JP2018190015A - Document deficiency review system - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a system capable of efficiently conducting deficiency review of application documents and reducing examination errors related to deficiency review of application documents even when a person conducts deficiency examination of application documents.SOLUTION: A document deficiency examination system 1 is constituted at least from a terminal device 11 and a deficiency examination management device 10 connected to the terminal device 11 via a network 14. The deficiency examination management device 10 is characterized in that an item-specific examination execution unit 100 for causing to display an examination item image which is an image in a range corresponding to the examination item, question data in which examination contents of examination items are described, on at least the terminal device 11, when an examination item is notified from the terminal device 11, and executing item-by-item examination processing for storing answer data transmitted from the terminal device 11 for each application document to be examined, is provided.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は,割賦などを申し込む際に必要となる申込書類の不備を審査するためのシステムに関する。   The present invention relates to a system for examining deficiencies in application documents required when applying for an installment.

自動車など高額商品の代金の支払いに,高額商品の購入に係る代金を分割して支払う割賦(ローン)が以前より利用されている。割賦を利用して高額商品を購入する購買者は,購買者の氏名などの必要事項を記入し購買者の印鑑などを捺印した申込書を作成した後,割賦の申込みを受付ける受付センタに申込書を含む一式の申込書類を郵送し,受付センタにて,未捺印など申込書類に含まれる書類の不備が審査される。   Installment payments (loans) that pay for the purchase of high-priced products in installments have been used for payment of high-priced products such as automobiles. Purchasers who purchase high-priced goods using installments fill out the necessary items such as the purchaser's name and create an application form stamped with the purchaser's seal, and then submit the application form to the reception center that accepts the installment application. A set of application documents, including, will be mailed, and the reception center will check for deficiencies in the documents included in the application documents, such as unprinted.

申込書類に係る不備審査を全て人が行うと,申込書類の不備審査に要する時間が多大になり,かつ,申込書類の不備審査に要する人員も多数になるため,申込書類の不備審査を効率的に行えることが必要になっている。   Efficient screening of application documents is efficient because it takes a lot of time to complete the screening of application documents and the number of personnel required for screening of application documents becomes large. It is necessary to be able to do it.

申込書類の不備審査を効率的に行える発明として,申込書類に含まれる書類の画像データを取り込んだ後,申込書類に含まれる書類に設けられた記入欄に対応する画像から文字情報やマーク情報を読み取って不備のある書類を選別する発明が特許文献1にて開示されている。   As an invention that enables efficient examination of deficiencies in application documents, after capturing the image data of the documents included in the application documents, text information and mark information are obtained from the images corresponding to the entry fields provided in the documents included in the application documents. Patent Document 1 discloses an invention for reading and selecting defective documents.

特許文献1で開示されている発明では,申込書類に含まれる書類に設けられた記入欄に対応する範囲の画像から文字情報やマーク情報を読み取って不備を自動的に判別しているが,手書きの文字から記入不備を自動的に判別できないこともあるため,書類画像から記入不備などの不備を人が目視で判別する場合も依然として多い。   In the invention disclosed in Patent Document 1, character information and mark information are read from an image in a range corresponding to an entry field provided in a document included in an application document, and deficiencies are automatically determined. Since there are cases where it is not possible to automatically determine a deficiency of entry from the characters of the characters, there are still many cases where a person visually identifies deficiencies such as a deficiency of entry from a document image.

特開2001−266065号公報JP 2001-266065 A

申込書類の不備審査を人が目視で行う場合であっても,申込書類の不備審査の効率化は重要な課題である。また,申込書類の不備審査を人が目視で行う場合,申込書類の不備審査に係る審査ミスの低減化も重要な課題になる。そこで,本発明では,申込書類の不備審査を人が行う場合であっても,申込書類の不備審査を効率化良く実施でき,かつ,申込書類の不備審査に係る審査ミスを低減できるシステムを提供する。   Even when a person performs a visual inspection of application documents, it is important to improve the efficiency of the application documents. In addition, when a person conducts a visual inspection of application documents, reduction of screening errors related to application documents is also an important issue. Therefore, the present invention provides a system that can efficiently perform defect inspection of application documents and reduce inspection errors related to defect inspection of application documents even when a person performs defect inspection of application documents. To do.

上記課題を解決する第1の発明は,申込書類に含まれる書類の不備を審査するためのシステムであって,申込書類に含まれる書類の不備を審査する作業者が操作する端末装置と,前記端末装置とネットワークを介して接続している不備審査管理装置とから少なくとも構成され,前記不備審査管理装置は,前記端末装置から審査項目が通知されると,審査項目に対応する範囲の画像である審査項目画像,審査項目の審査内容を記した設問データを少なくとも前記端末装置に表示させ,前記端末装置から送信された回答データを記憶する項目別審査処理を,審査対象になる申込書類ごとに実行する項目別審査実行部を備えていることを特徴とする書類不備審査システムである。   A first invention for solving the above problem is a system for examining deficiencies in documents included in an application document, the terminal device operated by an operator who examines deficiencies in documents included in the application document, It is composed of at least a defect examination management device connected to a terminal device via a network, and the defect examination management device is an image in a range corresponding to the examination item when the examination item is notified from the terminal device. The examination data by examination item and the inquiry data describing the examination contents of the examination item are displayed at least on the terminal device, and the examination process by item for storing the response data transmitted from the terminal device is executed for each application document to be examined. This is a document defect examination system characterized by having an item-specific examination execution section.

更に,第2の発明は,第1の発明に記載した書類不備審査システムにおいて,前記不備審査管理装置は,一つの前記設問データに係る回答データに他の前記設問データを関連付けた階層構造で前記設問データを記憶し,前記項目別審査実行部は,前記端末装置から回答データが送信されると,前記階層構造を参照し,前記端末装置に表示させる前記設問データを,前記端末装置から送信された回答データに関連付けられている前記設問データにして前記項目別審査処理を実行することを特徴とする書類不備審査システムである。第2の発明によれば,一つの申込書類に係る不備審査は前記階層構造に従い実行され,審査項目に関連する複数の項目について不備審査が行えるため,申込書類の不備審査を効率化良く実施できる。   Further, the second invention is the document defect examination system described in the first invention, wherein the defect examination management device has a hierarchical structure in which the answer data related to one question data is related to the other question data. The question data is stored, and when the response data is transmitted from the terminal device, the item-specific examination execution unit refers to the hierarchical structure and transmits the question data to be displayed on the terminal device from the terminal device. The document defect examination system is characterized in that the item-by-item examination process is executed on the question data associated with the answer data. According to the second invention, the deficiency examination for one application document is executed according to the hierarchical structure, and a deficiency examination can be performed for a plurality of items related to the examination items, so that the deficiency examination of the application documents can be efficiently performed. .

更に,第3の発明は,第2の発明に記載した書類不備審査システムにおいて,不備を示す回答データには他の前記設問データを関連付けずにしておき,前記項目別審査実行部は,前記端末装置から送信された回答データが不備を示す回答データの場合,一つの申込書類に係る不備審査を終了することを特徴とする。第3の発明によれば,不備を示す回答データが前記端末装置から送信された場合,一つの申込書類に係る不備審査は終了するため,申込書類の不備審査を効率化良く実施できる。   Further, the third invention is the document defect examination system described in the second invention, wherein the other inquiry data is not associated with the answer data indicating the defect, and the item-specific examination execution unit is the terminal When the response data transmitted from the device is the response data indicating the deficiency, the deficiency examination for one application document is terminated. According to the third invention, when the reply data indicating the deficiency is transmitted from the terminal device, the deficiency examination related to one application document is completed, so that the deficiency examination of the application document can be efficiently performed.

更に,第4の発明は,第1の発明から第3の発明のいずれか一つに記載した書類不備審査システムにおいて,前記不備審査管理装置の前記項目別審査実行部は,前記項目別審査処理において,前記端末装置から送信された回答データが所定の回答データの場合,回答を再確認させることを目的とした注意画面を前記端末装置に表示させることを特徴とする。第2の発明において,前記所定の回答データを審査ミスが多い回答データにすれば,審査ミスが多い回答データが入力された場合,回答データの再確認を作業者に行わせることができ,単発的に発生する審査ミスを低減できる。   Further, the fourth invention is the document defect examination system according to any one of the first invention to the third invention, wherein the item examination execution unit of the defect examination management device is configured to perform the item examination process. When the answer data transmitted from the terminal device is predetermined answer data, a caution screen for reconfirming the answer is displayed on the terminal device. In the second invention, if the predetermined answer data is made into answer data with many examination mistakes, when answer data with many examination mistakes are inputted, it is possible to make the operator re-confirm the answer data, Inspection mistakes that occur automatically can be reduced.

更に,第5の発明は,第1の発明から第4の発明のいずれか一つに記載した書類不備審査システムにおいて,前記不備審査管理装置の前記項目別審査実行部は,審査対象になる申込書類すべてにおいて前記項目別審査処理を実行すると,不備に対応する回答データの数を集計し,不備に対応する回答データの数が,不備に対応する回答データに予め設定されている発生頻度以上の場合,前記項目別審査処理で得られた回答データを無効化することを特徴とする。第3の発明によれば,不備に対応する回答データの数が異常に多い場合,回答データの入力にミスがあったと判定されるため,作業者の操作ミスにより連続的に発生する審査ミスを低減化できる。   Further, the fifth invention is the document defect examination system described in any one of the first invention to the fourth invention, wherein the item-specific examination execution part of the defect examination management apparatus is an application subject to examination. When the above-mentioned item-specific examination process is executed for all documents, the number of response data corresponding to the deficiencies is counted, and the number of response data corresponding to the deficiencies exceeds the occurrence frequency preset in the response data corresponding to the deficiencies. In this case, the response data obtained by the item-specific examination process is invalidated. According to the third invention, when the number of response data corresponding to the deficiencies is abnormally large, it is determined that there has been an error in inputting the response data. It can be reduced.

