JP6701753B2 - 冷却モジュール及び装置 - Google Patents

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本発明は、冷却モジュール及び装置に関し、特に、発熱体から発生する熱を放熱する冷却モジュール及び装置に関する。
近年、パーソナルコンピュータ等の電子装置(装置)においては、高性能化が進んでいる。これに伴い、電子機器に実装されているCPU、このCPUの周辺の集積回路、及び電源回路等の発熱体の発熱量が増大傾向にある。このため、発熱体から発生する熱を効率的にヒートシンク等の放熱体に逃がす技術が求められている。なお、「CPU」とは「Central Processing Unit」の略である。
発熱体から発生する熱を効率的に放熱体に逃がす技術として、例えば、特許文献1及び2には、ヒートパイプに関する技術が開示されている。この特許文献1記載の技術は、ヒートパイプにて二つのヒートシンクを熱的に接続している。また、特許文献2記載の技術も、特許文献1記載の技術と同様に、ヒートパイプにて二つのヒートシンクを熱的に接続している。これにより、特許文献1及び2記載の技術は、複数の放熱体の全体で各発熱体から発生する熱を放熱している。
特開2001−203307号公報 国際公開第2015/012797号
ところで、ヒートパイプは、一般的に、銅等の金属を用いて構成されており、剛性が高く、容易に曲げたりすることができない特性を持っている。このため、上記特許文献1及び2記載の技術は、チップの個体差、実装誤差により各放熱体と各発熱体との距離が異なる場合、基板、熱伝導性部材等の経年劣化により、ある放熱体と発熱体の距離が変化した場合等において、放熱体を発熱体に向かって押そうとしても、ヒートパイプの剛性により放熱体を発熱体に近づけることが困難である。このように、上記特許文献1及び2記載の技術では、ヒートパイプを容易に曲げることができないため、容易に各放熱体を発熱体に密着させることができない。なお、各放熱体と各発熱体との距離の差が生じる要因としては、上述したように、二つの発熱体の個体差、実装誤差等による高さバラつきがある。一例として、発熱体の高さの許容誤差が±0.2mmとすると、一方の発熱体が+0.2mmに振れ、他方の発熱体が−0.2mmに振れると、0.4mmの差分が生じる。このような場合も、上述したように、ヒートパイプを容易に曲げることができないため、容易に各放熱体を発熱体に密着させることができない。
そこで、本発明の目的は、容易に各放熱体を発熱体に密着させることが可能な冷却モジュール及び装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明に係る冷却モジュールは、発熱体から発生する熱を放熱する複数のヒートシンクと、これら複数のヒートシンクを熱的に接続するヒートパイプと、を備え、上記ヒートパイプは、上記ヒートシンクの間のずれを吸収する吸収部を含むこと、を特徴とする。
上記目的を達成するために、本発明に係る装置は、上記冷却モジュールと、複数の発熱体と、を具備して構成される。
本発明によれば、容易に各放熱体を発熱体に密着させることができる。
本発明の一実施形態(第1の実施形態)に係る電子装置(装置)の構成を示す平面図であり、電子装置の第1の状態を示す図である。 本発明の一実施形態(第1の実施形態)に係る電子装置(装置)の構成を示す断面図であり、電子装置の第1の状態を示す図である。 本発明の一実施形態(第1の実施形態)に係る電子装置(装置)の構成を示す平面図であり、電子装置の第2の状態を示す図である。 本発明の一実施形態(第1の実施形態)に係る電子装置(装置)の構成を示す断面図であり、電子装置の第2の状態を示す図である。 本発明の他の実施形態(第2の実施形態)に係る電子装置(装置)の構成を示す平面図である。 本発明の他の実施形態(第2の実施形態)に係る電子装置(装置)の構成を示す断面図であり、電子装置の第1の状態を示す図である。 本発明の他の実施形態(第2の実施形態)に係る電子装置(装置)の構成を示す断面図であり、電子装置の第2の状態を示す図である。 ヒートパイプの第1の吸収部及び第2の吸収部の構成を示す断面図であり、(a)は、第1の吸収部の第1例を示す図であり、(b)は、第1の吸収部の第2例を示す図であり、(c)は、第2の吸収部の第1例を示す図であり、(d)は、第2の吸収部の第2例を示す図である。
以下、図面を用いて、本発明の実施形態について説明する。
(第1の実施形態)
