JP6627284B2 - Metal film with resin layer and mounting board - Google Patents

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Description

本発明は、樹脂層付き金属膜および実装基板に関するものである。   The present invention relates to a metal film with a resin layer and a mounting substrate.

電子部品等が実装される基板としては、回路形成用の金属膜と、絶縁性の樹脂材料で構成された樹脂層とを有する樹脂層付き金属膜が用いられている。   As a substrate on which electronic components and the like are mounted, a metal film with a resin layer having a metal film for forming a circuit and a resin layer made of an insulating resin material is used.

このような基板(樹脂層付き金属膜)としては、安価なリジッド基板が広く用いられている。   As such a substrate (metal film with a resin layer), an inexpensive rigid substrate is widely used.

しかしながら、モバイル機器の内部のような狭い空間に設置される基板や、発光面が曲面部を有するLED照明機器に用いられる基板、自動車のリアランプ用・デイライト用の基板等には、ある程度の屈曲性が求められ、リジッド基板を適用するのは困難である。   However, a certain amount of bending is required for a substrate installed in a narrow space such as the inside of a mobile device, a substrate used for an LED lighting device having a curved light-emitting surface, a substrate for a rear lamp / daylight of an automobile, and the like. Therefore, it is difficult to apply a rigid substrate.

このため、上記のような用途では、高価なフレキシブル基板が用いられていた(例えば、特許文献1参照)。   For this reason, expensive flexible substrates have been used for the above-mentioned applications (for example, see Patent Document 1).

フレキシブル基板は、一般に、300℃以上の耐熱性を有し、多数回の屈曲にも耐える耐久性を有する等、非常に高い性能を有するものである。   The flexible substrate generally has extremely high performance, such as heat resistance of 300 ° C. or higher and durability that can withstand many bendings.

しかしながら、上記のような用途では、このような過剰な性能は求められず、現状では、過剰性能のフレキシブル基板を用いており、費用対効果が著しく低いものであった。   However, for such applications, such excessive performance is not required. At present, a flexible substrate having excessive performance is used, and the cost-effectiveness is extremely low.

また、電子部品等を実装する際の作業性の観点から、基板には反りが生じていないことが求められる。   Further, from the viewpoint of workability when mounting electronic components and the like, it is required that the substrate does not warp.

特開2013−243028号公報JP 2013-243028 A

本発明の目的は、安価で十分な屈曲耐性、耐熱性を有し、不本意な反りの発生が防止された樹脂層付き金属膜を提供すること、また、安価で十分な屈曲耐性、耐熱性を有し、不本意な反りの発生が防止された実装基板を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a metal film with a resin layer which is inexpensive and has sufficient bending resistance and heat resistance and prevents the occurrence of unintended warpage, and is also inexpensive and has sufficient bending resistance and heat resistance. It is an object of the present invention to provide a mounting board which has an undesired warpage.

このような目的は、下記(1)〜(12)の本発明により達成される。
(1) 金属膜と、
エポキシ基を有する硬化性樹脂の硬化物を含む材料で構成された樹脂層とを備え、
ASTM−D−790に準じて測定される前記樹脂層についての曲げ弾性率が、10MPa以上であり、
ASTM−D−882に準じて測定される前記樹脂層について引張伸び(破断伸度)が3%以上であり、
JIS−C−6471記載の方法で測定される反り率が5%以下であり、
前記硬化性樹脂が硬化した硬化物は、エポキシ当量が5000以上のフェノキシ樹脂に、多官能エポキシ化合物が反応したものであることを特徴とする樹脂層付き金属膜。
Such an object is achieved by the present invention described in the following (1) to ( 12 ).
(1) a metal film;
A resin layer made of a material containing a cured product of a curable resin having an epoxy group,
The flexural modulus of the resin layer measured according to ASTM-D-790 is 10 MPa or more;
The resin layer has a tensile elongation (elongation at break) of 3% or more measured according to ASTM-D-882,
Bow is measured by JIS-C-6471, wherein the method is Ri der 5%,
The cured product curable resin is cured, the epoxy equivalent is 5,000 or more phenoxy resins, polyfunctional epoxy compound, characterized in der Rukoto that reacts with a resin layer metal film.

(2) 金属膜と、
エポキシ基を有する硬化性樹脂を含む材料で構成された樹脂層とを備え、
ASTM−D−790に準じて測定される前記樹脂層についての曲げ弾性率が、10MPa以上であり、
ASTM−D−882に準じて測定される前記樹脂層について引張伸び(破断伸度)が3%以上であり、
前記硬化性樹脂を硬化させた状態でのJIS−C−6471記載の方法で測定される反り率が5%以下であり、
前記硬化性樹脂が硬化した硬化物は、エポキシ当量が5000以上のフェノキシ樹脂に、多官能エポキシ化合物が反応したものであることを特徴とする樹脂層付き金属膜。
(2) a metal film;
With a resin layer made of a material containing a curable resin having an epoxy group,
The flexural modulus of the resin layer measured according to ASTM-D-790 is 10 MPa or more;
The resin layer has a tensile elongation (elongation at break) of 3% or more measured according to ASTM-D-882,
Wherein Ri der warp ratio is less than 5% as measured by JIS-C-6471 according to the method described in a state where the curable resin is cured,
The cured product curable resin is cured, the epoxy equivalent is 5,000 or more phenoxy resins, polyfunctional epoxy compound, characterized in der Rukoto that reacts with a resin layer metal film.

(3) 前記樹脂層は、柔軟成分を含むものである上記(1)または(2)に記載の樹脂層付き金属膜。   (3) The metal film with a resin layer according to the above (1) or (2), wherein the resin layer contains a flexible component.

(4) 前記柔軟成分は、前記硬化性樹脂と反応し得る官能基により、前記硬化性樹脂と反応し、前記樹脂層中において、硬化物の分子の一部を構成するものである上記(3)に記載の樹脂層付き金属膜。   (4) The flexible component reacts with the curable resin by a functional group capable of reacting with the curable resin, and constitutes a part of molecules of a cured product in the resin layer. A) a metal film with a resin layer described in

(5) 前記樹脂層中における前記柔軟成分の含有率は、20質量%以上60質量%以下である上記(3)または(4)に記載の樹脂層付き金属膜。   (5) The metal film with a resin layer according to (3) or (4), wherein the content of the flexible component in the resin layer is from 20% by mass to 60% by mass.

(6) 前記樹脂層は、無機フィラーを5質量部以上65質量部以下含むものである上記(1)ないし(5)のいずれかに記載の樹脂層付き金属膜。   (6) The resin-coated metal film according to any one of the above (1) to (5), wherein the resin layer contains 5 to 65 parts by mass of an inorganic filler.

(7) 前記硬化性樹脂が硬化した状態での前記樹脂層の100℃における引張貯蔵弾性率が1MPa以上である上記(1)ないし(6)のいずれかに記載の樹脂層付き金属膜。   (7) The metal film with a resin layer according to any one of (1) to (6), wherein the resin layer has a tensile storage modulus at 100 ° C. of 1 MPa or more in a state where the curable resin is cured.

(8) 前記硬化性樹脂のエポキシ当量が100以上である上記(1)ないし(7)のいずれかに記載の樹脂層付き金属膜。   (8) The metal film with a resin layer according to any one of (1) to (7), wherein the curable resin has an epoxy equivalent of 100 or more.

) 前記樹脂層の体積抵抗率が1×1013Ω・cm以上である上記(1)ないし()のいずれかに記載の樹脂層付き金属膜。 ( 9 ) The metal film with a resin layer according to any one of (1) to ( 8 ), wherein the resin layer has a volume resistivity of 1 × 10 13 Ω · cm or more.

10) 前記樹脂層の厚さが10μm以上1000μm以下である上記(1)ないし()のいずれかに記載の樹脂層付き金属膜。 ( 10 ) The metal film with a resin layer according to any one of (1) to ( 9 ), wherein the thickness of the resin layer is 10 μm or more and 1000 μm or less.

11) 前記金属膜の厚さが5μm以上1000μm以下である上記(1)ないし(10)のいずれかに記載の樹脂層付き金属膜。 ( 11 ) The metal film with a resin layer according to any one of (1) to ( 10 ), wherein the thickness of the metal film is 5 μm or more and 1000 μm or less.

12) 上記(1)ないし(11)のいずれかに記載の樹脂層付き金属膜を用いて、電子部品を実装して得られたことを特徴とする実装基板。
( 12 ) A mounting board obtained by mounting an electronic component using the metal film with a resin layer according to any one of (1) to ( 11 ).

本発明によれば、安価で十分な屈曲耐性、耐熱性を有し、不本意な反りの発生が防止された樹脂層付き金属膜を提供すること、また、安価で十分な屈曲耐性、耐熱性を有し、不本意な反りの発生が防止された実装基板を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a metal film with a resin layer which is inexpensive and has sufficient bending resistance and heat resistance and prevents occurrence of unintended warpage, and is inexpensive and has sufficient bending resistance and heat resistance And a mounting board in which undesired warpage is prevented.

本発明の樹脂層付き金属膜の好適な実施形態を模式的に示す断面図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing which shows the suitable embodiment of the metal film with a resin layer of this invention typically. 本発明の実装基板の好適な実施形態を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows the suitable embodiment of the mounting board of this invention typically.

以下、本発明を添付図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。
≪樹脂層付き金属膜≫
まず、本発明の樹脂層付き金属膜について説明する。
Hereinafter, the present invention will be described in detail based on preferred embodiments shown in the accompanying drawings.
金属 Metal film with resin layer≫
First, the metal film with a resin layer of the present invention will be described.

図1は、本発明の樹脂層付き金属膜の好適な実施形態を模式的に示す断面図である。
なお、本明細書で参照する図面は、構成の一部を誇張して示したものであり、実際の寸法比率等を正確に反映したものではない。
FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a preferred embodiment of the metal film with a resin layer of the present invention.
In addition, the drawings referred to in this specification show a part of the configuration in an exaggerated manner, and do not accurately reflect an actual dimensional ratio or the like.

樹脂層付き金属膜10は、金属膜1と、絶縁性を有する樹脂層2とを備えている。
樹脂層付き金属膜10は、回路基板、実装基板の製造に用いられるものである。
The metal film with a resin layer 10 includes a metal film 1 and a resin layer 2 having an insulating property.
The metal film with a resin layer 10 is used for manufacturing a circuit board and a mounting board.

<金属膜>
金属膜1は、樹脂層付き金属膜10を用いて製造される回路基板において、回路層となるものである。
<Metal film>
The metal film 1 is to be a circuit layer in a circuit board manufactured using the metal film with a resin layer 10.

金属膜1は、金属材料で構成されたものであればよく、例えば、銅、アルミニウム、ニッケル、鉄、錫等から構成され、2種以上含んでいてもよいが、好ましくは、CuまたはCu合金で構成されたものである。   The metal film 1 may be formed of a metal material, for example, copper, aluminum, nickel, iron, tin, etc., and may include two or more kinds, but preferably, Cu or a Cu alloy. It is composed of

これにより、回路層の形成を容易に行うことができるとともに、回路層の導電性を特に優れたものとすることができる。また、樹脂層付き金属膜10の創造コストを抑制する観点からも好ましい。   Thereby, the circuit layer can be easily formed, and the conductivity of the circuit layer can be made particularly excellent. It is also preferable from the viewpoint of suppressing the creation cost of the metal film 10 with a resin layer.

金属膜1の厚さは、特に限定されないが、5μm以上1000μm以下であるのが好ましい。   The thickness of the metal film 1 is not particularly limited, but is preferably 5 μm or more and 1000 μm or less.

金属膜1の厚さが前記範囲内の値であると、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の耐久性等を特に優れたものとしつつ、柔軟性・屈曲性を特に優れたものとすることができる。また、金属膜1の厚さが前記範囲内の値であると、金属膜1を回路に加工する際の加工性を優れたものとしつつ、形成される回路を高電流用途にも好適に適用することができる。   When the thickness of the metal film 1 is within the above range, the flexibility and the durability of the metal film with a resin layer 10 and the circuit board and the mounting board manufactured using the same are made particularly excellent. Flexibility can be made particularly excellent. Further, when the thickness of the metal film 1 is within the above range, the workability when processing the metal film 1 into a circuit is excellent, and the circuit to be formed is suitably applied to high current applications. can do.

金属膜1は、各部位で均一な組成を有するものであってもよいし、組成の異なる部位を有するものであってもよい。例えば、金属膜1は、組成の異なる複数の層を有する積層体であってもよいし、組成が厚さ方向に傾斜的に変化する傾斜材料で構成されたものであってもよい。   The metal film 1 may have a uniform composition at each part or may have parts having different compositions. For example, the metal film 1 may be a laminate having a plurality of layers having different compositions, or may be formed of a gradient material whose composition changes in a gradient direction in the thickness direction.

<樹脂層>
樹脂層2は、回路基板、実装基板において、絶縁層として機能するものである。
<Resin layer>
The resin layer 2 functions as an insulating layer in a circuit board and a mounting board.

樹脂層2は、エポキシ基を有する硬化性樹脂(Bステージの樹脂材料)、エポキシ基を有する硬化性樹脂の硬化物(Cステージの樹脂材料)のうち少なくとも一方を含む材料で構成されたものである。   The resin layer 2 is made of a material containing at least one of a curable resin having an epoxy group (B-stage resin material) and a cured product of a curable resin having an epoxy group (C-stage resin material). is there.

樹脂層2が、エポキシ基を有する硬化性樹脂(Bステージの樹脂材料)を含むものである場合、電子部品が実装された実装基板の使用時においては、硬化反応により、前記硬化性樹脂(Bステージの樹脂材料)は硬化した状態(Cステージ)となっている。   When the resin layer 2 contains a curable resin having an epoxy group (B-stage resin material), when the mounting board on which the electronic components are mounted is used, the curable resin (B-stage resin) is cured by a curing reaction. The resin material) is in a cured state (C stage).

