JP6683201B2 - 分光測色装置、および変換ルール設定方法 - Google Patents

Description

本発明は、分光測色装置、および分光測色装置によって取得される測定値を他の分光測色装置によって取得され得る分光反射率に変換するためのルールを設定する変換ルール設定方法に関する。

近年、対象物の表面色の仕上がりを管理するために、対象物の表面における分光反射率を測定する分光測色装置が使用されている（例えば、特許文献１〜３等）。この分光測色装置では、例えば、黒色および白色と言った２つの標準色の測定によって得られる黒色色度および白色色度に係る測定値が用いられて、対象物の分光反射率に係る測定値が校正され得る（例えば、特許文献１等）。

このような分光測色装置については、例えば、工場等において複数台の分光測色装置が並行して使用され、一部の分光測色装置が新たな分光測色装置に置き換えられることによって、複数種類の分光測色装置が併存し得る使用状況が想定され得る。分光測色装置の置き換えの態様としては、例えば、これまで使用してきている分光測色装置が、その後継機種の分光測色装置に置換される態様が挙げられる。

当該使用状況では、黒色および白色と言った２つの標準色の測定値が用いられて、対象物に係る測定値が校正されれば、黒色および白色に近い対象物については、同一の対象物が異なる分光測色装置によって測定されても、同様な分光反射率が取得され得る。一方、異なる機種間または異なるメーカー製の装置間では、光学系および分光感度に係る校正の方法が異なるため、黒色および白色とは異なる色の対象物が異なる分光測色装置によって測定されると、分光測色装置毎に異なる分光反射率が取得され得る。

そこで、分光測色装置ｍによるある対象物の測定によって取得される分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）が、式（１）によって、他の分光測色装置ｔによる同一の対象物の測定によって取得され得る分光反射率Ｒ_ｔ（ｉ）に変換される方法が提案されている（例えば、非特許文献１等）。式（１）では、λは波長を示し、Ａ（ｉ），Ｂ（ｉ），Ｃ（ｉ），Ｄ（ｉ），Ｅ（ｉ）は、右辺第１〜５項の各i番目の波長λに対する係数を示している。

この方法では、分光測色装置ｍと分光測色装置ｔとによって複数の校正用の試料が実際に測定されることでそれぞれ取得される分光反射率が、式（１）に適用されることで、式（１）の係数Ａ（ｉ），Ｂ（ｉ），Ｃ（ｉ），Ｄ（ｉ），Ｅ（ｉ）が求められる。そして、求められた係数Ａ（ｉ），Ｂ（ｉ），Ｃ（ｉ），Ｄ（ｉ），Ｅ（ｉ）が適用された式（１）が用いられることで、任意の対象物についての分光測色装置ｍによる測定によって取得される分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）から、分光測色装置ｔによる測定によって取得され得る分光反射率Ｒ_ｔ（ｉ）が算出され得る。

特開昭６１−２９２０２６号公報 特開昭６１−２９２０４３号公報 特開昭６２−２８９７３６号公報

A.Ingleson and M.H.Brill, "Methods of Selecting a Small Reflectance Set as a Transfer Standard for Correcting Spectrophotometers", Color Res. Appl. 31 (2006), 13-17.

ところで、分光反射率は、例えば、横軸が対象物からの反射光における波長を示し、縦軸が対象物からの反射光の強度（光エネルギーでも良い）に応じた反射率を示す２次元のグラフによって表される。このため、異なる分光測色装置の間において、分光反射率は、波長に係る横軸方向および光エネルギーに係る縦軸方向と言った２軸方向において、ずれを生じ得る。式（１）で言えば、分光測色装置の各受光素子についての対象物からの反射光の強度と測定値との関係が比例関係からずれている直線性の問題が、右辺第５項の係数Ｅ（ｉ）に誤差を生じさせ得る。また、分光測色装置の各受光素子で受光される反射光の波長に係るずれが、式（１）の右辺第３項の係数Ｃ（ｉ）に誤差を生じさせる。さらに、分光測色装置の各波長にそれぞれ対応する各受光素子における分光感度の半値幅のズレが、式（１）の右辺第４項の係数Ｄ（ｉ）に誤差を生じさせ得る。

ここで、係数Ａ（ｉ）〜Ｅ（ｉ）は、波長λ（ｉ）毎に異なる値を採る。このため、各波長λ（ｉ）について、分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）ならびに分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の１次微分（ｄＲ_ｍ（ｉ）／ｄλ）および２次微分（ｄ^２Ｒ_ｍ（ｉ）／ｄλ^２）が０とは異なる値を呈する５種類以上の校正用の試料の分光反射率が実際に測定されれば、波長λ（ｉ）毎に５つの係数Ａ（ｉ）〜Ｅ（ｉ）が求められ得る。

例えば、分光測色装置において反射光の強度が検出される波長（検出波長とも言う）λ（ｉ）毎に、分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）が波長λ（ｉ）の変化に対して傾きを有する校正用の試料が用いられれば、式（１）の分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の１次微分（ｄＲ_ｍ（ｉ）／ｄλ）を含む右辺第３項が０とは異なる値を呈する。また、例えば、分光測色装置の検出波長λ（ｉ）毎に、検出波長λ（ｉ）の変化に対して分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の傾きが変化している校正用の試料が用いられれば、式（１）の分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の２次微分（ｄ^２Ｒ_ｍ（ｉ）／ｄλ^２）を含む右辺第４項が０とは異なる値を呈する。

よって、検出波長λ（ｉ）毎に、分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）、分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の傾きおよび分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の傾きの変化が大きな校正用の試料が用いられれば、係数Ａ（ｉ）〜Ｄ（ｉ）が精度良く求められ得る。また、右辺第５項は、分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）が０％および１００％で最小となり、分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）が５０％で最大となる２次関数である。このため、検出波長λ（ｉ）毎に、０％から１００％までの複数の分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）を呈する複数の校正用の試料が採用されれば、係数Ｅ（ｉ）が精度良く求められ得る。

しかしながら、ある検出波長λ（ｉ）において分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の傾きが大きな校正用の試料は、他の検出波長λ（ｉ）において分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の傾きが小さくなる傾向にある。このため、検出波長λ（ｉ）毎に、係数Ａ（ｉ）〜Ｅ（ｉ）を求めるために最適な校正用の試料が異なってくる。よって、波長λ（ｉ）毎に係数Ａ（ｉ）〜Ｅ（ｉ）を求めるためには、非常に多数の校正用の試料が必要となる。また、校正用の試料の選択の仕方によって、式（１）を用いた分光反射率Ｒ_ｔ（ｉ）の算出に係るロバスト性が相違する。つまり、式（１）の右辺の１以上の項に、校正用の試料の選択の仕方に応じた測定に係る誤差が乗ると、式（１）を用いて算出される分光反射率Ｒ_ｔ（ｉ）に誤差が生じ易い。

また、分光測色装置では、例えば、１０ｎｍ間隔等と言った様な予め設定された所定の波長の間隔で、分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）に係る測定値が出力される。このため、検出波長λ（ｉ）における分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の１次微分（ｄＲ_ｍ（ｉ）／ｄλ）は、実際の計算では、分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の微分の値（微分値とも言う）ではなく、分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）の差分の値（差分値とも言う）となる。その結果、微分値と差分値との差に起因する誤差が、分光測色装置ｍによる測定で得られた分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）から式（１）を用いた変換によって得られる分光測色装置ｔに係る分光反射率Ｒ_ｔ（ｉ）と、分光測色装置ｔによる実測で得られる分光反射率Ｒ_ｔ（ｉ）との間に誤差を生じさせる。

このように、式（１）を用いた分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）から分光反射率Ｒ_ｔ（ｉ）への変換を実現させるためには、まずは多数の校正用の試料を要する。また、それらの多数の校正用の試料を用いた測定に長時間を要する。さらには、校正用の試料の選択の仕方に依る変換の精度（ロバスト性）を確保することは容易でない。すなわち、分光反射率Ｒ_ｍ（ｉ）から分光反射率Ｒ_ｔ（ｉ）へ変換するためのルール（変換ルールとも言う）の設定には、煩雑な作業や操作を要し、該変換ルールを精度良く設定することは容易でない。

これらの問題は、異なるメーカーの分光測色装置の間または異なる分光測色装置の機種の間に限られるものではなく、例えば、同一機種の異なる分光測色装置の間においても生じ得るため、異なる分光測色装置の間一般において生じ得る。

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、異なる分光測色装置の間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る技術を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、一態様に係る分光測色装置は、光源と、前記光源から発せられる照明光の対象物に対する照射に応じて該対象物の表面で生じる反射光を分光して、該反射光に係る分光スペクトルを測定する受光部と、前記分光スペクトルから第１分光反射率を算出する算出部と、各波長について反射率と反射率のずれ成分としての反射率差との関係を示す関係情報を記憶する記憶部と、前記第１分光反射率と前記関係情報とに基づいて、前記分光測色装置を用いた測定で取得された前記第１分光反射率と、該分光測色装置とは異なる変換先分光測色装置を用いた測定で取得され得る第２分光反射率との間における各波長についての反射率差を取得する取得部と、前記取得部で取得された各波長についての反射率差を前記第１分光反射率に対して加算または減算することで、前記第１分光反射率を前記第２分光反射率に変換する変換部と、を備え、前記関係情報が、各波長についての反射率と反射率差との関係を示す関係式を含み、前記取得部が、前記第１分光反射率と前記関係式とを用いた演算によって、各波長についての反射率差を取得する。
他の一態様に係る分光測色装置は、光源と、前記光源から発せられる照明光の対象物に対する照射に応じて該対象物の表面で生じる反射光を分光して、該反射光に係る分光スペクトルを測定する受光部と、前記分光スペクトルから第１分光反射率を算出する算出部と、各波長について反射率と反射率のずれ成分としての反射率差との関係を示す関係情報を記憶する記憶部と、前記第１分光反射率と前記関係情報とに基づいて、前記分光測色装置を用いた測定で取得された前記第１分光反射率と、該分光測色装置とは異なる変換先分光測色装置を用いた測定で取得され得る第２分光反射率との間における各波長についての反射率差を取得する取得部と、前記取得部で取得された各波長についての反射率差を前記第１分光反射率に対して加算または減算することで、前記第１分光反射率を前記第２分光反射率に変換する変換部と、を備え、前記関係情報が、各波長について、反射率と反射率差との複数の組合せを示すテーブルを含み、前記取得部が、前記第１分光反射率と前記テーブルとに基づいて、各波長についての反射率差を取得する。

他の一態様に係る変換ルール設定方法は、(a)第１分光測色装置および第２分光測色装置によって、それぞれ測定対象の波長範囲における少なくとも一部の波長範囲において反射率が予め設定された所定の値域の幅内に含まれ且つ相互に異なる複数の試料のうちの各試料について分光反射率を測定するステップと、(b)演算部によって、前記ステップ(a)における測定結果に基づいて、前記第１分光測色装置を用いた前記複数の試料に係る測定によってそれぞれ取得される複数の第１分光反射率と、前記第２分光測色装置を用いた前記複数の試料に係る測定によってそれぞれ取得され得る複数の第２分光反射率との間における各波長についての反射率と該反射率に係るずれ成分としての反射率差との関係を示す関係式を取得するステップと、(c)設定部によって、前記ステップ(b)で取得された関係式に基づいて、前記第１分光測色装置による測定で取得される分光反射率を、前記第２分光測色装置による測定で取得され得る分光反射率に変換する変換ルールを設定するステップと、を有する。
他の一態様に係る変換ルール設定方法は、(a)第１分光測色装置および第２分光測色装置によって、それぞれ測定対象の波長範囲における少なくとも一部の波長範囲において反射率が予め設定された所定の値域の幅内に含まれ且つ相互に異なる複数の試料のうちの各試料について分光反射率を測定するステップと、(b)演算部によって、前記ステップ(a)における測定結果に基づいて、前記第１分光測色装置を用いた前記複数の試料に係る測定によってそれぞれ取得される複数の第１分光反射率と、前記第２分光測色装置を用いた前記複数の試料に係る測定によってそれぞれ取得され得る複数の第２分光反射率との間における各波長についての反射率と該反射率に係るずれ成分としての反射率差との複数の組合せを示すテーブルを取得するステップと、(c)設定部によって、前記ステップ(b)で取得されたテーブルに基づいて、前記第１分光測色装置による測定で取得される分光反射率を、前記第２分光測色装置による測定で取得され得る分光反射率に変換する変換ルールを設定するステップと、を有する。

