JP6802386B2

JP6802386B2 - 高スループット音響ベント構造試験装置

Info

Publication number: JP6802386B2
Application number: JP2019540039A
Authority: JP
Inventors: ペランダスティン; ケナレイライアン; マリージョン; バンターチャド
Original assignee: WL Gore and Associates Inc
Current assignee: WL Gore and Associates Inc
Priority date: 2017-01-26
Filing date: 2018-01-26
Publication date: 2020-12-16
Anticipated expiration: 2038-01-26
Also published as: KR20190131020A; KR102224609B1; DE112018000543T5; JP2020506601A; WO2018140705A1; CN110771180B; US20180213340A1; CN110771180A

Description

関連出願との相互参照
本出願は、２０１７年１月２６日に出願された米国特許出願第１５／４１６，６２３号に関連し、その優先権を主張するものであり、その全体を参照により本明細書に取り込む。

技術分野
本発明は、限定するわけではないが、保護カバー及びメンブレンなどの音響ベント構造のための高スループット試験装置に関する。

背景
携帯電話、ページャ、ラジオ、補聴器、ヘッドセット、バーコードスキャナ、デジタルカメラなどのエレクトロニクスデバイスは、音響変換器（例えば、ベル、スピーカ、マイクロホン、ブザー、ラウドスピーカなど）の上に配置された小さな開口部を有するエンクロージャで設計されており、音響透過を可能にする。音響カバーなどの保護音響ベント構造は、変換器をダスト及び水の侵入による損傷から保護するために開口部の上に配置される。

公知の保護音響カバーとしては、非多孔質膜及び延伸ＰＴＦＥ（ｅＰＴＦＥ）などの微孔質膜が挙げられる。保護音響カバーは米国特許第６，５１２，８３４号明細書及び米国特許第５，８２８，０１２号明細書にも記載されている。

音響保護カバーのためのメンブレンは、音を十分に伝達しながら、水又はダストなどの外来汚染物質などの侵入からエンクロージャを保護することができなければならない。音響ベント構造試験の多くの面について試験プロトコルが存在するが、特定の範囲の周波数にわたる、特に高い周波数での音響ベント構造に対して高スループット試験を実施するための改良された装置及び方法が必要とされている。

音響デバイス用の幾つかの試験装置は以下の参考文献に開示されている。例えば、米国特許出願公開第２００８／３０４６７４号明細書は、聴覚デバイスを試験マイクロホンに接続する聴覚デバイス試験アダプタを開示している。同様に、米国特許第８，１９４，８７０号明細書は、オープンフィット型補聴器の周波数応答音測定のためのシステム及び方法を開示している。米国特許第４，０３８，５００号明細書は、イヤホンに周波数応答試験を実行するのに使用するためのマイクロホンカプラを開示している。米国特許第３，８７６，０３５号明細書は補聴器などのための試験装置を開示している。また、米国特許第２，５３０，３８３号明細書は、試験対象のマイクロホンを音響エネルギー源に結合する音響カプラなどによるマイクロホンを開示している。しかしながら、上述の刊行物は、音響ベント構造に対して高スループット試験を実施するための装置又は方法を記載していない。

簡単な要旨
幾つかの実施形態によれば、本開示は、保護音響カバー又はマイクロホンカバー、メンブレンなどを試験するなど、音響ベント構造の高スループット品質管理試験のための試験装置を提供する。１つの実施形態において、ベント構造は少なくとも１つのメンブレンを含む。幾つかの実施形態は、第一の要素及び第二の要素を含む音響ベント構造の音響挿入損失を測定するための近距離場試験装置を含む。幾つかの実施形態において、音響挿入損失の代わりに又はそれに加えて音響位相は測定されうる。第二の要素は第一の要素に取り外し可能に接続可能であり、第一の要素及び第二の要素が接続されると、第一の要素及び第二の要素は少なくとも１つの閉音響チャンバを画定する。第一の要素は少なくとも１つの音響キャビティ、１つ以上の第一の位置合わせ機構、及び、少なくとも１つの音響キャビティのそれぞれの中で音を生成することができる少なくとも１つの音源を有する。第二の要素は、１つ以上の第一の位置合わせ機構と接続するように構成された１つ以上の第二の位置合わせ機構、音響信号を検出するように構成された複数のマイクロホン、少なくとも１つの閉音響チャンバのうちの１つと複数のマイクロホンのうちの１つとの間で音響チャンネルを各々画定する複数のポート、及び、複数のマイクロホンのうちの少なくとも１つの上に配置される複数の音響ベント構造のための１つ以上のサンプルホルダを有する。第二の要素が第一の要素と接続されると、少なくとも１つの音響キャビティの各キャビティは複数のポートのうちのそれぞれのポートと位置合わせされる。

幾つかの実施形態によれば、音源は、１０Ｈｚ〜３０ｋＨｚの範囲、例えば１０Ｈｚ〜２０ｋＨｚ、２０Ｈｚ〜２０ｋＨｚの範囲、１００Ｈｚ〜２０ｋＨｚの範囲又は１００Ｈｚ〜１０ｋＨｚの範囲のうちの幾つか又はすべてを通して、少なくとも１つの音響キャビティのそれぞれの中で音を生成することができる。１つの実施形態において、試験装置は、測定がより困難になる傾向がある１０ｋＨｚ超のより高い周波数を試験するのに特に有用である。複数のサンプルホルダは、貫通する複数のポートを含む少なくとも１つのプレートを含むことができ、ここで、複数のマイクロホンは、閉音響チャンバとは反対側のプレートの第一の側に配置され、そして閉音響チャンバに対面しているプレートの第二の側は、複数の音響ベント構造を受容するように構成されている。幾つかの実施形態によれば、少なくとも１つのプレートは第二の要素から取り外し可能である（すなわち、サンプルホルダからマイクロホンを取り外す又は交換するために）。幾つかの実施形態によれば、複数のマイクロホンの各マイクロホンはＭＥＭＳ（マイクロ電気機械システム）マイクロホンである。複数のＭＥＭＳマイクロホンは音響挿入損失又は音響位相を測定するために平面アレイに配列することができ、また、１つ以上の基準（reference）マイクロホンを含むこともできる。基準マイクロホンもＭＥＭＳマイクロホンであってよい。

幾つかの実施形態によれば、音響キャビティは受動減衰材料で少なくとも部分的に充填されている。受動減衰材料は、発泡合成樹脂、フェルト、不織布、合成樹脂繊維及び鉱物繊維を含む群から選ぶことができる。幾つかの特定の実施形態において、受動減衰材料はフィブリル化フォームである。

幾つかの実施形態によれば、第二の要素は、０．１ｍｍの公差内で第一の要素と反復可能に位置合わせすることができる。バッキングキャビティは、少なくとも１つの閉音響キャビティとは反対側のサンプルホルダの側に配置することができ、バッキングキャビティは音響減衰材料を含む。

図面の簡単な説明
本開示は、添付の非限定的な図面を考慮してよりよく理解されるであろう。

図１は、幾つかの実施形態による、高スループット音響試験装置の例を側断面図及び開位置で示す。

図２は図１の高スループット音響試験装置を閉位置で示す。

図３は、幾つかの実施形態による、複数の音響カバー試験サンプルを保持するための第一のサンプルホルダの一例を斜視図で示し、例示のホルダのマイクロホン側を示す。

図４は図３の第一のサンプルホルダを、例示のホルダのサンプル側を示している斜視図で示す。

図５は、幾つかの実施形態による、図３及び図４の例示のサンプルホルダと同様の例示のサンプルホルダのサンプル側に配置されている音響カバー試験サンプルの例を示す。

図６は、幾つかの実施形態による、例示のサンプルホルダの代替的な実施形態上に配置されている代替的な音響カバー試験サンプルの例を示す。

図７は、実施形態による、音響チャンバを有する第二の高スループット音響試験装置の例を側断面図で閉位置にて示す。

図８は、図１、２及び７に示す音響試験装置と同様の装置を使用して音響ベント構造の高スループット試験を実施するための例示のシステムを示す。

図９は、図１，７及び８に示すとおりの試験装置を利用するための例示の方法を示す。

図１０は、図１、７及び８に示す装置と同様の試験装置における音響ポート間の音響損失の変動性を示すグラフ表示を示す。

以下は様々な変更形態及び代替形態に適しているが、特定の実施形態は例として図面に示されており、そして以下に詳細に説明されている。しかしながら、その意図は特許請求の範囲を記載された特定の実施形態に限定することではない。逆に、この記載は、そのすべての変更形態、均等形態及び代替形態を網羅することを意図している。

