/zピーク高さの比、バックグラウンド信号強度、ピーク最大値のm/z値、m/z質量位置、1つまたは複数の予期しないm/zピークの存在、前記1つまたは複数の予期しないm/zピークの高さのいずれか1つまたは複数である、請求項1に記載の自動化方法。
- 前記ISおよび/またはMS保守手順(12、15)が、
-前記IS(30)および/またはMS(40)の温度を下げるためのガス流量の自動増加と、
-電源からの前記IS(30)および/またはMS(40)の自動切断と、
-自動インターロックの活性化/不活性化による前記IS(30)および/またはMS(40)への手動アクセスの自動有効化/無効化と、
-前記IS(30)および/またはMS(40)の真空状態の自動変更と、
のうちの任意の1つまた複数をさらに含む、請求項1に記載の自動化方法。 - 前記1つまたは複数の所定の閾値を下回る、前記IS洗浄手順(17)中または前記ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)中に得られたm/zスペクトル(16)における前記1つまたは複数の所定のパラメータの戻りを判定する(13)際に、前記IS洗浄手順(17)または前記ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)を中断
することを含む、請求項1または3に記載の自動化方法。 - 前記IS洗浄手順(17)中または後の、前記QC準拠状態への戻りの失敗を判定する(13)際に、同じまたは異なる条件下で、前記IS洗浄手順(17)の繰り返しをトリガすること、または、ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)中または後に、前記QC準拠状態への戻りの失敗を判定する(13)際に、同じまたは異なる条件下で、前記ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)の繰り返しをトリガすること、を含む、請求項1または3に記載の自動化方法。
- 前記IS洗浄手順(17)中または後に、前記QC準拠状態への戻りの失敗を判定する(13)際に、前記IS洗浄手順(17)後に、前記ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)をトリガすることを含む、請求項1または3に記載の自動化方法。
- 前記IS洗浄手順(17)および/または前記ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)中または後に、前記QC準拠状態への戻りの失敗を判定する(13)際に、前記IS洗浄手順(17)および/または前記ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)後に、前記介入手順(19)をトリガすることを含む、請求項1または3に記載の自動化方法。
- -前記IS洗浄手順(17)をトリガするために、前記1つまたは複数の所定のパラメータ(1、2)の前記逸脱に対して第1の閾値(TS1)を設定することと、
-前記ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)をトリガするために、前記1つまたは複数の所定のパラメータ(1、2)の前記逸脱に対して第2の閾値(TS2)を設定することと、
-前記介入手順(19)をトリガするために、前記1つまたは複数の所定のパラメータ(1、2)の前記逸脱に対して第3の閾値(TS3)を設定すること、
をさらに含む、
前記第3の閾値(TS3)は 前記第2の閾値(TS2)よりも高く、前記第2の閾値(TS2)は前記第1の閾値(TS1)よりも高い、請求項1または3に記載の自動化方法。 - 前記IS洗浄手順(17)中または後に、前記QC準拠状態への戻りの失敗を判定する(13)際に、前記ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)をトリガすること、および/または、
前記ISおよび/またはMSベイクアウト手順(18)中または後に、前記QC準拠状態への戻りの失敗を判定する(13)際に、前記介入手順(19)をトリガすること
を含む、請求項8に記載の自動化方法。 - 分析システム(100)であって、
-液体クロマトグラフィ(LC)モジュール(20)と、
-イオン化源(IS)(30)を介して前記LCモジュール(20)に結合された質量分析計(MS)モジュール(40)と、
-命令を記憶するメモリ(9)に接続されたプロセッサ(10)であって、前記命令は前記プロセッサ(10)によって実行されると、前記プロセッサ(10)に、請求項1から9のいずれか一項に記載の自動化された方法を実行させるプロセッサ、
を備える分析システム。
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