JP6644693B2 - 組成変化によるTzc勾配を有する低膨張シリカ−チタニア物品 - Google Patents

組成変化によるTzc勾配を有する低膨張シリカ−チタニア物品 Download PDF

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関連出願の相互参照
本出願は、米国特許法第119条の下で、2014年1月31日に出願された米国仮特許出願第61/934,276号明細書(その内容に依拠し、その全体が参照により本明細書に援用される)の優先権の利益を主張する。
本開示は、低熱膨張シリカ−チタニアガラス物品に関し、特にゼロクロスオーバー温度(Tzc)勾配を有する低熱膨張シリカ−チタニアガラス物品に関する。
極紫外リソグラフィ(EUVL)は、マイクロプロセッシングユニットおよびダイナミックランダムアクセスメモリ(MPU/DRAM)集積チップを製造するための13nmおよびそれを超える方式のための先端的な新興技術である。現在、この新規技術を実証するために、これらの集積チップ(IC)を製造するEUVLスキャナが小規模で製造されている。反射光学素子を含む光学系が、これらのスキャナの重要部品となる。EUVLの開発が進むにつれて、光学系部品の仕様がより厳格になり続ける。
EUVLスキャナ中、光学素子は強い極紫外(EUV)線に曝露される。EUVLシステムに使用されるEUV線の一部は、システムの光学素子上の反射コーティングによって吸収され、衝突する放射線によって光学素子の上面が加熱される。これによって光学素子の表面は光学素子の大部分よりも高温になり、その結果、光学素子中で温度勾配が生じる。さらに、半導体ウエハ上にパターンを投影するために、光学素子の表面は均一に加熱されず、光学素子の厚さ方向に、および放射線を受ける光学素子表面に沿って複雑な温度勾配が形成される。これらの温度勾配によって光学素子の歪みが生じ、それによってウエハ上に形成される画像が不鮮明になる。EUVLスキャナの投影システム中の光学素子に使用される材料の低熱伝導率、それらの大きいサイズ、および真空中での運転の必要性のため、効率的な熱の伝達および除去が妨害される。将来のEUVL開発の要求に適合すると想定される光学素子のサイズの増加および出力レベルの増加によって、放熱の困難さが高まると予想される。
本開示の一実施形態によると、極紫外リソグラフィ(EUVL)に使用するためのガラス物品が提供される。このガラス物品は、ガラス物品中で組成勾配を有するシリカ−チタニアガラスを含み、この組成勾配は関数:
[TiO]=(c+f(x,y,z))、および
[SiO]=(100−{c+f(x,y,z)}−δ(x,y,z))
(式中、[TiO]は重量%の単位でのチタニア濃度であり、[SiO]は重量%の単位でのシリカ濃度であり、cは、所定のゼロクロスオーバー温度(Tzc)における重量%の単位でのチタニア濃度であり、f(x,y,z)は、座標(x,y,z)を中心とする体積要素の平均組成のcに対する差を定義する三次元空間での関数であり、およびδ(x,y,z)は、座標(x,y,z)を中心とする体積要素の他のすべての成分の合計を定義する三次元空間における関数である)
によって定義される。
本開示の別の一実施形態によると、組成勾配を有するシリカ−チタニアガラス物品を形成する方法が提供される。この方法は、シリカ前駆体およびチタニア前駆体を混合して、少なくとも2つのガラス部分を形成するのに十分な少なくとも2種類の混合前駆体組成物を形成するステップであって、少なくとも2つのガラス部分のそれぞれが異なるシリカ濃度およびチタニア濃度を有するステップを含む。この方法は、少なくとも2つのバーナーを用いて、少なくとも2種類の混合前駆体組成物を少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物に変換するステップと、少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物を容器中に堆積するステップとをさらに含む。この方法は、少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物を固化させて、異なるシリカ濃度およびチタニア濃度を有する少なくとも2つのガラス部分を有するシリカ−チタニアガラス物品を形成するステップをさらに含む。
さらなる特徴および利点は、以下の詳細な説明に記載され、それらは部分的には、その説明から当業者に容易に明らかとなるであるか、または以下の詳細な説明、請求項、および添付の図面を含めた本明細書に記載のように実施形態を実施することによって理解されるであろう。
以上の概要および以下の詳細な説明の両方は単なる例示的なものであり、請求項の性質および特徴を理解するための概観または枠組みの提供を意図していることを理解されたい。添付の図面は、さらなる理解を得るために含まれ、本明細書の一部に組み込まれ、本明細書の一部を構成している。図面は、1つ以上の実施形態を示しており、本明細書の記述とともに、種々の実施形態の原理および操作を説明する役割を果たす。
本開示は、単に非限定的な例として提供される以下の説明および添付の図面からより明確に理解されよう。
本開示の一実施形態によるシリカ−チタニアガラス物品を示す。 本開示の一実施形態による一連のガラス層L1〜Lzを有するシリカ−チタニアガラス物品を示す。 本開示の一実施形態によるシリカ−チタニアガラス物品の側面図である。 図3Aのシリカ−チタニアガラス物品の上面図である。 本開示の一実施形態によるシリカ−チタニアガラス物品を製造するための装置を示す。 本開示の一実施形態によるシリカ−チタニアガラス物品を製造するための装置の簡略図である。 本開示の一実施形態によるシリカ−チタニアガラス物品を製造するための装置を示す。
これより本発明の実施形態を詳細に参照し、その例が添付の図面に示されている。可能な場合には常に、同一または類似の部分を図面全体で意味するために、同じ参照番号が使用される。
文脈が明らかに他のことを示すのでなければ、名詞は、複数の対象を指す。同じ特徴を列挙するすべての範囲の端点は、独立して組合せ可能であり、列挙される端点を含む。すべての参考文献は参照により本明細書に援用される。
本開示の実施形態は、EUVLに使用するためのシリカ−チタニアガラス物品、およびそのようなシリカ−チタニアガラス物品の製造方法に関する。本明細書に記載されるようなシリカ−チタニアガラス、シリカ−チタニアガラスの製造方法、およびEUVL用途でのそれらの使用に関連して使用される場合、用語「物品」は、あらゆる寸法のガラス、完成または未完成のそのようなガラスでできたガラス基板または部品、ならびにEUVLシステムに使用するための完成光学素子を意味し、それらを含んでいる。また本明細書において使用される場合、用語「ゼロクロスオーバー温度(Tzc)」は、組成が実質的に均一な材料の体積の熱膨張係数がゼロになる温度を意味する。不均一な体積に言及する場合、Tzcはその体積にわたる平均Tzcを意味する。
EUVLシステムは、EUV光がある反射素子から別の素子に跳ね返される反射系である。代表的なEUVLシステムの1つは、集光鏡の対、マスクなどの物体、および複数の投影鏡を含むことができる。上記光学素子のすべては、典型的には、入射光を反射するために物品上に堆積された多層コーティング、たとえばMo/Siコーティングを有する。少なくとも一部の光学素子は、Corning Incorporated,Corning,NYより市販されるUltra Low Expansion(ULE(登録商標))ガラスなどの低熱膨張係数(CTE)を有するガラスから形成することができる。