エポキシ基を有する硬化性樹脂は、一般に、フレキシブル基板に用いられているポリイミド等に比べて安価であり、樹脂層付き金属膜のコストを低減させるうえで有利である。   A curable resin having an epoxy group is generally less expensive than polyimide or the like used for a flexible substrate, and is advantageous in reducing the cost of a metal film with a resin layer.

また、エポキシ基を有する硬化性樹脂の硬化物(Cステージの樹脂材料)は、一般に、十分な絶縁性、耐熱性を有しており、特殊な用途(例えば、250℃以上の環境温度で用いられるもの、数十万回の屈曲耐性が求められるもの等)でない限り、回路基板の絶縁層に求められる特性を十分に満足するものである。
そして、樹脂層2は、以下の条件を満足するものである。
A cured product of a curable resin having an epoxy group (C-stage resin material) generally has sufficient insulating properties and heat resistance, and is used for special purposes (for example, when used at an environmental temperature of 250 ° C. or more). , The characteristics required for the insulating layer of the circuit board are sufficiently satisfied.
The resin layer 2 satisfies the following conditions.

すなわち、ASTM−D−790に準じて測定される樹脂層2についての曲げ弾性率が、10MPa以上であり、かつ、ASTM−D−882に準じて測定される樹脂層2について引張伸び(破断伸度)が3%以上である。   That is, the flexural modulus of the resin layer 2 measured according to ASTM-D-790 is 10 MPa or more, and the resin layer 2 measured according to ASTM-D-882 has a tensile elongation (elongation at break). Degree) is 3% or more.

このような条件を満足することにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板は、十分な柔軟性・屈曲耐性を有するものとなり、例えば、モバイル機器の内部のような狭い空間に設置される基板や、発光面が曲面部を有するLED照明機器に用いられる基板、自動車のリアランプ用・デイライト用の基板等のように、ある程度の屈曲性が求められる基板に好適に適用することができる。   By satisfying such conditions, the metal film 10 with the resin layer, the circuit board manufactured using the same, and the mounting board have sufficient flexibility and bending resistance. Substrates that require a certain degree of flexibility, such as substrates that are installed in such narrow spaces, substrates that are used for LED lighting equipment that has curved light-emitting surfaces, and substrates for rear lamps and daylights in automobiles. It can be suitably applied.

これに対し、これらの条件を満足しない場合には、前述したような優れた効果が得られない。   On the other hand, if these conditions are not satisfied, the above-described excellent effects cannot be obtained.

すなわち、樹脂層2についての曲げ弾性率が小さすぎると、十分なコシ(張り)が得られず、部品実装やハンドリングが困難となる。   That is, if the flexural modulus of the resin layer 2 is too small, sufficient stiffness (tension) cannot be obtained, and component mounting and handling become difficult.

また、樹脂層2について引張伸び(破断伸度)が小さすぎると、十分な屈曲性が得られず、前述したような用途に適用することが困難となる。   On the other hand, when the tensile elongation (elongation at break) of the resin layer 2 is too small, sufficient flexibility cannot be obtained, and it is difficult to apply the resin layer 2 to the above-mentioned applications.

上記のように、ASTM−D−790に準じて測定される樹脂層2についての曲げ弾性率は、10MPa以上であればよいが、10MPa以上10GPa以下であるのが好ましい。   As described above, the flexural modulus of the resin layer 2 measured according to ASTM-D-790 may be 10 MPa or more, but is preferably 10 MPa or more and 10 GPa or less.

これにより、前述したような効果がより顕著に発揮されるとともに、樹脂層付き金属膜10を用いて製造される回路基板に電子部品を実装する際の作業性を特に優れたものとすることができる。   As a result, the above-described effects are more remarkably exhibited, and workability when mounting electronic components on a circuit board manufactured using the metal film with a resin layer 10 is particularly improved. it can.

また、ASTM−D−882に準じて測定される樹脂層2について引張伸び(破断伸度)は、3%以上であればよいが、5%以上であるのが好ましく、30%以上300%以下であるのがより好ましい。   The tensile elongation (elongation at break) of the resin layer 2 measured according to ASTM-D-882 may be 3% or more, but is preferably 5% or more, and is 30% or more and 300% or less. Is more preferable.

これにより、前述したような効果がより顕著に発揮されるとともに、樹脂層付き金属膜10を用いて製造される回路基板に電子部品を実装する際の作業性を特に優れたものとすることができる。   As a result, the above-described effects are more remarkably exhibited, and workability when mounting electronic components on a circuit board manufactured using the metal film with a resin layer 10 is particularly improved. it can.

なお、曲げ弾性率は、例えば、テンシロンによる三点曲げ試験等を用いた測定により求めることができる。   The flexural modulus can be determined, for example, by measurement using a three-point bending test with Tensilon.

また、引張伸び(破断伸度)は、例えば、テンシロンによる引張り試験等を用いた測定により求めることができる。   The tensile elongation (elongation at break) can be determined, for example, by measurement using a tensile test with Tensilon or the like.

前述したように、樹脂層2は、エポキシ基を有する硬化性樹脂(Bステージの樹脂材料)、エポキシ基を有する硬化性樹脂の硬化物(Cステージの樹脂材料)のうち少なくとも一方を含む材料で構成されたものであればよいが、樹脂層2がエポキシ基を有する硬化性樹脂(Bステージの樹脂材料)を含む材料で構成されたものである場合、Bステージの樹脂材料は優れた接合性(接着性)を発揮することができるため、樹脂層2側に部材を好適に接合(接着)することができる。より具体的には、例えば、樹脂層付き金属膜10を用いて製造される実装基板を、樹脂層2側に放熱部材(例えば、Al等の熱伝導率を有する材料で構成された放熱部材)が接合されたものとして好適に得ることができる。   As described above, the resin layer 2 is made of a material containing at least one of a curable resin having an epoxy group (B-stage resin material) and a cured product of a curable resin having an epoxy group (C-stage resin material). Any resin may be used. If the resin layer 2 is made of a material containing a curable resin having an epoxy group (B-stage resin material), the B-stage resin material has excellent bonding properties. (Adhesion) can be exhibited, so that the member can be suitably joined (adhered) to the resin layer 2 side. More specifically, for example, a mounting substrate manufactured using the metal film with a resin layer 10 is provided on the resin layer 2 side with a heat radiating member (for example, a heat radiating member made of a material having a thermal conductivity such as Al). Can be suitably obtained as a bonded product.

また、樹脂層2がエポキシ基を有する硬化性樹脂の硬化物(Cステージの樹脂材料)を含む材料で構成されたものである場合、樹脂層付き金属膜、樹脂層付き金属膜を用いて製造される回路基板の寸法精度をより優れたものとすることができ、実装基板の製造時における電子部品の実装をより好適に行うことができる。また、リフロー耐熱性をより優れたものとすることができる。   When the resin layer 2 is made of a material containing a cured product of a curable resin having an epoxy group (C-stage resin material), it is manufactured using a metal film with a resin layer and a metal film with a resin layer. Thus, the dimensional accuracy of the circuit board to be manufactured can be made more excellent, and the electronic components can be more suitably mounted at the time of manufacturing the mounting board. Further, the reflow heat resistance can be further improved.

前述したエポキシ基を有する硬化性樹脂の硬化物(Cステージの樹脂材料)のガラス転移温度(Tg)は、50℃以上であるのが好ましく、70℃以上250℃以下であるのがより好ましい。   The glass transition temperature (Tg) of the above-mentioned cured product of the curable resin having an epoxy group (C-stage resin material) is preferably 50 ° C. or higher, more preferably 70 ° C. or higher and 250 ° C. or lower.

これにより、前述したような幅広い用途において、十分な耐熱性、耐久性を十分に発揮することができるとともに、樹脂層付き金属膜10の生産コストを抑制することができる。また、Cステージの樹脂材料を含む樹脂層付き金属膜10等(回路基板、実装基板を含む)、Bステージの樹脂材料がCステージとなった状態の樹脂層付き金属膜10等(回路基板、実装基板を含む)の柔軟性・屈曲耐性を特に優れたものとすることができる。   Accordingly, in a wide range of applications as described above, sufficient heat resistance and durability can be sufficiently exhibited, and the production cost of the metal film 10 with a resin layer can be suppressed. In addition, a metal film 10 with a resin layer including a resin material of the C stage (including a circuit board and a mounting board), a metal film 10 with a resin layer in a state where the resin material of the B stage is in the C stage (a circuit board, (Including the mounting board) can be made particularly excellent in flexibility and bending resistance.

なお、ガラス転移温度は、例えば、JIS C 6481に基づいて、以下のようにして計測することができる。   The glass transition temperature can be measured as follows based on, for example, JIS C6481.

すなわち、動的粘弾性測定装置(例えば、ティー・エイ・インスツルメント社製DMA/983等)を用いて窒素雰囲気(200ml/分)のもと引張荷重をかけて、周波数1Hz、−50℃から300℃の温度範囲を昇温速度5℃/分の条件で測定し、tanδのピーク位置よりガラス転移温度Tgを求めることができる。   That is, a tensile load is applied under a nitrogen atmosphere (200 ml / min) using a dynamic viscoelasticity measuring device (for example, DMA / 983 manufactured by TA Instruments Co., Ltd.) at a frequency of 1 Hz and -50 ° C. From 300 ° C. to a temperature of 5 ° C./min, and the glass transition temperature Tg can be determined from the peak position of tan δ.

また、樹脂層2の絶縁破壊電圧は、30kV/mm以上であるのが好ましく、50kV/mm以上であるのがより好ましい。   The dielectric breakdown voltage of the resin layer 2 is preferably 30 kV / mm or more, and more preferably 50 kV / mm or more.

エポキシ基を有する硬化性樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールM型エポキシ樹脂、ビスフェノールP型エポキシ樹脂、ビスフェノールZ型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル型エポキシ樹脂等のアリールアルキレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、フェノキシ型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ノルボルネン型エポキシ樹脂、アダマンタン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂等が挙げられる。   Examples of the curable resin having an epoxy group include bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, bisphenol S epoxy resin, bisphenol E epoxy resin, bisphenol M epoxy resin, bisphenol P epoxy resin, and bisphenol Z. Bisphenol epoxy resins such as epoxy resins, phenol novolak epoxy resins, novolak epoxy resins such as cresol novolak epoxy resins, biphenyl epoxy resins, arylalkylene epoxy resins such as phenol aralkyl epoxy resins having a biphenylene skeleton, Naphthalene epoxy resin, anthracene epoxy resin, phenoxy epoxy resin, dicyclopentadiene epoxy resin, norbornene epoxy resin Adamantane type epoxy resin, epoxy resins such as a fluorene epoxy resin.

エポキシ基を有する硬化性樹脂のエポキシ当量は、100以上であるのが好ましく、150以上5000以下であるのがより好ましい。   The epoxy equivalent of the curable resin having an epoxy group is preferably 100 or more, more preferably 150 or more and 5000 or less.

これにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性、屈曲耐性、耐熱性を特に優れたものとすることができる。   Thereby, the flexibility, bending resistance, and heat resistance of the metal film with a resin layer 10 and the circuit board and the mounting board manufactured using the same can be particularly excellent.

エポキシ基を有する硬化性樹脂としては、芳香環構造および脂環構造(脂環式の炭素環構造)の少なくともいずれか一方を有するエポキシ樹脂を含むことが好ましい。   The curable resin having an epoxy group preferably contains an epoxy resin having at least one of an aromatic ring structure and an alicyclic structure (alicyclic carbon ring structure).

このようなエポキシ樹脂を使用することで、ガラス転移温度を高くするとともに、樹脂層2の強度、熱伝導性を特に優れたものとすることができる。   By using such an epoxy resin, the glass transition temperature can be increased, and the strength and thermal conductivity of the resin layer 2 can be particularly excellent.

芳香環あるいは脂肪環構造を有するエポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールM型エポキシ樹脂、ビスフェノールP型エポキシ樹脂、ビスフェノールZ型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、テトラフェノール基エタン型ノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル型エポキシ樹脂等のアリールアルキレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂等が挙げられる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、2種類以上を併用したりすることもできる。   Examples of the epoxy resin having an aromatic ring or alicyclic structure include bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, bisphenol S epoxy resin, bisphenol E epoxy resin, bisphenol M epoxy resin, and bisphenol P epoxy resin. Having a bisphenol-type epoxy resin such as a bisphenol Z-type epoxy resin, a phenol novolak-type epoxy resin, a cresol novolak-type epoxy resin, a novolak-type epoxy resin such as a tetraphenol-based ethane-type novolak-type epoxy resin, a biphenyl-type epoxy resin, and a biphenylene skeleton. Examples include an arylalkylene type epoxy resin such as a phenol aralkyl type epoxy resin and an epoxy resin such as a naphthalene type epoxy resin. One of these can be used alone, or two or more can be used in combination.

また、ガラス転移温度をより一層高くでき、樹脂層2のボイドの発生を抑制し、樹脂層2の強度、熱伝導性をさらに優れたものとすることができ、かつ絶縁破壊電圧を向上できる観点から、エポキシ樹脂としては、ナフタレン型エポキシ樹脂が特に好ましい。ここで、ナフタレン型エポキシ樹脂とは、ナフタレン環骨格を有し、かつ、グリシジル基(エポキシ基)を2つ以上有するものをいう。   In addition, the glass transition temperature can be further increased, the generation of voids in the resin layer 2 can be suppressed, the strength and thermal conductivity of the resin layer 2 can be further improved, and the dielectric breakdown voltage can be improved. Therefore, as the epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin is particularly preferable. Here, the naphthalene type epoxy resin refers to a resin having a naphthalene ring skeleton and having two or more glycidyl groups (epoxy groups).

