JP6946076B2 - Vacuum suction member - Google Patents
Vacuum suction member Download PDFInfo
- Publication number
- JP6946076B2 JP6946076B2 JP2017128069A JP2017128069A JP6946076B2 JP 6946076 B2 JP6946076 B2 JP 6946076B2 JP 2017128069 A JP2017128069 A JP 2017128069A JP 2017128069 A JP2017128069 A JP 2017128069A JP 6946076 B2 JP6946076 B2 JP 6946076B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- porous member
- coating
- vacuum suction
- substrate
- coating film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Manipulator (AREA)
Description
本発明は、半導体基板または液晶用ガラス基板など基板を吸着保持するために用いられる真空吸着部材に関する。 The present invention relates to a vacuum suction member used for sucking and holding a substrate such as a semiconductor substrate or a glass substrate for a liquid crystal display.
露光機などの半導体製造装置において、半導体ウエハなどの基板の均一な吸着のため、例えば多孔質部材からなる載置部が、樹脂またはガラスなどの接着剤により緻密質部材からなる支持部に接合されることで構成された真空吸着部材が提案されている(例えば、特許文献1参照)。当該真空吸着部材によれば、支持部に形成された吸気孔および載置部を通じて、当該載置部に載置された基板に対して真空吸着力を作用させる。多孔質部材は、セラミックス粒子(例えばアルミナ粒子)がガラスにより連結された網目状構造を有している。 In semiconductor manufacturing equipment such as an exposure machine, for uniform adsorption of a substrate such as a semiconductor wafer, for example, a mounting portion made of a porous member is joined to a support portion made of a dense member with an adhesive such as resin or glass. A vacuum suction member composed of the above has been proposed (see, for example, Patent Document 1). According to the vacuum suction member, a vacuum suction force is applied to the substrate mounted on the mounting portion through the intake hole and the mounting portion formed in the support portion. The porous member has a network structure in which ceramic particles (for example, alumina particles) are connected by glass.
しかし、基板を載置部に載置する際、基板と載置部とが擦れ合うことにより多孔質部材を構成する粒子が脱離し、当該脱離粒子によって基板の平坦性が低下する可能性がある。また、当該脱離粒子によって基板の表面に傷跡がつき、当該基板由来の製品の歩留まりを悪化させる可能性がある。 However, when the substrate is mounted on the mounting portion, the particles constituting the porous member may be desorbed due to the rubbing between the substrate and the mounting portion, and the desorbed particles may reduce the flatness of the substrate. .. In addition, the desorbed particles may cause scars on the surface of the substrate, which may deteriorate the yield of the product derived from the substrate.
そこで、本発明は、多孔質部材を構成する粒子の脱離の抑制を図りうる真空吸着部材を提供することにある。 Therefore, the present invention is to provide a vacuum suction member capable of suppressing desorption of particles constituting the porous member.
本発明の第1態様の真空吸着部材は、多孔質部材を備え、基板を吸着保持する真空吸着部材であって、前記多孔質部材の前記上面を覆う被膜を備え、前記被膜の気孔率は前記多孔質部材の気孔率よりも小さく、前記多孔質部材が有する開気孔の連通により構成される真空経路の少なくとも一部が被膜により塞がれることなく維持されることを特徴とする。 The vacuum suction member of the first aspect of the present invention is a vacuum suction member that includes a porous member and sucks and holds a substrate, and includes a coating film that covers the upper surface of the porous member, and the porosity of the coating film is the above. It is characterized in that it is smaller than the porosity of the porous member, and at least a part of the vacuum path formed by the communication of the open pores of the porous member is maintained without being blocked by the coating film.