図1は、厚さTだけ離れた別個の平行な面内にある第1の表面S1および第2の表面S2を有するシリカ−チタニアガラス物品10を示している。ガラス物品10は、中心(垂直線Cで示される)、ならびに第1の表面S1および第2の表面S2に対して垂直な端部Eも有する。
図2は、それぞれが異なる組成を有し、第1の表面S1と第2の表面S2との間にある一連のガラス層L1〜Lz(ここでzは層Lの数を表す整数である)を有するガラス物品10の一実施形態を示しており、ここで第1の表面S1および第2の表面S2は、それぞれ層L1およびLzの外面となる。本開示の目的のために、図2に示されるような一連の層L1〜Lzは、ガラス物品10の厚さ方向の垂直組成勾配と記載される。ガラス物品10は組成勾配に起因するTzc勾配も有する。本開示の一実施形態によると、Tzcは層L1から層Lzまで低下することができる。あるいは、Tzcは層L1から層Lzまで上昇することができる。
図2は、層L1と層Lzとの間にある一連の平行なガラス面L2〜L(z−1)を示している。個別の層L1〜Lzの厚さは、同じであってよく、または物品に意図される用途によって変化してもよい。たとえば個別の層L1〜Lzの厚さは、物品の厚さをzで割ったものと同じであってよい。層の数は、EUV線が照射されるときに物品中に生じる温度、または物品中の温度分布により変化させることもできる。たとえば、あるEUVL光学素子は、別の光学素子より厚くてよく、EUV線を照射したときの光学素子中の応力を防止するためにより多い数の層を有することができる。さらに、本明細書に示される物品は円形表面を有するが、物品は、たとえば、限定するものではないが、正方形、長方形、楕円形であってよく、または特定の用途に要求されうるような複雑な形状を有することができる。これらの形状は、種々の手段によって形成することができ、たとえば、限定するものではないが、のこぎりまたは水ジェットを用いて形状を形成することができる。
説明のために、図2は、平面−平面物品、すなわち2つの平坦で平行な表面を有する物品としてガラス物品10を示している。しかし、EUVL用途に使用される完成ガラス物品は、反射面中に機械加工された湾曲を有することが一般的である。一般に、ガラス物品が機械加工される場合、ガラス物品の端部付近から除去されるよりも、ガラス物品の中央付近からより多くの材料が除去される。垂直組成勾配を有する平面−平面物品に湾曲が機械加工される場合、湾曲を形成するための材料の除去によって、勾配の均一性が失われる。この材料除去効果に対抗するために、ガラス物品の「再成形」または「スランピング」によって、垂直組成勾配の均一性を変化させることなく、反射面に機械加工された湾曲を有することができる形状を形成することができる。ガラス物品の端部付近よりもガラス物品の中央付近で層のチタニア濃度が高くなるように、反射面を有する層中のチタニアの半径方向濃度を調節することもできる。したがって、反射面を有する層に湾曲が機械加工される場合、層の表面全体にわたってチタニア濃度は均一のままとなる。
光学素子に対する熱負荷に基づき、シリカ−チタニアガラスの熱伝導率、熱除去装置の配置および性能、ならびに周囲環境の情報を用いて、光学素子全体で生じる温度勾配を求めることができる。たとえば、Corning Code 7972 ULE(登録商標)ガラスの公表されている熱伝導率は室温において1.31W/(m・℃)であり、温度上昇とともに中程度に増加する。計算した温度勾配を用いて、温度勾配によって生じるガラスの歪みを最小限にするTzc分布を得ることができる。
表Iは、EUVLシステム中の光学素子として使用した場合の従来のガラス物品の温度分布の一例を示している。この表に示されるように、ガラス物品は、単純な線形分布を有し、EUV線を受ける表面は表面温度が約40℃であり、放射線を受ける表面から最も遠い表面は温度が約35℃であり、放射線を受ける表面と、放射線を受ける表面から最も遠い表面との間のガラス物品部分は中間の温度を有する。表IIは、衝突する放射線によって生じる温度分布によるガラス物品の歪みを最小限にするガラス物品の厚さ方向のTzc分布を示している。表IIIは、表IIに示されるようなTzc分布が得られるガラス物品の厚さ方向のチタニア分布を示している。
Figure 0006644693
表III中、「y」は、重量%の単位でのチタニア濃度である。これらの表に示される代表的なガラス物品によると、yは、Tzcが40℃のガラスの重量%の単位でのチタニア濃度である。記号「ε」は、1.0℃だけTzcを変化させる質量%の単位でのチタニア濃度である。εの値は、アニールによって、または少なくとも1種類のドーパントをドープすることによって材料中に誘導される熱膨張係数(CTE)の傾きに依存する。たとえば、CTEの傾きが20℃で1.6ppb/°Kである材料の場合、ゼロクロスオーバー温度を35℃から40℃まで変化させるためのチタニア濃度の増加は約0.08重量%となる。CTEの傾きがより小さい材料の場合、たとえば傾きが20℃で0.6ppb/°Kである場合、Tzcを35℃から40℃まで変化させるチタニア濃度の増加は約0.01重量%となる。したがって、表II〜IIIで示されるようにTzcが5.0℃変化する場合、εの値は、その変化に必要なチタニア量の1/5に等しい。εによるTzcの変化は非線形であるが、比較的小さいTzcの変化の場合、線形近似が十分正確となり得る。本開示の範囲内で、この非線形性を説明するために、層間でεを調節することができる。この線形近似の一例として、20℃におけるCTEの傾きが1ppb/°Kであるシリカ−チタニアガラスの場合、37℃のTzcにおいて1.0℃だけTzcを変化させる「ε」の値は約0.007重量%である。
図3Aは側面図であり、図3Bは上面図であり、それぞれ異なる組成を有し、ガラス物品10の中心Cと端部Eとの間にある一連のガラス区画110〜120(図3A中に点線で示される)を有するガラス物品10の一実施形態を示している。本開示の目的のため、図3Aおよび3Bに示されるような一連のガラス区画110〜120は、ガラス物品10の水平軸202にわたる水平組成勾配と記載され、ここで水平組成勾配は中心Cから端部Eまで延在する。図3Aおよび3Bに示されるガラス物品10は、組成勾配に起因するTzc勾配も有する。本開示の一実施形態によると、Tzcは区画110から区画120まで低下してもよい。あるいは、Tzcは区画110から区画120まで上昇してもよい。
図3Aおよび3Bに示されるように、ガラス物品10の中心Cから端部Eまでの中心軸202にわたってTzcが低下する一実施形態では、チタニア濃度は区画110のyから区画120のy−5εまで低下する。表IVは、表IIIのチタニア分布の線形近似を図3Aおよび3B中のガラス区画と関連づけている。
Figure 0006644693
さらなる一実施形態において、ガラス物品10は、水平組成勾配および垂直組成勾配の両方を有する。水平勾配および垂直勾配の両方が堆積プロセス中に変化するため、組成勾配およびTzc勾配は、一方向の組成勾配を有する実施形態よりも複雑になる。表IIIのデータを使用する表Vは、チタニアが、区画110から区画120までの水平方向と、層L1から層Lzまでの垂直方向との両方で減少する代表的な一実施形態である。表Vに示されるガラス物品10は、EUV線を受ける表面S1を有する層L1を有し、層L1中のガラス区画110からガラス区画120までの温度は、層L2からL6中の同じガラス区画と比較して最も高くなる。