詳細な説明
本明細書に記載の様々な実施形態は、限定するわけではないが、音響保護カバー又は関連用途に使用される膜などの、音響ベント構造の高スループット試験のための試験装置及び方法を対象とする。音響ベント構造のための高スループット試験装置は、音響ベント構造の試験サンプルに、ある範囲の周波数及び／又はある範囲の振幅にわたって音響信号を受けさせ、短時間で試験サンプルにわたる挿入損失を検出する能力を有する。挿入損失を検出することは、音響ベント構造を通過する試験音響信号を検出することを含む。試験音響信号は、試験音響信号を所定のベースライン音響信号と比較して挿入損失、すなわち音圧又は音圧レベルの損失（ＳＰＬ損失）を検出及び／又は定量化するために、又は、幾つかの実施形態では、音響位相の変化を検出するために、コンピュータなどによって処理することができる。

本明細書に開示される装置及びシステムは、音響ベント構造及び保護層の広範囲の音響パラメータを試験するために使用されうる。例えば、測定することができる幾つかの追加の音響品質測定基準としては、限定するわけではないが、全歪み、全高調波歪み、相互変調歪み、差周波歪み、音響ラブ、音響バズ、知覚音響ラブ、知覚音響バズ又はシグナル/ノイズ比が挙げられる。全歪みは、すべての選択された又は評価された高調波の出力和によって特徴付けることができる。全高調波歪み（ＴＨＤ）は所与の基本励起信号についての高調波関連歪みによって影響される百分率又はｄＢ値などによる量として特徴付けることができ、場合によっては１０次高調波より低い高調波のみを含むことができる。全高調波歪み＋ノイズ（ＴＨＤ＋ノイズ）の値は、１つ以上の非高調波関連信号をさらに含む全高調波歪みとして特徴付けることができる。ラブ及びバズは、全高調波歪みと同様に特徴付けることができ、例えば、フロア値、典型的には１０次高調波を超える高調波、そしてまた典型的には３５次未満の高調波のみを含む、所与の基本励起信号についての高調波関連歪みに影響される百分率又はｄＢ値として特徴付けることができる。

本明細書に開示される方法によって得られた音響信号の分析は、様々な音響分析アルゴリズムによって実行することができる。例えば、高速フーリエ変換（ＦＦＴ）アルゴリズムなどのフーリエ変換ベースの分析アルゴリズムを使用して、典型的な信号チャネル応答スペクトルを評価して、マイクロホン内のバックグラウンド又はベースライン音圧をモニターすることができる。伝達関数を適用して、音響信号の大きさ、位相、歪み、コヒーレンス及び関連パラメータについて周波数応答分析を実行することができる。リアルタイム解析アルゴリズムは、オクターブ及びバンド解析機能も提供しながら周波数応答解析を可能にする。１つの特定の例において、ＦＦＴベースのＨＡＲＭＯＮＩＣＴＲＡＫアルゴリズム（Ｌｉｓｔｅｎ，Ｉｎｃ．）を使用して、掃引刺激周波数又は同様の励起に基づく伝達関数アルゴリズムと同様の分析結果を得ることができる。

図１は、幾つかの実施形態による、高スループット音響試験装置１００を側断面図及び開位置１００ａで示す。試験装置１００は装置の使用中に一緒に組み立てられるように構成されている第一の要素１０２及び第二の要素１３０を含む。１つの実施形態において、第一の要素１０２はベースプレートであってよく、第二のプレートは試験プレートであってよい。試験装置１００は音響試験サンプルの試験の間に音響試験サンプル（図示せず）を挿入又は除去するために繰り返し分解されそして組み立てられることができる。これにより、第一の要素１０２と第二の要素１３０とを取り外し可能に接続することが可能になる。

第一の要素１０２は音響キャビティ１０６を画定する第一の基材１０４を含み、音響キャビティ１０６は第一の要素１０２内の空隙１１０によって画定される。第一の基材１０４は、プラスチック又は金属などの任意の適切な構造材料であることができ、好ましくは音の伝播を妨げる材料である。第一の要素１０２はまた、ポスト、ピン、穴又は第一の要素１０２を第二の要素１３０と反復可能に位置合わせすることを可能にする他の適切な機構などの位置合わせ機構１２０である。

音響キャビティ１０６は音響源１１４に隣接して配置されており、音響源は音響キャビティ１０６に向けて音響エネルギーを生成するためのいかな適切なデバイスであってもよい。好ましくは、音響源１１４は指向性音を生成することができる、スピーカ又は他の適切なオーディオトランスデューサ１１６を含む。音響源１１４は、例えばトランスデューサ１１６を音響キャビティの方に向けることにより、音響エネルギーを音響キャビティ１０６に向けることができる。無指向性音源又はある距離にわたって音響エネルギーを向ける音源は、音響キャビティ１０６内で反復可能な音響信号を生成するかぎり、代わりに使用されうることを理解されたい。

試験の目的のために、音源は、１０Ｈｚ〜３０ｋＨｚの周波数範囲にわたる、例えば１０Ｈｚ〜２０ｋＨｚの周波数範囲にわたる１ｄＢ以内での試験間の再現性を生成することができる。音源特性は１ｄＢ以内の圧均等化が同周波数範囲で達成できるようにすべきである。音源はシグナル/ノイズ比が２０ｄＢ以上になるような音圧レベルで駆動される。

第一の要素１０２はまた、音響チャンバを形成するために、音響キャビティ１０６を第二の要素１３０に対してシールするために第一の要素１０２と第二の要素１３０との間に配置されたＯリング又は他の同等のシール部材などのシール機構１２２を含むことができる。別の実施形態において、第一の要素及び第二の要素１０２，１３０は、さらなるシール機構なしに一緒にしっかりとシールすることができる。

幾つかの実施形態によれば、音響キャビティ１０６はまた、受動減衰材料１０８も含むことができる。受動減衰材料は、音響キャビティ１０６を画定する空隙１１０を実質的に充填することができ、すなわち、音波が音響源１１４から伝播することを可能にする音響源クリアランス１１８及び音波が試験サンプルを通って伝播することを可能にする試験サンプルクリアランス１１２を提供することができる。好ましくは、音響源クリアランス１１８は、２ｍｍ程度、又は、０．１〜１０ｍｍの範囲内である。試験サンプルクリアランス１１２は、約０．５ｍｍであることができるが、０．１〜３ｍｍの範囲を含みうる。受動減衰材料１０８は、発泡合成樹脂、フェルト、不織布、合成樹脂繊維及び鉱物繊維からなる群より選択することができる。幾つかの特定の実施形態において、受動減衰材料１０８はフィブリル化フォーム、例えばポリプロピレンのフィブリル化フォームである。音響キャビティ１０６のサイズは、近接場モードで動作するようにつり合いが取れている。例えば、音響キャビティ１０６は、第一の要素及び第二の要素が組み立てられたときに、最低周波数試験距離（すなわち、最短波長での距離）の約１波長からである、音響源１１４とサンプルホルダ１３６との間の合計深さを有することができる。例として、使用に適した周波数は、１０Ｈｚ〜３０ｋＨｚ、例えば１０Ｈｚ〜２０ｋＨｚを含みうる。最高周波数の空気中の音は１７ｍｍ未満の波長を有し、これは受動減衰材料１０８の存在又は特定の材料に応じて変化する。音響源１１４は信号調整装置（図示せず）又は増幅音響信号を供給するための他の適切な信号源への電気接続１２４を含むことができる。

