JP6733156B2 - 有機半導体層形成用溶液、有機半導体層、および有機薄膜トランジスタ - Google Patents
有機半導体層形成用溶液、有機半導体層、および有機薄膜トランジスタ Download PDFInfo
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で示されるヘテロアセン誘導体を含む有機半導体層形成用溶液であり、該有機溶媒の粘度が、25℃において、2.5mPa・s以上、10mPa・s以下である有機半導体層形成用溶液に関するものである。
また、これら1種の溶媒または2種以上の溶媒混合物の沸点が150℃以上であることが好ましい。
本発明の有機半導体層形成用溶液は、有機溶媒、上記一般式(1)で示されるヘテロアセン誘導体、および必要な場合は高分子化合物を混合、溶解することで調製する。
本発明の有機半導体層形成用溶液は、粘度が25℃において、2.0mPa・s以上、10mPa・s以下である1種の溶媒または2種以上の溶媒混合物を用いて一般式(1)で示されるヘテロアセン誘導体の濃度を0.01〜10重量%の範囲になるように調製することで、良好な有機半導体層を形成できることを特徴とする。
<実施例1>
テトラリン(シグマアルドリッチ製、ReagentPlus、沸点207℃)9gに2,7−ジ(n−ヘキシル)ジチエノベンゾジチオフェン0.05g(テトラリンに対して0.55wt%)を添加し、50℃に加熱溶解後、さらにデカヒドロ−2−ナフトール(TCI製、沸点211℃)1gを添加した。室温(25℃)に放冷し、有機半導体層形成用溶液を調製した(無色溶液、有機半導体材料濃度0.5wt%)。溶媒混合物の粘度は2.83mPa・sであった。
<実施例2>
テトラリン(シグマアルドリッチ製、ReagentPlus)5gに1,2,3,4−テトラヒドロ−1−ナフトール(TCI製、沸点255℃)5gを添加した。2,7−ジ(n−ヘキシル)ジチエノベンゾジチオフェン0.03gを添加し、50℃に加熱溶解後、さらに室温(25℃)に放冷し、有機半導体層形成用溶液を調製した(無色溶液、有機半導体材料濃度0.3wt%)。溶媒混合物の粘度は7.78mPa・sであった。
<実施例3>
実施例2で作製した有機半導体層形成用溶液の製膜方法をドロップキャストに変更し、実施例2と同じ操作を繰り返して膜厚121nmの有機半導体層を作製した。p型有機薄膜トランジスタを作製して伝達特性の評価を行った。正孔のキャリア移動度は0.40cm2/V・sと高移動度を示した。
<実施例4>
実施例2で作製した有機半導体層形成用溶液に、ポリ(α−メチルスチレン)を0.01g添加した有機半導体層形成用溶液を再度調整し、実施例2と同じ操作を繰り返して膜厚70nmの有機半導体層を作製した。p型有機薄膜トランジスタを作製して伝達特性の評価を行った。正孔のキャリア移動度は0.33cm2/V・sと高移動度を示した。
<比較例1>
テトラリン(シグマアルドリッチ製、ReagentPlus)4gに2,7−ジ(n−ヘキシル)ジチエノベンゾジチオフェン0.01g(テトラリンに対して0.2wt%)を添加し、50℃に加熱溶解後、さらに1,2,3,4−テトラヒドロ−1−ナフトール(TCI製)6gを添加した。室温(25℃)に放冷し、有機半導体層形成用溶液を調製した(無色溶液、有機半導体材料濃度0.1wt%)。溶媒混合物の粘度は10.5mPa・sであった。有機半導体材料濃度を0.2wt%より大きくすると室温に放冷した段階で結晶が析出し、溶液を得ることはできなかった。
<比較例2>
テトラリン(シグマアルドリッチ製、ReagentPlus)4gに2,7−ジ(n−ヘキシル)ジチエノベンゾジチオフェン0.01g(テトラリンに対して0.2wt%)を添加し、50℃に加熱溶解後、さらにデカヒドロ−2−ナフトール(TCI製)6gを添加した。溶媒混合物の粘度は12.83mPa・s、有機半導体材料濃度0.1wt%であった。
(B):ボトムゲート−ボトムコンタクト型有機薄膜トランジスタ
(C):トップゲート−トップコンタクト型有機薄膜トランジスタ
(D):トップゲート−ボトムコンタクト型有機薄膜トランジスタ
1:有機半導体層
2:基板
3:ゲート電極
4:ゲート絶縁層
5:ソース電極
6:ドレイン電極
Claims (5)
- 有機溶媒、および下記一般式(1)
で示されるヘテロアセン誘導体を含む有機半導体層形成用溶液であり、該有機溶媒の粘度が、25℃において、5.0mPa・s以上、10mPa・s以下であるフレキソ印刷用有機半導体層形成用溶液。 - T1〜T4が硫黄原子であることを特徴とする請求項1に記載のフレキソ印刷用有機半導体層形成用溶液。
