JP6848662B2 - 分光装置及び分光方法 - Google Patents

分光装置及び分光方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6848662B2
JP6848662B2 JP2017092986A JP2017092986A JP6848662B2 JP 6848662 B2 JP6848662 B2 JP 6848662B2 JP 2017092986 A JP2017092986 A JP 2017092986A JP 2017092986 A JP2017092986 A JP 2017092986A JP 6848662 B2 JP6848662 B2 JP 6848662B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection region
optical system
translucent member
region
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017092986A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018189541A (ja
Inventor
大登 正敬
正敬 大登
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP2017092986A priority Critical patent/JP6848662B2/ja
Publication of JP2018189541A publication Critical patent/JP2018189541A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6848662B2 publication Critical patent/JP6848662B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、分光装置及び分光方法に関し、特に、マルチチャネルフーリエ変換分光に関する。
近年、フーリエ変換分光の一つとして、マルチチャネルフーリエ変換(MCFT)分光に関する研究及び開発が進められている。MCFT分光では、例えばサバール板(例えば、特許文献1)又はウォラストンプリズム(例えば、特許文献2)によって光を第1直線偏光と、第1直線偏光の振動方向と直交する振動方向を有する第2直線偏光とに分離し、第1直線偏光と第2直線偏光によって生成される干渉縞を検出器によって検出し、干渉縞をフーリエ変換することによってスペクトルを得る。
MCFT分光に用いられる検出器は、エリアセンサ又はラインセンサであり、例えば、CCD(Charge−Coupled Device)又はPDA(PhotoDiode Array)である。検出器は、検出領域を有しており、複数のセンサ(例えば、CCD素子又はPD)が検出領域に亘って1次元的に又は2次元的に配置されている。したがって、検出器は、干渉縞を複数のチャネル(センサ)で同時に検出することができる。
特開平2−2683234号公報 特開2002−168696号公報
本発明者は、MCFT分光に用いられる検出器について検討し、具体的には、検出器の検出領域があまり広くなく、かつ検出器中のセンサのピッチがあまり狭くない場合であっても、高分解能かつ低ノイズのスペクトルを得る方法について検討した。一般に、MCFT分光においては、検出器の検出領域が広いと、干渉縞のより多くの成分の考慮が可能となり、スペクトルの分解能が向上する。一方、検出器中のセンサのピッチが狭いと、干渉縞の単位長さ当たりのセンサの数が多くなり、スペクトルのノイズが低下する。本発明者は、検出器中のセンサのピッチがあまり狭くない場合であっても、干渉縞を拡大させて、拡大された干渉縞を検出することにより、スペクトルのノイズを低くすることを想起した。しかしながら、この場合、検出器の検出領域があまり広くないと、拡大された干渉縞の一部が検出領域の外側に漏れ得ることを本発明者は見出した。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、検出器の検出領域があまり広くなく、かつ検出器中のセンサのピッチがあまり狭くない場合であっても、高分解能かつ低ノイズのスペクトルを得ることにある。
本発明に係る分光装置は、検出器及び第1光学系を備えている。検出器は、第1直線偏光と、第1直線偏光の振動方向と直交する振動方向を有する第2直線偏光とによって生成される干渉縞を検出する。検出器は、第1検出領域及び第2検出領域を有しており、第2検出領域は、第1方向に沿って第1検出領域と並んでいる。第1光学系は、第1方向に直交する第2方向に沿って第1検出領域と並ぶ第1領域に向けて照射された光を第2検出領域に向けて照射させる。
本発明に係る分光方法では、第1直線偏光と、第1直線偏光の振動方向と直交する振動方向を有する第2直線偏光とによって生成される干渉縞を検出器で検出する。検出器は、第1検出領域及び第2検出領域を有しており、第2検出領域は、第1方向に沿って第1検出領域と並んでいる。第1方向に直交する第2方向に沿って第1検出領域と並ぶ第1領域に向けて照射された光を、第1光学系により、第2検出領域に向けて照射させる。
本発明によれば、検出器の検出領域があまり広くなく、かつ検出器中のセンサのピッチがあまり狭くない場合であっても、高分解能かつ低ノイズのスペクトルを得ることができる。
