JP6897285B2 - Document deficiency examination system - Google Patents
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Description
本発明は,割賦などを申し込む際に必要となる申込書類の不備を審査するためのシステムに関する。 The present invention relates to a system for examining deficiencies in application documents required when applying for installments and the like.
自動車など高額商品の代金の支払いに,高額商品の購入に係る代金を分割して支払う割賦(ローン)が以前より利用されている。割賦を利用して高額商品を購入する購買者は,購買者の氏名などの必要事項を記入し購買者の印鑑などを捺印した申込書を作成した後,割賦の申込みを受付ける受付センタに申込書を含む一式の申込書類を郵送し,受付センタにて,未捺印など申込書類に含まれる書類の不備が審査される。 Installments (loans), in which the price for purchasing high-priced products is divided and paid, have been used for the payment of high-priced products such as automobiles. A purchaser who purchases a high-priced product using an installment payment fills in necessary items such as the purchaser's name, creates an application form with the purchaser's seal stamped, etc., and then sends the application form to the reception center that accepts the installment application. A set of application documents including the above will be mailed, and the reception center will examine the incompleteness of the documents included in the application documents such as unseal.
申込書類に係る不備審査を全て人が行うと,申込書類の不備審査に要する時間が多大になり,かつ,申込書類の不備審査に要する人員も多数になるため,申込書類の不備審査を効率的に行えることが必要になっている。 If all the deficiency examinations related to the application documents are performed by a person, the time required for the deficiency examination of the application documents will be long, and the number of personnel required for the deficiency examination of the application documents will be large. It is necessary to be able to do it.
申込書類の不備審査を効率的に行える発明として,申込書類に含まれる書類の画像データを取り込んだ後,申込書類に含まれる書類に設けられた記入欄に対応する画像から文字情報やマーク情報を読み取って不備のある書類を選別する発明が特許文献1にて開示されている。 As an invention that can efficiently examine deficiencies in application documents, after importing the image data of the documents included in the application documents, character information and mark information are extracted from the image corresponding to the entry field provided in the documents included in the application documents. Patent Document 1 discloses an invention that reads and selects deficient documents.
特許文献1で開示されている発明では,申込書類に含まれる書類に設けられた記入欄に対応する範囲の画像から文字情報やマーク情報を読み取って不備を自動的に判別しているが,手書きの文字から記入不備を自動的に判別できないこともあるため,書類画像から記入不備などの不備を人が目視で判別する場合も依然として多い。 In the invention disclosed in Patent Document 1, character information and mark information are read from the image in the range corresponding to the entry field provided in the document included in the application document to automatically determine the deficiency, but handwriting is performed. Since it may not be possible to automatically identify an entry deficiency from the characters in, it is still often the case that a person visually determines an entry deficiency or the like from a document image.
申込書類の不備審査を人が目視で行う場合であっても,申込書類の不備審査の効率化は重要な課題である。また,申込書類の不備審査を人が目視で行う場合,申込書類の不備審査に係る審査ミスの低減化も重要な課題になる。そこで,本発明では,申込書類の不備審査を人が行う場合であっても,申込書類の不備審査を効率化良く実施でき,かつ,申込書類の不備審査に係る審査ミスを低減できるシステムを提供する。 Even when a person visually examines deficiencies in application documents, improving the efficiency of deficiency examinations in application documents is an important issue. In addition, when a person visually examines deficiencies in application documents, reducing examination errors related to deficiency examinations in application documents is also an important issue. Therefore, the present invention provides a system that can efficiently carry out the deficiency examination of the application documents and reduce the examination mistakes related to the deficiency examination of the application documents even when a person performs the deficiency examination of the application documents. To do.
上記課題を解決する第1の発明は,申込書類に含まれる書類の不備を審査するためのシステムであって,申込書類に含まれる書類の不備を審査する作業者が操作する端末装置と,前記端末装置とネットワークを介して接続している不備審査管理装置とから少なくとも構成され,前記不備審査管理装置は,審査項目に対応する範囲の画像である審査項目画像を申込書類ごとに記憶する審査項目画像DBと,審査項目の審査内容を記した設問データを記憶した設問DBと,書類種別に設定された審査項目に係る項目別審査の手順を示す項目別審査テーブルを審査項目ごとに記憶した項目別審査DBと,前記端末装置から送信された回答データを審査項目ごとに記憶させる回答DBと,前記端末装置から審査項目が通知されると,前記端末装置から通知された審査項目に対応する前記項目別審査テーブルを前記項目別審査DBから取得して,審査項目の単位で申込書類の不備を審査する項目別審査を申込書類ごとに実行する項目別審査実行部を備え,前記項目別審査テーブルは,正常を示す回答データに次に不備審査する項目を関連付けることで,一つの前記設問データに係る回答データに他の前記設問データを関連付けた階層構造のテーブルで,前記項目別審査実行部は,前記項目別審査において,審査項目に対応する範囲の画像である審査項目画像,審査項目の審査内容を記した前記設問データを少なくとも前記端末装置に表示させ,前記端末装置から送信された回答データを前記回答DBに記憶する項目別審査処理を,前記端末装置から得られた正常を示す回答データに関連付けられた次に不備審査する項目がないか,または,前記端末装置から不備を示す回答データが得られるまで,審査項目に関連する項目について不備審査を実行する ことを特徴とする書類不備審査システムである。
第1の発明によれば,一つの申込書類に係る不備審査は前記階層構造に従い実行され,審査項目に関連する複数の項目について不備審査が行えるため,申込書類の不備審査を効率化良く実施できる。更に,第1の発明によれば,不備を示す回答データが前記端末装置から送信された場合,一つの申込書類に係る不備審査は終了するため,申込書類の不備審査を効率化良く実施できる。
The first invention for solving the above problems is a system for examining deficiencies in documents included in application documents, and a terminal device operated by a worker who examines deficiencies in documents included in application documents, and the above. An examination item that is composed of at least a terminal device and a deficiency examination management device connected via a network, and the deficiency examination management device stores an examination item image that is an image in a range corresponding to the examination item for each application document. An image DB, a question DB that stores question data that describes the examination contents of the examination items, and an item-specific examination table that shows the item-specific examination procedure related to the examination items set for the document type are stored for each examination item. The separate examination DB, the response DB that stores the response data transmitted from the terminal device for each examination item, and the examination item corresponding to the examination item notified from the terminal device when the examination item is notified from the terminal device. The itemized examination table is provided with an itemized examination execution unit that acquires the itemized examination table from the itemized examination DB and examines the deficiencies of the application documents for each application document. Is a hierarchical table in which the answer data indicating normality is associated with the item to be examined for deficiency next, and the answer data related to one question data is associated with the other question data. in another the item examination, examination item image is an image of a range corresponding to the inspection items, the question data that describes the examination contents of inspection items to be displayed on at least the terminal device, the reply data transmitted from the terminal device the itemized examination process of storing the reply DB, there are no items to deficiencies examination to the next associated with response data indicating the normal obtained from the terminal device, or, response data indicating the deficiencies from the terminal device This is a document deficiency examination system characterized in that deficiency examinations are carried out for items related to the examination items until the data is obtained.
