JP6689476B2 - 光モジュールの寿命予測方法および寿命予測装置 - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 118
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 54
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 73
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 55
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 26
- 230000006870 function Effects 0.000 description 26
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 11
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 3
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 3
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 1
- 230000003449 preventive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
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- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
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- H01S5/06808—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the electrical laser parameters, e.g. voltage or current
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/073—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an out-of-service signal
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/50—Transmitters
- H04B10/564—Power control
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Description
図1は、本発明の実施の形態1にかかる寿命予測装置1の構成例を示す図である。図1に示すように、本実施の形態の寿命予測装置1は、光モジュール2とバス3により接続される。光モジュール2は、図示しないレーザダイオードを備え、光出力を一定に保つようレーザダイオードに印加するバイアス電流を制御する。すなわち、光モジュール2は、レーザダイオードに印加するバイアス電流を制御することによって光出力を一定に保つ。バス3は、例えば、I2Cバスであるが、バス3はこれに限定されない。また、光モジュール2と寿命予測装置1との接続形態もバス3を用いた接続に限定されない。
TL=(Dlimit−Di)×ΔT …(1)
図3は、実施の形態2にかかる寿命予測装置の構成例を示す図である。図3に示すように本実施の形態の寿命予測装置1aは、実施の形態1の時間間隔保持部14および寿命算出部15の替わりに、時間間隔保持部14a、劣化時刻推定部16および時刻カウンタ部17を備える以外は、実施の形態1の寿命予測装置1と同様である。実施の形態1と同様の機能を有する構成要素は、実施の形態1と同一の符号を付して重複する説明を省略する。以下、実施の形態1と異なる点を中心に説明する。
TT=t+(Dlimit−Di)×ΔT …(2)
図5は、実施の形態3にかかる寿命予測装置の構成例を示す図である。図5に示すように本実施の形態の寿命予測装置1bは、実施の形態1の寿命算出部15の替わりに、アラーム発出部18を備える以外は、実施の形態1の寿命予測装置1と同様である。実施の形態1と同様の機能を有する構成要素は、実施の形態1と同一の符号を付して重複する説明を省略する。以下、実施の形態1と異なる点を中心に説明する。
図8は、実施の形態4にかかる寿命予測装置の構成例を示す図である。図8に示すように本実施の形態の寿命予測装置1cは、実施の形態2の監視部13、時間間隔保持部14a、劣化時刻推定部16、および時刻カウンタ部17の替わりに、監視部13b、時間間隔保持部14b、劣化時刻推定部16b、および時刻カウンタ部17bを備える以外は、実施の形態2の寿命予測装置1aと同様である。実施の形態2と同様の機能を有する構成要素は、実施の形態2と同一の符号を付して重複する説明を省略する。以下、実施の形態2と異なる点を中心に説明する。
TT1 = t + (Dlimit− Di)×ΔT … (3)
Claims (12)
- レーザダイオードに印加するバイアス電流を制御することによって光出力を一定に保つ光モジュール、の寿命予測方法であって、
寿命予測装置が、
前記光モジュールから前記バイアス電流の電流値であるバイアス電流値を取得する第1ステップと、
前記バイアス電流の初期の電流値である初期バイアス電流値を保持する第2ステップと、
前記バイアス電流値と前記初期バイアス電流値との差分値の桁数を算出し、前記桁数の増加が発生したか否かを判定する第3ステップと、
前記桁数の増加の発生が検出される時間間隔を算出する第4ステップと、
前記時間間隔と、前記光モジュールが寿命に到達したと判断される前記バイアス電流値から前記初期バイアス電流値を減じた値である第1閾値と、前記桁数とを用いて前記光モジュールの寿命を推定する第5ステップと、
を含むことを特徴とする光モジュールの寿命予測方法。 - 前記寿命は、前記光モジュールの残り寿命であることを特徴とする請求項1に記載の光モジュールの寿命予測方法。
- 前記残り寿命があらかじめ設定された第2閾値以下となったときにアラームを発出する第6ステップと、
を含むことを特徴とする請求項2に記載の光モジュールの寿命予測方法。 - 前記寿命は、前記光モジュールの推定劣化時刻であり、
前記第5ステップでは、前記時間間隔と、前記第1閾値と、前記桁数と、前記寿命の算出時刻とを用いて、前記推定劣化時刻を推定することを特徴とする請求項1に記載の光モジュールの寿命予測方法。 - 前記バイアス電流値の一定周期内のバイアス電流の最大値を、前記一定周期ごとに算出する第6ステップと、
前記最大値と、前記最大値が検出された時刻とに基づいて前記光モジュールの推定劣化時刻を推定する第7ステップと、
を含むことを特徴とする請求項1に記載の光モジュールの寿命予測方法。 - レーザダイオードに印加するバイアス電流を制御することによって光出力を一定に保つ光モジュール、の寿命予測方法であって、
寿命予測装置が、
前記光モジュールから前記バイアス電流の電流値であるバイアス電流値を取得する第1ステップと、
前記バイアス電流の初期の電流値である初期バイアス電流値を保持する第2ステップと、
前記バイアス電流値の一定周期内のバイアス電流の最大値を、前記一定周期ごとに算出する第3ステップと、
前記最大値と、前記最大値が検出された時刻とに基づいて前記光モジュールの推定劣化時刻を推定する第4ステップと、
を含み、
前記第4ステップは、
前記時刻と前記最大値との関係を示す寿命予測関数を算出するステップと、
前記寿命予測関数と、前記光モジュールが寿命に到達したと判断される前記バイアス電流値であるバイアス電流閾値とに基づいて前記光モジュールの推定劣化時刻を推定するステップと、
を含むことを特徴とする光モジュールの寿命予測方法。 - レーザダイオードに印加するバイアス電流を制御することによって光出力を一定に保つ光モジュール、の寿命を予測する寿命予測装置であって、
前記光モジュールから前記バイアス電流の電流値であるバイアス電流値を取得するバイアス電流取得部と、
