JP6638628B2 - Gate drive - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 79
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 66
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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Description
本発明は、ゲート駆動装置に関する。 The present invention relates to a gate driving device.
ゲート駆動型の半導体素子として、例えばIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等のゲートを駆動するゲート駆動装置では、複数個の半導体パワー素子を並列に接続した構成として負荷に給電する構成を採用することがある。これは、大電流を流す場合に、並列に接続することで半導体パワー素子のオン抵抗を下げてオン抵抗損失を低減することができるからである。 2. Description of the Related Art As a gate drive type semiconductor device, for example, in a gate drive device for driving a gate such as an IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor), a configuration in which a plurality of semiconductor power devices are connected in parallel and power is supplied to a load is adopted. is there. This is because, when a large current flows, the on-resistance of the semiconductor power element can be reduced by connecting in parallel to reduce the on-resistance loss.
しかしながら、半導体パワー素子を複数個並列に接続して駆動することは、スイッチング損失が個数に比例して増大することとなり、特にコレクタ電圧が高い状態でスイッチングする際に大きい損失となる。このため、大電流を流すために並列接続する半導体パワー素子を増設することが却って損失を増大することとなる不具合がある。 However, when a plurality of semiconductor power elements are connected in parallel and driven, the switching loss increases in proportion to the number, and a large loss particularly occurs when switching is performed in a state where the collector voltage is high. For this reason, there is a disadvantage that increasing the number of semiconductor power elements connected in parallel to allow a large current to flow increases the loss.
本発明は、上記事情を考慮してなされたもので、その目的は、高電圧が印加される状態で、大電流を流すために複数の半導体素子を並列接続する構成で、極力損失を低減しながら駆動制御することができるようにしたゲート駆動装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to reduce a loss as much as possible by connecting a plurality of semiconductor elements in parallel in order to flow a large current in a state where a high voltage is applied. It is an object of the present invention to provide a gate drive device capable of performing drive control while driving.
請求項1に記載のゲート駆動装置は、並列接続されたゲート駆動型の複数の半導体素子を駆動するゲート駆動装置であって、前記複数の半導体素子は、始動用の半導体素子と、最終駆動用の半導体素子を含んだ少なくとも1個の次段駆動用の半導体素子とが設けられ、前記複数の半導体素子のうち、前記最終駆動用の半導体素子を除いた残りの半導体素子のそれぞれの電流を検出する電流検出回路と、前記始動用の半導体素子に対してゲート駆動を定電流で行うための定電流回路と、前記定電流回路を無効化して前記次段駆動用および最終駆動用の半導体素子に対してゲート駆動を定電圧で行う切り替えスイッチと、前記複数の半導体素子を駆動制御する制御回路とを備え、前記制御回路は、外部からオン動作の駆動信号が与えられると、始動制御として、前記始動用の半導体素子に前記定電流回路により定電流でゲート信号を与えてオンさせ、次段駆動制御として、オンさせた前記半導体素子に設けられた前記電流検出回路により検出される電流が設定された閾値電流に達すると、前記切り替えスイッチを動作状態として、オフ状態の前記次段駆動用の半導体素子に定電圧でゲート信号を与えてオンさせ、以後、オフ状態の前記次段駆動用の半導体素子が存在する場合には、前記次段駆動制御を繰り返し実行するように構成され、前記閾値電流は、前記複数の半導体素子のうち前記次段駆動用の半導体素子をオンさせて電流を流したときに、オン状態のすべての前記半導体素子により発生するオン抵抗損失およびスイッチング損失の和が前記次段駆動制御の実施前よりも少なくなるように設定される。
2. The gate drive device according to
上記構成を採用することにより、制御回路により、外部からオン動作の駆動信号が与えられると、始動制御として、始動用の半導体素子に定電流回路により定電流でゲート信号を与えてオンさせ、この後次段駆動制御として、オンさせた半導体素子に設けられた電流検出回路により検出される電流が設定された閾値電流に達すると、切り替えスイッチを動作状態として、オフ状態の次段駆動用の半導体素子に定電圧でゲート信号を与えてオンさせる。以後、オフ状態の次段駆動用の半導体素子が存在する場合には、制御回路により、次段駆動制御を繰り返し実行する。 By adopting the above configuration, when a drive signal for an ON operation is externally supplied by the control circuit, as a start control, a gate signal is supplied to the start semiconductor element with a constant current by a constant current circuit by a constant current circuit to turn on the semiconductor element. When the current detected by the current detection circuit provided in the semiconductor element that has been turned on reaches a set threshold current as a subsequent next-stage drive control, the changeover switch is set to the operating state, and the next-stage driving semiconductor in the off state is set. A gate signal is applied to the element at a constant voltage to turn on the element. Thereafter, when there is a semiconductor element for driving the next stage in the OFF state, the next driving control is repeatedly executed by the control circuit.
この場合、閾値電流の設定を、複数の半導体素子のうち次段駆動用の半導体素子をオンさせて電流を流したときに、オン状態のすべての半導体素子により発生するオン抵抗損失およびスイッチング損失の和が最も少なくなるようにしている。一般に、ゲート駆動型の半導体装置は、オン抵抗損失とスイッチング損失とがトレードオフの関係にあるので、閾値電流を上記のように設定することで、半導体素子の駆動個数を適正化することで、合算損失を最小とすることができる。 In this case, the setting of the threshold current is performed by setting the ON resistance loss and the switching loss generated by all the semiconductor elements in the ON state when the semiconductor element for driving the next stage among the plurality of semiconductor elements is turned on and the current flows. We try to minimize the sum. In general, in a gate drive type semiconductor device, the on-resistance loss and the switching loss have a trade-off relationship. Therefore, by setting the threshold current as described above, by optimizing the number of driven semiconductor elements, The combined loss can be minimized.
(第1実施形態)
以下、本発明の第1実施形態について、図1〜図5を参照して説明する。
図1は電気的構成の基本構成を示している。この実施形態では、ゲート制御型の複数の半導体素子として、2個のIGBT1および2を使用する例を示している。IGBT1は、コレクタC1、エミッタE1、ゲートG1に加えて、電流をモニタするためのセンスエミッタSE1を有する。同じくIGBT2は、コレクタC2、エミッタE2、ゲートG2に加えて、電流をモニタするためのセンスエミッタSE2を有する。
(1st Embodiment)
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 shows the basic configuration of the electrical configuration. This embodiment shows an example in which two
IGBT1および2は図示しない負荷への給電経路に設けられ、各コレクタC1、C2を共通に接続されるとともに、エミッタE1、E2を共通に接続された並列駆動方式の構成である。2個のIGBT1および2へのゲート駆動電圧VG1、VG2は、直流電源VDから、定電流回路3および切り替えスイッチ4の並列回路を介して供給するように構成されている。
The
IGBT1のゲートG1は、定電流回路3からゲート電流遮断スイッチ5を介してゲート駆動電圧VG1が与えられる。また、IGBT1のゲートG1は、ゲートオフスイッチ6を介してグランドに接続される。IGBT2のゲートG2は、定電流回路3からゲート電流遮断スイッチ7を介してゲート駆動電圧VG2が与えられる。また、IGBT2のゲートG2は、ゲートオフスイッチ8を介してグランドに接続される。
The gate drive voltage VG1 is applied to the gate G1 of the IGBT1 from the constant
制御回路9は、ゲート駆動回路などが含まれた論理回路から構成されるもので、外部からの駆動信号SAに応じてIGBT1および2に対するゲート駆動信号SA1、SA2を与える。電流検出回路10および11は、それぞれIGBT1および2のセンスエミッタSE1、SE2からコレクタ・エミッタ電流Ic1、Ic2に対応した信号が入力され、電流検出信号S1、S2を制御回路9に出力する。制御回路9は、電流検出信号S1、S2に応じて、後述するようにして切り替えスイッチ4、電流遮断スイッチ5、7およびゲートオフスイッチ6、8のオンオフ制御を行う。
The
図2は上記構成の各部の具体的構成を示している。
IGBT1のセンスエミッタSE1は、電流検出抵抗1aを介してエミッタE1に接続され、IGBT1の電流Ic1の検出信号として電流検出抵抗1aの端子電圧Vse1を出力するように設けられる。IGBT2のセンスエミッタSE2は、電流検出抵抗2aを介してエミッタE2に接続され、IGBT2の電流Ic2の検出信号として電流検出抵抗2aの端子電圧Vse2を出力するように設けられる。
FIG. 2 shows a specific configuration of each part of the above configuration.