一態様に係る分光測色装置によれば、分光感度に係るずれとは別に、各波長についての反射率と反射率差との関係が設定されることで、異なる分光測色装置の間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

他の一態様に係る変換ルール設定方法によれば、各波長についての反射率と反射率差との関係が容易に求められるため、異なる分光測色装置の間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

図１は、第１分光測色装置の一構成例を模式的に示す図である。 図２は、第２分光測色装置の一構成例を模式的に示す図である。 図３は、受光部の一構成例を模式的に示す図である。 図４は、赤色の測色対象物に係る第１および第２分光反射率を例示する図である。 図５は、第１分光反射率と第２分光反射率との差を例示する図である。 図６は、透明部材の分光反射率を例示する図である。 図７は、受光部の各受光素子における分光感度を例示する図である。 図８は、第１分光測色装置の制御部で実現される機能的な構成を例示する図である。 図９は、第２分光測色装置の制御部で実現される機能的な構成を例示する図である。 図１０は、無彩色の測色対象物について取得される分光反射率を例示する図である。 図１１は、同一の無彩色の測色対象物について取得される分光反射率の装置間における差を例示する図である。 図１２は、第１分光測色装置の制御部で実現される機能的な構成を例示する図である。 図１３は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図１４は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図１５は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図１６は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図１７は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図１８は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図１９は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図２０は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図２１は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図２２は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図２３は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図２４は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図２５は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図２６は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図２７は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図２８は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図２９は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図３０は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図３１は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図３２は、分光反射率と分光反射率の差との関係を示す図である。 図３３は、第１および第２分光測色装置を用いた測定で取得された第１および第２分光反射率を例示する図である。 図３４は、第１分光反射率と第２分光反射率との差を例示する図である。 図３５は、第１分光反射率から反射率差を減じることで得られる補正後の第１分光反射率と第２分光反射率との差を例示する図である。 図３６は、変換ルールの設定に係る動作フローを示すフローチャートである。 図３７は、合わせ込みで用いられる複数の試料の分光反射率を例示する図である。 図３８は、一受光素子における分光感度を示す正規分布の関数を例示する図である。 図３９は、第１分光測色装置の測定で得られた分光スペクトルを、第２分光測色装置によって取得され得る分光反射率に変換する動作フローを示すフローチャートである。 図４０は、第１および第２分光測色装置における入射光量と出力との関係を例示する図である。 図４１は、第１分光測色装置の一構成例を模式的に示す図である。 図４２は、２種類の透明部材の分光反射率を例示する図である。

以下、本発明の一実施形態および各種変形例を図面に基づいて説明する。なお、図面においては同様な構成および機能を有する部分については同じ符号が付されており、下記説明では重複説明が省略される。また、図面は模式的に示されたものであり、各図における各種構造のサイズおよび位置関係等は適宜変更され得る。

＜(１)一実施形態＞
＜(１−１)一実施形態の概要＞
例えば、異なる分光測色装置の間では、測色の対象物（測色対象物とも言う）が同一であっても、光学系の違いおよび波長の校正法の違い等に応じて、分光反射率の測定値が相違し得る。このため、例えば、同一製品等と言った同様な測色対象物の測定に、異なる分光測色装置が並行して使用されれば、分光測色装置毎に得られる分光反射率および該分光反射率から算出される色彩値が相違する場合がある。この場合、測色対象物の色を適切に管理することが難しい。

このような問題に対しては、一実施形態に係る第１分光測色装置１ｍ（図１参照）において、該第１分光測色装置１ｍを用いた測定で取得される分光反射率（第１分光反射率とも言う）が、第１分光測色装置１ｍとは異なる第２分光測色装置１ｔ（図２参照）を用いた測定で取得され得る分光反射率（第２分光反射率とも言う）に変換されれば良い。このとき、第２分光測色装置１ｔは、第１分光測色装置１ｍで得られた第１分光反射率の変換先としての他の分光測色装置（変換先分光測色装置とも言う）である。なお、本実施形態では、例えば、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとが、機種が異なる装置であっても良いし、同一機種の異なる装置であっても良い。

但し、従来の上記式（１）を用いて第１分光反射率を第２分光反射率に変換するルール（変換ルールとも言う）を設定するためには、多数の校正用の試料の準備を要し、該多数の校正用の試料を用いた測定に長時間を要する。更に、校正用の試料の選択の仕方に依る変換の精度（ロバスト性）を確保することは容易でない。このため、変換ルールの設定には、煩雑な作業や操作を要し、該変換ルールを精度良く設定することは容易でなかった。

そこで、本実施形態では、第１分光反射率と第２分光反射率との間におけるずれが、反射率の直線性に係るずれ（適宜、直線性に係るずれと略称する）と、分光感度に係るずれと、に分けて扱われて、変換ルールが設定される。これにより、少数の校正用の試料を用いて、変換ルールを設定することが可能となる。すなわち、異なる分光測色装置の間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

ここで、直線性に係るずれは、例えば、各波長について測色対象物上で実際に生じる反射光の強度と測定される反射光の強度との関係が装置間で異なることに因って生じる分光反射率の反射率の方向におけるずれ（第１のずれとも言う）である。つまり、直線性に係るずれは、第１分光反射率と第２分光反射率との間における各波長についての反射率に係るずれの成分（ずれ成分とも言う）としての反射率の差（反射率差とも言う）に相当する。また、分光感度に係るずれは、例えば、分光感度の校正において装置間で異なる波長の校正法に因って生じる誤差（校正誤差とも言う）としての分光反射率の波長の方向におけるずれ（第２のずれとも言う）である。

＜(１−２)分光測色装置の概略的な構成＞
図１は、一実施形態に係る第１分光測色装置１ｍの一構成例を模式的に示す図である。図２は、第２分光測色装置１ｔの一構成例を模式的に示す図である。ここでは、国際照明委員会（ＣＩＥ）が推奨する４５／０（４５°照明、垂直受光）の構成が採用されている例を挙げて説明する。なお、例えば、ＣＩＥが推奨する０／４５（垂直照明、４５°受光）の構成が採用されても良い。

第１分光測色装置１ｍおよび第２分光測色装置１ｔは、例えば、ともに筐体２ならびに該筐体２内に格納された光源１１、発光回路１２、受光部１３、制御部１４、記憶部１５および入出力部１６を備えている。

筐体２は、開口部２ｏを有している。ここでは、第２分光測色装置１ｔには、開口部２ｏを介した筐体２内への物体（塵や埃等）の侵入を防ぐための透明な部材（透明部材とも言う）１７ｔが設けられているのに対して、第１分光測色装置１ｍには、透明部材が設けられていない例が採用されている。透明部材１７ｔは、例えば、凸レンズまたは板の形状を有しており、透明部材１７ｔの素材としては、例えば、無色透明のガラスまたはアクリル等が採用され得る。開口部２ｏは、光源１１から発せられる光（照明光とも言う）を筐体２の外部に向けて通過させることで、筐体２の外部のうちの開口部２ｏの近傍に配置された測色対象物１００に該照明光を照射させる。また、開口部２ｏは、光源１１から発せられる照明光の測色対象物１００に対する照射に応じて測色対象物１００の表面で生じる反射光を、筐体２の内部に向けて通過させる。

光源１１は、例えば、白色光を発する。白色光を発する光源１１としては、例えば、キセノン（Ｘｅ）フラッシュランプ等のランプが採用され得る。

発光回路１２は、制御部１４の制御に応じて光源１１を発光させる回路である。

受光部１３は、光源１１から発せられる照明光の測色対象物１００に対する照射に応じて該測色対象物１００の表面で生じる反射光を分光して、該反射光の強度に係る分光スペクトルを測定する。図３は、受光部１３の一構成例を模式的に示す図である。図３で示されるように、受光部１３は、例えば、スリット板１３１、分光部１３２およびセンサー部１３３を有する。

スリット板１３１は、測色対象物１００からの反射光の一部の光（入射光とも言う）Ｌ０を受光部１３内に入射させるスリット状の開口部（スリット部とも言う）１３１ｓを有する板状の部材である。

分光部１３２は、スリット部１３１ｓから入射された入射光Ｌ０を波長に応じて分光する部材であり、例えば、回折格子等を有して構成される。なお、図３では、分光部１３２で入射光Ｌ０が分光されることで得られる複数の波長の光のうち、赤色の光（赤色光とも言う）Ｌｒ１の光束の外縁が実線の矢印によって描かれており、青色の光（青色光とも言う）Ｌｂ１の光束の外縁が一点鎖線の矢印によって描かれている。

センサー部１３３は、分光部１３２で分光された光の強度を波長毎に測定する部分であり、例えば、複数の受光素子が一列に配されたラインセンサー（リニアアレイセンサーとも言う）等を有して構成される。

このような構成を有する受光部１３では、スリット部１３１ｓから入射された入射光Ｌ０が、分光部１３２で分光された後にセンサー部１３３に照射されることで、該センサー部１３３によって入射光Ｌ０における波長毎の光の強度が測定される。

制御部１４は、各種情報処理を行う電気回路であり、主にプロセッサーＰ０およびメモリーＭ０を有する。制御部１４では、プロセッサーＰ０が、記憶部１５内に格納されたプログラム（第１分光測色装置１ｍではプログラムＰ１、第２分光測色装置１ｔではプログラムＰ２）を読み込んで実行することで、第１分光測色装置１ｍ（または第２分光測色装置１ｔ）における各部の制御および各種演算を行う機能が実現される。また、メモリーＭ０は、例えば、ＲＡＭ等の揮発性の記憶媒体であり、制御部１４における各種演算で生成されるデータ等を一時的に記憶する。

記憶部１５は、例えば、不揮発性の記憶媒体によって構成され、プログラム（第１分光測色装置１ｍではプログラムＰ１、第２分光測色装置１ｔではプログラムＰ２）および制御部１４における各種演算に使用される各種情報等を記憶する。なお、第１分光測色装置１ｍおよび第２分光測色装置１ｔでは、制御部１４で実行されるプログラムＰ１，Ｐ２が異なるため、制御部１４で実現される各種機能が異なる。

入出力部１６は、例えば、操作部および表示部等を有している。該入出力部１６は、例えば、ユーザーによる操作部の操作に応じた信号を入力する機能、および制御部１４における演算結果としての各種情報等を表示部において可視的に出力する機能を有する。

＜(１−３)装置間における分光反射率のずれ＞
図４は、測色対象物１００としての同一の赤色のタイルについて、第１分光測色装置１ｍで測定された分光反射率（第１分光反射率）Ｒ_ｍ（λ）、および第２分光測色装置１ｔで測定された分光反射率（第２分光反射率）Ｒ_ｔ（λ）を例示するグラフである。なお、図４では、横軸が、光の波長λを示し、縦軸は、測色対象物１００の表面における分光反射率Ｒ（λ）を示す。図５は、第１分光測色装置１ｍで得られた第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と、第２分光測色装置１ｔで得られた第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との差ΔＲ（λ）（＝Ｒ_ｍ（λ）−Ｒ_ｔ（λ））を例示するグラフである。なお、図５では、横軸は、波長λを示し、縦軸は、反射率の差ΔＲを示しており、波長λと反射率の差ΔＲとの関係が実線で描かれている。

