JP6766654B2 - substrate - Google Patents
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Description
本発明は、基板に関する。 The present invention relates to a substrate.
基板に電子部品をDIP方式ではんだ付けする方法が知られている。DIP方式の場合、図15に示すように、基板101のスルーホール102に電子部品103のリード104を挿し込むことにより基板101の第1面105側に電子部品103を搭載する。その後、図16に示すように、基板101の第2面106側から電子部品103のリード104にフラックス107を塗布する。フラックス107を塗布することで、リード104の表面の酸化物を除去し、はんだの表面張力を小さくする作用によりはんだの濡れ性を高めている。図17に示すように、電子部品103のリード104をはんだ槽108内のはんだ109に浸すことで、図18に示すように、はんだ109がスルーホール102に入り込む。はんだ槽108内のはんだ109は、噴流はんだである。はんだ109が基板101の第2面106側から第1面側105に向かってスルーホール102内を進む。
A method of soldering electronic components to a substrate by a DIP method is known. In the case of the DIP method, as shown in FIG. 15, the
図19に示すように、基板101と電子部品103との隙間からはんだ109が露出した際に、フラックス107の溶剤がはんだ109の熱により気化し、はんだ109の飛散が発生する場合がある。図19に示すように、基板101の第1面105上に飛散したはんだ109(以下、飛散はんだ109Aと表記する)が形成されている。フラックス107やはんだ109の量、はんだ109の温度等の影響によってはんだ109の飛散が発生するため、はんだ109の飛散を完全に防止することは困難である。基板101上における飛散はんだ109Aの形成箇所を目視で確認することが可能である場合、飛散はんだ109Aを基板101から取り除くことができる。そのため、飛散はんだ109Aによって電源とグランドとが接続される等の電子部品103がショートするような状態であっても、ショートの原因である飛散はんだ109Aを取り除くことが可能である。このように、基板101上の飛散はんだ109Aを目視することができる場合には、基板101の清掃が製造の途中で可能であるため、製造時における基板101の品質を保証できる。
As shown in FIG. 19, when the
図20に示すように、近年、メインボード201、電源基板202及びピラー203を備える電子基板(電子機器)200について、メインボード201及び電源基板202にピラー203をはんだ付けして、ピラー203によりメインボード201と電源基板202とを接続する構造が提案されている。メインボード201にはピラー203が表面実装技術(Surface Mount Technology、SMT)により実装され、電源基板202にはピラー203がDIP方式ではんだ付けされる。メインボード201とピラー203との間にはんだ204が形成され、電源基板202とピラー203との間にはんだ205が形成されている。メインボード201に電子部品210、211が設けられ、電源基板202に電子部品220が設けられている。メインボード201と電源基板202との間にボルスタープレート206が配置されている。ボルスタープレート206は、メインボード201や電源基板202の歪を抑制するために、メインボード201及び電源基板202に取り付けられる金属板である。ボルスタープレート206は、ネジ207によってメインボー
ド201に固定され、ネジ208によって電源基板202に固定されている。メインボード201とボルスタープレート206との間に絶縁シート209が設けられている。
As shown in FIG. 20, in recent years, with respect to an electronic board (electronic device) 200 including a
電源基板202にピラー203をDIP方式ではんだ付けする場合、図21に示すように、ピラー203の先端にフラックス230を塗布する。図22に示すように、ピラー203の先端をはんだ槽231内のはんだ205に浸す。はんだ槽231内のはんだ205は、噴流はんだである。図23に示すように、はんだ205が電源基板202のスルーホール221に入り込む。メインボード201と電源基板202との間の距離が短い場合や、メインボード201と電源基板202との間にボルスタープレート206が配置されている場合、電源基板202とピラー203との接続部分を目視で確認することが難しい。
When the
図24及び図25に示すように、電源基板202とピラー203との隙間からはんだ205が露出した際に、フラックス230の溶剤がはんだ205の熱により気化し、はんだ205の飛散が発生する場合がある。飛散したはんだ205(以下、飛散はんだ205Aと表記する)によってピラー203の周囲の電子部品220と電源用又はグランド用のピラー203とが接続され、電子部品220のショートの原因となる。そのため、製造時の電源基板202や電子部品220の品質を保証することが困難になり、実際に製品として電子基板200を組み立てた後に、電子基板200の電源を入れて電子基板200が正常に動作するかを確認する作業が発生する。飛散はんだ205Aによって電子部品220がショートしている場合に電子基板200の電源を入れてしまうと、電源基板202や電子部品220の故障に繋がる可能性がある。
As shown in FIGS. 24 and 25, when the
本願は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、基板にピラーをはんだ付けする際、ピラーの周囲へのはんだの飛散を抑制することを目的とする。 The present application has been made in view of the above problems, and an object of the present application is to suppress the scattering of solder around the pillars when soldering the pillars to the substrate.
