JP6664011B2 - サンプル中のポリヌクレオチド配列のための存在量パラメータの決定 - Google Patents
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Description
本願は、2016年10月24日に出願された米国仮出願番号62/412,221および2017年3月31日に出願された国際出願番号PCT/US2017/025585の恩典を主張し、各々その内容の全体を参照により組み入れる。
固体状態のナノ孔を用いてサンプルから特定のポリヌクレオチド配列の部分存在量を決定する方法および正確かつ精密な定量のための数学的方法。
サンプル中に存在する成分の相対存在量を決定することによる液体サンプルの特徴づけは、多くの科学分野および用途で価値のある情報を提供し得る。例えば、循環する無細胞DNA内の点変異の相対存在量は、患者における癌の診断または癌の進行のモニタリングのために使用され得る。別の例として、例えば種子から得られる、遺伝子組み換え生物(GMO)のトランスジェニック配列の、ゲノムDNA内の非GMO参照配列に対する部分量の決定は、規制および経済的理由から重要である。
は、
によって決定され、式中、パラメータρは偽陽性検出誤差、偽陰性検出誤差またはその両方を補償することができる比の推定値であり、パラメータαは、標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数差を補償するために使用することができる。いくつかの態様において、パラメータαは、参照分析物捕捉率を標的分析物捕捉率で割った比の推定値である。
は、
によって決定され、式中、パラメータρは偽陽性検出誤差、偽陰性検出誤差またはその両方を補償することができる比の推定値であり、パラメータαは、標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数の相違を補償するために使用することができる。いくつかの態様において、パラメータαは、参照分析物捕捉率を標的分析物捕捉率で割った比の推定値である。
である。いくつかの態様において、パラメータQtargは、標的対照サンプルが使用される場合、該対照サンプルにおいて観察される第1のイベントシグネチャーの部分量であり、標的対照サンプルが使用されない場合、Qtarg = 1である。いくつかの態様において、パラメータQrefは、参照対照サンプルが使用される場合、該参照対照サンプルにおいて観察される第1のイベントシグネチャーの部分量であり、参照対照サンプルが使用されない場合、Qref = 0である。いくつかの態様において、パラメータQX:Yは、混合対照サンプルにおいて観察される第1のイベントシグネチャーの部分量であり、ここで、
は、混合対照サンプルが使用される場合、該対照サンプルにおける参照分析物(Y)に対する標的分析物(X)の既知の比であり、混合対照サンプルが使用されない場合、α= 1である。いくつかの態様において、パラメータQmixは、混合未知サンプルにおいて観察される第1のイベントシグネチャーの部分量である。
標的分析物の偽陽性検出についての補正項を提供する。
は、
によって決定され、式中、パラメータρは偽陽性検出誤差、偽陰性検出誤差またはその両方を補償することができる比の推定値であり、パラメータαは、標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数差を補償するために使用することができる。いくつかの態様において、パラメータαは、参照分析物捕捉率を標的分析物捕捉率で割った比の推定値である。
は、
によって決定され、式中、パラメータρは偽陽性検出誤差、偽陰性検出誤差またはその両方を補償することができる比の推定値であり、パラメータαは、標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数差を補償するために使用することができる。いくつかの態様において、パラメータαは、参照分析物捕捉率を標的分析物捕捉率で割った比の推定値である。
[本発明1001]
ナノ孔デバイスにおいてナノ孔をまたぐ電圧を印加し、
参照分析物に対する標的分析物の既知の相対存在量を含む対照サンプル、および
標的分析物および参照分析物を含む混合未知サンプルであって、該サンプルにおける標的分析物の相対存在量を決定すべきである、混合未知サンプル
の各々について別々に、検出可能な電気的シグネチャーを生成し、ナノ孔を通じた荷電分析物の移動を誘導する工程、
各サンプルについてナノ孔を通じた標的分析物または参照分析物の移動によって生成される複数のイベントシグネチャーを生成する工程、
複数のイベントシグネチャーから標的分析物に関連する複数の第1のイベントシグネチャーおよび参照分析物に関連する複数の第2のイベントシグネチャーを特定し、各サンプルについて第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量を決定する工程、ならびに
対照サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量を用いて混合未知サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量を調整して、検出された相対存在量における誤差を補正し、それによって混合未知サンプルにおける標的分析物の真の相対存在量の改善された推定値を決定する工程
を含む、ナノ孔デバイスを用いて混合未知サンプルにおける標的分析物の真の相対存在量の改善された推定値を決定する方法。
[本発明1002]
対照サンプルが、標的分析物を含むが参照分析物を含まない標的対照サンプルである、本発明1001の方法。
[本発明1003]
対照サンプルが、参照分析物を含むが標的分析物を含まない参照対照サンプルである、本発明1001の方法。
[本発明1004]
標的分析物を含むが参照分析物を含まない標的対照サンプルについて、ナノ孔センサを通じた荷電分析物の移動を誘導するようナノ孔デバイスに電圧を印加する工程をさらに含む、本発明1003の方法。
[本発明1005]