The sense emitter SE1 of the IGBT1 is connected to the emitter E1 via the
定電流回路3は、カレントミラー回路を構成するpnp型トランジスタ3a、3bと、定電流を引くためのトランジスタ3c、抵抗3d、3e、トランジスタ3fおよび参照電源3gから構成されている。定電流回路3は、参照電源3gにより設定される参照電圧Vrefcによりトランジスタ3aに所定電流を流すもので、電源VDからトランジスタ3bを介してIGBT1および2のゲートに定電流Isを供給する。
The constant
定電流回路3のトランジスタ3bに並列に接続される切り替えスイッチ4は、定電流回路3のトランジスタ3bのエミッタ・コレクタ間を短絡させ、電源VDを直接IGBT1および2のゲートに印加させる。切り替えスイッチ4は、pチャンネル型MOSFET4aと、ゲートに接続されるバッファ回路4bを備えている。バッファ回路4bは、制御回路9から切り替え信号SXが与えられる。
The
電流遮断スイッチ5は、pチャンネル型MOSFET5a、入力抵抗5bを直列に接続したもので、MOSFET5aのゲートはバッファ回路5cが接続され、制御回路9からゲート駆動信号SA1が与えられる。同じく、電源遮断スイッチ7は、pチャンネル型MOSFET7a、入力抵抗7bを直列に接続したもので、MOSFET7aのゲートはバッファ回路7cが接続され、制御回路9からゲート駆動信号SA2が与えられる。
The
ゲートオフスイッチ6は、nチャンネル型MOSFET6a、入力抵抗6bを直列に接続したもので、MOSFET6aのゲートはバッファ回路6cが接続され、制御回路9からゲート駆動信号SA1が与えられる。同じくゲートオフスイッチ8は、nチャンネル型MOSFET8a、入力抵抗8bを直列に接続したもので、MOSFET8aのゲートはバッファ回路8cが接続され、制御回路9からゲート駆動信号SA2が与えられる。
The gate-off switch 6 has an n-channel MOSFET 6a and an
電流検出回路10は、コンパレータ10a、参照電源10bおよびフィルタ10cを備えている。コンパレータ10aの非反転入力端子にIGBT1のセンスエミッタSE1に現れる電流検出信号Vse1が入力され、反転入力端子には閾値電流値Ith1を設定する参照電源10bにより参照電圧Vref1が入力される。コンパレータ10aは、IGBT1の電流検出信号Vse1と参照電圧Vref1とを比較して参照電圧Vref1以上のときにハイレベルの検出信号S1を出力し、フィルタ10cを介して制御回路9に入力する。フィルタ10cは、ハイレベルの検出信号S1が一定時間継続すると制御回路に検出信号S1を出力する。
The
電流検出回路11は、コンパレータ11a、参照電源11bおよびフィルタ11cを備えている。コンパレータ11aの非反転入力端子にIGBT2のセンスエミッタSE2に現れる電流検出信号Vse2が入力され、反転入力端子には閾値電流値Ith1を設定する参照電源11bにより参照電圧Vref2が入力される。コンパレータ11aは、IGBT2の電流検出信号Vse2と参照電圧Vref2とを比較して参照電圧Vref2以上のときにハイレベルの検出信号S2を出力し、フィルタ11cを介して制御回路9に入力する。フィルタ11cは、ハイレベルの検出信号S2が一定時間継続すると制御回路に検出信号S2を出力する。
The
次に、上記構成の作用について、図3から図5も参照して説明する。
図3は、制御回路9のロジック機能によるIGBT1および2のゲート駆動制御動作の流れを示している。スタンバイ状態では、制御回路9は、切り替えスイッチ4に対してオフ状態を保持するハイレベルの信号SXを出力しており、これにより、電源VDは、定電流回路3で生成される定電流Isを流すことでゲート駆動電圧VG1あるいはVG2を供給する状態である。
Next, the operation of the above configuration will be described with reference to FIGS.
FIG. 3 shows a flow of the gate drive control operation of the
また、IGBT1および2を駆動していない状態では、制御回路9は、IGBT1および2に対して、ハイレベルのゲート駆動信号SA1およびSA2を出力している。これにより、電流遮断スイッチ5および7の各MOSFET5aおよび7aはオフ状態に保持され、ゲートオフスイッチ6および8のMOSFET6aおよび8aはオン状態に保持されている。IGBT1のゲートG1はMOSFET6aを介してグランドに接続され、IGBT2のゲートG2はMOSFET8aを介してグランドに接続され、それぞれオフ状態が保持されている。
When the
そして、制御回路9は、外部から駆動信号SAが与えられると、ステップA1として、始動用の半導体素子であるIGBT1を定電流で駆動させるためのローレベルのゲート駆動信号SA1を出力する。ゲート駆動信号SA1により、ゲートオフスイッチ6のMOSFET6aはオフされ、さらに電流遮断スイッチ5のMOSFET5aはオン駆動される。IGBT1は、ゲートG1に電源VDから定電流回路3を介してゲート電流Isが流れ、ゲート駆動電圧VG1が供給される。これにより、IGBT1は、dV/dtを比較的緩やかな状態でゲート電圧VG1が印加されるので、スイッチング損失のばらつきを低減した状態で駆動をすることができる。
Then, when the drive signal SA is supplied from the outside, the
この後、IGBT1のゲート電圧が安定すると、次に、制御回路9では、ステップA2で、切り替えスイッチ4のバッファ回路4bにローレベルの切り替え信号SXを出力する。これにより、MOSFET4aがオンされるので、定電流回路3による定電流供給状態が停止され、電源VDを直接供給する定電圧供給状態に切り替わる。
Thereafter, when the gate voltage of the
このとき、IGBT1の電流Ic1は、電流検出回路10により検出されている。電流検出回路10では、IGBT1の電流値Ic1に相当する検出電圧Vse1が入力され、閾値電流Ith1を設定する参照電圧Vref1以上になると、電流検出回路10は、検出信号S1を制御回路9に出力する。検出電圧Vse1のレベルが上昇してコンパレータ10aからハイレベルの信号が一定時間以上継続すると、フィルタ10cから検出信号S1が出力される。
At this time, the current Ic1 of the IGBT1 has been detected by the
電流検出回路10によるIGBT1の電流値Ic1が閾値電流Ith1未満の状態であるときには、制御回路9は、ステップA3でYESとして、IGBT1単独のオン状態を継続する。また、電流値Ic1が閾値電流Ith1以上になって検出信号S1が出力されると、制御回路9は、ステップA4に進み、IGBT2を定電圧駆動する。制御回路9は、IGBT1に加えてIGBT2にもゲート駆動信号SA2を出力する。
When the current value Ic1 of the IGBT1 by the
ゲート駆動信号SA2により、ゲートオフスイッチ8のMOSFET8aはオフされ、さらに電流遮断スイッチ7のMOSFET7aはオン駆動される。IGBT2は、ゲートG2に電源VDから切り替えスイッチ4のMOSFET4aを介してゲート電圧が印加される。このとき、IGBT2は、既にIGBT1がオンしていることでドレイン・ソース間にかかる電圧が低い状態であるから、定電圧駆動をすることで損失を削減することができる。
また、これにより、2個のIGBT1および2を駆動することで、全体としてオン抵抗を低下させた状態で全体の電流を流すことができ、オン抵抗損失の低減を図ることができる。
In response to the gate drive signal SA2, the MOSFET 8a of the gate off
In addition, by driving the two
上記した動作において、電流検出回路10の閾値電流Ith1の値は、これ以上IGBT1のコレクタ電流Ic1が増えると、IGBT1のオン抵抗による損失が増大することとなり、IGBT2も駆動することでスイッチング損失が増大してもオン抵抗による損失を低減することで、全体として損失を低減できるレベルに設定されている。
In the above operation, when the collector current Ic1 of the IGBT1 further increases, the threshold current Ith1 of the
これによって、初期駆動時はスイッチング損失のばらつきを低減するために、IGBT1を定電流Isで駆動し、IGBT1の電流Ic1が閾値電流Ith1以上になると、次段駆動用の半導体素子であるIGBT2を定電圧VDで駆動することで、dV/dtを上げて損失を削減したオン動作を行うことができる。
Thus, at the time of the initial drive, the
次に、上記の動作について、図4および図5を参照して説明する。図4は、図示しない負荷に流れる電流が大きく、2個のIGBT1および2を、共にオン動作させる場合のタイムチャートを示す。また、図5は、負荷に流れる電流が少なく、IGBT1だけをオン動作させる場合のタイムチャートを示している。
Next, the above operation will be described with reference to FIGS. FIG. 4 shows a time chart when a large current flows through a load (not shown) and both
図4(a)に示すように、時刻ta1でハイレベルの駆動信号SAが入力されると、制御回路9は、図4(c)に示すように、IGBT1をオンさせるためにローレベルのゲート駆動信号SA1を出力する。これにより、ゲートオフスイッチ6はオフされ、電流遮断スイッチ5はオンされ、IGBT1のゲートG1に定電流回路3から定電流Isによってゲート駆動電圧VG1が与えられる。
As shown in FIG. 4A, when the high-level drive signal SA is input at time ta1, the
IGBT1のゲート電圧Vg1は、図4(b)に実線で示すように、ゲートG1に一定電流Isを供給することで一定の傾斜をもって上昇し、図4(e)に示すように、IGBT1のコレクタ電流Ic1が徐々に増加していく。IGBT1のゲート電圧Vg1が所定レベル以上になった後に、制御回路9は、切り替えスイッチ4をオン状態に切り替えて定電流回路3を無効化して定電圧供給状態に切り替える。
The gate voltage Vg1 of the IGBT1 rises with a constant slope by supplying a constant current Is to the gate G1 as shown by a solid line in FIG. 4B, and as shown in FIG. The current Ic1 gradually increases. After the gate voltage Vg1 of the