実施形態1に係る分光装置を示す図である。 (a)は、図1に示した検出器、第1光学系及び第2光学系をZ方向から見た図であり、(b)は、図1に示した検出器、第1光学系及び第2光学系をX方向から見た図であり、(c)は、図1に示した検出器及び第1光学系をY方向から見た図である。 (a)は、検出器によって検出される干渉縞の一例を示す図であり、(b)は、(a)の干渉縞を拡大した場合に検出器によって検出される干渉縞を示す図である。 (a)は、図1及び図2に示した第1光学系及び第2光学系が設けられていない場合において検出器によって検出される干渉縞の一例を示す図であり、(b)は、図1及び図2に示した第1光学系及び第2光学系が設けられた場合において検出器によって検出される干渉縞の一例を示す図である。 図2の第1の変形例を示す図である。 (a)は、図5に示した第1光学系が設けられていない場合において検出器によって検出される干渉縞の一例を示す図であり、(b)は、図5に示した第1光学系が設けられた場合において検出器によって検出される干渉縞の一例を示す図である。 図2の第2の変形例を示す図である。 (a)は、図7に示した第1光学系、第2光学系、第3光学系及び第4光学系が設けられていない場合において検出器によって検出される干渉縞の一例を示す図であり、(b)は、図7に示した第1光学系、第2光学系、第3光学系及び第4光学系が設けられた場合において検出器によって検出される干渉縞の一例を示す図である。 実施形態2に係る分光装置を示す図である。 (a)は、図9に示した検出器、第1光学系及び第2光学系をZ方向から見た図であり、(b)は、図9に示した検出器、第1光学系及び第2光学系をX方向から見た図であり、(c)は、図9に示した検出器及び第1光学系をY方向から見た図であり、(d)は、図9に示した検出器及び第2光学系をY方向から見た図である。 図10の第1の変形例を示す図である。 図10の第2の変形例を示す図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。
(実施形態1)
図1は、実施形態1に係る分光装置を示す図である。図2(a)は、図1に示した検出器80、第1光学系82及び第2光学系84をZ方向から見た図である。図2(b)は、図1に示した検出器80、第1光学系82及び第2光学系84をX方向から見た図である。図2(c)は、図1に示した検出器80及び第1光学系82をY方向から見た図である。図3(a)は、検出器80によって検出される干渉縞の一例を示す図である。図3(b)は、図3(a)の干渉縞を拡大した場合に検出器80によって検出される干渉縞を示す図である。図4(a)は、図1及び図2に示した第1光学系82及び第2光学系84が設けられていない場合において検出器80によって検出される干渉縞の一例を示す図である。図4(b)は、図1及び図2に示した第1光学系82及び第2光学系84が設けられた場合において検出器80によって検出される干渉縞の一例を示す図である。
図2を用いて、分光装置の概要について説明する。分光装置は、マルチチャネルフーリエ変換(MCFT)分光装置であり、検出器80、第1光学系82及び第2光学系84を備えている。検出器80は、第1直線偏光と、第1直線偏光の振動方向と直交する振動方向を有する第2直線偏光とによって生成される干渉縞を検出する。検出器80は、第1検出領域DR1、第2検出領域DR2及び第3検出領域DR3を有しており、第1検出領域DR1、第2検出領域DR2及び第3検出領域DR3は、第1方向(図中、X方向)に沿って並んでいる。特に図2に示す例では、第2検出領域DR2及び第3検出領域DR3は、第1検出領域DR1を挟んで互いに反対側にある。第1光学系82は、領域RG1、すなわち、第1方向に直交する第2方向(図中、Y方向)に沿って第1検出領域DR1と並ぶ領域に向けて照射された光を第2検出領域DR2に向けて照射させる。第2光学系84は、領域RG2、すなわち、第2方向(図中、Y方向)に沿って領域RG1の反対側に第1検出領域DR1と並ぶ領域に向けて照射された光を第3検出領域DR3に向けて照射させる。
上述した構成によれば、検出器80の第1検出領域DR1があまり広くなく、かつ検出器80中のセンサ(例えば、CCD(Charge−Coupled Device)素子又はフォトダイオード(PD))のピッチがあまり狭くない場合であっても、高分解能かつ低ノイズのスペクトルを得ることができる。具体的には、検出器80中のセンサのピッチがあまり狭くない場合、図3(a)に示すように、干渉縞の広い範囲を第1検出領域DR1の狭い範囲で検出しても、スペクトルのノイズが高いものとなる。これに対して、図3(b)及び図4(a)に示すように、干渉縞を拡大させると、干渉縞の単位長さ当たりのセンサの数が多くなり、スペクトルのノイズが低下する。さらに、上述した構成においては、図3(b)及び図4(a)に示すように、拡大された干渉縞の一部が第1検出領域DR1の外側、つまり、領域RG1及び領域RG2に漏れてしまっても、図4(b)に示すように、領域RG1の干渉縞を第2検出領域DR2に生成することができ、領域RG2の干渉縞を第3検出領域DR3に生成することができる。したがって、検出器80の第1検出領域DR1があまり広くなく、かつ検出器80中のセンサのピッチがあまり狭くない場合であっても、高分解能かつ低ノイズのスペクトルを得ることができる。
図1を用いて、分光装置の詳細について説明する。分光装置は、光源10、レンズ20、偏光子30、光学部材40、偏光子50、レンズ60、シリンドリカルレンズ70、検出器80、第1光学系82、第2光学系84及び信号処理器90を備えている。
光源10は、分光装置で測定される光を発する。この光は、例えば、試料を透過した光、試料で散乱した光又は試料の発光である。この光は、例えば赤外線であるが、可視光又は紫外線であってもよい。
