JP6670104B2 - Cleaning solution for glass substrate for color filter and method for cleaning glass substrate for color filter - Google Patents

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Description

本発明は、カラーフィルタ用ガラス基板の洗浄液、及び、カラーフィルタ用ガラス基板の洗浄方法に関する。   The present invention relates to a cleaning solution for a glass substrate for a color filter and a method for cleaning a glass substrate for a color filter.

従来、ガラスシート(ガラス基板)の製造工程では、ガラス原料からガラスシートを成形する工程の後に、ガラスシートの表面を洗浄する工程が行われる。ガラスシートの洗浄工程では、ガラスシートの表面に付着したガラスの微小片、塵および汚れ等の異物を除去するために、ガラスシートの表面を酸性またはアルカリ性の薬液や超音波等で洗浄する処理が行われる。   Conventionally, in a manufacturing process of a glass sheet (glass substrate), a step of cleaning the surface of the glass sheet is performed after a step of forming the glass sheet from a glass raw material. In the glass sheet cleaning process, a process of cleaning the surface of the glass sheet with an acidic or alkaline chemical solution, ultrasonic waves, or the like, in order to remove fine particles, dust, dirt, and other foreign substances attached to the surface of the glass sheet. Done.

また、液晶ディスプレイおよびプラズマディスプレイ等のディスプレイの製造に用いられるガラスシートは、ブラックマトリックス、および、赤色(R)・緑色(G)・青色(B)の光を透過させる波長選択素子であるRGB画素が表面に配置されて、カラーフィルタが形成される。ブラックマトリックスは、RGB画素領域以外におけるバックライトの光漏れを遮断し、互いに隣接するRGB画素の混色を防止することで、表示コントラストを向上させる。すなわち、カラーフィルタにおける光の通過領域は、ブラックマトリックスの形状および配置により決定される。   Glass sheets used for manufacturing displays such as liquid crystal displays and plasma displays include black matrix and RGB pixels, which are wavelength selection elements that transmit red (R), green (G), and blue (B) light. Are arranged on the surface to form a color filter. The black matrix improves display contrast by blocking light leakage of the backlight in areas other than the RGB pixel area and preventing color mixing of RGB pixels adjacent to each other. That is, the light passage area of the color filter is determined by the shape and arrangement of the black matrix.

近年、ディスプレイの高精細化に伴い、ガラスシートの表面に配置されるブラックマトリックスの線幅およびピッチは小さくなっている。ディスプレイの更なる高精細化を達成するためにも、ブラックマトリックスの高精細化が必要になっている。ブラックマトリックスの高精細化に伴い、ガラス基板表面へのブラックマトリックス樹脂の高い密着性を、より高い精度で実現する必要がある。ところで、ディスプレイの製造に用いられるガラス基板の表面には、高い清浄度が要求される。そのため、ガラス基板の表面に付着している異物を除去するために、特許文献1に開示されるように、無機アルカリ系の洗浄剤を用いてガラス基板の表面を洗浄する方法が用いられている。   In recent years, the line width and pitch of a black matrix arranged on the surface of a glass sheet have been reduced with the increase in definition of a display. In order to achieve higher definition of the display, higher definition of the black matrix is required. As the definition of the black matrix increases, it is necessary to achieve high adhesion of the black matrix resin to the surface of the glass substrate with higher accuracy. By the way, the surface of a glass substrate used for manufacturing a display is required to have high cleanliness. Therefore, in order to remove foreign substances adhering to the surface of the glass substrate, a method of cleaning the surface of the glass substrate using an inorganic alkali-based cleaning agent has been used as disclosed in Patent Document 1. .

特開2001−181686号公報JP 2001-181686 A

しかし、このような洗浄剤を用いた洗浄方法では、洗浄後にガラス基板の表面に残留している有機物に起因して、ガラス基板表面へのブラックマトリックス樹脂の高い密着性が十分に達成できないおそれがある。   However, in the cleaning method using such a cleaning agent, high adhesion of the black matrix resin to the glass substrate surface may not be sufficiently achieved due to organic substances remaining on the surface of the glass substrate after cleaning. is there.

そこで、本発明は、ガラス基板表面へのブラックマトリックス樹脂の密着性の低下を抑制できるカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄液、及び、カラーフィルタ用ガラス基板の洗浄方法を提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a cleaning solution for a glass substrate for a color filter and a method for cleaning a glass substrate for a color filter, which can suppress a decrease in adhesion of a black matrix resin to the surface of a glass substrate.

本発明の一態様は、カラーフィルタ用ガラス基板の洗浄液であって、
水で洗浄剤を希釈した洗浄剤の濃度が1.5%から4%である希釈液と、KOH、NaOH、EDTA−4Na、EDTA−4K、Na、Kから選択される1種以上のアルカリ成分の濃度の合計が0.2%から1%となるよう前記アルカリ成分を前記希釈液に添加した、
ことを特徴とする。
One embodiment of the present invention is a cleaning liquid for a glass substrate for a color filter,
A diluent having a concentration of 1.5% to 4% of a detergent obtained by diluting the detergent with water, KOH, NaOH, EDTA-4Na, EDTA-4K , Na 4 P 2 O 7 , and K 4 P 2 O 7 Adding the alkali component to the diluent such that the total concentration of one or more alkali components selected from the group is 0.2% to 1%,
It is characterized by the following.

本発明の他の態様は、ブラックマトリックス樹脂が表面に形成されるカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄液であって、
洗浄剤の濃度とアルカリ成分の濃度とによって定まる曇点を有し、
前記洗浄剤の濃度は、1.5%から4%であり、
前記アルカリ成分は、KOH、NaOH、EDTA−4Na、EDTA−4K、Na、Kから選択される1種以上のアルカリ成分からなり、
前記曇点は、75℃以上である、
ことを特徴とする。
Another embodiment of the present invention is a cleaning solution for a glass substrate for a color filter, the black matrix resin is formed on the surface,
Having a cloud point determined by the concentration of the detergent and the concentration of the alkali component,
The concentration of the cleaning agent is 1.5% to 4%,
The alkali component comprises one or more alkali components selected from KOH, NaOH, EDTA-4Na, EDTA-4K , Na 4 P 2 O 7 , and K 4 P 2 O 7 ,
The cloud point is 75 ° C. or higher;
It is characterized by the following.

前記アルカリ成分は、KOHであり、
前記KOHの添加は、曇点が75℃以上となる範囲である、ことが好ましい。
The alkali component is KOH,
The addition of the KOH is preferably in a range where the cloud point is 75 ° C. or higher.

前記洗浄剤は、界面活性剤が含まれる無機アルカリ系の洗浄剤からなる、ことが好ましい。   It is preferable that the detergent comprises an inorganic alkali-based detergent containing a surfactant.

本発明の他の態様は、上記に記載のカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄液を用いて、前記ガラス基板に付着した異物を除去する洗浄工程を有するガラス基板の洗浄方法であって、
前記洗浄工程の前に、前記ガラス基板は間に再生紙が挟み込まれて積層され、
前記異物は、前記再生紙に含まれる物質に由来する粘着異物である、
ことを特徴とする。
Another aspect of the present invention is a method for cleaning a glass substrate, comprising a cleaning step of removing foreign matter attached to the glass substrate using the cleaning solution for a glass substrate for a color filter described above,
Before the cleaning step, the glass substrate is laminated with recycled paper interposed therebetween,
The foreign matter is an adhesive foreign matter derived from a substance contained in the recycled paper,
It is characterized by the following.

前記洗浄工程において、前記洗浄液の温度を60℃よりも高くする、ことが好ましい。   In the cleaning step, it is preferable that the temperature of the cleaning liquid is higher than 60 ° C.

本発明によれば、ガラス基板表面へのブラックマトリックス樹脂の密着性の低下を抑制できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the fall of the adhesion of the black matrix resin to the glass substrate surface can be suppressed.

本実施形態のガラス基板の製造工程の一例を示す図である。It is a figure showing an example of a manufacturing process of a glass substrate of this embodiment. ガラス基板を積載するパレットの模式図である。It is a schematic diagram of a pallet on which a glass substrate is loaded. 洗浄工程の一例を示す図である。It is a figure showing an example of a washing process. 枚葉洗浄システムの模式図である。It is a schematic diagram of a single wafer cleaning system. 洗浄剤の濃度、及び、アルカリ成分の濃度によって変化する曇点を示した図である。It is the figure which showed the cloud point which changes with the density | concentration of a detergent, and the density | concentration of an alkali component.

以下、本発明のガラス板(ガラス基板、シートガラス)の製造方法について本実施形態に基づいて詳細に説明する。
本実施形態で製造されるガラス板は、液晶表示装置用ディスプレイに用いるガラス基板であり、例えば厚さが0.3〜0.7mmであり、2200mm×2500mm(縦×横)のサイズの薄板である。
Hereinafter, a method for manufacturing a glass plate (glass substrate, sheet glass) of the present invention will be described in detail based on the present embodiment.
The glass plate manufactured in the present embodiment is a glass substrate used for a display for a liquid crystal display device, for example, a thin plate having a thickness of 0.3 to 0.7 mm and a size of 2200 mm × 2500 mm (length × width). is there.

なお、本実施形態で製造されるガラス板は、上記に限定されず、携帯電話機などの電子機器の表示画面に用いられるカバーガラスや、プラズマ・ディスプレイ・パネル、有機エレクトロ・ルミネッセンス(EL)などのフラットパネルディスプレイ(Flat Panel Display:FPD)に用いられる板状ガラスであってもよい。   The glass plate manufactured in this embodiment is not limited to the above, and may be a cover glass used for a display screen of an electronic device such as a mobile phone, a plasma display panel, an organic electroluminescence (EL), or the like. It may be a plate glass used for a flat panel display (FPD).