本発明に係る書類不備審査システムは,審査項目単位で申込書類の不備審査を人が行えるように構成されている。審査項目単位で申込書類の不備審査を行えれば,申込書類の不備審査内容を単純化できるため,申込書類の不備審査を効率化良く実施でき,かつ,申込書類の不備審査に係る審査ミスを低減できる。   The document defect examination system according to the present invention is configured so that a person can perform a defect examination of application documents in units of examination items. If the application documents can be incompletely reviewed for each application item, the application documents can be reviewed for inefficiency. Therefore, the application documents can be efficiently inspected for defects. Can be reduced.

書類不備審査システムの構成と申込書類の不備審査フローを説明する図。The figure explaining the structure of a document defect examination system, and the defect examination flow of an application document. 書類不備審査システムのブロック図。Block diagram of the document defect screening system. 書類画像DBを説明する図。The figure explaining document image DB. 仕分けDBを説明する図。The figure explaining sorting DB. 審査項目画像DBを説明する図。The figure explaining examination item image DB. 項目別審査DBを説明する図。The figure explaining examination DB classified by item. 回答DBを説明する図。The figure explaining answer DB. 開封・紐付工程とスキャニング工程を説明する図。The figure explaining an opening and a stringing process and a scanning process. 封筒に同封される申込書類を説明する図。The figure explaining the application documents enclosed with an envelope. 仕分け工程を説明する図。The figure explaining a classification process. 切り出し工程を説明する図。The figure explaining a cutting-out process. 申込書に設定された審査項目に対応する領域を説明する図。The figure explaining the field corresponding to the examination item set up in the application form. 項目別審査工程を説明する図。The figure explaining the examination process according to item. 項目別審査用画面を説明する図。The figure explaining the screen for examination according to item. 注意画面を説明する図。The figure explaining a caution screen.

ここから,本発明の好適な実施形態を記載する。なお,以下の記載は本発明の技術的範囲を束縛するものでなく,理解を助けるために記述するものである。   From here, preferred embodiments of the present invention will be described. The following description is not intended to limit the technical scope of the present invention, but is provided to aid understanding.

図1は,本実施形態に係る書類不備審査システム1の構成と申込書類の不備審査フローを説明する図である。   FIG. 1 is a diagram for explaining a configuration of a document defect screening system 1 according to the present embodiment and a defect screening flow for application documents.

図1で図示したように,申込書類2の不備審査フローは,割賦などの利用を申し込む申込者から郵送された封筒2aを開封し,封筒2aに同封された申込書類2に含まれる書類の書類管理番号などの登録を行う開封・紐付工程P1と,申込者から郵送された申込書類2に含まれる各書類を画像化するスキャニング工程P2と,スキャニング工程P2で得られた書類画像を書類種別に応じて仕分けする処理を申込書類2ごとに行う仕分け工程P3と,不備審査の対象となる審査項目に対応する範囲の画像を審査項目画像として書類画像から切り出す処理を申込書類2ごとに行う切り出し工程P4と,切り出し工程P4で切り出した審査項目画像を利用して,審査項目ごとに不備審査を行う項目別審査工程P5と,申込者から郵送された申込書類2と不備審査結果を所定の指定機関に納品する納品工程P6を含む。   As shown in Fig. 1, the application document 2 deficiency review flow is to open the envelope 2a mailed from the applicant applying for the use of installment, etc., and the documents included in the application document 2 enclosed in the envelope 2a Opening and linking process P1 for registering the control number, etc., scanning process P2 for imaging each document included in the application document 2 mailed by the applicant, and the document image obtained in the scanning process P2 for each document type Sorting process P3 for performing processing of sorting for each application document 2 according to the application process, and clipping process of performing processing for cutting out from the document image as an examination item image an image in a range corresponding to the examination item to be subjected to deficiency examination. Using P4 and the examination item image cut out in the cutout process P4, the item-by-item examination process P5 for performing a deficiency examination for each examination item, and the application documents mailed by the applicant To include delivery process P6 for delivery deficiencies examination results in a predetermined specified engine.

図1で図示した書類不備審査システム1は,申込書類2に含まれる書類の不備を審査するためのシステムで,申込書類2の不備審査を審査項目単位で実行する機能を備えた不備審査管理装置10と,申込書類2の不備審査に係る作業などを行う作業者が操作する端末装置11に加え,申込書類2に含まれる各書類を画像化するイメージスキャナ13と,イメージスキャナ13が画像化した書類画像などが登録されるストレージサーバ12を含み,不備審査管理装置10,端末装置11,ストレージサーバ12およびイメージスキャナ13はそれぞれネットワーク14に接続されている。図1で図示したストレージサーバ12は,開封・紐付工程P1およびスキャニング工程P2で主に利用される装置で,図1で図示したイメージスキャナ13は,スキャニング工程P2で利用される装置で,図1で図示した端末装置11は,項目別審査工程P5で主に利用される装置になる。   The document defect inspection system 1 shown in FIG. 1 is a system for examining document defects included in the application document 2, and is a defect inspection management apparatus having a function for executing defect inspection of the application document 2 in units of examination items. 10 and an image scanner 13 for imaging each document included in the application document 2, and an image scanner 13 imaged in addition to the terminal device 11 operated by an operator who performs work related to the defect examination of the application document 2 The storage server 12 in which document images and the like are registered is included, and the defect examination management device 10, the terminal device 11, the storage server 12, and the image scanner 13 are each connected to a network 14. The storage server 12 illustrated in FIG. 1 is an apparatus mainly used in the opening / linking process P1 and the scanning process P2, and the image scanner 13 illustrated in FIG. 1 is an apparatus used in the scanning process P2. The terminal device 11 illustrated in FIG. 4 is a device that is mainly used in the item-specific examination process P5.

図2は,図1で図示した書類不備審査システム1のブロック図である。図1で図示したストレージサーバ12は,大容量のデータ記憶デバイス(例えば,ハードディスク)を備えたサーバである。ストレージサーバ12は,データベース(DB: DataBase)として,封筒2aに同封された申込書類2に含まれる書類の書類管理番号が登録される管理番号DB120と,イメージスキャナ13が画像化した書類画像が登録される画像管理DB121を備える。ストレージサーバ12が備える管理番号DB120には,不備審査を行う品目で用いる申込書類2ごとに,申込書類2の識別に用いる申込管理番号に関連づけて,申込書類2に含まれる書類の書類管理番号が記憶される。また,ストレージサーバ12が備える画像管理DB121には,書類の書類画像が書類管理番号に関連付けて記憶される。   FIG. 2 is a block diagram of the document defect examination system 1 shown in FIG. The storage server 12 illustrated in FIG. 1 is a server including a large-capacity data storage device (for example, a hard disk). The storage server 12 registers, as a database (DB: DataBase), a management number DB 120 in which the document management number of the document included in the application document 2 enclosed in the envelope 2a is registered, and a document image imaged by the image scanner 13. The image management DB 121 is provided. In the management number DB 120 provided in the storage server 12, the document management number of the document included in the application document 2 is associated with the application management number used for identification of the application document 2 for each application document 2 used for the item to be incompletely examined. Remembered. The image management DB 121 provided in the storage server 12 stores document images of documents in association with document management numbers.

図1で図示したイメージスキャナ13は,スキャニング工程P2で利用する機能として,原稿を光学的に走査して原稿を画像化する機能を備えた装置で,本実施形態では,画像化したデータに含まれるバーコードを読み取る機能も備えている。本実施形態では,イメージスキャナ13が光学的に走査する原稿は申込書類2に含まれる各書類になり,イメージスキャナ13は,申込書類2に含まれる各書類を光学的に走査し,申込書類2に含まれる書類を画像化したデータである書類画像とこの書類画像に含まれるバーコードの読み取り結果を,ネットワーク14を介してストレージサーバ12に送信し,ストレージサーバ12の画像管理DB121に書類画像を登録する。   The image scanner 13 shown in FIG. 1 is an apparatus having a function of optically scanning a document and imaging the document as a function used in the scanning process P2. In this embodiment, the image scanner 13 is included in the imaged data. It also has a function to read barcodes. In the present embodiment, the manuscript optically scanned by the image scanner 13 becomes each document included in the application document 2, and the image scanner 13 optically scans each document included in the application document 2 to obtain the application document 2. The document image which is data obtained by imaging the document included in the document image and the barcode reading result included in the document image are transmitted to the storage server 12 via the network 14, and the document image is stored in the image management DB 121 of the storage server 12. sign up.

書類不備審査システム1を構成する端末装置11は,ネットワーク14を介して不備審査管理装置10にアクセスして,申込書類2の不備審査に係る作業を行う機能を提供するアプリケーションが実装された装置である。図1では,CPUやRAMなどを有しディスプレイが接続されたパーソナルコンピュータとして端末装置11を図示しているが,端末装置11は,タッチパネルなどを有するタブレットコンピュータでもよい。   The terminal device 11 constituting the document defect examination system 1 is an apparatus in which an application providing a function for performing an operation related to the defect examination of the application document 2 by accessing the defect examination management device 10 via the network 14 is installed. is there. In FIG. 1, the terminal device 11 is illustrated as a personal computer having a CPU, a RAM, and the like and connected to a display. However, the terminal device 11 may be a tablet computer having a touch panel or the like.