前記硬化性樹脂を構成する全エポキシ樹脂:100質量部に対するナフタレン型エポキシ樹脂の含有量は、好ましくは20質量部以上80質量部以下であり、より好ましくは40質量部以上60質量部以下である。これにより、前述したような効果がより顕著に発揮される。   The total amount of the epoxy resin constituting the curable resin: the content of the naphthalene type epoxy resin to 100 parts by mass is preferably from 20 parts by mass to 80 parts by mass, and more preferably from 40 parts by mass to 60 parts by mass. . Thereby, the above-described effects are more remarkably exhibited.

ナフタレン型エポキシ樹脂としては、例えば、以下の下記式(5)で表されるもの、下記式(6)で表されるもの、下記式(7)で表されるもの等を用いることができる。なお、下記式(6)において、m、nはナフタレン環上の置換基の個数を示し、それぞれ独立して1以上7以下の整数を示している。また、下記式(7)においては、Meはメチル基を示し、l、m、nは1以上の整数である。ただし、l、m、nは10以下であることが好ましい。   As the naphthalene type epoxy resin, for example, a resin represented by the following formula (5), a resin represented by the following formula (6), a resin represented by the following formula (7), or the like can be used. In the following formula (6), m and n each represent the number of substituents on the naphthalene ring, and each independently represents an integer of 1 or more and 7 or less. In the following formula (7), Me represents a methyl group, and l, m, and n are integers of 1 or more. However, it is preferable that l, m, and n are 10 or less.

Figure 0006627284
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なお、上記式(6)の化合物の中でも、特に、下記式(6−1)、下記式(6−2)、下記式(6−3)で表されるものが好ましい。   Among the compounds of the above formula (6), those represented by the following formulas (6-1), (6-2) and (6-3) are particularly preferable.

Figure 0006627284
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また、ナフタレン型エポキシ樹脂としては、以下の下記式(8)で表されるナフチレンエーテル型エポキシ樹脂も使用できる。   Further, as the naphthalene type epoxy resin, a naphthylene ether type epoxy resin represented by the following formula (8) can also be used.

Figure 0006627284
(上記式(8)において、nは1以上20以下の整数であり、lは1以上2以下の整数であり、Rはそれぞれ独立に水素原子、ベンジル基、アルキル基または下記式(9)で表される構造であり、Rはそれぞれ独立に水素原子またはメチル基である。)
Figure 0006627284
(In the above formula (8), n is an integer of 1 or more and 20 or less, 1 is an integer of 1 or more and 2 or less, and R 1 is each independently a hydrogen atom, a benzyl group, an alkyl group, or a compound of the following formula (9) Wherein R 2 is independently a hydrogen atom or a methyl group.)

Figure 0006627284
(上記式(9)において、Arはそれぞれ独立にフェニレン基またはナフチレン基であり、Rはそれぞれ独立に水素原子またはメチル基であり、mは1または2の整数である。)
Figure 0006627284
(In the above formula (9), Ar is each independently a phenylene group or a naphthylene group, R 2 is each independently a hydrogen atom or a methyl group, and m is an integer of 1 or 2.)

上記式(8)で表されるナフチレンエーテル型エポキシ樹脂の中でも特に好ましいものとしては、例えば、下記式(10)で表されるものが挙げられる。   Among the naphthylene ether type epoxy resins represented by the above formula (8), particularly preferred are, for example, those represented by the following formula (10).

Figure 0006627284
(上記式(10)において、nは1以上20以下の整数であり、好ましくは1以上10以下の整数であり、より好ましくは1以上3以下の整数である。Rはそれぞれ独立に水素原子または下記式(11)で表される構造であり、好ましくは水素原子である。)
Figure 0006627284
(In the above formula (10), n is an integer of 1 or more and 20 or less, preferably an integer of 1 or more and 10 or less, more preferably an integer of 1 or more and 3 or less. R is each independently a hydrogen atom or (The structure is represented by the following formula (11), and is preferably a hydrogen atom.)

Figure 0006627284
(上記式(11)において、mは1または2の整数である。)
Figure 0006627284
(In the above formula (11), m is an integer of 1 or 2.)

上記式(10)で表されるナフチレンエーテル型エポキシ樹脂の中でも特に好ましいものとしては、例えば、下記式(12)、下記式(13)、下記式(14)、下記式(15)、下記式(16)で表されるものが挙げられる。   Particularly preferred among the naphthylene ether type epoxy resins represented by the above formula (10) are, for example, the following formulas (12), (13), (14), (15), One represented by the formula (16) is given.

Figure 0006627284
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また、エポキシ樹脂としては、前述したようなエポキシ樹脂よりも柔軟性の高いエポキシ樹脂(柔軟成分としてのエポキシ樹脂)を用いることができる。例えば、芳香環構造および脂環構造(脂環式の炭素環構造)を有しない脂肪族エポキシ樹脂、ポリジエン骨格を有するエポキシ樹脂、炭素数が4以上のn−アルキレン基を有するエポキシ樹脂等を用いることができる。   Further, as the epoxy resin, an epoxy resin having higher flexibility than the above-described epoxy resin (an epoxy resin as a flexible component) can be used. For example, an aliphatic epoxy resin having no aromatic ring structure and no alicyclic structure (alicyclic carbon ring structure), an epoxy resin having a polydiene skeleton, an epoxy resin having an n-alkylene group having 4 or more carbon atoms, or the like is used. be able to.

これにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の絶縁性、耐久性等を十分に優れたものとしつつ、柔軟性・屈曲耐性を特に優れたものとすることができる。   As a result, the flexibility and bending resistance of the metal film with a resin layer 10 and the circuit board and the mounting board manufactured using the same, which are sufficiently excellent in insulation and durability, are particularly improved. be able to.

特に、ポリジエン系骨格を有するエポキシ樹脂を用いることにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性、金属膜1と樹脂層2との密着性を特に優れたものとすることができる。   In particular, by using an epoxy resin having a polydiene skeleton, the flexibility and bending resistance of the metal film 10 with a resin layer, a circuit board and a mounting board manufactured using the same, and the adhesion between the metal film 1 and the resin layer 2 Properties can be made particularly excellent.

また、炭素数が4以上のn−アルキレン基を有するエポキシ樹脂を用いることにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性、金属膜1と樹脂層2との密着性を特に優れたものとすることができる。   In addition, by using an epoxy resin having an n-alkylene group having 4 or more carbon atoms, the metal film 10 with a resin layer, the circuit board manufactured using the same, the flexibility and bending resistance of the mounting board, and the metal film 1 The adhesion between the resin layer 2 and the resin layer 2 can be made particularly excellent.

ポリジエン系骨格を有するエポキシ樹脂としては、例えば、下記式(18)、下記式(26)で表されるものが挙げられる。   Examples of the epoxy resin having a polydiene skeleton include those represented by the following formulas (18) and (26).

Figure 0006627284
(式(18)において、l、m、n、p、q、rは、それぞれ独立に0以上の整数、ただし、l、m、nがすべて0の場合を除く。また、p、q、rがすべて0の場合も除く。)
Figure 0006627284
(In the formula (18), l, m, n, p, q, and r are each independently an integer of 0 or more, provided that l, m, and n are all 0. Also, p, q, and r Also excludes all 0.)

Figure 0006627284
(式(26)において、l、m、nは、それぞれ独立に0以上の整数、ただし、l、m、nがすべて0の場合を除く。)
Figure 0006627284
(In the formula (26), l, m, and n are each independently an integer of 0 or more, except that all of l, m, and n are 0.)

このようなエポキシ樹脂を含むことにより、前述したような効果がより顕著に発揮される。   By including such an epoxy resin, the above-described effects are more remarkably exhibited.

式(18)において、l、m、n、p、q、rは、それぞれ独立に0以上の整数であればよいが、lは1以上5以下の整数であるのが好ましく、mは5以上20以下の整数であるのが好ましく、nは0以上8以下の整数であるのが好ましく、pは0以上8以下の整数であるのが好ましく、qは3以上12以下の整数であるのが好ましく、rは0以上4以下の整数であるのが好ましい。   In the formula (18), l, m, n, p, q, and r may be each independently an integer of 0 or more, but l is preferably an integer of 1 or more and 5 or less, and m is 5 or more. It is preferably an integer of 20 or less, n is preferably an integer of 0 or more and 8 or less, p is preferably an integer of 0 or more and 8 or less, and q is an integer of 3 or more and 12 or less. Preferably, r is an integer of 0 or more and 4 or less.

また、式(26)において、l、m、nは、それぞれ独立に0以上の整数であればよいが、lは1以上12以下の整数であるのが好ましく、mは8以上30以下の整数であるのが好ましく、nは0以上10以下の整数であるのが好ましい。   In the formula (26), l, m, and n may be each independently an integer of 0 or more, but l is preferably an integer of 1 or more and 12 or less, and m is an integer of 8 or more and 30 or less. And n is preferably an integer of 0 or more and 10 or less.

炭素数が4以上のn−アルキレン基を有するエポキシ樹脂としては、例えば、下記式(19)、下記式(20)で表されるものが挙げられる。   Examples of the epoxy resin having an n-alkylene group having 4 or more carbon atoms include those represented by the following formulas (19) and (20).

Figure 0006627284
Figure 0006627284

Figure 0006627284
Figure 0006627284

このようなエポキシ樹脂を含むことにより、前述したような効果がより顕著に発揮される。   By including such an epoxy resin, the above-described effects are more remarkably exhibited.

また、芳香環構造および脂環構造(脂環式の炭素環構造)の少なくともいずれか一方を有するエポキシ樹脂と、上述したような柔軟性の高いエポキシ樹脂とを併用することにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性を特に優れたものとしつつ、耐熱性等も特に優れたものとすることができる。   Further, by using an epoxy resin having at least one of an aromatic ring structure and an alicyclic structure (alicyclic carbon ring structure) in combination with an epoxy resin having high flexibility as described above, a metal with a resin layer can be obtained. The flexibility and bending resistance of the film 10 and the circuit board and the mounting board manufactured using the film 10 can be particularly excellent, and the heat resistance and the like can be particularly excellent.

芳香環構造および脂環構造(脂環式の炭素環構造)の少なくともいずれか一方を有するエポキシ樹脂と、上述したような柔軟性の高いエポキシ樹脂(柔軟性エポキシ樹脂)とを併用する場合、樹脂層2を構成する硬化性樹脂が硬化した状態(Cステージの状態)における硬化物中に含まれる芳香環構造および脂環構造(脂環式の炭素環構造)の少なくともいずれか一方を有するエポキシ樹脂の含有率をXc[質量%]、樹脂層2を構成する硬化性樹脂が硬化した状態(Cステージの状態)における硬化物中に含まれる上述したような柔軟性の高いエポキシ樹脂(柔軟性エポキシ樹脂)の含有率をXf[質量%]としたとき、0.1≦Xc/Xf≦0.8の関係を満足するのが好ましく、0.3≦Xc/Xf≦0.7の関係を満足するのがより好ましい。
これにより、前述したような効果がより顕著に発揮される。
When an epoxy resin having at least one of an aromatic ring structure and an alicyclic structure (alicyclic carbon ring structure) and an epoxy resin having high flexibility (flexible epoxy resin) as described above are used in combination, Epoxy resin having at least one of an aromatic ring structure and an alicyclic structure (alicyclic carbon ring structure) contained in a cured product in a cured state (C-stage state) of the curable resin constituting layer 2 Is Xc [mass%], and the above-described highly flexible epoxy resin (flexible epoxy) contained in the cured product in a state where the curable resin constituting the resin layer 2 is cured (C-stage state) When the content of the (resin) is Xf [mass%], it is preferable that the relationship of 0.1 ≦ Xc / Xf ≦ 0.8 is satisfied, and the relationship of 0.3 ≦ Xc / Xf ≦ 0.7 is satisfied. More to do Masui.
Thereby, the above-described effects are more remarkably exhibited.

エポキシ基を有する硬化性樹脂としては、フェノキシ樹脂を用いてもよい。
これにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性を特に優れたものとすることができる。
As the curable resin having an epoxy group, a phenoxy resin may be used.
Thereby, the flexibility and the bending resistance of the metal film 10 with the resin layer, the circuit board and the mounting board manufactured using the same can be made particularly excellent.

フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノール骨格を有するフェノキシ樹脂、ナフタレン骨格を有するフェノキシ樹脂、アントラセン骨格を有するフェノキシ樹脂、ビフェニル骨格を有するフェノキシ樹脂、イミド骨格を有するフェノキシ樹脂等が挙げられる。また、これらの骨格を複数種有した構造のフェノキシ樹脂を用いることもできる。   Examples of the phenoxy resin include a phenoxy resin having a bisphenol skeleton, a phenoxy resin having a naphthalene skeleton, a phenoxy resin having an anthracene skeleton, a phenoxy resin having a biphenyl skeleton, and a phenoxy resin having an imide skeleton. Further, a phenoxy resin having a structure having a plurality of these skeletons can also be used.

これらの中でも、ビスフェノールA型、ビスフェノールF型のフェノキシ樹脂、イミド骨格を有するフェノキシ樹脂、ビスフェノールアセトフェノン骨格を有するフェノキシ樹脂を用いるのが好ましい。また、上記のうち複数の骨格を有するフェノキシ樹脂を用いてもよい。   Among these, it is preferable to use a phenoxy resin of bisphenol A type or bisphenol F type, a phenoxy resin having an imide skeleton, or a phenoxy resin having a bisphenol acetophenone skeleton. Further, a phenoxy resin having a plurality of skeletons may be used.

フェノキシ樹脂の重量平均分子量は、特に限定されないが、5.0×10以上8.0×10以下が好ましい。 The weight average molecular weight of the phenoxy resin is not particularly limited, but is preferably from 5.0 × 10 3 to 8.0 × 10 4 .

なお、本明細書において、重量平均分子量とは、特に断りのない限り、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で測定したポリスチレン換算の値である。   In addition, in this specification, the weight average molecular weight is a value in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC) unless otherwise specified.