光源10からの光は、レンズ20を透過する。レンズ20は、光源10からの光をコリメート光に変換する。言い換えると、レンズ20は、コリメートレンズである。
レンズ20からの光は、偏光子30に入射する。偏光子30を透過した光は、偏光子30の透過軸と同じ方向に振動する直線偏光となる。一例において、偏光子30は、ワイヤグリッドである。
偏光子30を透過した光は、光学部材40によって2つの直線偏光、すなわち、第1直線偏光及び第2直線偏光に分離される。図1に示す例において、光学部材40は、ビームスプリッタ、具体的にはサバール板であり、第1結晶板42及び第2結晶板44を有している。一例において、第1結晶板42及び第2結晶板44は、イットリウムバナデート(YVO)により形成されている。他の例において、第1結晶板42及び第2結晶板44は、例えば、方解石(CaCO)、石英(SiO)、又は酸化チタン(TiO)により形成されていてもよいし、又は例えば、液晶、複屈折ポリマー、又はポーリングにより光学異方性を有するガラスにより形成されていてもよい。
他の例において、光学部材40は、ウォラストンプリズムであってもよい。以下、光学部材40はサバール板として説明を行う。
光学部材40から出射された2つの直線偏光(第1直線偏光及び第2直線偏光)は、偏光子50、レンズ60及びシリンドリカルレンズ70を透過して、検出器80に向けて照射される。一例において、偏光子50は、ワイヤグリッドである。シリンドリカルレンズ70は、検出器80に生成される干渉縞の第1方向(図中、X方向)成分を積算するために設けられており、積算によってノイズを低減することができる。
次に、図2を用いて、検出器80、第1光学系82及び第2光学系84の詳細について説明する。
検出器80は、エリアセンサであり、例えば、CCD(Charge−Coupled Device)又はPDA(PhotoDiode Array)である。検出器80は、第1検出領域DR1、第2検出領域DR2及び第3検出領域DR3を有しており、複数のセンサ(例えば、CCD素子又はPD)が第1検出領域DR1、第2検出領域DR2及び第3検出領域DR3に亘って2次元的に配置されている。したがって、検出器80は、第1検出領域DR1、第2検出領域DR2及び第3検出領域DR3において、干渉縞を検出可能である。
図2に示す例では、第1検出領域DR1及びその外側の干渉縞を3つの領域、すなわち、第1検出領域DR1、第2検出領域DR2及び第3検出領域DR3に分離することができる。具体的には、第1光学系82は、領域RG1に照射された光を検出器80の第2検出領域DR2に向けて照射し、第2光学系84は、領域RG2に向けて照射された光を検出器80の第3検出領域DR3に向けて照射する。
第1光学系82は、第1ミラー110(第1反射部)及び第2ミラー120(第2反射部)を有している。第1ミラー110は、領域RG1に向けて照射された光を第2ミラー120に向けて反射し、第2ミラー120は、第1ミラー110から反射された光を第2検出領域DR2に向けて反射する。したがって、図3(b)及び図4(a)に示すように、干渉縞の一部が第1検出領域DR1の外側、すなわち、領域RG1に漏れても、図4(b)に示すように、領域RG1の干渉縞を第2検出領域DR2に生成することができる。
特に、図2(a)に示す例では、Z方向、すなわち、検出器80に向かう光の光軸に沿った方向から見て、第1ミラー110及び第2ミラー120は、第1検出領域DR1と重なっていない。したがって、第1検出領域DR1に入射する光が第1ミラー110又は第2ミラー120によって遮られることが防止されている。
第2光学系84は、第3ミラー130(第1反射部)及び第4ミラー140(第2反射部)を有している。第3ミラー130は、領域RG2に向けて照射された光を第4ミラー140に向けて反射し、第4ミラー140は、第3ミラー130から反射された光を第3検出領域DR3に向けて反射する。したがって、図3(b)及び図4(a)に示すように、干渉縞の一部が第1検出領域DR1の外側、すなわち、領域RG2に漏れても、図4(b)に示すように、領域RG2の干渉縞を第3検出領域DR3に生成することができる。
特に、図2(a)に示す例では、Z方向、すなわち、検出器80に向かう光の光軸に沿った方向から見て、第3ミラー130及び第4ミラー140は、第1検出領域DR1と重なっていない。したがって、第1検出領域DR1に入射する光が第3ミラー130又は第4ミラー140によって遮られることが防止されている。
一例において、各ミラーは、蒸着により形成された、金属膜、より具体的には、金膜(Au)である。さらに、第1ミラー110及び第3ミラー130は、平面ミラーとし、第2ミラー120及び第4ミラー140は、凹面ミラーとすることができる。
次に、図3を用いて、検出器80によって検出される干渉縞の詳細について説明する。
図3(a)に示すように、干渉縞の広い範囲を検出すると、干渉縞のより多くの成分の考慮が可能となり、スペクトルの分解能が向上する。しかしながら、図3(a)に示す例では、検出器80中のセンサのピッチがあまり狭くないと、干渉縞の単位長さ当たりのセンサの数が少なくなり、スペクトルのノイズが増加する。
図3(b)に示すように、干渉縞を拡大させると、干渉縞の単位長さ当たりのセンサの数が多くなり、スペクトルのノイズが低下する。しかしながら、図3(b)に示す例では、干渉縞の一部が第1検出領域DR1の外側に漏れており、スペクトルの分解能が低下する。
次に、図4を用いて、図1及び図2に示した第1光学系82及び第2光学系84の機能の詳細について説明する。