本実施形態に係る不備審査管理装置10は,スキャニング工程P2を実行するための機能として,申込書類2に含まれる書類の管理番号と書類画像をストレージサーバ12から取得して記憶する処理を行う品目受付部101を備える。また,本実施形態に係る不備審査管理装置10は,仕分け工程P3を実行するための機能として,品目受付部101がストレージサーバ12から受け付けた書類画像を書類種別に応じて仕分けする処理を申込書類2ごとに行う仕分け部102を備える。また,不備審査管理装置10は,切り出し工程P4を実行するための機能として,仕分け部102が仕分けした書類画像から審査項目に設定された範囲の画像を切り出し審査項目画像として記憶する処理を申込書類2ごとに行う切り出し部103を備える。また,不備審査管理装置10は,項目別審査工程P5を実行するための機能として,端末装置11から送信された審査項目に対応する審査項目画像を端末装置11に送信し,端末装置11を操作する作業者に審査項目単位で不備審査を実行させる処理を行う項目別審査実行部100を備える。   The deficiency examination management apparatus 10 according to the present embodiment performs processing for acquiring and storing the management number and document image of the document included in the application document 2 from the storage server 12 as a function for executing the scanning process P2. A reception unit 101 is provided. In addition, the deficiency examination management apparatus 10 according to the present embodiment performs a process of sorting the document image received from the storage server 12 by the item receiving unit 101 according to the document type as a function for executing the sorting process P3. A sorting unit 102 is provided for every two. In addition, the defect examination management device 10 performs a process of cutting out and storing as an examination item image an image within the range set as the examination item from the document image sorted by the sorting unit 102 as a function for executing the clipping process P4. A cutout unit 103 is provided for every two. Further, the defect examination management device 10 transmits, as a function for executing the item-specific examination process P5, the examination item image corresponding to the examination item transmitted from the terminal device 11 to the terminal device 11, and operates the terminal device 11. An item-by-item examination execution unit 100 is provided that performs processing for causing a worker who performs the examination to perform defect examination in units of examination items.

更に,不備審査管理装置10は,データベース(DB: Data Base)として,品目受付部101がストレージサーバ12から取得した書類画像等を申込書類2ごとに記憶する書類画像DB104と,仕分け部102の仕分け結果を記憶する仕分けDB105と,切り出し部103が申込書類2の書類画像から切り出した審査項目画像などを申込書類2ごとに記憶する審査項目画像DB106と,項目別審査の手順を示すデータを審査項目ごとに記憶した項目別審査DB107と,審査項目に対応した設問データを記憶した設問DB108と,端末装置11から送信された回答データを審査項目ごとに記憶させる回答DB109を備える。   Further, the defect examination management apparatus 10 uses a document image DB 104 that stores, for each application document 2, a document image acquired by the item receiving unit 101 from the storage server 12 as a database (DB), and a sorting unit 102. Sorting DB 105 for storing results, examination item image DB 106 for storing for each application document 2 examination item images and the like extracted from the document image of the application document 2 by the cutout unit 103, and data indicating the examination procedure for each item as examination items Each item has a review DB 107 stored for each item, a question DB 108 that stores question data corresponding to the review items, and an answer DB 109 that stores response data transmitted from the terminal device 11 for each review item.

図3は,不備審査管理装置10が備える書類画像DB104を説明する図である。不備審査管理装置10が備える書類画像DB104には,申込書類2に含まれる書類の書類画像を記憶するフォルダ群が生成される。申込書類2に含まれる書類の書類画像を記憶するフォルダ群のルートになるフォルダは,不備審査を行う品目に対応するフォルダである品目フォルダ104aで,品目フォルダ104aの下には,申込書類2に含まれる書類の書類画像を保存するフォルダである個別フォルダ104bが,品目フォルダ104aに対応する品目において不備審査を行う申込書類2ごとに生成され,それぞれの個別フォルダ104bには,個別フォルダ104bが対応する申込書類2の申込管理番号が付加される。   FIG. 3 is a diagram for explaining the document image DB 104 provided in the deficiency examination management apparatus 10. A folder group for storing document images of documents included in the application document 2 is generated in the document image DB 104 provided in the deficiency examination management device 10. The folder that becomes the root of the folder group that stores the document images of the documents included in the application document 2 is an item folder 104a that is a folder corresponding to the item to be incompletely examined, and the application document 2 is below the item folder 104a. An individual folder 104b, which is a folder for storing document images of included documents, is generated for each application document 2 to be subjected to deficiency examination in the item corresponding to the item folder 104a, and the individual folder 104b corresponds to each individual folder 104b. The application management number of the application document 2 to be added is added.

図4は,不備審査管理装置10が備える仕分けDB105を説明する図である。不備審査管理装置10が備える仕分けDB105には,不備審査を行う品目に対応するフォルダである品目フォルダ105aの下に,書類種別に対応する書類画像が保存されているパスを記憶する仕分けテーブル105b(以下,TBL)が,申込書類2に含まれる書類の書類種別の数だけ生成される。書類種別に対応する書類画像が保存されているパスを記憶する仕分けTBL105bは,書類種別に対応する書類画像が保存されているパスを記憶するレコード105cを,不備審査を行う申込書類2の数だけ含み,一つのこのレコード105cは,申込書類2の申込管理番号を記憶するカラムと,申込管理番号に対応する申込書類2に含まれ,かつ,仕分けTBL105bの書類種別に対応する書類の書類画像を保存しているパスを記憶するカラムを含む。   FIG. 4 is a diagram for explaining the sorting DB 105 provided in the deficiency examination management apparatus 10. In the sorting DB 105 provided in the defect screening management apparatus 10, a sorting table 105b (stores a path in which a document image corresponding to a document type is stored under an item folder 105a that is a folder corresponding to an item subjected to defect screening. Hereinafter, TBL) is generated by the number of document types of documents included in the application document 2. The sorting TBL 105b that stores the path in which the document image corresponding to the document type is stored has the number of records 105c that stores the path in which the document image corresponding to the document type is stored, as many as the number of application documents 2 to be incompletely examined. One record 105c includes a column for storing the application management number of the application document 2 and a document image of the document that is included in the application document 2 corresponding to the application management number and corresponds to the document type of the sorting TBL 105b. Contains a column that stores the saved path.

図5は,不備審査管理装置10が備える審査項目画像DB106を説明する図である。不備審査管理装置10が備える審査項目画像DB106には,不備審査を行う品目に含まれる申込書類2から得られ審査項目画像を記憶するフォルダ群が生成される。このフォルダ群のルートになるフォルダは,品目名によって識別される品目フォルダ106aで,品目フォルダ106aの下には,品目に含まれる申込書類2ごとに,申込管理番号で識別される個別フォルダ106bが生成される。一つの個別フォルダ106bの下には,申込書類2に含まれる書類の書類種別ごとに,書類種別に対応した書類の書類画像から切り出した審査項目画像を保存する書類種別フォルダ106cが生成される。なお,審査項目画像とは,審査項目に対応する範囲から切り出した画像で,審査項目画像には,審査項目画像に対応する審査項目を示す審査項目管理番号が付加される。   FIG. 5 is a diagram for explaining the examination item image DB 106 provided in the deficiency examination management apparatus 10. In the examination item image DB 106 provided in the deficiency examination management apparatus 10, a group of folders for storing examination item images obtained from the application document 2 included in the item to be deficient examination is generated. The folder that becomes the root of this folder group is an item folder 106a identified by the item name. Under the item folder 106a, an individual folder 106b identified by the application management number is provided for each application document 2 included in the item. Generated. Under one individual folder 106b, a document type folder 106c for storing examination item images cut out from document images of documents corresponding to the document type is generated for each document type included in the application document 2. The examination item image is an image cut out from the range corresponding to the examination item, and the examination item management number indicating the examination item corresponding to the examination item image is added to the examination item image.

図6は,不備審査管理装置10が備える項目別審査DB107を説明する図である。不備審査管理装置10が備える項目別審査DB107には,不備審査を行う品目に対応するフォルダである品目フォルダ107aが設けられ,品目フォルダ107aの下には,書類種別に設定された審査項目に係る項目別審査の手順を示す項目別審査TBL107cを保存する書類種別フォルダ107bが,申込書類2に含まれる書類の書類種別ごとに生成される。   FIG. 6 is a diagram for explaining the item-by-item examination DB 107 provided in the deficiency examination management apparatus 10. The item-by-item examination DB 107 provided in the deficiency examination management apparatus 10 is provided with an item folder 107a that is a folder corresponding to the item to be deficient examined, and the item folder 107a is associated with the examination item set for the document type. A document type folder 107b for storing the item-by-item examination TBL 107c indicating the procedure for item-by-item examination is generated for each document type of the document included in the application document 2.

項目別審査の手順を示す項目別審査TBL107cは,一つの設問データに係る回答データに他の設問データを関連付けた階層構造になっている。詳しくは,項目別審査TBL107cは,設問の識別に用いる設問管理番号,設問管理番号に対応する項目名,この項目名に対応する設問データおよびこの設問データに係る条件式を記憶するレコード107dを含む。一つのレコード107dに記憶される条件式は,回答データと次の設問管理番号を含む。   The item-by-item examination TBL 107c indicating the procedure for item-by-item examination has a hierarchical structure in which other question data is associated with answer data related to one question data. Specifically, the item-specific examination TBL 107c includes a question management number used to identify the question, an item name corresponding to the question management number, question data corresponding to the item name, and a record 107d for storing a conditional expression related to the question data. . The conditional expression stored in one record 107d includes answer data and the next question management number.