本願の一観点によれば、第1基板と、前記第1基板を貫通するスルーホールと、一端に凸部を有し、かつ、前記凸部の周囲に凹部を有するピラーと、前記スルーホールと前記凸部とを接合するはんだと、を備え、前記スルーホールの第1内周面と前記凸部の第1外周面とが離間した状態で前記凸部の一部が前記スルーホール内に挿し込まれた状態にあり、前記凹部が前記スルーホールの外側に配置されている、基板が提供される。 According to one aspect of the present application, a first substrate, a through hole penetrating the first substrate, a pillar having a convex portion at one end and a concave portion around the convex portion, and the through hole. A part of the convex portion is inserted into the through hole with a solder for joining the convex portion and a state in which the first inner peripheral surface of the through hole and the first outer peripheral surface of the convex portion are separated from each other. A substrate is provided that is in a recessed state and the recess is located outside the through hole.
本願によれば、基板にピラーをはんだ付けする際、ピラーの周囲へのはんだの飛散を抑制することができる。 According to the present application, when the pillars are soldered to the substrate, it is possible to suppress the scattering of the solder around the pillars.
以下、図面を参照して、実施形態を詳細に説明する。以下の各実施形態の構成は例示であり、本発明は、各実施形態の構成に限定されない。 Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the drawings. The configuration of each of the following embodiments is an example, and the present invention is not limited to the configuration of each embodiment.
〈第1実施形態〉
第1実施形態について説明する。図1及び図2は、電子基板(電子機器)1の断面図である。電子基板1は、メインボート(マザーボード)2と、電源基板3と、メインボード2と電源基板3との間に配置された複数のピラー4とを備える。メインボード2は、例えば、複数の樹脂層によって形成されている。メインボード2は、上面(第1面)及び上面の反対側の下面(第2面)を有する。メインボード2の上面に電子部品11が実装されている。電子部品11は、例えば、CPU(Central Processing Unit)等のプロセッサで
ある。メインボード2の上面に半田ボール(図示せず)を設置し、電子部品11の回路面に形成された電極(図示せず)に半田ボールを接合することにより、電子部品11をメインボード2に実装してもよい。メインボード2の下面に複数の電子部品12がはんだ付けにより実装されている。電子部品12は、例えば、コンデンサ、抵抗器等である。電子基板1は、基板の一例である。
<First Embodiment>
The first embodiment will be described. 1 and 2 are cross-sectional views of an electronic substrate (electronic device) 1. The
表面実装技術により、複数のピラー4がメインボード2の下面に実装されている。メインボード2とピラー4との間にはんだ5が形成されている。メインボード2の内部に形成されたスルーホール(図示せず)及びはんだ5を介して、電子部品11がピラー4に電気的に接続されている。メインボード2のスルーホールは、メインボード2を貫通する孔と
、メインボード2を貫通する孔の側壁に形成された銅めっきとを有する。スルーホールは、貫通ビアとも呼ばれる。例えば、ドリル加工、レーザー又はドライエッチング等により、メインボード2に孔を形成し、例えば、無電解めっき法及び電気めっき法により、メインボード2の孔の側壁に銅めっきを形成する。ピラー4は、導電性を有する導体であり、例えば、銅(Cu)を用いて形成されている。
A plurality of
電源基板3は、メインボード2の下面から離れた位置に配置され、電子部品13を有する。電源基板3は、上面(第1面)及び上面の反対側の下面(第2面)を有する。電子部品13は、電源基板3の上面にはんだ付けにより実装されている。電源基板3の上面は、メインボード2の下面と向かい合っている。複数の電子部品13が、電源基板3に実装されてもよい。複数の電源装置14が、電源基板3の下面に実装されている。電源装置14は、例えば、DC/DCコンバータである。電源装置14は、電源基板3の上面に実装されてもよい。電子部品11と電源装置14とが電気的に接続されており、複数のピラー4を介して、電源装置14から電子部品11に電力(電源)が供給される。例えば、電源装置14は、外部電源から供給される電圧を、電子部品11用の電圧まで下げて、電子部品11に電力を供給する。