この後、図4(e)に示すように、時刻ta2でIGBT1のコレクタ電流Ic1が閾値電流Ith1に達すると、制御回路9は、図4(d)に示すように、IGBT2をオンさせるためにローレベルのゲート駆動信号SA2を出力する。これにより、ゲートオフスイッチ8はオフされ、電流遮断スイッチ7はオンされ、IGBT2のゲートG2に電源VDから定電圧でゲート駆動電圧VG2が与えられる。
Thereafter, as shown in FIG. 4E, when the collector current Ic1 of the IGBT1 reaches the threshold current Ith1 at time ta2, the
IGBT2のゲート電圧Vg2は、図4(b)に破線で示すように、ゲートG2に定電圧が印加されることでIGBT1のゲート電圧Vg1よりも急峻な傾きで上昇し、図4(f)に示すように、IGBT2のコレクタ電流Ic2が増加していく。このとき、IGBT1のコレクタ電流Ic1は、図4(e)に示すように、IGBT2のコレクタ電流Ic2が増加することで分担する電流が低下するので閾値電流Ith1以下になる。これによって、2個のIGBT1および2によって負荷への給電が行われる状態となる。
As shown by the broken line in FIG. 4B, the gate voltage Vg2 of the IGBT2 rises at a steeper slope than the gate voltage Vg1 of the IGBT1 by applying a constant voltage to the gate G2. As shown, the collector current Ic2 of the IGBT2 increases. At this time, the collector current Ic1 of the IGBT1 becomes lower than the threshold current Ith1 because the shared current decreases as the collector current Ic2 of the IGBT2 increases, as shown in FIG. 4E. Thus, power is supplied to the load by the two
この後、図4(f)に示すように、時刻ta3でIGBT2のコレクタ電流Ic2の上昇が止まり、一定電流になると、IGBT1のコレクタ電流Ic1も一定電流になり、全体として負荷に流れる電流が一定になった状態となる。これにより、IGBT2をオンさせるときのスイッチング損失が増えるものの、2個のIGBT1および2によるオン抵抗による損失の和がそれ以上に低下するので、全体としての損失を低減することができる。
Thereafter, as shown in FIG. 4 (f), at time ta3, the rise of the collector current Ic2 of the IGBT2 stops, and when the current becomes a constant current, the collector current Ic1 of the IGBT1 also becomes a constant current, and the current flowing through the load as a whole is constant. It will be in the state of As a result, although the switching loss when the
また、図4(a)に示すように、時刻ta4になって外部からオフ動作のローレベルの駆動信号SAが制御回路9に入力されると、制御回路9は、図4(c)、(d)に示すように、ハイレベルのゲート駆動信号SA1およびSA2を出力する。これにより、電流遮断スイッチ5および7はオフされ、ゲートオフスイッチ6および8がオンされ、IGBT1および2のゲート電圧Vg1およびVg2は低下し、コレクタ電流Ic1およびIc2も低下してオフ状態に移行する。
Further, as shown in FIG. 4A, when a low-level drive signal SA for the OFF operation is input to the
次に、負荷に流れる電流が少なく、IGBT1だけをオン動作させる場合には、図5(a)に示すような動作が行われる。すなわち、時刻tb1でハイレベルの駆動信号SAが入力されると、制御回路9は、図5(c)に示すように、IGBT1をオンさせるためにローレベルのゲート駆動信号SA1を出力する。これにより、前述同様にして、IGBT1のゲートG1に定電流回路3から定電流Isによってゲート駆動電圧VG1が与えられる。
Next, when the current flowing through the load is small and only the
IGBT1のゲート電圧Vg1は、図5(b)に実線で示すように、ゲートG1に一定電流Isを供給することで一定の傾斜をもって上昇し、図5(e)に示すように、IGBT1のコレクタ電流Ic1が徐々に増加していく。IGBT1のゲート電圧Vg1が所定レベル以上になった後に、制御回路9は、切り替えスイッチ4をオン状態に切り替えて定電流回路3を無効化する。
The gate voltage Vg1 of the IGBT1 rises with a constant slope by supplying a constant current Is to the gate G1 as shown by a solid line in FIG. 5B, and as shown in FIG. 5E, the collector of the IGBT1 The current Ic1 gradually increases. After the gate voltage Vg1 of the
この後、時刻tb2でIGBT1のコレクタ電流Ic1が閾値電流Ith1に達する前に一定電流レベルになると、IGBT2はオン動作されず、制御回路9によりIGBT1の単独オン状態が保持される。したがって、この状態では、制御回路9は、図5(d)に示すように、ゲート駆動信号SA2はハイレベルが保持され、図5(f)に示すように、IGBT2のコレクタ電流Ic2はゼロの状態のままである。
Thereafter, when the collector current Ic1 of the IGBT1 reaches a constant current level before reaching the threshold current Ith1 at time tb2, the IGBT2 is not turned on, and the
この状態でのIGBT1のオン動作による損失は、スイッチング損失およびオン抵抗損失の合計となるが、負荷に流れる電流つまりIGBT1のコレクタ電流Ic1のレベルでは、IGBT2もオンさせた場合に比べて低減することができる。
The loss due to the ON operation of the
この後、図5(a)に示すように、時刻tb3になって外部からオフ動作のローレベルの駆動信号SAが制御回路9に入力されると、制御回路9は、図5(c)に示すように、ハイレベルのゲート駆動信号SA1を出力する。これにより、電流遮断スイッチ5はオフされ、ゲートオフスイッチ6がオンされ、IGBT1のゲート電圧Vg1は低下して、コレクタ電流Ic1も低下してオフ状態に移行する。
Thereafter, as shown in FIG. 5A, when a low-level drive signal SA for the OFF operation is input from the outside to the
次に、制御回路9によるローテーション動作について説明する。本実施形態では、IGBT2にも電流検出回路11が設ける構成としている。上記したIGBT1および2の駆動制御では用いていないが、駆動信号SAが与えられる毎に、最初に駆動するIGBTをIGBT1および2で入れ替えて行うようにするものである。
Next, a rotation operation by the
したがって、次回外部から駆動信号SAが入力されると、制御回路9は、最初にIGBT2を定電流Isでゲート駆動電圧VG2を印加するように駆動制御する。そして、IGBT2のコレクタ電流Ic2が閾値電流Ith1に達すると、制御回路9は、電流検出回路11から入力される電流検出信号S2に応じて、IGBT1をオン動作させるようにゲート駆動信号SA1を出力して駆動制御する。
Therefore, when the driving signal SA is input from the outside next time, the
なお、上記のようなローテーション制御は、駆動信号SAが入力される毎にIGBT1および2を入れ替えて駆動するようにしても良いし、複数回の駆動信号SAの入力毎にカウンタなどによって切り替えるように設定することもできる。また、駆動信号SAの入力回数ではなく、他の方式によってローテーション制御を行うことも可能である。
The rotation control as described above may be performed by exchanging the
このように制御回路9によりIGBT1および2をローテーション制御することで、IGBT1および2を平均化させた使用状態とすることができ、これによってIGBT1および2の寿命を平均化させることができる。
By controlling the rotation of the
このような本実施形態によれば、制御回路9により、IGBT1を定電流Isで駆動し、IGBT1のコレクタ電流Ic1が電流閾値Ith1に達したときに、IGBT2を定電圧VDで駆動するようにしたので、IGBT1だけを駆動した場合や、IGBT1および2を同時に駆動した場合に比べて、スイッチング損失とオン抵抗損失の合算値を低減することができる。
According to this embodiment, the
また、2個のIGBT1および2の駆動個数を、負荷に流れる電流に応じて変化させることで、スイッチング損失およびオン抵抗損失の和が小さくなる条件で駆動することができる。換言すれば、閾値電流Ith1をそのようなレベルに設定することで、上記した条件を設定して駆動制御することができる。
Further, by changing the number of driven
なお、上記実施形態では、IGBT1および2を制御回路9によりローテーション制御することを前提として、IGBT2のコレクタ電流Ic2を検出する電流検出回路11を設ける構成としたが、IGBT1を始動用として専用に用いる場合には、IGBT1に対する電流検出回路10を設け、電流検出回路11は設けない構成とすることができる。
