JP6940323B2 - 紫外線センサのカソード電極の製造方法および紫外線センサ - Google Patents

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本発明は、アノード電極とカソード電極との間の放電によって生じる電流に基づいて紫外線を検出する紫外線センサのカソード電極の製造方法および紫外線センサに関する。
従来より、自動車のボディーや部品の塗装ラインの乾燥炉、アルミや亜鉛ダイキャストの溶解炉、および金属部品の焼き入れ用の熱処理炉などの各種工業炉において、燃焼安全装置の火炎検出センサとして紫外線センサが用いられている。
図7を参照して、火炎検出センサとして用いられている紫外線センサの構成について説明する(例えば、特許文献1,2参照)。
図7において、11はホウ珪酸ガラスで構成されたガラスパッケージである。ガラスパッケージ11は、内部空間に特殊な混合ガス(NeとH2の混合ガス)が一定圧で封入されている。また、ガラスパッケージ11の上面には天板12が設けられており、この天板12には紫外線を透過できるガラスが使用されている。また、ガラスパッケージ11の内部に、所定の間隙を隔てて互いの面(電極面)を対向させた円板状のカソード電極13およびアノード電極14が設けられている。
アノード電極14には、このアノード電極14をカソード電極13が設けられている方向から支える複数の導電性の支柱15(15−1〜15−3)の一端部がレーザ溶接されており、この導電性の支柱15(15−1〜15−3)の他端部はガラスパッケージ11の外部に引き出されている。また、アノード電極14には、複数の貫通孔14aが網目状に形成されている。
カソード電極13にも、アノード電極14と同様、カソード電極13を支える複数の導電性の支柱16(16−1〜16−3)の一端部がレーザ溶接されており、この導電性の支柱16(16−1〜16−3)の他端部はガラスパッケージ11の外部に引き出されている。
このように構成された紫外線センサ1では、天板12を通過した紫外線がアノード電極14の貫通孔14aを通ってカソード電極13に到達すると、光電効果により電子が放出され、その後、封入ガス・電圧により電子なだれが発生して放電が開始される。すなわち、アノード電極14とカソード電極13との間に電流が流れ、このアノード電極14とカソード電極13との間に流れる電流に基づいて、天板12を通過した特定波長の紫外線のみが紫外線センサ1によって検出される。
なお、光電効果とは、物質が光を吸収した際に内部の電子が励起され、それに伴って電子が飛び出す現象を言う。この光電効果において、物質表面から電子を1つ取り出すのに必要なエネルギーは仕事関数と呼ばれ、入射される光のエネルギーをhν、仕事関数をw、物質から飛び出す電子の運動エネルギーをEとした場合(図8参照)、E=hν−wと表される。
特開2012−255730号公報 特開2015−115228号公報
従来の紫外線センサでは、電流を多く流すために、カソード電極の電極材料として、高融点金属であるタングステン(W)が用いられている。このW電極タイプの紫外線センサでは、大電流を流すため、ガラスパッケージ内の残留イオンが多くなり、誤動作(紫外線がない状態でも放電する)を起こし易いという問題があった。
図9に、従来のW電極タイプの紫外線センサにおけるカソード電極(W電極)のX線回折測定結果を示す。このX線回折測定結果から分かるように、従来のW電極の面方位は、(200)が最大となっている。タングステンは、圧延率が97%以上となると、(200)面に配向する。図9に示した例では、タングステンの圧延率を99.7%(38mm→0.1mm)としている。図10に、従来のW電極の断面イメージを示す。
タングステンは、面方位が(200)である場合、仕事関数が4.63eVとなり、限界感度波長(カットオフ波長)が268nmとなる(図11参照)。この限界感度波長268nmが上述した誤動作を起こし易い原因となる。
なお、図11において、面方位(200),(222)は、原子密度が面方位(100),(111)と同じであり、仕事関数や限界感度波長も面方位(100),(111)と同じ値となる。
また、タングステンの面方位を(110)とすれば、仕事関数を大きくし、限界感度波長を小さくして、限界感度波長を240nm以下とすることが可能であるが、タングステンの面方位を(110)に配向させる有効な方法がなかった。
