JP6853659B2 - Determining method, optical equipment, projection optical system, exposure equipment and manufacturing method of articles - Google Patents

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Description

本発明は、決定方法、光学装置、投影光学系、露光装置及び物品の製造方法に関する。 The present invention relates to a determination method, an optical device, a projection optical system, an exposure device, and a method for manufacturing an article.

地上の望遠鏡などの天文設備による天体観測では、空気の揺らぎによる星像のボケが問題になる。そこで、このような望遠鏡では、波面補償光学系と呼ばれる表面(反射面)の形状が可変な可変ミラーを用いることで、波面センサによって測定した空気の揺らぎを補正し、星像のボケを低減している。 In astronomical observations using astronomical equipment such as telescopes on the ground, blurring of star images due to air fluctuations becomes a problem. Therefore, in such a telescope, by using a variable mirror with a variable surface (reflection surface) shape called an adaptive optics system, the fluctuation of air measured by the wavefront sensor is corrected and the blur of the star image is reduced. ing.

また、半導体デバイスを製造する際、マスク(レチクル)のパターンを基板に転写するフォトリソグラフィ工程では、非常に微細なパターンの像を基板に結像させるため、光学系の収差などの影響が問題になる。このような場合にも、上述した波面補償光学系と同様に、露光装置の光学系のレンズやミラーを変形させる可変光学素子を用いることで、結像特性を改善することができる。 In addition, in the photolithography process of transferring a mask (reticle) pattern to a substrate when manufacturing a semiconductor device, an image of a very fine pattern is formed on the substrate, so that the influence of optical system aberrations becomes a problem. Become. Even in such a case, the imaging characteristics can be improved by using a variable optical element that deforms the lens or mirror of the optical system of the exposure apparatus, as in the case of the adaptive optics system described above.

代表的な可変光学素子である可変ミラーでは、ミラーに配置された多数のアクチュエータを駆動することで、ミラー自体を変形させて形状を制御している。アクチュエータには、ピエゾアクチュエータ、ボイスコイルモータ(VCM)、リニアモータ、ソレノイドなどが用いられている。 In a variable mirror, which is a typical variable optical element, the shape of the mirror itself is controlled by deforming the mirror itself by driving a large number of actuators arranged on the mirror. As the actuator, a piezo actuator, a voice coil motor (VCM), a linear motor, a solenoid and the like are used.

VCMやリニアモータなどの電磁気力を利用するアクチュエータは、固定子と可動子とが非接触である(即ち、非接触型のアクチュエータである)ため、ミラーの駆動時に固定子側の構造の変形や振動などの影響を受けにくいという特徴を有する。このため、VCMなどのアクチュエータは、ミラーの形状を高精度に制御する際に、周辺部品の熱変形や振動の回避の観点から有利である。また、電磁気力を利用するアクチュエータは、力によってミラーを駆動するため、アクチュエータの変位の計測が必須ではない。従って、変位の計測が必須となるピエゾアクチュエータやボールねじなどとは対照的に、電磁気力を利用するアクチュエータでは、変位センサを省略することが可能であり、コストの低下に寄与する。可変ミラーにおいて、高精度な形状制御とコストとを両立させるためには、変位センサを省略するオープン制御駆動が有効である。 In actuators that use electromagnetic force, such as VCMs and linear motors, the stator and mover are non-contact (that is, they are non-contact actuators), so the structure on the stator side may be deformed when the mirror is driven. It has the characteristic that it is not easily affected by vibration. Therefore, an actuator such as a VCM is advantageous from the viewpoint of avoiding thermal deformation and vibration of peripheral parts when controlling the shape of the mirror with high accuracy. Further, since the actuator using the electromagnetic force drives the mirror by the force, it is not essential to measure the displacement of the actuator. Therefore, in contrast to piezo actuators and ball screws, which require displacement measurement, displacement sensors can be omitted in actuators that utilize electromagnetic force, which contributes to cost reduction. In the variable mirror, in order to achieve both high-precision shape control and cost, open control drive that omits the displacement sensor is effective.

非接触型のアクチュエータを用いる可変ミラーでは、各アクチュエータの駆動とミラーの変形との関係の線形和から、目標形状を得るための各アクチュエータの推力を求めることができる。かかる関係は、コンプライアンスマトリクスを用いて、以下の式(1)乃至式(4)で表すことができる。 In a variable mirror using a non-contact type actuator, the thrust of each actuator for obtaining the target shape can be obtained from the linear sum of the relationship between the drive of each actuator and the deformation of the mirror. Such a relationship can be expressed by the following equations (1) to (4) using the compliance matrix.

Figure 0006853659
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なお、式(1)乃至式(4)において、Cは、コンプライアンスマトリクスを表し、Xは、ミラーの変位(目標形状)を表し、Fは、各アクチュエータの推力を表し、n≧mである。 In the equations (1) to (4), C represents the compliance matrix, X represents the displacement (target shape) of the mirror, F represents the thrust of each actuator, and n ≧ m.

コンプライアンスマトリクスについては、有限要素解析によって、その理想値を求めることが可能である。但し、実際には、各部材の物性値の誤差や不均一性、アクチュエータの推力ばらつきや取り付け誤差などによって、可変ミラー全体の剛性が理想状態ではないため、コンプライアンスマトリクスは、理想値とは異なる値となる。従って、実際の可変ミラーを用いて、かかる可変ミラーに固有のコンプライアンスマトリクスを同定する必要がある。 The ideal value of the compliance matrix can be obtained by finite element analysis. However, in reality, the rigidity of the entire variable mirror is not in the ideal state due to errors and non-uniformity of the physical property values of each member, thrust variation of the actuator, mounting error, etc., so the compliance matrix has a value different from the ideal value. It becomes. Therefore, it is necessary to identify the compliance matrix specific to such a variable mirror using an actual variable mirror.

コンプライアンスマトリクスの同定では、例えば、ある1つのアクチュエータを単位推力で駆動し、そのときのミラーの変位を計測することによって、1列のコンプライアンスマトリクスを得る。このようなアクチュエータの駆動及びミラーの変位の計測を、全てのアクチュエータに対して実施することで、式(2)に示すコンプライアンスマトリクスを求めることができる。 In the identification of the compliance matrix, for example, one row of compliance matrix is obtained by driving one actuator with a unit thrust and measuring the displacement of the mirror at that time. By performing such actuator drive and mirror displacement measurement for all actuators, the compliance matrix represented by the equation (2) can be obtained.

ミラーの変位は、例えば、干渉計や多点変位計などの計測器を用いて計測される(特許文献1参照)。特許文献1には、ミラーの変位を計測する波面計測系を構成し、装置ごとのオフセットである電圧テンプレート(コンプライアンスマトリクス)を作成する技術が開示されている。 The displacement of the mirror is measured using, for example, a measuring instrument such as an interferometer or a multipoint displacement meter (see Patent Document 1). Patent Document 1 discloses a technique of configuring a wave surface measurement system for measuring the displacement of a mirror and creating a voltage template (compliance matrix) which is an offset for each device.