本発明の第2態様の真空吸着部材は、上面および裏面を有し、前記上面から前記裏面に向かう方向に窪んでいる凹部と、前記裏面から前記凹部の底面にかけて設けられた貫通孔で構成される連通経路と、が形成されている緻密質部材と、前記緻密質部材の前記凹部に収容され、上面および裏面を有し、所定の気孔率を有する多孔質部材と、を備え、基板を吸着保持するための真空吸着部材であって、前記多孔質部材の前記上面には、当該多孔質部材よりも低い気孔率を有する被膜を備え、前記多孔質部材の開気孔または前記多孔質部材および前記被膜に存在する開気孔により構成される2次真空経路の前記被膜の表面と前記多孔質部材の前記裏面との間の連通が維持されていることを特徴とする。 The vacuum suction member of the second aspect of the present invention has an upper surface and a back surface, and is composed of a recess recessed in the direction from the upper surface to the back surface and a through hole provided from the back surface to the bottom surface of the recess. A dense member having a communication path, and a porous member accommodated in the recess of the dense member, having an upper surface and a back surface, and having a predetermined porosity, and adsorbing a substrate. A vacuum suction member for holding, the upper surface of the porous member is provided with a coating having a lower porosity than the porous member, and the open pores of the porous member or the porous member and the said. It is characterized in that communication between the front surface of the coating film and the back surface of the porous member of the secondary vacuum path formed by the open pores existing in the coating film is maintained.
本発明の真空吸着部材によれば、基板が真空吸着部材に載置された際、被膜の表面が基板の載置面となり、多孔質部材よりも気孔率が低い被膜によって多孔質部材が基板から保護されているので、当該多孔質部材を構成する粒子の脱落が確実に抑制される。また、多孔質部材の上面に被膜を備えても、多孔質部材が有する開気孔が連通することにより構成されている真空経路(1次真空経路)は塞がれず、前記被膜の表面と前記多孔質部材の前記裏面との間の真空経路(2次真空経路)の連通が維持されることから、その通気性が損なわれないため、真空吸着部材の上面に載置された基板が確実に真空吸着保持される。 According to the vacuum suction member of the present invention, when the substrate is placed on the vacuum suction member, the surface of the coating becomes the mounting surface of the substrate, and the porous member is removed from the substrate by the coating having a lower porosity than the porous member. Since it is protected, the falling off of the particles constituting the porous member is surely suppressed. Further, even if the upper surface of the porous member is provided with a coating film, the vacuum path (primary vacuum path) formed by communicating the open pores of the porous member is not blocked, and the surface of the coating film and the porous member are not blocked. Since the communication of the vacuum path (secondary vacuum path) with the back surface of the quality member is maintained, the air permeability is not impaired, so that the substrate placed on the upper surface of the vacuum suction member is surely vacuumed. It is adsorbed and held.
本発明の真空吸着部材において、前記多孔質部材の少なくとも一部は、セラミックス粒子により構成され、前記被膜は、セラミックス溶射膜であることが好ましい。 In the vacuum suction member of the present invention, it is preferable that at least a part of the porous member is composed of ceramic particles, and the coating film is a ceramic sprayed film.
当該構成の真空吸着部材によれば、少なくとも一部がセラミックス粒子により構成されている多孔質部材とセラミックス溶射膜である被膜との密着性を高め、被膜の堅固性の向上が図られる。 According to the vacuum suction member having this structure, the adhesion between the porous member whose at least a part is composed of ceramic particles and the coating film which is a ceramic sprayed film is improved, and the firmness of the coating film is improved.
本発明の真空吸着部材において、前記被膜の気孔率は1%以上かつ20%以下であることが好ましい。 In the vacuum suction member of the present invention, the porosity of the coating film is preferably 1% or more and 20% or less.
当該構成の真空吸着部材によれば、被膜の緻密質性が多孔質部材の保護の観点から適当な範囲に設計される。 According to the vacuum suction member having this configuration, the denseness of the coating film is designed within an appropriate range from the viewpoint of protecting the porous member.
本発明の真空吸着部材において、前記被膜は導電性を有する膜であることが好ましい。 In the vacuum suction member of the present invention, the coating film is preferably a conductive film.
当該構成の真空吸着部材によれば、基板と被膜との摩擦により静電気が発生しても、被膜が連続している範囲で電荷が移動することができ、電荷の滞留が防止される。このため、静電引力が基板と載置部とを離間させる妨げになる事態が回避され、かつ、基板または基板由来の製品の静電破壊が回避される。 According to the vacuum suction member having this configuration, even if static electricity is generated due to friction between the substrate and the coating film, the electric charge can move within the range where the coating film is continuous, and the accumulation of the electric charge is prevented. Therefore, the situation in which the electrostatic attraction hinders the separation between the substrate and the mounting portion is avoided, and the electrostatic destruction of the substrate or the product derived from the substrate is avoided.
