JP6910181B2 - 弁要素、流体制御弁及び半導体製造装置 - Google Patents
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Description
フッ素系樹脂は、元来耐熱性及び耐食性に優れ、その他に非粘着性、低摩擦といった長所も有するため、高温下で腐食性のガスが用いられる半導体製造分野に本流体制御弁が使用される場合に好適に用いられる。
しかしながら、フッ素系樹脂は、接着性が悪いため、下地としてプライマーが必要となり、これが前述したコンタミの原因ともなり得る。
これに対し、前記架橋改質フッ素系樹脂は、フッ素系樹脂に特定の条件下で電離放射線を照射するなどして、架橋させたものであり、架橋時に自ら金属と化学的に結合し、金属基体に直接接着することができるので、コンタミの要因ともなるプライマーを不要化できる。なお、ここでの架橋とは、樹脂同士の架橋であって、金属と樹脂との架橋という意味ではない。
該流量制御装置100は、半導体製造装置に用いられるものであって、図1に示すように、例えば半導体プロセスに用いられるガス等の流体が流れる流路51を形成したボディ5と、このボディ5の流路51を流れる流体の流量をセンシングする流量検知機構2と、前記流路51を流れる流体の流量を制御する流体制御弁3と、前記流量検知機構2の出力する測定流量を予め定めた設定流量に近づけるべく流体制御弁3の弁開度を制御する制御部(図示しない)とを具備する。以下に各部を詳述する。
とともに、収容凹部52の内側周面に接触することなく当該内側周面から所定の間隔をおいて配置され、その上面に着座面6aを有する概略回転体形状をなすものである。
前記基体61は、例えば円盤部611及び該円盤部611から同軸で一体に延出する小径の円柱部612とからなるものである。前記円盤部611における反円柱部側の一端面には、幅広円環有底溝状の凹部61aが形成してある。
架橋改質フッ素系樹脂とは、フッ素系樹脂に特定の条件下で電離放射線を照射するなどして、架橋させたものであり、改質前に比べ、摩耗性が向上し、クリープの度合いも大きく低減する。
共有結合は、配位結合やイオン結合、分子間力等と比べて強い結合であるので、前記架橋改質フッ素系樹脂と金属基体61とを強い結合力で安定して接着することができる。
樹脂層は、架橋改質フッ素系樹脂のみならず、種々の樹脂、例えばポリアミド、ポリカーボネート、PBTなどのポリエステル樹脂や、エポキシ樹脂、不飽和ポリステル樹脂などでもよい。これらの場合、接着剤を不要とするため、例えば、金属基体の表面に特定の薬剤を使用するなどして反応性官能基を形成しておき、この反応性官能基と樹脂とを加熱するなどして化学結合させる。
前記基体に前記樹脂を塗布する前に、前記基体の表面をブラスト加工により粗面化して表面積を増やし、前記樹脂層と前記基体との間の化学結合をより形成しやすくしても良い。
前記化学結合とは、前述した共有結合に限らず、配位結合、イオン結合、又は分子間力による結合などを含むものである。
前記実施形態ではノーマルクローズタイプの流体制御弁であったが、例えば、図10に示すように、ノーマルオープンタイプの流体制御弁に本発明を適用しても構わない。
例えば、図10記載のノーマルオープンタイプの流体制御弁のさらに他の変形例として、図13に示すように、弁体部材6の着座面6aに前記樹脂層62が形成されていてもよい。
また、前記実施形態では、流量制御装置について記載したが、本発明は、例えば圧力制御装置として構成されていても良い。
弁体部材や弁座部材の形状も、前記実施形態に限られるものではない。
図6〜9では、弁体部材に流体が流通する孔6pや溝6qが形成されていたが、図10〜図12に示すように、流体が流通する孔4pや溝4qが弁座部材4の基体表面に形成されていても良い。
さらに言えば、流体が流通する孔又は溝が弁座部材及び弁体部材の両方に形成されていても良い。
なお、図6〜図12において、前記実施形態に対応する構造や部材には同じ符号を付している。
3・・・流体制御弁
4・・・弁座部材
6・・・弁体部材
6a・・・着座面
62・・・樹脂層
7・・・アクチュエータ(駆動機構)
6p・・・孔
6q・・・溝
Claims (7)
- 弁座面が表面に形成された弁座部材と前記弁座面に着座する着座面が表面に形成された弁体部材とを具備し、前記弁座面と着座面との離接によって流体の流れを制御する流体制御弁であって、
前記弁座部材又は弁体部材の少なくともいずれか一方が、金属製の基体と、該基体の表面を被覆して前記弁座面又は着座面の一部又は全部を形成する樹脂層とを具備したものであり、前記樹脂層が、前記基体に直接化学結合していることを特徴とする流体制御弁を備えている半導体製造装置。 - 前記樹脂層が、架橋改質フッ素系樹脂で形成してある請求項1記載の半導体製造装置。
- 前記基体の表面に流体が流通する溝又は孔が形成してあり、前記樹脂層が前記溝又は孔を避けて形成されていることを特徴とする請求項1記載の半導体製造装置。
- 前記弁座部材又は弁体部材が、ピエゾ素子の伸縮を利用した駆動機構によって駆動され、前記弁座面と着座面とが離接するように構成されていることを特徴とする請求項1記載の半導体製造装置。
- 前記架橋改質フッ素系樹脂が、テトラフルオロエチレン系共重合体、テトラフルオロエチレン‐パーフルオロ(アルキルビニルエーテル)系共重合体、テトラフルオロエチレン‐ヘキサフルオロプロピレン系共重合体、テトラフルオロエチレン‐エチレン系共重合体、ポリクロロトリフルオロエチレン系共重合体から選ばれる1種又は2種以上を混合して得られたものを架橋改質したものであることを特徴とする請求項2記載の半導体製造装置。
- 弁座面が表面に形成された弁座部材と前記弁座面に着座する着座面が表面に形成された弁体部材とを具備し、前記弁座面と着座面との離接によって流体の流れを制御する流体制御弁であって、
前記弁座部材又は弁体部材の少なくともいずれか一方が、金属製の基体と、該基体の表面を被覆して前記弁座面又は着座面の一部又は全部を形成する樹脂層とを具備したものであり、前記樹脂層が、前記基体に直接共有結合していることを特徴とする流体制御弁を備えている半導体製造装置。 - 請求項1又は6に記載の半導体製造装置に使用される流体制御弁。
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