According to the first invention, the deficiency examination related to one application document is executed according to the above-mentioned hierarchical structure, and the deficiency examination can be performed for a plurality of items related to the examination items, so that the deficiency examination of the application documents can be efficiently carried out. .. Further, according to the first invention, when the response data indicating the deficiency is transmitted from the terminal device, the deficiency examination for one application document is completed, so that the deficiency examination of the application documents can be efficiently performed.
更に,第2の発明は,第1の発明に記載した書類不備審査システムにおいて,前記不備審査管理装置の前記項目別審査実行部は,前記項目別審査処理において,前記端末装置から送信された回答データが所定の回答データの場合,回答を再確認させることを目的とした注意画面を前記端末装置に表示させることを特徴とする。第2の発明において,前記所定の回答データを審査ミスが多い回答データにすれば,審査ミスが多い回答データが入力された場合,回答データの再確認を作業者に行わせることができ,単発的に発生する審査ミスを低減できる。
Further, in the second invention, in the document deficiency examination system described in the first invention , the itemized examination execution unit of the deficiency examination management device responds sent from the terminal device in the itemized examination process. When the data is predetermined answer data, the terminal device is characterized by displaying a caution screen for the purpose of reconfirming the answer. In the second invention, if the predetermined answer data is used as the answer data having many examination mistakes, when the answer data having many examination mistakes is input, the worker can be made to reconfirm the answer data, and it is a single shot. It is possible to reduce examination mistakes that occur in the future.
更に,第3の発明は,第1の発明または第2の発明に記載した書類不備審査システムにおいて,前記不備審査管理装置の前記項目別審査実行部は,審査対象になる申込書類すべてにおいて前記項目別審査処理を実行すると,不備に対応する回答データの数を集計し,不備に対応する回答データの数が,不備に対応する回答データに予め設定されている発生頻度以上の場合,前記項目別審査処理で得られた回答データを無効化することを特徴とする。第3の発明によれば,不備に対応する回答データの数が異常に多い場合,回答データの入力にミスがあったと判定されるため,作業者の操作ミスにより連続的に発生する審査ミスを低減化できる。
Further, the third invention is the document deficiency examination system described in the first invention or the second invention, and the itemized examination execution unit of the deficiency examination management device has the above items in all the application documents to be examined. When the separate examination process is executed, the number of response data corresponding to the deficiency is totaled, and if the number of response data corresponding to the deficiency is equal to or higher than the frequency of occurrence preset in the response data corresponding to the deficiency, the item is classified. It is characterized by invalidating the response data obtained in the examination process. According to the third invention, when the number of answer data corresponding to the deficiency is abnormally large, it is determined that there was an error in the input of the answer data. It can be reduced.
本発明に係る書類不備審査システムは,審査項目単位で申込書類の不備審査を人が行えるように構成されている。審査項目単位で申込書類の不備審査を行えれば,申込書類の不備審査内容を単純化できるため,申込書類の不備審査を効率化良く実施でき,かつ,申込書類の不備審査に係る審査ミスを低減できる。 The document deficiency examination system according to the present invention is configured so that a person can examine deficiencies in application documents for each examination item. If the application document deficiency examination can be performed for each examination item, the application document deficiency examination content can be simplified, so that the application document deficiency examination can be carried out efficiently, and examination mistakes related to the application document deficiency examination can be made. Can be reduced.
ここから,本発明の好適な実施形態を記載する。なお,以下の記載は本発明の技術的範囲を束縛するものでなく,理解を助けるために記述するものである。 From here, preferred embodiments of the present invention will be described. The following description does not constrain the technical scope of the present invention, but is described to aid understanding.
図1は,本実施形態に係る書類不備審査システム1の構成と申込書類の不備審査フローを説明する図である。 FIG. 1 is a diagram for explaining the configuration of the document deficiency examination system 1 and the deficiency examination flow of application documents according to the present embodiment.