特開2007−25503号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2007-25503

しかしながら、可変ミラーにおいては、装置可動の熱などに起因するアクチュエータの推力変動、各部材の物性の経時変化、各部材の組み付けの馴染みなどによって、コンプライアンスマトリクスが変化する。コンプライアンスマトリクスが変化すると、それを用いたミラーの駆動に誤差が生じるため、コンプライアンスマトリクスを再度同定するキャリブレーションが必要となる。 However, in the variable mirror, the compliance matrix changes due to the thrust fluctuation of the actuator due to the heat of moving the device, the change of the physical properties of each member with time, the familiarity of the assembly of each member, and the like. If the compliance matrix changes, an error will occur in driving the mirror using it, so calibration to reidentify the compliance matrix will be required.

コンプライアンスマトリクスのキャリブレーションは、上述したように、干渉計や多点変位計などの計測器を設けることで実施することができる。但し、全てのアクチュエータの推力を求めるためには、アクチュエータの駆動によるミラーの変位を計測する計測器が少なくともアクチュエータと同じ数だけ必要となる。従って、従来の可変ミラーでは、計測器の搭載によるコスト上昇、計測器の配置の問題、ミラーの変位の計測による稼働率の低下などの課題がある。また、全てのコンプライアンスマトリクスに対してキャリブレーションを実施するのではなく、変化したコンプライアンスマトリクスのみを抽出してキャリブレーションを実施することも難しい。 As described above, the compliance matrix can be calibrated by providing a measuring instrument such as an interferometer or a multi-point displacement meter. However, in order to obtain the thrust of all the actuators, at least the same number of measuring instruments as the actuators are required to measure the displacement of the mirror due to the driving of the actuators. Therefore, the conventional variable mirror has problems such as an increase in cost due to mounting of a measuring instrument, a problem of arrangement of measuring instruments, and a decrease in operating rate due to measurement of displacement of the mirror. It is also difficult to calibrate only the changed compliance matrix instead of calibrating all the compliance matrices.

一方、外部の計測器を用いてコンプライアンスマトリクスのキャリブレーションを実施することも考えられる。この場合、計測器が不要となり、コストの削減が可能であるが、キャリブレーションを実施するたびに可変ミラーを外部の計測器に設置しなければならないため、稼働率が大幅に低下してしまう。 On the other hand, it is also conceivable to calibrate the compliance matrix using an external measuring instrument. In this case, the measuring instrument becomes unnecessary and the cost can be reduced. However, since the variable mirror must be installed in the external measuring instrument every time the calibration is performed, the operating rate is significantly reduced.

本発明は、このような従来技術の課題に鑑みてなされ、アクチュエータの推力と光学素子の変位との関係を示すマトリクスを決定するのに有利な決定方法を提供することを例示的目的とする。 The present invention has been made in view of such problems of the prior art, and an exemplary object is to provide an advantageous determination method for determining a matrix showing the relationship between the thrust of an actuator and the displacement of an optical element.

上記目的を達成するために、本発明の一側面としての決定方法は、光学素子に力を加えて変形させる複数の電磁アクチュエータのそれぞれの推力と前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれが設けられた箇所における前記光学素子の変位との関係を示すマトリクスを決定する決定方法であって、前記複数の電磁アクチュエータのうちの1つの第1電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに、前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値と、前記複数の電磁アクチュエータのうちの少なくとも1つの電磁アクチュエータが設けられた第1箇所における前記光学素子の変位を取得する第1工程と、前記第1工程で取得された前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値及び前記第1工程で取得された前記第1箇所における前記光学素子の変位に基づいて、マトリクスを算出する第2工程と、前記第1電磁アクチュエータとは異なる前記複数の電磁アクチュエータのうちの1つの第2電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに、前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値と、前記第1箇所における前記光学素子の変位を取得する第3工程と、前記第3工程で取得された前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値、及び前記第3工程で取得された前記第1箇所における前記光学素子の変位に基づいて、列マトリクスを算出する第4工程と、を有し、前記第2工程で算出した列マトリクスと、前記第4工程で算出した列マトリクスとを含む複数の列マトリクスに基づいて、前記マトリクスを決定することを特徴とする。 In order to achieve the above object, the determination method as one aspect of the present invention is in the thrust of each of the plurality of electromagnetic actuators for deforming the optical element by applying a force and the location where each of the plurality of electromagnetic actuators is provided. It is a determination method for determining a matrix showing the relationship with the displacement of the optical element, and when the first electromagnetic actuator of one of the plurality of electromagnetic actuators is driven by a unit current, each of the plurality of electromagnetic actuators the value of the current flowing in the at least one electromagnetic actuator of the plurality of electromagnetic actuators a first step of acquiring the displacement of the optical element in the first location provided, obtained in the first step The second step of calculating the column matrix based on the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators and the displacement of the optical element at the first location acquired in the first step , and the first electromagnetic actuator. When the second electromagnetic actuator of one of the plurality of electromagnetic actuators different from the above is driven by a unit current, the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators and the displacement of the optical element at the first location. Based on the third step of acquiring the above, the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators acquired in the third step, and the displacement of the optical element in the first location acquired in the third step. Te, possess a fourth step of calculating a column matrix, and a column matrix calculated in the second step, based on a plurality of columns matrix containing a column matrix calculated by the fourth step, the matrix It is characterized by determining.

本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。 Further objects or other aspects of the invention will be manifested in the preferred embodiments described below with reference to the accompanying drawings.

本発明によれば、例えば、アクチュエータの推力と光学素子の変位との関係を示すマトリクスを決定するのに有利な決定方法を提供することができる。 According to the present invention, for example, it is possible to provide an advantageous determination method for determining a matrix showing the relationship between the thrust of an actuator and the displacement of an optical element.

本発明一側面としての光学装置の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the optical apparatus as one aspect of this invention. 本実施形態におけるコンプライアンスマトリクスを決定する処理を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process which determines the compliance matrix in this embodiment. 本発明の一側面としての露光装置の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the exposure apparatus as one aspect of this invention.

以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In each figure, the same member is given the same reference number, and duplicate description is omitted.

本実施形態では、光学素子としてミラーを例に説明するが、ミラーを他の光学素子、例えば、レンズ、平行平板ガラス、プリズム、フレネルゾーンプレート、キノフォーム、バイナリオプティクス、ホログラムなどに置き換えることも可能である。また、本実施形態では、ミラーに力を加えて変形させるアクチュエータとしてボイスコイルモータ(VCM)を例に説明するが、VCMをリニアモータやソレノイドなどの電磁気力を利用するアクチュエータに置き換えることも可能である。かかるアクチュエータは、いずれか一方が光学素子に設けられ、他方がベースプレートに配置される磁石及びコイルを含み、コイルに電流を流すことで光学素子を駆動して変形させる。 In the present embodiment, the mirror will be described as an example of the optical element, but the mirror can be replaced with another optical element such as a lens, a parallel plate glass, a prism, a Fresnel zone plate, a quinoform, a binary optics, or a hologram. Is. Further, in the present embodiment, a voice coil motor (VCM) will be described as an example of an actuator that deforms the mirror by applying a force, but the VCM can be replaced with an actuator that uses electromagnetic force such as a linear motor or a solenoid. is there. Such an actuator includes a magnet and a coil, one of which is provided on the optical element and the other of which is arranged on the base plate, and drives and deforms the optical element by passing an electric current through the coil.

