JP6692052B2 - Image loss detection device and image loss detection method - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、文字や絵柄等の画像における欠損を検出する画像欠損検出装置及び、その画像欠損検出方法に関する。   Embodiments of the present invention relate to an image loss detection device that detects a loss in an image such as a character or a pattern, and an image loss detection method thereof.

従来、印刷される文字の品質の検査は、例えば良品である基準文字を判定基準として、印刷文字と基準文字とを比較し、一致しているか否かにより印刷文字の良/不良が判定されている。例えば、特許文献1には、比較に用いる基準文字の線幅に許容幅を持たせて判定する技術が開示されている。
この技術は、基準文字の線幅よりも所定の画素数分内側へ縮小した(又は、細くした)画像パターンを第1の基準画像として、印刷文字を含む文字画像と比較して、文字画像の「欠け」、「穴あき」、及び「切れ」等の部分的欠落を検出する。さらに、基準画像よりも所定の画素数分外側へ拡大した(太くした)画像パターンを第2の基準画像として、文字画像と比較して、文字画像の「はみ出し」等の汚れを検出する。
Conventionally, for inspection of the quality of printed characters, for example, a reference character that is a non-defective product is used as a determination reference to compare the print character with the reference character, and whether the print character is good or defective is determined by whether they match. There is. For example, Patent Document 1 discloses a technique for making a determination by giving an allowable width to the line width of a reference character used for comparison.
In this technique, an image pattern that is reduced (or narrowed) inward by a predetermined number of pixels from the line width of a reference character is used as a first reference image and compared with a character image that includes a print character, Detects partial omissions such as "chipped", "perforated", and "cut". Further, an image pattern enlarged (thickened) outward by a predetermined number of pixels from the reference image is used as a second reference image and compared with the character image to detect stains such as “protrusion” of the character image.

特許公報4128181号公報Patent Publication No. 4128181

前述した特許文献1による基準文字の線幅に許容幅を持たせて比較する判定においては、文字等の線から離れた微小な点が存在する場合、基準文字を細くしたパターンを作成する際に、その点が消滅又は縮小する。このため、撮影された検査画像において、点が無くても良判定の範囲内になってしまい、点の欠落を検出できない、又は欠損画素数を少なく検出するという問題が生じる。   In the determination according to the above-mentioned Patent Document 1 in which the line width of the reference character is allowed to be compared, when there is a minute point distant from the line of the character or the like, when a pattern in which the reference character is thin is created , That point disappears or shrinks. For this reason, in the photographed inspection image, even if there are no points, they are within the range of good judgment, and there arises a problem that the missing points cannot be detected or the number of missing pixels is detected small.

また、基準画像よりも所定の画素数分外側へ拡大した画像パターンは、絵柄ずれ許容範囲の機能も有している。人の見た目では、僅かに位置ずれして印刷されても、文字に欠損が無ければ、正確に視認できるが、機械的な欠損の検出を厳密に行うと、僅かな位置ずれにでも文字の一部が欠損しているものと識別され、不良として判定される。そこで、文字の線幅や長さを大きくして、絵柄ずれ許容範囲を与えることで、僅かな位置ずれのみであれば、正確に印刷されていると判定できる。その反面、判定のための基準文字の線幅や長さを大きくしたことで、基準文字よりも内側に存在している、点の欠損や短くなった箇所を検出できない、又は欠損画素数を少なく検出するおそれがある。   In addition, the image pattern enlarged outward by a predetermined number of pixels from the reference image also has a function of a pattern deviation allowable range. From the human appearance, even if a character is printed with a slight misalignment, it can be visually recognized accurately if there is no defect in the character. The part is identified as defective and is determined to be defective. Therefore, by increasing the line width and the length of the character and giving the allowable range of picture misalignment, it can be determined that the printing is correctly performed if only a slight misalignment occurs. On the other hand, by increasing the line width and length of the reference character for determination, it is not possible to detect missing points or shortened points that are inside the reference character, or reduce the number of missing pixels. May be detected.

そこで本発明は、検査対象となる文字及び絵柄を含む画像において、文字等の線から離れて存在する微小な点の欠損及び、文字等の線が欠けて短くなった欠損を検出することができる画像欠損検出装置及び、その画像欠損検出方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention can detect a defect of a minute point existing apart from a line of a character or the like, and a defect in which a line of the character or the like is shortened in an image including a character and a pattern to be inspected. An object is to provide an image loss detection device and an image loss detection method thereof.

本発明に従う実施形態の画像欠損検出装置は、基準画像に含まれる検査対象の基準文字及び基準絵柄の位置ずれに対する第1の絵柄ずれ許容範囲を設定し、該第1の絵柄ずれ許容範囲が設定された基準画像と、取得した検査対象を含む検査画像とを比較する第1比較部と、前記検査画像に含まれる前記検査対象の文字及び絵柄の位置ずれに対する第2の絵柄ずれ許容範囲を設定し、該第2の絵柄ずれ許容範囲が設定された検査画像と、前記検査対象を含む前記基準画像とを比較する第2比較部と、前記第1比較部と前記第2比較部から出力されたそれぞれの比較結果において、いずれか一方の比較結果に、前記検査対象の画像に欠損有りの比較結果が含まれていた場合には、画像欠損があると判定し、不良の判定を行う判定部と、を備える。 Image loss detection apparatus embodiment according to the present invention sets the first picture misalignment tolerance for the reference characters and the reference position deviation of the pattern of the inspection object that is part of the reference image, the first pattern deviation tolerance A first comparison unit that compares the reference image in which the reference image is set with an inspection image including the acquired inspection target, and a second pattern displacement allowable range with respect to the positional displacement of the character and the pattern of the inspection target included in the inspection image. set, and said inspection image second pattern deviation allowable range is set, and the second comparison unit for comparing the reference image including the inspection target, from the first comparing portion and the second comparator unit In each of the output comparison results, when one of the comparison results includes a comparison result indicating that the image to be inspected has a defect, it is determined that there is an image defect and a defect is determined. And a determination unit.

さらに、実施形態の画像欠損検出方法は、基準画像に含まれる検査対象となる基準文字及び基準絵柄に対して、濃度の閾値を変更することで線幅を太く又は細くした画像パターンに変換して、検査対象に位置ずれが生じても正確に判定するための第1の絵柄ずれ許容範囲を設定した第1比較の基準の比較用基準画像を生成し、該比較用基準画像と、取得した検査対象を含む検査画像とを比較する第1の比較と、取得した検査画像に含まれる検査対象となる文字及び絵柄等に対して、濃度の閾値を変更することで線幅を太く又は細くした画像パターンに変換して、検査対象に位置ずれが生じても正確に判定するための第2の絵柄ずれ許容範囲を設定した第2比較の基準の比較用検査画像を生成し、該比較用検査画像と、前記基準文字及び前記基準絵柄を含む基準画像とを比較する第2の比較と、前記第1の比較と前記第2の比較から出力されたそれぞれの比較結果のうちで、少なくとも1つの比較結果に、前記検査画像に欠損が生じていた際に、前記検査画像を不良判定とする判定と、を備える。
Furthermore, the image loss detection method of the embodiment converts the reference character and the reference pattern to be inspected included in the reference image into an image pattern having a thick or thin line width by changing the density threshold. generates a reference comparison reference image of the first comparison is set to the first picture misalignment tolerance for even if positional deviation inspection target accurately determining a reference image for the comparison, the acquired inspection An image in which the line width is thickened or thinned by changing the density threshold value for the first comparison for comparing with the inspection image including the target and for the characters and patterns to be inspected included in the acquired inspection image The inspection image for comparison is generated by converting the pattern into a pattern and setting the second allowable range of pattern deviation for accurately determining even if the inspection object is displaced. And the reference character and the base Second comparison comparing the reference image including a pattern, of the respective comparison result output from the second comparison between the first comparison, the at least one comparison result, defects in the inspection image And a determination that the inspection image is determined to be defective when the occurrence of the error occurs.

本発明によれば、検査対象となる文字及び絵柄を含む画像において、文字等の線から離れて存在する微小な点の欠損及び、文字等の線が欠けて短くなった欠損を検出することができる画像欠損検出装置及び、その画像欠損検出方法を提供することができる。   According to the present invention, in an image including a character and a pattern to be inspected, it is possible to detect a defect of a minute point existing apart from a line of a character or the like and a defect in which the line of the character or the like is cut and shortened. It is possible to provide an image loss detecting device and an image loss detecting method thereof.

図1は、一実施形態に係る画像欠損検出装置の構成例を概念的に示す図である。FIG. 1 is a diagram conceptually illustrating a configuration example of an image loss detection device according to an embodiment. 図2は、第1比較部の構成例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration example of the first comparison unit. 図3は、第2比較部の構成例を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration example of the second comparison unit. 図4Aは、独立している点に対する画像欠損の検出について説明するための図である。FIG. 4A is a diagram for explaining detection of an image defect for independent points. 図4Bは、図4Aに続いて、独立している点に対する画像欠損の検出について説明するための図である。FIG. 4B is a diagram for explaining detection of an image loss with respect to an independent point, following FIG. 4A. 図5は、実施形態の画像欠損検出装置による画像欠損の検出について説明するためのフローチャートである。FIG. 5 is a flowchart for explaining the detection of an image loss by the image loss detection device of the embodiment. 図6Aは、周囲が囲まれている点に対する画像欠損の検出について説明するための図である。FIG. 6A is a diagram for explaining detection of an image defect for a point surrounded by the periphery. 図6Bは、図6Aに続いて、周囲が囲まれている点に対する画像欠損の検出について説明するための図である。FIG. 6B is a diagram for explaining detection of an image loss for a point surrounded by the periphery, following FIG. 6A. 図7Aは、短くなった線に対する画像欠損の検出について説明するための図である。FIG. 7A is a diagram for explaining detection of an image loss for a shortened line. 図7Bは、図7Aに続いて、短くなった線に対する画像欠損の検出について説明するための図である。FIG. 7B is a diagram for explaining the detection of the image loss with respect to the shortened line, following FIG. 7A.