第1光学系82は、第1検出領域DR1の外側、すなわち、領域RG1の干渉縞(図4(a))を第2検出領域DR2に生成することができ(図4(b))、第2光学系84は、第1検出領域DR1の外側、すなわち、領域RG2の干渉縞(図4(a))を第3検出領域DR3の生成することができる(図4(b))。したがって、干渉縞の多くの成分の考慮が可能となり、スペクトルの分解能が向上するとともに、干渉縞の単位長さ当たりのセンサの数を多くすることができ、スペクトルのノイズを低下させることができる。
図4(b)に示す例において、図1に示した信号処理器90は、第1検出領域DR1において検出された干渉縞を示すデータ、第2検出領域DR2において検出された干渉縞を示すデータ及び第3検出領域DR3において検出された干渉縞を示すデータを結合する。したがって、第1検出領域DR1、第2検出領域DR2及び第3検出領域DR3の各領域における干渉縞を結合して、結合させた干渉縞をフーリエ変換することができる。
他の例において、第2光学系84は、領域RG2に向けて照射された光を、第3検出領域DR3ではなく、第1方向(図中、X方向)に沿って第1検出領域DR1及び第2検出領域DR2と並ぶ領域、例えば、第1検出領域DR1と第2検出領域DR2の間の領域又は第2検出領域DR2を挟んで第1検出領域DR1の反対側の領域に照射させてもよい。さらに他の例において、干渉縞は、第2検出領域DR2及びその外側の領域又は第3検出領域DR3及びその外側の領域に生成されてもよく、この例においても、第1光学系82及び第2光学系84を用いて干渉縞を3つの領域に分離することができる。
図5は、図2の第1の変形例を示す図であり、図5(a)は、検出器80及び第1光学系82をZ方向から見た図であり、図5(b)は、検出器80及び第1光学系82をX方向から見た図であり、図5(c)は、検出器80及び第1光学系82をY方向から見た図である。図6(a)は、図5に示した第1光学系82が設けられていない場合において検出器80によって検出される干渉縞の一例を示す図である。図6(b)は、図5に示した第1光学系82が設けられた場合において検出器80によって検出される干渉縞の一例を示す図である。
図5及び図6に示す例では、第1検出領域DR1及びその外側の干渉縞を2つの領域に分離することができる。具体的には、分光装置は、第1光学系82及び第2光学系84のうちの一方のみを備えており、特に図5に示す例では、第1光学系82のみを備えている。図5及び図6に示す例では、図2及び図4に示した例と同様にして、第1光学系82は、第1検出領域DR1の外側、すなわち、領域RG1の干渉縞を第2検出領域DR2に生成することができる。なお、図6に示す例では、領域RG1の反対側において、干渉縞は、第1検出領域DR1の外側に漏れておらず、第1検出領域DR1において検出されている。
図7は、図2の第2の変形例を示す図であり、図7(a)は、第1光学系82、第2光学系84、第3光学系86及び第4光学系88をZ方向から見た図であり、図7(b)は、第1光学系82、第2光学系84、第3光学系86及び第4光学系88をX方向から見た図である。図8(a)は、図7に示した第1光学系82、第2光学系84、第3光学系86及び第4光学系88が設けられていない場合において検出器80によって検出される干渉縞の一例を示す図である。図8(b)は、図7に示した第1光学系82、第2光学系84、第3光学系86及び第4光学系88が設けられた場合において検出器80によって検出される干渉縞の一例を示す図である。
図7及び図8に示す例では、第1検出領域DR1及びその外側の干渉縞を5つの領域、すなわち、第1検出領域DR1、第2検出領域DR2、第3検出領域DR3、第4検出領域DR4及び第5検出領域DR5に分離することができる。具体的には、分光装置は、第1光学系82、第2光学系84、第3光学系86及び第4光学系88を備えている。第1光学系82は、領域RG1に照射された光を検出器80の第2検出領域DR2に向けて照射する。第2光学系84は、領域RG2に向けて照射された光を検出器80の第3検出領域DR3に向けて照射する。第3光学系86は、領域RG3、すなわち、第2方向(図中、Y方向)に沿って領域RG1を挟んで第1検出領域DR1と並ぶ領域に照射された光を検出器80の第4検出領域DR4、すなわち、第1方向(図中、X方向)に沿って第2検出領域DR2を挟んで第1検出領域DR1と並ぶ領域に向けて照射する。第4光学系88は、領域RG4、すなわち、第2方向(図中、Y方向)に沿って領域RG2を挟んで第1検出領域DR1と並ぶ領域に照射された光を検出器80の第5検出領域DR5、すなわち、第1方向(図中、X方向)に沿って第3検出領域DR3を挟んで第1検出領域DR1と並ぶ領域に向けて照射する。
第1光学系82は、図2に示した例と同様にして、第1ミラー110及び第2ミラー120を有しており、第2光学系84は、図2に示した例と同様にして、第3ミラー130及び第4ミラー140を有している。
第3光学系86は、第5ミラー150及び第6ミラー160を有している。第5ミラー150は、領域RG3に向けて照射された光を第6ミラー160に向けて反射し、第6ミラー160は、第5ミラー150から反射された光を第4検出領域DR4に向けて反射する。したがって、図8(a)に示すように、干渉縞の一部が第1検出領域DR1の外側、すなわち、領域RG3に漏れても、図8(b)に示すように、領域RG3の干渉縞を第4検出領域DR4に生成することができる。
特に、図7(a)に示す例では、Z方向、すなわち、検出器80に向かう光の光軸に沿った方向から見て、第5ミラー150及び第6ミラー160は、第1検出領域DR1と重なっていない。したがって、第1検出領域DR1に入射する光が第5ミラー150又は第6ミラー160によって遮られることが防止されている。
