JP7046641B2 - Small pore zeolite containing phosphorus and having an intergrowth structure and its production method - Google Patents
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Description
本発明は、連晶構造を有する小細孔ゼオライト及びその製造方法に関する。より詳しくは、本発明は、リンを含有し、連晶構造を有する小細孔ゼオライトであって、触媒や触媒基材に適した小細孔ゼオライト及びその製造方法に関する。 The present invention relates to a small pore zeolite having an intergrowth structure and a method for producing the same. More specifically, the present invention relates to a small pore zeolite containing phosphorus and having an intergrowth structure, which is suitable for a catalyst or a catalyst base material, and a method for producing the same.
チャバザイト型ゼオライト(以下、「CHA型ゼオライト」ともいう。)をはじめとする小細孔ゼオライトは、自動車や船舶などの移動体の内燃機関から排出される排ガス中の窒素酸化物(NOx)の低下のための選択的触媒還元触媒(以下、「SCR触媒」ともいう。)として使用されている(特許文献1)。 Small pore zeolites such as chabazite-type zeolite (hereinafter, also referred to as "CHA-type zeolite") reduce nitrogen oxides (NOx) in exhaust gas discharged from the internal combustion engine of mobile bodies such as automobiles and ships. It is used as a selective catalytic reduction catalyst (hereinafter, also referred to as “SCR catalyst”) for the purpose (Patent Document 1).
近年、CHA型ゼオライトに代わる小細孔ゼオライトとして、結晶構造がAFX構造及びCHA構造の連晶である結晶性アルミノシリケートが報告されている(特許文献2)。 In recent years, as a small pore zeolite alternative to CHA-type zeolite, crystalline aluminosilicate having a crystal structure of an AFX structure and an intergrowth of CHA structure has been reported (Patent Document 2).
本発明は、これまでに報告されている連晶構造を有する小細孔ゼオライトと比べて、より高い耐熱性を示す連晶構造を有する小細孔ゼオライトを提供することを目的とする。さらに、本発明は、このような小細孔ゼオライトの工業的な製造方法を提供することを別の目的とする。 An object of the present invention is to provide a small pore zeolite having a continuous crystal structure exhibiting higher heat resistance than the small pore zeolite having a continuous crystal structure reported so far. Furthermore, another object of the present invention is to provide an industrial method for producing such a small pore zeolite.
本発明者等は、触媒又は触媒担体として適した小細孔ゼオライトについて検討した。その結果、連晶構造を有するゼオライトにリンを含有させることができること、及び、このようなゼオライトは高い耐熱性を示すことを見出し、本発明を完成するに至った。 The present inventors have studied small pore zeolites suitable as catalysts or catalyst carriers. As a result, they have found that phosphorus can be contained in a zeolite having an intergrowth structure and that such a zeolite exhibits high heat resistance, and have completed the present invention.
すなわち、本発明の要旨は、以下のとおりである。
[1] 結晶構造がAFX構造とCHA構造との連晶構造であり、リンを含有することを特徴とする小細孔ゼオライト。
[2] 前記リンを細孔内に含有することを特徴とする上記[1]に記載の小細孔ゼオライト。
[3] アルミニウムに対するリンのモル比が0.50以下であることを特徴とする上記[1]又は[2]に記載の小細孔ゼオライト。
[4] 前記結晶構造におけるCHA構造とAFX構造の合計に対するAFX構造の比率が0.5以上1.0未満であることを特徴とする上記[1]乃至[3]のいずれかひとつに記載の小細孔ゼオライト。
[5] アルミナに対するシリカのモル比が5以上30以下であることを特徴とする上記[1]乃至[4]のいずれかひとつに記載の小細孔ゼオライト。
[6] 骨格を構成する金属原子に対するリンのモル比が0.0005以上、0.1以下であることを特徴とする上記[1]乃至[5]のいずれかひとつに記載の小細孔ゼオライト。
[7] 上記[1]乃至[6]のいずれかひとつに記載の小細孔ゼオライトを製造する方法であって、シリカアルミナ源、リン源、有機構造指向剤源、アルカリ源及び水を含む組成物を結晶化する結晶化工程、を有することを特徴とする小細孔ゼオライトの製造方法。
[8] 前記リン源が、テトラエチルホスホニウム水酸化物、テトラエチルホスホニウムブロミド、テトラエチルホスホニウムクロライド及びテトラエチルホスホニウムヨージドの群から選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする上記[7]に記載の小細孔ゼオライトの製造方法。
[9] 前記シリカアルミナ源が結晶性アルミノシリケートであることを特徴とする上記[7]又は[8]に記載の小細孔ゼオライトの製造方法。
[10] 前記シリカアルミナ源がFAU型ゼオライトであることを特徴とする上記[7]乃至[9]のいずれかひとつに記載の小細孔ゼオライトの製造方法。
[11] 前記有機構造指向剤源がCHA構造及びAFX構造のそれぞれを指向するカチオンを含む塩であることを特徴とする上記[7]乃至[10]のいずれかひとつに記載の小細孔ゼオライトの製造方法。
[12] 前記組成物がシリカ源を含むことを特徴とする上記[7]乃至[11]のいずれかひとつに記載の小細孔ゼオライトの製造方法。
That is, the gist of the present invention is as follows.
[1] A small pore zeolite having a crystal structure of an intergrowth structure of an AFX structure and a CHA structure and containing phosphorus.
[2] The small pore zeolite according to the above [1], which contains the phosphorus in the pores.
[3] The small pore zeolite according to the above [1] or [2], wherein the molar ratio of phosphorus to aluminum is 0.50 or less.
[4] The description according to any one of the above [1] to [3], wherein the ratio of the AFX structure to the total of the CHA structure and the AFX structure in the crystal structure is 0.5 or more and less than 1.0. Small pore zeolite.
[5] The small pore zeolite according to any one of the above [1] to [4], wherein the molar ratio of silica to alumina is 5 or more and 30 or less.
[6] The small pore zeolite according to any one of the above [1] to [5], wherein the molar ratio of phosphorus to the metal atom constituting the skeleton is 0.0005 or more and 0.1 or less. ..
[7] The method for producing a small pore zeolite according to any one of the above [1] to [6], which comprises a silica alumina source, a phosphorus source, an organic structure directing agent source, an alkali source, and water. A method for producing small pore zeolite, which comprises a crystallization step of crystallizing an object.
[8] The small detail according to the above [7], wherein the phosphorus source is at least one selected from the group of tetraethylphosphonium hydroxide, tetraethylphosphonium bromide, tetraethylphosphonium chloride and tetraethylphosphonium iodide. Method for producing pore zeolite.
[9] The method for producing a small pore zeolite according to the above [7] or [8], wherein the silica-alumina source is crystalline aluminosilicate.
[10] The method for producing a small pore zeolite according to any one of the above [7] to [9], wherein the silica alumina source is a FAU type zeolite.
[11] The small pore zeolite according to any one of the above [7] to [10], wherein the organic structure directing agent source is a salt containing a cation that directs each of the CHA structure and the AFX structure. Manufacturing method.
[12] The method for producing a small pore zeolite according to any one of the above [7] to [11], wherein the composition contains a silica source.
本発明により、これまでに報告されている連晶構造を有する小細孔ゼオライト(リンを含有しない小細孔ゼオライト)と比べて、より高い耐熱性を示す連晶構造を有する小細孔ゼオライトを提供することができる。さらに、本発明は、このような小細孔ゼオライトの工業的な製造方法を提供することができる。 INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, a small pore zeolite having a continuous crystal structure exhibiting higher heat resistance than the small pore zeolite having a continuous crystal structure (phosphorus-free small pore zeolite) reported so far can be obtained. Can be provided. Furthermore, the present invention can provide an industrial method for producing such small pore zeolites.
以下、本発明の小細孔ゼオライトについて詳細に説明する。 Hereinafter, the small pore zeolite of the present invention will be described in detail.
本発明は、結晶構造がAFX構造とCHA構造との連晶構造であり、リンを含有することを特徴とする小細孔ゼオライト(以下、「本発明の小細孔ゼオライト」ともいう。)に係る。 The present invention relates to a small pore zeolite (hereinafter, also referred to as "small pore zeolite of the present invention") characterized in that the crystal structure is an intergrowth structure of an AFX structure and a CHA structure and contains phosphorus. Related.
本発明の小細孔ゼオライトは、その結晶構造における最大細孔が酸素8員環によって形成される細孔(以下、「酸素8員環細孔」ともいう。)であるゼオライトである。最大細孔が酸素8員環細孔であるゼオライトの結晶構造として、CHA構造、AEI構造、AFX構造、GME構造、LEV構造、KFI構造及びSAV構造などが例示できる。 The small pore zeolite of the present invention is a zeolite whose maximum pores in its crystal structure are pores formed by an oxygen 8-membered ring (hereinafter, also referred to as “oxygen 8-membered ring pore”). Examples of the crystal structure of zeolite whose maximum pores are oxygen 8-membered ring pores include CHA structure, AEI structure, AFX structure, GME structure, LEV structure, KFI structure and SAV structure.
