JP2016092366A - Optical device, projection optical system, exposure device, and manufacturing method of article - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、ミラーの反射面を変形させる光学装置、それを用いた投影光学系、露光装置、および物品の製造方法に関する。 The present invention relates to an optical device that deforms a reflecting surface of a mirror, a projection optical system using the optical device, an exposure device, and an article manufacturing method.
半導体デバイスなどの製造に用いられる露光装置の解像度を向上させるため、露光装置における投影光学系の光学収差を補正することが求められている。特許文献1および2には、投影光学系に含まれるミラーの反射面を変形させることによって投影光学系の光学収差を補正する光学装置が提案されている。
In order to improve the resolution of an exposure apparatus used for manufacturing a semiconductor device or the like, it is required to correct the optical aberration of the projection optical system in the exposure apparatus.
光学装置では、経年劣化や熱変形などにより、ミラーの位置および姿勢が時間の経過とともに基準状態からずれてしまうことがある。そのため、光学装置では、投影光学系の光学収差が補正されるようにミラーの反射面を変形することに加えて、ミラーの位置および姿勢も補正することが好ましい。特許文献1に記載された光学装置では、ミラーの反射面を変形するためのアクチュエータの他に、ミラーを支持するベースプレートに力を加えてミラーの位置および姿勢を補正するためのアクチュエータが設けられている。また、特許文献2に記載された光学装置では、ミラーの反射面の変形およびミラーの位置および姿勢の補正の双方が、ミラーとベースプレートとの間に配置された複数のアクチュエータの制御によって行われる。
In an optical device, the position and posture of the mirror may deviate from the reference state over time due to aging or thermal deformation. For this reason, in the optical device, it is preferable to correct the position and orientation of the mirror in addition to deforming the reflecting surface of the mirror so that the optical aberration of the projection optical system is corrected. In the optical device described in
特許文献1に記載の光学装置は、ミラーの反射面を変形するためのアクチュエータに加えて、ベースプレートを駆動するアクチュエータを有するため、装置が大型化するとともに装置コストの点で不利になりうる。
Since the optical device described in
また、特許文献2に記載の光学装置は、ミラーの反射面を変形するために各アクチュエータに発生させる力と、ミラーの位置および姿勢を補正するために各アクチュエータに発生させる力とを別々に決定する。そして、決定した2つの力をアクチュエータごとに足し合わせて、各アクチュエータを駆動するための指令値を求め、求めた指令値に基づくシミュレーションを行い、シミュレーション結果に基づいて各アクチュエータに指令値を送る。例えば、シミュレーション結果におけるミラーの位置および姿勢の誤差および形状誤差がそれぞれ許容値に入るかどうかの判定が行われる。それらの誤差がそれぞれ許容値に入る場合には各アクチュエータに指令値が送られ、許容値に入らない場合には各アクチュエータへの分配割合を変更したシミュレーションが繰り返される。各アクチュエータへの分配割合の変更においては、遺伝的アルゴリズムを用いた最適化制御が行われる。しかしながら、各アクチュエータの指令値を求めるための演算負荷を低減させるためには、各アクチュエータに発生させる力を決定する工程を少なくすることが好ましい。
The optical device described in
そこで、本発明は、ミラーの反射面の変形とミラーの位置および姿勢の補正とを効率よく行うために有利な光学装置を提供することを目的とする。 Accordingly, an object of the present invention is to provide an optical device that is advantageous for efficiently performing the deformation of the reflecting surface of the mirror and the correction of the position and orientation of the mirror.