本実施形態で製造されるガラス板は、特に限定されないが、例えば、以下の組成比率のガラス板に適用され得る。例えば、Li、Na、及びKのいずれの成分も含有されていないか、あるいは、Li、Na、及びKのいずれか少なくとも1つの成分が含有されているとしても、Li、Na、及びKの内含有する成分の合計量が、0.5質量%以下であるガラス組成を有することが好ましい。ガラス組成は、以下に示すものが好適に例示される。
(a)SiO:50〜70質量%、
(b)B2O:5〜18質量%、
(c)Al:10〜25質量%、
(d)MgO:0〜10質量%、
(e)CaO:0〜20質量%、
(f)SrO:0〜20質量%、
(g)BaO:0〜10質量%、
(h)RO:5〜20質量%(ただしRはMg、Ca、SrおよびBaから選ばれる少なくとも1種であり、ROは、MgO、CaO、SrOおよびBaOのうち含有する成分の合計)、
(i)R’O:0.05質量%を超え0.5質量%以下(ただしR’はLi、NaおよびKから選ばれる少なくとも1種であり、R’OはLiO、NaO及びKOのうち含有する成分の合計)、
(j)酸化錫と、酸化鉄および酸化セリウムなどから選ばれる少なくとも1種の金属酸化物を合計で0.05〜1.5質量%。
なお、上記(i),(j)の組成は必須ではないが、(i),(j)の組成を含むことが好ましい。上記のガラスには、As、SbおよびPbOを実質的に含まず、SnOが含まれている。
また、本実施形態のガラス板に用いるガラスは、(i)のR’Oの含有が実質的に0質量%である無アルカリガラスであっても構わない。すなわち、本実施形態のガラス板に用いるガラスは、(i)の組成を含むアルカリ微量含有ガラスまたは無アルカリガラスである。
The glass plate manufactured in the present embodiment is not particularly limited, but may be applied to, for example, a glass plate having the following composition ratio. For example, if none of the components Li, Na, and K are contained, or even if at least one component of Li, Na, and K is contained, of Li, Na, and K, It is preferable to have a glass composition in which the total amount of the contained components is 0.5% by mass or less. Preferred examples of the glass composition include the following.
(A) SiO 2 : 50 to 70% by mass,
(B) B2O 3: 5~18 wt%,
(C) Al 2 O 3 : 10 to 25% by mass,
(D) MgO: 0 to 10% by mass,
(E) CaO: 0 to 20% by mass,
(F) SrO: 0 to 20% by mass,
(G) BaO: 0 to 10% by mass,
(H) RO: 5 to 20% by mass (where R is at least one selected from Mg, Ca, Sr and Ba, and RO is the sum of components contained in MgO, CaO, SrO and BaO),
(I) R ′ 2 O: more than 0.05% by mass and 0.5% by mass or less (where R ′ is at least one selected from Li, Na and K, and R ′ 2 O is Li 2 O, Na Sum of components contained in 2 O and K 2 O),
(J) Tin oxide and at least one metal oxide selected from iron oxide and cerium oxide in a total amount of 0.05 to 1.5% by mass.
The compositions (i) and (j) are not essential, but preferably include the compositions (i) and (j). The above glass contains SnO 2 substantially without As 2 O 3 , Sb 2 O 3 and PbO.
Further, the glass used for the glass plate of the present embodiment may be an alkali-free glass in which the content of R ′ 2 O in (i) is substantially 0% by mass. That is, the glass used for the glass plate of the present embodiment is a glass containing a trace amount of alkali containing the composition (i) or a non-alkali glass.

図1は、本実施形態のガラス板の製造方法の流れを示すフローチャートである。
図1に示すように、熔融されたガラスが、例えばダウンドロー法あるいはフロート法により、所定の厚さの帯状ガラスであるガラスシートに成形される(ステップS1)。
次に、成形されたガラスシートがスクライブおよび切断され、所定のサイズの素板ガラスが得られる(ステップS2)。得られた素板ガラスは、素板ガラスを保護する紙と交互に積層された積層体として、素板ガラスを収容して搬送するためのパレットに積載される(ステップS3)。
FIG. 1 is a flowchart showing the flow of the method for manufacturing a glass sheet of the present embodiment.
As shown in FIG. 1, the molten glass is formed into a glass sheet that is a band-shaped glass having a predetermined thickness by, for example, a downdraw method or a float method (Step S1).
Next, the formed glass sheet is scribed and cut to obtain a base glass having a predetermined size (step S2). The obtained base glass is stacked on a pallet for housing and transporting the base glass as a laminated body alternately stacked with paper for protecting the base glass (step S3).

素板ガラスは切断工程に搬送され、ガラス板と紙とを交互に積層した積層体から素板ガラスが取り出される。取り出された素板ガラスはスクライブおよび切断され、製品サイズのガラス基板が得られる(ステップS4)。得られたガラス基板には、端面の研削、研磨およびコーナカットを含む端面加工が行われる(ステップS5)。上記スクライブでは、ダイヤモンドカッター等を用いて、ガラスに微小のスジ状の傷である切り込み線(スクライブ線)が形成される。素板ガラスおよび製品サイズのガラス基板を含むガラス板の切断は、スクライブ線に沿って機械あるいはマニュアルにより切断される。あるいは、レーザ光によるスクライブおよび熱衝撃によりガラス板を切断することもできる。   The raw glass is conveyed to a cutting step, and the raw glass is taken out of a laminate in which glass plates and paper are alternately laminated. The extracted raw glass is scribed and cut to obtain a glass substrate of a product size (step S4). The obtained glass substrate is subjected to edge processing including grinding, polishing, and corner cutting of the edge (step S5). In the above scribe, a cut line (scribe line), which is a minute streak-like flaw, is formed in glass using a diamond cutter or the like. Cutting of the glass sheet including the raw glass sheet and the glass substrate of the product size is cut by a machine or manually along a scribe line. Alternatively, the glass plate can be cut by scribing with laser light and thermal shock.

この後、ガラス基板の洗浄が行われる(ステップS6)。洗浄されたガラス板はキズ、塵、汚れあるいは光学欠陥を含む傷が無いか、光学的検査が行われる(ステップS7)。検査により品質の適合したガラス板は、ガラス板を保護する紙と交互に積層された積層体としてパレットに積載されて梱包される(ステップS8)。梱包されたガラス板は納入先業者に出荷される(ステップS9)。出荷されるガラス板に挟みこまれてガラス板の表面を保護する紙は、ガラス板の表面の汚染を防止する観点から、再生紙を含まないパルプ紙が用いられる。   Thereafter, the glass substrate is cleaned (Step S6). The cleaned glass plate is optically inspected for scratches, dust, dirt, or scratches including optical defects (step S7). The glass plate having a quality conforming to the inspection is loaded on a pallet and packed as a laminated body alternately laminated with paper protecting the glass plate (step S8). The packed glass plate is shipped to a supplier (step S9). From the viewpoint of preventing the surface of the glass plate from being contaminated, pulp paper containing no recycled paper is used as the paper sandwiched between the glass plates to be shipped and protecting the surface of the glass plate.

なお、素板ガラスは、パレットへの積載(ステップS3)および梱包が行われた後、例えば、数週間から数ヶ月以上の長期間に亘って輸送および保管される場合がある(ステップS10)。保管される素板ガラスの間に挟みこまれて素板ガラスの表面を保護する紙は、コストおよび環境保護の観点から再生紙が用いられる。このように長期間に亘って保管された素板ガラスは、その後、上記と同様に切断(ステップS4)から梱包(ステップS8)までの工程を経て、出荷される(ステップS9)。   After the raw glass is loaded on the pallet (step S3) and packed, the raw glass may be transported and stored for a long period of time, for example, several weeks to several months (step S10). Recycled paper is used as the paper sandwiched between the stored raw glass sheets to protect the surface of the raw glass sheets from the viewpoint of cost and environmental protection. The raw glass sheet thus stored for a long period of time is then shipped (step S9) through the steps from cutting (step S4) to packing (step S8) as described above.

また、ガラス基板は、梱包(ステップS8)が行われた後、例えば、数週間から数ヶ月以上の長期間に亘って輸送および保管される場合がある(ステップS10)。保管されるガラス基板の間に挟みこまれてガラス基板の表面を保護する紙は、コストおよび環境保護の観点から再生紙が用いられる。このように長期間に亘って保管されたガラス基板は、素板ガラスと同様に切断(ステップS4)から梱包(ステップS8)までの工程を経て、出荷(ステップS9)される。   After packing (Step S8), the glass substrate may be transported and stored for a long period of time, for example, several weeks to several months (Step S10). Recycled paper is used as paper for protecting the surface of the glass substrate by being sandwiched between the glass substrates to be stored, from the viewpoint of cost and environmental protection. The glass substrate thus stored for a long period of time is shipped (step S9) through processes from cutting (step S4) to packing (step S8), similarly to the plain glass.

図2は、パレットに積載されたガラス板を模式的に示す図である。図2に示すように、素板ガラスおよびガラス基板を含むガラス板Gは、パレット100の積載部に斜めに立て掛けられた状態で、合紙Pと交互に積層される。これによりガラス板Gの間には、合紙Pが挟みこまれた状態になる。このような状態では、パレット100の積載部に先に積載されたガラス板Gに、後から積載されたガラス板Gの荷重がかかる。そのため、先に積載されたガラス板Gほど、合紙Pをガラス板Gに押し付ける荷重が大きくなる。   FIG. 2 is a diagram schematically showing a glass plate loaded on a pallet. As shown in FIG. 2, the glass sheet G including the elementary glass sheet and the glass substrate is alternately stacked on the interleaving paper P in a state where the glass sheet G is leaned obliquely on the loading portion of the pallet 100. As a result, the interleaf paper P is sandwiched between the glass plates G. In such a state, the load of the glass plate G loaded later on the glass plate G loaded earlier on the loading portion of the pallet 100 is applied. Therefore, the load that presses the slip sheet P against the glass plate G increases as the glass plate G is loaded earlier.

