JP6766015B2 - 試験パターン生成装置及び試験パターン生成方法 - Google Patents
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Description
また、本発明の別の一態様に係る試験パターン生成方法は、試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成方法であって、前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温より低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に付与する試験であり、前記環境試験装置は、試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第1目標温度及び第2目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得し、前記ユーザに指定された前記第1目標温度、前記第2目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成し、前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させて、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成し、前記本試験パターンの生成においては、前記高温さらし期間において前記試料の温度を検出する1以上の温度センサが検出した第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整し、前記1以上の温度センサは、複数の温度センサで構成され、更に、ユーザによって指定された、前記複数の温度センサのうち特定の温度センサを指定する指示と、前記第1目標温度の第1許容範囲を指定する指示と、前記第2目標温度の第2許容範囲を指定する指示とを取得し、前記本試験パターンの生成においては、前記特定の温度センサが検出した前記第1検出温度が前記第1許容範囲内に入り、且つ、前記特定の温度センサが検出した前記第2検出温度が前記第2許容範囲内に入った場合、前記本試験パターンを生成する処理を終了する。
また、本発明の一態様に係る試験パターン生成装置は、試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温よりも低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に温度を付与する試験であり、前記環境試験装置は、前記試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、前記試料の温度を検出する1以上の温度センサと、ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第1目標温度及び前記第1目標温度よりも低温の第2目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得する取得部と、前記取得部が取得した前記第1目標温度、前記第2目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成する仮試験パターン生成部と、前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させて、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成する本試験パターン生成部とを備え、前記本試験パターン生成部は、前記高温さらし期間において前記温度センサが検出した第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整することで前記本試験パターンを生成し、前記1以上のセンサは、複数のセンサで構成され、前記取得部は、更に、前記第1目標温度の第1許容範囲を指定する指示と、前記第2目標温度の第2許容範囲を指定する指示とを取得し、前記本試験パターン生成部は、前記複数の温度センサが検出した前記第1検出温度のうち所定個数の温度センサが検出した前記第1検出温度が前記第1許容範囲内に入り、且つ、前記複数の温度センサが検出した前記第2検出温度のうち所定個数の温度センサが検出した前記第2検出温度が前記第2許容範囲内に入った場合、前記本試験パターンを生成する処理を終了する。
また、本発明の別の一態様に係る試験パターン生成方法は、試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成方法であって、前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温より低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に付与する試験であり、前記環境試験装置は、試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第1目標温度及び第2目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得し、前記ユーザに指定された前記第1目標温度、前記第2目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成し、前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させて、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成し、前記本試験パターンの生成においては、前記高温さらし期間において前記試料の温度を検出する1以上の温度センサが検出した第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整し、前記1以上の温度センサは、複数の温度センサで構成され、更に、ユーザによって指定された、前記第1目標温度の第1許容範囲を指定する指示と、前記第2目標温度の第2許容範囲を指定する指示とを取得し、前記本試験パターンの生成においては、前記複数の温度センサが検出した前記第1検出温度のうち所定個数の温度センサが検出した前記第1検出温度が前記第1許容範囲内に入り、且つ、前記複数の温度センサが検出した前記第2検出温度のうち所定個数の温度センサが検出した前記第2検出温度が前記第2許容範囲内に入った場合、前記本試験パターンを生成する処理を終了する。
図1は、本発明の実施の形態1に係る試験パターン生成装置が適用された環境試験システム1の全体構成の一例を示す図である。環境試験システム1は、環境試験装置2、データコントローラ3、データロガー4、ハブ5、及び端末装置6を備える。データコントローラ3は、試験パターン生成装置を構成する。
時間調整モードにおいて、本試験パターン生成部332は、高温さらし期間TAにおいて温度センサ34が検出した第1検出温度を第1目標温度T1に到達させるために高温さらし期間TAを調整する。
温度調整モードでは、本試験パターン生成部332は、高温さらし期間TAにおいて第1検出温度を第1目標温度T1に到達させるために、温度調整器22の設定温度を調整する。また、温度調整モードでは、本試験パターン生成部332は、低温さらし期間TBにおいて第2検出温度を第2目標温度T2に到達させるために、温度調整器22の設定温度を調整する。
本試験パターン生成部332は、時間調整モードと温度調整モードとを組み合わせても良い。この場合、本試験パターン生成部332は、現サイクルの高温さらし期間TAにおいて、第1検出温度を第1目標温度T1に到達させることができなかった場合、高温さらし期間TAを所定の変化幅で増大させ、且つ、高温さらし期間TAの設定温度を所定の変化幅で増大させればよい。また、本試験パターン生成部332は、現サイクルの低温さらし期間TBにおいて、第2検出温度を第2目標温度T2に到達させることができなかった場合、低温さらし期間TBを所定の変化幅で増大させ、且つ、低温さらし期間TBの設定温度を所定の変化幅で減少させればよい。
実施の形態2は、本試験パターンの生成処理における調整モードとして、時間調整モード及び温度調整モードに加えて、更に時間温度調整モード及び温度時間調整モードを加えたものである。また、実施の形態2では、本試験パターン生成部332は、高温さらし期間TA及び低温さらし期間TBのそれぞれにおいて、上記4つの調整モードのうちのいずれか1つの調整モードに対応する処理が選択可能に構成されている。なお、実施の形態2において実施の形態1と同一の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略する。
実施の形態2では、高温さらし期間TA及び低温さらし期間TBのそれぞれについて調整モードが選択可能に構成されているが、高温さらし期間TA及び低温さらし期間TBについて共通の調整モードが適用されてもよい。
実施の形態3は、複数の温度センサ34のうち、ユーザが指定した特定の温度センサについて、第1目標温度T1が第1許容範囲に入り、且つ、第2目標温度T2が第2許容範囲に入ったことを条件に本試験パターンの生成処理を終了するものである。なお、実施の形態3において、実施の形態1,2と同一の構成要素については同一の符号を付し、説明を省略する。また、実施の形態3では、図8で示した操作画面G8がそのまま使用されており、この操作画面G8を通じて、各種の指示が入力されているものとする。
特定の温度センサ34のそれぞれを個別にモニタする。
図1では、試験パターン生成装置はデータコントローラ3により構成されたが、本発明はこれに限定されない。試験パターン生成装置は、例えば、クラウドサーバで構成されてもよい。この場合、環境試験装置2に通信回路を設ける等して、環境試験装置2をクラウドサーバに接続させてもよい。
図3では、まず、高温さらし期間TAが設定され、次に、低温さらし期間TBが設定されているが、本発明はこれに限定されない。例えば、まず、低温さらし期間TBが設定され、次に高温さらし期間TAが設定されてもよい。
図1では、コントローラ21とデータコントローラ3とは別体で構成されているが、1つのコントローラとして構成されてもよい。この場合、試験パターン生成装置は環境試験装置2のコントローラにおいて実装されることになる。
本発明は、ユーザからの指示が端末装置6からではなく、環境試験装置2のコントローラ21から出されるものであってもよい。
2 環境試験装置
3 データコントローラ(試験パターン生成装置)
6 端末装置
21 コントローラ
22 温度調整器
31 通信部
32 インターフェース部
33 処理部
34 温度センサ
35 温度センサ
331 仮試験パターン生成部
332 本試験パターン生成部
333 本試験実行部
T1 第1目標温度
T2 第2目標温度
TA 高温さらし期間
TB 低温さらし期間
X 試料
Claims (9)
- 試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、
前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温よりも低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に温度を付与する試験であり、
前記環境試験装置は、前記試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、
前記試料の温度を検出する1以上の温度センサと、
ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第1目標温度及び前記第1目標温度よりも低温の第2目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得する取得部と、
前記取得部が取得した前記第1目標温度、前記第2目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成する仮試験パターン生成部と、
前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させて、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成する本試験パターン生成部とを備え、
前記本試験パターン生成部は、
前記高温さらし期間において前記温度センサが検出した第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、
前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整することで前記本試験パターンを生成することが可能であり、
更に、前記高温さらし期間において前記第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために、前記温度調整器の設定温度を調整し、前記第1検出温度が前記第1目標温度に到達したときの設定温度を、前記本試験パターンの前記高温さらし期間での第1設定温度として決定することが可能であり、
前記低温さらし期間において前記第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために、前記設定温度を調整し、前記第2検出温度が前記第2目標温度に到達したときの設定温度を、前記本試験パターンでの前記低温さらし期間の第2設定温度として決定することで前記本試験パターンを生成することが可能である、試験パターン生成装置。 - 前記取得部は、更に、時間調整モード、温度調整モード、時間温度調整モード、及び温度時間調整モードのいずれかの調整モードを選択するかのユーザからの指示を取得し、
前記時間調整モードは、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のみを調整する調整モードであり、
前記温度調整モードは、前記設定温度のみを調整する調整モードであり、
前記時間温度調整モードは、まず、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間を調整し、所定の終了条件が満たされると、前記設定温度を調整する調整モードであり、
前記温度時間調整モードは、まず、前記設定温度を調整し、所定の終了条件が満たされると、前記高温さらし期間及び低温さらし期間を調整する調整モードであり、
前記本試験パターン生成部は、前記ユーザから指示された調整モードで、前記本試験パターンの生成処理を実行する、請求項1記載の試験パターン生成装置。 - 試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、
前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温よりも低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に温度を付与する試験であり、
前記環境試験装置は、前記試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、
前記試料の温度を検出する1以上の温度センサと、
ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第1目標温度及び前記第1目標温度よりも低温の第2目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得する取得部と、
前記取得部が取得した前記第1目標温度、前記第2目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成する仮試験パターン生成部と、
前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させて、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成する本試験パターン生成部とを備え、
前記本試験パターン生成部は、
前記高温さらし期間において前記温度センサが検出した第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、
前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整することで前記本試験パターンを生成し、
前記1以上の温度センサは、複数の温度センサで構成され、
前記取得部は、更に、ユーザによって指定された、前記複数の温度センサのうち特定の温度センサを指定する指示と、前記第1目標温度の第1許容範囲を指定する指示と、前記第2目標温度の第2許容範囲を指定する指示とを取得し、
前記本試験パターン生成部は、前記特定の温度センサが検出した前記第1検出温度が前記第1許容範囲内に入り、且つ、前記特定の温度センサが検出した前記第2検出温度が前記第2許容範囲内に入った場合、前記本試験パターンを生成する処理を終了する、試験パターン生成装置。 - 試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、
前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温よりも低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に温度を付与する試験であり、
前記環境試験装置は、前記試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、
前記試料の温度を検出する1以上の温度センサと、
ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第1目標温度及び前記第1目標温度よりも低温の第2目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得する取得部と、
前記取得部が取得した前記第1目標温度、前記第2目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成する仮試験パターン生成部と、
前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させて、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成する本試験パターン生成部とを備え、
前記本試験パターン生成部は、
前記高温さらし期間において前記温度センサが検出した第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、
前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整することで前記本試験パターンを生成し、
前記1以上のセンサは、複数のセンサで構成され、
前記取得部は、更に、前記第1目標温度の第1許容範囲を指定する指示と、前記第2目標温度の第2許容範囲を指定する指示とを取得し、
前記本試験パターン生成部は、前記複数の温度センサが検出した前記第1検出温度のうち所定個数の温度センサが検出した前記第1検出温度が前記第1許容範囲内に入り、且つ、前記複数の温度センサが検出した前記第2検出温度のうち所定個数の温度センサが検出した前記第2検出温度が前記第2許容範囲内に入った場合、前記本試験パターンを生成する処理を終了する、試験パターン生成装置。 - 前記本試験パターン生成部により前記本試験パターンが生成された場合、前記本試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させ、前記温度サイクル試験を行う本試験実行部を更に備える、請求項1〜4のいずれかに記載の試験パターン生成装置。
- 前記本試験パターン生成部は、1サイクル単位で、前記高温さらし期間、前記低温さらし期間、前記高温さらし期間の設定温度、及び前記低温さらし期間の設定温度を調整する、
請求項1又は2に記載の試験パターン生成装置。 - 試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成方法であって、
前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温より低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に付与する試験であり、
前記環境試験装置は、前記試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、
ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第1目標温度及び第2目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得し、
前記ユーザに指定された前記第1目標温度、前記第2目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成し、
前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させて、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成し、
前記本試験パターンの生成においては、
前記高温さらし期間において前記試料の温度を検出する温度センサが検出した第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、
前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整することが可能であり、
更に、前記高温さらし期間において前記第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために、前記温度調整器の設定温度を調整し、前記第1検出温度が前記第1目標温度に到達したときの設定温度を、前記本試験パターンの前記高温さらし期間での第1設定温度として決定することが可能であり、
前記低温さらし期間において前記第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために、前記設定温度を調整し、前記第2検出温度が前記第2目標温度に到達したときの設定温度を、前記本試験パターンでの前記低温さらし期間の第2設定温度として決定することで前記本試験パターンを生成することが可能である、試験パターン生成方法。 - 試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成方法であって、
前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温より低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に付与する試験であり、
前記環境試験装置は、前記試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、
ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第1目標温度及び第2目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得し、
前記ユーザに指定された前記第1目標温度、前記第2目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成し、
前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させて、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成し、
前記本試験パターンの生成においては、前記高温さらし期間において前記試料の温度を検出する1以上の温度センサが検出した第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整し、
前記1以上の温度センサは、複数の温度センサで構成され、
更に、ユーザによって指定された、前記複数の温度センサのうち特定の温度センサを指定する指示と、前記第1目標温度の第1許容範囲を指定する指示と、前記第2目標温度の第2許容範囲を指定する指示とを取得し、
前記本試験パターンの生成においては、前記特定の温度センサが検出した前記第1検出温度が前記第1許容範囲内に入り、且つ、前記特定の温度センサが検出した前記第2検出温度が前記第2許容範囲内に入った場合、前記本試験パターンを生成する処理を終了する、試験パターン生成方法。 - 試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成方法であって、
前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温より低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に付与する試験であり、
前記環境試験装置は、前記試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、
ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第1目標温度及び第2目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得し、
前記ユーザに指定された前記第1目標温度、前記第2目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成し、
前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させて、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成し、
前記本試験パターンの生成においては、前記高温さらし期間において前記試料の温度を検出する1以上の温度センサが検出した第1検出温度を前記第1目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第2検出温度を前記第2目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整し、
前記1以上の温度センサは、複数の温度センサで構成され、
更に、ユーザによって指定された、前記第1目標温度の第1許容範囲を指定する指示と、前記第2目標温度の第2許容範囲を指定する指示とを取得し、
前記本試験パターンの生成においては、前記複数の温度センサが検出した前記第1検出温度のうち所定個数の温度センサが検出した前記第1検出温度が前記第1許容範囲内に入り、且つ、前記複数の温度センサが検出した前記第2検出温度のうち所定個数の温度センサが検出した前記第2検出温度が前記第2許容範囲内に入った場合、前記本試験パターンを生成する処理を終了する、試験パターン生成方法。
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