図1は、本発明一側面としての光学装置1の構成を示す概略図である。光学装置1は、ミラー2を変形させる、具体的には、ミラー2の反射面2aを目標形状に変形させる可変ミラー装置である。光学装置1は、ミラー2と、ベースプレート3と、複数のアクチュエータ4と、計測部5と、検出部7と、主制御部10と、支持部21とを有する。 FIG. 1 is a schematic view showing a configuration of an optical device 1 as one aspect of the present invention. The optical device 1 is a variable mirror device that deforms the mirror 2, specifically, deforms the reflecting surface 2a of the mirror 2 into a target shape. The optical device 1 includes a mirror 2, a base plate 3, a plurality of actuators 4, a measuring unit 5, a detecting unit 7, a main control unit 10, and a supporting unit 21.

ミラー2は、例えば、円形状のミラーである。支持部21は、ベースプレート3に設けられ、ミラー2を、ミラー2の裏面2bの中心部で支持する。ベースプレート3は、光学装置1の筐体(不図示)に取り付けられる。光学装置1は、例えば、受光素子や他の光学系などと組み合わせて用いられる。 The mirror 2 is, for example, a circular mirror. The support portion 21 is provided on the base plate 3 and supports the mirror 2 at the center of the back surface 2b of the mirror 2. The base plate 3 is attached to a housing (not shown) of the optical device 1. The optical device 1 is used in combination with, for example, a light receiving element or another optical system.

アクチュエータ4は、ミラー2に設けられ、ミラー2に力を加えて変形させる。アクチュエータ4は、ミラー2の裏面2bに取り付けられた可動子401と、可動子401に対向するようにベースプレート3に取り付けられた固定子402とを含むVCMで構成されている。本実施形態では、可動側であるミラー2に配線などの付加物が配置させることによる振動や重量増加を回避するために、可動子401を磁石とし、固定子402をコイルとする。なお、ミラー2の振動固有値の向上のための重量低減として可動子401をコイルとすることも有効であるが、配線やコイルの冷却などの取り回し設計が複雑になる。また、アクチュエータ4の数は限定されるものではなく、ミラー2に要求される形状精度などに応じて任意に設定すればよい。 The actuator 4 is provided on the mirror 2 and applies a force to the mirror 2 to deform it. The actuator 4 is composed of a VCM including a mover 401 attached to the back surface 2b of the mirror 2 and a stator 402 attached to the base plate 3 so as to face the mover 401. In the present embodiment, the mover 401 is a magnet and the stator 402 is a coil in order to avoid vibration and weight increase due to the arrangement of additional objects such as wiring on the mirror 2 on the movable side. Although it is effective to use the mover 401 as a coil as a weight reduction for improving the vibration eigenvalue of the mirror 2, the wiring design such as wiring and cooling of the coil becomes complicated. Further, the number of actuators 4 is not limited, and may be arbitrarily set according to the shape accuracy required for the mirror 2.

計測部5は、複数のアクチュエータ4のうちの少なくとも1つのアクチュエータが設けられた箇所(第1箇所)におけるミラー2の変位を計測する。計測部5は、少なくとも1つのアクチュエータの変位を検出し、かかる変位に基づいてミラー2の変位を求める。計測部5は、本実施形態では、複数のアクチュエータ4のうちの1つのアクチュエータに設けられた変位センサを含む。 The measuring unit 5 measures the displacement of the mirror 2 at a location (first location) where at least one of the plurality of actuators 4 is provided. The measuring unit 5 detects the displacement of at least one actuator and obtains the displacement of the mirror 2 based on the displacement. In the present embodiment, the measuring unit 5 includes a displacement sensor provided in one of the plurality of actuators 4.

検出部7は、複数のアクチュエータ4のそれぞれに流れる電流、具体的には、アクチュエータ4を駆動するための電流、及び、アクチュエータ4に生じる誘導起電流を検出する。検出部7は、本実施形態では、複数のアクチュエータ4のそれぞれに対して設けられた複数の電流計を含む。 The detection unit 7 detects the current flowing through each of the plurality of actuators 4, specifically, the current for driving the actuator 4, and the induced electromotive force generated in the actuator 4. In the present embodiment, the detection unit 7 includes a plurality of ammeters provided for each of the plurality of actuators 4.

主制御部10は、光学装置1の全体(各部)を統括的に制御する。主制御部10は、本実施形態では、アクチュエータ制御部6と、処理部8とを含む。アクチュエータ制御部6は、複数のアクチュエータ4のそれぞれを制御する。アクチュエータ制御部6は、例えば、検出部7で検出された電流の値をフィードバックして、アクチュエータ4に与える駆動電流を精密に制御(調整)する。処理部8は、複数のアクチュエータ4のそれぞれの推力と複数のアクチュエータ4のそれぞれが設けられた箇所におけるミラー2の変位との関係を示すマトリクス、所謂、コンプライアンスマトリクスを決定(同定)する。また、処理部8は、コンプライアンスマトリクスに基づいて、ミラー2を目標形状に変形させるために複数のアクチュエータ4のそれぞれに与える電流の値を決定する。 The main control unit 10 comprehensively controls the entire optical device 1 (each unit). In the present embodiment, the main control unit 10 includes an actuator control unit 6 and a processing unit 8. The actuator control unit 6 controls each of the plurality of actuators 4. For example, the actuator control unit 6 feeds back the value of the current detected by the detection unit 7 to precisely control (adjust) the drive current applied to the actuator 4. The processing unit 8 determines (identifies) a matrix showing the relationship between the thrust of each of the plurality of actuators 4 and the displacement of the mirror 2 at the location where each of the plurality of actuators 4 is provided, that is, a so-called compliance matrix. Further, the processing unit 8 determines the value of the current applied to each of the plurality of actuators 4 in order to deform the mirror 2 into the target shape based on the compliance matrix.

図2を参照して、処理部8によって行われる、本実施形態におけるコンプライアンスマトリクスを決定する処理について説明する。ここでは、図2に示すように、複数のアクチュエータ4として、VCM、VCM、VCM、VCM、・・・、VCMのn個のVCMを考える。また、I’、I’、I’、I’、・・・、I’は、VCM乃至VCMのそれぞれに生じる誘導起電流の値を示す。 With reference to FIG. 2, a process for determining the compliance matrix in the present embodiment, which is performed by the processing unit 8, will be described. Here, as shown in FIG. 2, n VCMs of VCM 1 , VCM 2 , VCM 3 , VCM 4 , ..., VCM n are considered as a plurality of actuators 4. Also, I '1, I' 2 , I '3, I' 4, ···, I 'n denotes the value of the induced electromotive current generated in each of the VCM 1 to VCM n.

コンプライアンスマトリクスの決定には、式(1)に示すように、各アクチュエータの推力と、ミラーの変位とが必要となる。但し、本実施形態では、各アクチュエータの推力を求める必要はなく、各アクチュエータに生じる誘導起電流の値と、各アクチュエータが設けられた箇所におけるミラー2の変位とに基づいて、コンプライアンスマトリクスを決定する。 As shown in Equation (1), the thrust of each actuator and the displacement of the mirror are required to determine the compliance matrix. However, in the present embodiment, it is not necessary to obtain the thrust of each actuator, and the compliance matrix is determined based on the value of the induced electromotive force generated in each actuator and the displacement of the mirror 2 at the location where each actuator is provided. ..