合紙Pが再生紙である場合には、再生紙に含まれる例えばインクなどの樹脂成分に由来する粘着性を有する粘着異物が、ガラス板Gの表裏面に付着する場合がある。そのため、上記のような荷重がかかると、先に積載されたガラス板Gほど、粘着異物が大きな荷重を受けて、ガラス板Gの表面に強固に付着する傾向がある。このような荷重を受けてガラス板Gに付着した異物は、従来の洗浄剤を希釈した希釈液を用いた洗浄によっては、十分に除去することができない。   When the slip sheet P is a recycled paper, adhesive foreign matters having adhesiveness derived from a resin component such as ink contained in the recycled paper may adhere to the front and back surfaces of the glass plate G. For this reason, when the above-mentioned load is applied, the larger the glass plate G loaded, the larger the load of the adhesive foreign matter, and the more strongly the adhesive foreign matter tends to adhere to the surface of the glass plate G. The foreign matter attached to the glass plate G under such a load cannot be sufficiently removed by the conventional cleaning using a diluent obtained by diluting a cleaning agent.

また、上記のような粘着異物が付着したガラス板Gが、図1に示すように長期の保管(ステップ10)を経て洗浄される場合には、上記の粘着異物が時間の経過により変質して、粘着性を増し、あるいは固化し、従来の洗浄剤を希釈した希釈液を用いた洗浄によっては、十分に除去することができない。   Further, when the glass plate G to which the above-mentioned adhesive foreign matter has adhered is washed through a long-term storage (step 10) as shown in FIG. 1, the above-mentioned adhesive foreign matter is deteriorated with the passage of time. However, it cannot be sufficiently removed by washing with a diluent obtained by diluting a conventional detergent with increasing or solidifying the adhesive.

ガラス板Gのスクライブと切断(ステップS2,S4)、およびガラス板Gの端面加工(ステップS5)等の機械加工により、ガラスの微小片が発生し、ガラス板Gの表面に塵となって付着する。あるいは、上記機械加工時に、工具や治具等に付着した汚れがガラス板Gの表面に付着する場合もある。   By machining such as scribing and cutting the glass plate G (steps S2 and S4) and processing the end surface of the glass plate G (step S5), small pieces of glass are generated and adhere to the surface of the glass plate G as dust. I do. Alternatively, during the above-described machining, dirt attached to a tool, a jig, or the like may adhere to the surface of the glass plate G.

以上のようなガラス板Gの表面に付着した塵、汚れ、粘着異物などを除去するために、ガラス基板の洗浄(S5)が行われる。特に、液晶表示装置用ディスプレイに用いられるガラス基板は、表面に半導体素子を形成するため、高い洗浄度が求められる。   The glass substrate is washed (S5) in order to remove dust, dirt, sticky foreign substances and the like attached to the surface of the glass plate G as described above. In particular, a glass substrate used for a display for a liquid crystal display device requires a high degree of cleaning because a semiconductor element is formed on the surface.

以下、本実施形態の洗浄工程について、より詳細に説明する。
図3は、本実施形態の洗浄工程の例を説明するフローチャートである。
まず、図3に示す希釈液を生成する工程(S61)において、ガラス基板用の洗浄剤を水によって希釈して希釈液を生成する。ガラス基板用の洗浄剤としては、無機アルカリ系の洗浄剤、例えば、パーカーコーポレーション社製のPK−LCGシリーズ、あるいは横浜油脂工業株式会社製のセミクリーンシリーズなどを用いることができる。これらの洗浄剤を用いる場合、洗浄剤を例えば1wt%から5wt%の範囲の濃度になるように水で希釈して希釈液を生成する。より好ましくは、洗浄剤を1.5wt%以上から4wt%以下の範囲の濃度になるように水で希釈して希釈液を生成する。
Hereinafter, the cleaning step of the present embodiment will be described in more detail.
FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of the cleaning process according to the present embodiment.
First, in a step (S61) of generating a diluting liquid shown in FIG. 3, a cleaning liquid for a glass substrate is diluted with water to generate a diluting liquid. As the cleaning agent for the glass substrate, an inorganic alkali-based cleaning agent, for example, PK-LCG series manufactured by Parker Corporation, or semi-clean series manufactured by Yokohama Yushi Kogyo KK can be used. When these cleaning agents are used, the cleaning agent is diluted with water so as to have a concentration in the range of, for example, 1 wt% to 5 wt% to generate a diluent. More preferably, the cleaning agent is diluted with water so as to have a concentration ranging from 1.5 wt% or more to 4 wt% or less to generate a diluent.

洗浄剤を希釈する水は、イオン交換処理、EDI(Electrodeionization)処理、逆浸透膜によるフィルタ処理、及び脱炭酸ガス装置を通した脱炭酸ガス処理を施した純水または超純水であることが、ガラス基板の表面を清浄に保つ点で好ましい。溶解性異物の除去には、さらに活性炭を通すことが好ましい。具体的には、フィルタを用いて微粒子等の異物を水から除去し、この後、活性炭を透過させて有機物を除去した後、イオン交換処理、EDI(Electrodeionization)処理、逆浸透膜によるフィルタ処理、及び脱炭酸ガス装置を通した脱炭酸ガス処理を施すことが好ましい。   The water for diluting the detergent may be pure water or ultrapure water that has been subjected to ion exchange treatment, EDI (Electrodeionization) treatment, filter treatment with a reverse osmosis membrane, and decarbonation treatment through a decarbonation device. This is preferable in that the surface of the glass substrate is kept clean. Activated carbon is preferably passed through to remove soluble foreign substances. Specifically, foreign matter such as fine particles is removed from water using a filter, and thereafter, activated carbon is permeated to remove organic substances. Then, ion exchange treatment, EDI (Electrodeionization) treatment, filter treatment with a reverse osmosis membrane, It is preferable to perform a decarbonation treatment through a decarbonation device.

イオン交換処理では、水に含まれるイオン性物質、例えば、塩素イオンやナトリウムイオン等を、イオン交換樹脂膜を用いて水から除去する。EDI処理では、イオン交換樹脂膜を用い、かつ電極に電位を与えて形成された電位勾配を利用して、水からイオン性物質をより精度良く除去する。さらに、逆浸透膜(RO膜)によるフィルタ処理では、イオン性物質、塩類、あるいは有機物を水から除去する。さらに、脱炭酸ガス処理では、脱炭酸ガス装置を用いて炭酸ガスを水から除去する。   In the ion exchange treatment, ionic substances contained in water, for example, chloride ions and sodium ions, are removed from water using an ion exchange resin membrane. In the EDI treatment, an ionic substance is more accurately removed from water using an ion exchange resin membrane and a potential gradient formed by applying a potential to an electrode. Further, in the filter treatment using a reverse osmosis membrane (RO membrane), ionic substances, salts, or organic substances are removed from water. Further, in the decarbonation treatment, carbon dioxide is removed from water using a decarbonation device.

上記のように洗浄剤を水で希釈して生成した希釈液のアルカリ成分の濃度は、水酸化カリウム(KOH)の濃度に換算して、例えば、0.02wt%から0.15wt%程度になる。
図3に示すように、本実施形態では、この希釈液に、KOH、NaOH、EDTA−4Na、EDTA−4K、Na、Kから選択される1種以上のアルカリ成分を濃度の合計が、0.2wt%以上から1wt%以下になるように添加して洗浄液を生成する(S62)。上記のアルカリ成分は、その他のアルカリ成分と比較して、ガラスのエッチング性が高く、かつ溶解性に優れている。特に、エッチング性と溶解性、およびガラス基板に形成される薄膜トランジスタに対する悪影響を防止する観点から、上記のアルカリ成分としてKOHを単独で用いることが好ましい。KOHおよびNaOHは、その他のアルカリ成分と比較して、排水処理の点で有利である。
As described above, the concentration of the alkaline component of the diluent produced by diluting the detergent with water is, for example, about 0.02 wt% to about 0.15 wt% in terms of the concentration of potassium hydroxide (KOH). .
As shown in FIG. 3, in the present embodiment, one or more kinds selected from KOH, NaOH, EDTA-4Na, EDTA-4K , Na 4 P 2 O 7 , and K 4 P 2 O 7 are added to the diluent. A cleaning liquid is generated by adding an alkali component so that the total concentration becomes 0.2 wt% or more and 1 wt% or less (S 62). The above alkali component has a higher etching property of glass and is more excellent in solubility than other alkali components. In particular, it is preferable to use KOH alone as the above-mentioned alkali component, from the viewpoints of etching properties and solubility, and preventing adverse effects on thin film transistors formed on a glass substrate. KOH and NaOH are advantageous in terms of wastewater treatment as compared with other alkaline components.

本実施形態では、洗浄剤を水で希釈しただけの希釈液と、その希釈液に上記アルカリ成分を添加した洗浄液とを明確に区別している。なお、希釈液への上記アルカリ成分の添加は、洗浄剤の水による希釈と同時にまたは並行して行うことができる。   In the present embodiment, a diluting solution obtained by simply diluting a cleaning agent with water and a cleaning solution obtained by adding the above-described alkali component to the diluting solution are clearly distinguished. The addition of the alkali component to the diluent can be performed simultaneously with or concurrently with the dilution of the detergent with water.