図1で図示したように,申込書類2の不備審査フローは,割賦などの利用を申し込む申込者から郵送された封筒2aを開封し,封筒2aに同封された申込書類2に含まれる書類の書類管理番号などの登録を行う開封・紐付工程P1と,申込者から郵送された申込書類2に含まれる各書類を画像化するスキャニング工程P2と,スキャニング工程P2で得られた書類画像を書類種別に応じて仕分けする処理を申込書類2ごとに行う仕分け工程P3と,不備審査の対象となる審査項目に対応する範囲の画像を審査項目画像として書類画像から切り出す処理を申込書類2ごとに行う切り出し工程P4と,切り出し工程P4で切り出した審査項目画像を利用して,審査項目ごとに不備審査を行う項目別審査工程P5と,申込者から郵送された申込書類2と不備審査結果を所定の指定機関に納品する納品工程P6を含む。
As shown in FIG. 1, in the deficiency examination flow of the
図1で図示した書類不備審査システム1は,申込書類2に含まれる書類の不備を審査するためのシステムで,申込書類2の不備審査を審査項目単位で実行する機能を備えた不備審査管理装置10と,申込書類2の不備審査に係る作業などを行う作業者が操作する端末装置11に加え,申込書類2に含まれる各書類を画像化するイメージスキャナ13と,イメージスキャナ13が画像化した書類画像などが登録されるストレージサーバ12を含み,不備審査管理装置10,端末装置11,ストレージサーバ12およびイメージスキャナ13はそれぞれネットワーク14に接続されている。図1で図示したストレージサーバ12は,開封・紐付工程P1およびスキャニング工程P2で主に利用される装置で,図1で図示したイメージスキャナ13は,スキャニング工程P2で利用される装置で,図1で図示した端末装置11は,項目別審査工程P5で主に利用される装置になる。
The document deficiency examination system 1 illustrated in FIG. 1 is a system for examining deficiencies in the documents included in the
図2は,図1で図示した書類不備審査システム1のブロック図である。図1で図示したストレージサーバ12は,大容量のデータ記憶デバイス(例えば,ハードディスク)を備えたサーバである。ストレージサーバ12は,データベース(DB: DataBase)として,封筒2aに同封された申込書類2に含まれる書類の書類管理番号が登録される管理番号DB120と,イメージスキャナ13が画像化した書類画像が登録される画像管理DB121を備える。ストレージサーバ12が備える管理番号DB120には,不備審査を行う品目で用いる申込書類2ごとに,申込書類2の識別に用いる申込管理番号に関連づけて,申込書類2に含まれる書類の書類管理番号が記憶される。また,ストレージサーバ12が備える画像管理DB121には,書類の書類画像が書類管理番号に関連付けて記憶される。
FIG. 2 is a block diagram of the document deficiency examination system 1 illustrated in FIG. The
図1で図示したイメージスキャナ13は,スキャニング工程P2で利用する機能として,原稿を光学的に走査して原稿を画像化する機能を備えた装置で,本実施形態では,画像化したデータに含まれるバーコードを読み取る機能も備えている。本実施形態では,イメージスキャナ13が光学的に走査する原稿は申込書類2に含まれる各書類になり,イメージスキャナ13は,申込書類2に含まれる各書類を光学的に走査し,申込書類2に含まれる書類を画像化したデータである書類画像とこの書類画像に含まれるバーコードの読み取り結果を,ネットワーク14を介してストレージサーバ12に送信し,ストレージサーバ12の画像管理DB121に書類画像を登録する。
The
書類不備審査システム1を構成する端末装置11は,ネットワーク14を介して不備審査管理装置10にアクセスして,申込書類2の不備審査に係る作業を行う機能を提供するアプリケーションが実装された装置である。図1では,CPUやRAMなどを有しディスプレイが接続されたパーソナルコンピュータとして端末装置11を図示しているが,端末装置11は,タッチパネルなどを有するタブレットコンピュータでもよい。
The
本実施形態に係る不備審査管理装置10は,スキャニング工程P2を実行するための機能として,申込書類2に含まれる書類の管理番号と書類画像をストレージサーバ12から取得して記憶する処理を行う品目受付部101を備える。また,本実施形態に係る不備審査管理装置10は,仕分け工程P3を実行するための機能として,品目受付部101がストレージサーバ12から受け付けた書類画像を書類種別に応じて仕分けする処理を申込書類2ごとに行う仕分け部102を備える。また,不備審査管理装置10は,切り出し工程P4を実行するための機能として,仕分け部102が仕分けした書類画像から審査項目に設定された範囲の画像を切り出し審査項目画像として記憶する処理を申込書類2ごとに行う切り出し部103を備える。また,不備審査管理装置10は,項目別審査工程P5を実行するための機能として,端末装置11から送信された審査項目に対応する審査項目画像を端末装置11に送信し,端末装置11を操作する作業者に審査項目単位で不備審査を実行させる処理を行う項目別審査実行部100を備える。
The defect
更に,不備審査管理装置10は,データベース(DB: Data Base)として,品目受付部101がストレージサーバ12から取得した書類画像等を申込書類2ごとに記憶する書類画像DB104と,仕分け部102の仕分け結果を記憶する仕分けDB105と,切り出し部103が申込書類2の書類画像から切り出した審査項目画像などを申込書類2ごとに記憶する審査項目画像DB106と,項目別審査の手順を示すデータを審査項目ごとに記憶した項目別審査DB107と,審査項目に対応した設問データを記憶した設問DB108と,端末装置11から送信された回答データを審査項目ごとに記憶させる回答DB109を備える。
Further, the deficiency
図3は,不備審査管理装置10が備える書類画像DB104を説明する図である。不備審査管理装置10が備える書類画像DB104には,申込書類2に含まれる書類の書類画像を記憶するフォルダ群が生成される。申込書類2に含まれる書類の書類画像を記憶するフォルダ群のルートになるフォルダは,不備審査を行う品目に対応するフォルダである品目フォルダ104aで,品目フォルダ104aの下には,申込書類2に含まれる書類の書類画像を保存するフォルダである個別フォルダ104bが,品目フォルダ104aに対応する品目において不備審査を行う申込書類2ごとに生成され,それぞれの個別フォルダ104bには,個別フォルダ104bが対応する申込書類2の申込管理番号が付加される。
FIG. 3 is a diagram illustrating a
図4は,不備審査管理装置10が備える仕分けDB105を説明する図である。不備審査管理装置10が備える仕分けDB105には,不備審査を行う品目に対応するフォルダである品目フォルダ105aの下に,書類種別に対応する書類画像が保存されているパスを記憶する仕分けテーブル105b(以下,TBL)が,申込書類2に含まれる書類の書類種別の数だけ生成される。書類種別に対応する書類画像が保存されているパスを記憶する仕分けTBL105bは,書類種別に対応する書類画像が保存されているパスを記憶するレコード105cを,不備審査を行う申込書類2の数だけ含み,一つのこのレコード105cは,申込書類2の申込管理番号を記憶するカラムと,申込管理番号に対応する申込書類2に含まれ,かつ,仕分けTBL105bの書類種別に対応する書類の書類画像を保存しているパスを記憶するカラムを含む。
FIG. 4 is a diagram illustrating a