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての光学装置は、ミラーの反射面を変形させる光学装置であって、ベースプレートと、前記ベースプレートと前記ミラーとの間に配置され、前記ミラーの複数箇所にそれぞれ力を加える複数のアクチュエータと、前記ミラーの位置および姿勢の基準状態からのずれ量を検出する検出部と、前記複数のアクチュエータの各々を制御する制御部と、を含み、前記制御部は、前記基準状態における前記反射面の形状と目標形状との形状差を求め、前記検出部によって検出された前記ずれ量と前記形状差とを合成して合成ずれ量を求め、前記ミラーの前記複数箇所にそれぞれ加えるべき力を前記複数のアクチュエータの各々に発生させるための指令値を、各アクチュエータを単位量だけ駆動させたときに前記反射面が変形する量を示す情報と前記合成ずれ量とに基づいて決定する、ことを特徴とする。 In order to achieve the above object, an optical device according to one aspect of the present invention is an optical device that deforms a reflecting surface of a mirror, and is disposed between a base plate, the base plate, and the mirror. A plurality of actuators for applying a force to each of a plurality of locations; a detection unit for detecting a deviation amount of the position and orientation of the mirror from a reference state; and a control unit for controlling each of the plurality of actuators. The unit obtains a shape difference between the shape of the reflecting surface and the target shape in the reference state, obtains a composite deviation amount by combining the deviation amount detected by the detection unit and the shape difference, and When each actuator is driven by a unit amount for a command value for generating each of the plurality of actuators with a force to be applied to each of the plurality of locations. Determined on the basis of the information and the synthesis shift amount indicating the amount of the reflection surface is deformed, characterized in that.
本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。 Further objects and other aspects of the present invention will become apparent from the preferred embodiments described below with reference to the accompanying drawings.
本発明によれば、例えば、ミラーの反射面の変形とミラーの位置および姿勢の補正とを効率よく行うために有利な光学装置を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the optical apparatus advantageous in order to perform efficiently the deformation | transformation of the reflective surface of a mirror, and correction | amendment of a mirror's position and attitude | position can be provided, for example.
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材ないし要素については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the invention will be described with reference to the accompanying drawings. In addition, in each figure, the same reference number is attached | subjected about the same member thru | or element, and the overlapping description is abbreviate | omitted.
<第1実施形態>
第1実施形態の光学装置10について、図1を参照しながら説明する。図1は、第1実施形態の光学装置10の構成を示す概略図である。第1実施形態の光学装置10は、例えば、露光装置の投影光学系に含まれるミラー1の反射面1aを変形させることによって投影光学系の光学収差や、投影像の倍率や歪みやフォーカスを補正する。光学装置10は、ミラー1と、ベースプレート3と、検出部4と、複数のアクチュエータ5と、制御部8とを含みうる。制御部8は、CPUやメモリなどを有し、複数のアクチュエータ5の各々を制御する。
<First Embodiment>
The