後述するように、本実施形態では、複数のアクチュエータ4のうちの1つのアクチュエータを単位電流で駆動する。その際、複数のアクチュエータ4のそれぞれに生じる電流の値と、複数のアクチュエータ4のうちの少なくとも1つのアクチュエータが設けられた第1箇所におけるミラー2の変位を取得する(第1工程)。そして、取得された複数のアクチュエータ4のそれぞれに生じる電流の値及び第1箇所におけるミラー2の変位に基づいて、マトリクスを決定する(第2工程)。この際、取得された複数のアクチュエータ4のそれぞれに生じる電流の値の比に基づいて、第1箇所におけるミラー2の変位を基準として、複数の第2箇所のそれぞれにおけるミラー2の変位を求める。そして、第1箇所におけるミラー2の変位及び複数の第2箇所のそれぞれにおけるミラー2の変位に基づいて、コンプライアンスマトリクスを決定する。なお、複数の第2箇所とは、複数のアクチュエータ4のうちの少なくとも1つのアクチュエータ(即ち、第1箇所に設けられたアクチュエータ)を除くアクチュエータが設けられた箇所である。 As will be described later, in the present embodiment, one of the plurality of actuators 4 is driven by a unit current. At that time, the value of the current generated in each of the plurality of actuators 4 and the displacement of the mirror 2 at the first place where at least one actuator of the plurality of actuators 4 is provided are acquired (first step). Then, the matrix is determined based on the value of the current generated in each of the acquired plurality of actuators 4 and the displacement of the mirror 2 at the first position (second step). At this time, based on the ratio of the values of the currents generated in each of the acquired plurality of actuators 4, the displacement of the mirror 2 in each of the plurality of second locations is obtained with reference to the displacement of the mirror 2 in the first location. Then, the compliance matrix is determined based on the displacement of the mirror 2 at the first location and the displacement of the mirror 2 at each of the plurality of second locations. The plurality of second locations are locations where actuators other than at least one actuator (that is, the actuator provided at the first location) of the plurality of actuators 4 are provided.

コンプライアンスマトリクスを決定する処理について具体的に説明する。VCMを駆動することで、以下の式(5)に示す1列のみの列コンプライアンスマトリクスが得られる。これを、全てのVCMに対して実施することで得られる列コンプライアンスマトリクスを線形加算することによって、VCMの数に対応したn行n列の完全なコンプライアンスマトリクスが求められる。 The process of determining the compliance matrix will be specifically described. By driving the VCM 1 , a column compliance matrix of only one column shown in the following equation (5) can be obtained. By linearly adding the column compliance matrix obtained by performing this for all VCMs, a complete compliance matrix of n rows and n columns corresponding to the number of VCMs can be obtained.

Figure 0006853659
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本実施形態では、まず、VCMを単位電流Iで駆動してミラー2を変形させてから、VCMへの単位電流Iの供給を止める。VCM1の駆動によって変形したミラー2が元の形状に戻る際に、VCM乃至VCMのそれぞれに誘導起電流I’乃至I’が生じる。 In the present embodiment, first, the VCM 1 is driven by the unit current I 1 to deform the mirror 2, and then the supply of the unit current I 1 to the VCM 1 is stopped. When the mirror 2 which is deformed by driving of the VCM1 returns to its original shape, each induced electromotive current I '1 to I' n the VCM 1 to VCM n occurs.

VCMを駆動する単位電流I、誘導起電流I’乃至I’及び計測部5で計測されるミラー2の変位から、以下の式(6)に示す列コンプライアンスマトリクスを取得する方法を説明する。 Unit current I 1 which drives the VCM 1, the induced electromotive current I '1 to I' n and the mirror 2 to be measured by the measurement unit 5 displaced, how to get the column compliance matrix shown in the following equation (6) explain.

Figure 0006853659
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式(6)の右辺の推力Fは、VCMに供給する電流(駆動電流)から、以下の式(7)で得られる。式(7)において、Fは、VCMの推力を示し、Kは、VCMの推力定数を示し、Iは、VCMに供給する駆動電流を示している。 The thrust F on the right side of the equation (6) is obtained by the following equation (7) from the current (driving current) supplied to the VCM. In the formula (7), F indicates the thrust of the VCM, K f indicates the thrust constant of the VCM, and I indicates the drive current supplied to the VCM.

Figure 0006853659
Figure 0006853659

次に、式(6)の左辺のミラー2の変位Xを、VCMを駆動する単位電流I、誘導起電流I’乃至I’及び計測部5で計測されるミラー2の変位から得る方法を説明する。VCMを単位電流Iで駆動させると、VCMの駆動によって、VCMが設けられた箇所(駆動点)を起点としてミラー2が変形する。このようなVCMの駆動によって、他のVCM(i=2、3、4、・・・、n)が変位し、VCMのそれぞれに、以下の式(8)で示す誘導起電流I’i1(i=2、3、4、・・・、n)が生じる。式(8)において、iは、変位点番号を示し、dXは、ミラー2に設けられた可動子401の変位の速度を示し、Rは、VCMの抵抗値を示している。 Then, the left side of the displacement X of the mirror 2 in the formula (6), the unit current I 1 which drives the VCM 1, the induced electromotive current I '1 to I' n and the mirror 2 to be measured by the measurement unit 5 displacement I will explain how to get it. When driving the VCM 1 in unit current I 1, by driving the VCM 1, mirror 2 is deformed portion where VCM 1 is provided (driving point) as a starting point. By driving the VCM 1 in this way, the other VCM i (i = 2, 3, 4, ..., N) are displaced, and the induced electromotive force I represented by the following equation (8) is applied to each of the VCM i. ' I1 (i = 2, 3, 4, ..., N) occurs. In the formula (8), i indicates the displacement point number, dX indicates the displacement speed of the mover 401 provided on the mirror 2, and R indicates the resistance value of the VCM.

Figure 0006853659
Figure 0006853659

式(8)を参照するに、誘導起電流I’i1からVCM(i=2、3、4、・・・、n)は、以下の式(9)で示す速度dXi1で変位していることがわかる。 With reference to equation (8), the induced electromotive currents I'i1 to VCM i (i = 2, 3, 4, ..., N) are displaced by the velocity dX i1 represented by the following equation (9). You can see that there is.

Figure 0006853659
Figure 0006853659

但し、VCMを駆動する単位電流Iは、ミラー2の材料の弾性減衰による各部の変位遅れが問題ない程度の速度で駆動するように調整する必要がある。これは、各VCMが設けられた箇所(第2箇所)でのミラー2の変位Xi1とミラー2の変位の速度dXi1とを比例関係にするためである。また、問題ない程度とは、光学装置1の設計にあたって求められるコンプライアンスマトリクスの精度に対して許容される変位Xi1と速度dXi1との比例関係からの誤差の範囲である。 However, the unit current I 1 which drives the VCM 1, the displacement delay of each part by elastic damping of the mirror 2 material must be adjusted to drive at a speed degree of no problem. This is because the displacement X i1 of the mirror 2 at the location (second location) where each VCM is provided and the displacement speed dX i1 of the mirror 2 are in a proportional relationship. Further, the degree of no problem is the range of the error from the proportional relationship between the displacement X i1 and the velocity dX i1 that are allowed for the accuracy of the compliance matrix required in the design of the optical device 1.