幾つかの実施形態によれば、第二の要素１３０は、第一の要素１０２と反復可能に係合するように構成された第二の基材１３２を含み、それは音響キャビティ１０６を完全に取り囲むように空隙１１０を覆うように構成されたサンプルホルダ１３６を保持することができる。幾つかの実施形態において、サンプルホルダ１３６の試験サンプル側１４４が第一の要素１０２の一部を横切って同一平面上にあって音響キャビティ１０６を囲むように、サンプルホルダ１３６を配置することができる。サンプルホルダ１３６はまた、あるいは代わりに、シーリング機構１２２にプレスし、音響キャビティ１０６をシールすることができる。第二の基材１３２は、第一の要素及び第二の要素１０２，１３０が互いに接続されるときにそれらを位置合わせするための第一の位置合わせ機構１２０と相互作用することができる第二の位置合わせ機構１５０を含むことができる。幾つかの実施形態において、第一の要素及び第二の要素１０２，１３０は０．１ｍｍ以下の公差範囲で位置合わせすることができる。

第二の要素１３０は、サンプルホルダ１３６の一部に隣接するバッキングキャビティ１３４をさらに含む。特に、バッキングキャビティ１３４は、サンプルホルダ１３６のマイクロホン側１４６上に１つ以上のマイクロホン１４０を収容するように構成されている。本明細書にて記載されるように、マイクロホン１４０は、サンプルの試験及び装填における再現性のために平面アレイに配置することができる。マイクロホン側１４６は試験サンプル側１４４の反対側にあり、そして第一の要素及び第二の要素１０２，１３０が組み立てられたときに音響キャビティ１０６とは反対側にある。バッキングキャビティ１３４は、１つ以上のマイクロホン１４０を収容するのに十分な深さであり、１つ以上のマイクロホン１４０用の制御コード及び電源コードを収容するための導管（図示せず）に対して開口することができる。バッキングキャビティ１３４はバッキング材料１４８を含み、前記材料は、例えば、ポリウレタンフォーム又は同様の吸音性材料を含むゴム又はポリマーフォームなどの任意の適切な吸音性材料を含むことができる。音響源１１４及びマイクロホン１４０の両方は、内部可聴ノイズが試験周波数範囲にわたって平均された外部可聴ノイズよりも１０ｄＢ小さいように、ノイズ除去特性を有する構造に囲まれている。

サンプルホルダ１３６は、一般に、第二の要素１３０に固定されており、第二の要素が第一の要素に取り付けられ又は第一の要素から取り外されるときに第一の要素１０２に係合してそして分離するように構成されており、また、サンプルホルダ１３６は第二の要素１３０から取り外し可能であってもよい。例えば、サンプルホルダ１３６は、第二の基材１３２の１つ以上の機構と、例えばバッキングキャビティ１３４と位置合わせされるようなサイズ及び／又は形状であることができ、スクリュー、ボルト、ピン、クリップ又は同等のコネクタなどのコネクタによって、第二の要素１３０に取り外し可能に取り付けることができる。サンプルホルダ１３６は、例えば１つ以上のマイクロホン１４０を交換するために取り外すことができる。

サンプルホルダ１３６は、第二の要素１３０が第一の要素１０２と組み立てられるときにサンプルホルダが音響キャビティ１０６と位置合わせされて繰り返し配置されるように、第二の要素１３０と結合するように構成される。サンプルホルダ１３６はサンプルホルダ１３６において貫通孔を画定する複数のポート１３８を含む。ポート１３８は、直径１ｍｍ程度であることができるが、直径０．２〜３．０ｍｍの範囲であることができる。ポート１３８は、サンプルホルダ１３６の一方の側で試験サンプル側１４４と接続され、マイクロホン側１４６で１つ以上のマイクロホン１４０と接続され、それにより、ポート１３８のそれぞれを通過する音は１つ以上のマイクロホン１４０のそれぞれに支配的に拾われる。様々な実施形態において、サンプルホルダ１３６は実質的に平坦な試験サンプル表面１４４を備え、前記試験サンプル表面は、第一の要素１０２に対して（すなわち、シーリング機構１２２によって）シーリングすることができ、かつ、その上に接着され又はさもなければ固定された試験サンプルを保持することができる。

各ポート１３８は、サンプルホルダ１３６の試験サンプル位置１４２に連携されている。幾つかの実施形態において、サンプルホルダ１３６の試験サンプル面１４４は、滑らかなポリマー表面又はポリマーコート化表面、例えば、ポリイミドコート化表面又は他の同等のコーティングであることができる。好ましくは、試験サンプル面１４４は滑らかでありそして接着試験サンプルに付着しそしてそれから完全に剥離することができる。幾つかの代替実施形態において、試験サンプル面１４４はサンプルホルダ１３６の構造部分に適用されて固定された滑らかなポリマー又はポリマーコート化層で形成することができる。サンプルホルダ１３６は硬質ポリマー又は金属などの任意の適切な構造材料から実質的に形成されうる。ポート１３８はサンプルホルダ１３６の全厚さにわたって形成され、各マイクロホン１４０をそれぞれの試験サンプル位置１４２に接続する。幾つかの実施形態において、試験サンプル位置１４２は試験サンプル面１４４上の位置を表し、ここで、試験サンプル、例えば音響カバーのサンプルがポート１３８を各々完全に覆うように固定されうる。他の実施形態において、試験サンプル位置１４２は、試験サンプルを試験サンプル面１４４に固定することをさらに可能にすることができる表面機構（図示せず）を指定することができる。

図２は、図１の高スループット音響試験装置１００を閉位置１００ｂで示す。完全閉位置１００ｂにおいて、第二の要素１３０は第一の要素１０２と完全に接続され、第一及び第二の位置合わせ機構１２０，１５０が完全に係合している。試験サンプル面１４４は、第一の要素１０２の基材１０４と同一面上にある。音響キャビティ１０６は、空隙１１０、音響源１１４及びサンプルホルダ１３６の試験サンプル面１４４の間に完全に囲まれている。

図３は、図１及び図２のアセンブリ１００に示されるような第一のサンプルホルダ１３６の例を斜視図で示し、サンプルホルダ１３６のマイクロホン側１４６を示している。サンプルホルダ１３６は、複数のマイクロホン３１０を支持するバッキング層３０２、及び、このマイクロホンの反対側のバッキング層の側に設けられたサンプル受容層３０４を含む。幾つかの実施形態によれば、サンプル受容層３０４は、音響ベント構造の試験サンプルを受容することができそして完全に解放することができる滑らかなポリマー又はコート化層である。例えば、上記のように、サンプル受容層３０４は、接着性試験サンプルを容易に受容しそして完全にシールし、そして剥離したときに試験サンプルを受容層から完全に解放させるポリイミド又はポリイミドコーティングを含むことができる。サンプルホルダ３０６は、バッキング層３０２及びサンプル受容層３０４を一緒に保持するための複数のコネクタ３０６を含むことができ、また、サンプルホルダを図１又は図７のアセンブリ１００，７００（下記）などの試験アセンブリに取り付けるための接続機構３０８を含むことができる。接続機構３０８は、ボルト、スクリュー、ピン、磁気コネクタ、スナップフィットコネクタ又は同様のものなどの任意の適切なコネクタを含むことができる。