ミラー1は、光を反射する反射面1aと、反射面1aの反対側の面である裏面1bとを有し、ミラー1の中心を含むミラー1の一部(以下、中心部)が固定部材2を介してベースプレート3に固定されている。このようにミラー1の中心部をベースプレート3に固定するのは、露光装置の投影光学系に用いられるミラー1においては、ミラー1の中心部の光が照射されないことが多く、ミラー1の中心部を変形させる必要性が小さいからである。ここで、第1実施形態では、ミラー1の中心部を固定部材2によってベースプレート3に固定しているが、ミラー1の任意の箇所を固定部材2によってベースプレート3に固定してもよい。各アクチュエータ5として圧電素子などの変位アクチュエータが用いられ、各アクチュエータ5によってミラー1がベースプレート3に支持される場合では、固定部材2を用いなくてもよい。また、第1実施形態では、円形の平面ミラーをミラー1として用いる例について説明するが、それに限られるものではなく、例えば、凹面や凸面を有する球面ミラーや非球面ミラーをミラー1として用いてもよい。
The
複数のアクチュエータ5は、ミラー1とベースプレート3との間に配置され、ミラー1(裏面1b)の複数箇所にそれぞれ力を加える。各アクチュエータ5としては、例えば、ボイスコイルメータ(VCM)やリニアモータなど、互いに接触しない可動子5aと固定子5bとを含む非接触型のアクチュエータが用いられるとよいが、例えば、圧電素子などの変位アクチュエータが用いられてもよい。各アクチュエータ5としてVCMなどの非接触型のアクチュエータが用いられる場合、各アクチュエータ5における可動子5aおよび固定子5bのうち一方がミラー1の裏面1bに固定され、他方がベースプレート3に固定される。図1に示す例では、可動子5a(磁石)がミラー1の裏面1bに固定され、固定子5b(コイル)がベースプレート3に固定されている。これにより、各アクチュエータ5は、固定子5bのコイルに電流が供給されることにより、ミラー1の裏面1bに力を加えてミラー1とベースプレート3との間の距離を変更することができる。
The plurality of
光学装置では、一般に、投影光学系の光学収差が補正されるように、即ち、ミラーで反射された光の波面収差が許容範囲に収まるようにミラーの反射面の目標形状が決定される。そして、基準状態におけるミラーの形状と目標形状との差(以下、形状差と称する)だけミラーの反射面が変形するように各アクチュエータが制御される。しかしながら、光学装置では、経年劣化や熱変形などにより、ミラーの位置および姿勢が時間の経過とともに基準状態からずれてしまう場合がある。この場合、形状差だけミラーの反射面が変形するように各アクチュエータを制御したとしても、ミラーの反射面の形状を目標形状にすることが困難になりうる。即ち、この場合、変形後の反射面の形状が、ミラーの位置および姿勢の基準形状からのずれ量だけ目標形状からずれてしまう。そのため、第1実施形態の光学装置10では、ミラー1の位置および姿勢の基準状態からのずれ量を検出する検出部4が設けられている。そして、制御部8は、検出部4によって検出されたずれ量を考慮して各アクチュエータ5を駆動するための指令値を決定する。ここで、基準状態におけるミラー1の形状とは、例えば、各アクチュエータ5をオフにした状態、即ち、各アクチュエータ5の固定子5bのコイルに電流を供給していない状態におけるミラー1の形状をいう。また、ミラーの位置とは、例えばミラー上における代表点の位置のことであり、ミラーの姿勢とは、例えばミラーのチルトのことである。そして、基準状態におけるミラーの位置および姿勢とは、ミラーの基準位置および基準姿勢をいう。
In the optical apparatus, generally, the target shape of the reflecting surface of the mirror is determined so that the optical aberration of the projection optical system is corrected, that is, the wavefront aberration of the light reflected by the mirror is within an allowable range. Each actuator is controlled such that the reflecting surface of the mirror is deformed by the difference between the shape of the mirror and the target shape in the reference state (hereinafter referred to as shape difference). However, in the optical apparatus, the position and posture of the mirror may deviate from the reference state over time due to aging or thermal deformation. In this case, even if each actuator is controlled so that the reflection surface of the mirror is deformed by the shape difference, it may be difficult to make the shape of the reflection surface of the mirror a target shape. That is, in this case, the shape of the deformed reflecting surface is deviated from the target shape by the amount of deviation of the mirror position and posture from the reference shape. Therefore, in the
以下に、検出部4の構成、および制御部8が各アクチュエータ5の指令値を決定する方法について説明する。まず、検出部4の構成について説明する。検出部4は、ミラー1の反射面1aの周辺部に位置している複数の箇所の各々の変位を計測することにより、ミラー1の位置および姿勢の基準状態からのずれ量を検出する。例えば、検出部4は、図1に示すように、複数のセンサ4aと、処理部4bとを含みる。第1実施形態の検出部4では、3つのセンサ4aが用いられ、例えば図2に示すように配置されうる。図2は、検出部4における複数のセンサ4aの配置を示す図である。複数のセンサ4aの各々は、ミラー1における1つの箇所の基準状態(基準位置)からの変位(例えばX方向、Y方向、Z方向の変位)を計測する。各センサとしては、例えば、静電容量センサや渦電流式変位センサ、レーザ変位計、ひずみゲージなどが用いられうる。また、処理部4bは、各センサ4aによる計測結果を用いて、ミラー1の位置および姿勢の基準状態からのずれ量を求める。当該ずれ量は、例えば、ミラー1の基準状態からのシフト量やチルト量を含みうる。ここで、第1実施形態の検出部4は、各センサ4aによってミラー1の反射面1aにおける各箇所を計測し、その計測結果を用いて、ミラー1の位置および姿勢の基準状態からのずれ量を求めたが、それに限られるものではない。例えば、ベースプレート3の位置および姿勢を計測するセンサを含み、そのセンサによる計測結果を用いて当該ずれ量を求めてもよい。