また、前述したようなエポキシ樹脂とフェノキシ樹脂とを併用してもよい。
これにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性を特に優れたものとしつつ、耐熱性等も特に優れたものとすることができる。
Further, an epoxy resin and a phenoxy resin as described above may be used in combination.
Thereby, the flexibility and bending resistance of the metal film with resin layer 10 and the circuit board and the mounting board manufactured using the same can be particularly excellent, and the heat resistance and the like can be particularly excellent.

特に、前記硬化性樹脂が硬化した硬化物は、エポキシ当量が5000以上のフェノキシ樹脂に、多官能エポキシ化合物を反応させて得られたものであるのが好ましい。   In particular, the cured product obtained by curing the curable resin is preferably obtained by reacting a phenoxy resin having an epoxy equivalent of 5,000 or more with a polyfunctional epoxy compound.

これにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性を特に優れたものとしつつ、耐熱性等も特に優れたものとすることができる。   Thereby, the flexibility and bending resistance of the metal film with resin layer 10 and the circuit board and the mounting board manufactured using the same can be particularly excellent, and the heat resistance and the like can be particularly excellent.

前述したようなエポキシ樹脂と、フェノキシ樹脂とを併用する場合、前記硬化性樹脂が硬化した硬化物中に含まれる前記エポキシ樹脂の含有率をXe[質量%]、前記硬化性樹脂が硬化した硬化物中に含まれる前記フェノキシ樹脂の含有率をXp[質量%]としたとき、0.4≦Xe/Xp≦2.8の関係を満足するのが好ましく、0.5≦Xe/Xp≦2.5の関係を満足するのがより好ましい。   When the epoxy resin and the phenoxy resin as described above are used in combination, the content of the epoxy resin contained in the cured product of the curable resin is set to Xe [% by mass], and the curing of the curable resin is performed. When the content of the phenoxy resin contained in the product is defined as Xp [mass%], it is preferable to satisfy the relationship of 0.4 ≦ Xe / Xp ≦ 2.8, and 0.5 ≦ Xe / Xp ≦ 2. .5 is more preferably satisfied.

これにより、前述したようなエポキシ樹脂とフェノキシ樹脂とを併用することによる効果がより顕著に発揮される。   Thereby, the effect of using the epoxy resin and the phenoxy resin together as described above is more remarkably exhibited.

また、前記硬化性樹脂が硬化した硬化物は、その一部に、前述したようなエポキシ基を有する硬化性樹脂以外の成分を含むものであってもよい。   In addition, the cured product obtained by curing the curable resin may partially include a component other than the curable resin having an epoxy group as described above.

例えば、前記硬化性樹脂が硬化した硬化物は、その分子内に、エポキシ基を有する硬化性樹脂と反応し得る官能基を有し、当該官能基により硬化性樹脂と反応した柔軟成分(樹脂層2を柔軟にさせる機能を有する成分)を含むものであってもよい。   For example, a cured product obtained by curing the curable resin has a functional group capable of reacting with a curable resin having an epoxy group in a molecule thereof, and a flexible component (resin layer) reacted with the curable resin by the functional group. (A component having a function of making 2 flexible).

これにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性を特に優れたものとしつつ、耐熱性等も特に優れたものとすることができる。   Thereby, the flexibility and bending resistance of the metal film with resin layer 10 and the circuit board and the mounting board manufactured using the same can be particularly excellent, and the heat resistance and the like can be particularly excellent.

このような柔軟成分(硬化物の一部を構成する柔軟成分)としては、例えば、末端にカルボキシル基を含有する、アクリロニトリルとブタジエンとの共重合体(CTBN、例えば、下記の式(17)で示され、xが0.05以上0.2以下、yが0.8以上0.95以下(xとyはモル比を示し、x+y=1である)、zが50以上70以下である化合物。例えば、商品名CTBN1300X(宇部興産社製))、フェノール性水酸基含有芳香族ポリアミド−ポリ(ブタジエン−アクリロニトリル)ブロック共重合体(例えば、商品名KAYAFLEX BPAM−155(日本化薬社製、末端はアミド基))等が挙げられる。   As such a soft component (a soft component constituting a part of the cured product), for example, a copolymer of acrylonitrile and butadiene containing a carboxyl group at a terminal (CTBN, for example, by the following formula (17): Wherein x is 0.05 or more and 0.2 or less, y is 0.8 or more and 0.95 or less (x and y indicate a molar ratio, and x + y = 1), and z is 50 or more and 70 or less. For example, trade name CTBN1300X (manufactured by Ube Industries), phenolic hydroxyl group-containing aromatic polyamide-poly (butadiene-acrylonitrile) block copolymer (for example, trade name KAYAAFLEX BPAM-155 (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., Amide group)).

Figure 0006627284
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これにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性を特に優れたものとしつつ、耐熱性等も特に優れたものとすることができる。   Thereby, the flexibility and bending resistance of the metal film with resin layer 10 and the circuit board and the mounting board manufactured using the same can be particularly excellent, and the heat resistance and the like can be particularly excellent.

特に、前記硬化性樹脂が硬化した硬化物は、エポキシ当量が5000以上のフェノキシ樹脂に、多官能エポキシ化合物を反応させて得られたものであるのが好ましい。   In particular, the cured product obtained by curing the curable resin is preferably obtained by reacting a phenoxy resin having an epoxy equivalent of 5,000 or more with a polyfunctional epoxy compound.

これにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性を特に優れたものとしつつ、耐熱性等も特に優れたものとすることができる。   Thereby, the flexibility and bending resistance of the metal film with resin layer 10 and the circuit board and the mounting board manufactured using the same can be particularly excellent, and the heat resistance and the like can be particularly excellent.

樹脂層2は、前述した硬化物または硬化物を構成する硬化性樹脂以外の成分を含むものであってもよい。   The resin layer 2 may include a component other than the above-described cured product or the curable resin constituting the cured product.

このような成分としては、例えば、充填剤、柔軟成分(硬化物の一部を構成するものではない柔軟成分)、酸化防止剤、カップリング剤、消泡剤、レベリング剤等が挙げられる。   Examples of such a component include a filler, a soft component (a soft component that does not constitute a part of the cured product), an antioxidant, a coupling agent, an antifoaming agent, a leveling agent, and the like.

樹脂層2を構成する充填剤(フィラー)としては、例えば、タルク、焼成クレー、未焼成クレー、マイカ、ガラス等のケイ酸塩;酸化チタン、アルミナ、ベーマイト、シリカ、溶融シリカ等の酸化物;炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ハイドロタルサイト等の炭酸塩;水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、水酸化カルシウム等の水酸化物、硫酸バリウム、硫酸カルシウム、亜硫酸カルシウム等の硫酸塩または亜硫酸塩;ホウ酸亜鉛、メタホウ酸バリウム、ホウ酸アルミニウム、ホウ酸カルシウム、ホウ酸ナトリウム等のホウ酸塩;窒化アルミニウム、窒化ホウ素、窒化ケイ素、窒化炭素等の窒化物;チタン酸ストロンチウム、チタン酸バリウム等のチタン酸塩等が挙げられる。   Examples of the filler constituting the resin layer 2 include silicates such as talc, calcined clay, unfired clay, mica, and glass; oxides such as titanium oxide, alumina, boehmite, silica, and fused silica; Carbonates such as calcium carbonate, magnesium carbonate and hydrotalcite; hydroxides such as aluminum hydroxide, magnesium hydroxide and calcium hydroxide; sulfates or sulfites such as barium sulfate, calcium sulfate and calcium sulfite; zinc borate , Borate such as barium metaborate, aluminum borate, calcium borate, sodium borate; nitrides such as aluminum nitride, boron nitride, silicon nitride, carbon nitride; titanates such as strontium titanate, barium titanate And the like.

充填剤は、例えば、球形、針状、ファイバー状、ストランド状、鱗片状等、いかなる形状をなすものであってもよい。   The filler may have any shape such as a sphere, a needle, a fiber, a strand, and a scale.

また、樹脂層2は、ガラス不織布、アラミド不織布等、シート状部材(特に、硬化性樹脂等が含浸する空隙を有するもの)を含むものであってもよい。これにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の耐久性等を特に優れたものとすることができる。   Further, the resin layer 2 may include a sheet-like member (particularly, a member having a void impregnated with a curable resin or the like) such as a glass nonwoven fabric and an aramid nonwoven fabric. Thereby, the durability and the like of the metal film 10 with the resin layer and the circuit board and the mounting board manufactured using the same can be made particularly excellent.

特に、樹脂層2が、無機材料で構成されたフィラー(無機フィラー)を含むものであると、樹脂層付き金属膜10の重量(比重)が大きくなることや樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性が損なわれることを十分に防止しつつ、強度、耐久性を特に優れたものとすることができるとともに、樹脂層2の熱伝導性を特に優れたものとすることができる。また、樹脂層2の熱膨張係数を特に低いものとすることができる。このような効果は、各種無機フィラーの中でもタルクを含む場合に、より顕著に発揮される。   In particular, if the resin layer 2 contains a filler (inorganic filler) composed of an inorganic material, the weight (specific gravity) of the metal film 10 with a resin layer increases, and the metal film 10 with a resin layer or While sufficiently preventing the flexibility of the manufactured circuit board and the mounting board from being impaired, the strength and the durability can be made particularly excellent, and the heat conductivity of the resin layer 2 is particularly excellent. It can be. Further, the coefficient of thermal expansion of the resin layer 2 can be made particularly low. Such effects are more remarkably exhibited when talc is included among various inorganic fillers.

充填剤の平均粒子径は、特に限定されないが、0.1μm以上50μm以下であるのが好ましい。   The average particle size of the filler is not particularly limited, but is preferably 0.1 μm or more and 50 μm or less.

本明細書において、平均粒子径とは、特に断りのない限り、体積基準の平均粒子径のことを指す。   In the present specification, the average particle diameter refers to a volume-based average particle diameter unless otherwise specified.

なお、粒子径は、レーザー回折散乱式粒度分布測定装置SALD−7000を用いて、水中に対象粒子を1分間超音波処理することにより分散させ、測定することができる。   The particle diameter can be measured by dispersing the target particles in water by ultrasonic treatment for 1 minute using a laser diffraction / scattering particle size distribution analyzer SALD-7000.

樹脂層2が充填剤を含むものである場合、樹脂層2中における充填剤の含有率は、5質量%以上80質量%以下であるのが好ましい。   When the resin layer 2 contains a filler, the content of the filler in the resin layer 2 is preferably 5% by mass or more and 80% by mass or less.

これにより、前述したようなエポキシ基を有する硬化性樹脂またはその硬化物を含むことによる効果を確実に発揮させつつ、充填剤を含むことによる効果がより顕著に発揮される。   Thereby, while the effect by including the above-described curable resin having an epoxy group or a cured product thereof is surely exhibited, the effect by including a filler is more remarkably exhibited.

樹脂層2が各種充填剤の中でも無機フィラーを含むものである場合、樹脂層2中における無機フィラーの含有率は、5質量%以上65質量%以下であるのが好ましい。   When the resin layer 2 contains an inorganic filler among various fillers, the content of the inorganic filler in the resin layer 2 is preferably from 5% by mass to 65% by mass.

これにより、前述したようなエポキシ基を有する硬化性樹脂またはその硬化物を含むことによる効果を確実に発揮させつつ、無機フィラーを含むことによる効果がより顕著に発揮される。   Thereby, while the effect by including the above-described curable resin having an epoxy group or the cured product thereof is surely exhibited, the effect by including the inorganic filler is more remarkably exhibited.

また、硬化物の一部を構成するものではない柔軟成分を含むことにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性や、耐熱性等の各種特性の調整をより簡単に行うことができる。   In addition, by including a flexible component that does not constitute a part of the cured product, the flexibility / bending resistance of the metal film 10 with the resin layer, the circuit board and the mounting board manufactured using the same, and the heat resistance, etc. Can be adjusted more easily.

このような柔軟成分(硬化物の一部を構成するものではない柔軟成分)としては、例えば、アクリルゴム、ニトリルゴム(NBR)等の各種ゴム、ゴム変性ポリアミド、アクリル系熱可塑性エラストマー等の各種熱可塑性エラストマー等が挙げられる。   Examples of such a soft component (a soft component that does not constitute a part of the cured product) include various rubbers such as acrylic rubber and nitrile rubber (NBR), rubber-modified polyamide, and acrylic thermoplastic elastomer. Thermoplastic elastomers and the like can be mentioned.

なお、カルボン酸変性エチレンアクリルゴムは、例えば、下記式(1)、下記式(2)および下記式(3)で示される各部分構造を有するものである。   The carboxylic acid-modified ethylene acrylic rubber has, for example, a partial structure represented by the following formula (1), the following formula (2) or the following formula (3).

Figure 0006627284
Figure 0006627284

樹脂層2中における柔軟成分(硬化物の一部を構成するものとして含まれるもの、および、硬化物の一部を構成するものではないものとして含まれるもの)の含有率は、20質量%以上60質量%以下であるのが好ましく、23質量%以上55質量%以下であるのがより好ましい。   In the resin layer 2, the content of the flexible component (the component included as a component of the cured product and the component included as a component not constituting the cured product) is 20% by mass or more. It is preferably 60% by mass or less, more preferably 23% by mass or more and 55% by mass or less.

これにより、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の耐久性等を十分に優れたものとしつつ、柔軟性・屈曲性を特に優れたものとすることができる。   Thereby, the flexibility and bendability can be particularly excellent while the durability and the like of the metal film 10 with the resin layer and the circuit board and the mounting board manufactured using the same are sufficiently improved. .

樹脂層2の形成に用いる組成物(層形成用組成物)としては、前述した成分(硬化性樹脂、充填剤、柔軟成分等)に加え、他の成分を用いてもよい。   As the composition used for forming the resin layer 2 (composition for forming a layer), other components may be used in addition to the aforementioned components (curable resin, filler, flexible component, and the like).

このような成分としては、例えば、硬化剤、カップリング剤、各種溶媒、消泡剤、レベリング剤等が挙げられる。   Examples of such components include a curing agent, a coupling agent, various solvents, an antifoaming agent, a leveling agent, and the like.

