JP6634109B2 - Manufacturing method of electrostatic chuck - Google Patents

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Description

本明細書に開示される技術は、導電部を備えるセラミックス部材の製造方法に関する。   The technology disclosed in the present specification relates to a method for manufacturing a ceramic member having a conductive portion.

例えば半導体を製造する際にウェハを保持する保持装置として、静電チャックが用いられる。静電チャックは、所定の方向(以下、「第1の方向」という)に略垂直な略平面状の表面(以下、「吸着面」という)を有するセラミックス部材と、セラミックス部材の内部に設けられたチャック電極とを備えており、チャック電極に電圧が印加されることにより発生する静電引力を利用して、セラミックス部材の吸着面にウェハを吸着して保持する。   For example, an electrostatic chuck is used as a holding device for holding a wafer when manufacturing a semiconductor. The electrostatic chuck is provided inside a ceramic member having a substantially planar surface (hereinafter, referred to as “adsorption surface”) substantially perpendicular to a predetermined direction (hereinafter, referred to as “first direction”). And chucking the wafer on the suction surface of the ceramic member using electrostatic attraction generated by applying a voltage to the chuck electrode.

静電チャックの吸着面に保持されたウェハの温度が所望の温度にならないと、ウェハに対する各処理(成膜、エッチング等)の精度が低下するおそれがあるため、静電チャックにはウェハの温度分布を制御する性能が求められる。そのため、例えば、セラミックス部材の内部に複数のヒータ電極が設けられている。各ヒータ電極に電圧が印加されると、各ヒータ電極が発熱することによってセラミックス部材が加熱され、これにより、セラミックス部材の吸着面の温度分布の制御(ひいては、吸着面に保持されたウェハの温度分布の制御)が実現される。   If the temperature of the wafer held on the suction surface of the electrostatic chuck does not reach the desired temperature, the accuracy of each processing (film formation, etching, etc.) on the wafer may be reduced. The ability to control the distribution is required. Therefore, for example, a plurality of heater electrodes are provided inside the ceramic member. When a voltage is applied to each heater electrode, each heater electrode generates heat, thereby heating the ceramic member, thereby controlling the temperature distribution on the suction surface of the ceramic member (and, consequently, the temperature of the wafer held on the suction surface). Distribution control) is realized.

このように、チャック電極やヒータ電極などの導電部を備えるセラミックス部材の製造方法として、次の方法が知られている。すなわち、グリーンシート上にエポキシ樹脂やフェノール樹脂等により形成された導体ペーストを印刷することにより、導体ペースト層を形成する。次に、導体ペースト層が形成されたグリーンシートを含む複数のグリーンシートを積層して焼成することにより、導電部を備えるセラミックス部材を製造することができる。また、別の方法として、次の方法がある。すなわち、金属粒子または導電性セラミックス粒子を含むグリーンシートを形成し、そのグリーンシートから導電パターン(例えば抵抗発熱体のパターン)を打ち抜く。次に、その打ち抜いた導電パターンを、導電性を有しない通常のグリーンシートの間に挟み込んで焼成することにより、導電部を備えるセラミックス部材を製造することができる(例えば特許文献1参照)。   As described above, the following method is known as a method for manufacturing a ceramic member having a conductive portion such as a chuck electrode or a heater electrode. That is, a conductor paste layer formed of an epoxy resin, a phenol resin, or the like is printed on the green sheet to form a conductor paste layer. Next, by laminating and firing a plurality of green sheets including the green sheet on which the conductive paste layer is formed, a ceramic member having a conductive portion can be manufactured. Another method is as follows. That is, a green sheet containing metal particles or conductive ceramic particles is formed, and a conductive pattern (for example, a pattern of a resistance heating element) is punched from the green sheet. Next, the punched conductive pattern is sandwiched between ordinary green sheets having no conductivity and fired, whereby a ceramic member having a conductive portion can be manufactured (for example, see Patent Document 1).

特開2005−26585号公報JP 2005-26585 A

導体ペーストをグリーンシートに印刷する上述の製造方法では、導電ペーストは、形状を維持する定形性が低いため、グリーンシート上において導電パターンを導電部に対応した形状に精度よく形成することが困難である。一方、打ち抜いた導電パターンをグリーンシートの間に挟みこむ上述の製造方法では、導電パターンをグリーンシートの間に挟みこむ際に、グリーンシート上における導体パターンの配置位置が正規の位置からずれるおそれがある。このように導電部の形状の精度低下や導電部の位置ずれは、セラミックス部材における導電部と他の導電体との導電不良や導電部の機能低下の原因になる。   In the above-described manufacturing method in which the conductive paste is printed on the green sheet, the conductive paste has a low formality that maintains the shape, and thus it is difficult to accurately form the conductive pattern on the green sheet into a shape corresponding to the conductive portion. is there. On the other hand, in the above-described manufacturing method in which the punched conductive pattern is sandwiched between the green sheets, when the conductive pattern is sandwiched between the green sheets, there is a possibility that the arrangement position of the conductive pattern on the green sheet is shifted from a regular position. is there. As described above, the reduction in the precision of the shape of the conductive portion and the displacement of the conductive portion cause poor conductivity between the conductive portion and another conductor in the ceramic member and a decrease in the function of the conductive portion.

なお、このような課題は、静電引力を利用してウェハを保持する静電チャックに限らず、導電部を備えるセラミックス部材を含むもの(例えば半導体製造装置用部品)一般に共通の課題である。   Such a problem is not limited to an electrostatic chuck that holds a wafer by using an electrostatic attraction, but is generally a common problem including a ceramic member having a conductive portion (for example, a component for a semiconductor manufacturing apparatus).

本明細書では、上述した課題の少なくとも一部を解決することが可能な技術を開示する。   This specification discloses a technique capable of solving at least a part of the above-described problem.

本明細書に開示される技術は、以下の形態として実現することが可能である。   The technology disclosed in this specification can be realized as the following modes.

(1)本明細書に開示されるセラミックス部材の製造方法は、導電部を備えるセラミックス部材の製造方法において、導電性材料と、熱および光の少なくとも一方によって硬化する硬化性樹脂と、を含んでおり、少なくとも焼成後に導電性を有し、かつ半硬化状態である半硬化シートを準備する工程と、前記半硬化シートから、前記導電部に対応した形状の半硬化導電パターンを形成する工程と、前記半硬化導電パターンを、セラミックスグリーンシート上に配置し、熱および光の少なくとも一方によって硬化させることによって、前記セラミックスグリーンシート上に接着された導電部前駆体を形成する工程と、前記導電部前駆体が接着された前記セラミックスグリーンシートを含む、複数のセラミックスグリーンシートを重ねて焼成することによって、前記導電部を備える前記セラミックス部材を形成する工程と、を含む、導電部を備える。例えば、硬化性樹脂を含まない非硬化性の導電ペーストから導電パターンを形成しようとすると、非硬化性の導電ペーストは、形状を維持する定形性が低いため、導電パターンを導電部に対応した形状に精度よく形成することが困難である。これに対して、本製造方法では、半硬化状態である半硬化シートから半硬化導電パターンを形成する。半硬化シートは、上記非硬化性の導電ペーストに比べて定形性が高いため、非硬化性の導電ペーストを利用する場合に比べて、半硬化導電パターンを導電部に対応した形状に精度よく形成することができる。また、本製造方法では、半硬化導電パターンを、セラミックスグリーンシート上に配置し、熱および光の少なくとも一方によって硬化させることによって、セラミックスグリーンシート上に接着された導電部前駆体を形成する。これにより、導電部前駆体が形成されたセラミックスグリーンシートのハンドリング性が向上する。例えば、導電部前駆体が接着されたセラミックスグリーンシートを含む、複数のセラミックスグリーンシートを重ねる際、セラミックスグリーンシート上における導電部前駆体の位置がずれることが抑制される。 (1) A method for manufacturing a ceramic member disclosed in the present specification includes, in the method for manufacturing a ceramic member having a conductive portion, a conductive material and a curable resin that is cured by at least one of heat and light. And a step of preparing a semi-cured sheet having conductivity at least after firing and in a semi-cured state, and forming a semi-cured conductive pattern having a shape corresponding to the conductive portion from the semi-cured sheet, Forming the conductive part precursor adhered on the ceramic green sheet by disposing the semi-cured conductive pattern on a ceramic green sheet and curing the conductive part by at least one of heat and light; A plurality of ceramic green sheets, including the ceramic green sheet to which the body is adhered, are stacked and fired And by, and forming the ceramic member comprising the conductive portion includes a conductive portion. For example, if an attempt is made to form a conductive pattern from a non-curable conductive paste that does not contain a curable resin, the non-curable conductive paste has a low formality that maintains its shape, and the conductive pattern is formed into a shape corresponding to the conductive part. It is difficult to form it with high precision. In contrast, in the present manufacturing method, a semi-cured conductive pattern is formed from a semi-cured sheet in a semi-cured state. Since the semi-cured sheet has higher formability than the non-curable conductive paste described above, the semi-cured conductive pattern is more accurately formed into a shape corresponding to the conductive part than when using the non-curable conductive paste. can do. Further, in the present manufacturing method, the semi-cured conductive pattern is disposed on the ceramic green sheet and cured by at least one of heat and light to form a conductive part precursor bonded to the ceramic green sheet. Thereby, the handleability of the ceramic green sheet on which the conductive part precursor is formed is improved. For example, when a plurality of ceramic green sheets, including a ceramic green sheet to which a conductive part precursor is bonded, are stacked, displacement of the conductive part precursor on the ceramic green sheet is suppressed.

(2)上記(1)に記載の導電部を備えるセラミックス部材の製造方法において、前記セラミックス部材は、互いの形状が略同一である複数の前記導電部を備えており、前記半硬化導電パターンを形成する工程において、複数枚の前記半硬化シートを重ねてまとめて打ち抜き加工を施すことにより、前記導電部に対応した形状の複数の前記半硬化導電パターンを一括形成する、導電部を備える構成としてもよい。本製造方法では、複数枚の半硬化シートを重ねてまとめて打ち抜き加工を施すことにより、導電部に対応した形状の複数の半硬化導電パターンを一括形成する。これにより、複数の半硬化導電パターンを個別に形成する場合に比べて、複数の半硬化導電パターンの形状の同一性の向上と、製造工数の軽減とを図ることができる。 (2) In the method for manufacturing a ceramic member having a conductive portion according to the above (1), the ceramic member includes a plurality of the conductive portions having substantially the same shape as each other, and the semi-cured conductive pattern is formed. In the forming step, a plurality of the semi-cured sheets are overlapped and collectively subjected to a punching process to collectively form a plurality of the semi-cured conductive patterns having a shape corresponding to the conductive part, as a configuration including a conductive part. Is also good. In the present manufacturing method, a plurality of semi-cured conductive patterns having a shape corresponding to the conductive part are collectively formed by stacking a plurality of semi-cured sheets and performing punching. Thereby, compared to the case where a plurality of semi-cured conductive patterns are individually formed, it is possible to improve the identity of the shapes of the plurality of semi-cured conductive patterns and reduce the number of manufacturing steps.