第4光学系88は、第7ミラー170及び第8ミラー180を有している。第7ミラー170は、領域RG4に向けて照射された光を第8ミラー180に向けて反射し、第8ミラー180は、第7ミラー170から反射された光を第5検出領域DR5に向けて反射する。したがって、図8(a)に示すように、干渉縞の一部が第1検出領域DR1の外側、すなわち、領域RG4に漏れても、図8(b)に示すように、領域RG4の干渉縞を第5検出領域DR5に生成することができる。
特に、図7(a)に示す例では、Z方向、すなわち、検出器80に向かう光の光軸に沿った方向から見て、第7ミラー170及び第8ミラー180は、第1検出領域DR1と重なっていない。したがって、第1検出領域DR1に入射する光が第7ミラー170又は第8ミラー180によって遮られることが防止されている。
他の例において、第3光学系86は、領域RG3に向けて照射された光を、第4検出領域DR4ではなく、第1方向(図中、X方向)に沿って第1検出領域DR1と並ぶ領域、例えば、第1検出領域DR1と第2検出領域DR2の間の領域に照射させてもよい。同様にして、第4光学系88は、領域RG4に向けて照射された光を、第5検出領域DR5ではなく、第1方向(図中、X方向)に沿って第1検出領域DR1と並ぶ領域、例えば、第1検出領域DR1と第3検出領域DR3の間の領域に照射させてもよい。
(実施形態2)
図9は、実施形態2に係る分光装置を示す図である。図10(a)は、図9に示した検出器80、第1光学系82及び第2光学系84をZ方向から見た図である。図10(b)は、図9に示した検出器80、第1光学系82及び第2光学系84をX方向から見た図である。図10(c)は、図9に示した検出器80及び第1光学系82をY方向から見た図である。図10(d)は、図9に示した検出器80及び第2光学系84をY方向から見た図である。実施形態2に係る分光装置は、以下の点を除いて、実施形態1に係る分光装置と同様である。
図9及び図10に示す例では、図2に示した例と同様にして、第1検出領域DR1及びその外側の干渉縞を3つの領域、すなわち、第1検出領域DR1、第2検出領域DR2及び第3検出領域DR3に分離することができる。具体的には、第1光学系82は、図2に示した例と同様にして、領域RG1に照射された光を検出器80の第2検出領域DR2に向けて照射し、第2光学系84は、図2に示した例と同様にして、領域RG2に向けて照射された光を検出器80の第3検出領域DR3に向けて照射する。
第1光学系82は、ダブルポロプリズムであり、第1透光性部材210及び第2透光性部材220、つまり、直角プリズムを有している。第1透光性部材210は、面212(第1面)、面214(第2面)及び面216(第3面)を有している。面214及び面216は、面212に対して斜めであり、互いに直角に交わっている。第2透光性部材220は、面222(第4面)、面224(第5面)及び面226(第6面)を有している。面224及び面226は、面222に対して斜めであり、互いに直角に交わっている。
第1透光性部材210の面214及び面216及び第2透光性部材220の面224及び面226は、反射部として機能する。具体的には、面214(第1反射部)は、領域RG1に向けて照射された光、つまり、面212から第1透光性部材210の内側に入射した光を第1方向(図中、X方向)に沿って面216(第2反射部)に向けて反射する。面216(第2反射部)は、面214(第1反射部)から反射された光を第3方向(図中、Z方向)、すなわち、第1方向及び第2方向の双方に直交する方向に沿って面224(第3反射部)に向けて反射する。面216(第2反射部)から反射された光は、面212を経由して第1透光性部材210の外側に向けて出射され、面222を経由して第2透光性部材220の内側に入射する。面224(第3反射部)は、面216(第2反射部)から反射された光を第2方向(図中、Y方向)に沿って面226(第4反射部)に向けて反射する。面226(第4反射部)は、面224(第3反射部)から反射された光を第3方向(図中、Z方向)に沿って第2検出領域DR2に向けて反射する。面226(第4反射部)から反射された光は、面222を経由して第2透光性部材220の外側に向けて出射される。
特に、図10(a)に示す例では、Z方向、すなわち、検出器80に向かう光の光軸に沿った方向から見て、第1透光性部材210及び第2透光性部材220は、第1検出領域DR1と重なっていない。したがって、第1検出領域DR1に入射する光が第1透光性部材210又は第2透光性部材220によって遮られることが防止されている。
第2光学系84は、ダブルポロプリズムであり、第3透光性部材230及び第4透光性部材240、つまり、直角プリズムを有している。第3透光性部材230は、面232(第1面)、面234(第2面)及び面236(第3面)を有している。面234及び面236は、面232に対して斜めであり、互いに直角に交わっている。第4透光性部材240は、面242(第4面)、面244(第5面)及び面246(第6面)を有している。面244及び面246は、面242に対して斜めであり、互いに直角に交わっている。
第3透光性部材230の面234及び面236及び第4透光性部材240の面244及び面246は、反射部として機能する。具体的には、面234(第1反射部)は、領域RG2に向けて照射された光、つまり、面232から第3透光性部材230の内側に入射した光を第1方向(図中、X方向)に沿って面236(第2反射部)に向けて反射する。面236(第2反射部)は、面234(第1反射部)から反射された光を第3方向(図中、Z方向)、すなわち、第1方向及び第2方向の双方に直交する方向に沿って面244(第3反射部)に向けて反射する。面236(第2反射部)から反射された光は、面232を経由して第3透光性部材230の外側に向けて出射され、面242を経由して第4透光性部材240の内側に入射する。面244(第3反射部)は、面236(第2反射部)から反射された光を第2方向(図中、Y方向)に沿って面246(第4反射部)に向けて反射する。面246(第4反射部)は、面244(第3反射部)から反射された光を第3方向(図中、Z方向)に沿って第3検出領域DR3に向けて反射する。面246(第4反射部)から反射された光は、面242を経由して第4透光性部材240の外側に向けて出射される。
