JP6727626B2 - カルコゲン化合物、その製造方法及びこれを含む熱電素子 - Google Patents
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Description
本出願は、2017年5月15日付韓国特許出願第10−2017−0060148号に基づいた優先権の利益を主張し、当該韓国特許出願の文献に開示されたすべての内容は本明細書の一部として含まれる。
[化学式1]
VxMyPbzSn4−zBi2Se7
前記化学式1において、Vは空孔(Vacancy)であり、Mはアルカリ金属であり、
x、y、z及び4−zはそれぞれV、M、Pb及びSnのモル比であって、xは0超1未満、yは0超1未満、x+yは0超1以下であり、zは0超4以下であり、x+y+zは0超5以下である。
[化学式1]
VxMyPbzSn4−zBi2Se7
前記化学式1において、Vは空孔(Vacancy)であり、Mはアルカリ金属であり、
x、y、z及び4−zはそれぞれV、M、Pb及びSnのモル比であって、xは0超1未満、yは0超1未満、x+yは0超1以下であり、zは0超4以下であり、x+y+zは0超5以下である。
高純度原料物質であるNa、Pb、Sn、Bi及びSeの各粉末をグローブボックスで0.2:0.05:3.95:2:7のモル比で重量を測定してカーボンルツボ(carbon crucible)に入れた後、石英管に装入した。石英管の内部は真空密封した。そして、前記原料物質を750℃で24時間電気炉(furnace)の内部で恒温維持した後常温で徐々に冷却させた。
高純度原料物質であるNa、Pb、Sn、Bi及びSeの各粉末をグローブボックスで0.2:0.1:3.9:2:7のモル比で混合したことを除いては、実施例1と同様の方法でV0.8Na0.2Pb0.1Sn3.9Bi2Se7のカルコゲン化合物を製造した。
高純度原料物質であるNa、Pb、Sn、Bi及びSeの各粉末をグローブボックスで0.2:0.2:3.8:2:7のモル比で混合したことを除いては、実施例1と同様の方法でV0.8Na0.2Pb0.2Sn3.8Bi2Se7のカルコゲン化合物を製造した。
高純度原料物質であるNa、Pb、Sn、Bi及びSeの各粉末をグローブボックスで0.2:0.4:3.6:2:7のモル比で混合したことを除いては、実施例1と同様の方法でV0.8Na0.2Pb0.4Sn3.6Bi2Se7のカルコゲン化合物を製造した。
高純度原料物質であるNa、Pb、Sn、Bi及びSeの各粉末をグローブボックスで0.2:0.8:3.2:2:7のモル比で混合したことを除いては、実施例1と同様の方法でV0.8Na0.2Pb0.8Sn3.2Bi2Se7のカルコゲン化合物を製造した。
高純度原料物質であるNa、Sn、Bi及びSeの各粉末をグローブボックスで0.2:4:2:7のモル比で混合したことを除いては、実施例1と同様の方法でV0.8Na0.2Sn4Bi2Se7のカルコゲン化合物を製造した。
高純度原料物質であるNa、Pb、Sn、Bi及びSeの各粉末をグローブボックスで1:0.05:3.95:2:7のモル比で混合したことを除いては、実施例1と同様の方法でカルコゲン化合物を製造しようとした。
高純度原料物質であるNa、Pb、Sn、Bi及びSeの各粉末をグローブボックスで0.2:0.05:4.75:2:7のモル比で混合したことを除いては、実施例1と同様の方法でカルコゲン化合物を製造しようとした。
高純度原料物質であるNa、Pb、Sn、Bi及びSeの各粉末をグローブボックスで0.2:0.05:3.95:2.8:7のモル比で混合したことを除いては、実施例1と同様の方法でカルコゲン化合物を製造しようとした。
1.XRDパターンによる相分析
実施例1〜5及び比較例1で焼結工程直前の粉末状態のカルコゲン化合物に対して、X線回折分析を行い、その結果を図3に示した。同様に、比較例2〜4で焼結工程直前の粉末状態のカルコゲン化合物に対して、X線回折分析を行い、その結果を図4に示した。また、実施例1〜5及び比較例1で焼結工程により最終製造された焼結体を約620℃から300℃に徐々に冷却させた後、再び常温(25℃)に冷却させてから焼結体を15日間大気雰囲気に維持した後、各焼結体に対してX線回折分析を行い、その結果を図5に示した。
TOPASプログラムを用いて実施例1〜5及び比較例1の各粉末状態のカルコゲン化合物に対して格子定数を計算し、これを下記表1に示した。さらに、TOPASプログラムにより計算された実施例1〜5及び比較例1のカルコゲン化合物のRietveld refinement結果を下記表2に示した。