以下、図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。
実施形態に係る画像欠損検出装置は、予め定めた基準画像に含まれる検査対象となる基準文字及び基準絵柄等に対して、濃度の閾値を変更することで線幅を太く又は細くした画像パターンに変換して、印刷された検査対象に位置ずれが生じても正確に判定するための絵柄ずれ許容範囲を設定した第1比較の基準の比較用基準画像を生成し、この比較用基準画像と、取得した検査対象を含む検査画像とを比較する第1比較部と、取得した検査画像に含まれる検査対象となる文字及び絵柄等に対して、濃度の閾値を変更することで線幅を太く又は細くした画像パターンに変換して、印刷された検査対象に位置ずれが生じても正確に判定するための絵柄ずれ許容範囲を設定した第2比較基準の比較用検査画像を生成し、比較用検出画像と基準文字及び基準絵柄等を含む基準画像と比較する第2比較部と、を備え、通常のはみ出しや欠損に加えて、微小な点及び短線化する欠損も検出し、正確な良・不良判定を実施する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
The image loss detection device according to the embodiment, with respect to the reference character and the reference pattern to be inspected included in the predetermined reference image, an image pattern having a thick or thin line width by changing the density threshold. By converting, a reference image for comparison is created that is a reference for the first comparison in which an allowable range of picture displacement for accurately determining even if the printed inspection object is displaced is generated, and the reference image for comparison is generated. The first comparison unit that compares the acquired inspection image with the inspection image, and the characters and patterns to be inspected included in the acquired inspection image have a thicker line width by changing the density threshold or The comparison inspection image of the second comparison standard is created by converting the image pattern into a thin image pattern and setting the allowable range of the pattern deviation for accurately determining the positional deviation of the printed inspection object, and detecting the comparison. Image and reference characters Comprising a second comparator for comparing the reference image including the reference picture or the like, and in addition to the normal flash or defect, defects also detected to fine points and short lines of, implementing accurate good or bad determination.

図1は、一実施形態に係る画像欠損検出装置の構成例を概念的に示す図である。
画像欠損検出装置1は、撮像部2と、画像欠損検出部3と、表示部4と、入力部5とで構成される。
本実施形態において、撮像部2は、印刷された文字や記号及び絵柄を光学的に読み取り、光電変換により静止画像の画像データ(デジタル信号)を生成する。撮像部2は、CCD撮像素子又は、CMOS撮像素子を用いた所謂、デジタルカメラにより静止画像をフレーム単位に撮像する又は、撮像素子がライン状に配置されるラインセンサを用いて撮像する。ラインセンサを用いた撮像部2は、ラインセンサ自体又は検査対象物を移動(平行移動及び回転移動を含む)させて走査により撮像する。ラインセンサを用いた撮像部2は、曲面に貼付されたラベルの文字を読み取る場合などに好適する。
FIG. 1 is a diagram conceptually illustrating a configuration example of an image loss detection device according to an embodiment.
The image loss detection device 1 includes an image pickup unit 2, an image loss detection unit 3, a display unit 4, and an input unit 5.
In the present embodiment, the imaging unit 2 optically reads printed characters, symbols, and patterns, and generates image data (digital signal) of a still image by photoelectric conversion. The image capturing unit 2 captures a still image in a frame unit by a so-called digital camera using a CCD image sensor or a CMOS image sensor, or a line sensor in which the image sensors are arranged in a line. The image pickup unit 2 using the line sensor moves (including parallel movement and rotation movement) the line sensor itself or the inspection object and takes an image by scanning. The imaging unit 2 using the line sensor is suitable for reading characters on a label attached to a curved surface.

表示部4は、例えば、液晶表示モニタを用いる。表示部4には、制御部14に制御に従い、操作画面、検査状況及び判定結果が表示される。入力部5は、例えば、各種スイッチ、キーボード及びマウス等の入力デバイスを組み合わせて用いている。また、入力部5として、表示部4の画面上にタッチパネルを設けて利用してもよい。   The display unit 4 uses, for example, a liquid crystal display monitor. An operation screen, an inspection status, and a determination result are displayed on the display unit 4 under the control of the control unit 14. The input unit 5 uses, for example, a combination of various switches, an input device such as a keyboard and a mouse. Further, as the input unit 5, a touch panel may be provided on the screen of the display unit 4 and used.

画像欠損検出部3は、画像処理部11と、比較判定部12と、基準画像データ記憶部13と、制御部14とを備えている。画像欠損検出部3は、専用のプログラムやアプリケーションソフトを用いれば、汎用的なパーソナルコンピュータで構成することも可能である。   The image loss detection unit 3 includes an image processing unit 11, a comparison determination unit 12, a reference image data storage unit 13, and a control unit 14. The image loss detection unit 3 can also be configured with a general-purpose personal computer by using a dedicated program or application software.

画像処理部11は、公知な画像処理の手法を用いて、後述する図4A,4Bに示すように、撮像部2から出力された画像データを標本化により画素毎に切り分けて、各画素の濃度(明度)を量子化による256階調の明度値(グレースケール)に数値化する。本実施形態では、画像欠損の有無が判定できれば良いため、白黒の2色による2階調(255:最大値,0:最小値)に数値化されている。勿論、2階調に限定されるものではなく、複数の階調によるグレースケールであってもよい。さらに、カラー画像による欠損検出であれば、3色のカラー毎に複数の階調によるスケールを設定しても良い。   The image processing unit 11 uses a known image processing method, as shown in FIGS. 4A and 4B described later, to divide the image data output from the imaging unit 2 into pixels by sampling, and to determine the density of each pixel. (Brightness) is digitized into a brightness value (gray scale) of 256 gradations by quantization. In the present embodiment, since it suffices to determine the presence or absence of an image loss, it is digitized into two gradations of two black and white colors (255: maximum value, 0: minimum value). Of course, the gray scale is not limited to two gradations, and may be a gray scale having a plurality of gradations. Further, in the case of loss detection by a color image, a scale with a plurality of gradations may be set for each of the three colors.

基準画像データ記憶部13は、撮像部2に撮像された判定基準となる良品の検査対象物を含む基準画像を記憶する。ここでは、記憶される画像データとして、例えば、量子化された2階調の基準画像とする。
制御部14は、画像欠損検出部3の全体を制御する。制御部14への指示は、入力部5を通じて行われ、インストールされる専用プログラムやアプリケーションソフトが実行されて、後述する欠損検出や判定が行わる。
The reference image data storage unit 13 stores a reference image including a non-defective inspection object that is a determination reference captured by the image capturing unit 2. Here, the stored image data is, for example, a quantized reference image of two gradations.
The control unit 14 controls the entire image loss detection unit 3. The instruction to the control unit 14 is given through the input unit 5, and the dedicated program or application software to be installed is executed, and the loss detection and the determination described later are performed.

ここで、図4A,4Bについて説明する。
図4A,4Bは、基準画像及び検査画像のうちの同じ検査対象を含む一部分の画像を抜き出して示している。以下の説明において、判定基準となる検査対象の文字や絵柄を含む画像を基準画像又は、基準画像パターンと称し、検査対象となる文字や絵柄を含む画像を検査画像又は、検査画像パターンと称している。また、2階調の画素の濃度(色の濃さ)と明度(明るさ)は、同じ意味合いで用いている。
Here, FIGS. 4A and 4B will be described.
4A and 4B show a partial image of the reference image and the inspection image that includes the same inspection target. In the following description, an image including a character or a pattern to be inspected as a determination reference is referred to as a reference image or a reference image pattern, and an image including a character or a pattern to be inspected is referred to as an inspection image or an inspection image pattern. There is. In addition, the density (color density) and the lightness (brightness) of the two-gradation pixel are used in the same meaning.

図4Aに示す基準画像パターン4A1は、検出対象となる基準ドットD1(・)を含む基準画像が標本化処理されて、画素毎に白黒に区分された基準画像パターンである。ここでは、基準画像パターン4A1内の画素にxy座標を設定すると、画素x3y4,x3y5,x4y3,x4y4,x4y5,x4y6,x5y3,x5y4,x5y6,x6y4及びx6y5の12画素が黒色として、基準ドットD1を形成している。基準ドットD1の周囲の他の画素は、白色として示している。また、図4Aに示す検査画像パターン4A2は、撮像した検査画像であり、画像欠損のため、本来存在するはずの検査ドットD1(太枠線で示す)がなく、全ての画素が白色となっている。これらの標本化処理は、画像処理部11により実施される。尚、基準ドットD1と検査ドットD1は、同一のサイズである。   The reference image pattern 4A1 shown in FIG. 4A is a reference image pattern in which the reference image including the reference dots D1 (.) To be detected is sampled and divided into black and white for each pixel. Here, when xy coordinates are set for the pixels in the reference image pattern 4A1, 12 pixels of pixels x3y4, x3y5, x4y3, x4y4, x4y5, x4y6, x5y3, x5y4, x5y6, x6y4 and x6y5 are black, and the reference dot D1 is Is forming. Other pixels around the reference dot D1 are shown as white. Further, the inspection image pattern 4A2 shown in FIG. 4A is an imaged inspection image, and due to an image defect, there is no inspection dot D1 (indicated by a thick frame line) that should originally exist, and all pixels are white. There is. The image processing unit 11 performs these sampling processes. The reference dot D1 and the inspection dot D1 have the same size.