- 高分子化合物を含むことを特徴とする請求項1または2に記載のフレキソ印刷用有機半導体層形成用溶液。
- 有機溶媒が、有機半導体材料を溶解するための溶媒Aとして炭素数7〜14の芳香族炭化水素、および粘度を調整するための溶媒Bとしてデカヒドロ−2−ナフトール、1,2,3,4,5,6,7,8−オクタヒドロフェナントレン、1,2,3,4−テトラヒドロ−1−ナフトールからなる群の少なくとも1種を含む混合物である請求項1乃至3いずれか一項に記載のフレキソ印刷用有機半導体層形成用溶液。
- 有機溶媒の沸点が常圧において150℃以上である請求項1乃至4いずれか一項に記載のフレキソ印刷用有機半導体形成用溶液。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2017098490A JP2017098490A (ja) | 2017-06-01 |
JP6733156B2 true JP6733156B2 (ja) | 2020-07-29 |
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ID=58817318
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015231803A Active JP6733156B2 (ja) | 2015-11-27 | 2015-11-27 | 有機半導体層形成用溶液、有機半導体層、および有機薄膜トランジスタ |
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Country | Link |
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JP (1) | JP6733156B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7363050B2 (ja) * | 2018-02-23 | 2023-10-18 | 東ソー株式会社 | 有機半導体層形成用溶液、有機半導体層、および有機薄膜トランジスタ |
JP6933399B2 (ja) * | 2019-12-17 | 2021-09-08 | 株式会社Joled | 機能層形成用インクおよび自発光素子の製造方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160124918A (ko) * | 2008-03-06 | 2016-10-28 | 메르크 파텐트 게엠베하 | 유기 반도체 조성물 |
KR20100004258A (ko) * | 2008-07-03 | 2010-01-13 | 포항공과대학교 산학협력단 | 잉크젯 프린트 잉크 및 이를 이용한 유기박막 트랜지스터 |
JP5420311B2 (ja) * | 2009-05-15 | 2014-02-19 | 株式会社Adeka | 溶剤組成物 |
US9178156B2 (en) * | 2009-12-23 | 2015-11-03 | Merck Patent Gmbh | Compositions comprising polymeric binders |
US9252363B2 (en) * | 2012-10-04 | 2016-02-02 | Universal Display Corporation | Aryloxyalkylcarboxylate solvent compositions for inkjet printing of organic layers |
JP2015029020A (ja) * | 2013-07-30 | 2015-02-12 | 東ソー株式会社 | 有機半導体層形成用溶液、有機半導体層および有機薄膜トランジスタ |
JP6252017B2 (ja) * | 2013-07-30 | 2017-12-27 | 東ソー株式会社 | 有機半導体層形成用溶液、有機半導体層および有機薄膜トランジスタ |
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2015
- 2015-11-27 JP JP2015231803A patent/JP6733156B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017098490A (ja) | 2017-06-01 |
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