本実施形態では,一つのレコード107dに2つの条件式を含ませている。一つの条件式に含ませる回答データは,正常(不備がない)を示す回答データで,この回答データには,項目別審査TBL107cに対応する審査項目に関連し,次に不備審査する項目に対応する設問管理番号を関連付けている。もう一つの条件式に含ませる回答データは,不備を示す回答データで,この回答データには,他の設問管理番号を関連付けていない。   In this embodiment, two conditional expressions are included in one record 107d. The answer data included in one conditional expression is the answer data indicating normal (no deficiencies), and this answer data is related to the examination item corresponding to the item-by-item examination TBL107c, and corresponds to the item to be deficiently examined next. The question management number is related. The answer data included in the other conditional expression is answer data indicating incompleteness, and no other question management number is associated with this answer data.

例えば,審査項目「印鑑」に対応する項目別審査TBL107cの最初のレコードには,最初の設問であることを示す設問管理番号,最初に不備審査する項目名(例えば,「捺印」),設問データ(例えば,「申込者と保証人全てについて朱色の捺印がある。」)に加え,2つの条件式が記憶される。一つ目の条件式は,回答データが「捺印あり」で,これには,次に不備審査する項目(例えば,「捨印」)に係る設問管理番号が関連付けられている。二つ目の条件式は,回答データが「捺印なし」で,これに対応する設問管理番号はNULL(設問管理番号がない)で,回答データが「捺印なし」の場合,審査項目「印鑑」の終了を意味している。   For example, the first record of the item-by-item examination TBL 107c corresponding to the examination item “Seal” includes the question management number indicating the first question, the item name (for example, “stamp”) to be first incompletely examined, and question data. In addition to (for example, “There are vermilion seals for all applicants and guarantors”), two conditional expressions are stored. In the first conditional expression, the answer data is “with seal”, and this is associated with a question management number related to an item to be examined next for deficiency (for example, “seal”). The second conditional expression is that when the answer data is “no stamp”, the corresponding question management number is NULL (no question management number), and the answer data is “no stamp”, the examination item “Seal” Means the end of.

同様に,審査項目「印鑑」に対応する項目別審査TBL107cの2番目のレコード,には,2番目の設問であることを示す設問管理番号,2番目に不備審査する項目名(例えば,「捨印」),設問データ(例えば,「捨印がある。」)に加えて,2つの条件式が記憶される。一つ目の条件式は,回答データが「捨印あり」で,これには,次に不備審査する項目に係る設問管理番号が関連付けられている。二つ目の条件式は,回答データが「捨印なし」で,これに対応する設問管理番号はNULL(設問管理番号がない)で,回答データが「捨印なし」の場合,審査項目「印鑑」の終了を意味している。   Similarly, the second record of the item-by-item examination TBL 107c corresponding to the examination item “Seal” includes a question management number indicating that it is the second question, and the item name to be secondly incompletely examined (for example, “seal” In addition to question data (for example, “there is a sign”), two conditional expressions are stored. In the first conditional expression, the answer data is “sealed”, and this is associated with the question management number related to the item to be inspected next. The second conditional expression is that when the answer data is "no stamp", the corresponding question management number is NULL (no question management number), and the answer data is "no stamp", the examination item "Seal" Means the end of.

図7は,不備審査管理装置10が備える回答DBのフォルダ構成を説明する図である。不備審査管理装置10が備える回答DB108には,不備審査を行う品目に対応するフォルダである品目フォルダ108aの下に,不備審査の対象となる審査項目ごとに,審査項目に係る設問データに対応する回答データを保存する回答TBL108bが生成され,回答TBL108bには,回答TBL108bに対応する審査項目管理番号が付加される。回答TBL108bは,設問データに対応する回答データを保存するレコード108cを,不備審査を行う申込書類2の数だけ含み,一つのこのレコード108cは,申込書類2の申込管理番号を記憶するカラムと,申込管理番号に対応する申込書類2に含まれ,かつ,回答TBL108bに対応する審査項目に係る審査項目画像を利用して得られた回答データを記憶するカラムを含む。   FIG. 7 is a diagram for explaining the folder structure of the answer DB provided in the deficiency examination management apparatus 10. The response DB 108 provided in the deficiency examination management apparatus 10 corresponds to the question data related to the examination item for each examination item to be deficient examination under the item folder 108a that is a folder corresponding to the item to be deficient examination. An answer TBL 108b for saving the answer data is generated, and an examination item management number corresponding to the answer TBL 108b is added to the answer TBL 108b. The answer TBL 108b includes records 108c for storing answer data corresponding to the question data, as many as the number of application documents 2 to be incompletely examined. One record 108c includes a column for storing the application management number of the application document 2, It includes a column for storing response data included in the application document 2 corresponding to the application management number and obtained by using the examination item image relating to the examination item corresponding to the response TBL 108b.

ここから,申込書類2の不備審査フローに含まれる工程について説明する。不備審査フローに含まれる開封・紐付工程P1とスキャニング工程P2について説明する。図8は,開封・紐付工程P1とスキャニング工程P2を説明する図である。   From here, the process included in the deficiency examination flow of the application document 2 will be described. The opening / linking process P1 and the scanning process P2 included in the defect screening flow will be described. FIG. 8 is a diagram for explaining the opening and tying step P1 and the scanning step P2.

不備審査フローに含まれる開封・紐付工程P1において,不備審査の対象となる封筒2aを開封して申込書類2を人手で取り出す作業が実施される(S1)。一つの封筒2aから取り出した申込書類2に含まれる書類の紛失や他の申込書類2に紛れ込むことを防止すべく,封筒2aから取り出した申込書類2を作業袋に収納することが望ましい。   In the unsealing / pegging process P1 included in the deficiency examination flow, an operation of opening the envelope 2a that is the object of deficiency examination and taking out the application document 2 manually is performed (S1). In order to prevent the documents included in the application document 2 taken out from one envelope 2a from being lost or mixed into other application documents 2, it is desirable to store the application document 2 taken out from the envelope 2a in a work bag.

次に,不備審査の対象となる封筒2aから取り出した申込書類2ごとに繰り返すループ処理(S2)が実行される。ループ処理(S2)において,まず,封筒2aから取り出した申込書類2に付加する申込管理番号をストレージサーバ12に登録する作業が実施される(S3)。次に,申込書類2に含まれる書類ごとに,書類に付加されたバーコードをバーコードリーダによって読み取り,書類に付加されたバーコードにエンコードされた書類管理番号をストレージサーバ12に登録する作業が実施される(S4)。ループ処理(S2)が実行されることで,ストレージサーバ12の管理番号DB120には,不備審査を行う品目で用いる申込書類2ごとに,申込書類2の識別に用いる申込管理番号に関連づけて,申込書類2に含まれる書類の書類管理番号が記憶される。   Next, a loop process (S2) is repeated for each application document 2 taken out from the envelope 2a that is the subject of the defect examination. In the loop process (S2), first, an operation of registering the application management number added to the application document 2 taken out from the envelope 2a in the storage server 12 is performed (S3). Next, for each document included in the application document 2, the barcode attached to the document is read by a barcode reader, and the document management number encoded in the barcode attached to the document is registered in the storage server 12. Implemented (S4). By executing the loop processing (S2), the management number DB 120 of the storage server 12 applies the application management number used for identifying the application document 2 for each application document 2 used for the item to be incompletely examined. The document management number of the document included in the document 2 is stored.

図9は,封筒2aに同封される申込書類2を説明する図である。本実施形態において,申込者から郵送される申込書類2は,申込書20と,申込書20の添付資料となる確認書類21,22をあわせた構成になっている。図9では,申込書20と確認書類21,22それぞれで書類管理番号を付加する手法が異なっている。申込書20には,申込書20の書類管理番号をエンコードしたバーコード20aが予め印刷され,確認書類21,22には,確認書類21,22の書類管理番号をエンコードしたバーコードを印刷したシール21a,22aが貼られている。申込書類2の識別に用いる申込管理番号として連番号を用いることもできるが,本実施形態では,申込書20が申込書類2に必ず含まれるので,申込書20の書類管理番号を申込管理番号に利用することもできる。なお,一つの封筒2aに同封される申込書類2の構成は図9の構成に限定されるものではない。   FIG. 9 is a diagram for explaining the application document 2 enclosed in the envelope 2a. In the present embodiment, the application document 2 mailed from the applicant has a configuration in which the application form 20 and confirmation documents 21 and 22 that are attached to the application form 20 are combined. In FIG. 9, the method of adding the document management number is different between the application form 20 and the confirmation documents 21 and 22. The application form 20 is pre-printed with a barcode 20a encoded with the document management number of the application form 20, and the confirmation documents 21 and 22 are printed with barcodes encoded with the document management numbers of the confirmation documents 21 and 22. 21a and 22a are affixed. Although a serial number can be used as the application management number used to identify the application document 2, in this embodiment, the application form 20 is always included in the application document 2, so the document management number of the application form 20 is used as the application management number. It can also be used. The configuration of the application document 2 enclosed in one envelope 2a is not limited to the configuration shown in FIG.