図4Bに示す基準画像パターン4B1は、標本化処理された基準画像が量子化処理されて、2階調の濃度(0,255)で数値化された基準画像パターンである。また、検査画像パターン4B2は、標本化処理された検査画像が量子化処理されて、1階調の濃度(255)で数値化された検査画像パターンである。これらの量子化処理は、画像処理部11により実施される。   The reference image pattern 4B1 shown in FIG. 4B is a reference image pattern in which the sampled reference image is quantized and digitized with a density (0, 255) of two gradations. Further, the inspection image pattern 4B2 is an inspection image pattern in which the sampled inspection image is quantized and digitized with a density of one gradation (255). The quantization processing is performed by the image processing unit 11.

基準画像パターン4B3は、後述する第1比較部15により、基準ドットD1を形成する画素に、絵柄ずれ許容範囲を与えて、撮像された検査ドットD1を検出するために比較する画素を外側に範囲を大きくした画素パターン(判定領域DRAO)を示している。絵柄ずれ許容範囲は、画素の閾値(濃度0〜255)を変えることにより、許容範囲を変更することができる。   In the reference image pattern 4B3, the first comparing unit 15 described later gives a pixel deviation allowable range to the pixels forming the reference dot D1 and extends the range of pixels to be compared in order to detect the imaged inspection dot D1. 7 shows a pixel pattern (determination area DRAO) with a large value. The allowable range of the pattern deviation can be changed by changing the threshold value (density 0 to 255) of the pixel.

この絵柄ずれ許容範囲は、文字及び絵柄の印刷位置に対する位置ずれの許容範囲である。具体的には、絵柄ずれ許容範囲は、印刷された検査ドットD1が僅かに位置ずれしていた場合に、設定された位置ずれの許容範囲内で検査ドットD1が検出されれば、正常に印刷されているものと認識され、良として判定される。この絵柄ずれ許容範囲を設定していない場合、検査ドットD1が僅かに位置ずれして印刷されても、画像の一部が欠損しているものと識別され、不良として判定される。つまり、印刷文字の僅かな位置ずれは、人の視認においては正確に情報が伝達されるため許容範囲となるが、機械的な許容範囲を超えるため、不良となっている。この絵柄ずれ許容範囲により機械的な判定に許容範囲の幅を持たせるものである。   The allowable range of picture displacement is the allowable range of misregistration with respect to the printing positions of characters and pictures. Specifically, when the printed inspection dots D1 are slightly displaced, if the inspection dots D1 are detected within the set allowable displacement range, the pattern displacement allowable range is normally printed. It is recognized that it has been performed and is judged as good. When the allowable range of the pattern deviation is not set, even if the inspection dot D1 is slightly misaligned and printed, it is determined that a part of the image is missing, and it is determined as a defect. In other words, a slight misalignment of the printed characters is within the permissible range because the information is accurately transmitted when visually recognized by a person, but exceeds the mechanical permissible range, and is therefore defective. The allowable range of the pattern deviation allows the mechanical judgment to have a range of the allowable range.

検査画像パターン4B4は、後述する第2比較部16により比較に用いられる検査画像であり、全ての画素が1階調の濃度(255)で数値化された検査画像パターンである。ここでは、黒色の検査ドットD1は、画像欠損により存在していない。図4Bに示す比較結果画像パターン4B5は、第1比較部15の比較結果を示す図であり、比較結果画像パターン4B6は、第2比較部16の比較結果を示す図である。   The inspection image pattern 4B4 is an inspection image used for comparison by the second comparison unit 16 which will be described later, and is an inspection image pattern in which all pixels are digitized with a density of one gradation (255). Here, the black inspection dot D1 does not exist due to the image defect. The comparison result image pattern 4B5 shown in FIG. 4B is a diagram showing the comparison result of the first comparison unit 15, and the comparison result image pattern 4B6 is a diagram showing the comparison result of the second comparison unit 16.

比較判定部12は、第1比較部15と、第2比較部16と、判定部17とを備えている。図2を参照して、第1比較部15について説明する。
第1比較部15は、ランクフィルタ31と、閾値増加変換部32Aと、閾値減少変換部32Bと、閾値記憶部33A,33Bと、比較部34A,34Bとを備えている。この第1比較部15は、基準画像に含まれる検出対象(ここでは、ドットD1)に対して、絵柄ずれ許容値の設定範囲を設定して、検査画像の検出対象と比較し、判定用比較結果を出力する。
The comparison / determination unit 12 includes a first comparison unit 15, a second comparison unit 16, and a determination unit 17. The first comparison unit 15 will be described with reference to FIG.
The first comparison unit 15 includes a rank filter 31, a threshold value increase conversion unit 32A, a threshold value decrease conversion unit 32B, threshold value storage units 33A and 33B, and comparison units 34A and 34B. The first comparing unit 15 sets a setting range of the pattern deviation allowable value for the detection target (here, the dot D1) included in the reference image, compares it with the detection target of the inspection image, and makes a comparison for determination. Output the result.

本実施形態において、ランクフィルタ31は、注目画素に隣接する周囲で外側に増加させる画素数又は、内側へ減少させる画素数を設定することで、後述する絵柄ずれ許容値の設定範囲が設定される。この注目画素は、例えば、文字や絵柄を形成する画素群の輪郭に位置する画素である。尚、画素を内側へ減少させるとは、検査対象を形成する画素群において、最も外側に配置される画素から、任意の画素数だけ内側に削り込むことである。例えば、文字であれば、文字幅が狭まり、細くなることを意味する。この設定された画素数に対して、後段の閾値増加変換部32A及び閾値減少変換部32Bにより閾値が変換される。例えば、注目画素x3y4の周囲で外側に1画素で設定された場合には、画素x2y3 ,x2y4,x2y5,x3y3,x3y5,x4y3,x4y4,x4y5の8画素が対象となる。   In the present embodiment, the rank filter 31 sets the number of pixels to be increased outward or the number of pixels to be decreased inward in the vicinity of the pixel of interest, thereby setting the setting range of the allowable pattern deviation value described later. .. The pixel of interest is, for example, a pixel located at the contour of a pixel group forming a character or a picture. In addition, reducing the number of pixels to the inner side means cutting inward by an arbitrary number of pixels from the outermost pixels in the pixel group forming the inspection target. For example, in the case of a character, it means that the character width becomes narrower and thinner. The threshold value is converted by the threshold value increasing conversion unit 32A and the threshold value decreasing conversion unit 32B in the subsequent stage with respect to the set number of pixels. For example, when one pixel is set outside the pixel of interest x3y4, eight pixels x2y3, x2y4, x2y5, x3y3, x3y5, x4y3, x4y4, x4y5 are targeted.

さらに、ランクフィルタ31は、注目画素の周囲に在る画素のうちで最も明るい画素の濃度(明度)を最大ランクDRAIと設定し、反対に、周囲に在る画素のうちで最も暗い画素の濃度(明度)を最小ランクDRIIと設定する。本実施形態では、画像の欠損の有無を検出することを目的としているため、判定のための閾値は2値で良く、基準画像の中の画素の濃度は2値としている。ここでは、最大ランクDRAIを255(白)、最小ランクDRIIを0(黒)に設定している。後述する図4Bの基準画像パターン4B1において、例えば、注目画素を画素x3y4とすると、周囲の8個の画素x2y3 ,x2y4,x2y5,x3y3は、最大ランクDRAI:255(白)であり、画素x3y5,x4y3,x4y4,x4y5が最小ランクDRII:0(黒)である。   Further, the rank filter 31 sets the density (brightness) of the brightest pixel among the pixels around the pixel of interest as the maximum rank DRAI, and conversely, the density of the darkest pixel among the surrounding pixels. (Brightness) is set as the minimum rank DRII. In the present embodiment, since the purpose is to detect the presence or absence of image loss, the threshold value for determination may be binary, and the density of pixels in the reference image is binary. Here, the maximum rank DRAI is set to 255 (white) and the minimum rank DRII is set to 0 (black). In a reference image pattern 4B1 of FIG. 4B, which will be described later, for example, if the pixel of interest is pixel x3y4, eight surrounding pixels x2y3, x2y4, x2y5, x3y3 have the maximum rank DRAI: 255 (white), and pixel x3y5, x4y3, x4y4, and x4y5 are the minimum rank DRII: 0 (black).