前記バイアス電流の初期の電流値である初期バイアス電流値を保持する初期値保持部と、
前記バイアス電流値と前記初期バイアス電流値との差分値の桁数を算出し、前記桁数の増加が発生したか否かを判定する監視部と、
前記桁数の増加の発生が検出される時間間隔を算出する時間間隔算出部と、
前記時間間隔と、前記光モジュールが寿命に到達したと判断される前記バイアス電流値から前記初期バイアス電流値を減じた値である第1閾値と、前記桁数とを用いて前記光モジュールの寿命を推定する寿命算出部と、
を備えることを特徴とする寿命予測装置。 - 前記寿命は、前記光モジュールの残り寿命であることを特徴とする請求項7に記載の寿命予測装置。
- 前記残り寿命があらかじめ設定された第2閾値以下となったときにアラームを発出することを特徴とする請求項8に記載の寿命予測装置。
- 前記寿命は、前記光モジュールの推定劣化時刻であり、
前記寿命算出部は、前記時間間隔と、前記第1閾値と、前記桁数と、前記寿命の算出時刻とを用いて、前記推定劣化時刻を推定することを特徴とする請求項7に記載の寿命予測装置。 - 前記寿命算出部は、一定周期ごとの、前記バイアス電流値の前記一定周期内のバイアス電流の最大値と、前記最大値が検出された時刻とに基づいて前記光モジュールの推定劣化時刻を推定することを特徴とする請求項7に記載の寿命予測装置。
- レーザダイオードに印加するバイアス電流を制御することによって光出力を一定に保つ光モジュール、の寿命を予測する寿命予測装置であって、
前記光モジュールから前記バイアス電流の電流値であるバイアス電流値を取得するバイアス電流取得部と、
前記バイアス電流値の一定周期内のバイアス電流の最大値を、前記一定周期ごとに算出する監視部と、
前記最大値と、前記最大値が検出された時刻とに基づいて前記時刻と前記最大値との関係を示す寿命予測関数を算出し、前記寿命予測関数と、前記光モジュールが寿命に到達したと判断される前記バイアス電流値であるバイアス電流閾値とに基づいて前記光モジュールの推定劣化時刻を推定する寿命算出部と、
を備えることを特徴とする寿命予測装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2018/009066 WO2019171552A1 (ja) | 2018-03-08 | 2018-03-08 | 光モジュールの寿命予測方法および寿命予測装置 |
JPPCT/JP2018/009066 | 2018-03-08 | ||
PCT/JP2019/007889 WO2019172086A1 (ja) | 2018-03-08 | 2019-02-28 | 光モジュールの寿命予測方法および寿命予測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019172086A1 JPWO2019172086A1 (ja) | 2020-04-16 |
JP6689476B2 true JP6689476B2 (ja) | 2020-04-28 |
Family
ID=67845978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020502493A Active JP6689476B2 (ja) | 2018-03-08 | 2019-02-28 | 光モジュールの寿命予測方法および寿命予測装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20200381889A1 (ja) |
EP (1) | EP3739699B1 (ja) |
JP (1) | JP6689476B2 (ja) |
WO (2) | WO2019171552A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6704534B1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-06-03 | 三菱電機株式会社 | 劣化診断装置および光トランシーバの劣化診断方法 |
TWI719882B (zh) * | 2020-04-10 | 2021-02-21 | 四零四科技股份有限公司 | 對光學收發器進行失效預測之方法及相關光學收發器和光纖通訊系統 |
US20240129032A1 (en) * | 2022-10-17 | 2024-04-18 | Dish Wireless L.L.C. | Network probing including split light signal monitoring |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5754576A (en) * | 1992-09-24 | 1998-05-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser control apparatus and image forming apparatus using the same |
JPH09116231A (ja) * | 1995-10-20 | 1997-05-02 | Fujitsu Ltd | レーザダイオード劣化予測装置 |
JP2004254240A (ja) * | 2003-02-21 | 2004-09-09 | Fujitsu Ltd | レーザダイオード管理装置およびレーザダイオード管理方法 |
US20130077646A1 (en) * | 2007-09-28 | 2013-03-28 | Jiaxi Kan | Automatic modulation control for maintaining constant extinction ratio (er), or constant optical modulation amplitude (oma) in an optical transceiver |
JP2014107790A (ja) * | 2012-11-29 | 2014-06-09 | Nec Commun Syst Ltd | 警報発生装置および警報発生方法 |
JP2014212234A (ja) * | 2013-04-19 | 2014-11-13 | 住友電気工業株式会社 | 光送信機および発光素子の寿命予測方法 |
-
2018
- 2018-03-08 WO PCT/JP2018/009066 patent/WO2019171552A1/ja active Application Filing
-
2019
- 2019-02-28 WO PCT/JP2019/007889 patent/WO2019172086A1/ja unknown
- 2019-02-28 EP EP19763259.9A patent/EP3739699B1/en active Active
- 2019-02-28 JP JP2020502493A patent/JP6689476B2/ja active Active
-
2020
- 2020-08-17 US US16/995,292 patent/US20200381889A1/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2019171552A1 (ja) | 2019-09-12 |
WO2019172086A1 (ja) | 2019-09-12 |
US20200381889A1 (en) | 2020-12-03 |
EP3739699B1 (en) | 2023-09-06 |
EP3739699A1 (en) | 2020-11-18 |
JPWO2019172086A1 (ja) | 2020-04-16 |
EP3739699A4 (en) | 2021-06-23 |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A621 | Written request for application examination |
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