ゼオライトの結晶構造は、国際ゼオライト学会で定義される構造コード(以下、単に「構造コード」ともいう。)であり、これはCollection of simulated XRD powder patterns for zeolites,Fifth revised edition(2007)に記載の粉末X線回折(以下、「XRD」ともいう。)パターン、及び、IZAの構造委員会のホームページhttp://www.iza-structure.org/databases/のZeolite Framework Typesに記載のXRDパターンのいずれかと比較することで、同定することができる。 The crystal structure of zeolite is a structural code defined by the International Zeolite Society (hereinafter, also simply referred to as “structural code”), which is described in Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites, Fifth revised edition (2007). Powder X-ray diffraction (hereinafter, also referred to as “XRD”) pattern, and the homepage of the IZA Structural Committee http: // www. iza-structure. It can be identified by comparison with any of the XRD patterns described in Zeolite Framework Types of org / database /.
本発明の小細孔ゼオライトは、結晶性アルミノシリケートであることが好ましい。結晶性アルミノシリケートは、骨格を構成する金属原子(以下、「T原子」ともいう。)がアルミニウム(Al)とケイ素(Si)であり、これらのT原子が酸素(O)を介したネットワークからなる三次元の骨格構造からなる結晶構造を有する。本発明の小細孔ゼオライトは、T原子としてアルミニウムとケイ素以外の金属元素を有するゼオライトを含まないことが好ましく、リン(P)を含むネットワークからなる骨格構造を有するアルミノフォスフェートやシリコアルミノホスフェートなどのゼオライト類縁物質を含まないことがより好ましい。 The small pore zeolite of the present invention is preferably crystalline aluminosilicate. In crystalline aluminosilicate, the metal atoms (hereinafter, also referred to as "T atoms") constituting the skeleton are aluminum (Al) and silicon (Si), and these T atoms are formed from a network via oxygen (O). It has a crystal structure consisting of a three-dimensional skeletal structure. The small pore zeolite of the present invention preferably does not contain a zeolite having a metal element other than aluminum and silicon as a T atom, and has an aluminophosphate or silicoaluminophosphate having a skeletal structure consisting of a network containing phosphorus (P). It is more preferable that it does not contain zeolite-related substances such as.
本発明の小細孔ゼオライトの結晶構造は、AFX構造とCHA構造との連晶構造である。連晶構造(intergrowth)は、二次元的又は一次元的な周期構造のうちの少なくともいずれかの周期構造を有する結晶構造である。CHA構造など、各構造コードで示される結晶構造は三次元的な周期構造を示す結晶構造である。これに対し、AFX構造とCHA構造との連晶構造は、a軸方向及びb軸方向にはAFX構造又はCHA構造のいずれかの結晶構造が三次元的な周期構造を有し、なおかつ、c軸方向にはAFX構造とCHA構造とが交互に積層し二次元的な周期構造を有する結晶構造である。すなわち、AFX構造とCHA構造との連晶構造は、AFX構造及びCHA構造に加えて、AFX構造とCHA構造との積層不整を有する結晶構造である。 The crystal structure of the small pore zeolite of the present invention is an intergrowth structure of an AFX structure and a CHA structure. An intergrowth is a crystal structure having at least one of a two-dimensional or one-dimensional periodic structure. The crystal structure represented by each structure code, such as the CHA structure, is a crystal structure showing a three-dimensional periodic structure. On the other hand, in the intergrowth structure of the AFX structure and the CHA structure, either the AFX structure or the CHA structure has a three-dimensional periodic structure in the a-axis direction and the b-axis direction, and c. In the axial direction, the AFX structure and the CHA structure are alternately laminated to form a crystal structure having a two-dimensional periodic structure. That is, the intergrowth structure of the AFX structure and the CHA structure is a crystal structure having an irregular stacking of the AFX structure and the CHA structure in addition to the AFX structure and the CHA structure.
AFX構造とCHA構造との連晶構造からなる結晶構造が示すXRDパターンは、CHA構造を有するゼオライト(以下、「CHA型ゼオライト」ともいう。)、及び、AFX構造を有するゼオライト(以下、「AFX型ゼオライト」ともいう。)を物理的に混合して得られた混合ゼオライトが示すXRDパターンとは異なる。すなわち、混合ゼオライトは、CHA構造及びAFX構造のそれぞれに対応したXRDピークを全て含むXRDパターンを有する。これに対し、AFX構造とCHA構造との連晶構造からなる結晶構造が示すXRDパターンは、CHA構造又はAFX構造のXRDピークの一部がピークシフトしたXRDピークやブロード化したピークなど、連晶構造に由来するXRDピークを含むXRDパターンを示す。 The XRD pattern shown by the crystal structure consisting of an intergrowth structure of AFX structure and CHA structure is a zeolite having a CHA structure (hereinafter, also referred to as “CHA type zeolite”) and a zeolite having an AFX structure (hereinafter, “AFX”). It is different from the XRD pattern shown by the mixed zeolite obtained by physically mixing (also referred to as “type zeolite”). That is, the mixed zeolite has an XRD pattern including all XRD peaks corresponding to each of the CHA structure and the AFX structure. On the other hand, the XRD pattern shown by the crystal structure consisting of the intergrowth structure of the AFX structure and the CHA structure is an intergrowth such as an XRD peak in which a part of the XRD peak of the CHA structure or the AFX structure is peak-shifted or a broadened peak. The XRD pattern including the XRD peak derived from the structure is shown.
本発明において、連晶構造は、DIFFaXを用いたシミュレーションにより得られる連晶構造の粉末X線回折パターン(以下、「DIFFaXパターン」ともいう。)と本発明の小細孔ゼオライトの粉末X線回折(以下、「XRD」ともいう。)パターンとの比較、又は、透過型電子顕微鏡による観察、の少なくともいずれかの方法により確認できる。 In the present invention, the intergrowth structure is a powder X-ray diffraction pattern of the intergrowth structure obtained by simulation using DIFFaX (hereinafter, also referred to as “DIFFaX pattern”) and powder X-ray diffraction of the small pore zeolite of the present invention. (Hereinafter, also referred to as "XRD") It can be confirmed by at least one of a method of comparison with a pattern or observation with a transmission electron microscope.
本発明の小細孔ゼオライトは、その結晶構造におけるCHA構造とAFX構造の合計に対するAFX構造の比率(以下、「AFX比率」ともいう。)が0.5以上1.0未満、更には0.6以上1.0未満であることが好ましい。AFX比率は、CHA構造とAFX構造の比率(以下、「連晶比率」ともいう。)が異なる連晶構造を有する結晶構造のDIFFaXパターンと、本発明の小細孔ゼオライトのXRDパターンとを比較することにより求めることができる。具体的には、「CHA構造:AFX構造」で表した場合の連晶比率が、0.1:0.9、0.2:0.8、0.3:0.7、0.4:0.6、0.5:0.5、0.6:0.4、0.7:0.3、0.8:0.2、0.9:0.1である結晶構造のDIFFaXパターンをそれぞれ求め、これらのDIFFaXパターンと本発明の小細孔ゼオライトのXRDパターンとを比較し、本発明の小細孔ゼオライトのXRDパターンと一致するDIFFaXパターンの連晶比率から、AFX比率を求めることができる。 In the small pore zeolite of the present invention, the ratio of the AFX structure to the total of the CHA structure and the AFX structure in the crystal structure (hereinafter, also referred to as “AFX ratio”) is 0.5 or more and less than 1.0, and further 0. It is preferably 6 or more and less than 1.0. The AFX ratio compares the DIFFaX pattern having a crystal structure having a different ratio of CHA structure and AFX structure (hereinafter, also referred to as “linkage ratio”) with the XRD pattern of the small pore zeolite of the present invention. It can be obtained by doing. Specifically, the zeolite ratio in the case of "CHA structure: AFX structure" is 0.1: 0.9, 0.2: 0.8, 0.3: 0.7, 0.4: DIFFaX pattern with a crystal structure of 0.6, 0.5: 0.5, 0.6: 0.4, 0.7: 0.3, 0.8: 0.2, 0.9: 0.1 The AFX ratio is obtained from the intergrowth ratio of the DIFFaX pattern that matches the XRD pattern of the small pore zeolite of the present invention by comparing these DIFFaX patterns with the XRD pattern of the small pore zeolite of the present invention. Can be done.
本発明の小細孔ゼオライトはリンを含有する。これにより、小細孔ゼオライトの耐熱性を向上させることができる。また、小細孔ゼオライトの酸点がリンで修飾されることにより、アルコールやケトンからの低級オレフィン製造用触媒、クラッキング触媒、脱ろう触媒、異性化触媒、及び、窒素酸化物還元触媒などの各種の触媒や各種触媒の基材として適した酸強度を有する小細孔ゼオライトとなる。 The small pore zeolite of the present invention contains phosphorus. This makes it possible to improve the heat resistance of the small pore zeolite. Further, by modifying the acid point of the small pore zeolite with phosphorus, various catalysts for producing lower olefins from alcohols and ketones, cracking catalysts, dewax catalysts, isomerization catalysts, nitrogen oxide reduction catalysts and the like are used. It is a small pore zeolite having acid strength suitable as a catalyst for the above and as a base material for various catalysts.