図５で示されるように、同一の赤色のタイルが測定されても、装置間において分光反射率の測定値が異なる。この装置間における分光反射率のずれについては、上述したように、直線性に係る第１のずれと、分光感度に係る第２のずれと、に分類される。ここで、直線性に係る第１のずれおよび分光感度に係る第２のずれについて具体的に説明する。

＜(１−３−１)直線性に係るずれ（第１のずれ）＞
図６は、透明部材１７ｔにおける分光反射率の一例を示す図である。第２分光測色装置１ｔに設けられている透明部材１７ｔは、例えば、表面に施された反射防止コートによって、図６で示されるような分光反射率を呈する。

図２で示されるように、第２分光測色装置１ｔでは、例えば、光源１１から発せられた照射光が測色対象物１００の表面で反射した後に、透明部材１７ｔを透過する光、ならびに更に透明部材１７ｔの表面および測色対象物１００の表面で順に反射する再帰反射が行われた上で透明部材１７ｔを透過する光が、受光部１３によって受光される。一方、図１で示されるように、第１分光測色装置１ｍでは、例えば、光源１１から発せられた照射光が測色対象物１００の表面で反射した後に、受光部１３によって単純に受光される。このように、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間では、測色対象物１００が同一であったとしても、光源１１から受光部１３に至るまでの光の経路が異なるため、取得される分光反射率が異なり得る。

ここで、例えば、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔにおいて、それぞれ反射率が約１００％である白色校正板を用いた白色校正および反射率が約０％である黒色校正板を用いた黒色校正が行われるものとする。この場合、測色対象物１００が白色であれば、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔによって白色校正板に値付けされた分光スペクトルがそれぞれ測定され得る。また、測色対象物１００が黒色であれば、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔによって黒色校正板に値付けされた分光スペクトルがそれぞれ測定され得る。すなわち、測色対象物１００が白色または黒色であれば、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間でそれぞれ同一の分光反射率が取得され得る。一方、測色対象物１００が白色と黒色の概ね中間の反射率（例えば、約５０％）を有する場合に、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔでそれぞれ測定される分光スペクトルにおいて、再帰反射に起因した最も大きなずれを生じ得る。

また、図６で示されるように、透明部材１７ｔの分光反射率は、波長に対して一定ではない。このため、例えば、透明部材１７ｔの反射率が０％である波長については、透明部材１７ｔと測色対象物１００との間における再帰反射が発生しない。一方、透明部材１７ｔの反射率が比較的大きな波長については、透明部材１７ｔと測色対象物１００との間における再帰反射によって、取得される分光反射率のずれが装置間で大きく異なる。このように、取得される分光反射率のうちの再帰反射に起因して生じる直線性に係る第１のずれは、光の波長および測色対象物１００の反射率に依って異なる。

なお、図４および図５で示される例では、６５０〜７４０ｎｍ付近の波長の範囲において、波長の変化に対する反射率の変化が比較的小さい。このため、図４および図５で示される装置間において取得される分光反射率のずれのうち、６５０〜７４０ｎｍ付近の波長における分光反射率のずれが、再帰反射による直線性に係る第１のずれに相当する。

＜(１−３−２)分光感度に係るずれ（第２のずれ）＞
図７は、受光部１３のセンサー部１３３を構成する各受光素子における分光感度を示す図である。第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔでは、受光部１３がそれぞれ異なる分光感度を有している。このため、例えば、装置毎に異なる波長の校正法によって、各受光素子における分光感度を規定する関数（例えば、重心波長および半値幅等を規定する関数）が校正されることで、各受光素子の分光感度に応じた補正が施され得る。ここで、波長の校正法としては、例えば、次のモノクロメーターを用いた校正法および輝線光源を用いた校正法等と言った多数の校正法が存在しており、機種毎に異なる波長の校正法が採用され得る。

モノクロメーターを用いた校正法では、例えば、モノクロメーターで発せられる単色光の波長が時間順次にシフトされつつ分光測色装置に入射され、各波長の単色光の分光スペクトルと、分光測色装置で検出される分光スペクトルとが一致するように、波長が校正される。なお、単色光の波長がシフトされるピッチとしては、例えば、１ｎｍ等が採用され得る。但し、モノクロメーターを用いた校正法では、各波長の単色光が微弱な光量のものとなり易いため、分光測色装置において単色光を受光する際の露光時間が長くなり得る。さらに、複数の波長の単色光の走査波長点数が非常に多く、波長の校正に長時間を要する。

輝線光線を用いた校正法では、例えば、輝線光源から発せられる複数の特定波長の光が分光測色装置に入力され、各特定波長の光の強度に係る分光スペクトルと、分光測色装置で検出される分光スペクトルとが一致するように、波長が校正される。なお、輝線光源としては、例えば、水銀ランプまたは水銀カドミウムランプ等が採用され得る。輝線光線を用いた校正法については、例えば、輝線光線から同時に複数の特定波長の光が発せられ、各特定波長の光の光量も高いため、校正に要する時間が短縮され得る。但し、輝線光線を用いた校正法では、複数の特定波長からずれた波長については校正の精度が低くなる。

ここで、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間で、波長の校正法が異なっていれば、例えば、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間で、各受光素子の分光感度の重心波長および半値幅に係る校正の精度が異なる。そして、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間で波長の校正法が異なっていれば、測色対象物１００が同一であっても、各分光測色装置１ｍ，１ｔで取得される反射光に係る分光スペクトルが異なるものとなる。具体的には、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間において、波長の校正法の違いに応じて取得される分光反射率が波長方向にずれたり、該分光反射率の波形がなまったりして、測定結果としての分光反射率に差が生じる。

なお、図４および図５で示される例では、５５０〜６５０ｎｍ付近の波長の範囲において、波長の変化に対する反射率の変化が大きい。このため、図４および図５で示される装置間において取得される分光反射率のずれのうち、５５０〜６５０ｎｍ付近の波長における分光反射率のずれが、分光感度に係る第２のずれに相当する。

＜(１−４)装置間における分光反射率のずれの補正＞
例えば、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔが同一のメーカーの製品で、第１分光測色装置１ｍが、第２分光測色装置１ｔの後継機であれば、ユーザーは、同一の測色対象物１００について、第１分光測色装置１ｍでも第２分光測色装置１ｔと同様な測定値が得られるものと期待する。このような期待に応えるために、本実施形態では、装置間における分光反射率のずれが考慮されて、第１分光測色装置１ｍで取得される分光反射率が、第２分光測色装置１ｔで取得され得る分光反射率に変換される。

上述したように、装置間における分光反射率のずれは、直線性に係る第１のずれと、分光感度に係る第２のずれとが、混合したものである。このため、仮に、直線性に係る第１のずれと分光感度に係る第２のずれとが、区別されなければ、例えば、従来の上記式（１）を用いて第１分光反射率を第２分光反射率に変換する変換ルールを設定するような手法を採用せざるを得ない。但し、式（１）は、非常に複雑な式であり、各受光素子に係る波長λ（ｉ）毎に係数Ａ（ｉ），Ｂ（ｉ），Ｃ（ｉ），Ｄ（ｉ），Ｅ（ｉ）が求められる必要がある。このため、多数の校正用の試料の準備を要し、該多数の校正用の試料を用いた測定に長時間を要する。更に校正用の試料の特性によって、求められる係数Ａ（ｉ），Ｂ（ｉ），Ｃ（ｉ），Ｄ（ｉ），Ｅ（ｉ）のロバスト性が低下し得る。

そこで、本実施形態では、第１分光測色装置１ｍで取得される第１分光反射率と第２分光測色装置１ｔで取得される第２分光反射率との間におけるずれが、直線性に係る第１のずれと、分光感度に係る第２のずれと、に分けて扱われて、変換ルールが設定される。これにより、少数の校正用の試料の使用によって、異なる分光測色装置の間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

なお、例えば、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの双方が、同一のメーカーの製品であれば、当該メーカーでは、各種校正に係る情報が既知である。このため、第１分光測色装置１ｍでは、例えば、既知である各種校正に係る情報が利用されることで、異なる分光測色装置の間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

図８は、装置間における分光反射率のずれを補正するために第１分光測色装置１ｍの制御部１４で実現される機能的な構成を例示する図である。

図８で示されるように、第１分光測色装置１ｍの制御部１４は、プロセッサーＰ０によってプログラムＰ１が実行されることで実現される機能的な構成として、算出部１４ｍａ、取得部１４ｍｂおよび変換部１４ｍｃを有する。

算出部１４ｍａは、第１分光測色装置１ｍの受光部１３で測定された測色対象物１００からの反射光に係る分光スペクトルから該測色対象物１００に係る分光反射率（第１分光反射率）を算出する。算出部１４ｍａでは、例えば、予め設定された光源１１から発せられる光の分光スペクトルと、測定された反射光に係る分光スペクトルとに基づいて、第１分光反射率が算出され得る。

取得部１４ｍｂは、算出部１４ｍａで算出された第１分光反射率と記憶部１５に記憶されている関係情報Ａ１とに基づいて、第１分光反射率と第２分光反射率との間における光の各波長についての反射率に係るずれ成分としての反射率差を取得する。ここで、関係情報Ａ１は、光の各波長について反射率と反射率差との関係を示す情報であり、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）を第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）に変換するために直線性に係る第１のずれを補正する変換ルール（第１変換ルールとも言う）を規定する情報である。

ここで、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）は、第１分光測色装置１ｍを用いた実際の測定で取得される。第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）は、第１分光測色装置１ｍとは異なる変換先分光測色装置としての第２分光測色装置１ｔを用いた測定で取得され得るものと推定される推定値（第２推定分光反射率とも言う）である。各波長についての反射率差は、例えば、予め、同一の校正用の試料を対象とした、第１分光測色装置１ｍを用いた測定によって得られる分光反射率と、第２分光測色装置１ｔを用いた測定によって得られる分光反射率との差分に基づいて取得され得る。これにより、例えば、各波長について、第１分光測色装置１ｍを用いた測定によって得られる第１分光反射率に対応する反射率と反射率差との関係が取得され得る。

変換部１４ｍｃは、取得部１４ｍｂで取得された各波長についての反射率差を、算出部１４ｍａで算出された第１分光反射率に対して加算または減算することで、第１分光反射率を第２分光反射率に変換する。ここで、例えば、関係情報Ａ１で規定される反射率差が、第２分光反射率を基準とした第１分光反射率の大小を正負の数値で表したものであれば、変換部１４ｍｃによって、取得部１４ｍｂで取得された各波長についての反射率差が、算出部１４ｍａで算出された第１分光反射率に対して減算されれば良い。逆に反射率差が第１分光反射率を基準とした第２分光反射率の大小を表すものであれば、反射率差が第１分光反射率に対して加算されればよい。

このような構成が採用される場合、分光感度に係る第２のずれとは別に、直線性に係る第１のずれについて、各波長についての反射率と該反射率に係るずれ成分としての反射率差との関係が設定される。これにより、直線性に係る第１のずれを補正するために、異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

また、変換部１４ｍｃは、第１分光測色装置１ｍとは異なる他の第２分光測色装置１ｔの校正済みの分光感度（校正済み分光感度とも言う）と、第１分光測色装置１ｍの受光部１３で測定された分光スペクトルとを用いて、該分光スペクトルから第２分光測色装置１ｔで取得され得るものと推定される分光反射率の推定値（第２推定分光反射率）Ｒ^＊ _ｔ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））を算出することが可能である。ここで、ｋは、波長を規定するための１〜Ｋ０の自然数であり、例えば、センサー部１３３における１〜Ｋ_０番目までの受光素子の順番を規定する数値であれば良い。

このような構成が採用される場合、直線性に係る第１のずれとは別に、分光感度に係るずれについての校正済み分光感度を示す情報（校正済み分光感度情報とも言う）Ｓ１が設定される。つまり、校正済み分光感度情報Ｓ１は、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）を第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）に変換するために分光感度に係る第２のずれを補正する変換ルール（第２変換ルールとも言う）を規定する情報である。これにより、分光感度に係る第２のずれを補正するために、異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