次に,不備審査の対象となる封筒2aから取り出した申込書類2ごとに繰り返すループ処理(S5)が実行される。このループ処理(S5)において,申込書類2に含まれる書類すべてがイメージスキャナ13にセットされ,イメージスキャナ13は,イメージスキャナ13にセットされた書類をスキャニングする(S6)。イメージスキャナ13は,イメージスキャナ13にセットされた申込書類2に含まれる一つの書類のスキャニングが終了すると,イメージスキャナ13は,申込書類2に含まれる書類をスキャニングすることで生成した書類画像と,この書類画像に含まれるバーコードをデコードすることで得られた書類管理番号をストレージサーバ12に送信し(S7),ストレージサーバ12は,イメージスキャナ13から送信された書類画像を,イメージスキャナ13から送信された書類管理番号に関連付けた状態で画像管理DB121に登録する(S8)。   Next, a loop process (S5) is repeated for each application document 2 taken out from the envelope 2a that is the subject of the defect examination. In this loop process (S5), all the documents included in the application document 2 are set in the image scanner 13, and the image scanner 13 scans the document set in the image scanner 13 (S6). When the image scanner 13 finishes scanning one document included in the application document 2 set in the image scanner 13, the image scanner 13 generates a document image generated by scanning the document included in the application document 2, and The document management number obtained by decoding the barcode included in the document image is transmitted to the storage server 12 (S7), and the storage server 12 receives the document image transmitted from the image scanner 13 from the image scanner 13. It is registered in the image management DB 121 in a state associated with the transmitted document management number (S8).

不備審査対象になる申込書類2全てにおいてループ処理(S5)が終了すると,ストレージサーバ12の画像管理DB121には,不備審査を行う品目の対象になる申込書類2ごとに,申込書類2をスキャニングすることで得られた書類画像が保存されることになる。本実施形態では,申込書20と,申込書20の添付資料となる確認書類21,22が申込書類2に含まれるので,イメージスキャナ13からストレージサーバ12に送信される書類画像には,申込書20の書類画像,確認書類21の書類画像および確認書類22の書類画像が含まれる。   When the loop processing (S5) is completed for all application documents 2 to be subject to deficiency screening, the application management document 2 is scanned in the image management DB 121 of the storage server 12 for each application document 2 subject to deficiency examination. The document image obtained in this way is saved. In the present embodiment, the application form 20 and the confirmation documents 21 and 22 that are attached to the application form 20 are included in the application form 2, so that the application form includes an application form that is sent from the image scanner 13 to the storage server 12. 20 document images, a document image of the confirmation document 21 and a document image of the confirmation document 22 are included.

不備審査管理装置10が不備審査を行う際,不備審査管理装置10の品目受付部101が起動し,不備審査管理装置10の品目受付部101は,ストレージサーバ12の管理番号DB120にアクセスして,不備審査を行う品目に係る申込管理番号と申込管理番号に関連付けられている書類管理番号を全て取得して,図3で図示したフォルダ群を書類画像DB104に生成した後,ストレージサーバ12の管理番号DB120から取得した書類管理番号ごとに,書類管理番号に関連付けられている書類画像をストレージサーバ12の画像管理番号DB121から取得してこのフォルダ群内に保存して(S9),図9で図示した手順は終了する。   When the deficiency examination management apparatus 10 performs deficiency examination, the item reception unit 101 of the deficiency examination management apparatus 10 is activated, and the item reception unit 101 of the deficiency examination management apparatus 10 accesses the management number DB 120 of the storage server 12, After obtaining all the application management number and the document management number associated with the application management number for the item to be incompletely examined and generating the folder group shown in FIG. 3 in the document image DB 104, the management number of the storage server 12 For each document management number acquired from the DB 120, a document image associated with the document management number is acquired from the image management number DB 121 of the storage server 12 and stored in this folder group (S9), as shown in FIG. The procedure ends.

不備審査フローに含まれる仕分け工程P3について説明する。図8を用いて説明した手順が実行されることで,不備審査管理装置10の仕分け部102が作動し,不備審査管理装置10の仕分け部102は,書類画像DB104に保存している申込書類2の書類画像を書類種別に応じて仕分けする処理を行う。申込書類2の書類画像を書類種別に応じて仕分けする処理は,書類画像の所定領域に含まれる文字を文字認識したり,書類画像の所定領域に含まれるマークを光学認識したりして,自動的に書類画像を仕分けすることも可能であるが,本実施形態では,端末装置11に書類画像を表示させて,端末装置11を操作する作業者に書類画像を仕分けさせる。   The sorting process P3 included in the deficiency examination flow will be described. When the procedure described with reference to FIG. 8 is executed, the sorting unit 102 of the deficiency examination management apparatus 10 operates, and the sorting unit 102 of the deficiency examination management apparatus 10 saves the application document 2 stored in the document image DB 104. The document image is sorted according to the document type. The process of sorting the document image of the application document 2 according to the document type is performed by automatically recognizing characters included in a predetermined area of the document image or optically recognizing marks included in the predetermined area of the document image. However, in this embodiment, the document image is displayed on the terminal device 11 and the operator who operates the terminal device 11 is allowed to sort the document image.

図10は,本実施形態に係る仕分け工程P3を説明する図である。端末装置11を操作する作業者により,仕分けの対象になる品目名を含む仕分け要求を端末装置11が不備審査管理装置10へ送信し(S10),不備審査管理装置10が仕分け要求を端末装置11から受信すると(S11),不備審査管理装置10の仕分け部102が作動し,不備審査管理装置10の仕分け部102は,仕分け結果を記録する仕分けTBL105b等を仕分けDB105に生成する(S12)。   FIG. 10 is a diagram for explaining the sorting process P3 according to the present embodiment. The operator who operates the terminal device 11 sends a sorting request including an item name to be sorted to the defect screening management device 10 (S10), and the defect screening management device 10 sends the sorting request to the terminal device 11. (S11), the sorting unit 102 of the deficiency screening management apparatus 10 operates, and the sorting unit 102 of the deficiency screening management apparatus 10 generates sorting TBL 105b and the like for recording the sorting result in the sorting DB 105 (S12).

次に,不備審査管理装置10の仕分け部102は,不備審査管理装置10の書類画像DB104を参照し,仕分け要求の品目名に対応する品目フォルダ104aの下にある個別フォルダ104bごとに繰り返すループ処理(S13)を実行する。   Next, the sorting unit 102 of the defect screening management apparatus 10 refers to the document image DB 104 of the defect screening management apparatus 10 and repeats loop processing for each individual folder 104b under the item folder 104a corresponding to the item name of the sorting request. (S13) is executed.

このループ処理(S13)において,不備審査管理装置10の仕分け部102は,ループ処理(S13)の対象になる個別フォルダ104bに下に保存されている書類画像と,書類の種別を選択するボタンオブジェクトを含む仕分け用画面を端末装置11へ送信し(S14),端末装置11が,作業者が選択した書類種別を送信すると(S15),端末装置11が送信した書類種別に対応する仕分けTBL105bに,ループ処理(S13)の対象になっている個別フォルダ104bに付加されている申込管理番号と,端末装置11へ送信した仕分け用画面に含ませた書類画像のパスを少なくとも記録するレコード105cを追加する(S16)。例えば,書類画像DB104において,管理番号「001」が付加されている個別フォルダ104bに保存されている申込書20の書類画像のパスは,仕分けDB105において,申込書20に対応する仕分けTBL105bに記録される。なお,S14からS16までの処理は,ループ処理(S13)の対象になる申込管理番号が付加された個別フォルダ104bの下にある書類画像ごとに実行される。   In this loop process (S13), the sorting unit 102 of the deficiency examination management apparatus 10 selects a document image stored below in the individual folder 104b to be subjected to the loop process (S13) and a button object for selecting the document type. Is transmitted to the terminal device 11 (S14), and when the terminal device 11 transmits the document type selected by the worker (S15), the sorting TBL 105b corresponding to the document type transmitted by the terminal device 11 is A record 105c that records at least the application management number added to the individual folder 104b that is the target of the loop processing (S13) and the path of the document image included in the sorting screen transmitted to the terminal device 11 is added. (S16). For example, the document image path of the application form 20 stored in the individual folder 104 b to which the management number “001” is added in the document image DB 104 is recorded in the sorting TBL 105 b corresponding to the application form 20 in the sorting DB 105. The Note that the processing from S14 to S16 is executed for each document image under the individual folder 104b to which the application management number to be subjected to the loop processing (S13) is added.

上述の内容が実行されることで,書類画像DB104に保存した申込書類2の書類画像に係る仕分け結果が仕分けDB105に保存される。本実施形態では,申込書20,確認書類21および確認書類22が申込書類2に含まれるので,申込書20の書類画像が記憶されているパス等が,申込書20に対応する仕分けTBL105bに保存され,確認書類21の書類画像が記憶されているパス等が,確認書類21に対応する仕分けTBL105bに保存され,そして,確認書類21の書類画像が記憶されているパス等が,確認書類21に対応する仕分けTBL105bに保存されることになる。   By executing the above-described contents, the sorting result related to the document image of the application document 2 stored in the document image DB 104 is stored in the sorting DB 105. In the present embodiment, since the application form 20, the confirmation document 21 and the confirmation document 22 are included in the application document 2, the path where the document image of the application form 20 is stored is stored in the sorting TBL 105b corresponding to the application form 20. The path where the document image of the confirmation document 21 is stored is stored in the sorting TBL 105b corresponding to the confirmation document 21, and the path where the document image of the confirmation document 21 is stored is stored in the confirmation document 21. It is stored in the corresponding sorting TBL 105b.