図４は、図３の第一のサンプルホルダ１３６を斜視図にて示し、例のホルダの試験サンプル側１４４を示している。複数の音響ポート３１６を見ることができ、各音響ポートはサンプルホルダ１３６を介して接続して、それぞれのマイクロホン３１０と接続している。各音響ポート３１６はそれぞれの試験サンプル位置３１２と関連付けられる。サンプル受容層３０４が、接着性試験サンプルを直接的に受容するために滑らかなコート化層である場合に、試験サンプル位置３１２は、各音響ポート３１６を包囲するサンプル受容層の領域を含むことができ、これは試験サンプルを受容するためにラベル付けされていても又はされなくてもよい。好ましくは、少なくとも１つの音響ポートは基準（reference）ポート３１４であり、これは構造的に試験ポートと同一であるが、音響試験サンプルを受容しない。基準ポート３１４は、例えばノイズキャンセリング、音源安定性補正及び／又は音響試験サンプルにより妨げられた音響ポートに関係する位相シフトとの比較のための妨げられていない基準ポートに関係する位相を得ることのために、音響サンプル試験の間の「開」構成の音響データを得るために使用される。別の実施形態において、サンプル受容層３０４は試験サンプルを受容するための表面機構（図示せず）をさらに含む。基準ポート３１４はまた、限定するわけではないが、全高調波歪み、シグナル／ノイズ比、ラブ及びバズを含む追加の音響品質測定基準における変化を特徴付けるためにも使用されうる。

図５は、幾つかの実施形態による、図３及び図４の例示的なホルダ１３６と同様の例示的なサンプルホルダ３３６のサンプル受容層３０４上に配置されている試験膜３２０を含む音響カバー試験サンプル３００の例を示す。図示の音響カバー試験サンプル３００はサンプル位置３１２に配置され、音響試験ポート３１６を跨ぎ、それにより、試験サンプル膜３２０は試験ポートを閉じる。

別の態様において、図６に示すように、サンプルホルダ６３６上に配置された試験膜６２０を含む音響カバー試験サンプル６００は提供される。サンプルホルダ６３６は、図３〜５を参照して上述したサンプルホルダ１３６と同様に、バッキング層６０２及びサンプル受容層６０４を含む。音響試験ポート６１６は、サンプルホルダ６００を貫通し、バッキング層６０２上で測定マイクロホン６１０と接続していることを示されている。測定マイクロホン６１０の反対側及びサンプル受容層６０４上に、音響試験ポート６１６に隣接しているサンプル保持機構６１２が示されている。保持機構６１２は、例えば少なくとも１つの膜を含む、音響ベント構造を保持するための任意の適切な表面機構であることができる。幾つかの実施形態によれば、保持機構は、例えば、両面テープなどの接着要素、機械的コネクタ、インデント、位置合わせマーカーなどを含むことができる。図示の例において、保持機構６１２は、サンプル音響ベント構造６２０を受容するための隆起リングと、適所にシールするために構造上で保持機構６１２と接続することができるカバー６１４とを含む。

上述の装置の部品は、同時に評価することができる音響試験サンプルの数を増やすために繰り返し配置することができる。上述のサンプルホルダ（例えば、図１〜図４に示すサンプルホルダ１３６）の実施形態において、８つの音響ポート１１６はサンプルホルダに配置され、ほぼ等間隔に配置されている。しかしながら、本開示の教示から逸脱することなく、より多くの又はより少ない音響ポートを単一のサンプルホルダに配置することができることは理解されるであろう。特定の実施形態において、音響ポート１１６は、装置の最大試験周波数に基づいて、互いに１波長以下の範囲に配置される。

スループットを増加させるために、試験装置は複数の音響キャビティを第一の要素に、そして、対応する数のサンプルホルダを第二の要素に有することができる。音響キャビティの数は２〜１０であることができ、例えば３又は８であることができる。１つの例示の実施形態において、４つの音響キャビティは図７に示されるように使用されうる。高スループット音響試験装置７００は複数の音響チャンバ７００ａ〜７００ｄを有する。各音響チャンバ７００ａ〜７００ｄは図１に示される試験アセンブリ１００と同様の対応するアセンブリを有する。図７における類似の部品は図１の部品と同様に番号付けされており、１００の桁を７００で置き換えている（すなわち、音響源７１４は図１の音響源１１４に類似し、サンプルホルダ７３６はサンプルホルダ１３６に類似するなど）。各キャビティに対して別々の音源を使用することは有用であることができるが、複数のキャビティに対して１つの音源を使用することは本開示の範囲内である。

装置７００は、単一の第一の要素７０２内に配置され、単一の第二の要素７３０の複数のサンプルホルダ７３６と位置合わせされるように配列された複数の音響キャビティ７０６を有する。第一の要素７０２は複数の音響源７１４も含み、各音響源はそれぞれの音響キャビティ７０６を横切ってそれぞれのサンプルホルダ７３６に面している。第一の要素７０２の位置合わせ機構７２０は、一緒に第一の要素及び第二の要素７０２，７３０を反復して位置合わせするように構成されており、それぞれの音響キャビティ７０６をそれぞれのサンプルホルダ７３６と位置合わせする。図示されている試験装置７００は、４つの音響キャビティ７０６及び関連構成要素を有するアセンブリを例示しているが、高スループット試験装置は、４つより多い又は４つより少ない音響キャビティを有することができることが理解されるであろう。

図８は、図１又は７の装置などの試験装置を使用して音響ベント構造の高スループット試験を実行するための例示的システム８００を示す。システム８００は高スループット試験装置８４０を含み、前記装置は試験装置１００又は７００（図１及び図７）と同様の機構を有することができる。試験装置８４０は、少なくとも１つの音源８０２と、複数の測定マイクロホン８０４及び少なくとも１つの基準マイクロホン８０６を含む複数のマイクロホンとを含む。システム８００は、プロセッサ８１１及びメモリ８１２を含む管理構成要素８１０、ユーザに情報を表示するためのディスプレイ構成要素８２０、及び、ユーザからの指令を受容することができるインプット／アウトプット構成要素８３０をさらに含む。メモリ８１２は非一時的なものであり、音響源８０２を動作させるための、そして試験及び基準マイクロホン８０４，８０６からのオーディオ信号を検出するための指令を含む。システム８００は、開状態及び閉状態で動作することができる。開状態において、システム８００は、試験装置８４０内に試験サンプルが存在しない間に音響源８０２に音響信号を放出させる。試験条件において、システム８００は、試験装置８４０に音響試験サンプルが載置されている間に、音響源８０２に音響信号を放出させる。各試験サンプルの挿入損失は、試験状態の各マイクロホンについて得られた音響信号を開状態のそれぞれの同マイクロホンについて得られた音響信号から引くことによって得ることができる。

図９は、図１、７及び図８に示されるような装置１００又は７００などの試験装置を利用するための例示的なプロセス９００を示す。例示的なプロセス９００は、実施形態により、図８に示されているシステム８００と共に実行することができる。まず、サンプルホルダを試験装置の音響チャンバ内に開構成で包囲されることができる（動作９０２）。第一の音響信号は音響源によって生成され、複数の測定マイクロホン及び／又は基準マイクロホンを音響信号に開構成でさらすことができる（動作９０４）。次に、音響信号に対する各マイクロホンの音響応答に基づいて、試験マイクロホン及び／又は基準マイクロホンからベースライン音響応答を生成することができる（動作９０６）。

次に、１つ以上の試験サンプルをサンプルホルダ上のサンプル位置に配置し、試験構成で閉音響チャンバ内に包囲されうる（動作９０８）。試験サンプルによって覆われている間に、複数の測定マイクロホンを第二の音響信号にさらすことができる（動作９１０）。測定された各音響刺激から、対象の試験周波数範囲にわたる音圧レベルは６ｄＢを超えて逸脱すべきでない。次に、試験構成の各測定マイクロホンの応答に基づいて、試験音響応答を複数の測定マイクロホンについて生成することができる（動作９１２）。ベースライン音響応答に部分的に基づいて各マイクロホンについて許容可能な応答範囲を生成することができ（動作９１４）、基準マイクロホンによって補正することができる。１つの実施形態において、補正が使用される場合に、連続試験は１ｄＢ以下、例えば０．５ｄＢ以下又は０．３ｄＢ以下の偏差を有することができる。