本実施形態では、ランクフィルタ31は、検査対象に対する絵柄ずれ許容値の設定範囲が大きくなるように閾値を変換する。
閾値増加変換部32Aは、ランクフィルタ31により設定された、前述した注目画素の周囲に在る8画素に対して、最小ランクDRIIから最大ランクDRAIまでの閾値範囲として、検査対象(ここではドットD1)の濃度の閾値の範囲を増加させる(大きくする)。即ち、閾値となる濃度最大・最小の範囲を0から255まで増加させて、基準画像における良否判定の基準とする。
尚、濃度の閾値の範囲は、限定されるものではなく、本実施形態では、説明を容易にするために、2値として上限下限を設定すれば良いが、最大最小のランクに設定する必要は無く、0〜255の間であればよい。又、濃度の閾値も複数の設定、即ち、中間値を設定してもよい。これは、検査画像内に、中間階調のグレーの文字や図柄が存在する場合には、検査のための照明光の照射状態や文字等のインク濃度によって、取得される画像データの数値にバラつきが生じる。また、文字の際などは、撮像素子と検査対象の微妙な位置関係により、黒いインクと白い地部分との混合として捉えられ、中間値を持っている。例えば、白色と黒色の2色の印刷であっても、境界部は0〜255の間の値(例えば、128等)が取得される。その際、ランクフィルタ31のみでは、閾値が(128,255)というような中途半端な値を取るため、これを十分に拡大するために、以下の記載する計算式により閾値を変換する。ここで、閾値増加変換部32Aが出力する比較用基準画像DRAOは、DRAO = DRAI×AN+BN+(DRAI −DRII)×CNの関係を有する。尚、AN,BN,CNのパラメータは、任意に設定されるものであり、上限用閾値用(値の増加用)と下限閾値用(値の減少用)もあり、それぞれ異なる閾値変換が行われる。
In the present embodiment, the rank filter 31 converts the threshold value so that the setting range of the allowable pattern deviation value for the inspection target becomes large.
The threshold increase conversion unit 32A determines the inspection target (dot D1 in this case) as the threshold range from the minimum rank DRII to the maximum rank DRAI for the eight pixels around the pixel of interest set by the rank filter 31. ) The range of the concentration threshold is increased (increased). That is, the density maximum / minimum range serving as the threshold value is increased from 0 to 255, and is used as a reference for quality determination in the reference image.
The range of the density threshold value is not limited, and in the present embodiment, the upper and lower limits may be set as two values in order to facilitate the explanation, but it is not necessary to set the maximum and minimum ranks. It does not have to exist and may be between 0 and 255. Further, the density threshold may be set in plural, that is, an intermediate value may be set. This is because when there are gray-scale characters or patterns in the middle gradation in the inspection image, the numerical values of the acquired image data will vary depending on the irradiation state of the illumination light for inspection and the ink density of the characters. Occurs. Further, in the case of characters, due to the delicate positional relationship between the image sensor and the inspection object, it is considered as a mixture of black ink and a white background portion, and has an intermediate value. For example, even in the case of two-color printing of white and black, a value between 0 and 255 (for example, 128) is acquired for the boundary portion. At that time, since the threshold value takes a halfway value such as (128, 255) only with the rank filter 31, the threshold value is converted by the following calculation formula in order to sufficiently expand the value. Here, the comparison reference image DRAO output by the threshold increase conversion unit 32A has a relationship of DRAO = DRAI × AN + BN + (DRAI−DRII) × CN. The parameters of AN, BN, and CN are set arbitrarily, and there are also upper limit threshold values (for increasing values) and lower limit threshold values (for decreasing values), and different threshold conversions are performed. ..

図4Bの基準画像パターン4B3に示す画素の上段側の画素が255及び下段側の画素が0による判定領域D1Bを判定基準とする比較用基準画像DRAOが設定される。この比較用基準画像DRAOは、閾値記憶部33Aに記憶される。   A reference image DRAO for comparison is set with the determination region D1B in which the upper pixel of the pixel shown in the reference image pattern 4B3 of FIG. 4B is 255 and the lower pixel is 0. The comparison reference image DRAO is stored in the threshold storage unit 33A.

反対に、閾値減少変換部32Bは、ランクフィルタ31で設定された画素数に基づき、注目画素に隣接する周囲で内側に減少させる。注目画素の周囲の画素に対して、最小ランクDRIIを最大ランクDRAIに変更することで、基準ドットD1(黒)の大きさを小さくするように、絵柄ずれ許容量の範囲を減少させる(小さくする)。即ち、閾値となる濃度を0から225に変換する。この閾値変換された比較用基準画像DRIoが閾値記憶部33Bに記憶される。ここで、閾値減少変換部32Bが出力する比較用基準画像DRIOは、DRIO = DRII× DN+EN+(DRAI −DRII)×FNの関係を有する。尚、DN,EN,FNのパラメータは、任意に設定される。尚、閾値記憶部33A及び閾値記憶部33Bは、比較用基準画像DRAOを算出するタイミングと画像処理部11から検査画像が出力されるタイミングとを合わせるために設けられている。   On the contrary, the threshold reduction conversion unit 32B reduces the number of pixels inward around the pixel of interest based on the number of pixels set by the rank filter 31. By changing the minimum rank DRII to the maximum rank DRAI for the pixels around the pixel of interest, the range of the pattern deviation allowable amount is reduced (reduced) so that the size of the reference dot D1 (black) is reduced. ). That is, the threshold density is converted from 0 to 225. This threshold-converted comparison reference image DRIo is stored in the threshold storage unit 33B. Here, the comparison reference image DRIO output by the threshold reduction conversion unit 32B has a relationship of DRIO = DRII × DN + EN + (DRAI−DRII) × FN. The parameters of DN, EN, FN are set arbitrarily. The threshold storage unit 33A and the threshold storage unit 33B are provided to match the timing of calculating the comparison reference image DRAO and the timing of outputting the inspection image from the image processing unit 11.

比較部34Aは、閾値記憶部33Aから読み出された図4Bに示す基準画像パターン4B3である比較用基準画像THMA(基準画像DRAOと同等)と、図4Bに示す量子化処理された検査画像パターン4B2である検査画像と、を画素単位で比較する。この比較において、検査画像パターン4B2である検査画像が比較用基準画像THMAに一致する(又は、絵柄ずれ許容値の設定範囲に含まれる)という比較結果が得られる。この比較結果は、後述するが、実際には検査ドットD1は、欠損しているにもかかわらず、良判定の比較結果を示している。比較部34Aは、検査画像DI>比較用基準画像THMAの時、比較結果DETNAが1となる。また、比較部34Bは、検査画像DI<比較用基準画像THNIの時、比較結果DETNIが1となる。
出力部35は、OR回路により構成され、比較結果DETNA又は比較結果DETNIのいずれか又は両方が1の時に、比較結果に1を出力する。
The comparison unit 34A has a comparison reference image THMA (equivalent to the reference image DRAO), which is the reference image pattern 4B3 shown in FIG. 4B read from the threshold value storage unit 33A, and the quantized inspection image pattern shown in FIG. 4B. The inspection image of 4B2 is compared in pixel units. In this comparison, a comparison result is obtained in which the inspection image that is the inspection image pattern 4B2 matches the comparison reference image THMA (or is included in the setting range of the pattern deviation allowable value). As will be described later, this comparison result shows the comparison result of the good judgment although the inspection dot D1 is actually missing. The comparison unit 34A sets the comparison result DETNA to 1 when the inspection image DI> the comparison reference image THMA. Further, the comparison unit 34B sets the comparison result DETNI to 1 when the inspection image DI <the comparison reference image THNI.
The output unit 35 is composed of an OR circuit and outputs 1 as the comparison result when either or both of the comparison result DETNA and the comparison result DETNI are 1.

図3を参照して、第2比較部の構成例について説明する。
第2比較部16は、ランクフィルタ41と、閾値増加変換部42Aと、閾値減少変換部42Bと、比較部43A,43Bとを備えている。この第2比較部16は、検査画像に含まれる検出対象に対して、絵柄ずれ許容値の設定範囲を設定して、基準画像に含まれる検出対象と比較し、判定用比較結果を出力する。以下の説明において、前述した第1比較部15の構成部位と同等の動作を行う構成部位は、その説明を簡易にする。
A configuration example of the second comparison unit will be described with reference to FIG.
The second comparison unit 16 includes a rank filter 41, a threshold increase conversion unit 42A, a threshold decrease conversion unit 42B, and comparison units 43A and 43B. The second comparison unit 16 sets the setting range of the allowable pattern deviation value for the detection target included in the inspection image, compares the setting range with the detection target included in the reference image, and outputs the determination comparison result. In the following description, the components that perform the same operations as the components of the first comparison unit 15 described above simplify the description.

ランクフィルタ41は、前述したランクフィルタ31と同等の機能であり、注目画素の周囲に在る画素のうちで最も明るい画素の濃度(明度)を最大ランクDDAIと設定し、反対に、周囲に在る画素のうちで最も暗い画素の濃度(明度)を最小ランクDDIIと設定する。ランクフィルタ41は、予め設定された絵柄ずれ許容値に基づき、注目画素に隣接する周囲で外側に増加させる画素数が設定される。   The rank filter 41 has the same function as the rank filter 31 described above, and sets the density (brightness) of the brightest pixel among the pixels around the pixel of interest as the maximum rank DDAI, and on the contrary, exists in the surroundings. The density (brightness) of the darkest pixel among the pixels is set as the minimum rank DDII. In the rank filter 41, the number of pixels to be increased outside in the vicinity of the target pixel is set on the basis of the preset image shift tolerance value.

閾値増加変換部42Aは、前述した閾値増加変換部32Aと同等であり、検査画像に含まれるはずの検査ドットD1に対する判定を行う絵柄ずれ許容値の設定範囲を大きくする。しかし、画像処理部11において、図4Aに示す画像パターン4A2には、検査ドットD1が欠損しているため、量子化処理を行うと検査画像パターン4B2に示すように、全ての画素の濃度が255(白)となる。尚、閾値増加変換部42Aは、検査ドットD1が存在した場合には、基準画像パターン4B3に示すような判定領域D1Bを設定する。ここで、閾値増加変換部42Aが出力する比較用基準画像DDAOは、各ランクに対してDDAO = DDAI×AI+BI+(DDAI −DDII)×CIの関係を有する。尚、AI,BI,CIのパラメータは、任意に設定される。しかし、検査ドットD1が欠損しているため、実際には、検査画像パターン4B2の最大ランクDDAIを255(白)に設定すると、検査画像パターン4B4に示すように、許容値が全ての画素が255が設定される。   The threshold increase conversion unit 42A is equivalent to the threshold increase conversion unit 32A described above, and enlarges the setting range of the allowable pattern deviation value for performing the determination on the inspection dot D1 that should be included in the inspection image. However, in the image processing unit 11, since the inspection dot D1 is missing in the image pattern 4A2 shown in FIG. 4A, when the quantization processing is performed, the density of all pixels is 255 as shown in the inspection image pattern 4B2. (White). When the inspection dot D1 is present, the threshold increase conversion unit 42A sets the determination area D1B as shown in the reference image pattern 4B3. Here, the comparison reference image DDAO output by the threshold increase conversion unit 42A has a relationship of DDAO = DDAI × AI + BI + (DDAI−DDII) × CI for each rank. The parameters of AI, BI, and CI are set arbitrarily. However, since the inspection dot D1 is missing, actually, when the maximum rank DDAI of the inspection image pattern 4B2 is set to 255 (white), as shown in the inspection image pattern 4B4, all pixels having allowable values of 255 are white. Is set.