(第1実施形態)
(構成)
図1には、本発明の一実施形態としての真空吸着部材3の一部を断面で示し、真空吸着部材3は、緻密質部材1と、多孔質部材2と、被膜22と、を備えている。
(First Embodiment)
(composition)
FIG. 1 shows a part of a
緻密質部材1は、略平板形状(例えば円盤形状)のアルミナ、窒化珪素、炭化珪素およびジルコニアから選ばれるセラミックス焼結体により構成されている。緻密質部材1は、上面4および裏面5を有し、上面4から底面5に向かう方向に向かって窪んでいる略円形状の凹部12と、底面5から前記凹部12の底面13にかけて設けられた貫通孔で構成される、凹部12の底面13の中央部に開口部を有する連通経路10と、が形成されている。なお、凹部12の底面13は、周縁部から中央部に向かって徐々に低くなるような凹球面状に形成されていてもよい。
The dense member 1 is composed of a ceramic sintered body selected from alumina, silicon nitride, silicon carbide and zirconia having a substantially flat plate shape (for example, a disk shape). The dense member 1 has a top surface 4 and a
多孔質部材2は、表面6および裏面7と、表面6と裏面7との間にある側面8と、を備えた略円盤状の部材であって、アルミナ、アルミナおよびガラスの焼結体、または、炭化珪素およびガラスの焼結体により構成されている。多孔質部材2の気孔が前記表面6と前記裏面7との間で連通することで開気孔を構成し、2次真空経路を構成し、例えば、平均気孔径が10〜150μmになり、気孔率が20〜40%になるように設計されている。多孔質部材2の原料として平均粒子径30〜150μmのアルミナ粉末または炭化珪素粉末が採用されてもよい。多孔質部材2は、緻密質部材1の凹部12に収容され、裏面7が全体的に凹部12の底面13から離間している状態で、側面8が全周にわたり緻密質部材1に対して接合されている。
The
なお、緻密質部材1および多孔質部材2の接合は、ガラスまたはガラスおよびセラミックスに由来する接合剤を緻密質部材1の凹部12および多孔質部材2の間に介在させた状態で緻密質部材1の凹部12に多孔質部材2を嵌め込み、加熱処理を施すことにより当該接合剤由来の接合層によって緻密質部材1および多孔質部材2が接合されてもよい。
The dense member 1 and the
緻密質部材1の凹部12の底面13および側面、ならびに、多孔質部材2の裏面7により画定されている空間は1次真空経路R1を構成する。なお、真空経路は、連通経路10、1次真空経路R1および2次真空経路R2により構成される。
The
凹部12の底面13に連通経路10に連通する溝(例えば、放射状の溝または放射状の溝および同心円状の溝の組み合わせ)が形成されていてもよい。さらに、緻密質部材1の裏面7の一部(溝に該当しない部分)が凹部12の底面13に接合されてもよい。なお、接合剤としては、ガラスまたはガラスおよびセラミックスに由来する接合剤を用いてもよい。
A groove communicating with the communication path 10 (for example, a radial groove or a combination of a radial groove and a concentric groove) may be formed on the
本発明の一実施形態としての真空吸着部材3の製造は以下のように行われる。まず、アルミナ等で構成される焼結体からなる緻密質部材1が準備される、
多孔質部材2の原料粉末であるアルミナ粉末およびガラス粉末、または、炭化ケイ素粉末およびガラス粉末に、水またはアルコールを加えて混合して調整されたスラリーが、緻密質部材1の凹部12に充填される。連通経路10および凹部12のうち1次真空経路R1を構成する部分には樹脂等の消失部材により予め閉塞または充填されている。
The production of the
The
緻密質部材1の凹部12に充填された前記スラリーが十分に乾燥された後、ガラスの軟化点以上で焼成される。これにより、緻密質部材1の凹部12に収容され、下面が全体的に凹部12の底面13から離間している状態で、側面が全周にわたり緻密質部材1に対して接合されている多孔質部材2が形成される。さらに、多孔質部材2の下面および凹部12の底面13により上下が画定された略円柱状の空間が1次真空経路R1と同時に形成される。
After the slurry filled in the