未知サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量の調整が、標的対照サンプルにおけるおよび参照対照サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量を使用して、検出された相対存在量における前記誤差を補正することを含む、本発明1001〜1004のいずれかの方法。
[本発明1006]
前記誤差が、標的分析物の偽陽性または偽陰性検出誤差を含む、本発明1001〜1005のいずれかの方法。
[本発明1007]
標的分析物および参照分析物を含む混合対照サンプルについて、ナノ孔センサを通じた荷電分析物の移動を誘導するようナノ孔デバイスに電圧を印加する工程をさらに含み、
標的分析物および参照分析物の相対存在量が既知である、
本発明1001〜1006のいずれかの方法。
[本発明1008]
未知サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量の調整が、標的対照サンプル、参照対照サンプル、および混合対照サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量を使用して、検出された相対存在量における前記誤差を補正することを含む、本発明1007の方法。
[本発明1009]
前記誤差が、偽陽性標的分析物検出誤差、偽陰性標的分析物検出誤差、標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数差、またはそれらの任意の組み合わせを含む、本発明1001〜1008のいずれかの方法。
[本発明1010]
対照サンプルが、標的分析物および参照分析物を含む混合対照サンプルであり、標的分析物および参照分析物の相対存在量が既知である、本発明1001の方法。
[本発明1011]
前記誤差が、標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数差を含む、本発明1010の方法。
[本発明1012]
混合対照サンプルが、
混合未知サンプルに対して1.2倍、1.5倍、2倍、5倍、または10倍より大きく相違しない、参照分析物に対する標的分析物の相対存在量
を含む、本発明1007〜1011のいずれかの方法。
[本発明1013]
真の相対存在量の推定値が、混合未知サンプルにおける参照分析物に対する標的分析物の真の比の推定値である、本発明1001〜1012のいずれかの方法。
[本発明1014]
真の比の推定値
が、
によって決定され、式中、パラメータρは、偽陽性検出誤差、偽陰性検出誤差、またはその両方を補償することができる比の推定値であり、パラメータαは、標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数差を補償するために使用することができる、本発明1013の方法。
[本発明1015]
αが、参照分析物捕捉率を標的分析物捕捉率で割った比の推定値である、本発明1014の方法。
[本発明1016]
真の相対存在量の推定値が、混合未知サンプルにおける参照分析物および標的分析物の集団における標的分析物の真の部分量の推定値である、本発明1001〜1012のいずれかの方法。
[本発明1017]
真の部分量の推定値
が、
によって決定され、式中、パラメータρは、偽陽性検出誤差、偽陰性検出誤差、またはその両方を補償することができる比の推定値であり、パラメータαは、標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数差を補償するために使用することができる、本発明1016の方法。
[本発明1018]
αが、参照分析物捕捉率を標的分析物捕捉率で割った比の推定値である、本発明1017の方法。
[本発明1019]
である、本発明1014または1017の方法。
[本発明1020]
標的対照サンプルが使用される場合、Q targ が、標的対照サンプルにおいて観察される第1のイベントシグネチャーの部分量であり、または標的対照サンプルが使用されない場合、Q targ = 1である、本発明1019の方法。
[本発明1021]
参照対照サンプルが使用される場合、Q ref が、参照対照サンプルにおいて観察される第1のイベントシグネチャーの部分量であり、または参照対照サンプルが使用されない場合、Q ref = 0である、本発明1019または1020の方法。
[本発明1022]
Q X:Y が、混合対照サンプルにおいて観察される第1のイベントシグネチャーの部分量であり、ここで、混合対照サンプルが使用される場合、
は、混合対照サンプルにおける参照分析物(Y)に対する標的分析物(X)の既知の比であり、または混合対照サンプルが使用されない場合、α= 1である、本発明1019〜1021のいずれかの方法。
[本発明1023]
Q mix が、混合未知サンプルにおいて観察される第1のイベントシグネチャーの部分量である、本発明1019〜1022のいずれかの方法。
[本発明1024]
未知または対照サンプルが、核酸増幅によって調製される、前記本発明のいずれかの方法。
[本発明1025]
未知または対照サンプルが、核酸増幅によって調製されない、本発明1001〜1023のいずれかの方法。
[本発明1026]
サンプルが、参照および標的分子から実質的になるよう精製される、前記本発明のいずれかの方法。
[本発明1027]
サンプルが精製されない、本発明1001〜1025のいずれかの方法。
[本発明1028]
混合未知サンプルにおける参照分析物の量または濃度が既知である、前記本発明のいずれかの方法。
[本発明1029]
混合未知サンプルにおける参照分析物に対する標的分析物の真の相対存在量の推定値ならびに混合未知サンプルにおける参照分析物の既知の量または濃度を用いて、混合未知サンプルにおける標的分析物の絶対量または濃度の推定値を決定する工程をさらに含む、本発明1028の方法。
[本発明1030]
標的分析物に関連する複数の第1イベントシグネチャーおよび参照分析物に関連する複数の第2イベントシグネチャーが、定義されたしきい値にしたがい特定される、前記本発明のいずれかの方法。
[本発明1031]
Q検定、サポートベクターマシン、または期待値最大化アルゴリズムを用いて、参照分析物および/または標的分析物の検出の正確度を向上させるようにしきい値を最適化する工程をさらに含む、本発明1030の方法。