例を単純化するために、チタニアはL1−110からL5−120までの45°の対角線に沿って、垂直または水平のいずれかでチタニアが減少する割合よりも大きい割合で減少する。L1−110からLz−120までの対角線に対して平行であり、かつその上および下にある対角線は、同様の変化率を示す。表Vに示されるように、チタニア含有量の変化率は、垂直軸の変化と水平軸の変化との合計である。たとえば、表Vの枠L6−120は、y−10εのチタニア変化量およびΔ=−10℃を有する。
Figure 0006644693
本開示の実施形態によると、層L1、または入射EUV線を受けるように構成された任意の層は約0℃〜約100℃の範囲内のTzcを有することができる。あるいは、層L1、または入射EUV線を受けるように構成された任意の層は約10℃〜約80℃の範囲内、または約10℃〜約60℃の範囲内のTzcを有することができる。
本開示の実施形態によると、ガラス物品は、約3.0重量%〜約12重量%のチタニア濃度を有することができ、残りはシリカである。チタニア濃度は約4.0重量%〜約10重量%の範囲内、またはさらには約5.0重量%〜約9.0重量%の範囲内であってよい。
本開示の実施形態によると、ガラス物品は、約1200ppm以下の[OH]含有量を有することができる。[OH]含有量は約1000ppm以下、またはさらには約900ppm以下であってよい。
本開示の実施形態によると、ガラス物品は、約1100℃以下の仮想温度を有することができる。仮想温度は約1000℃以下、または約900℃以下であってよい。
本開示の実施形態によると、ガラス物品は、約5.0重量ppm以下のTi+3含有量を有することができる。ガラス物品のTi+3含有量は約3.0重量ppm以下であってよい。
本開示の実施形態によると、ガラス物品は、約25nm/cm未満の複屈折を有することができる。複屈折は約20nm/cm未満、またはさらには約10nm/cm未満であってよい。
本開示の実施形態によると、ガラス物品は、約0.50μm〜約2.1μmの波長範囲にわたって少なくとも約80%/cmの内部透過率を有することができる。
本開示の実施形態によると、ガラス物品の少なくとも1つの層L1〜Lzは、少なくとも1種類のドーパントを含むことができる。ドーパントは、限定するものではないが、フッ素と、OHと、アルミニウム、ホウ素、ナトリウム、カリウム、マグネシウム、カルシウム、リチウムおよびニオブの酸化物と、ならびにそれらの組合せとであってよい。
図4は、容器中でシリカ−チタニアスートを製造し、堆積し、固化させるための装置を示している。この装置を用いて、スートを、(a)1ステップで収集し固化させる(直接法);または(b)第1のステップで収集し、第2のステップで固化させる(間接法またはスートからガラスへの方法)のいずれかを行うことができる。直接法は、米国特許第8,541,325号明細書、米国再発行特許第41220号明細書、および米国特許第7,589,040号明細書に記載されており、間接法は、米国特許第6,487,879号明細書に記載されており、これらの明細書の全体が参照により援用される。その全体が参照により援用される米国再発行特許第40,586号明細書および米国特許出願公開第2011−0207593号明細書に記載の装置を使用することもできる。
図4に示す装置は、約0.20メートル〜約2.0メートル以上の範囲内の直径、および約10cm〜約30cmの範囲内の厚さを有するシリカ−チタニアガラス物品を形成するために使用できる。装置および形成される物品のサイズは、使用されるバーナーの数に影響する。図4を使用し、一例として直接法を使用する場合、シリカ前駆体48の供給源46およびチタニア前駆体60の供給源58が設けられる。シリカ前駆体48およびチタニア前駆体60は、シロキサン、アルコキシド、および四塩化物であってよい。たとえば、シリカ前駆体はオクタメチルシクロテトラシロキサン(OMCTS)であってよく、チタニア前駆体はチタンイソプロポキシド(Ti(OPri))であってよい。供給源46、58は、蒸発器、蒸発タンク、または前駆体48、60を蒸気形態に変換するのに好適な他の装置であってよい。窒素などのキャリアガス50が供給源46の底部またはその付近で導入される。キャリアガス50はシリカ前駆体48の蒸気を一緒に運び、分配システム54から混合マニホルド56まで送る。蒸気状のシリカ前駆体流の飽和を防止するために、キャリアガスのバイパス流が52において導入される。不活性ガス62、たとえば窒素の流れを蒸気状チタニア前駆体と接触させて、蒸気の飽和を防止することができる。不活性キャリアガス64、たとえば窒素は、チタニア前駆体60の蒸気を一緒に運び、蒸気を分配システム66から混合マニホルド56まで送り、そこでこの蒸気がシリカ前駆体48の蒸気と混合される。あるいは、チタニア前駆体60およびシリカ前駆体48は、混合マニホルド56に液体形態で供給することができる。混合マニホルド56中の混合物は、加熱フュームライン68を通って、炉の天井72に搭載されたバーナー70まで送られる。この図では、2つのバーナー70が示されている。しかし、堆積空洞74にわたって熱の制御および材料の分布をより良好にできるように、3つ以上のバーナーを使用することができる。加熱炉76は、回転および振動の能力を有することができ、天井72を支持する静止壁78を含むことができる。格納容器80が静止壁78内に配置される。格納容器80は、回転のために支持され、振動台84に取り付けることによって振動もする基部82を含む。格納容器80は、振動台84の上に取り付けたれた気流壁86によって囲まれる。静止壁78と格納容器80との間に動作制御用シール88が形成される。堆積空洞74は、静止壁78の上部に形成された複数の通気口94によって通気される。通気口94は、ダクト材料によって好適な排気システム(図示せず)に接続され、それによって周囲圧力に対して堆積空洞74中に陰圧を生じる。燃料93および酸素95は、予混合チャンバー97中で予混合され、次にフュームライン99を通してバーナー70まで送られる。バーナー70が燃料/酸素混合物に着火して、堆積空洞74を加熱する火炎が生じる。バーナー70に注入された蒸気状反応物質は、バーナー70を出て、そこでそれらは反応して、チタニアドープシリカ粒子が形成される。スートは下方に向かい、102に示されるような平面100上に堆積する。平面100は、格納容器80のライナー104に清浄なカレット106を充填することによって形成できるが、ガラス板などの平面を得るための別の手段を使用することもできる。スートが堆積するときに、基部82を介して格納容器80、したがって平面100を回転および振動させることで、ドープシリカガラスの均一性が改善される。スートの堆積中、加熱炉76には周囲空気が通気される。堆積空洞74の温度が監視され、格納容器80の垂直位置を調節することで所望の処理温度が維持される。この直接法では、シリカ−チタニア粒子が形成され、実質的に同時に固化してガラスとなるように、温度が固化温度に維持される。このような時間は、約3.0秒未満であってよく、典型的には約2.0秒未満である。ガラスが固化した後、ガラスは本明細書に記載のアニールサイクルにより同じ加熱炉中でアニールすることができ、またはガラスを加熱炉から取り出して、後にアニールすることもできる。
前述のように、CTEの傾きの減少は、アニールによって、またはドーパントを用いたドーピングによってガラス物品中に誘導することができ、ここでドーパントは、限定するものではないが、フッ素と、OHと、アルミニウム、ホウ素、ナトリウム、カリウム、マグネシウム、カルシウム、リチウムおよびニオブの酸化物と、それらの組合せとであってよい。ガラス物品が形成された後、アニールが行われ、アニール計画を調節することで、ガラス物品のTzcを微調整し、ガラス物品中の組成勾配およびTzc勾配を安定化させることができる。