また、閾値減少変換部42Bにおいても、検査画像である画像パターン4A2に検査ドットD1が存在せず、濃度が255のみであるため、検査画像パターン4B4においても、絵柄ずれ許容値は、全て画素の濃度が255に設定される。ここで、閾値減少変換部42Bが出力する比較用基準画像DDIOは、各ランクに対して、DDIO = DDII×DI+EI+(DDAI −DDII)×FIの関係を有する。尚、DI,EI,FIのパラメータは、任意に設定される。   Also in the threshold reduction conversion unit 42B, since the inspection dot D1 does not exist in the image pattern 4A2 which is the inspection image and the density is only 255, even in the inspection image pattern 4B4, the allowable pattern deviation values are all pixel values. The density is set to 255. Here, the comparison reference image DDIO output by the threshold reduction conversion unit 42B has a relationship of DDIO = DDII × DI + EI + (DDAI−DDII) × FI for each rank. The parameters of DI, EI and FI are set arbitrarily.

比較部43A,43Bは、共に、検査画像パターン4B4と、基準画像パターン4A1を画素毎に比較することにより、欠損しているドットD1を含む比較結果画像パターン4B6が出力される。即ち、ドットD1が欠損していることを検出する。比較部43Aは、基準画像REM>比較用基準画像DDAOの時、比較結果DETIAが1となる。また、比較部43Bは、基準画像REM<比較用基準画像DDIOの時、比較結果DETIIが1となる。   The comparison units 43A and 43B both compare the inspection image pattern 4B4 and the reference image pattern 4A1 for each pixel, and thereby a comparison result image pattern 4B6 including the missing dot D1 is output. That is, it is detected that the dot D1 is missing. The comparison unit 43A sets the comparison result DETIA to 1 when the reference image REM> the reference image for comparison DDAO. Further, the comparison unit 43B sets the comparison result DETII to 1 when the reference image REM <the comparison reference image DDIO.

出力部44は、OR回路により構成され、比較結果DETIA又は比較結果DETIIのいずれか又は両方が1の時に、比較結果に1を出力する。
判定部17には、第1比較部15から画像の欠損無しの比較結果が入力され、第2比較部16から画像欠損有りの比較結果が入力される。即ち、判定部17は、いずれか一方の比較結果に1が含まれていた場合には、画像欠損があると判定し、不良の判定を行う。
The output unit 44 is composed of an OR circuit, and outputs 1 as the comparison result when either or both of the comparison result DETIA and the comparison result DETII are 1.
To the determination unit 17, the comparison result without image loss is input from the first comparison unit 15, and the comparison result with image loss is input from the second comparison unit 16. That is, the determination unit 17 determines that there is an image loss when one of the comparison results includes 1, and determines the defect.

以下、図5に示すフローチャートを参照して、本実施形態の画像欠損検出装置1による画像欠損の検査について説明する。
まず、制御部14の指示により、基準画像データ記憶部13は、撮像部2に撮像された又は既に画像データ化された比較基準となる良品の検査対象を含む基準画像REMを記憶する(ステップS1)。基準画像データ記憶部13に記憶される基準画像REMは、画像処理部11によりデジタル化処理され、標本化により画素毎に切り分けて各画素の濃度が量子化された図4Bに示す基準画像パターン4B1であってもよい。尚、この時、第1比較部15において、基準画像パターン4B1に対して閾値を変換した絵柄ずれ許容値の設定範囲を設定した基準画像パターン4B3からなる比較用基準画像DRAO,DRIOが生成されて閾値記憶部33A,33Bに記憶されていてもよい。
Hereinafter, with reference to the flowchart shown in FIG. 5, the image defect inspection by the image defect detection device 1 of the present embodiment will be described.
First, according to an instruction from the control unit 14, the reference image data storage unit 13 stores a reference image REM including a non-defective inspection target which is a comparison reference captured by the image capturing unit 2 or already converted into image data (step S1). ). The reference image REM stored in the reference image data storage unit 13 is digitized by the image processing unit 11 and divided into pixels by sampling to quantize the density of each pixel, and the reference image pattern 4B1 shown in FIG. 4B. May be At this time, the first comparison unit 15 generates the comparison reference images DRAO and DRIO including the reference image pattern 4B3 in which the threshold value is converted with respect to the reference image pattern 4B1 and the setting range of the allowable pattern deviation value is set. It may be stored in the threshold storage units 33A and 33B.

次に、撮像部2は、検出対象となるドットD1を含む検査画像DIを撮像する(ステップS2)。画像処理部11は、撮像部された検査画像DIをデジタル化処理し、標本化により画素毎に切り分けて、各画素の濃度が量子化された図4Bの検査画像パターン4B2を生成する(ステップS3)。   Next, the image capturing section 2 captures the inspection image DI including the dots D1 to be detected (step S2). The image processing unit 11 digitizes the inspection image DI captured by the imaging unit, divides it into pixels by sampling, and generates the inspection image pattern 4B2 in FIG. 4B in which the density of each pixel is quantized (step S3). ).

まず、第1比較部15では、基準画像データ記憶部13から基準画像REMを読み出して、基準画像パターン4B1に対して、閾値を変更し絵柄ずれ許容値の設定範囲を設定する比較用基準画像DRAO,DRIOを生成して閾値記憶部33A,33Bに記憶する(ステップS4)。勿論、前述したように、画像欠損検出装置1に基準画像REMが入力された際に、比較用基準画像DRAO,DRIOを生成して閾値記憶部33A,33Bに記憶しておいてもよい。   First, the first comparison unit 15 reads the reference image REM from the reference image data storage unit 13 and changes the threshold value of the reference image pattern 4B1 to set the setting range of the allowable pattern deviation value. , DRIO are generated and stored in the threshold storage units 33A and 33B (step S4). Of course, as described above, when the reference image REM is input to the image loss detection device 1, the reference images DRAO and DRIO for comparison may be generated and stored in the threshold value storage units 33A and 33B.

さらに、第1比較部15は、閾値記憶部33A,33Bから比較用基準画像THMA,THMIを比較部34A,34Bに読み出す。比較部34A,34Bにおいて、比較用基準画像HMA,THMI(基準画像パターン4B3)と検査画像(検査画像パターン4B2)とを画素毎に比較して、比較結DETNA,DETNIを出力する(ステップS5)。即ち、比較部34Aは、閾値記憶部33Aから読み出された比較用基準画像THMA(基準画像DRAOと同等)と、図4Bに示す量子化処理された検査画像パターン4B2とを画素単位で比較する。   Further, the first comparison unit 15 reads the comparison reference images THMA and THMI from the threshold storage units 33A and 33B to the comparison units 34A and 34B. In the comparison units 34A and 34B, the comparison reference images HMA and THMI (reference image pattern 4B3) and the inspection image (inspection image pattern 4B2) are compared for each pixel, and comparison results DETNA and DETNI are output (step S5). .. That is, the comparison unit 34A compares the comparison reference image THMA (equivalent to the reference image DRAO) read from the threshold value storage unit 33A and the quantized inspection image pattern 4B2 shown in FIG. 4B in pixel units. ..

比較部34Bは、閾値記憶部33Bから読み出された比較用基準画像THMI(基準画像DRIOと同等)と、図4Bに示す量子化処理された検査画像パターン4B2とを画素単位で比較する。尚、書き込み時は比較用基準画像DRAO,DRIOであり、読み出し時は比較用基準画像THMA,THMIとしているが、共に同等ものである。   The comparison unit 34B compares, for each pixel, the comparison reference image THMI (equivalent to the reference image DRIO) read from the threshold storage unit 33B and the quantized inspection image pattern 4B2 illustrated in FIG. 4B. The reference images DRAO and DRIO for comparison are used for writing and the reference images THMA, THMI for comparison are used for reading, but they are equivalent.

これらの比較結果DETNA,DETNIは、検査画像パターン4B2が、比較用基準画像THMAに一致、又は含まれるため、比較結果画像パターン4B5の比較結果が得られる。この比較結果は、実際には、検査ドットD1は、欠損しているにもかかわらず、検査ドットD1が抽出できないため、良として判定される比較結果を出力している。勿論、このような文字等から離れた微小なドット(点)は検出できないが、通常の文字の大きな欠損、所謂、文字欠け、汚れ及びにじみは、検出される。   In these comparison results DETNA and DETNI, the inspection image pattern 4B2 coincides with or is included in the comparison reference image THMA, so that the comparison result of the comparison result image pattern 4B5 is obtained. As a result of this comparison, since the inspection dot D1 cannot be extracted in spite of the fact that the inspection dot D1 is defective, the comparison result is output as a comparison result that is determined as good. Of course, such minute dots (dots) distant from a character or the like cannot be detected, but a large loss of ordinary characters, so-called character loss, stains, and bleeding are detected.

