JP6646957B2 - Environmental test equipment - Google Patents

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Description

本発明は、環境試験装置に関する。   The present invention relates to an environmental test device.

本技術分野の背景技術として、下記特許文献1の要約書には、「低温試験時のインバータ制御に、急速冷却によって生じるアンダーシュート量および温度復帰時間を読み込み、その温度,時間によって圧縮機の回転速度を補正する。」と記載されている。   As the background art of this technical field, the abstract of Patent Document 1 below states, "Inverter control at the time of low-temperature test reads the amount of undershoot caused by rapid cooling and temperature recovery time, and the rotation of the compressor is determined by the temperature and time. Correct the speed. "

特開平6−288985号公報JP-A-6-288985

特許文献1では、予め設定される低温槽温度のアンダーシュート量と温度復帰時間によって圧縮機の回転速度を補正する冷熱衝撃試験装置が記載されている。しかし、特許文献1に記載された冷熱衝撃試験装置では、アンダーシュートの発生しない試験条件や、アンダーシュートの発生を最小限に抑えることができる制御方式と組み合わせた場合に、圧縮機の回転数を補正して冷凍機の冷凍能力を調整することができないという問題点があった。
この発明は上述した事情に鑑みてなされたものであり、アンダーシュートが発生しない条件下でも冷凍能力の過不足判定を可能とし、最適な冷凍能力を得ることができる環境試験装置を提供することにある。
Patent Document 1 describes a thermal shock test apparatus that corrects the rotational speed of a compressor based on a predetermined amount of undershoot of a low-temperature bath temperature and a temperature recovery time. However, in the thermal shock test apparatus described in Patent Document 1, when combined with a test condition in which undershoot does not occur or a control method capable of minimizing the occurrence of undershoot, the rotational speed of the compressor is reduced. There was a problem that the refrigeration capacity of the refrigerator could not be adjusted by correction.
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to provide an environmental test device that enables determination of excess or deficiency of refrigeration capacity even under conditions where undershoot does not occur, and that can obtain optimal refrigeration capacity. is there.

上記課題を解決するため本発明の環境試験装置は、被試験物を配置する試験槽と、前記試験槽と連通する低温槽と、前記低温槽内の気体を冷却して予冷状態とする冷凍機と、前記低温槽内の気体を加熱する低温槽側ヒータと、前記試験槽と連通する高温槽と、前記高温槽内の気体を加熱して予熱状態とする高温槽側ヒータと、前記冷凍機の運転条件を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記低温槽側ヒータの利用率を監視して、前記低温槽側ヒータの利用率が、予め設定されたしきい値を超えた場合であって、かつ、低温試験期間内に前記運転条件により冷凍能力が増加されていない場合は、現在の冷凍能力の裕度があると判定し、前記冷凍能力を低下させる制御を行う
また、上記課題を解決するため本発明の環境試験装置は、被試験物を配置する試験槽と、前記試験槽と連通する低温槽と、前記低温槽内の気体を冷却して予冷状態とする冷凍機と、前記低温槽内の気体を加熱する低温槽側ヒータと、前記試験槽と連通する高温槽と、前記高温槽内の気体を加熱して予熱状態とする高温槽側ヒータと、前記冷凍機の駆動を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、測定試験層温度と設定試験槽温度とを比較して、前記測定試験層温度が前記設定試験槽温度に対して所定の温度以上高い場合は、冷凍能力を増加させる制御を行って、冷凍能力増加済みフラグをONにし、低温試験が終了すると、前記低温槽側ヒータの利用率がしきい値を超えたか否かを判定し、当該利用率が前記しきい値を超えた場合であって、前記冷凍能力増加済みフラグがONの場合は、当該冷凍能力増加済みフラグをOFFにし、一方、前記冷凍能力増加済みフラグがONとして立てられていない場合には、前記冷凍能力を低下させる制御を行う。
In order to solve the above-mentioned problems, an environmental test apparatus according to the present invention includes a test tank in which a test object is arranged, a low-temperature tank communicating with the test tank, and a refrigerator that cools gas in the low-temperature tank to a pre-cooled state. A low-temperature tank-side heater for heating gas in the low-temperature tank; a high-temperature tank communicating with the test tank; a high-temperature tank-side heater for heating the gas in the high-temperature tank to a preheated state; A control unit for controlling the operating conditions of the low temperature tank side heater, the control unit monitors the utilization rate of the low temperature tank side heater, the utilization rate of the low temperature tank side heater exceeds a preset threshold value If the refrigeration capacity has not been increased due to the operating conditions during the low-temperature test period, it is determined that there is a margin of the current refrigeration capacity, and control for reducing the refrigeration capacity is performed .
Further, in order to solve the above problems, the environmental test apparatus of the present invention includes a test tank in which a test object is arranged, a low-temperature tank communicating with the test tank, and a gas in the low-temperature tank cooled to a pre-cooled state. A refrigerator, a low-temperature tank-side heater that heats gas in the low-temperature tank, a high-temperature tank that communicates with the test tank, a high-temperature tank-side heater that heats gas in the high-temperature tank to a preheated state, A control unit for controlling the driving of the refrigerator, wherein the control unit compares the measured test layer temperature with a set test tank temperature, and the measured test layer temperature is a predetermined value with respect to the set test tank temperature. If the temperature is higher than the temperature, control is performed to increase the refrigeration capacity, the refrigeration capacity increase completed flag is turned on, and when the low temperature test is completed, it is determined whether or not the utilization rate of the low temperature tank side heater has exceeded a threshold value. And when the utilization rate exceeds the threshold, When the refrigeration capacity increase flag is ON, the refrigeration capacity increase flag is turned OFF. On the other hand, when the refrigeration capacity increase flag is not set to ON, control is performed to decrease the refrigeration capacity. .

本発明の環境試験装置によれば、アンダーシュートが発生しない条件下でも冷凍能力の過不足判定を可能として最適な冷凍能力を得ることができる。
上記した以外の課題、構成および効果は、以下の実施の形態により明らかにされる。
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the environmental test apparatus of this invention, even if the undershoot does not generate | occur | produce, the excess / deficiency of refrigerating capacity can be determined and the optimal refrigerating capacity can be obtained.
Problems, configurations, and effects other than those described above will be clarified by the following embodiments.

本発明の第1実施形態の環境試験装置の模式図。FIG. 1 is a schematic view of an environmental test device according to a first embodiment of the present invention. 第1実施形態の環境試験装置のブロック図。FIG. 2 is a block diagram of the environmental test apparatus according to the first embodiment. 第1実施形態の環境試験装置のフローチャート。3 is a flowchart of the environmental test apparatus according to the first embodiment. 第1実施形態の環境試験装置のタイムチャート。3 is a time chart of the environmental test device of the first embodiment. 第1実施形態の環境試験装置で、複数サイクルを有する試験のタイムチャート。3 is a time chart of a test having a plurality of cycles in the environmental test device of the first embodiment. 第1実施形態の環境試験装置で、複数サイクルを有する試験のタイムチャート。3 is a time chart of a test having a plurality of cycles in the environmental test device of the first embodiment.

第1実施の形態First embodiment

(全体構成)
以下、図1に示す構成の模式図、図2に示すブロック図を参照し、本発明の第1実施形態による環境試験装置1の構成を説明する。
図1において、環境試験装置1は、被試験物70を配置する試験槽10と、前記試験槽10に通風口28,29を介して連通する低温槽20と、前記低温槽20内に設けられた冷凍機24と、低温槽送風部27と、前記試験槽10に通風口38,39を介して連通する高温槽30と、前記高温槽30内に設けられた高温槽側ヒータ36と、高温槽送風部37とを有する。
(overall structure)
Hereinafter, the configuration of the environmental test apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to the schematic diagram of the configuration shown in FIG. 1 and the block diagram shown in FIG.
In FIG. 1, an environmental test apparatus 1 is provided in a test tank 10 in which a device under test 70 is arranged, a low-temperature tank 20 communicating with the test tank 10 through ventilation ports 28 and 29, and the low-temperature tank 20. A high-temperature tank 30 communicating with the test tank 10 through ventilation holes 38 and 39; a high-temperature tank-side heater 36 provided in the high-temperature tank 30; And a tank blowing unit 37.

また、図2に示すように制御部40は、冷凍機24,低温槽送風部27,高温槽側ヒータ36,高温槽送風部37,および試験槽温度センサ12,低温槽温度センサ22,高温槽温度センサ32とそれぞれ接続されている。 Further, as shown in FIG. 2, the control unit 40 includes the refrigerator 24, the low-temperature tank blowing unit 27, the high-temperature tank side heater 36, the high-temperature tank blowing unit 37, and the test tank temperature sensor 12, the low-temperature tank temperature sensor 22, and the high-temperature tank Each is connected to the temperature sensor 32.

前記試験槽10は、前記試験槽10内の気体の温度を検出する試験槽温度センサ12を備える。試験槽温度センサ12は試験槽10内の気体(雰囲気)の温度データを検出して前記制御部40に出力する。
前記低温槽20は、低温槽温度センサ22を備える。低温槽温度センサ22は、前記低温槽20内の気体の温度を検出して、検出した気体の温度データを前記制御部40に出力する。
The test tank 10 includes a test tank temperature sensor 12 that detects a temperature of a gas in the test tank 10. The test tank temperature sensor 12 detects temperature data of gas (atmosphere) in the test tank 10 and outputs the data to the control unit 40.
The low-temperature tank 20 includes a low-temperature tank temperature sensor 22. The low-temperature tank temperature sensor 22 detects the temperature of the gas in the low-temperature tank 20 and outputs temperature data of the detected gas to the control unit 40.