図6は、本明細書に記載のようなシリカ−チタニアガラス物品を形成するための別の装置を示している。図に示されるように、この装置は、シリカ前駆体14の供給源、およびチタニア前駆体26の供給源を含む。窒素などのキャリアガス20が、シリカ前駆体14の供給源およびチタニア前駆体26の供給源の底部またはその付近で導入されることで、シリカ前駆体14およびチタニア前駆体26の蒸気が一緒に運ばれ、蒸気は分配システム24を介して混合マニホルド28まで送られる。不活性ガス22、たとえば窒素の流れを蒸気状のシリカ前駆体およびチタニア前駆体と接触させて、蒸気の飽和を防止することもできる。混合マニホルド28内の混合物は、導管34を通って、加熱炉16の上部に取り付けられたバーナー36まで送られる。バーナーによってバーナー火炎37が生じ、混合物は変換場所200まで送られ、そこで混合物はスート粒子11に変換される。スート粒子11は、加熱炉16の内部の回転収集カップ12中でシリカ−チタニアガラス体18の上面上に堆積し、そこでスート粒子が固化してシリカ−チタニアガラス物品となる。図に示されるように、カップ12は、約0.20メートル〜約2.0メートルの円形直径形状を有することができ、そのためガラス体18は、約0.20〜約2.0メートルの直径Dおよび約10cm〜約30cmの高さHを有する円筒体となる。これらは一般的な寸法であるが、これらは限定を意味するものではなく、本明細書に記載のガラス物品は任意の寸法を有することができ、任意の寸法を有するガラス物品を形成するためにガラス物品を形成するための装置を修正できることを理解すべきである。
本開示の実施形態によると、本明細書に記載のシリカ−チタニアガラス物品の形成方法は、個別の原材料の流動パターンを制御するステップを含む。この方法は、個別のバーナーに供給される燃料ガス/酸素比を調節することによって火炎温度および加熱炉温度を制御するステップをさらに含むことができる。原材料の流動パターンおよび個別のバーナーのガス/酸素は、ガラス物品が形成される時間とともに変動し、この変動は監視され注意深く制御される。
本開示の一実施形態によると、表IIIに記載され図2に示されるような垂直組成勾配を有するシリカ−チタニアガラス物品を形成するステップは、種々のチタニア濃度の層を形成するためにチタニア前駆体の流れを調節するステップを含む。たとえば、ガラスの層のチタニア含有量を増加させる場合、キャリアガス速度および/または供給源58中のチタニア前駆体の温度を上昇させることで、さらなるチタニアをバーナーに供給できる。シリカ前駆体は、一定に維持することができ、またはシリカ対チタニアの所定の比が形成される層中に得られるように調節することもできる。あるいは、混合マニホルド中に注入されるシリカ前駆体の量は同じまま維持し、バーナー中に注入されるチタニア前駆体の量のみを増加させる。
前述のような、CTEの傾きが20℃において約1.6ppb/°Kであるガラス物品を形成するステップの一例として、35℃のTzcの場合のチタニア濃度は約7.72%であり、40℃のTzcの場合のチタニア濃度は約0.08重量%高い。結果として、線形近似を用いると、ε=0.016と求めることができ、35℃〜40℃のTzcを有する層のチタニア濃度は表VIに示される。これらの値は20℃において約1.6ppb/°KのCTEの傾きを有するガラス物品に関するが、アニールサイクルおよび/またはガラス物品へのドーパントの添加によって、20℃で1.6ppb/°K以外のCTEの傾きを得ることができ、このため35℃〜40℃のTzcを有する層は異なるチタニア濃度となる。
Figure 0006644693
前述の例では、最低チタニア濃度を有する層を最初に堆積するステップ、および最高チタニア濃度を有する層を最後に堆積するステップを議論しているが、スート堆積は逆の方法で行うことができる。たとえば、本発明の方法は、最高チタニア濃度を有する層の堆積から始め、最低チタニア濃度を有する層で終わることができる。この堆積方法が使用される場合、堆積されるにつれて層のチタニア濃度が低下するように、キャリアガス速度および/または供給源58中のチタニア前駆体の温度を低下させる。
図5は、水平組成勾配を有するガラス物品150の製造に使用できる複数のバーナー130〜140の構成の1つを示す簡略図である。図5に示されるバーナーの構成は、ガラス物品150の中央の1つのバーナー130、および5対のバーナー132〜140を含む。図5に示される構成を使用して、たとえば、異なる組成を有する6つのガラス区画110〜120を有するガラス物品10を形成できるが、バーナーの構成は、ガラス物品の中央に配置された1つのバーナーに加えて、あらゆる数の対のバーナーを含むことができる。ガラス物品の中央の1つのバーナーと、ある数の対のバーナーとの組合せは、異なる組成物を有するガラス物品中のガラス区画の所定の数に等しい。たとえば、8つのガラス区画を有するガラス物品を形成するためには、ガラス物品の中央の1つのバーナーと、7対のバーナーとを有するバーナーの構成を使用することができる。
図に示されるように、シリカ−チタニアスートは容器154内に堆積することができる。図5は、バーナー130〜140からのスートの放出パターン152をさらに示している。このような放出パターン152によって、スートの堆積が重なり合い、水平軸にわたってなめらかな勾配が得られる。水平組成勾配を有するガラス物品150を形成するために、異なるシリカおよびチタニア前駆体混合物が各バーナーに供給される。たとえば、最高チタニア濃度を有する混合物をバーナー130に供給することができ、最低チタニア濃度を有する混合物をバーナー140に供給することができ、中間のチタニア濃度を有する混合物はバーナー132〜138に供給される。あるいは、最高チタニア濃度を有する混合物をバーナー140に供給することができ、最低チタニア濃度を有する混合物をバーナー130に供給することができ、中間のチタニア濃度を有する混合物はバーナー132〜138に供給される。図5に示されるシステムでは、ガラス区画110〜120は同時に堆積される。
層L1〜Lzおよびガラス区画110〜120は、有限の厚さおよび有限のTzc差を有する離散的な実態として本明細書に記載されるが、層L1〜Lzおよびガラス区画110〜120は無限小の厚さであってよく、これによってTzcが連続的に変化し独立した層を物理的に区別できないガラス物品が実質的に得られることに留意すべきである。このようなガラス物品は、バーナーに対するチタニア前駆体またはシリカ前駆体の濃度を連続的に変化させることで形成することができ、この教示は本明細書に記載のそれぞれの実施形態に適用可能である。
本開示の実施形態によると、EUVLに使用するためのガラス物品が提供される。このガラス物品は、ガラス物品中で組成勾配を有するシリカ−チタニアガラスを含み、組成勾配は関数:
[TiO]=(c+f(x,y,z))、および
[SiO]=(100−{c+f(x,y,z)}−δ(x,y,z))
(式中、[TiO]は重量%の単位でのチタニア濃度であり、[SiO]は重量%の単位でのシリカ濃度であり、cは、所定のゼロクロスオーバー温度(Tzc)における重量%の単位でのチタニア濃度であり、f(x,y,z)は、座標(x,y,z)を中心とする体積要素の平均組成のcに対する差を定義する三次元空間での関数であり、およびδ(x,y,z)は、座標(x,y,z)を中心とする体積要素の他のすべての成分の合計を定義する三次元空間における関数である)