また、第1比較部15における処理と同時に、第2比較部16は、閾値増加変換部42Aにより、図4Bに示す検査画像パターン4B2に対して、絵柄ずれ許容範囲を設定する検査画像パターン4B4の比較用検査画像DDAOを生成し、比較部43Aへ出力する (ステップS6)。同様に、閾値減少変換部42Bにより、図4Bに示す検査画像パターン4B2に対して、絵柄ずれ許容範囲を設定する画像パターンの比較用検査画像DDIOを生成し、比較部43Bへ出力する。   Simultaneously with the processing in the first comparison unit 15, the second comparison unit 16 causes the threshold increase conversion unit 42A to set the inspection image pattern 4B4 for setting the pattern deviation allowable range with respect to the inspection image pattern 4B2 shown in FIG. 4B. A comparison inspection image DDAO is generated and output to the comparison unit 43A (step S6). Similarly, the threshold reduction conversion unit 42B generates a comparison inspection image DDIO of an image pattern for setting the allowable range of the pattern deviation for the inspection image pattern 4B2 shown in FIG. 4B and outputs it to the comparison unit 43B.

次に、比較部43A,43Bは、共に、比較用検査画像(検査画像パターン4B4)と、基準画像(基準画像パターン4A1)を画素毎に比較する(ステップS7)。この比較により、欠損している検査ドットD1を含む図4Bに示す比較結果画像パターン4B6の比較結果が出力される。   Next, the comparison units 43A and 43B both compare the comparison inspection image (inspection image pattern 4B4) and the reference image (reference image pattern 4A1) for each pixel (step S7). By this comparison, the comparison result of the comparison result image pattern 4B6 shown in FIG. 4B including the defective inspection dot D1 is output.

判定部17は、第1比較部15からの良判定の比較結果と第2比較部16からの不良判定の比較結果から不良判定結果が含まれているものと判定する(ステップS8)。判定部17は、第2比較部16からの不良判定の比較結果を判定結果として制御部14に出力する。制御部14は、表示部4に対して、比較結果画像パターン4B6を表示させて、検査画像DIにおいて、ドットD1が欠損していることを表示する(ステップS9)。   The determination unit 17 determines that the defect determination result is included from the comparison result of the good determination from the first comparison unit 15 and the comparison result of the defect determination from the second comparison unit 16 (step S8). The determination unit 17 outputs the comparison result of the defect determination from the second comparison unit 16 to the control unit 14 as the determination result. The control unit 14 causes the display unit 4 to display the comparison result image pattern 4B6 to display that the dot D1 is missing in the inspection image DI (step S9).

以上説明したように、本実施形態の画像欠損検出装置によれば、基準画像に含まれる検査対象となる基準文字及び基準絵柄等に対して絵柄ずれ許容範囲を設定し、検査対象を含む検査画像と比較する第1の比較に加えて、検査画像に含まれる検査対象となる文字及び絵柄等に絵柄ずれ許容範囲を設定し、基準画像と比較する第2の比較を行う。これらの第1の比較と第2の比較を組み合わせた比較結果によれば、通常の欠損や余白部分に付着する余分な印刷汚れの検出に加えて、文字や絵柄から離れた微小な点の欠損を検出することができ、正確な良・不良判定を実施することができる。   As described above, according to the image loss detecting apparatus of the present embodiment, the allowable pattern deviation range is set for the reference character and the reference pattern to be inspected included in the reference image, and the inspection image including the inspection target is set. In addition to the first comparison for comparing with, the allowable range of pattern deviation is set for the characters and patterns to be inspected included in the inspection image, and the second comparison for comparing with the reference image is performed. According to the comparison result obtained by combining the first comparison and the second comparison, in addition to the detection of normal defects and extra print stains adhering to the blank portion, the defects of minute points distant from the character or the pattern are detected. Can be detected, and accurate pass / fail determination can be performed.

次に、図6A,6Bを参照して、前述した実施形態の画像欠損検出装置1による欠損の第1の事例として、周囲が囲まれている点に対する画像欠損の検出について説明する。
この第1の事例において、図6Aに示す基準画像は、カップ形状の枠線52の内側に微小な点53が印刷された画像パターンが標本化処理されて、画素毎に白黒に区分された基準画像パターン6A1である。また、検査画像は、枠線52のみが残り、点53が欠損した画像が標本化処理されて、画素毎に白黒に区分された基準画像パターン6A2である。ここでは、基準画像パターン内の画素にxy座標を設定すると、枠線52が左測辺が画素x1y1〜x1Y9、上辺が画素X2y9〜X9y9、右測辺が画素x10y1〜x10y9によりキャップ形状に形成される。点53は、画素x3y5,x4y4〜x4y6,x5y3〜x5y7,x6y2〜x6y6,x7y3〜x7y5,x8y4の18画素により形成される。
Next, with reference to FIGS. 6A and 6B, as a first example of loss by the image loss detection apparatus 1 of the above-described embodiment, detection of an image loss with respect to a point surrounded by the periphery will be described.
In the first example, the reference image shown in FIG. 6A is a reference image in which a minute point 53 is printed on the inside of the cup-shaped frame line 52, is sampled, and is divided into black and white for each pixel. This is the image pattern 6A1. Further, the inspection image is the reference image pattern 6A2 in which only the frame line 52 remains and the image in which the point 53 is missing is subjected to sampling processing and is divided into black and white for each pixel. Here, when the xy coordinates are set for the pixels in the reference image pattern, the frame line 52 is formed in a cap shape by the pixels x1y1 to x1Y9 on the left side, the pixels X2y9 to X9y9 on the upper side, and the pixels x10y1 to x10y9 on the right side. It The point 53 is formed by 18 pixels of pixels x3y5, x4y4 to x4y6, x5y3 to x5y7, x6y2 to x6y6, x7y3 to x7y5, x8y4.

図6Bに示す画像パターン6B1は、標本化処理された基準画像が量子化処理されて、2階調の濃度(0,255)で数値化された基準画像パターンである。同様に、また、検査画像パターン6B2は、標本化処理された検査画像が量子化処理されて、2階調の濃度(0,255)で数値化された検査画像パターンである。これらの量子化処理は、画像処理部11により実施される。   An image pattern 6B1 shown in FIG. 6B is a reference image pattern in which the sampled reference image is quantized and digitized with a density (0, 255) of two gradations. Similarly, the inspection image pattern 6B2 is an inspection image pattern in which the sampled inspection image is quantized and digitized with a density (0,255) of two gradations. The quantization processing is performed by the image processing unit 11.

基準画像パターン6B3は、第1比較部15により、枠線52及び点53を形成する前述した画素に、絵柄ずれ許容範囲(濃度0〜255)を与えて、撮像された検査画像パターンの枠線52及び点53を検出するための画素を外側に範囲を大きくした画素パターンを示している。この例においても、前述したと同様に、ランクフィルタ31は、注目画素に隣接する周囲で外側に1画素分を増加させる又は、内側へ1画素分を減少させる設定である。従って、注目画素の周囲の8画素が絵柄ずれ許容値の設定範囲となる。   In the reference image pattern 6B3, the first comparison unit 15 gives the above-described pixels forming the frame line 52 and the point 53 an allowable range of the pattern deviation (density 0 to 255), and the frame line of the imaged inspection image pattern. A pixel pattern in which pixels for detecting 52 and the point 53 are enlarged outside is shown. Also in this example, similarly to the above, the rank filter 31 is set to increase one pixel to the outside or decrease one pixel to the inside in the periphery adjacent to the pixel of interest. Therefore, the eight pixels around the target pixel become the setting range of the allowable pattern deviation value.

絵柄ずれ許容値の設定範囲が外側に1画素分を増加させる場合、例えば、注目画素x3y5であれば、その周囲にある画素x2y4,x2y5,x2y6,x3y4,x3y6,x4y4,x4y5,x4y6の8画素が対象となる。これらの8画素は、最大ランク255と最小ランク0により、絵柄ずれ許容値の範囲(濃度0〜255)に設定される。従って、図6Bに示す基準画像パターン6B3は、数個の画素以外の大半の画素は、絵柄ずれ許容値の範囲(濃度0〜255)に設定される。   When the setting range of the allowable pattern deviation value is increased by one pixel to the outside, for example, if the pixel of interest is x3y5, the surrounding pixels x2y4, x2y5, x2y6, x3y4, x3y6, x4y4, x4y5, x4y6 are 8 pixels. Is the target. These eight pixels are set in the range of the allowable pattern deviation value (density 0 to 255) by the maximum rank 255 and the minimum rank 0. Therefore, in the reference image pattern 6B3 shown in FIG. 6B, most of the pixels other than a few pixels are set within the range of the allowable pattern deviation value (density 0 to 255).

第1比較部15は、比較用基準画像THMA(比較用基準画像パターン6B3),THMIと検査画像(検査画像パターン6B2)とを画素毎に比較して、比較結果DETNA,DETNI(比較結果画像パターン6B5)を出力する。この比較結果画像パターン6B5においては、基準画像パターン6B3に2個の画素を除き、検査画像パターン4B2が含まれているため、点53は、大半の画素が欠損し、2個の画素のみが残った画像パターンとなる。   The first comparison unit 15 compares the comparison reference images THMA (comparison reference image pattern 6B3) and THMI with the inspection image (inspection image pattern 6B2) for each pixel, and compares the comparison results DETNA and DETNI (comparison result image pattern). 6B5) is output. In the comparison result image pattern 6B5, since the reference image pattern 6B3 includes the inspection image pattern 4B2 except for the two pixels, most of the pixels at the point 53 are missing and only two pixels remain. Image pattern.