図5は,不備審査管理装置10が備える審査項目画像DB106を説明する図である。不備審査管理装置10が備える審査項目画像DB106には,不備審査を行う品目に含まれる申込書類2から得られ審査項目画像を記憶するフォルダ群が生成される。このフォルダ群のルートになるフォルダは,品目名によって識別される品目フォルダ106aで,品目フォルダ106aの下には,品目に含まれる申込書類2ごとに,申込管理番号で識別される個別フォルダ106bが生成される。一つの個別フォルダ106bの下には,申込書類2に含まれる書類の書類種別ごとに,書類種別に対応した書類の書類画像から切り出した審査項目画像を保存する書類種別フォルダ106cが生成される。なお,審査項目画像とは,審査項目に対応する範囲から切り出した画像で,審査項目画像には,審査項目画像に対応する審査項目を示す審査項目管理番号が付加される。
FIG. 5 is a diagram illustrating an examination
図6は,不備審査管理装置10が備える項目別審査DB107を説明する図である。不備審査管理装置10が備える項目別審査DB107には,不備審査を行う品目に対応するフォルダである品目フォルダ107aが設けられ,品目フォルダ107aの下には,書類種別に設定された審査項目に係る項目別審査の手順を示す項目別審査TBL107cを保存する書類種別フォルダ107bが,申込書類2に含まれる書類の書類種別ごとに生成される。
FIG. 6 is a diagram illustrating an
項目別審査の手順を示す項目別審査TBL107cは,一つの設問データに係る回答データに他の設問データを関連付けた階層構造になっている。詳しくは,項目別審査TBL107cは,設問の識別に用いる設問管理番号,設問管理番号に対応する項目名,この項目名に対応する設問データおよびこの設問データに係る条件式を記憶するレコード107dを含む。一つのレコード107dに記憶される条件式は,回答データと次の設問管理番号を含む。
The itemized examination TBL107c, which shows the procedure of the itemized examination, has a hierarchical structure in which the answer data related to one question data is associated with the other question data. Specifically, the itemized examination TBL107c includes a question management number used for identifying a question, an item name corresponding to the question management number, question data corresponding to this item name, and a
本実施形態では,一つのレコード107dに2つの条件式を含ませている。一つの条件式に含ませる回答データは,正常(不備がない)を示す回答データで,この回答データには,項目別審査TBL107cに対応する審査項目に関連し,次に不備審査する項目に対応する設問管理番号を関連付けている。もう一つの条件式に含ませる回答データは,不備を示す回答データで,この回答データには,他の設問管理番号を関連付けていない。
In this embodiment, one
例えば,審査項目「印鑑」に対応する項目別審査TBL107cの最初のレコードには,最初の設問であることを示す設問管理番号,最初に不備審査する項目名(例えば,「捺印」),設問データ(例えば,「申込者と保証人全てについて朱色の捺印がある。」)に加え,2つの条件式が記憶される。一つ目の条件式は,回答データが「捺印あり」で,これには,次に不備審査する項目(例えば,「捨印」)に係る設問管理番号が関連付けられている。二つ目の条件式は,回答データが「捺印なし」で,これに対応する設問管理番号はNULL(設問管理番号がない)で,回答データが「捺印なし」の場合,審査項目「印鑑」の終了を意味している。 For example, in the first record of the itemized examination TBL107c corresponding to the examination item "seal", the question management number indicating that it is the first question, the item name to be examined first for deficiency (for example, "seal"), and the question data (For example, "There is a vermilion seal on all applicants and guarantors.") In addition, two conditional expressions are stored. In the first conditional expression, the response data is "stamped", and this is associated with the question management number related to the next item to be examined for deficiency (for example, "discarded"). In the second conditional expression, if the answer data is "no seal", the corresponding question management number is NULL (no question management number), and the answer data is "no seal", the examination item "seal" Means the end of.
同様に,審査項目「印鑑」に対応する項目別審査TBL107cの2番目のレコード,には,2番目の設問であることを示す設問管理番号,2番目に不備審査する項目名(例えば,「捨印」),設問データ(例えば,「捨印がある。」)に加えて,2つの条件式が記憶される。一つ目の条件式は,回答データが「捨印あり」で,これには,次に不備審査する項目に係る設問管理番号が関連付けられている。二つ目の条件式は,回答データが「捨印なし」で,これに対応する設問管理番号はNULL(設問管理番号がない)で,回答データが「捨印なし」の場合,審査項目「印鑑」の終了を意味している。 Similarly, in the second record of the item-specific examination TBL107c corresponding to the examination item "seal", the question management number indicating that the question is the second question, and the item name to be examined for the second deficiency (for example, "seal") "), In addition to the question data (for example," there is a stamp "), two conditional expressions are stored. In the first conditional expression, the answer data is "marked", and this is associated with the question management number related to the item to be examined for deficiencies next. In the second conditional expression, if the answer data is "no stamp", the corresponding question management number is NULL (no question management number), and the answer data is "no stamp", the examination item "seal" Means the end of.