によって定義される。
垂直組成勾配を有する実施形態では、f(x,y,z)はxおよびyとは無関係であり、そのガラス物品はz軸に沿った一方向の勾配を有する。あるいは、f(x,y,z)はzおよびyとは無関係であってよく、そのガラス物品は、水平のx軸に沿った一方向の勾配を有する。垂直組成勾配を有する実施形態では、f(x,y,z)はxおよびzとは無関係であり、そのガラス物品はy軸に沿った一方向の勾配を有する。三次元のあらゆる任意の軸に沿って別の一方向の勾配を生じさせることができ、その場合、f(x,y,z)は、その軸に対して垂直の面内で一定となる。
本開示の実施形態によると、f(x,y,z)は少なくとも1つの軸に沿った階段関数であってよく、そのガラス物品は隣接する層の間で組成が離散的に変化する層状構造を有する。階段関数中の段は一定の大きさであってよい。さらなる実施形態では、階段関数は単調であってよい。さらなる実施形態では、ガラス物品は、f(x,y,z)=c(式中、cは定数である)を(x,y)面内で定義できるような連続曲線を含むことができ、それによって一定組成の一般化された円筒表面の形状の層を有するガラス物品を得ることができる。さらなる実施形態では、定数cは離散値を有することができる。
本開示の一実施形態によると、EUVL用ガラス物品が提供される。この物品はガラス中でチタニア組成勾配を有し、この組成勾配は、L1からLzの順の複数のシリカ−チタニア層によって形成され、これらの層は異なるシリカ−チタニア組成を有し、L1は最高チタニア濃度を有し、Lzは最低チタニア濃度を有し、L1〜Lzの層は中間のチタニア組成を有する。層Lnの組成は:
[TiO]=(y−nε)
[SiO]=100−(y−nε)−δ
(式中、[TiO]は重量%の単位でのチタニア濃度であり、[SiO]は重量%の単位でのシリカ濃度であり、yは、所定のTzcにおける重量%の単位でのチタニア濃度であり、nは1〜zで変動する整数であり、zは3以上の整数であり、εは、Tzc値を1℃だけ変化させるチタニア量であり、およびδは、他のすべての成分の合計であり、この例ではガラス物品中で一定と見なされる)
となる。このガラス物品は、組成勾配に起因するTzc勾配を有し、Tzc勾配はL1からLzまで減少する。
本開示の実施形態によると、L1およびLzは、互いに最も離れた層であってよく、ガラス物品中の層の順序はL1からLzであってよい。このような実施形態では、組成勾配は、層L1の外面S1から、S1から最も離れた層Lzの外面S2までのガラスの厚さ方向の垂直組成勾配である。このような実施形態では、外面S1は、入射EUV線を受けるように構成されてよい。
本開示の別の一実施形態によると、ガラス物品は、第1の表面S1と、第1の表面S1から最も離れ第1の表面S1に対して平行である第2の表面S2と、表面S1および表面S2の間の厚さTとを有する。このガラス物品は、中心Cおよび物品の周囲の端部Eも有し、中心Cおよび端部Eの両方は、第1の表面S1から第2の表面S2まで延在する。このガラス物品は、中心Cから端部Eまで延在する水平組成勾配である組成勾配を有し、中心Cに最も近い物品部分は最高チタニア濃度を有し、端部Eに最も近い物品部分は最低チタニア濃度を有し、中心Cと端部Eとの間の物品部分は中間のチタニア組成を有する。このガラス物品は、組成勾配に起因するTzc勾配を有し、Tzc勾配は中心Cから端部Eまで減少する。
本開示の別の一実施形態によると、ガラス物品は、第1の表面S1と、第1の表面S1から最も離れ第1の表面S1に対して平行である第2の表面S2と、表面S1および表面S2の間の厚さTとを有し、表面S1から表面S2まで厚さTに沿って層L1からLzが延在する。このガラス物品は、中心Cおよび物品の周囲の端部Eも有し、中心Cおよび端部Eの両方は、第1の表面S1から第2の表面S2まで延在する。このガラス物品は、垂直組成勾配、水平組成勾配、および複数の斜めの組成勾配を有する。垂直組成勾配は層L1から層Lzまで延在する。水平組成勾配は中心Cから端部Eに沿って延在する。複数の斜めの組成勾配は、中心Cにおける第1の表面S1から端部Eにおける第2の表面S2まで物品中の斜め方向に延在する。
本開示の一実施形態によると、組成勾配を有するシリカ−チタニアガラス物品を形成する方法が提供される。この方法は、シリカ前駆体およびチタニア前駆体を混合して、少なくとも2つのガラス部分を形成するのに十分な少なくとも2種類の混合前駆体組成物を形成するステップであって、少なくとも2つのガラス部分のそれぞれが異なるシリカ濃度およびチタニア濃度を有する、ステップを含む。この方法は、少なくとも2つのバーナーを用いて、少なくとも2種類の混合前駆体組成物を少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物に変換するステップと、少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物を容器中に堆積するステップとをさらに含む。この方法は、少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物を固化させて、異なるシリカ濃度およびチタニア濃度を有する少なくとも2つのガラス部分を有するシリカ−チタニアガラス物品を形成するステップをさらに含む。
本発明の方法は、少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物のそれぞれを容器中で逐次堆積するステップを含むことができる。この方法は、少なくとも2種類の混合前駆体組成物を少なくとも2つのバーナーに逐次供給するステップも含むことができる。このようなバーナーへの逐次供給、および/または少なくとも2種類のスート組成物のそれぞれのこのような逐次堆積を用いて、たとえば、前述のようなL1からLzの順の複数の層、および対応する垂直組成勾配を形成することができる。
本開示の実施形態によると、本発明の方法は、少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物のそれぞれを容器中で同時堆積するステップを含むことができる。この方法は、少なくとも2種類の混合前駆体組成物のそれぞれを少なくとも2つのバーナーの1つに供給するステップも含むことができる。このようなバーナーへの同時供給、および/または少なくとも2種類のスート組成物のそれぞれのこのような同時堆積を用いて、たとえば、前述のような複数のガラス区画110〜120、および対応する水平組成勾配を形成することができる。
本開示の実施形態によると、本発明の方法は、少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物の第1の群を容器中に同時堆積して、異なるチタニア濃度を有する部分を含む第1の層を形成するステップと、少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物の第2の群を容器中に同時堆積して、異なるチタニア濃度を有する部分を含む第2の層を形成するステップとを含むことができる。この方法は、第1の群の少なくとも2種類の混合前駆体組成物のそれぞれを少なくとも2つのバーナーの1つに同時供給するステップと、第2の群の少なくとも2種類の混合前駆体組成物のそれぞれを少なくとも2つのバーナーの1つに同時供給するステップとをさらに含むことができる。このような同時堆積を用いて、たとえば、表Vに示されるようなガラス物品、ならびに前述のような対応する水平、垂直、および斜めの組成勾配を形成することができる。