VCMを単位電流Iで駆動するとともに、計測部5によって、VCMが設けられた箇所におけるミラー2の変位Xref−1が計測される。上述したように、ミラー2の変位Xi1とミラー2の変位の速度dXi1とは比例関係である。従って、各VCMが設けられる箇所におけるミラー2の変位は、計測部5で計測された変位Xref−1と速度dXi1とから、以下の式(10)で求められる。 While driving the VCM 1 with the unit current I 1 , the measuring unit 5 measures the displacement X ref-1 of the mirror 2 at the location where the VCM n is provided. As described above, the displacement X i1 of the mirror 2 and the displacement speed dX i1 of the mirror 2 are in a proportional relationship. Therefore, the displacement of the mirror 2 at the location where each VCM is provided is calculated by the following equation (10) from the displacement X ref-1 and the velocity dX i1 measured by the measuring unit 5.

Figure 0006853659
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また、式(10)に式(9)を適用すると、以下の式(11)が得られる。 Further, when the equation (9) is applied to the equation (10), the following equation (11) is obtained.

Figure 0006853659
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ここで、VCMの抵抗値及び推力定数は系に固有の値であるため、以下の式(12)を定義すると、ミラー2の変位Xi1は、以下の式(13)で得られる。 Here, since the resistance value and the thrust constant of the VCM are values peculiar to the system, if the following equation (12) is defined, the displacement X i1 of the mirror 2 can be obtained by the following equation (13).

Figure 0006853659
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Figure 0006853659
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ミラー2の変位を計測する計測部5が複数ある場合には、VCMと、VCMの変位Xrefとからなる関係を適用すればよい。この場合、誘導起電流の比が小さくなるように、ミラー2の各変位点と計測部5が設けられた箇所とを組み合わせることで、ミラー2の変位の比例計算の誤差を低減することができる。 When the measurement unit 5 for measuring the displacement of the mirror 2 there are multiple, the VCM 4, may be applied relationship comprising a displacement X ref of VCM 4. In this case, the error in the proportional calculation of the displacement of the mirror 2 can be reduced by combining each displacement point of the mirror 2 with the location where the measuring unit 5 is provided so that the ratio of the induced electromotive force becomes small. ..

但し、VCMが設けられた箇所におけるミラー2の変位は、Xrefである。また、VCMには単位電流Iを流しているため、電流の値の符号を逆にする必要がある。従って、VCMの変位X11は、以下の式(14)で得られる。 However, the displacement of the mirror 2 at the location where the VCM 4 is provided is X ref . Further, since the unit current I 1 is passed through the VCM 1, it is necessary to reverse the sign of the current value. Therefore, the displacement X 11 of the VCM 1 is obtained by the following equation (14).

Figure 0006853659
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また、VCMの変位X21は、以下の式(15)で得られる。 Further, the displacement X 21 of the VCM 2 is obtained by the following equation (15).

Figure 0006853659
Figure 0006853659

式(7)と式(11)とから、式(5)は、以下の式(16)で表すことができる。 From the formula (7) and the formula (11), the formula (5) can be expressed by the following formula (16).

Figure 0006853659
Figure 0006853659

従って、Ci1は、以下の式(17)で表される。 Therefore, Ci1 is represented by the following equation (17).

Figure 0006853659
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このように、VCMを単位電流Iで駆動することで列コンプライアンスマトリクスを得ることができる。これを、n個のVCMに対して実施することで得られる列コンプライアンスマトリクスを線形加算することによって、以下の式(18)に示すコンプライアンスマトリクスCijを得ることができる。式(18)において、jは、VCMの番号を示している。 In this way, the column compliance matrix can be obtained by driving the VCM 1 with the unit current I 1. By linearly adding the column compliance matrix obtained by performing this for n VCMs, the compliance matrix Cij shown in the following equation (18) can be obtained. In formula (18), j represents a VCM number.

Figure 0006853659
Figure 0006853659

次に、光学装置1の実際の動作、即ち、ミラー2(反射面2a)を目標形状に変形させる動作について説明する。まず、式(18)に示すコンプライアンスマトリクスCijに基づいて、ミラー2を目標形状Xobjに変形させるためにVCMに与える電流の値Idrvを求める(決定する)。電流の値Idrvを求めるミラーの変位点Xobj−1に関する方程式は、以下の式(19)で表される。ミラー2の全ての変位点についての連立方程式を解くことで、VCMのそれぞれに与える電流の値を求めることができる。 Next, the actual operation of the optical device 1, that is, the operation of deforming the mirror 2 (reflection surface 2a) into the target shape will be described. First, based on the compliance matrix Cij shown in the equation (18), the value I drv of the current applied to the VCM in order to deform the mirror 2 into the target shape X obj is obtained (determined). The equation for the displacement point X obj-1 of the mirror for obtaining the current value I drv is expressed by the following equation (19). By solving the simultaneous equations for all the displacement points of the mirror 2, the value of the current applied to each of the VCMs can be obtained.

Figure 0006853659
Figure 0006853659

式(19)について、式(16)を参照すると、a項が消去されることがわかる。これは、VCMの抵抗値及び推力定数がコンプライアンスマトリクスに含まれており、光学装置1の実際の動作においては、VCMに与える電流(の値)のみでミラー2を目標形状に変形させることが可能であることを示している。 For formula (19), referring to equation (16), it can be seen that a 1 term is erased. This is because the resistance value and thrust constant of the VCM are included in the compliance matrix, and in the actual operation of the optical device 1, the mirror 2 can be deformed into the target shape only by the current (value) applied to the VCM. It shows that.

本実施形態では、コンプライアンスマトリクスの決定において、VCMの駆動によってVCMに生じる誘導起電力を電流の値として計測しているが、かかる誘導起電力を電圧の値として計測しても同様に実施可能である。 In the present embodiment, in the determination of the compliance matrix, the induced electromotive force generated in the VCM by driving the VCM is measured as a current value, but it can be similarly implemented by measuring the induced electromotive force as a voltage value. is there.