硬化剤を用いることにより、硬化性樹脂の硬化反応を比較的穏やかな条件で、速やかに進行させることができ、樹脂層2の形成効率、樹脂層付き金属膜10の生産性を特に優れたものとすることができる。   By using the curing agent, the curing reaction of the curable resin can be rapidly advanced under relatively mild conditions, and the formation efficiency of the resin layer 2 and the productivity of the metal film 10 with the resin layer are particularly excellent. It can be.

また、カップリング剤を用いることにより、金属膜1と樹脂層2との密着性、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の耐久性、信頼性を特に優れたものとすることができる。   Further, by using the coupling agent, the adhesion between the metal film 1 and the resin layer 2 and the durability and reliability of the metal film 10 with the resin layer, the circuit board manufactured using the same, and the mounting board are particularly excellent. It can be.

硬化剤としては、例えば、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、オクチル酸スズ、オクチル酸コバルト、ビスアセチルアセトナートコバルト(II)、トリスアセチルアセトナートコバルト(III)等の有機金属塩;ジシアンジアミド、ジエチレントリアミン、トリエチレンテトラミン、メタキシリレンジアミン、ジアミノジフェニルメタン、ジアミノジエチルジフェニルメタン、メタフェニレンジアミン、ジアミノジフェニルスルホン、イソフォロンジアミン、ノルボルネンジアミン、トリエチルアミン、トリブチルアミン、ジアザビシクロ[2,2,2]オクタン等のアミン系硬化剤;2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−イミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−エチル−4−エチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシイミダゾール等のイミダゾール系硬化剤;トリフェニルホスフィン、トリ−p−トリルホスフィン、テトラフェニルホスホニウム・テトラフェニルボレート、トリフェニルホスフィン・トリフェニルボラン、1,2−ビス−(ジフェニルホスフィノ)エタン等の有機リン化合物;フェノール、ビスフェノールA、ノニルフェノール等のフェノール化合物;酢酸、安息香酸、サリチル酸、パラトルエンスルホン酸等の有機酸や、これらの誘導体等が挙げられる。硬化剤として、これらの中のから選択される1種類を単独で用いることもできるし、これらの中から2種類以上を併用したりすることもできる。   Examples of the curing agent include organic metal salts such as zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin octylate, cobalt octylate, bisacetylacetonatocobalt (II), and trisacetylacetonatocobalt (III); dicyandiamide, diethylenetriamine, Amine curing such as triethylenetetramine, metaxylylenediamine, diaminodiphenylmethane, diaminodiethyldiphenylmethane, metaphenylenediamine, diaminodiphenylsulfone, isophoronediamine, norbornenediamine, triethylamine, tributylamine, diazabicyclo [2,2,2] octane, etc. 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-imidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-ethyl- Imidazole-based curing agents such as -methylimidazole, 2-ethyl-4-ethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxyimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxyimidazole; triphenylphosphine, tri-p -Organic phosphorus compounds such as tolylphosphine, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, triphenylphosphine triphenylborane, 1,2-bis- (diphenylphosphino) ethane; phenol compounds such as phenol, bisphenol A and nonylphenol; acetic acid And organic acids such as benzoic acid, salicylic acid, and paratoluenesulfonic acid, and derivatives thereof. As the curing agent, one selected from these may be used alone, or two or more of these may be used in combination.

これらの中でも、接着性に優れ、かつ比較的低温で反応し、耐熱性が優れた硬化物が得られる点で、アミン系硬化剤、イミダゾール系硬化剤が好ましい。   Among these, an amine-based curing agent and an imidazole-based curing agent are preferable in that a cured product having excellent adhesiveness, reacting at a relatively low temperature, and having excellent heat resistance can be obtained.

カップリング剤としては、例えば、カップリング剤として知られている各種材料を用いることができるが、具体的には、エポキシシランカップリング剤、カチオニックシランカップリング剤、アミノシランカップリング剤、チタネート系カップリング剤、シリコーンオイル型カップリング剤の中から選ばれる1種以上のカップリング剤を使用することが好ましい。   As the coupling agent, for example, various materials known as coupling agents can be used. Specifically, epoxy silane coupling agents, cationic silane coupling agents, amino silane coupling agents, titanate-based coupling agents It is preferable to use one or more coupling agents selected from a coupling agent and a silicone oil type coupling agent.

溶媒としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、トルエン、キシレン、n−ヘキサン、メタノール、エタノール、メチルセルソルブ、エチルセルソルブ、ブチルセロソルブ、メトキシプロパノール、シクロヘキサノン、N−メチルピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド等を挙げることができる。   Examples of the solvent include acetone, methyl ethyl ketone, toluene, xylene, n-hexane, methanol, ethanol, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, methoxypropanol, cyclohexanone, N-methylpyrrolidone, dimethylformamide, dimethylacetamide and the like. be able to.

前記硬化性樹脂が硬化した状態での樹脂層2の100℃における引張貯蔵弾性率は、1MPa以上であるのが好ましく、2MPa以上40MPa以下であるのがより好ましく、4MPa以上35MPa以下であるのがさらに好ましい。
これにより、樹脂層2の耐熱性をより優れたものとすることができる。
The tensile storage modulus at 100 ° C. of the resin layer 2 in a state where the curable resin is cured is preferably 1 MPa or more, more preferably 2 MPa or more and 40 MPa or less, and 4 MPa or more and 35 MPa or less. More preferred.
Thereby, the heat resistance of the resin layer 2 can be further improved.

引張貯蔵弾性率の値は、JIS K7244−4(ISO 6721)に準拠した測定により求めることができ、より具体的には、例えば、動的粘弾性自動測定器を用いて、−100℃から200℃まで1℃/分で等速昇温し、周波数10Hzで求めることができる。   The value of the tensile storage elastic modulus can be determined by measurement in accordance with JIS K7244-4 (ISO 6721). More specifically, for example, a dynamic viscoelasticity automatic measuring device is used to measure the temperature from -100 ° C to 200 ° C. The temperature can be raised at a constant rate of 1 ° C./min to a temperature of 10 ° C. at a frequency of 10 Hz.

樹脂層2の体積抵抗率は、1×1013Ω・cm以上であるのが好ましく、1×1015Ω・cm以上1×1016Ω・cm以下であるのがより好ましい。
これにより、樹脂層2の絶縁性を十分に優れたものとすることができる。
The volume resistivity of the resin layer 2 is preferably 1 × 10 13 Ω · cm or more, and more preferably 1 × 10 15 Ω · cm or more and 1 × 10 16 Ω · cm or less.
Thereby, the insulation of the resin layer 2 can be made sufficiently excellent.

樹脂層2の厚さは、特に限定されないが、10μm以上1000μm以下であるのが好ましく、20μm以上300μm以下であるのがより好ましい。   The thickness of the resin layer 2 is not particularly limited, but is preferably 10 μm or more and 1000 μm or less, and more preferably 20 μm or more and 300 μm or less.

樹脂層2の厚さが前記範囲内の値であると、十分な絶縁性を確保しつつ、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の柔軟性・屈曲耐性を特に優れたものとすることができる。また、樹脂層付き金属膜10の全体としての放熱性を特に優れたものとすることができるとともに、金属膜1と樹脂層2との熱膨張率差による熱応力の発生をより効果的に緩和することができ、金属膜1と樹脂層2と密着性、樹脂層付き金属膜10やこれを用いて製造される回路基板、実装基板の耐久性を特に優れたものとすることができる。   When the thickness of the resin layer 2 is within the above range, the flexibility / bending resistance of the metal film with a resin layer 10, a circuit board manufactured using the same, and a mounting board is ensured while ensuring sufficient insulation. Can be made particularly excellent. In addition, the overall heat dissipation of the metal film with a resin layer 10 can be made particularly excellent, and the generation of thermal stress due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the metal film 1 and the resin layer 2 can be more effectively reduced. Thus, the adhesion between the metal film 1 and the resin layer 2 and the durability of the metal film 10 with the resin layer and the circuit board and the mounting board manufactured using the same can be made particularly excellent.

樹脂層2は、各部位で均一な組成を有するものであってもよいし、組成の異なる部位を有するものであってもよい。例えば、樹脂層2は、組成の異なる複数の層を有する積層体であってもよいし、組成が厚さ方向に傾斜的に変化する傾斜材料で構成されたものであってもよい。   The resin layer 2 may have a uniform composition at each portion or may have portions having different compositions. For example, the resin layer 2 may be a laminate having a plurality of layers having different compositions, or may be formed of a gradient material whose composition changes in a gradient direction in the thickness direction.

また、樹脂層付き金属膜10は、以下のような条件を満足する。
すなわち、樹脂層付き金属膜10は、樹脂層2を構成する硬化性樹脂が硬化した状態(Cステージ)でのJIS−C−6471記載の方法で測定される反り率が5%以下のものである。
The metal film with a resin layer 10 satisfies the following conditions.
That is, the metal film 10 with a resin layer has a warp rate of 5% or less measured by the method described in JIS-C-6471 in a state where the curable resin constituting the resin layer 2 is cured (C stage). is there.

これにより、樹脂層付き金属膜10や樹脂層付き金属膜10を用いて製造される回路基板の不本意な反り(カール)が効果的に防止され、平坦性が高く、電子部品等を実装する際の作業性を優れたものとすることができる。   This effectively prevents undesired warpage (curl) of the metal film with a resin layer 10 or a circuit board manufactured using the metal film with a resin layer 10, has high flatness, and mounts electronic components and the like. In this case, workability can be improved.

これに対し、樹脂層付き金属膜10の反り率が大きすぎると、樹脂層付き金属膜10や樹脂層付き金属膜10を用いて製造される回路基板に不本意な反りが生じ易く、電子部品等を実装する際の作業性が急激に低下し、樹脂層付き金属膜10、回路基板の取扱いのし易さ(取扱い性)、実装基板の生産性が著しく低下する。   On the other hand, if the warpage rate of the metal film with a resin layer 10 is too large, undesired warpage is likely to occur on the metal film with a resin layer 10 or on a circuit board manufactured using the metal film with a resin layer 10, and electronic components The workability when mounting the components and the like is sharply reduced, and the handling of the metal film 10 with the resin layer and the circuit board (handling property) and the productivity of the mounting board are significantly reduced.

JIS−C−6471記載の方法で測定される樹脂層付き金属膜10についての反り率は、5%以下であればよいが、4%以下であるのが好ましく、3%以下であるのがより好ましい。
これにより、前述した効果がより顕著に発揮される。
The warpage ratio of the metal film with a resin layer 10 measured by the method described in JIS-C-6471 may be 5% or less, but is preferably 4% or less, more preferably 3% or less. preferable.
Thereby, the above-mentioned effects are more remarkably exhibited.

なお、樹脂層2がBステージの樹脂材料を含むものである場合、樹脂層付き金属膜10の反り率の測定(前述した引張貯蔵弾性率の測定についても同様)に際して、Bステージの樹脂材料の硬化は、例えば、195℃×1〜2時間という加熱処理により行うことができる。   In the case where the resin layer 2 contains a B-stage resin material, the curing of the B-stage resin material during the measurement of the warp rate of the metal film with a resin layer 10 (the same applies to the above-described measurement of the tensile storage modulus). For example, it can be performed by a heat treatment at 195 ° C. × 1 to 2 hours.

≪回路基板≫
次に、前述したような本発明の樹脂層付き金属膜を用いて製造される回路基板について説明する。
≪Circuit board≫
Next, a circuit board manufactured using the above-described metal film with a resin layer of the present invention will be described.

上述したような樹脂層付き金属膜10は、エッチング等により、金属膜1を所定のパターンにすることにより、回路を形成して回路基板として用いる。また、樹脂層付き金属膜10(エッチング等により金属膜1を所定のパターンとした樹脂層付き金属膜10)は、積層して用いることにより、多層回路基板が得られる。この場合、樹脂層付き金属膜10の間に、絶縁シートを介挿して多層回路基板を製造してもよい。   The metal film 10 with a resin layer as described above is used as a circuit board by forming a circuit by forming the metal film 1 into a predetermined pattern by etching or the like. A multilayer circuit board can be obtained by laminating and using the metal film with a resin layer 10 (the metal film with a resin layer 10 in which the metal film 1 has a predetermined pattern by etching or the like). In this case, a multilayer circuit board may be manufactured by interposing an insulating sheet between the metal films 10 with resin layers.

前述したような条件を満足するものであることにより、回路基板は、不本意な反りが効果的に防止されたものであり、電子部品等を実装する際の作業性に優れている。したがって、実装基板の生産性を優れたものとすることができる。   By satisfying the above-mentioned conditions, the circuit board is effectively prevented from being undesirably warped, and is excellent in workability when mounting electronic components and the like. Therefore, the productivity of the mounting substrate can be improved.

≪実装基板≫
次に、本発明の実装基板について説明する。
≪Mounting board≫
Next, the mounting board of the present invention will be described.

図2は、本発明の実装基板の好適な実施形態を模式的に示す断面図である。
実装基板100は、上記のような回路基板50(樹脂層付き金属膜10の金属膜1をパターニングして得られた回路を有するもの)に、電子部品60が実装されたものである。
FIG. 2 is a sectional view schematically showing a preferred embodiment of the mounting board of the present invention.
The mounting board 100 is one in which the electronic component 60 is mounted on the circuit board 50 (having a circuit obtained by patterning the metal film 1 of the metal film 10 with a resin layer) as described above.

このような実装基板100は、前述したような樹脂層付き金属膜10を用いて製造されたものであるため、安価で十分な屈曲耐性、耐熱性を有し、不本意な反りの発生が防止されたものとなる。   Since such a mounting board 100 is manufactured by using the metal film 10 with a resin layer as described above, it is inexpensive, has sufficient bending resistance and heat resistance, and prevents occurrence of undesired warpage. It was done.