(3)本明細書に開示されるセラミックス部材は、セラミックス部と、前記セラミックス部に配置され、導電性材料の粒子を含む導電部と、を備え、前記導電部の表面の少なくとも一部には、前記導電性材料の粒子の切断面が露出している、ことを特徴とする。本セラミックス部材によれば、導電部の表面の少なくとも一部には、導電性材料の粒子の切断面が露出している。これにより、切断されていない導電性材料の粒子が導電部の表面から凸状に突出している構成に比べて、導電部の形状の精度が高いため、導電部の厚みや幅がばらつくことを抑制することができる。 (3) The ceramic member disclosed in the present specification includes a ceramic portion, and a conductive portion disposed on the ceramic portion and including particles of a conductive material, and at least a part of a surface of the conductive portion is provided. The cut surface of the particles of the conductive material is exposed. According to the present ceramic member, the cut surface of the particles of the conductive material is exposed on at least a part of the surface of the conductive portion. As a result, compared to a configuration in which uncut conductive material particles protrude from the surface of the conductive portion in a convex shape, the accuracy of the shape of the conductive portion is high, so that the thickness and width of the conductive portion are suppressed from varying. can do.

なお、本明細書に開示される技術は、種々の形態で実現することが可能であり、例えば、保持装置、静電チャック、CVDヒータ等のヒータ装置、真空チャック、シャワーヘッド、その他の導電部を備えるセラミックス部材、それらの製造方法等の形態で実現することが可能である。   The technology disclosed in the present specification can be realized in various forms, for example, a holding device, an electrostatic chuck, a heater device such as a CVD heater, a vacuum chuck, a shower head, and other conductive portions. It can be realized in the form of a ceramic member provided with

実施形態における静電チャック100の外観構成を概略的に示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view schematically illustrating an external configuration of an electrostatic chuck 100 according to an embodiment. 実施形態における静電チャック100のXZ断面構成を概略的に示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram schematically showing an XZ cross-sectional configuration of the electrostatic chuck 100 according to the embodiment. 実施形態における静電チャック100のXY平面(上面)構成を概略的に示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram schematically illustrating an XY plane (upper surface) configuration of the electrostatic chuck 100 according to the embodiment. 1つのセグメントSEに配置された1つのヒータ電極500のXY断面構成を模式的に示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram schematically showing an XY cross-sectional configuration of one heater electrode 500 arranged in one segment SE. 静電チャック100の製造方法を示すフローチャートである。4 is a flowchart illustrating a method for manufacturing the electrostatic chuck 100. 静電チャック100の製造方法における打ち抜き加工の概要を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating an outline of a punching process in a method for manufacturing the electrostatic chuck 100. 静電チャック100の製造方法における半硬化導電パターンの配置工程の概要を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating an outline of a process of arranging a semi-cured conductive pattern in a method of manufacturing the electrostatic chuck 100.

A.実施形態:
A−1.静電チャック100の構成:
図1は、本実施形態における静電チャック100の外観構成を概略的に示す斜視図であり、図2は、本実施形態における静電チャック100のXZ断面構成を概略的に示す説明図であり、図3は、本実施形態における静電チャック100のXY平面(上面)構成を概略的に示す説明図である。各図には、方向を特定するための互いに直交するXYZ軸が示されている。本明細書では、便宜的に、Z軸正方向を上方向といい、Z軸負方向を下方向というものとするが、静電チャック100は実際にはそのような向きとは異なる向きで設置されてもよい。
A. Embodiment:
A-1. Configuration of electrostatic chuck 100:
FIG. 1 is a perspective view schematically illustrating an external configuration of the electrostatic chuck 100 according to the present embodiment, and FIG. 2 is an explanatory diagram schematically illustrating an XZ cross-sectional configuration of the electrostatic chuck 100 according to the present embodiment. FIG. 3 is an explanatory diagram schematically showing an XY plane (upper surface) configuration of the electrostatic chuck 100 according to the present embodiment. Each drawing shows XYZ axes orthogonal to each other for specifying the direction. In this specification, for the sake of convenience, the positive direction of the Z axis is referred to as an upward direction, and the negative direction of the Z axis is referred to as a downward direction. However, the electrostatic chuck 100 is actually installed in a direction different from such a direction. May be done.

静電チャック100は、対象物(例えばウェハW)を静電引力により吸着して保持する装置であり、例えば半導体製造装置の真空チャンバー内でウェハWを固定するために使用される。静電チャック100は、所定の配列方向(本実施形態では上下方向(Z軸方向))に並べて配置されたセラミックス部材10およびベース部材20を備える。セラミックス部材10とベース部材20とは、セラミックス部材10の下面S2(図2参照)とベース部材20の上面S3とが上記配列方向に対向するように配置される。   The electrostatic chuck 100 is a device that attracts and holds an object (for example, a wafer W) by electrostatic attraction, and is used, for example, for fixing the wafer W in a vacuum chamber of a semiconductor manufacturing apparatus. The electrostatic chuck 100 includes a ceramic member 10 and a base member 20 arranged side by side in a predetermined arrangement direction (in the present embodiment, a vertical direction (Z-axis direction)). The ceramic member 10 and the base member 20 are arranged such that the lower surface S2 of the ceramic member 10 (see FIG. 2) and the upper surface S3 of the base member 20 face each other in the arrangement direction.

セラミックス部材10は、上述した配列方向(Z軸方向)に略直交する略円形平面状の上面(以下、「吸着面」という)S1を有する板状部材であり、セラミックス(例えば、アルミナや窒化アルミニウム等)により形成されている。セラミックス部材10の直径は例えば50mm〜500mm程度(通常は200mm〜350mm程度)であり、セラミックス部材10の厚さは例えば1mm〜10mm程度である。本明細書では、Z軸方向に直交する方向を「面方向」といい、図3に示すように、面方向の内、吸着面S1の中心点Pxを中心とする円周方向を「円周方向CD」といい、面方向の内、円周方向CDに直交する方向を「径方向RD」という。   The ceramic member 10 is a plate-like member having a substantially circular flat upper surface (hereinafter, referred to as an “adsorption surface”) S1 substantially orthogonal to the above-described arrangement direction (Z-axis direction), and is made of ceramics (for example, alumina or aluminum nitride). Etc.). The diameter of the ceramic member 10 is, for example, about 50 mm to 500 mm (generally, about 200 mm to 350 mm), and the thickness of the ceramic member 10 is, for example, about 1 mm to 10 mm. In this specification, a direction orthogonal to the Z-axis direction is referred to as a “surface direction”, and as shown in FIG. 3, a circumferential direction centered on the center point Px of the suction surface S1 in the surface direction is referred to as a “circumferential direction”. The direction perpendicular to the circumferential direction CD in the plane direction is referred to as a “radial direction RD”.

図2に示すように、セラミックス部材10の内部には、導電性材料(例えば、タングステン、モリブデン、白金等)により形成されたチャック電極40が配置されている。Z軸方向視でのチャック電極40の形状は、例えば略円形である。チャック電極40に電源(図示しない)から電圧が印加されると、静電引力が発生し、この静電引力によってウェハWがセラミックス部材10の吸着面S1に吸着固定される。   As shown in FIG. 2, a chuck electrode 40 formed of a conductive material (for example, tungsten, molybdenum, platinum, or the like) is disposed inside the ceramic member 10. The shape of the chuck electrode 40 as viewed in the Z-axis direction is, for example, substantially circular. When a voltage is applied to the chuck electrode 40 from a power supply (not shown), an electrostatic attraction is generated, and the wafer W is suction-fixed to the suction surface S1 of the ceramic member 10 by the electrostatic attraction.

セラミックス部材10の内部には、また、セラミックス部材10の吸着面S1の温度分布の制御(すなわち、吸着面S1に保持されたウェハWの温度分布の制御)のためのヒータ電極層50と、ヒータ電極層50への給電のための構成とが配置されている。これらの構成については、後に詳述する。チャック電極40およびヒータ電極層50は、特許請求の範囲における導電部に相当する。   Inside the ceramic member 10, a heater electrode layer 50 for controlling the temperature distribution of the suction surface S1 of the ceramic member 10 (ie, controlling the temperature distribution of the wafer W held on the suction surface S1), and a heater And a configuration for supplying power to the electrode layer 50. These configurations will be described later in detail. The chuck electrode 40 and the heater electrode layer 50 correspond to a conductive part in the claims.

ベース部材20は、例えばセラミックス部材10と同径の、または、セラミックス部材10より径が大きい円形平面の板状部材であり、例えば金属(アルミニウムやアルミニウム合金等)により形成されている。ベース部材20の直径は例えば220mm〜550mm程度(通常は220mm〜350mm)であり、ベース部材20の厚さは例えば20mm〜40mm程度である。   The base member 20 is, for example, a circular flat plate-shaped member having the same diameter as the ceramic member 10 or having a larger diameter than the ceramic member 10, and is formed of, for example, a metal (aluminum, an aluminum alloy, or the like). The diameter of the base member 20 is, for example, about 220 mm to 550 mm (normally, 220 mm to 350 mm), and the thickness of the base member 20 is, for example, about 20 mm to 40 mm.

ベース部材20は、セラミックス部材10の下面S2とベース部材20の上面S3との間に配置された接着層30によって、セラミックス部材10に接合されている。接着層30は、例えばシリコーン系樹脂やアクリル系樹脂、エポキシ系樹脂等の接着材により構成されている。接着層30の厚さは、例えば0.1mm〜1mm程度である。   The base member 20 is joined to the ceramic member 10 by an adhesive layer 30 disposed between the lower surface S2 of the ceramic member 10 and the upper surface S3 of the base member 20. The adhesive layer 30 is made of, for example, an adhesive such as a silicone resin, an acrylic resin, or an epoxy resin. The thickness of the adhesive layer 30 is, for example, about 0.1 mm to 1 mm.