The
電源基板3は、複数の樹脂層によって形成された基材と、電源基板3の基材を貫通する複数のスルーホール31とを有する。スルーホール31は、電子基板3を貫通する孔と、電子基板3を貫通する孔の側壁に形成された銅めっきとを有する。スルーホール31は、貫通ビアとも呼ばれる。例えば、ドリル加工、レーザー又はドライエッチング等により、電源基板3に孔を形成し、例えば、無電解めっき法及び電気めっき法により、電源基板3の孔の側壁に銅めっきを形成する。ピラー4の一端(先端)が電源基板3のスルーホール31内に挿し込まれている。電源基板3にピラー4がDIP方式ではんだ付けされている。電源基板3のスルーホール31内にはんだ6が形成されている。ピラー4の他端(基端)にメインボード2がはんだ付けされている。電源基板3は、第1基板の一例である。メインボード2は、第2基板の一例である。
The
メインボード2と電源基板3との間にボルスタープレート7が配置されている。ボルスタープレート7は、メインボード2や電源基板3の歪を抑制するために、メインボード2及び電源基板3に取り付けられる金属板である。ボルスタープレート7は、ネジ21によってメインボード2に固定され、ネジ22によって電源基板3に固定されている。メインボード2とボルスタープレート7との間に絶縁シート23が設けられている。
A bolster
図3の(A)は、ピラー4の一例の外観図であって、ピラー4の側面を示している。図3の(B)は、ピラー4の一例の外観図であって、ピラー4の底面を示している。図3の(C)は、ピラー4の一例の断面図であって、図3の(A)の一点鎖線A−Aに沿った断面を示している。ピラー4は、ピラー4の一端に凸部41を有すると共に、凸部41の周囲に凹部42を有する。凹部42は、ピラー4の外周に沿って凸部41の周囲に設けられている。このように、ピラー4の一端が、袋状構造(ザグリ)を有している。図4は、電源基板3及びピラー4の拡大断面図である。電源基板3のスルーホール31の内周面32とピラー4の凸部41の外周面43とが離間した状態で、ピラー4の凸部41が電源基板3のスルーホール31内に挿し込まれた状態にある。ピラー4の凸部41が、電源基板3の下面から突出している。例えば、ピラー4の凸部41の中心軸と電源基板3のスルーホール31の中心軸とが略一致するように、ピラー4の凸部41が電源基板3のスルーホール31内に配置されてもよい。内周面32は、第1内周面の一例である。外周面43は、第1外周面の一例である。
FIG. 3A is an external view of an example of the
ピラー4の凹部42は、電源基板3のスルーホール31内に挿し込まれていない。すなわち、ピラー4の凹部42は、電源基板3のスルーホール31の外側に配置されている。
はんだ6が、電源基板3のスルーホール31とピラー4の凸部41とを接合している。詳細には、はんだ6が、電源基板3のスルーホール31の銅めっきとピラー4の凸部41とを接合している。はんだ6がピラー4の凸部41を覆うと共に、はんだ6がピラー4の凹部42内の空間44に入り込んでいる。はんだ6が、電源基板3の上面の一部及び下面の一部を覆っている。また、飛散したはんだ6(以下、飛散はんだ6Aと表記する)がピラー4の凹部42内の空間44に形成されている。
The
The
ピラー4の凹部42は、底面45と、底面45に連続する内周面46及び内周面46の反対側の外周面47を含む外周壁48とを有する。凹部42の外周壁48が、電源基板3に接触していてもよい。また、電源基板3と凹部42の外周壁48との間に隙間が設けられていてもよい。凸部41の外周面43と外周壁48の内周面46との間の距離が、凸部41の外周面43とスルーホール31の内周面32との間の距離よりも大きい。したがって、スルーホール31の内周面32と外周壁48の内周面46との間に段差が形成されている。スルーホール31の内周面32と外周壁48の内周面46との間に段差が形成されることにより、はんだ6が電源基板3の上面の一部を覆っている。電源基板3の上面側にはんだ6のフィレット6Bが形成されることにより、電源基板3とピラー4との接続強度が向上する。また、電源基板3の下面側にはんだ6のフィレット6Cが形成されることにより、電源基板3とピラー4との接続強度が向上する。内周面46は、第2内周面の一例である。外周面47は、第2外周面の一例である。
The
図5〜図8を参照して、電源基板3にピラー4をDIP方式ではんだ付けする工程について説明する。図5に示すように、はんだ槽61内にはんだ6を充填した後、ピラー4の凸部41にフラックス62を塗布する。はんだ槽61内のはんだ6は、噴流はんだである。次に、図6に示すように、ピラー4の凸部41をはんだ槽61内のはんだ6に浸すことにより、はんだ6が電源基板3のスルーホール31に入り込む。
The process of soldering the
図7に示すように、はんだ6が電源基板3のスルーホール31を通り抜けて、ピラー4の凹部42内の空間44にはんだ6が到達する。ピラー4の凹部42内の空間44にはんだ6が流れ込む際に、はんだ6が飛散することにより、ピラー4の凹部42内の空間44に飛散はんだ6Aが形成される。ピラー4の凹部42内の空間44は、電源基板3のスルーホール31内の空間よりも広いため、ピラー4の凹部42内の空間44にはんだ6が流れ込む際に、はんだ6の流路が急激に拡大する。したがって、ピラー4の凹部42内の圧力が電源基板3のスルーホール31内の圧力よりも低下している。ピラー4の凹部42内の圧力が電源基板3のスルーホール31内の圧力よりも低下しているので、ピラー4の凹部42内の空間44にはんだ6が流れ込む際に、フラックス62の溶剤がはんだ6の熱により気化し、ピラー4の凹部42内の空間44においてはんだ6の飛散が発生する。