[本発明1032]
サポートベクターマシンが、既知量の標的分析物および参照分析物を含む対照サンプルからの電気的シグネチャーを用いて訓練される、本発明1031の方法。
[本発明1033]
定義されたしきい値が、イベント持続時間、最大δG、δG中央値、平均δG、イベントシグネチャーの標準偏差、50 Hzより下のイベントの雑音電力の平均もしくは中央値、イベントシグネチャーの固有のパターン、イベントの面積、またはそれらの任意の組み合わせからなる群より選択されるイベントシグネチャーの1つまたは複数の特徴の関数である、本発明1030の方法。
[本発明1034]
検出された相対存在量における誤差を補正するための混合未知サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量の調整が、Q検定、サポートベクターマシン、または期待値最大化アルゴリズムを用いて行われる、前記本発明のいずれかの方法。
[本発明1035]
標的分析物および参照分析物が各々、ポリヌクレオチドを含む、前記本発明のいずれかの方法。
[本発明1036]
標的分析物のポリヌクレオチドおよび参照分析物のポリヌクレオチドが、異なる長さである、本発明1035の方法。
[本発明1037]
前記長さが、少なくとも10ヌクレオチド、少なくとも20ヌクレオチド、少なくとも50ヌクレオチド、少なくとも100ヌクレオチド、少なくとも150ヌクレオチド、または少なくとも200ヌクレオチド異なる、本発明1036の方法。
[本発明1038]
対照または未知サンプルを、第1のペイロードに結合された第1のプローブと接触させる工程をさらに含み、
第1のプローブが、第1の分析物に特異的に結合するよう構成されている、
前記本発明のいずれかの方法。
[本発明1039]
対照または未知サンプルを、第2のペイロードに結合された第2のプローブと接触させる工程をさらに含み、
第2のプローブが、第2の分析物に特異的に結合するよう構成されている、
前記本発明のいずれかの方法。
[本発明1040]
標的分析物が、遺伝子組み換え生物と相関する、前記本発明のいずれかの方法。
[本発明1041]
標的分析物が、患者における癌の存在または非存在に関連するマーカーを含む、前記本発明のいずれかの方法。
[本発明1042]
参照分析物を含み標的分析物を含まない第1の対照サンプル、
標的分析物を含み参照分析物を含まない第2の対照サンプル、
既知の相対存在量の標的分析物および参照分析物を含む第3の対照サンプル、ならびに
未知の相対存在量の標的分析物および参照分析物を含む実験サンプル
の各々をナノ孔システムにおいて別々に試験する工程;
各サンプルについて、参照分析物に関連する複数の第1のイベントシグネチャーおよび標的分析物に関連する複数の第2のイベントシグネチャーを検出する工程;ならびに
実験サンプル由来の複数の第1および第2のイベントシグネチャーの相対存在量を、第1の対照サンプル、第2の対照サンプル、および第3の対照サンプルの各々由来の複数の第1および第2のイベントシグネチャーの相対存在量と比較し、実験サンプルにおける参照分析物および標的分析物の真の相対存在量の推定値を決定する工程
を含む、サンプルにおける標的分析物の相対量を決定する方法。
[本発明1043]
イベントシグネチャーが、ナノ孔を通じた参照分析物の移動により誘導される電気信号を含む、本発明1042の方法。
[本発明1044]
標的分析物および参照分析物が各々、ポリヌクレオチドを含む、本発明1042の方法。
[本発明1045]
参照分析物および標的分析物が、長さにより区別される、本発明1044の方法。
[本発明1046]
参照分析物および標的分析物が各々、ナノ孔デバイスにおける参照分析物と標的分析物の間の区別を容易にするペイロードを含む配列特異的なプローブに結合される、本発明1042の方法。
[本発明1047]
相対存在量が、サンプルにおける標的分析物および参照分析物の総集団と比較した標的分析物の部分量である、本発明1042の方法。
[本発明1048]
複数の参照分析物および複数の標的分析物を含む未知サンプルを提供する工程、
第1のチャンバおよび第2のチャンバの間に配置されたナノ孔を含むナノ孔デバイスの第1のチャンバに未知サンプルを投入する工程、
ナノ孔をまたぐ電圧を印加し、参照分析物および標的分析物を、ナノ孔を通じて第1のチャンバから第2のチャンバに移動させる工程、
ナノ孔を通じた参照分析物の移動に各々が関連する多数の第1の電気信号を検出する工程、
ナノ孔を通じた標的分析物の移動に各々が関連する多数の第2の電気信号を検出する工程、ならびに
電気信号の相対存在量に関連する少なくとも1つの誤差を考慮した参照値を用いて、検出された多数の第1の電気信号および検出された多数の第2の電気信号の相対存在量を、未知サンプルにおける標的分析物の真の相対存在量の推定値に変換する工程
を含む、未知サンプルにおける標的分析物の相対存在量を決定する方法。
[本発明1049]
既知量の標的分析物および参照分析物を含む混合対照サンプルから決定される第1の電気信号の部分存在量から、参照値が決定される、本発明1048の方法。
[本発明1050]
既知量の標的分析物および参照分析物を含む混合対照サンプルから決定される第1の電気信号の部分存在量から、参照値が決定される、本発明1048の方法。
[本発明1051]
既知量の標的分析物および参照分析物を含む混合対照サンプルから決定される第1の電気信号の部分存在量から、参照値が決定される、本発明1048の方法。
[本発明1052]
混合対照サンプル、標的対照サンプル、または参照対照サンプルが、未知サンプルから第1および第2の電気信号を検出する際のナノ孔デバイスにおける条件と実質的に同一の条件下のナノ孔デバイスにおいて試験される、本発明1049〜1051のいずれかの方法。
[本発明1053]
ナノ孔デバイスが、該デバイスの内部空間を第1のチャンバおよび第2のチャンバに分ける膜を含み、膜がナノ孔を含み、第1のチャンバおよび第2のチャンバがナノ孔を通じて流体連通しており、前記デバイスが、ナノ孔をまたぐ電圧を印加するための電極を各チャンバに含む、本発明1048〜1052のいずれかの方法。
[本発明1054]