前記低温槽20内には、前記冷凍機24とともに過熱源としての低温槽側ヒータ26が備えられている。冷凍機24は、低温槽側ヒータ26とともに、もしくは単独で起動して、運転状態および停止状態となるように交互に切替えられる。冷凍機24は低温槽側ヒータ26とともに、もしくは単独で起動して、運転状態および停止状態となるように交互に切替えられる。 In the low-temperature bath 20, a low-temperature bath-side heater 26 as an overheat source is provided together with the refrigerator 24. The refrigerator 24 is started up together with the low-temperature tank side heater 26 or independently, and is alternately switched so as to be in an operating state and a stopped state. The refrigerator 24 is started up together with the low-temperature tank side heater 26 or independently, and is alternately switched so as to be in an operation state and a stop state.

低温槽側ヒータ26は、冷凍機24の冷凍能力を補正して、低温槽20内の気体の温度を調整することにより、試験槽10の内部の測定温度が目標温度である低温試験温度(BL)に一致するように冷凍機24とともに調整が行なわれるように構成されている。
この第1実施形態の冷凍機24は、低温槽側ヒータ26とともに、もしくは単独で起動して、運転状態および停止状態となるように交互に切替えられる。そして、制御部40は、前記低温槽側ヒータの利用率に基づいて、前記運転モードを複数の運転モード間で切替える。
The low-temperature tank-side heater 26 corrects the refrigerating capacity of the refrigerator 24 and adjusts the temperature of the gas in the low-temperature tank 20 so that the measured temperature inside the test tank 10 is the low-temperature test temperature (BL). ) Is configured to be adjusted together with the refrigerator 24 so as to coincide with ()).
The refrigerator 24 of the first embodiment is started up together with the low-temperature tank side heater 26 or independently, and is alternately switched to an operating state and a stopped state. And the control part 40 switches the said operation mode among several operation modes based on the utilization rate of the said low temperature tank side heater.

この第1実施形態の冷凍機24は、3つの運転モードを有している。例えば、高負荷モード、通常モード、省エネ(低負荷)モードとして、それぞれ基準となる冷凍能力を異ならせている。運転モードは、制御部40の入力部41を用いて予め設定可能としている。
すなわち、前記制御部40によって冷凍機24は、駆動が制御されて、運転状態にて前記低温槽20内の気体を冷却して予冷に必要な温度である予冷温度TLとするとともに、低温試験が行われている状態では試験槽温度(A)が低温試験槽温度(BL)に保たれる。
The refrigerator 24 of the first embodiment has three operation modes. For example, the reference refrigeration capacity is different for each of the high load mode, the normal mode, and the energy saving (low load) mode. The operation mode can be set in advance using the input unit 41 of the control unit 40.
That is, the drive of the refrigerator 24 is controlled by the control unit 40 to cool the gas in the low-temperature tank 20 in the operating state to a pre-cooling temperature TL which is a temperature necessary for pre-cooling, and a low-temperature test is performed. In this state, the test chamber temperature (A) is kept at the low temperature test chamber temperature (BL).

前記低温槽送風部27は、低温槽側送風機52と、前記通風口28,29を開閉可能とする低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51とを備えている。この実施の形態の低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51は、圧縮空気や電動モータで作動するアクチュエータ54,55を有する。アクチュエータ54,55は、制御部40からの制御信号に応じて、前記低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51を開閉駆動する。 The low-temperature tank blower 27 includes a low-temperature tank-side blower 52, a low-temperature side opening / closing damper 50 that can open and close the ventilation ports 28 and 29, and a low-temperature side suction opening / closing damper 51. The low-temperature side opening / closing damper 50 and low-temperature side suction opening / closing damper 51 of this embodiment have actuators 54 and 55 that are operated by compressed air or an electric motor. The actuators 54 and 55 open / close the low-temperature side opening / closing damper 50 and the low-temperature side suction opening / closing damper 51 in response to a control signal from the control unit 40.

制御部40は、前記低温槽側送風機52を駆動している状態で、低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51を開いて、通風口28,29を介して試験槽10内に配置された被試験物70の周囲に予冷状態となった低温槽20内の気体を送りこむ。
さらに制御部40は、前記低温槽側送風機52を駆動している状態で、低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51を閉じることにより予冷状態における低温槽20内の気体の循環を行うことができる。
The control unit 40 opens the low-temperature side opening / closing damper 50 and the low-temperature side suction opening / closing damper 51 while driving the low-temperature tank side blower 52, and arranges them in the test tank 10 through the ventilation ports 28 and 29. The gas in the pre-cooled low-temperature tank 20 is sent around the tested object 70.
Further, the control unit 40 circulates the gas in the low-temperature tank 20 in the pre-cooled state by closing the low-temperature-side blowout opening / closing damper 50 and the low-temperature-side suction opening / closing damper 51 while driving the low-temperature side fan 52. be able to.

また、前記低温槽側送風機52の駆動制御と同期させて低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51を開閉させてもよい。例えば、低温槽側送風機52の駆動により低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51を開放し、かつ低温槽側送風機52の駆動を停止させることにより、低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51を閉じて、試験槽10と低温槽20との間の気体の流通を遮断するようにしてもよい。
この場合、前記低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51のアクチュエータ54,55は、機構および動作ともにさらに簡略化もしくは省略してもよい。
Further, the low-temperature side opening / closing damper 50 and the low-temperature side suction opening / closing damper 51 may be opened and closed in synchronization with the drive control of the low-temperature tank side blower 52. For example, the low-temperature side blower opening / closing damper 50 and the low-temperature side suction opening / closing damper 51 are opened by driving the low-temperature side fan 52, and the driving of the low-temperature side blower 52 is stopped, so that the low-temperature side opening / closing damper 50, low-temperature side The suction opening / closing damper 51 may be closed to shut off the gas flow between the test tank 10 and the low-temperature tank 20.
In this case, the actuators 54 and 55 of the low-temperature side opening / closing damper 50 and the low-temperature side suction opening / closing damper 51 may be further simplified or omitted in both mechanism and operation.

前記高温槽30内に設けられた高温槽側ヒータ36は、前記制御部40により制御されて運転状態および停止状態を交互に切替える。運転状態では、前記高温槽30内の気体を加熱して予熱状態とすることができる。 The high-temperature-bath-side heater 36 provided in the high-temperature tub 30 is controlled by the control unit 40 to alternately switch between an operating state and a stopped state. In the operation state, the gas in the high-temperature tank 30 can be heated to be in a preheating state.

前記高温槽送風部37は、高温槽側送風機62と、前記通風口38,39を開閉可能とする高温側吹出開閉ダンパ60,高温側吸込開閉ダンパ61と、圧縮空気や電動モータで作動するアクチュエータ64,65とを備える。 The high-temperature-chamber blowing unit 37 includes a high-temperature-chamber-side blower 62, a high-temperature-side blowout opening / closing damper 60 and a high-temperature-side suction opening / closing damper 61 that can open and close the ventilation ports 38 and 39, and an actuator operated by compressed air or an electric motor. 64, 65.

また、制御部40は、高温槽側送風機62を駆動している状態で、高温側吹出開閉ダンパ60,高温側吸込開閉ダンパ61を開いて、通風口38,39を介して試験槽10内に配置された被試験物70の周囲に予熱状態となった高温槽30内の気体を送りこむ。 Further, the control unit 40 opens the high-temperature side blowout opening / closing damper 60 and the high-temperature side suction opening / closing damper 61 while driving the high-temperature chamber side blower 62, and enters the test chamber 10 through the ventilation holes 38 and 39. The gas in the preheated high-temperature chamber 30 is sent around the placed test object 70.

さらに制御部40は、前記高温槽側送風機62を駆動している状態で、高温側吹出開閉ダンパ60,高温側吸込開閉ダンパ61を閉じることにより予熱状態における高温槽30内の気体の循環を行うことができる。 Further, the control section 40 circulates the gas in the high-temperature tank 30 in the preheated state by closing the high-temperature side opening / closing damper 60 and the high-temperature suction opening / closing damper 61 while the high-temperature tank side blower 62 is being driven. be able to.

そして、前記高温槽側送風機62の駆動制御と同期させて高温側吹出開閉ダンパ60,高温側吸込開閉ダンパ61を開閉させてもよい。例えば、高温槽側送風機62の駆動により高温側吹出開閉ダンパ60,高温側吸込開閉ダンパ61を開放し、かつ高温槽側送風機62の駆動を停止させることにより、高温側吹出開閉ダンパ60,高温側吸込開閉ダンパ61を閉じて、試験槽10と高温槽30との間の気体の流通を遮断するようにしてもよい。
この場合、前記高温側吹出開閉ダンパ60,高温側吸込開閉ダンパ61のアクチュエータ64,65は、機構および動作ともにさらに簡略化もしくは省略してもよい。
Then, the high-temperature side opening / closing damper 60 and the high-temperature side suction opening / closing damper 61 may be opened and closed in synchronization with the drive control of the high-temperature tank side blower 62. For example, the high-temperature side blower opening / closing damper 60 and the high-temperature side suction opening / closing damper 61 are opened by driving the high-temperature side fan 62, and the driving of the high-temperature side blower 62 is stopped. The suction opening / closing damper 61 may be closed to shut off the gas flow between the test tank 10 and the high-temperature tank 30.
In this case, the actuators 64 and 65 of the high-temperature side blowing opening / closing damper 60 and the high-temperature side suction opening / closing damper 61 may be further simplified or omitted in both mechanism and operation.