図2に示されているように、多孔質部材2には、その表面6から下面7まで連通する開気孔24により構成されている2次真空経路R2を有している。多孔質部材2の表面6には、少なくとも部分的に、好ましくは全面的に、多孔質部材2の上面または上面付近のセラミックス粒子21を覆う被膜22が形成されている。被膜22が、多孔質部材2の表面6または表面6付近のセラミックス粒子21を部分的に覆っている部分は、被膜22の一部が多孔質部材2の開気孔24を構成する壁面の一部も覆っており、被膜22の一部に開口23が形成される。被膜22は溶射膜により形成されていてもよく、その気孔率は、例えば1〜20%であり、1〜6%であることが好ましい。被膜22の気孔率が1%を下回ると多孔質部材2を構成する粒子と、被膜22の密着性が低下し、被膜22の気孔率が20%を超えると被膜22自体が多孔質部材2から脱離しやすくなる。被膜22の厚さは、例えば1〜300[μm]であり、1〜30[μm]であることが好ましい。被膜22が300μmよりも厚いと2次真空経路R2の通気性が損なわれてしまう。被膜22が1μmよりも薄いと多孔質部材2を構成する粒子の脱粒を抑制する効果が低下してしまう。
As shown in FIG. 2, the
被膜22が、多孔質部材2の上面4または上面4付近のセラミックス粒子21を全面的に覆い、多孔質部材2の開気孔24の開口23を塞いだ状態で覆っている場合、被膜22自体が多孔質部材2とは異なる気孔率を有する多孔質体であることから、被膜22に存在する開気孔と多孔質部材2が有する開気孔24とを合わせて、2次真空経路R2となる。なお、セラミックス粒子21は、断面視で島状となる形態のセラミックス組織を示す。
When the
被膜22は、プラズマ溶射法により形成されてもよい。一対の電極の間にArガスなどの不活性ガスを流しながら放電を生じさせて当該不活性ガス由来のプラズマジェットを発生させ、プラズマジェットに原料粉末を供給して、基材である多孔質部材2に対して吹き付けることにより当該原料粉末由来の溶射膜が被膜22として形成される。
The
被膜22はmHVOF溶射法により形成されてもよい。アセチレン、エチレン、プロパさせた炎に原料粉末またはそのスラリーを供給して、基材である多孔質部材2に対して吹き付けることにより当該原料粉末由来の溶射膜が被膜22として形成される。
The
被膜22は、イオンプレーティング法により形成されてもよい。チャンバに基材である多孔質部材2を収容し、チャンバを高真空状態(例えば10-5〜10-3[Pa])にしてから不活性ガス(アルゴンなど)または反応性ガス(窒素、炭化水素など)を注入する。電子銃(熱電子発生陰極)からの電子ビームにより原料(金属)を加熱して蒸発させ、当該原料由来のプラズマイオンを発生させ、反応性ガスとの化合物を多孔質部材2に退席させることにより当該原料粉末由来の溶射膜が被膜22として形成される。
The
そのほか、プラズマCVD法、スパッタリング法などにより被膜22が形成されてもよい。
In addition, the
被膜22の上面に基板Wが載置された場合、この基板Wに対して、連通経路10と、緻密質部材1の凹部12の底面13および多孔質部材2の裏面7の間隙により上下が画定されている1次真空経路R1と、多孔質部材2の開気孔24および被膜22に存在する開気孔により構成される2次真空経路R2と、を通じて真空吸引力を作用させて、当該基板Wを吸着保持する。
When the substrate W is placed on the upper surface of the
[実施例]
[実施例1]
外径360[mm]、厚さ30[mm]の略円盤状のアルミナ焼結体が緻密質部材1として作製された。緻密質部材1には、径300[mm]、深さ5[mm]の上面4から略円形状に窪んでいる凹部12が形成され、かつ、凹部12の底面13の中央部から緻密質部材1の底面5にわたって径10[mm]の略円形断面の貫通孔が連通経路10として形成された。
[Example]
[Example 1]
A substantially disk-shaped alumina sintered body having an outer diameter of 360 [mm] and a thickness of 30 [mm] was produced as the dense member 1. The compact member 1 is formed with a
第1のアルミナ原料粉末(平均粒径120[μm])、第2のアルミナ原料粉末(平均粒径60[μm])、ガラス粉末として平均粒径15[μm]のホウ珪酸ガラスおよび蒸留水を、2:1:1:1の質量比で混錬してスラリーが作製された。 A first alumina raw material powder (average particle size 120 [μm]), a second alumina raw material powder (average particle size 60 [μm]), borosilicate glass having an average particle size of 15 [μm] and distilled water as glass powder. A slurry was prepared by kneading at a mass ratio of 2: 1: 1: 1.