電極が、ナノ孔を通る電流をモニタリングするよう構成される、本発明1053の方法。
[本発明1055]
電極が、電源に接続される、本発明1053または1054の方法。
(図2A)図2Aは、727 bp DNAが、1M LiCl中、100 mVの下で、25 nm径固体ナノ孔を通過する際の典型的なイベントを示す。ベント面積が影付き表示されている。
(図2B)図2Bは、dsDNA長の増加にともない、イベント深度が維持されつつイベント持続時間が増加することを示す。
(図2C)図2Cは、示される各長さのdsDNAについて記録されたすべてのイベントの面積のlog10の分布のプロットである。
(図3A)図3Aは、1型分析物(四角)由来のイベントと2型分析物(丸)由来のイベントの間に設定されたしきい値の例を示す。
(図3B)図3Bは、1型分析物(四角)由来のイベントと2型分析物(丸)由来のイベントの間の直線状しきい値の正確度を向上させる入力特徴量からより高次元空間への変換の結果の例を示す。
(図4A)図4Aは、イベント面積にしたがう参照分析物サンプル、標的分析物サンプルおよび混合サンプル由来の全イベントの確率ヒストグラムを示す。
(図4B)図4Bは、参照分析物のみ(Qref)、標的分析物のみ(Qtarg)ならびに標的分析物および参照分析物の混合サンプル(Qmix)からの面積しきい値を下回るイベントの割合のグラフを示す。
(図4C)図4Cは、部分量パラメータρ(q)が、あるq値で視覚的にどのように見えるかを示す。q = 5pA*msのしきい値(垂直の破線)は、0.05の偽陽性(すなわち、Qref = 0.05)および0.1の偽陰性(すなわち、Qtarg = 0.9)に相当する。
(図5)図5Aは、標的遺伝子の真の相対存在量(GMO(%))に対する標的遺伝子の相対存在量の推定値(GMO(%)
の決定の結果を示す。比較のために、ゼロ誤差線(勾配 = 1)の上下10%の誤差マージンが示されている。図5Bは、2つの単独対照および6つの既知混合物を用いたサンプルにおける遺伝子操作生物の真の相対存在量の推定値の決定の結果を示す。予測される標的存在量の百分率の値が、真の標的存在量の百分率に対してプロットされている。比較のために、ゼロ誤差線(勾配 = 1)の上下10%の誤差マージンが示されている。
(図6)図6は、イベントの面積にしたがい標的分析物を参照分析物から区別するための一定範囲のしきい値における標的分析物存在量(GMO(%))の推定の結果を示す。
(図7)図7は、標的分析物由来のイベントシグネチャーと参照分析物由来のイベントシグネチャーを区別するための最適なパラメータを用いた訓練されたサポートベクターマシンからの試験データセットにおける正確度の予測を示す。
(図8)図8は、単独対照として同じ孔で連続して試験された2つの分子タイプ(プローブ/ペイロードに結合された94 bp標的dsDNAおよびプローブ/ペイロードに結合された74 bp参照dsDNA)についてのイベントプロットを示す。
(図9A)図9Aは、重ね合わされた100%標的分析物対照サンプル(塗りつぶした丸)および100%参照分析物対照サンプル(白抜きの四角)についての平均δG 対 持続時間の代表的なイベントプロットを示す。標的分析物は、3分枝PEGに連結されたG12D結合プローブ(G12D-3bPEGと呼ばれる)を有する89bp DNAである。参照分析物は、8アームPEGに連結された野生型(c.35G)結合プローブ(WT-8armPEGと呼ばれる)を有する89bp DNAである。ナノ孔を通過する標的分析物(q1 = 1 msec、q2 = 0.4 nSおよびq3 = 0.65 nS)からのイベントシグネチャーを特定するためのしきい値は、標的タグ付けボックス(破線)を形成する。
(図9B)図9Bは、図9Aからのプロットを示し、標的分析物および参照分析物を含む未知サンプルA(三角)およびサンプルB(星)からのデータが、同プロットで重ね合わされている。
(図10)図10は、重ね合わされた100%標的分析物対照サンプル(塗りつぶした丸)および100%参照分析物対照サンプル(白抜きの四角)についての平均δG 対 持続時間の代表的なイベントプロットを示す。サポートベクターマシンにより特定された、標的分析物を参照分析物から区別するための決定境界(すなわち、しきい値)もプロットされている。
(図11)図11は、最大δG 対 持続時間の全イベント散布図にプロットされた50%標的/50%参照混合物サンプルからのイベントを示す。標的ドメインボックスは、プローブに結合された変異体標的に関連するイベントを囲んでいる。
(図12)図12は、標的(変異体)および参照(野生型)集団の特定のための、図11に示される50%標的/50%参照混合物サンプルからのデータへの3ガウス混合モデルを用いたガウス混合期待値最大化アルゴリズム(EMGM)の適用の結果を示す。
(図13)図13は、偽陽性率を示すための、参照のみ対照サンプルからのデータへの3ガウス混合モデルを用いたEMGMの適用の結果を示す。
(図14)図14は、未知サンプルにおける変異体(標的)分子の相対存在量を特定するための、混合未知サンプルからのデータへの3ガウス混合モデルを用いたEMGMの適用の結果を示す。
本発明の様々な態様の詳細が、以下の説明の中で示されている。本発明のその他の特徴、目的および利点は、当該説明および図面からならびに特許請求の範囲から明らかとなるであろう。
本願を通じて、同書は本発明の栄養物(nutrients)、組成物および方法の様々な態様を参照している。記載される様々な態様は、様々な例示的な実施例を提供することを意図したものであり、二者択一されるべきものの説明として解釈されてはならない。そうではなく、本明細書で提供される様々な態様の説明は、範囲が重複し得ることに留意されるべきである。本明細書で議論される態様は、例示にすぎず、本発明の範囲を限定することを意図したものではない。
本明細書で提供される発明は、いくつかの態様において、サンプル中に存在する参照分析物に対する標的分析物の真の相対存在量(例えば、部分量または比)の推定値を決定する方法である。この方法は、サンプル中の標的分析物および参照分析物を検出しそれらを区別するためにナノ孔単分子カウンター(すなわち、ナノ孔デバイス)を利用する。
参照核酸分子に対する、核酸フラグメント内の標的配列の部分量の決定は、多くの用途を有する。