実施例1〜5及び比較例1で製造されたカルコゲン化合物試片に対して電気伝導度を温度変化に応じて測定して図6に示した。このような電気伝導度は、非抵抗測定装備であるLinseis社のLSR−3を用いて直流4探針法により100〜400℃の温度領域で測定された。
実施例1〜5及び比較例1で製造されたカルコゲン化合物試片に対してゼーベック係数(S)を温度変化に応じて測定して図7に示した。このようなゼーベック係数は、測定装備であるLinseis社のLSR−3を用いて、differential voltage/temperature techniqueを適用して100〜400℃の温度領域で測定された。
実施例1〜5及び比較例1で製造されたカルコゲン化合物試片に対して出力因子を温度変化に応じて計算して図8に示した。
実施例1〜5及び比較例1で製造されたカルコゲン化合物試片に対して総熱伝導度及び格子熱伝導度を温度変化に応じて測定し、図9及び10にそれぞれ示した。このような熱伝導度の測定においては、まず、熱伝導度測定装備であるNetzsch社のLFA457装備を用いてレーザー閃光法を適用して熱拡散度(D)及び熱容量(Cp)を測定した。このような測定値を式「熱伝導度(k)=DρCp(ρはアルキメデス法で測定されたサンプル密度)」の式に適用して熱伝導度(k)を算出した。
実施例1〜5及び比較例1で製造されたカルコゲン化合物試片に対して熱電性能指数を温度変化に応じて計算して図11に示した。熱電性能指数は、ZT=S2σT/kで定義され、前記実験例で得られたS(ゼーベック係数)、σ(電気伝導度)、T(絶対温度)及びk(熱伝導度)の値を用いて計算した。
Claims (14)
- 下記の化学式1で表されるカルコゲン化合物:
[化学式1]
VxMyPbzSn4−zBi2Se7
前記化学式1において、Vは空孔(Vacancy)であり、Mはアルカリ金属であり、
x、y、z及び4−zは、それぞれV、M、Pb及びSnのモル比であって、xは0超1未満、yは0超1未満、x+yは0超1以下であり、zは0超1以下であり、x+y+zは0超5以下である。 - 前記MはLi、Na及びKからなる群より選ばれる1種以上のアルカリ金属である請求項1に記載のカルコゲン化合物。
- 面心立方格子構造(face−centered cubic lattice)の結晶構造を有する請求項1に記載のカルコゲン化合物。
- 前記空孔(V)は前記面心立方格子構造において、前記Se、Sn、Pb及びBiが埋めたサイトを除いた空いたサイトであり、
前記Mは前記空孔(V)の一部に埋められる請求項3に記載のカルコゲン化合物。 - 前記Seは面心立方格子構造の陰イオンサイトを埋めており、
前記Sn、Pb及びBiは面心立方格子構造の陽イオンサイトを埋めており、
前記空孔(V)は前記Sn、Pb及びBiが埋めたサイトを除いて残存する陽イオンサイトの空いたサイトであり、
前記Mは前記空孔(V)の一部に埋められる請求項3に記載のカルコゲン化合物。 - 前記Pbは前記面心立方格子構造において、前記Snのサイトに置換される請求項3に記載のカルコゲン化合物。
- 熱電変換材料として使用される請求項1に記載のカルコゲン化合物。
- Sn、Pb、Bi、Se及びアルカリ金属(M)の原料物質を含む混合物を溶融する段階と、
前記溶融された混合物を熱処理する段階と、
前記熱処理された結果物を粉砕する段階と、
前記粉砕された結果物を焼結する段階とを含む請求項1に記載のカルコゲン化合物の製造方法。 - 前記溶融は750〜900℃の温度で行われる請求項8に記載のカルコゲン化合物の製造方法。
- 前記熱処理は500〜650℃の温度で行われる請求項8に記載のカルコゲン化合物の製造方法。
- 前記熱処理段階及び粉砕段階の間に、前記熱処理段階の結果物を冷却してインゴットを形成する段階をさらに含む請求項8に記載のカルコゲン化合物の製造方法。
- 前記焼結段階は、放電プラズマ焼結法によって行われる請求項8に記載のカルコゲン化合物の製造方法。
- 前記焼結段階は、550〜700℃の温度及び10〜130MPaの圧力下で行われる請求項8に記載のカルコゲン化合物の製造方法。
- 請求項1〜6のうちいずれか一項によるカルコゲン化合物を熱電変換材料として含む熱電素子。
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