前記制御部40は、低温槽側送風機52および高温槽側送風機62の運転状態および停止状態を交互に切替える。これにより、前記試験槽温度センサ12,低温槽温度センサ22,高温槽温度センサ32で検出されたデータに基づいて、主に前記冷凍機24,低温槽側ヒータ26,低温槽送風部27を用いた予冷状態を利用する低温試験、および主に前記高温槽側ヒータ36,高温槽送風部37を用いた予熱状態を利用する高温試験を交互に行なうことができる。 The control unit 40 alternately switches the operation state and the stop state of the low-temperature tank-side blower 52 and the high-temperature tank-side blower 62. Thus, based on the data detected by the test tank temperature sensor 12, the low-temperature tank temperature sensor 22, and the high-temperature tank temperature sensor 32, the refrigerator 24, the low-temperature tank side heater 26, and the low-temperature tank blower 27 are mainly used. The low-temperature test using the pre-cooled state and the high-temperature test mainly using the pre-heated state mainly using the high-temperature tank side heater 36 and the high-temperature tank air blower 37 can be performed alternately.

(制御部40の構成)
図2に示す第1実施形態の制御部40は、入力部41と、演算部42と、タイマ部44と、記憶部46と、出力部48とを有していて、RAMに展開されたアプリケーションプログラムによって実現される機能を、ブロック図として示しているものである。
(Configuration of the control unit 40)
The control unit 40 according to the first embodiment illustrated in FIG. 2 includes an input unit 41, a calculation unit 42, a timer unit 44, a storage unit 46, and an output unit 48, and includes an application developed on the RAM. FIG. 2 is a block diagram showing functions realized by the program.

入力部41は、前記試験槽温度センサ12,低温槽温度センサ22および高温槽温度センサ32により検知された温度データが入力される。この他にも入力部41は、図示しないキーボード、あるいは通信装置等の外部入力装置を接続して、例えば試験状況や試験結果に関するデータ、高,低温試験繰返し回数、あるいは2ゾーンまたは3ゾーン試験の切替えや高,低温設定試験温度などの試験条件のデータが入力されるように構成してもよい。 The input unit 41 receives temperature data detected by the test tank temperature sensor 12, the low temperature tank temperature sensor 22, and the high temperature tank temperature sensor 32. In addition to this, the input unit 41 is connected to an external input device such as a keyboard or a communication device (not shown), for example, data on test status and test results, the number of repetitions of high and low temperature tests, or the two-zone or three-zone test. The configuration may be such that data of test conditions such as switching and high and low temperature setting test temperatures are input.

演算部42は、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、HDD(Hard Disk Drive)等、一般的なコンピュータとしてのハードウエアを備えており、HDDには、OS(Operating System)、アプリケーションプログラム、各種データ等が格納されている。OSおよびアプリケーションプログラムは、RAMに展開され、CPUによって実行され、タイマ部44および記憶部46とともに入力部41に入力されたデータに応じて演算処理を行う。 The calculation unit 42 includes hardware as a general computer such as a CPU (Central Processing Unit), a RAM (Random Access Memory), a ROM (Read Only Memory), and an HDD (Hard Disk Drive). , An OS (Operating System), application programs, various data, and the like. The OS and the application programs are loaded on the RAM, executed by the CPU, and perform arithmetic processing according to the data input to the input unit 41 together with the timer unit 44 and the storage unit 46.

この実施形態の演算部42は、設定試験槽温度と測定試験槽温度とを比較して、冷凍能力を増加または低下させる処理を行う。また、演算部42は冷凍機24の冷凍能力を増加させる制御を行った場合、冷凍能力増加済フラグを「ON」とするとともに、冷凍機24の冷凍能力を増加させる制御を行なわない場合、冷凍能力増加済フラグを「OFF」する処理を行う。これにより、演算部42は、冷凍能力を増加させる条件を優先させて、次サイクルの試験に今回のサイクルの試験での冷凍能力の調整を反映させるように構成されている。 The calculation unit 42 of this embodiment performs a process of comparing the set test tank temperature and the measured test tank temperature to increase or decrease the refrigerating capacity. When the control unit 42 performs control to increase the refrigerating capacity of the refrigerator 24, it sets the refrigerating capacity increased flag to “ON”, and when not performing control to increase the refrigerating capacity of the refrigerator 24, A process of turning off the capacity increase flag is performed. Thus, the arithmetic unit 42 is configured to prioritize the condition for increasing the refrigeration capacity and reflect the adjustment of the refrigeration capacity in the test of the current cycle in the test of the next cycle.

タイマ部44は、試験条件データに基づいて制御時間を計時、または所望の温度に到達してからの経過時間を計測する。この実施形態のタイマ部44は、低温試験の残り時間をカウントするように構成されている。 The timer unit 44 measures the control time based on the test condition data, or measures an elapsed time from when a desired temperature is reached. The timer unit 44 of this embodiment is configured to count the remaining time of the low temperature test.

記憶部46は、試験条件データを記憶し、あるいは一時的に、試験槽温度センサ12, 低温槽温度センサ22,高温槽温度センサ32により検出された温度データを記憶して、演算部42により読み書きされるメモリまたはバッファ(いずれも図示しない)を含む。   The storage unit 46 stores the test condition data or temporarily stores the temperature data detected by the test tank temperature sensor 12, the low-temperature tank temperature sensor 22, and the high-temperature tank temperature sensor 32, and reads and writes by the arithmetic unit 42. Memory or buffer (both not shown).

この第1実施形態の記憶部46には、低温槽側ヒータ26の利用率Rのしきい値A(例えば、A=約30%)が記憶されている。また、記憶部46には、測定試験槽温度と比較される設定試験槽温度が予め記憶されている。 In the storage section 46 of the first embodiment, a threshold value A (for example, A = about 30%) of the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 is stored. Further, the storage 46 stores in advance a set test tank temperature to be compared with the measured test tank temperature.

出力部48は、演算処理結果を制御部40に接続される前記冷凍機24,低温槽側ヒータ26,低温槽側送風機52,高温槽側ヒータ36,高温槽側送風機62にそれぞれ制御信号として出力する。そして、前記冷凍機24,低温槽側ヒータ26,低温槽側送風機52,高温槽側ヒータ36,高温槽側送風機62は、それぞれ制御信号に応じて駆動または駆動を停止させるように構成されている。 The output unit 48 outputs the result of the arithmetic processing as a control signal to the refrigerator 24, the low-temperature tank-side heater 26, the low-temperature tank-side blower 52, the high-temperature tank-side heater 36, and the high-temperature tank-side blower 62 connected to the control unit 40. I do. The refrigerator 24, the low-temperature tank-side heater 26, the low-temperature tank-side blower 52, the high-temperature tank-side heater 36, and the high-temperature tank-side blower 62 are each configured to be driven or stopped in accordance with a control signal. .

このように制御部40は、制御信号を出力することにより、低温槽送風部27,高温槽送風部37によって予冷状態となった低温槽20内の気体または、予熱状態となった高温槽30内の気体を、試験槽10内に配置された被試験物70の周囲に送り込み、急冷または急加熱する。制御部40は、高温試験および低温試験を一温度サイクルとして交互に繰り返す一温度サイクルを複数回、連続させることができる。 As described above, the control unit 40 outputs the control signal to thereby control the gas in the low-temperature tank 20 pre-cooled by the low-temperature tank blowing unit 27 and the high-temperature tank blowing unit 37 or the high-temperature tank 30 in the pre-heated state. Is sent around the DUT 70 placed in the test tank 10 and rapidly cooled or heated. The control unit 40 can continuously repeat one temperature cycle in which the high temperature test and the low temperature test are alternately repeated as one temperature cycle.

なお、この第1実施形態では、図2に示す制御部40の出力部48から出力された制御信号に応じて、アクチュエータ54,55,64,65の駆動を制御することにより、低温側吹出開閉ダンパ50,高温側吹出開閉ダンパ60、低温側吸込開閉ダンパ51,高温側吸込開閉ダンパ61を開閉させている。しかしながら、たとえば、低温槽送風部27,高温槽送風部37によって予冷状態となった低温槽20内の気体または、予熱状態となった高温槽30内の気体を、試験槽10内に配置された被試験物70の周囲に送り込んで、高温試験および低温試験を一温度サイクルとして繰り返すものを一温度サイクルとしでこの一温度サイクルを複数回、連続させて実施できる構成であればよく、特にこの第1実施形態の低温槽送風部27,高温槽送風部37の構成のようにアクチュエータ54,55,64,65を用いて開閉させるものでなくてもよい。 In the first embodiment, the low-temperature side opening and closing is controlled by controlling the driving of the actuators 54, 55, 64, and 65 in accordance with the control signal output from the output unit 48 of the control unit 40 shown in FIG. The damper 50, the high-temperature side opening / closing damper 60, the low-temperature side suction opening / closing damper 51, and the high-temperature side suction opening / closing damper 61 are opened and closed. However, for example, the gas in the low-temperature tank 20 that has been pre-cooled by the low-temperature tank blowing section 27 and the high-temperature tank blowing section 37 or the gas in the high-temperature tank 30 that has been preheated has been disposed in the test tank 10. What is necessary is to send around the DUT 70 and repeat the high-temperature test and the low-temperature test as one temperature cycle as one temperature cycle. The opening / closing using the actuators 54, 55, 64, and 65 as in the configuration of the low-temperature tank blowing section 27 and the high-temperature tank blowing section 37 in one embodiment is not necessary.