特に、図10(a)に示す例では、Z方向、すなわち、検出器80に向かう光の光軸に沿った方向から見て、第3透光性部材230及び第4透光性部材240は、第1検出領域DR1と重なっていない。したがって、第1検出領域DR1に入射する光が第3透光性部材230又は第4透光性部材240によって遮られることが防止されている。
他の例において、分光装置は、第1透光性部材210、第2透光性部材220、第3透光性部材230及び第4透光性部材240に代えて、上述した第1反射部、第2反射部、第3反射部及び第4反射部としてそれぞれ機能するミラーを備えていてもよい。
図11は、図10の第1の変形例を示す図であり、図11(a)は、検出器80及び第1光学系82をZ方向から見た図であり、図11(b)は、検出器80及び第1光学系82をX方向から見た図であり、図11(c)は、検出器80及び第1光学系82をY方向から見た図である。
図11に示す例では、第1検出領域DR1及びその外側の干渉縞を2つの領域に分離することができる。具体的には、分光装置は、第1光学系82及び第2光学系84のうちの一方のみを備えており、特に図11に示す例では、第1光学系82のみを備えている。第1光学系82は、第1検出領域DR1の外側、すなわち、領域RG1の干渉縞を第2検出領域DR2に生成することができる。
図12は、図10の第2の変形例を示す図であり、図12(a)は、第1光学系82、第2光学系84、第3光学系86及び第4光学系88をZ方向から見た図であり、図12(b)は、第1光学系82、第2光学系84、第3光学系86及び第4光学系88をX方向から見た図である。
図12に示す例では、第1検出領域DR1及びその外側の領域の干渉縞を5つの領域、すなわち、第1検出領域DR1、第2検出領域DR2、第3検出領域DR3、第4検出領域DR4及び第5検出領域DR5に分離することができる。具体的には、第1光学系82は、領域RG1に照射された光を検出器80の第2検出領域DR2に向けて照射する。第2光学系84は、領域RG2に向けて照射された光を検出器80の第3検出領域DR3に向けて照射する。第3光学系86は、領域RG3に照射された光を検出器80の第4検出領域DR4に向けて照射する。第4光学系88は、領域RG4に照射された光を検出器80の第5検出領域DR5に向けて照射する。
第1光学系82は、図10に示した例と同様にして、ダブルポロプリズムであり、第1透光性部材210及び第2透光性部材220を有している。領域RG1に向けて照射された光は、第1透光性部材210から第2透光性部材220に送られて、第2透光性部材220から第2検出領域DR2に向けて照射される。
第2光学系84は、図10に示した例と同様にして、ダブルポロプリズムであり、第3透光性部材230及び第4透光性部材240を有している。領域RG2に向けて照射された光は、第3透光性部材230から第4透光性部材240に送られて、第4透光性部材240から第3検出領域DR3に向けて照射される。
第3光学系86は、第1光学系82及び第2光学系84と同様にして、ダブルポロプリズムであり、第5透光性部材250及び第6透光性部材260を有している。領域RG3に向けて照射された光は、第5透光性部材250から第6透光性部材260に送られて、第6透光性部材260から第4検出領域DR4に向けて照射される。
第4光学系88は、第1光学系82及び第2光学系84と同様にして、ダブルポロプリズムであり、第7透光性部材270及び第8透光性部材280を有している。領域RG4に向けて照射された光は、第7透光性部材270から第8透光性部材280に送られて、第8透光性部材280から第5検出領域DR5に向けて照射される。
特に、図12(a)に示す例では、Z方向、すなわち、検出器80に向かう光の光軸に沿った方向から見て、各透光性部材は、第1検出領域DR1と重なっていない。したがって、第1検出領域DR1に入射する光が各透光性部材によって遮られることが防止されている
以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。
10 光源
20 レンズ
30 偏光子
40 光学部材
42 第1結晶板
44 第2結晶板
50 偏光子
60 レンズ
70 シリンドリカルレンズ
80 検出器
82 第1光学系
84 第2光学系
86 第3光学系
88 第4光学系
90 信号処理器
110 第1ミラー
120 第2ミラー
130 第3ミラー
140 第4ミラー
150 第5ミラー
160 第6ミラー
170 第7ミラー
180 第8ミラー
210 第1透光性部材
212 面
214 面
216 面
220 第2透光性部材
222 面
224 面
226 面
230 第3透光性部材
232 面
234 面
236 面
240 第4透光性部材
242 面
244 面
246 面
250 第5透光性部材
260 第6透光性部材
270 第7透光性部材
280 第8透光性部材
DR1 第1検出領域
DR2 第2検出領域
DR3 第3検出領域
DR4 第4検出領域
DR5 第5検出領域
RG1 領域
RG2 領域
RG3 領域
RG4 領域

Claims (8)

