JP7052729B2 - 反射/透過特性測定装置 - Google Patents
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Description
1.1 分光測色計
図1は、第1実施形態の分光測色計を図示するブロック図である。
図2は、第1実施形態の分光測色計に記憶されるテーブルを示す図である。
図3は、光源がキセノン管である場合の光源の発光光量の発光回路の温度による変化を図示するグラフである。
図4は、第1実施形態の分光測色計において行われる白色校正の手順を図示するフローチャートである。
図5は、第1実施形態の分光測色計において行われる測定の手順を図示するフローチャートである。
1060 光源
1061 発光回路
1062 光検出器
1063 積分器
1064 A/D変換器
1065 制御演算部
1066 記憶部
1067 温度検出器
1068 表示部
1190 演算処理部
Claims (3)
- 試料に照射される照明光を発光する光源と、
前記照明光を発光するのに要する電力を前記光源に供給する発光回路と、
前記試料が前記照明光を反射することにより生じる反射光または前記試料が前記照明光を透過させることにより生じる透過光に応じた検出信号を出力する光検出器と、
前記検出信号を積分し積分信号を出力する積分器と、
少なくともひとつの発光時間を記憶する記憶部と、
白色校正が行われる場合に前記積分信号が第1の積分信号となっており測定が行われる場合に前記積分信号が第2の積分信号になっているとした場合に、(1)前記白色校正が行われるときに、前記少なくともひとつの発光時間に含まれる第1の発光時間だけ前記光源が前記照明光を発光するように前記発光回路を制御し、前記第1の積分信号が小さくなるほど補正後の少なくともひとつの発光時間が長くなる第1の補正処理を前記少なくともひとつの発光時間に対して行い、(2)前記測定が行われるときに、前記少なくともひとつの発光時間に含まれる第2の発光時間だけ前記光源が前記照明光を発光するように前記発光回路を制御する制御部と、
前記第2の積分信号から前記試料の反射/透過特性を演算する演算処理部と、
を備える反射/透過特性測定装置であって、
前記記憶部は、前記測定が行われた回数である測定回数をさらに記憶し、
前記制御部は、前記白色校正が行われる場合に、前記第1の積分信号が許容範囲内になく前記測定回数が基準の測定回数より少ないと判定したときに前記第1の補正処理を行い、前記第1の積分信号が前記許容範囲内になく前記測定回数が前記基準の測定回数以上であると判定したときに前記第1の補正処理と異なる第2の補正処理を行い、
前記第1の補正処理は、前記第1の積分信号が前記許容範囲の下限より小さい場合に、前記少なくともひとつの発光時間をより長くし、前記第1の積分信号が前記許容範囲の上限より大きい場合に、前記少なくともひとつの発光時間をより短くする処理であり、
前記第2の補正処理は、前記少なくともひとつの発光時間をより長くする処理である反射/透過特性測定装置。 - 前記反射/透過特性測定装置の内部の温度を検出する温度検出器
をさらに備え、
前記少なくともひとつの発光時間が複数の発光時間であり、
前記記憶部は、前記複数の発光時間にそれぞれ対応する複数の温度をさらに記憶し、
前記制御部は、前記白色校正が行われる場合に前記温度検出器により検出される内部の温度が第1の温度となっており前記測定が行われる場合に前記温度検出器により検出される内部の温度が第2の温度になっているとした場合に、(1)前記白色校正が行われるときに、前記複数の温度から前記第1の温度に一致する温度である第1の一致温度を選択し、前記複数の発光時間から前記第1の一致温度に対応する発光時間である第1の対応発光時間を選択し、前記第1の対応発光時間を前記第1の発光時間とし、(2)前記測定が行われるときに、前記複数の温度から前記第2の温度に一致する温度である第2の一致温度を選択し、前記複数の発光時間から前記第2の一致温度に対応する発光時間である第2の対応発光時間を選択し、前記第2の対応発光時間を前記第2の発光時間とする
請求項1に記載の反射/透過特性測定装置。 - 表示部
をさらに備え、
前記記憶部は、前記第1の補正処理が行われた回数である補正回数をさらに記憶し、
前記制御部は、前記白色校正が行われる場合に、前記測定回数が基準の測定回数以上であり前記補正回数が基準の補正回数以上であると判定したときに前記表示部にエラー表示を行わせる
請求項1または2に記載の反射/透過特性測定装置。
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- 2017-11-28 JP JP2018556540A patent/JP7052729B2/ja active Active
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