実装基板100の製造においては、例えば、最外層にソルダーレジストを形成し、露光・現像により電子部品60が実装できるよう接続用電極部を露出させてもよい。   In the manufacture of the mounting substrate 100, for example, a solder resist may be formed on the outermost layer, and the connection electrode portion may be exposed by exposure and development so that the electronic component 60 can be mounted.

また、実装基板100は、例えば、回路基板50の樹脂層(絶縁層)2側(例えば、実装基板100を平面視した際に発熱部品と重なり有る部位)に、Al等の熱伝導率を有する材料で構成された放熱部材(図示せず)を備えるものであってもよい。   The mounting board 100 has a thermal conductivity such as Al on the resin layer (insulating layer) 2 side of the circuit board 50 (for example, a portion that overlaps with a heat-generating component when the mounting board 100 is viewed in a plan view). A heat radiation member (not shown) made of a material may be provided.

以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は、これらに限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。   As described above, the preferred embodiments of the present invention have been described, but the present invention is not limited to these, and modifications, improvements, etc. within a range that can achieve the object of the present invention are included in the present invention. .

例えば、本発明の樹脂層付き金属膜は、前述したような金属膜(回路形成用の金属膜)、樹脂層(絶縁層として機能する樹脂層)に加え、放熱層として機能する金属板を備えるものとであってよい。   For example, the metal film with a resin layer of the present invention includes a metal plate functioning as a heat dissipation layer in addition to the metal film (metal film for forming a circuit) and the resin layer (resin layer functioning as an insulating layer) as described above. Things.

また、前述した実施形態では、樹脂層付き金属膜を加工すること(樹脂層付き金属膜の金属膜をパターニングすること)により、回路基板を得る場合について代表的に説明したが、例えば、樹脂層付き金属膜の製造時において、所定のパターンのマスクを用いて、樹脂層上に金属膜を形成することにより、所定のパターンの金属膜を有する樹脂層付き金属膜を得てもよい。言い換えると、樹脂層付き金属膜を、そのまま回路基板として用いてもよい。   Further, in the above-described embodiment, the case where the circuit board is obtained by processing the metal film with the resin layer (by patterning the metal film of the metal film with the resin layer) is typically described. When manufacturing the metal film with a resin, a metal film with a predetermined pattern may be obtained by forming a metal film on the resin layer using a mask with a predetermined pattern. In other words, the metal film with a resin layer may be used as it is as a circuit board.

以下、本発明を実施例および比較例に基づいて詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited thereto.

[1]樹脂層形成用組成物の調製
(調製例1)
ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(新日鐵住金化学製、YP−55U、重量平均分子量4.2×10、エポキシ当量:21000):50.2質量部、柔軟成分としての変性液状エポキシ樹脂(三菱化学製、YX7105、エポキシ当量:487):29.0質量部、硬化触媒としての2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成製):0.1質量部、硬化剤としてのジシアンジアミド(デグサ製):0.6質量部、タルク(平均粒子径:18μm、富士タルク工業製、PKP−53):20.1質量部を、シクロヘキサノン、ジメチルホルムアミド、メチルエチルケトンに溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、不揮発性成分量が64質量%のワニス状の樹脂層形成用組成物を得た。
[1] Preparation of composition for forming resin layer (Preparation Example 1)
Bisphenol A type phenoxy resin (YP-55U, Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation, weight average molecular weight 4.2 × 10 4 , epoxy equivalent: 21000): 50.2 parts by mass, modified liquid epoxy resin as a flexible component (Mitsubishi Chemical Corporation) Manufactured by YX7105, epoxy equivalent: 487): 29.0 parts by mass, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (manufactured by Shikoku Chemicals): 0.1 part by mass as a curing catalyst, dicyandiamide (Degussa) as a curing agent 0.6 parts by mass), 20.1 parts by mass of talc (average particle diameter: 18 μm, manufactured by Fuji Talc Kogyo Co., Ltd., PKP-53) were dissolved and mixed in cyclohexanone, dimethylformamide, and methyl ethyl ketone, and a high-speed stirrer was used. The mixture was stirred to obtain a varnish-like resin layer-forming composition having a nonvolatile content of 64% by mass.

(調製例2)
ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(新日鐵住金化学製、YP−55U、重量平均分子量4.2×10、エポキシ当量:21000):41.3質量部、柔軟成分としての低弾性液状エポキシ樹脂(旭化成イーマテリアルズ製、AER9000、エポキシ当量:380):26.8質量部、液状フェノールノボラック(明和化成製、MEH−8005、水酸基当量:135):9.5質量部、硬化触媒としての2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成製):2.6質量部、タルク(平均粒子径:18μm、富士タルク工業製、PKP−53):19.8質量部を、シクロヘキサノン、メチルエチルケトンに溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、不揮発性成分量が70質量%のワニス状の樹脂層形成用組成物を得た。
(Preparation Example 2)
Bisphenol A type phenoxy resin (YP-55U, manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation, weight average molecular weight 4.2 × 10 4 , epoxy equivalent: 21000): 41.3 parts by mass, low elasticity liquid epoxy resin as a flexible component (Asahi Kasei AER9000, epoxy equivalent: 380): 26.8 parts by mass, liquid phenol novolak (MEH-8005, hydroxyl equivalent: 135): 9.5 parts by mass, 2-phenyl as a curing catalyst 2.6 parts by mass of -4,5-dihydroxymethylimidazole (manufactured by Shikoku Chemicals), 19.8 parts by mass of talc (average particle diameter: 18 μm, manufactured by Fuji Talc, PKP-53): 19.8 parts by mass are dissolved in cyclohexanone and methyl ethyl ketone. -Mix and stir using a high-speed stirrer to form a varnish-like resin layer with a non-volatile content of 70% by mass. It was obtained Narubutsu.

(調製例3)
ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(新日鐵住金化学製、YP−55U、重量平均分子量4.2×10、エポキシ当量:21000):62.7質量部、柔軟成分としての変性液状エポキシ樹脂(三菱化学製、YX7105、エポキシ当量:487):36.3質量部、硬化触媒としての2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成製):0.2質量部、硬化剤としてのジシアンジアミド(デグサ製):0.8質量部を、シクロヘキサノン、メチルエチルケトンに溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、不揮発性成分量が55質量%のワニス状の樹脂層形成用組成物を得た。
(Preparation Example 3)
Bisphenol A type phenoxy resin (Nippon Steel & Sumitomo Metal Chemical, YP-55U, weight average molecular weight 4.2 × 10 4 , epoxy equivalent: 21000): 62.7 parts by mass, modified liquid epoxy resin as a flexible component (Mitsubishi Chemical) , YX7105, epoxy equivalent: 487): 36.3 parts by mass, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (manufactured by Shikoku Chemicals): 0.2 parts by mass as a curing catalyst, dicyandiamide (Degussa) as a curing agent 0.8 parts by mass were dissolved and mixed in cyclohexanone and methyl ethyl ketone, and stirred using a high-speed stirrer to obtain a varnish-like resin layer-forming composition having a nonvolatile component content of 55% by mass.

(調製例4)
ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(新日鐵住金化学製、YP−55U、重量平均分子量4.2×10、エポキシ当量:21000):55.0質量部、柔軟成分としての低弾性液状エポキシ樹脂(旭化成イーマテリアルズ製、AER9000、エポキシ当量:380):31.1質量部、液状フェノールノボラック(明和化成製、MEH−8005、水酸基当量:135):11.1質量部、硬化触媒としての2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成製):2.8質量部を、シクロヘキサノン、メチルエチルケトンに溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、不揮発性成分量が60質量%のワニス状の樹脂層形成用組成物を得た。
(Preparation Example 4)
Bisphenol A type phenoxy resin (Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation, YP-55U, weight average molecular weight 4.2 × 10 4 , epoxy equivalent: 21000): 55.0 parts by mass, low elasticity liquid epoxy resin as a flexible component (Asahi Kasei) AER9000, epoxy equivalent: 380): 31.1 parts by mass, liquid phenol novolak (MEH-8005, hydroxyl equivalent: 135) manufactured by E-materials: 11.1 parts by mass, 2-phenyl as a curing catalyst -4,5-dihydroxymethylimidazole (manufactured by Shikoku Chemicals): 2.8 parts by mass are dissolved and mixed in cyclohexanone and methyl ethyl ketone, and stirred using a high-speed stirrer to form a varnish having a nonvolatile component content of 60% by mass. Thus, a composition for forming a resin layer was obtained.

(調製例5)
ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(新日鐵住金化学製、YP−55U、重量平均分子量4.2×10、エポキシ当量:21000):63.6質量部、シリコーン樹脂(モメンティブパフォーマンズ製XE14−A0425(A)、ポリアルキルアルケニルシロキサン):8.5質量部、シリコーン樹脂(モメンティブパフォーマンズ製XE14−A0425(B)、ポリアルキル水素シロキサン):8.5質量部、柔軟成分としての変性液状エポキシ樹脂(三菱化学製、YX7105、エポキシ当量:487):18.9質量部、硬化触媒としての2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成製):0.1質量部、硬化剤としてのジシアンジアミド(デグサ製):0.4質量部を、シクロヘキサノン、ジメチルホルムアミド、メチルエチルケトンに溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、不揮発性成分量が55質量%のワニス状の樹脂層形成用組成物を得た。
(Preparation Example 5)
Bisphenol A type phenoxy resin (Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation, YP-55U, weight average molecular weight 4.2 × 10 4 , epoxy equivalent: 21000): 63.6 parts by mass, silicone resin (XE14-A0425 manufactured by Momentive Performers) A), 8.5 parts by mass of a polyalkylalkenylsiloxane), 8.5 parts by mass of a silicone resin (XE14-A0425 (B), polyalkylhydrogensiloxane manufactured by Momentive Performances), modified liquid epoxy resin as a flexible component ( Mitsubishi Chemical, YX7105, epoxy equivalent: 487): 18.9 parts by mass, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole as a curing catalyst (manufactured by Shikoku Chemicals): 0.1 parts by mass, dicyandiamide as a curing agent (Manufactured by Degussa): 0.4 parts by mass of cyclohexanone, dimethyl It was dissolved and mixed in formamide and methyl ethyl ketone, and stirred using a high-speed stirrer to obtain a varnish-like resin layer-forming composition having a nonvolatile content of 55% by mass.

(調製例6)
ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(新日鐵住金化学製、YP−55U、重量平均分子量4.2×10、エポキシ当量:21000):49.8質量部、ビスフェノールF型エポキシ樹脂(DIC製、830S、エポキシ当量:170):26.8質量部、硬化触媒としての2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成製):0.4質量部、硬化剤としてのジシアンジアミド(デグサ製):1.5質量部、タルク(平均粒子径:18μm、富士タルク工業製、PKP−53):21.5質量部を、シクロヘキサノン、ジメチルホルムアミド、メチルエチルケトンに溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、不揮発性成分量が61質量%のワニス状の樹脂層形成用組成物を得た。
(Preparation Example 6)
Bisphenol A type phenoxy resin (manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Chemical, YP-55U, weight average molecular weight 4.2 × 10 4 , epoxy equivalent: 21000): 49.8 parts by mass, bisphenol F type epoxy resin (manufactured by DIC, 830S, Epoxy equivalent: 170): 26.8 parts by mass, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole as a curing catalyst (manufactured by Shikoku Chemicals): 0.4 parts by mass, dicyandiamide as a curing agent (manufactured by Degussa): 1 0.5 parts by mass, 21.5 parts by mass of talc (average particle diameter: 18 μm, manufactured by Fujitalc Industries, PKP-53): dissolved and mixed in cyclohexanone, dimethylformamide, and methyl ethyl ketone, and stirred using a high-speed stirrer. Thus, a varnish-like resin layer-forming composition having a nonvolatile component content of 61% by mass was obtained.

(調製例7)
ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(新日鐵住金化学製、YP−55U、重量平均分子量4.2×10、エポキシ当量:21000):87.8質量部、柔軟成分としての低弾性液状エポキシ樹脂(旭化成イーマテリアルズ製、AER9000、エポキシ当量:380):8.6質量部、液状フェノールノボラック(明和化成製、MEH−8005、水酸基当量:135):2.9質量部、硬化触媒としての2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成製):0.7質量部を、シクロヘキサノン、メチルエチルケトンに溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、不揮発性成分量が38質量%のワニス状の樹脂層形成用組成物を得た。
(Preparation Example 7)
Bisphenol A type phenoxy resin (Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation, YP-55U, weight average molecular weight 4.2 × 10 4 , epoxy equivalent: 21000): 87.8 parts by mass, low elasticity liquid epoxy resin as a flexible component (Asahi Kasei E-Materials, AER9000, epoxy equivalent: 380): 8.6 parts by mass, liquid phenol novolak (MEH-8005, hydroxyl equivalent: 135): 2.9 parts by mass, 2-phenyl as curing catalyst -4,5-dihydroxymethylimidazole (manufactured by Shikoku Chemicals): 0.7 part by mass is dissolved and mixed in cyclohexanone and methyl ethyl ketone, and the mixture is stirred using a high-speed stirrer to give a varnish having a nonvolatile component content of 38% by mass. Thus, a composition for forming a resin layer was obtained.

(調製例8)
柔軟成分としての変性液状エポキシ樹脂(三菱化学製、YX7105、エポキシ当量:487):97.4質量部、硬化触媒としての2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成製):0.5質量部、硬化剤としてのジシアンジアミド(デグサ製):2.1質量部を、メチルエチルケトン、ジメチルホルムアミドに溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、不揮発性成分量が98質量%のワニス状の樹脂層形成用組成物を得た。
(Preparation Example 8)
Modified liquid epoxy resin as a flexible component (YX7105, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent: 487): 97.4 parts by mass, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (manufactured by Shikoku Chemicals) as a curing catalyst: 0. 5 parts by mass, 2.1 parts by mass of dicyandiamide (manufactured by Degussa) as a curing agent were dissolved and mixed in methyl ethyl ketone and dimethylformamide, and stirred using a high-speed stirrer to give a varnish having a nonvolatile component content of 98% by mass. A resin composition for forming a resin layer was obtained.