図7は,不備審査管理装置10が備える回答DBのフォルダ構成を説明する図である。不備審査管理装置10が備える回答DB108には,不備審査を行う品目に対応するフォルダである品目フォルダ108aの下に,不備審査の対象となる審査項目ごとに,審査項目に係る設問データに対応する回答データを保存する回答TBL108bが生成され,回答TBL108bには,回答TBL108bに対応する審査項目管理番号が付加される。回答TBL108bは,設問データに対応する回答データを保存するレコード108cを,不備審査を行う申込書類2の数だけ含み,一つのこのレコード108cは,申込書類2の申込管理番号を記憶するカラムと,申込管理番号に対応する申込書類2に含まれ,かつ,回答TBL108bに対応する審査項目に係る審査項目画像を利用して得られた回答データを記憶するカラムを含む。
FIG. 7 is a diagram illustrating a folder structure of the answer DB included in the deficiency
ここから,申込書類2の不備審査フローに含まれる工程について説明する。不備審査フローに含まれる開封・紐付工程P1とスキャニング工程P2について説明する。図8は,開封・紐付工程P1とスキャニング工程P2を説明する図である。
From here, the process included in the deficiency examination flow of the
不備審査フローに含まれる開封・紐付工程P1において,不備審査の対象となる封筒2aを開封して申込書類2を人手で取り出す作業が実施される(S1)。一つの封筒2aから取り出した申込書類2に含まれる書類の紛失や他の申込書類2に紛れ込むことを防止すべく,封筒2aから取り出した申込書類2を作業袋に収納することが望ましい。
In the opening / linking process P1 included in the deficiency examination flow, the work of opening the envelope 2a subject to the deficiency examination and manually taking out the
次に,不備審査の対象となる封筒2aから取り出した申込書類2ごとに繰り返すループ処理(S2)が実行される。ループ処理(S2)において,まず,封筒2aから取り出した申込書類2に付加する申込管理番号をストレージサーバ12に登録する作業が実施される(S3)。次に,申込書類2に含まれる書類ごとに,書類に付加されたバーコードをバーコードリーダによって読み取り,書類に付加されたバーコードにエンコードされた書類管理番号をストレージサーバ12に登録する作業が実施される(S4)。ループ処理(S2)が実行されることで,ストレージサーバ12の管理番号DB120には,不備審査を行う品目で用いる申込書類2ごとに,申込書類2の識別に用いる申込管理番号に関連づけて,申込書類2に含まれる書類の書類管理番号が記憶される。
Next, a loop process (S2) that is repeated for each
図9は,封筒2aに同封される申込書類2を説明する図である。本実施形態において,申込者から郵送される申込書類2は,申込書20と,申込書20の添付資料となる確認書類21,22をあわせた構成になっている。図9では,申込書20と確認書類21,22それぞれで書類管理番号を付加する手法が異なっている。申込書20には,申込書20の書類管理番号をエンコードしたバーコード20aが予め印刷され,確認書類21,22には,確認書類21,22の書類管理番号をエンコードしたバーコードを印刷したシール21a,22aが貼られている。申込書類2の識別に用いる申込管理番号として連番号を用いることもできるが,本実施形態では,申込書20が申込書類2に必ず含まれるので,申込書20の書類管理番号を申込管理番号に利用することもできる。なお,一つの封筒2aに同封される申込書類2の構成は図9の構成に限定されるものではない。
FIG. 9 is a diagram illustrating the
次に,不備審査の対象となる封筒2aから取り出した申込書類2ごとに繰り返すループ処理(S5)が実行される。このループ処理(S5)において,申込書類2に含まれる書類すべてがイメージスキャナ13にセットされ,イメージスキャナ13は,イメージスキャナ13にセットされた書類をスキャニングする(S6)。イメージスキャナ13は,イメージスキャナ13にセットされた申込書類2に含まれる一つの書類のスキャニングが終了すると,イメージスキャナ13は,申込書類2に含まれる書類をスキャニングすることで生成した書類画像と,この書類画像に含まれるバーコードをデコードすることで得られた書類管理番号をストレージサーバ12に送信し(S7),ストレージサーバ12は,イメージスキャナ13から送信された書類画像を,イメージスキャナ13から送信された書類管理番号に関連付けた状態で画像管理DB121に登録する(S8)。
Next, a loop process (S5) that is repeated for each
不備審査対象になる申込書類2全てにおいてループ処理(S5)が終了すると,ストレージサーバ12の画像管理DB121には,不備審査を行う品目の対象になる申込書類2ごとに,申込書類2をスキャニングすることで得られた書類画像が保存されることになる。本実施形態では,申込書20と,申込書20の添付資料となる確認書類21,22が申込書類2に含まれるので,イメージスキャナ13からストレージサーバ12に送信される書類画像には,申込書20の書類画像,確認書類21の書類画像および確認書類22の書類画像が含まれる。
When the loop processing (S5) is completed for all the
不備審査管理装置10が不備審査を行う際,不備審査管理装置10の品目受付部101が起動し,不備審査管理装置10の品目受付部101は,ストレージサーバ12の管理番号DB120にアクセスして,不備審査を行う品目に係る申込管理番号と申込管理番号に関連付けられている書類管理番号を全て取得して,図3で図示したフォルダ群を書類画像DB104に生成した後,ストレージサーバ12の管理番号DB120から取得した書類管理番号ごとに,書類管理番号に関連付けられている書類画像をストレージサーバ12の画像管理番号DB121から取得してこのフォルダ群内に保存して(S9),図9で図示した手順は終了する。
When the deficiency
不備審査フローに含まれる仕分け工程P3について説明する。図8を用いて説明した手順が実行されることで,不備審査管理装置10の仕分け部102が作動し,不備審査管理装置10の仕分け部102は,書類画像DB104に保存している申込書類2の書類画像を書類種別に応じて仕分けする処理を行う。申込書類2の書類画像を書類種別に応じて仕分けする処理は,書類画像の所定領域に含まれる文字を文字認識したり,書類画像の所定領域に含まれるマークを光学認識したりして,自動的に書類画像を仕分けすることも可能であるが,本実施形態では,端末装置11に書類画像を表示させて,端末装置11を操作する作業者に書類画像を仕分けさせる。
The sorting process P3 included in the deficiency examination flow will be described. By executing the procedure described with reference to FIG. 8, the
図10は,本実施形態に係る仕分け工程P3を説明する図である。端末装置11を操作する作業者により,仕分けの対象になる品目名を含む仕分け要求を端末装置11が不備審査管理装置10へ送信し(S10),不備審査管理装置10が仕分け要求を端末装置11から受信すると(S11),不備審査管理装置10の仕分け部102が作動し,不備審査管理装置10の仕分け部102は,仕分け結果を記録する仕分けTBL105b等を仕分けDB105に生成する(S12)。
FIG. 10 is a diagram illustrating a sorting step P3 according to the present embodiment. By the operator who operates the
次に,不備審査管理装置10の仕分け部102は,不備審査管理装置10の書類画像DB104を参照し,仕分け要求の品目名に対応する品目フォルダ104aの下にある個別フォルダ104bごとに繰り返すループ処理(S13)を実行する。
Next, the
このループ処理(S13)において,不備審査管理装置10の仕分け部102は,ループ処理(S13)の対象になる個別フォルダ104bに下に保存されている書類画像と,書類の種別を選択するボタンオブジェクトを含む仕分け用画面を端末装置11へ送信し(S14),端末装置11が,作業者が選択した書類種別を送信すると(S15),端末装置11が送信した書類種別に対応する仕分けTBL105bに,ループ処理(S13)の対象になっている個別フォルダ104bに付加されている申込管理番号と,端末装置11へ送信した仕分け用画面に含ませた書類画像のパスを少なくとも記録するレコード105cを追加する(S16)。例えば,書類画像DB104において,管理番号「001」が付加されている個別フォルダ104bに保存されている申込書20の書類画像のパスは,仕分けDB105において,申込書20に対応する仕分けTBL105bに記録される。なお,S14からS16までの処理は,ループ処理(S13)の対象になる申込管理番号が付加された個別フォルダ104bの下にある書類画像ごとに実行される。