また、本実施形態におけるコンプライアンスマトリクスを決定する処理は、初期のコンプライアンスマトリクスを決定する場合、及び、コンプライアンスマトリクスをキャリブレーションする場合のいずれにも適用可能である。コンプライアンスマトリクスをキャリブレーションする場合には、光学装置1の動作を一旦停止して、上述したコンプライアンスマトリクスを決定する処理を実施する。この際、光学装置1が振動すると、コンプライアンスマトリクスに誤差が含まれるため、振動が十分に収まるまで時間をとるか、光学装置1に入力される振動を制振(遮断)する機能を有効にしておくとよい。また、コンプライアンスマトリクスのキャリブレーションは、定期的に行ってもよいし、ミラー2が目標形状に変形されているかどうかを確認してから行ってもよい。ミラー2が目標形状に変形されているかどうかの確認は、例えば、計測部5が設けられた箇所におけるミラー2の変位が目標変位になっているかどうかを基準にすればよい。 Further, the process of determining the compliance matrix in the present embodiment can be applied to both the case of determining the initial compliance matrix and the case of calibrating the compliance matrix. When calibrating the compliance matrix, the operation of the optical device 1 is temporarily stopped, and the above-described processing for determining the compliance matrix is performed. At this time, if the optical device 1 vibrates, an error is included in the compliance matrix. Therefore, take some time until the vibration is sufficiently settled, or enable the function of suppressing (blocking) the vibration input to the optical device 1. It is good to keep it. Further, the compliance matrix may be calibrated periodically or after confirming whether or not the mirror 2 is deformed to the target shape. Whether or not the mirror 2 is deformed to the target shape may be confirmed based on, for example, whether or not the displacement of the mirror 2 at the location where the measuring unit 5 is provided is the target displacement.

図3を参照して、露光装置EXについて説明する。露光装置EXは、基板Sを露光するリソグラフィ装置である。露光装置EXは、照明光学系ILと、投影光学系POと、マスクMを保持して移動するマスクステージMSと、基板Sを保持して移動する基板ステージSSとを有する。また、露光装置EXは、CPUやメモリなどを含み、露光装置EXの全体を制御する制御部CNを有する。 The exposure apparatus EX will be described with reference to FIG. The exposure apparatus EX is a lithography apparatus that exposes the substrate S. The exposure apparatus EX includes an illumination optical system IL, a projection optical system PO, a mask stage MS that holds and moves the mask M, and a substrate stage SS that holds and moves the substrate S. Further, the exposure device EX includes a CPU, a memory, and the like, and has a control unit CN that controls the entire exposure device EX.

光源(不図示)からの光は、照明光学系ILに含まれるスリット(不図示)を介して、例えば、Y軸方向に長い円弧状の照明領域をマスク上に形成する。照明光学系ILは、マスクMを照明する。マスクMは、マスクステージMSに保持され、基板Sは、基板ステージSSに保持されている。マスクMと基板Sとは、投影光学系POを介して、光学的にほぼ共役な位置(投影光学系POの物体面及び像面の位置)に配置されている。投影光学系POは、物体を像面に投影する。投影光学系POは、本実施形態では、所定の投影倍率(例えば、1/2倍)を有し、マスクMに形成されたパターンを基板Sに投影する。そして、マスクステージMS及び基板ステージSSを、投影光学系POの物体面と平行な方向(例えば、図3のX方向)に、投影光学系POの投影倍率に応じた速度比で走査する。これにより、マスクMに形成されたパターンを基板Sに転写することができる。 The light from the light source (not shown) forms, for example, an arc-shaped illumination region long in the Y-axis direction on the mask through a slit (not shown) included in the illumination optical system IL. The illumination optical system IL illuminates the mask M. The mask M is held by the mask stage MS, and the substrate S is held by the substrate stage SS. The mask M and the substrate S are arranged at positions substantially conjugate with each other (positions of the object plane and the image plane of the projection optical system PO) via the projection optical system PO. The projection optical system PO projects an object onto an image plane. In the present embodiment, the projection optical system PO has a predetermined projection magnification (for example, 1/2 times) and projects the pattern formed on the mask M onto the substrate S. Then, the mask stage MS and the substrate stage SS are scanned in a direction parallel to the object surface of the projection optical system PO (for example, the X direction in FIG. 3) at a speed ratio corresponding to the projection magnification of the projection optical system PO. As a result, the pattern formed on the mask M can be transferred to the substrate S.

投影光学系POは、例えば、図3に示すように、平面ミラーPMと、凹面ミラーCMと、凸面ミラーVMとを含む。照明光学系ILから射出され、マスクMを通過した光は、平面ミラーPMの第1面PMaで反射され、凹面ミラーCMの第1面CMaに入射する。凹面ミラーCMの第1面CMaで反射した光は、凸面ミラーVMで反射され、凹面ミラーCMの第2面CMbに入射する。凹面ミラーCMの第2面CMbで反射した光は、平面ミラーPMの第2面PMbで反射され、基板上に結像する。投影光学系POでは、凸面ミラーVMが光学的な瞳となる。 The projection optical system PO includes, for example, a plane mirror PM, a concave mirror CM, and a convex mirror VM, as shown in FIG. The light emitted from the illumination optical system IL and passing through the mask M is reflected by the first surface PMa of the flat mirror PM and incident on the first surface CMa of the concave mirror CM. The light reflected by the first surface CMa of the concave mirror CM is reflected by the convex mirror VM and is incident on the second surface CMb of the concave mirror CM. The light reflected by the second surface CMb of the concave mirror CM is reflected by the second surface PMb of the flat mirror PM and is imaged on the substrate. In the projection optical system PO, the convex mirror VM becomes an optical pupil.

露光装置EXにおいて、上述した光学装置1は、例えば、凹面ミラーCMの反射面を任意の形状に変形させる(即ち、凹面ミラーCMをミラー2とする)可変ミラー装置として用いられる。光学装置1は、上述したように、初期のコンプライアンスマトリクスを決定したり、コンプライアンスマトリクスをキャリブレーションしたりするのに有利であるため、経時変化などにかかわらず、凹面ミラーCMを目標形状に変形させることができる。ここで、露光装置EXにおける制御部CNは、上述した光学装置1における主制御部10を含むように構成されてもよい。 In the exposure apparatus EX, the above-mentioned optical apparatus 1 is used as, for example, a variable mirror apparatus that deforms the reflective surface of the concave mirror CM into an arbitrary shape (that is, the concave mirror CM is a mirror 2). As described above, the optical device 1 is advantageous for determining the initial compliance matrix and calibrating the compliance matrix. Therefore, the concave mirror CM is deformed into a target shape regardless of changes over time. be able to. Here, the control unit CN in the exposure apparatus EX may be configured to include the main control unit 10 in the optical apparatus 1 described above.

本発明の実施形態に係る物品の製造方法は、例えば、半導体デバイスなどのマイクロデバイスや微細構造を有する素子などの物品を製造するのに好適である。本実施形態の物品の製造方法は、基板に供給された感光剤(レジスト)に露光装置EXを用いて潜像パターンを形成する工程(基板を露光する工程)と、かかる工程で潜像パターンが形成された基板を現像する工程とを含む。更に、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージングなど)を含む。本実施形態の物品の製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能、品質、生産性及び生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。 The method for manufacturing an article according to an embodiment of the present invention is suitable for producing an article such as a microdevice such as a semiconductor device or an element having a fine structure, for example. The method for manufacturing an article of the present embodiment includes a step of forming a latent image pattern on a photosensitive agent (resist) supplied to a substrate using an exposure apparatus EX (a step of exposing the substrate), and a step of forming a latent image pattern in such a step. It includes a step of developing the formed substrate. In addition, such manufacturing methods include other well-known steps such as oxidation, film formation, vapor deposition, doping, flattening, etching, resist stripping, dicing, bonding, packaging and the like. The method for producing an article of the present embodiment is advantageous in at least one of the performance, quality, productivity and production cost of the article as compared with the conventional method.