なお、本実施形態の洗浄液の上記アルカリ成分の濃度の合計は、できるだけ高い方が、粘着異物を除去する洗浄力の点で好ましい。しかし、上記アルカリ成分の濃度が高くなりすぎると、ガラス基板表面に塗布するブラックマトリックス樹脂の高い密着性を保てなくなり、また、装置を腐食させたり、洗浄液中で結晶が生成されたりするなどの問題がある。   In addition, it is preferable that the total concentration of the alkaline components in the cleaning liquid of the present embodiment is as high as possible from the viewpoint of the cleaning power for removing the adhesive foreign matter. However, if the concentration of the alkali component is too high, the black matrix resin applied to the surface of the glass substrate cannot maintain high adhesion, and may cause corrosion of the apparatus or generate crystals in the cleaning solution. There's a problem.

本実施形態では、洗浄剤を水で希釈した希釈液に上記アルカリ成分を添加した洗浄液を、曇点により示す。ここで、曇点とは、洗浄剤の濃度とアルカリ成分の濃度とによって一義的に定まる指標であり、洗浄液の温度変化によって相分離が起き、洗浄液に溶解した洗浄剤、アルカリ成分の一部成分が析出し始める温度である。洗浄剤にKOHなどのアルカリ成分を添加すると、界面活性剤と水との水素結合が切れて、水溶解度が急激に下がるため、洗浄剤が不透明になる。この不透明となる温度が曇点である。曇点以上である洗浄液をガラス基板の洗浄に用いると、析出した洗浄剤、アルカリ成分がガラス基板に付着するおそれがある。ガラス基板の洗浄(S5)において、洗浄液を用いて、ガラス基板の表面に付着した塵、汚れ、粘着異物などを除去できたとしても、ガラス基板の表面に、洗浄剤、アルカリ成分が残留していると、ガラス基板の表面に残留している洗浄剤、アルカリ成分に起因して、ガラス基板表面に塗布するブラックマトリックス樹脂の高い密着性を実現できないという問題が生じる。このため、ガラス基板の表面に付着した塵、汚れ、粘着異物などを除去でき、かつ、洗浄剤、アルカリ成分を残留させない洗浄液を用いて、ガラス基板を洗浄する必要がある。塵、汚れ、粘着異物などを除去しつつ、洗浄剤、アルカリ成分を残留させないことにより、ガラス基板表面へのブラックマトリックス樹脂の高い密着性を実現することができる。   In the present embodiment, a cleaning liquid obtained by adding the above-described alkali component to a diluting liquid obtained by diluting a cleaning agent with water is indicated by a cloud point. Here, the cloud point is an index uniquely determined by the concentration of the cleaning agent and the concentration of the alkali component, and phase change occurs due to a change in the temperature of the cleaning solution, and the cleaning agent dissolved in the cleaning solution and some components of the alkali component Is the temperature at which precipitation begins. When an alkaline component such as KOH is added to the detergent, the hydrogen bond between the surfactant and water is broken, and the solubility in water is rapidly reduced, so that the detergent becomes opaque. This opaque temperature is the cloud point. When a cleaning liquid having a cloud point or higher is used for cleaning a glass substrate, the precipitated cleaning agent and alkali components may adhere to the glass substrate. In the cleaning of the glass substrate (S5), even if the cleaning liquid can be used to remove dust, dirt, sticky foreign matter, and the like adhered to the surface of the glass substrate, the cleaning agent and the alkaline component remain on the surface of the glass substrate. In this case, there is a problem that high adhesion of the black matrix resin applied to the surface of the glass substrate cannot be realized due to the detergent and the alkali component remaining on the surface of the glass substrate. Therefore, it is necessary to clean the glass substrate using a cleaning solution that can remove dust, dirt, sticky foreign matter, and the like attached to the surface of the glass substrate and that does not leave a cleaning agent or an alkaline component. The high adhesion of the black matrix resin to the surface of the glass substrate can be realized by removing the cleaning agent and the alkali component while removing dust, dirt, adhesive foreign matters, and the like.

本実施形態の洗浄液は、曇点が75℃以上になるように洗浄剤の濃度とアルカリ成分の濃度とを設定する。洗浄剤の濃度は、上記のように、1.5wt%以上から4wt%以下の範囲の濃度になるようにする。洗浄剤の濃度が4wt%を超えると、この洗浄剤を用いてガラス基板を洗浄した際に、ガラス基板の表面に残留する洗剤残渣が増えるため、ブラックマトリックス樹脂の密着性が低下する。このため、洗浄剤の濃度が4wt%以下になるように、洗浄剤の濃度を定める。一方、洗浄剤の濃度が1.5wt%を下回ると、この洗浄剤を用いてガラス基板を洗浄した際に、ガラス基板の表面に付着した塵、汚れ、粘着異物などが除去できない。このため、洗浄剤の濃度が1.5wt%以上になるように、洗浄剤の濃度を定める。   In the cleaning liquid of the present embodiment, the concentration of the cleaning agent and the concentration of the alkali component are set so that the cloud point is 75 ° C. or higher. As described above, the concentration of the cleaning agent is adjusted to be in the range of 1.5 wt% or more to 4 wt% or less. When the concentration of the cleaning agent exceeds 4 wt%, when the glass substrate is cleaned using the cleaning agent, the amount of the detergent residue remaining on the surface of the glass substrate increases, so that the adhesion of the black matrix resin decreases. For this reason, the concentration of the cleaning agent is determined so that the concentration of the cleaning agent is 4 wt% or less. On the other hand, if the concentration of the cleaning agent is less than 1.5 wt%, dust, dirt, sticky foreign substances, and the like attached to the surface of the glass substrate cannot be removed when the glass substrate is cleaned using the cleaning agent. Therefore, the concentration of the cleaning agent is determined so that the concentration of the cleaning agent is 1.5 wt% or more.

洗浄液におけるアルカリ成分の濃度は、上記のように、曇点が75℃以上の範囲の濃度になるようにする。ここで、アルカリ成分は、エッチング性と溶解性、およびガラス基板に形成される薄膜トランジスタに対する悪影響を防止する観点から、アルカリ成分としてKOHが好ましい。曇点が75℃未満となると、この洗浄剤を用いてガラス基板を洗浄した際に、ガラス基板の表面に残留するアルカリ成分由来の有機物が増えるため、ブラックマトリックス樹脂の密着性が低下する。このため、曇点が75℃以上になるように、アルカリ成分の濃度を定める。一方、アルカリ成分の濃度が0.2wt%を下回ると、この洗浄剤を用いてガラス基板を洗浄した際に、ガラス基板の表面に付着した塵、汚れ、粘着異物などが除去できない。このため、アルカリ成分の濃度が0.2wt%以上になるように、アルカリ成分の濃度を定める。   As described above, the concentration of the alkali component in the cleaning liquid is adjusted so that the cloud point is in a range of 75 ° C. or higher. Here, the alkali component is preferably KOH as the alkali component from the viewpoints of etching properties and solubility, and preventing adverse effects on the thin film transistor formed on the glass substrate. When the cloud point is less than 75 ° C., when the glass substrate is washed with the cleaning agent, the amount of organic substances derived from alkali components remaining on the surface of the glass substrate increases, so that the adhesion of the black matrix resin decreases. For this reason, the concentration of the alkali component is determined so that the cloud point is 75 ° C. or higher. On the other hand, if the concentration of the alkali component is less than 0.2 wt%, dust, dirt, sticky foreign substances, and the like attached to the surface of the glass substrate cannot be removed when the glass substrate is cleaned with the cleaning agent. For this reason, the concentration of the alkali component is determined so that the concentration of the alkali component becomes 0.2 wt% or more.

1.5wt%以上から4wt%以下の範囲の濃度を有する洗浄剤に、洗浄液の曇点が75℃以上になるようにKOHを添加して、本実施形態の洗浄液を生成する。パーカーコーポレーション社製のPK−LCGシリーズ、あるいは横浜油脂工業株式会社製のセミクリーンシリーズを洗浄剤として用いて、この洗浄剤の濃度を1.5wt%以上から4wt%以下の範囲の濃度になるよう希釈し、希釈した洗浄剤に、0.2wt%以上から1wt%以下の範囲の濃度であるKOHを添加することにより、曇点が75℃以上となる本実施形態の洗浄液を生成することができる。 KOH is added to a cleaning agent having a concentration in the range of 1.5 wt% or more to 4 wt% or less so that the cloud point of the cleaning liquid is 75 ° C. or more, to generate the cleaning liquid of the present embodiment. Using a PK-LCG series manufactured by Parker Corporation or a semi-clean series manufactured by Yokohama Yushi Kogyo Co., Ltd. as a cleaning agent, the concentration of the cleaning agent is adjusted to a concentration in a range of 1.5 wt% or more to 4 wt% or less. By adding KOH having a concentration in the range of 0.2 wt% or more to 1 wt% or less to the diluted cleaning agent, the cleaning solution of the present embodiment having a cloud point of 75 ° C. or higher can be generated. .

上記のように生成した洗浄液は、図3に示すブラシ洗浄(S63)およびスポンジ洗浄(S64)を含むガラス板Gの枚葉洗浄、バッチ洗浄において用いられる。以下では、本実施形態の洗浄液を、枚葉洗浄に用いる方法を説明するが、バッチ洗浄でも用いることができる。   The cleaning liquid generated as described above is used in single-wafer cleaning and batch cleaning of the glass plate G including brush cleaning (S63) and sponge cleaning (S64) shown in FIG. In the following, a method of using the cleaning liquid of the present embodiment for single wafer cleaning will be described, but the cleaning liquid can also be used for batch cleaning.