(調製例9)
ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(新日鐵住金化学製、YP−55U、重量平均分子量4.2×10、エポキシ当量:21000):17.1質量部、柔軟成分としての変性液状エポキシ樹脂(三菱化学製、YX7105、エポキシ当量:487):11.3質量部、硬化触媒としての2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成製):0.1質量部、硬化剤としてのジシアンジアミド(デグサ製):0.3質量部、タルク(平均粒子径:18μm、富士タルク工業製、PKP−53):71.3質量部を、シクロヘキサノン、ジメチルホルムアミド、メチルエチルケトンに溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、不揮発性成分量が87質量%のワニス状の樹脂層形成用組成物を得た。
(Preparation Example 9)
Bisphenol A type phenoxy resin (Nippon Steel & Sumitomo Metal Chemical, YP-55U, weight average molecular weight 4.2 × 10 4 , epoxy equivalent: 21000): 17.1 parts by mass, modified liquid epoxy resin as a flexible component (Mitsubishi Chemical) , YX7105, epoxy equivalent: 487): 11.3 parts by mass, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (manufactured by Shikoku Chemicals): 0.1 part by mass as a curing catalyst, dicyandiamide (Degussa) as a curing agent ): 0.3 parts by mass, talc (average particle size: 18 μm, manufactured by Fuji Talc Kogyo Co., Ltd., PKP-53): 71.3 parts by mass are dissolved and mixed in cyclohexanone, dimethylformamide, and methyl ethyl ketone, and a high-speed stirrer is used. The mixture was stirred to obtain a varnish-like resin layer-forming composition having a nonvolatile content of 87% by mass.

[2]樹脂層付き金属膜の製造
(実施例1〜5)
それぞれ、前記調製例1〜5で得られたワニス状の樹脂層形成用組成物を用い、以下のようにして樹脂層付き金属膜を製造した。
[2] Production of metal film with resin layer (Examples 1 to 5)
Using the varnish-like resin layer-forming compositions obtained in Preparation Examples 1 to 5, metal films with a resin layer were produced as follows.

まず、厚さ:35μmの銅箔を用意した。
この銅箔の表面に、ダイコーターにより、樹脂層形成用組成物を付与し、120℃に加熱し、溶媒を除去した。
First, a copper foil having a thickness of 35 μm was prepared.
The composition for forming a resin layer was applied to the surface of the copper foil using a die coater, and heated to 120 ° C. to remove the solvent.

その後、195℃で1.5時間加熱し、樹脂層形成用組成物を硬化させ、Cステージの樹脂材料(硬化物)を含む材料で構成された樹脂層を形成し、樹脂層付き金属膜を得た。   Thereafter, the composition is heated at 195 ° C. for 1.5 hours to cure the resin layer forming composition, form a resin layer made of a material containing a C-stage resin material (cured product), and form a metal film with a resin layer. Obtained.

(実施例6〜10)
それぞれ、前記調製例1〜5で得られたワニス状の樹脂層形成用組成物を用い、以下のようにして樹脂層付き金属膜を製造した。
(Examples 6 to 10)
Using the varnish-like resin layer-forming compositions obtained in Preparation Examples 1 to 5, metal films with a resin layer were produced as follows.

まず、厚さ:35μmの銅箔を用意した。
この銅箔の表面に、ダイコーターにより、樹脂層形成用組成物を付与し、120℃に加熱し、溶媒を除去し、Bステージの樹脂材料を含む材料で構成された樹脂層を形成し、樹脂層付き金属膜を得た。
First, a copper foil having a thickness of 35 μm was prepared.
On the surface of the copper foil, a resin layer-forming composition is applied by a die coater, heated to 120 ° C., the solvent is removed, and a resin layer made of a material including a B-stage resin material is formed. A metal film with a resin layer was obtained.

(比較例1〜4)
それぞれ、樹脂層形成用組成物として、前記調整例6〜9で調製したものを用いた以外は、前記実施例1と同様にして樹脂層付き金属膜を得た。
(Comparative Examples 1-4)
A metal film with a resin layer was obtained in the same manner as in Example 1 except that the compositions prepared in Preparation Examples 6 to 9 were used as the resin layer forming compositions.

(比較例5〜8)
それぞれ、樹脂層形成用組成物として、前記調整例6〜9で調製したものを用いた以外は、前記実施例6と同様にして樹脂層付き金属膜を得た。
(Comparative Examples 5 to 8)
A metal film with a resin layer was obtained in the same manner as in Example 6 except that the compositions prepared in Preparation Examples 6 to 9 were used as the resin layer forming compositions.

前記実施例および比較例の樹脂層付き金属膜について、製造に用いた樹脂層形成用組成物、ASTM−D−790に準じて測定した樹脂層についての曲げ弾性率、ASTM−D−882に準じて測定した樹脂層についての引張伸び(破断伸度)、JIS−C−6471記載の方法で測定される反り率を表1にまとめて示した。なお、実施例6〜10、比較例5〜8については、上記のようにして製造した樹脂層付き金属膜に対し、195℃×1.5時間の加熱処理を施して硬化性樹脂を完全硬化させた後の測定により、反り率の値を求めた。   With respect to the metal films with a resin layer of the above Examples and Comparative Examples, the composition for forming the resin layer used in the production, the flexural modulus of the resin layer measured according to ASTM-D-790, and the flexural modulus according to ASTM-D-882 Table 1 shows the tensile elongation (elongation at break) of the resin layer measured by the above method and the warpage rate measured by the method described in JIS-C-6471. In Examples 6 to 10 and Comparative Examples 5 to 8, the heat treatment at 195 ° C. for 1.5 hours was performed on the metal film with a resin layer manufactured as described above to completely cure the curable resin. After the measurement, the value of the warpage ratio was determined.

また、表1には、硬化性樹脂が硬化した状態での樹脂層の100℃における引張貯蔵弾性率の値(JIS K7244−4(ISO 6721)に準拠した測定で、動的粘弾性自動測定器(DMS6100(エスアイアイ・ナノテクノロジー社製))を用いて、−100℃から200℃まで1℃/分で等速昇温し、周波数10Hzという条件で求めた値)も示した。実施例6〜10、比較例5〜8については、上記のようにして製造した樹脂層付き金属膜に対し、195℃×1.5時間の加熱処理を施して硬化性樹脂を完全硬化させた後の測定により、引張貯蔵弾性率の値を求めた。   In addition, Table 1 shows a dynamic viscoelasticity automatic measuring device based on the value of the tensile storage modulus at 100 ° C. of the resin layer in a state where the curable resin is cured (JIS K7244-4 (ISO 6721)). Using (DMS6100 (manufactured by SII NanoTechnology)), the temperature was raised from -100 ° C to 200 ° C at a constant rate of 1 ° C / minute at a frequency of 10 Hz. In Examples 6 to 10 and Comparative Examples 5 to 8, the metal film with the resin layer manufactured as described above was subjected to a heat treatment at 195 ° C. × 1.5 hours to completely cure the curable resin. The value of the tensile storage modulus was determined by a subsequent measurement.

なお、曲げ弾性率、引張伸び(破断伸度)、引張貯蔵弾性率の測定は、エッチングにより樹脂層付き金属膜から金属膜(銅箔)を除去することにより得られた試料について行った。曲げ弾性率の測定には、テンシロン(ヤマト科学社製)を用い、引張伸び(破断伸度)の測定には、テンシロン(ヤマト科学社製)を用いた。   The measurement of the flexural modulus, tensile elongation (elongation at break), and tensile storage modulus was performed on a sample obtained by removing a metal film (copper foil) from a metal film with a resin layer by etching. Tensilon (manufactured by Yamato Scientific Co., Ltd.) was used to measure the flexural modulus, and Tensilon (manufactured by Yamato Scientific Co., Ltd.) was used to measure the tensile elongation (elongation at break).

Figure 0006627284
Figure 0006627284

[3]評価
[3.1]耐熱性
上記[2]で製造した各実施例および各比較例にかかる樹脂層付き金属膜を、それぞれ、50mm×50mmの大きさに押切カッターでカットした後、JIS C 6481に基づき、260℃のはんだ槽に120秒間浮かべたときの、樹脂層付き金属膜の様子を目視で観察し、以下の評価基準に従い評価した。
[3] Evaluation [3.1] Heat resistance After cutting the metal film with a resin layer according to each of the examples and the comparative examples manufactured in the above [2] into a size of 50 mm × 50 mm by a press cutter, Based on JIS C 6481, the state of the metal film with the resin layer when floated in a solder bath at 260 ° C. for 120 seconds was visually observed and evaluated according to the following evaluation criteria.

○:膨れ、はがれなどの異常が無い。
×:膨れ、はがれなどの異常が認められる。
:: No abnormality such as swelling or peeling.
×: Abnormalities such as swelling and peeling are observed.

[3.2]屈曲耐性
上記[2]で製造した各実施例および各比較例にかかる樹脂層付き金属膜を、それぞれ、100mm×25mmの大きさに押切カッターでカットした後、樹脂層を外側にして、中央付近をR=0.5mmの丸棒に押し当て90°に屈曲させ、屈曲部の様子を目視により観察し、以下の基準に従い評価した。
[3.2] Flex resistance The metal film with a resin layer according to each of the examples and the comparative examples manufactured in the above [2] is cut into a size of 100 mm x 25 mm by a press cutter, and then the resin layer is placed outside. The vicinity of the center was pressed against a round bar of R = 0.5 mm and bent at 90 °. The state of the bent portion was visually observed and evaluated according to the following criteria.

A:屈曲部において、樹脂層のひび割れが全く認められない。
B:屈曲部において、樹脂層のひび割れがほとんど認められない。
C:屈曲部において、樹脂層の微小なひび割れがわずかに認められる。
D:屈曲部において、樹脂層の微小なひび割れが認められるものの、大きなひび割れ
(長さ:2mm以上)は認められない。
E:屈曲部において、樹脂層の大きなひび割れ(長さ:2mm以上)または剥離がは
っきりと認められる。
A: No crack in the resin layer is observed at the bent portion.
B: Cracks in the resin layer are hardly observed at the bent portion.
C: At the bent portion, slight cracks in the resin layer are slightly observed.
D: At the bent portion, although small cracks in the resin layer are observed, no large cracks (length: 2 mm or more) are observed.
E: At the bent portion, large cracks (length: 2 mm or more) or peeling of the resin layer are clearly observed.

[3.3]反復屈曲耐性
上記[2]で製造した各実施例および各比較例にかかる樹脂層付き金属膜を、それぞれ、100mm×25mmの大きさに押切カッターでカットした。次に、樹脂層を外側にして、R=5.0mmで90°に屈曲させた後、樹脂層を内側にして、R=5.0mmで90°に屈曲させる操作を繰り返し行い、目視による観察で、樹脂層に長さ1.0mm以上のひび割れが生じるまでの前記操作の回数を求め、以下の基準に従い評価した。
[3.3] Repetitive bending resistance The metal films with a resin layer according to each of the examples and the comparative examples manufactured in the above [2] were cut into a size of 100 mm x 25 mm by a press cutter. Next, after bending the resin layer to 90 ° at R = 5.0 mm with the resin layer on the outside, the operation of bending the resin layer to 90 ° at R = 5.0 mm with the resin layer on the inside is repeated, and visual observation is performed. Then, the number of times of the above operation until a crack having a length of 1.0 mm or more was generated in the resin layer was obtained, and evaluated according to the following criteria.

A:前記操作を4回行っても、長さ1.0mm以上のひび割れが発生しなかった。
B:前記操作を4回行った時点で、長さ1.0mm以上のひび割れが発生した。
C:前記操作を3回行った時点で、長さ1.0mm以上のひび割れが発生した。
D:前記操作を2回行った時点で、長さ1.0mm以上のひび割れが発生した。
E:前記操作を1回行った時点で、長さ1.0mm以上のひび割れが発生した。
A: Even after the above operation was performed four times, no crack having a length of 1.0 mm or more was generated.
B: When the above operation was performed four times, cracks having a length of 1.0 mm or more occurred.
C: When the above operation was performed three times, cracks having a length of 1.0 mm or more occurred.
D: When the above operation was performed twice, cracks having a length of 1.0 mm or more occurred.
E: When the above operation was performed once, cracks having a length of 1.0 mm or more were generated.

[3.4]導体密着力
上記[2]で製造した各実施例および各比較例にかかる樹脂層付き金属膜を、それぞれ、100mm×25mmの大きさに押切カッターでカットした。次に、100mm×10mmの金属膜を残すようにエッチング後、JIS C 6481に基づき、90°ピール試験により引き剥がし強さを以下の基準に従い評価した。
[3.4] Conductor Adhesion Force The metal films with a resin layer according to each of the examples and the comparative examples manufactured in the above [2] were cut into a size of 100 mm × 25 mm by a press cutter. Next, after etching so as to leave a metal film of 100 mm × 10 mm, the peel strength was evaluated by a 90 ° peel test based on JIS C 6481 according to the following criteria.

A:引き剥がし強さが2.0kN/m以上であった。
B:引き剥がし強さが1.5kN/m以上2.0kN/m未満であった。
C:引き剥がし強さが1.0kN/m以上1.5kN/m未満であった。
D:引き剥がし強さが0.5kN/m以上1.0kN/m未満であった。
E:引き剥がし強さが0.5kN/m未満であった。
A: The peel strength was 2.0 kN / m or more.
B: Peel strength was 1.5 kN / m or more and less than 2.0 kN / m.
C: Peel strength was 1.0 kN / m or more and less than 1.5 kN / m.
D: The peel strength was 0.5 kN / m or more and less than 1.0 kN / m.
E: Peel strength was less than 0.5 kN / m.