ループ処理(S13)が全て終了すると,仕分けミスの軽減を図るために,不備審査管理装置10の仕分け部102は,仕分けTBL105bごとにレコード105cの数を集計し,仕分けTBL105bごとにレコード105cの数に異常がないか確認する(SS17)。仕分けTBL105bのレコード105cの数に異常(極端に多い,または,極端に少ない)がない場合,不備審査管理装置10の仕分け部102は,仕分け結果が正常と判定して(S18),図10で図示した手順は終了する。また,仕分けTBL105bのレコード105cの数に異常がある場合,不備審査管理装置10の仕分け部102は,仕分け結果に仕分けミスがあると判定して仕分けDB105に記憶した仕分け結果を無効化して(S19),図10で図示した手順は終了する。   When all of the loop processing (S13) is completed, in order to reduce sorting errors, the sorting unit 102 of the deficiency examination management apparatus 10 totals the number of records 105c for each sorting TBL 105b, and the number of records 105c for each sorting TBL 105b. (SS17). If there is no abnormality (extremely large or extremely small) in the number of records 105c of the sorting TBL 105b, the sorting unit 102 of the deficiency examination management apparatus 10 determines that the sorting result is normal (S18), and FIG. The illustrated procedure ends. If there is an abnormality in the number of records 105c in the sorting TBL 105b, the sorting unit 102 of the defect screening management apparatus 10 determines that there is a sorting error in the sorting result and invalidates the sorting result stored in the sorting DB 105 (S19). ), The procedure illustrated in FIG.

次に,不備審査フローに含まれる切り出し工程P4について説明する。仕分け工程P4が終了すると,不備審査管理装置10の切り出し部103が作動し,不備審査管理装置10の切り出し部103は,仕分け工程P3で得られた書類画像の仕分け結果を利用して,不備審査の対象となる審査項目の範囲に対応する画像を審査項目画像として切り出す処理を実行する。   Next, the cutout process P4 included in the deficiency examination flow will be described. When the sorting process P4 is completed, the cutout unit 103 of the deficiency examination management apparatus 10 operates, and the cutout unit 103 of the deficiency examination management apparatus 10 uses the document image sorting result obtained in the sorting process P3 to check for deficiencies. A process of cutting out an image corresponding to the range of the examination item as the examination item image is executed.

図11は,本実施形態に係る切り出し工程P4を説明する図である。不備審査管理装置10の切り出し部103は,切り出し工程P4の対象になる品目の品目名などを利用して,書類画像から切り出した審査項目画像を保存するフォルダ群(図5で示したフォルダ群)を審査項目画像DB106に生成する(S20)。   FIG. 11 is a diagram for explaining the cutout process P4 according to the present embodiment. The cutout unit 103 of the deficiency examination management apparatus 10 uses the item name of the item that is the target of the cutout process P4 to store the examination item image cut out from the document image (folder group shown in FIG. 5). Is generated in the examination item image DB 106 (S20).

次に,不備審査管理装置10の切り出し部103は,不備審査管理装置10の仕分けDB105を参照し,切り出し工程P4の対象になる品目の品目フォルダ105aの下にある仕分けTBL105bごとに繰り返すループ処理(S21)を実行して,図11の手順は終了する。   Next, the cutout unit 103 of the deficiency screening management apparatus 10 refers to the sorting DB 105 of the deficiency screening management apparatus 10 and repeats a loop process (for each sorting TBL 105b under the item folder 105a of the item to be subjected to the cutting process P4) ( S21) is executed, and the procedure of FIG. 11 ends.

ループ処理(S21)において,不備審査管理装置10の切り出し部103は,ループ処理(S21)の対象になる仕分けTBL105bに生成されているレコード105cごとに繰り返すループ処理(S22)を実行する。   In the loop process (S21), the cutout unit 103 of the deficiency examination management apparatus 10 executes a loop process (S22) that is repeated for each record 105c generated in the sorting TBL 105b that is the target of the loop process (S21).

このループ処理(S22)において,不備審査管理装置10の切り出し部103は,まず,ループ処理(S22)の対象になるレコード105cに記録されているパスを利用して,書類画像DB104から書類画像を取得し,ループ処理(S21)の対象になる仕分けTBL105bに対応する書類種別に設定された審査項目に対応する範囲の画像を審査項目画像として切り出す処理を実行する(S23)。   In this loop process (S22), the cutout unit 103 of the deficiency examination management apparatus 10 first uses the path recorded in the record 105c to be the target of the loop process (S22) to retrieve the document image from the document image DB 104. A process of obtaining and extracting an image in a range corresponding to the examination item set in the document type corresponding to the sorting TBL 105b to be the target of the loop process (S21) as an examination item image is executed (S23).

書類種別に設定された審査項目に対応する範囲の画像を審査項目画像として切り出せるように,書類種別ごとに,書類種別に設定された審査項目と,審査項目に対応する範囲が不備審査管理装置10の仕分け部102に設定され,不備審査管理装置10の仕分け部102は,ループ処理(S21)の対象になる仕分けTBL105bに対応する書類種別に設定された審査項目に対応する範囲の画像を審査項目画像として書類画像から切り出す(S23)。   For each document type, the examination item set for the document type and the range corresponding to the examination item are inadequate so that an image in the range corresponding to the examination item set for the document type can be cut out as an examination item image. The sorting unit 102 of the defect screening management apparatus 10 screens images in a range corresponding to the screening item set for the document type corresponding to the sorting TBL 105b to be subjected to the loop processing (S21). The item image is cut out from the document image (S23).

不備審査管理装置10の切り出し部103は,書類種別に設定された審査項目に対応する審査項目画像を書類画像から切り出すと,審査項目画像DB106を参照し,ループ処理(S22)の対象になるレコード105cに記録されている申込管理番号に対応する個別フォルダ106bの下にあり,ループ処理(S21)の対象になる仕分けTBL105bに対応する書類種別フォルダ106cに,審査項目を示す審査項目番号を関連づけて,書類画像から切り出した審査項目画像を保存する(S24)。例えば,申込書20に対応する仕分けTBL105bに含まれ,申込管理番号「001」が記録されたレコード105cのパスで示される申込書20の書類画像から切り出した審査項目「捺印」に係る審査項目画像は,審査項目画像DB106において,申込管理番号「001」が付加された個別フォルダ106bの下にあり,申込書20に対応する書類種別フォルダ106cに保存される。   When the cutout unit 103 of the deficient examination management apparatus 10 cuts out the examination item image corresponding to the examination item set in the document type from the document image, the cutout unit 103 refers to the examination item image DB 106 and records to be subjected to loop processing (S22). The examination item number indicating the examination item is associated with the document type folder 106c corresponding to the sorting TBL 105b which is under the individual folder 106b corresponding to the application management number recorded in 105c and is the target of the loop processing (S21). The examination item image cut out from the document image is stored (S24). For example, the examination item image related to the examination item “marking” included in the sorting TBL 105b corresponding to the application form 20 and cut out from the document image of the application form 20 indicated by the path of the record 105c in which the application management number “001” is recorded. Is stored in the document type folder 106 c corresponding to the application form 20 under the individual folder 106 b to which the application management number “001” is added in the examination item image DB 106.

図12は,申込書20に設定された審査項目に対応する領域を説明する図である。図12で図示した申込書20には,割賦による購入を申し込む申込者の氏名,住所,連絡先に加え,申込者の印鑑が捺印される申込者欄200と,割賦による購入を申し込む申込者の保証人の氏名,住所,連絡先に加え,保証人の印鑑が捺印される保証人欄201を含む。申込書20に設定された審査項目は,氏名,住所,連絡先および捺印になり,これらの審査項目に対応させる領域として,申込者欄200に対応する領域である申込者領域200aと保証人欄201に対応する領域である保証人領域201aが設定されている。例えば,申込書20に対応する書類種別フォルダ106cには,申込者領域200aから切り出した画像と,保証人領域201aから切り出した画像に加え,申込書20の書類画像などが保存される。   FIG. 12 is a diagram for explaining areas corresponding to examination items set in the application form 20. The application form 20 shown in FIG. 12 includes an applicant field 200 in which the applicant's seal is stamped in addition to the name, address, and contact information of the applicant who applies for purchase by installment, and the applicant's application for purchase by installment. In addition to the name, address and contact information of the guarantor, the guarantor field 201 is included in which the seal of the guarantor is stamped. The examination items set in the application form 20 are a name, an address, a contact information, and a seal, and an area corresponding to the applicant field 200 and an applicant area 200a and a guarantor field are associated with these examination items. A guarantor area 201 a which is an area corresponding to 201 is set. For example, in the document type folder 106c corresponding to the application form 20, in addition to the image cut out from the applicant area 200a and the image cut out from the guarantor area 201a, the document image of the application form 20 is stored.

次に,不備審査フローに含まれる項目別審査工程P5について説明する。切り出し工程P4が終了した後,端末装置11から項目別審査要求が通知されると,不備審査管理装置10と端末装置11間で,審査項目単位で書類の不備を審査する項目別審査工程P5が行われる。   Next, the item-specific examination process P5 included in the deficiency examination flow will be described. After the cutout process P4 is completed, when an item-specific examination request is notified from the terminal device 11, an item-specific examination process P5 is performed between the deficiency examination management device 10 and the terminal device 11 to examine document deficiencies in units of examination items. Done.

