JP6628320B2 - 半田付け装置および電子部品の製造方法 - Google Patents
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Description
また集積回路のパッケージの一種として、BGA(Ball Grid Array)部品が用いられている。
符号1は支持装置である。この支持装置1は、半田付け対象2を含む電子部品等を静止状態、あるいは移動状態にて支持する。符号3は振動制御部である。この振動制御部3は、前記支持装置1の上方から半田付け対象2へ振動を与える加振装置4と、この加振装置4を支持する支持装置5とを制御して、加振装置4を所定方向へ位置決めするようになっている。また前記振動制御部3は、前記加振装置4および/または支持装置5を制御することによって、加振方向、強度、時間、さらには、半田付け対象2に対して位置決め(例えば、基板a上の電子部品2bに対する位置決め)を行うようになっている。また符号6は加熱装置であって、前記支持装置1上の前記半田付け対象2を半田ペーストおよび/または半田ボールが溶融する温度まで加熱する。
半田付け対象である基板200は、予め半田ペーストが塗布され、SMT(Surface Mount Technology)部品、すなわち、表面実装される電子部品としての、電子部品203(例えばチップ抵抗またはチップコンデンサ)および第1のBGA部品201と第2のBGA部品202が搭載された状態で、VPS装置600に搬入され、該VSP装置600内にて、搬送ベルト100により搬送される。この時、前記基板200には、裏面にもチップ抵抗またはチップコンデンサ等の電子部品203が搭載されていても良い。
前記振動制御部300には、基板200に搭載されている第2のBGA部品202の搭載位置情報が予め入力され、記憶されている。また振動制御部300は、基板200が加熱装置としてのVPS装置600内で熱せられ、第2のBGA部品202の下側に配置された半田ボールが溶け終わるタイミングを位置情報から推測し、そのタイミングで、アームシステム500を動かして第2のBGA部品202にアームシステム500を接触させる。
なお、図1の例と同様、Y方向は搬送ベルト103の進行方向、X方向は搬送ベルト103の進行方向に対して直角な水平方向、Z方向は鉛直方向と定義する。
また、振動制御部300は、基板200の半田が不活性蒸気により融解後に振動発生を開始する。理由は基板200から部品の脱落を防ぐためであり、半田融解後の液体となった半田が振動吸収する効果を利用して、基板200へ伝播する振動を少なくすることができる。
さらに、BGAの大きさや半田条件によっては振動を与えても酸化膜が破れないケースがあると想定される。この場合は振幅を大きくする(振動強度を上げる)対策、振動周波数を高める(周波数が高くなるほどエネルギーが大きくなる)対策、さらには、振動を与える期間を長くする対策を行うべく制御することによって、酸化膜を破る確率を大きくすることも有効である。
この加振に際し、前記振動制御部300は、加振の開始、終了、断続等、加振時間を制御するとともに、必要に応じて加振の振幅、方向を制御する。また前記アームシステム500を制御して、第2のBGA部品202の移動に合わせて振動子503aを移動させる。
図5の(a)において、左側は理想状態、すなわち、基板2aとBGAパッケージ等の電子部品2bとを半田ボール7がややつぶれた状態で一体に固化した接続状態を示し、右側はいわゆるHead in Pillow現象が発生し、上部半田7aと下部半田7bとに分離した状態を示した図である。右側は半田が上下に分割されたまま固形化しており、この原因は間に存在する溶融〜固化段階で半田の表面の酸化膜が破れず、上下の半田が一体に融合することができなかったことにある。ここで下側が基板で、上側がBGAパッケージを示している。