次に、各々それぞれ試験サンプルについての音響挿入損失を計算するために、各マイクロホンについての試験音響応答を各マイクロホンについてのベースライン音響応答と比較することができる（動作９１６）。１つ以上の音響挿入損失が所定の閾値を超える場合（すなわち、１つ以上の試験応答が音響損失の適切な所定の閾値を超える場合）、システムは、試験が失敗したことをユーザに提示するための指示を生成することができる。この試験方法のスループットは、最も好ましくは、毎分３部以上である。基準マイクロホンが提供される場合に、基準マイクロホンによって得られる基準（reference）信号は、例えば、ノイズキャンセル、音源安定性補正及び／又は妨げられていない基準ポートに関連する位相シフトを得るために使用されうる。例えば、基準マイクロホンに関連する位相シフトを検出し、測定マイクロホンに関連する位相シフトと比較して、各それぞれの試験サンプルによって引き起こされる位相シフトを決定することができる。

例１：
「開」試験の例において、図７の装置と同様の音響試験装置は、図８のシステム８００と同様の試験システムを用いて「開」状態で構成し、ここで、２８個の利用可能なサンプル位置（及び４個の基準ポート）はカバーされていないままであった。試験装置を閉じて音響チャンバをシールし、システムを振幅９４ｄＢＳＰＬで１００Ｈｚ〜２０ｋＨｚの周波数範囲にわたって作動させた（２０μＰａを基準とする）。音響キャビティ及びサンプルホルダにおけるそれぞれのポートを横切る音響挿入損失を、周波数範囲にわたって測定した。

図１０は、上述した試験装置における音響ポート間の音響挿入損失の変動性を説明するグラフ表示を示す。試験サンプル及び基準マイクロホンを横切って測定された平均音響損失は、全周波数範囲にわたって予想されるようにほぼゼロであり、小さな変動性は高周波数（すなわち、１０ｋＨｚを超える）においてのみ検出された。データは、マイクロホンが広範囲の周波数について装置全体を横切る音圧レベルを一貫して検出したことを示している。

前述の説明において、説明の目的で、本発明の様々な実施形態の理解を提供するために多数の詳細を示した。しかしながら、特定の実施形態が、これらの詳細の幾つかなしで又はさらなる詳細を用いて実施されうることは当業者に明らかであろう。

幾つかの実施形態を開示してきたが、当業者であれば、実施形態の主旨から逸脱することなく、様々な変更形態、代替構造及び均等形態を使用できることを理解するであろう。さらに、本発明を不必要に曖昧にすることを避けるために、幾つかの周知の方法及び要素は記載されていない。したがって、上記の説明は、本発明の範囲又は特許請求の範囲を限定するものとして解釈されるべきではない。

ある範囲の値が提供されている場合に、文脈上明らかに別段の指示がない限り、その範囲の上限と下限の間の各中間的な値はまた、下限の単位の最小端数まで具体的に開示されていることも理解される。記載の範囲内の記載の値又は記載されていない中間的な値と、その記載された範囲内の他の記載の値又は中間的な値との間の任意のより狭い範囲は包含される。これらのより小さな範囲の上限及び下限は独立してその範囲に含まれるか又は除外されることができ、記載の範囲で具体的に除外された限度値を前提として、上限及び下限のいずれかが含まれ、両方とも含まれず、又は、両方とも含まれる各範囲も本発明に包含される。記載の範囲が限度値の一方又は両方を含む場合に、包含される限度値の一方又は両方を除外する範囲も包含される。

本明細書及び添付の特許請求の範囲で使用されるときに、単数形「ａ」、「ａｎ」及び「ｔｈｅ」は、文脈が明らかにそうでないことを指示しない限り、複数の言及を含む。したがって、例えば、「フィルタ」（a filter）の言及は複数のそのようなフィルタを包含し、「支持部材」の言及は１つ以上の支持部材及び当業者に知られているそれらの均等物などの言及を含む。

また、「含む（comprise）」、「含む(comprising)」、「含む(contains)」、「含む(containing)」、「含む(include)」、「含む(including)」及び「含む(includes)」という用語は、本明細書及び添付の特許請求の範囲で使用されるときに、記載の特徴、整数、構成要素又は工程の存在を指すが、それらは他の1つ以上の複数の特徴、整数、構成要素、工程、行為又は群の存在又は追加を排除するものではないことが意図される。

以下において、本開示の理解を容易にするためにさらなる例を記載する。

Ｅ１：
音響ベント構造の音響特性を測定するための試験装置であって、前記装置は：第一の要素及び第二の要素を含み、前記第二の要素は前記第一の要素に取り外し可能に接続可能であり、ここで、前記第一の要素及び第二の要素は、前記第一の要素と第二の要素が接続されたときに、少なくとも１つの閉音響チャンバを画定しており、ここで、前記第一の要素は少なくとも１つの音響キャビティ、１つ以上の第一の位置合わせ機構及び前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で音を生成することができる少なくとも１つの音源を含み、前記第二の要素は、前記１つ以上の第一の位置合わせ機構と接続するように構成された１つ以上の第二の位置合わせ機構、音響信号を検出するように構成された複数のマイクロホン、前記少なくとも１つの閉音響チャンバのうちの１つと、前記複数のマイクロホンのうちの１つとの間に音響チャンネルを各々画定している複数のポート、及び、前記複数のマイクロホンのうちの少なくとも１つの上に配置されている複数の音響ベント構造のための１つ以上のサンプルホルダを含み、前記第二の要素が前記第一の要素と接続されると、前記少なくとも１つの音響キャビティの各々は前記複数のポートと位置合わせされる、試験装置。

Ｅ２．
前記音源は１０Ｈｚ〜３０ｋＨｚの範囲、好ましくは１０Ｈｚ〜２０ｋＨｚの範囲の音を前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で生成することができる、例Ｅ１記載の装置。

Ｅ３．
前記音源は１０Ｈｚ〜２０ｋＨｚの範囲の音を前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で生成することができる、例Ｅ１記載の装置。

Ｅ４．
前記複数のサンプルホルダは少なくとも１つのプレートを含み、それを通る複数のポートを含み、前記複数のマイクロホンは、閉音響チャンバの反対側のプレートの第一の側に配置されており、そして前記閉音響チャンバに対面するプレートの第二の側は、前記複数の音響ベント構造を受容するように構成されている、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ５．
前記少なくとも１つのプレートは前記第二の要素から取り外し可能である、例Ｅ４記載の装置。

Ｅ６．
前記複数のマイクロホンの各マイクロホンはＭＥＭＳマイクロホンである、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ７．
前記音響キャビティは受動減衰材料で少なくとも部分的に充填されている、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ８．
前記受動減衰材料は発泡合成樹脂、フェルト、不織布、合成樹脂繊維及び鉱物繊維を含む群から選ばれる、例Ｅ７記載の装置。