図1乃至図4を用いて、本発明の一実施形態(第1の実施形態)について説明する。図1及び図2は、本実施形態(第1の実施形態)に係る電子装置(装置)100の構成を示す平面図及び断面図であり、電子装置100の第1の状態を示す図である。また、図3及び図4は、本実施形態(第1の実施形態)に係る電子装置(装置)100の構成を示す平面図及び断面図であり、電子装置100の第2の状態を示す図である。なお、第1の状態では、経年劣化、実装誤差等により発熱体112とヒートシンク132とが離れた状態を示している。第2の状態では、ヒートシンク132を発熱体112側に向けて押して、ヒートシンク132と発熱体112とを密着させた状態を示している。
電子装置100は、複数の発熱体111,112と、冷却モジュール120と、を備えている。これら複数の発熱体111,112は、例えば、複数の集積回路素子からなるCPU、LSI、MPU等である。発熱体111,112は、作動時に熱を発する。このため、発熱体111,112には、これら発熱体111,112により発生する熱を放熱するために、冷却モジュール120が熱的に接続されている。ここで、「LSI」は「Large Scale Integration」の略である。「MPU」は「Micro Processing Unit」の略である。
冷却モジュール120は、複数のヒートシンク131,132と、ヒートパイプ141とを備えている。これら複数のヒートシンク131,132の夫々は、発熱体111,112から発生した熱を放熱するためのものであり、熱伝導性の良い、アルミニウム、金又は銅等の金属を用いて形成されている。なお、本実施形態では、各ヒートシンク131,132が各発熱体111,112から発生した熱を放熱しているが、これに限定されず、ヒートシンク131が複数の発熱体(例えば、発熱体111と図示しない他の発熱体)から発生した熱を放熱するようにしても良い。
ヒートパイプ141は、複数のヒートシンク131,132を熱的に接続している。また、ヒートパイプ141は、複数のヒートシンク131,132の間のずれを吸収する吸収部145を有している。なお、複数のヒートシンク131,132の間のずれとは、各発熱体111,112に各ヒートシンク131,132を搭載した際に生じる隙間、間隙、位置ずれ等のことである。この隙間、間隙等は、距離の差によって生じる。この距離の差は発熱体111,112の個体差等によって生じる。図2を用いて例示すると、距離の差は、各ヒートシンク131,132の各発熱体111,112との距離の差(H1−H2)をいう。すなわち、距離の差は、ヒートシンク131と発熱体111との距離と、ヒートシンク132と発熱体112との距離と、の差である。位置ずれは、実装誤差によって生じる。図1を用いて例示すると、位置ずれは、発熱体112に対しヒートシンク132が積層方向に対する直交方向でずれている距離の差をいう(図1では、ヒートシンク132が下方側にずれている)。また、ずれを吸収するとは、各ヒートシンク131,132と各発熱体111,112との隙間を埋め、各ヒートシンク131,132の各発熱体111,112との距離の差を無くすことをいう。また、本実施形態では、一つの吸収部145からなるが、これに限定されず、複数の吸収部を用いることも可能である。
ここで、ヒートパイプ141は、一般的に銅等の金属を用いて構成されており、剛性が高く、容易に曲げたりすることができない特性を持っている。このような剛性の高いヒートパイプ141を用いる場合、チップの個体差、実装誤差により各放熱体と各発熱体との距離が異なる場合、基板、熱伝導性部材等の経年劣化により、ある放熱体と発熱体の距離が変化した場合等において、以下のような問題が生じる。その問題とは、ばねネジ等の押圧部材を用いて、ヒートシンク132を発熱体112に向かって押したとしても、ヒートパイプ141の剛性によりヒートシンク132を発熱体112に近づけることが困難である。このため、ヒートシンク132を押すために、強い力が必要であったり、ヒートシンク132を強く押しすぎると破損させてしまったりする可能性がある。なお、各ヒートシンク131,132と各発熱体111,112との距離の差が生じる要因としては、上述したように、二つの発熱体の個体差、実装誤差等による高さバラつきがある。一例として、各発熱体111,112の高さの許容誤差が±0.2mmとすると、一方の発熱体111が+0.2mmに振れ、他方の発熱体112が−0.2mmに振れると、0.4mmの差分が生じる。このような場合も、上述したように、ヒートパイプを容易に曲げることができないため、ヒートシンク132を発熱体112に近づけることが困難である。
これに対し、本実施形態のヒートパイプ141は、上述したように、複数のヒートシンク131,132の間のずれを吸収する吸収部145を有している。このため、押圧部材を用いて、ヒートシンク132を発熱体112に向かって押すと、吸収部145を基点として、ヒートパイプ141を容易に撓ませることが可能となる。よって、冷却モジュール120及びこの冷却モジュール120を具備する電子装置100を用いて、容易に各ヒートシンク131,132を各発熱体111,112に密着させることができる。