リンは、小細孔ゼオライトの骨格以外に含有されていること、すなわち、T原子以外として含有されていることが好ましい。本発明の小細孔ゼオライトが、リンとT原子とが化学結合を介することなくリンを含有することで、T原子であるアルミニウムの熱安定性が向上する。リンは、小細孔ゼオライトの細孔内に含有されていることが好ましく、結晶構造の細孔内に含有されていることがより好ましく、酸素8員環細孔内に含有されていることがより好ましい。リンが細孔内、更には酸素8員環細孔内に存在することで、T原子であるアルミニウムの近傍にリンが存在する。これにより、当該アルミニウムの熱安定性が向上する傾向がある。 It is preferable that phosphorus is contained in a substance other than the skeleton of the small pore zeolite, that is, it is contained as a substance other than the T atom. The small pore zeolite of the present invention contains phosphorus without a chemical bond between phosphorus and a T atom, so that the thermal stability of aluminum, which is a T atom, is improved. Phosphorus is preferably contained in the pores of the small pore zeolite, more preferably contained in the pores of the crystal structure, and more preferably contained in the oxygen 8-membered ring pores. More preferred. Since phosphorus is present in the pores and further in the oxygen 8-membered ring pores, phosphorus is present in the vicinity of aluminum, which is a T atom. This tends to improve the thermal stability of the aluminum.
リンの含有状態は、リン酸イオン又はリン化合物の少なくともいずれかであることが好ましく、リン化合物であることがより好ましく、有機リン化合物であることが特に好ましい。 The phosphorus content is preferably at least one of a phosphate ion or a phosphorus compound, more preferably a phosphorus compound, and particularly preferably an organic phosphorus compound.
本発明の小細孔ゼオライトにおいて、リンの含有状態はNMR測定により確認することができる。 In the small pore zeolite of the present invention, the phosphorus content can be confirmed by NMR measurement.
本発明の小細孔ゼオライトでは、T原子に対するリンのモル比(以下、「P/T比」ともいう。)が0.1以下であることが好ましく、0.05以下であることがより好ましい。P/T比が0.1以下であることで、小細孔ゼオライトの細孔が触媒反応等の目的とする反応に十分に寄与することができる。P/T比は0.0005以上であることが好ましく、0.001以上であることがより好ましい。特に好ましいP/T比の範囲として、0.001以上0.1以下を挙げることができる。 In the small pore zeolite of the present invention, the molar ratio of phosphorus to T atom (hereinafter, also referred to as “P / T ratio”) is preferably 0.1 or less, and more preferably 0.05 or less. .. When the P / T ratio is 0.1 or less, the pores of the small pore zeolite can sufficiently contribute to the desired reaction such as a catalytic reaction. The P / T ratio is preferably 0.0005 or more, and more preferably 0.001 or more. As a particularly preferable range of P / T ratio, 0.001 or more and 0.1 or less can be mentioned.
本発明の小細孔ゼオライトでは、アルミニウムに対するリンのモル比(以下、「P/Al比」ともいう。)が0.50以下であることが好ましい。P/Al比が0.50以下であれば、本発明の小細孔ゼオライトが触媒用途に十分な酸点及び耐熱性を有する。P/Al比は0.002以上であることが好ましく、0.01以上であることがより好ましい。触媒活性及び耐熱性を改善しやすくする上では、P/Al比は0.002以上0.50以下であることが特に好ましい。 In the small pore zeolite of the present invention, the molar ratio of phosphorus to aluminum (hereinafter, also referred to as “P / Al ratio”) is preferably 0.50 or less. When the P / Al ratio is 0.50 or less, the small pore zeolite of the present invention has sufficient acidity and heat resistance for catalytic use. The P / Al ratio is preferably 0.002 or more, more preferably 0.01 or more. The P / Al ratio is particularly preferably 0.002 or more and 0.50 or less in order to facilitate improvement of catalytic activity and heat resistance.
本発明の小細孔ゼオライトでは、アルミナに対するシリカのモル比(以下、「SiO2/Al2O3比」ともいう。)が5以上30以下であることが好ましく、5以上25以下であることがより好ましい。SiO2/Al2O3比が5以上であることで、本発明の小細孔ゼオライトが触媒等の用途において十分な耐熱性を示す。一方、SiO2/Al2O3比が30以下であれば、本発明の小細孔ゼオライトが触媒として十分な量の酸点を有する。耐熱性及び十分な量の酸点を持たせるためには、SiO2/Al2O3比は5以上20以下であることが特に好ましい。 In the small pore zeolite of the present invention, the molar ratio of silica to alumina (hereinafter, also referred to as “SiO 2 / Al 2 O 3 ratio”) is preferably 5 or more and 30 or less, and preferably 5 or more and 25 or less. Is more preferable. When the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is 5 or more, the small pore zeolite of the present invention exhibits sufficient heat resistance in applications such as catalysts. On the other hand, when the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is 30 or less, the small pore zeolite of the present invention has a sufficient amount of acid points as a catalyst. In order to have heat resistance and a sufficient amount of acid points, it is particularly preferable that the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is 5 or more and 20 or less.
本発明の小細孔ゼオライトは、フッ素(F)を実質的に含んでいないこと、すなわち、フッ素含有量が0ppmであることが好ましい。一般的に、ゼオライトに含まれるフッ素は、原料に由来する。原料にフッ素を含む化合物を使用して得られたゼオライトは、その製造コストが高くなりやすい。ランタン-アリザリンコンプレキソン吸光光度法など、通常の組成分析法により得られる測定値の測定限界を考慮すると、本発明の小細孔ゼオライトのフッ素含有量は0ppm以上100ppm以下であればよく、0ppm以上50ppm以下であることがより好ましい。 It is preferable that the small pore zeolite of the present invention does not substantially contain fluorine (F), that is, the fluorine content is 0 ppm. Generally, the fluorine contained in zeolite is derived from a raw material. Zeolites obtained by using a compound containing fluorine as a raw material tend to have a high production cost. Considering the measurement limit of the measured value obtained by a usual composition analysis method such as lanthanum-alizarin complexone absorptiometry, the fluorine content of the small pore zeolite of the present invention may be 0 ppm or more and 100 ppm or less, and may be 0 ppm or more. It is more preferably 50 ppm or less.
本発明におけるP/T比、P/Al比、SiO2/Al2O3比などの各組成は一般的な組成分析方法、例えばICP法、によって測定することができる。 Each composition such as the P / T ratio, the P / Al ratio , and the SiO 2 / Al 2 O3 ratio in the present invention can be measured by a general composition analysis method, for example, the ICP method.
本発明の小細孔ゼオライトは、BET比表面積が500m2/g以上1000m2/g以下であることが好ましく、BET比表面積が600m2/g以上800m2/g以下であることがより好ましい。 The small pore zeolite of the present invention preferably has a BET specific surface area of 500 m 2 / g or more and 1000 m 2 / g or less, and more preferably a BET specific surface area of 600 m 2 / g or more and 800 m 2 / g or less.
本発明の小細孔ゼオライトは、t-plot法による求まる細孔(以下、「マイクロ細孔」ともいう。)容積が0.2mL/g以上0.4mL/g以下であることが好ましく、0.25mL/g以上0.35mL/g以下であることがより好ましい。 The small pore zeolite of the present invention preferably has a pore volume (hereinafter, also referred to as “micropore”) obtained by the t-prot method of 0.2 mL / g or more and 0.4 mL / g or less, and is 0. It is more preferably .25 mL / g or more and 0.35 mL / g or less.
次に、本発明の小細孔ゼオライトの製造方法について説明する。 Next, the method for producing the small pore zeolite of the present invention will be described.
本発明の小細孔ゼオライトは、シリカアルミナ源、リン源、有機構造指向剤源、アルカリ源及び水を含む組成物を結晶化する工程、を有する製造方法により得られる。 The small pore zeolite of the present invention is obtained by a production method comprising a step of crystallizing a composition containing a silica alumina source, a phosphorus source, an organic structure directing agent source, an alkali source and water.
シリカアルミナ源、リン源、有機構造指向剤源、アルカリ源及び水を含む組成物(以下、「原料組成物」ともいう。)を結晶化する工程(以下、「結晶化工程」ともいう。)により、原料組成物から本発明の小細孔ゼオライトが結晶化する。 A step of crystallizing a composition containing a silica-alumina source, a phosphorus source, an organic structure-directing agent source, an alkali source and water (hereinafter, also referred to as "raw material composition") (hereinafter, also referred to as "crystallization step"). As a result, the small pore zeolite of the present invention is crystallized from the raw material composition.