In the above embodiment, the
また、制御回路9による切り替えスイッチ4への駆動信号SXの出力タイミングは、IGBT1のゲート電圧Vg1が所定レベルに達した時点としたが、IGBT1のコレクタ電流Ic1が閾値電流Ith1に達してIGBT2をオン動作させるときに、これに先立って実施するようにすることもできる。
The output timing of the drive signal SX to the
(第2実施形態)
図6から図11は第2実施形態を示すもので、以下、第1実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、複数の半導体素子として3個のIGBT21〜23を並列接続した構成に適用するゲート駆動装置の例を示している。
(2nd Embodiment)
FIGS. 6 to 11 show a second embodiment. Hereinafter, portions different from the first embodiment will be described. This embodiment shows an example of a gate drive device applied to a configuration in which three
図6は概略的な電気的構成を示すもので、IGBT21〜23は、それぞれコレクタC1〜C3、エミッタE1〜E3、ゲートG1〜G3を備え、さらに電流をモニタするためのセンスエミッタSE1〜SE3を有する。
FIG. 6 shows a schematic electrical configuration. Each of
IGBT21〜および23は図示しない負荷への給電経路に設けられ、各コレクタC1〜C3を共通に接続されるとともに、エミッタE1〜E3を共通に接続された並列駆動方式の構成である。3個のIGBT21〜23へのゲート駆動電圧VG1〜VG3は、直流電源VDから、定電流回路24および切り替えスイッチ25の並列回路を介して供給するように構成されている。
The
IGBT21のゲートG1は、定電流回路24からゲート電流遮断スイッチ26を介してゲート駆動電圧VG1が与えられる。また、IGBT21のゲートG1は、ゲートオフスイッチ27を介してグランドに接続される。IGBT22のゲートG2は、定電流回路24からゲート電流遮断スイッチ28を介してゲート駆動電圧VG2が与えられる。また、IGBT22のゲートG2は、ゲートオフスイッチ29を介してグランドに接続される。IGBT23のゲートG3は、定電流回路24からゲート電流遮断スイッチ30を介してゲート駆動電圧VG3が与えられる。また、IGBT23のゲートG3は、ゲートオフスイッチ31を介してグランドに接続される。
The gate drive voltage VG1 is applied to the gate G1 of the
制御回路32は、ゲート駆動回路などが含まれた論理回路から構成されるもので、外部からの駆動信号SAに応じてIGBT21〜23に対するゲート駆動信号SA1〜SA3を与える。電流検出回路33〜35は、それぞれIGBT21〜23のセンスエミッタSE1〜SE3からコレクタ・エミッタ電流Ic1〜Ic3に対応した信号が入力され、電流検出信号S1〜S3を制御回路32に出力する。制御回路32は、電流検出信号S1〜S3に応じて、後述するようにして切り替えスイッチ25、電流遮断スイッチ26、28、30およびゲートオフスイッチ27、29、30のオンオフ制御を行う。
The
なお、上記構成の具体的な回路構成については、説明を省略するが、図2に示した第1実施形態とほぼ同等の回路構成が3個のIGBT21〜23に対応して設けられている。また、この実施形態では、電流検出回路33〜35は、それぞれが閾値電流Ith1およびIth2の2つの閾値電流でコレクタ電流Ic1〜Ic3のレベルを判定している。電流検出信号S1〜S3は、それぞれの検出レベルに応じた信号が出力される。
Although the description of a specific circuit configuration of the above configuration is omitted, a circuit configuration substantially equivalent to that of the first embodiment shown in FIG. 2 is provided corresponding to the three
次に、上記構成の作用について、図7から図11も参照して説明する。
図7は、制御回路32のロジック機能によるIGBT21〜23のゲート駆動制御動作の流れを示している。スタンバイ状態では、制御回路32は、切り替えスイッチ25に対してオフ状態を保持するローレベルの信号SXを出力しており、これにより、電源VDは、定電流回路24で生成される定電流Isを流すことでゲート駆動電圧VG1〜VG3を供給する状態である。
Next, the operation of the above configuration will be described with reference to FIGS.
FIG. 7 shows a flow of the gate drive control operation of the
IGBT21〜23を駆動していない状態では、制御回路32は、IGBT21〜23に対して、ハイレベルのゲート駆動信号SA1〜SA3を出力している。これにより、電流遮断スイッチ26、28、30はオフ状態に保持され、ゲートオフスイッチ27、29、31はオン状態に保持されている。IGBT21〜23の各ゲートG1〜G3はゲートオフスイッチ27、29、31を介してグランドに接続され、それぞれオフ状態が保持されている。
When the
そして、制御回路32は、外部からハイレベルの駆動信号SAが与えられると、第1実施形態と同様にして、ステップA1として、始動用の半導体素子であるIGBT21を定電流で駆動させる。この後、IGBT21のゲート電圧が安定すると、次に、制御回路32では、ステップA2で、切り替えスイッチ25にローレベルの切り替え信号SXを出力して定電流回路24による定電流供給状態を停止し、電源VDを直接供給する定電圧供給状態に切り替える。
Then, when a high-level drive signal SA is supplied from the outside, the
電流検出回路33は、IGBT21の電流値Ic1が閾値電流Ith1以上になることを検出すると、検出信号S1を制御回路32に出力する。IGBT21の電流値Ic1が閾値電流Ith1未満の状態であるときには、制御回路32は、ステップA3でYESとして、IGBT21単独のオン状態を継続する。また、電流値Ic1が閾値電流Ith1以上になって電流検出回路33から閾値電流Ith1以上に達した検出信号S1が出力されると、制御回路32は、ステップA4に進み、IGBT22を定電圧駆動する。
When detecting that the current value Ic1 of the
このとき、IGBT22は、既にIGBT21がオンしていることでドレイン・ソース間にかかる電圧が低い状態であるから、定電圧駆動をすることで損失を削減することができる。また、これにより、2個のIGBT21および22を駆動することで、全体としてオン抵抗を低下させた状態で全体の電流を流すことができ、オン抵抗損失の低減を図ることができる。
At this time, since the voltage applied between the drain and the source of the
この状態で、電流検出回路34は、IGBT22の電流値Ic2が閾値電流Ith2以上になることを検出すると、検出信号S2を制御回路32に出力する。IGBT22の電流値Ic2が閾値電流Ith2に達していない状態であるときには、制御回路32は、ステップA5でYESとして、IGBT21および22のオン状態を継続する。また、電流値Ic2が閾値電流Ith2以上になって電流検出回路34から閾値電流Ith2以上に達した検出信号S2が出力されると、制御回路32は、ステップA6に進み、さらにIGBT23を定電圧駆動する。
In this state, when detecting that the current value Ic2 of the
このとき、IGBT23は、既にIGBT21、22がオンしていることでドレイン・ソース間にかかる電圧が低い状態であるから、定電圧駆動をすることで損失を削減することができる。また、これにより、3個のIGBT21〜23を駆動することで、全体としてオン抵抗を低下させた状態で全体の電流を流すことができ、オン抵抗損失の低減を図ることができる。
At this time, since the voltage applied between the drain and the source of the
上記した動作において、電流検出回路33の閾値電流Ith1の値は、これ以上IGBT21のコレクタ電流Ic1が増えると、IGBT21のオン抵抗による損失が増大することとなり、IGBT22も駆動することでスイッチング損失が増大してもオン抵抗による損失を低減することで、全体として損失を低減できるレベルに設定されている。
In the above operation, when the collector current Ic1 of the
また、電流検出回路34の閾値電流Ith2の値は、これ以上IGBT22のコレクタ電流Ic2が増えると、IGBT21および22のオン抵抗による損失が増大することとなり、IGBT23も駆動することでスイッチング損失が増大してもオン抵抗による損失を低減することで、全体として損失を低減できるレベルに設定されている。
Also, the value of the threshold current Ith2 of the
これによって、初期駆動時はスイッチング損失のばらつきを低減するために、IGBT21を定電流で駆動し、IGBT21の電流Ic1が閾値電流Ith1以上になると、次段駆動用の半導体素子であるIGBT22を定電圧で駆動することで、dV/dtを上げて損失を削減したオン動作を行うことができる。さらに、IGBT22の電流Ic2が閾値電流Ith2以上になると、次段駆動用で最終駆動用の半導体素子であるIGBT23を定電圧で駆動することで、dV/dtを上げて損失を削減したオン動作を行うことができる。
Thus, in the initial drive, the
次に、上記の動作について、図8〜図10を参照して説明する。
図8は、負荷に流れる電流が大きく、3個のIGBT21〜23を、共にオン動作させる場合のタイムチャートを示す。また、図9は、負荷に流れる電流が中程度で、IGBT21および22をオン動作させる場合のタイムチャートを示している。図10は、負荷に流れる電流が小さく、IGBT21だけをオン動作させる場合のタイムチャートを示している。
Next, the above operation will be described with reference to FIGS.