(第2の実施形態)
図5乃至図8を用いて、本発明の他の実施形態(第2の実施形態)について説明する。まず、図5乃至図7を用いて、電子装置200の構成について説明する。図5は、本実施形態(第2の実施形態)に係る電子装置(装置)200の構成を示す平面図である。図6及び図7は、本発明の他の実施形態(第2の実施形態)に係る電子装置(装置)200の構成を示す断面図であり、電子装置200の第1及び第2の状態を示す図である。なお、図5において左右方向をX方向として、上下方向をY方向とする。また、図5において示している面を平面とする。また、図6における第1の状態では、経年劣化、実装誤差等により発熱体212,213とヒートシンク232,233とが離れた状態を示している。図7における第2の状態では、ヒートシンク232,233を発熱体212,213側に向けて押して、ヒートシンク232,233と発熱体212,213とを密着させた状態を示している。
電子装置200は、基板201、フレーム202、複数の発熱体211,212,213及び冷却モジュールを具備している。基板201は、周知の技術であるため、簡易的な説明に留め、具体的な説明を省略するが、フェノール樹脂、エポキシ樹脂等を用いて板状をなして形成される。そして、板状をなして形成された基板201の面上には、フレーム202及び複数の発熱体211,212,213が配設される。
フレーム202も、周知の技術であるため、簡易的な説明に留め、具体的な説明を省略するが、天板及び側板からなり、基板201を覆うように配設されている。そして、基板201及びフレーム202により覆われた空間に、複数の発熱体211,212,213が配設されている。
各発熱体211,212,213も、周知の技術であるため、具体的な説明を省略するが、例えば、複数の集積回路素子からなるCPU、LSI、MPU等である。これら各発熱体211,212,213は、作動時に熱を発する。このため、これら各発熱体211,212,213には、これら各発熱体211,212,213により発生する熱を放熱するために、冷却モジュールが熱的に接続されている。
冷却モジュールは、複数のヒートシンク231,232,233,234,235、熱伝導性部材251,252,253、第1の保持機構、第2の保持機構、第3の保持機構及び複数のヒートパイプ241,242,243,244を具備している。この冷却モジュールは、各発熱体211,212,213から発生する熱を各ヒートシンク231,232,233,234,235にて放熱している。
なお、これらヒートシンク231,232,233,234,235は、同じ構成であるため、ヒートシンク231について説明し、他のヒートシンク232,233,234,235については説明を省略する。同様に、熱伝導性部材251,252,253についても、同じ構成であるため、熱伝導性部材251について説明し、他の熱伝導性部材252,253については説明を省略する。また、第1の保持機構乃至第3の保持機構についても、同じ構成であるため、第1の保持機構について説明し、第2の保持機構及び第3の保持機構については説明を省略する。また、ヒートパイプ241,242,243,244についても、同じ構成であるため、ヒートパイプ241について説明し、他のヒートパイプ242,243,244については説明を省略する。
ヒートシンク231は、周知の技術であるため、具体的な説明を省略するが、各発熱体211,212,213から発生した熱を放熱するためのものであり、熱伝導性の良い、アルミニウム、金又は銅等の金属を用いて形成されている。このヒートシンク231は、一例として、プレートフィンタイプが挙げられる。このプレートフィンタイプのヒートシンク231は、ベースと複数のプレートフィンとからなる。そして、このベースに複数のプレートフィンが立設されてなる。このため、各プレートフィンの間を風が通過し、ヒートシンク231の全体を冷やすことが可能となる。発熱体211とヒートシンク231との間には、熱伝導性部材251が配設されている。
熱伝導性部材251は、周知の技術であるため、具体的な説明を省略するが、例えば、シート状熱伝導ゲル、高性能放熱グリース、放熱ゴム、放熱用ギャップ充填材を用いて構成される。そして、熱伝導性部材251は、上述したように、発熱体211とヒートシンク231の間に配設されており、発熱体211とヒートシンク231と密着性を高めている。