原料組成物に含まれるシリカアルミナ源は、ケイ素(Si)及びアルミニウム(Al)を含む化合物である。ケイ素とアルミニウムとをそれぞれ含む化合物である場合に比べ、ひとつの化合物がケイ素及びアルミニウムを含む場合は、小細孔ゼオライトの結晶化が効率良く進行する傾向がある。好ましいシリカアルミナ源として、無定形アルミノシリケート又は結晶性アルミノシリケートの少なくともいずれかを挙げることができ、結晶性アルミノシリケートであることが好ましく、FAU型ゼオライトであることがより好ましく、X型ゼオライト又はY型ゼオライトの少なくともいずれかであることが更に好ましく、Y型ゼオライトであることが特に好ましい。 The silica-alumina source contained in the raw material composition is a compound containing silicon (Si) and aluminum (Al). When one compound contains silicon and aluminum, the crystallization of the small pore zeolite tends to proceed more efficiently than when the compound contains silicon and aluminum, respectively. Preferred silica-alumina sources include at least one of amorphous aluminosilicates and crystalline aluminosilicates, preferably crystalline aluminosilicates, more preferably FAU-type zeolites, and X-type zeolites or Y. It is more preferably at least one of the type zeolites, and particularly preferably a Y-type zeolite.
シリカアルミナ源では、SiO2/Al2O3比が1.25以上であることが好ましく、5以上であることがより好ましい。一方、SiO2/Al2O3比は100以下であればよく、50以下であることが好ましく、10以下であることがより好ましい。好ましいシリカアルミナ源のSiO2/Al2O3比は、1.25以上50以下であり、5以上10以下であることがより好ましい。 In the silica-alumina source, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is preferably 1.25 or more, and more preferably 5 or more. On the other hand, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio may be 100 or less, preferably 50 or less, and more preferably 10 or less. The SiO 2 / Al 2 O 3 ratio of the preferred silica-alumina source is 1.25 or more and 50 or less, and more preferably 5 or more and 10 or less.
シリカアルミナ源のカチオンタイプは任意である。カチオンタイプとして、ナトリウム型(Na型)、プロトン型(H+型)及びアンモニウム型(NH4型)の群から選ばれる少なくとも1種が挙げられ、ナトリウム型であることがより好ましい。 The cation type of the silica-alumina source is arbitrary. Examples of the cation type include at least one selected from the group of sodium type (Na type), proton type (H + type) and ammonium type ( NH4 type), and the sodium type is more preferable.
小細孔ゼオライトの結晶化促進の観点から、シリカ源及びアルミナ源はシリカアルミナ源のみであることが好ましいが、原料組成物のSiO2/Al2O3比を微調整する上では、シリカ源又はアルミナ源の少なくともいずれかを含んでいてもよく、シリカ源を含むことが好ましい。 From the viewpoint of promoting the crystallization of small pore zeolite, it is preferable that the silica source and the alumina source are only the silica alumina source, but in finely adjusting the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio of the raw material composition, the silica source is used. Alternatively, it may contain at least one of the alumina sources, preferably a silica source.
シリカ源はケイ素を含む化合物であり、シリカゾル、ヒュームドシリカ、コロイダルシリカ、沈降法シリカ、及び、無定形ケイ酸の群から選ばれる少なくとも1種が挙げられ、無定形ケイ酸が好ましい。 The silica source is a compound containing silicon, and examples thereof include at least one selected from the group of silica sol, fumed silica, colloidal silica, precipitated silica, and amorphous silicic acid, and amorphous silicic acid is preferable.
アルミナ源はアルミニウムを含む化合物であり、水酸化アルミニウム、酸化アルミニウム、硫酸アルミニウム、塩化アルミニウム、硝酸アルミニウム、金属アルミニウム、擬ベーマイト、アルミナゾル及びアルミニウムアルコキシドの群から選ばれる少なくとも1種が挙げられる。 The alumina source is a compound containing aluminum, and examples thereof include at least one selected from the group of aluminum hydroxide, aluminum oxide, aluminum sulfate, aluminum chloride, aluminum nitrate, metallic aluminum, pseudo-bemite, alumina sol, and aluminum alkoxide.
リン源は、リンを含有するカチオンの化合物であり、ホスホニウムカチオンを含む化合物であることが好ましく、ホスホニウムカチオンの硫酸塩、硝酸塩、ハロゲン化物及び水酸化物の群から選ばれる少なくとも1種であることがより好ましい。原料組成物が結晶化する過程におけるリンの取り込みは、電荷バランスの影響を受ける。そのため、リンを含有するカチオンは結晶化物の細孔等の結晶化物内部に取り込まれる。これに対し、リンを含有するアニオンは結晶化物に取り込まれない。そのため、リン酸(PO4 2-)及びその塩など、リンを含有するアニオンはリンの供給源として機能しない。 The phosphorus source is a compound of a cation containing phosphorus, preferably a compound containing a phosphonium cation, and is at least one selected from the group of sulfates, nitrates, halides and hydroxides of phosphonium cations. Is more preferable. Phosphorus uptake in the process of crystallization of the raw material composition is affected by charge balance. Therefore, phosphorus-containing cations are incorporated into the crystallized product such as the pores of the crystallized product. In contrast, phosphorus-containing anions are not incorporated into the crystallized product. Therefore, phosphorus - containing anions such as phosphoric acid (PO 4-2 ) and its salts do not function as a source of phosphorus.
好ましいリン源は、テトラエチルホスホニウム(以下、「TEP」ともいう。)カチオン又はテトラメチルホスホニウム(以下、「TMP」ともいう。)カチオンの少なくともいずれかを含む化合物が挙げられ、TEPカチオンを含む化合物であることが好ましい。好ましいリン源として、テトラエチルホスホニウム水酸化物(以下、「TEPOH」ともいう。)、テトラエチルホスホニウムブロミド(以下、「TEPBr」ともいう。)、テトラエチルホスホニウムクロライド(以下、「TEPCl」ともいう。)、及び、テトラエチルホスホニウムヨージド(以下、「TEPI」ともいう。)の群から選ばれる少なくとも1種が挙げられ、TEPOH又はTEPBrの少なくともいずれかであることがより好ましい。 Preferred phosphorus sources include compounds containing at least one of a tetraethylphosphonium (hereinafter also referred to as “TEP”) cation or a tetramethylphosphonium (hereinafter also referred to as “TMP”) cation, and are compounds containing a TEP cation. It is preferable to have. Preferred phosphorus sources include tetraethylphosphonium hydroxide (hereinafter, also referred to as "TEPOH"), tetraethylphosphonium bromide (hereinafter, also referred to as "TEPBr"), tetraethylphosphonium chloride (hereinafter, also referred to as "TEPCl"), and. , At least one selected from the group of tetraethylphosphonium iodide (hereinafter, also referred to as "TEPI"), and more preferably at least one of TEPOH or TEPBr.
有機構造指向剤(以下、「SDA」ともいう。)源は、CHA構造及びAFX構造を指向するカチオンを含む塩であり、CHA構造を指向するカチオンを含む塩、及び、AFX構造を指向するカチオンの塩をそれぞれ使用してもよく、例えば、CHA構造を指向する四級アンモニウムカチオンを含む塩、及び、AFX構造を指向する四級アンモニウムカチオンを含む塩であることが好ましい。SDA源に含まれるカチオンによって、結晶構造がCHA構造とAFX構造の連晶構造である小細孔ゼオライトが原料組成物から結晶化する。 The source of the organic structure-directing agent (hereinafter, also referred to as “SDA”) is a salt containing a cation that directs the CHA structure and the AFX structure, a salt containing a cation that directs the CHA structure, and a cation that directs the AFX structure. Salts may be used, and for example, a salt containing a quaternary ammonium cation that directs the CHA structure and a salt containing a quaternary ammonium cation that directs the AFX structure are preferable. The cations contained in the SDA source crystallize the small pore zeolite, whose crystal structure is an intergrowth structure of CHA structure and AFX structure, from the raw material composition.
CHA構造を指向するカチオン(以下、「SDACHA」ともいう。)を含む塩は、SDACHAの硫酸塩、硝酸塩、ハロゲン化物及び水酸化物の群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましく、SDACHAのハロゲン化物又は水酸化物の少なくともいずれかであることがより好ましい。 The salt containing a cation (hereinafter, also referred to as “SDA CHA ”) that directs the CHA structure is preferably at least one selected from the group of sulfates, nitrates, halides and hydroxides of SDA CHA . More preferably, it is at least one of a halide or hydroxide of SDA CHA .
SDACHAは、トリメチル-1-アダマンタンアンモニウムカチオン、コリンカチオン及びトリメチルベンジルアンモニウムカチオンの群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましく、トリメチル-1-アダマンタンアンモニウム(以下、「TMAda」ともいう。)カチオンであることがより好ましい。 The SDA CHA is preferably at least one selected from the group of trimethyl-1-adamantanammonium cations, choline cations and trimethylbenzylammonium cations, and is preferably a trimethyl-1-adamantaneammonium (hereinafter, also referred to as "TMAda") cation. Is more preferable.