FIG. 8 is a time chart in the case where the current flowing through the load is large and all three
図8(a)に示すように、時刻ta1でハイレベルの駆動信号SAが入力されると、制御回路32は、図8(c)に示すように、IGBT21をオンさせるためにローレベルのゲート駆動信号SA1を出力する。これにより、ゲートオフスイッチ27はオフされ、電流遮断スイッチ26はオンされ、IGBT21のゲートG1に定電流回路24から定電流Isによってゲート駆動電圧VG1が与えられる。
As shown in FIG. 8A, when the high-level drive signal SA is input at time ta1, the
IGBT21のゲート電圧Vg1は、図8(b)に実線で示すように、ゲートG1に一定電流Isを供給することで一定の傾斜をもって上昇し、図8(f)に示すように、IGBT21のコレクタ電流Ic1が徐々に増加していく。IGBT21のゲート電圧Vg1が所定レベル以上になった後に、制御回路32は、切り替えスイッチ25をオン状態に切り替えて定電流回路24を無効化する。
As shown by the solid line in FIG. 8B, the gate voltage Vg1 of the
この後、時刻ta2でIGBT21のコレクタ電流Ic1が閾値電流Ith1に達すると、制御回路32は、図8(d)に示すように、IGBT22をオンさせるためにローレベルのゲート駆動信号SA2を出力する。これにより、ゲートオフスイッチ29はオフされ、電流遮断スイッチ28はオンされ、IGBT22のゲートG2に電源VDから定電圧でゲート駆動電圧VG2が与えられる。
Thereafter, when the collector current Ic1 of the
IGBT22のゲート電圧Vg2は、図8(b)に破線で示すように、ゲートG2に定電圧が印加されることでIGBT21のゲート電圧Vg1よりも急峻な傾きで上昇し、図8(g)に示すように、IGBT22のコレクタ電流Ic2が増加していく。このとき、IGBT21のコレクタ電流Ic1は、IGBT22のコレクタ電流Ic2が増加することで分担する電流が低下するので閾値電流Ith1以下になる。これによって、2個のIGBT21および22によって負荷への給電が行われる状態となる。
The gate voltage Vg2 of the
この後、時刻ta3でIGBT22のコレクタ電流Ic2が閾値電流Ith2に達すると、制御回路32は、図8(e)に示すように、IGBT23をオンさせるためにローレベルのゲート駆動信号SA3を出力する。これにより、ゲートオフスイッチ31はオフされ、電流遮断スイッチ30はオンされ、IGBT23のゲートG3に電源VDから定電圧でゲート駆動電圧VG3が与えられる。
Thereafter, when the collector current Ic2 of the
IGBT23のゲート電圧Vg3は、図8(b)に点線で示すように、ゲートG3に定電圧が印加されることでIGBT22のゲート電圧Vg2と同様にして急峻な傾きで上昇し、図8(h)に示すように、IGBT23のコレクタ電流Ic3が増加していく。このとき、IGBT21および22のコレクタ電流Ic1、Ic2は、IGBT23のコレクタ電流Ic3が増加することで分担する電流が低下し、コレクタ電流Ic2は閾値電流Ith2以下になる。これによって、3個のIGBT21〜23によって負荷への給電が行われる状態となる。
As shown by a dotted line in FIG. 8B, the gate voltage Vg3 of the
この後、時刻ta4でIGBT23のコレクタ電流Ic3の上昇が止まり、一定電流になると、IGBT21および22のコレクタ電流Ic1およびIc2も一定電流になり、全体として負荷に流れる電流が一定になった状態となる。これにより、IGBT22および23をオンさせるときのスイッチング損失が増えるものの、3個のIGBT21〜23によるオン抵抗による損失の和がそれ以上に低下するので、全体としての損失を低減することができる。
Thereafter, at time ta4, the rise of the collector current Ic3 of the
また、図8(a)に示すように、時刻ta5になって外部からオフ動作のローレベルの駆動信号SAが制御回路32に入力されると、制御回路32は、図8(c)〜(e)に示すように、ハイレベルのゲート駆動信号SA1〜SA3を出力する。これにより、電流遮断スイッチ26、28、30はオフされ、ゲートオフスイッチ27、29、31がオンされ、IGBT21〜23のゲート電圧Vg1〜Vg3は低下し、コレクタ電流Ic1〜Ic3も低下してオフ状態に移行する。
Further, as shown in FIG. 8A, when a low-level drive signal SA for the off operation is input from the outside to the
次に、負荷に流れる電流が中程度で、IGBT21および22をオン動作させる場合には、図9に示すような動作が行われる。この動作については、第1実施形態で説明した図4に示した場合の動作と同等であるので、説明を省略する。同様に、負荷に流れる電流が少なく、IGBT21のみオン動作させる場合には、図10に示すような動作が行われる。この動作についても、第1実施形態で説明した図5に示した場合の動作と同等であるので、説明を省略する。
Next, when the
次に、上記の動作と損失の発生との関係について、図11を参照して説明する。この実施形態では、3個のIGBT21〜23を負荷電流の大きさに応じてオン動作を制御する構成としている。この場合において、オン動作させるIGBT21〜23の個数と、その時に発生するスイッチング損失およびオン抵抗損失、合算損失の関係を示している。
Next, the relationship between the above operation and the occurrence of loss will be described with reference to FIG. In this embodiment, the three
スイッチング損失については、IGBT1個あたりの損失は定電流駆動がやや少なく、定電流駆動後の定電圧駆動では発生する損失はほぼ同じとなっている。したがって、図中黒四角と点線で示しているように、オン動作させるIGBTの個数にほぼ比例して増加する傾向を示している。 Regarding the switching loss, the loss per IGBT is slightly smaller in the constant current drive, and the loss generated in the constant voltage drive after the constant current drive is almost the same. Therefore, as shown by a black square and a dotted line in the drawing, the number of the IGBTs to be turned on tends to increase substantially in proportion to the number of IGBTs to be turned on.