In this loop processing (S13), the
上述の内容が実行されることで,書類画像DB104に保存した申込書類2の書類画像に係る仕分け結果が仕分けDB105に保存される。本実施形態では,申込書20,確認書類21および確認書類22が申込書類2に含まれるので,申込書20の書類画像が記憶されているパス等が,申込書20に対応する仕分けTBL105bに保存され,確認書類21の書類画像が記憶されているパス等が,確認書類21に対応する仕分けTBL105bに保存され,そして,確認書類21の書類画像が記憶されているパス等が,確認書類21に対応する仕分けTBL105bに保存されることになる。
By executing the above contents, the sorting result related to the document image of the
ループ処理(S13)が全て終了すると,仕分けミスの軽減を図るために,不備審査管理装置10の仕分け部102は,仕分けTBL105bごとにレコード105cの数を集計し,仕分けTBL105bごとにレコード105cの数に異常がないか確認する(SS17)。仕分けTBL105bのレコード105cの数に異常(極端に多い,または,極端に少ない)がない場合,不備審査管理装置10の仕分け部102は,仕分け結果が正常と判定して(S18),図10で図示した手順は終了する。また,仕分けTBL105bのレコード105cの数に異常がある場合,不備審査管理装置10の仕分け部102は,仕分け結果に仕分けミスがあると判定して仕分けDB105に記憶した仕分け結果を無効化して(S19),図10で図示した手順は終了する。
When all the loop processing (S13) is completed, the
次に,不備審査フローに含まれる切り出し工程P4について説明する。仕分け工程P4が終了すると,不備審査管理装置10の切り出し部103が作動し,不備審査管理装置10の切り出し部103は,仕分け工程P3で得られた書類画像の仕分け結果を利用して,不備審査の対象となる審査項目の範囲に対応する画像を審査項目画像として切り出す処理を実行する。
Next, the cutting process P4 included in the deficiency examination flow will be described. When the sorting process P4 is completed, the
図11は,本実施形態に係る切り出し工程P4を説明する図である。不備審査管理装置10の切り出し部103は,切り出し工程P4の対象になる品目の品目名などを利用して,書類画像から切り出した審査項目画像を保存するフォルダ群(図5で示したフォルダ群)を審査項目画像DB106に生成する(S20)。
FIG. 11 is a diagram illustrating a cutting step P4 according to the present embodiment. The
次に,不備審査管理装置10の切り出し部103は,不備審査管理装置10の仕分けDB105を参照し,切り出し工程P4の対象になる品目の品目フォルダ105aの下にある仕分けTBL105bごとに繰り返すループ処理(S21)を実行して,図11の手順は終了する。
Next, the
ループ処理(S21)において,不備審査管理装置10の切り出し部103は,ループ処理(S21)の対象になる仕分けTBL105bに生成されているレコード105cごとに繰り返すループ処理(S22)を実行する。
In the loop processing (S21), the
このループ処理(S22)において,不備審査管理装置10の切り出し部103は,まず,ループ処理(S22)の対象になるレコード105cに記録されているパスを利用して,書類画像DB104から書類画像を取得し,ループ処理(S21)の対象になる仕分けTBL105bに対応する書類種別に設定された審査項目に対応する範囲の画像を審査項目画像として切り出す処理を実行する(S23)。
In this loop processing (S22), the
書類種別に設定された審査項目に対応する範囲の画像を審査項目画像として切り出せるように,書類種別ごとに,書類種別に設定された審査項目と,審査項目に対応する範囲が不備審査管理装置10の仕分け部102に設定され,不備審査管理装置10の仕分け部102は,ループ処理(S21)の対象になる仕分けTBL105bに対応する書類種別に設定された審査項目に対応する範囲の画像を審査項目画像として書類画像から切り出す(S23)。
The examination item set for the document type and the range corresponding to the examination item are inadequate for each document type so that the image of the range corresponding to the examination item set for the document type can be cut out as the examination item image. The
不備審査管理装置10の切り出し部103は,書類種別に設定された審査項目に対応する審査項目画像を書類画像から切り出すと,審査項目画像DB106を参照し,ループ処理(S22)の対象になるレコード105cに記録されている申込管理番号に対応する個別フォルダ106bの下にあり,ループ処理(S21)の対象になる仕分けTBL105bに対応する書類種別フォルダ106cに,審査項目を示す審査項目番号を関連づけて,書類画像から切り出した審査項目画像を保存する(S24)。例えば,申込書20に対応する仕分けTBL105bに含まれ,申込管理番号「001」が記録されたレコード105cのパスで示される申込書20の書類画像から切り出した審査項目「捺印」に係る審査項目画像は,審査項目画像DB106において,申込管理番号「001」が付加された個別フォルダ106bの下にあり,申込書20に対応する書類種別フォルダ106cに保存される。
When the examination item image corresponding to the examination item set for the document type is cut out from the document image, the
図12は,申込書20に設定された審査項目に対応する領域を説明する図である。図12で図示した申込書20には,割賦による購入を申し込む申込者の氏名,住所,連絡先に加え,申込者の印鑑が捺印される申込者欄200と,割賦による購入を申し込む申込者の保証人の氏名,住所,連絡先に加え,保証人の印鑑が捺印される保証人欄201を含む。申込書20に設定された審査項目は,氏名,住所,連絡先および捺印になり,これらの審査項目に対応させる領域として,申込者欄200に対応する領域である申込者領域200aと保証人欄201に対応する領域である保証人領域201aが設定されている。例えば,申込書20に対応する書類種別フォルダ106cには,申込者領域200aから切り出した画像と,保証人領域201aから切り出した画像に加え,申込書20の書類画像などが保存される。
FIG. 12 is a diagram illustrating an area corresponding to the examination item set in the
次に,不備審査フローに含まれる項目別審査工程P5について説明する。切り出し工程P4が終了した後,端末装置11から項目別審査要求が通知されると,不備審査管理装置10と端末装置11間で,審査項目単位で書類の不備を審査する項目別審査工程P5が行われる。
Next, the itemized examination process P5 included in the deficiency examination flow will be described. When the
図13は,本実施形態に係る項目別審査工程P5を説明する図である。端末装置11を操作する作業者が品目名,書類種別および審査項目を選択すると,端末装置11は,作業者が選択した品目名,書類種別および審査項目を含む項目別審査要求を不備審査管理装置10へ通知し(S30),端末装置11から項目別審査要求を受信すると(S31),不備審査管理装置10の項目別審査実行部100が作動し,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,項目別審査DB107の中から,端末装置11から通知された品目名に対応する品目フォルダ107aの下にあり,端末装置11から通知された書類種別に対応する書類種別フォルダ107bから,端末装置11から通知された審査項目に対応する項目別審査TBL107cを取得する(S32)。