本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、誤動作を起こし難い、W電極タイプの紫外線センサを提供することにある。
このような目的を達成するために本発明は、アノード電極(14)とカソード電極(13)との間の放電によって生じる電流に基づいて紫外線を検出する紫外線センサ(1)のカソード電極の製造方法であって、タングステン材を圧延処理する圧延工程(S101)と、圧延工程によって圧延処理されたタングステン材の表面をスパッタリングするスパッタリング工程(S102)とを備え、スパッタリング工程は、スパッタリングにより生じるタングステンのスパッタ粒がタングステン材の表面を覆い尽くすまでスパッタリングを続けることを特徴とする。
この発明によれば、タングステン材を圧延処理することによって、タングステン材の面方位が(200)に配向させられる。そして、この圧延処理されたタングステン材の表面をスパッタリングし、このスパッタリングをタングステンのスパッタ粒がタングステン材の表面を覆い尽くすまで続けることによって、スパッタ粒の面方位が(110)に配向させられる。
本発明において、紫外線の当たる面をタングステン材のスパッタ粒が覆われた面とすると、紫外線の当たる面の面方位が(110)に配向し、仕事関数が5.25eV、限界感度波長が237nmとなる(図11参照)。これにより、仕事関数を大きくし、限界感度波長を小さくして、240nm以下とすることが可能となり、誤動作を起こし難くすることができるようになる。
なお、上記説明では、一例として、発明の構成要素に対応する図面上の構成要素を、括弧を付した参照符号によって示している。
以上説明したことにより、本発明によれば、タングステン材を圧延処理し、この圧延処理されたタングステン材の表面をスパッタリングし、このスパッタリングをタングステンのスパッタ粒がタングステン材の表面を覆い尽くすまで続けるようにしたので、スパッタ粒が覆われた面の面方位を(110)とし、仕事関数を大きくし、限界感度波長を小さくして、240nm以下にすることが可能となり、誤動作を起こし難くい、W電極タイプの紫外線センサを提供することができるようになる。
図1は、本発明に係る紫外線センサのカソード電極の製造方法の一実施の形態を説明するための工程図である。 図2は、圧延処理されたタングステン材の断面イメージを示す図である。 図3は、圧延処理されたタングステン材の表面にスパッタ粒の層が形成された状態を示す図である。 図4は、スパッタ粒の層の表面(W電極の表面)を示す顕微鏡写真である。 図5は、本願のW電極の断面イメージを示す図である。 図6は、本願と従来のW電極の分光測定結果を示す図である。 図7は、紫外線センサの要部を示す斜視図である。 図8は、光電効果によって飛び出す電子の運動エネルギーと入射される光のエネルギーと仕事関数との関係を説明する図である。 図9は、従来のW電極のX線回折測定結果を示す図である。 図10は、従来のW電極の断面イメージを示す図である。 図11は、タングステンの面方位とその面方位における仕事関数および限界感度波長を例示する図である。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
本実施の形態では、図1に示すように、先ず、タングステン材を圧延処理し(ステップS101)、次に、この圧延処理されたタングステン材の表面をスパッタリングする(ステップS102)。
ステップS101において、タングステン材を圧延処理すると、タングステン材の面方位が(200)に配向させられる(図2参照)。本実施の形態では、圧延率を97%以上、例えば99.7%(38mm→0.1mm)とする。
図2では、圧延処理されたタングステン材を符号21で示している。なお、このタングステン材の圧延処理は、タングステン材の納入前に行われていてもよい。すなわち、タングステン材を供給するメーカ側で行われていてもよい。
ステップS102では、連続放電を行うことにより、圧延処理されたタングステン材21の表面をスパッタリングし、このスパッタリングにより生じるタングステンのスパッタ粒をタングステン材21の表面に堆積させる。タングステン材21の表面に堆積するスパッタ粒の面方位は(110)であり、このスパッタ粒がタングステン材21の表面を覆い尽くすまで、スパッタリングを続ける。