連通経路10および1次真空経路R1に樹脂(消失部材)を充填した後、緻密質部材1の凹部12にスラリーが充填され、緻密質部材1に振動を加えてスラリー中の粉末を沈降させた。必要に応じて、スラリーの脱泡処理が行われてもよい。その後、100℃での乾燥処理によりスラリーの水分を蒸発させ、1000℃で2〜20[hr]で熱処理されることにより、アルミナ粒子およびガラスにより構成される多孔質部材2が作製された。
After filling the
そして、プラズマ溶射法によりアルミナからなる被膜22が多孔質部材2の表面6に形成されることにより実施例1の真空吸着部材3が作製された。
Then, the
[実施例2]
プラズマ溶射法ではなくHVOF溶射法により、アルミナ粉末(D50:4[μm])を原料とし、アルミナからなる被膜22が多孔質部材2の表面6に形成されたほかは実施例1と同様の条件により実施例2の真空吸着部材3が作製された。
[Example 2]
The same conditions as in Example 1 except that a
[実施例3]
HVOF溶射法によりシリコン粉末(D50:2.7[μm])を原料として、シリコンからなる被膜22が多孔質部材2の表面6に形成されたほかは実施例2と同様の条件により実施例3の真空吸着部材3が作製された。
[Example 3]
Example 3 under the same conditions as in Example 2 except that a
[実施例4]
イオンプレーティング法により、原料としてTiを用い、反応性ガスとしてN2が用いられ、TiNからなる被膜22が多孔質部材2の表面6に形成されたほかは実施例1と同様の条件により実施例4の真空吸着部材3が作製された。
[Example 4]
By the ion plating method, Ti was used as a raw material, N 2 was used as a reactive gas, and a
[比較例]
[比較例1]
被膜22が多孔質部材2の表面6に形成されていないほかは実施例1と同様の条件により比較例1の真空吸着部材が作製された。すなわち、多孔質部材2の表面6が基板Wの載置面になる。
[Comparison example]
[Comparative Example 1]
The vacuum suction member of Comparative Example 1 was produced under the same conditions as in Example 1 except that the
(評価方法)
実施例および比較例のそれぞれの真空吸着部材の被膜22の厚さは、断面のSEM観察により測定された。実施例および比較例のそれぞれの真空吸着部材の被膜22の気孔率はJIS R1634に準拠して多孔質部材2についてはアルキメデス法により測定され、被膜22についてはアルキメデス法またはSEM観察による見かけ体積と真比重とに基づいて求める重量気孔率法により測定された。
(Evaluation method)
The thickness of the
実施例および比較例のそれぞれの真空吸着部材3の被膜22の上面に、または、多孔質部材2の上面に基板Wが載置された後、当該基板Wの表面における傷、スクラッチを評価した。評価方法は、JIS H0614に準拠して蛍光灯を光源とし、基板Wの表面の照度を1000〜2000ルクスとして基板Wの全面の検査を行い、判定基準はマイクロスクラッチ(表面に生じた蛍光灯下で目視される線状の深い傷)について、累計長が基板Wの直径300(mm)/4以下であれば「〇」、それ以上であれば「×」と判定した。
After the substrate W was placed on the upper surface of the
基板Wが真空吸着部材3に吸着保持されている際の、真空吸引経路(連通経路10→1次真空経路R1→2次真空経路R2)の圧力が、吸着保持力の指標として測定された。被膜22のシート抵抗率が、高抵抗・抵抗率計であるハイレスターUX(三菱化学アナテリック社製)MCP−HT800を用いて測定された。基板Wが真空吸着部材3に吸着保持されている際の、当該基板Wの表面電位が表面電位系#344(トレック・ジャパン社製)を用いて測定された。
The pressure in the vacuum suction path (
当該評価結果が表1にまとめて示されている。 The evaluation results are summarized in Table 1.