ベース部材20の内部には冷媒流路21が形成されている。冷媒流路21に冷媒(例えば、フッ素系不活性液体や水等)が流されると、ベース部材20が冷却され、接着層30を介したベース部材20とセラミックス部材10との間の伝熱(熱引き)によりセラミックス部材10が冷却され、セラミックス部材10の吸着面S1に保持されたウェハWが冷却される。これにより、ウェハWの温度分布の制御が実現される。   A coolant channel 21 is formed inside the base member 20. When a coolant (for example, a fluorine-based inert liquid or water) flows through the coolant channel 21, the base member 20 is cooled and heat transfer between the base member 20 and the ceramic member 10 via the adhesive layer 30 ( The ceramic member 10 is cooled by the heat drawing, and the wafer W held on the suction surface S1 of the ceramic member 10 is cooled. Thereby, control of the temperature distribution of the wafer W is realized.

A−2.ヒータ電極層50等の構成:
次に、ヒータ電極層50の構成およびヒータ電極層50への給電のための構成について詳述する。
A-2. Configuration of heater electrode layer 50 and the like:
Next, the configuration of the heater electrode layer 50 and the configuration for supplying power to the heater electrode layer 50 will be described in detail.

上述したように、静電チャック100は、ヒータ電極層50を備える(図2参照)。ヒータ電極層50は、導電性材料(例えば、タングステン、モリブデン、白金等)により形成されている。なお、本実施形態では、ヒータ電極層50は、チャック電極40より下側に配置されている。   As described above, the electrostatic chuck 100 includes the heater electrode layer 50 (see FIG. 2). The heater electrode layer 50 is formed of a conductive material (for example, tungsten, molybdenum, platinum, or the like). In this embodiment, the heater electrode layer 50 is disposed below the chuck electrode 40.

ヒータ電極層50は、複数のヒータ電極500(図4参照)を含んでいる。ここで、図3に示すように、本実施形態では、セラミックス部材10に複数の仮想的な領域であるセグメントSEが設定されている。より詳細には、Z軸方向視で、セラミックス部材10が、吸着面S1の中心点Pxを中心とする同心円状の複数の第1の境界線BL1によって複数の仮想的な環状領域(ただし、中心点Pxを含む領域のみは円状領域)に分割され、さらに各環状領域が、径方向RDに延びる複数の第2の境界線BL2によって円周方向CDに並ぶ複数の仮想的な領域であるセグメントSEに分割されている。複数のヒータ電極500のそれぞれは、セラミックス部材10に設定された複数のセグメントSEの1つに配置されている。すなわち、本実施形態の静電チャック100では、複数のセグメントSEのそれぞれに、1つのヒータ電極500が配置されている。   The heater electrode layer 50 includes a plurality of heater electrodes 500 (see FIG. 4). Here, as shown in FIG. 3, in the present embodiment, a plurality of virtual regions, ie, segments SE, are set in the ceramic member 10. More specifically, when viewed in the Z-axis direction, the ceramic member 10 is formed by a plurality of virtual annular regions (where the center is the center point Px of the suction surface S1) with a plurality of concentric first boundary lines BL1. Only the region including the point Px is divided into circular regions), and each annular region is a plurality of virtual regions arranged in the circumferential direction CD by the plurality of second boundary lines BL2 extending in the radial direction RD. It is divided into SE. Each of the plurality of heater electrodes 500 is arranged on one of the plurality of segments SE set on the ceramic member 10. That is, in the electrostatic chuck 100 of the present embodiment, one heater electrode 500 is arranged in each of the plurality of segments SE.

図4は、1つのセグメントSEに配置された1つのヒータ電極500のXY断面構成を模式的に示す説明図である。図4に示すように、ヒータ電極500は、Z軸方向視で線状の抵抗発熱体である。以下では、ヒータ電極500の一方の端部を、第1の端部521といい、ヒータ電極500の他方の端部を、第2の端部522という。他のセグメントSEに配置されたヒータ電極500の構成も同様である。   FIG. 4 is an explanatory diagram schematically showing an XY cross-sectional configuration of one heater electrode 500 arranged in one segment SE. As shown in FIG. 4, the heater electrode 500 is a linear resistance heating element as viewed in the Z-axis direction. Hereinafter, one end of the heater electrode 500 is referred to as a first end 521, and the other end of the heater electrode 500 is referred to as a second end 522. The same applies to the configuration of the heater electrodes 500 arranged in other segments SE.

また、図2に示すように、静電チャック100は、ヒータ電極層50を構成する各ヒータ電極500への給電のための構成を備えている。具体的には、静電チャック100は、ドライバ電極層60を備える。なお、本実施形態では、ドライバ電極層60は、ヒータ電極層50より下側に配置されている。ドライバ電極層60は、導電性材料(例えば、タングステン、モリブデン、白金等)により形成されている。ドライバ電極層60は、面方向に平行な所定の領域を有するパターンである複数対のドライバ電極61,62を含んでいる(図2には、一対のドライバ電極61,62のみ図示)。なお、各ドライバ電極61,62は、下記の(1)および(2)の少なくとも一方を満たすという点で、ヒータ電極500と相違する。
(1)各ドライバ電極61,62の断面積は、ヒータ電極500の断面積の10倍以上である。
(2)面方向において、各ドライバ電極61,62は1つのセグメントSEより大きな面積を有する。
ドライバ電極層60は、特許請求の範囲における導電部に相当する。
Further, as shown in FIG. 2, the electrostatic chuck 100 has a configuration for supplying power to each heater electrode 500 constituting the heater electrode layer 50. Specifically, the electrostatic chuck 100 includes the driver electrode layer 60. In this embodiment, the driver electrode layer 60 is disposed below the heater electrode layer 50. The driver electrode layer 60 is formed of a conductive material (for example, tungsten, molybdenum, platinum, or the like). The driver electrode layer 60 includes a plurality of pairs of driver electrodes 61 and 62 which are patterns having predetermined regions parallel to the plane direction (FIG. 2 shows only the pair of driver electrodes 61 and 62). Each of the driver electrodes 61 and 62 is different from the heater electrode 500 in that at least one of the following (1) and (2) is satisfied.
(1) The cross-sectional area of each of the driver electrodes 61 and 62 is 10 times or more the cross-sectional area of the heater electrode 500.
(2) In the plane direction, each of the driver electrodes 61 and 62 has an area larger than one segment SE.
The driver electrode layer 60 corresponds to a conductive part in the claims.

ヒータ電極層50を構成する複数のヒータ電極500の全部または一部は、ドライバ電極層60における一対のドライバ電極61,62に対して、並列に接続されている。具体的には、図2および図4に示すように、各ヒータ電極500の第1の端部521は、導電性材料により形成された第1のヒータ側ビア721を介して、ドライバ電極層60における一対のドライバ電極61,62の一方である第1のドライバ電極61に導通しており、各ヒータ電極500の第2の端部522は、導電性材料により形成された第2のヒータ側ビア722を介して、ドライバ電極層60における一対のドライバ電極61,62の他方である第2のドライバ電極62に導通している。なお、複数のヒータ電極500の一部は、ある一対のドライバ電極61,62に導通しており、複数のヒータ電極500の他の一部は、別の一対のドライバ電極61,62に導通している。   All or some of the plurality of heater electrodes 500 constituting the heater electrode layer 50 are connected in parallel to a pair of driver electrodes 61 and 62 in the driver electrode layer 60. Specifically, as shown in FIGS. 2 and 4, a first end 521 of each heater electrode 500 is connected to a driver electrode layer 60 via a first heater-side via 721 formed of a conductive material. Are electrically connected to the first driver electrode 61, which is one of the pair of driver electrodes 61, 62, and the second end 522 of each heater electrode 500 is connected to a second heater-side via made of a conductive material. The second driver electrode 62, which is the other of the pair of driver electrodes 61, 62 in the driver electrode layer 60, is electrically connected via 722. A part of the plurality of heater electrodes 500 is electrically connected to a certain pair of driver electrodes 61 and 62, and the other part of the plurality of heater electrodes 500 is electrically connected to another pair of driver electrodes 61 and 62. ing.

また、図2に示すように、静電チャック100には、ベース部材20の下面S4からセラミックス部材10の内部に至る複数対の端子用孔110,120が形成されている(図2には一対の端子用孔110,120のみ図示)。各端子用孔110,120は、ベース部材20を上下方向に貫通する貫通孔22と、接着層30を上下方向に貫通する貫通孔32と、セラミックス部材10の下面S2側に形成された凹部12とが、互いに連通することにより構成された一体の孔である。   2, a plurality of pairs of terminal holes 110 and 120 extending from the lower surface S4 of the base member 20 to the inside of the ceramic member 10 are formed in the electrostatic chuck 100. (Only the terminal holes 110 and 120 are shown). Each of the terminal holes 110 and 120 includes a through hole 22 that vertically penetrates the base member 20, a through hole 32 that vertically penetrates the adhesive layer 30, and a concave portion 12 formed on the lower surface S <b> 2 side of the ceramic member 10. Are integral holes formed by communicating with each other.

一対の端子用孔110,120の一方である第1の端子用孔110には、柱状の第1の給電端子741が収容されている。また、第1の端子用孔110を構成するセラミックス部材10の凹部12の底面には、第1の電極パッド731が設けられている。第1の給電端子741は、例えばろう付け等により第1の電極パッド731に接合されている。また、第1の電極パッド731は、第1の給電側ビア711を介して、第1のドライバ電極61に導通している。同様に、一対の端子用孔110,120の他方である第2の端子用孔120には、柱状の第2の給電端子742が収容されている。また、第2の端子用孔120を構成するセラミックス部材10の凹部12の底面には、第2の電極パッド732が設けられている。第2の給電端子742は、例えばろう付け等により第2の電極パッド732に接合されている。また、第2の電極パッド732は、第2の給電側ビア712を介して、第2のドライバ電極62に導通している。なお、給電端子741,742、電極パッド731,732、および、給電側ビア711,712は、すべて、導電性材料により形成されている。   A first power supply terminal 741 having a columnar shape is accommodated in the first terminal hole 110 which is one of the pair of terminal holes 110 and 120. In addition, a first electrode pad 731 is provided on the bottom surface of the concave portion 12 of the ceramic member 10 constituting the first terminal hole 110. The first power supply terminal 741 is joined to the first electrode pad 731 by, for example, brazing or the like. Further, the first electrode pad 731 is electrically connected to the first driver electrode 61 via the first power supply side via 711. Similarly, the column-shaped second power supply terminal 742 is accommodated in the second terminal hole 120 which is the other of the pair of terminal holes 110 and 120. Further, a second electrode pad 732 is provided on the bottom surface of the concave portion 12 of the ceramic member 10 constituting the second terminal hole 120. The second power supply terminal 742 is joined to the second electrode pad 732 by, for example, brazing or the like. Further, the second electrode pad 732 is electrically connected to the second driver electrode 62 via the second power supply side via 712. The power supply terminals 741 and 742, the electrode pads 731 and 732, and the power supply side vias 711 and 712 are all formed of a conductive material.