ナノ孔を、固体ケイ素ベースの基板において形成し、緩衝化電解質溶液中で孔をまたぐ電圧を印加することによって単分子実験を実施する。
いくつかの態様において、部分存在量フレームワークは、1)標的分析物および参照の両方のタイプについて、サンプル物質をナノ孔検知形式に変換する生化学的方法を設計および適用すること、2)個別のナノ孔実験プロトコルを適用すること、ならびに3)分析方法を適用し、参照分析物に対する標的の相対存在量についての推定量を得ること、を含む。この節では、このフレームワークの第1部に着目する。
標的配列を含む分子(「標的分析物」または「標的分子」と称される)および参照配列を含む分子(「参照分析物」または「参照分子」と称される)は、物理的に類似したものであり得、例えば、標的および参照分子は、類似の分子量またはポリヌクレオチド長を有するものであり得、単一ヌクレオチドでのみ相違するものであり得る。この生化学的方法の目標は、標的および参照分子が、ナノ孔を通じて移動する際にバイアスなしに別個の「標的」または「参照」イベントプロフィールを生成するようにすることである。このようにして、ナノ孔で測定された標的:参照混合物は、サンプルにおける標的:参照濃度比を示す。
部分存在量フレームワークは、1)標的分析物および参照の両方のタイプについて、サンプル物質をナノ孔検知形式に変換する生化学的方法を設計および適用すること、2)個別のナノ孔実験プロトコルを適用すること、ならびに3)数学的方法を適用し、参照分析物に対する標的(標的:参照)の相対存在量についての推定量を得ること、を含む。この節では、第2部の実験プロトコルに着目する。
部分存在量フレームワークは、1)標的分析物および参照の両方のタイプについて、サンプル物質をナノ孔検知形式に変換する生化学的方法を設計および適用すること、2)個別のナノ孔実験プロトコルを適用すること、ならびに3)数学的方法を適用し、参照分析物に対する標的(標的:参照)の相対存在量についての推定量を得ること、を含む。この節では、このフレームワークの第3部に着目する。
この数学的方法は、最初に、すべての記録されたイベントを1つまたは2つのカテゴリー、すなわち、標的陽性(参照陰性と同等)または標的陰性(参照陽性と同等)に分割するための基準を設計する。このイベント基準は、1つまたは複数のイベント特徴を使用する。いくつかの態様において、単一の特徴が、イベントを分割するための基準を作成するために使用される。この基準の下で、それぞれのイベントに、標的イベントまたは参照イベントのいずれかのタグが付与される。これらは、「標的タグ付き」または「参照タグ付き」と称される。
の推定値を提供する。
についての不確かさ推定またはエラーバーもまた、算出することができる。単独および混合対照についてならびに未知混合物についての各Qは、それに付随する標準誤差
を有し、式中Nは総イベント数である。等式(1)および(2)を適用することによって
の値の分布を生成するために、数的に、各Q分布からの無作為サンプルが複数回抽出され得る。次いで、
の分布は、不確かさ境界を算出し、
を導くために使用され得る。
いくつかの態様において、各イベントを標的分析物イベントまたは参照分析物イベントとタグ付けするための特徴セットおよび特徴基準を特定するために、機械学習が使用される。いくつかの態様において、イベントを標的または参照分析物に分類するために、サポートベクターマシンが使用される。
となるように
を最小化する。
と記述され得る。
の予測。提供される実施例では、これらの5工程の適用がより詳細に実証されている。等式(3)および(4)、カーネルタイプ、ソフトマージン定数およびカーネル関数が依存し得る任意のパラメータを含むハイパーパラメータグリッド検索が、この方法を適用する一部として解かれる。共通決定境界および共通較正比を含むSVMから生成されるアッセイベースの一般化モデルは、対照データセットを必要とすることなく、未知混合物に適用され得る。
いくつかの態様において、標的イベントおよび参照イベントをタグ付けするための基準を策定するためにクラスタリング法が適用される。各イベントは、標的イベントまたは参照イベントとタグ付けされる。いくつかの態様において、部分存在量は、標的および参照イベントの和に対する標的イベントの比率である。補償情報を提供する対照を使用することで、部分存在量の推定を改善する調整が可能となる。
提供されるナノ孔デバイスは、該デバイスの内部空間を2つのボリュームに分離する構造上に開口部を形成する少なくとも1つの孔、および該孔を通過する物体を(例えば、物体を示すパラメータの変化を検出することによって)特定するよう構成された少なくとも1つのセンサを含む。本明細書に記載される方法で使用されるナノ孔デバイスは、その全体が参照により組み入れられるPCT公報WO/2013/012881にも開示されている。
上で議論されたように、様々な局面において、ナノ孔デバイスはさらに、標的ポリヌクレオチドの検出を行う1つまたは複数のセンサを含む。
当業者は、本明細書に記載される発明にしたがう具体的態様の多くの等価物を認識し、または慣用的実験のみを用いて確認することができる。本発明の範囲は、上記の詳細な説明に限定されることは意図されておらず、そうではなく、本発明の範囲は、添付の特許請求の範囲に示されるものである。
この実施例は、トランスジェニック(GMO)標的配列が788 bp標的dsDNA(すなわち、標的分析物)内に存在し、参照配列(レクチンハウスキーピング遺伝子)が466 bp参照dsDNA(すなわち、参照分析物)内に存在するデータに対する部分存在量(FA)フレームワークの適用の結果を示す。サンプル中の導入遺伝子標的の部分量の定量は、以下のように、最初にイベント面積に基づく単一の特徴基準を用いたQ検定法を適用しかつ等式(1)および(2)を用い、次にSVM法を適用しかつ等式(3)及び(4)を用いることによって達成されている。
を導く等式(2)の適用を、ここでは対照混合物を用いて行う。等式(2)を、最初に既知混合物に適用した。QX:Yを得るために対照混合物サンプルを使用しなかったので、このモデルを検証するために標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数差についての補償を用いずに(すなわち、α = 1に設定して)推定値を得た。図5Aは、予測されるGMO(%)