以下、枚葉洗浄に用いられる洗浄システムについて説明する。
図4(a),(b)は、枚葉洗浄を行う一ラインの枚葉洗浄システム10の概略を示す図であり、図4(a)は平面図であり、図4(b)は、側面図である。図4(a),(b)において、ガラス板Gを搬送する搬送装置の図示は省略している。
Hereinafter, a cleaning system used for single wafer cleaning will be described.
FIGS. 4A and 4B are diagrams schematically illustrating a single-wafer cleaning system 10 for performing single-wafer cleaning. FIG. 4A is a plan view, and FIG. It is a side view. 4 (a) and 4 (b), illustration of a transfer device for transferring the glass plate G is omitted.

枚葉洗浄システム10は、図4(a)に示すように、ブラシユニット12と、スポンジユニット14と、シャワーユニット16と、を備えている。これらの装置は、ガラス板Gの搬送方向の上流側からこの順番に配置されている。また、枚葉洗浄システム10は、図4(b)に示すように、洗浄液タンク18と、純水タンク20とを備えている。   The single wafer cleaning system 10 includes a brush unit 12, a sponge unit 14, and a shower unit 16, as shown in FIG. These devices are arranged in this order from the upstream side in the transport direction of the glass sheet G. The single-wafer cleaning system 10 includes a cleaning liquid tank 18 and a pure water tank 20, as shown in FIG.

洗浄液タンク18は、ガラス基板用の洗浄剤の希釈液にKOHを所定の濃度で添加することで生成した上記の洗浄液を、所定の温度に保温した状態で貯留する。本実施形態では、洗浄液タンク18は、洗浄液の温度を調節する例えばヒーターなどの温度調節手段を備え、洗浄液を50℃から80℃の範囲の一定の温度に加熱して保温する。より好ましくは、洗浄液を60℃から75℃の範囲の温度に保温する。   The cleaning liquid tank 18 stores the cleaning liquid generated by adding KOH at a predetermined concentration to a diluting liquid of a cleaning agent for a glass substrate while maintaining the temperature at a predetermined temperature. In the present embodiment, the cleaning liquid tank 18 is provided with a temperature adjusting means such as a heater for adjusting the temperature of the cleaning liquid, and heats the cleaning liquid to a constant temperature in the range of 50 ° C. to 80 ° C. to keep the temperature. More preferably, the cleaning solution is kept at a temperature in the range of 60 ° C to 75 ° C.

ノズル18a,18bは、洗浄液タンク18から供給される洗浄液を、ブラシユニット12内のガラス板Gの表裏面に噴射して供給するように設けられている。ノズル18c,18dは、洗浄液タンク18から供給される洗浄液を、スポンジユニット14内のガラス板Gの表裏面に噴射して供給するように設けられている。   The nozzles 18a and 18b are provided so that the cleaning liquid supplied from the cleaning liquid tank 18 is jetted onto the front and back surfaces of the glass plate G in the brush unit 12 and supplied. The nozzles 18c and 18d are provided so as to spray and supply the cleaning liquid supplied from the cleaning liquid tank 18 to the front and back surfaces of the glass plate G in the sponge unit 14.

純水タンク20は、上記のように生成した純水または超純水を貯留する。
ノズル20a,20bは、純水タンク20から供給される純水または超純水を、シャワーユニット16内のガラス板Gの表裏面に噴射して供給するように設けられている。
The pure water tank 20 stores the pure water or the ultrapure water generated as described above.
The nozzles 20 a and 20 b are provided so that pure water or ultrapure water supplied from the pure water tank 20 is jetted onto the front and back surfaces of the glass plate G in the shower unit 16 and supplied.

ブラシユニット12は、洗浄ブラシ列12a,12bを備えている。   The brush unit 12 includes cleaning brush rows 12a and 12b.

洗浄ブラシ列12a,12bは、ガラス板Gの搬送方向において異なる位置、すなわち上流側の位置と下流側の位置に配置されている。洗浄ブラシ列12a,12bは、それぞれガラス板Gの表裏面を洗浄可能に上下に配置され、ガラス板Gを間に挟み込んで洗浄するように設けられている。   The cleaning brush rows 12a and 12b are arranged at different positions in the conveying direction of the glass plate G, that is, at the upstream position and the downstream position. The cleaning brush rows 12a and 12b are arranged vertically so that the front and back surfaces of the glass plate G can be cleaned, and are provided so as to clean the glass plate G with the glass plate G interposed therebetween.

洗浄ブラシ列12a,12bは、それぞれガラス板Gの搬送方向を横切る方向に複数の洗浄ブラシを備えている。ブラシユニット12は、洗浄ブラシを回転させることにより、ガラス板Gの表裏面を洗浄する。図示の例では、洗浄ブラシ列12a,12bは2列が設けられているが、3列以上が設けられてもよく、1列のみが設けられていてもよい。   Each of the cleaning brush rows 12a and 12b includes a plurality of cleaning brushes in a direction crossing the transport direction of the glass plate G. The brush unit 12 cleans the front and back surfaces of the glass plate G by rotating the cleaning brush. In the illustrated example, two cleaning brush rows 12a and 12b are provided, but three or more rows may be provided, or only one row may be provided.

スポンジユニット14は、洗浄スポンジ列14a,14bを備えている。   The sponge unit 14 includes cleaning sponge rows 14a and 14b.

洗浄スポンジ列14a,14bは、ガラス板Gの搬送方向において異なる位置、すなわち上流側の位置と下流側の位置に配置されている。洗浄スポンジ列14a,14bは、それぞれガラス板Gの表裏面を洗浄可能に上下に配置され、ガラス板Gを間に挟み込んで洗浄するように設けられている。   The cleaning sponge rows 14a and 14b are arranged at different positions in the transport direction of the glass sheet G, that is, at an upstream position and a downstream position. The cleaning sponge rows 14a and 14b are arranged vertically so as to be able to clean the front and back surfaces of the glass plate G, and are provided so that the glass plate G is interposed therebetween for cleaning.

洗浄スポンジ列14a,14bは、それぞれガラス板Gの搬送方向を横切る方向に複数の洗浄スポンジを備えている。スポンジユニット14は、洗浄スポンジを回転させることにより、ガラス板Gの表裏面を洗浄する。図示の例では、洗浄スポンジ列14a,14bは2列が設けられているが、3列以上が設けられてもよく、1列のみが設けられていてもよい。   Each of the cleaning sponge rows 14a and 14b includes a plurality of cleaning sponges in a direction crossing the transport direction of the glass sheet G. The sponge unit 14 cleans the front and back surfaces of the glass plate G by rotating the cleaning sponge. In the illustrated example, two cleaning sponge rows 14a and 14b are provided, but three or more rows may be provided, or only one row may be provided.

次に、枚葉洗浄システム10におけるガラス板Gの洗浄の流れについて説明する。
洗浄液は、洗浄液タンク18において、ヒーター等の温度調節手段により60℃から80、より好ましくは60℃から75℃の範囲の所定の温度に保温される。
Next, a flow of cleaning the glass plate G in the single wafer cleaning system 10 will be described.
The cleaning liquid is kept in the cleaning liquid tank 18 at a predetermined temperature in the range of 60 ° C. to 80, more preferably 60 ° C. to 75 ° C., by a temperature control means such as a heater.

ブラシユニット12では、図3に示すブラシ洗浄(S63)が行われる。
洗浄液タンク18から供給された洗浄液はノズル18a,18cから噴射され、搬送装置によってブラシユニット12内に搬送されたガラス板Gの表裏面に供給される。ガラス板Gの表裏面に供給される洗浄液は、例えば60℃から75℃、より好ましくは65℃から75℃の範囲の所定の温度に加熱されている。
In the brush unit 12, brush cleaning (S63) shown in FIG. 3 is performed.
The cleaning liquid supplied from the cleaning liquid tank 18 is jetted from the nozzles 18a and 18c, and is supplied to the front and back surfaces of the glass plate G transported into the brush unit 12 by the transport device. The cleaning liquid supplied to the front and back surfaces of the glass plate G is heated to, for example, a predetermined temperature in the range of 60 ° C. to 75 ° C., more preferably 65 ° C. to 75 ° C.

ガラス板Gは、ブラシユニット12において、表裏面に例えば60℃から75℃、より好ましくは65℃から75℃の範囲の所定の温度の洗浄液が存在する状態で、表裏面が洗浄ブラシ列12a,12bの複数の洗浄ブラシによって洗浄される。その後、ガラス板Gは、搬送装置によってスポンジユニット14に搬送される。   In the brush unit 12, the cleaning plate having a predetermined temperature in the range of, for example, 60 ° C. to 75 ° C., and more preferably 65 ° C. to 75 ° C. exists on the front and back surfaces of the glass plate G. It is cleaned by a plurality of cleaning brushes 12b. Thereafter, the glass plate G is transferred to the sponge unit 14 by the transfer device.

スポンジユニット14では、図3に示すスポンジ洗浄(S64)が行われる。
洗浄液タンク18から供給された洗浄液はノズル18c,18dから噴射され、搬送装置によってスポンジユニット14内に搬送されたガラス板Gの表裏面に供給される。ガラス板Gの表裏面に供給される洗浄液は、例えば60℃から75℃、より好ましくは65℃から75℃の範囲の所定の温度に加熱される。
In the sponge unit 14, the sponge cleaning (S64) shown in FIG. 3 is performed.
The cleaning liquid supplied from the cleaning liquid tank 18 is jetted from the nozzles 18c and 18d, and supplied to the front and back surfaces of the glass plate G transported into the sponge unit 14 by the transport device. The cleaning liquid supplied to the front and back surfaces of the glass plate G is heated to, for example, a predetermined temperature in the range of 60 ° C to 75 ° C, more preferably 65 ° C to 75 ° C.