複数対の端子用孔110,120のそれぞれに収容された一対の給電端子741,742は、電源(図示せず)に接続されている。電源からの電圧は、一対の給電端子741,742、一対の電極パッド731,732、および、一対の給電側ビア711,712を介して一対のドライバ電極61,62に供給され、さらに、各ヒータ電極500について設けられた一対のヒータ側ビア721,722を介してヒータ電極500に印加される。これにより、各ヒータ電極500が発熱し、ヒータ電極500が配置されたセグメントSEが加熱される。セラミックス部材10の各セグメントSEに配置され、互いに異なる対のドライバ電極61,62等に接続されたヒータ電極500への印加電圧を個別に制御することにより、各セグメントSEの温度を個別に制御することができる。これにより、セラミックス部材10の吸着面S1の温度分布の制御(すなわち、吸着面S1に保持されたウェハWの温度分布の制御)が実現される。以下、セラミックス部材10のうち、導電性材料で形成された部分(チャック電極40、ヒータ電極層50やドライバ電極層60等)以外のセラミックス部分を、セラミックス部950という。   A pair of power supply terminals 741 and 742 accommodated in each of the plurality of pairs of terminal holes 110 and 120 are connected to a power supply (not shown). The voltage from the power supply is supplied to the pair of driver electrodes 61 and 62 via the pair of power supply terminals 741 and 742, the pair of electrode pads 731 and 732, and the pair of power supply side vias 711 and 712. The voltage is applied to the heater electrode 500 via a pair of heater-side vias 721 and 722 provided for the electrode 500. Thereby, each heater electrode 500 generates heat, and the segment SE on which the heater electrode 500 is arranged is heated. The temperature of each segment SE is individually controlled by individually controlling the voltage applied to the heater electrode 500 disposed on each segment SE of the ceramic member 10 and connected to a different pair of driver electrodes 61, 62 and the like. be able to. Thereby, control of the temperature distribution of the suction surface S1 of the ceramic member 10 (that is, control of the temperature distribution of the wafer W held on the suction surface S1) is realized. Hereinafter, the ceramic portion of the ceramic member 10 other than the portion formed of the conductive material (the chuck electrode 40, the heater electrode layer 50, the driver electrode layer 60, and the like) is referred to as a ceramic portion 950.

A−3.導電部の表面の構成:
図4には、ヒータ電極500のX1部の断面構成が拡大して示されている。X1部に示すように、ヒータ電極500は、後述する導電性材料の粒子Mを含んで構成されている。また、ヒータ電極500の表面501の近傍に位置する複数の粒子Mの少なくとも一部は、切断されており、その切断面MDがヒータ電極500の表面501に露出している。なお、粒子Mの切断面MDがヒータ電極500の表面に露出している様子は、例えばヒータ電極500の表面501を含む断面を走査型電子顕微鏡(SEM)により撮像して得られるSEM画像で確認することができる。なお、チャック電極40やドライバ電極層60も同様に、それらの表面には、切断された導電性材料の粒子の切断面が露出している。
A-3. Surface configuration of conductive part:
FIG. 4 shows an enlarged cross-sectional configuration of a portion X1 of the heater electrode 500. As shown in part X1, the heater electrode 500 is configured to include particles M of a conductive material described later. Further, at least a part of the plurality of particles M located near the surface 501 of the heater electrode 500 has been cut, and the cut surface MD is exposed on the surface 501 of the heater electrode 500. The state in which the cut surface MD of the particle M is exposed on the surface of the heater electrode 500 is confirmed by, for example, an SEM image obtained by imaging a cross section including the surface 501 of the heater electrode 500 with a scanning electron microscope (SEM). can do. Similarly, the cut surfaces of the cut conductive material particles are exposed on the surfaces of the chuck electrode 40 and the driver electrode layer 60.

A−4.静電チャック100の製造方法:
図5は、静電チャック100の製造方法を示すフローチャートであり、図6は、静電チャック100の製造方法における打ち抜き加工の概要を示す説明図であり、図7は、静電チャック100の製造方法における半硬化導電パターンの配置工程の概要を示す説明図である。
A-4. Manufacturing method of the electrostatic chuck 100:
FIG. 5 is a flowchart illustrating a method of manufacturing the electrostatic chuck 100, FIG. 6 is an explanatory diagram illustrating an outline of a punching process in the method of manufacturing the electrostatic chuck 100, and FIG. It is explanatory drawing which shows the outline | summary of the arrangement | positioning process of the semi-hardened conductive pattern in the method.

図5に示すように、まず、半硬化シート800を準備する(S110)。半硬化シート800は、導体となる導電性材料と、熱および光の少なくとも一方によって硬化する硬化性樹脂と、を含んでおり、少なくとも焼成後に導電性を有し、かつ半硬化状態のシートである。ここで、半硬化(Bステージ)状態とは、(1)流動しない状態になっており、さらに加熱しても溶融せずにゴム状に留まって流動しないことと、(2)被着体に圧着した後に加熱することで接着可能となることとの両方を満たすことである。次に、半硬化シート800から、各導電部に対応した形状の半硬化導電パターン800Aを形成する(S120)。導電部は、例えば、上述したチャック電極40、ヒータ電極層50、ドライバ電極層60である。なお、図6および図7(A)には、ヒータ電極層50に含まれるヒータ電極500に対応した形状の半硬化導電パターン800Aが例示されている。   As shown in FIG. 5, first, a semi-cured sheet 800 is prepared (S110). The semi-cured sheet 800 includes a conductive material serving as a conductor and a curable resin that is cured by at least one of heat and light, has conductivity at least after firing, and is a semi-cured sheet. . Here, the semi-cured (B stage) state refers to (1) a state in which it does not flow, stays in a rubber-like state without being melted even when it is further heated, and (2) does not flow. It is to satisfy both that it becomes possible to bond by heating after pressing. Next, a semi-cured conductive pattern 800A having a shape corresponding to each conductive portion is formed from the semi-cured sheet 800 (S120). The conductive portion is, for example, the above-described chuck electrode 40, heater electrode layer 50, and driver electrode layer 60. 6 and 7A illustrate a semi-cured conductive pattern 800A having a shape corresponding to the heater electrode 500 included in the heater electrode layer 50.

次に、半硬化導電パターン800Aを、セラミックスグリーンシート(以下、グリーンシートという)950A上に配置し、熱および光の少なくとも一方によって硬化させることによって、グリーンシート950A上に接着された導電部前駆体を形成する(S130)。導電部前駆体は、導電部がチャック電極40の場合、焼成によってチャック電極40になるチャック電極前駆体であり、導電部がヒータ電極層50(ヒータ電極500)の場合、焼成によってヒータ電極層50になるヒータ電極前駆体500Aであり、導電部がドライバ電極層60(ドライバ電極61,62)の場合、焼成によってドライバ電極層60になるドライバ電極前駆体である。なお、図7(B)には、ヒータ電極前駆体500Aが例示されている。次に、導電部前駆体が接着されたグリーンシート950Aを含む、複数のグリーンシート950Aを重ねて同時焼成する(S140)。以上の工程により、上述のセラミックス部材10が形成される。以下、各工程について詳説する。   Next, the semi-cured conductive pattern 800A is placed on a ceramic green sheet (hereinafter, referred to as a green sheet) 950A, and is cured by at least one of heat and light, so that the conductive part precursor adhered to the green sheet 950A. Is formed (S130). The conductive part precursor is a chuck electrode precursor that becomes the chuck electrode 40 by firing when the conductive part is the chuck electrode 40, and is fired by firing when the conductive part is the heater electrode layer 50 (heater electrode 500). In the case where the conductive portion is the driver electrode layer 60 (driver electrodes 61 and 62), the heater electrode precursor 500A becomes the driver electrode precursor 60 by firing. Note that FIG. 7B illustrates a heater electrode precursor 500A. Next, a plurality of green sheets 950A including the green sheet 950A to which the conductive part precursor is bonded are stacked and fired simultaneously (S140). Through the above steps, the above-described ceramic member 10 is formed. Hereinafter, each step will be described in detail.

A−4−1.半硬化シート800を準備する工程(S110):
半硬化シート800を準備する工程(S110)では、例えば次の方法により、半硬化シート800を作製する。まず、導電性材料とセラミックス粉末と硬化性樹脂と硬化剤と分散剤とを溶媒に混合し、溶解後に脱泡することにより、導電性材料と硬化性樹脂とを含む導体ペーストを形成する。なお、導電性材料やセラミックス粉末に分散剤と溶媒とを加え撹拌することであらかじめ分散液を作製した後に、硬化性樹脂と硬化剤とを添加してもよい。導電性材料等の混合には、例えば撹拌羽根や三本ロール等を備える周知の装置を用いることができる。次に、導体ペーストの各原料について詳説する。
A-4-1. Step of preparing the semi-cured sheet 800 (S110):
In the step of preparing the semi-cured sheet 800 (S110), the semi-cured sheet 800 is produced by, for example, the following method. First, a conductive paste containing a conductive material and a curable resin is formed by mixing a conductive material, ceramic powder, a curable resin, a curing agent, and a dispersant in a solvent, and dissolving and defoaming. Note that a curable resin and a curative may be added after a dispersion is prepared in advance by adding a dispersant and a solvent to the conductive material or the ceramic powder and stirring. For mixing the conductive material and the like, a well-known device including, for example, a stirring blade, a three-roller, or the like can be used. Next, each raw material of the conductive paste will be described in detail.

導電性材料は、導電性を有する材料であればよく、金属に限らず、例えば導電性セラミックスなどでもよい。金属の例としては、タングステン、モリブデン、白金、銀、銅など、または、これらの合金などの粒子(または粉末)が挙げられる。また、金属の粒径は、0.1μm以上であることが好ましい。これにより、金属の粒径が0.1μm未満である場合に比べて、導体ペーストに含まれる金属全体としての表面積が狭いため、酸化による抵抗値の増加が抑制される。その結果、S140で形成される導電部がヒータ電極500等の各機能を発揮できる程度に十分な導電性を有しなくなることを抑制することができる。また、金属の粒径は、100μm以下であることが好ましい。これにより、金属の粒径が100μmを超える場合に比べて、S140の焼成工程において金属が焼結し易くなり、大気に晒される比表面積が小さくなるため、導電部の酸化による抵抗値の増加が抑制される。また、金属の粒径は、50μm以下であることがより好ましい。これにより、金属の粒径が50μmを超える場合に比べて、S110において導体ペーストをシート化する際、厚さの均一性が高い半硬化シート800を形成することができる。   The conductive material may be a material having conductivity, and is not limited to a metal, and may be, for example, a conductive ceramic. Examples of the metal include particles (or powder) of tungsten, molybdenum, platinum, silver, copper, or the like, or an alloy thereof. Further, the particle size of the metal is preferably 0.1 μm or more. Accordingly, the surface area of the entire metal contained in the conductor paste is smaller than in the case where the metal particle size is less than 0.1 μm, and therefore, an increase in resistance due to oxidation is suppressed. As a result, it is possible to suppress that the conductive portion formed in S140 does not have sufficient conductivity to exhibit the functions of the heater electrode 500 and the like. Further, the particle size of the metal is preferably 100 μm or less. This facilitates sintering of the metal in the firing step of S140 and reduces the specific surface area exposed to the air, as compared with the case where the particle size of the metal exceeds 100 μm. Is suppressed. Further, the particle diameter of the metal is more preferably 50 μm or less. This makes it possible to form a semi-cured sheet 800 having a high uniformity of thickness when forming the conductive paste into a sheet in S110, as compared to the case where the metal particle size exceeds 50 μm.