本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。 The present invention supplies a program that realizes one or more functions of the above-described embodiment to a system or device via a network or storage medium, and one or more processors in the computer of the system or device reads and executes the program. It can also be realized by the processing to be performed. It can also be realized by a circuit (for example, ASIC) that realizes one or more functions.

以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。 Although the preferred embodiments of the present invention have been described above, it goes without saying that the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications and modifications can be made within the scope of the gist thereof.

1:光学装置 2:ミラー 4:アクチュエータ 5:計測部 7:検出部 8:処理部 10:主制御部 1: Optical device 2: Mirror 4: Actuator 5: Measuring unit 7: Detection unit 8: Processing unit 10: Main control unit

Claims (16)

光学素子に力を加えて変形させる複数の電磁アクチュエータのそれぞれの推力と前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれが設けられた箇所における前記光学素子の変位との関係を示すマトリクスを決定する決定方法であって、
前記複数の電磁アクチュエータのうちの1つの第1電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに、前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値と、前記複数の電磁アクチュエータのうちの少なくとも1つの電磁アクチュエータが設けられた第1箇所における前記光学素子の変位を取得する第1工程と、
前記第1工程で取得された前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値及び前記第1工程で取得された前記第1箇所における前記光学素子の変位に基づいて、マトリクスを算出する第2工程と、
前記第1電磁アクチュエータとは異なる前記複数の電磁アクチュエータのうちの1つの第2電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに、前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値と、前記第1箇所における前記光学素子の変位を取得する第3工程と、
前記第3工程で取得された前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値、及び前記第3工程で取得された前記第1箇所における前記光学素子の変位に基づいて、列マトリクスを算出する第4工程と、
を有し、
前記第2工程で算出した列マトリクスと、前記第4工程で算出した列マトリクスとを含む複数の列マトリクスに基づいて、前記マトリクスを決定することを特徴とする決定方法。
It is a determination method for determining a matrix showing the relationship between the thrust of each of a plurality of electromagnetic actuators that deform by applying a force to an optical element and the displacement of the optical element at a location where each of the plurality of electromagnetic actuators is provided. ,
When driving one of the first electromagnetic actuator of the plurality of electromagnetic actuators in the unit current, the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators, at least one of the electromagnetic actuator of the plurality of electromagnetic actuators The first step of acquiring the displacement of the optical element at the first place provided with
The column matrix is calculated based on the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators acquired in the first step and the displacement of the optical element in the first location acquired in the first step. 2 steps and
When the second electromagnetic actuator of one of the plurality of electromagnetic actuators different from the first electromagnetic actuator is driven by a unit current, the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators and the value of the current flowing in each of the plurality of electromagnetic actuators and the first location. The third step of acquiring the displacement of the optical element and
The column matrix is calculated based on the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators acquired in the third step and the displacement of the optical element in the first location acquired in the third step. 4 steps and
Have a,
A determination method characterized in that the matrix is determined based on a plurality of column matrices including the column matrix calculated in the second step and the column matrix calculated in the fourth step.
前記複数の列マトリクスを線形加算することで前記マトリクスを決定することを特徴とする請求項1に記載の決定方法。The determination method according to claim 1, wherein the matrix is determined by linearly adding the plurality of column matrices. 前記複数の列マトリクスは、前記複数の電磁アクチュエータの全てを1つずつ単位電流で駆動することにより算出され、The plurality of column matrices are calculated by driving all of the plurality of electromagnetic actuators one by one with a unit current.
前記マトリクスは、前記複数の列マトリクスに基づいて決定されることを特徴とする請求項1又は2に記載の決定方法。The determination method according to claim 1 or 2, wherein the matrix is determined based on the plurality of column matrices.
前記第2工程では、
前記第1工程で取得された前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値の比に基づいて、前記第1工程で取得された前記第1箇所における前記光学素子の変位を基準として、前記複数の電磁アクチュエータのうちの前記第1箇所に設けられた電磁アクチュエータを除く電磁アクチュエータが設けられた複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位を求め、
前記第1工程で取得された前記第1箇所における前記光学素子の変位、及び、前記第2工程で求めた前記複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位に基づいて、マトリクスを算出し、
前記第4工程では、
前記第3工程で取得された前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値の比に基づいて、前記第3工程で取得された前記第1箇所における前記光学素子の変位を基準として、前記複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位を求め、
前記第3工程で取得された前記第1箇所における前記光学素子の変位、及び、前記第4工程で求めた前記複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位に基づいて、列マトリクスを算出することを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の決定方法。
In the second step,
Based on the ratio of the values of the currents flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators acquired in the first step, and based on the displacement of the optical element in the first location acquired in the first step, the plurality. The displacement of the optical element at each of the plurality of second locations provided with the electromagnetic actuators other than the electromagnetic actuator provided at the first location among the electromagnetic actuators of the above is obtained.
The column matrix is calculated based on the displacement of the optical element at the first location acquired in the first step and the displacement of the optical element at each of the plurality of second locations obtained in the second step. And
In the fourth step,
Based on the ratio of the values of the currents flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators acquired in the third step, and based on the displacement of the optical element in the first location acquired in the third step, the plurality of The displacement of the optical element at each of the second points of
The column matrix is calculated based on the displacement of the optical element at the first location acquired in the third step and the displacement of the optical element at each of the plurality of second locations obtained in the fourth step. The determination method according to any one of claims 1 to 3, wherein the determination method is performed.
前記第2工程では、In the second step,
前記第1工程で取得された前記第1箇所における前記光学素子の変位と、前記第1工程で取得された前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値の比との積に基づいて、前記複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位を求め、Based on the product of the displacement of the optical element at the first location acquired in the first step and the ratio of the values of the currents flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators acquired in the first step, the said. Obtaining the displacement of the optical element at each of the plurality of second locations,
前記第4工程では、In the fourth step,
前記第3工程で取得された前記第1箇所における前記光学素子の変位と、前記第3工程で取得された前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値の比との積に基づいて、前記複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位を求めることを特徴とする請求項4に記載の決定方法。Based on the product of the displacement of the optical element at the first location acquired in the third step and the ratio of the values of the currents flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators acquired in the third step, the said. The determination method according to claim 4, wherein the displacement of the optical element at each of the plurality of second locations is obtained.
光学素子に力を加えて変形させる複数の電磁アクチュエータと、
前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流を検出する検出部と、
前記複数の電磁アクチュエータのうちの少なくとも1つの電磁アクチュエータが設けられた第1箇所における前記光学素子の変位を計測する計測部と、
前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれの推力と前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれが設けられた箇所における前記光学素子の変位との関係を示すマトリクスを決定する処理部と、を有し、
前記処理部は、
前記複数の電磁アクチュエータのうちの1つの第1電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに、前記検出部によって検出される前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値と、前記第1電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに前記計測部によって計測される前記第1箇所における前記光学素子の変位とに基づいて算出された列マトリクスと
前記第1電磁アクチュエータとは異なる前記複数の電磁アクチュエータのうちの1つの第2電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに、前記検出部によって検出される前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値と、前記第2電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに前記計測部によって計測される前記第1箇所における前記光学素子の変位とに基づいて算出された列マトリクスと、を含む複数の列マトリクスに基づいて、前記マトリクスを決定することを特徴とする光学装置。