FIG. 13 is a diagram illustrating the itemized examination step P5 according to the present embodiment. When the worker who operates the
次に,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,審査項目画像DB106を参照し,端末装置11から通知された品目名に対応する品目フォルダ106aに含まれる個別フォルダ106bごとに繰り返すループ処理(S33)を実行する。
Next, the item-specific
ループ処理(S33)において,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,ループ処理(S33)の対象になる個別フォルダ106bの下にあり,項目別審査要求の書類種別に対応した書類種別フォルダ106cから,項目別審査要求の審査項目に対応する審査項目画像を取得し,この審査項目画像,審査項目の審査内容を記した設問データ,および,設問データの回答を入力するための回答ボタンを少なくとも端末装置11に表示させ,端末装置11に表示した回答ボタンを用いて入力された回答データを記憶する項目別審査処理(S34)を,S32で取得した項目別審査TBL107cに従い実行する。
In the loop processing (S33), the itemized
不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,項目別審査処理(S34)において,まず,項目別審査要求の審査項目に対応する審査項目画像と,項目別審査処理(S34)の対象になるレコード107dの設問データと,設問データに対する回答データを入力するためのボタンオブジェクトである回答ボタンを少なくとも表示する項目別審査用画面を端末装置11へ送信する(S340)。例えば,項目別審査処理(S34)の対象になるレコード107dが1番目の場合,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,1番目のレコード107dから設問データを取得する。
In the itemized examination process (S34), the itemized
図14は,項目別審査用画面1000を説明する図である。図14で図示した項目別審査用画面1000は,審査項目を「捺印」にしたときの画面である。審査項目「捺印」を審査するための項目別審査用画面1000には,審査項目「捺印」に対応する領域の一つである申込者領域200aから切り出した画像1000aと,審査項目「捺印」に対応する領域の一つである保証人領域201aから切り出した画像1000bと,審査項目「捺印」に対応する設問データ1000c(「申込者と保証人全てについて朱色の捺印がある。」)と,回答データ(「捺印あり」または「捺印なし」)を入力するためのボタンオブジェクトである回答ボタン1000dと,画面コントロールに用いるボタンオブジェクト1000eを含む。
FIG. 14 is a diagram illustrating an
端末装置11が,不備審査管理装置10から受信した項目別審査用画面を表示した後(S341),端末装置11を操作する作業者が,項目別審査用画面に表示された一つの回答ボタンを選択することで,端末装置11に表示された審査項目画像から判断した回答データを端末装置11に入力すると,端末装置11は,作業者が選択した回答ボタンに対応する回答データを不備審査管理装置10の項目別審査実行部100に送信する(S342)。
After the
作業者が入力した回答データが端末装置11から送信されると,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,審査ミスの軽減を図るために,端末装置11から送信された回答データが所定の回答データであるか確認し(S343),端末装置11から送信された回答データが所定の回答データの場合,作業者が入力した回答データに間違いがないか作業者に再確認させるためのポップアップ形式の注意画面を端末装置11に一定時間表示させる(S344)。所定の回答データを審査ミスで入力されがちな回答データにすれば,審査ミスで入力されがちな回答データが端末装置11に入力された際,作業者に回答の再確認をさせることができる。
When the response data input by the worker is transmitted from the
図15は,端末装置11に表示する注意画面1001を説明する図である。作業者が入力した回答データに間違いがないか作業者に再確認させるための注意画面1001のサイズは,項目別審査用画面1000の約2/3のサイズで,注意画面1001の後面になる項目別審査用画面1000が透けて見えるように,注意画面1001の背景色の透過度を高めている。なお,図15で図示した注意画面1001は一例にしか過ぎず,警告度合いによって注意画面1001を変更(サイズ,色,表示時間など)できるように構成することが望ましい。
FIG. 15 is a diagram illustrating a
次に,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は, ループ処理(S33)の対象となる個別フォルダ106bに付加された申込管理番号と,端末装置11から送信された回答データを含むレコード108cを,項目別審査要求の審査項目に対応する回答TBL108bに追加することで,端末装置11から送信された回答データを回答DB108に記憶する(S345)。
Next, the item-specific
次に,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,項目別審査処理(S34)の対象になるレコード107dの中から,端末装置11から送信された回答データを含む条件式を検索し,検索した条件式に含まれる設問管理番号に従い処理を分岐する(S346)。検索した条件式に含まれる設問管理番号がNULL(設問管理番号がない)の場合,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,ループ処理(S33)の対象になっていた個別フォルダ106bに係る項目別審査を終了する。また,検索した条件式に含まれる設問管理番号がNULL(設問管理番号がない)でない場合,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,項目別審査処理(S34)の対象になるレコード107dを,検索した条件式に含まれる設問管理番号に対応するレコード107dにして,項目別審査処理(S34)の先頭(S340)に戻る。なお,不備を示す回答データに審査終了を示すデータを関連付けておいても,不備を示す回答データが得られたときに,一つの申込書類2に係る審査を終了させることができる。
Next, the itemized
ループ処理(S33)が全て終了すると,審査ミスの軽減を図るために,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,回答DB108の回答TBL108bに記憶した回答データを集計し,不備を示す回答データの数がこの回答データの発生頻度未満であるか確認する(S35)。不備を示す回答データの数がこの回答データの発生頻度未満の場合,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,図14に手順の対象になった審査項目に係る項目別審査が正常に完了したと判定して(S36),図13で図示した手順は終了する。不備を示す回答データの数がこの回答データの発生頻度以上の場合,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,図13に手順の対象になった審査項目に係る項目別審査に審査ミスがあると判定して回答DB108に記憶した回答データを無効化して(S37),図13で図示した手順は終了する。なお,不備に対応する回答データの数がこの回答データの発生頻度以上であるか確認するのは,不備となる回答データを入力する回答ボタンと,不備にならない回答データを入力する回答ボタンを作業者が勘違いして操作しまうことが稀にあるからである。
When all the loop processing (S33) is completed, the itemized
最後に,不備審査フローに含まれる納品工程について説明する。不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,全ての審査項目に係る項目別審査が完了した品目について,申込書類2の不備審査が完了したと判定し,この品目については,申込者から郵送された申込書類2と不備審査結果が所定の指定機関に納品される。不備審査結果の納品形態は任意で,回答DB108に記憶している回答データそのものを不備審査結果の納品物とすることもできるが,回答DB108に記憶している回答データを加工したデータを不備審査結果の納品物とする。
Finally, the delivery process included in the defect examination flow will be described. The itemized