Ｅ９．
前記受動減衰材料はフィブリル化フォームである、例Ｅ７記載の装置。

Ｅ１０．
前記第二の要素は０．１ｍｍの公差内で前記第一の要素と反復可能に位置合わせされうる、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ１１．
少なくとも１つの閉音響キャビティの反対側の前記サンプルホルダの側に配置されたバッキングキャビティをさらに含み、前記バッキングキャビティは音響減衰材料を含む、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ１２．
前記１つ以上のサンプルホルダは前記複数の音響ベント構造に接着するようになっている１つ以上の平らなプレートを含む、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ１３．
前記１つ以上のサンプルホルダは前記複数の音響ベント構造のうちの１つの音響ベント構造を受容するようにそれぞれ構成された複数の表面機構を含む、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ１４．
前記１つ以上の第一の位置合わせ機構はポストを含む、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ１５．
前記１つ以上の第二の位置合わせ機構は穴を含む、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ１６．
前記第一の要素と第二の要素とが接続されているときに、前記１つ以上のサンプルホルダと前記少なくとも１つの音源との間の距離は最高測定周波数の１波長未満である、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ１７．
前記少なくとも１つの閉音響チャンバは少なくとも４つの閉音響チャンバを含む、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ１８．
前記１つ以上のサンプルホルダはそれぞれ、閉音響チャンバに面するポリイミドコーティングを含む、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ１９．
前記複数のポートのうちのポートは、それぞれ前記少なくとも１つの閉音響チャンバのうちの１つの閉音響チャンバに対応する１つ以上の組のポートを含み、各組のポートは互いに１波長未満の間隔を開けて構成されており、前記１波長は最も高い測定周波数に対応している、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ２０．
前記複数のポートの各音響チャネル又は空隙は直径１ｍｍ以下である、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ２１．
前記第二の要素は少なくとも１つの基準マイクロホンをさらに含み、前記少なくとも１つの基準マイクロホンは前記複数のポートのうちの少なくとも１つの基準ポートと接続されており、そして前記1つ以上のサンプルホルダにより前記閉音響チャンバから分離されている、先行の例のいずれか１項記載の装置。

Ｅ２２．
複数の試験サンプルの音響パラメータの定量化方法であって、前記方法は第一の要素及び第二の要素を含む試験装置を利用すること、ここで、前記第二の要素は前記第一の要素に取り外し可能に接続可能であり、ここで、前記第一の要素及び第二の要素は、前記第一の要素と第二の要素とが接続されているときに、少なくとも１つの閉音響チャンバを画定し、前記第一の要素は少なくとも１つの音響キャビティ、及び、前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で音を生成することができる少なくとも１つの音源を含み、そして前記第二の要素は、音響信号を検出するように構成された複数の測定マイクロホン、前記少なくとも１つの閉音響チャンバのうちの１つと複数の測定マイクロホンのうちの１つとの間の音響チャネルをそれぞれ画定する複数のポート、及び、複数の測定マイクロホンのそれぞれ１つの上に配置される複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルのための１つ以上のサンプルホルダを含む；前記１つ以上のサンプルホルダ上のサンプル位置に前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルを配置すること、ここで、各試験サンプルは前記複数のポートのうちのそれぞれのポートをカバーし、そして前記閉音響チャンバ内に包囲されている；前記ポートが前記試験サンプルによってカバーされている間に、前記少なくとも１つの音源により前記複数の測定マイクロホンを音響信号にさらすこと；前記音響信号に対する各測定マイクロホンの応答に基づいて、前記複数の測定マイクロホンのうちの各測定マイクロホンについての試験音響応答を生成すること；及び、それぞれの測定マイクロホン各々についての試験音響応答に部分的に基づいて、前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することを含む、方法。

Ｅ２３．
各測定マイクロホンについての試験音響応答は試験音圧を含み、前記音響パラメータは音響挿入損失を含み、そして各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することは前記試験音圧を所定のベースライン音圧と比較することを含む、例Ｅ２２記載の方法。

Ｅ２４．
前記第二の要素は基準マイクロホンをさらに含み、前記基準マイクロホンは前記複数のポートのうちの基準ポートと接続され、そして試験サンプルが介在することのない前記基準ポートによって閉音響チャンバと接続されており、各測定マイクロホンについての試験音響応答は試験音響位相を含み、前記音響パラメータは位相シフトを含み、そして各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することは、基準マイクロホンについての基準音響応答を生成すること、及び、それぞれの測定マイクロホンの各々についての試験音響位相を前記基準音響応答と比較することによって、前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルについての位相シフトを定量化することを含む、先行の例のいずれか１項記載の方法。

Ｅ２５．
前記複数の測定マイクロホンを前記音響信号にさらすことは、前記複数の測定マイクロホンを１０Ｈｚ〜３０ｋＨｚの範囲の一連の周波数にさらすことを含む、先行の例のいずれか１項記載の方法。

Ｅ２６．
前記第二の要素は基準マイクロホンをさらに含み、前記基準マイクロホンは前記複数のポートのうちの基準ポートと接続され、そして試験サンプルが介在することのない前記基準ポートによって閉音響チャンバと接続されており、各測定マイクロホンについての試験音響応答は、試験全歪み、試験全高調波歪み、試験相互変調歪み、試験差周波数歪み、試験全高調波歪み＋ノイズ、試験音響ラブ、試験音響バズ又は試験音響シグナル／ノイズ比のうちの１つを含む試験音響パラメータを含み、各試験サンプルについて音響パラメータを定量化することは、前記基準マイクロホンについての基準音響応答を生成すること、及び、それぞれの測定マイクロホンの各々についての試験音響応答を前記基準音響応答と比較することによって、前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することを含む、先行の例のいずれか１項記載の方法。