表1より次のことがわかる。各実施例の真空吸着部材によれば、吸着保持後の基板Wに傷等がみられなかったのに対して、比較例1の真空吸着部材によれば、吸着保持後の基板Wに傷等がみられた。各実施例の真空吸着部材の基板Wの吸着保持力は、比較例1の真空吸着部材のそれと遜色がなかった。実施例3、4の真空吸着部材によれば、被膜22が導電性を有し、比較例1と比較して基板Wに帯電が抑制されていることが示された。
The following can be seen from Table 1. According to the vacuum suction member of each embodiment, no scratches or the like were found on the substrate W after suction holding, whereas according to the vacuum suction member of Comparative Example 1, the substrate W after suction holding was scratched or the like. Was seen. The suction holding force of the substrate W of the vacuum suction member of each example was not inferior to that of the vacuum suction member of Comparative Example 1. According to the vacuum suction members of Examples 3 and 4, it was shown that the
1‥緻密質部材、2‥多孔質部材、3‥真空吸着部材、4‥上面、5‥底面、6‥表面、7‥裏面、8‥側面、10‥連通経路、12‥凹部、13‥底面、21‥セラミックス粒子、22‥被膜、23‥開口、24‥開気孔、25‥被膜表面、R1‥1次真空経路、R2‥2次真空経路。 1 ... Dense member, 2 ... Porous member, 3 ... Vacuum suction member, 4 ... Top surface, 5 ... Bottom surface, 6 ... Surface surface, 7 ... Back surface, 8 ... Side surface, 10 ... Communication path, 12 ... Recession, 13 ... Bottom surface , 21 ... Ceramic particles, 22 ... Coating, 23 ... Opening, 24 ... Open pores, 25 ... Coating surface, R1 ... Primary vacuum path, R2 ... Secondary vacuum path.
Claims (4)
前記多孔質部材の前記上面を覆う被膜を備え、前記被膜の気孔率は前記多孔質部材の気孔率よりも小さく、前記被膜の厚さは1μm以上かつ30μm以下であり、前記多孔質部材が有する開気孔の連通により構成される真空経路の少なくとも一部が被膜により塞がれることなく維持されており、前記多孔質部材の少なくとも一部は、セラミックス粒子により構成され、前記被膜は、セラミックス溶射膜であることを特徴とする真空吸着部材。 A vacuum suction member that has a porous member and holds the substrate by suction.
A coating covering the upper surface of the porous member is provided, the porosity of the coating is smaller than the porosity of the porous member, the thickness of the coating is 1 μm or more and 30 μm or less, and the porous member has. At least a part of the vacuum path formed by the communication of the open pores is maintained without being blocked by the coating, and at least a part of the porous member is composed of ceramic particles, and the coating is a ceramic spray film. vacuum suction member, characterized in der Rukoto.
前記緻密質部材の前記凹部に収容され、上面および裏面を有し、所定の気孔率を有する多孔質部材と、を備え、
基板を吸着保持するための真空吸着部材であって、
前記多孔質部材の前記上面には、当該多孔質部材よりも低い気孔率を有する被膜を備え、前記被膜の厚さは1μm以上かつ30μm以下であり、
前記多孔質部材の少なくとも一部は、セラミックス粒子により構成され、前記被膜は、セラミックス溶射膜であり、
前記多孔質部材の開気孔または前記多孔質部材および前記被膜に存在する開気孔により構成される2次真空経路の前記被膜の表面と前記多孔質部材の前記裏面との間の連通が維持されていることを特徴とする真空吸着部材。 A dense material that has an upper surface and a back surface and is formed with a recess that is recessed in the direction from the upper surface to the back surface and a communication path formed by a through hole provided from the back surface to the bottom surface of the recess. Parts and
A porous member housed in the recess of the dense member, having an upper surface and a back surface, and having a predetermined porosity.