ガラス板Gは、スポンジユニット14において、表裏面に例えば60℃から75℃、より好ましくは65℃から75℃の所定の温度の洗浄液が存在する状態で、表裏面が洗浄スポンジ列14a,14bの複数の洗浄スポンジによって洗浄される。その後、ガラス板Gは、搬送装置によってシャワーユニット16に搬送される。   In the sponge unit 14, the glass plate G has a cleaning sponge array 14a, 14b whose front and back surfaces have a predetermined temperature of 60 to 75 ° C, more preferably 65 to 75 ° C. It is cleaned by a plurality of cleaning sponges. Thereafter, the glass plate G is transferred to the shower unit 16 by the transfer device.

純水タンク20から供給された純水または超純水はノズル20a,20bから噴射され、搬送装置によってシャワーユニット16内に搬送されたガラス板Gの表裏面に供給される。これにより、ガラス板Gが純水または超純水ですすがれて、洗浄液の成分が洗い流される。   The pure water or ultrapure water supplied from the pure water tank 20 is jetted from the nozzles 20a and 20b, and supplied to the front and back surfaces of the glass plate G transported into the shower unit 16 by the transport device. Thereby, the glass plate G is rinsed with pure water or ultrapure water, and the components of the cleaning liquid are washed away.

シャワーユニット16から搬出されたガラス板Gは、図3に示すバッチ洗浄(S65)を行うバッチ洗浄システムに送られる。バッチ洗浄(S65)では、複数枚のガラス板Gがカセットに収容されて、複数の液槽に、順次、浸漬されて洗浄される。
なお、枚葉洗浄システム10の構成によっては、バッチ洗浄(S65)を行わない場合もある。その場合、ガラス板Gはエアーナイフまたは加熱乾燥工程を経て乾燥され、図1に示す検査(S7)へと送られる。
The glass plate G carried out of the shower unit 16 is sent to a batch cleaning system for performing batch cleaning (S65) shown in FIG. In the batch cleaning (S65), a plurality of glass plates G are housed in a cassette and sequentially dipped and cleaned in a plurality of liquid tanks.
Note that, depending on the configuration of the single wafer cleaning system 10, batch cleaning (S65) may not be performed. In that case, the glass plate G is dried through an air knife or a heating and drying process, and is sent to the inspection (S7) shown in FIG.

次に、本実施形態のガラス板Gの洗浄方法の作用について説明する。
本実施形態では、上記のように、洗浄剤を水で希釈して生成した1.5wt%以上から4wt%以下の濃度範囲の希釈液に、KOH等のアルカリ成分を加えて洗浄液を生成する。このように、洗浄剤の希釈液にKOH等のアルカリ成分を0.2wt%以上の濃度で添加して洗浄液を生成することで、曇点が75℃以上となる洗浄液が得られる。
Next, the operation of the method for cleaning the glass plate G of the present embodiment will be described.
In this embodiment, as described above, an alkaline component such as KOH is added to a diluent having a concentration range of 1.5 wt% or more and 4 wt% or less, which is generated by diluting the cleaning agent with water to generate a cleaning liquid. As described above, by adding an alkaline component such as KOH at a concentration of 0.2 wt% or more to the diluent of the cleaning agent to generate the cleaning liquid, a cleaning liquid having a cloud point of 75 ° C. or higher can be obtained.

本実施形態では、KOH等のアルカリ成分の濃度が曇点75℃以上の洗浄液を用いて、ガラス板Gを洗浄している。KOH等のアルカリ成分の濃度が曇点75℃以上であっても、ガラス板Gをパレットに積載した順序によらず、ガラス板Gの表面に付着した再生紙由来の粘着異物を除去することが可能になる。すなわち、本実施形態の洗浄液によれば、荷重を受けてガラス板Gの表面に付着した粘着異物、ガラス片、塵を含む異物の除去効果が得られる。また、曇点が75℃以上である洗浄液を、65℃〜75℃の温度範囲で使用することにより、洗浄液に溶解した洗浄剤、アルカリ成分が析出することがないため、洗浄剤、アルカリ成分に基づく有機物の残渣が抑制され、ガラス板G表面へのブラックマトリックス樹脂の高い密着性を実現することができる。   In the present embodiment, the glass plate G is cleaned using a cleaning liquid having a cloud point of 75 ° C. or higher in the concentration of an alkaline component such as KOH. Even if the concentration of the alkali component such as KOH is higher than the cloud point of 75 ° C., it is possible to remove the adhesive foreign matter derived from recycled paper adhered to the surface of the glass plate G regardless of the order in which the glass plates G are stacked on the pallet. Will be possible. That is, according to the cleaning liquid of the present embodiment, the effect of removing foreign substances including adhesive foreign substances, glass pieces, and dust adhered to the surface of the glass plate G under a load can be obtained. In addition, by using a cleaning solution having a cloud point of 75 ° C. or higher in a temperature range of 65 ° C. to 75 ° C., the detergent and alkali components dissolved in the cleaning solution do not precipitate, so Residual organic substances are suppressed, and high adhesion of the black matrix resin to the surface of the glass plate G can be realized.

上記のように、洗浄剤の希釈液にKOH等のアルカリ成分を曇点75℃以上になる濃度で添加した洗浄液は、洗浄液によるガラス板Gのエッチング性が従来の洗浄剤の希釈液よりも向上し、ガラス片、塵を含む異物のみならず、荷重を受けた状態でガラス板Gの表面に付着した粘着異物をガラス板Gの表面から剥離させて除去する効果が得られるようになる。また、曇点を有する洗浄液を、曇点以下の温度で使用することにより、洗浄剤等に基づく有機物の残渣が抑制され、ガラス板Gの表面へのブラックマトリックス樹脂の高い密着性を実現することができる。   As described above, the cleaning solution obtained by adding an alkali component such as KOH to the cleaning solution diluent at a concentration at which the cloud point becomes 75 ° C. or higher improves the etching property of the glass plate G by the cleaning solution as compared with the conventional cleaning solution diluent. In addition, not only foreign substances including glass pieces and dust but also adhesive foreign substances adhering to the surface of the glass sheet G under a load can be removed from the surface of the glass sheet G by peeling. In addition, by using a cleaning solution having a cloud point at a temperature lower than the cloud point, organic residues due to the cleaning agent and the like are suppressed, and high adhesion of the black matrix resin to the surface of the glass plate G is realized. Can be.

加えて、洗浄剤の希釈液にKOH等のアルカリ成分を添加することで得られる洗浄液の表面張力は、従来の希釈液よりも低くなる。すなわち、界面活性剤を含む洗浄剤の希釈液にKOH等のアルカリ成分を添加することで、KOH等のアルカリ成分を単独で純水に添加する場合ではほとんど得られない、洗浄剤の表面張力を低下させる効果を得ることができる。これにより、洗浄剤が粘着異物とガラス板との間に従来よりも浸透しやすくなり、洗浄剤によるガラス板Gのエッチング性の向上との相乗効果により、粘着異物、ガラス片、塵を含むガラス板Gに付着した異物がより効果的に除去される。   In addition, the surface tension of the cleaning liquid obtained by adding an alkali component such as KOH to the diluting liquid of the cleaning agent is lower than that of the conventional diluting liquid. That is, by adding an alkali component such as KOH to a diluent of a detergent containing a surfactant, the surface tension of the detergent is hardly obtained when an alkali component such as KOH is solely added to pure water. The effect of lowering can be obtained. This makes it easier for the detergent to penetrate between the adhesive foreign matter and the glass plate than before, and the synergistic effect with the improvement of the etching property of the glass plate G by the detergent causes the glass containing the adhesive foreign matter, glass fragments, and dust. Foreign matter adhering to the plate G is more effectively removed.

さらに、洗浄剤の希釈液に添加するKOH等のアルカリ成分の濃度を高くしていくことで、数週間から数ヶ月以上の長期に亘って保管されたガラス板の表面に付着した粘着異物の除去効果が高くなる。例えば、洗浄剤を純水で1.5wt%〜5wt%に希釈した希釈液に、KOH等のアルカリ成分を曇点が75℃以上になる濃度で添加した洗浄液を用いることで、時間の経過により変質して硬化または粘着性を増した再生紙由来の粘着異物を、上記の相乗効果により除去する効果がより顕著になる。   Furthermore, by increasing the concentration of an alkaline component such as KOH added to the diluent of the cleaning agent, it is possible to remove sticky foreign substances adhering to the surface of the glass plate stored for a long period of several weeks to several months or more. The effect is higher. For example, by using a cleaning solution in which an alkali component such as KOH is added to a diluting solution obtained by diluting a cleaning agent to 1.5 wt% to 5 wt% with pure water at a concentration at which the cloud point becomes 75 ° C. or higher, the time elapses. The effect of removing the adhesive foreign matter derived from recycled paper, which has been modified and hardened or increased in adhesiveness, by the above synergistic effect becomes more remarkable.

なお、洗浄液のKOH等のアルカリ成分の濃度はより高い方が粘着異物の除去効果は向上するが、洗浄液に由来する有機物の残渣を抑制する観点、及び、洗浄装置への負担を低減し、洗浄液成分の結晶化を防止し、洗浄液の取り扱いを容易にする観点から、洗浄剤のKOH等のアルカリ成分の濃度は曇点が75℃以上であることが好ましい。アルカリ成分の濃度を曇点75℃以上にすることにより、洗浄液の効果が得られやすい60℃〜75℃の温度範囲において洗浄液を使用しても、洗浄液に溶解した界面活性剤が析出することがないため、界面活性剤に基づく有機物の残渣を抑制することができる。   In addition, the higher the concentration of the alkaline component such as KOH in the cleaning liquid, the higher the effect of removing the sticky foreign substances. However, the viewpoint of suppressing the residue of the organic substance derived from the cleaning liquid and the burden on the cleaning apparatus are reduced, and the cleaning liquid is reduced. From the viewpoint of preventing crystallization of the components and facilitating the handling of the cleaning solution, the concentration of the alkali component such as KOH of the cleaning agent is preferably at a cloud point of 75 ° C. or higher. By making the concentration of the alkali component a cloud point of 75 ° C. or higher, even when the cleaning solution is used in a temperature range of 60 ° C. to 75 ° C. where the effect of the cleaning solution is easily obtained, the surfactant dissolved in the cleaning solution may precipitate. Therefore, the residue of organic substances based on the surfactant can be suppressed.