しかし、VPS装置600の出口に近づくことに伴う温度の低下によってBGAパッケージ2bが収縮すると反りが戻る。反りが戻るに際し、基板2a側の半田ペースト8と接触する時にはフラックスの活性が消失しており、表面酸化膜を除去することができない。この結果、上下の半田が融合することができないまま、基板2aとBGAパッケージ2bとの間に挟まれて、一体することができずに固化すると、Head in Pillow現象状態となる。この状態を示したのが図4cである。すなわち、最も遅れて復元した右端では、上部半田7aと下部半田7bとが不十分な融着状態となる。
図3は本発明の第3実施形態におけるリフロー装置の概略構成を示す図である。
前記第2実施形態では、アームシステム500を使って目的のBGA部品202に振動を与えていたが、図3の第3実施形態では、図3(a)に示すリフロー装置の側面視のように、微弱振動発生装置としての超音波アレイ400を構成する振動子401からの振動を使って目的のBGA部品202に振動を与えるところが異なっている。すなわち、前記超音波アレイ400は、図3(b)に下面視(Z軸方向の下から上へ見た状態)を示すように、超音波振動する振動子401を行列状に配置したもので、全体として、微弱振動発生装置として機能する。
前記振動制御部301は超音波アレイ400を位相制御して、指向性を持たせた超音波を目的のBGA部品202に対して数10μs〜数100msの範囲の時間にわたって断続的に振動を与える。断続的に振動を与える理由は、BGA部品202の周辺に配置されている重量の小さいチップコンデンサなどの電子部品203に影響を与えないよう、特に共振によって過大な振幅での振動を起こさないようにするのが目的である。
さらに、BGAの大きさや半田条件によっては振動を与えても酸化膜が破れないケースがあると想定される。この場合は振幅を大きくする(振動強度を上げる)対策、振動周波数を高める(周波数が高くなるほどエネルギーが大きくなる)対策、さらには、振動を与える期間を長く対策によって、酸化膜を破る確率を大きくすることも有効である。
この第3実施形態にあっても、他の実施形態の場合と同様の理由により、1つの基板200に複数のBGA部品201、202が搭載されている場合には、矢印A方向の出口に近い第1のBGA部品201のように温度が下がる部品に優先して振動を与えることが望ましい。
この加振に際し、前記振動制御部301は、加振の開始、終了、断続等、加振時間を制御するとともに、必要に応じて前記超音波アレイ400の位相制御によって、加振の振幅、方向を制御する。また前記超音波アレイ支持部402の移動を制御して、超音波アレイ400の超音波US照射領域を搬送ベルト100の移動に合わせて移動させる。
図4は本発明の第4実施形態におけるリフロー装置の概略構成を示す図である。
符号403は微弱振動制御部で、周辺温度を測定する機能と、その情報により数Hz〜数10MHzの振動を発生する機能を持つ。この時、基板200から部品の脱落を防ぐために、発生させる振動方向はY方向またはX方向の水平方向のみとする。この第4実施形態では、前記基板200の重心と微弱振動制御部403を結んだ方向の振動を発生するよう制御する。
また、前記微弱振動制御部403は、基板200の半田が不活性蒸気の液化に伴う熱エネルギーによって融解された後に振動発生を開始する。理由は、他の実施形態と同様に、基板200から部品の脱落を防ぐためであるが、半田融解後の方が液体となった半田が振動を吸収して脱落しにくくなる現象を利用するためである。
振動は基板200全体の温度が半田融点以下になるまで継続する。この理由は、温度が下がるほど部品のたわみが少なくなり、半田ボールの形状が理想に近づくことで、より良い状況で半田が溶けているぎりぎりのタイミングまで振動を与えることで酸化膜を破る確率を高めるためである。
上記の振動の制御は、温度によらず、処理対象がVPS装置600に投入されてからの時間を計測して行っても良いし、時間の情報と観測した周辺温度情報とを統合して判断して制御しても良い。またはVPS装置制御部601と無線通信を行って正確な振動制御を行っても良い。
この第4実施形態は、微弱振動制御部403を半田付け対象に取り付けることができるため、既存のVPS装置自体に格別な改造を施すことなく実施することができるという利点がある。
2 はんだ付け対象
2a 基板
2b 電子部品(BGAパッケージ)