第1の保持機構も、周知の技術であるため、具体的な説明を省略するが、複数の保持具261,262,263,264を有している。これら複数の保持具261,262,263,264の各々は、ピン及び圧縮コイルばねを有している。これら複数の保持具261,262,263,264は、ピンの軸部に圧縮コイルばねを嵌め込み、ヒートシンク231に形成された孔にピンを挿通させ、ヒートシンク231をフレーム202に固定させる。そして、これら複数の保持具261,262,263,264は、ピンを回動させ、ヒートシンク231を発熱体211側に近づけたり、遠ざけたりし、発熱体211とヒートシンク231との距離を調整している。
ヒートパイプ241は、銅等の金属を用いて構成されている。ヒートパイプ241は、ヒートシンク231,232を接続している。そして、ヒートパイプ241は、中空状をなして形成され、内部に冷媒としての水を通過させ、ヒートシンク231,232の間で水を循環させている。ヒートパイプ241は、ヒートシンク231,232との間で熱交換している。したがって、ヒートパイプ241において、冷媒は、ヒートシンク231,232の一方の側である高温側で内部液体が蒸発して他方の側である低温側に移動し、他方の側である低温側で凝縮液化してヒートパイプ241の内壁を伝って一方の側である高温側に移動することにより、循環している。
ここで、各発熱体212とヒートシンク232との間の距離は、基板201、熱伝導性部材252等の経年劣化により、変化が生じる場合がある。この場合、発熱体212とヒートシンク232との密着性を低減させてしまう可能性がある。そして、関連するヒートパイプの形状が円筒状をなして形成されているとする。このような場合、例えば、保持機構262によりヒートシンク232を発熱体212に移動させようとしても、関連するヒートパイプでは、このヒートパイプの剛性により移動させることが困難である。なぜなら、保持機構262の押圧力よりもヒートパイプの剛性が高く、ヒートパイプを容易に曲げることができないからである。なお、各ヒートシンク231,232と各発熱体211,211との距離の差が生じる要因としては、二つの発熱体211,212の実装誤差による高さバラつきがある。一例として、各発熱体211,212の高さの許容誤差が±0.2mmとすると、一方の発熱体211が+0.2mmに振れ、他方の発熱体212が−0.2mmに振れると、0.4mmの差分が生じる。このような場合も、上述したように、ヒートパイプを容易に曲げることができないため、容易に各ヒートシンク231,232を各発熱体211,212に密着させることができない。
これに対し、本実施形態のヒートパイプ241は、第1の吸収部245及び第2の吸収部246を有している。ここで、図8を用いて、第1の吸収部245及び第2の吸収部246の形状について説明する。図8は、ヒートパイプ241の第1の吸収部245第2吸収部246の構成を示す断面図であり、(a)及び(b)は、第1の吸収部245の第1例及び第2例を示す図であり、(c)及び(d)は、第2の吸収部246の第1例及び第2例を示す図である。これら第1の吸収部245及び第2の吸収部246は、ヒートパイプ241の一部の形状を異ならせてなる。具体的には、これら第1の吸収部245及び第2の吸収部246は、ヒートシンク231,232のずれの方向に合わせて細く形成されてなる。本実施形態では、第1の吸収部245及び第2の吸収部246は、くびれるように形成されてなったり、つぶして形成されてなったりと種々の形態で実現することが可能となる。また、その際、図8(a)及び図8(c)に例示されるように、両面からつぶして細くしたり、図8(b)及び図8(d)に例示されるように、片方の面から細くしたりしてなる。なお、細くする方向については、図8(a)及び図8(b)に例示されるように、積層方向に細く形成したり、図8(c)及び図8(d)に例示されるように、積層方向に対する直交方向に細く形成したり等、種々の形態で実現することが可能となる。ここで、ずれとは、各ヒートシンク231,232の各発熱体211,212との距離の差をいう。また、ヒートシンク231,232のずれの方向とは、上述したように、発熱体212とヒートシンク232との積層方向及び積層方向に対する直交方向である。なお、第1の吸収部246及び第2の吸収部246の何れも積層方向に細く形成したり、何れも積層方向に対する直交方向に細く形成しても良い。また、第1の吸収部245を積層方向に細く形成し、第2の吸収部246を積層方向に対する直交方向に細く形成しても良い。このように、第1の吸収部245及び第2の吸収部246は、ヒートパイプ241の一部を細くし、ヒートパイプ241の他の部分よりも剛性を低くしている。これにより、保持機構262によりヒートシンク232への押圧力が印加された際、第1の吸収部245及び第2の吸収部246を基点としてヒートパイプ241を曲げ易くしている。