また、制御部40は、試験槽温度センサ12, 低温槽温度センサ22,高温槽温度センサ32により検出された温度データに基づいて、前記冷凍機24,低温槽側ヒータ26,低温槽側送風機52,高温槽側ヒータ36,高温槽側送風機62に出力部48から制御信号の出力を行なうものであれば、これらの制御は、専用のハードウェア(電子回路など)によって実現されることができ、ソフトウエアによって実現されることもできる。 The control unit 40 also controls the refrigerator 24, the low-temperature tank-side heater 26, the low-temperature tank-side blower 52 based on the temperature data detected by the test tank temperature sensor 12, the low-temperature tank temperature sensor 22, and the high-temperature tank temperature sensor 32. If the control unit outputs the control signal from the output unit 48 to the high temperature tank side heater 36 and the high temperature tank side blower 62, these controls can be realized by dedicated hardware (such as an electronic circuit). It can also be realized by software.

制御部40は、前回の低温試験終了後、今回の高温試験が開始される際に、低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51を閉じる。これにより、今回の低温試験と同一温度サイクル内の高温試験を行う際に、低温槽20と試験槽10との間の通風口28,29は閉じられて遮断された状態となる。したがって、冷凍機24の起動により、低温槽20内の気体を効率よく予冷することができる。 The control unit 40 closes the low-temperature side opening / closing damper 50 and the low-temperature side suction opening / closing damper 51 when the current high-temperature test starts after the previous low-temperature test ends. As a result, when performing the high-temperature test in the same temperature cycle as the current low-temperature test, the ventilation ports 28 and 29 between the low-temperature tank 20 and the test tank 10 are closed and shut off. Therefore, the gas in the low-temperature tank 20 can be efficiently precooled by starting the refrigerator 24.

そして、制御部40は、低温試験が実施されている状態では、試験槽10内が一定の設定低温試験温度(BL)に保たれるように、温度を前記冷凍機24および前記低温槽側ヒータ26を駆動している(図4参照)。
しかしながら、試験状態に対して冷凍機24の能力が過大な状態である場合、設定低温試験温度(BL)を下回り、試験槽温度(A)が仮想線で示すようなアンダーシュート(AL)しないように、制御部40は、低温槽側ヒータ26の出力(以下、利用率とも記す)を上げる制御を行う。このため、低温槽側ヒータ26の利用率Rの増大とともに消費電力も増大してしまう。
また、試験状態に対して冷凍機24の能力が不足している場合、試験槽10の温度を設定された低温試験温度(BL)まで下げることができない。このため、安定した低温試験温度(BL)を得るまで時間がかかり(時刻b〜時刻c1)、試験精度が低下するおそれがあった。
When the low-temperature test is being performed, the control unit 40 controls the temperature of the refrigerator 24 and the low-temperature tank side heater so that the inside of the test tank 10 is maintained at a constant set low-temperature test temperature (BL). 26 (see FIG. 4).
However, when the capacity of the refrigerator 24 is excessive with respect to the test state, the temperature falls below the set low temperature test temperature (BL) so that the test chamber temperature (A) does not undershoot (AL) as shown by a virtual line. In addition, the control unit 40 performs control to increase the output (hereinafter, also referred to as a utilization rate) of the low-temperature-bath-side heater 26. For this reason, the power consumption increases as the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 increases.
If the capacity of the refrigerator 24 is insufficient for the test state, the temperature of the test tank 10 cannot be lowered to the set low-temperature test temperature (BL). For this reason, it takes time until a stable low-temperature test temperature (BL) is obtained (time b to time c1), and there is a possibility that the test accuracy may decrease.

制御部40は、試験状態に対して冷凍機24の能力が過大な状態であると判断した場合は、低温槽側ヒータ26の利用率Rが上昇しないように、冷凍機24の冷凍能力を下げる必要がある。また、試験状態に対して冷凍機24の能力が不足していると判断した場合は、速やかに冷凍能力を上げて設定された低温試験温度(BL)に到達させることが好ましい。 If the control unit 40 determines that the capacity of the refrigerator 24 is excessively large with respect to the test state, the control unit 40 lowers the refrigerating capacity of the refrigerator 24 so that the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 does not increase. There is a need. Further, when it is determined that the capacity of the refrigerator 24 is insufficient for the test state, it is preferable to increase the refrigerating capacity promptly to reach the set low temperature test temperature (BL).

そこで、第1実施形態の環境試験装置1は、試験中の低温槽側ヒータ26の利用率Rを監視することにより、現在の冷凍能力の裕度を把握する。裕度が大きい場合は、冷凍能力が低下するように制御し、逆に裕度がないもしくは試験精度が悪化している場合には、冷凍能力が高くなる運転条件に変更する制御を行うことにより最適な冷凍能力および低温槽側ヒータ26の駆動を得るものである。 Therefore, the environmental test apparatus 1 according to the first embodiment monitors the utilization rate R of the low-temperature tank-side heater 26 during the test, thereby grasping the current margin of the refrigerating capacity. When the tolerance is large, control is performed so that the refrigeration capacity is reduced. Conversely, when there is no tolerance or the test accuracy is deteriorated, control is performed to change to the operating condition where the refrigeration capacity is increased. This is to obtain the optimum refrigeration capacity and drive of the low-temperature tank side heater 26.

このため、第1実施形態の環境試験装置1の制御部40は、運転条件を変更して冷凍機24の冷凍能力を高低することにより、冷凍能力の裕度に応じて最適な運転条件を選択できる。よって試験対象や周囲の条件に影響されることなく試験精度の維持と消費電力の低減を両立することができる。 For this reason, the control unit 40 of the environmental test apparatus 1 of the first embodiment changes the operating conditions to increase or decrease the refrigerating capacity of the refrigerator 24, thereby selecting the optimal operating conditions according to the refrigerating capacity margin. it can. Therefore, it is possible to maintain both the test accuracy and reduce the power consumption without being affected by the test object and surrounding conditions.

図3に示すフローチャートは、低温試験および高温試験を、一サイクルとして交互におこなう温度サイクル試験のうち、低温試験の処理順序を主に示すものである。
低温試験が開始されると、ステップS1では、制御部40にて低温試験残り時間があるか否かが判定される。低温試験残り時間がある場合(ステップS1でYES)は、次のステップS2に処理を進め、冷凍機24による冷凍能力が不足していないか否かを監視する。
ここで安定状態とは、試験槽温度が設定試験槽温度に対して上下に所定温度a以内となっている状態を示す。
The flowchart shown in FIG. 3 mainly shows the processing order of the low-temperature test among the temperature cycle tests in which the low-temperature test and the high-temperature test are alternately performed as one cycle.
When the low-temperature test is started, in step S1, the control unit 40 determines whether there is a low-temperature test remaining time. If there is a low-temperature test remaining time (YES in step S1), the process proceeds to the next step S2 to monitor whether the refrigerating capacity of the refrigerator 24 is insufficient.
Here, the stable state indicates a state in which the temperature of the test tank is within a predetermined temperature a above and below the set test tank temperature.

ステップS2では、制御部40にて試験槽温度が安定状態であるか否かが判定される。
ステップS2にて試験槽温度が安定状態であると判定された場合(ステップS2でYES)は、次のステップS3に処理を進め、安定状態でないと判定された場合(ステップS2でNO)、ステップS1に戻り処理を繰り返す。
In step S2, the control unit 40 determines whether or not the test tank temperature is in a stable state.
If it is determined in step S2 that the test tank temperature is in a stable state (YES in step S2), the process proceeds to the next step S3, and if it is determined that the temperature is not in a stable state (NO in step S2), the process proceeds to step S3. Returning to S1, the process is repeated.

ステップS3にて、試験槽温度センサ12で測定された測定試験槽温度と予め設定されている設定試験槽温度とが比較される。測定試験槽温度が設定試験槽温度に対して所定温度a(ここでは、+2℃)以上高ければ、測定試験槽温度が目標値よりも高く、冷凍機24による冷凍能力が不足している状態と判断して(ステップS3にてYES)、ステップS4に処理を進める。ステップS3において現時点での測定試験槽温度が予め設定される一定の設定試験槽温度に対して所定温度a未満のかい離である場合は、ステップS1に戻り低温試験が終了するまで処理を繰り返す。 In step S3, the measured test tank temperature measured by the test tank temperature sensor 12 is compared with a preset test tank temperature. If the measurement test tank temperature is higher than the set test tank temperature by a predetermined temperature a (here, + 2 ° C.) or more, the measurement test tank temperature is higher than the target value, and the refrigeration capacity of the refrigerator 24 is insufficient. A determination is made (YES in step S3), and the process proceeds to step S4. If it is determined in step S3 that the current measured test tank temperature is less than the predetermined temperature a with respect to the preset fixed test tank temperature, the process returns to step S1 and repeats the processing until the low temperature test is completed.

ステップS4では、制御部40が冷凍機24の冷凍能力を増加させる。そして、ステップS5にて制御部40は、前記冷凍能力増加済フラグをONとして立てる。冷凍能力増加済フラグをONとして立てることにより、冷凍能力を増加させる増加条件と冷凍能力を低下させる低下条件とが同時に満たされる場合に、制御部40は、増加条件を優先させることができる。 In step S4, the control unit 40 increases the refrigerating capacity of the refrigerator 24. Then, in step S5, the control unit 40 sets the refrigeration capacity increased flag to ON. By setting the refrigerating capacity increased flag to ON, if the increasing condition for increasing the refrigerating capacity and the decreasing condition for decreasing the refrigerating capacity are simultaneously satisfied, the control unit 40 can prioritize the increasing condition.