As shown in FIG. 7, the
図8に示すように、ピラー4の凹部42内の空間44に飛散はんだ6Aが形成されるため、ピラー4の周囲へのはんだ6の飛散が抑制される。このように、はんだ6の飛散場所をピラー4の凹部42内に確保することで、はんだ6の飛散場所を制御することができる。その結果、飛散はんだ6Aによってピラー4と電子部品13とが接続されることが回避され、電子部品13等のショートが抑制される。例えば、メインボード2と電源基板3との間の距離が短い場合や、メインボード2と電源基板3との間にボルスタープレート7が配置されている場合、電源基板3とピラー4との接続部分を目視で確認することが難しい。第1実施形態に係る電子基板1によれば、電源基板3とピラー4との接続部分を目視で確認することが難しい場合であっても、電子部品13等のショートが抑制される。したがって、製造時の電源基板3や電子部品13等の品質が向上する。また、電源基板3とピラー4との接続部分の目視確認を省くことができると共に、飛散はんだ6Aの除去処理を省くことができる。電源基板3の上面側にはんだ6のフィレット6Bが形成され、電源基板3の下面側にはんだ6のフィレット6Cが形成されているため、電源基板3とピラー4と
の接続強度が向上している。
As shown in FIG. 8, since the
〈第2実施形態〉
第2実施形態について説明する。第2実施形態において、第1実施形態と同一の構成要素については、第1実施形態と同一の符号を付し、その説明を省略する。図9の(A)は、ピラー4の一例の外観図であって、ピラー4の側面を示している。図9の(B)は、ピラー4の一例の外観図であって、ピラー4の底面を示している。図10は、ピラー4の一例の断面図であって、図9の(A)の一点鎖線B−Bに沿った断面を示している。図11は、ピラー4の一例の斜視図である。ピラー4の凹部42は、底面45と、底面45に連続する内周面46及び内周面46の反対側の外周面47を含む外周壁48とを有する。凹部42の外周壁48は、内周面46及び外周面47に連続する上面49と、上面49に形成され、ピラー4の外周に沿って延伸する溝部50とを有する。外周壁48の上面49は、ピラー4の一端と同一方向を向いている。
<Second Embodiment>
The second embodiment will be described. In the second embodiment, the same components as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted. FIG. 9A is an external view of an example of the
図9〜図11に示すピラー4の構成例では、外周壁48の上面49から溝部50の底面までの深さ(高さ)は、外周壁48の上面49から凹部42の底面45までの深さ(高さ)よりも浅い(低い)。図9〜図11に示すピラー4の構成例に限定されず、外周壁48の上面49から溝部50の底面までの深さ(高さ)が、外周壁48の上面49から凹部42の底面45までの深さと一致してもよい。また、外周壁48の上面49から溝部50の底面までの深さが、外周壁48の上面49から凹部42の底面45までの深さよりも深くてもよい。
In the configuration example of the
凹部42の外周壁48の上面49に溝部50を形成することにより、電源基板3と凹部42の外周壁48との間に設けられた隙間を空気が通り易くなる。したがって、電源基板3にピラー4をはんだ付けする際、はんだ6が電源基板3のスルーホール31を通り抜け易くなると共に、凹部42内の空間44にはんだ6が流れ込み易くなる。これにより、電源基板3に対するピラー4のはんだ付けが容易になる。
By forming the
〈第3実施形態〉
第3実施形態について説明する。第3実施形態において、第1実施形態と同一の構成要素については、第1実施形態と同一の符号を付し、その説明を省略する。図12の(A)は、ピラー4の一例の外観図であって、ピラー4の側面を示している。図12の(B)は、ピラー4の一例の外観図であって、ピラー4の底面を示している。図13は、ピラー4の一例の断面図であって、図12の(A)の一点鎖線C−Cに沿った断面を示している。図14は、ピラー4の一例の斜視図である。ピラー4の凹部42は、底面45と、底面45に連続する内周面46及び内周面46の反対側の外周面47を含む外周壁48とを有する。凹部42の外周壁48は、内周面46及び外周面47に連続する上面49と、上面49に形成され、内周面46から外周面47まで達する溝部51とを有する。
<Third Embodiment>
A third embodiment will be described. In the third embodiment, the same components as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted. FIG. 12A is an external view of an example of the