対 真のGMO(%)のプロットおよび比較のためのゼロ誤差線の上下10%誤差マージン(勾配 = 1)を示す。これらの結果は、単一のナノ孔において連続して、100%標的および100%参照(単独)対照を試験し、その後に5つの既知混合物を試験することによって得た。表1は、図5Aにおいてプロットされた予測値およびエラーバー、ならびに各混合物で検出された総イベント数を報告している。
の傾向をq範囲にわたってプロットし、その平均値である平均
を既知の15%GMOと比較した。これは、本明細書に提供される分析フレームワークが、しきい値が最適化されていない場合でさえも、一定範囲のしきい値上で偽陽性および偽陰性誤差を補償し、サンプルにおける標的分析物の相対存在量の改善された推定値を提供することができることを示している。
を予測されるGMO%として報告した。等式(2)において、標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数差を補償するために、対照混合物を使用した。実験は、1:1、0.75:1または0.35:1の標的:参照対照混合物を使用した。
ここでは、実施例1で記録および分析したのと同じナノ孔データを、以前に示したSVM法(等式(3)〜(4))を用いて再分析した。
GMO%予測への適用に関して、この実施例は、2つの異なる配列特異的ペイロードを使用することによってナノ孔イベントシグネチャーの区別を達成することにより、標的および参照dsDNAについて2つの同等の長さを使用することができることを示す。
を予測されるGMO%として報告した。等式(2)において、標的分析物と参照分析物の間の捕捉率定数差を補償するために、1:1対照混合物を使用した。
本発明者らは、高度に断片化された、無細胞の循環DNAからヒトKRAS遺伝子の短い(58 bp、70 bpまたは89 bp)フラグメントを増幅するプライマーを設計した(参照、KRAS G12D SNP配列(CosmicID 521)のいずれかの側にアニールするようDNAプライマー配列を設計した)。血液血漿から得られた無細胞循環DNA画分からアンプリコンを生成し、野生型および変異KRAS対立遺伝子の両方を標的とし、PEGポリマーペイロードに共有結合されたオリゴヌクレオチドプローブを用いたハイブリダイゼーションに供した:KRAS wt対立遺伝子(c.35G)を標的化するプローブは40 kDa 8アームまたは80 kDa 2分枝PEGポリマーに連結し、G12D(c.35G->A)対立遺伝子を標的化するプローブは、40 kDa 3分枝PEGポリマーに連結した。
に基づく基準を示唆している。
である。
代表的なデータセットへの、ガウス混合期待値最大化アルゴリズム(EMGM)の適用を説明する。標的および参照は、実施例4に記載されるように、ペイロード結合dsDNAフラグメント内の変異KRASG12D SNPおよび野生型配列である。代表的なワークフローにおいて、1つのみの1:1対照混合物を測定し、かつ1つのみの100%参照対照を測定し、その後に未知混合物を測定した。
使用されている用語は、限定ではなく説明のための用語であること、および広義の局面での本発明の真の範囲および精神から逸脱することなく添付の特許請求の範囲内で変更がなされ得ることが理解されるべきである。
Claims (42)
- ナノ孔デバイスにおいてナノ孔をまたぐ電圧を印加し、標的分析物および参照分析物を含む混合未知サンプルであって、該サンプルにおける標的分析物の相対存在量を決定すべき、混合未知サンプルについて、または参照分析物に対する標的分析物の既知の相対存在量を含む対照サンプルおよび該混合未知サンプルの各々について別々に、ナノ孔を通じた荷電分析物の移動を誘導する工程、
該混合未知サンプル、または該対照サンプルおよび該混合未知サンプルの各々について、ナノ孔を通じた標的分析物または参照分析物の移動によって生成される電気的シグネチャーを含む、複数のイベントシグネチャーを生成する工程、
複数のイベントシグネチャーから標的分析物に関連する複数の第1のイベントシグネチャーおよび参照分析物に関連する複数の第2のイベントシグネチャーを特定し、該混合未知サンプル、または該対照サンプルおよび該混合未知サンプルの各々について、第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量を決定する工程、ならびに
該対照サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量を用いて、または該第1および第2のイベントシグネチャーの予め決定された相対存在量を用いて、該混合未知サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量を調整して、検出された相対存在量における誤差を補正し、それによって該混合未知サンプルにおける標的分析物の真の相対存在量の改善された推定値を決定する工程
を含む、ナノ孔デバイスを用いて混合未知サンプルにおける標的分析物の真の相対存在量の改善された推定値を決定する方法であって、
真の相対存在量の推定値が、該混合未知サンプルにおける参照分析物に対する標的分析物の真の比の推定値
、または該混合未知サンプル中の参照分析物および標的分析物の集団における標的分析物の真の部分量の推定値
であり、
真の比の推定値
が
により決定され、または真の部分量の推定値
が、
によって決定され、
パラメータρは、偽陽性検出誤差、偽陰性検出誤差、またはその両方を補償することができる比の推定値であり、パラメータαは、標的分析物捕捉率定数と参照分析物捕捉率定数の間の差を補償するために使用され得、
であり、かつ
Qtarg は、標的対照サンプルにおける観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量であり、Qref は、参照対照サンプルにおける観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量であり、QX:Y は、混合対照サンプルにおける観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量であり、