  1. 第1直線偏光と、前記第1直線偏光の振動方向と直交する振動方向を有する第2直線偏光とによって生成される干渉縞を検出する検出器と、
    第1光学系と、
    を備え、
    前記検出器は、第1検出領域と、第1方向に沿って前記第1検出領域と並ぶ第2検出領域と、を有し、
    前記第1光学系は、前記第1方向に直交する第2方向に沿って前記第1検出領域と並ぶ第1領域に向けて照射された光を前記第2検出領域に向けて照射させる分光装置。
  2. 請求項1に記載の分光装置において、
    第2光学系を備え、
    前記検出器は、前記第1方向に沿って前記第1検出領域及び前記第2検出領域と並ぶ第3検出領域を有し、
    前記第2光学系は、前記第2方向に沿って前記第1領域の反対側に前記第1検出領域と並ぶ第2領域に向けて照射された光を前記第3検出領域に向けて照射させる分光装置。
  3. 請求項1に記載の分光装置において、
    前記第1光学系は、第1反射部と、第2反射部と、を有し、
    前記第1反射部は、前記第1領域に向けて照射された光を前記第2反射部に向けて反射し、
    前記第2反射部は、前記第1反射部から反射された光を前記第2検出領域に向けて反射する分光装置。
  4. 請求項1に記載の分光装置において、
    前記第1光学系は、第1反射部と、第2反射部と、第3反射部と、第4反射部と、を有し、
    前記第1反射部は、前記第1領域に向けて照射された光を前記第1方向に沿って前記第2反射部に向けて反射し、
    前記第2反射部は、前記第1反射部から反射された光を、前記第1方向及び前記第2方向の双方に直交する第3方向に沿って前記第3反射部に向けて反射し、
    前記第3反射部は、前記第2反射部から反射された光を前記第2方向に沿って前記第4反射部に向けて反射し、
    前記第4反射部は、前記第3反射部から反射された光を前記第3方向に沿って前記第2検出領域に向けて反射する分光装置。
  5. 請求項4に記載の分光装置において、
    前記第1光学系は、第1透光性部材と、第2透光性部材と、を有し、
    前記第1透光性部材は、第1面と、前記第1面に対して斜めであり、前記第1反射部として機能する第2面と、前記第1面に対して斜めであり、前記第2反射部として機能する第3面と、を有し、
    前記第2透光性部材は、第4面と、前記第4面に対して斜めであり、前記第3反射部として機能する第5面と、前記第4面に対して斜めであり、前記第4反射部として機能する第6面と、を有し、
    前記第1透光性部材の前記第2面は、前記第1透光性部材の前記第1面から前記第1透光性部材の内側に入射した光を前記第1透光性部材の前記第3面に向けて反射し、
    前記第1透光性部材の前記第3面は、前記第1透光性部材の前記第2面から反射された光を、前記第1透光性部材の前記第1面を経由して前記第1透光性部材の外側に向けて反射し、
    前記第2透光性部材の前記第5面は、前記第2透光性部材の前記第4面から前記第2透光性部材の内側に入射した光を前記第2透光性部材の前記第6面に向けて反射し、
    前記第2透光性部材の前記第6面は、前記第2透光性部材の前記第5面から反射された光を、前記第2透光性部材の前記第4面を経由して前記第2透光性部材の外側に向けて反射する分光装置。
  6. 請求項1に記載の分光装置において、
    第3光学系を備え、
    前記検出器は、前記第1方向に沿って前記第1検出領域及び前記第2検出領域と並ぶ第4検出領域を有し、
    前記第3光学系は、前記第2方向に沿って前記第1領域を挟んで前記第1検出領域と並ぶ第3領域に照射された光を前記第4検出領域に向けて照射させる分光装置。
  7. 請求項1に記載の分光装置において、
    前記第1検出領域において検出された干渉縞を示すデータと、前記第2検出領域において検出された干渉縞を示すデータと、を結合する信号処理器を備える分光装置。
  8. 第1直線偏光と、前記第1直線偏光の振動方向と直交する振動方向を有する第2直線偏光とによって生成される干渉縞を検出器で検出し、
    前記検出器は、第1検出領域と、第1方向に沿って前記第1検出領域と並ぶ第2検出領域と、を有し、
    前記第1方向に直交する第2方向に沿って前記第1検出領域と並ぶ第1領域に向けて照射された光を、第1光学系により、前記第2検出領域に向けて照射させる、分光方法。
JP2017092986A 2017-05-09 2017-05-09 分光装置及び分光方法 Active JP6848662B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017092986A JP6848662B2 (ja) 2017-05-09 2017-05-09 分光装置及び分光方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017092986A JP6848662B2 (ja) 2017-05-09 2017-05-09 分光装置及び分光方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018189541A JP2018189541A (ja) 2018-11-29
JP6848662B2 true JP6848662B2 (ja) 2021-03-24

Family

ID=64478617