TMAdaカチオンを含む塩は、トリメチル-1-アダマンタンアンモニウム水酸化物(以下、「TMAdaOH」ともいう。)、トリメチル-1-アダマンタンアンモニウムブロミド(以下、「TMAdaBr」ともいう。)、トリメチル-1-アダマンタンアンモニウムクロライド(以下、「TMAdaCl」ともいう。)、及び、トリメチル-1-アダマンタンアンモニウムヨージド(以下、「TMAdaI」ともいう。)の群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましく、TMAdaOH又はTMAdaBrの少なくともいずれかであることがより好ましい。 The salt containing the TMAda cation includes trimethyl-1-adamantanane ammonium hydroxide (hereinafter, also referred to as “TMadaOH”), trimethyl-1-adamantanammonium bromide (hereinafter, also referred to as “TMadaBr”), and trimethyl-1-adamantan. It is preferably at least one selected from the group of ammonium chloride (hereinafter, also referred to as “TMAdaCl”) and trimethyl-1-adamantane ammonium iodide (hereinafter, also referred to as “TMAdaI”), preferably TMAdaOH or TMAdaBr. It is more preferable that it is at least one of.
AFX構造を指向するカチオン(以下、「SDAAFX」ともいう。)を含む塩は、SDAAFXの硫酸塩、硝酸塩、ハロゲン化物及び水酸化物の群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましく、SDAAFXのハロゲン化物又は水酸化物の少なくともいずれかであることがより好ましい。 The salt containing a cation (hereinafter, also referred to as “SDA AFX ”) that directs the AFX structure is preferably at least one selected from the group of sulfates, nitrates, halides and hydroxides of SDA AFX . More preferably, it is at least one of a halide or hydroxide of SDA AFX .
SDACHAは、1,4-ビス(1-アザビシクロ[2.2.2]オクタン)ブチルカチオン、1,4-ビス(アゾニアビシクロ[2.2.2]オクタン)ブチルカチオン、1,3-ビス(1-アダマンチル)イミダゾリウムカチオン、及び、N,N,N’,N’-テトラエチルビシクロ[2.2.2]オクテン-2,3:5,6-ジピロリジニウムカチオンの群から選ばれる少なくとも1種を挙げることができ、1,4-ビス(1-アザビシクロ[2.2.2]オクタン)ブチル(以下、「Dab-4」ともいう。)カチオンであることが好ましい。 SDA CHA is 1,4-bis (1-azabicyclo [2.2.2] octane) butyl cation, 1,4-bis (azoniabicyclo [2.2.2] octane) butyl cation, 1,3-bis ( At least selected from the group of 1-adamantyl) imidazolium cations and N, N, N', N'-tetraethylbicyclo [2.2.2] octene-2, 3: 5,6-dipyrrolidinium cations. One can be mentioned, and 1,4-bis (1-azabicyclo [2.2.2] octane) butyl (hereinafter, also referred to as “Dab-4”) cation is preferable.
Dab-4カチオンを含む塩は、1,4-ビス(1-アザビシクロ[2.2.2]オクタン)ブチルジオキシド、1,4-ビス(1-アザビシクロ[2.2.2]オクタン)ブチルジクロライド、1,4-ビス(1-アザビシクロ[2.2.2]オクタン)ブチルジブロミド、及び、1,4-ビス(1-アザビシクロ[2.2.2]オクタン)ブチルジヨージドの群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましく、1,4-ビス(1-アザビシクロ[2.2.2]オクタン)ブチルジブロミド(以下、「[Dab-4]2+(Br-)2」ともいう。)であることがより好ましい。 Salts containing the Dab-4 cation include 1,4-bis (1-azabicyclo [2.2.2] octane) butyldioxide and 1,4-bis (1-azabicyclo [2.2.2] octane) butyl. From the group dichloride, 1,4-bis (1-azabicyclo [2.2.2] octane) butyldibromid, and 1,4-bis (1-azabicyclo [2.2.2] octane) butyldiiodide. It is preferably at least one selected, and is also referred to as 1,4-bis (1-azabicyclo [2.2.2] octane) butyl dibromid (hereinafter, also referred to as "[Dab-4] 2+ (Br- ) 2 "). .) Is more preferable.
アルカリ源はアルカリ金属の化合物であり、アルカリ金属水酸化物であることが好ましく、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウム及びセシウムの群から選ばれる少なくとも1種を含む水酸化物であることがより好ましく、ナトリウム又はカリウムの少なくともいずれかを含む水酸化物であることが更に好ましく、ナトリウムを含む水酸化物であることが特に好ましい。 The alkali source is a compound of an alkali metal, preferably an alkali metal hydroxide, more preferably a hydroxide containing at least one selected from the group of lithium, sodium, potassium, rubidium and cesium. It is more preferably a hydroxide containing at least one of sodium and potassium, and particularly preferably a hydroxide containing sodium.
水は純水であってもよいが、原料組成物に含まれる各原料に由来する構造水や溶媒としての水であってもよい。 The water may be pure water, but may be structural water derived from each raw material contained in the raw material composition or water as a solvent.
原料組成物では、SiO2/Al2O3比が10以上であることが好ましく、20以上であることがより好ましい。一方、SiO2/Al2O3比は100以下であればよく、50以下であることが好ましく、40以下であることがより好ましい。好ましいSiO2/Al2O3比は、10以上50以下であり、20以上40以下であることがより好ましい。 In the raw material composition, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is preferably 10 or more, and more preferably 20 or more. On the other hand, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio may be 100 or less, preferably 50 or less, and more preferably 40 or less. The preferred SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is 10 or more and 50 or less, and more preferably 20 or more and 40 or less.
原料組成物では、シリカに対するリンのモル比(以下、「P/SiO2比」ともいう。)が0.001以上1.0以下であればよく、0.002以上0.5以下であることが好ましい。小細孔ゼオライトにおいて、リンの含有を促進させやすくする上では、P/SiO2比は0.01以上であることが好ましく、0.1以上であることがより好ましく、0.1以上0.4以下であることが更に好ましい。 In the raw material composition, the molar ratio of phosphorus to silica (hereinafter, also referred to as “P / SiO 2 ratio”) may be 0.001 or more and 1.0 or less, and 0.002 or more and 0.5 or less. Is preferable. In the small pore zeolite, the P / SiO 2 ratio is preferably 0.01 or more, more preferably 0.1 or more, and 0.1 or more 0. It is more preferably 4 or less.
原料組成物では、シリカに対するSDAのモル比(以下、「SDA/SiO2比」ともいう。)は、0.01以上であることが好ましく、0.05以上であることがより好ましく、0.10以上であることが更に好ましい。製造コストを低減する観点から、SDA/SiO2比は、0.50以下であればよく、0.30以下であることが好ましく、0.20以下であることがより好ましい。 In the raw material composition, the molar ratio of SDA to silica (hereinafter, also referred to as “SDA / SiO 2 ratio”) is preferably 0.01 or more, more preferably 0.05 or more, and 0. It is more preferably 10 or more. From the viewpoint of reducing the manufacturing cost, the SDA / SiO 2 ratio may be 0.50 or less, preferably 0.30 or less, and more preferably 0.20 or less.
SDA源がSDACHAを含む塩、及び、SDAAFXを含む塩である場合、SDACHA及びSDAAFXの合計に対するSDAAFXのモル比(以下、「SDA比」ともいう。)は、0よりも大きく1未満であればよい。 When the SDA source is a salt containing SDA CHA and a salt containing SDA AFX , the molar ratio of SDA AFX to the total of SDA CHA and SDA AFX (hereinafter, also referred to as “SDA ratio”) is larger than 0. It may be less than 1.
原料組成物では、シリカに対するアルカリ金属のモル比(以下、「アルカリ/SiO2比」ともいう。)は、0.1以上1.5以下であることが好ましく、0.5以上1.0以下であることがより好ましい。 In the raw material composition, the molar ratio of alkali metal to silica (hereinafter, also referred to as “alkali / SiO 2 ratio”) is preferably 0.1 or more and 1.5 or less, and 0.5 or more and 1.0 or less. Is more preferable.
原料組成物では、シリカに対するOHのモル比(以下、「OH/SiO2比」ともいう。)は、0.1以上1.0以下であることが好ましく、0.5以上1.0以下であることがより好ましい。 In the raw material composition, the molar ratio of OH to silica (hereinafter, also referred to as “OH / SiO 2 ratio”) is preferably 0.1 or more and 1.0 or less, and 0.5 or more and 1.0 or less. It is more preferable to have.
原料組成物では、シリカに対する水(H2O)のモル比(以下、「H2O/SiO2比」ともいう。)は、3以上50以下であることが好ましく、10以上40以下であることがより好ましい。原料組成物に適度な流動性を付与する観点から、H2O/SiO2比は20以上35以下であることが好ましい。 In the raw material composition, the molar ratio of water (H 2 O) to silica (hereinafter, also referred to as “H 2 O / SiO 2 ratio”) is preferably 3 or more and 50 or less, preferably 10 or more and 40 or less. Is more preferable. From the viewpoint of imparting appropriate fluidity to the raw material composition, the H 2 O / SiO 2 ratio is preferably 20 or more and 35 or less.
好ましい原料組成物の各モル比として以下の範囲を挙げることができる。
SiO2/Al2O3比 :10以上50以下
P/SiO2比 :0.001以上1.0以下
SDA/SiO2比 :0.01以上0.50以下
(SDA比) :0よりも大きく1未満
アルカリ/SiO2比 :0.1以上1.5以下
OH/SiO2比 :0.1以上1.0以下
H2O/SiO2比 :3以上50以下
The following ranges can be mentioned as the molar ratio of each preferable raw material composition.