ステップS4にて、試験槽温度が安定状態であるにも拘らず裕度がないため、冷凍能力増加済フラグがONとして立てられると、ステップS1に戻り、低温試験が終了するまで制御部40は、処理を繰り返す。 In step S4, although the test tank temperature is in a stable state, there is no allowance. If the refrigeration capacity increased flag is set to ON, the process returns to step S1, and the control unit 40 returns to step S1 until the low temperature test ends. , And repeat the process.

このように制御部40は、試験中の冷凍能力の裕度が大きい場合は、冷凍能力が低下するように冷凍機24を制御する。第1実施形態の環境試験装置1では、一温度サイクル内の低温試験が終了する時点のみ冷凍能力を低下させるタイミングとしている(ステップS1)。制御部40は、低温試験残り時間がなくなり(ステップS1でNO)、低温試験が終了したと判断すると、ステップS6に処理を進める。 As described above, when the tolerance of the refrigeration capacity during the test is large, the control unit 40 controls the refrigerator 24 so that the refrigeration capacity decreases. In the environmental test apparatus 1 according to the first embodiment, the refrigeration capacity is reduced only at the time when the low-temperature test in one temperature cycle ends (step S1). When the low-temperature test remaining time runs out (NO in step S1) and determines that the low-temperature test has been completed, control unit 40 proceeds to step S6.

ステップS6では、低温槽側ヒータ26の利用率Rが予め設定されたしきい値A(ここでは、約30%)を超えたか否かが判定される。ここで、利用率Rは、冷凍機24の冷凍能力を低下させた場合でも必要な冷凍能力を確保できるように十分な裕度をもつ値が設定されている。このように十分な裕度をもつ値であれば、他の値であってもよい。たとえば省エネなどの運転モード、2ゾーン,3ゾーンごとに異なる値を採用してもよく、冷凍機24の冷凍能力あるいは機器構成によって最適値が異なる場合には適宜選択するようにしてもよい。 In step S6, it is determined whether or not the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 has exceeded a predetermined threshold value A (here, about 30%). Here, the utilization rate R is set to a value having a sufficient margin so that the required refrigerating capacity can be secured even when the refrigerating capacity of the refrigerator 24 is reduced. Other values may be used as long as they have a sufficient margin. For example, a different value may be adopted for each of the operation modes such as energy saving, two zones, and three zones. If the optimum value differs depending on the refrigerating capacity of the refrigerator 24 or the device configuration, it may be appropriately selected.

ステップS6〜ステップS10は、冷凍機24の冷凍能力に応じて冷凍能力を変更する処理が示されている。この際、低温槽側ヒータの利用率Rがしきい値Aを超えているか否かを判定することにより、冷凍機24と低温槽側ヒータ26とが同時に駆動される、いわゆる共焚きが生じて消費電力が浪費されていないかが監視される。 Steps S6 to S10 show processing for changing the refrigerating capacity according to the refrigerating capacity of the refrigerator 24. At this time, by determining whether or not the utilization rate R of the low-temperature tank-side heater exceeds the threshold value A, the refrigerator 24 and the low-temperature tank-side heater 26 are simultaneously driven, so-called co-heating occurs. It is monitored whether power consumption is wasted.

ステップS6にて、低温槽側ヒータ26の利用率Rが予め設定されたしきい値Aを超えた場合(ステップS6にてYES)、制御部40は、ステップS7に処理を進めて次回の温度サイクルにて、冷凍能力を変更するか否かが判定される。
ステップS7では、冷凍能力増加済フラグがONとして立てられている場合、制御部40は、ステップS8に処理を進めて、ステップS8にて前記冷凍能力増加済フラグをOFFとする。
If the utilization rate R of the low-temperature-bath-side heater 26 exceeds the preset threshold value A in step S6 (YES in step S6), the control unit 40 proceeds to step S7 and proceeds to step S7. In the cycle, it is determined whether to change the refrigeration capacity.
In step S7, if the refrigeration capacity increase flag is set to ON, the control unit 40 proceeds to step S8, and turns off the refrigeration capacity increase flag in step S8.

このようにステップS7にて、冷凍能力増加済フラグがONとして立てられていない場合、またはステップS6にて、低温槽側ヒータ26の利用率Rが予め設定されたしきい値A未満である場合(ステップS6にてNO)、ステップS8にて前記冷凍能力増加済フラグをOFFとする。この際、直ちに冷凍能力を変化させることはない。 As described above, when the refrigeration capacity increase flag is not set to ON in step S7, or when the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 is less than the preset threshold A in step S6. (NO in Step S6), the refrigeration capacity increase completed flag is turned off in Step S8. At this time, the refrigerating capacity is not immediately changed.

第1実施形態の制御部40は、低温槽側ヒータ26の利用率Rを監視することによりアンダーシュートの発生しない試験条件下でも、消費電力が増大(利用率Rが高い)して冷凍機24は冷凍能力が過大であるとして、現在の冷凍能力の裕度を把握する。裕度が大きい場合は、冷凍能力が低下するように制御し(ステップS9)、逆に裕度がないもしくは試験精度が悪化している場合には、冷凍能力が高くなる運転条件に変更する制御を行う(ステップS4)ことができる。 The control unit 40 of the first embodiment monitors the usage rate R of the low-temperature tank side heater 26 and increases the power consumption (the usage rate R is high) even under the test condition in which the undershoot does not occur. Determines that the refrigerating capacity is excessive and grasps the current margin of the refrigerating capacity. If the allowance is large, control is performed so that the refrigeration capacity is reduced (step S9). Conversely, if there is no allowance or the test accuracy is deteriorated, control is performed to change to an operating condition where the refrigeration capacity is increased. (Step S4).

ステップS7にて、制御部40は、冷凍能力増加済フラグがONとして立てられていると判定される(ステップS7にてYES)と、制御部40は、ステップS8に処理を進めて、ステップS8にて前記冷凍能力増加済フラグをOFFとして、低温試験を終了する。 In step S7, when it is determined that the refrigerating capacity increased flag is set to ON (YES in step S7), control unit 40 proceeds to step S8, and proceeds to step S8. Then, the refrigerating capacity increased flag is turned OFF to end the low temperature test.

また、ステップS7にて冷凍能力増加済フラグがONとして立てられていないと判定される(ステップS7にてNO)と、制御部40は、低温試験終了直前の低温槽側ヒータ26の利用率Rに十分な余裕があるとして、ステップS9に処理を進める。
ステップS9にて、制御部40は、冷凍機24の冷凍能力を低下させて、低温試験を終了するとともに、今回の温度サイクルの高温試験が実施される。そして高温試験の終了後に続いて次回の温度サイクルの低温試験が開始される。次回の温度サイクルの低温試験は、今回の低温試験により冷凍機24の冷凍能力の調整が行われている。したがって、より適切な運転条件、例えば、試験槽温度をアンダーシュートさせることがないように早期に目標とする低温試験温度(BL)に試験槽温度(A)が近づいて安定するように実施可能である。
If it is determined in step S7 that the refrigerating capacity increased flag has not been set to ON (NO in step S7), the control unit 40 determines that the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 immediately before the end of the low-temperature test. It is determined that there is sufficient margin, and the process proceeds to step S9.
In step S9, the control unit 40 lowers the refrigerating capacity of the refrigerator 24, terminates the low-temperature test, and performs the high-temperature test of the current temperature cycle. After the end of the high-temperature test, the low-temperature test of the next temperature cycle is started. In the low-temperature test of the next temperature cycle, the refrigerating capacity of the refrigerator 24 has been adjusted by this low-temperature test. Therefore, it is possible to carry out the test so that the test chamber temperature (A) approaches the target low temperature test temperature (BL) as early as possible so as not to undershoot the test chamber temperature under more appropriate operating conditions and stabilizes. is there.

上述してきたように、この実施形態の環境試験装置1は、低温試験中の低温槽側ヒータ26の利用率Rを監視することにより、現在の冷凍機24の冷凍能力の裕度を把握している。そして、制御部40は、裕度が大きい状態は、低温槽側ヒータ26の利用率R(消費電力が増大)が高い状態であることを前提として、冷凍機24の冷凍能力を低くするように運転条件を変更する。制御部40は、逆に裕度がないもしくは試験精度が悪化している場合であっても、ステップS4にて冷凍能力を増加させる条件を優先させてステップS5にて、冷凍能力が高くなるように運転条件に変更する。 As described above, the environmental test apparatus 1 of this embodiment monitors the utilization rate R of the low-temperature tank-side heater 26 during the low-temperature test, thereby grasping the current refrigerating capacity of the refrigerator 24. I have. Then, the control unit 40 lowers the refrigerating capacity of the refrigerator 24 on the assumption that the state of the large margin is a state where the utilization rate R (power consumption increases) of the low-temperature tank side heater 26 is high. Change operating conditions. Conversely, even when there is no margin or the test accuracy is deteriorated, the control unit 40 gives priority to the condition for increasing the refrigerating capacity in step S4 and increases the refrigerating capacity in step S5. Change to operating conditions.

また、冷凍機24の運転能力が異なる低温試験および高温試験を交互に行い、一サイクルとする二モード試験のうち、低温槽側ヒータ26の利用率Rに応じて運転モードを切り替えて低温試験および高温試験を行うようにしてもよい。 In addition, the low-temperature test and the high-temperature test in which the operation performances of the refrigerator 24 are different are alternately performed. A high temperature test may be performed.