一方、オン抵抗損失については、負荷電流の電流レベルに応じて異なるものであり、負荷電流が「大」、「中」、「小」の場合に対応して示している。上記した3個のIGBT21〜23をオン動作させる場合を負荷電流「大」とし黒四角と実線で示している。2個のIGBT21、22をオン動作させる場合を負荷電流「中」として黒四角と破線で示している。IGBT21だけをオン動作させる場合を負荷電流「小」として黒四角と一点鎖線で示している。オン抵抗損失は、いずれの負荷電流レベルにおいても、IGBTのオン動作の個数が多いほど低下する傾向にある。
On the other hand, the on-resistance loss varies depending on the current level of the load current, and corresponds to the case where the load current is “large”, “medium”, and “small”. The case where the above-mentioned three
IGBT21〜23をオン動作させる場合の全体の損失は、スイッチング損失とオン抵抗損失を合算したものである。合算損失は図中に負荷電流の電流レベル「大」、「中」、「小」に応じて、太実線、太破線、太一点鎖線と黒三角で示している。したがって、合算損失が最も小さくなるときのIGBTの駆動個数が適切な駆動制御状態であると言える。
The total loss when the
この結果、負荷電流が「大」では、白抜き三角に「3」を記載した3個のIGBT21〜23をオン動作させたときの合算損失が最も小さい。負荷電流が「中」では、白抜き三角に「2」を記載した2個のIGBT21、22をオン動作させたときの合算損失が最も小さい。負荷電流が「小」では、白抜き三角に「1」を記載した1個のIGBT21をオン動作させたときの合算損失が最も小さい。
As a result, when the load current is “large”, the total loss when the three
換言すれば、上記のように負荷電流のレベルによってIGBT21〜23の駆動個数を切り替えるように、閾値電流Ith1、Ith2を設定することで、負荷電流のレベルによって発生する合算損失を最も低減することができるのである。
In other words, by setting the threshold currents Ith1 and Ith2 such that the drive number of the
なお、上記構成においても、それぞれのIGBT21〜23に対応して電流検出回路33〜35を設けているので、第1実施形態と同様にして、制御回路32によるIGBT21〜23のローテーション動作により駆動制御することができる。
In the above configuration, since the
また、制御回路32によるローテーション制御は、駆動信号SAが入力される毎にIGBT21〜23を適宜入れ替えて駆動するようにしても良いし、複数回の駆動信号SAの入力毎にカウンタなどによって切り替えるように設定することもできる。また、駆動信号SAの入力回数ではなく、他の方式によってローテーション制御を行うことも可能である。
Further, the rotation control by the
このように制御回路32によりIGBT21〜23をローテーション制御することで、IGBT21〜23を平均化させた使用状態とすることができ、これによってIGBT21〜23の寿命を平均化させることができる。
In this way, by controlling the rotation of the
したがって、このような第2実施形態によっても、3個のIGBT21〜23を設けた場合においても、第1実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
なお、上記実施形態においても、IGBT21〜23を制御回路32によりローテーション制御することを前提として、IGBT23のコレクタ電流Ic3を検出する電流検出回路35を設ける構成としたが、電流検出回路35を設けない構成として、2個のIGBT21および22をローテーション動作させることもできる。
Therefore, according to the second embodiment, even when the three
In the above embodiment, the
(第3実施形態)
図12から図14は第3実施形態を示すもので、以下、第1実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、上記した第1実施形態と同様の構成において、IGBT1および2を共にオン動作させている状態で、オフ動作させる場合の制御について示している。なお、この実施形態では、オフ動作を主体とした制御を示すため、オン動作については、2個のIGBT1および2を同時にオンさせる場合を示しているが、勿論、第1実施形態のようにオン動作についての制御を実施することができるものである。
(Third embodiment)
FIGS. 12 to 14 show a third embodiment. Hereinafter, portions different from the first embodiment will be described. In this embodiment, a control in the case where the
図12は、制御回路9によるオン動作中のIGBT1および2をオフ駆動させるときの制御動作の流れを示している。この実施形態では、外部から与えられる駆動信号SAによるオン期間Tonがある程度の範囲に入るように設定されている場合において、先にオフさせるIGBT2のオフ時間toffが予め設定されている。
FIG. 12 shows a flow of a control operation performed by the
制御回路9は、外部からオン動作のハイレベルの駆動信号SAが入力されると、その時点からの経過時間のカウントを開始している。制御回路9は、2個のIGBT1および2をオン動作させたときには、図12に示す動作を行う。すなわち、制御回路9は、まず、ステップB1として、経過時間がオフ時間toffを経過するのを待ちながら、ステップBで、駆動信号SAがオフ動作を示すローレベルに変化したか否かを判断する。
When the high-level drive signal SA for the ON operation is input from the outside, the
ここでは、通常の場合には、先にオフ時間toffが経過するので、制御回路9は、ステップB3として、IGBT2を先にオフさせるようにハイレベルのゲート駆動信号SA2を出力する。これにより、IGBT1がオンを保持した状態でIGBT2はオフする。制御回路9は、この後、ステップB4で、外部からローレベルの駆動信号SAが入力されるのを待って、ステップB5になると、IGBT1をオフさせて動作を終了する。
Here, in the normal case, since the off-time toff elapses first, the
一方、制御回路9は、オフ時間toffが経過する前に外部からローレベルの駆動信号SAが入力されると、ステップB2でYESとなって、この後、ステップB6で、2個のIGBT1および2を共にオフさせる。
On the other hand, if the low-level drive signal SA is input from the outside before the off-time toff elapses, the
次に、上記のオフ動作について、図13および図14を参照して説明する。図13は、2個のIGBT1、2をオン動作させた後、ローレベルの駆動信号SAが入力される前にオフ期間toffが経過する場合のタイムチャートを示している。図14は、2個のIGBT1、2をオン動作させた後、オフ期間toffが経過する前にローレベルの駆動信号SAが入力された場合のタイムチャートを示している。
Next, the above-mentioned off operation will be described with reference to FIGS. FIG. 13 shows a time chart in a case where the off period toff elapses before the low-level drive signal SA is input after the two
まず、図13の動作では、図13(a)に示すように、時刻tx1でハイレベルの駆動信号SAが入力されると、制御回路9は、図13(c)、(d)に示すように、IGBT1および2をオンさせるためにローレベルのゲート駆動信号SA1、SA2を出力する。これにより、ゲートオフスイッチ6、8はオフされ、電流遮断スイッチ5、7はオンされ、IGBT1、2のゲートG1、G2に定電流回路3から定電流Isによってゲート駆動電圧VG1、VG2が与えられる。
First, in the operation of FIG. 13, as shown in FIG. 13A, when the high-level drive signal SA is input at the time tx1, the
IGBT1、2のゲート電圧Vg1、Vg2は、図13(b)に実線および破線で示すように、ゲートG1およびG2に一定電流Isを供給することで一定の傾斜をもって上昇し、図13(e)、(f)に示すように、IGBT1、2のコレクタ電流Ic1、Ic2が徐々に増加してオン状態となる。この後、制御回路9は、切り替えスイッチ4をオン状態に切り替えて定電流回路3を無効化する。
The gate voltages Vg1 and Vg2 of the
この後、IGBT1および2のオン動作中に、時刻tx2でオフ期間toffの経過になると、制御回路9は、図13(d)に示すように、ハイレベルのゲート駆動信号SA2を出力してIGBT2をオフさせる。IGBT2のゲート電圧Vg2は、図13(b)に示すようにゼロに低下し、コレクタ電流Ic2も図13(f)に示すようにゼロに低下する。このとき、IGBT1のコレクタ電流Ic1は、図13(e)に示すように、IGBT2に流れていたコレクタ電流Ic2の分が加算されて増大する。
Thereafter, when the off period toff elapses at time tx2 during the ON operation of the
この後、時刻txnで、図13(a)に示すように、外部からローレベルの駆動信号SAが入力されると、制御回路9は、図13(c)に示すように、ハイレベルのゲート駆動信号SA1を出力してIGBT1をオフさせる。IGBT1のゲート電圧Vg1は、図13(b)に示すように徐々に低下し、コレクタ電流Ic1も図13(e)に示すように低下してゼロになる。
Thereafter, at time txn, as shown in FIG. 13A, when a low-level driving signal SA is input from the outside, the
この結果、オン動作中の2個のIGBT1および2に対して、先にタイマ時間toffが経過した時点でIGBT2をオフさせてからIGBT1をオフさせるので、2個のIGBT1、2を同時にオフ動作さる場合に比べて、オフ駆動時のテール電流に起因した発熱等のスイッチングオフ損失を低減させることができる。
As a result, for the two
次に、上記の動作では、ローレベルの駆動信号SAが外部から入力するまでの期間Toffが経過する前に、オフ期間toffが経過するように設定しているので、IGBT2を先にオフ動作させることができるものである。しかし、期間Toffが経過する前にオフ動作を指示するローレベルの駆動信号SAが入力される場合を想定して、図14に示す動作を実施する。
Next, in the above operation, since the off-period toff is set to elapse before the period Toff until the low-level drive signal SA is input from the outside, the
すなわち、図14において、2個のIGBT1、2がオン状態で、図14(a)に示すように、オフ期間toffが経過する時刻tx2になる前の時刻txnに、ローレベルの駆動信号SAが外部から入力すると、制御回路9は、図14(c)、(d)に示すようにハイレベルのゲート駆動信号SA1、SA2を出力する。これにより、2個のIGBT1、2は、図14(b)に示すように、共にゲート電圧Vg1、Vg2がゼロに低下し、図14(e)、(f)に示すように、コレクタ電流Ic1、Ic2がゼロになってオフする。
That is, in FIG. 14, when the two
このような第3実施形態によれば、制御回路9により、オフ時間toffの経過時点でIGBT2を先にオフさせた後に、駆動信号SAのタイミングでIGBT1をオフ動作させることで、オフ駆動時のテール電流に起因した発熱等のスイッチングオフ損失を低減させることができる。
According to the third embodiment, the
なお、上記実施形態では、2個のIGBT1、2の場合であるが、IGBTが3個の第2実施形態や4個以上並列に設けられる構成においても適用することができる。この場合において、最後にオフ動作させるIGBTを1個残して残りのIGBTを同時にオフ動作させることができる。
In the above embodiment, two
(第4実施形態)
図15は第4実施形態を示すもので、第3実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、制御回路9に対して与えるゲート駆動信号を、最終的にオフ動作させる駆動信号SAaに対して、これに先立ってオフ動作させる駆動信号SAbを与える構成としている。
(Fourth embodiment)
FIG. 15 shows a fourth embodiment, and parts different from the third embodiment will be described. In this embodiment, a gate drive signal to be given to the
制御回路9は、前述同様にして2個のIGBT1、2を時刻ty1でオン動作させると、この後、図15(b)に示すように、時刻ty2で外部からローレベルの駆動信号SAbが入力される。これにより、制御回路9は、図15(e)に示すように、ハイレベルのゲート駆動信号SA2を出力してIGBT2をオフ動作させる。IGBT2のゲート電圧Vg2は、図15(c)に示すようにゼロまで低下し、コレクタ電流Ic2も図13(g)に示すようにゼロまで低下する。このとき、IGBT1のコレクタ電流Ic1は、図1f(e)に示すように、IGBT2に流れていたコレクタ電流Ic2の分が加算されて増大する。
When the two
この後、時刻ty3で、図15(a)に示すように、外部からローレベルの駆動信号SAaが入力されると、制御回路9は、図1d(c)に示すように、ハイレベルのゲート駆動信号SA1を出力してIGBT1をオフさせる。IGBT1のゲート電圧Vg1は、図15(b)に示すように徐々に低下し、コレクタ電流Ic1も図15(e)に示すように低下してゼロになる。
Thereafter, at time ty3, when a low-level drive signal SAa is input from the outside as shown in FIG. 15A, the
この結果、オン動作中の2個のIGBT1および2に対して、異なるタイミングで入力される駆動信号SAa、SAbによって、IGBT2をオフさせてからIGBT1をオフさせるので、第3実施形態と同様の効果を得ることができる。
なお、この実施形態においても、第3実施形態と同様に、IGBTが3個の第2実施形態や4個以上並列に設けられる構成においても適用することができる。
As a result, with respect to the two
Note that this embodiment can also be applied to the second embodiment having three IGBTs or the configuration in which four or more IGBTs are provided in parallel, similarly to the third embodiment.