また、変換部１４ｍｃは、上述したように取得部１４ｍｂで取得された各波長についての反射率差を第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）に対して加算または減算するとともに、第２分光測色装置１ｔの校正済み分光感度情報Ｓ１と第１分光測色装置１ｍで測定された分光スペクトルとを用いて、該分光スペクトルから第２分光測色装置１ｔで取得され得る第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）が算出されても良い。このとき、例えば、変換部１４ｍｃによって、分光スペクトルと校正済み分光感度とを用いて取得される分光反射率に対して、取得部１４ｍｂで取得された各波長についての反射率差が加算または減算されることで、第２分光測色装置１ｔで取得され得る第２分光反射率が算出される。

このような構成が採用される場合、第１分光測色装置１ｍで取得される第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と第２分光測色装置１ｔで取得される第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との間におけるずれが、直線性に係る第１のずれと分光感度に係る第２のずれと、に分けられて、変換ルールが設定される。これにより、直線性に係る第１のずれおよび分光感度に係る第２のずれを補正するために、比較的少数の校正用の試料を用いて、変換ルールを設定することが可能となる。すなわち、異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

図９は、第２分光測色装置１ｔの制御部１４で実現される機能的な構成を例示する図である。図９で示されるように、第２分光測色装置１ｔの制御部１４は、プロセッサーＰ０によってプログラムＰ２が実行されることで実現される機能的な構成として、算出部１４ｔａを有する。算出部１４ｔａは、第２分光測色装置１ｔの受光部１３で測定された測色対象物１００からの反射光に係る分光スペクトルから該測色対象物１００に係る分光反射率（第２分光反射率）Ｒ_ｔ（λ）を算出する。算出部１４ｔａでは、例えば、予め設定された光源１１から発せられる光の分光スペクトルと、測定された反射光に係る分光スペクトルとに基づいて、第２分光反射率が算出され得る。

以下、装置間における直線性に係る第１のずれの補正および分光感度に係る第２のずれの補正について、順次説明する。

＜(１−４−１)装置間における直線性に係るずれ（第１のずれ）の補正＞
例えば、測色対象物１００が光の波長に拘わらず反射率が略一定となる分光反射率を有する場合には、装置間における分光感度のずれに起因する分光反射率の誤差（分光感度に係る第２のずれ）が殆ど発生しない。具体的には、例えば、分光反射率において波長に拘わらず反射率が略一定であれば、各受光素子における分光感度を規定する重心波長および半値幅が装置間でずれていても、各受光素子において受光される光の強度に係る分光スペクトルは殆ど変わらない。このように、光の波長に拘わらず反射率が略一定となる分光反射率を有する測色対象物１００としては、例えば、測定対象となる波長範囲のうちの全範囲において反射率が所定の値域の幅内に含まれている校正用の試料が挙げられる。

ここで、測定対象となる波長範囲としては、例えば、可視光線の波長範囲である３６０〜７４０ｎｍ程度の波長範囲が採用され得る。所定の値域の幅としては、例えば、予め設定された非常に狭い値域が採用され得る。このような条件を満たす測色対象物１００としては、例えば、無彩色の試料が挙げられる。

図１０は、無彩色の測色対象物１００について取得される分光反射率を例示する図である。図１０では、白色から黒色に至る複数種類の濃さの無彩色の試料について、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔによってそれぞれ取得される第１および第２分光反射率Ｒ_ｍ（λ），Ｒ_ｔ（λ）の例が曲線で示されている。具体的には、第１および第２分光反射率Ｒ_ｍ（λ），Ｒ_ｔ（λ）が、横軸が波長λであり且つ縦軸が反射率Ｒであるグラフにおいて示されている。

図１１は、同一の無彩色の測色対象物１００について取得される分光反射率の装置間における差を例示する図である。図１１では、白色から黒色に至る複数種類の濃さの無彩色の試料について、第１分光測色装置１ｍで取得される第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と、第２分光測色装置１ｔで取得される第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との差ΔＲ（λ）（＝Ｒ_ｍ（λ）−Ｒ_ｔ（λ））が示されている。

図１０および図１１では、透明部材１７ｔの反射率が高い３６０〜４００ｎｍの波長範囲、ならびに６５０〜７４０ｎｍの波長範囲において、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間で、装置間における分光反射率のずれが生じている様子が示されている。ここで、測色対象物１００の分光反射率が変化している波長範囲を除いた波長範囲については、第１分光測色装置１ｍで取得される第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と第２分光測色装置１ｔで取得される第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との差（反射率差）ΔＲ（λ）は、直線性に係る第１のずれに相当する。

このように、分光反射率が略一定となる測色対象物１００が校正用の試料として用いられることで、装置間において取得される分光反射率のずれのうち、分光感度に係る第２のずれの影響が除かれた、直線性に係る第１のずれが検出され得る。その結果、各波長についての反射率と該反射率に係るずれ成分としての反射率差との関係を求めるための複数の校正用の試料が容易に準備され得る。すなわち、各波長についての反射率と該反射率に係るずれ成分としての反射率差との関係が容易に求められ得る。

ここで、各波長について反射率と反射率差との関係を示す関係情報Ａ１の設定について具体的に説明する。

図１２は、装置間における直線性に係る第１のずれを補正するための第１変換ルールとしての関係情報Ａ１を設定するために第１分光測色装置１ｍの制御部１４で実現される機能的な構成を例示する図である。

図１２で示されるように、第１分光測色装置１ｍの制御部１４は、プロセッサーＰ０によって記憶部１５内のプログラムＰ１が実行されることで実現される機能的な構成として、算出部１４ｍａ、演算部１４ｍｄおよび設定部１４ｍｅを有する。

演算部１４ｍｄは、第１分光測色装置１ｍを用いた測定で得られる複数の第１分光反射率と、第２分光測色装置１ｔを用いた測定で得られる複数の第２分光反射率との間における各波長についての反射率と反射率差との関係を取得する。ここで、複数の第１分光反射率は、第１分光測色装置１ｍを用いた複数の試料に係る測定によってそれぞれ取得され得る。例えば、算出部１４ｍａによって、無彩色の校正用の各試料について、第１分光測色装置１ｍの受光部１３で測定された測色対象物１００からの反射光に係る分光スペクトルから該測色対象物１００に係る第１分光反射率が算出され得る。また、複数の第２分光反射率は、第２分光測色装置１ｔを用いた複数の試料に係る測定によってそれぞれ取得され得る。例えば、算出部１４ｔａによって、無彩色の校正用の各試料について、第２分光測色装置１ｔの受光部１３で測定された測色対象物１００からの反射光に係る分光スペクトルから該測色対象物１００に係る第２分光反射率が算出され得る。

設定部１４ｍｅは、演算部１４ｍｄで取得された各波長における反射率と反射率差との関係に基づいて、第１分光測色装置１ｍによる測定で取得される第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）を、第２分光測色装置１ｔによる測定で取得され得る第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）に変換する変換ルールとしての関係情報Ａ１を設定する。

図１３から図３２は、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係を示す図である。ここで、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）は、相互に濃さの異なる複数種類の無彩色の校正用の試料について、第１分光測色装置１ｍを用いた実測によって取得された測定値である。反射率差ΔＲ（λ）は、相互に濃さの異なる複数種類の無彩色の校正用の試料それぞれについての、第１分光測色装置１ｍを用いた実測によって取得された第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と、第２分光測色装置１ｔを用いた実測によって取得された第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との差である。

図１３から図３２では、３６０〜７４０ｎｍの範囲における２０ｎｍ間隔の各波長λ（λ＝３６０，３８０，４００，・・・，７４０ｎｍ）について、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係が示されている。なお、図１３から図３２の各図において、それぞれ白丸で示されているデータは、各校正用の試料について分光反射率が略一定である波長範囲についてそれぞれ得られたデータである。また、実線で描かれた曲線は、各波長についての第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係を近似的に示している。ここでは、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔにおいて白色校正と黒色校正とがそれぞれ行われることで、各波長について、第１および第２分光反射率Ｒ_ｍ（λ），Ｒ_ｔ（λ）が５０％程度となる場合に反射率差ΔＲ（λ）が極大値を呈する例が示されている。

ところで、測色対象物１００が黒っぽく濃いものについては、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）が小さな値となり、反射率差ΔＲ（λ）において測定による誤差が生じ易い。この誤差は、校正用ではない実際の測色を行う際における有彩色の測色対象物１００について、直線性に係る第１のずれを補正する際に、補正の精度の低下を招く。このため、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）が小さな測色対象物１００については、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）を細かく変化させながら、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係が取得されれば、反射率差ΔＲ（λ）における測定による誤差の影響が低減され得る。

例えば、図１３から図３２の各図では、１０％以下の第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）について、多数の相互に濃さが異なる測色対象物１００についての第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係が実測によって取得されている様子が示されている。なお、例えば、０，５，１０，２０，５０，１００％等と言った６水準以上の第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）について、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係が実測によって取得されれば、反射率差ΔＲ（λ）における測定による誤差がある程度低減され得る。なお、このとき、１つの校正用の試料についての測定によって、複数の受光素子の数に対応する数の波長について、分光反射率が測定され得る。つまり、少ない校正用の試料によって、数多くの分光反射率に係るデータが取得され得る。その結果、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）を第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）に変換するための関係情報Ａ１が容易に取得および設定され得る。

ここで、例えば、関係情報Ａ１が、各波長λについて、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係を近似的に示す関係式を含む場合を想定する。つまり、関係式が、各波長についての反射率と反射率差との関係を示す場合を想定する。そして、実測で得られた第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係に対して、式（２）で示されるＮ次の関数がフィッティングされることで、係数ａ_ｎ（λ）が求められる。式（２）において、ｎは、０〜Ｎの整数であり、Ｎは、適宜設定され得る２以上の任意の整数である。ここで、Ｎ次の関数のフィッティングとして、例えば、非線形の最小二乗法を用いた演算等が採用され得る。なお、第１および第２分光反射率Ｒ_ｍ（λ），Ｒ_ｔ（λ）が、それぞれ３６０〜７４０ｎｍの波長範囲における１０ｎｍのピッチの３９個の波長（３６０，３７０，３８０，・・・，７４０ｎｍ）についての分光反射率で構成されている場合、該３９個の波長について、それぞれ係数ａ_ｎ（λ）が求められる。

このようなフィッティングによって、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係を近似的に示す関係式が算出され得る。フィッティングによる関係式の算出は、演算部１４ｍｄにおいて実行され得る。但し、該フィッティングによる関係式の算出は、例えば、第１分光測色装置１ｍ以外の各種情報処理装置で実行されても良い。

そして、例えば、ここで得られた波長λ毎の係数ａ_ｎ（λ）と式（２）とが、設定部１４ｍｅによって関係情報Ａ１として記憶部１５に記憶され得る。つまり、設定部１４ｍｅによって、第１変換ルールとしての関係情報Ａ１が設定され得る。すなわち、関係情報Ａ１は、相互に分光反射率が異なる複数の無彩色の校正用の試料のうちの各試料について第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔを用いた測定によってそれぞれ取得される第１および第２分光反射率Ｒ_ｍ（λ），Ｒ_ｔ（λ）に基づいて設定され得る。

これにより、任意の測色対象物１００について第１分光測色装置１ｍを用いた測定によって第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）が取得される場合、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔでの装置間における直線性に係る第１のずれに対応する反射率差ΔＲ（λ）は、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）が式（２）に代入されることで算出され得る。すなわち、取得部１４ｍｂにおいて、任意の測色対象物１００に係る第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と関係情報Ａ１に含まれる関係式とを用いた演算によって、各波長λについての反射率差ΔＲ（λ）が取得され得る。その結果、変換部１４ｍｃによって、相互に異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間において、測定値が高精度且つ迅速に変換され得る。