SiO 2 / Al 2 O 3 ratio: 10 or more and 50 or less P / SiO 2 ratio: 0.001 or more and 1.0 or less SDA / SiO 2 ratio: 0.01 or more and 0.50 or less (SDA ratio): Greater than 0 Less than 1 Alkaline / SiO 2 ratio: 0.1 or more and 1.5 or less OH / SiO 2 ratio: 0.1 or more and 1.0 or less H 2 O / SiO 2 ratio: 3 or more and 50 or less
原料組成物にフッ素を含む化合物が含まれると、製造コストが高くなりやすい。そのため、原料組成物はフッ素(F)を実質的に含んでいないことが好ましい。ランタン-アリザリンコンプレキソン吸光光度法など、通常の組成分析法により得られる測定値の測定限界を考慮すると、原料組成物のフッ素含有量は0ppm以上100ppm以下であればよく、0ppm以上50ppm以下であることがより好ましい。 If the raw material composition contains a compound containing fluorine, the production cost tends to be high. Therefore, it is preferable that the raw material composition does not substantially contain fluorine (F). Considering the measurement limit of the measured value obtained by a usual composition analysis method such as lanthanum-alizarin complexone absorptiometry, the fluorine content of the raw material composition may be 0 ppm or more and 100 ppm or less, and is 0 ppm or more and 50 ppm or less. Is more preferable.
結晶化工程では原料組成物を水熱処理することにより、これを結晶化すればよい。 In the crystallization step, the raw material composition may be crystallized by hydrothermal treatment.
水熱処理の温度は、原料組成物の結晶化が進行する温度であればよく、80℃以上であることが好ましく、100℃以上であることがより好ましく、120℃以上であることが更に好ましい。原料組成物が結晶化すれば、必要以上に水熱処理の温度を高くする必要はない。そのため、水熱処理の温度は、200℃以下であればよく、180℃以下であることが好ましく、160℃以下であることがより好ましい。 The temperature of the hydrothermal treatment may be any temperature as long as the crystallization of the raw material composition proceeds, and is preferably 80 ° C. or higher, more preferably 100 ° C. or higher, still more preferably 120 ° C. or higher. Once the raw material composition is crystallized, it is not necessary to raise the temperature of the hydrothermal treatment more than necessary. Therefore, the temperature of the hydrothermal treatment may be 200 ° C. or lower, preferably 180 ° C. or lower, and more preferably 160 ° C. or lower.
水熱処理において、原料組成物は、攪拌した状態又は静置した状態のいずれの状態であってもよい。 In the hydrothermal treatment, the raw material composition may be in either a stirred state or a stationary state.
本発明の製造方法では、結晶化工程の後、洗浄工程、乾燥工程及びイオン交換工程の少なくともいずれか(以下、「後処理工程」ともいう。)を含んでいてもよい。 The production method of the present invention may include at least one of a cleaning step, a drying step and an ion exchange step (hereinafter, also referred to as “post-treatment step”) after the crystallization step.
洗浄工程では、結晶化工程後の小細孔ゼオライトと液相を公知の方法で固液分離し、固相として得られる小細孔ゼオライトを純水で洗浄すればよい。 In the washing step, the small pore zeolite after the crystallization step and the liquid phase may be solid-liquid separated by a known method, and the small pore zeolite obtained as a solid phase may be washed with pure water.
乾燥工程では、結晶化工程後又は洗浄工程後の小細孔ゼオライトから水分を除去する。乾燥工程の条件は任意であるが、結晶化工程後又は洗浄工程後の小細孔ゼオライトを、大気中、50℃以上150℃以下で2時間以上、静置することが例示できる。 In the drying step, water is removed from the small pore zeolite after the crystallization step or the washing step. The conditions of the drying step are arbitrary, but it can be exemplified that the small pore zeolite after the crystallization step or the washing step is allowed to stand in the air at 50 ° C. or higher and 150 ° C. or lower for 2 hours or longer.
イオン交換工程では、小細孔ゼオライトを任意のカチオンタイプとする。カチオンタイプをアンモニウム型とする場合、小細孔ゼオライトと塩化アンモニウム水溶液とを混合することが挙げられる。また、カチオンタイプをプロトン型とする場合、アンモニウム型の小細孔ゼオライトを焼成することが挙げられる。 In the ion exchange step, the small pore zeolite is an arbitrary cation type. When the cation type is ammonium type, mixing of small pore zeolite and ammonium chloride aqueous solution can be mentioned. When the cation type is a proton type, calcining an ammonium type small pore zeolite can be mentioned.
以下、実施例を挙げて本発明を説明する。しかしながら、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。 Hereinafter, the present invention will be described with reference to examples. However, the present invention is not limited to these examples.
(結晶構造の同定)
一般的なX線回折装置(装置名:D8 Advance、Bruker社製)を使用し、以下の条件で試料のXRD測定をした。
線源 :CuKα線(λ=1.5405Å)
測定範囲:2θ=5°~50°
(Identification of crystal structure)
A general X-ray diffractometer (device name: D8 Advance, manufactured by Bruker) was used, and the XRD measurement of the sample was performed under the following conditions.
Radioactive source: CuKα ray (λ = 1.5405Å)
Measurement range: 2θ = 5 ° to 50 °
得られたXRDパターンと、DIFFaXパターンとを比較することで、試料の結晶構造を同定した。DIFFaXパターンとして、AFX比率が0.7(CHA構造:AFX構造=0.3:0.7)である、CHA構造とAFX構造の連晶構造のDIFFaXパターンを使用した。 The crystal structure of the sample was identified by comparing the obtained XRD pattern with the DIFFaX pattern. As the DIFFaX pattern, a DIFFaX pattern having an intergrowth structure of CHA structure and AFX structure having an AFX ratio of 0.7 (CHA structure: AFX structure = 0.3: 0.7) was used.
(組成分析)
水酸化カリウム水溶液に試料を溶解して試料溶液を調製した。一般的なICP装置(装置名:SPS7000、Seiko社製)を使用して、当該試料溶液を誘導結合プラズマ発光分光分析(ICP-AES)で測定することにより、試料の組成を分析した。
得られた測定値から、試料の各組成を求めた。
(Composition analysis)
A sample solution was prepared by dissolving the sample in an aqueous potassium hydroxide solution. The composition of the sample was analyzed by measuring the sample solution by inductively coupled plasma emission spectroscopy (ICP-AES) using a general ICP device (device name: SPS7000, manufactured by Seiko).
From the obtained measured values, each composition of the sample was determined.
(窒素吸着測定)
一般的な窒素吸着装置(装置名:BELSORP-mini、マイクロトラック・ベル株式会社製)を用いて、試料に対する窒素ガスの吸着量を測定した。窒素ガスの吸着結果に、BET法を適用することにより、試料のBET比表面積を求めた。また、窒素ガスの吸着結果に、t-plot法を適用することにより、マイクロ細孔容積を求めた。なお、窒素ガス吸着は、通常の定容量法を用いた。測定条件は、以下に示す通りである。
測定温度 :-196℃
前処理 :400℃、10時間、窒素流通
(Nitrogen adsorption measurement)
The amount of nitrogen gas adsorbed on the sample was measured using a general nitrogen adsorption device (device name: BELSORP-mini, manufactured by Microtrac Bell Co., Ltd.). The BET specific surface area of the sample was determined by applying the BET method to the adsorption result of nitrogen gas. In addition, the micropore volume was determined by applying the t-prot method to the adsorption result of nitrogen gas. For nitrogen gas adsorption, a normal constant volume method was used. The measurement conditions are as shown below.
Measurement temperature: -196 ° C
Pretreatment: 400 ° C, 10 hours, nitrogen distribution
(NMR)
一般的なNMR測定装置(装置名:Varian600PS、Varian社製)を使用し、以下の条件で試料のNMRを測定した。
周波数 :150.88MHz
ローター:ジルコニアローター、直径3.2mm
回転速度:7kHz
(NMR)
Using a general NMR measuring device (device name: Varian600PS, manufactured by Varian), the NMR of the sample was measured under the following conditions.
Frequency: 150.88MHz
Rotor: Zirconia rotor, diameter 3.2 mm
Rotation speed: 7kHz
(相対結晶化度の算出)
結晶構造の同定と同様な方法で試料のXRDパターンを得た。得られたXRDパターンにおいて、それぞれ、2θが12.9±0.2°、17.6±0.2°、20.3±0.2°、25.9±0.2°及び30.4±0.2°にピークトップを有するXRDピークを求め、その合計強度を結晶化度とした。
(Calculation of relative crystallinity)
The XRD pattern of the sample was obtained by the same method as the identification of the crystal structure. In the obtained XRD pattern, 2θ is 12.9 ± 0.2 °, 17.6 ± 0.2 °, 20.3 ± 0.2 °, 25.9 ± 0.2 ° and 30.4, respectively. An XRD peak having a peak top at ± 0.2 ° was obtained, and the total intensity thereof was taken as the crystallinity.
実施例1
リン源としてTEPBr水溶液、SDA源としてTMAdaOH水溶液及び[Dab-4]2+(Br-)2水溶液を使用し、リン源、SDA源、純水、水酸化ナトリウム、シリカ源として無定形ケイ酸(3号ケイ酸ソーダ)、及びFAU型ゼオライト(Y型、カチオンタイプ:Na型、SiO2/Al2O3比=5.5、アルミノシリケート)を混合して以下の組成を有する原料組成物を得た。
SiO2/Al2O3比 =25
P/SiO2比 =0.1
SDA/SiO2比 =0.121
SDA比 =「Dab-4」/(TMAda+「Dab-4」)
=0.79
OH/SiO2比 =0.80
アルカリ/SiO2比 =0.78
H2O/SiO2比 =28.4
Example 1
Using a TEPBr aqueous solution as a phosphorus source, a TMAdaOH aqueous solution and a [Dab - 4] 2+ (Br-) 2 aqueous solution as an SDA source, a phosphorus source, an SDA source, pure water, sodium hydroxide, and an amorphous silicic acid (3) as a silica source. No. sodium silicate) and FAU type zeolite (Y type, cation type: Na type, SiO 2 / Al 2 O3 ratio = 5.5 , aluminosilicate) are mixed to obtain a raw material composition having the following composition. rice field.
SiO 2 / Al 2 O 3 ratio = 25
P / SiO 2 ratio = 0.1
SDA / SiO 2 ratio = 0.121
SDA ratio = "Dab-4" / (TMAda + "Dab-4")
= 0.79
OH / SiO 2 ratio = 0.80
Alkaline / SiO 2 ratio = 0.78
H 2 O / SiO 2 ratio = 28.4
得られた原料組成物を密閉容器内に充填し、この密閉容器を10rpmで回転させて原料組成物を撹拌した状態で140℃、4日間の条件で水熱処理を行うことにより、原料組成物を結晶化させた。結晶化工程後の原料組成物を固液分離し、固形分を純水で洗浄した後、70℃で乾燥して本実施例のゼオライトを得た。 The obtained raw material composition is filled in a closed container, and the raw material composition is obtained by performing hydrothermal treatment at 140 ° C. for 4 days in a state where the closed container is rotated at 10 rpm and the raw material composition is stirred. It was crystallized. The raw material composition after the crystallization step was separated into solid and liquid, and the solid content was washed with pure water and then dried at 70 ° C. to obtain the zeolite of this example.
XRDパターン及びDIFFaXパターンの比較結果によれば、本実施例のゼオライトは、CHA構造及びAFX構造の連晶構造からなる結晶構造を有する小細孔ゼオライトであった。また、上述した組成分析によれば、本実施例の小細孔ゼオライトでは、SiO2/Al2O3比が10.2、P/Al比が0.028、及び、P/T比が0.005であった。 According to the comparison results of the XRD pattern and the DIFFaX pattern, the zeolite of this example was a small pore zeolite having a crystalline structure having a CHA structure and an AFX structure. Further, according to the composition analysis described above, in the small pore zeolite of this example, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is 10.2, the P / Al ratio is 0.028, and the P / T ratio is 0. It was .005.
実施例2
原料組成物を以下の組成としたこと以外は実施例1と同様の方法で本実施例のゼオライトを得た。
SiO2/Al2O3比 =25
P/SiO2比 =0.2
SDA/SiO2比 =0.121
SDA比 =「Dab-4」/(TMAda+「Dab-4」)
=0.79
OH/SiO2比 =0.80
アルカリ/SiO2比 =0.78
H2O/SiO2比 =28.4
Example 2
The zeolite of this example was obtained by the same method as in Example 1 except that the raw material composition had the following composition.
SiO 2 / Al 2 O 3 ratio = 25
P / SiO 2 ratio = 0.2
SDA / SiO 2 ratio = 0.121
SDA ratio = "Dab-4" / (TMAda + "Dab-4")
= 0.79
OH / SiO 2 ratio = 0.80
Alkaline / SiO 2 ratio = 0.78
H 2 O / SiO 2 ratio = 28.4
XRDパターン及びDIFFaXパターンの比較結果によれば、本実施例のゼオライトは、CHA構造及びAFX構造の連晶構造からなる結晶構造を有する小細孔ゼオライトであった。また、上述した組成分析によれば、本実施例の小細孔ゼオライトでは、SiO2/Al2O3比が9.8、P/Al比が0.044、及び、P/T比が0.007であった。 According to the comparison results of the XRD pattern and the DIFFaX pattern, the zeolite of this example was a small pore zeolite having a crystalline structure having a CHA structure and an AFX structure. Further, according to the composition analysis described above, in the small pore zeolite of this example, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is 9.8, the P / Al ratio is 0.044, and the P / T ratio is 0. It was .007.
本実施例の小細孔ゼオライトのXRDパターンを図1に示し、SEM写真を図2に示す。 The XRD pattern of the small pore zeolite of this example is shown in FIG. 1, and the SEM photograph is shown in FIG.
実施例3
原料組成物を以下の組成としたこと以外は実施例1と同様の方法で本実施例のゼオライトを得た。
SiO2/Al2O3比 =25
P/SiO2比 =0.3
SDA/SiO2比 =0.121
SDA比 =「Dab-4」/(TMAda+「Dab-4」)
=0.79
OH/SiO2比 =0.80
アルカリ/SiO2比 =0.78
H2O/SiO2比 =28.4
Example 3
The zeolite of this example was obtained by the same method as in Example 1 except that the raw material composition had the following composition.
SiO 2 / Al 2 O 3 ratio = 25
P / SiO 2 ratio = 0.3
SDA / SiO 2 ratio = 0.121
SDA ratio = "Dab-4" / (TMAda + "Dab-4")
= 0.79
OH / SiO 2 ratio = 0.80
Alkaline / SiO 2 ratio = 0.78
H 2 O / SiO 2 ratio = 28.4
XRDパターン及びDIFFaXパターンの比較結果によれば、本実施例のゼオライトは、CHA構造及びAFX構造の連晶構造からなる結晶構造を有する小細孔ゼオライトであった。また、上述した組成分析によれば、本実施例の小細孔ゼオライトでは、SiO2/Al2O3比が5.8、P/Al比が0.050、及び、P/T比が0.013であった。 According to the comparison results of the XRD pattern and the DIFFaX pattern, the zeolite of this example was a small pore zeolite having a crystalline structure having a CHA structure and an AFX structure. Further, according to the composition analysis described above, in the small pore zeolite of this example, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is 5.8, the P / Al ratio is 0.050, and the P / T ratio is 0. It was 0.013.
実施例4
原料組成物を以下の組成としたこと以外は実施例1と同様の方法で本実施例のゼオライトを得た。
SiO2/Al2O3比 =25
P/SiO2比 =0.35
SDA/SiO2比 =0.121
SDA比 =「Dab-4」/(TMAda+「Dab-4」)
=0.79
OH/SiO2比 =0.80
アルカリ/SiO2比 =0.78
H2O/SiO2比 =28.4
Example 4
The zeolite of this example was obtained by the same method as in Example 1 except that the raw material composition had the following composition.
SiO 2 / Al 2 O 3 ratio = 25
P / SiO 2 ratio = 0.35
SDA / SiO 2 ratio = 0.121
SDA ratio = "Dab-4" / (TMAda + "Dab-4")
= 0.79
OH / SiO 2 ratio = 0.80
Alkaline / SiO 2 ratio = 0.78
H 2 O / SiO 2 ratio = 28.4
XRDパターン及びDIFFaXパターンの比較結果によれば、本実施例のゼオライトは、CHA構造及びAFX構造の連晶構造からなる結晶構造を有する小細孔ゼオライトであった。また、上述した組成分析によれば、本実施例の小細孔ゼオライトでは、SiO2/Al2O3比が5.2、P/Al比が0.071、及び、P/T比が0.020であった。 According to the comparison results of the XRD pattern and the DIFFaX pattern, the zeolite of this example was a small pore zeolite having a crystalline structure having a CHA structure and an AFX structure. Further, according to the composition analysis described above, in the small pore zeolite of this example, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is 5.2, the P / Al ratio is 0.071, and the P / T ratio is 0. It was .020.
実施例5(参考例)
リン源として、TEPBr水溶液の代わりにTEPOH水溶液を使用したこと、及び、原料組成物を以下の組成としたこと以外は実施例1と同様の方法で本実施例のゼオライトを得た。
SiO2/Al2O3比 =25
P/SiO2比 =0.0025
SDA/SiO2比 =0.121
SDA比 =「Dab-4」/(TMAda+「Dab-4」)
=0.79
OH/SiO2比 =0.80
Na/SiO2比 =0.78
H2O/SiO2比 =28.4
Example 5 (reference example)
The zeolite of this example was obtained by the same method as in Example 1 except that a TEPOH aqueous solution was used as the phosphorus source instead of the TEPBr aqueous solution and the raw material composition had the following composition.