図13は,本実施形態に係る項目別審査工程P5を説明する図である。端末装置11を操作する作業者が品目名,書類種別および審査項目を選択すると,端末装置11は,作業者が選択した品目名,書類種別および審査項目を含む項目別審査要求を不備審査管理装置10へ通知し(S30),端末装置11から項目別審査要求を受信すると(S31),不備審査管理装置10の項目別審査実行部100が作動し,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,項目別審査DB107の中から,端末装置11から通知された品目名に対応する品目フォルダ107aの下にあり,端末装置11から通知された書類種別に対応する書類種別フォルダ107bから,端末装置11から通知された審査項目に対応する項目別審査TBL107cを取得する(S32)。   FIG. 13 is a diagram for explaining the item-specific examination process P5 according to the present embodiment. When the operator who operates the terminal device 11 selects the item name, document type, and examination item, the terminal device 11 issues an item-specific examination request including the item name, document type, and examination item selected by the operator. 10 (S30) and when an itemized examination request is received from the terminal device 11 (S31), the itemized examination execution unit 100 of the deficiency examination management apparatus 10 is activated, and the itemized examination execution unit of the deficiency examination management apparatus 10 is activated. 100 is located under the item folder 107a corresponding to the item name notified from the terminal device 11 in the item-by-item examination DB 107, and from the document type folder 107b corresponding to the document type notified from the terminal device 11 to the terminal. The item-specific examination TBL 107c corresponding to the examination item notified from the apparatus 11 is acquired (S32).

次に,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,審査項目画像DB106を参照し,端末装置11から通知された品目名に対応する品目フォルダ106aに含まれる個別フォルダ106bごとに繰り返すループ処理(S33)を実行する。   Next, the item-by-item examination execution unit 100 of the deficiency examination management apparatus 10 refers to the examination item image DB 106 and repeats for each individual folder 106b included in the item folder 106a corresponding to the item name notified from the terminal device 11. A process (S33) is performed.

ループ処理(S33)において,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,ループ処理(S33)の対象になる個別フォルダ106bの下にあり,項目別審査要求の書類種別に対応した書類種別フォルダ106cから,項目別審査要求の審査項目に対応する審査項目画像を取得し,この審査項目画像,審査項目の審査内容を記した設問データ,および,設問データの回答を入力するための回答ボタンを少なくとも端末装置11に表示させ,端末装置11に表示した回答ボタンを用いて入力された回答データを記憶する項目別審査処理(S34)を,S32で取得した項目別審査TBL107cに従い実行する。   In the loop process (S33), the item-by-item examination execution unit 100 of the deficiency examination management apparatus 10 is located under the individual folder 106b to be subjected to the loop process (S33), and the document type corresponding to the document type of the item-by-item examination request. An answer button for acquiring an examination item image corresponding to the examination item of the examination request for each item from the folder 106c, and inputting the examination item image, question data describing the examination contents of the examination item, and an answer to the question data Is displayed on at least the terminal device 11, and the item-by-item examination process (S34) for storing the reply data input using the answer button displayed on the terminal device 11 is executed according to the item-by-item examination TBL 107c acquired in S32.

不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,項目別審査処理(S34)において,まず,項目別審査要求の審査項目に対応する審査項目画像と,項目別審査処理(S34)の対象になるレコード107dの設問データと,設問データに対する回答データを入力するためのボタンオブジェクトである回答ボタンを少なくとも表示する項目別審査用画面を端末装置11へ送信する(S340)。例えば,項目別審査処理(S34)の対象になるレコード107dが1番目の場合,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,1番目のレコード107dから設問データを取得する。   In the item-by-item examination process (S34), the item-by-item examination execution unit 100 of the deficiency examination management apparatus 10 first applies the examination item image corresponding to the examination item of the item-by-item examination request and the item-by-item examination process (S34). The item-specific examination screen for displaying at least the question data of the record 107d and the answer button which is a button object for inputting the answer data to the question data is transmitted to the terminal device 11 (S340). For example, when the record 107d to be subjected to the item-based examination process (S34) is the first, the item-by-item examination execution unit 100 of the deficiency examination management device 10 acquires the question data from the first record 107d.

図14は,項目別審査用画面1000を説明する図である。図14で図示した項目別審査用画面1000は,審査項目を「捺印」にしたときの画面である。審査項目「捺印」を審査するための項目別審査用画面1000には,審査項目「捺印」に対応する領域の一つである申込者領域200aから切り出した画像1000aと,審査項目「捺印」に対応する領域の一つである保証人領域201aから切り出した画像1000bと,審査項目「捺印」に対応する設問データ1000c(「申込者と保証人全てについて朱色の捺印がある。」)と,回答データ(「捺印あり」または「捺印なし」)を入力するためのボタンオブジェクトである回答ボタン1000dと,画面コントロールに用いるボタンオブジェクト1000eを含む。   FIG. 14 is a diagram for explaining an item-specific examination screen 1000. The item-specific examination screen 1000 illustrated in FIG. 14 is a screen when the examination item is “stamped”. The item-specific examination screen 1000 for examining the examination item “Seal” includes an image 1000a cut out from the applicant area 200a, which is one of the areas corresponding to the examination item “Seal”, and the examination item “Seal”. An image 1000b cut out from the guarantor area 201a, which is one of the corresponding areas, and question data 1000c corresponding to the examination item “Seal” (“There are vermillion seals for all applicants and guarantors”) and an answer. An answer button 1000d, which is a button object for inputting data (“with stamp” or “without stamp”), and a button object 1000e used for screen control are included.

端末装置11が,不備審査管理装置10から受信した項目別審査用画面を表示した後(S341),端末装置11を操作する作業者が,項目別審査用画面に表示された一つの回答ボタンを選択することで,端末装置11に表示された審査項目画像から判断した回答データを端末装置11に入力すると,端末装置11は,作業者が選択した回答ボタンに対応する回答データを不備審査管理装置10の項目別審査実行部100に送信する(S342)。   After the terminal device 11 displays the item-by-item examination screen received from the defect examination management device 10 (S341), the operator operating the terminal device 11 presses one reply button displayed on the item-by-item examination screen. When the answer data determined from the examination item image displayed on the terminal device 11 is input to the terminal device 11 by selection, the terminal device 11 displays the answer data corresponding to the answer button selected by the worker as a deficiency examination management device. The ten item-specific examination execution units 100 are transmitted (S342).

作業者が入力した回答データが端末装置11から送信されると,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,審査ミスの軽減を図るために,端末装置11から送信された回答データが所定の回答データであるか確認し(S343),端末装置11から送信された回答データが所定の回答データの場合,作業者が入力した回答データに間違いがないか作業者に再確認させるためのポップアップ形式の注意画面を端末装置11に一定時間表示させる(S344)。所定の回答データを審査ミスで入力されがちな回答データにすれば,審査ミスで入力されがちな回答データが端末装置11に入力された際,作業者に回答の再確認をさせることができる。   When the reply data input by the operator is transmitted from the terminal device 11, the item-by-item examination execution unit 100 of the deficiency examination management device 10 receives the reply data transmitted from the terminal device 11 in order to reduce examination errors. Check whether the answer data is predetermined (S343), and if the answer data transmitted from the terminal device 11 is the predetermined answer data, the operator is allowed to reconfirm whether there is an error in the answer data input by the operator. A pop-up caution screen is displayed on the terminal device 11 for a certain period of time (S344). If the predetermined answer data is made into answer data that is likely to be input due to an examination error, when the answer data that is likely to be entered due to an examination error is input to the terminal device 11, the operator can reconfirm the answer.

図15は,端末装置11に表示する注意画面1001を説明する図である。作業者が入力した回答データに間違いがないか作業者に再確認させるための注意画面1001のサイズは,項目別審査用画面1000の約2/3のサイズで,注意画面1001の後面になる項目別審査用画面1000が透けて見えるように,注意画面1001の背景色の透過度を高めている。なお,図15で図示した注意画面1001は一例にしか過ぎず,警告度合いによって注意画面1001を変更(サイズ,色,表示時間など)できるように構成することが望ましい。   FIG. 15 is a diagram for explaining a caution screen 1001 displayed on the terminal device 11. The size of the caution screen 1001 for allowing the worker to reconfirm that there is no mistake in the answer data input by the worker is about 2/3 the size of the item-by-item examination screen 1000, and is an item on the rear side of the caution screen 1001. The transparency of the background color of the caution screen 1001 is increased so that the separate examination screen 1000 can be seen through. Note that the caution screen 1001 illustrated in FIG. 15 is only an example, and it is desirable that the caution screen 1001 can be changed (size, color, display time, etc.) depending on the degree of warning.

次に,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は, ループ処理(S33)の対象となる個別フォルダ106bに付加された申込管理番号と,端末装置11から送信された回答データを含むレコード108cを,項目別審査要求の審査項目に対応する回答TBL108bに追加することで,端末装置11から送信された回答データを回答DB108に記憶する(S345)。   Next, the item-specific examination execution unit 100 of the deficiency examination management apparatus 10 records a record including the application management number added to the individual folder 106b that is the target of the loop process (S33) and the response data transmitted from the terminal apparatus 11. By adding 108c to the reply TBL 108b corresponding to the examination item of the examination request according to item, the reply data transmitted from the terminal device 11 is stored in the reply DB 108 (S345).