なお、ここでは、波長λ毎に、実測で得られた第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との複数の組合せに対して、１つのＮ次の関数がフィッティングされたが、これに限られない。

例えば、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）が複数の区間に分けられて、区間毎に、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との複数の組合せに対してＮ次の関数がフィッティングされても良い。この場合、関係情報Ａ１が、各波長についての複数の反射率の領域それぞれにおける第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係式を有している。換言すれば、各波長λについて、複数の反射率の領域それぞれにおける係数ａ_ｎ（λ）が算出されて、記憶部１５に記憶されても良い。ここで、複数の反射率の領域としては、例えば、０〜１０％、１０〜５０％および５０〜１００％等と言った０〜１００％が複数の値域に区分けされた領域等が挙げられる。これにより、フィッティングによって得られる関係式によって第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係を近似的に示す精度が向上し得る。したがって、異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間における測定値の高精度な変換ルールがさらに容易に設定され得る。

また、例えば、各波長について、反射率と反射率差との複数の組合せによって第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係を示すテーブルが、関係情報Ａ１として、記憶部１５に記憶されても良い。この場合、例えば、取得部１４ｍｂにおいて、任意の測色対象物１００に係る第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）とテーブルとに基づいて、各波長λについての反射率差ΔＲ（λ）が取得され得る。その結果、変換部１４ｍｃによって、相互に異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間において、測定値が高精度且つ迅速に変換され得る。このような構成が採用される場合、各波長λについての反射率と反射率差との関係を示すテーブルが容易に設定され得るため、相互に異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

このような構成では、例えば、取得部１４ｍｂにおいて、各波長について、テーブルに含まれる反射率と反射率差との２以上の組合せを用いた補間処理によって、任意の測色対象物１００に係る第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）に対する各波長λについての反射率差ΔＲ（λ）が取得され得る。これにより、記憶部１５の記憶容量の低減、ならびに反射率と反射率差との多数の組合せを得るための校正用の試料の数および測定回数の低減が実現され得る。つまり、各波長についての反射率と反射率差との関係を示すデータが少なくて済むことで、当該データを容易に取得することができる。その結果、相互に異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間における測定値の高精度な変換ルールがさらに容易に設定され得る。

ここで、仮に、例えば、各波長のテーブルにおいて、０，５，１０，２０，５０，１００％の６つの反射率について、反射率と反射率差との関係が記述されている例を想定する。この例では、例えば、第１分光測色装置１ｍを用いた測定によって任意の測色対象物１００に係る第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）として１５％が取得されると、各波長のテーブルにおける１０％および２０％の２水準の反射率についての反射率と反射率差との２つの組合せを用いた補間処理によって、１５％の反射率に対応する反射率差が取得され得る。

なお、例えば、各波長のテーブルにおいて、細かいピッチの多数の分光反射率に係る反射率と反射率差との組合せを記憶する例を想定すれば、記憶部１５の記憶容量、反射率と反射率差との多数の組合せを得るための校正用の試料の数、およびその測定回数等が増大し得る。しかしながら、例えば、補間処理の省略による演算負荷の低減ならびに演算速度の向上を図ることが可能となる。

ところで、例えば、測色対象物１００が有彩色であっても、測色対象物１００における波長の変化に対する分光反射率の変化が緩やかな場合には、装置間における分光感度に係る第２のずれは小さい。このため、このような場合には、第１分光測色装置１ｍを用いた測定によって取得された第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）に対して、式（３）に沿って、直線性に係る第１のずれの補正が施されることで、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）が、第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）に変換され得る。

図３３は、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔを用いた測定によってそれぞれ取得された第１および第２分光反射率Ｒ_ｍ（λ），Ｒ_ｔ（λ）を例示する図である。図３３には、波長λの変化に対する分光反射率の変化が緩やかな測色対象物１００についての第１および第２分光反射率Ｒ_ｍ（λ），Ｒ_ｔ（λ）が例示されている。

図３４は、波長λの変化に対する分光反射率の変化が緩やかな測色対象物１００について、第１分光測色装置１ｍを用いた測定で取得された第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と、第２分光測色装置１ｔを用いた測定で取得された第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との差を例示する図である。図３４で示されるように、測色対象物１００が、波長λの変化に対する分光反射率の変化が緩やかなものであっても、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との差がある程度生じる。

図３５は、波長λの変化に対する分光反射率の変化が緩やかな測色対象物１００について、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）から反射率差ΔＲ（λ）を減じることで得られる補正後の第１分光反射率（第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）−ΔＲ）と、第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との差を例示する図である。ここで、反射率差ΔＲ（λ）は、取得部１４ｍｂによって、測色対象物１００に係る第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と関係情報Ａ１とに基づいて取得される。図３５で示されるように、波長λの変化に対する分光反射率の変化が緩やかな測色対象物１００については、直線性に係る第１のずれの補正が行われれば、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの装置間における分光反射率のずれが十分低減され得る。

なお、図４で示されるように、波長λの変化に対して分光反射率が急激に変化する測色対象物１００は少ない。このため、分光感度に係る第２のずれの補正が行われずとも、直線性に係る第１のずれの補正が行われれば、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの装置間における分光反射率のずれが十分低減される場合が多い。

図３６は、直線性に係る第１のずれを補正するための第１変換ルールとしての関係情報Ａ１を設定する動作フローを示すフローチャートである。

まず、ステップＳＴ１では、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔによって、それぞれ複数の試料のうちの各試料について分光反射率が測定される。ここで、複数の試料は、例えば、それぞれ分光反射率が相互に異なる複数の無彩色の校正用の試料である。第１分光測色装置１ｍでは、例えば、無彩色の校正用の各試料について、受光部１３によって測色対象物１００からの反射光に係る分光スペクトルが測定され、該分光スペクトルから測色対象物１００に係る第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）が算出部１４ｍａによって算出され得る。また、第２分光測色装置１ｔでは、例えば、無彩色の校正用の各試料について、受光部１３に測色対象物１００からの反射光に係る分光スペクトルが測定され、該分光スペクトルから測色対象物１００に係る第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）が算出部１４ｔａによって算出され得る。

次に、ステップＳＴ２では、演算部１４ｍｄによって、ステップＳＴ１における測定結果に基づいて、複数の第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と、複数の第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との間における各波長についての反射率と該反射率に係るずれ成分としての反射率差との関係が取得される。

次に、ステップＳＴ３では、設定部１４ｍｅによって、第１変換ルールとしての関係情報Ａ１が設定される。ここでは、ステップＳＴ２で取得された各波長における反射率と反射率差との関係に基づいて、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）を第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）に変換する第１変換ルールとしての関係情報Ａ１が設定される。

このような動作フローによって、各波長についての反射率と反射率差との関係が容易に求められる。このため、相互に異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

以上のように、各波長についての反射率と反射率差との関係と、測定で得られた分光スペクトルから算出される第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）とに基づいて、該第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）が、第２分光測色装置１ｔを用いた測定で取得され得る第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）に変換される。これにより、装置間における直線性に係る第１のずれが補正され得る。そして、ここでは、分光感度に係る第２のずれとは別に、各波長についての反射率と反射率差との関係が設定される。このため、相互に異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

＜(１−４−２)装置間における分光感度に係るずれ（第２のずれ）の補正＞
図４で示されるように、測色対象物１００が、波長の変化に対して分光反射率が急激に変化するようなものである場合には、装置間において、分光感度に係る第２のずれに起因する分光反射率のずれが発生する。このため、装置間における分光感度に係る第２のずれが補正されれば、装置間における分光反射率のずれが十分低減され得る。

ここでは、装置間における直線性に係る第１のずれと、装置間における分光感度に係る第２のずれと、を併せて補正する方法について説明する。但し、装置間で光学系等が相違しておらず、直線性に係る第１のずれが殆ど生じない場合には、例えば、装置間における直線性に係る第１のずれを補正することなく、分光感度に係る第２のずれを補正するようにしても良い。

第１分光測色装置１ｍにおいて測色対象物１００からスリット部１３１ｓを介して受光部１３内に入射される入射光Ｌ０の波長λの光の強さ（分光スペクトルとも言う）をＬ（λ）とする。そして、第１分光測色装置１ｍのセンサー部１３３のｋ番目（ｋは、１〜Ｋ０の自然数）の受光素子における分光感度をｓ_ｍ（ｋ，λ）とし、該ｋ番目の受光素子で受光される光の重心波長をλ_Ｇ＿ｍ（ｋ）とする。このとき、第１分光測色装置１ｍのセンサー部１３３のｋ−１番目の受光素子において受光される光の重心波長λ_Ｇ＿ｍ（ｋ−１）と、ｋ番目の受光素子で受光される光の重心波長をλ_Ｇ＿ｍ（ｋ）との中間の波長（中間波長とも言う）λ_Ｂ＿ｍ（ｋ）は、式（４）で表される。

そして、第１分光測色装置１ｍのセンサー部１３３のうちのｋ番目の受光素子で光の強度に応じて出力される信号（第１出力信号とも言う）Ｃ_ｍ（ｋ）は、式（５）で表される。

式（５）は、式（６）で示されるような行列式に書き換えられ得る。

ところで、第１分光測色装置１ｍのセンサー部１３３におけるｋ番目の受光素子では、分光スペクトルＬ（λ）を呈する入射光Ｌ０の入射に応じて第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）が出力される。このとき、入射光Ｌ０の波長λ_Ｇ＿ｍ（ｋ）における光の強さ（第１分光スペクトルとも言う）Ｌ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））は、式（７）に第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）が代入されることで算出され得る。

ここで、第１分光測色装置１ｍにおける正確な分光感度ｓ_ｍ（ｋ，λ）が得られるのであれば、式（７）によって、入射光Ｌ０に係る第１分光スペクトルＬ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））が正確に得られる。例えば、第１分光測色装置１ｍが、あるメーカーの製品であれば、該あるメーカーでは、第１分光測色装置１ｍの受光部１３における分光感度ｓ_ｍ（ｋ，λ）が正確に得られる。なお、例えば、第１分光測色装置１ｍにおいて各受光素子からの出力信号が直接得られる場合には、特定の波長の光に応じて第１分光測色装置１ｍの各受光素子から出力される出力信号を得て、分光感度ｓ_ｍ（ｋ，λ）を算出しても良い。ここで、特定波長の光としては、例えば、モノクロメーターから発せられる単色光、および輝線光源から発せられる複数の特定波長の光のうちの少なくとも一方の光が採用され得る。

また、ここで、第１分光測色装置１ｍの受光部１３に入射されたものと同一の分光スペクトルＬ（λ）を有する入射光Ｌ０が、第２分光測色装置１ｔの受光部１３にも入射されるものと仮定する。そして、第２分光測色装置１ｔのセンサー部１３３のｋ番目の受光素子における真の分光感度をｓ_ｔ（ｋ，λ）とし、該ｋ番目の受光素子で受光される光の重心波長をλ_Ｇ＿ｔ（ｋ）とする。

このとき、センサー部１３３のｋ−１番目の受光素子において受光される光の重心波長λ_Ｇ＿ｔ（ｋ−１）と、ｋ番目の受光素子で受光される光の重心波長をλ_Ｇ＿ｔ（ｋ）との中間の波長（中間波長とも言う）λ_Ｂ＿ｔ（ｋ）は、式（８）で表される。

ここで、重心波長λ_Ｇ＿ｔ（ｋ）における入射光Ｌ０の強度Ｌ（λ_Ｇ＿ｔ（ｋ））は、例えば、重心波長λ_Ｇ＿ｔ（ｋ）を挟む両隣の波長λ_Ｇ＿ｍ（ｋ）における入射光Ｌ０の強度Ｌ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））を用いた補間処理によって算出され得る。