(第5実施形態)
図16および図17は第5実施形態を示すもので、以下、第1実施形態と異なる部分について説明する。電気的構成については、第1実施形態で示した図1、図2と同様の構成である。この実施形態では、複数個のIGBT1、2を共に駆動している状態あるいは、一方を駆動している状態において、コレクタ電流Ic1が変動する場合の動作を示すものである。なお、この実施形態では、オフ動作を主体とした制御を示すため、オン動作については、2個のIGBT1および2を同時にオンさせる場合を示しているが、勿論、第1実施形態のようにオン動作についての制御を実施することができるものである。
(Fifth embodiment)
FIGS. 16 and 17 show the fifth embodiment. Hereinafter, portions different from the first embodiment will be described. The electrical configuration is the same as in FIGS. 1 and 2 shown in the first embodiment. This embodiment shows an operation when the collector current Ic1 fluctuates while a plurality of
図16は、制御回路9によるオン動作中のIGBT1および2について、IGBT1のコレクタ電流Ic1を検出しながら、IGBT2のオフ動作の制御をしたり、あるいはIGBT2のオフさせた後にオン動作させる場合の制御動作の流れを示している。
FIG. 16 is a diagram showing control when the
制御回路9は、外部からオン動作のハイレベルの駆動信号SAが入力されて、IGBT1、2を駆動した後に、図16に示すゲート駆動制御の動作を開始する。制御回路9は、まず、ステップC1として、現在IGBT2をオン動作させているか否かを判断し、最初の段階では、IGBT1、2がオン動作されているので、YESとしてステップC2に進む。
The
制御回路9は、ステップC2で、IGBT1のコレクタ電流Ic1のレベルが単独のオン動作が可能なレベルであるか否かを判定レベルとしてオフレベルの閾値電流Ith1xにより判断する。オフレベルの閾値電流Ith1xは前述の閾値電流Ith1に対して例えば1/2以下程度に設定されている。したがって、ここでYESになった場合には、制御回路9は、ステップC3でIGBT2をオフさせる。これにより、2個のIGBT1、2で分担していたコレクタ電流Ic1、Ic2を合算したコレクタ電流がIGBT1に流れるが、このときのコレクタ電流Ic1は閾値電流Ith1を超えないレベルになる。
In step C2, the
また、制御回路9は、ステップC2でNOの場合、つまりIGBT1のコレクタ電流Ic1がオフレベルの閾値電流Ith1xを下回っていない場合には、IGBT2をオン状態に保持する。以下、2個のIGBT1、2を駆動している状態では、制御回路9は、上記したステップを繰り返し実行する。
In addition, if NO in step C2, that is, if the collector current Ic1 of the IGBT1 is not lower than the off-level threshold current Ith1x, the
次に、IGBT1を単独で駆動する状態では、制御回路9は、ステップC1でNOとなってステップC4に進み、IGBT1のコレクタ電流Ic1が閾値電流Ith1を下回るか否かを判断する。前述の状態からコレクタ電流Ic1が増加していなければ、制御回路9はステップC4でYESと判断し、何もしない状態となる。
Next, in a state in which the
一方、IGBT1のコレクタ電流Ic1が増加して閾値電流Ith1以上になっている場合には、制御回路9は、ステップC4でNOと判断してステップC5に進み、IGBT2を前述同様にして定電圧駆動する。この後、制御回路9は、IGBT1、2に対して外部からの信号SAとしてオフ信号が与えられるまでの間、上記のゲート駆動制御を繰り返し実施する。
On the other hand, when the collector current Ic1 of the IGBT1 increases and becomes equal to or larger than the threshold current Ith1, the
次に、上記のゲート駆動制御の一例について、図17を参照して説明する。図17は、2個のIGBT1、2を同時にオン動作させた後、IGBT1のコレクタ電流Ic1の変化に応じてゲート駆動制御をする場合のタイムチャートである。
Next, an example of the gate drive control will be described with reference to FIG. FIG. 17 is a time chart in the case where two
図17(a)に示すように、時刻ts1でハイレベルの駆動信号SAが入力されると、制御回路9は、図17(c)、(d)に示すように、IGBT1および2をオンさせるためにローレベルのゲート駆動信号SA1、SA2を出力する。これにより、ゲートオフスイッチ6、8はオフされ、電流遮断スイッチ5、7はオンされ、IGBT1、2のゲートG1、G2に定電流回路3から定電流Isによってゲート駆動電圧VG1、VG2が与えられる。
As shown in FIG. 17A, when the high-level drive signal SA is input at time ts1, the
IGBT1、2のゲート電圧Vg1、Vg2は、図17(b)に実線および破線で示すように、ゲートG1およびG2に一定電流Isを供給することで一定の傾斜をもって上昇し、図17(e)、(f)に示すように、IGBT1、2のコレクタ電流Ic1、Ic2が徐々に増加してオン状態となる。この後、制御回路9は、切り替えスイッチ4をオン状態に切り替えて定電流回路3を無効化する。
The gate voltages Vg1 and Vg2 of the
この後、IGBT1および2のオン動作中に、IGBT1のコレクタ電流Ic1のレベルがオフレベルの閾値電流Ith1x以上にならない場合に、制御回路9は、時刻tx2でIGBT2をオフさせる。これにより、2個のIGBT1、2で分担していたコレクタ電流Ic1、Ic2を合算したコレクタ電流がIGBT1に流れる状態となる。
Thereafter, if the level of the collector current Ic1 of the IGBT1 does not exceed the off-level threshold current Ith1x during the ON operation of the
この後、IGBT1に流れるコレクタ電流Ic1が徐々に増加し、時刻ts3で閾値電流Ith1以上になると、制御回路9はIGBT2を定電圧駆動する。これにより、IGBT1に流れていたコレクタ電流Ic1の一部がIGBT2のコレクタ電流Ic2として流れるようになり、IGBT1のコレクタ電流Ic1は、閾値電流Ith1よりも小さくなる。
Thereafter, when the collector current Ic1 flowing through the IGBT1 gradually increases and becomes equal to or larger than the threshold current Ith1 at time ts3, the
このようなゲート駆動制御が制御回路9により繰り返し実行され、負荷に流れる電流が変化することに対応して、IGBT1および2が閾値電流Ith1を超えることがないように駆動制御されるようになる。
Such gate drive control is repeatedly executed by the
このような第5実施形態によれば、制御回路9により、2個のIGBT1、2のオン動作中にIGBT2をオフ動作させたり、1個のIGBT1のオン動作中にIGBT2を定電圧でオン動作させることで、IGBT1、2の動作中においても第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
なお、上記実施形態では、2個のIGBT1、2の場合であるが、IGBTが3個の第2実施形態や4個以上並列に設けられる構成においても適用することができる。
According to the fifth embodiment, the
In the above embodiment, two
(他の実施形態)
なお、本発明は、上述した実施形態のみに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の実施形態に適用可能であり、例えば、以下のように変形または拡張することができる。
(Other embodiments)
Note that the present invention is not limited to only the above-described embodiment, and can be applied to various embodiments without departing from the gist thereof. For example, the present invention can be modified or expanded as follows.
複数の半導体素子として、4個以上のIGBTを設けることもできる。
また、ゲート駆動型の半導体素子は、IGBT以外に、MOSFETなどのゲート駆動型のものを設けることもできる。
As a plurality of semiconductor elements, four or more IGBTs can be provided.
Further, as the gate drive type semiconductor element, a gate drive type semiconductor device such as a MOSFET can be provided in addition to the IGBT.
