JP6794805B2 - 故障情報管理プログラム、起動試験方法及び並列処理装置 - Google Patents
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Description
(1)初期故障期:主に製造上の欠陥による故障で、故障率は時間の経過と共に減少する。
(2)偶発故障期:故障が時間の経過によらずほぼ一定になる。
(3)磨耗故障期:故障率は磨耗により時間の経過と共に増大する。
2 故障情報管理装置
3 電源制御装置
4 演算ユニット
4a OS
4b POST
4c 診断テーブル
21 1次データ記憶部
22 2次データ記憶部
23 搭載数記憶部
24 格納部
25 集計部
26 故障率算出部
31 電源制御部
41 BMC
42 CPU
42a CPU故障通知部
43 主記憶装置
44 PCIRC
45 HDDCtlr
46 HDD
47 故障率記憶部
50 コンピュータ
51 メインメモリ
52 CPU
53 LANインタフェース
54 HDD
55 スーパーIO
56 DVI
57 ODD
Claims (6)
- コンピュータに、
診断対象装置から受信した故障情報に基づいて前記診断対象装置の部位毎に計算した故障率を、時間情報及び部位と対応付けて実績情報として記憶し、
前記診断対象装置が起動される際に、前記実績情報と現在時刻を基に起動時の各部位の故障率を算出して前記診断対象装置に通知
する処理を実行させることを特徴とする故障情報管理プログラム。 - 前記起動時の故障率を算出する処理は、前記実績情報のうち直近の3つの故障率を基に算出することを特徴とする請求項1に記載の故障情報管理プログラム。
- 前記コンピュータに、
前記故障情報に含まれる故障発生時刻と故障発生部位に基づいて24時間あたりの故障率を部位毎に算出して前記実績情報として格納する処理
をさらに実行させることを特徴とする請求項1又は2に記載の故障情報管理プログラム。 - 前記コンピュータに、
前記起動時の故障率を通知された前記診断対象装置が該故障率に応じて行った起動時試験により検出した故障の情報を受信して記憶部に格納する処理
をさらに実行させ、
前記実績情報を算出する処理は、前記記憶部に格納された情報を前記故障情報として用いて前記実績情報を算出することを特徴とする請求項3に記載の故障情報管理プログラム。 - 診断対象装置と該診断対象装置の故障情報を管理する故障情報管理装置とを有するシステムによる起動試験方法において、
前記故障情報管理装置が、
診断対象装置から受信した故障情報に基づいて前記診断対象装置の部位毎に計算した故障率を、時間情報及び部位と対応付けて実績情報として記憶し、
前記診断対象装置が起動される際に、前記実績情報と現在時刻を基に起動時の各部位の故障率を算出して前記診断対象装置に通知し、
前記診断対象装置が、
通知された故障率に応じた起動時試験を行う
ことを特徴とする起動試験方法。 - 並列に演算を実行する複数の演算装置と該複数の演算装置の故障情報を管理する故障情報管理装置を有する並列処理装置において、
前記故障情報管理装置は、
演算装置から受信した故障情報に基づいて前記演算装置の部位毎に計算した故障率を、時間情報及び部位と対応付けて実績情報として記憶する記憶部と、
前記演算装置が起動される際に、前記実績情報と現在時刻を基に起動時の各部位の故障率を算出して前記演算装置に通知する算出部とを有し、
前記演算装置は、
通知された故障率に応じた起動時試験を行う試験部
を有することを特徴とする並列処理装置。
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