さらに制御部40は、低温試験状態で、目標温度よりも高い温度を検知した場合は、冷凍機24の能力を変更して冷凍能力を増大させる。このため、より適切な運転条件で実施可能である。制御部40は、低温試験状態で、目標温度よりも所定値以上高い温度を検知した場合は、運転モードを冷凍機24の運転能力が高く増加する方へ切替える。このため、より適切な運転条件で実施可能である。 Further, when detecting a temperature higher than the target temperature in the low-temperature test state, the control unit 40 changes the capacity of the refrigerator 24 to increase the refrigeration capacity. For this reason, it can be implemented under more appropriate operating conditions. When detecting a temperature higher than the target temperature by a predetermined value or more in the low-temperature test state, the control unit 40 switches the operation mode to a direction in which the operation capacity of the refrigerator 24 increases. For this reason, it can be implemented under more appropriate operating conditions.

そして、制御部40は、低温試験状態で、目標温度よりも所定以上高い温度を検知した同一試験サイクルでは、低温槽側ヒータ26の利用率Rが冷凍機24の能力変更の条件を満たしていても、冷凍機24の運転能力の変更を行わない。このように冷凍能力を増加させる条件を優先させて、次サイクルの試験に今回のサイクルの試験での冷凍能力の調整を反映させることができる。したがって、試験対象や周囲条件に影響されることなく冷凍能力の裕度に応じて、さらに最適な運転条件を選択でき、試験精度の維持と消費電力の低減を両立することができる。 Then, in the same test cycle in which the temperature is higher than the target temperature by a predetermined value or more in the low-temperature test state, the control unit 40 determines that the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 satisfies the condition for changing the capacity of the refrigerator 24. Also, the operation capacity of the refrigerator 24 is not changed. Thus, by giving priority to the condition for increasing the refrigeration capacity, the adjustment of the refrigeration capacity in the test of the current cycle can be reflected in the test of the next cycle. Therefore, a more optimal operating condition can be selected according to the margin of the refrigeration capacity without being affected by the test object and the surrounding conditions, and both the maintenance of the test accuracy and the reduction of the power consumption can be achieved.

図4は、例えば裕度がなく冷凍能力が不足している場合の動作を説明するタイムチャートである。
時刻aにて、低温試験が開始される(高温試験が終了する)と、予冷されていた低温槽温度(B)は、今まで高温試験が行われていた試験槽10と連通することで上昇を開始するとともに、試験槽温度(A)は、低下を開始する。
FIG. 4 is a time chart for explaining the operation in the case where there is no margin and the refrigeration capacity is insufficient, for example.
At time a, when the low-temperature test starts (the high-temperature test ends), the pre-cooled low-temperature tank temperature (B) rises by communicating with the test tank 10 in which the high-temperature test has been performed. And the test chamber temperature (A) starts to decrease.

時刻bにて、試験槽温度(A)が設定低温試験温度(BL)に到達すると、冷凍機24の温度は、低温槽温度(B)に追従せずにさらに低温状態であるため、設定低温試験温度(BL)を下回り、仮想線で示す試験槽温度(AL)のようにアンダーシュートする可能性がある。 At time b, when the test chamber temperature (A) reaches the set low temperature test temperature (BL), the temperature of the refrigerator 24 does not follow the low temperature chamber temperature (B) and is in a lower temperature state. There is a possibility that the temperature falls below the test temperature (BL) and undershoots like the test chamber temperature (AL) indicated by a virtual line.

このため、制御部40は、時刻bから冷凍機24の駆動に加えて、低温槽側ヒータ26の利用率Rを上昇させて、試験槽温度(A)を一定の設定低温試験温度(BL)に向けて安定させる制御を行い、アンダーシュート(AL)しないように低温槽側ヒータ26を制御低下にブレーキをかけている。
冷凍機24の冷凍能力が試験条件に対して過大の場合は、温度調整用に用いられる低温槽側ヒータ26の出力も多く必要とされるが、次回の温度サイクルでは低温槽側ヒータ26の利用率Rを上昇させないために、冷凍機24の冷凍能力を低下させる。
For this reason, the control unit 40 increases the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 in addition to the driving of the refrigerator 24 from the time b, and sets the test tank temperature (A) to a constant set low-temperature test temperature (BL). , And the low-temperature tank side heater 26 is braked to lower the control so as not to undershoot (AL).
If the refrigerating capacity of the refrigerator 24 is excessive with respect to the test conditions, a large output of the low-temperature tank side heater 26 used for temperature adjustment is also required, but the use of the low-temperature tank side heater 26 in the next temperature cycle is required. In order not to increase the rate R, the refrigerating capacity of the refrigerator 24 is reduced.

一方、冷凍機24の冷凍能力が不足している場合は、図4の区間(b−c1)にて試験槽温度(A)のチャートのように温度が再び上昇および下降を経て、時刻c1以降の安定状態となるまでに調整時間(c1−b)を必要とする。図4に示す低温運転期間(d1−b)に占める、調整時間(c1−b)の割合の増加に伴い、試験槽温度(A)が一定の設定低温試験温度(BL)に安定している時間(d1−c1)は、相対的に減少するため、試験精度が低下してしまう。 On the other hand, when the refrigerating capacity of the refrigerator 24 is insufficient, the temperature rises and falls again as shown in the chart of the test tank temperature (A) in the section (b-c1) in FIG. The adjustment time (c1-b) is required until the stable state is reached. As the proportion of the adjustment time (c1-b) in the low-temperature operation period (d1-b) shown in FIG. 4 increases, the test chamber temperature (A) is stabilized at a constant set low-temperature test temperature (BL). Since the time (d1-c1) is relatively reduced, the test accuracy is reduced.

この実施の形態の環境試験装置1は、冷凍機24の冷凍能力に適応するように低温槽側ヒータ26の利用率Rを上昇させながら、消費電力の増大を抑制するという相反する課題を解決するものであり、アンダーシュートを発生させない条件下でも冷凍能力の過不足判定を可能とすることにより、最適な冷凍能力を得ることができる環境試験装置を提供する。 The environmental test apparatus 1 according to the present embodiment solves the conflicting problem of suppressing the increase in power consumption while increasing the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 so as to adapt to the refrigerating capacity of the refrigerator 24. The present invention provides an environmental test apparatus capable of obtaining an optimum refrigeration capacity by enabling determination of excess or deficiency of the refrigeration capacity even under conditions in which an undershoot does not occur.

図5は、第1実施形態の環境試験装置で冷凍能力を増加させるタイミングについて説明するタイムチャートである。
このため、時刻aにて今回のnサイクル目の低温試験が開始されると、試験槽温度(A)は低下を開始し、冷凍機24の駆動とともに、低温槽側ヒータ26が駆動状態となる。試験槽温度(A)が設定低温試験温度(BL)に到達する時刻bからは、試験槽温度(A)がアンダーシュートしないように、低温槽側ヒータ26の利用率Rが最大となる。
FIG. 5 is a time chart for explaining the timing of increasing the refrigerating capacity in the environmental test apparatus of the first embodiment.
For this reason, when the low-temperature test of the nth cycle starts at time a, the test chamber temperature (A) starts to decrease, and the low-temperature chamber side heater 26 is driven together with the driving of the refrigerator 24. . From time b when the test tank temperature (A) reaches the set low-temperature test temperature (BL), the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 becomes maximum so that the test tank temperature (A) does not undershoot.

このとき、冷凍機24の冷凍能力は、一定に保持されているので、試験槽温度(A)は時間の経過とともに転じて上昇を開始して、設定低温試験温度(BL)よりも高くかい離する場合がある。
例えば、第1実施形態では、今回の温度サイクル(図5中、nサイクル目)中、試験槽温度(A)が設定低温試験温度(BL)より所定温度a以上高くなった時点ccにて、試験槽温度(A)が目標試験槽温度値よりも高く、冷凍機24による冷凍能力が不足していると判断して、冷凍機24のコンプレッサの駆動力を増大させて冷凍能力を増加させる。増加された冷凍機24の冷凍能力は、後の次回の温度サイクル(n+1サイクル目)以降に行われる低温試験中も継続して増加されたままの状態(MAX)となっている。
At this time, since the refrigerating capacity of the refrigerator 24 is kept constant, the test tank temperature (A) starts to rise with the passage of time and starts to rise, and separates from the set low temperature test temperature (BL). There are cases.
For example, in the first embodiment, during the current temperature cycle (n-th cycle in FIG. 5), at the time point cc when the test chamber temperature (A) becomes higher than the set low-temperature test temperature (BL) by a predetermined temperature a or more, It is determined that the test tank temperature (A) is higher than the target test tank temperature value and the refrigerating capacity of the refrigerator 24 is insufficient, and the driving force of the compressor of the refrigerator 24 is increased to increase the refrigerating capacity. The increased refrigerating capacity of the refrigerator 24 is continuously increased (MAX) even during the low-temperature test performed after the next temperature cycle (n + 1th cycle).

このため、次回の温度サイクルの低温試験では、試験槽温度(A)が設定低温試験温度(BL)に到達する時刻b2におけるアンダーシュートおよび試験槽温度(A)が設定試験槽温度(BL)よりも高くなる傾向が抑制される。 For this reason, in the low temperature test of the next temperature cycle, the undershoot and the test chamber temperature (A) at time b2 when the test chamber temperature (A) reaches the set low temperature test temperature (BL) are higher than the set test chamber temperature (BL). Is suppressed.