電流検出回路10、11、33〜35は、閾値電流を基準として比較するコンパレータにより電流レベルを判断する構成としたが、電流値をA/D変換回路などにより読み取って、制御回路9あるいは32内で電流レベルを判定するようにしても良い。
IGBTのオンオフ制御について、制御回路9、32により、論理回路を用いたハード的な処理により実施しているが、プログラムを用いたソフトウェアで制御することもできる。
The
The IGBT on / off control is performed by hardware processing using a logic circuit by the
図面中、1、2、21、22、23はIGBT(半導体素子)、3、24は定電流回路、4、25は切り替えスイッチ、5、7、26、28、30は電流遮断スイッチ、6、8、27、29、31はオフスイッチ、9、32は制御回路、10、11、33、34、35は電流検出回路である。 In the drawings, 1, 2, 21, 22, and 23 are IGBTs (semiconductor elements), 3 and 24 are constant current circuits, 4 and 25 are changeover switches, 5, 7, 26, 28, and 30 are current cutoff switches, 6, and 8, 27, 29 and 31 are off switches, 9 and 32 are control circuits, and 10, 11, 33, 34 and 35 are current detection circuits.
Claims (6)
前記複数の半導体素子は、始動用の半導体素子(1、21)と、最終駆動用の半導体素子(2、23)を含んだ少なくとも1個の次段駆動用の半導体素子(2、22、23)とが設けられ、
前記複数の半導体素子のうち、前記最終駆動用の半導体素子を除いた残りの半導体素子のそれぞれの電流を検出する電流検出回路(10、33、34)と、
前記始動用の半導体素子に対してゲート駆動を定電流で行うための定電流回路(3、24)と、
前記定電流回路を無効化して前記次段駆動用および最終駆動用の半導体素子に対してゲート駆動を定電圧で行う切り替えスイッチ(4、25)と、
前記複数の半導体素子を駆動制御する制御回路(9、32)とを備え、
前記制御回路は、
外部からオン動作の駆動信号が与えられると、
始動制御として、前記始動用の半導体素子に前記定電流回路により定電流でゲート信号を与えてオンさせ、
次段駆動制御として、オンさせた前記半導体素子に設けられた前記電流検出回路により検出される電流が設定された閾値電流に達すると、前記切り替えスイッチを動作状態として、オフ状態の前記次段駆動用の半導体素子に定電圧でゲート信号を与えてオンさせ、
以後、オフ状態の前記次段駆動用の半導体素子が存在する場合には、前記次段駆動制御を繰り返し実行するように構成され、
前記閾値電流は、前記複数の半導体素子のうち前記次段駆動用の半導体素子をオンさせて電流を流したときに、オン状態のすべての前記半導体素子により発生するオン抵抗損失およびスイッチング損失の和が前記次段駆動制御の実施前よりも少なくなるように設定されるゲート駆動装置。 A gate drive device for driving a plurality of gate drive type semiconductor elements (1, 2, 21, 22, 23) connected in parallel,
The plurality of semiconductor elements include a starting semiconductor element (1, 21) and at least one next-stage driving semiconductor element (2, 22, 23) including a final driving semiconductor element (2, 23). ) Is provided,
A current detection circuit (10, 33, 34) for detecting a current of each of the remaining semiconductor elements excluding the final driving semiconductor element among the plurality of semiconductor elements;
A constant current circuit (3, 24) for performing a gate drive with a constant current to the starting semiconductor element;
Changeover switches (4, 25) for disabling the constant current circuit and performing gate drive at a constant voltage on the next-stage driving and final driving semiconductor elements;
A control circuit (9, 32) for driving and controlling the plurality of semiconductor elements;
The control circuit includes:
When an ON operation drive signal is given from outside,
As a start control, a gate signal is supplied to the start semiconductor element with a constant current by the constant current circuit to turn on the semiconductor element,
As the next-stage drive control, when the current detected by the current detection circuit provided in the semiconductor element that has been turned on reaches a set threshold current, the changeover switch is set to an operating state, and the next-stage drive in the off state is performed. A gate signal at a constant voltage to the semiconductor element for
Thereafter, when there is a semiconductor element for driving the next stage in the off state, the next-stage driving control is configured to be repeatedly executed,
The threshold current is a sum of an on-resistance loss and a switching loss generated by all of the semiconductor elements in an on state when the semiconductor element for driving the next stage of the plurality of semiconductor elements is turned on and a current flows. Is set to be smaller than before the execution of the next-stage drive control.
前記制御回路(32)は、前記複数の半導体素子のうち、前記最終駆動用の半導体素子(23)を除いた次段駆動用の半導体素子(22)および前記始動用の半導体素子(21)をオン動作させる順序を変更可能に構成される請求項1に記載のゲート駆動装置。 In the configuration in which the plurality of semiconductor elements (22, 23) for driving the next stage are provided,
The control circuit (32) includes a semiconductor element (22) for driving the next stage and the semiconductor element (21) for starting, excluding the semiconductor element (23) for final driving, of the plurality of semiconductor elements. The gate drive device according to claim 1, wherein the order of the on-operation is configured to be changeable.
前記制御回路(32)は、前記複数の半導体素子をオン動作させる順序を、変更可能に構成される請求項1に記載のゲート駆動装置。 The current detection circuits (33, 34, 35) are provided in all of the plurality of semiconductor elements (21, 22, 23),
The gate drive device according to claim 1, wherein the control circuit (32) is configured to be able to change an order in which the plurality of semiconductor elements are turned on.
前記複数の半導体素子(1、2、21、22、23)のうち、複数のものをオン動作させている状態では、
前記オン動作させている複数の半導体素子を異なるタイミングでオフ動作させる請求項1から3のいずれか一項に記載のゲート駆動装置。 The control circuit (9, 32)
In a state where a plurality of semiconductor elements (1, 2, 21, 22, 23) are turned on,
4. The gate drive device according to claim 1, wherein the plurality of semiconductor elements that are turned on are turned off at different timings. 5.
前記複数の半導体素子(1、2、21、22、23)のうち、複数のものをオン動作させている状態では、
前記オン動作させている複数の半導体素子のうち、前記電流検出回路が検出する電流値が予め設定された閾値電流を下回るときにいずれかの半導体素子をオフ動作させる請求項1から4のいずれか一項に記載のゲート駆動装置。 The control circuit (9, 32)
In a state where a plurality of semiconductor elements (1, 2, 21, 22, 23) are turned on,
5. The semiconductor device according to claim 1, wherein, when the current value detected by the current detection circuit is lower than a predetermined threshold current, the semiconductor device is turned off. The gate drive device according to claim 1.
前記複数の半導体素子(1、2、21、22、23)のうち、いずれかのものをオン動作させている状態では、
前記複数の半導体素子のうちのオフ状態のものに対して、前記次段駆動制御を実施する請求項1から5のいずれか一項に記載のゲート駆動装置。 The control circuit (9, 32)
In a state where any one of the plurality of semiconductor elements (1, 2, 21, 22, 23) is turned on,
The gate drive device according to claim 1, wherein the next-stage drive control is performed on an off-state of the plurality of semiconductor elements.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016228956A JP6638628B2 (en) | 2016-11-25 | 2016-11-25 | Gate drive |
CN201780072466.4A CN109997297A (en) | 2016-11-25 | 2017-11-01 | Gate drive apparatus |
PCT/JP2017/039556 WO2018096890A1 (en) | 2016-11-25 | 2017-11-01 | Gate drive device |
US16/414,808 US20190273494A1 (en) | 2016-11-25 | 2019-05-17 | Gate driving device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016228956A JP6638628B2 (en) | 2016-11-25 | 2016-11-25 | Gate drive |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018085883A JP2018085883A (en) | 2018-05-31 |
JP6638628B2 true JP6638628B2 (en) | 2020-01-29 |
Family
ID=62237470
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016228956A Active JP6638628B2 (en) | 2016-11-25 | 2016-11-25 | Gate drive |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6638628B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7009344B2 (en) * | 2018-11-01 | 2022-01-25 | 株式会社Soken | Drive device for rotary electric machine |
JP7218629B2 (en) * | 2019-03-15 | 2023-02-07 | 株式会社デンソー | switching device |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5138287B2 (en) * | 2007-06-27 | 2013-02-06 | 三菱電機株式会社 | Gate drive device |
JP5854895B2 (en) * | 2011-05-02 | 2016-02-09 | 三菱電機株式会社 | Power semiconductor device |
JP5701176B2 (en) * | 2011-08-04 | 2015-04-15 | 三菱電機株式会社 | Gate drive device |
WO2015022860A1 (en) * | 2013-08-12 | 2015-02-19 | 日産自動車株式会社 | Switching device |
JP6616576B2 (en) * | 2015-02-12 | 2019-12-04 | 株式会社デンソー | Driving circuit |
-
2016
- 2016-11-25 JP JP2016228956A patent/JP6638628B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018085883A (en) | 2018-05-31 |
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