また、ここでも、例えば、第２分光測色装置１ｔが、あるメーカーの製品であれば、該あるメーカーでは、第２分光測色装置１ｔの受光部１３における真の分光感度ｓ_ｔ（ｋ，λ）が正確に得られる。なお、例えば、第２分光測色装置１ｔにおいて各受光素子からの出力信号が直接得られる場合には、特定の波長の光に応じて第２分光測色装置１ｔの各受光素子から出力される出力信号を得ることで、分光感度ｓ_ｔ（ｋ，λ）が求められても良い。ここで、特定波長の光としては、例えば、モノクロメーターから発せられる単色光、および輝線光源から発せられる複数の特定波長の光のうちの少なくとも一方の光が採用され得る。なお、分光感度ｓ_ｔ（ｋ，λ）は、例えば、光学的なシミュレーションによって求められても良い。

また、ここで、第１分光測色装置１ｍの受光部１３に入射されたものと同一の分光スペクトルＬ（λ）を有する入射光Ｌ０が、第２分光測色装置１ｔの受光部１３に入射される場合を想定する。この場合、第２分光測色装置１ｔのセンサー部１３３のうちのｋ番目の受光素子で光の強度に応じて出力され得る出力信号の推定値（第２推定出力信号とも言う）Ｃ_ｔ（ｋ）が、式（９）によって算出され得る。

式（９）は、式（１０）で示されるような行列式に書き換えられ得る。

ここで、第２分光測色装置１ｔのセンサー部１３３のｋ番目の受光素子について、第２分光測色装置１ｔにおける波長の校正によって求められる校正済みの分光感度（校正済み分光感度とも言う）をｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）とする。また、このときに該ｋ番目の受光素子で受光される光の校正済みの重心波長（校正済み重心波長とも言う）をλ^＊ _Ｇ＿t（ｋ）とする。校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）は、第２分光測色装置１ｔにおける波長の校正法の精度に依って、真の分光感度ｓ_ｔ（ｋ，λ）からずれた分光感度となり得る。

また、第２分光測色装置１ｔのセンサー部１３３のｋ−１番目の受光素子において受光される光の校正済み重心波長λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ−１）と、ｋ番目の受光素子で受光される光の校正済み重心波長をλ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ）との中間の波長（校正済み中間波長とも言う）λ^＊ _Ｂ＿ｔ（ｋ）は、式（１１）で表される。

そして、式（１２）に、式（１０）で得られた第２推定出力信号Ｃ_ｔ（ｋ）が代入されることで、入射光Ｌ０の校正済みの強さの推定値（第２推定分光スペクトルとも言う）Ｌ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出され得る。

つまり、次の工程１〜３が順に行われることで、入射光Ｌ０に係る第２推定分光スペクトルＬ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が取得され得る。

［工程１］式（７）で示されるように、分光感度ｓ_ｍ（ｋ，λ）に係る逆行列と、第１分光測色装置１ｍを用いた実測によって取得された入射光Ｌ０に応じた出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）の列ベクトルとの積によって、入射光Ｌ０の分光スペクトルＬ（λ）が算出される。

［工程２］式（１０）で示されるように、第２分光測色装置１ｔの真の分光感度ｓ_ｔ（ｋ，λ）に係る行列と、工程１で算出された入射光Ｌ０の分光スペクトルＬ（λ）の列ベクトルとの積によって、第２分光測色装置１ｔで取得され得る第２推定出力信号Ｃ_ｔ（ｋ）の列ベクトルが算出される。ここで、第２推定出力信号Ｃ_ｔ（ｋ）は、入射光Ｌ０が第２分光測色装置１ｔの受光部１３に入射される際に、該第２分光測色装置１ｔを用いた測定によって取得され得るものと推定される出力信号の推定値である。但し、第２分光測色装置１ｔの受光部１３に入射される入射光Ｌ０の分光スペクトルＬ（λ）は、第１分光測色装置１ｍの受光部１３に入射された入射光Ｌ０の分光スペクトルＬ（λ）と同一であるものとする。

［工程３］式（１２）で示されるように、第２分光測色装置１ｔの校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）の逆行列と、工程２で取得された第２推定出力信号Ｃ_ｔ（ｋ）の列ベクトルとの積によって、第２推定分光スペクトルＬ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出される。第２推定分光スペクトルＬ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、第２分光測色装置１ｔを用いた測定によって取得され得る入射光Ｌ０の分光スペクトルの推定値である。

ところで、第１分光測色装置１ｍの受光部１３に入射された入射光Ｌ０と同一の分光スペクトルを有する入射光Ｌ０が第２分光測色装置１ｔの受光部１３に入射される場合を想定する。このため、第２分光測色装置１ｔを用いた測定によって取得され得る測色対象物１００の第２分光反射率の推定値（第２推定分光反射率とも言う）Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が、式（１３）によって算出され得る。

式（１３）では、第２推定分光反射率Ｒ^＊ _ｔ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が、分光感度に係る第２のずれに応じた右辺第１項から、直線性に係る第１のずれに応じた右辺第２項が減じられた値として表される。ここで、右辺第１項は、第２分光測色装置１ｔにおける波長の校正法の精度に起因する分光感度に係る第２のずれに応じて変動する。また、右辺第２項は、分光反射率における直線性に係る第１のずれとしての反射率差ΔＲ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））を示す。

ここで、式（１３）の右辺第１項については、Ｌ^＊ _{Ｗｈｉｔｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、白色校正板に係る第２推定分光スペクトル（第２白色推定分光スペクトルとも言う）である。Ｌ^＊ _{Ｂｌａｃｋ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、黒色校正板に係る第２推定分光スペクトル（第２黒色推定分光スペクトルとも言う）である。Ｌ^＊ _{Ｓａｍｐｌｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、測色対象物１００に係る第２推定分光スペクトル（第２対象推定分光スペクトルとも言う）である。また、Ｒ_{Ｗｈｉｔｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、白色校正板に係る第２分光反射率（第２白色分光反射率とも言う）である。

第２白色推定分光スペクトルＬ^＊ _{Ｗｈｉｔｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））、第２黒色推定分光スペクトルＬ^＊ _{Ｂｌａｃｋ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））および第２対象推定分光スペクトルＬ^＊ _{Ｓａｍｐｌｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、例えば、白色校正板、黒色校正板および測色対象物１００について、上記工程１〜３に沿った測定および演算が行われることで、算出され得る。具体的には、白色校正板について第１分光測色装置１ｍを用いた実測によって得られた第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）と、式（７），（１０），（１２）とによって、第２白色推定分光スペクトルＬ^＊ _{Ｗｈｉｔｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出される。黒色校正板について第１分光測色装置１ｍを用いた実測によって得られた第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）と式（７），（１０），（１２）とによって、第２黒色推定分光スペクトルＬ^＊ _{Ｂｌａｃｋ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出される。測色対象物１００について第１分光測色装置１ｍを用いた実測によって得られた第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）と式（７），（１０），（１２）とによって、第２対象推定分光スペクトルＬ^＊ _{Ｓａｍｐｌｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出される。

第２白色分光反射率Ｒ_{Ｗｈｉｔｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、例えば、白色校正板に対して予め設定されていれば良い。

また、ここで、式（１３）の右辺第２項の反射率差ΔＲ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））については、例えば、上記（１−４−１）項で述べられた方法に従って、測色対象物１００について第１分光測色装置１ｍを用いた測定で得られる第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））と、関係情報Ａ１とに基づいて取得され得る。なお、関係情報Ａ１も、例えば、上記（１−４−１）項で述べられた方法で設定され得る。

第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、式（１４）によって算出され得る。

式（１４）のうち、Ｌ_{Ｗｈｉｔｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、白色校正板について第２分光測色装置１ｔを用いた測定で取得され得る分光スペクトル（第２白色分光スペクトルとも言う）である。Ｌ_{Ｂｌａｃｋ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、黒色校正板について第２分光測色装置１ｔを用いた測定で取得され得る分光スペクトル（第２黒色分光スペクトルとも言う）である。Ｌ_{Ｓａｍｐｌｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、測色対象物１００について第２分光測色装置１ｔを用いた測定で取得され得る分光スペクトル（第２対象分光スペクトルとも言う）である。また、Ｒ_{Ｗｈｉｔｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、白色校正板に係る第２分光反射率（第２白色分光反射率）である。なお、ここでは、黒色校正板の分光反射率を０％として扱っている。

ここでは、例えば、白色校正板について第１分光測色装置１ｍを用いた測定で取得される第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）が式（７）に適用されることで、白色校正板に係る分光スペクトル（第１白色分光スペクトルとも言う）Ｌ_{Ｗｈｉｔｅ}（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））が得られる。そして、該第１白色分光スペクトルＬ_{Ｗｈｉｔｅ}（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））の補間演算によって第２白色分光スペクトルＬ_{Ｗｈｉｔｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が取得され得る。

また、例えば、黒色校正板について第１分光測色装置１ｍを用いた測定で取得される第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）が式（７）に適用されることで、黒色校正板に係る分光スペクトル（第１黒色分光スペクトルとも言う）Ｌ_{Ｂｌａｃｋ}（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））が得られる。そして、該第１黒色分光スペクトルＬ_{Ｂｌａｃｋ}（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））の補間演算によって第２黒色分光スペクトルＬ_{Ｂｌａｃｋ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が取得され得る。

また、例えば、測色対象物１００について第１分光測色装置１ｍを用いた測定で取得される第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）が式（７）に適用されることで、測色対象物１００に係る分光スペクトル（第１対象分光スペクトルとも言う）Ｌ_{Ｓａｍｐｌｅ}（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））が得られる。そして、該第１対象分光スペクトルＬ_{Ｓａｍｐｌｅ}（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））の補間演算によって第２対象分光スペクトルＬ_{Ｓａｍｐｌｅ}（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が取得され得る。

ところで、式（１３）で示される第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、第２分光測色装置１ｔを用いた実測で得られる分光スペクトルＬ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））から算出される第２分光反射率の実測値（第２実測分光反射率とも言う）Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））からずれる場合がある。このような第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））と第２実測分光反射率Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））との間の差は、第２分光測色装置１ｔにおける波長の校正の精度に起因するものと推測される。

そこで、第２実測分光反射率Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））と、第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））との差が極力小さくなるように、第２分光測色装置１ｔにおける校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が調整される。

具体的には、式（１５）で示される目的関数Ｆが極小領域に含まれるときに仮に設定されている校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が、第２分光測色装置１ｔに係る校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）であるものと推定される。

ここで、式（１５）の目的関数Ｆは、Ｎ_０個（Ｎ_０は、自然数）の試料について得られる、第２実測分光反射率Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））と第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））との差の２乗の総和を示す。そして、目的関数Ｆが極小領域に含まれると、第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が第２実測分光反射率Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（（ｋ））に合わせ込まれたことになる。なお、目的関数Ｆが極小領域に含まれる状態には、例えば、目的関数Ｆが最小値となっている状態、あるいは目的関数Ｆが最小値の近傍にある状態等が含まれる。このような目的関数Ｆが最小値の近傍にある状態には、例えば、目的関数Ｆの変化が粗く把握された後に、最小の値の付近で目的関数Ｆが予め設定された所定値以下の傾きでしか変化しなくなった状態等が含まれる。また、例えば、第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））と第２実測分光反射率Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））との差が、色差が０．１以下程度となるような予め設定された所定の許容範囲に収まるような状態が、目的関数Ｆが極小領域に含まれている状態とされても良い。

また、Ｎ_０個の各試料が、測定対象となる波長範囲において、波長の所定量の変化に対する反射率の変化量が予め設定された閾値を超える分光反射率を呈するのであれば、第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が第２実測分光反射率Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））に合わせ込まれ得る。つまり、校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が容易かつ精度良く設定され得る。

図３７は、合わせ込みで用いられるＮ_０個の校正用の試料についての分光反射率を例示する図である。測定対象となる波長範囲の全域が、Ｎ_０個の校正用の試料のうちの何れかの校正用の試料において分光反射率が大きく変化する領域によってカバーされていれば、測定対象となる波長範囲の全域において、第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が第２実測分光反射率Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））に精度良く合わせ込まれたことになる。

図３７で示されるように、例えば、５個（Ｎ_０＝５）程度の複数の校正用の試料が用いられれば、可視光線の波長範囲の全域において、第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が第２実測分光反射率Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））に精度良く合わせ込まれ得る。なお、測色対象物１００が特定色の物体であれば、例えば、その特定色に対応する波長範囲において分光反射率が大きく変化する１以上の校正用の試料が用いられても良い。

ところで、目的関数Ｆを極小領域に含ませるために、例えば、校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）を変化させつつ、仮の校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）毎の目的関数Ｆを求める必要がある。

ここで、センサー部１３３のｋ番目の受光素子について、第２分光測色装置１ｔにおける波長校正で得られる校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）は、式（１６）のＬ次関数で示される重心波長λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ）と式（１７）で示されるＬ次関数で示される半値幅Δλ^＊ _ＦＷＨＭ（ｋ）とで規定される正規分布の関数であるものとする。なお、次数Ｌは、例えば、２以上の自然数であれば良い。

図３８は、ｋ番目の受光素子における分光感度の一例を示す図である。

この場合、式（１５）で規定される目的関数Ｆを極小領域に含ませるには、例えば、該目的関数Ｆを極小領域に含ませるような、式（１６）の係数ａ_Ｌ，・・・，ａ_０および式（１７）の係数ｂ_Ｌ，・・・，ｂ_０が求められれば良い。具体的には、例えば、Ｌ＝２であれば、６つの係数ａ_２，ａ_１，ａ_０，ｂ_２，ｂ_１，ｂ_０が求められれば良い。そして、１つの校正用の試料について、３６０〜７４０ｎｍの１０ｎｍ毎の受光素子からの出力に基づくデータが得られれば、５つの校正用の試料について、１９５点のデータが得られる。このうち、校正用の試料の反射率が大きく変化している部分についての相当数のデータが存在していれば、式（１６），（１７）についての６つの係数ａ_２，ａ_１，ａ_０，ｂ_２，ｂ_１，ｂ_０の値が容易に得られる。

上記のことから、下記工程ｉ〜工程ｖによって、第１分光測色装置１ｍで取得される第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）から第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が推定される。そして、下記工程ｉ〜工程ｖが繰り返されて、第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））と、第２分光測色装置１ｔを用いた実測で取得される第２実測分光反射率Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））とが、その差が極小領域に含まれて非常に近くなるような、第２分光測色装置１ｔの校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が求められる。ここで、第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、１以上の対象物としての校正用の試料について第１分光測色装置１ｍの受光部１３で測定される分光スペクトルと仮の校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）とを用いて算出される。また、第２実測分光反射率Ｒ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））は、１以上の対象物としての校正用の試料について第２分光測色装置１ｔで測定される分光反射率の実測値である。そして、ここで求められる校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）を示す情報が、校正済み分光感度情報Ｓ１として、記憶部１５に記憶される。

［工程ｉ］第２分光測色装置１ｔのｋ番目の受光素子の校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）を規定する重心波長λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ）と半値幅Δλ^＊ _ＦＷＨＭ（ｋ）とが仮に決められる。このとき、式（１６）の係数ａ_Ｌ，・・・，ａ_０および式（１７）の係数ｂ_Ｌ，・・・，ｂ_０が仮に決められる。これにより、式（１２）の校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）の逆行列が仮に決められる。

［工程ii］第１分光測色装置１ｍで取得される第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）と、式（７）とに基づいて、校正用の試料の輝度（第１分光スペクトル）Ｌ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））が求められる。

［工程iii］工程iiで求められた第１分光スペクトルＬ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））に基づいて、波長の補間が行われつつ、式（１０）によって、第２分光測色装置１ｔで取得され得る第２推定出力信号Ｃ_ｔ（ｋ）が算出される。

［工程iv］工程iiiで算出された第２推定出力信号Ｃ_ｔ（ｋ）と、工程ｉで仮決めされた校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が用いられた式（１２）とに基づいて、第２推定分光スペクトルＬ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出される。

［工程ｖ］工程ivで算出された第２推定分光スペクトルＬ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））と、式（１３）とに基づいて、第２推定分光反射率Ｒ^＊ _ｔ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出される。

このようにして、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）を第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）に変換するために分光感度に係る第２のずれを補正するための第２変換ルールを規定する校正済み分光感度情報Ｓ１が設定される。すなわち、このような構成が採用される場合、第１分光反射率と第２分光反射率との間におけるずれが、直線性に係る第１のずれと、分光感度に係る第２のずれと、に分けて扱われて、式（７），（１０），（１２），（１３）等の限定的な計算等が用いられて、第２変換ルールが設定される。これにより、比較的少数の校正用の試料が用いられて、第２変換ルールが設定され得る。すなわち、異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔとの間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

そして、第１分光測色装置１ｍの受光部１３で測定された第１分光スペクトルと、第２変換ルールとしての校正済み分光感度とが用いられて、第２分光測色装置１ｔで取得され得るものと推定される第２推定分光反射率Ｒ^＊ _ｔ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出され得る。

図３９は、分光感度に係る第２のずれを補正する動作フローを示すフローチャートである。

まず、ステップＳＴ１１では、第１分光測色装置１ｍの受光部１３によって、光源１１から発せられる照明光の測色対象物１００に対する照射に応じて測色対象物１００の表面で生じる反射光を分光することで、該反射光の第１分光スペクトルＬ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））が測定される。ここでは、例えば、算出部１４ｍａにおいて、測色対象物１００について第１分光測色装置１ｍで取得される第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）に基づいて、測色対象物１００の第１分光スペクトルＬ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））が算出される。

次に、ステップＳＴ１２では、第１分光測色装置１ｍの変換部１４ｍｃによって、第２分光測色装置１ｔで取得され得る第２推定分光反射率Ｒ^＊ _ｔ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出される。ここでは、例えば、記憶部１５に記憶されている校正済み分光感度情報Ｓ１と、ステップＳＴ１１で測定された第１分光スペクトルＬ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））とが用いられて、第１分光スペクトルＬ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））から第２推定分光反射率Ｒ^＊ _ｔ（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出される。

このような構成が採用されていることで、反射率に係る第１のずれとは別に、分光感度に係る第２のずれについての校正済み分光感度が設定されるため、異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔとの間における測定値の高精度な変換ルールが容易に設定され得る。

＜(２)変形例＞
なお、本発明は上述の一実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。

例えば、上記一実施形態では、装置間における直線性に係る第１のずれを補正するための関係情報Ａ１を設定するために、光の波長に拘わらず反射率が略一定となる分光反射率を有する測色対象物１００として、無彩色の校正用の試料が用いられたが、これに限られない。例えば、相互に分光反射率が異なる複数の無彩色の校正用の試料のうちの少なくとも一部の校正用の試料が、第１分光測色装置１ｍの測定対象となる波長範囲のうちの一部の波長範囲において反射率が所定の値域の幅内に含まれている有彩色の校正用の試料に置換されても良い。つまり、例えば、装置間における直線性に係る第１のずれを補正するための関係情報Ａ１を設定するために用いられる複数の校正用の試料の全てが、測定対象となる波長範囲のうちの一部の波長範囲において反射率が所定の値域の幅内に含まれている校正用の試料である態様が採用され得る。このとき、例えば、該複数の校正用の試料のうち、全ての校正用の試料が無彩色であっても良いし、一部の校正用の試料が無彩色であっても良いし、全ての校正用の試料が無彩色でなくても良い。

このような態様が採用される場合には、各波長についての反射率と反射率差との関係を求めるための複数の校正用の試料が容易に準備され得る。したがって、各波長についての反射率と反射率差との関係が容易に求められ得る。

さらに、関係情報Ａ１を設定するために採用される複数の校正用の試料が、例えば、測定対象の波長範囲における少なくとも一部の波長範囲において反射率が予め設定された所定の値域の幅内に含まれ且つ相互に異なる校正用の試料であっても良い。但し、このような構成が採用される場合、測定対象の波長範囲のうちの一部の波長範囲のみにおいて反射率が予め設定された所定の値域の幅内に含まれる校正用の試料については、該一部の波長範囲についての第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係を求める際に採用され得る。例えば、図４に示される赤色の校正用の試料については、測定対象の波長範囲のうち、５５０ｎｍ以下の範囲において、分光反射率が所定の値域の幅内で略一定となり得る。このため、該赤色の校正用の試料は、５５０ｎｍ以下の範囲についての第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と反射率差ΔＲ（λ）との関係を求める際に校正用の試料として採用され得る。このような構成が採用される場合でも、各波長についての第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と該第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）に係るずれ成分としての反射率差ΔＲ（λ）との関係が容易に求められる。すなわち、異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間における測定値の高精度な変換ルールの設定がさらに容易になり得る。

また、上記一実施形態では、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間で、透明部材１７ｔによる再帰反射等といった光学系の相違に起因して、第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との間に反射率差が生じ得る例を挙げて説明したが、これに限られない。例えば、上記一実施形態に係る直線性に係る第１のずれの補正法は、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間で、受光部１３の受光素子および増幅回路等における特性の違いに起因して入射光量と出力との関係がずれることで生じる直線性に係る第１のずれの補正にも適用可能である。

図４０は、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔにおけるそれぞれの入射光量と出力される信号強度との関係を例示する図である。図４０では、第１分光測色装置１ｍにおける入射光量と出力される信号強度との関係が実線で描かれており、第２分光測色装置１ｔにおける入射光量と出力される信号強度との関係が破線で描かれている。

また、上記一実施形態では、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとが相互に異なる機種の装置であったが、これに限られない。例えば、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとが同一機種の異なる装置であっても良い。つまり、上記一実施形態における直線性に係る第１のずれの補正法は、同一機種の異なる装置である第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間で生じる直線性に係る第１のずれの補正にも適用可能である。

例えば、図４１で示されるように、第１分光測色装置１ｍにも、第２分光測色装置１ｔにおける透明部材１７ｔと同様な構成および機能を有する透明部材１７ｍが設けられており、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとが同一機種の異なる装置である場合を想定する。この場合、透明部材１７ｍと透明部材１７ｔとの間で、図４２で示されるように分光反射率が異なり得る。図４２では、例えば、透明部材１７ｍにおける分光反射率が実線で示され、透明部材１７ｔにおける分光反射率が破線で示されている。つまり、透明部材１７ｍ，１７ｔ等における分光反射率は、透明部材１７ｍ，１７ｔの個体毎にばらつき得る。これにより、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとの間で再帰反射の態様が異なり得る。その結果、同一の測色対象物１００について、第１分光測色装置１ｍを用いた測定で得られる第１分光反射率Ｒ_ｍ（λ）と第２分光測色装置１ｔを用いた測定で得られる第２分光反射率Ｒ_ｔ（λ）との間にずれが生じ得る。

また、上記一実施形態では、例えば、分光感度に係る第２のずれの補正について、式（４）〜（１７）の１４個の式を挙げて説明したが、これに限られない。例えば、１４個の式である式（４）〜（１７）の少なくとも一部を、適宜統合または分解して１以上の式としても良い。また、第１分光測色装置１ｍと第２分光測色装置１ｔとが同一のメーカー製のものであり、そのメーカーは各装置の波長校正に係る情報を有していれば、第１分光測色装置１ｍで得られたデータと第２分光測色装置１ｔの波長校正に係る情報とに基づいて、第２推定分光反射率を算出し、該第２推定分光反射率と、第２分光測色装置１ｔを用いた実測で得られた第２実測分光反射率との差の２乗和が最小となるような校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が求められるような構成が採用されても良い。

また、上記一実施形態では、校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が、式（１６）のＬ次関数で示される重心波長λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ）と式（１７）で示されるＬ次関数で示される半値幅Δλ^＊ _ＦＷＨＭ（ｋ）とで規定される正規分布の関数であったが、これに限られない。例えば、基準の式を適宜シフトさせて校正済み分光感度を表す式等、別形態の式によって校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が表されるようにしても良い。