また、第1実施形態の次の温度サイクル(n+1サイクル目)では、図5中に示すように、低温試験中の時刻b2にて、冷凍機24による冷凍能力の不足が解消されているため、設定低温試験温度(BL)から試験槽温度(A)がかい離していない様子が示されている。このとき、冷凍機24の冷凍能力および低温槽側ヒータ26の加熱能力はバランスして、アンダーシュートは発生しない。また、アンダーシュートが発生しない条件下でも冷凍能力の過不足判定を可能として最適な冷凍能力を得ることができる。 In the next temperature cycle (the (n + 1) th cycle) of the first embodiment, as shown in FIG. 5, at time b2 during the low temperature test, the shortage of the refrigerating capacity of the refrigerator 24 has been eliminated. The state where the test tank temperature (A) is not separated from the set low temperature test temperature (BL) is shown. At this time, the refrigerating capacity of the refrigerator 24 and the heating capacity of the low temperature tank side heater 26 are balanced, and no undershoot occurs. In addition, it is possible to determine whether the refrigerating capacity is excessive or insufficient even under the condition in which the undershoot does not occur, thereby obtaining the optimal refrigerating capacity.

図6は、冷凍能力を低下させるタイミングについて説明するタイムチャートである。
冷凍機24の駆動による予冷後に、時刻aにてnサイクル目の低温試験が開始されると、試験槽温度(A)は低下して低温槽側ヒータ26が駆動状態となる。時刻b3にて、試験槽温度(A)が設定低温試験温度(BL)に到達した後、試験槽温度(A)が設定低温試験温度(BL)のまま、かい離しない場合は、冷凍機24の冷凍能力が充足している「裕度」がある状態であるとして冷凍能力を低下させる。
FIG. 6 is a time chart for explaining the timing at which the refrigeration capacity is reduced.
After the precooling by the driving of the refrigerator 24, when the n-th cycle of the low-temperature test is started at the time a, the test tank temperature (A) decreases and the low-temperature tank-side heater 26 is driven. At time b3, after the test chamber temperature (A) reaches the set low-temperature test temperature (BL), if the test chamber temperature (A) does not separate from the set low-temperature test temperature (BL), the refrigerator 24 The refrigeration capacity is reduced assuming that there is a "margin" in which the refrigeration capacity is satisfied.

第1実施形態の環境試験装置1では、高温試験が開始される時点cdにて、冷凍機24の冷凍能力を低下させている。制御部40は、時点cdでは、低温槽側ヒータ26の利用率R=0まで一旦、出力を低下させる。 In the environmental test apparatus 1 of the first embodiment, the refrigeration capacity of the refrigerator 24 is reduced at the time cd when the high temperature test is started. At time cd, the control unit 40 temporarily lowers the output to the utilization rate R = 0 of the low-temperature tank side heater 26.

時刻a3にて、n+1サイクル目の低温試験(時刻a3〜時刻d3)が開始されると、予め前回のnサイクル中に冷凍機24の冷凍能力は、制御部40によって低下するように制御されている。このため、時刻b3にて低温槽側ヒータ26の利用率Rは、最大値MAXに届かなくても、設定低温試験温度(BL)に試験槽温度(A)を到達させることができる。 At time a3, when the low-temperature test of the (n + 1) th cycle (time a3 to time d3) is started, the refrigerating capacity of the refrigerator 24 is controlled by the control unit 40 in advance to decrease during the previous n cycles. I have. For this reason, even if the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 does not reach the maximum value MAX at the time b3, the test tank temperature (A) can reach the set low-temperature test temperature (BL).

また、今回のn+1サイクル目の低温試験中、特に時刻b3〜時刻d3における低温駆動中、低温槽側ヒータ26の利用率Rは最大値MAXよりも低下した状態で維持される。
このように、前回のnサイクル目の低温試験中と比較して、冷凍機24の冷凍能力および低温槽側ヒータ26の駆動を低下させていても、所望の時間(時刻b3〜時刻d3)に試験槽温度(A)を設定低温試験温度(BL)とすることができ、かつ、試験槽温度(A)を設定低温試験温度(BL)のかい離量も少なくすることができる。
In addition, during the low-temperature test of the (n + 1) th cycle, particularly during the low-temperature driving from time b3 to time d3, the utilization rate R of the low-temperature-bath-side heater 26 is maintained in a state lower than the maximum value MAX.
As described above, even if the refrigerating capacity of the refrigerator 24 and the drive of the low-temperature tank side heater 26 are reduced as compared with during the previous low-temperature test in the nth cycle, the desired time (time b3 to time d3) is obtained. The test tank temperature (A) can be set to the set low-temperature test temperature (BL), and the amount of separation of the test tank temperature (A) from the set low-temperature test temperature (BL) can be reduced.

以上のように本実施形態の環境試験装置1によれば、試験対象や周囲条件に影響されることなく冷凍機24の冷凍能力の裕度に応じて、冷凍能力を調整して最適な運転条件を選択できる。このため、アンダーシュートを防止しつつ、低温槽側ヒータ26の利用率Rの増大を抑制することにより試験精度の維持と消費電力の低減と両立することができる。
また、第1実施形態の環境試験装置1では、例えば、高負荷モード、通常モード、省エネ(低負荷)モードなど複数の運転モードに応じて実施可能である。
As described above, according to the environmental test apparatus 1 of the present embodiment, the refrigeration capacity is adjusted according to the margin of the refrigeration capacity of the refrigerator 24 without being affected by the test object and the surrounding conditions, and the optimum operation condition is adjusted. Can be selected. For this reason, by suppressing an increase in the utilization rate R of the low-temperature-bath-side heater 26 while preventing undershoot, it is possible to maintain both test accuracy and reduce power consumption.
Further, the environmental test apparatus 1 according to the first embodiment can be executed according to a plurality of operation modes such as a high load mode, a normal mode, and an energy saving (low load) mode.

[変形例]
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。上述した実施形態は本発明を理解しやすく説明するために例示したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について削除し、若しくは他の構成の追加・置換をすることが可能である。上記実施形態に対して可能な変形は、例えば以下のようなものである。
[Modification]
The present invention is not limited to the embodiments described above, and various modifications are possible. The above-described embodiments are exemplarily illustrated for easy understanding of the present invention, and are not necessarily limited to those having all the configurations described above. Further, a part of the configuration of one embodiment can be replaced with the configuration of another embodiment, and the configuration of one embodiment can be added to the configuration of another embodiment. Further, a part of the configuration of each embodiment can be deleted, or another configuration can be added or replaced. Possible modifications to the above embodiment are, for example, as follows.

上記各実施形態においては、図1に示した環境試験装置1の構成において、前記低温槽側送風機52の駆動制御と同期させて低温側吹出開閉ダンパ50,低温側吸込開閉ダンパ51を開閉させているが、低温槽側送風機52の駆動および駆動の停止に伴って、試験槽10と低温槽20(または高温槽30)との間の気体の流通および遮断するものであれば、どのような構成の送風部であってもよい。
また、図3に示した処理は、上記実施形態では、図2に示す制御部40により実行されるプログラムを用いたソフトウエア的な処理として説明したが、その一部または全部をASIC(Application Specific Integrated Circuit;特定用途向けIC)、あるいはFPGA(field-programmable gate array)等を用いたハードウエア的な処理に置き換えても良い。
In each of the above embodiments, in the configuration of the environmental test apparatus 1 shown in FIG. 1, the low-temperature side opening / closing damper 50 and the low-temperature side suction opening / closing damper 51 are opened and closed in synchronization with the drive control of the low-temperature tank side blower 52. However, any configuration may be used as long as the flow of the gas between the test tank 10 and the low-temperature tank 20 (or the high-temperature tank 30) is cut off and the flow of the gas is cut off with the driving of the low-temperature tank-side blower 52 and the stop of the driving. May be the blower.
Although the processing illustrated in FIG. 3 has been described as software processing using a program executed by the control unit 40 illustrated in FIG. 2 in the above-described embodiment, part or all of the processing may be performed using an ASIC (Application Specific Application). The processing may be replaced by hardware processing using an integrated circuit (IC for a specific application) or an FPGA (field-programmable gate array).

[構成・効果の総括]
以上のように、実施形態における環境試験装置1によれば、制御部40は、裕度が大きい状態では、冷凍機24の冷凍能力が低くなるように運転条件を変更する。また、制御部40は、逆に裕度がないもしくは試験精度が悪化している場合には、冷凍能力が高くなるように運転条件を変更する。このため、試験対象や周囲条件に影響されることなく冷凍能力の裕度に応じて、最適な運転条件を選択できる。したがって、試験精度の維持と消費電力の低減を両立することができる。
[Summary of composition and effects]
As described above, according to the environmental test apparatus 1 in the embodiment, the control unit 40 changes the operating conditions so that the refrigerating capacity of the refrigerator 24 decreases when the margin is large. On the other hand, when there is no margin or the test accuracy is deteriorated, the control unit 40 changes the operating condition so that the refrigeration capacity is increased. For this reason, the optimum operating conditions can be selected according to the refrigeration capacity without being affected by the test object and the surrounding conditions. Therefore, it is possible to maintain both test accuracy and reduce power consumption.