は、混合対照サンプルにおける参照分析物(Y)に対する標的分析物(X)の既知の比であり、および、Q mix は、該混合未知サンプルにおいて観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量である、
前記方法。 - 対照サンプルが、標的分析物を含むが参照分析物を含まない標的対照サンプルである、請求項1記載の方法。
- 対照サンプルが、参照分析物を含むが標的分析物を含まない参照対照サンプルである、請求項1記載の方法。
- 標的分析物を含むが参照分析物を含まない標的対照サンプルについて、ナノ孔センサを通じた荷電分析物の移動を誘導するようナノ孔デバイスに電圧を印加する工程をさらに含む、請求項3記載の方法。
- 未知サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量の調整が、標的対照サンプルにおけるおよび参照対照サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量を使用して、検出された相対存在量における前記誤差を補正することを含む、請求項1記載の方法。
- 前記誤差が、標的分析物の偽陽性または偽陰性検出誤差を含む、請求項1記載の方法。
- 標的分析物および参照分析物を含む混合対照サンプルについて、ナノ孔センサを通じた荷電分析物の移動を誘導するようナノ孔デバイスに電圧を印加する工程をさらに含み、
標的分析物および参照分析物の相対存在量が既知である、
請求項1記載の方法。 - 未知サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量の調整が、標的対照サンプル、参照対照サンプル、および混合対照サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量を使用して、検出された相対存在量における前記誤差を補正することを含む、請求項1記載の方法。
- 前記誤差が、偽陽性標的分析物検出誤差、偽陰性標的分析物検出誤差、標的分析物捕捉率定数と参照分析物捕捉率定数の間の差、またはそれらの任意の組み合わせを含む、請求項1記載の方法。
- 対照サンプルが、標的分析物および参照分析物を含む混合対照サンプルであり、標的分析物および参照分析物の相対存在量が既知である、請求項1記載の方法。
- 前記誤差が、標的分析物捕捉率定数と参照分析物捕捉率定数の間の差を含む、請求項1記載の方法。
- 混合対照サンプルが、
混合未知サンプルに対して1.2倍、1.5倍、2倍、5倍、または10倍より大きく相違しない、参照分析物に対する標的分析物の相対存在量
を含む、請求項7〜11のいずれか一項記載の方法。 - αが、参照分析物捕捉率定数を標的分析物捕捉率定数で割った比の推定値である、請求項1記載の方法。
- 未知または対照サンプルが、核酸増幅によって調製される、請求項1記載の方法。
- 未知または対照サンプルが、核酸増幅によって調製されない、請求項1記載の方法。
- サンプルが、参照および標的分子から実質的になるよう精製される、請求項1記載の方法。
- サンプルが精製されない、請求項1記載の方法。
- 混合未知サンプルにおける参照分析物の量または濃度が既知である、請求項1記載の方法。
- 混合未知サンプルにおける参照分析物に対する標的分析物の真の相対存在量の推定値ならびに混合未知サンプルにおける参照分析物の既知の量または濃度を用いて、混合未知サンプルにおける標的分析物の絶対量または濃度の推定値を決定する工程をさらに含む、請求項18記載の方法。
- 標的分析物に関連する複数の第1イベントシグネチャーおよび参照分析物に関連する複数の第2イベントシグネチャーが、定義されたしきい値にしたがい特定される、請求項1記載の方法。
- Q検定、サポートベクターマシン、または期待値最大化アルゴリズムを用いて、参照分析物および標的分析物の少なくとも1つの検出の正確度を向上させるようにしきい値を最適化する工程をさらに含む、請求項20記載の方法。
- サポートベクターマシンが、既知量の標的分析物および参照分析物を含む対照サンプルからの電気的シグネチャーを用いて訓練される、請求項21記載の方法。
- 定義されたしきい値が、イベント持続時間、最大δG、δG中央値、平均δG、イベントシグネチャーの標準偏差、50 Hzより下のイベントの雑音電力の平均もしくは中央値、イベントシグネチャーの固有のパターン、イベントの面積、またはそれらの任意の組み合わせからなる群より選択されるイベントシグネチャーの1つまたは複数の特徴の関数である、請求項20記載の方法。
- 検出された相対存在量における誤差を補正するための混合未知サンプルにおける第1および第2のイベントシグネチャーの検出された相対存在量の調整が、Q検定、サポートベクターマシン、または期待値最大化アルゴリズムを用いて行われる、請求項1記載の方法。
- 標的分析物および参照分析物が各々、ポリヌクレオチドを含む、請求項1記載の方法。
- 標的分析物のポリヌクレオチドおよび参照分析物のポリヌクレオチドが、異なる長さである、請求項25記載の方法。
- 前記長さが、少なくとも10ヌクレオチド、少なくとも20ヌクレオチド、少なくとも50ヌクレオチド、少なくとも100ヌクレオチド、少なくとも150ヌクレオチド、または少なくとも200ヌクレオチド異なる、請求項26記載の方法。
- 対照または未知サンプルを、第1のペイロードに結合された第1のプローブと接触させる工程をさらに含み、
第1のプローブが、第1の分析物に特異的に結合するよう構成されている、請求項1記載の方法。 - 対照または未知サンプルを、第2のペイロードに結合された第2のプローブと接触させる工程をさらに含み、
第2のプローブが、第2の分析物に特異的に結合するよう構成されている、請求項1記載の方法。 - 標的分析物が、遺伝子組み換え生物と相関する、請求項1記載の方法。
- 標的分析物が、患者における癌の存在または非存在に関連するマーカーを含む、請求項1記載の方法。
- 参照分析物を含み標的分析物を含まない第1の対照サンプル、
標的分析物を含み参照分析物を含まない第2の対照サンプル、
既知の相対存在量の標的分析物および参照分析物を含む第3の対照サンプル、および