また、枚葉洗浄およびバッチ洗浄の少なくとも一方で、洗浄液の温度を例えば60℃から75℃、より好ましくは65℃から75℃の範囲で用いることで、粘着異物を軟化、膨張させることができる。この粘着異物の軟化、膨張効果と、上記希釈液へのKOH等のアルカリ成分の添加の効果との相乗効果により、ガラス板Gの表裏面に付着して荷重を受けた粘着異物や時間経過により変質した粘着異物を、より効果的に除去することができる。また、洗浄液の温度が75℃以下で使用することにより、洗浄液が相分離して、洗浄剤、アルカリ成分の一部成分が析出するのを防ぐことができるため、洗浄剤、アルカリ成分の残渣量が低減されて、ガラス板Gの表面へのブラックマトリックス樹脂の高い密着性を実現することができる。 In addition, by using the temperature of the cleaning liquid in a range of, for example, 60 ° C. to 75 ° C., and more preferably 65 ° C. to 75 ° C., at least one of single-wafer cleaning and batch cleaning, the adhesive foreign matter can be softened and expanded. Due to the synergistic effect of the softening and expanding effects of the adhesive foreign matter and the effect of adding an alkali component such as KOH to the diluting solution, the adhesive foreign matter attached to the front and back surfaces of the glass plate G and receiving the load and the passage of time. The altered adhesive foreign matter can be more effectively removed. Further, by using the temperature of the cleaning liquid at 75 ° C. or lower, it is possible to prevent the cleaning liquid from being phase-separated and to precipitate a part of the cleaning agent and the alkali component. Is reduced, and high adhesion of the black matrix resin to the surface of the glass plate G can be realized.

以上説明したように、本実施形態の洗浄液、及び、洗浄液を使用したガラス板Gの洗浄方法によれば、ガラス板Gに付着した種々の異物の除去効果が向上するだけでなく、荷重を受けてガラス板Gの表面に付着した再生紙由来の粘着異物や、時間の経過により変質した粘着異物を、ガラス板Gの表裏面から効果的に除去することができる。また、洗浄後の洗浄剤の残渣が抑制されるため、ガラス板Gの表面へのブラックマトリックス樹脂の高い密着性を実現することができる。   As described above, according to the cleaning liquid of the present embodiment and the method for cleaning the glass plate G using the cleaning liquid, not only the effect of removing various foreign substances attached to the glass plate G is improved, but also the load As a result, the adhesive foreign substances originating from recycled paper and the adhesive foreign substances that have changed in quality over time can be effectively removed from the front and back surfaces of the glass sheet G. Further, since the residue of the cleaning agent after the cleaning is suppressed, high adhesion of the black matrix resin to the surface of the glass plate G can be realized.

(実施例1)
洗浄剤の濃度、及び、アルカリ成分の濃度を変化させて、洗浄液の曇点を測定した。洗浄剤として横浜油脂工業株式会社製の無機アルカリ性洗浄剤であるセミクリーンKG、アルカリ成分としてKOHを用いて、セミクリーンKGを純水で希釈して希釈液を得て、希釈液にKOHを添加して洗浄液を得た。図5は、洗浄剤の濃度、及び、アルカリ成分の濃度によって変化する曇点を示した図である。洗浄剤のKGの濃度、及び、アルカリ成分であるKOHの濃度を変化させることにより、同図に示すように、洗浄液の曇点は変化し、洗浄剤の濃度とアルカリ成分の濃度とによって曇点が一義的に定まることが確認された。一義的に定まった曇点以下となる温度範囲において洗浄液を使用することにより、洗浄液の相分離を防ぎ、洗浄液に由来する有機物の残渣を抑制することができる。
(Example 1)
The cloud point of the cleaning solution was measured while changing the concentration of the cleaning agent and the concentration of the alkali component. Semi-clean KG, an inorganic alkaline cleaner manufactured by Yokohama Yushi Kogyo Co., Ltd., and KOH as an alkaline component, dilute semi-clean KG with pure water to obtain a diluent, and add KOH to the diluent. Thus, a washing solution was obtained. FIG. 5 is a diagram showing the cloud point that changes depending on the concentration of the cleaning agent and the concentration of the alkali component. By changing the concentration of KG of the cleaning agent and the concentration of KOH as the alkaline component, the cloud point of the cleaning solution changes as shown in the figure, and the cloud point varies depending on the concentration of the cleaning agent and the concentration of the alkaline component. Was determined to be uniquely determined. By using the cleaning liquid in a temperature range below the uniquely determined cloud point, phase separation of the cleaning liquid can be prevented, and residues of organic substances derived from the cleaning liquid can be suppressed.

(実施例2)
以下、本発明を適用した実施例と、本発明を適用しない比較例とを説明する。
本実施例では、ガラス板の洗浄後に、ガラス板の表面に付着した付着物の数を計測し、洗浄力の比較を行った。以下、具体的な手順について説明する。
(Example 2)
Hereinafter, Examples to which the present invention is applied and Comparative Examples to which the present invention is not applied will be described.
In this example, after cleaning the glass plate, the number of deposits adhered to the surface of the glass plate was measured, and the cleaning power was compared. Hereinafter, a specific procedure will be described.

パーティクル除去評価に使用した試料
(1)洗浄剤:横浜油脂工業株式会社製の無機アルカリ性洗浄剤であるセミクリーンKG
(2)アルカリ成分:KOH
(3)ガラス板:無アルカリガラス
(4)付着物:研磨用CeO 粒径1μm〜4μm
すべての実施例と比較例において、セミクリーンKGを純水で希釈して希釈液を得て、希釈液にKOHを添加して洗浄液を得た。
粘着異物除去評価に使用した試料
(1)洗浄剤:横浜油脂工業株式会社製の無機アルカリ性洗浄剤であるセミクリーンKG
(2)アルカリ成分:KOH
(3)ガラス板:無アルカリガラス
(4)付着物:PVC手袋
すべての実施例と比較例において、セミクリーンKGを純水で希釈して希釈液を得て、希釈液にKOHを添加して洗浄液を得た。
Sample used for particle removal evaluation (1) Cleaning agent: Semi-clean KG, an inorganic alkaline cleaning agent manufactured by Yokohama Yushi Kogyo Co., Ltd.
(2) Alkaline component: KOH
(3) Glass plate: non-alkali glass (4) Deposits: CeO for polishing 2 Particle size 1 μm to 4 μm
In all Examples and Comparative Examples, semi-clean KG was diluted with pure water to obtain a diluent, and KOH was added to the diluent to obtain a cleaning liquid.
Sample used for evaluation of removal of sticky foreign matter (1) Cleaning agent: Semi-clean KG, an inorganic alkaline cleaning agent manufactured by Yokohama Yushi Kogyo Co., Ltd.
(2) Alkaline component: KOH
(3) Glass plate: non-alkali glass (4) Deposits: PVC glove In all Examples and Comparative Examples, semi-clean KG was diluted with pure water to obtain a diluent, and KOH was added to the diluent. A washing solution was obtained.

まず、1つのサンプルは研磨用CeOを純水に分散させスラリー状にして、このスラリー状のCeOを清浄なガラス板に擦り付ける。スラリー状のCeOが擦り付けられたガラス板Gの表面を純水で洗浄し、過剰なCeOを落とす。次に、図2に示すガラス板Gが合紙Pと交互に積層され、合紙Pがガラス板Gに押し付けられたことによりガラス板Gに付着させたものであり、パーティクルに相当する。また、もう1つのサンプルは清浄なガラス板にクリーンルームで使用されるPVC手袋跡を付け、クリーンオーブンにて170℃、60秒焼成したものであり、粘着異物に相当する。以下の表1、表2に示す洗浄剤の濃度、アルカリ成分(KOH)の濃度、洗浄液の温度、曇点がそれぞれ異なる洗浄液を用いて、ガラス板Gをスポンジ洗浄した。スポンジ洗浄後、ガラス板Gを純水で洗浄した後、乾燥させた。そして、洗浄、乾燥が終了したガラス板Gの表面に付着したパーティクルの数を光学式自動検査器により計測した。また、パーティクル評価サンプルの洗浄後ガラス板G表面に残っている有機物量をGC−MSにて計測した。粘着異物サンプルは集光機を用いて目視確認した。ここで、表1、表2に示すパーティクルは、CeOやガラス片、塵、汚れなどの付着物であり、有機物は、合紙P成分や洗剤残渣の付着物であり、粘着異物は、PVCの付着物である。 First, in one sample, CeO 2 for polishing is dispersed in pure water to form a slurry, and the slurry-like CeO 2 is rubbed on a clean glass plate. The surface of the glass plate G on which the slurry-like CeO 2 is rubbed is washed with pure water to remove excess CeO 2 . Next, the glass plates G shown in FIG. 2 are alternately stacked with the interleaf paper P, and are attached to the glass plate G by pressing the interleaf paper P against the glass plate G, and correspond to particles. The other sample was obtained by attaching a mark of PVC gloves used in a clean room to a clean glass plate and baking it at 170 ° C. for 60 seconds in a clean oven, which corresponds to an adhesive foreign substance. The glass plate G was sponge-cleaned using cleaning solutions having different cleaning agent concentrations, alkali component (KOH) concentrations, cleaning solution temperatures, and cloud points shown in Tables 1 and 2 below. After the sponge washing, the glass plate G was washed with pure water and then dried. Then, the number of particles adhering to the surface of the glass plate G having been washed and dried was measured by an optical automatic inspection device. In addition, the amount of organic substances remaining on the surface of the glass plate G after cleaning of the particle evaluation sample was measured by GC-MS. The sticky foreign substance sample was visually confirmed using a light collector. Here, the particles shown in Tables 1 and 2 are deposits such as CeO 2 and glass pieces, dust, and dirt. The organic substances are deposits of interleaf P components and detergent residues. Is a deposit.