SiO 2 / Al 2 O 3 ratio = 25
P / SiO 2 ratio = 0.0025
SDA / SiO 2 ratio = 0.121
SDA ratio = "Dab-4" / (TMAda + "Dab-4")
= 0.79
OH / SiO 2 ratio = 0.80
Na / SiO 2 ratio = 0.78
H 2 O / SiO 2 ratio = 28.4
XRDパターン及びDIFFaXパターンの比較結果によれば、本実施例のゼオライトは、CHA構造及びAFX構造の連晶構造からなる結晶構造を有する小細孔ゼオライトであった。また、上述した組成分析によれば、本実施例の小細孔ゼオライトでは、SiO2/Al2O3比が11.8、P/Al比が0.009、及び、P/T比が0.001であった。 According to the comparison results of the XRD pattern and the DIFFaX pattern, the zeolite of this example was a small pore zeolite having a crystalline structure having a CHA structure and an AFX structure. Further, according to the composition analysis described above, in the small pore zeolite of this example, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is 11.8, the P / Al ratio is 0.009, and the P / T ratio is 0. It was .001.
実施例6(参考例)
原料組成物を以下の組成としたこと以外は実施例5と同様の方法で本実施例のゼオライトを得た。
SiO2/Al2O3比 =25
P/SiO2比 =0.0125
SDA/SiO2比 =0.121
SDA比 =「Dab-4」/(TMAda+「Dab-4」)
=0.79
OH/SiO2比 =0.81
アルカリ/SiO2比 =0.78
H2O/SiO2比 =28.4
Example 6 (reference example)
The zeolite of this example was obtained by the same method as in Example 5 except that the raw material composition had the following composition.
SiO 2 / Al 2 O 3 ratio = 25
P / SiO 2 ratio = 0.0125
SDA / SiO 2 ratio = 0.121
SDA ratio = "Dab-4" / (TMAda + "Dab-4")
= 0.79
OH / SiO 2 ratio = 0.81
Alkaline / SiO 2 ratio = 0.78
H 2 O / SiO 2 ratio = 28.4
XRDパターン及びDIFFaXパターンの比較結果によれば、本実施例のゼオライトは、CHA構造及びAFX構造の連晶構造からなる結晶構造を有する小細孔ゼオライトであった。また、上述した組成分析によれば、本実施例の小細孔ゼオライトでは、SiO2/Al2O3比が8.8、P/Al比が0.003、及び、P/T比が0.001であった。 According to the comparison results of the XRD pattern and the DIFFaX pattern, the zeolite of this example was a small pore zeolite having a crystalline structure having a CHA structure and an AFX structure. Further, according to the composition analysis described above, in the small pore zeolite of this example, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio is 8.8, the P / Al ratio is 0.003, and the P / T ratio is 0. It was .001.
比較例1
リン源を使用しなかったこと、及び、原料組成物を以下の組成としたこと以外は、実施例1と同様の方法で本実施例のゼオライトを得た。
SiO2/Al2O3比 =25
P/SiO2比 =0
SDA/SiO2比 =0.121
SDA比 =「Dab-4」/(TMAda+「Dab-4」)
=0.79
OH/SiO2比 =0.80
アルカリ/SiO2比 =0.78
H2O/SiO2比 =28.4
Comparative Example 1
The zeolite of this example was obtained by the same method as in Example 1 except that no phosphorus source was used and the raw material composition had the following composition.
SiO 2 / Al 2 O 3 ratio = 25
P / SiO 2 ratio = 0
SDA / SiO 2 ratio = 0.121
SDA ratio = "Dab-4" / (TMAda + "Dab-4")
= 0.79
OH / SiO 2 ratio = 0.80
Alkaline / SiO 2 ratio = 0.78
H 2 O / SiO 2 ratio = 28.4
XRDパターン及びDIFFaXパターンの比較結果によれば、本比較例のゼオライトは、CHA構造及びAFX構造の連晶構造からなる結晶構造を有する小細孔ゼオライトであった。また、上述した組成分析によれば、本実施例の小細孔ゼオライトでは、SiO2/Al2O3比が12.4であったが、P/Al比が0、及び、P/T比が0であった。 According to the comparison results of the XRD pattern and the DIFFaX pattern, the zeolite of this comparative example was a small pore zeolite having a crystal structure having a CHA structure and an AFX structure. Further, according to the composition analysis described above, in the small pore zeolite of this example, the SiO 2 / Al 2 O 3 ratio was 12.4, but the P / Al ratio was 0 and the P / T ratio. Was 0.
実施例1~6及び比較例1の結果を下記表1に示す。 The results of Examples 1 to 6 and Comparative Example 1 are shown in Table 1 below.
測定例1
実施例2及び比較例1の小細孔ゼオライトを空気中500℃で10時間焼成した。焼成後の小細孔ゼオライトの評価結果を下記表2に示す。
Measurement example 1
The small pore zeolites of Example 2 and Comparative Example 1 were calcined in air at 500 ° C. for 10 hours. The evaluation results of the small pore zeolite after calcination are shown in Table 2 below.
上記表2より、実施例2の小細孔ゼオライトは、比較例1の小細孔ゼオライトと比べ、BET比表面積が大きく、なおかつ、マイクロ細孔容積が同程度であることが確認できた。これより、実施例2の小細孔ゼオライトはリンを含有しているにもかかわらず、結晶構造中の細孔がリンにより閉塞していないことが確認できた。 From Table 2 above, it was confirmed that the small pore zeolite of Example 2 had a larger BET specific surface area and the same micropore volume as that of the small pore zeolite of Comparative Example 1. From this, it was confirmed that the pores in the crystal structure were not blocked by phosphorus even though the small pore zeolite of Example 2 contained phosphorus.
測定例2
実施例2、実施例4及び比較例1の小細孔ゼオライトを空気中500℃で10時間焼成した。焼成後の各小細孔ゼオライトを空気中、750℃及び800℃のそれぞれで1時間熱処理し、熱処理前後の結晶化度を求め、以下の式に従って相対結晶化度を求めた。結果を下記表3に示す。
Measurement example 2
The small pore zeolites of Example 2, Example 4 and Comparative Example 1 were calcined in air at 500 ° C. for 10 hours. Each small pore zeolite after calcination was heat-treated in air at 750 ° C. and 800 ° C. for 1 hour to determine the crystallinity before and after the heat treatment, and the relative crystallinity was determined according to the following formula. The results are shown in Table 3 below.
相対結晶化度(%)=(熱処理後の小細孔ゼオライトの結晶化度
/熱処理前の小細孔ゼオライトの結晶化度)×100
Relative crystallinity (%) = (crystallinity of small pore zeolite after heat treatment)
/ Crystallinity of small pore zeolite before heat treatment) x 100
上記表3より、リンを含有する実施例2及び実施例4の小細孔ゼオライトは、リンを含有しない比較例1の小細孔ゼオライトよりも相対結晶化度が高いこと、すなわち、耐熱性が高いことが確認できた。さらに、実施例2よりもリンの含有量が多い(すなわち、上記表1に示すP/SiO2比が高い)実施例4の小細孔ゼオライトは、より相対結晶化度が高くなることが確認できた。 From Table 3 above, the small pore zeolites of Example 2 and Example 4 containing phosphorus have a higher degree of relative crystallinity than the small pore zeolite of Comparative Example 1 containing no phosphorus, that is, have heat resistance. It was confirmed that it was expensive. Further, it was confirmed that the small pore zeolite of Example 4 having a higher phosphorus content (that is, a higher P / SiO 2 ratio shown in Table 1 above) than that of Example 2 has a higher degree of relative crystallinity. did it.
本発明の小細孔ゼオライトは、例えば、アルコールやケトンからの低級オレフィン製造用触媒、クラッキング触媒、脱ろう触媒、異性化触媒、及び排気ガスからの窒素酸化物還元触媒及びこれらの触媒の基材として使用することができる。さらに、窒素酸化物還元触媒として使用することができる。また、優れた耐熱性を有しているため、高温の状況下でも使用することができる。 The small pore zeolite of the present invention is, for example, a catalyst for producing a lower olefin from alcohol or ketone, a cracking catalyst, a dewax catalyst, an isomerization catalyst, a nitrogen oxide reduction catalyst from exhaust gas, and a base material for these catalysts. Can be used as. Furthermore, it can be used as a nitrogen oxide reduction catalyst. Moreover, since it has excellent heat resistance, it can be used even under high temperature conditions.
Claims (12)
シリカアルミナ源、リン源、有機構造指向剤源、アルカリ源及び水を含む組成物を結晶化する結晶化工程、を有し、
前記有機構造指向剤源がCHA構造及びAFX構造のそれぞれを指向するカチオンを含む塩であり、前記リン源がテトラエチルホスホニウムブロミドを含むことを特徴とする小細孔ゼオライトの製造方法。 The method for producing a small pore zeolite according to any one of claims 1 to 6.
It has a crystallization step, which crystallizes a composition containing a silica-alumina source, a phosphorus source, an organic structure-directing agent source, an alkali source and water.
A method for producing a small pore zeolite, wherein the organic structure-directing agent source is a salt containing a cation that directs each of the CHA structure and the AFX structure, and the phosphorus source contains tetraethylphosphonium bromide .
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