図12〜図14に示すピラー4の構成例では、複数の溝部51が、外周壁48の上面49に形成されている。図12〜図14に示すピラー4の構成例に限定されず、一つの溝部51が、外周壁48の上面49に形成されていてもよい。図12〜図14に示すピラー4の構成例では、外周壁48の上面49から溝部51の底面までの深さ(高さ)は、外周壁48の上面49から凹部42の底面45までの深さ(高さ)よりも浅い(低い)。図12〜図14に示すピラー4の構成例に限定されず、外周壁48の上面49から溝部51の底面までの深さ(高さ)が、外周壁48の上面49から凹部42の底面45までの深さと一致してもよい。また、外周壁48の上面49から溝部51の底面までの深さが、外周壁48の上面49から凹部42の底面45までの深さよりも深くてもよい。
In the configuration example of the
凹部42の外周壁48の上面49に溝部51を形成することにより、電源基板3と凹部
42の外周壁48との間に設けられた隙間を空気が通り易くなると共に、溝部51を空気が通る。また、凹部42の外周壁48が、電源基板3に接触している場合、溝部51を空気が通る。したがって、電源基板3にピラー4をはんだ付けする際、はんだ6が電源基板3のスルーホール31を通り抜け易くなると共に、凹部42内の空間44にはんだ6が流れ込み易くなる。これにより、電源基板3に対するピラー4のはんだ付けが容易になる。
By forming the
1 電子機器
2 メインボード
3 電源基板
4 ピラー
5、6 はんだ
7 ボルスタープレート
11、12、13 電子部品
14 電源装置
31 スルーホール
41 凸部
42 凹部
50、51 溝部
1
Claims (1)
前記第1基板を貫通するスルーホールと、
一端に凸部を有し、かつ、前記凸部の周囲に凹部を有するピラーと、
前記スルーホールと前記凸部とを接合するはんだと、
前記ピラーの他端にはんだ付けされた第2基板と、
を備え、
前記スルーホールの第1内周面と前記凸部の第1外周面とが離間した状態で前記凸部の一部が前記スルーホール内に挿し込まれた状態にあり、
前記凹部が前記スルーホールの外側に配置されており、
前記凹部は、底面と、前記底面に連続する第2内周面及び前記第2内周面の反対側の第2外周面を含む外周壁とを有し、
前記凸部の前記第1外周面と前記外周壁の前記第2内周面との間の距離が、前記凸部の前記第1外周面と前記スルーホールの前記第1内周面との間の距離よりも大きく、
前記外周壁は、前記第2内周面及び前記第2外周面に連続する上面と、前記上面に形成され、前記ピラーの外周に沿って延伸する溝部とを有することを特徴とする基板。 1st board and
Through holes penetrating the first substrate and
A pillar having a convex portion at one end and a concave portion around the convex portion,
Solder that joins the through hole and the convex portion,
A second substrate soldered to the other end of the pillar,
With
A part of the convex portion is inserted into the through hole in a state where the first inner peripheral surface of the through hole and the first outer peripheral surface of the convex portion are separated from each other.
The recess is arranged outside the through hole and
The recess has a bottom surface and an outer peripheral wall including a second inner peripheral surface continuous with the bottom surface and a second outer peripheral surface on the opposite side of the second inner peripheral surface.
The distance between the first outer peripheral surface of the convex portion and the second inner peripheral surface of the outer peripheral wall is between the first outer peripheral surface of the convex portion and the first inner peripheral surface of the through hole. Greater than the distance of
The outer peripheral wall is a substrate having an upper surface continuous with the second inner peripheral surface and the second outer peripheral surface, and a groove portion formed on the upper surface and extending along the outer peripheral surface of the pillar .
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