Figure 0006670104
Figure 0006670104

Figure 0006670104
Figure 0006670104

ただし、
パーティクル除去状態 ○=98%以上、△=95%以上98%未満、×=95%未満。
有機物残渣状態(1cm当たりの残渣) ◎=0.05ng以上0.10ng未満、○=0.10ng以上0.25ng未満、△=0.25ng以上0.50ng未満、×=0.50ng以上。
粘着異物除去状態 ○=残渣なし、△=わずかな残渣、×=残渣多数。
However,
Particle removal state ○ = 98% or more, Δ = 95% or more and less than 98%, × = less than 95%.
Organic residue state (residue per 1 cm 2 ) == 0.05 ng or more and less than 0.10 ng, == 0.10 ng or more and less than 0.25 ng, △ = 0.25 ng or more and less than 0.50 ng, and X = 0.50 ng or more.
Adhesive foreign matter removed state ○ = no residue, △ = slight residue, × = many residues.

表1の実施例1〜6に示す洗浄液は、洗浄剤の濃度が1.5wt%から4wt%の範囲で、曇点が75℃以上であり、ガラス板に付着した粘着異物を軟化、膨張させることができる洗浄液の温度60℃から75℃の範囲で洗浄液を使用することにより、洗浄液の相分離を防ぐことができ、洗浄液由来の残渣を抑制することができたため、有機物残渣を0.50ng未満とすることができた。また、パーティクルの除去状態についても、95%以上となった。表1の実施例1〜6に示す洗浄液は、パーティクルを除去しつつ、有機物残渣を抑制できることを確認できた。以上のことから、洗浄剤の濃度が1.5wt%から4wt%であり、KOHのアルカリ成分を含み、曇点が75℃以上となる洗浄液は、有機物残渣を抑制できるため、ブラックマトリックス樹脂が表面に形成されるカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄に適することが確認できた。   The cleaning liquids shown in Examples 1 to 6 in Table 1 have a cloud point of 75 ° C. or more when the concentration of the cleaning agent is in a range of 1.5 wt% to 4 wt%, and soften and expand the adhesive foreign matter attached to the glass plate. By using the cleaning liquid at a temperature of 60 ° C. to 75 ° C., the phase separation of the cleaning liquid can be prevented, and the residue derived from the cleaning liquid can be suppressed, so that the organic residue is less than 0.50 ng. And could be. In addition, the removal state of the particles was 95% or more. It was confirmed that the cleaning liquids shown in Examples 1 to 6 in Table 1 can suppress organic residues while removing particles. From the above, the cleaning liquid having a cleaning agent concentration of 1.5 wt% to 4 wt%, containing an alkaline component of KOH, and having a cloud point of 75 ° C. or higher can suppress organic residues, so that the black matrix resin has It was confirmed that the composition was suitable for cleaning the color filter glass substrate formed in the above.

表2の比較例1、2に示す洗浄液は、洗浄剤あるいはKOHの濃度が低い為、洗浄力が弱く、パーティクルあるいは粘着異物を十分に除去できないことが確認できた。
表2の比較例3〜6に示す洗浄液は、曇点が75℃未満であり、ガラス板に付着した粘着異物を軟化、膨張させることができる洗浄液の温度60℃から75℃の範囲で洗浄液を使用すると、洗浄液の相分離が発生する。洗浄後でも有機物残渣が0.50ng以上となることが確認できた。このため、曇点が75℃未満となる洗浄液は、有機物残渣によりブラックマトリックス樹脂の密着性を低下させるため、ブラックマトリックス樹脂が表面に形成されるカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄に適さないことが確認できた。
It was confirmed that the cleaning liquids shown in Comparative Examples 1 and 2 in Table 2 had a low cleaning power due to the low concentration of the cleaning agent or KOH, and were not able to sufficiently remove particles or sticky foreign substances.
The cleaning liquids shown in Comparative Examples 3 to 6 in Table 2 have a cloud point of less than 75 ° C, and are used at a temperature of 60 ° C to 75 ° C of the cleaning liquid capable of softening and expanding the adhesive foreign matter attached to the glass plate. When used, phase separation of the cleaning liquid occurs. It was confirmed that the organic residue was 0.50 ng or more even after washing. For this reason, it was confirmed that the cleaning liquid having a cloud point of less than 75 ° C. is not suitable for cleaning a glass substrate for a color filter on which a black matrix resin is formed on the surface, because the adhesion of the black matrix resin is reduced due to an organic residue. did it.

以上、本発明の好ましい実施形態を説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されることはない。本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、構成の付加、省略、置換、およびその他の変更が可能である。例えば、上述の実施形態では、ガラス板としてFPD用のガラス板を用いて説明したが、本発明はFPD用のガラス板に限定されない。   The preferred embodiment of the present invention has been described above, but the present invention is not limited to the above embodiment. Additions, omissions, substitutions, and other modifications of the configuration are possible without departing from the spirit of the present invention. For example, in the above-described embodiment, the description has been made using the glass plate for FPD as the glass plate, but the present invention is not limited to the glass plate for FPD.

10 枚葉洗浄システム
12 ブラシユニット
12a,12b 洗浄ブラシ列
14 スポンジユニット
14a,14b 洗浄スポンジ列
16 シャワーユニット
18 洗浄液タンク
18a,18b,18c,18d ノズル
20 純水タンク
20a,20b ノズル
100 パレット
G ガラス板
P 合紙
10 Single-wafer cleaning system 12 Brush units 12a, 12b Cleaning brush array 14 Sponge units 14a, 14b Cleaning sponge array 16 Shower unit 18 Cleaning liquid tanks 18a, 18b, 18c, 18d Nozzle 20 Pure water tanks 20a, 20b Nozzle 100 Pallet G Glass plate P slip paper

Claims (5)

界面活性剤が含まれる無機アルカリ系の洗浄剤からなる洗浄剤を水で希釈した前記洗浄剤の濃度が3重量%から4重量%である希釈液に、KOH、NaOH、EDTA−4Na、EDTA−4K、Na、Kから選択される1種以上のアルカリ成分の濃度が0.2重量%から0.5重量である前記アルカリ成分を添加してなる
ことを特徴とするカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄液であって、該洗浄液の曇点が75℃以上である、前記洗浄液
A cleaning agent comprising a detergent inorganic alkaline containing the surfactant diluent is a 4 wt% concentration of the cleaning agent diluted with water to 3 wt%, KOH, NaOH, EDTA- 4Na, EDTA- 4K, Na 4 P 2 O 7 , K 4 P 2 concentration of one or more alkali component selected from O 7 is formed by adding the alkaline component is from 0.5% to 0.2% by weight,
A cleaning solution for a color filter glass substrate , wherein the cleaning solution has a cloud point of 75 ° C. or higher .
洗浄剤の濃度とアルカリ成分の濃度とによって定まる曇点を有する洗浄液であって、
前記洗浄剤は、界面活性剤が含まれる無機アルカリ系の洗浄剤からなり、前記洗浄剤の濃度は、3重量%から4重量%であり、
前記アルカリ成分は、KOH、NaOH、EDTA−4Na、EDTA−4K、Na、Kから選択される1種以上のアルカリ成分からなり、
前記曇点は、75℃以上である、
ことを特徴とするブラックマトリックス樹脂が表面に形成されるカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄液。
A cleaning solution having a cloud point determined by the concentration of the detergent and the concentration of the alkali component,
The detergent comprises an inorganic alkaline detergent containing a surfactant, and the concentration of the detergent is 3% by weight to 4% by weight ;
The alkali component comprises at least one alkali component selected from KOH, NaOH, EDTA-4Na, EDTA-4K, Na 4 P 2 O 7 , and K 4 P 2 O 7 ,
The cloud point is 75 ° C. or higher;
A cleaning solution for a glass substrate for a color filter, wherein a black matrix resin is formed on a surface of the substrate.
前記アルカリ成分は、KOHであり、
前記KOHの添加は、曇点が75℃以上となる範囲である、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載のカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄液。
The alkali component is KOH,
The addition of the KOH is such that the cloud point is at least 75 ° C.
The cleaning solution for a glass substrate for a color filter according to claim 1 or 2, wherein:
請求項1から3のいずれか一項に記載のカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄液を用いて、前記ガラス基板に付着した異物を除去する洗浄工程を有するガラス基板の洗浄方法であって、
前記洗浄工程の前に、前記ガラス基板は、間に再生紙が挟み込まれて積層され、
前記異物は、前記再生紙に含まれる物質に由来する粘着異物である、
ことを特徴とするカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄方法。
A method for cleaning a glass substrate, comprising: a cleaning step of removing foreign substances adhered to the glass substrate using the cleaning solution for a glass substrate for a color filter according to any one of claims 1 to 3,
Before the washing step, the glass substrate is laminated with recycled paper sandwiched therebetween,
The foreign matter is an adhesive foreign matter derived from a substance contained in the recycled paper,
A method for cleaning a glass substrate for a color filter, comprising:
前記洗浄工程において、前記洗浄液の温度を60℃よりも高くする、
ことを特徴とする請求項4に記載のカラーフィルタ用ガラス基板の洗浄方法。
In the cleaning step, the temperature of the cleaning liquid is higher than 60 ° C.
The method for cleaning a glass substrate for a color filter according to claim 4, wherein:
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