3 振動制御部
4 加振装置
5 支持装置
6 加熱装置
100 搬送ベルト
101 案内ローラ
102 基板支持具
200 基板
201 (第1の)BGA部品
202 (第2の)BGA部品
203 電子部品
300 振動制御部
301 (微弱)振動制御部
302 カメラ
400 微弱振動発生装置(超音波アレイ)
401 振動子
402 超音波アレイ支持部
403 微弱振動制御部
500 アームシステム
501 第1のアーム
502 第2のアーム
503 第3のアーム
503a 接触子
600 VPS装置
601 VPS装置制御部
602 熱媒体槽
603 熱媒体
604 ヒータ
Claims (10)
- 半田付け対象を含む電子部品を加熱する加熱装置と、
この加熱装置により加熱される電子部品の一部である前記半田付け対象を加振する加振装置と、
この加振装置の加振時間を制御する振動制御部と、
を有し、
前記振動制御部は、前記半田付け対象の周辺に配置された他の部品が前記加振による振動に共振することを防止するために、前記加振装置の加振時間を制御して前記半田付け対象を断続的に加振する半田付け装置。 - 前記加熱装置は、搬送装置により搬送される、複数の半田付け対象を含む電子部品を加熱し、
前記振動制御部は、前記搬送装置により搬送される前記複数の半田付け対象のうち、出口に近い側に配置された半田付け対象を他の半田付け対象に優先して振動を与える、
請求項1に記載の半田付け装置。 - 前記振動制御部は、前記加振装置を異なる加振周波数による時分割で加振するよう制御して前記半田が固化するまでの期間に前記半田付け対象を加振する請求項1または2のいずれか一項に記載の半田付け装置。
- 前記振動制御部は、前記加振装置による前記半田付け対象への加振位置を前記半田付け対象の位置に対応して制御する請求項1〜3のいずれか一項に記載の半田付け装置。
- 前記加振装置は、半田付け対象に接触して振動を伝達する接触子を有し、
前記振動制御部は、前記接触子の位置、姿勢の少なくともいずれかを制御することにより、前記加振装置による加振の位置を制御する請求項1〜4のいずれか一項に記載の半田付け装置。 - 前記振動制御部は、前記半田付け対象において最も超音波振幅が強め合うように、照射する超音波アレイの位相を制御する請求項1〜4のいずれか一項に記載の半田付け装置。
- 前記振動制御部は、前記加振装置の位置を制御することにより、前記半田付け対象に超音波が強く届くよう、前記加振装置の位置を制御する請求項1〜6のいずれか一項に記載の半田付け装置。
- 前記振動制御部は、前記加振装置が前記半田付け対象を加振する方向を制御する請求項1〜7のいずれか一項に記載の半田付け装置。
- 前記加振装置は、前記半田付け対象となる電子部品が搭載された基板に取り付けられて該基板へ振動を与える請求項1〜3のいずれか一項に記載の半田付け装置。
- 半田付け対象を含む電子部品を所定位置に支持する工程と
所定位置にある前記電子部品の一部である前記半田付け対象を加熱する加熱工程と、
この加熱工程により加熱される半田付け対象を加振する振動工程と、
前記加熱工程とともに、前記振動工程における加振時間を制御する振動制御工程と、
を有し、
前記振動制御工程は、
前記半田付け対象の周辺に配置された他の部品が前記加振による振動に共振することを防止するために、加振時間を制御して前記半田付け対象を断続的に加振する、
電子部品の製造方法。
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JP2017064861A JP6628320B2 (ja) | 2017-03-29 | 2017-03-29 | 半田付け装置および電子部品の製造方法 |
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WO2020054558A1 (ja) | 2018-09-12 | 2020-03-19 | 住友電工ハードメタル株式会社 | 切削工具 |
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