本開示の実施形態によると、本発明の方法は、シリカ前駆体およびチタニア前駆体を混合して、
[TiO]=(c+f(x,y,z))、および
[SiO]=(100−{c+f(x,y,z)}−δ(x,y,z))
(式中、[TiO]は重量%の単位でのチタニア濃度であり、[SiO]は重量%の単位でのシリカ濃度であり、cは、所定のゼロクロスオーバー温度(Tzc)における重量%の単位でのチタニア濃度であり、f(x,y,z)は、座標(x,y,z)を中心とする体積要素の平均組成のcに対する差を定義する三次元空間での関数であり、およびδ(x,y,z)は、座標(x,y,z)を中心とする体積要素の他のすべての成分の合計を定義する三次元空間における関数である)
の所定のチタニア濃度および所定のシリカ濃度を有するガラス部分を形成するのに十分な少なくとも2種類の混合前駆体組成物を形成するステップを含むことができる。
本開示の実施形態によると、容器は、ガラス物品が形成されるときに、選択された速度で回転させ、選択された速度で下方向に平行移動させることができる。容器は、ガラス物品が形成されるときに、選択された速度で回転させ、選択された速度で下方向に平行移動させ、選択された速度で振動させることができる。
本明細書に記載のガラス物品、およびそのようなガラス物品の形成方法によって、EUVL用途に使用するための所望のTzc勾配を有するガラス物品が形成される。本明細書に記載のガラス物品は、重量が約10キログラム(約22ポンド)の小さい物品、および重量が約1130〜2260キログラム(約2500〜5000ポンド)の大きい物品を含む種々のサイズを有することができる。さらに、本発明のガラス物品は、均一な組成勾配を有することができ、それによって均一なTzc勾配が得られ、この均一なTzc勾配は、特定の用途および特定の温度勾配に十分なTzc勾配を有するガラス物品を形成するために容易に調節可能である。
限定された数の実施形態に関して本発明を説明してきたが、本開示の利益を有する当業者は、本明細書に開示される本発明の範囲から逸脱しない他の実施形態を考案できることを理解されよう。したがって、本発明の範囲は、添付の特許請求の範囲によってのみ限定されるべきである。
以下、本発明の好ましい実施形態を項分け記載する。
実施形態1
極紫外リソグラフィ(EUVL)に使用するためのガラス物品において、前記ガラス物品中で組成勾配を有するシリカ−チタニアガラスを含み、前記組成勾配が関数:
[TiO]=(c+f(x,y,z))、および
[SiO]=(100−{c+f(x,y,z)}−δ(x,y,z))
(式中、[TiO]は重量%の単位でのチタニア濃度であり、[SiO]は重量%の単位でのシリカ濃度であり、cは、所定のゼロクロスオーバー温度(Tzc)における重量%の単位でのチタニア濃度であり、f(x,y,z)は、座標(x,y,z)を中心とする体積要素の平均組成のcに対する差を定義する三次元空間での関数であり、およびδ(x,y,z)は、前記座標(x,y,z)を中心とする体積要素の他のすべての成分の合計を定義する三次元空間における関数である)
によって定義されることを特徴とする、ガラス物品。
実施形態2
f(x,y,z)がxおよびyとは無関係であり、かつ前記ガラス物品がz軸に沿った一方向の変化を含むことを特徴とする、実施形態1に記載のガラス物品。
実施形態3
f(x,y,z)がzに沿った階段関数であり、かつ前記ガラス物品が、隣接する層の間で組成の離散的な変化を有する層状構造を含むことを特徴とする、実施形態2に記載のガラス物品。
実施形態4
前記階段関数が単調であることを特徴とする、実施形態3に記載のガラス物品。
実施形態5
前記階段関数中の段が一定の大きさであることを特徴とする、実施形態4に記載のガラス物品。
実施形態6
f(x,y,z)がzとは無関係であり、かつ前記ガラス物品がx,y面内で多方向の変化を含むことを特徴とする、実施形態1に記載のガラス物品。
実施形態7
f(x,y,z)=c(式中、cは定数である)であり、かつ前記ガラス物品が、一定組成の一般化された円筒表面の形状の層を含むことを特徴とする、実施形態6に記載のガラス物品。
実施形態8
前記定数cが離散値を有することを特徴とする、実施形態7に記載のガラス物品。
実施形態9
[TiO]が約3.0重量%〜約12重量%であることを特徴とする、実施形態1〜8のいずれか一項に記載のガラス物品。
実施形態10
[TiO]が約5.0重量%〜約9.0重量%であることを特徴とする、実施形態1〜9のいずれか一項に記載のガラス物品。
実施形態11
フッ素と、OHと、アルミニウム、ホウ素、ナトリウム、カリウム、マグネシウム、カルシウム、リチウム、およびニオブの酸化物と、それらの組合せとからなる群から選択される少なくとも1種類のドーパントをさらに含むことを特徴とする、実施形態1〜10のいずれか一項に記載のガラス物品。
実施形態12
組成勾配を有するシリカ−チタニアガラス物品を製造する方法において:
シリカ前駆体およびチタニア前駆体を混合して、少なくとも2つのガラス部分を形成するのに十分な少なくとも2種類の混合前駆体組成物を形成するステップであって、前記少なくとも2つのガラス部分のそれぞれが異なるチタニア濃度を有する、ステップと;
少なくとも2つのバーナーを用いて、前記少なくとも2種類の混合前駆体組成物を少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物に変換するステップと;
前記少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物を容器中に堆積するステップと;
前記少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物を固化させて、異なるチタニア濃度を有する前記少なくとも2つのガラス部分を有するシリカ−チタニアガラス物品を形成するステップと
を含むことを特徴とする、方法。
実施形態13
前記堆積ステップが、前記少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物のそれぞれを前記容器中に逐次堆積するステップを含むことを特徴とする、実施形態12に記載の方法。
実施形態14
前記少なくとも2種類の混合前駆体組成物を前記少なくとも2つのバーナーに逐次供給するステップをさらに含むことを特徴とする、実施形態12または13に記載の方法。
実施形態15
前記堆積ステップが、前記少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物のそれぞれを前記容器中に同時堆積するステップを含むことを特徴とする、実施形態12〜14のいずれか一項に記載の方法。
実施形態16
前記堆積ステップが:
前記少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物の第1の群を前記容器中に同時堆積して、異なるチタニア濃度を有する部分を含む第1の層を形成するステップと;
前記少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物の第2の群を前記容器中に同時堆積して、異なるチタニア濃度を有する部分を含む第2の層を形成するステップと
を含むことを特徴とする、実施形態12に記載の方法。
実施形態17
前記第1の群の前記少なくとも2種類の混合前駆体組成物のそれぞれを前記少なくとも2つのバーナーの1つに同時供給するステップと;
前記第2の群の前記少なくとも2種類の混合前駆体組成物のそれぞれを前記少なくとも2つのバーナーの1つに同時供給するステップと
