JP6640765B2 - 状態分析装置、状態分析方法及び状態分析プログラム - Google Patents
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Description
図1は、第1の実施形態の状態分析装置1の構成を示すブロック図である。状態分析装置1は、例えば製品の製造過程で蓄積された種々のデータから、不良等が発生している状態がどのような要因によるものなのかを分析する装置である。状態分析装置1は、例えば、記憶部10と、データ分類部100と、分析部200と、判定部300と、表示部400と、を備える。記憶部10は、例えば、入力データ記憶部11と、変数定義データ記憶部12と、4M・検証項目マスタ記憶部13とを備える。データ分類部100は、例えば、4M定義部110と、検証項目定義部120と、データ分割部130とを備える。分析部200は、例えば、前処理部210と、分析処理部220とを備える。判定部300は、分析結果集計部310と、集計結果判定部320とを備える。表示部400は、例えば、判定結果表示部410を備える。
第1の実施形態では、分析部200において、不良の偏り、不良のばらつき、初期不良、及び摩耗不良の各検証項目の要因が発生しているか否かを分析するものとして説明した。分析の観点はこれらに限定されるものではなく、分析部200には他の分析手法を行う構成が追加されてもよい。第2実施形態では、上記の検証項目に更なる検証項目を追加して不良の要因を分析する。
Claims (8)
- 入力されたデータを、複数の管理項目のそれぞれに対応する複数の検証項目のいずれに該当するか分類するデータ分類部と、
前記データ分類部によって分類された前記データに基づいて、前記複数の管理項目と前記複数の検証項目の各組み合わせに対応する分析を実行する分析部と、
前記分析部が分析した分析結果に基づいて、前記管理項目に対する前記検証項目の組み合わせ単位で分析結果を判定する判定部と、を備える、
状態分析装置。 - 前記分析部は、前記分析を実行する際に、前記データのデータ形式を識別し、前記データ形式に基づいて、前記分析を実行するための分析手法を選択する、
請求項1に記載の状態分析装置。 - 前記分析部は、前記分析手法を選択する際に、前記データ形式に基づいて、前記検証項目毎に前記データに対して適用される分析手法を選択する、
請求項2に記載の状態分析装置。 - 前記分析部は、前記データの前記データ形式を識別する際、前記データが連続値データであるか離散データであるかを判定し、前記データが前記連続値データであると判定された場合、前記データを離散データに離散化処理する、
請求項2から3のいずれか1項に記載の状態分析装置。 - 前記分析部の分析に用いられる検証項目及び分析手法であって、既に用意されている検証項目とは異なる他の検証項目、及び前記他の検証項目を分析するための他の分析手法が追加可能である、
請求項1から4のいずれか1項に記載の状態分析装置。 - 前記管理項目のそれぞれに対する前記検証項目のそれぞれに応じて、前記判定部が判定した有意性の判定結果を出力する出力部を更に備える、
請求項1から4のいずれか1項に記載の状態分析装置。 - コンピュータが、
入力されたデータを、複数の管理項目のそれぞれに対応する複数の検証項目のいずれに該当するか分類し、
分類された前記データに基づいて、前記複数の管理項目と前記複数の検証項目の各組み合わせに対応する分析を実行し、
分析した分析結果に基づいて、前記管理項目と前記検証項目の組み合わせ単位で分析結果を判定する、
状態分析方法。 - コンピュータに、
入力されたデータを、複数の管理項目のそれぞれに対応する複数の検証項目のいずれに該当するか分類させ、
分類された前記データに基づいて、前記複数の管理項目と前記複数の検証項目の各組み合わせに対応する分析を実行させ、
分析した分析結果に基づいて、前記管理項目と前記検証項目の組み合わせ単位で分析結果を判定させる、
状態分析プログラム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017015497A JP6640765B2 (ja) | 2017-01-31 | 2017-01-31 | 状態分析装置、状態分析方法及び状態分析プログラム |
US16/481,278 US11347811B2 (en) | 2017-01-31 | 2017-09-25 | State analysis device, state analysis method, and storage medium |
CN201780084924.6A CN110226160B (zh) | 2017-01-31 | 2017-09-25 | 状态分析装置、状态分析方法、以及存储介质 |
PCT/JP2017/034559 WO2018142665A1 (ja) | 2017-01-31 | 2017-09-25 | 状態分析装置、状態分析方法、及び記憶媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017015497A JP6640765B2 (ja) | 2017-01-31 | 2017-01-31 | 状態分析装置、状態分析方法及び状態分析プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018124723A JP2018124723A (ja) | 2018-08-09 |
JP6640765B2 true JP6640765B2 (ja) | 2020-02-05 |
Family
ID=63040485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017015497A Active JP6640765B2 (ja) | 2017-01-31 | 2017-01-31 | 状態分析装置、状態分析方法及び状態分析プログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11347811B2 (ja) |
JP (1) | JP6640765B2 (ja) |
CN (1) | CN110226160B (ja) |
WO (1) | WO2018142665A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10904113B2 (en) * | 2018-06-26 | 2021-01-26 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Insight ranking based on detected time-series changes |
CN110888813A (zh) * | 2019-11-27 | 2020-03-17 | 泰康保险集团股份有限公司 | 项目排期管理方法、装置、设备及存储介质 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001134798A (ja) * | 1999-11-08 | 2001-05-18 | Nippon Chem Ind Co Ltd | 製品品質管理情報システム |
JP4417897B2 (ja) * | 2005-09-14 | 2010-02-17 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 製造データ解析方法及び製造データ解析装置 |
US8374398B2 (en) * | 2008-10-14 | 2013-02-12 | Bell and Howell, LLC. | Linear image lift array for transported material |
JP2010250769A (ja) | 2009-04-20 | 2010-11-04 | Mitsubishi Electric Corp | 分析結果可視化装置及び分析結果可視化方法及び分析結果可視化プログラム |
JP5948910B2 (ja) * | 2012-01-31 | 2016-07-06 | 富士通株式会社 | 分析装置および分析プログラム |
JP6059123B2 (ja) * | 2013-10-16 | 2017-01-11 | カルチュア・コンビニエンス・クラブ株式会社 | 顧客データ分析・検証システム |
US20160073257A1 (en) * | 2014-09-04 | 2016-03-10 | Wedoey, Inc. | Console Display Terminal |
-
2017
- 2017-01-31 JP JP2017015497A patent/JP6640765B2/ja active Active
- 2017-09-25 US US16/481,278 patent/US11347811B2/en active Active
- 2017-09-25 CN CN201780084924.6A patent/CN110226160B/zh active Active
- 2017-09-25 WO PCT/JP2017/034559 patent/WO2018142665A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018124723A (ja) | 2018-08-09 |
US20200042556A1 (en) | 2020-02-06 |
WO2018142665A1 (ja) | 2018-08-09 |
CN110226160B (zh) | 2023-07-25 |
US11347811B2 (en) | 2022-05-31 |
CN110226160A (zh) | 2019-09-10 |
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