Multiple electromagnetic actuators that apply force to the optical elements to deform them,
A detector that detects the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators,
A measuring unit for measuring the displacement of the optical element in the first location to at least one electromagnetic actuator is provided among the plurality of electromagnetic actuators,
Anda processor for determining a matrix showing the relationship between the displacement of the optical element at a point each of the respective thrust with the plurality of electromagnetic actuators of the plurality of electromagnetic actuators are provided,
The processing unit
When the first electromagnetic actuator of one of the plurality of electromagnetic actuators is driven by a unit current, the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators detected by the detection unit and the first electromagnetic actuator A column matrix calculated based on the displacement of the optical element at the first location measured by the measuring unit when driven by a unit current, and
When the second electromagnetic actuator of one of the plurality of electromagnetic actuators different from the first electromagnetic actuator is driven by a unit current, the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators detected by the detection unit. And a row matrix calculated based on the displacement of the optical element at the first location measured by the measuring unit when the second electromagnetic actuator is driven by a unit current, and a plurality of row matrices including An optical device, characterized in that the matrix is determined based on the matrix.
前記処理部は、前記複数の列マトリクスを線形加算することで前記マトリクスを決定することを特徴とする請求項6に記載の光学装置。The optical device according to claim 6, wherein the processing unit determines the matrix by linearly adding the plurality of column matrices. 前記複数の列マトリクスは、前記複数の電磁アクチュエータの全てを1つずつ単位電流で駆動することにより算出され、The plurality of column matrices are calculated by driving all of the plurality of electromagnetic actuators one by one with a unit current.
前記処理部は、前記複数の列マトリクスに基づいて、前記マトリクスを決定することを特徴とする請求項6又は7に記載の光学装置。The optical device according to claim 6 or 7, wherein the processing unit determines the matrix based on the plurality of column matrices.
前記処理部は、
前記第1電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに、前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値の比に基づいて、前記第1箇所における前記光学素子の変位を基準として、前記複数の電磁アクチュエータのうちの前記第1箇所に設けられた電磁アクチュエータを除く電磁アクチュエータが設けられた複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位を求め、
前記第1電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときの前記第1箇所における前記光学素子の変位、及び、前記複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位に基づいて、前記マトリクスを算出し、
前記第2電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに、前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値の比に基づいて、前記第1箇所における前記光学素子の変位を基準として、前記複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位を求め、
前記第2電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときの前記第1箇所における前記光学素子の変位、及び、前記複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位に基づいて、列マトリクスを算出することを特徴とする請求項6乃至8のうちいずれか1項に記載の光学装置。
The processing unit
When driving the first electromagnetic actuator unit current, based on the ratio of the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators, based on the displacement of the optical element in the first location, wherein the plurality of electromagnetic The displacement of the optical element at each of the plurality of second locations where the electromagnetic actuator is provided, excluding the electromagnetic actuator provided at the first location of the actuator, is obtained.
The column matrix is calculated based on the displacement of the optical element at the first location and the displacement of the optical element at each of the plurality of second locations when the first electromagnetic actuator is driven by a unit current. ,
When the second electromagnetic actuator is driven by a unit current, the plurality of second electromagnetic actuators are based on the ratio of the values of the currents flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators and the displacement of the optical element at the first location as a reference. Find the displacement of the optical element at each of the two locations.
The column matrix is calculated based on the displacement of the optical element at the first location and the displacement of the optical element at each of the plurality of second locations when the second electromagnetic actuator is driven by a unit current. The optical device according to any one of claims 6 to 8.
前記処理部は、The processing unit
前記第1電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときの前記第1箇所における前記光学素子の変位と、前記第1電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値の比との積に基づいて、前記複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位を求め、The displacement of the optical element at the first location when the first electromagnetic actuator is driven by a unit current, and the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators when the first electromagnetic actuator is driven by a unit current. Based on the product with the ratio of, the displacement of the optical element at each of the plurality of second locations is obtained.
前記第2電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときの前記第1箇所における前記光学素子の変位と、前記第2電磁アクチュエータを単位電流で駆動したときに前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに流れる電流の値の比との積に基づいて、前記複数の第2箇所のそれぞれにおける前記光学素子の変位を求めることを特徴とする請求項9に記載の光学装置。The displacement of the optical element at the first location when the second electromagnetic actuator is driven by a unit current, and the value of the current flowing through each of the plurality of electromagnetic actuators when the second electromagnetic actuator is driven by a unit current. The optical device according to claim 9, wherein the displacement of the optical element at each of the plurality of second locations is obtained based on the product of the ratio of the two.
前記処理部は、前記マトリクスに基づいて、前記光学素子を目標形状に変形させるために前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに与える電流の値を決定することを特徴とする請求項6乃至10のうちいずれか1項に記載の光学装置。 Any of claims 6 to 10, wherein the processing unit determines the value of a current applied to each of the plurality of electromagnetic actuators in order to deform the optical element into a target shape based on the matrix. The optical device according to item 1. 前記検出部は、前記複数の電磁アクチュエータのそれぞれに設けられた複数の電流計を含むことを特徴とする請求項乃至11のうちいずれか1項に記載の光学装置。 The optical device according to any one of claims 6 to 11 , wherein the detection unit includes a plurality of ammeters provided in each of the plurality of electromagnetic actuators. 前記計測部は、前記第1箇所に設けられた電磁アクチュエータの変位を検出し、当該変位に基づいて前記第1箇所における前記光学素子の変位を求めることを特徴とする請求項乃至12のうちいずれか1項に記載の光学装置。 Of claims 6 to 12 , the measuring unit detects the displacement of the electromagnetic actuator provided at the first location and obtains the displacement of the optical element at the first location based on the displacement. The optical device according to any one item. 物体を像面に投影する投影光学系であって、
光学素子と、
前記光学素子を変形させる請求項乃至13のうちいずれか1項に記載の光学装置と、
を有することを特徴とする投影光学系。
A projection optical system that projects an object onto an image plane.
Optical elements and
The optical device according to any one of claims 6 to 13 for deforming the optical element, and the optical device.
A projection optical system characterized by having.
基板を露光する露光装置であって、
マスクを照明する照明光学系と、
前記照明光学系により照明されたマスクのパターンを前記基板に投影する請求項14に記載の投影光学系と、
を有することを特徴とする露光装置。
An exposure device that exposes a substrate
Illumination optics that illuminate the mask and
The projection optical system according to claim 14 , wherein a pattern of a mask illuminated by the illumination optical system is projected onto the substrate.
An exposure device characterized by having.
請求項15に記載の露光装置を用いて基板に供給された感光剤を露光する工程と、
前記露光する工程で露光された基板を現像する工程と、
を有し、
前記現像する工程で現像された基板から物品を製造することを特徴とする物品の製造方法。
A step of exposing the photosensitizer supplied to the substrate using the exposure apparatus according to claim 15.
A step of developing the substrate exposed in the step of the exposure,
Have a,
A method for producing an article, which comprises producing an article from a substrate developed in the developing step.
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