また、第1の吸収部245は、第1の保持機構,第2の保持機構を用いて各ヒートシンク231,232を発熱体211,212に向けて押すと、電子装置200を正面視すると、山状をなして曲がる。一方、第2の吸収部246は、第1の保持機構,第2の保持機構を用いてヒートシンク231,232を発熱体211,212に向けて押すと、谷状をなして曲がる。すなわち、ヒートパイプ241は、電子装置200を正面視すると、クランク状をなして曲がる。このように、本実施形態では、ヒートパイプ241をクランク状に曲げているため、ヒートシンク232を押した際に、ヒートシンク231を傾かせることなく、平行に保つことが可能となる。
また、ヒートパイプ241は、電子装置200のY方向(図5における上下方向)に延びる第1の延設部247、第1の延設部247の一端からX方向(図5における左右方向)に延びる第2の延設部248、第2の延設部248からY方向に延びる第3の延設部249からなる。すなわち、ヒートパイプ241は、ヒートシンク231,232間をその最短距離で繋がず、Y方向に延び、そこから曲げてX方向に延び、さらに、曲げてY方向に延びて接続されている。そして、第1の吸収部245及び第2の吸収部246は、ヒートパイプ241の第2の延設部248の一部に配設されている。このように、同じ方向に第1の吸収部245及び第2の吸収部246を有することで、ヒートシンク232を押した際に、より確実にヒートシンク231を傾かせることなく、平行に保つことが可能となる。
以上のように、本実施形態の冷却モジュール及びこの冷却モジュールを具備する電子装置200によれば、第1の吸収部245及び第2の吸収部246を基点として、ヒートパイプ241を容易に撓ませることが可能となる。よって、本実施形態の冷却モジュール及びこの冷却モジュールを具備する電子装置200を用いて、容易に各ヒートシンク221,222,223,224,225を各発熱体202,203,204に密着させることができる。
なお、本実施形態では、第1の吸収部245及び第2の吸収部246の一例として、ヒートパイプ241の一部を細くしているが、ヒートパイプ241の一部を容易に曲げ易くするものであれば、これに限定されない。例えば、第1の吸収部245及び第2の吸収部246を剛性の低い部材を用いても良い。
100 電子装置
111,112 発熱体
120 冷却モジュール
131,132 ヒートシンク
141 ヒートパイプ
145 吸収部

Claims (10)

  1. 発熱体から発生する熱を放熱する複数のヒートシンクと、
    これら複数のヒートシンクを熱的に接続するヒートパイプと、を備え、
    前記ヒートパイプは、前記ヒートシンクの間のずれを吸収する吸収部を含み、
    前記吸収部は、前記ヒートパイプの延在方向に対して垂直方向で切断した切断面において、凹部を有すること、を特徴とする冷却モジュール。

  2. 前記吸収部は、前記ヒートパイプの一部の形状を異ならせてなること、
    を特徴とする請求項1記載の冷却モジュール。
  3. 前記吸収部は、前記ずれの方向に合わせて細く形成されてなること、
    を特徴とする請求項1又は2記載の冷却モジュール。
  4. 前記吸収部は、前記発熱体と前記ヒートシンクとの積層方向に対して細く形成されてなること、
    を特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の冷却モジュール。
  5. 前記吸収部は、少なくとも二か所に配設された第1及び第2の吸収部からなること、
    を特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の冷却モジュール。
  6. 前記ヒートパイプは、前記第1及び第2の吸収部を基点として曲がり、曲がった際にクランク状をなすこと、
    を特徴とする請求項5記載の冷却モジュール。
  7. 前記ヒートパイプは、互いに異なる方向に延びる第1及び第2の延設部をさらに有し、
    前記第1及び第2の吸収部は、前記第1又は第2の延設部の何れか一方に配設されること、
    を特徴とする請求項5又は6記載の冷却モジュール。
  8. 前記ヒートシンクを発熱体に向かって押圧する押圧部材をさらに備え、
    前記吸収部は、前記押圧部材による押圧に起因して前記ずれを吸収すること、
    を特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の冷却モジュール。
  9. 前記発熱体と前記ヒートシンクとの間に、熱伝導性部材をさらに備えること、
    を特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の冷却モジュール。
  10. 請求項1乃至9の何れか一項に記載の冷却モジュールと、
    複数の発熱体と、を具備すること、
    を特徴とする装置。
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