をさらに含むことを特徴とする、実施形態12〜16のいずれか一項に記載の方法。
実施形態18
前記混合ステップが、シリカ前駆体およびチタニア前駆体を混合して、
[TiO]=(c+f(x,y,z))、および
[SiO]=(100−{c+f(x,y,z)}−δ(x,y,z))
(式中、[TiO]は重量%の単位でのチタニア濃度であり、[SiO]は重量%の単位でのシリカ濃度であり、cは、所定のゼロクロスオーバー温度(Tzc)における重量%の単位でのチタニア濃度であり、f(x,y,z)は、座標(x,y,z)を中心とする体積要素の平均組成のcに対する差を定義する三次元空間での関数であり、およびδ(x,y,z)は、前記座標(x,y,z)を中心とする体積要素の他のすべての成分の合計を定義する三次元空間における関数である)
の所定のチタニア濃度および所定のシリカ濃度を有するガラス部分を形成するのに十分な前記少なくとも2種類の混合前駆体組成物を形成するステップを含むことを特徴とする、実施形態12〜17のいずれか一項に記載の方法。

Claims (4)

  1. 極紫外リソグラフィ(EUVL)に使用するためのガラス物品において、前記ガラス物品中で組成勾配を有するシリカ−チタニアガラスを含み、前記組成勾配が関数:
    [TiO]=(c+f(x,y,z))、および
    [SiO]=(100−{c+f(x,y,z)}−δ(x,y,z))
    (式中、[TiO]は重量%の単位でのチタニア濃度であり、[SiO]は重量%の単位でのシリカ濃度であり、cは、所定のゼロクロスオーバー温度(Tzc)における重量%の単位でのチタニア濃度であり、f(x,y,z)は、座標(x,y,z)を中心とする体積要素の平均組成のcに対する差を定義する三次元空間での関数であり、およびδ(x,y,z)は、前記座標(x,y,z)を中心とする体積要素の他のすべての成分の合計を定義する三次元空間における関数である)
    によって定義され、
    f(x,y,z)がzとは無関係であり、かつ前記ガラス物品がx,y面内で多方向の変化を含むことを特徴とする、ガラス物品。
  2. 組成勾配を有するシリカ−チタニアガラス物品を製造する方法において:
    シリカ前駆体およびチタニア前駆体を混合して、それぞれが異なるチタニア濃度を有する少なくとも2つのガラス部分を形成するのに十分な少なくとも2種類の混合前駆体組成物を形成するステップと;
    少なくとも2つのバーナーを用いて、前記少なくとも2種類の混合前駆体組成物を少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物に同時に変換するステップと;
    前記少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物を容器中に堆積するステップと;
    前記少なくとも2種類のシリカ−チタニアスート組成物を固化させて、異なるチタニア濃度を有する前記少なくとも2つのガラス部分を有するシリカ−チタニアガラス物品を形成するステップと
    を有してなることを特徴とする、方法。
  3. 前記混合ステップが、シリカ前駆体およびチタニア前駆体を混合して、
    [TiO]=(c+f(x,y,z))、および
    [SiO]=(100−{c+f(x,y,z)}−δ(x,y,z))
    (式中、[TiO]は重量%の単位でのチタニア濃度であり、[SiO]は重量%の単位でのシリカ濃度であり、cは、所定のゼロクロスオーバー温度(Tzc)における重量%の単位でのチタニア濃度であり、f(x,y,z)は、座標(x,y,z)を中心とする体積要素の平均組成のcに対する差を定義する三次元空間での関数であり、およびδ(x,y,z)は、前記座標(x,y,z)を中心とする体積要素の他のすべての成分の合計を定義する三次元空間における関数である)
    の所定のチタニア濃度および所定のシリカ濃度を有するガラス部分を形成するのに十分な前記少なくとも2種類の混合前駆体組成物を形成するステップを含むことを特徴とする、請求項2に記載の方法。
  4. f(x,y,z)=c(式中、cは定数である)であり、かつ前記ガラス物品が、一定組成の一般化された円筒表面の形状の層を含むことを特徴とする、請求項1に記載のガラス物品。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013219808A1 (de) * 2013-09-30 2015-04-02 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Spiegelblank für EUV Lithographie ohne Ausdehnung unter EUV-Bestrahlung
WO2016154190A1 (en) * 2015-03-26 2016-09-29 Corning Incorporated Glass composite for use in extreme ultra-violet lithography
GB201523160D0 (en) * 2015-12-31 2016-02-17 Pilkington Group Ltd High strength glass containers
DE102016224236A1 (de) 2016-12-06 2017-01-26 Carl Zeiss Smt Gmbh Rohling aus TiO2-dotiertem Quarzglas, optisches Element für die EUV-Lithographie und EUV-Lithographiesystem damit
DE102021210093A1 (de) 2021-09-13 2023-03-16 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches Element mit Kühlkanälen und optische Anordnung

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5154744A (en) 1991-08-26 1992-10-13 Corning Incorporated Method of making titania-doped fused silica
GB9309387D0 (en) 1993-05-06 1993-06-16 Wellcome Found Nitric oxide scavengers
US6487879B1 (en) 1997-03-07 2002-12-03 Corning Incorporated Method of making titania-doped fused silica
EP1214718A4 (en) 1999-07-22 2006-08-23 Corning Inc EXTREMELY ULTRAVIOLET SOFT-ROENCH RADIATIONS LITHOGRAPHIC PROJECTION AND DEVICE AND LITHOGRAPHIC ELEMENTS
JP3770542B2 (ja) 1999-07-22 2006-04-26 コーニング インコーポレイテッド 遠紫外軟x線投影リソグラフィー法およびマスク装置
US6542224B2 (en) 2000-10-13 2003-04-01 Corning Incorporated Silica-based light-weight EUV lithography stages
