JP6641898B2 - 放射線厚み測定装置及びその校正方法 - Google Patents
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Description
その過程で、圧延プロセスによって導入される背応力と凝固プロセスおよび圧延プロセスで形成されるバンド組織に着目した。
その結果、背応力の影響で変態ひずみと熱ひずみが大きく変化し、また、バンド組織によっても変態ひずみが大きく変化する現象を見出した。
(3)(1)に記載の熱間放射線厚み測定装置において、放射線としてエックス線を用いた厚み測定装置。
(4)(1)〜(3)のいずれかに記載の熱間放射線厚み測定装置において、背応力の代わりに残留ひずみ量、累積圧下率、転位密度の少なくとも1つに基づいて線吸収率演算に用いる補正式を校正する機能を有することを特徴とする熱間放射線厚み測定装置。
(5)(1)〜(4)のいずれかに記載の熱間放射線厚み測定装置において、密度補正式または密度補正テーブルをレベル2のプロセスコンピュータ上で記憶し、厚み測定装置から送られた放射線吸収率をプロセスコンピュータ上で板厚に換算する機能を有することを特徴とする熱間放射線厚み測定装置。
(6)(1)〜(5)のいずれかに記載の熱間放射線厚み測定装置において、厚み測定時の表面温度測定結果の代わりに計算厚み平均温度を用いて温度補正式または他の補正式を校正する機能を有することを特徴とする熱間放射線厚み測定装置。
本発明者らは、変態ひずみや熱ひずみが、測定中の材料の鋳造条件や圧延条件によって大きく変化することを見出した。
そこで、発明者らは種々の鋳造条件や圧延条件および冷却条件で実験を行い、これらの影響を考察した。
熱間放射線厚み測定装置は、放射性元素を発生源とする放射線発生装置と、発生装置から放出された放射線を、測定対象の反対側で放射線量を測定するレセプターを有し、厚み測定時の温度を測定またはプロセスコンピュータ内を含むレベル1またはレベル2で計算する手段を持ち、(温度補正を含む)密度補正および相互干渉補正および直線性補正を行う機能を有し、放射線の吸収量とこれらの補正手段から測定対象物の厚みを測定する。
変態開始温度は背応力の方向によらず、加工ひずみの導入に応じて高温側に推移する。これは、加工による転位密度の上昇が自由エネルギーの上昇をもたらし、変態を促進させるためである。
加工履歴によって熱ひずみも影響を受けるため、熱ひずみへの影響も事前に把握しておく必要がある。前掲の表1に熱ひずみの値(先膨張係数)の変化を圧下率毎に整理したものを示す。表1からは、加工(圧下)によってフェライト域の線膨張係数が大きくなっていることが分かる。
質量%で、C:0.1%、Mn:1.0%、Si:1.0%、Al:0.03%、N:0.004%、P:0.001%、S:0.001%、Ti:0.0%、Nb:0.0%、Cr:0.0%、Cu:0.1%、Ni:0.0%、B:0.0%、Mo:0.0%、W:0.0%、及び、V:0.0%を含有する連続鋳造機で鋳造した厚み250mmの鋼片を複数枚用意した。
Claims (7)
- 放射線を利用した熱間厚み測定装置において、当該装置を用いた熱間における厚み測定結果と、熱間における厚み測定時の表面温度測定結果と、熱間厚み測定時におけるバンド組織予測結果と、熱間厚み測定時における材料の回復または再結晶により減少する背応力予測結果と、冷間で同一材料を測定した厚みデータと、に基づいて線吸収率に基づく厚み演算に用いる補正式を校正する機能を有することを特徴とする熱間放射線厚み測定装置。
- 請求項1記載の熱間放射線厚み測定装置において、放射線としてガンマ線を用いた厚み測定装置。
- 請求項1記載の熱間放射線厚み測定装置において、放射線としてエックス線を用いた厚み測定装置。
- 請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の熱間放射線厚み測定装置において、背応力予測結果の代わりに回復または再結晶により減少する累積圧下率又は転位密度に基づいて線吸収率に基づく厚み演算に用いる補正式を校正する機能を有することを特徴とする熱間放射線厚み測定装置。
- 請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の熱間放射線厚み測定装置において、密度補正式または密度補正テーブルをプロセスコンピュータ上で記憶し、厚み測定装置から送られた放射線吸収率をプロセスコンピュータ上で板厚に換算する機能を有することを特徴とする熱間放射線厚み測定装置。
- 請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載の熱間放射線厚み測定装置において、厚み測定時の表面温度測定結果の代わりに計算厚み平均温度を用いて温度補正式または他の補正式を校正する機能を有することを特徴とする熱間放射線厚み測定装置。
- 放射線を利用した熱間厚み測定方法において、熱間における厚み測定結果と、熱間における厚み測定時の表面温度測定結果と、熱間厚み測定時におけるバンド組織予測結果と、熱間厚み測定時における材料の回復または再結晶により減少する背応力予測結果と、冷間で同一材料を測定した厚みデータと、に基づいて線吸収率に基づく厚み演算に用いる補正式を校正することを特徴とする放射線厚み計の校正方法。
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