1 書類不備審査システム
10 不備審査管理装置
100 項目別審査実行部
101 品目受付部
102 仕分け部
103 切り出し部
104 書類画像DB
105 仕分けDB
106 審査項目画像DB
107 項目別審査DB
108 回答DB
11 端末装置
12 ストレージサーバ
13 イメージスキャナ
2 申込書類
20 申込書
1 Document
105 Sorting DB
106 Examination item image DB
107 Item-specific examination DB
108 Answer DB
11
Claims (3)
申込書類に含まれる書類の不備を審査する作業者が操作する端末装置と,
前記端末装置とネットワークを介して接続している不備審査管理装置と,
から少なくとも構成され,
前記不備審査管理装置は,
審査項目に対応する範囲の画像である審査項目画像を申込書類ごとに記憶する審査項目画像DBと,審査項目の審査内容を記した設問データを記憶した設問DBと,書類種別に設定された審査項目に係る項目別審査の手順を示す項目別審査テーブルを審査項目ごとに記憶した項目別審査DBと,前記端末装置から送信された回答データを審査項目ごとに記憶させる回答DBと,前記端末装置から審査項目が通知されると,前記端末装置から通知された審査項目に対応する前記項目別審査テーブルを前記項目別審査DBから取得して,審査項目の単位で申込書類の不備を審査する項目別審査を申込書類ごとに実行する項目別審査実行部を備え,
前記項目別審査テーブルは,正常を示す回答データに次に不備審査する項目を関連付けることで,一つの前記設問データに係る回答データに他の前記設問データを関連付けた階層構造のテーブルで,
前記項目別審査実行部は,前記項目別審査において,
審査項目に対応する範囲の画像である審査項目画像,審査項目の審査内容を記した前記設問データを少なくとも前記端末装置に表示させ,前記端末装置から送信された回答データを前記回答DBに記憶する項目別審査処理を,前記端末装置から得られた正常を示す回答データに関連付けられた次に不備審査する項目がないか,または,前記端末装置から不備を示す回答データが得られるまで,審査項目に関連する項目について不備審査を実行する,
ことを特徴とする書類不備審査システム。 It is a system for examining deficiencies in the documents included in the application documents.
A terminal device operated by a worker who examines deficiencies in the documents included in the application documents, and
A defect examination management device connected to the terminal device via a network, and
Consists of at least from
The deficiency examination management device is
An examination item image DB that stores an examination item image that is an image of the range corresponding to the examination item for each application document, a question DB that stores question data that describes the examination contents of the examination item, and an examination set for each document type. An itemized examination DB that stores an itemized examination table showing the itemized examination procedure for each item for each examination item, an answer DB that stores the answer data transmitted from the terminal device for each examination item, and the terminal device. When the examination item is notified from, the item-specific examination table corresponding to the examination item notified from the terminal device is acquired from the item-specific examination DB, and the deficiency of the application documents is examined in units of the examination items. Equipped with an item-specific examination execution department that executes separate examinations for each application document
The itemized examination table is a table having a hierarchical structure in which the answer data related to one question data is associated with the other question data by associating the answer data indicating normality with the item to be examined for deficiency next.
In the itemized examination, the itemized examination execution department
Examination item image range of an image corresponding to the inspection items, the question data that describes the examination contents of inspection items to be displayed on at least said terminal apparatus, stores the reply data transmitted from the terminal apparatus to the reply DB The itemized examination process is performed until there is no next deficiency examination item associated with the response data indicating normality obtained from the terminal device, or until the response data indicating deficiency is obtained from the terminal device. Perform a deficiency check on items related to
Document deficiency examination system characterized by this.
When the itemized examination execution department of the deficiency examination management device executes the itemized examination process on all the application documents to be examined, the number of answer data corresponding to the deficiency is totaled, and the answer data corresponding to the deficiency is collected. According to claim 1 or 2 , the response data obtained in the itemized examination process is invalidated when the number is equal to or higher than the frequency of occurrence preset in the response data corresponding to the deficiency. Document deficiency examination system described.
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