硬化性樹脂は、熱および光の少なくとも一方によって硬化する樹脂であればよい。硬化性樹脂の例としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、アクリル系樹脂、不飽和ポリエステル系樹脂、ポリウレタン系樹脂などが挙げられる。硬化性樹脂は、調合の容易さの点で、特にエポキシ樹脂が好ましい。エポキシ樹脂は、溶媒への溶解性が高い、もしくは樹脂そのものが液状で溶媒を用いなくても導電性材料やセラミックス粉末と混合できるからである。エポキシ樹脂の例としては、グリシジルエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂が挙げられ、より具体的には、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、プロム化ビスフェノールA型エポキシ樹脂、プロム化ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、脂肪族エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂などが挙げられる。また、硬化性樹脂は、原子番号が9以上の元素を含まない脂肪族の樹脂であることが好ましい。このような脂肪族の樹脂は、S140の焼成工程で容易に焼失し、かつ灰分の少ない樹脂であるからである。脂肪族の樹脂としては、水への溶解性が高い脂肪族グリシジルエーテル類が特に好ましい。   The curable resin may be any resin that can be cured by at least one of heat and light. Examples of the curable resin include an epoxy resin, a phenol resin, an acrylic resin, an unsaturated polyester resin, and a polyurethane resin. The curable resin is particularly preferably an epoxy resin from the viewpoint of ease of preparation. This is because the epoxy resin has high solubility in a solvent or the resin itself is liquid and can be mixed with a conductive material or ceramic powder without using a solvent. Examples of the epoxy resin include a glycidyl ether type epoxy resin, a glycidyl ester type epoxy resin, and a glycidylamine type epoxy resin. More specifically, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, and brominated bisphenol A Type epoxy resin, brominated bisphenol F type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, aliphatic epoxy resin, alicyclic epoxy resin and the like. The curable resin is preferably an aliphatic resin containing no element having an atomic number of 9 or more. This is because such an aliphatic resin is a resin which easily burns off in the firing step of S140 and has a low ash content. As the aliphatic resin, aliphatic glycidyl ethers having high solubility in water are particularly preferable.

硬化剤は、上記の硬化性樹脂を硬化することができる硬化剤であればよい。硬化剤は、硬化性樹脂と同様に、焼成工程で容易に焼失し、かつ灰分の少ない樹脂が好ましく、具体的には原子番号が9以上の元素を含まない脂肪族の樹脂が好ましい。エポキシ樹脂に対する硬化剤の例としては、一級、二級または三級のアミン化合物、変性ポリアミド化合物、イミダゾール類、ポリメルカプタン類、酸無水物類、ジシアンジアミドなどが挙げられる。変性ポリアミド化合物としては、例えば、ダイマー酸と脂肪族ポリアミンとの反応によって生成されたものを用いることができる。変性ポリアミド系硬化剤の性質は、ポリアミンの種類と、アミンとダイマー酸との比と、第三の改質成分の量とで決定される。第三の改質成分は、例えば、エポキシ樹脂があり、これをあらかじめ反応させることによって、変性ポリアミドのエポキシ樹脂への相溶性が大幅に改善される。また、硬化剤は、水への溶解性が高い脂肪族ポリアミン系硬化剤が好ましく、特に、アミン価が100以上、200以下の脂肪族ポリアミン系硬化剤が好ましい。   The curing agent may be any curing agent capable of curing the above curable resin. Like the curable resin, the curing agent is preferably a resin that is easily burned off in the firing step and has a low ash content. Specifically, an aliphatic resin containing no element having an atomic number of 9 or more is preferable. Examples of the curing agent for the epoxy resin include primary, secondary and tertiary amine compounds, modified polyamide compounds, imidazoles, polymercaptans, acid anhydrides, dicyandiamide and the like. As the modified polyamide compound, for example, a compound produced by a reaction between dimer acid and an aliphatic polyamine can be used. The properties of the modified polyamide-based curing agent are determined by the type of polyamine, the ratio of amine to dimer acid, and the amount of the third modifying component. The third modifying component is, for example, an epoxy resin, and by preliminarily reacting the epoxy resin, the compatibility of the modified polyamide with the epoxy resin is greatly improved. The curing agent is preferably an aliphatic polyamine-based curing agent having high solubility in water, and particularly preferably an aliphatic polyamine-based curing agent having an amine value of 100 or more and 200 or less.

セラミックス粉末は、グリーンシート950Aに含まれるセラミックス粉末と同じセラミックス粉末であることが好ましい。これにより、S140の焼成工程により形成されたセラミックス部材10において、導体ペーストから形成される導電部とグリーンシート950Aから形成されるセラミックス部分との密着性を向上させることができる。   The ceramic powder is preferably the same as the ceramic powder contained in the green sheet 950A. Thereby, in the ceramic member 10 formed in the firing step of S140, the adhesion between the conductive portion formed from the conductive paste and the ceramic portion formed from the green sheet 950A can be improved.

分散剤は、硬化性樹脂中における導電性材料やセラミックス粉末の分散性を制御するための成分である。分散剤の例としては、イオン性の分散剤と非イオン性の分散剤とが挙げられる。イオン性の分散剤としては、ポリアクリル酸やポリカルボン酸、そのナトリウム塩やアンモニウム塩、スルホン酸系共重合体やそのナトリウム塩やアンモニウム塩を用いることができる。非イオン性の分散剤としては、ポリエチレングリコールやそのエーテルやそのエステルを用いることができる。セラミックス粉末の分散剤としては、カルボン酸を含むポリマーが好ましい。カルボン酸を含むポリマーは、導電性材料の粉末やセラミックス粉末の表面官能基と水素結合しやすいため吸着しやすく、少量で高い分散効果が得られるためである。   The dispersant is a component for controlling the dispersibility of the conductive material and the ceramic powder in the curable resin. Examples of dispersants include ionic and non-ionic dispersants. Examples of the ionic dispersant include polyacrylic acid, polycarboxylic acid, sodium salts and ammonium salts thereof, sulfonic acid copolymers and sodium and ammonium salts thereof. As the nonionic dispersant, polyethylene glycol, its ether and its ester can be used. As the dispersant for the ceramic powder, a polymer containing a carboxylic acid is preferable. This is because a polymer containing a carboxylic acid easily forms a hydrogen bond with a surface functional group of a powder of a conductive material or a ceramic powder, so that it is easily adsorbed, and a high dispersion effect can be obtained with a small amount.

溶媒は、導体ペーストに適度な粘性を付与し、かつ導体ペーストをシート化した後に乾燥処理によって容易に揮発できる溶媒であればよい。溶媒の例としては、水や各種有機溶媒が挙げられる。ただし、液状の硬化性樹脂を用いることで、適度な粘性の導体ペーストが得られる場合は、導体ペーストを作製するにあたり、溶媒は、必ずしも必須ではない。有機溶媒としては、例えば、イソプロピルアルコールなどのアルコール類、アセトンやメチルエチルケトンなどのケトン類、酢酸エチル、酢酸イソブチルなどのエステル類、トルエン、キシレンなどの芳香族炭化水素類などを用いることができる。なお、溶媒として水を用いることは、特に、作業環境の安全性の面から好ましい。   The solvent may be any solvent that imparts appropriate viscosity to the conductor paste and that can be easily volatilized by drying after forming the conductor paste into a sheet. Examples of the solvent include water and various organic solvents. However, in the case where a conductive paste having an appropriate viscosity can be obtained by using a liquid curable resin, a solvent is not necessarily required for producing the conductive paste. As the organic solvent, for example, alcohols such as isopropyl alcohol, ketones such as acetone and methyl ethyl ketone, esters such as ethyl acetate and isobutyl acetate, and aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene can be used. The use of water as a solvent is particularly preferable from the viewpoint of working environment safety.