また、第2比較部16は、検査画像パターン6B2に対して、絵柄ずれ許容範囲を設定することで、比較用検査画像DDAO(比較用検査画像パターン6B4),DDIOを生成する。第2比較部16は、比較用検査画像DDAO,DDIOと基準画像(基準画像パターン6B1)を画素毎に比較する。比較用検査画像パターン6B4と基準画像パターン4A1の比較においては、比較結果画像パターン6B6の比較結果が出力される。   In addition, the second comparison unit 16 sets the pattern deviation allowable range for the inspection image pattern 6B2 to generate the comparison inspection images DDAO (comparative inspection image pattern 6B4) and DDIO. The second comparison unit 16 compares the comparison inspection images DDAO and DDIO with the reference image (reference image pattern 6B1) for each pixel. In the comparison between the comparison inspection image pattern 6B4 and the reference image pattern 4A1, the comparison result of the comparison result image pattern 6B6 is output.

この第1の事例において、基準画像に含まれる検査対象の点53の画素に対して、絵柄ずれ許容範囲を設定すると、枠線52の絵柄ずれ許容範囲の画素と接する又は重複することで絵柄ずれ許容範囲が広がりすぎ、検査画像に含まれる検査対象の点53の検出が不確定になりやすい。   In the first example, when the allowable pattern deviation range is set for the pixel of the inspection target point 53 included in the reference image, the pattern deviation occurs due to contact with or overlapping with the pixel in the allowable pattern deviation range of the frame line 52. The allowable range is too wide, and the detection of the inspection target point 53 included in the inspection image is likely to be uncertain.

この第1の事例によれば、検査画像に含まれるはずの検査対象の点53が欠損していた場合には、枠線52の絵柄ずれ許容範囲の画素の影響を受けないため、点53が存在する基準画像パターンと比較した際に、欠損している点53を検出することができる。これらの第1の比較と第2の比較を組み合わせた比較結果によれば、通常の欠損や余白部分に付着する余分な印刷汚れの検出に加えて、周囲が囲まれた点の欠損を検出でき、正確な良・不良判定を実施することができる。     According to the first example, when the point 53 to be inspected, which is supposed to be included in the inspection image, is missing, the point 53 is not affected by the pixels in the allowable range of the pattern deviation of the frame line 52. The missing point 53 can be detected when compared with the existing reference image pattern. According to the comparison result obtained by combining the first comparison and the second comparison, it is possible to detect the defect of the point surrounded by the periphery in addition to the detection of the normal defect and the extra print stain adhered to the blank portion. Therefore, it is possible to perform accurate pass / fail determination.

次に、図7A,7Bを参照して、前述した実施形態の画像欠損検出装置1による欠損の第2の事例として、長さが短くなった画像欠損の検出について説明する。
第2の事例において、図7Aに示す基準画像は、文字の払い等の端部61を含む画像パターンが標本化処理されて、画素毎に白黒に区分された基準画像パターン7A1である。
また、検査画像は、文字の払い等の端部62の先端部分63が欠損して短くなった画像パターンが標本化処理されて、画素毎に白黒に区分された検査画像パターン7A2である。
Next, with reference to FIGS. 7A and 7B, as a second case of loss by the image loss detection apparatus 1 of the above-described embodiment, detection of an image loss having a shortened length will be described.
In the second example, the reference image shown in FIG. 7A is the reference image pattern 7A1 in which the image pattern including the end portion 61 such as a character is sampled and is divided into black and white for each pixel.
Further, the inspection image is an inspection image pattern 7A2 in which each image is divided into black and white for each pixel by subjecting the image pattern, which is shortened due to the loss of the front end portion 63 of the end portion 62 such as the discontinuity of characters, to a sampling process.

ここで、基準画像パターン内の画素にxy座標を設定すると、端部62が画素x2y5,X3y4〜X3y6,x4y3〜x4y7,x5y2〜x5y9,x6y3〜X6y8, x7y4〜x7y8,x8y5〜x8y8により形成されている。検査画像パターン7A2においては、端部62から先端部分63を形成する画素x2y5,X3y4〜X3y6,x4y3〜x4y6,x5y2〜x5y5,x6y3,X6y4が欠損する
図7Bに示す画像パターン7B1は、基準画像が量子化処理されて、2階調の濃度(0,255)で数値化された基準画像パターンである。同様に、また、検査画像パターン7B2は、検査画像が量子化処理されて、2階調の濃度(0,255)で数値化された検査画像パターンである。これらの量子化処理は、画像処理部11により実施される。
Here, when the xy coordinates are set for the pixels in the reference image pattern, the end portion 62 is formed by the pixels x2y5, X3y4 to X3y6, x4y3 to x4y7, x5y2 to x5y9, x6y3 to X6y8, x7y4 to x7y8, x8y5 to x8y8. There is. In the inspection image pattern 7A2, the pixels x2y5, X3y4 to X3y6, x4y3 to x4y6, x5y2 to x5y5, x6y3, and X6y4 forming the tip portion 63 from the end portion 62 are defective. The image pattern 7B1 shown in FIG. It is a reference image pattern that has been quantized and digitized with a density of two tones (0,255). Similarly, the inspection image pattern 7B2 is an inspection image pattern in which the inspection image is quantized and digitized at a density of two gradations (0,255). The quantization processing is performed by the image processing unit 11.

基準画像パターン7B3は、第1比較部15により、端部61を形成する前述した画素に、絵柄ずれ許容範囲(濃度0〜255)を与えて、撮像された検査画像パターンの端部61を検出するための画素を外側に範囲を大きくした画素パターンを示している。この事例においても、ランクフィルタ31は、注目画素に隣接する周囲で外側に1画素分を増加させる又は、内側へ1画素分を減少させる設定である。従って、注目画素の周囲の8画素が絵柄ずれ許容値の設定範囲となる。   In the reference image pattern 7B3, the first comparison unit 15 gives the above-described pixels forming the end portion 61 a picture pattern deviation allowable range (density 0 to 255) to detect the end portion 61 of the imaged inspection image pattern. The pixel pattern in which the range for enlarging the pixel for doing is enlarged is shown. In this case as well, the rank filter 31 is set to increase one pixel outward or decrease one pixel inward in the periphery adjacent to the pixel of interest. Therefore, the eight pixels around the target pixel become the setting range of the allowable pattern deviation value.

絵柄ずれ許容値の設定範囲が外側に1画素分を増加させる場合、例えば、注目画素x2y5であれば、その周囲にある画素x1y4,x1y5,x1y6,x2y4,x2y6,x3y4,x3y5,x3y6の8画素が対象となる。これらの8画素は、最大ランク255と最小ランク0により、絵柄ずれ許容値の範囲(濃度0〜255)に設定される。従って、図7Bに示す基準画像パターン7B3は、3つの角部の画素以外の大半の画素は、絵柄ずれ許容値の範囲(濃度0〜255)に設定される。
第1比較部15は、比較用基準画像THMA(比較用基準画像パターン7B3),THMIと検査画像(検査画像パターン7B2)とを画素毎に比較して、比較結果DETNA,DETNI(比較結果画像パターン7B5)を出力する。
When the setting range of the allowable pattern deviation value is increased by one pixel outward, for example, if the pixel of interest is x2y5, the surrounding pixels x1y4, x1y5, x1y6, x2y4, x2y6, x3y4, x3y5, x3y6 are 8 pixels. Is the target. These eight pixels are set in the range of the allowable pattern deviation value (density 0 to 255) by the maximum rank 255 and the minimum rank 0. Therefore, in the reference image pattern 7B3 shown in FIG. 7B, most of the pixels other than the pixels at the three corners are set within the range of the allowable pattern deviation value (density 0 to 255).
The first comparing unit 15 compares the comparison reference images THMA (comparison reference image pattern 7B3) and THMI with the inspection image (inspection image pattern 7B2) pixel by pixel, and compares the comparison results DETNA and DETNI (comparison result image pattern). 7B5) is output.

これらの比較結果DETNA,DETNIは、検査画像パターン7B2が、比較用基準画像THMAに含まれるため、比較結果画像パターン7B6の比較結果が得られる。この比較結果は、実際には、端部61から先端部分63が欠損している端部62であるにもかかわらず、大半の画素が欠損し、3個の画素のみが残った画像パターンとなる。よって、基準画像と検査画像に差が小さく、精度の低い判定による比較結果が出力される。   Regarding these comparison results DETNA and DETNI, since the inspection image pattern 7B2 is included in the comparison reference image THMA, the comparison result of the comparison result image pattern 7B6 is obtained. The result of this comparison is an image pattern in which most of the pixels are lost and only three pixels remain, though the end portion 62 is the end portion 62 where the tip portion 63 is missing, in reality. .. Therefore, the difference between the reference image and the inspection image is small, and the comparison result by the determination with low accuracy is output.

第2比較部16は、検査画像パターン7B2に対して、絵柄ずれ許容範囲を設定することで、比較用検査画像DDAO(比較用検査画像パターン7B4),DDIOを生成する。第2比較部16は、比較用検査画像DDAO,DDIOと基準画像(基準画像パターン6B1)を画素毎に比較する。比較用検査画像パターン7B4と基準画像パターン7A1の比較においては、比較結果画像パターン7B6の比較結果が出力される。
比較結果画像パターン7B6は、基準画像に含まれる端部61に比べて、絵柄ずれ許容値の範囲を含んでも先端部分63を欠損する端部62の方が短く、基準画像の端部61との間に差が出るため、不良を検出することができる。
The second comparison unit 16 sets the pattern deviation allowable range for the inspection image pattern 7B2 to generate the comparison inspection images DDAO (comparative inspection image pattern 7B4) and DDIO. The second comparison unit 16 compares the comparison inspection images DDAO and DDIO with the reference image (reference image pattern 6B1) for each pixel. In the comparison between the comparison inspection image pattern 7B4 and the reference image pattern 7A1, the comparison result of the comparison result image pattern 7B6 is output.
In the comparison result image pattern 7B6, the end portion 62 lacking the tip end portion 63 is shorter than the end portion 61 included in the reference image even if the end portion 62 includes the range of the allowable pattern deviation value. Since there is a difference between them, a defect can be detected.