Ｅ２７．
前記音響パラメータは全歪み、全高調波歪み、相互変調歪み、差周波数歪み、全高調波歪み＋ノイズ、音響ラブ、音響バズ、知覚音響ラブ、知覚音響バズ、又は、シグナル／ノイズ比のうちの１つを含む、先行の例のいずれか１項記載の方法。
（態様）
（態様１）
音響ベント構造の音響特性を測定するための試験装置であって、前記装置は、
第一の要素及び第二の要素を含み、前記第二の要素は前記第一の要素に取り外し可能に接続可能であり、ここで、前記第一要素及び第二の要素は、前記第一の要素と第二の要素が接続されたときに、少なくとも１つの閉音響チャンバを画定しており、ここで、
前記第一の要素は少なくとも１つの音響キャビティ、１つ以上の第一の位置合わせ機構及び前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で音を生成することができる少なくとも１つの音源を含み、
前記第二の要素は、前記１つ以上の第一の位置合わせ機構と接続するように構成された１つ以上の第二の位置合わせ機構、音響信号を検出するように構成された複数のマイクロホン、前記少なくとも１つの閉音響チャンバのうちの１つと、前記複数のマイクロホンのうちの１つとの間に音響チャンネルを各々画定している複数のポート、及び、前記複数のマイクロホンのうちの少なくとも１つの上に配置される複数の音響ベント構造のための１つ以上のサンプルホルダを含み、
前記第二の要素が前記第一の要素と接続されると、前記少なくとも１つの音響キャビティの各々は前記複数のポートと位置合わせされる、試験装置。
（態様２）
前記音源は１０Ｈｚ〜３０ｋＨｚの範囲の音を前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で生成することができる、態様１記載の装置。
（態様３）
前記音源は１０Ｈｚ〜２０ｋＨｚの範囲の音を前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で生成することができる、態様１記載の装置。
（態様４）
前記複数のサンプルホルダは少なくとも１つのプレートを含み、それを通る複数のポートを含み、
前記複数のマイクロホンは、閉音響チャンバの反対側のプレートの第一の側に配置されており、そして
前記閉音響チャンバに対面するプレートの第二の側は、前記複数の音響ベント構造を受容するように構成されている、態様１〜３のいずれか１項記載の装置。
（態様５）
前記少なくとも１つのプレートは前記第二の要素から取り外し可能である、態様４記載の装置。
（態様６）
前記複数のマイクロホンの各マイクロホンはＭＥＭＳマイクロホンである、態様１〜５のいずれか１項記載の装置。
（態様７）
前記音響キャビティは受動減衰材料で少なくとも部分的に充填されている、態様１〜６のいずれか１項記載の装置。
（態様８）
前記受動減衰材料は発泡合成樹脂、フェルト、不織布、合成樹脂繊維及び鉱物繊維を含む群から選ばれる、態様７記載の装置。
（態様９）
前記受動減衰材料はフィブリル化フォームである、態様７記載の装置。
（態様１０）
前記第二の要素は０．１ｍｍの公差内で前記第一の要素と反復可能に位置合わせされうる、態様１〜９のいずれか１項記載の装置。
（態様１１）
少なくとも１つの閉音響キャビティの反対側の前記サンプルホルダの側に配置されたバッキングキャビティをさらに含み、前記バッキングキャビティは音響減衰材料を含む、態様１〜１０のいずれか１項記載の装置。
（態様１２）
前記１つ以上のサンプルホルダは前記複数の音響ベント構造に接着するようになっている１つ以上の平らなプレートを含む、態様１〜１１のいずれか１項記載の装置。
（態様１３）
前記１つ以上のサンプルホルダは前記複数の音響ベント構造のうちの１つの音響ベント構造を受容するようにそれぞれ構成された複数の表面機構を含む、態様１〜１１のいずれか１項記載の装置。
（態様１４）
前記１つ以上の第一の位置合わせ機構はポストを含む、態様１〜１３のいずれか１項記載の装置。
（態様１５）
前記１つ以上の第二の位置合わせ機構は穴を含む、態様１〜１４のいずれか１項記載の装置。
（態様１６）
前記第一の要素と第二の要素とが接続されているときに、前記１つ以上のサンプルホルダと前記少なくとも１つの音源との間の距離は最高測定周波数の１波長未満である、態様１〜１５のいずれか１項記載の装置。
（態様１７）
前記少なくとも１つの閉音響チャンバは少なくとも４つの閉音響チャンバを含む、態様１〜１６のいずれか１項記載の装置。
（態様１８）
前記１つ以上のサンプルホルダはそれぞれ、閉音響チャンバに面するポリイミドコーティングを含む、態様１〜１７のいずれか１項記載の装置。
（態様１９）
前記複数のポートのうちのポートは、それぞれ前記少なくとも１つの閉音響チャンバのうちの１つの閉音響チャンバに対応する１つ以上の組のポートを含み、各組のポートは互いに１波長未満の間隔を開けて構成されており、前記１波長は最高測定周波数に対応している、態様１〜１８のいずれか１項記載の装置。
（態様２０）
前記複数のポートの各音響チャネルは直径１ｍｍ以下である、態様１〜１９のいずれか１項記載の装置。
（態様２１）
前記第二の要素は少なくとも１つの基準マイクロホンをさらに含み、前記少なくとも１つの基準マイクロホンは前記複数のポートのうちの少なくとも１つの基準ポートと接続されており、そして前記1つ以上のサンプルホルダにより前記閉音響チャンバから分離されている、態様１〜２０のいずれか１項記載の装置。
（態様２２）
複数の試験サンプルの音響パラメータの定量化方法であって、前記方法は、
第一の要素及び第二の要素を含む試験装置を利用すること、ここで、前記第二の要素は前記第一の要素に取り外し可能に接続可能であり、ここで、
前記第一の要素及び第二の要素は、前記第一の要素と第二の要素とが接続されているときに、少なくとも１つの閉音響チャンバを画定し、
前記第一の要素は少なくとも１つの音響キャビティ、及び、前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で音を生成することができる少なくとも１つの音源を含み、そして
前記第二の要素は、音響信号を検出するように構成された複数の測定マイクロホン、前記少なくとも１つの閉音響チャンバのうちの１つと、前記複数の測定マイクロホンのうちの１つとの間の音響チャネルをそれぞれ画定する複数のポート、及び、前記複数の測定マイクロホンのそれぞれ１つの上に配置される複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルのための１つ以上のサンプルホルダを含む、
前記１つ以上のサンプルホルダ上のサンプル位置に前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルを配置すること、ここで、各試験サンプルは前記複数のポートのうちのそれぞれのポートをカバーし、そして前記閉音響チャンバ内に包囲されている、
前記ポートが前記試験サンプルによってカバーされている間に、前記少なくとも１つの音源により前記複数の測定マイクロホンを音響信号にさらすこと、
前記音響信号に対する各測定マイクロホンの応答に基づいて、前記複数の測定マイクロホンのうちの各測定マイクロホンについての試験音響応答を生成すること、及び、
それぞれの測定マイクロホン各々についての試験音響応答に部分的に基づいて、前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することを含む、方法。
（態様２３）
各測定マイクロホンについての試験音響応答は試験音圧を含み、
前記音響パラメータは音響挿入損失を含み、そして
各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することは前記試験音圧を所定のベースライン音圧と比較することを含む、態様２２記載の方法。
（態様２４）
前記第二の要素は基準マイクロホンをさらに含み、前記基準マイクロホンは前記複数のポートのうちの基準ポートと接続され、そして試験サンプルが介在することのない前記基準ポートによって閉音響チャンバと接続されており、
各測定マイクロホンについての試験音響応答は試験音響位相を含み、
前記音響パラメータは位相シフトを含み、そして
各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することは、
基準マイクロホンについての基準音響応答を生成すること、及び、
前記基準音響応答と比較することによって、前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルについての位相シフトを定量化することを含む、態様２２又は２３のいずれか１項記載の方法。
（態様２５）
前記第二の要素は基準マイクロホンをさらに含み、前記基準マイクロホンは前記複数のポートのうちの基準ポートと接続され、そして試験サンプルが介在することのない前記基準ポートによって閉音響チャンバと接続されており、
各測定マイクロホンについての試験音響応答は、試験全歪み、試験全高調波歪み、試験相互変調歪み、試験差周波数歪み、試験全高調波歪み＋ノイズ、試験音響ラブ、試験音響バズ又は試験音響シグナル／ノイズ比のうちの１つを含む試験音響パラメータを含み、そして
各試験サンプルについて音響パラメータを定量化することは、前記基準マイクロホンについての基準音響応答を生成すること、及び、
それぞれの測定マイクロホンの各々についての試験音響応答を前記基準音響応答と比較することによって、前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することを含む、態様２２〜２３のいずれか１項記載の方法。
（態様２６）
前記複数の測定マイクロホンを前記音響信号にさらすことは、前記複数の測定マイクロホンを１０Ｈｚ〜３０ｋＨｚの範囲の一連の周波数にさらすことを含む、態様２２〜２５のいずれか１項記載の方法。
（態様２７）
前記音響パラメータは全歪み、全高調波歪み、相互変調歪み、差周波数歪み、全高調波歪み＋ノイズ、音響ラブ、音響バズ、知覚音響ラブ、知覚音響バズ、又は、シグナル／ノイズ比のうちの１つを含む、態様２２〜２６のいずれか１項記載の方法。