導体ペーストの形成後、導体ペーストをシート状に所定の部材の表面に塗工する。導体ペーストの塗工には、例えば、ドクターブレード、ナイフコーター、ロールコータなどの公知の方法を用いることができる。次に、シート状に塗工された導体ペーストを、熱および光の少なくとも一方によって半硬化させる。具体的には、所定の部材上の導体ペーストを乾燥機で緩く加熱したり、露光機で緩く露光したりする。これにより、半硬化シート800を作製することができる。なお、半硬化シート800(導体ペースト)の原料の配合例としては、導電性材料は、タングステン粉末90重量部、無機粉末は、アルミナ粉末10重量部、樹脂材料(バインダ、分散剤として機能)は、水溶性エポキシ樹脂7.2重量部(グリセロールポリグリシジルエーテル)、水溶性硬化剤1.2重量部(脂肪族ポリアミン)、分散剤0.5重量部(カルボン酸含有ポリマー変性物)、溶媒は、水20重量部である。導電部(チャック電極40、ヒータ電極層50、ドライバ電極層60)の導電性に最も影響を与える成分は、導電性材料(例えばタングステン粉末)である。このため、導電性材料の添加量は、50重量部以上であることが好ましい。理由は、導電性材料の添加量が50重量部未満である場合、導電性材料の配合割合が低すぎて、導電部としての導電性が低下したり、微細な導電部を形成する際に断線する可能性が高くなるからである。また、導電性材料の添加量は、150重量部以下であることが好ましい。理由は、導電性材料の添加量が150重量部より多い場合、上述の焼成工程(S140)において、セラミックスグリーンシート950Aと導電部前駆体とを同時焼成する際に、両者の収縮率の差に起因して導電部等にクラックなどの不良が生じやすくなるからである。また、導電性材料に対する樹脂材料の量が相対的に少なくなるため、導電性材料の分散性が低下し、凝集塊を生じやすく、微細で正確な導電部を形成することが困難になるからである。   After the formation of the conductive paste, the conductive paste is applied to the surface of a predetermined member in a sheet shape. For applying the conductive paste, for example, a known method such as a doctor blade, a knife coater, or a roll coater can be used. Next, the conductor paste applied in a sheet shape is semi-cured by at least one of heat and light. Specifically, the conductor paste on a predetermined member is loosely heated by a dryer, or is lightly exposed by an exposure machine. Thereby, the semi-cured sheet 800 can be manufactured. In addition, as a compounding example of the raw material of the semi-cured sheet 800 (conductor paste), the conductive material is 90 parts by weight of tungsten powder, the inorganic powder is 10 parts by weight of alumina powder, and the resin material (functions as a binder and a dispersant) is 7.2 parts by weight of a water-soluble epoxy resin (glycerol polyglycidyl ether), 1.2 parts by weight of a water-soluble curing agent (aliphatic polyamine), 0.5 parts by weight of a dispersant (modified polymer of carboxylic acid-containing polymer), , 20 parts by weight of water. The component that most affects the conductivity of the conductive portion (chuck electrode 40, heater electrode layer 50, driver electrode layer 60) is a conductive material (for example, tungsten powder). Therefore, the amount of the conductive material to be added is preferably 50 parts by weight or more. The reason is that when the amount of the conductive material is less than 50 parts by weight, the compounding ratio of the conductive material is too low, and the conductivity as the conductive part is reduced, or the wire is broken when forming a fine conductive part. This is because the possibility of doing so increases. Further, the amount of the conductive material added is preferably 150 parts by weight or less. The reason is that, when the amount of the conductive material added is more than 150 parts by weight, when the ceramic green sheet 950A and the conductive part precursor are simultaneously fired in the above-described firing step (S140), a difference in shrinkage between the two is considered. This is because defects such as cracks easily occur in the conductive portion and the like. Also, since the amount of the resin material relative to the conductive material is relatively small, the dispersibility of the conductive material is reduced, aggregates are easily generated, and it is difficult to form a fine and accurate conductive portion. is there.

A−4−2.半硬化導電パターン800Aを形成する工程(S120):
半硬化導電パターン800Aを形成する工程(S120)では、例えば次の方法により、半硬化シート800から半硬化導電パターン800Aを形成する。例えば、図6(A)に示すように、打ち抜き型900を準備する。打ち抜き型900は、打ち抜き用パンチ910と打ち抜き台920とを含む。打ち抜き用パンチ910は、例えば1つのヒータ電極500の形状に対応した形状に形成されている。打ち抜き台920は、例えば1つのヒータ電極500の形状に対応した形状の開口部(図示せず)が形成されている。打ち抜き台920上に、複数枚の半硬化導電パターン800Aを重ねて配置する。次に、図6(B)に示すように、打ち抜き用パンチ910を、複数枚の半硬化導電パターン800Aの上から、打ち抜き台920の開口部を介して打ち抜き台920を貫通させると、互いに重ねられた複数枚の半硬化導電パターン800Aがヒータ電極500の形状に対応した形状に打ち抜かれる。これにより、同一形状の複数の半硬化導電パターン800Aを一括で形成することができる。このように、同一形状の半硬化導電パターン(半硬化導電パターン800A)を多数形成する場合、打ち抜き型を用いる方法が好ましい。なお、半硬化導電パターンを形成するための他の方法としては、例えば、カッティングプロッターを用いて半硬化シート800から半硬化導電パターン800Aを切り出す方法が挙げられる。形状が互いに異なる半硬化導電パターンを多数形成する場合には、カッティングプロッターを用いる方法が好ましい。また、このように半硬化導電パターンから打ち出しや切り出しによって導電部前駆体を形成することにより、例えば上述したようにヒータ電極500の表面501の近傍に位置する導電性材料の粒子Mが切断され、その結果、切断された粒子Mの切断面MDがヒータ電極500の表面501に露出する(図4のX1部参照)。これにより、例えばヒータ電極500の線幅を均一にすることができる。
A-4-2. Step of forming semi-cured conductive pattern 800A (S120):
In the step of forming the semi-cured conductive pattern 800A (S120), the semi-cured conductive pattern 800A is formed from the semi-cured sheet 800 by, for example, the following method. For example, as shown in FIG. 6A, a punching die 900 is prepared. The punching die 900 includes a punching punch 910 and a punching table 920. The punch for punching 910 is formed in a shape corresponding to the shape of one heater electrode 500, for example. The punching table 920 has an opening (not shown) having a shape corresponding to the shape of one heater electrode 500, for example. A plurality of semi-cured conductive patterns 800 </ b> A are arranged on the punching stand 920 in a superimposed manner. Next, as shown in FIG. 6B, when the punches 910 are passed through the punching table 920 from above the plurality of semi-cured conductive patterns 800A through the openings of the punching table 920, the punches 910 overlap each other. The plurality of semi-cured conductive patterns 800A thus obtained are punched into a shape corresponding to the shape of the heater electrode 500. Accordingly, a plurality of semi-cured conductive patterns 800A having the same shape can be formed at a time. When a large number of semi-cured conductive patterns (semi-cured conductive patterns 800A) having the same shape are formed, a method using a punching die is preferable. As another method for forming the semi-cured conductive pattern, for example, a method of cutting out the semi-cured conductive pattern 800A from the semi-cured sheet 800 using a cutting plotter can be mentioned. When a large number of semi-cured conductive patterns having different shapes are formed, a method using a cutting plotter is preferable. Further, by forming the conductive part precursor by punching or cutting out from the semi-cured conductive pattern in this manner, for example, as described above, the particles M of the conductive material located near the surface 501 of the heater electrode 500 are cut, As a result, the cut surface MD of the cut particles M is exposed on the front surface 501 of the heater electrode 500 (see X1 in FIG. 4). Thereby, for example, the line width of the heater electrode 500 can be made uniform.

A−4−3.導電部前駆体を形成する工程(S130):
導電部前駆体(例えばヒータ電極前駆体500A)を形成する工程(S130)では、まず、例えばアルミナを主成分とするグリーンシート950Aを複数準備する。そして、それらのうちの1つのグリーンシート950Aに半硬化導電パターン800Aを貼る。具体的には、図7(A)に示すように、半硬化導電パターン800Aの第1の端部821Aが、グリーンシート950Aに露出する焼成前の第1のヒータ側ビア前駆体721A上に配置され、第2の端部822Aがグリーンシート950Aに露出する焼成前の第2のヒータ側ビア前駆体722A上に配置される。なお、半硬化導電パターン800Aをグリーンシート950Aに貼る方法は特に限定されず、例えば、半硬化導電パターン800Aをグリーンシート950Aに直接押し付けて圧着してもよい。また、半硬化導電パターン800Aが薄く、半硬化導電パターン800A単独では扱いにくい場合、半硬化導電パターン800Aを、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムのような搬送用のフィルム上に貼って扱ってもよい。なお、本実施形態において、グリーンシート950Aは、硬化性樹脂を含む形成材料により形成されたもの(ゲルキャスト成形されたもの)でもよい。ただし、硬化性樹脂を含むグリーンシートは、比較的に硬くなりやすいため、第1のヒータ側ビア721等のための貫通孔を形成する際に、グリーンシートにクラックが生じるおそれがある。また、グリーンシートのような比較的に幅広のものをゲルキャスト成形すると、硬化する際の収縮量が大きいため、例えばグリーンシートの端部に反りが生じやすい。そのため、グリーンシート950Aは、硬化性樹脂を含まず、熱可塑性バインダーを含んで形成されたものが好ましい。
A-4-3. Step of forming conductive part precursor (S130):
In the step of forming the conductive part precursor (for example, the heater electrode precursor 500A) (S130), first, a plurality of green sheets 950A mainly containing, for example, alumina are prepared. Then, a semi-cured conductive pattern 800A is attached to one of the green sheets 950A. Specifically, as shown in FIG. 7A, the first end 821A of the semi-cured conductive pattern 800A is disposed on the first heater-side via precursor 721A before firing, which is exposed on the green sheet 950A. Then, the second end portion 822A is disposed on the unheated second heater-side via precursor 722A exposed on the green sheet 950A. The method of attaching the semi-cured conductive pattern 800A to the green sheet 950A is not particularly limited. For example, the semi-cured conductive pattern 800A may be directly pressed to the green sheet 950A for pressure bonding. Further, when the semi-cured conductive pattern 800A is thin and is difficult to handle with the semi-cured conductive pattern 800A alone, the semi-cured conductive pattern 800A may be handled by pasting it on a transfer film such as a polyethylene terephthalate (PET) film. . In the present embodiment, the green sheet 950A may be formed of a forming material including a curable resin (gel cast molding). However, the green sheet containing the curable resin tends to be relatively hard, so that a crack may be generated in the green sheet when forming a through hole for the first heater-side via 721 and the like. In addition, when a relatively wide material such as a green sheet is subjected to gel casting, the amount of shrinkage upon curing is large, and thus, for example, the end of the green sheet is likely to be warped. Therefore, it is preferable that the green sheet 950A be formed not including the curable resin but including the thermoplastic binder.

次に、グリーンシート950Aに貼られた半硬化導電パターン800Aを、熱および光の少なくとも一方によって硬化させる。具体的には、半硬化導電パターン800Aを乾燥機で加熱したり、露光機で露光したりする。これにより、半硬化導電パターン800Aの粘着力によって、グリーンシート950A上に接着されたヒータ電極前駆体500Aを作製することができる(図7(B)参照)。なお、他のグリーンシート950Aに対して、スルーホールの形成やビア用インクの充填、チャック電極40の形成のための電極用インクの塗布等の必要な加工を行う。なお、ビア用インクや電極用インクとしては、例えばアルミナを主成分とするグリーンシート用の原料粉末にタングステン粉末を混合してスラリー状としたメタライズインクが用いられる。   Next, the semi-cured conductive pattern 800A attached to the green sheet 950A is cured by at least one of heat and light. Specifically, the semi-cured conductive pattern 800A is heated by a dryer or exposed by an exposure machine. Thus, the heater electrode precursor 500A bonded to the green sheet 950A can be manufactured by the adhesive force of the semi-cured conductive pattern 800A (see FIG. 7B). The other green sheets 950A are subjected to necessary processing such as formation of through holes, filling of via ink, application of electrode ink for forming the chuck electrode 40, and the like. As the via ink and the electrode ink, for example, a metallized ink that is made into a slurry by mixing a tungsten powder with a green sheet raw material powder containing alumina as a main component is used.