この第2の事例によれば、検査画像に含まれる欠損を有する検査対象に絵柄ずれ許容値の範囲を設定することにより、文字の払い等の端部の一部が欠損した場合であっても、絵柄ずれ許容範囲の画素の影響を受けないため、基準画像パターンと比較した際に、欠損している端部62を検出することができる。これらの第1の比較と第2の比較を組み合わせた比較結果によれば、通常の欠損や余白部分に付着する余分な印刷汚れの検出に加えて、文字や絵柄から離れた微小な点の欠損を検出することができ、正確な良・不良判定を実施することができる。   According to the second example, even if a part of the end portion such as the discontinuity of characters is lost by setting the range of the pattern deviation allowable value for the inspection object having the defect included in the inspection image. Since it is not affected by the pixels in the allowable range of the pattern deviation, the defective end portion 62 can be detected when compared with the reference image pattern. According to the comparison result obtained by combining the first comparison and the second comparison, in addition to the detection of normal defects and extra print stains adhering to the blank portion, the defects of minute points distant from the character or the pattern are detected. Can be detected, and accurate pass / fail determination can be performed.

1…画像欠損検出装置、2…撮像部、3…画像欠損検出部、4…表示部、4A1,4B1,4B3…基準画像パターン、4A2,4B2,4B4…検査画像パターン、4B5,4B6…比較結果画像パターン、5…入力部、11…画像処理部、12…比較判定部、13…基準画像データ記憶部、14…制御部、15,16,34A,34B…比較部、17…判定部、31,41…ランクフィルタ、32A,42A…閾値増加変換部、32B,42B…閾値減少変換部、33A,33B…閾値記憶部、43A,43B…比較部、D1…ドット(基準ドット、検査ドット)。 1 ... Image loss detection device, 2 ... Imaging unit, 3 ... Image loss detection unit, 4 ... Display unit, 4A1, 4B1, 4B3 ... Reference image pattern, 4A2, 4B2, 4B4 ... Inspection image pattern, 4B5, 4B6 ... Comparison result Image pattern, 5 ... Input unit, 11 ... Image processing unit, 12 ... Comparison determination unit, 13 ... Reference image data storage unit, 14 ... Control unit, 15, 16, 34A, 34B ... Comparison unit, 17 ... Determination unit, 31 , 41 ... Rank filter, 32A, 42A ... Threshold increase conversion unit, 32B, 42B ... Threshold decrease conversion unit, 33A, 33B ... Threshold storage unit, 43A, 43B ... Comparison unit, D1 ... Dot (reference dot, inspection dot).

Claims (4)

基準画像に含まれる検査対象の基準文字及び基準絵柄の位置ずれに対する第1の絵柄ずれ許容範囲を設定し、該第1の絵柄ずれ許容範囲が設定された基準画像と、取得した検査対象を含む検査画像とを比較する第1比較部と、
前記検査画像に含まれる前記検査対象の文字及び絵柄の位置ずれに対する第2の絵柄ずれ許容範囲を設定し、該第2の絵柄ずれ許容範囲が設定された検査画像と、前記検査対象を含む前記基準画像とを比較する第2比較部と、
前記第1比較部と前記第2比較部から出力されたそれぞれの比較結果において、いずれか一方の比較結果に、前記検査対象の画像に欠損有りの比較結果が含まれていた場合には、画像欠損があると判定し、不良の判定を行う判定部と、
を備える画像欠損検出装置。
Set the first picture misalignment tolerance to inspection standard characters and the reference position deviation of the pattern of the object included in the reference image, including a said first pattern deviation tolerances set reference image, a test object acquired A first comparing section for comparing the inspection image,
Set the second pattern deviation tolerance for the character and the positional deviation of the pattern of said object included in the inspection image, the inspection image second pattern deviation tolerance is set, the including the inspection target A second comparing section for comparing with the reference image;
In each of the comparison results output from the first comparison unit and the second comparison unit, when one of the comparison results includes a comparison result indicating that the image to be inspected has a defect, A determination unit that determines that there is a defect and determines a defect,
An image loss detection device comprising:
前記基準画像及び前記検査画像に対して、標本化処理及び量子化処理を施す画像処理部を有し、
前記第1比較部において、
前記画像処理部により濃度が数値化された前記検査対象を構成する画素の周囲の画素に対して、前記濃度の数値を変更することで、前記第1の絵柄ずれ許容範囲を設定し、
前記第2比較部において、
前記画像処理部により濃度が数値化された前記検査対象を構成する画素の周囲の画素に対して、前記濃度の数値を変更することで、前記第2の絵柄ずれ許容範囲を設定する、請求項1に記載の画像欠損検出装置。
An image processing unit that performs sampling processing and quantization processing on the reference image and the inspection image,
Oite the first comparator unit,
By setting the numerical value of the density with respect to the pixels around the pixels constituting the inspection target whose density is digitized by the image processing unit, the first pattern deviation allowable range is set ,
In the second comparison unit,
The second allowable deviation range is set by changing the numerical value of the density with respect to the pixels around the pixel constituting the inspection target whose density is digitized by the image processing unit. 1. The image defect detection device according to 1.
前記第1比較部は、
前記画像処理部により数値化された濃度に対して、大小に異なる少なくとも2つの閾値を設定し、
前記検査対象を形成する画素群の外周に配置される画素に対して、大きい方の前記閾値を用いて前記第1の絵柄ずれ許容範囲を設定する閾値増加変換部と、
前記検査対象を形成する画素群の外周に配置される画素に対して、小さい方の前記閾値を用いて前記第1の絵柄ずれ許容範囲を設定する閾値減少変換部と、備え、
前記第2比較部は、
前記画像処理部により数値化された濃度に対して、大小に異なる少なくとも2つの閾値を設定し
前記検査対象を形成する画素群の外周に配置される画素に対して、大きい方の前記閾値を用いて前記第2の絵柄ずれ許容範囲を設定する閾値増加変換部と、
前記検査対象を形成する画素群の外周に配置される画素に対して、小さい方の前記閾値を用いて前記第2の絵柄ずれ許容範囲を設定する閾値減少変換部と、
を備える、請求項2に記載の画像欠損検出装置。
The first comparison unit is
At least two thresholds of different sizes are set for the densities digitized by the image processing unit,
A threshold value increase conversion unit that sets the first allowable pattern deviation range using the larger threshold value for pixels arranged on the outer periphery of the pixel group forming the inspection target;
A threshold value reduction conversion unit that sets the first allowable pattern deviation range using the smaller threshold value for the pixels arranged on the outer periphery of the pixel group forming the inspection target;
The second comparison unit is
At least two thresholds of different sizes are set for the densities digitized by the image processing unit ,
A threshold value increase conversion unit that sets the second allowable pattern deviation range using the larger threshold value for pixels arranged on the outer periphery of the pixel group forming the inspection target;
A threshold value decrease conversion unit that sets the second allowable pattern deviation range by using the smaller threshold value for pixels arranged on the outer periphery of the pixel group forming the inspection target;
The image loss detection device according to claim 2, further comprising:
基準画像に含まれる検査対象となる基準文字及び基準絵柄に対して、濃度の閾値を変更することで線幅を太く又は細くした画像パターンに変換して、検査対象に位置ずれが生じても正確に判定するための第1の絵柄ずれ許容範囲を設定した第1比較の基準の比較用基準画像を生成し、該比較用基準画像と、取得した検査対象を含む検査画像とを比較する第1の比較と、
取得した検査画像に含まれる検査対象となる文字及び絵柄等に対して、濃度の閾値を変更することで線幅を太く又は細くした画像パターンに変換して、検査対象に位置ずれが生じても正確に判定するための第2の絵柄ずれ許容範囲を設定した第2比較の基準の比較用検査画像を生成し、該比較用検査画像と、前記基準文字及び前記基準絵柄を含む基準画像とを比較する第2の比較と、
前記第1の比較と前記第2の比較から出力されたそれぞれの比較結果のうちで、少なくとも1つの比較結果に、前記検査画像に欠損が生じていた際に、前記検査画像を不良判定とする判定と、
を備える画像欠損検出方法。
For the reference character and reference pattern to be inspected included in the reference image, the density threshold is changed to convert it to an image pattern with a thick or thin line width, and even if the inspection target is misaligned, it is accurate. First, a comparison reference image of a first comparison reference in which a first pattern displacement allowable range for making a determination is set is generated, and the comparison reference image and the acquired inspection image including the inspection target are compared. Comparison of
For the characters and patterns to be inspected included in the acquired inspection image, the density threshold is changed to convert the image pattern into a thicker or thinner line width, and even if the inspection target is misaligned. generates reference comparative inspection image of the second comparator is set to the second pattern deviation tolerance for accurately determining, with said comparative test image and the reference image including the reference characters and the reference picture A second comparison to compare,
Of the respective comparison results output from the first comparison and the second comparison, when at least one comparison result has a defect in the inspection image, the inspection image is determined to be defective. Judgment,
An image loss detection method comprising:
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