JP6965660B2 - 表面状態の数値化方法、接合特性の評価方法及び接合体の製造方法 - Google Patents
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Description
<1>測定対象の比表面積をガス吸着法により測定する工程を備える、表面状態の数値化方法。
<2>前記測定対象は金属である、<1>に記載の表面状態の数値化方法。
<3>前記測定対象はレーザー照射による表面処理を施されている、<1>又は<2>に記載の表面状態の数値化方法。
<4>前記比表面積はクリプトンガスを用いて測定される、<1>〜<3>のいずれか1項に記載の表面状態の数値化方法。
<5>測定対象の比表面積をガス吸着法により測定する工程と、前記比表面積が規格下限値に達しているか否かを判断する工程と、を備える、接合特性の評価方法。
<6>前記測定対象は金属である、<5>に記載の接合特性の評価方法。
<7>前記測定対象はレーザー照射による表面処理を施されている、<5>又は<6>に記載の接合特性の評価方法。
<8>前記比表面積はクリプトンガスを用いて測定される、<5>〜<7>のいずれか1項に記載の接合特性の評価方法。
<9>接合体を構成する部材に表面処理を施す工程と、前記表面処理を施した部材又は前記表面処理を施した部材に対応する測定対象の比表面積をガス吸着法により測定する工程と、前記比表面積が規格下限値に達しているか否かを判断する工程と、を備える、接合体の製造方法。
<10>前記測定対象は金属である、<9>に記載の接合体の製造方法。
<11>前記測定対象はレーザー照射による表面処理を施されている、<9>又は<10>に記載の接合体の製造方法。
<12>前記比表面積はクリプトンガスを用いて測定される、<9>〜<11>のいずれか1項に記載の接合体の製造方法。
本明細書において「工程」との語には、他の工程から独立した工程に加え、他の工程と明確に区別できない場合であってもその工程の目的が達成されれば、当該工程も含まれる。
また本明細書において「〜」を用いて示された数値範囲には、「〜」の前後に記載される数値がそれぞれ最小値及び最大値として含まれる。
本明細書中に段階的に記載されている数値範囲において、一つの数値範囲で記載された上限値又は下限値は、他の段階的な記載の数値範囲の上限値又は下限値に置き換えてもよい。また、本明細書中に記載されている数値範囲において、その数値範囲の上限値又は下限値は、実施例に示されている値に置き換えてもよい。
本開示の表面状態の数値化方法は、測定対象の比表面積をガス吸着法により測定する工程を備える。
一般に、粉体の比表面積の測定は少量(例えば、1g程度)でも測定値を得ることが可能であるが、上記方法では精度のよい測定結果を得るために充分な量の試料を準備することが好ましい。測定される比表面積の値が小さいほど、より多くの試料を準備することが好ましい。また、測定結果の再現性確認のために同じ試料を用いた測定を2回以上実施してもよい。
本開示の接合特性の評価方法は、測定対象の比表面積をガス吸着法により測定する工程と、前記比表面積が規格下限値に達しているか否かを判断する工程と、を備える。
本開示の接合体の製造方法は、接合体を構成する部材に表面処理を施す工程と、前記表面処理を施した部材又は前記表面処理を施した部材に対応する測定対象の比表面積をガス吸着法により測定する工程と、前記比表面積が規格下限値に達しているか否かを判断する工程と、を備える。
接合体の用途は特に制限されない。例えば、車両の内外装用部材、建造物の内外装用部材、産業用資材、生活用品等として利用することができる。
(1)試料の作製
アルミニウム板(厚さ2mm)の両面にレーザー照射による表面処理を施したものを用いて、幅5mm、長さ50mmの試料を作製した。次いで、作製した試料をサンプルセルに入れ、真空中で100℃に加熱して試料表面に付着しているガス成分を除去する前処理を実施した。
前処理を実施した試料(31個)を全自動ガス吸着量測定装置(Quantachrome社、AS−iQ)に配置し、定容法(ガス吸着に伴う圧力変化を検出)によりガス吸着量を測定し、BET法により比表面積を計算した。ガス吸着量の測定条件は下記のとおりである。結果を表1に示す。
・測定温度:77.3K(液体窒素冷却)
・セルサイズ:薄膜用セル20cm3、ステム外形1.2cmΦ
・測定範囲:表面積で0.005m2以上
・測定相対圧:0.03〜0.3 吸着側13点
・解析項目:BET比表面積解析
・測定回数:同一試料で2回
ガス吸着法による比表面積(m2/g)と比較するため、計測法による比表面積を測定した。具体的には、各試料の寸法(長さD、幅W、高さH)をノギスを用いて測定し、得られた値から試料が直方体と仮定したときの表面積を計算し、すべての試料の表面積の合計値を得た。この合計値をすべての試料の質量の合計値で除して得られた値を、計測法による比表面積(m2/g)とした。結果を表1に示す。さらに、ガス吸着法による比表面積の平均値(A)を計測法による比表面積(B)で除して指数化した値(A/B)を表1に示す。
ガス吸着法により得られた比表面積の平均値と試料の寸法及び質量から、試料1個あたりの表面積(cm2、片面あたり)を計算した。結果を表1に示す。
レーザーの照射条件を変更したこと以外は実施例1と同様にして試料を作製し、前処理を行った。次いで、前処理を実施した試料(26個)を用いて、実施例1と同様にしてガス吸着法による比表面積、計測法による比表面積、試料の片面あたり面積を得た。結果を表1に示す。
レーザーの照射条件を変更したこと以外は実施例1と同様にして試料を作製し、前処理を行った。次いで、前処理を実施した試料(26個)を用いて、実施例1と同様にしてガス吸着法による比表面積、計測法による比表面積、試料の片面あたり面積を得た。結果を表1に示す。
Claims (6)
- 測定対象の比表面積をガス吸着法により測定する工程と、ガス吸着法による測定対象の比表面積の平均値(A)を計測法による測定対象の比表面積(B)で除して指数化した値(A/B)を算出する工程と、前記比表面積及びA/Bが規格下限値に達しているか否かを判断する工程と、を備え、前記測定対象はレーザー照射による表面処理を施されている、接合特性の評価方法。
- 前記測定対象は金属である、請求項1に記載の接合特性の評価方法。
- 前記比表面積はクリプトンガスを用いて測定される、請求項1又は請求項2に記載の接合特性の評価方法。
- 接合体を構成する部材に表面処理を施す工程と、前記表面処理を施した部材又は前記表面処理を施した部材に対応する測定対象の比表面積をガス吸着法により測定する工程と、ガス吸着法による測定対象の比表面積の平均値(A)を計測法による測定対象の比表面積(B)で除して指数化した値(A/B)を算出する工程と、前記比表面積及びA/Bが規格下限値に達しているか否かを判断する工程と、を備え、前記測定対象はレーザー照射による表面処理を施されている、接合体の製造方法。
- 前記測定対象は金属である、請求項4に記載の接合体の製造方法。
- 前記比表面積はクリプトンガスを用いて測定される、請求項4又は請求項5のいずれか1項に記載の接合体の製造方法。
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