Below, the structure of the
次に、制御部8が各アクチュエータ5の指令値を決定する方法について説明する。制御部8は、例えば、第1演算部8aと、第2演算部8bと、決定部8cと、保存部8dと、ドライバ8eとを含みうる。第1演算部8aは、ミラー1の反射面1aで反射された光の波面収差(投影光学系の光学収差)を表す情報を取得し、取得した情報に基づいて、反射面1aで反射された光の波面収差が許容範囲に収まるようにミラー1の反射面1aの目標形状を決定する。第2演算部8bは、基準状態におけるミラー1の反射面1aの形状と目標形状との形状差を求め、検出部4によって検出されたずれ量と当該形状差とを合成して合成ずれ量を求める。例えば、第2演算部8bは、検出部4によって検出されたずれ量と当該形状差との差を合成ずれ量として求めうる。
Next, a method in which the
決定部8cは、第2演算部8bによって求めた合成ずれ量に従って、合成ずれ量だけ反射面1aが変形するように、各アクチュエータ5がミラー1の複数箇所にそれぞれ加えるべき力を求める。そして、決定部8cは、各アクチュエータ5がミラー1の複数箇所にそれぞれ加えるべき力に基づいて、各アクチュエータ5に発生させるための指令値を決定する。例えば、保存部8dには、各アクチュエータを単位量だけ駆動させたときにミラー1の反射面1aが変形する量を示す情報(感度マトリクス)が保存されている。決定部8cは、保存部8dに保存されている当該情報と第2演算部8bによって求められた合成ずれ量とに基づいて、各アクチュエータ5の指令値を決定することができる。ドライバ8eは、例えば、各アクチュエータ5を駆動するための電流を各アクチュエータ5に供給する電流ドライバである。ドライバ8eは、決定部8cから供給された各アクチュエータ5の指令値に応じて、各アクチュエータ5の固定子5bのコイルに電流を供給する。
The determining
ここで、第2演算部8bによって合成ずれ量を求める方法について、図3を参照しながら説明する。図3は、位置および姿勢が基準状態からずれているミラー1を示す図であり、図3(a)はミラー1をX方向から見た図、図3(b)はミラー1をZ方向から見た図、図3(c)はミラー1をY方向から見た図である。図3において実線は、基準状態におけるミラー1を示し、破線は、位置および姿勢が基準状態からずれているミラー1を示している。また、目標形状を有するミラー1における複数箇所の座標をxi、yi、zi(i=1,2・・・n)とし、基準状態のミラー1における複数箇所の座標をXi、Yi、Ziとする。ミラー1の位置および姿勢の基準状態からのずれ量のうち並進シフト量をSx、Sy、Sz、チルト量をθx、θyとする。当該ずれ量は、検出部4によって検出されうる。このとき、第2演算部8bは、基準状態におけるミラー1の形状と目標形状との形状差(Xci、Yci、Zci)を、Xci=xi−Xi、Yci=yi−Yi、Zci=zi−Ziによって求めることができる。そして、第2演算部は、合成ずれ量(dxi、dyi、dzi)を、dxi=Xci−Sx、dyi=Yci−Sy、dzi=Zci−(Sz+xi×θy+yi×θx)によって求めることができる。
Here, a method of obtaining the composite deviation amount by the
このように第1実施形態の光学装置10は、形状差とずれ量とを合成して合成ずれ量を求めた後、合成ずれ量だけ反射面1aが変形するように各アクチュエータ5の指令値を決定する。上述したように、各アクチュエータ5の指令値を求めるための演算負荷を低減させるためには、各アクチュエータ5に発生させる力を決定する工程を少なくすることが好ましい。第1実施形態の光学装置10では、1回の分配処理を行うだけでよいため、ミラー1の反射面1aの変形とミラー1の位置および姿勢の補正とを効率よく行うことができる。ここで、第1実施形態の光学装置10では、各センサ4aによる計測結果を用いてずれ量を求める処理部4bを検出部4が含む例について説明したが、それに限られるものではなく、例えば制御部8が処理部4bを含んでいてもよい。
As described above, the
<第2実施形態>
第2実施形態の光学装置20について、図4を参照しながら説明する。図4は、第2実施形態の光学装置20の構成を示す概略図である。第2実施形態の光学装置は、第1実施形態の光学装置と比べて、検出部4の構成が異なる。
Second Embodiment
The
第2実施形態の検出部4は、レーザ干渉計やシャック・ハルトマンセンサなど、ミラー1の反射面1a全体の形状を計測する計測器4cと、計測器4cによる計測結果を用いてずれ量を求める処理部4bとを含みうる。処理部4bは、計測器4cによって計測された反射面1a全体の形状データをZernike多項式でフィッティングして、各項のZernike係数を取得する。Zernike係数のうちZ1項、Z2項およびZ3項は、ミラー1の位置および姿勢の基準状態からのずれ量(シフト量、チルト量)を表し、Z4項以降は、ミラー1の反射面1aの形状を表す。
The
このとき、制御部8では、基準状態におけるミラー1の反射面1aの形状、および反射面1aの目標形状が、それぞれZernike係数(Zj,j=1〜m)で表される。例えば、第1演算部aは、反射面1aの目標形状を決定する際、当該目標形状をZernike係数(Zj,j=1〜m)の形式で表す。第2演算部8aは、Zernike係数の形式でそれぞれ表された基準状態における反射面1aの形状と目標形状との形状差を求める。そして、第2演算部8aは、処理部4bによって得られたずれ量(Zernike係数のうちZ1項、Z2項、Z3項)と当該形状差とを合成して合成ずれ量を求める。決定部8cおよびドライバ8eの工程は、第1実施形態の光学装置10と同様である。また、本実施形態ではミラー1の形状を計測することができるため、基準状態におけるミラー1の形状の代わりに、計測器4cによる計測によって得られたミラー1の形状を用いて目標形状との形状差を求めてもよい。ここで、第2実施形態では、Zernike係数を用いる方法について説明したが、それに限られるものではなく、例えばフーリエ級数による面形状のフィッティングを行う方法など、別の方法を用いてもよい。
