JP7034840B2 - 外観検査装置および方法 - Google Patents
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Description
また、本発明の外観検査装置の1構成例において、前記指標算出部は、重複する領域も欠陥候補領域として抽出された前記欠陥候補領域のうち、1つの欠陥候補領域を対象領域とし、この対象領域とこれと重複する他の1つの欠陥候補領域との間の前記指標を算出し、前記欠陥領域抽出部は、前記指標が前記第2の閾値を超えた2つの重複する欠陥候補領域の和集合の領域を欠陥領域として抽出し、前記指標が前記第2の閾値を超えない対象領域を前記欠陥候補領域から削除し、前記指標算出部と前記欠陥領域抽出部とは、前記指標を算出していない対象領域がなくなるまで処理を繰り返すことを特徴とするものである。
本発明では、分割領域毎の連続的スコアによる判定結果を基に、最終的に対象物が不良品かどうかを決める最終的判定ロジックを設ける。ある分割領域に欠陥があるかどうか判定する場合に、各分割領域の判定スコアだけでなく、周辺領域の判定スコアとこの周辺領域の対象領域に対する重複度とを考慮する。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。図1は本発明の実施例に係る外観検査装置の構成を示すブロック図である。外観検査装置は、対象物10を照らす照明1と、対象物10を撮影するカメラ2と、カメラ2によって撮影された画像を基に対象物10の良否を判定する画像処理装置3と、判定結果を表示する表示装置4とから構成される。
続いて、分割部32は、例えばオペレータによって予め設定された領域指定に従って、検査画像を複数の分割領域に分割する(図2ステップS2)。このとき、各分割領域は、周辺の隣接する他の分割領域と一部が重複するように設定されている。
IoU=AO/AU ・・・(1)
こうして、重複する領域も欠陥候補領域として抽出された欠陥候補領域について、スコアSが高い順にステップS5~S8の処理を実施することにより、欠陥領域を抽出することができる。
こうして、本実施例では、微小な欠陥の漏れを防ぎつつ、不良品の過検出を抑制することができる。
Claims (4)
- 対象物を撮影した検査画像を、重複する領域が存在する状態で複数の分割領域に分割するように構成された分割部と、
前記分割領域毎に前記対象物の異常度を示すスコアを出力するように構成された画像判定モデルと、
前記分割領域のうち前記スコアが第1の閾値を超えた分割領域を欠陥候補領域として抽出するように構成された欠陥候補領域抽出部と、
1つの前記欠陥候補領域とこれと重複する他の1つの前記欠陥候補領域との重なり度合いを示す指標を算出するように構成された指標算出部と、
前記指標が第2の閾値を超えた2つの重複する欠陥候補領域の和集合の領域を欠陥領域として抽出するように構成された欠陥領域抽出部と、
前記欠陥領域の抽出結果に基づいて前記対象物の良否を判定するように構成された判定部とを備えることを特徴とする外観検査装置。 - 請求項1記載の外観検査装置において、
前記指標算出部は、重複する領域も欠陥候補領域として抽出された前記欠陥候補領域のうち、1つの欠陥候補領域を対象領域とし、この対象領域とこれと重複する他の1つの欠陥候補領域との間の前記指標を算出し、
前記欠陥領域抽出部は、前記指標が前記第2の閾値を超えた2つの重複する欠陥候補領域の和集合の領域を欠陥領域として抽出し、前記指標が前記第2の閾値を超えない対象領域を前記欠陥候補領域から削除し、
前記指標算出部と前記欠陥領域抽出部とは、前記指標を算出していない対象領域がなくなるまで処理を繰り返すことを特徴とする外観検査装置。 - 対象物を撮影した検査画像を、重複する領域が存在する状態で複数の分割領域に分割する第1のステップと、
画像判定モデルを用いて前記分割領域毎に前記対象物の異常度を示すスコアを出力する第2のステップと、
前記分割領域のうち前記スコアが第1の閾値を超えた分割領域を欠陥候補領域として抽出する第3のステップと、
1つの前記欠陥候補領域とこれと重複する他の1つの前記欠陥候補領域との重なり度合いを示す指標を算出する第4のステップと、
前記指標が第2の閾値を超えた2つの重複する欠陥候補領域の和集合の領域を欠陥領域として抽出する第5のステップと、
前記欠陥領域の抽出結果に基づいて前記対象物の良否を判定する第6のステップとを含むことを特徴とする外観検査方法。 - 請求項3記載の外観検査方法において、
前記第4のステップは、重複する領域も欠陥候補領域として抽出された前記欠陥候補領域のうち、1つの欠陥候補領域を対象領域とし、この対象領域とこれと重複する他の1つの欠陥候補領域との間の前記指標を算出するステップを含み、
前記第5のステップは、前記指標が前記第2の閾値を超えた2つの重複する欠陥候補領域の和集合の領域を欠陥領域として抽出し、前記指標が前記第2の閾値を超えない対象領域を前記欠陥候補領域から削除するステップを含み、
前記指標を算出していない対象領域がなくなるまで前記第4、第5のステップを繰り返すことを特徴とする外観検査方法。
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