A−4−4.ヒータ電極500等を備えるセラミックス部材10を形成する工程(S140):
セラミックス部材10を形成する工程(S140)では、導電部前駆体(ヒータ電極前駆体500A等)が接着されたグリーンシート950Aと、他のグリーンシート950Aとを積層して熱圧着し、この積層体を所定の形状にカットし、還元雰囲気中で焼成(例えば、1400〜1800℃で焼成)を行う。この焼成処理により、複数のグリーンシート950Aと導電部前駆体とが同時焼結され、グリーンシート950Aがセラミックス部950となり、導電部前駆体が導電部(ヒータ電極500等)となる。これにより、セラミックス部材10が形成される。
A-4-4. Step of forming ceramic member 10 including heater electrode 500 and the like (S140):
In the step of forming the ceramic member 10 (S140), the green sheet 950A to which the conductive part precursor (heater electrode precursor 500A and the like) is adhered and another green sheet 950A are laminated and thermocompressed. Is cut into a predetermined shape and fired in a reducing atmosphere (for example, fired at 1400 to 1800 ° C.). By this baking treatment, the plurality of green sheets 950A and the conductive part precursor are simultaneously sintered, the green sheet 950A becomes the ceramic part 950, and the conductive part precursor becomes the conductive part (the heater electrode 500 and the like). Thereby, the ceramic member 10 is formed.

次に、ベース部材20は、公知の方法により作製することができる。その後、例えばシリコーン系樹脂やアクリル系樹脂、エポキシ系樹脂等の接着剤を用いて、セラミックス部材10とベース部材20とを接合する(S150)。これにより、上述した構成の静電チャック100の製造が完了する。   Next, the base member 20 can be manufactured by a known method. Thereafter, the ceramic member 10 and the base member 20 are joined using an adhesive such as a silicone-based resin, an acrylic-based resin, or an epoxy-based resin (S150). Thus, the manufacture of the electrostatic chuck 100 having the above-described configuration is completed.

A−5.本実施形態の効果:
例えば、導電性材料を含み、かつ硬化性樹脂を含まない非硬化性の導電ペーストから導電パターンを形成しようとすると、非硬化性の導電ペーストは、形状を維持する定形性が低いため、導電パターンを導電部に対応した形状(例えば設計上の形状)に精度よく形成することが困難である。例えば、非硬化性の導電ペーストから導電パターンを切り出そうとしてもパターン形状を維持できず、導電パターンを導電部に対応した形状に精度よく形成することができない。また、非硬化性の導電ペーストを積層される複数のグリーンシートの間に挟み込んで押圧する際に、その押圧力によって導電ペーストが変形しやすい。これに対して、本実施形態における静電チャック100の製造方法では、半硬化状態である半硬化シート800から半硬化導電パターン800Aを形成する。半硬化シート800は、上記非硬化性の導電ペーストに比べて定形性が高いため、非硬化性の導電ペーストを利用する場合に比べて、半硬化導電パターン800Aを導電部(ヒータ電極500等)に対応した形状に精度よく形成することができる。
A-5. Effects of this embodiment:
For example, if an attempt is made to form a conductive pattern from a non-curable conductive paste that contains a conductive material and does not include a curable resin, the non-curable conductive paste has a low formality that maintains its shape, It is difficult to accurately form a shape (for example, a design shape) corresponding to the conductive portion. For example, even if an attempt is made to cut out a conductive pattern from a non-curable conductive paste, the pattern shape cannot be maintained, and the conductive pattern cannot be accurately formed in a shape corresponding to the conductive portion. Further, when the non-curable conductive paste is sandwiched and pressed between a plurality of green sheets to be laminated, the conductive paste is easily deformed by the pressing force. On the other hand, in the method of manufacturing the electrostatic chuck 100 according to the present embodiment, the semi-cured conductive pattern 800A is formed from the semi-cured sheet 800 in the semi-cured state. Since the semi-cured sheet 800 has a higher formability than the non-curable conductive paste, the semi-cured conductive pattern 800A has a conductive portion (such as the heater electrode 500) as compared with the case where the non-curable conductive paste is used. Can be accurately formed in a shape corresponding to

また、本実施形態では、半硬化導電パターン800Aを、グリーンシート950A上に配置し、熱および光の少なくとも一方によって硬化させることによって、グリーンシート950A上に接着された導電部前駆体(ヒータ電極前駆体500A等)を形成する。これにより、導電部前駆体が形成されたグリーンシート950Aのハンドリング性が向上する。例えば、導電部前駆体が接着されたグリーンシート950Aを含む、複数のグリーンシート950Aを重ねる際、グリーンシート950A上における導電部前駆体の位置がずれることが抑制される。   Further, in the present embodiment, the semi-cured conductive pattern 800A is disposed on the green sheet 950A and cured by at least one of heat and light, so that the conductive part precursor (heater electrode precursor) adhered onto the green sheet 950A. Body 500A). Thereby, the handleability of the green sheet 950A on which the conductive part precursor is formed is improved. For example, when a plurality of green sheets 950A including the green sheet 950A to which the conductive part precursor is adhered are stacked, displacement of the position of the conductive part precursor on the green sheet 950A is suppressed.

ここで、導電パターンをグリーンシート上に形成する方法としては、例えば導体ペーストをスクリーン印刷により形成する方法がある。しかし、このスクリーン印刷による方法では、メッシュマスクの線径や導電性材料の粒径の制約があるため、微細パターン(例えば線幅が50μm以下)を精度よく形成することができない。例えば、印刷された導体ペーストの表面の近傍に導電性材料の粒子が存在する場合、その粒子が導体ペーストの表面から凸状に突出し、導体ペーストの線幅がばらつくおそれがある。また、スクリーン印刷による方法では、印刷後にスクリーンマスクを外す際に導体ペーストに凹凸が生じたり、マスク線径の凹凸が転写されたりして、導体ペーストの厚さがばらつくおそれがある。これに対して、上述したように、本実施形態では、まず、導体ペーストをシート化して半硬化シート800を形成する。これにより、厚さの略均一な半硬化シート800を形成することができる。そして、スクリーン印刷によることなく、半硬化シート800から形成した半硬化導電パターン800Aをグリーンシート950Aに配置して硬化させることにより、ヒータ電極前駆体500Aをグリーンシート950A上に形成する。これにより、正確な線幅や厚さの半硬化導電パターン800Aをグリーンシート950A上に形成することができ、その結果、抵抗値のばらつき等が抑制された導電部を形成することができる。   Here, as a method of forming a conductive pattern on a green sheet, for example, there is a method of forming a conductive paste by screen printing. However, in this method using screen printing, a fine pattern (for example, a line width of 50 μm or less) cannot be formed with high accuracy due to restrictions on the diameter of the mesh mask and the diameter of the conductive material. For example, when particles of the conductive material exist near the surface of the printed conductor paste, the particles may protrude from the surface of the conductor paste in a convex shape, and the line width of the conductor paste may vary. Further, in the method using screen printing, when the screen mask is removed after printing, irregularities may occur in the conductive paste, or irregularities in the mask wire diameter may be transferred, so that the thickness of the conductive paste may vary. On the other hand, as described above, in the present embodiment, first, the semiconductive sheet 800 is formed by forming the conductive paste into a sheet. Thus, a semi-cured sheet 800 having a substantially uniform thickness can be formed. Then, the heater electrode precursor 500A is formed on the green sheet 950A by arranging and curing the semi-cured conductive pattern 800A formed from the semi-cured sheet 800 on the green sheet 950A without using screen printing. Thereby, a semi-cured conductive pattern 800A having an accurate line width and thickness can be formed on the green sheet 950A, and as a result, a conductive portion in which variation in resistance value or the like is suppressed can be formed.

また、本実施形態では、複数枚の半硬化シート800を重ねてまとめて打ち抜き加工を施すことにより、導電部に対応した形状の複数の半硬化導電パターン800Aを一括形成する(図6参照)。これにより、複数の半硬化導電パターン800Aを個別に形成する場合に比べて、複数の半硬化導電パターン800A(ひいては複数の導電部)の形状の同一性の向上と、製造工数の軽減とを図ることができる。   Further, in the present embodiment, a plurality of semi-cured conductive patterns 800A having a shape corresponding to the conductive portion are collectively formed by stacking and punching a plurality of semi-cured sheets 800 (see FIG. 6). Thereby, compared to the case where the plurality of semi-cured conductive patterns 800A are individually formed, the sameness of the shapes of the plurality of semi-cured conductive patterns 800A (and, consequently, the plurality of conductive portions) is improved, and the number of manufacturing steps is reduced. be able to.

また、本実施形態では、導電部(ヒータ電極500)の表面の少なくとも一部には、導電性材料の粒子Mの切断面MDが露出している(図4参照)。これにより、切断されていない導電性材料の粒子が導電部の表面から凸状に突出している構成に比べて、導電部の形状の精度が高いため、導電部の厚みや幅がばらつくことを抑制することができる。   In the present embodiment, a cut surface MD of the conductive material particles M is exposed on at least a part of the surface of the conductive portion (heater electrode 500) (see FIG. 4). As a result, the accuracy of the shape of the conductive portion is higher than in a configuration in which uncut particles of the conductive material protrude from the surface of the conductive portion in a convex shape, thereby suppressing variation in the thickness and width of the conductive portion. can do.

B.変形例:
本明細書で開示される技術は、上述の実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の形態に変形することができ、例えば次のような変形も可能である。
B. Modification:
The technology disclosed in the present specification is not limited to the above-described embodiment, and can be modified into various forms without departing from the gist thereof. For example, the following modifications are also possible.

上記実施形態における静電チャック100の製造方法は、あくまで一例であり、種々変形可能である。例えば、半硬化シート800を準備する工程(S110)において、セラミックス粉末と硬化剤と分散剤と溶媒とのうちの少なくとも1つを用いずに導体ペーストを形成するとしてもよい。また、導電性材料の粒径は、0.1μm未満であるとしてもよいし、100μmを超えるとしてもよい。   The method for manufacturing the electrostatic chuck 100 in the above embodiment is merely an example, and can be variously modified. For example, in the step of preparing the semi-cured sheet 800 (S110), the conductor paste may be formed without using at least one of the ceramic powder, the hardener, the dispersant, and the solvent. In addition, the particle size of the conductive material may be smaller than 0.1 μm, or may be larger than 100 μm.