Claims

音響ベント構造の音響特性を測定するための試験装置であって、前記装置は、
第一の要素及び第二の要素を含み、前記第二の要素は前記第一の要素に取り外し可能に接続可能であり、ここで、前記第一要素及び第二の要素は、前記第一の要素と第二の要素が接続されたときに、少なくとも１つの閉音響チャンバを画定しており、ここで、
前記第一の要素は少なくとも１つの音響キャビティ、１つ以上の第一の位置合わせ機構及び前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で音を生成することができる少なくとも１つの音源を含み、
前記第二の要素は、前記１つ以上の第一の位置合わせ機構と接続するように構成された１つ以上の第二の位置合わせ機構、音響信号を検出するように構成された複数のマイクロホン、前記少なくとも１つの閉音響チャンバのうちの１つと、前記複数のマイクロホンのうちの１つとの間に音響チャンネルを各々画定している複数のポート、及び、前記複数のマイクロホンのうちの少なくとも１つの上に配置される複数の音響ベント構造のための１つ以上のサンプルホルダを含み、
前記第二の要素が前記第一の要素と接続されると、前記少なくとも１つの音響キャビティの各々は前記複数のポートと位置合わせされる、試験装置。
前記音源は１０Ｈｚ〜３０ｋＨｚの範囲の音を前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で生成することができる、請求項１記載の装置。
前記音源は１０Ｈｚ〜２０ｋＨｚの範囲の音を前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で生成することができる、請求項１記載の装置。
前記複数のサンプルホルダは少なくとも１つのプレートを含み、それを通る複数のポートを含み、
前記複数のマイクロホンは、閉音響チャンバの反対側のプレートの第一の側に配置されており、そして
前記閉音響チャンバに対面するプレートの第二の側は、前記複数の音響ベント構造を受容するように構成されている、請求項１〜３のいずれか１項記載の装置。
前記少なくとも１つのプレートは前記第二の要素から取り外し可能である、請求項４記載の装置。
前記複数のマイクロホンの各マイクロホンはＭＥＭＳマイクロホンである、請求項１〜５のいずれか１項記載の装置。
前記音響キャビティは受動減衰材料で少なくとも部分的に充填されている、請求項１〜６のいずれか１項記載の装置。
前記受動減衰材料は発泡合成樹脂、フェルト、不織布、合成樹脂繊維及び鉱物繊維を含む群から選ばれる、請求項７記載の装置。
前記受動減衰材料はフィブリル化フォームである、請求項７記載の装置。
前記第二の要素は０．１ｍｍの公差内で前記第一の要素と反復可能に位置合わせされうる、請求項１〜９のいずれか１項記載の装置。
少なくとも１つの閉音響キャビティの反対側の前記サンプルホルダの側に配置されたバッキングキャビティをさらに含み、前記バッキングキャビティは音響減衰材料を含む、請求項１〜１０のいずれか１項記載の装置。
前記１つ以上のサンプルホルダは前記複数の音響ベント構造に接着するようになっている１つ以上の平らなプレートを含む、請求項１〜１１のいずれか１項記載の装置。
前記１つ以上のサンプルホルダは前記複数の音響ベント構造のうちの１つの音響ベント構造を受容するようにそれぞれ構成された複数の表面機構を含む、請求項１〜１１のいずれか１項記載の装置。
前記１つ以上の第一の位置合わせ機構はポストを含む、請求項１〜１３のいずれか１項記載の装置。
前記１つ以上の第二の位置合わせ機構は穴を含む、請求項１〜１４のいずれか１項記載の装置。
前記第一の要素と第二の要素とが接続されているときに、前記１つ以上のサンプルホルダと前記少なくとも１つの音源との間の距離は最高測定周波数の１波長未満である、請求項１〜１５のいずれか１項記載の装置。
前記少なくとも１つの閉音響チャンバは少なくとも４つの閉音響チャンバを含む、請求項１〜１６のいずれか１項記載の装置。
前記１つ以上のサンプルホルダはそれぞれ、閉音響チャンバに面するポリイミドコーティングを含む、請求項１〜１７のいずれか１項記載の装置。
前記複数のポートのうちのポートは、それぞれ前記少なくとも１つの閉音響チャンバのうちの１つの閉音響チャンバに対応する１つ以上の組のポートを含み、各組のポートは互いに１波長未満の間隔を開けて構成されており、前記１波長は最高測定周波数に対応している、請求項１〜１８のいずれか１項記載の装置。
前記複数のポートの各音響チャネルは直径１ｍｍ以下である、請求項１〜１９のいずれか１項記載の装置。
前記第二の要素は少なくとも１つの基準マイクロホンをさらに含み、前記少なくとも１つの基準マイクロホンは前記複数のポートのうちの少なくとも１つの基準ポートと接続されており、そして前記1つ以上のサンプルホルダにより前記閉音響チャンバから分離されている、請求項１〜２０のいずれか１項記載の装置。
複数の試験サンプルの音響パラメータの定量化方法であって、前記方法は、
第一の要素及び第二の要素を含む試験装置を利用すること、ここで、前記第二の要素は前記第一の要素に取り外し可能に接続可能であり、ここで、
前記第一の要素及び第二の要素は、前記第一の要素と第二の要素とが接続されているときに、少なくとも１つの閉音響チャンバを画定し、
前記第一の要素は少なくとも１つの音響キャビティ、及び、前記少なくとも１つの音響キャビティの各々の中で音を生成することができる少なくとも１つの音源を含み、そして
前記第二の要素は、音響信号を検出するように構成された複数の測定マイクロホン、前記少なくとも１つの閉音響チャンバのうちの１つと、前記複数の測定マイクロホンのうちの１つとの間の音響チャネルをそれぞれ画定する複数のポート、及び、前記複数の測定マイクロホンのそれぞれ１つの上に配置される複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルのための１つ以上のサンプルホルダを含む、
前記１つ以上のサンプルホルダ上のサンプル位置に前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルを配置すること、ここで、各試験サンプルは前記複数のポートのうちのそれぞれのポートをカバーし、そして前記閉音響チャンバ内に包囲されている、
前記ポートが前記試験サンプルによってカバーされている間に、前記少なくとも１つの音源により前記複数の測定マイクロホンを音響信号にさらすこと、
前記音響信号に対する各測定マイクロホンの応答に基づいて、前記複数の測定マイクロホンのうちの各測定マイクロホンについての試験音響応答を生成すること、及び、
それぞれの測定マイクロホン各々についての試験音響応答に部分的に基づいて、前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することを含む、方法。
各測定マイクロホンについての試験音響応答は試験音圧を含み、
前記音響パラメータは音響挿入損失を含み、そして
各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することは前記試験音圧を所定のベースライン音圧と比較することを含む、請求項２２記載の方法。
前記第二の要素は基準マイクロホンをさらに含み、前記基準マイクロホンは前記複数のポートのうちの基準ポートと接続され、そして試験サンプルが介在することのない前記基準ポートによって閉音響チャンバと接続されており、
各測定マイクロホンについての試験音響応答は試験音響位相を含み、
前記音響パラメータは位相シフトを含み、そして
各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することは、
基準マイクロホンについての基準音響応答を生成すること、及び、
それぞれの測定マイクロホンの各々についての試験音響位相を前記基準音響応答と比較することによって、前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルについての位相シフトを定量化することを含む、請求項２２又は２３のいずれか１項記載の方法。
前記第二の要素は基準マイクロホンをさらに含み、前記基準マイクロホンは前記複数のポートのうちの基準ポートと接続され、そして試験サンプルが介在することのない前記基準ポートによって閉音響チャンバと接続されており、
各測定マイクロホンについての試験音響応答は、試験全歪み、試験全高調波歪み、試験相互変調歪み、試験差周波数歪み、試験全高調波歪み＋ノイズ、試験音響ラブ、試験音響バズ又は試験音響シグナル／ノイズ比のうちの１つを含む試験音響パラメータを含み、そして
各試験サンプルについて音響パラメータを定量化することは、前記基準マイクロホンについての基準音響応答を生成すること、及び、
それぞれの測定マイクロホンの各々についての試験音響応答を前記基準音響応答と比較することによって、前記複数の試験サンプルのうちの各試験サンプルについての音響パラメータを定量化することを含む、請求項２２〜２３のいずれか１項記載の方法。
前記複数の測定マイクロホンを前記音響信号にさらすことは、前記複数の測定マイクロホンを１０Ｈｚ〜３０ｋＨｚの範囲の一連の周波数にさらすことを含む、請求項２２〜２５のいずれか１項記載の方法。
前記音響パラメータは全歪み、全高調波歪み、相互変調歪み、差周波数歪み、全高調波歪み＋ノイズ、音響ラブ、音響バズ、知覚音響ラブ、知覚音響バズ、又は、シグナル／ノイズ比のうちの１つを含む、請求項２２〜２６のいずれか１項記載の方法。