また、上記一実施形態では、第１分光測色装置１ｍにおける真の分光感度ｓ_ｍ（ｋ，λ）および第２分光測色装置１ｔにおける真の分光感度ｓ_ｔ（ｋ，λ）が正確に取得されているものとして説明したが、これに限られない。例えば、輝線光源を用いた測定等によって得られた分光感度と、真の分光感度ｓ_ｍ（ｋ，λ），ｓ_ｔ（ｋ，λ）との間に多少の誤差が生じても、式（１５）で規定される目的関数Ｆを極小領域に含ませて、校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が算出される課程で、該多少の誤差による影響が低減され得る。このため、第１分光測色装置１ｍがあるメーカーの製品であり、第２分光測色装置１ｔがその他のメーカーの製品である場合であっても、第２変換ルールを規定する校正済み分光感度情報Ｓ１が精度良く設定され得る。

また、上記一実施形態では、式（１５）の目的関数Ｆが極小領域に含まれるように、式（１６）の係数ａ_Ｌ，・・・，ａ_０および式（１７）の係数ｂ_Ｌ，・・・，ｂ_０が調整されたが、これに限られない。例えば、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔが同一のメーカーの製品であり、そのメーカーにおいて、第１分光測色装置１ｍにおける真の分光感度ｓ_ｍ（ｋ，λ）および第２分光測色装置１ｔにおける真の分光感度ｓ_ｔ（ｋ，λ）が既知であれば、第２分光測色装置１ｔの工場における校正で決められた校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が、そのまま第２変換ルールに採用されても良い。

ここで言う工場における校正は、例えば、校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）を規定する式（１６）の係数ａ_Ｌ，・・・，ａ_０および式（１７）の係数ｂ_Ｌ，・・・，ｂ_０を求めるものであれば良い。ここで、工場における校正は、種々の方法で実行され得る。具体的には、例えば、輝線光源等から発せられる波長の半値幅が非常に狭い単色光について、第２分光測色装置１ｔを用いた測定で得られた分光スペクトルの測定値と、実際の単色光の分光スペクトルとが一致するように、係数ａ_Ｌ，・・・，ａ_０，ｂ_Ｌ，・・・，ｂ_０が設定される。つまり、校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）が校正結果として設定される。

このような構成が採用される場合、まず、測色対象物１００について第１分光測色装置１ｍで取得される第１出力信号Ｃ_ｍ（ｋ）から式（７）によって第１分光スペクトルＬ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））が算出される。次に、該第１分光スペクトルＬ（λ_Ｇ＿ｍ（ｋ））と分光感度ｓ_ｔ（ｋ，λ）とが式（１０）に適用されることで、第２分光測色装置１ｔで取得され得る第２推定出力信号Ｃ_ｔ（ｋ）が算出される。その次に、該第２推定出力信号Ｃ_ｔ（ｋ）と校正結果としての校正済み分光感度ｓ^＊ _ｔ（ｋ，λ）の逆行列が式（１２）に適用されることで、第２推定分光スペクトルＬ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出される。そして、該第２推定分光スペクトルＬ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が式（１３）に適用されることで、第２推定分光反射率Ｒ^＊（λ^＊ _Ｇ＿ｔ（ｋ））が算出され得る。そして、目的関数Ｆを極小領域に含ませるような演算が不要となる。

また、上記一実施形態では、光源１１から発せられる照射光の分光スペクトルが一定であるとしていたが、これに限られない。例えば、照射光の分光スペクトルが時間の経過とともに変動する場合を想定する。この場合、第１分光測色装置１ｍにおいて、照射光を直接受光して参照用の出力信号を取得し、該参照用の出力信号によって、測色対象物１００、白色校正板、黒色校正板についてそれぞれ得られる出力信号を除した上で、式（１３），（１４）等で分光反射率が算出されるようにしても良い。

また、上記一実施形態では、メーカー側で、関係情報Ａ１および校正済み分光感度情報Ｓ１が設定される場合を想定して説明したが、これに限られない。例えば、ユーザー側で、関係情報Ａ１および校正済み分光感度情報Ｓ１が設定されても良い。このとき、ユーザー側で、第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔ、直線性に係る第１のずれを補正するための複数の無彩色の校正用の試料、および分光感度に係る第２のずれを補正するための１以上の有彩色の校正用の試料が用いられる。具体的には、例えば、ユーザー側で、複数の無彩色の校正用の試料および１以上の有彩色の校正用の試料について第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔを用いた測定が行われ、その結果得られる情報が、関係情報Ａ１および校正済み分光感度情報Ｓ１として記憶部１５に記述されても良い。これにより、ユーザーが所有している第２分光測色装置１ｔが用いられて、関係情報Ａ１および校正済み分光感度情報Ｓ１が設定されるため、異なる第１および第２分光測色装置１ｍ，１ｔの間における測定値の高精度な変換ルールが設定され得る。

また、上記一実施形態では、図１、図２および図４１では、国際照明委員会（ＣＩＥ）が推奨する４５／０（４５°照明、垂直受光）の構成あるいはＣＩＥが推奨する０／４５（垂直照明、４５°受光）の構成が採用されたが、これに限られない。例えば、第１分光測色装置１ｍおよび第２分光測色装置１ｔにおいて、例えば、光源１１と開口部２ｏと受光部１３との間に積分球が設けられた構成等といったその他の構成が採用されても良い。

なお、上記一実施形態および各種変形例をそれぞれ構成する全部または一部を、適宜、矛盾しない範囲で組み合わせ可能であることは、言うまでもない。

１ｍ 第１分光測色装置
１ｔ 第２分光測色装置
２ 筐体
２ｏ 開口部
１１ 光源
１２ 発光回路
１３ 受光部
１４ 制御部
１４ｍａ，１４ｔａ 算出部
１４ｍｂ 取得部
１４ｍｃ 変換部
１４ｍｄ 演算部
１４ｍｅ 設定部
１５ 記憶部
１６ 入出力部
１７ｍ，１７ｔ 透明部材
１００ 測色対象物
１３１ スリット板
１３２ 分光部
１３３ センサー部
Ａ１ 関係情報
Ｓ１ 校正済み分光感度情報
Ｌ０ 入射光
Ｍ０ メモリー
Ｐ０ プロセッサー
Ｐ１，Ｐ２ プログラム

Claims (9)

1. 分光測色装置であって、
   光源と、
   前記光源から発せられる照明光の対象物に対する照射に応じて該対象物の表面で生じる反射光を分光して、該反射光に係る分光スペクトルを測定する受光部と、
   前記分光スペクトルから第１分光反射率を算出する算出部と、
   各波長について反射率と反射率のずれ成分としての反射率差との関係を示す関係情報を記憶する記憶部と、
   前記第１分光反射率と前記関係情報とに基づいて、前記分光測色装置を用いた測定で取得された前記第１分光反射率と、該分光測色装置とは異なる変換先分光測色装置を用いた測定で取得され得る第２分光反射率との間における各波長についての反射率差を取得する取得部と、
   前記取得部で取得された各波長についての反射率差を前記第１分光反射率に対して加算または減算することで、前記第１分光反射率を前記第２分光反射率に変換する変換部と、
   を備え、
   前記関係情報が、
   各波長についての反射率と反射率差との関係を示す関係式を含み、
   前記取得部が、
   前記第１分光反射率と前記関係式とを用いた演算によって、各波長についての反射率差を取得する、分光測色装置。
2. 請求項１に記載の分光測色装置であって、
   前記関係情報が、
   各波長についての複数の反射率の領域それぞれにおける反射率と反射率差との関係を示す関係式を含んでいる、分光測色装置。
3. 分光測色装置であって、
   光源と、
   前記光源から発せられる照明光の対象物に対する照射に応じて該対象物の表面で生じる反射光を分光して、該反射光に係る分光スペクトルを測定する受光部と、
   前記分光スペクトルから第１分光反射率を算出する算出部と、
   各波長について反射率と反射率のずれ成分としての反射率差との関係を示す関係情報を記憶する記憶部と、
   前記第１分光反射率と前記関係情報とに基づいて、前記分光測色装置を用いた測定で取得された前記第１分光反射率と、該分光測色装置とは異なる変換先分光測色装置を用いた測定で取得され得る第２分光反射率との間における各波長についての反射率差を取得する取得部と、
   前記取得部で取得された各波長についての反射率差を前記第１分光反射率に対して加算または減算することで、前記第１分光反射率を前記第２分光反射率に変換する変換部と、
   を備え、
   前記関係情報が、
   各波長について、反射率と反射率差との複数の組合せを示すテーブルを含み、
   前記取得部が、
   前記第１分光反射率と前記テーブルとに基づいて、各波長についての反射率差を取得する、分光測色装置。
4. 請求項３に記載の分光測色装置であって、
   前記取得部が、
   各波長について、前記テーブルに含まれる反射率と反射率差との２以上の組合せを用いた補間処理によって、反射率差を取得する、分光測色装置。
5. 請求項１から請求項４の何れか一項に記載の分光測色装置であって、
   前記関係が、
   測定対象の波長範囲における少なくとも一部の波長範囲において反射率が予め設定された所定の値域の幅内に含まれ且つ相互に異なる複数の試料のうちの各試料について前記分光測色装置および前記変換先分光測色装置を用いた測定によってそれぞれ取得される分光反射率に基づいて設定される、分光測色装置。
6. 請求項５に記載の分光測色装置であって、
   前記複数の試料が、
   前記測定対象の波長範囲のうちの全範囲において反射率が前記所定の値域の幅内に含まれている試料を含む、分光測色装置。
7. 請求項５または請求項６に記載の分光測色装置であって、
   前記複数の試料が、
   無彩色であり且つ相互に分光反射率が異なる複数の試料を含む、分光測色装置。
8. (a)第１分光測色装置および第２分光測色装置によって、それぞれ測定対象の波長範囲における少なくとも一部の波長範囲において反射率が予め設定された所定の値域の幅内に含まれ且つ相互に異なる複数の試料のうちの各試料について分光反射率を測定するステップと、
   (b)演算部によって、前記ステップ(a)における測定結果に基づいて、前記第１分光測色装置を用いた前記複数の試料に係る測定によってそれぞれ取得される複数の第１分光反射率と、前記第２分光測色装置を用いた前記複数の試料に係る測定によってそれぞれ取得され得る複数の第２分光反射率との間における各波長についての反射率と該反射率に係るずれ成分としての反射率差との関係を示す関係式を取得するステップと、
   (c)設定部によって、前記ステップ(b)で取得された関係式に基づいて、前記第１分光測色装置による測定で取得される分光反射率を、前記第２分光測色装置による測定で取得され得る分光反射率に変換する変換ルールを設定するステップと、
   を有する、変換ルール設定方法。
9. (a)第１分光測色装置および第２分光測色装置によって、それぞれ測定対象の波長範囲における少なくとも一部の波長範囲において反射率が予め設定された所定の値域の幅内に含まれ且つ相互に異なる複数の試料のうちの各試料について分光反射率を測定するステップと、
   (b)演算部によって、前記ステップ(a)における測定結果に基づいて、前記第１分光測色装置を用いた前記複数の試料に係る測定によってそれぞれ取得される複数の第１分光反射率と、前記第２分光測色装置を用いた前記複数の試料に係る測定によってそれぞれ取得され得る複数の第２分光反射率との間における各波長についての反射率と該反射率に係るずれ成分としての反射率差との複数の組合せを示すテーブルを取得するステップと、
   (c)設定部によって、前記ステップ(b)で取得されたテーブルに基づいて、前記第１分光測色装置による測定で取得される分光反射率を、前記第２分光測色装置による測定で取得され得る分光反射率に変換する変換ルールを設定するステップと、
   を有する、変換ルール設定方法。

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