A vacuum suction member for sucking and holding a substrate.
The upper surface of the porous member is provided with a coating having a porosity lower than that of the porous member, and the thickness of the coating is 1 μm or more and 30 μm or less.
At least a part of the porous member is composed of ceramic particles, and the coating film is a ceramic sprayed film.
Communication between the front surface of the coating and the back surface of the porous member in the secondary vacuum path composed of the open pores of the porous member or the open pores existing in the porous member and the coating is maintained. A vacuum suction member characterized by being present.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017128069A JP6946076B2 (en) | 2017-06-29 | 2017-06-29 | Vacuum suction member |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017128069A JP6946076B2 (en) | 2017-06-29 | 2017-06-29 | Vacuum suction member |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019012757A JP2019012757A (en) | 2019-01-24 |
JP6946076B2 true JP6946076B2 (en) | 2021-10-06 |
Family
ID=65226916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017128069A Active JP6946076B2 (en) | 2017-06-29 | 2017-06-29 | Vacuum suction member |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6946076B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2022092023A1 (en) * | 2020-10-28 | 2022-05-05 | ||
JP2023148394A (en) * | 2022-03-30 | 2023-10-13 | 東京エレクトロン株式会社 | Inspection device |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4480071B2 (en) * | 2004-05-26 | 2010-06-16 | 株式会社タンケンシールセーコウ | Porous material for suction pad |
JP4681255B2 (en) * | 2004-05-26 | 2011-05-11 | 株式会社タンケンシールセーコウ | Porous carbon |
JP4666656B2 (en) * | 2007-02-27 | 2011-04-06 | 太平洋セメント株式会社 | Vacuum adsorption apparatus, method for producing the same, and method for adsorbing an object to be adsorbed |
WO2009013941A1 (en) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | Creative Technology Corporation | Substrate suction apparatus and method for manufacturing the same |
JP5225024B2 (en) * | 2008-10-30 | 2013-07-03 | 京セラ株式会社 | Suction board and vacuum suction device |
-
2017
- 2017-06-29 JP JP2017128069A patent/JP6946076B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019012757A (en) | 2019-01-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5225024B2 (en) | Suction board and vacuum suction device | |
KR101932429B1 (en) | Plasma resistant coating layer, method of manufacturing the same and Plasma resistant unit | |
KR100997374B1 (en) | Electrode static chuck and method of manufacturing the same | |
KR100978957B1 (en) | Substrate mounting stage and substrate processing apparatus | |
KR101531726B1 (en) | Electrostatic chuck and method for producing same | |
US20140116338A1 (en) | Coating for performance enhancement of semiconductor apparatus | |
JP6715762B2 (en) | Method of manufacturing joined body | |
JP6946076B2 (en) | Vacuum suction member | |
WO2009013941A1 (en) | Substrate suction apparatus and method for manufacturing the same | |
US10468289B2 (en) | Substrate holding member | |
US10332771B2 (en) | Joined body manufacturing method and joined body | |
JP2012221979A (en) | Plasma processing apparatus | |
TW201841297A (en) | Electrostatic sucker and manufacturing method thereof and plasma treatment device | |
KR101122709B1 (en) | Electrode static chuck | |
TW200947603A (en) | Substrate mounting stand for plasma processing device, plasma processing device, and insulating coating deposition method | |
JP4031419B2 (en) | Electrostatic chuck and manufacturing method thereof | |
JP2008177339A (en) | Electrostatic chuck | |
KR20100090559A (en) | Electrostatic chuck having aerosol coating layer and fabrication method thereof | |
US20230298861A1 (en) | Member for semiconductor manufacturing apparatus | |
JP2011100844A (en) | Device having electrostatic chucking function and method of manufacturing the same | |
JP2004079861A (en) | Electrostatic chuck | |
WO2024117149A1 (en) | Vacuum chuck and method for producing same | |
TWI847343B (en) | Member for semiconductor manufacturing apparatus | |
JP2004031479A (en) | Electrostatic chuck | |
WO2024089762A1 (en) | Wafer placement table |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200309 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210121 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210126 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210325 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210907 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210915 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6946076 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |