JP6744066B2 - 光電式エンコーダ - Google Patents
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Description
光電式エンコーダは、スケールと、スケールに沿って測長方向に相対的に移動可能に設けられた検出ヘッド部と、を備える。
スケールには明暗のパターンが設けられる。スケール20を図1に例示した。図1に例示するように、ガラス基板21の上に所定パターンのクロム膜22が配置されることでスケールパターンが構成される。
反射型光電式エンコーダでは、光源と受光部とがスケールに対して同じ側にあり、受光部はスケールからの反射光の明暗パターンを受光する。透過型光電式エンコーダでは、スケールを間にして光源と受光部とが反対側にあり、受光部はスケールからの透過光の明暗パターンを受光することになる。
反射型と透過型とでは構成要素の配置が異なるのであるから製品の外形として大きさや形状に違いが表れる。光電式エンコーダの用途あるいは設置スペースに応じ、反射型と透過型とは適宜選択される。
例を挙げながらこの理由を簡単に説明する。
このスケール20はいわゆるABS(アブソリュート式)検出用スケールであって、符号"1"と符号"0"とをランダムに配置したスケールパターンを有している。符号"1"のところにクロム膜22があり、符号"0"のところはクロム膜が無くガラス部21になっている。この場合、スケール20に光を照射すると、クロム膜22で光が反射し、ガラス部21は光が透過する。
したがって、スケール20からの反射光を受光部で受光すると、クロム膜22のところが明部、ガラス部21のところが暗部、となる明暗のイメージパターンが得られる(図2B参照)。
図2Bは、受光部の受光面にできる明暗のイメージパターンを例示したものである。これを適切な閾値で二値化し(図2C)、さらに、"1"と"0"の符号列に変換する(図2D)。演算部による演算処理(例えばパターンマッチング演算など)により、符号列からスケール上の位置を算出することができる。
ここでは、クロム膜22の方がガラス部21よりも相対的に安定で防汚作用もあると想定している。もちろん、明部と暗部とでどちらが欠損し易いかはスケールの材質等によってケースバイケースであろうが、この点については本明細書の最後で触れる。
したがって、スケール20からの透過光を受光部で受光すると、クロム膜22のところが暗部、ガラス部21のところが明部、となる明暗のイメージパターンが得られる(図4B参照)。
つまり、反射型の場合と対比すると、透過型の場合の明暗イメージは明暗が反転しているということになる。仮に、反射型光電式エンコーダと透過型光電式エンコーダとでスケール20と電装回路(演算部)とを共通化したいとなると、途中に反転処理を入れればよいと考えられる。
これを前述のように反転処理(図5C)、二値化(図5D)および符号化(図5E)したとする。このとき、汚れ30の部分については反射型とのときにはなかった符号の誤りが含まれていることになる。符号の誤りがあるとその分だけ演算処理(例えばパターンマッチング演算など)に影響し、反射型よりも透過型の方が汚れに弱いということになってしまう。
したがって、反射型と透過型とで電装回路(演算部)を共通化するために透過型の場合に反転処理を入れるのは好ましくない。
もし電装回路(演算部)を共通化したければ、スケールのパターン自体を例えば図6のように反転させる必要がある。このように考えると、反射型光電式エンコーダと透過型光電式エンコーダとでスケールと電装回路(演算部)と同時に共通化することはできない。
そのため、管理する部品点数が多くなり、ひいては、光電式エンコーダのコストに大きく影響していた。
疑似ランダム符号系列に従った2準位符号パターンが測長方向に沿って設けられたスケールと、
前記スケールに沿って相対的に移動可能に設けられ、前記スケール上の擬似ランダム符号系列に基づいてスケール上の絶対位置を検出する検出ヘッド部と、を備えた光電式エンコーダであって、
前記2準位符号パターンの一つの符号は2ビットの組み合わせで構成されているとともに2準位符号を表現するのに3種類以上のビット組合せパターンが使用されており、
前記2準位符号パターンの一つの符号を、符号"1"または符号"0"とし、一つの符号を表わす2ビットの一つのビットをLまたはHとするとき、
前記スケールには、前記Lに相当する位置に光反射部および光透過部のいずれか一方が配置され、前記Hに相当する位置に光反射部および光透過部のいずれか他方が配置され、
前記検出ヘッド部は、
前記スケールに光を照射する光源と、
前記スケールからの反射光または透過光によって形成される明暗の検出イメージを取得するイメージ取得部と、
前記検出イメージを反転処理する反転処理部と、
前記検出イメージのビットデータに対して疑似ランダム符号系列に基づく相関演算を実行して相関のピークから前記スケール上の絶対位置を求める相関演算部と、を有する
ことを特徴とする光電式エンコーダ。
前記相関演算部が前記スケールの反射光による検出イメージを規準として前記相関演算を実行するように設計されており、かつ、前記イメージ取得部が前記スケールの透過光にて形成される検出イメージを取得する場合、前記反転処理部はONに設定され、
前記相関演算部が前記スケールの透過光による検出イメージを規準として前記相関演算を実行するように設計されており、かつ、前記イメージ取得部が前記スケールの反射光にて形成される検出イメージを取得する場合、前記反転処理部はONに設定され、
前記相関演算部が前記スケールの反射光による検出イメージを規準として前記相関演算を実行するように設計されており、かつ、前記イメージ取得部が前記スケールの反射光にて形成される検出イメージを取得する場合、前記反転処理部はOFFに設定され、
前記相関演算部が前記スケールの透過光による検出イメージを規準として前記相関演算を実行するように設計されており、かつ、前記イメージ取得部が前記スケールの透過光にて形成される検出イメージを取得する場合、前記反転処理部はOFFに設定される
ことを特徴とする光電式エンコーダ。
前記反転処理部には、反転処理のオンオフ設定を切り替え操作する設定切替スイッチが設けられている
ことが好ましい。
前記2準位符号パターンの一つの符号を、符号"1"または符号"0"とし、
一つの符号を表わす2ビットの一つのビットを、LまたはHとするとき、
Lの配置が連続する上限値があり、かつ、Hの配置が連続する上限値がある
ことが好ましい。
前記符号"0"を表現するビットの組合せパターンが2種類以上あり、
前記符号"0"が連続する場合には、隣の組合せパターンとは異なる種類の組合せパターンが使用される
ことが好ましい。
前記符号"1"は、LとHとの組み合わせであるAパターンで表わされ、
符号"0"は、LとLとの組み合わせであるBパターンと、HとHとの組み合わせであるCパターンと、で表わされ、
符号"0"が連続する場合には、前記Bパターンと前記Cパターンとが交互に使用されている
ことが好ましい。
前記2準位符号パターンの一つの符号を、符号"1"または符号"0"とし、
一つの符号を表わす2ビットの一つのビットを、LまたはHまたはMとするとき、
前記符号"1"は、LとHとの組み合わせであるAパターンで表わされ、
前記符号"0"は、LとLとの組み合わせであるBパターンと、HとHとの組み合わせであるCパターンと、2ビットともMとするDパターンと、のうちから選択される2つ以上のパターンで表現され、
前記符号"0"が連続する場合には、隣の組合せパターンとは異なる種類の組合せパターンが使用される
ことが好ましい。
符号"1"と符号"0"とを交換するように読み替えてもよい。
前記検出ヘッド部は、
前記スケールの検出イメージを取得し、
前記検出イメージ中から前記Lが前記上限値を超えて連続している箇所については不確かとして除外し、
前記検出イメージ中から前記Hが前記上限値を超えて連続している箇所については不確かとして除外し、
前記検出イメージのなかで除外されなかったビットデータを用いて前記擬似ランダム符号系列に基づく相関演算を実行する
ことを特徴とする。
前記検出イメージのなかで除外されなかったビットデータの数が所定の演算可能数に達したとき、前記検出イメージの量子化を終了して、
前記相関演算を実行する
ことが好ましい。
前記演算可能数は、相関演算に必要な理論上の最低数に対し、その1.1倍から3倍の範囲内で設定される
ことが好ましい。
前記検出イメージのなかで除外されなかったビットデータの数が所定の演算可能数に達しない場合、スケールの汚れをユーザに報知する
ことが好ましい。
原理的に汚れに対して極めて高いロバスト性を有するスケールパターンおよび位置検出演算アルゴリズムがあれば、透過型光電式エンコーダに適用しても反射型光電式エンコーダに適用しても全く同等の性能を発揮できると考えられる。
本発明者らは鋭意研究の結果、原理的に汚れに対して極めて高いロバスト性を有するスケールパターンおよび位置検出演算アルゴリズムを開発した。その結果、これまでなしえなかった透過型光電式エンコーダと反射型光電式エンコーダとの部品共通化を達成することができた。
以下、具体的に説明していく。
図7に示すように、アブソリュート型の光電式エンコーダ100は、ABSスケール200と、ABSスケール200に沿って測長方向に相対的に移動可能に設けられた検出ヘッド部300と、を備える。
ここでは、反射型の場合を例示している。
光源310は、ABSスケール200に向けて光を照射する。光は、ABSスケール200の反射部では反射し、透過部では透過し、反射光がレンズ320を介して受光部330の受光面に入射する。
受光部330の受光面にはABSスケールパターンに応じた明暗のイメージパターンができる。
受光部330の受光面にはフォトダイオードアレイ340が設けられている。
フォトダイオードアレイ340は、ABSスケールパターンのピッチを検出できるピッチでフォトダイオード341が配列されてなるものである。フォトダイオードアレイ340を構成する各フォトダイオード341にはスイッチ342が設けられており、スイッチ342を介して信号処理部400に接続されている。スイッチ342を順次ONにすることにより、各フォトダイオード341からの受光信号を掃引する。
この反転処理部412は、必要に応じて検出イメージの正負(あるいはH/L)を反転処理する。
いま説明している例ではABSスケール200を反射型スケールとして使用しており、このとき、反転処理部412はオフに設定され、使用されないこととする。同じABSスケール200を透過型光電式エンコーダの透過型スケールとして使用する場合、反転処理部412をオンに設定する。
この場合、反転処理部412は、イメージ取得部410で取得された検出イメージを反転させる。設定切替スイッチ411が反転処理部412に繋がっており、組み立て途中あるいは出荷前に設定切替スイッチ411で反転処理部412のオンオフ設定を変更できるようになっている。
相関演算部420は、受光部330で取得した信号パターンと前記参照パターンとの相関演算を行い、相関のピークから位置を求める。
ABSスケールパターンとしては、例えば、疑似ランダム符号系列の一種であるM系列符号を用いたパターンがある。M系列符号パターンの生成多項式がN段のシフトレジスタで構成されているときにおいて、M系列符号パターン内の連続するNコの符号を取り出したとき、M系列符号パターンの一周期内において、このNコの符号パターンと同一のものは一か所にしか出現しない。したがって、受光部330で取得した信号パターンと前記参照パターンとの相関のピークからABSスケールパターン上の絶対位置が取得できる。
具体的には、ABSスケールパターンについて説明する。
図9は、ABSスケールパターンの例である。ABSスケールパターンにおいて、"1"および"0"はそれぞれ2ビットで表現されている。
すなわち、1ビットの幅をdとすると、M系列符号パターンの符号幅は2×dとなる。
ただし、"1"と"0"という2つの符号を表現するのに図10に例示する3つのビット組合せパターンを使用する。
図10に示すように、符号"0"を表現するパターンとして1つだけでなく2種類用意する。
2ビットとも暗部とするBパターンと、2ビットとも明部とするCパターンと、が符号"0"を表すとする。
(暗、暗)がBパターンで、(明、明)がCパターンである。
このように同じ符号"0"を表現するのに異なる2つのパターンを用いる。
端的に言うと、符号"0"を表現するにあたっては、直前(ここでは左側)にある"0"をみて、BパターンとCパターンとが交互に現れるようにする。
図11中の例でいうと、一番左にある"0"はどちらでもよいのであるが、ここではCパターンにしたとする。この"0"の右隣りは"1"であるからAパターンをおく。
この"0"の左側をみると直前の"0"はCパターンであった。したがって今回の"0"についてはBパターンを採用している。さらにその右隣の"0"を表現するにあたっては先ほどのBパターンと異なるCパターンとする。
図12(A)をご覧頂くと、これは符号"0"のところに汚れ30がついている。
仮に、符号"0"を総て「暗部」(非反射部)としていると、"0"なのか汚れ30なのかは信号パターンからは判別できない。この例では仮に符号"0"を暗部だけで表現するような既存技術のままでも結果としては信号パターンに変化はないのであるが、それは偶然に過ぎない。
この点、本実施形態のABSスケールにおいては、上限値を超えて暗部が4ビット以上連続することはないはずである。したがって、暗部が4ビット以上連続するところは汚れと判断できる。
ここで、明(H)が、あるいは、暗(L)が4ビット以上連続するところは設計ルールから外れているのであるから、正しい信号ではなく、例えば汚れ30であると判定できる。そして、暗(L)が4ビット以上連続するところは汚れ30と判定し、相関演算に用いないようにする。
これにより、正しく取得できている信号のみで相関演算を行い、誤った相関演算で誤った相関ピークが出現しないようにできる。このように相関演算に汚れが影響しないようにするので、汚れに対するロバスト性が画期的に向上する。
図13は、透過型光電式エンコーダ100Tの構成を例示する図である。光源310がABSスケール200の反対型に移動した点を除けば、反射型光電式エンコーダ100(図7、図8)と共通の部品を使用する。
なお、信号処理部400の構成も反射型光電式エンコーダ100(図8)のときと全く同じなのであるが、透過型光電式エンコーダ100Tとして使用する場合には設定切替スイッチ411によって反転処理部412をオンに設定しておく。
ABSスケール200に光を照射し、ABSスケール200からの透過光を受光部330で受光する。すると、クロム膜211が非透過部となり、ガラス部210が光透過部となり、図14Bの明暗パターンが得られる。
これは、汚れ30の部分を除いて、反射型のとき(図12B)と明暗が反転している。そこで、相関演算を共通にすべく反転処理部412で反転する(図12C)。これを二値化したとき、図14Dに示すように、汚れ30に相当する部分が誤って明(H)になってしまっている。
相関演算には正しく取得できている信号のみを用いるようにし、誤った相関演算で誤った相関ピークが出現しないようにする。これにより、汚れに対するロバスト性が向上する。
このことから、本実施形態のABSスケール200であれば反射型として使用しても透過型として使用してもロバスト性を同等に高いレベルで維持できる。信号処理部400に"反転処理部412"を組み込んでおき、透過型として使用する場合には製品出荷段階で反転処理部412をオンに設定すればよいわけである。
このようにすると、受光強度から量子化(二値化)する際のしきい値を設定しやすくなり、信号処理部400の負荷軽減あるいは信号処理部400の簡素化を図ることができる。
また、このABSスケール200を透過型として使用した場合と反射型として使用した場合とで受光部330の受光光量はほぼ同じであり、このことからも信号処理部400の共通化に適すると言える。
変形例1を説明する。
図15は変形例1を説明するための図である。
先ほどの実施形態においては、"0"を表現するBパターンとCパターンとが必ず交互に出現するようにした。ここで、変形例1として、暗部および明部がそれぞれ4ビット以上連続しないならば、BパターンとCパターンとを選択する際の自由度を高めてもよい。
いずれにしても明部または暗部が4ビット以上連続することはない。ただし、図15(C)に示すように、"0"が2以上連続する場合にはBパターンとCパターンとは交互でなければならない。少なくともこの設計ルールを守ってさえいれば明部または暗部が4ビット以上連続することはない。
さらに変形例2を説明する。
本発明のポイントの一つは"1"と"0"の2種類の符号を表現するのに3種類のパターンを用いる点にある。したがって例えば図16(A)のようにしてもよい。
図16(A)においては、"0"を表現するのに2ビットとも暗部のもの(Bパターン)と、2ビットともハーフトーンのものとにする。
2ビットともハーフトーンとするパターンをDパターンとする。つまり"0"を表現するのにBパターンとDパターンを交互に使用する。
また、他の図では暗部を示すのにハッチングを用いたが、図16では暗部を黒のベタ塗りで表現することにする。これはハーフトーンとの違いを分かりやすくするためである。
"1"を表現するのに暗部と明部ではなくて明部と暗部との順にしてもよい。
これをA′パターンとする。また"0"を表現するのにBパターンに代えてCパターンを使用するようにしてもよい。
次に本発明の第2実施形態を説明する。
第2実施形態として、汚れ判定を利用した信号処理動作を説明する。
図17は第2実施形態としての信号処理部500の機能ブロック図である。
信号処理部500は、イメージ取得部510と、量子化部520と、汚れ判定部530と、マスキング部540と、符号化部550と、相関演算部560と、中央制御部570と、を備える。
反転処理部412は、第1実施形態で説明したように、透過型光電式エンコーダとして使用される場合にオンに設定される。
本第2実施形態としては反射型光電式エンコーダの場合を想定し、反転処理部412はオフになっていることとする。
ただし、反転処理の有無は汚れ判定のアルゴリズムとは直接関係なく、反転処理があってもなくても本第2実施形態のアルゴリズムは全く同じように適用できる。
したがって、本第2実施形態を組み込んだ信号処理部500は反射型光電式エンコーダでも透過型光電式エンコーダでも共通に適用できる。
まず、イメージ取得部510は、受光部330のフォトダイオードアレイ340からの信号を順次掃引してABSスケール200の検出イメージを取得する(ST110)。そして、取得した検出イメージを順次量子化していく(ST120)。
ここでは、受光強度に対して適切なしきい値が設定されているとする。このしきい値との対比により、暗部と明部とを区別して2値化する。
ここでは後の説明のため、暗部を"L"とし明部を"H"とする。
フォトダイオード341での受光強度がしきい値より低ければ、もちろんその量子化値は"L"である。
汚れ判定処理(ST130)を図19のフローチャートを参照しながら説明する。
図19は、汚れ判定処理(ST130)の手順を説明するためのフローチャートである。汚れ判定処理(ST130)にあたって、まずビットを数えるためのパラメータnを初期化する。後の処理の都合上n=4に初期化する。なお、ここでは、図20において左端から順に1、2、3・・・と付番することにする。
今、n=4であるとする。
4ビット目の量子化値は"L"である。
次にn−3、n−2、n−1ビット目の量子化値を取得する(ST133)。つまり連続する4ビットの量子化値を取得する。今、n=4なので、1ビット目、2ビット目、3ビット目の量子化値を取得する(ST133)。
ABSスケールパターンの設計ルール上、同じ量子化値が連続するのは3ビットが上限値であり、4ビット以上同じ量子値(LまたはH)が連続することはないはずである。そこで、判定対象としているnビット目に対して直前の3ビットの量子化値を対比する。
一方、全部同じ(全部Hまたは全部L)であれば(ST134:YES)、nビット目の量子化値は設計ルールから外れているので信頼できず、汚れの影響であると判断する。
この場合、nビット目の量子化値は使わないようにマスキングしてしまう(ST136)。
図20の3段目は、マスキングのON/OFFを図示したものである。
符号化にあたっては、マスキングされていないビットの量子化値を用いる。
2ビットで1つの符号を表す。
(L、H)の組は符号"1"に変換される。
(L、L)および(H、H)の組は符号"0"に変換される。
図20の4段目は、符号化した結果の例示である。
相関演算で最も高い相関を示す位置が現在の絶対位置として求められる。(ST170)
そして、不確かな符号については相関演算には使用しないようにできる。これにより、位置検出の正確度(信頼度)が向上する。
これは、ABSスケールを反射型として用いる場合も透過型として用いる場合も全く同じであり、したがって、反射型光電式エンコーダと透過型光電式エンコーダとで部品を共通化することができる。
続いて、図21〜図23のフローチャートを参照して本発明の第3実施形態を説明する。
前述の第2実施形態においては、汚れ判定(ST130)によって信頼できる量子化値と信頼できない量子化値とを峻別できることを説明した。
汚れ判定(ST130)によって、信頼できる量子化値と信頼できない量子化値とを峻別できるわけであるから、信頼できる量子化値が所定数得られたところで量子化処理も汚れ判定処理も終了してしまってもいいわけである。
重複した説明をなるべく避けるため、図21〜図23のフローチャートにおいて第2実施形態と共通した処理ステップには同じステップ番号を付した。以下、処理ステップを順に説明していく。
続いて、量子化部520で量子化を行うが、本実施形態では一度に全部量子化しないで必要な分だけ順次量子化する。
汚れ判定(ST130A)に必要なので、最初は4ビット目まで量子化する(ST111〜ST123)。そして、4ビット目まで量子化したら(ST122)、この4ビット目に対して汚れ判定を実行する(ST130A)。
終了条件判定(ST140)を図23のフローチャートに示す。
終了条件として、マスキングがOFFになっているビット数が所定数(ここではk)以上になっているかを判定する(ST141)。
この所定数(ここではk)は、相関演算に必要な符号へ変換するために必要なビット数である。
この数値を演算可能数と称することにする。
ここで、M系列符号パターンの生成多項式がN段のシフトレジスタで構成されているときにおいて、絶対位置を得るために最低限必要な符号は連続したNコである。
したがって、最低限必要な演算可能数は連続した2×Nビットである。
しかしながら、汚れによるマスキングがランダムに挿入されて連続したビット数が得られない可能性が高い。
そこで、マスキングによって不連続になったビットの合計が2×Nビットになればよい。
ただし、汚れ判定(ST130A)の誤り率を加味し、前記演算可能数は、理論上の最低限必要な値に対して少し余裕をもたせて設定しておくことが好ましい。
本発明としては、演算可能数を、理論上の最低数に対して1倍から3倍の範囲で設定してもよい。
好ましくは、演算可能数を、理論上の最低数に対して1.5倍から2.5倍、より好ましくは、1.5倍から2倍とする。
もちろん、汚れ判定の精度が極めて高ければ、演算可能数を、理論上の最低数に対して1.1倍〜1.3倍の範囲で設定することもできる。
量子化値の確度が高ければマスキングをオフし(ST135)、量子化値が不確かであればマスキングをオン(ST136)にするとしたが、これは一例である。確度が高いというフラグを用いてもよいし、不確かであるというフラグを用いてもよく、同等な効果が得られれば手段は問わない。
反射型エンコーダをスタンダード(標準)として相関演算部を作り込めば上記設定になるわけであるが、透過型エンコーダをスタンダード(標準)とすれば、反転処理部の設定は逆になる。
すなわち、透過型エンコーダをスタンダード(標準)とすると、反射型光電式エンコーダとするときには反転処理部をオンに設定し、透過型光電式エンコーダとするときには反転処理部をオフに設定することになる。
例えば、透明樹脂で作った長手状のスケール基板に反射部を配置してもよい。反射部の材質も限定されず、各種金属、無機、有機材料を適宜選択すればよい。
すると、光透過部と光反射部とでどちらの防汚性が高いか低いかは一概に言えなくなるが、本発明の趣旨からいってどちらでもよいのである。
反射部が一部欠損しようと透過部が一部欠損しようと、本発明を適用すれば、欠損したパターンに起因する誤検出信号を相関演算から排除することできる。
200…スケール、
300…検出ヘッド部、310…光源、320…レンズ、330…受光部、340…フォトダイオードアレイ、341…フォトダイオード、342…スイッチ、
400…信号処理部、410…イメージ取得部、411…設定切替スイッチ、412…反転処理部、420…相関演算部、
500…信号処理部、510…イメージ取得部、520…量子化部、530…判定部、540…マスキング部、550…符号化部、560…相関演算部、570…中央制御部。
Claims (5)
- 疑似ランダム符号系列に従った2準位符号パターンが測長方向に沿って設けられたスケールと、
前記スケールに沿って相対的に移動可能に設けられ、前記スケール上の擬似ランダム符号系列に基づいてスケール上の絶対位置を検出する検出ヘッド部と、を備えた光電式エンコーダであって、
前記2準位符号パターンの一つの符号は2ビットの組み合わせで構成されているとともに2準位符号を表現するのに3種類以上のビット組合せパターンが使用されており、
前記2準位符号パターンの一つの符号を、符号"1"または符号"0"とし、一つの符号を表わす2ビットの一つのビットをLまたはHとするとき、
前記スケールには、前記Lに相当する位置に光反射部および光透過部のいずれか一方が配置され、前記Hに相当する位置に光反射部および光透過部のいずれか他方が配置され、
前記検出ヘッド部は、
前記スケールに光を照射する光源と、
前記スケールからの反射光または透過光によって形成される明暗の検出イメージを取得するイメージ取得部と、
前記検出イメージを反転処理する反転処理部と、
前記検出イメージのビットデータに対して疑似ランダム符号系列に基づく相関演算を実行して相関のピークから前記スケール上の絶対位置を求める相関演算部と、を有し、
前記相関演算部が前記スケールの反射光による検出イメージを規準として前記相関演算を実行するように設計されており、かつ、前記イメージ取得部が前記スケールの透過光にて形成される検出イメージを取得する場合、前記反転処理部はONに設定され、
前記相関演算部が前記スケールの透過光による検出イメージを規準として前記相関演算を実行するように設計されており、かつ、前記イメージ取得部が前記スケールの反射光にて形成される検出イメージを取得する場合、前記反転処理部はONに設定され、
前記相関演算部が前記スケールの反射光による検出イメージを規準として前記相関演算を実行するように設計されており、かつ、前記イメージ取得部が前記スケールの反射光にて形成される検出イメージを取得する場合、前記反転処理部はOFFに設定され、
前記相関演算部が前記スケールの透過光による検出イメージを規準として前記相関演算を実行するように設計されており、かつ、前記イメージ取得部が前記スケールの透過光にて形成される検出イメージを取得する場合、前記反転処理部はOFFに設定される
ことを特徴とする光電式エンコーダ。 - 疑似ランダム符号系列に従った2準位符号パターンが測長方向に沿って設けられたスケールと、
前記スケールに沿って相対的に移動可能に設けられ、前記スケール上の擬似ランダム符号系列に基づいてスケール上の絶対位置を検出する検出ヘッド部と、を備えた光電式エンコーダであって、
前記2準位符号パターンの一つの符号は2ビットの組み合わせで構成されているとともに2準位符号を表現するのに3種類以上のビット組合せパターンが使用されており、
前記2準位符号パターンの一つの符号を、符号"1"または符号"0"とし、一つの符号を表わす2ビットの一つのビットをLまたはHとするとき、
前記スケールには、前記Lに相当する位置に光反射部および光透過部のいずれか一方が配置され、前記Hに相当する位置に光反射部および光透過部のいずれか他方が配置され、
前記検出ヘッド部は、
前記スケールに光を照射する光源と、
前記スケールからの反射光または透過光によって形成される明暗の検出イメージを取得するイメージ取得部と、
前記検出イメージを反転処理する反転処理部と、
前記検出イメージのビットデータに対して疑似ランダム符号系列に基づく相関演算を実行して相関のピークから前記スケール上の絶対位置を求める相関演算部と、を有し、
さらに、
Lの配置が連続する上限値があり、かつ、Hの配置が連続する上限値がある
ことを特徴とする光電式エンコーダ。 - 疑似ランダム符号系列に従った2準位符号パターンが測長方向に沿って設けられたスケールと、
前記スケールに沿って相対的に移動可能に設けられ、前記スケール上の擬似ランダム符号系列に基づいてスケール上の絶対位置を検出する検出ヘッド部と、を備えた光電式エンコーダであって、
前記2準位符号パターンの一つの符号は2ビットの組み合わせで構成されているとともに2準位符号を表現するのに3種類以上のビット組合せパターンが使用されており、
前記2準位符号パターンの一つの符号を、符号"1"または符号"0"とし、一つの符号を表わす2ビットの一つのビットをLまたはHとするとき、
前記スケールには、前記Lに相当する位置に光反射部および光透過部のいずれか一方が配置され、前記Hに相当する位置に光反射部および光透過部のいずれか他方が配置され、
前記検出ヘッド部は、
前記スケールに光を照射する光源と、
前記スケールからの反射光または透過光によって形成される明暗の検出イメージを取得するイメージ取得部と、
前記検出イメージを反転処理する反転処理部と、
前記検出イメージのビットデータに対して疑似ランダム符号系列に基づく相関演算を実行して相関のピークから前記スケール上の絶対位置を求める相関演算部と、を有し、
前記符号"0"を表現するビットの組合せパターンが2種類以上あり、
前記符号"0"が連続する場合には、隣の組合せパターンとは異なる種類の組合せパターンが使用される
ことを特徴とする光電式エンコーダ。 - 請求項3に記載の光電式エンコーダにおいて、
符号"1"と符号"0"とを交換するように読み替えるようにした
ことを特徴とする光電式エンコーダ。 - 請求項1から請求項4のいずれかに記載の光電式エンコーダにおいて、
前記反転処理部には、反転処理のオンオフ設定を切り替え操作する設定切替スイッチが設けられている
ことを特徴とする光電式エンコーダ。
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