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017092986A Active JP6848662B2 (ja) 2017-05-09 2017-05-09 分光装置及び分光方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6848662B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7334937B2 (ja) * 2019-07-02 2023-08-29 国立大学法人山口大学 マイクロ分光素子、分光スペクトル取得方法、及び顕微分光装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3095167B2 (ja) * 1989-04-11 2000-10-03 聡 河田 マルチチャネルフーリエ変換分光装置
US5442439A (en) * 1993-04-21 1995-08-15 Kaiser Optical Systems, Inc. Spectrograph with multiplexing of different wavelength regions onto a single opto-electric detector array
JP2008089338A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Hamamatsu Photonics Kk 分光分析装置
US20130327942A1 (en) * 2012-06-06 2013-12-12 Raytheon Company Compact spectrometer for remote hydrocarbon detection
US8975594B2 (en) * 2012-11-09 2015-03-10 Ge Aviation Systems Llc Mixed-material multispectral staring array sensor
DE102013112376B4 (de) * 2013-11-11 2016-12-01 Gigahertz-Optik Gmbh Spektrometersystem

Also Published As

Publication number Publication date
JP2018189541A (ja) 2018-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6233373B1 (en) Optical spectrometer with improved geometry and data processing for monitoring fiber optic bragg gratings
US10088363B2 (en) Biometric sensor and biometric analysis system including the same
US9863809B2 (en) Spectrograph
CN108593108A (zh) 光谱仪
WO2017150062A1 (ja) 分光測定装置
JP6848662B2 (ja) 分光装置及び分光方法
JP2009210457A (ja) 分光偏光計測装置
US9759671B2 (en) Device and method for measuring panes, in particular windscreens of vehicles
KR101620594B1 (ko) 다기능 분광장치
JP3095167B2 (ja) マルチチャネルフーリエ変換分光装置
KR102073186B1 (ko) 다층 회절격자 구조를 갖는 초분광 분해기의 광학 시스템
JP2013228322A (ja) 分光装置
JP2008026127A (ja) 分光ユニット、気象観測ライダーシステム
KR20220086470A (ko) 접힌 광로를 갖는 광학 디바이스
US10914628B2 (en) Apparatus for spectrum and intensity profile characterization of a beam, use thereof and method thereof
JP2017150981A (ja) 分光装置
US10386234B2 (en) Wideband spectrograph
JP2005156343A (ja) 分光装置及び分光装置用光学フィルタ
JP7486178B2 (ja) 分光分析装置
WO2015151233A1 (ja) 分光測定装置及び積分球
JP5127083B2 (ja) 後方開口絞り及び長い後部焦点距離を有するゼロ光学パワーの反射・広角光学系
JP2020159975A (ja) 分光測定装置及び分光測定方法
JP2001281056A (ja) 干渉計及び分光器
WO2020196693A1 (ja) 分光測定装置及び分光測定方法
US20230316679A1 (en) Optical spectroscopy apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200413

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20201223

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210202

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210215

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6848662

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150