未知の相対存在量の標的分析物および参照分析物を含む実験サンプル
の各々をナノ孔システムにおいて別々に試験する工程;
各サンプルについて、参照分析物に関連する電気的シグネチャーを含む複数の第1のイベントシグネチャーおよび標的分析物に関連する電気的シグネチャーを含む複数の第2のイベントシグネチャーを検出する工程であって、該電気的シグネチャーはナノ孔システムを通る物質の移動から生成される、工程;ならびに
実験サンプル由来の複数の第1および第2のイベントシグネチャーの相対存在量を、第1の対照サンプル、第2の対照サンプル、および第3の対照サンプルの各々由来の複数の第1および第2のイベントシグネチャーの相対存在量と比較し、実験サンプルにおける参照分析物および標的分析物の真の相対存在量の推定値を決定する工程
を含む、サンプルにおける標的分析物の相対量を決定する方法であって、
真の相対存在量の推定値が、実験サンプルにおける参照分析物に対する標的分析物の真の比の推定値
、またはサンプル中の標的分析物および参照分析物の総集団と比較した標的分析物の真の部分量の推定値
であり、
真の比の推定値
が
により決定され、または真の部分量の推定値
が、
によって決定され、
パラメータρは、偽陽性検出誤差、偽陰性検出誤差、またはその両方を補償することができる比の推定値であり、パラメータαは、標的分析物捕捉率定数と参照分析物捕捉率定数の間の差を補償するために使用され得、かつ
であり、かつ
Q targ は、標的対照サンプルにおける観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量であり、Q ref は、参照対照サンプルにおける観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量であり、Q X:Y は、混合対照サンプルにおける観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量であり、
は、混合対照サンプルにおける参照分析物(Y)に対する標的分析物(X)の既知の比であり、および、Q mix は、該混合未知サンプルにおいて観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量である、
前記方法。 - イベントシグネチャーが、ナノ孔を通じた参照分析物の移動により誘導される電気信号を含む、請求項32記載の方法。
- 標的分析物および参照分析物が各々、ポリヌクレオチドを含む、請求項32記載の方法。
- 参照分析物および標的分析物が、長さにより区別される、請求項34記載の方法。
- 参照分析物および標的分析物が各々、ナノ孔デバイスにおける参照分析物と標的分析物の間の区別を容易にするペイロードを含む配列特異的なプローブに結合される、請求項32記載の方法。
- 複数の参照分析物および複数の標的分析物を含む未知サンプルを提供する工程、
第1のチャンバおよび第2のチャンバの間に配置されたナノ孔を含むナノ孔デバイスの第1のチャンバに未知サンプルを投入する工程、
ナノ孔をまたぐ電圧を印加し、参照分析物および標的分析物を、ナノ孔を通じて第1のチャンバから第2のチャンバに移動させる工程、
ナノ孔を通じた参照分析物の移動に各々が関連する多数の第1のイベントシグネチャーを検出する工程、
ナノ孔を通じた標的分析物の移動に各々が関連する多数の第2のイベントシグネチャーを検出する工程、ならびに
イベントシグネチャーの相対存在量に関連する少なくとも1つの誤差を考慮した参照値を用いて、検出された多数の第1のイベントシグネチャーおよび検出された多数の第2のイベントシグネチャーの相対存在量を、未知サンプルにおける標的分析物の真の相対存在量の推定値に変換する工程
を含む、未知サンプルにおける標的分析物の相対存在量を決定する方法であって、
真の相対存在量の推定値が、未知サンプルにおける参照分析物に対する標的分析物の真の比の推定値
、または未知サンプル中の参照分析物および標的分析物の集団における標的分析物の真の部分量の推定値
であり、
真の比の推定値
が
により決定され、または真の部分量の推定値
が、
によって決定され、
パラメータρは、偽陽性検出誤差、偽陰性検出誤差、またはその両方を補償することができる比の推定値であり、パラメータαは、標的分析物捕捉率定数と参照分析物捕捉率定数の間の差を補償するために使用され得、かつ
であり、かつ
Q targ は、標的対照サンプルにおける観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量であり、Q ref は、参照対照サンプルにおける観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量であり、Q X:Y は、混合対照サンプルにおける観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量であり、
は、混合対照サンプルにおける参照分析物(Y)に対する標的分析物(X)の既知の比であり、および、Q mix は、該混合未知サンプルにおいて観察される該第1のイベントシグネチャーの部分量である、
前記方法。 - 既知量の標的分析物および参照分析物を含む混合対照サンプルから決定される第1のイベントシグネチャーの部分存在量から、参照値が決定される、請求項37記載の方法。
- 混合対照サンプル、標的対照サンプル、または参照対照サンプルが、未知サンプルから第1および第2のイベントシグネチャーを検出する際のナノ孔デバイスにおける条件と実質的に同一の条件下のナノ孔デバイスにおいて試験される、請求項38記載の方法。
- ナノ孔デバイスが、前記デバイスの内部空間を第1のチャンバおよび第2のチャンバに分ける膜を含み、膜がナノ孔を含み、第1のチャンバおよび第2のチャンバがナノ孔を通じて流体連通しており、該デバイスが、ナノ孔をまたぐ電圧を印加するための電極を各チャンバに含む、請求項37記載の方法。
- 電極が、ナノ孔を通る電流をモニタリングするよう構成される、請求項40記載の方法。
- 電極が、電源に接続される、請求項40または41記載の方法。
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