[3.5]絶縁性評価
上記[2]で製造した各実施例および各比較例にかかる樹脂層付き金属膜を、それぞれ、100mm×100mmの大きさに押切カッターでカットした後、金属膜(銅箔)をエッチングにより除去し、試料を作製した。耐電圧試験器(MODEL7473、EXTECH Electronics社製)を用いて、樹脂層とアルミニウム板に電極を接触せしめて、両電極に0.5kV/秒の速度で電圧が上昇するように、交流電圧を印加した。樹脂層付き金属膜の樹脂層が破壊した電圧を樹脂層の厚みで割り、単位厚み(mm)あたりの絶縁破壊電圧(kW/mm)を求め、以下の基準に従い評価した。絶縁破壊電圧が大きいほど、絶縁性に優れているといえる。
[3.5] Insulation evaluation After cutting the metal film with resin layer according to each of the examples and the comparative examples manufactured in the above [2] into a size of 100 mm x 100 mm with a press cutter, the metal film ( The copper foil was removed by etching to produce a sample. Using a withstand voltage tester (MODEL7473, manufactured by EXTECH Electronics), an electrode is brought into contact with the resin layer and the aluminum plate, and an AC voltage is applied to both electrodes so that the voltage increases at a rate of 0.5 kV / sec. did. The voltage at which the resin layer of the metal film with the resin layer was broken was divided by the thickness of the resin layer to obtain a dielectric breakdown voltage (kW / mm) per unit thickness (mm), which was evaluated according to the following criteria. It can be said that the larger the dielectric breakdown voltage is, the more excellent the insulating property is.

A:絶縁破壊電圧が50kW/mm以上であった。
B:絶縁破壊電圧が40kW/mm以上50kW/mm未満であった。
C:絶縁破壊電圧が30kW/mm以上40kW/mm未満であった。
D:絶縁破壊電圧が20kW/mm以上30kW/mm未満であった。
E:絶縁破壊電圧が20kW/mm未満であった。
A: The dielectric breakdown voltage was 50 kW / mm or more.
B: The dielectric breakdown voltage was 40 kW / mm or more and less than 50 kW / mm.
C: The dielectric breakdown voltage was 30 kW / mm or more and less than 40 kW / mm.
D: The dielectric breakdown voltage was 20 kW / mm or more and less than 30 kW / mm.
E: The dielectric breakdown voltage was less than 20 kW / mm.

[3.6]屈曲後の絶縁性評価
上記[2]で製造した各実施例および各比較例にかかる樹脂層付き金属膜を、それぞれ、100mm×100mmの大きさに押切カッターでカットした後、樹脂層を外側にして、中央付近をR=3.0mmの丸棒に押し当て90°に屈曲させた。次に、金属膜にローラーを押し当て平板状とした後、金属膜(銅箔)をエッチングにより除去し、試料を作製した。耐電圧試験器(MODEL7473、EXTECH Electronics社製)を用いて、樹脂層とアルミニウム板に電極を接触せしめて、両電極に0.5kV/秒の速度で電圧が上昇するように、交流電圧を印加した。樹脂層付き金属膜の樹脂層が破壊した電圧を樹脂層の厚みで割り、単位厚み(mm)あたりの絶縁破壊電圧(kW/mm)を求め、以下の基準に従い評価した。
[3.6] Evaluation of insulation properties after bending The metal films with a resin layer according to each of the examples and the comparative examples manufactured in the above [2] were cut into a size of 100 mm x 100 mm by a press cutter, respectively. With the resin layer on the outside, the center was pressed against a round bar of R = 3.0 mm and bent at 90 °. Next, after a roller was pressed against the metal film to form a flat plate, the metal film (copper foil) was removed by etching to prepare a sample. Using a withstand voltage tester (MODEL7473, manufactured by EXTECH Electronics), an electrode is brought into contact with the resin layer and the aluminum plate, and an AC voltage is applied to both electrodes so that the voltage increases at a rate of 0.5 kV / sec. did. The voltage at which the resin layer of the metal film with the resin layer was broken was divided by the thickness of the resin layer to obtain a dielectric breakdown voltage (kW / mm) per unit thickness (mm), which was evaluated according to the following criteria.

A:絶縁破壊電圧が50kW/mm以上であった。
B:絶縁破壊電圧が40kW/mm以上50kW/mm未満であった。
C:絶縁破壊電圧が30kW/mm以上40kW/mm未満であった。
D:絶縁破壊電圧が20kW/mm以上30kW/mm未満であった。
E:絶縁破壊電圧が20kW/mm未満であった。
A: The dielectric breakdown voltage was 50 kW / mm or more.
B: The dielectric breakdown voltage was 40 kW / mm or more and less than 50 kW / mm.
C: The dielectric breakdown voltage was 30 kW / mm or more and less than 40 kW / mm.
D: The dielectric breakdown voltage was 20 kW / mm or more and less than 30 kW / mm.
E: The dielectric breakdown voltage was less than 20 kW / mm.

[3.7]回路基板への電子部品の実装のしやすさ(反り作業性)
上記[2]で製造した各実施例および各比較例にかかる樹脂層付き金属膜を、それぞれ、100mm×100mmの大きさに押切カッターでカットした後、金属膜面上にドライフィルムタイプのエッチングレジストをラミネートし露光、現像後、塩化第二鉄系銅エッチング液を用いてサブトラクティブ法により金属膜を所定のパターンに加工して回路を作製し、回路基板を得た。
[3.7] Ease of mounting electronic components on a circuit board (warpage workability)
After cutting the metal film with the resin layer according to each of the examples and the comparative examples manufactured in the above [2] into a size of 100 mm × 100 mm by a press cutter, a dry film type etching resist is formed on the metal film surface. After laminating, exposing and developing, the metal film was processed into a predetermined pattern by a subtractive method using a ferric chloride-based copper etching solution to produce a circuit, and a circuit board was obtained.

このようにして得られた回路基板に電子部品としてのLED素子(LVYE67F オスラム社製)を実装する際の作業性(回路基板への電子部品の実装のしやすさ)を評価し、回路基板(樹脂層付き金属膜)の不本意な反りが防止されており作業性(回路基板への電子部品の実装のしやすさ)に優れるものを○、回路基板(樹脂層付き金属膜)に不本意な反りが生じており作業性(回路基板への電子部品の実装のしやすさ)に劣るものを×とした。
これらの結果を、表2に示した。
The workability (easiness of mounting the electronic component on the circuit board) when mounting an LED element (LVYE67F manufactured by OSRAM) as an electronic component on the circuit board thus obtained was evaluated, and the circuit board ( Good for workability (easiness of mounting electronic components on a circuit board) with unintended warpage of the resin film (metal film with resin layer) prevented, and unwilling for the circuit board (metal film with resin layer) A sample having poor warpage and poor workability (easiness of mounting electronic components on a circuit board) was evaluated as x.
The results are shown in Table 2.

Figure 0006627284
Figure 0006627284

本発明(各実施例)では、十分な耐熱性を有するとともに、屈曲耐性に優れ、かつ、不本意な反りの発生が防止されていた。また、本発明(各実施例)では、金属膜と樹脂層との密着性に優れ、樹脂層が十分な絶縁性を有するものであった。また、本発明(各実施例)では、樹脂層の体積抵抗率は、いずれも、1×1015Ω・cm以上1×1016Ω・cm以下の範囲内の値であった。なお、本発明(各実施例)では、樹脂層を構成する硬化性樹脂が硬化した状態での硬化性樹脂の硬化物のガラス転移温度は、いずれも、130℃以上250℃以下の範囲内の値であった。
これに対し、比較例では、満足な結果が得られなかった。
In the present invention (each embodiment), the heat resistance was sufficient, the bending resistance was excellent, and the occurrence of undesired warpage was prevented. Further, in the present invention (each example), the adhesion between the metal film and the resin layer is excellent, and the resin layer has a sufficient insulating property. Further, in the present invention (each example), the volume resistivity of the resin layer was a value within the range of 1 × 10 15 Ω · cm to 1 × 10 16 Ω · cm. In the present invention (each example), the glass transition temperature of the cured product of the curable resin in the state where the curable resin constituting the resin layer is cured is in the range of 130 ° C. or more and 250 ° C. or less. Value.
On the other hand, in the comparative example, a satisfactory result was not obtained.

また、上記[3.7]で製造した各実施例および各比較例の実装基板について、上記[3.1]〜[3.6]と同様の評価を行ったところ、上記と同様の結果(樹脂層付き金属膜についての結果と同様の結果)が得られた。   In addition, the same evaluations as in the above [3.1] to [3.6] were performed on the mounting boards of the examples and the comparative examples manufactured in the above [3.7]. The same result as the result of the metal film with the resin layer) was obtained.

10 :樹脂層付き金属膜
1 :金属膜
2 :樹脂層(絶縁層)
50 :回路基板
60 :電子部品
100 :実装基板
10: metal film with resin layer 1: metal film 2: resin layer (insulating layer)
50: circuit board 60: electronic component 100: mounting board

Claims (12)

金属膜と、
エポキシ基を有する硬化性樹脂の硬化物を含む材料で構成された樹脂層とを備え、
ASTM−D−790に準じて測定される前記樹脂層についての曲げ弾性率が、10MPa以上であり、
ASTM−D−882に準じて測定される前記樹脂層について引張伸び(破断伸度)が3%以上であり、
JIS−C−6471記載の方法で測定される反り率が5%以下であり、
前記硬化性樹脂が硬化した硬化物は、エポキシ当量が5000以上のフェノキシ樹脂に、多官能エポキシ化合物が反応したものであることを特徴とする樹脂層付き金属膜。
A metal film,
A resin layer made of a material containing a cured product of a curable resin having an epoxy group,
The flexural modulus of the resin layer measured according to ASTM-D-790 is 10 MPa or more;
The resin layer has a tensile elongation (elongation at break) of 3% or more measured according to ASTM-D-882,
The warpage rate measured by the method described in JIS-C-6471 is 5% or less,
The cured product obtained by curing the curable resin is a phenoxy resin having an epoxy equivalent of 5,000 or more and a polyfunctional epoxy compound reacted with the phenoxy resin.
金属膜と、
エポキシ基を有する硬化性樹脂を含む材料で構成された樹脂層とを備え、
ASTM−D−790に準じて測定される前記樹脂層についての曲げ弾性率が、10MPa以上であり、
ASTM−D−882に準じて測定される前記樹脂層について引張伸び(破断伸度)が3%以上であり、
前記硬化性樹脂を硬化させた状態でのJIS−C−6471記載の方法で測定される反り率が5%以下であり、
前記硬化性樹脂が硬化した硬化物は、エポキシ当量が5000以上のフェノキシ樹脂に、多官能エポキシ化合物が反応したものであることを特徴とする樹脂層付き金属膜。
A metal film,
With a resin layer made of a material containing a curable resin having an epoxy group,
The flexural modulus of the resin layer measured according to ASTM-D-790 is 10 MPa or more;
The resin layer has a tensile elongation (elongation at break) of 3% or more measured according to ASTM-D-882,
Wherein Ri der warp ratio is less than 5% as measured by JIS-C-6471 according to the method described in a state where the curable resin is cured,
The cured product curable resin is cured, the epoxy equivalent is 5,000 or more phenoxy resins, polyfunctional epoxy compound, characterized in der Rukoto that reacts with a resin layer metal film.
前記樹脂層は、柔軟成分を含むものである請求項1または2に記載の樹脂層付き金属膜。   The metal film with a resin layer according to claim 1, wherein the resin layer contains a flexible component. 前記柔軟成分は、前記硬化性樹脂と反応し得る官能基により、前記硬化性樹脂と反応し、前記樹脂層中において、硬化物の分子の一部を構成するものである請求項3に記載の樹脂層付き金属膜。   4. The flexible component according to claim 3, wherein the flexible component reacts with the curable resin by a functional group capable of reacting with the curable resin, and forms a part of a molecule of a cured product in the resin layer. Metal film with resin layer. 前記樹脂層中における前記柔軟成分の含有率は、20質量%以上60質量%以下である請求項3または4に記載の樹脂層付き金属膜。   5. The metal film with a resin layer according to claim 3, wherein a content of the flexible component in the resin layer is 20% by mass or more and 60% by mass or less. 前記樹脂層は、無機フィラーを5質量部以上65質量部以下含むものである請求項1ないし5のいずれか1項に記載の樹脂層付き金属膜。   The metal film with a resin layer according to any one of claims 1 to 5, wherein the resin layer contains 5 to 65 parts by mass of an inorganic filler. 前記硬化性樹脂が硬化した状態での前記樹脂層の100℃における引張貯蔵弾性率が1MPa以上である請求項1ないし6のいずれか1項に記載の樹脂層付き金属膜。   The metal film with a resin layer according to any one of claims 1 to 6, wherein a tensile storage modulus at 100 ° C of the resin layer in a state where the curable resin is cured is 1 MPa or more. 前記硬化性樹脂のエポキシ当量が100以上である請求項1ないし7のいずれか1項に記載の樹脂層付き金属膜。   The metal film with a resin layer according to any one of claims 1 to 7, wherein an epoxy equivalent of the curable resin is 100 or more. 前記樹脂層の体積抵抗率が1×1013Ω・cm以上である請求項1ないし8のいずれか1項に記載の樹脂層付き金属膜。 9. The metal film with a resin layer according to claim 1, wherein the volume resistivity of the resin layer is 1 × 10 13 Ω · cm or more. 10. 前記樹脂層の厚さが10μm以上1000μm以下である請求項1ないし9のいずれか1項に記載の樹脂層付き金属膜。   The metal film with a resin layer according to claim 1, wherein the thickness of the resin layer is 10 μm or more and 1000 μm or less. 前記金属膜の厚さが5μm以上1000μm以下である請求項1ないし10のいずれか1項に記載の樹脂層付き金属膜。   The metal film with a resin layer according to claim 1, wherein the thickness of the metal film is 5 μm or more and 1000 μm or less. 請求項1ないし11のいずれか1項に記載の樹脂層付き金属膜を用いて、電子部品を実装して得られたことを特徴とする実装基板。   A mounting board obtained by mounting an electronic component using the metal film with a resin layer according to any one of claims 1 to 11.
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