例えば、低温試験および高温試験を交互に行い、一サイクルとする二モード試験のうち、低温試験の運転条件にて、低温槽側ヒータ26の利用率Rに応じて低温試験および高温試験を行うことができる。 For example, a low-temperature test and a high-temperature test are alternately performed to perform a low-temperature test and a high-temperature test according to the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 under the operating conditions of the low-temperature test among the two-mode tests that constitute one cycle. Can be.

制御部40は、低温試験状態で、目標温度よりも高い温度を検知した場合は、冷凍機24の能力を変更して冷凍能力を増大させる。このため、より適切な運転条件で実施可能である。
また、制御部40は、低温試験状態で、目標温度よりも所定値以上高い温度を検知した場合は、運転モードを冷凍機24の運転能力が高く増加する方へ切替える。このため、より適切な運転条件で実施可能である。
When detecting a temperature higher than the target temperature in the low-temperature test state, the control unit 40 changes the capacity of the refrigerator 24 to increase the refrigeration capacity. For this reason, it can be implemented under more appropriate operating conditions.
When detecting a temperature higher than the target temperature by a predetermined value or more in the low-temperature test state, the control unit 40 switches the operation mode to a direction in which the operation capacity of the refrigerator 24 increases. For this reason, it can be implemented under more appropriate operating conditions.

そして、制御部40は、低温試験状態で、目標温度よりも所定以上高い温度を検知した同一試験サイクルでは、低温槽側ヒータ26の利用率Rが冷凍機24の能力変更の条件を満たしていても、冷凍機24の運転能力の変更が行われない。このように冷凍能力を増加させる条件を優先させて、次サイクルの試験に今回のサイクルの試験での冷凍能力の調整を反映させることができる。したがって、試験対象や周囲条件に影響されることなく冷凍能力の裕度に応じて、さらに最適な運転条件を選択でき、試験精度の維持と消費電力の低減を両立することができる。 Then, in the same test cycle in which the control unit 40 detects a temperature higher than the target temperature by a predetermined value or more in the low-temperature test state, the utilization rate R of the low-temperature tank side heater 26 satisfies the condition for changing the capacity of the refrigerator 24. Also, the operation capacity of the refrigerator 24 is not changed. Thus, by giving priority to the condition for increasing the refrigeration capacity, the adjustment of the refrigeration capacity in the test of the current cycle can be reflected in the test of the next cycle. Therefore, a more optimal operating condition can be selected according to the margin of the refrigeration capacity without being affected by the test object and the surrounding conditions, and both the maintenance of the test accuracy and the reduction of the power consumption can be achieved.

1 環境試験装置
10 試験槽
12 試験槽温度センサ
20 低温槽
22 低温槽温度センサ
24 冷凍機
26 低温槽側ヒータ
27 低温槽送風部
28,38 通風口
30 高温槽
32 高温槽温度センサ
36 高温槽側ヒータ
37 高温槽送風部
40 制御部
41 入力部
42 演算部
44 タイマ部
46 記憶部
48 出力部
50 低温側吹出開閉ダンパ
51 低温側吸込開閉ダンパ
52 低温槽側送風機
54,64 アクチュエータ
60 高温側吹出開閉ダンパ
61 高温側吸込開閉ダンパ
62 高温槽側送風機
70 被試験物
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Environmental test apparatus 10 Test tank 12 Test tank temperature sensor 20 Low-temperature tank 22 Low-temperature tank temperature sensor 24 Refrigerator 26 Low-temperature tank side heater 27 Low-temperature tank blowing unit 28, 38 Vent 30 High-temperature tank 32 High-temperature tank temperature sensor 36 High-temperature tank side Heater 37 High-temperature tank blowing unit 40 Control unit 41 Input unit 42 Operation unit 44 Timer unit 46 Storage unit 48 Output unit 50 Low-temperature side opening / closing damper 51 Low-temperature side suction opening / closing damper 52 Low-temperature side blowing fan 54, 64 Actuator 60 High-temperature side opening / closing Damper 61 High temperature side suction opening / closing damper 62 High temperature tank side blower 70 DUT

Claims (6)

被試験物を配置する試験槽と、
前記試験槽と連通する低温槽と、
前記低温槽内の気体を冷却して予冷状態とする冷凍機と、
前記低温槽内の気体を加熱する低温槽側ヒータと、
前記試験槽と連通する高温槽と、
前記高温槽内の気体を加熱して予熱状態とする高温槽側ヒータと、
前記冷凍機の運転条件を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記低温槽側ヒータの利用率を監視して、前記低温槽側ヒータの利用率が、予め設定されたしきい値を超えた場合であって、かつ、低温試験期間内に前記運転条件により冷凍能力が増加されていない場合は、現在の冷凍能力の裕度があると判定し、前記冷凍能力を低下させる制御を行う、環境試験装置。
A test tank for placing a test object,
A low-temperature tank communicating with the test tank;
A refrigerator that cools the gas in the low-temperature tank to a pre-cooled state,
A low-temperature-chamber-side heater for heating gas in the low-temperature chamber ;
A high-temperature tank communicating with the test tank;
A high-temperature tank-side heater that heats the gas in the high-temperature tank to be in a preheated state;
A control unit for controlling operating conditions of the refrigerator,
The control unit includes:
The usage rate of the low-temperature tank-side heater is monitored, and the usage rate of the low-temperature tank-side heater exceeds the preset threshold value, and is frozen during the low-temperature test period according to the operating conditions. If the capacity is not increased, the environmental test apparatus determines that there is a margin of the current refrigeration capacity and performs control to decrease the refrigeration capacity .
被試験物を配置する試験槽と、
前記試験槽と連通する低温槽と、
前記低温槽内の気体を冷却して予冷状態とする冷凍機と、
前記低温槽内の気体を加熱する低温槽側ヒータと、
前記試験槽と連通する高温槽と、
前記高温槽内の気体を加熱して予熱状態とする高温槽側ヒータと、
前記冷凍機の駆動を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、
測定試験層温度と設定試験槽温度とを比較して、前記測定試験層温度が前記設定試験槽温度に対して所定の温度以上高い場合は、冷凍能力を増加させる制御を行って、冷凍能力増加済みフラグをONにし、低温試験が終了すると、
前記低温槽側ヒータの利用率がしきい値を超えたか否かを判定し、当該利用率が前記しきい値を超えた場合であって、前記冷凍能力増加済みフラグがONの場合は、当該冷凍能力増加済みフラグをOFFにし、一方、前記冷凍能力増加済みフラグがONとして立てられていない場合には、前記冷凍能力を低下させる制御を行う、環境試験装置。
A test tank for placing a test object,
A low-temperature tank communicating with the test tank;
A refrigerator that cools the gas in the low-temperature tank to a pre-cooled state,
A low-temperature tank-side heater for heating gas in the low-temperature tank ;
A high-temperature tank communicating with the test tank;
A high-temperature-chamber-side heater that heats the gas in the high-temperature chamber to a preheated state,
A control unit for controlling the driving of the refrigerator,
The control unit includes:
The measured test layer temperature is compared with the set test tank temperature, and if the measured test layer temperature is higher than the set test tank temperature by a predetermined temperature or more, control is performed to increase the refrigerating capacity, and the refrigerating capacity is increased. When the low temperature test is completed by turning on the completed flag,
It is determined whether or not the utilization rate of the low-temperature tank-side heater has exceeded a threshold value. If the utilization rate has exceeded the threshold value and the refrigeration capacity increase flag is ON, the An environmental test apparatus that turns off a refrigeration capacity increase flag, and performs control to decrease the refrigeration capacity when the refrigeration capacity increase flag is not set to ON .
前記制御部は、前記冷凍機の運転能力が異なる複数の運転モードを有し、前記低温槽側ヒータの利用率に基づいて、前記運転モードを切替える、請求項1又は2に記載の環境試験装置。 3. The environmental test apparatus according to claim 1, wherein the control unit has a plurality of operation modes in which the operation capabilities of the refrigerator are different, and switches the operation mode based on a utilization rate of the low-temperature tank-side heater. 4. . 前記制御部は、低温試験状態で、目標温度よりも高い温度を検知した場合は、前記冷凍機の能力を変更した後、前記ヒータの利用率に基づいて、前記運転モードを切替える、請求項に記載の環境試験装置。 Wherein, in a low temperature test condition, if it detects a higher temperature than the target temperature, after changing the capacity of the refrigerator, based on the utilization of the heater, switching the operation mode, according to claim 3 An environmental test apparatus according to item 1. 前記制御部は、低温試験状態で、目標温度よりも所定値以上高い温度を検知した場合、前記運転モードを前記冷凍機の運転能力が高くなるように変更した後、前記ヒータの利用率に基づいて、前記運転モードを切替える、請求項に記載の環境試験装置。 The control unit, in a low-temperature test state, when detecting a temperature higher than a target temperature by a predetermined value or more , after changing the operation mode so that the operation capability of the refrigerator becomes higher , based on the utilization rate of the heater. The environmental test apparatus according to claim 3 , wherein the operation mode is switched . 前記制御部は、低温試験状態で、目標温度よりも所定以上高い温度を検知した同一試験サイクルでは、前記低温槽側ヒータの利用率が前記冷凍機の能力変更の条件を満たしていても、前記冷凍機の運転能力の変更を行わない、請求項3に記載の環境試験装置。 In the same test cycle in which the control unit detects a temperature higher than the target temperature by a predetermined value or more in the low-temperature test state, even if the utilization rate of the low-temperature tank-side heater satisfies the condition for changing the capacity of the refrigerator, The environmental test apparatus according to claim 3, wherein the operation capacity of the refrigerator is not changed.
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