次に,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,項目別審査処理(S34)の対象になるレコード107dの中から,端末装置11から送信された回答データを含む条件式を検索し,検索した条件式に含まれる設問管理番号に従い処理を分岐する(S346)。検索した条件式に含まれる設問管理番号がNULL(設問管理番号がない)の場合,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,ループ処理(S33)の対象になっていた個別フォルダ106bに係る項目別審査を終了する。また,検索した条件式に含まれる設問管理番号がNULL(設問管理番号がない)でない場合,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,項目別審査処理(S34)の対象になるレコード107dを,検索した条件式に含まれる設問管理番号に対応するレコード107dにして,項目別審査処理(S34)の先頭(S340)に戻る。なお,不備を示す回答データに審査終了を示すデータを関連付けておいても,不備を示す回答データが得られたときに,一つの申込書類2に係る審査を終了させることができる。   Next, the item-by-item examination execution unit 100 of the deficiency examination management device 10 searches the record 107d that is the subject of the item-by-item examination process (S34) for a conditional expression that includes the answer data transmitted from the terminal device 11. Then, the process branches according to the question management number included in the searched conditional expression (S346). When the question management number included in the searched conditional expression is NULL (no question management number), the item-specific examination execution unit 100 of the deficiency examination management apparatus 10 performs the individual folder 106b that has been the target of the loop processing (S33). End the itemized examination related to. If the question management number included in the searched conditional expression is not NULL (no question management number), the item-by-item examination execution unit 100 of the deficiency examination management apparatus 10 records that are subject to item-by-item examination processing (S34). The record 107d corresponding to the question management number included in the searched conditional expression is set to 107d, and the process returns to the top (S340) of the item-specific examination process (S34). Even if the response data indicating deficiency is associated with the data indicating completion of the examination, the examination related to one application document 2 can be completed when the response data indicating deficiency is obtained.

ループ処理(S33)が全て終了すると,審査ミスの軽減を図るために,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,回答DB108の回答TBL108bに記憶した回答データを集計し,不備を示す回答データの数がこの回答データの発生頻度未満であるか確認する(S35)。不備を示す回答データの数がこの回答データの発生頻度未満の場合,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,図14に手順の対象になった審査項目に係る項目別審査が正常に完了したと判定して(S36),図13で図示した手順は終了する。不備を示す回答データの数がこの回答データの発生頻度以上の場合,不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,図13に手順の対象になった審査項目に係る項目別審査に審査ミスがあると判定して回答DB108に記憶した回答データを無効化して(S37),図13で図示した手順は終了する。なお,不備に対応する回答データの数がこの回答データの発生頻度以上であるか確認するのは,不備となる回答データを入力する回答ボタンと,不備にならない回答データを入力する回答ボタンを作業者が勘違いして操作しまうことが稀にあるからである。   When all the loop processes (S33) are completed, in order to reduce examination mistakes, the item-specific examination execution unit 100 of the deficiency examination management apparatus 10 totals the answer data stored in the answer TBL 108b of the answer DB 108 to indicate deficiencies. It is confirmed whether the number of answer data is less than the frequency of occurrence of this answer data (S35). When the number of response data indicating deficiencies is less than the occurrence frequency of this response data, the item-by-item examination execution unit 100 of the deficiency examination management apparatus 10 performs normal item-by-item examination on the examination items subject to the procedure shown in FIG. (S36), the procedure illustrated in FIG. 13 ends. If the number of response data indicating deficiencies is greater than or equal to the frequency of occurrence of this response data, the item-by-item examination execution unit 100 of the deficiency examination management device 10 examines the item-by-item examination for the examination items subject to the procedure in FIG. It is determined that there is a mistake and the answer data stored in the answer DB 108 is invalidated (S37), and the procedure illustrated in FIG. In order to check whether the number of response data corresponding to deficiencies is greater than the occurrence frequency of this response data, an answer button for inputting deficient response data and a response button for inputting deficient response data are operated. This is because it is rare for a person to misunderstand operation.

最後に,不備審査フローに含まれる納品工程について説明する。不備審査管理装置10の項目別審査実行部100は,全ての審査項目に係る項目別審査が完了した品目について,申込書類2の不備審査が完了したと判定し,この品目については,申込者から郵送された申込書類2と不備審査結果が所定の指定機関に納品される。不備審査結果の納品形態は任意で,回答DB108に記憶している回答データそのものを不備審査結果の納品物とすることもできるが,回答DB108に記憶している回答データを加工したデータを不備審査結果の納品物とする。   Finally, the delivery process included in the deficiency examination flow will be explained. The item-specific examination execution unit 100 of the deficiency examination management device 10 determines that the deficiency examination of the application document 2 has been completed for the items for which the item-by-item examination relating to all the examination items has been completed. The mailed application documents 2 and deficiency examination results are delivered to a designated designated organization. The delivery form of the deficiency examination result is arbitrary, and the answer data itself stored in the answer DB 108 can be used as the delivery item of the deficiency examination result, but the data obtained by processing the answer data stored in the answer DB 108 is deficient examination. The resulting delivery.

1 書類不備審査システム
10 不備審査管理装置
100 項目別審査実行部
101 品目受付部
102 仕分け部
103 切り出し部
104 書類画像DB
105 仕分けDB
106 審査項目画像DB
107 項目別審査DB
108 回答DB
11 端末装置
12 ストレージサーバ
13 イメージスキャナ
2 申込書類
20 申込書
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Document deficiency examination system 10 Deficiency examination management apparatus 100 Item-specific examination execution part 101 Item reception part 102 Sorting part 103 Cutout part 104 Document image DB
105 Sorting DB
106 Examination Item Image DB
107 Examination DB by item
108 Answer DB
11 Terminal Device 12 Storage Server 13 Image Scanner 2 Application Document 20 Application Form

Claims (5)

申込書類に含まれる書類の不備を審査するためのシステムであって,
申込書類に含まれる書類の不備を審査する作業者が操作する端末装置と,
前記端末装置とネットワークを介して接続している不備審査管理装置と,
から少なくとも構成され,
前記不備審査管理装置は,前記端末装置から審査項目が通知されると,審査項目に対応する範囲の画像である審査項目画像,審査項目の審査内容を記した設問データを少なくとも前記端末装置に表示させ,前記端末装置から送信された回答データを記憶する項目別審査処理を,審査対象になる申込書類ごとに実行する項目別審査実行部を備えている,
ことを特徴とする書類不備審査システム。
A system for examining deficiencies in documents included in application documents,
A terminal device operated by a worker who examines the deficiencies of the documents included in the application documents;
A deficiency examination management device connected to the terminal device via a network;
Consisting of at least
When the examination item is notified from the terminal device, the deficiency examination management device displays at least the question data describing the examination item image, which is an image in a range corresponding to the examination item, and the examination content of the examination item, on the terminal device. And an itemized examination execution unit for executing the itemized examination process for storing the response data transmitted from the terminal device for each application document to be examined.
Document defect screening system characterized by that.
前記不備審査管理装置は,一つの前記設問データに係る回答データに他の前記設問データを関連付けた階層構造で前記設問データを記憶し,前記項目別審査実行部は,前記端末装置から回答データが送信されると,前記階層構造を参照し,前記端末装置に表示させる前記設問データを,前記端末装置から送信された回答データに関連付けられている前記設問データにして前記項目別審査処理を実行することを特徴とする,請求項1に記載した書類不備審査システム。   The deficiency examination management device stores the question data in a hierarchical structure in which other question data is associated with answer data related to one question data, and the item-specific examination execution unit receives response data from the terminal device. When transmitted, the item data examination process is executed by referring to the hierarchical structure and using the question data to be displayed on the terminal device as the question data associated with the answer data transmitted from the terminal device. The document defect examination system according to claim 1, wherein 不備を示す回答データには他の前記設問データを関連付けずにしておき,前記項目別審査実行部は,前記端末装置から送信された回答データが不備を示す回答データの場合,一つの申込書類に係る不備審査を終了することを特徴とする,請求項2に記載した書類不備審査システム。   The other answer data indicating deficiency is not associated with the other question data, and the item-specific examination execution unit, when the answer data transmitted from the terminal device indicates deficiency, is included in one application document. 3. The document defect inspection system according to claim 2, wherein the defect inspection is terminated. 前記不備審査管理装置の前記項目別審査実行部は,前記項目別審査処理において,前記端末装置から送信された回答データが所定の回答データの場合,回答を再確認させるための注意画面を前記端末装置に表示させることを特徴とする,請求項1から請求項3のいずれか一項に記載した書類不備審査システム。   The item-by-item examination execution unit of the deficiency examination management device displays a caution screen for reconfirming the answer when the answer data transmitted from the terminal device is predetermined answer data in the item-by-item examination process. The document defect examination system according to any one of claims 1 to 3, wherein the document defect examination system is displayed on an apparatus. 前記不備審査管理装置の前記項目別審査実行部は,審査対象になる申込書類すべてにおいて前記項目別審査処理を実行すると,不備に対応する回答データの数を集計し,不備に対応する回答データの数が,不備に対応する回答データに予め設定されている発生頻度以上の場合,前記項目別審査処理で得られた回答データを無効化することを特徴とする,請求項1から4のいずれか一項に記載した書類不備審査システム。
When the item-specific examination execution unit of the deficiency examination management device executes the item-specific examination process for all application documents to be examined, the item examination execution unit counts the number of response data corresponding to the deficiencies, 5. The response data obtained in the item-specific examination process is invalidated when the number is equal to or higher than the occurrence frequency set in advance in the response data corresponding to the deficiency. Document defect examination system described in one paragraph.
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