具体的には、タングステン材21の表面からの放電を350ボルト以上の印加電圧で少なくとも10日間連続して行う。これにより、図3に示すように、タングステン材21の表面に、面方位(110)のスパッタ粒の層22が形成される。このタングステン材21の表面にスパッタ粒の層22が形成された電極を図7に示した紫外線センサ1のカソード電極(W電極)13として用いる。図4に、スパッタ粒の層22の表面(W電極13の表面)の状態を示す。
なお、ステップS102での連続放電は、タングステン材21を紫外線センサのカソード電極として組み込んだ状態で行うようにしてもよく、カソード電極として組み込む前の状態で行うものとしてもよい。
また、熱処理などでは、タングステン材21の表面の面方位を(110)に配向させることができないので、本実施の形態では、連続放電によってタングステン材21の表面にスパッタ粒を堆積させ、タングステン材21の表面の面方位を(110)に配向させている。
このW電極13を組み込んだ紫外線センサ1では、図5に示すように、紫外線の当たる面をタングステン材21のスパッタ粒が覆われた面(スパッタ粒の層22の表面)とする。これにより、紫外線の当たる面の面方位が(110)に配向し、仕事関数が5.25eV、限界感度波長が237nmとなる(図11参照)。
すなわち、従来のW電極(図10)では、紫外線の当たる面の面方位が(200)であり、仕事関数が4.63eV、限界感度波長が268nmであった。これに対し、本願のW電極13では、紫外線の当たる面の面方位が(110)に配向し、仕事関数が5.25eV、限界感度波長が237nmとなる。
図6に、本願と従来のW電極の分光測定結果を示す。なお、図6において、横軸は波長(nm)、縦軸は放電回数を示し、Iは本願のW電極の分光測定結果、IIは従来のW電極の分光測定結果を示す。従来のW電極では、限界感度波長が268nmとなるが、本願のW電極では、限界感度波長を240nm以下にすることができる。これにより、本願のW電極を組み込んだ紫外線センサでは、誤動作を起こし難くいものとなる。
〔実施の形態の拡張〕
以上、実施の形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明の技術思想の範囲内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
1…紫外線センサ、11…ガラスパッケージ、13…カソード電極(W電極)、14…アノード電極、21…圧延処理されたタングステン材、22…スパッタ粒の層。

Claims (4)

  1. アノード電極とカソード電極との間の放電によって生じる電流に基づいて紫外線を検出する紫外線センサのカソード電極の製造方法であって、
    タングステン材を圧延処理する圧延工程と、
    前記圧延工程によって圧延処理された前記タングステン材の表面をスパッタリングするスパッタリング工程とを備え、
    前記スパッタリング工程は、
    前記スパッタリングにより生じるタングステンのスパッタ粒が前記タングステン材の表面を覆い尽くすまで前記スパッタリングを続ける
    ことを特徴とする紫外線センサのカソード電極の製造方法。
  2. 請求項1に記載された紫外線センサのカソード電極の製造方法において、
    前記圧延工程は、
    前記タングステン材の面方位を(200)に配向させ、
    前記スパッタリング工程は、
    前記スパッタ粒の面方位を(110)に配向させる
    ことを特徴とする紫外線センサのカソード電極の製造方法。
  3. 請求項1に記載された紫外線センサのカソード電極の製造方法において、
    前記スパッタリング工程は、
    前記スパッタリングとして、前記タングステン材の表面からの放電を350ボルト以上の印加電圧で少なくと10日間連続して行う
    ことを特徴とする紫外線センサのカソード電極の製造方法。
  4. アノード電極とカソード電極との間の放電によって生じる電流に基づいて紫外線を検出する紫外線センサであって、
    前記カソード電極は、
    請求項1又は2に記載された紫外線センサのカソード電極の製造方法で製造されている
    ことを特徴とする紫外線センサ。
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