At this time, in the
<露光装置の実施形態>
本実施形態の露光装置について、図5を参照しながら説明する。本実施形態の露光装置50は、照明光学系ILと、投影光学系POと、マスク55を保持して移動可能なマスクステージMSと、基板56を保持して移動可能な基板ステージWSとを含みうる。また、露光装置50は、基板56を露光する処理を制御する制御部51を含みうる。
<Embodiment of exposure apparatus>
The exposure apparatus of this embodiment will be described with reference to FIG. The
照明光学系ILに含まれる光源(不図示)から射出された光は、照明光学系ILに含まれるスリット(不図示)によって、例えば、Y方向に長い円弧状の照明領域をマスク55上に形成することができる。マスク55および基板56は、マスクステージMSおよび基板ステージWSによってそれぞれ保持されており、投影光学系POを介して光学的にほぼ共役な位置(投影光学系POの物体面および像面の位置)に配置される。投影光学系POは、所定の投影倍率(例えば1/2倍)を有し、マスク55に形成されたパターンを基板56に投影する。そして、マスクステージMSおよび基板ステージWSを、投影光学系POの物体面と平行な方向(例えば図5のX方向)に、投影光学系POの投影倍率に応じた速度比で走査させる。これにより、マスク55に形成されたパターンを基板56に転写することができる。
Light emitted from a light source (not shown) included in the illumination optical system IL forms, for example, an arc-shaped illumination region that is long in the Y direction on the
投影光学系POは、例えば、図5に示すように、平面鏡52と、凹面鏡53と、凸面鏡54とを含むように構成されうる。照明光学系ILから出射し、マスク55を透過した露光光は、平面鏡52の第1面52aにより光路を折り曲げられ、凹面鏡53の第1面53aに入射する。凹面鏡53の第1面53aにおいて反射した露光光は、凸面鏡54において反射し、凹面鏡53の第2面53bに入射する。凹面鏡53の第2面53bにおいて反射した露光光は、平面鏡52の第2面52bにより光路を折り曲げられ、基板上に結像する。このように構成された投影光学系POでは、凸面鏡54の表面が光学的な瞳となる。
The projection optical system PO can be configured to include a
上述した露光装置50の構成において、上述の実施形態に係る光学装置は、例えば、ミラー1としての凹面鏡53の反射面を変形する装置として用いられうる。上述の実施形態に係る光学装置を露光装置50に用いることにより、凹面鏡53の反射面(第1面53aおよび第2面53b)を高速かつ高精度に変形させることができ、投影光学系POにおける光学収差をリアルタイムかつ高精度に補正することができる。ここで、露光装置50における制御部51は、上述の実施形態に係る光学装置におけるアクチュエータ5を制御するための制御部8を含むように構成されてもよい。なお、上述の実施形態に係る光学装置が凹面鏡53の反射面を変形する装置として用いられる場合、図5におけるX方向、Y方向およびZ方向は、図1および図4における−Z方向、Y方向およびX方向にそれぞれ対応する。
In the configuration of the
<物品の製造方法の実施形態>
本発明の実施形態に係る物品の製造方法は、例えば、半導体デバイス等のマイクロデバイスや微細構造を有する素子等の物品を製造するのに好適である。本実施形態の物品の製造方法は、基板に塗布された感光剤に上記の露光装置を用いて潜像パターンを形成する工程(基板を露光する工程)と、かかる工程で潜像パターンが形成された基板を現像する工程とを含む。更に、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含む。本実施形態の物品の製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
<Embodiment of Method for Manufacturing Article>
The method for manufacturing an article according to an embodiment of the present invention is suitable for manufacturing an article such as a microdevice such as a semiconductor device or an element having a fine structure. In the method for manufacturing an article according to the present embodiment, a latent image pattern is formed on the photosensitive agent applied to the substrate using the above-described exposure apparatus (a step of exposing the substrate), and the latent image pattern is formed in this step. Developing the substrate. Further, the manufacturing method includes other well-known steps (oxidation, film formation, vapor deposition, doping, planarization, etching, resist stripping, dicing, bonding, packaging, and the like). The method for manufacturing an article according to the present embodiment is advantageous in at least one of the performance, quality, productivity, and production cost of the article as compared with the conventional method.