US6606883B2 (en) * 2001-04-27 2003-08-19 Corning Incorporated Method for producing fused silica and doped fused silica glass
US8047023B2 (en) 2001-04-27 2011-11-01 Corning Incorporated Method for producing titania-doped fused silica glass
US6997015B2 (en) 2001-11-27 2006-02-14 Corning Incorporated EUV lithography glass structures formed by extrusion consolidation process
US6988377B2 (en) 2001-11-27 2006-01-24 Corning Incorporated Method for making extreme ultraviolet lithography structures
US6829908B2 (en) 2002-02-27 2004-12-14 Corning Incorporated Fabrication of inclusion free homogeneous glasses
US7053017B2 (en) 2002-03-05 2006-05-30 Corning Incorporated Reduced striae extreme ultraviolet elements
JP5367204B2 (ja) * 2003-04-03 2013-12-11 旭硝子株式会社 TiO2を含有するシリカガラスおよびEUVリソグラフィ用光学部材
US7155936B2 (en) 2003-08-08 2007-01-02 Corning Incorporated Doped silica glass articles and methods of forming doped silica glass boules and articles
US7534733B2 (en) 2004-02-23 2009-05-19 Corning Incorporated Synthetic silica glass optical material having high resistance to laser induced damage
DE102004024808B4 (de) * 2004-05-17 2006-11-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Quarzglasrohling für ein optisches Bauteil zur Übertragung extrem kurzwelliger ultravioletter Strahlung
US7506522B2 (en) 2004-12-29 2009-03-24 Corning Incorporated High refractive index homogeneity fused silica glass and method of making same
US7506521B2 (en) 2004-12-29 2009-03-24 Corning Incorporated High transmission synthetic silica glass and method of making same
US7928026B2 (en) 2005-06-30 2011-04-19 Corning Incorporated Synthetic silica material with low fluence-dependent-transmission and method of making the same
WO2009070223A1 (en) 2007-11-30 2009-06-04 Corning Incorporated Low expansion glass material having low expansivity gradient
US8268740B2 (en) 2008-02-07 2012-09-18 Corning Incorporated Halide free glasses having low OH, OD concentrations
US8328417B2 (en) 2009-08-20 2012-12-11 Corning Incorporated Photoelastic method for absolute determination of zero CTE crossover in low expansion silica-titania glass samples
DE102010039779A1 (de) * 2009-08-28 2011-03-24 Corning Inc. Glas mit geringer wärmeausdehnung für euvl-anwendungen
US8713969B2 (en) 2009-08-31 2014-05-06 Corning Incorporated Tuning Tzc by the annealing of ultra low expansion glass
US8596094B2 (en) 2009-10-21 2013-12-03 Corning Incorporated Synthetic silica glass with uniform fictive temperature
JP5510308B2 (ja) * 2009-12-25 2014-06-04 旭硝子株式会社 Euvl光学部材用基材
US20110207593A1 (en) 2010-02-25 2011-08-25 Carlos Duran Expansivity in Low Expansion Silica-Titania Glasses
US8541325B2 (en) 2010-02-25 2013-09-24 Corning Incorporated Low expansivity, high transmission titania doped silica glass
DE102010028488A1 (de) 2010-05-03 2011-11-03 Carl Zeiss Smt Gmbh Substrate für Spiegel für die EUV-Lithographie und deren Herstellung
US9034450B2 (en) 2011-08-31 2015-05-19 Corning Incorporated Binary silica-titania glass articles having a ternary doped silica-titania critical zone
JP6131957B2 (ja) * 2012-09-18 2017-05-24 株式会社ニコン SiO2−TiO2系ガラスの製造方法および該ガラスからなるフォトマスク基板の製造方法
DE102013221378A1 (de) 2013-10-22 2014-05-22 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zum Herstellen eines Rohlings

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