また、上記実施形態では、半硬化シート800から半硬化導電パターン800Aを形成する方法として、打ち抜きや切り出しによる方法を例示したが、例えば、半硬化シート800に対して露光によるエッチングを施すことにより、半硬化導電パターン800Aを形成するとしてもよい。ただし、露光によるエッチングでは、半硬化シート800の厚さによっては、エッチング後の半硬化導電パターン800A(ヒータ電極500)の抵抗値がばらつくことによって発熱量がばらつくおそれがある。すなわち、露光によるエッチングでは、半硬化シート800における露光面への露光量と、該露光面とは反対側の面への露光量とに差が生じることにより、形成された導電パターンにおける露光面と反対側の面とで硬化度合いが相違するおそれがある。また、半硬化シート800の密度によってエッジングされやすい部分とエッジングされにくい部分とが生じるおそれがある。その結果、1つのヒータ電極500において発熱量がばらついたり、複数のヒータ電極500同士の間で発熱量がばらついたりするおそれがある。したがって、半硬化シート800の厚さが比較的に厚い場合には、上記実施形態の打ち抜きや切り出しによる方法を採用することが好ましい。   Further, in the above-described embodiment, as a method of forming the semi-cured conductive pattern 800A from the semi-cured sheet 800, a method by punching or cutting is exemplified. For example, by performing etching by exposure on the semi-cured sheet 800, The semi-cured conductive pattern 800A may be formed. However, in the etching by exposure, depending on the thickness of the semi-cured sheet 800, the calorific value may vary due to variation in the resistance value of the semi-cured conductive pattern 800A (heater electrode 500) after the etching. That is, in the etching by exposure, a difference occurs between the amount of exposure to the exposed surface of the semi-cured sheet 800 and the amount of exposure to the surface opposite to the exposed surface. There is a possibility that the degree of hardening differs between the opposite surface. Further, depending on the density of the semi-cured sheet 800, there is a possibility that a portion that is easily edged and a portion that is hardly edged may occur. As a result, the calorific value may vary in one heater electrode 500 or the calorific value may vary between a plurality of heater electrodes 500. Therefore, when the thickness of the semi-cured sheet 800 is relatively large, it is preferable to adopt the method of punching and cutting in the above embodiment.

また、上記実施形態において、半硬化シート800は、導電性を有していなくてもよく、少なくとも焼成後に導電性を有するものであればよい。   In the above-described embodiment, the semi-cured sheet 800 does not have to have conductivity, and may be at least conductive after firing.

上記実施形態では、導電部として、チャック電極40、ヒータ電極層50およびドライバ電極層60を例示したが、例えば電極パッドなどもよい。また、導電部は、セラミックス部材の内部に配置されたものに限らず、セラミックス部材の外部に配置されたもの(給電パッドや外部配線など)でもよい。   In the above-described embodiment, the chuck electrode 40, the heater electrode layer 50, and the driver electrode layer 60 have been illustrated as the conductive portions. Further, the conductive portion is not limited to the one disposed inside the ceramic member, but may be one disposed outside the ceramic member (such as a power supply pad or an external wiring).

また、上記実施形態において、各ビアは、単数のビアにより構成されてもよいし、複数のビアのグループにより構成されてもよい。また、上記実施形態において、各ビアは、ビア部分のみからなる単層構成であってもよいし、複数層構成(例えば、ビア部分とパッド部分とビア部分とが積層された構成)であってもよい。   Further, in the above embodiment, each via may be configured by a single via, or may be configured by a group of a plurality of vias. In the above-described embodiment, each via may have a single-layer configuration including only a via portion, or a multi-layer configuration (for example, a configuration in which a via portion, a pad portion, and a via portion are stacked). Is also good.

また、上記実施形態におけるセグメントSEの設定態様は、任意に変更可能である。例えば、上記実施形態では、各セグメントSEが吸着面S1の円周方向CDに並ぶように複数のセグメントSEが設定されているが、各セグメントSEが格子状に並ぶように複数のセグメントSEが設定されてもよい。また、例えば、上記実施形態では、静電チャック100の全体が複数のセグメントSEに仮想的に分割されているが、静電チャック100の一部分が複数のセグメントSEに仮想的に分割されていてもよい。また、静電チャック100において、必ずしもセグメントSEが設定されている必要はない。   Further, the setting mode of the segment SE in the above embodiment can be arbitrarily changed. For example, in the above embodiment, the plurality of segments SE are set such that the segments SE are arranged in the circumferential direction CD of the suction surface S1, but the plurality of segments SE are set such that the segments SE are arranged in a lattice pattern. May be done. Also, for example, in the above embodiment, the entire electrostatic chuck 100 is virtually divided into a plurality of segments SE, but a part of the electrostatic chuck 100 may be virtually divided into a plurality of segments SE. Good. In the electrostatic chuck 100, the segment SE does not necessarily need to be set.

また、上記実施形態では、セラミックス部材10の内部に1つのチャック電極40が設けられた単極方式が採用されているが、セラミックス部材10の内部に一対のチャック電極40が設けられた双極方式が採用されてもよい。また、上記実施形態の静電チャック100における各部材を形成する材料は、あくまで例示であり、各部材が他の材料により形成されてもよい。   Further, in the above embodiment, the monopolar system in which one chuck electrode 40 is provided inside the ceramic member 10 is adopted, but the bipolar system in which a pair of chuck electrodes 40 are provided inside the ceramic member 10 is used. May be employed. Further, the material forming each member in the electrostatic chuck 100 of the above embodiment is merely an example, and each member may be formed of another material.

また、本発明は、セラミックス部材10とベース部材20とを備え、静電引力を利用してウェハWを保持する静電チャック100に限らず、導電部を備えるセラミックス部材を含むもの(例えば、CVDヒータ等のヒータ装置、真空チャック等の保持装置や、シャワーヘッド等の半導体製造装置用部品)にも適用可能である。   Further, the present invention is not limited to the electrostatic chuck 100 that includes the ceramic member 10 and the base member 20 and holds the wafer W using electrostatic attraction, but includes a ceramic member including a conductive portion (for example, CVD). The present invention is also applicable to a heater device such as a heater, a holding device such as a vacuum chuck, and a semiconductor manufacturing device component such as a shower head.

10:セラミックス部材 12:凹部 20:ベース部材 21:冷媒流路 22:貫通孔 30:接着層 32:貫通孔 40:チャック電極 50:ヒータ電極層 60:ドライバ電極層 61:第1のドライバ電極 62:第2のドライバ電極 100:静電チャック 110:第1の端子用孔 120:第2の端子用孔 500:ヒータ電極 500A:ヒータ電極前駆体 501:表面 521:第1の端部 522:第2の端部 711:第1の給電側ビア 712:第2の給電側ビア 721:第1のヒータ側ビア 721A:第1のヒータ側ビア前駆体 722:第2のヒータ側ビア 722A:第2のヒータ側ビア前駆体 731:第1の電極パッド 732:第2の電極パッド 741:第1の給電端子 742:第2の給電端子 800:半硬化シート 800A:半硬化導電パターン 821A:第1の端部 822A:第2の端部 900:打ち抜き型 910:打ち抜き用パンチ 920:打ち抜き台 950:セラミックス部 950A:グリーンシート BL1:第1の境界線 BL2:第2の境界線 CD:円周方向 M:粒子 MD:切断面 Px:中心点 RD:径方向 S1:吸着面 S2:下面 S3:上面 S4:下面 SE:セグメント W:ウェハ Reference Signs List 10: ceramic member 12: concave portion 20: base member 21: coolant channel 22: through hole 30: adhesive layer 32: through hole 40: chuck electrode 50: heater electrode layer 60: driver electrode layer 61: first driver electrode 62 : Second driver electrode 100: electrostatic chuck 110: first terminal hole 120: second terminal hole 500: heater electrode 500 A: heater electrode precursor 501: surface 521: first end 522: first 2 end 711: first power supply side via 712: second power supply side via 721: first heater side via 721A: first heater side via precursor 722: second heater side via 722A: second Heater-side via precursor 731: first electrode pad 732: second electrode pad 741: first power supply terminal 742: second power supply terminal 800: Cured sheet 800A: Semi-cured conductive pattern 821A: First end 822A: Second end 900: Punching die 910: Punch for punching 920: Punching table 950: Ceramic part 950A: Green sheet BL1: First boundary line BL2: Second boundary line CD: Circumferential direction M: Particle MD: Cut surface Px: Center point RD: Radial direction S1: Suction surface S2: Lower surface S3: Upper surface S4: Lower surface SE: Segment W: Wafer

Claims (2)

対象物を保持するセラミックス部材と、前記セラミックス部材の内部に配置されたヒータ電極層である導電部と、を備える静電チャックの製造方法において、
導電性材料と、熱および光の少なくとも一方によって硬化する硬化性樹脂と、を含んでおり、少なくとも焼成後に導電性を有し、かつ半硬化状態である半硬化シートを準備する工程と、
前記半硬化シートから、前記導電部に対応した形状の半硬化導電パターンを形成する工程と、
前記半硬化導電パターンを、セラミックスグリーンシート上に配置し、熱および光の少なくとも一方によって硬化させることによって、前記セラミックスグリーンシート上に接着された導電部前駆体を形成する工程と、
前記導電部前駆体が接着された前記セラミックスグリーンシートを含む、複数のセラミックスグリーンシートを重ねて焼成することによって、前記導電部を備える前記セラミックス部材を形成する工程と、
を含む、
ことを特徴とする静電チャックの製造方法。
And the ceramic member for holding the object, and a conductive portion is a heater electrode layer disposed in the interior of the ceramic member, in the manufacturing method of an electrostatic chuck comprising a
Conductive material, and a curable resin that is cured by at least one of heat and light, including at least conductive after firing, and preparing a semi-cured sheet in a semi-cured state,
From the semi-cured sheet, a step of forming a semi-cured conductive pattern having a shape corresponding to the conductive portion,
The step of forming the conductive part precursor adhered on the ceramic green sheet, by arranging the semi-cured conductive pattern on a ceramic green sheet and curing by at least one of heat and light,
Including the ceramic green sheet to which the conductive part precursor is bonded, by stacking and firing a plurality of ceramic green sheets, forming the ceramic member having the conductive part;
including,
A method for manufacturing an electrostatic chuck , comprising:
請求項1に記載の静電チャックの製造方法において、
前記セラミックス部材は、互いの形状が略同一である複数の前記導電部を備えており、
前記半硬化導電パターンを形成する工程において、複数枚の前記半硬化シートを重ねてまとめて打ち抜き加工を施すことにより、前記導電部に対応した形状の複数の前記半硬化導電パターンを一括形成する、
ことを特徴とする静電チャックの製造方法。
The method for manufacturing an electrostatic chuck according to claim 1,
The ceramic member includes a plurality of the conductive portions whose shapes are substantially the same,
In the step of forming the semi-cured conductive pattern, a plurality of semi-cured sheets are stacked and collectively subjected to a punching process to collectively form the plurality of semi-cured conductive patterns having a shape corresponding to the conductive portion.
A method for manufacturing an electrostatic chuck , comprising:
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