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。 As mentioned above, although preferred embodiment of this invention was described, it cannot be overemphasized that this invention is not limited to these embodiment, A various deformation | transformation and change are possible within the range of the summary.
1:ミラー、3:ベースプレート、4:検出部、5:アクチュエータ、8:制御部、10:光学装置 1: mirror, 3: base plate, 4: detection unit, 5: actuator, 8: control unit, 10: optical device
Claims (10)
ベースプレートと、
前記ベースプレートと前記ミラーとの間に配置され、前記ミラーの複数箇所にそれぞれ力を加える複数のアクチュエータと、
前記ミラーの位置および姿勢の基準状態からのずれ量を検出する検出部と、
前記複数のアクチュエータの各々を制御する制御部と、
を含み、
前記制御部は、前記基準状態における前記反射面の形状と目標形状との形状差、および前記検出部によって検出された前記ずれ量を合成して合成ずれ量を求め、前記ミラーの前記複数箇所にそれぞれ加えるべき力を前記複数のアクチュエータの各々に発生させるための指令値を、各アクチュエータを単位量だけ駆動させたときに前記反射面が変形する量を示す情報と前記合成ずれ量とに基づいて決定する、ことを特徴とする光学装置。 An optical device for deforming a reflecting surface of a mirror,
A base plate;
A plurality of actuators disposed between the base plate and the mirror, each applying force to a plurality of locations of the mirror;
A detecting unit for detecting a deviation amount from a reference state of the position and orientation of the mirror;
A control unit for controlling each of the plurality of actuators;
Including
The control unit obtains a combined deviation amount by synthesizing a shape difference between the shape of the reflecting surface and the target shape in the reference state and the deviation amount detected by the detection unit, A command value for generating a force to be applied to each of the plurality of actuators is based on information indicating the amount of deformation of the reflecting surface when each actuator is driven by a unit amount and the composite deviation amount. An optical device characterized by determining.
各アクチュエータは、互いに接触しない固定子および可動子を含む、ことを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の光学装置。 A fixing member for fixing a part of the mirror including the center of the mirror to the base plate;
The optical device according to claim 1, wherein each actuator includes a stator and a mover that do not contact each other.
請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の光学装置を含む、ことを特徴とする投影光学系。 A projection optical system for projecting a mask pattern onto a substrate,
A projection optical system comprising the optical device according to claim 1.
請求項8に記載の投影光学系を含む、ことを特徴とする露光装置。 An exposure apparatus for exposing a substrate,
An exposure apparatus comprising the projection optical system according to claim 8.
前記ステップで露光された前記基板を現像するステップと、
を有することを特徴とする物品の製造方法。 Exposing the substrate using the exposure apparatus according to claim 9;
Developing the substrate exposed in the step;
A method for producing an article comprising:
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